BRPI0619885A2 - processo de memorização de informações referentes a um defeito de funcionamento de um dispositivo, e, aplicação do mesmo - Google Patents

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Abstract

PROCESSO DE MEMORIZAçãO DE INFORMAçõES REFERENTES A M DEFEITO DE FUNCIONAMENTO DE UM DISPOSITIVO, E, APLICAçãO DO MESMO. A invenção refere-se a um processo de memorização de informações referentes a um defeito de funcionamento de um dispositivo, caracterizado em que as informações armazenadas compreendem notadamente um valor mínimo e um valor máximo de um parâmetro característico do funcionamento do dispositivo, e em que o processo compreende uma fase de atualização, que é realizada quando de uma ocorrência do defeito e que compreende a etapa E 11 seguinte consistindo em atualizar o valor mínimo e o valor máximo em função do valor atual do parâmetro. A fase de atualização pode igualmente compreender a atualização de um número de ocorrência. Preferivelmente, o processo compreende, igualmente, urna fase de inicialização, durante a qual é memorizada uma imagem de referência dos parâmetros do dispositivo. Aplicação notadamente ao diagnóstico de um grupo motopropulsor de um veículo.

Description

"PROCESSO DE MEMORIZAÇÃO DE INFORMAÇÕES REFERENTES A UM DEFEITO DE FUNCIONAMENTO DE UM DISPOSITIVO, E, APLICAÇÃO DO MESMO"
A invenção refere-se a um processo de memorização de informações referentes a um defeito de funcionamento de um dispositivo. A invenção encontra notadamente uma aplicação para o diagnóstico de uma falha de um dispositivo (por exemplo um grupo motopropulsor do veículo) em um veículo automotivo, a fim de facilitar o reparo do dispositivo defeituoso.
Os veículos automotivos modernos empregam computadores embarcados para o comando de numerosos dispositivos elétricos ou mecânicos como, por exemplo, para o comando de um sistema de injeção do motor, para o comando da caixa de marchas automática ou robotizada, etc.
Para garantir tanto a segurança dos usuários face a uma eventual falha de um dispositivo ou de um componente de um sistema de comando e o reparo do dispositivo defeituoso por um reparador, estes computadores também integram meios para realizar diversos processos de diagnóstico elétrico ou funcional.
Quando uma falha de um dispositivo é diagnosticada pela primeira vez, o computador memoriza, em uma memória não volátil, as informações relativas ao defeito constatado; estas informações compreendem notadamente um código associado com o defeito constatado e, eventualmente, valores dos parâmetros característicos do funcionamento do dispositivo, ainda chamados dados de contexto. Os dados de contexto podem ser genéricos, isto é, idênticos para todos os defeitos observados, ou então específicos a um defeito considerado; eles podem, neste caso, ser diferentes para defeitos diferentes. Por exemplo, no caso de um defeito ligado a uma regulação de uma velocidade, memoriza-se o valor especificado de velocidade e o valor da velocidade medida quando da detecção do defeito. Em todos os casos, as informações memorizadas têm uma tendência de ajudar o reparador posterior ao fornecer ao mesmo as informações complementares sobre as condições em que o defeito foi detectado.
Em alguns processos atuais de memorização, os dados de contexto são armazenados somente quando da primeira ocorrência do defeito. Portanto, é impossível saber se as condições armazenadas correspondem realmente às condições particulares onde o defeito é produzido regularmente, ou simplesmente às condições "de qualquer tipo" que prevalecem quando do aparecimento fortuito do defeito. A título de exemplo, para um defeito elétrico onde a velocidade do motor armazenada na primeira ocorrência do defeito é de 2500 rpm, onde nada permite ao reparador saber se se trata de um defeito permanente que apareceu pela primeira vez na velocidade de 2500 rpm, ou um defeito intermitente que só foi produzido em uma velocidade próxima de 2500 rpm e que seria devido, por exemplo, a um fenômeno de ressonância.
Esta solução não é satisfatória, porque as informações armazenadas são com freqüência insuficientes para permitir um reparo rápido, particularmente no caso de defeitos intermitentes (por exemplo, defeitos elétricos devido a contatos ruins) e/ou no caso de defeitos complexos (por exemplo, defeitos funcionais produzidos nas condições precisas e limitadas).
Em outros processos atuais de memorização, os dados de contexto são memorizados em cada ocorrência do defeito que eles caracterizam, o que facilita o diagnóstico.
Esta solução é, no entanto, extremamente onerosa em termos de memória não volátil. Com efeito, se os dados de contexto armazenados quando da detecção de um defeito representam um tamanho de η bytes, a ocorrência m vezes deste defeito irá conduzir, portanto, à utilização de η * m bytes de memória. A riqueza das informações transmitidas é, portanto, rapidamente limitada pelo tamanho da memória.
A invenção tem por fim propor um novo processo de memorização de informações relativas a um defeito, não apresentando os inconvenientes dos processos conhecidos. Mais precisamente, a invenção tem por fim propor um novo processo de memorização, que permite fornecer informações exaustivas para um diagnóstico futuro do defeito, ao mesmo tempo limitando o volume global de informação memorizada.
Este fim é atingido com um processo de acordo com a invenção de memorização de um defeito de funcionamento de um dispositivo, caracterizado em que as informações armazenadas compreendem notadamente um valor mínimo e um valor máximo de um parâmetro característico do dispositivo, e em que o processo compreende uma fase de atualização que é realizada quando de uma ocorrência do defeito e que compreende a etapa El 1 seguinte consistindo em:
Eli:
• substituir o valor mínimo do parâmetro pelo valor atual do parâmetro se o valor atual do parâmetro for inferior ao valor mínimo ou
• substituir o valor máximo do referido parâmetro pelo valor atual do parâmetro se o valor atual for superior ao valor máximo previamente
memorizado.
A fase de atualização pode igualmente compreender a etapa El2 seguinte, realizada quando da ocorrência do defeito e consistindo em:
• E12: repetir a etapa Ell para cada parâmetro característico do dispositivo em funcionamento.
O processo permite também memorizar os valores mínimo e máximo para vários parâmetros característicos do dispositivo.
A fase de atualização pode ainda compreender a etapa El3 seguinte, realizada quando da ocorrência do defeito e consistindo em:
• E13: incrementar um número de ocorrências do defeito.
Assim, é possível saber precisamente quantas vezes o defeito apareceu.
A fase de atualização é repetida em cada ocorrência do defeito. De acordo com uma forma de realização preferida, o processo de acordo com a invenção compreende igualmente uma fase de inicialização, realizada quando de uma primeira ocorrência do defeito e compreendendo uma ou várias das etapas seguintes, consistindo em:
• EO1: inicializar um valor de referência do parâmetro ao valor atual do parâmetro
• E02: inicializar o valor mínimo do parâmetro e o valor máximo do parâmetro ao valor atual do parâmetro.
• E03: repetir a etapa EOl e/ou a etapa E02 para cada parâmetro característico do dispositivo em funcionamento,
• E04: inicializar o número de ocorrência
A fase de inicialização permite, assim, de um lado, memorizar uma "imagem" precisa de uma ocorrência do defeito e, por outro lado, inicializar os valores mínimo e máximo de cada parâmetro e o número de ocorrência do defeito.
O processo de acordo com a invenção é notadamente interessante para a memorização de informações com referência a um defeito de funcionamento de um dispositivo como um grupo motopropulsor em um veículo.
A invenção é notadamente interessante para o diagnóstico de defeitos intermitentes, isto é, que não duram, mas que se reproduzem várias vezes no tempo.
O processo de acordo com a invenção será descrito abaixo no quadro de um exemplo não limitativo, em que o processo em sua versão a mais completa e a de melhor desempenho é realizado para o diagnóstico do funcionamento de um dispositivo de regulação que permite a regulação da velocidade de um veículo automotivo em torno de uma velocidade de valor especificado.
No exemplo, um defeito é detectado quando, na ausência da intervenção do motorista do veículo, a velocidade é sempre diferente da velocidade de valor especificado no fim de um tempo Τ. A detecção do defeito é realizada por um comparador que compara a velocidade medida por um sensor de velocidade de valor especificado imposto pelo motorista.
No exemplo, considera-se que os parâmetros do dispositivo de regulação pertinentes para a identificação e o reparo do defeito incluem a temperatura no alojamento do dispositivo de regulação (os componentes eletrônicos do dispositivo não funcionam ou operam de modo ruim fora de uma faixa de funcionamento comum) e a velocidade do veículo (o circuito de regulação não é eficaz ou é pouco eficaz fora de uma faixa de velocidade especificada).
O processo de acordo com a invenção é inicializado quando da primeira ocorrência do defeito. Quando da fase de inicialização do processo, as etapas seguintes são realizadas, que consistem em:
• E01: inicializar um valor de referência do parâmetro ao valor atual do parâmetro
• E02: inicializar o valor mínimo do parâmetro e o valor máximo do parâmetro ao valor atual do parâmetro,
• E03: repetir a etapa EOl e/ou a etapa E02 para cada parâmetro característico do dispositivo em funcionamento,
• E04: inicializar o número de ocorrências.
No exemplo, quando das etapas EOl e E03, é memorizado o valor atual da temperatura do alojamento e da velocidade do motor como valores de referência: estes valores de referência definem uma imagem precisa do dispositivo no momento do aparecimento do defeito, imagem que será conservada durante todo o processo.
Quando das etapas E02 e E03, inicializa-se o valor mínimo e o valor máximo da temperatura com a temperatura atual, e o valor mínimo e o valor máximo da velocidade ao valor atual. Assim, são obtidos os primeiros valores mínimo / máximo dos parâmetros, que poderão ser atualizados subseqüentemente.
Quando da etapa E04, inicializa-se um número de ocorrência em um. Preferivelmente, este número é inicializado em um quando o defeito desaparece, no exemplo quando o comparador detecta que a velocidade está suficientemente próxima da velocidade de valor especificado em torno de 1 %, por exemplo. A inicialização do número de ocorrências significa que ocorreu um defeito, que desapareceu. Deve-se lembrar que o processo da invenção tem por finalidade armazenar as condições de ocorrência de um defeito intermitente, isto é, não permanente, mas que é repetido.
Em seguida, quando de uma nova ocorrência posterior do defeito, realiza-se uma fase de atualização, compreendendo as etapas seguintes, consistindo em:
•E11: substituir o valor mínimo do parâmetro pelo valor atual do parâmetro se o valor atual do parâmetro for interior ao valor mínimo e/ou substituir o valor máximo do referido parâmetro pelo valor atual do parâmetro se o valor atual for superior ao valor máximo previamente memorizado.
•E12: repetir a etapa E11 para cada parâmetro característico do dispositivo em funcionamento.
•E13: incrementar um número de ocorrências do defeito. No exemplo, quando da etapa E11, são atualizados os valores mínimo e máximo memorizados para a temperatura do alojamento, se necessário, isto é, se o valor atual da temperatura for inferior ao valor mínimo ou superior ao valor máximo previamente memorizado. Quando da etapa E12, são atualizados os valores mínimo e máximo memorizados para a velocidade do motor, se necessário, isto é, se o valor atual da velocidade for inferior ao valor mínimo ou superior ao valor máximo previamente memorizados.
Quando da etapa E13, o número de ocorrências é incrementado em um. Preferivelmente, este número é inicializado a um quando o defeito desaparece, pelas mesmas razões que previamente.
A fase de atualização é repetida em seguida tantas vezes quanto for necessário, em cada nova ocorrência do defeito.
Depois, um reparador procurando diagnosticar e reparar o defeito irá consultar a memória não volátil, antes de apagar seu conteúdo.
A invenção foi desenvolvida para um dispositivo de comando do grupo motopropulsor de um veículo automotivo. Mas ela pode ser facilmente estendida a qualquer computador eletrônico provido com meios de detecção de um defeito de funcionamento de um dispositivo e de meios de memorização de informações relativas ao aparecimento do defeito detectado. Em um veículo, o dispositivo monitorado pode ser também, por exemplo, um dispositivo de comando de um sistema de frenagem, um dispositivo de regulação de velocidade, um dispositivo de regulação de temperatura, etc.
O processo de acordo com a invenção acumula todas as vantagens das soluções anteriores, e evita seus inconvenientes.
Assim, com o processo de acordo com a invenção, cada defeito tem um conjunto associado de dados de contexto, compreendendo, por outro lado, como evidente, o código defeito correspondente:
• uma indicação do número de ocorrências do defeito, isto é, do número de vezes em que o detector detectou a presença do defeito depois da última vez que a memória não volátil do computador foi apagada;
• para cada parâmetro característico do defeito, um valor de referência correspondendo a uma ocorrência particular do defeito, no exemplo descrito o primeiro aparecimento do defeito (etapa E04),
• para cada parâmetro característico do defeito, um valor mínimo e um valor máximo do referido parâmetro, estes dois valores definem um uma faixa de valores do parâmetro em que o defeito foi produzido.
Assim, o reparador conhece precisamente, para cada defeito memorizado, a zona de funcionamento em que este defeito se produz e, assim, se torna mais capacitado a:
• analisar as causas possíveis do defeito. Por exemplo, se um defeito elétrico se produz entre 2000 e 2500 rpm, se trata, muito provavelmente, de um defeito intermitente (contato ruim de um conector), associado com uma freqüência de ressonância
• validar a apropriabilidade e a qualidade de seu reparo, pela reprodução quando de um teste (estático ou dinâmico) destas condições particulares e pela verificação do não reaparecimento do defeito.
Com relação à solução anterior, consistindo em memorizar apenas os valores dos parâmetros do defeito quando de uma ocorrência particular do defeito, a realização do processo de acordo com a invenção conduz à multiplicação por 3 da capacidade da zona da memória não volátil do computador alocada ao armazenamento dos dados de contexto do defeito. Considerando, por um lado, os ganhos esperados em termo de facilidade e de qualidade do reparo e, por outro lado, a diminuição constante e rápida dos custos dos componentes de tipo EEPROM, esta multiplicação é muito aceitável.
Em relação à solução anterior, consistindo em memorizar os valores dos parâmetros do defeito quando de um número limitado de ocorrências do defeito, a realização do processo de acordo com a invenção permite, de um lado, limitar ao estritamente necessário o tamanho da memória utilizada e, por outro lado, conservar toda a riqueza das informações armazenadas durante a utilização do sistema. Com efeito, na solução anterior, a memorização dos dados era interrompida necessariamente após m detecções da falha (limitação devido ao tamanho da memória). Ao contrário, na invenção, os dados são atualizados em cada novo aparecimento do defeito, qualquer que seja o número de ocorrências do defeito, e isto até seu reparo.
Por fim, o conjunto dos dados de contexto vistos no conjunto de ocorrências do defeito (supondo-se recursos de memória não volátil ilimitados) não apresenta praticamente interesse em relação à solução proposta pela invenção.
Com efeito, seria razoável imaginar que um reparador, dispondo do conjunto dos dados de contexto para todas as ocorrências de defeito, procuraria imediatamente as faixas de valores (isto é, o valor mínimo e o valor máximo) dos parâmetros em que o defeito se produz a fim de determinar a origem do defeito. Ora, o processo de acordo com a invenção fornece imediatamente estas faixas de valores, sem ocasionar despesas extras. Com efeito, o processo de acordo com a invenção oferece, pelo menos em sua forma de realização mais aperfeiçoada:
• uma "imagem" precisa do dispositivo monitorado quando da primeira detecção do defeito, e
• uma visão da zona de funcionamento em que o defeito é reproduzido.

Claims (6)

1. Processo de memorização de informações referentes a um defeito de funcionamento de um dispositivo, caracterizado pelo fato de que as informações armazenadas compreendem notadamente um valor mínimo e um valor máximo de um parâmetro característico do funcionamento do dispositivo, e em que o processo compreende uma fase de atualização, que é realizada quando de uma ocorrência do defeito e que compreende a etapa Ell seguinte consistindo em: E11: • substituir o valor mínimo do parâmetro pelo valor atual do parâmetro se o valor atual do parâmetro for inferior ao valor mínimo ou • substituir o valor máximo do referido parâmetro pelo valor atual do parâmetro se o valor atual for superior ao valor máximo previamente memorizado.
2. Processo de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a fase de atualização compreende igualmente a etapa E12 seguinte, realizada quando da ocorrência do defeito e consistindo em: • El2: repetir a etapa Ell para cada parâmetro característico do dispositivo em funcionamento.
3. Processo de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 ou -2, caracterizado pelo fato de que a fase de atualização compreende igualmente a etapa E13 seguinte, realizada quando da ocorrência do defeito e consistindo em: • E13: incrementar um número de ocorrências do defeito.
4. Processo de acordo com uma das reivindicações 1 a 3, caracterizado pelo fato de que durante o seu curso as etapas Eli, E12 e/ou E13 são repetidas em cada ocorrência do defeito.
5. Processo de acordo com uma das reivindicações 1 a 4, caracterizado pelo fato de compreender igualmente uma fase de inicialização, realizada quando de uma primeira ocorrência do defeito e compreendendo uma ou várias das etapas seguintes, consistindo em: • EO1: inicializar um valor de referência do parâmetro ao valor atual do parâmetro, ® E02: inicializar o valor mínimo do parâmetro e o valor máximo do parâmetro ao valor atual do parâmetro, • E03: repetir a etapa EOl e/ou a etapa E02 para cada parâmetro característico do dispositivo em funcionamento, • E04: inicializar o número de ocorrência.
6. Aplicação do processo de acordo com uma das reivindicações precedentes, caracterizada pelo fato de ser para a memorização de informações referentes a um defeito de funcionamento de um dispositivo, com um grupo motopropulsor em um veículo.
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