BR112017013621B1 - sistema de espectrômetro e método para compensar perturbações periódicas de tempo de um interferograma gerado pelo sistema de espectrômetro - Google Patents
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Abstract
Um sistema de espectrômetro (2) compreende um interferômetro de varredura (4); um sistema de acionamento (6) acoplado mecanicamente a um elemento refletor móvel (14) do interferômetro de varredura (4) e operável para efetuar correspondência do elemento refletor móvel (14) em uma pluralidade, de preferência de mais de dois, como, por exemplo, três, diferentes velocidades de varredura; uma disposição de detector (8) configurada para amostrar em intervalos de tempo equidistantes um interferograma formado pelo interferômetro de varredura (2) para gerar um interferograma amostrado; e um processador de dados (10) é adaptado para adquirir um interferograma amostrado em cada uma da pluralidade de velocidades de varredura diferentes e para realizar uma comparação relativa do conteúdo da pluralidade assim adquirida de interferogramas amostrados
Description
[0001] A presente invenção refere-se a um sistema de espectrômetro e a um método para compensar perturbações periódicas do tempo de um interferograma gerado pelo sistema do espectrômetro e em particular às perturbações de um interferograma registrado usando um sistema de espectrômetro que compreende um interferômetro de varredura de Transformada de Fourier (FT).
[0002] Sabe-se que fornece um sistema de espectrômetro com um interferômetro de varredura de FT, tal como o do tipo Michelson. O interferômetro compreende amplamente um divisor de feixes e dois ou mais refletores, tais como espelhos ou retro-refletores, com pelo menos um dos refletores sendo disposto para ser mutuamente móvel. As lentes colimantes ou outras óticas também podem ser incluídas no interferômetro, mas não são fundamentais para o seu princípio de operação.
[0003] Geralmente, por exemplo, quando um tal interferômetro é utilizado para espectroscopia ótica, um feixe de observação consistindo em radiação de banda relativamente ampla em uma região de comprimento de onda de interesse entra no interferômetro, tipicamente depois de ter interagido com uma amostra sob observação e atinge o divisor de feixes. Este feixe de observação é dividido em essencialmente duas partes de igual intensidade no divisor de feixes. Um primeiro feixe é refletido pelo divisor de feixes e viaja ao longo de um primeiro "ramo" do interferômetro para o primeiro refletor de onde ele é refletido de volta para o divisor de feixes. Um segundo feixe é transmitido através do divisor de feixes e viaja ao longo de um segundo "braço"para o segundo refletor de onde também é refletido de volta para o divisor de feixes para sobrepor o primeiro feixe refletido. O atraso, δ, é a diferença entre os comprimentos do caminho ótico dos dois ramos e, dependendo do retardo, cada comprimento de onda da fonte espectral pode interferir de forma destrutiva ou construtiva quando as luzes retro-refletidas nos dois ramos se sobrepõem ao divisor de feixes. O padrão de intensidade da luz de interferência sobreposta em função do retardo é a seguir denominado interferograma de observação. O interferograma de observação é registrado por um detector como um ou mais dos refletores (comumente um dos refletores) é/são movidos a uma velocidade constante para criar excursões cíclicas do caminho ótico relacionado e, portanto, uma diferença de comprimento do caminho ótico cíclico entre o primeiro e segundo feixes.
[0004] A amostragem do sinal de interferência recebido no detector é feita de forma equidistante no tempo (ou seja, a intervalos iguais de diferença de comprimento do caminho ótico), conforme determinado, por exemplo, desencadeando em pontos específicos (por exemplo, pontos de cruzamento zero) em um interferograma de um laser co-interferente. Desta forma, pode ser alcançada uma amostragem muito precisa do interferograma de observação em termos de diferença de comprimento de caminho. O interferograma de observação amostrado resultante é periódico no espaço e contém a distribuição de frequência da luz modulada que pode então ser transformada de Fourier a um espectro de intensidade dependente do comprimento de onda (ou frequência).
[0005] Se, no entanto, há alguma perturbação associada ao sistema do espectrômetro, particularmente com o interferômetro, que é periodicamente no tempo, então, devido à velocidade de varredura constante do refletor, isso aparecerá como um componente de falso da luz modulada e como tal dar origem a artefatos no espectro de intensidade nas frequências afetadas. Tais perturbações temporalmente periódicas podem vir em muitas formas, por exemplo, uma variação de alinhamento temporalmente periódica do sistema ótico, induzida, por exemplo, por uma vibração externa; no caso de uma medição de transmissão, uma variação de comprimento de trajeto temporalmente periódica, possivelmente novamente devido a vibração externa. Os distúrbios eletromagnéticos temporariamente periódicos do detector e seus circuitos eletrônicos também podem aparecer como componentes de falsa frequência da luz modulada.
[0006] Tais perturbações temporalmente periódicas podem afetar adversamente a performance do sistema do espectrômetro, uma vez que estas perturbações são impossíveis de distinguir do sinal real sem conhecimento prévio de sua natureza.
[0007] Um objetivo da presente invenção é pelo menos identificar artefatos num interferograma de observação resultante de tais perturbações temporalmente periódicas e, de preferência, para corrigir os espectros de intensidade resultantes para mitigar o efeito de tais artefatos.
[0008] De acordo com um primeiro aspecto da presente invenção é fornecido um sistema espectrômetro compreendendo um interferômetro de varredura; um sistema de acionamento acoplado mecanicamente a um elemento refletor móvel do interferômetro de varredura e operável para efetuar o movimento alternativo do elemento refletor móvel; uma disposição de detector configurada para amostrar um interferograma formado pelo interferômetro de varredura em intervalos de comprimento equidistantes para gerar um interferograma amostrado; e um processador de dados adaptado para adquirir o interferograma amostrado e executar uma operação de transformada de Fourier neste; em que o sistema de acionamento é operável para efetuar o movimento alternativo do elemento refletor móvel a uma pluralidade de velocidades diferentes e em que o processador de dados está adaptado para adquirir um interferograma amostrado em cada uma da pluralidade de velocidades diferentes e para realizar uma comparação relativa do conteúdo da pluralidade adquirida de interferogramas amostrados. Ao obter interferogramas em uma pluralidade de velocidades de varredura diferentes e, portanto, frequências de amostragem, uma perturbação que é periódica no tempo aparecerá como uma pluralidade de periodicidades diferentes nos interferogramas gravados que podem então ser identificados através da comparação relativa dos espectros.
[0009] Em algumas modalidades, os níveis e possivelmente as frequências das perturbações periódicas no tempo podem ser monitorados ao longo do tempo. Isso pode ser usado para solucionar problemas ou prever problemas na operação do sistema do espectrômetro.
[0010] Em algumas modalidades, o processador de dados é adaptado para processar o conteúdo dos interferogramas amostrados como uma comparação do conteúdo dos espectros de intensidade gerados pelo desempenho da operação de transformada de Fourier em cada um dos interferogramas amostrados. Os espectros de intensidade que resultam da transformada de Fourier de cada um dos interferogramas amostrados são então perturbados pela perturbação em uma frequência espectral diferente dada pela frequência da perturbação real e as diferentes velocidades de varredura.
[0011] Em algumas modalidades, o sistema de acionamento é operável para efetuar o movimento alternativo do elemento refletor móvel em três ou mais, de preferência três, velocidades diferentes. A perturbação pode então ser identificada por uma comparação relativa do conteúdo, de forma útil o conteúdo dos espectros de intensidade, dos interferogramas amostrados nas pelo menos três velocidades de varredura.
[0012] De forma útil, o processador de dados é adaptado para processar o conteúdo para gerar um único espectro de intensidade corrigido formado como uma média ponderada dos espectros de intensidade obtidos a partir dos interferogramas amostrados. Em algumas modalidades, a contribuição espectral de cada espectro de intensidade para este único espectro de intensidade corrigido é ponderada por quão semelhante (inversamente, quão diferente) esse espectro de intensidade é para os outros espectros de intensidade da pluralidade, como um espectro de intensidade médio gerado a partir de toda pluralidade de espectros de intensidade. Desta forma, as partes do espectro de intensidade que é perturbada pela perturbação são re-formadas pelas partes não perturbadas dos outros espectros de intensidade.
[0013] Ao fazer isso, é possível reduzir fortemente o efeito de uma perturbação periódica no tempo em um espectro de intensidade obtido a partir de um interferograma adquirido sem destruir a relação sinal/ruído nas regiões espectrais que não são afetadas pela perturbação. Vantajosamente, tal ponderação não degrada a relação sinal/ruído para um sistema que não é perturbado.
[0014] De acordo com um segundo aspecto da presente invenção, é fornecido um método para corrigir perturbações periódicas no tempo num interferograma gerado num sistema de espectrômetro de acordo com o primeiro aspecto da presente invenção que compreende as etapas de recolha para acesso por um processador de dados de uma pluralidade de interferogramas amostrados, cada um obtido de uma velocidade diferente de uma pluralidade de velocidades de movimento alternativo diferentes do elemento refletor móvel; realizando no processador de dados uma operação de transformada de Fourier em cada uma da pluralidade de interferogramas amostrados para gerar uma mesma variedade de espectros de intensidade; comparando no processador de dados a pluralidade de espectros de intensidade para identificar diferenças entre eles; e gerando um espectro de intensidade corrigido, atenuando as diferenças.
[0015] Em algumas modalidades do método de acordo com a presente invenção, as diferenças são armazenadas como uma ponderação para cada espectro de intensidade com a ponderação para um espectro de intensidade que representa a semelhança entre o espectro de intensidade e o espectro de intensidade restante da pluralidade e em que o espectro de intensidade corrigido é gerado como uma média ponderada da pluralidade de espectros de intensidade. Desta forma, as partes do espectro de intensidade que é perturbada pela perturbação são re-formadas pelas partes não perturbadas dos outros espectros de intensidade.
[0016] Assim, é possível reduzir fortemente o efeito de uma perturbação periódica no tempo em um espectro de intensidade obtido a partir de um interferograma adquirido sem destruir a relação sinal/ruído nas regiões espectrais que não são afetadas pela perturbação. Vantajosamente, tal ponderação não degrada a relação sinal/ruído para um sistema que não é perturbado.
[0017] Uma modalidade do sistema de espectrômetro será agora descrita em conjunto com um método de operação com referência aos desenhos das figuras anexas das quais:Fig. 1 mostra esquematicamente um sistema de espectrômetro de acordo com a presente invenção;Fig. 2 ilustra uma modalidade de um método de acordo com a presente invenção para implementação no sistema de espectrômetro da Fig. 1;Fig. 3 lustra espectros obtidos em diferentes frequências de amostragem (velocidades de varredura); eFig. 4 ilustra os espectros de intensidade corrigidos gerados de acordo com o método da presente invenção
[0018] Considerando agora o sistema de espectrômetro exemplificativo 2 que é ilustrado esquematicamente na Fig. 1 como compreendendo um interferômetro de varredura 4; um sistema de acionamento 6; uma disposição de detector 8; e um processador de dados 10. O interferômetro de varredura 4 é, na presente modalidade, um interferômetro de varredura do tipo Michelson compreendendo basicamente um espelho fixo 12, um espelho móvel 14 que se desloca alternativamente e um divisor de feixes 16 dispostos em relação ao espelho fixo 12 e ao espelho móvel 14 para dividir um feixe incidente 18; 20 para uma primeira parte 22; 24 e uma segunda parte 26; 28 de intensidade substancialmente igual. A primeira parte 22; 24 é refletida pelo divisor de feixe 16 para se deslocar ao longo de um primeiro braço, delimitado pelo espelho fixo 12, a partir do qual é refletido de volta para o divisor de feixes 16. A segunda parte 26; 28 é transmitida através do divisor de feixes 16 para se deslocar ao longo de um segundo ramo, delimitada pelo espelho móvel 14 que se desloca alternativamente, a partir do qual é refletida de volta para o divisor de feixes 16 para sobrepor a primeira parte refletida 22; 24. As duas partes 22, 26, 24, 28 interferirão de forma construtiva ou destrutiva no divisor de feixes 16 dependendo da diferença de caminho (retardo δ) entre os comprimentos do caminho ótico do primeiro e o segundo braços para formar um interferograma 30; 32 que é feito incidente sobre e é gravado pela disposição do detector 8.
[0019] Convencionalmente, e como está ilustrado na Fig. 1, é fornecida uma fonte de referência altamente monocromática (aqui, por exemplo, uma fonte de referência de laser 34) para gerar o feixe incidente 20 que, como descrito acima, eventualmente forma o interferograma 32 para detecção por um detector de referência 36 da disposição de detector 8. A saída deste detector de referência 36 é passada para um detector de cruzamento de zero 38 que compreende circuitos para detectar cruzamentos zero do interferograma 32 gerado pela fonte de referência de laser 34 e para produzir sinais de disparo em função dos cruzamentos de zero detectados para disparar amostragem do interferograma 30 incidente num detector de observação 40 da disposição de detector 8. Estes sinais de disparo estão na presente modalidade ilustrada como controle da operação do processador de dados 10 para adquirir a saída do detector de observação 20 durante um intervalo curto após a recepção de um sinal de disparo e armazenar a saída adquirida como um interferograma amostrado. Alternativamente, os sinais de disparo podem controlar a operação do detector de observação 40 para gerar uma saída periódica para aquisição pelo processador de dados 10.
[0020] Em uso, um feixe de observação entra no interferômetro 4 para fornecer o feixe incidente 18 simultaneamente com o feixe incidente 20 da fonte de referência laser 34, o feixe incidente 18, como descrito acima, eventualmente forma o interferograma 30 para detecção pelo detector de observação 40 da disposição do detector 8. Tipicamente, o feixe de observação (que fornece o feixe incidente 18) é um feixe de banda larga e entra no interferômetro 4 do externo ao sistema do espectrômetro 2 depois de ter interagido com uma amostra sob observação. Em algumas modalidades, o feixe de observação 18 pode ser gerado dentro do sistema de espectrômetro 2 e a amostra sob observação pode então ser inserida de forma removível no caminho desse feixe de observação 18 dentro do sistema de espectrômetro 2.
[0021] O sistema de espectrômetro 2 até agora descrito será reconhecido pelos especialistas na técnica como sendo de construção e operação convencionais.
[0022] O sistema de acionamento 6 é acoplado mecanicamente ao espelho móvel 14 que pode ser transferido alternativamente e é operável para efetuar o seu movimento alternativo. Na presente modalidade exemplificativa, apenas a título de ilustração, o sistema de acionamento 6 compreende uma roda dentada ou outro acionador linear e é concebido para dirigir o espelho móvel 14 a uma velocidade constante para criar alterações cíclicas no retardo δ do interferômetro 4.
[0023] Na presente invenção, os meios de acionamento 6 são adaptados para gerar seletivamente uma pluralidade, de preferência de mais do que duas, tal como de três, velocidades diferentes nas quais se pode corresponder o espelho móvel 14 (as chamadas "velocidades de varredura"). O processador de dados 10 é configurado para adquirir e armazenar um interferograma amostrado para cada uma das múltiplas velocidades de varredura do espelho móvel 14 e para fazer uma comparação relativa do conteúdo de cada um dos interferogramas amostrados armazenados, para determinar a presença de frequência de artefatos dependentes. Os artefatos que resultam de uma perturbação que é periódica no tempo aparecerão como uma pluralidade de periodicidades diferentes na pluralidade de interferogramas amostrados armazenados e, portanto, em uma frequência (ou comprimento de onda) diferente em um espectro de intensidade resultante de uma operação de transformada de Fourier no processador de dados 10 dos interferogramas amostrados armazenados para cada uma da pluralidade (aqui, de três) de diferentes velocidades de varredura.
[0024] Um método exemplar para corrigir o efeito de perturbações temporalmente periódicas em um interferograma que tenha sido gerado em um espectrômetro baseado em interferômetro de varredura, tal como o espectrômetro 2 da Fig. 1, será agora descrito em maior detalhe com referência à Fig. 2.
[0025] Numa etapa de coleta 42, uma pluralidade de interferogramas amostrados, cada um gerado por um de uma pluralidade, na presente modalidade, três, de velocidades de varredura do espelho móvel 14 que se desloca de forma correspondente, são recolhidos e armazenados no processador de dados 10.
[0026] Na Etapa de Transformada 44, cada um da pluralidade armazenada de interferogramas amostrados passa por uma operação de Transformada de Fourier no processador de dados 10. Como resultado, uma pluralidade correspondente de espectros de intensidade é gerada e armazenada no processador de dados 10.
[0027] Em uma Etapa de Comparação 46, os espectros de intensidade da pluralidade armazenada são comparados entre si no processador de dados 10. Como resultado dessa comparação relativa, artefatos no interferograma amostrado que resultam de perturbações dependentes do tempo do sistema de espectrômetro 2 são identificados como componentes variáveis de frequência (ou comprimento de onda) entre a pluralidade de espectros de intensidade.
[0028] Em uma Etapa de Correção opcional 48, a pluralidade de espectros de intensidade armazenada é corrigida para reduzir a presença dos artefatos identificados.
[0029] Considerando agora as parcelas de intensidade em oposição ao número de onda (ou frequência) U ilustrado nas Figs. 3 que representam dados de intensidade espectral S1(U), S2(U) e S3(U) e seus desvios-padrão correspondentes a', b', c' coletados em três frequências de amostragem diferentes de 1200Hz, 1500Hz e 2700Hz. Será apreciado que a frequência de amostragem (por exemplo, correspondente a zero cruzamentos de um interferograma laser de referência) irá refletir a velocidade de varredura do espelho móvel. Note-se que as Figs. 3 representam dados espectrais S1(U), S2(U) e S3(U) coletados a três velocidades de varredura diferentes. Será ainda apreciado que os desvios padrão a’,b’,c’ representam o ruído do sinal.
[0030] Cada espectro de intensidade S1(U), S2(U) e S3(U) é um espectro de intensidade médio de uma pluralidade (aqui, 50) espectros coletados nas respectivas frequências de amostragem de 1200Hz, 1500Hz e 2700Hz. A partir de uma comparação do desvio padrão (ruído de sinal) associado a cada frequência de amostragem, pode-se observar que uma contribuição devido a uma perturbação 50, 52, 54 existe em um local de número de onda diferente para cada uma das frequências de amostragem.
[0031] Em algumas modalidades da presente invenção, a localização e/ou a intensidade da perturbação assim determinada podem ser utilizadas pelo processador de dados 10 na solução de problemas na operação do sistema de espectrômetro; por exemplo, um aviso pode ser fornecido se a intensidade da perturbação exceder um limite predefinido ou as informações espectrais podem ser descartadas se a perturbação aparecer em uma localização que interfira com informações de uma amostra.
[0032] Em outras formas de realização da presente invenção, um espectro de intensidade corrigida pode ser gerado pelo processador de dados 10, no qual o efeito da perturbação é mitigado.
[0033] Como exemplo, como mostrado na Fig. 4 (a), um espectro de intensidade corrigido S (U) com um desvio padrão d 'que exibe uma contribuição reduzida 56 da perturbação pode ser gerada simplesmente formando uma média dos espectros de intensidade S1(U), S2(U) e S3(U) que foram coletados na pluralidade de diferentes frequências de amostragem (velocidades de varredura).
[0034] Isso pode ser considerado geralmente para uma série de espectros medidos em uma pluralidade, i, de velocidades de varredura diferentes (no presente exemplo ilustrado na Fig. 4 (a), 3 velocidades de varredura diferentes) e, portanto, com diferentes frequências de amostragem. Será obtido um conjunto de espectros Si(U), em queU é o número de onda. O espectro médio S (U) pode ser expressado como:
[0035]S'(v) = [∑, 5f(v) ]/z (1)
[0036] Uma melhoria desse cálculo de média simples é ilustrada na Fig. 4 (b) que mostra um espectro de intensidade corrigido SLMMSE(U) com um desvio padrão e' em que a contribuição 58 da perturbação é ainda mais reduzida em relação àquela ilustrada na Fig. 4 (a). Neste exemplo, o espectro de intensidade corrigido SLMMSE(U) É gerado como espectro médio dos espectros individuais de intensidade S1(U), S2(U) e S3(U), cada um ponderado de acordo com a sua semelhança (inversamente à diferença) com o espectro médio S (U) calculado de acordo com a equação (1) acima.
[0037] Geralmente, para cada número de onda (frequência) v em um espectro Si(U) uma medida SMi(U) pode ser construída representando a semelhança de cada espectro Si(U) ao espectro médio S (U) como:
[0038]SM,(v) = [S,(v)-S(v)]2 (2)
[0039] O espectro de intensidade corrigido pode então ser construído no processador de dados 10 utilizando-se um estimador linear do erro mínimo médio quadrático tal como dado por:
[0040]
[0041] A geração do espectro médio como o espectro de intensidade corrigido pode ser feita usando qualquer um dentre vários outros algoritmos conhecidos e técnicas matemáticas empregadas no processador de dados 10. O objetivo de cada um é comparar cada espectro S1(U), S2(U) e S3(U) e usar todos os espectros S1(U), S2(U) e S3(U) para formar uma média em que os espectros S1(U), S2(U) e S3(U) são semelhantes e suprimem contribuições de perturbações para os espectros S1(U), S2(U) e S3(U) nas regiões espectrais onde essas contribuições ocorrem.
[0042] Aqui o método foi ilustrado usando espectros S1(U), S2(U) e S3(U) coletados em três velocidades de varredura diferentes. No entanto, a supressão será tipicamente melhor, tão maior for a pluralidade de velocidades de varredura diferentes empregadas. Isso ocorre porque o ruído é proporcional à raiz quadrada do número, i, de diferentes velocidades de varredura. Em regiões onde não há perturbação, o ruído é proporcional à raiz quadrada de i. Em regiões onde um espectro exibe uma contribuição devido a uma perturbação, o ruído será proporcional à raiz quadrada de i-1. Conforme o número, i, de diferentes velocidades de varredura empregadas aumenta, a diferença entre a raiz quadrada de i e a raiz quadrada de i-1 diminui. No entanto, o tempo de aquisição de dados aumentará naturalmente à medida que o número de velocidades de varredura aumentar. Será apreciado que, embora uma comparação de espectros obtidos em duas velocidades de varredura diferentes permita a determinação de uma diferença (ou seja, que existe uma perturbação), três velocidades de varredura são o mínimo necessário para determinar quais diferenças são associadas a uma perturbação.
[0043] Também será apreciado que, enquanto o processador de dados 10 foi descrito neste documento e ilustrado na Fig. 1 como compreendendo uma entidade única, o processador de dados 10 não se destina a ser limitado a tal configuração, de modo que, na verdade, não se pretende que tal limitação se aplique aos outros componentes de um sistema de espectrômetro de acordo com a presente invenção. Está previsto que algumas ou todas as funcionalidades atribuídas ao processador de dados 10 possam ser realizadas em elementos separados mas interligados que cooperam para funcionar conforme descrito em relação ao processador de dados 10. Por exemplo, os dados que representam os interferogramas armazenados podem ser transmitidos para fora do sistema de espectrômetro 2, tal como por meio de um elo de telecomunicações, para um local remoto onde são processados de acordo com a presente invenção, opcionalmente para gerar um espectro de intensidade corrigido.
Claims (6)
1. Sistema de espectrômetro (2) compreendendo um interferômetro de varredura (4); um sistema de acionamento (6) acoplado mecanicamente a um elemento refletor móvel (14) do interferômetro de varredura (4) e operável para efetuar a correspondência do elemento refletor móvel (14) a uma velocidade constante; uma disposição de detector (8) configurada para amostrar em intervalos de tempo equidistantes um interferograma formado pelo interferômetro de varredura (2) para gerar um interferograma amostrado; e um processador de dados (10) adaptado para adquirir o interferograma amostrado e executar uma operação de transformada de Fourier sobre ele para gerar um espectro de intensidade associado; caracterizado pelo fato de que o sistema de acionamento (6) é operável para efetuar a correspondência do elemento refletor móvel (14) em uma pluralidade de velocidades constantes diferentes; e de que o processador de dados (10) é adaptado para adquirir um interferograma amostrado em cada uma da pluralidade de velocidades constantes diferentes; para realizar uma operação de transformada de Fourier em cada um dos interferogramas amostrados adquiridos para gerar um espectro de intensidade associado e para realizar uma comparação relativa dos espectros de intensidade associados para identificar componentes variáveis de frequência ou comprimento de onda entre eles.
2. Sistema de espectrômetro (2), de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o sistema de acionamento (6) é operável para efetuar a correspondência do elemento refletor móvel (14) em três velocidades diferentes.
3. Sistema de espectrômetro (2), de acordo com a reivindicação 2, caracterizado pelo fato de que o processador de dados (10) é adaptado para realizar a comparação relativa para determinar uma ponderação para cada espectro de intensidade como uma diferença entre esse espectro e os demais espectros de intensidade e gerar um único espectro de intensidade formado como uma média ponderada dos espectros de intensidade.
4. Método para corrigir perturbações temporalmente periódicas emum interferograma gerado em um sistema de espectrômetro (2), conforme definido em qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que compreende as etapas de coletar (42) para acesso por um processador de dados (10) uma pluralidade (i) de interferogramas amostrados, cada um deles obtido em uma diferente dentre uma pluralidade (i) de diferentes velocidades de correspondência do elemento refletor móvel (14); realizar no processador de dados uma operação de transformada de Fourier (44) em cada um da pluralidade (i) de interferogramas amostrados, para gerar uma mesma pluralidade (i) de espectros de intensidade (SI(U); S2(U); S3(U)...SÍ(U)); comparar (46) no processador de dados (10) a pluralidade de espectros de intensidade (SI(U); S2(U); S3(U)...SÍ(U)) para identificar diferenças entre eles (50;52;54); e gerar (48) um espectro de intensidade corrigido (S (U); SLMMSE(U)) atenuando as diferenças (56;58).
5. Método, de acordo com a reivindicação 4, caracterizado pelofato de que as diferenças são armazenadas para acesso pelo processador de dados (10) como uma ponderação de SMi para cada espectro de intensidade (S1(U); S2(U); S3(V) ...Si(U)) com a ponderação de SMi para cada espectro de intensidade que representa uma semelhança entre o espectro de intensidade e os espectros de intensidade restantes (S (U)) da pluralidade e em que o espectro de intensidade corrigido (SLMMSE(U)) é gerado (48) como uma média ponderada da pluralidade de espectros de intensidade (S1(U); S2(U); S3(U)...Si(U)).
6. Método, de acordo com a reivindicação 5, caracterizado pelofato de que a ponderação de SMi para cada espectro de intensidade está representando uma semelhança entre o espectro de intensidade, e um espectro de intensidade médio (S (U)) é calculado no processador de dados (10) como a média da pluralidade da pluralidade de espectros de intensidade (S1(U); S2(U); S3(U)...Si(U)).
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