DE10144214C1 - Verfahren zur Aufnahme eines ortsaufgelösten Spektrums mittels eines Fourier-Transform (FT) - Spektrometers sowie Fourier-Transform(FT)-Spektrometer - Google Patents
Verfahren zur Aufnahme eines ortsaufgelösten Spektrums mittels eines Fourier-Transform (FT) - Spektrometers sowie Fourier-Transform(FT)-SpektrometerInfo
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Abstract
Bei einem Verfahren zur Aufnahme eines ortsaufgelösten Spektrums, insbesondere Infrarot(IR)-Spektrums, einer Probe (24) mittels eines Fourier-Transform(FT)-Spektrometers (10) wird von einer Lichtquelle (12) emittiertes Licht einem Interferometer (16) zugeführt, auf die Probe (24) gerichtet und von einem Array-Detektor (28) detektiert. Ein beweglicher Reflektor (22) des Interferometers (16) wird über eine Wegstrecke (s) verfahren, und der Array-Detektor (28) wird jeweils an einer Anzahl n von vorbestimmten diskreten Wegpunkten (s¶1¶, ..., s¶n¶) der Wegstrecke (s) ausgelesen. Der Array-Detektor (28) wird beim Verfahren des beweglichen Reflektors (22) über die Wegstrecke (s) an jeweils nicht benachbarten, durch zumindest jeweils einen dazwischenliegenden Wegpunkt (s¶i¶) getrennten Wegpunkten (s¶d¶) ausgelesen und der bewegliche Reflektor (22) wird zumindest zweimal über die Wegstrecke (s) verfahren, wobei der Array-Detektor (28) beim zweiten oder weiteren nochmaligen Verfahren über die Wegstrecke (s) an den Wegpunkten (s¶i¶) ausgelesen wird (Fig. 1).
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Aufnahme eines orts
aufgelösten Spektrums, insbesondere Infrarot (IR)-Spektrums,
einer Probe mittels eines Fourier-Transform (FT)-Spektrome
ters, bei dem von einer Lichtquelle emittiertes Licht einem In
terferometer zugeführt, auf die Probe gerichtet und von einem
Array-Detektor detektiert wird, wobei ein beweglicher Reflektor
des Interferometers über eine vorbestimmte Wegstrecke verfahren
wird und der Array-Detektor jeweils an einer Anzahl von be
stimmten diskreten Wegpunkten der Wegstrecke ausgelesen wird.
Die Erfindung betrifft ferner ein FT-Spektrometer, insbeson
dere zur Durchführung des Verfahrens.
Ein derartiges Verfahren bzw. ein FT-Spektrometer sind aus
der WO-A-01/06209 bekannt.
Bei der FT-Spektroskopie, ob ortsaufgelöst oder nicht orts
aufgelöst, wird das von der Lichtquelle emittierte Licht durch
einen halbdurchlässigen Strahlteiler des Interferometers in
zwei Teilstrahlen aufgespalten, die an einem feststehenden und
an einem beweglichen Reflektor reflektiert und nach Rekombina
tion zur Interferenz gebracht werden. Durch Verfahren des be
weglichen Reflektors wird die optische Weglänge in dem einen
Interferometerarm verändert, wodurch sich eine Phasendifferenz
zwischen beiden Teilstrahlen und somit eine Änderung der Inter
ferenzamplitude ergibt. Vom Detektor wird der Verlauf der In
tensität des von der Probe kommenden Lichts in Abhängigkeit von
der optischen Wegdifferenz, auch als Interferogramm bezeichnet,
detektiert. Die Intensitätsverteilung des von der Probe kommen
den Lichts wird somit zunächst in der Ortsdomäne gemessen und
durch eine anschließende Fourier-Transformation, die von einem
Rechner durchgeführt wird, in das eigentliche Spektrum umge
rechnet.
Das zuvor erwähnte Interferogramm wird dabei nicht kontinuier
lich, sondern nur punktweise abgespeichert. Hierzu wird übli
cherweise simultan das Interferenzmuster eines monochromati
schen Lasers, beispielsweise eines Helium-Neon-Lasers, dessen
Strahlung beispielsweise ebenfalls in dem optischen Meßstrah
lengang geführt wird, mit einer zusätzlichen Detektordiode de
tektiert. Die Nulldurchgänge des Lasersinussignals oder ein
Vielfaches dieser Intervalle definieren die Wegpunkte, an denen
das Interferogramm digitalisiert abgespeichert wird. Der beweg
liche Reflektor des Interferometers wird dazu über eine vorbe
stimmte Wegstrecke verfahren und an den vorbestimmten diskreten
Wegpunkten des beweglichen Reflektors wird aus dem Detektor das
jeweilige Meßsignal der Probe ausgelesen.
Zur Aufnahme eines ortsaufgelösten Spektrums wird ein Array-
Detektor verwendet, bei dem an jedem Wegpunkt alle Pixel oder
Voxel ausgelesen werden müssen, was mit einer erheblicher. Da
tenmenge verbunden ist, die beim Auslesen des Array-Detektors
an den Wegpunkten zu nachstehenden Problemen führt.
Zum Verfahren des beweglichen Reflektors des Interferometers
sind zwei grundsätzliche Techniken bekannt.
Bei dem sogenannten Step-Scan-Verfahren wird der bewegliche Re
flektor über die Wegstrecke in diskreten Schritten zu den ein
zelnen Wegpunkten verfahren, d. h. der bewegliche Reflektor wird
an den einzelnen vorbestimmten diskreten Wegpunkten angehalten
und der Array-Detektor bei stehendem Reflektor ausgelesen. Der
Nachteil dieses Verfahrens besteht darin, daß der bewegliche
Reflektor jeweils neu positioniert werden muß, womit eine Tot
zeit verbunden ist, während der mit dem Array-Detektor keine
Daten aufgenommen werden können. Vielmehr muß zunächst die ex
akte Position des Reflektors abgewartet werden, bevor die Da
tenaufnahme freigeschaltet werden kann. Die mit der Positionie
rung des Reflektors verbundenen Totzeiten liegen bei wenigen
Millisekunden pro Reflektorposition, die sich bei der üblicher
weise hohen Anzahl an Wegpunkten entsprechend aufsummieren.
Beim sogenannten Rapid-Scan-Verfahren wird der bewegliche Re
flektor kontinuierlich verfahren und der Array-Detektor wird
beim Verfahren des Reflektors ausgelesen. Dabei ist jedoch zu
berücksichtigen, daß die zur Verfügung stehenden Array-
Detektoren, beispielsweise Focal-Plane-Array-Detektoren, nur
eine Datenübertragungsrate in der Größenordnung von 200 Hz er
lauben. Diese geringe Datenrate erfordert beim kontinuierlichen
Scan-Verfahren eine sehr langsame Verfahrgeschwindigkeit des
Interferometerreflektors, die bei 0,1 mm/s (oder weniger)
liegt, was zu einer sehr störanfälligen Bewegung des Reflektors
und damit unpräzisen Aufnahme des Spektrums führt. Wünschens
wert wäre eine Verfahrgeschwindigkeit des Reflektors von etwa 5 cm/s,
wie sie üblicherweise bei FT-Spektrometern zur nicht
ortsaufgelösten Spektroskopie eingesetzt wird. Die geringe Da
tenrate der Array-Detektoren erlaubt jedoch eine derartige hohe
Verfahrgeschwindigkeit nicht.
Beiden zuvor genannten Aufnahmetechniken ist gemeinsam, daß die
Meßsignale sequentiell aufgenommen werden, d. h. alle einzelnen
Wegpunkte werden beim Verfahren des beweglichen Reflektors über
die vorbestimmte Wegstrecke einer nach dem anderen angefahren,
und dabei werden die erforderlichen Bilddaten sequentiell auf
genommen.
Die zuvor erwähnten Techniken des Rapid-Scan-Verfahrens bzw.
des Step-Scan-Verfahrens werden auch bei den Verfahren zur si
multanen Aufnahme zeitaufgelöster IR-Spektren von mehreren Pro
ben und bei der entsprechenden Vorrichtung gemäß der obenge
nannten WO-A-01/06209 angewandt. Dazu wird ein Fourier-
Transform-IR-Spektrometer verwendet, um die Gesamtheit der Pro
ben im Step-Scan-Modus oder im Rapid-Scan-Modus zu beleuchten,
wobei das von den Proben absorbierte Licht mittels eines Focal-
Plane-Array-Detektors aufgenommen wird. Die Meßdaten werden an
schließend Fourier-transformiert, woraus ein Satz von ortsauf
gelösten IR-spektroskopischen Bildern resultiert.
Ein weiteres Fourier-Transform-Spektrometer, mit dem das Step-
Scan-Verfahren durchgeführt wird, ist aus dem Dokument US 5,835,213
bekannt.
Ein Verfahren und ein IR-Spektrometer zur Aufnahme eines Spek
trums unter Anwendung des Rapid-Scan-Verfahrens ist aus dem Do
kument US 5,245,406 bekannt.
Alle zuvor genannten Dokumente beschreiben Verfahren und Spek
trometer zur Aufnahme von Spektren, die entweder das Rapid-
Scan-Verfahren oder das Step-Scan-Verfahren anwenden, mit den
zuvor erwähnten Nachteilen.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
und ein Fourier-Transform(FT)-Spektrometer der eingangs genann
ten Art dahingehend weiterzubilden, daß die Nachteile des Stan
des der Technik vermieden werden, daß insbesondere eine präzise
Aufnahme des ortsaufgelösten Spektrums ermöglicht wird.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe hinsichtlich des eingangs
genannten Verfahrens dadurch gelöst, daß der Array-Detektor
beim Verfahren des beweglichen Reflektors über die Wegstrecke
an jeweils nicht benachbarten, durch zumindest jeweils einen
dazwischenliegenden Wegpunkt getrennten Wegpunkten des bewegli
chen Reflektors ausgelesen wird, und daß der bewegliche Reflek
tor zumindest zweimal über die Wegstrecke verfahren wird, wobei
der Array-Detektor beim zweiten oder weiteren nochmaligen Ver
fahren über die Wegstrecke an den dazwischenliegenden Wegpunk
ten si ausgelesen wird.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird demnach der Array-
Detektor beim Verfahren des beweglichen Reflektors über die
vorbestimmten Wegstrecke nicht an jedem aufeinanderfolgenden
Wegpunkt ausgelesen, sondern es werden bei der Datenaufnahme
Wegpunkte ausgelassen, an denen der Array-Detektor nicht ausge
lesen wird, und der bewegliche Reflektor wird zumindest ein
zweites Mal über die vorbestimmte Wegstrecke verfahren, wobei
dann beim zumindest zweiten Verfahren des beweglichen Reflek
tors über die vorbestimmte Wegstrecke der Array-Detektor an
denjenigen Wegpunkten ausgelesen wird, an denen beim ersten
Verfahren des beweglichen Reflektors nicht ausgelesen wurde.
Ggf. wird der bewegliche Reflektor mehr als zweimal über die
vorbestimmte Wegstrecke verfahren, um alle Wegpunkte zu erfas
sen. Der Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht dar
in, daß der bewegliche Reflektor mit einer eine wenig störan
fällige Bewegung des Reflektors gewährleistenden hohen Verfahr
geschwindigkeit verfahren werden kann, die bei dem herkömmli
chen Rapid-Scan-Verfahren für einen Array-Detektor mit geringer
Datenrate zu hoch wäre. Mit der durch die Erfindung ermöglich
ten hohen Verfahrgeschwindigkeit des beweglichen Reflektors
kann das ortsaufgelöste Spektrum mittels des Array-Detektors
somit mit hoher Präzision aufgenommen werden.
In einer bevorzugten Ausgestaltung wird der Array-Detektor beim
ersten Verfahren über die Wegstrecke an Wegpunkten s1, s1+m,
S1+2m, . . ., Sn-m+1, beim zumindest zweiten Verfahren entlang der
Wegstrecke an Wegpunkten s2, s2+m, S2+2m, . . ., Sn-m+2 und beim
m-ten Verfahren über die Wegstrecke an Wegpunkten sm, s2m, . . .,
sn ausgelesen, wobei 1 < m < n und n : m eine ganze Zahl ist.
Bei dieser Maßnahme wird der Array-Detektor bei jedem Verfahren
über die Wegstrecke vorteilhafterweise an solchen Wegpunkten
ausgelesen, die voneinander einen durch die Zahl m vorgegebenen
festen Wegabstand aufweisen, der vorteilhafterweise bei vorge
gebener Verfahrgeschwindigkeit des Reflektors an die Datenrate
des verwendeten Array-Detektors angepaßt werden kann. Auf diese
Weise ist es mit anderen Worten möglich, die Zahl m gerade so
groß zu wählen, wie es die Datenrate des verwendeten Array-
Detektors erfordert.
Entsprechend wird in einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung m
in Abhängigkeit der Datenrate des Array-Detektors gewählt.
Hierbei ist von Vorteil, daß die für die Aufnahme des vollen
Spektrums benötigte Zeit in Abhängigkeit der Datenrate des Ar
ray-Detektors minimiert werden kann. Während die Zahl n durch
die zu erreichende spektrale Auflösung bzw. den maximalen Wel
lenzahlenbereich des Spektrums vorgegeben ist, wird m größer um
so gewählt, je niedriger die Datenrate des Array-Detektors
ist, um den beweglichen Reflektor mit einer möglichst hohen
Verfahrgeschwindigkeit von beispielsweise etwa 5 cm/s verfahren
zu können.
In einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung wird der Array-
Detektor in beiden Verfahrrichtungen des beweglichen Reflektors
ausgelesen.
Hierbei ist von Vorteil, daß die für die Aufnahme des vollstän
digen Spektrums benötigte Zeit verringert werden kann, da der
Array-Detektor auch beim Zurückfahren des beweglichen Reflek
tors ausgelesen wird.
Ebenso bevorzugt ist es jedoch, wenn der Array-Detektor nur in
einer der Verfahrrichtungen des beweglichen Reflektors ausgele
sen wird, wobei der Reflektor nach jedem Verfahren über die
Wegstrecke s in eine Ausgangsposition zurückgefahren wird.
Diese Maßnahme ist zwar im Vergleich zu der zuvor genannten
Maßnahme etwas zeitaufwendiger, da der Array-Detektor nur beim
Verfahren des beweglichen Reflektors in einer Richtung ausgele
sen wird, jedoch kann diese Maßnahme vorteilhafterweise die
Präzision des ortsaufgelösten Spektrums erhöhen, da sich beim
Verfahren des beweglichen Reflektors in der einen Richtung und
in der anderen Richtung eventuell ergebende Positionsunter
schiede des Reflektors an den Wegpunkten nicht nachteilig auf
das Spektrum auswirken.
Bei der zuletzt genannten Ausgestaltung ist es weiterhin bevor
zugt, wenn der Reflektor mit einer Geschwindigkeit zurückgefah
ren wird, die höher ist als die Geschwindigkeit beim Verfahren
zum Auslesen des Array-Detektors.
Durch diese Maßnahme kann beim Auslesen des Array-Detektors in
nur einer Verfahrrichtung des Reflektors wiederum die für die
Aufnahme des Spektrums erforderliche Zeit verringert werden,
indem die Geschwindigkeit beim Zurückfahren des Reflektors hö
her gewählt wird als die Geschwindigkeit beim Verfahren des Re
flektors zum Auslesen des Array-Detektors.
In einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung wird der Reflektor
beim Verfahren zum Auslesen des Array-Detektors kontinuierlich
mit konstanter Geschwindigkeit verfahren.
Durch diese Maßnahme werden im Unterschied zu dem bekannten
Step-Scan-Betrieb Totzeiten der Positionierung des beweglichen
Reflektors vermieden, d. h. der Reflektor muß nicht jeweils an
dem Wegpunkt, an dem gerade ausgelesen wird, abgebremst und an
gehalten und anschließend wieder beschleunigt werden. Dadurch
werden auch Positionierungsfehler vorteilhafterweise vermieden,
die die Präzision des Spektrums beeinträchtigen können.
In einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung wird der Reflektor
mit einer Geschwindigkeit im Bereich von etwa 4 bis 6 cm/s,
vorzugsweise etwa 5 cm/s verfahren.
Wie bereits erwähnt, ermöglicht die erfindungsgemäße Ausgestal
tung des Verfahrens derartige hohe Verfahrgeschwindigkeiten des
beweglichen Reflektors, die den Vorteil haben, daß die Bewegung
des Reflektors infolge von mechanischen Einflüssen nicht oder
nur sehr gering störanfällig ist.
Ein erfindungsgemäßes Fourier-Transform (FT)-Spektrometer zur
Aufnahme eines ortsaufgelösten Spektrums, insbesondere IR-
Spektrums, einer Probe, insbesondere zur Durchführung eines
Verfahrens nach einer oder mehreren der zuvor genannten Ausge
staltungen, weist eine Lichtquelle, ein Interferometer und ei
nen Array-Detektor auf, wobei das Interferometer einen bewegli
chen Reflektor aufweist, der über eine Wegstrecke verfahrbar
ist. Das FT-Spektrometer weist ferner eine mit dem Array-
Detektor in Wirkverbindung stehende Steuerung auf, um den Ar
ray-Detektor jeweils an einer Anzahl von vorbestimmten diskre
ten Wegpunkten der Wegstrecke auszulesen. Erfindungsgemäß ist
die Steuerung so ausgebildet, daß der Array-Detektor beim Ver
fahren des beweglichen Reflektors über die Wegstrecke an je
weils nicht benachbarten, durch zumindest jeweils einen dazwi
schenliegenden Wegpunkt getrennten Wegpunkten ausgelesen wird,
und daß der bewegliche Reflektor zumindest zweimal über die
Wegstrecke verfahren wird, wobei der Array-Detektor beim zwei
ten oder weiteren nochmaligen Verfahren über die Wegstrecke an
den dazwischenliegenden Wegpunkten ausgelesen wird.
Weitere Vorteile und Merkmale ergeben sich aus der nachfolgen
den Beschreibung und der beigefügten Zeichnung.
Es versteht sich, daß die vorstehend genannten und nachstehend
noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in der jeweils angege
benen Kombination, sondern auch in anderen Kombinationen oder
in Alleinstellung verwendbar sind, ohne den Rahmen der vorlie
genden Erfindung zu verlassen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung
dargestellt und wird mit Bezug auf diese hiernach näher be
schrieben. Es zeigen:
Fig. 1 äußerst schematisch den prinzipiellen Aufbau eines
FT-Spektrometers; und
Fig. 2 ein Weg-Zeit-Diagramm eines Scan-Schemas für Daten
aufnahmen an insgesamt n = 16 Wegpunkten.
In Fig. 1 ist der Prinzipaufbau eines mit dem allgemeinen
Bezugszeichen 10 versehenen Fourier-Transform (FT)-Spektrome
ters dargestellt, mit dem ein ortsaufgelöstes Spektrum einer
Probe aufgenommen werden kann.
Das FT-Spektrometer 10 weist eine Lichtquelle 12 zum Emittie
ren von Meßlicht auf. Entsprechend der Verwendung des FT-
Spektrometers 10 zur Aufnahme eines Infrarot (IR)-Spektrums
ist die Lichtquelle 12 eine im infraroten Spektralbereich emit
tierende Lichtquelle.
Der Lichtquelle 12 ist ein Kollimatorspiegel 14 und diesem ein
Interferometer 16 nachgeordnet.
Das Interferometer 16 weist einen Strahlteiler 18, beispiels
weise eine plan-parallele, halbverspiegelte Glasplatte auf. Das
Interferometer 16 weist ferner einen feststehenden Reflektor
20, beispielsweise einen planen Spiegel, und einen beweglichen
Reflektor 22 auf, der ebenfalls als planer Spiegel ausgebildet
sein kann.
In dem vom Interferometer 16 kommenden Strahlengang des vor, der
Lichtquelle 12 emittierten Lichtes ist eine Probe 24 angeord
net, von der das IR-Spektrum aufgenommen werden soll. Der
Probe 24 nachgeordnet ist ein weiterer Kollimatorspiegel 26,
dem schließlich ein Array-Detektor 28 nachgeordnet ist, mit dem
ortsaufgelöst gemessen werden kann. Der Array-Detektor 28 weist
entsprechend eine Vielzahl in einem Array angeordnete Pixel
oder Voxel auf, die von einzelnen Flächen- oder Raumpunkten
kommende Meßsignale der Probe 24 ortsaufgelöst empfangen. Der
Array-Detektor 28 ist beispielsweise ein Focal-Plane-Array-
Detektor.
Das von der Lichtquelle 12 emittierte Licht wird zunächst von
dem Kollimatorspiegel 14 als paralleles Lichtbündel auf den
Strahlteiler 18 gerichtet. Am Strahlteiler 18 tritt eine
Strahlteilung auf, wobei ein erster Teilstrahl auf den festste
henden Reflektor 20 gerichtet wird, während ein zweiter Teil
strahl durch den Strahlteiler 18 hindurchgeht und auf den be
weglichen Reflektor 22 gerichtet wird. Die von dem feststehen
den Reflektor 20 und dem beweglichen Reflektor 22 rückgestreu
ten Teilstrahlen werden dann am Strahlteiler 18 zur Interferenz
gebracht. Die beiden zur Interferenz gebrachten Teilstrahlen
werden dann gemeinsam auf die Probe 24 gerichtet, wobei die
Messung des Spektrums vorliegend in Transmission erfolgt. Je
nach den Absorptionseigenschaften der Probe 24 wird alles oder
ein Teil des zur Interferenz gebrachten Lichtes hindurchgelas
sen und von dem Kollimatorspiegel 26 auf den Array-Detektor 28
fokussiert. Der Array-Detektor 28 detektiert demnach ortsaufge
löst die von der Probe 24 durchgelassene Intensität des Inter
ferenzlichtes.
Zur Aufnahme des Spektrums wird der bewegliche Reflektor 22
über eine Wegstrecke s kontinuierlich mit konstanter Geschwin
digkeit verfahren. In Abhängigkeit von dem optischen Wegunter
schied des vom feststehenden Reflektor 20 reflektierten Teil
strahles und vom beweglichen Reflektor 22 reflektierten Teil
strahles entsteht entsprechend ein Interferogramm, das vom Ar
ray-Detektor 28 aufgenommen wird.
Der Array-Detektor 28 detektiert somit die von der Probe 24
durchgelassene Intensität in Abhängigkeit der Ortskoordinate
des beweglichen Reflektors 22, wobei diese ortsabhängige Inten
sitätsverteilung anschließend in einer nicht dargestellten
Rechnereinheit durch eine mathematische Fourier-Transformation
in eine wellenzahlabhängige Intensitätsverteilung, d. h. in das
aufzunehmende Spektrum umgerechnet wird.
Die ortsabhängige Detektion der Intensitätsverteilung erfolgt
jedoch nicht an beliebigen kontinuierlichen Positionskoordina
ten des beweglichen Reflektors 22, sondern lediglich an diskre
ten Positionskooordinaten bzw. Wegpunkten s1, s2, . . ., sn, des
beweglichen Reflektors 22.
Um die diskreten Wegpunkte s1, s2, . . ., sn vorzubestimmen bzw.
zu eichen, wird eine monochromatische weitere Lichtquelle 30
verwendet, beispielsweise ein Helium-Neon-Laser mit einer mono
frequenten Emission. Das von der Lichtquelle 30 emittierte
Licht wird ebenfalls in das Interferometer 16 eingekoppelt und
von einem weiteren Detektor 32 detektiert. Beim Verfahren des
beweglichen Reflektors 22 wird von dem Detektor 32 aufgrund der
Einmodigkeit des von der Lichtquelle 30 emittierten Lichtes ei
ne sinusförmige Intensitätsverteilung bzw. ein sinusförmiges
Interferogramm detektiert. Die Nulldurchgänge dieses Si
nussignals oder ein Vielfaches davon dienen dann zur Festlegung
der diskreten Wegpunkte s1, s2, . . ., sn, an denen jeweils die
Pixel oder Voxel des Array-Detektors 28 vollständig ausgelesen
werden.
Die Anzahl n an vorbestimmten diskreten Wegpunkten s1, s2, . . .,
sn ist in der Regel groß und wird durch die Länge der Wegstrec
ke s, über die der bewegliche Reflektor 22 verfahrbar ist, wo
bei mit zunehmender Wegstrecke s die spektrale Auflösung des
aufzunehmenden Spektrums verbessert wird, und andererseits
durch den Abstand der Wegpunkte s1, s2, . . ., sn bestimmt, wobei
der Abstand zwischen zwei benachbarten Wegpunkten den maximalen
Wellenzahlenbereich des Spektrums festlegt, und zwar derart,
daß je kleiner der Abstand zwischen jeweils benachbarten der
Wegpunkte s1, s2, . . ., sn ist, desto größer der Wellenzahlenbe
reich ist.
Zur Aufnahme eines Spektrums wird der bewegliche Reflektor 22,
beispielsweise beginnend bei der Reflektorposition bzw. dem
Wegpunkt s1 in Richtung eines Pfeiles 34 verfahren.
Nun wird der Array-Detektor 28 jedoch nicht an unmittelbar auf
einanderfolgenden Wegpunkten s1, s2, . . ., sn sequentiell ausge
lesen, sondern der Array-Detektor 28 wird an jeweils nicht be
nachbarten, durch zumindest jeweils einen dazwischenliegenden
Wegpunkt si getrennten Wegpunkten sd des beweglichen Reflektors
22 ausgelesen. Entsprechend wird der bewegliche Reflektor 22
zumindest zweimal über die Wegstrecke s verfahren und der Ar
ray-Detektor 28 wird beim zweiten oder ggf. nochmaligen Verfah
ren des beweglichen Reflektors 22 über die Wegstrecke s an den
Wegpunkten si ausgelesen.
Das FT-Spektrometer 10 weist dazu eine entsprechende Steue
rung zum Verfahren des Reflektors 22 und Auslesen des Array-
Detektors 28 auf.
Es versteht sich, daß es im Rahmen der Erfindung nicht zwingend
erforderlich ist, daß beim Verfahren des beweglichen Reflektors
22 über die Wegstrecke s stets eine gleiche Anzahl von dazwi
schenliegenden Wegpunkten si ausgelassen wird, an denen der Ar
ray-Detektor 28 nicht ausgelesen wird.
Jedoch ist es bevorzugt, wenn beim Verfahren des beweglichen
Reflektors 22 zwischen jeweils zwei Wegpunkten sd die gleiche
Anzahl an dazwischenliegenden Wegpunkten si ausgelassen wird,
an denen zunächst keine Auslesung des Array-Detektors 28 er
folgt.
Bei dieser bevorzugten Variante wird der Array-Detektor 28 beim
ersten Verfahren des beweglichen Reflektors 22 über die Weg
strecke s an Wegpunkten s1, s1+m, s1+2m, . . ., sn-m+1, beim zumindest
zweiten Verfahren entlang der Wegstrecke s an Wegpunkten
s2, s2+m, s2+2m, . . ., sn-m+2 und beim m-ten Verfahren über die Weg
strecke s an Wegpunkten sm, s2m, . . ., sn ausgelesen, wobei 1 < m < n
und n : m eine ganze Zahl ist.
In Fig. 2 ist ein Scan-Schema für n = 16 und m = 4 dargestellt.
Fig. 2 ist ein Weg-Zeit-Diagramm für den beweglichen Reflektor
22, wobei auf der Abszisse die Zeit t und auf der Ordinate die
Wegstrecke s aufgetragen ist. Die vorbestimmten diskreten Weg
punkte sind mit s1 bis s16 bezeichnet und in dem Diagramm mit
kleinen und großen Kreisen dargestellt. An den mit kleinen
Kreisen dargestellten Wegpunkten si wird der Array-Detektor 28
jeweils nicht ausgelesen, während der Array-Detektor 28 an den
mit großen Kreisen bezeichneten Wegpunkten sd ausgelesen wird.
Beginnend bei der Zeit t0 wird der bewegliche Reflektor aus
seiner Position bzw. dem Wegpunkt s1 verfahren, wobei an dem
Wegpunkt s1 das vorliegende Meßsignal aus dem Array-Detektor 28
ausgelesen bzw. abgespeichert wird. Der bewegliche Reflektor 22
wird kontinuierlich mit konstanter Geschwindigkeit in. Richtung
des Pfeiles 34 in Fig. 1 verfahren. An den Wegpunkten s2, s3
und s4 erfolgt dann keine Auslesung des Array-Detektors 28,
sondern erst, wenn der bewegliche Reflektor 22 den Wegpunkt s5
erreicht hat. Die Zeit t, die der bewegliche Reflektor 22 beim
Verfahren zwischen den Wegpunkten s1 und s5 benötigt hat, steht
dem Array-Detektor 28 für die Datenübertragung zur Verfügung.
Beim ersten Verfahren des beweglichen Reflektors 22 entlang der
Wegstrecke s wird somit der Array-Detektor 28 an den Wegpunkten
s1, s5, s9 und s13 ausgelesen.
Nach Erreichen des Wegpunktes s16, an dem beim ersten Verfahren
des beweglichen Reflektors 22 der Array-Detektor 28 nicht aus
gelesen wird, wird der bewegliche Reflektor 22 in Richtung ei
nes Pfeiles 36 in Fig. 1 in die dem Wegpunkt s1 entsprechende
Ausgangsstellung zurückgefahren, wobei das Zurückfahren des be
weglichen Reflektors 22 mit höherer Geschwindigkeit erfolgt als
das Verfahren des beweglichen Reflektors 22 zum Auslesen des
Array-Detektors 28, wie aus der Weg-Zeit-Darstellung in Fig. 2
hervorgeht. Beim zweiten Verfahren des beweglichen Reflektors
22 entlang der Wegstrecke s wird der Array-Detektor 28 nunmehr
an den Wegpunkten s2, s6, s10 und s14 des beweglichen Reflektors
22 ausgelesen, usw. Da bei dem in Fig. 2 dargestellten Scan-
Schema der Array-Detektor 28 nur an jedem vierten Wegpunkt sd
ausgelesen wird (m = 4), muß der bewegliche Reflektor 22 entspre
chend viermal entlang der Wegstrecke s zum Auslesen des Array-
Detektors 28 verfahren werden.
Anstatt den beweglichen Reflektor 22 nach Erreichen des Weg
punktes s16 jedesmal in die Ausgangsposition entsprechend dem
Wegpunkt s1 zurückzufahren und den Array-Detektor 28 nur in ei
ner Verfahrrichtung (Pfeil 34) des beweglichen Reflektors 22
auszulesen, kann auch in Betracht gezogen werden, den Array-
Detektor 28 in beiden Verfahrrichtungen des beweglichen Reflek
tors 22 auszulesen, wobei es dann jedoch erforderlich ist, den
beweglichen Reflektor 22 in beiden Verfahrrichtungen mit glei
cher Verfahrgeschwindigkeit zu bewegen.
Aufgrund des erfindungsgemäßen Verfahrens kann der bewegliche
Reflektor 22 mit einer für eine nicht oder nur wenig störanfäl
lige Bewegung geeigneten Geschwindigkeit im Bereich von etwa 4
bis 6 cm/s, vorzugsweise etwa 5 cm/s bewegt werden, selbst wenn
der verwendete Array-Detektor 28 eine Datenrate besitzt, die
bei einem sequentiellen aufeinanderfolgenden Anfahren der ein
zelnen Wegpunkte s1, . . ., sn eine derartig hohe Verfahrge
schwindigkeit nicht erlauben würde, da dem Array-Detektor 28
durch das Auslassen von dazwischenliegenden Wegpunkten si genü
gend Zeit für die Datenübertragung zur Verfügung steht. Die
Zahl m wird dabei in Abhängigkeit der Datenrate des Array-
Detektors 28 gewählt, und zwar gerade nur so groß, daß zwischen
zwei Wegpunkten sd und sd+m so viele Wegpunkte si ausgelassen
werden, daß das Auslesen der kompletten Datenmenge an dem Weg
punkt sd aus dem Array-Detektor 28 vollständig erfolgt ist.
Claims (9)
1. Verfahren zur Aufnahme eines ortsaufgelösten Spektrums,
insbesondere Infrarot (IR)-Spektrums, einer Probe (24)
mittels eines Fourier-Transform (FT)-Spektrometers (10),
bei dem von einer Lichtquelle (12) emittiertes Licht einem
Interferometer (16) zugeführt, auf die Probe (24) gerich
tet und von einem Array-Detektor (28) detektiert wird, wo
bei ein beweglicher Reflektor (22) des Interferometers
(16) über eine Wegstrecke (s) verfahren wird und der Ar
ray-Detektor (28) jeweils an einer Anzahl (n) von vorbe
stimmten diskreten Wegpunkten s1, . . ., sn der Wegstrecke (s)
ausgelesen wird, dadurch gekennzeichnet, daß der Array-
Detektor (28) beim Verfahren des beweglichen Reflektors
(22) über die Wegstrecke (s) an jeweils nicht benachbar
ten, durch zumindest jeweils einen dazwischenliegenden
Wegpunkt si getrennten Wegpunkten sd ausgelesen wird, und
daß der bewegliche Reflektor (22) zumindest zweimal über
die Wegstrecke (s) verfahren wird, wobei der Array-
Detektor (28) beim zweiten oder weiteren nochmaligen Ver
fahren über die Wegstrecke (s) an den Wegpunkten si ausge
lesen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
Array-Detektor (28) beim ersten Verfahren über die Weg
strecke (s) an Wegpunkten s1, s1+m, s1+2m, . . ., sn-m+1, beim
zumindest zweiten Verfahren entlang der Wegstrecke (s) an
Wegpunkten s2, s2+m, s2+2m, . . ., sn-m+2 und beim m-ten Verfah
ren über die Wegstrecke (s) an Wegpunkten sm, s2m, . . ., sn
ausgelesen wird, wobei 1 < m < n und n : m eine ganze Zahl ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß m
in Abhängigkeit einer Datenrate des Array-Detektors (28)
gewählt wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Array-Detektor (28) in beiden Ver
fahrrichtungen des beweglichen Reflektors (22) ausgelesen
wird.
5. Verfähren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Array-Detektor (28) nur in einer der
Verfahrrichtungen des beweglichen Reflektors (22) ausgele
sen wird, wobei der Reflektor (22) nach jedem Verfahren
über die Wegstrecke (s) in eine Ausgangsposition zurückge
fahren wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der
Reflektor (22) mit einer Geschwindigkeit zurückgefahren
wird, die höher ist als die Geschwindigkeit beim Verfahren
zum Auslesen des Array-Detektors (28).
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Reflektor (22) beim Verfahren zum
Auslesen des Array-Detektors (28) kontinuierlich mit kon
stanter Geschwindigkeit verfahren wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Reflektor (22) mit einer Geschwin
digkeit im Bereich von etwa 4 bis 6 cm/s, vorzugsweise et
wa 5 cm/s, verfahren wird.
9. Fourier-Transform (FT)-Spektrometer zur Aufnahme eines
ortsaufgelösten Spektrums, insbesondere IR-Spektrums,
einer Probe, insbesondere zur Durchführung eines Verfah
rens nach einem der Ansprüche 1 bis 8, mit einer Licht
quelle (12), einem Interferometer (16) und einem Array-
Detektor (28), wobei das Interferometer (16) einen beweg
lichen Reflektor (22) aufweist, der über eine Wegstrecke
(s) verfahrbar ist, und mit einer mit dem Array-Detektor
(28) in Wirkverbindung stehenden Steuerung, um den Array-
Detektor (28) jeweils an einer Anzahl (n) von vorbestimm
ten diskreten Wegpunkten s1, . . ., sn der Wegstrecke (s) aus
zulesen, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerung so aus
gebildet ist, daß der Array-Detektor (28) beim Verfahren
des beweglichen Reflektors (22) über die Wegstrecke (s) an
jeweils nicht benachbarten, durch zumindest jeweils einen
dazwischenliegenden Wegpunkt si getrennten Wegpunkten sd
ausgelesen wird, und daß der bewegliche Reflektor (22) zu
mindest zweimal über die Wegstrecke (s) verfahren wird,
wobei der Array-Detektor (28) beim zweiten oder weiteren
nochmaligen Verfahren über die Wegstrecke (s) an den Weg
punkten si ausgelesen wird.
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