BR112015028619B1 - Método e dispositivo para medição de nivelamento de uma chapa, linha de laminador de acabamento e método de produção de chapa de aço - Google Patents

Abstract

método para medição de nivelamento de material de chapa, dispositivo para medição de nivelamento de material de chapa e método de produção de chapa de aço. a presente invenção refere-se a um método para medição de nivelamento de um material de chapa que inclui uma etapa de projeção de um padrão claro e escuro, composto de porções claras e porções escuras, sobre uma superfície de um material de chapa viajando entre trens de laminação adjacentes, fazendo isso a partir de uma unidade de projeção situada entre os trens de laminação, e captura de uma imagem do padrão claro e escuro por uma unidade de captura de imagem situada entre os trens de laminação, para adquirir um imagem padrão; e uma etapa de análise da imagem padrão adquirida para medir o nivelamento do material de chapa, onde l0, a, ß, hc e hp satisfazem a expressão (1) que segue: 0,75l0 = (tana+tan??ß ?)/((( 1)/hc - 1)/hp) =1,5l0...(1) .

Description

CAMPO DA TÉCNICA

[001] A presente invenção refere-se a um método para mediçãodo nivelamento de uma chapa, um dispositivo para medição do nivelamento de uma chapa e um método de produção para uma chapa de aço. Em particular, a presente invenção refere-se a um método e dispositivo que podem medir com precisão o nivelamento de uma chapa que viaja entre trens de laminação, entre os quais um looper está instalado, sem importar o ângulo de um looper, e a um método de produção para chapa de aço usando o mesmo.

TÉCNICA ANTERIOR

[002] Para ambos assegurar qualidade de produto de uma chapae produção da chapa estavelmente, nivelamento excelente é requerido. Desta maneira, gerenciamento de nivelamento apropriadamente em um processo de produção de chapa tem sido uma questão de interesse até agora.

[003] Valores referidos como "taxa de alongamento diferencial" e"declividade" são comumente usados como índices representando ni-velamento.

[004] A taxa de alongamento diferencial Δε é a diferença em umacerta faixa em uma direção de comprimento de uma chapa (isto é, a direção de viagem em uma linha de produção) entre uma taxa de alongamento εCENT de uma porção central em uma direção de largura da chapa e uma taxa de alongamento εEDGE em outro ponto que não a porção central de direção de largura da chapa (geralmente, uma vizinhança de uma borda). A taxa de alongamento diferencial Δε é representada pela expressão matemática (2) que segue.

[005] A declividade À é definida usando uma altura de onda dachapa δ e um distanciamento P, como À = δ/P. Devido ao fato que os formatos das ondas da chapa são próximos de ondas senoidais, a taxa de alongamento diferencial Δε e a declividade À (%) têm uma relação bem conhecida representada pela expressão matemática (3) que se-gue.

[006] Uma linha de produção para chapa de aço laminada aquente, que é um exemplo de uma chapa, consiste geralmente em, por exemplo, um forno de aquecimento, um laminador de desbaste, um laminador de acabamento, uma zona de esfriamento e um enrola-dor de bobina. Um chapa de aço aquecida no forno de aquecimento é laminada pelo laminador de desbaste e formou uma chapa de aço (uma barra irregular) de 30 a 60 mm de espessura. Então, a chapa de aço é laminada pelo laminador de acabamento, que é equipado com seis ou sete trens de laminação, e formada em uma chapa de aço laminada a quente com uma espessura desejada por um consumidor. A chapa de aço laminada a quente é esfriada na zona de esfriamento e enrolada pelo enrolador de bobina.

[007] Produção de chapa de aço laminada a quente com excelente nivelamento é importante para ambos assegurar qualidade de produto e manutenção de alta produtividade, na alimentação de modo estável da chapa ao laminador de acabamento, enrolamento da chapa no enrolador de bobina e assim por diante. Falhas no nivelamento de chapas de aço laminadas a quente que aumentam subsequente ao laminador de acabamento são causadas pela taxa de alongamento que não é uniforme na direção de largura da chapa ocorrendo no lami- nador de acabamento e zona de esfriamento. Desta maneira, foram propostos métodos para produção de chapa de aço laminada a quente com excelente nivelamento incluindo: um método de instalação de um medidor de nivelamento, um leitor de espessura da chapa ou similar entre os trens de laminação que constituem o laminador de acabamento ou no lado de saída do laminador de acabamento e realização de controle de feedback de dobradeira de rolo de trabalho dos trens de laminação em resposta a valores medidos; e um método de controle de aprendizagem de condições de ajuste tais como posições de mudança de rolo de trabalho, distribuição de carga no laminador de acabamento e similar. Os métodos de controle mencionados acima são descritos no, por exemplo, Pedido de Patente Japonês Aberto à Inspeção Pública (JP-A) No. H11-104721. Um método adicional foi proposto, de posicionamento de um medidor de nivelamento no lado de saída da zona de esfriamento e realização de controle de feedback de quantidades de água de esfriamento a partir dos bocais de esfriamento da zona de esfriamento em resposta a valores medidos. Para realizar os métodos de controle mencionados acima, métodos e dispositivos para medição do nivelamento de chapa de aço laminada a quente viajando em alta velocidade, entre os trens de laminação, no lado de saída do laminador de acabamento, ou no lado de saída da zona de esfriamento, foram propostos e empregados na prática.

[008] Um método para medição do nivelamento da chapa de açolaminada a quente que é convencionalmente conhecido é um método de projeção de um padrão linear composto de uma pluralidade de linhas claras que se estendem na direção de largura da chapa sobre a superfície de chapa de aço laminada a quente que está sendo laminada a quente e viajando, captura de uma imagem do padrão linear com uma câmera bidimensional a partir de uma direção que é diferente da direção de projeção do padrão linear e, com base nas distorções do padrão linear na imagem capturada, medição do formato da superfície da chapa de aço laminada a quente e então do nivelamento. Por exemplo, o JP-A No. 2008-58036 menciona um método de uso de um plano inclinado no qual um padrão linear de alta densidade é esboçado, projeção do padrão linear de alta densidade composto de uma pluralidade de linhas claras se estendendo na direção de largura da chapa sobre a superfície de uma chapa, captura de uma imagem da mesma com uma câmera e, com base nas distorções do padrão linear na imagem capturada, medição do formato da superfície da chapa e consequentemente do nivelamento. Com este método, devido ao fato de um padrão linear de alta densidade ser projetado, uma resolução de medição (resolução espacial) do formato de superfície é alta e medição precisa do formato da superfície da chapa pode ser esperada.

[009] O método de medição de formato conforme descrito no JP-A No. 2008-58036 é comumente referido como o método de projeção padrão de grade. Ele não é limitado à medição de formatos de superfície de chapa de aço, mas é usado para uma variedade de aplicações.

[0010] A figura 1 é um diagrama ilustrando esquematicamente umexemplo de estrutura de equipamento para implementação do método de projeção de padrão de grade. Conforme ilustrado na figura 1, no método de projeção padrão de grade, um padrão de grade (um padrão claro e escuro) PT’ é projetado sobre a superfície de uma chapa a partir de diagonalmente acima da superfície da chapa, usando um projetor PR equipado com uma fonte de luz LT, um plano inclinado SL no qual um padrão de grade (geralmente um padrão linear) PT é esboçado e uma lente de foco LN. Uma imagem do padrão de grade PT’ projetado sobre a superfície da chapa PL é capturada usando uma câmera bidimensional CA, em uma direção que é diferente da direção de projeção do padrão de grade PT. Neste processo, se o formato da superfície da chapa variar, ângulos de inclinação da superfície da chapa VL variam, e um distanciamento PC (geralmente o espaçamento de linhas claras compondo o padrão linear) do padrão de grade PT’ na imagem capturada pela câmera varia de acordo com os ângulos de inclinação dasuperfície da chapa PL. Uma relação entre ângulos de inclinação dasuperfície da chapa e o distanciamento PC de porções claras do padrão de grade PT’ na imagem de capturada pode ser geometricamente calculada. Desta maneira, se o distanciamento PC de porções claras do padrão de grade PT’ na imagem capturada for medido, os ângulos de inclinação da superfície da chapa podem ser calculados com base na relação mencionada acima com esses resultados de medição (isto é, a relação entre os ângulos de inclinação da superfície da chapa e o distanciamento PC das porções claras do padrão de grade PT’ na imagem capturada). O formato da superfície da chapa PL pode ser calculado através da integração dos ângulos de inclinação calculados. A relação entre os ângulos de inclinação da superfície da chapa PL e do distanciamento PC das porções claras do padrão de grade PT’ na imagem capturada inclui, como um parâmetro, um distanciamento PC das porções claras do padrão de grade PT’ em uma imagem capturada do padrão de grade PT’ que é adquirida a partir de uma chapa padrão (uma chapa de calibragem) que tem um formato de superfície plano.

[0011] Como métodos que empregam o método de projeção depadrão de grade descrito acima para medir o nivelamento de chapas, os presentes inventores propuseram os métodos descritos nas Patentes Japonesas Nos. 4.666.272 e 4.666.273. De acordo com esses métodos, se um meio de captura de imagem for instalado em um local onde reflexão de luz regular de um padrão de claro escuro projetado sobre a superfície de uma chapa com uma refletividade regular forte puder ser detectada, a fim de reduzir o espaço requerido para disposição de um dispositivo de medição, o nivelamento da chapa pode ser medido com precisão. No entanto, esses métodos presumem que o nivelamento seja medido principalmente no lado de saída de um lami- nador de acabamento.

[0012] Comumente, um looper para controle de tensão em umachapa de aço é instalado entre trens de laminação estruturando um laminador de acabamento. A tensão na chapa de aço é controlada através da alteração do ângulo de um looper. Quando o ângulo de um looper é mudado, a rota de passagem da chapa da chapa de aço viajando entre os trens de laminação muda. Desta maneira, quando o ângulo do looper é mudado, um ângulo de inclinação e altura (posição de direção vertical) da superfície da chapa de aço mudam.

[0013] Desta maneira, quando o nivelamento da chapa de aço entre os trens de laminação está sendo medido, mesmo se a chapa de aço tem, por exemplo, um formato de superfície plano, o distanciamento das porções claras de um padrão claro e escuro em uma imagem capturada muda de acordo com alterações do ângulo do looper, causando erros de medição.

[0014] Foi proposto, por exemplo, na Patente Japonesa No.4.797.887, preparar uma pluralidade de distanciamentos (valores de calibragem) das porções claras em um padrão claro e escuro de uma pluralidade de chapas padrão (chapas de calibragem) associadas com alturas diferentes de uma superfície de chapa de aço antecipadamente, medir a altura de uma chapa de aço, e usar o valor de calibragem correspondendo à altura medida.

[0015] No entanto, mesmo se o método descrito na Patente Japonesa No. 4.797.8877 for empregado quando medindo o nivelamento de uma chapa de aço entre trens de laminação, este método leva apenas em consideração a altura da superfície da chapa de aço. Situações onde ambos a altura da superfície de uma chapa de aço e o ângulo de inclinação da superfície da chapa de aço são mudados quando o ângulo do looper é mudado não são consideradas. Além disso, a preparação necessária de uma pluralidade de valores de calibragem leva tempo.

SUMÁRIO DA INVENÇÃO PROBLEMA TÉCNICO

[0016] Um objetivo da presente invenção é prover um método edispositivo que possam medir com precisão o nivelamento de uma chapa tal como uma chapa de aço ou similar viajando entre trens de laminação, entre os quais um looper é instalado, sem importar o ângulo do looper, e um método de produção para chapa de aço que utiliza o mesmo.

SOLUÇÃO PARA O PROBLEMA

[0017] Como um resultado de investigações diligentes para atingiro objetivo descrito acima, os presentes inventores constataram que, quando posições de altura na vertical ascendente de uma unidade de projeção e uma unidade de captura de imagem que estão situadas entre trens de laminação adjacentes são diferentes, o distanciamento de porções claras de um padrão claro e escuro muda de acordo com o movimento para cima e para baixo de uma superfície da chapa por um looper, em adição ao que o distanciamento das porções claras também muda de acordo com alterações de uma inclinação da superfície da chapa pelo looper. Desta maneira, os inventores verificaram uma relação onde essas duas mudanças neutralizam uma a outra se as respectivas posições de altura e ângulos da unidade de projeção e da unidade de captura de imagem forem adequadamente selecionados. Consequentemente, os inventores determinaram que os efeitos do ângulo de um looper podem ser moderados se posições de disposição e ângulos de disposição da unidade de projeção que projeta o padrão claro e escuro e da unidade de captura de imagem que captura o padrão claro e escuro projetado sobre a superfície da chapa forem ade- quadamente selecionados; desta maneira, o nivelamento da chapa pode ser precisamente medido sem influência de mudança do ângulo do looper.

[0018] Os presentes inventores alcançaram os presentes aspectosde acordo com as constatações descritas acima. Isto é, a fim de atingir o objetivo descrito acima, um primeiro aspecto provê um método para medição do nivelamento de uma chapa que inclui: uma etapa de aquisição de um padrão de imagem através da projeção de um padrão claro e escuro composto de porções claras e porções escuras sobre uma superfície da chapa que está viajando entre trens de laminação adjacentes a partir de uma unidade de projeção situada entre os trens de laminação e captura de uma imagem do padrão claro e escuro com uma unidade de captura de imagem situada entre os trens de lamina- ção; e

[0019] uma etapa de medição do nivelamento da chapa através daanálise da imagem padrão adquirida, onde se L0 representar uma distância em uma direção horizontal entre uma intersecção de respectivos eixos ópticos da unidade de projeção e da unidade de captura de imagem e, dos trens de laminação adjacentes, o trem de laminação que está instalado no lado oposto da interseção a partir de um looper que controla tensão da chapa entre os trens de laminação,

[0020] α representa um ângulo formado entre uma direção verticale uma linha reta formada através da projeção do eixo óptico da unidade de captura de imagem sobre um plano que contém uma direção paralela a uma direção de laminação e a direção vertical, um valor de α sendo positivo se o eixo óptico da unidade de captura de imagem estiver inclinado da direção vertical em direção ao lado do looper.

[0021] β representa um ângulo formado entre a direção vertical euma linha reta formada através da projeção do eixo óptico da unidade de projeção sobre o plano, um valor de β sendo positivo se o eixo ópti- co da unidade de projeção estiver inclinado a partir da direção vertical em direção ao lado do trem de laminação,

[0022] hc representa uma distância na direção vertical entre umalinha de passagem, que é uma linha reta passando por pontos de crista dos respectivos rolos de trabalho laterais inferiores de pares de rolos de trabalho superiores e inferiores que são respectivamente equipados nos trens de laminação adjacentes, e um ponto principal de imagem de uma lente da unidade de captura de imagem, e

[0023] hp representa uma distância na direção vertical entre a linha de passagem e um ponto principal de imagem de uma lente da unidade de projeção,

[0024] então L0, α, β, hc e hp satisfazem a expressão matemática

[0025] A título de referência, uma explicação dos parâmetrosquando medindo a jusante do looper é ilustrada na figura 2b, e uma explicação dos parâmetros quando medindo a montante do looper é ilustrada na figura 2C.

[0026] Precisão de medição pode ser assegurada e persistênciaentre os trens de acabamento pode ser assegurada adicionando as condições que seguem à expressão matemática (1).

[0027] Se 20° < α+β < 90°, então hp/hc > 1,133 e hc > 1000 mm

[0028] Se -90° < α+β < -20°, então hc/hp > 1,133 e hp > 1000 mm

[0029] De acordo com o primeiro aspecto, conforme descrito abaixo, quando a unidade de projeção e a unidade de captura de imagem são dispostas de maneira a satisfazer a expressão matemática (1) acima, mesmo se o ângulo do looper for mudado, o distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro na imagem padrão de captura (o distanciamento na direção de viagem da chapa) é resistente à mudança. Desta maneira, o nivelamento de uma chapa tal como uma chapa de aço ou similar viajando entre trens de laminação, entre os quais um looper está instalado, pode ser precisamente medido sem importar o ângulo do looper. Um dispositivo para medição do nivelamento da chapa pode ser provido sob as mesmas condições.

[0030] Um distanciamento padrão pode ser medido em um estadoonde uma chapa de calibragem é inclinada 2° com relação à linha de passagem. Em laminação comum, o ângulo do looper varia de 0o a 25° e o ângulo da chapa varia de a partir de aproximadamente 0o a 4°. A fim de minimizar erros, se a medição de distanciamento padrão for realizada conforme acima descrito, a largura da variação do ângulo de uma chapa pode ser ajustada para ±2° e os efeitos de alterações no ângulo do looper podem ser mantidos para não mais do que ±0,72°.

[0031] Ainda, a fim de atingir o objetivo descrito acima, um segundo aspecto provê um método de produção para chapa de aço que inclui: uma etapa de laminação de uma chapa de aço, a qual foi laminada por desbaste por um laminador de desbaste, em trens de lamina- ção que constituem um laminador de acabamento; e uma etapa de esfriamento da chapa de aço laminada em uma zona de esfriamento, onde pelo menos uma de uma condição de laminação nos trens de laminação e uma condição de esfriamento na zona de esfriamento é controlada com base no nivelamento da chapa de aço medido através do método mencionado acima para medição de nivelamento.

EFEITOS VANTAJOSOS DA INVENÇÃO

[0032] De acordo com a presente invenção, o nivelamento de umachapa tal como uma chapa de aço ou similar que está viajando entre trens de laminação, entre os quais um looper está instalado, pode ser medido com precisão sem importar o ângulo do looper; consequentemente, qualidade do produto da chapa de aço pode ser assegurada e a chapa de aço pode ser consistentemente produzida.

BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS

[0033] A figura 1 é um diagrama ilustrando esquematicamente umexemplo de estrutura de equipamento para implementação de um método de projeção de padrão de grade.

[0034] A figura 2A é um diagrama esquemático ilustrando um estado de situação de um dispositivo de medição de nivelamento em um laminador de acabamento.

[0035] A figura 2B é um diagrama esquemático ilustrando umexemplo de estrutura de equipamento do dispositivo de medição de nivelamento para implementação de um método de medição de nivelamento de acordo com uma presente modalidade exemplar e mostrando uma explicação de parâmetros quando a medição é realizada a jusante de um looper.

[0036] A figura 2C é um diagrama esquemático ilustrando umexemplo de estrutura de equipamento do dispositivo de medição de nivelamento para implementação do método de medição de nivelamento de acordo com a presente modalidade exemplar e mostrando uma explicação dos parâmetros quando a medição é realizada a montante do looper.

[0037] A figura 3A é um diagrama descritivo ilustrando uma relação entre ângulos de inclinação de uma superfície de chapa e mudanças no distanciamento de porções claras de um padrão claro e escuro.

[0038] A figura 3B é um gráfico ilustrando a relação entre ângulosde inclinação da superfície da chapa e mudanças no distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro.

[0039] A figura 4A é um diagrama ilustrando uma relação entre alturas da superfície da chapa e mudanças no distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro.

[0040] A figura 4B é um gráfico ilustrando a relação entre alturasda superfície da chapa e mudanças no distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro.

[0041] A figura 4C é um gráfico ilustrando uma relação entre umângulo de disposição α+β e uma taxa de mudança de distanciamento por ângulo de unidade.

[0042] A figura 5 é um gráfico ilustrando um exemplo de relaçõesentre um ângulo de looper θL e alturas hs e ângulo de inclinação θs de chapa de aço laminada a quente passando ao longo de uma rota de passagem de chapa.

[0043] A figura 6 é um gráfico ilustrando relações, sob as condições ilustradas na figura 5, entre o ângulo do looper θL e uma taxa de mudança r do distanciamento de porções claras de um padrão claro e escuro periódico com relação ao ângulo de inclinação da superfície da chapa de aço laminada a quente, uma taxa de mudança r’ do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro periódico com relação à altura da superfície da chapa de aço laminada a quente, e r<

[0044] A figura 7 é um diagrama esquemático ilustrando umexemplo de esboço de medição no lado a jusante do looper.

[0045] A figura 8 é um gráfico ilustrando as relações, no esboço deacordo com a figura 7, entre o ângulo do looper θL e as taxas de mudança r e r’ do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro periódico e r<

[0046] A figura 9 é um diagrama esquemático ilustrando umexemplo de esboço de medição no lado a jusante do looper.

[0047] A figura 10 é um gráfico ilustrando as relações, no esboçode acordo com a figura 9, entre o ângulo do looper θL e as taxas de mudança r e r’ do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro periódico e r-r1.

[0048] A figura 11 é um diagrama esquemático ilustrando umexemplo de esboço de medição no lado a jusante do looper.

[0049] A figura 12 é um gráfico ilustrando as relações, no esboçode acordo com a figura 11, entre o ângulo do looper θL e as taxas de mudança r e r’ do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro periódico e r<

[0050] A figura 13 é um diagrama esquemático ilustrando umexemplo de esboço de medição no lado a jusante do looper.

[0051] A figura 14 é um gráfico ilustrando as relações, no esboçode acordo com a figura 13, entre o ângulo do looper θL e as taxas de mudança r e r’ do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro periódico e r-r1.

[0052] A figura 15A é um diagrama descritivo ilustrando esquematicamente estados de disposição de uma chapa padrão em uma visão geral de teste de um teste de medição de chapa padrão.

[0053] A figura 15B é um gráfico ilustrando ângulos de looper θL eângulos de inclinação θs da superfície de chapa padrão que são especificados para Exemplos e um Exemplo Comparativo.

[0054] A figura 15C é um gráfico ilustrando um exemplo de umaimagem padrão de captura e linhas de medição de formato especificadas.

[0055] A figura 16A é um gráfico ilustrando distribuições de distanciamentos em direção longitudinal de porções claras calculadas para uma linha de medição de formato L1 em um padrão claro e escuro, para os Exemplos e Exemplo Comparativo ilustrados na figura 15A até a figura 15C.

[0056] A figura 16B é um gráfico ilustrando distribuições de distanciamentos de direção longitudinal de porções claras calculadas para uma linha de medição de formato L2 no padrão claro e escuro, para os Exemplos e Exemplos Comparativos ilustrados na figura 15A até a figura 15C.

[0057] A figura 16C é um gráfico ilustrando distribuições de distan- ciamentos de direção longitudinal de porções claras calculadas para uma linha de medição de formato L3 no padrão claro e escuro, para os Exemplos e Exemplos Comparativos ilustrados na figura 15A até a figura 15C.

[0058] A figura 17A é um gráfico ilustrando declividade medida porum dispositivo de medição de nivelamento situado entre um sexto trem de laminação e um sétimo trem de laminação em um exemplo de resultados de medições de nivelamento (declividade) de chapa de aço laminada a quente.

[0059] A figura 17B é um gráfico ilustrando declividade medida porum dispositivo de medição de nivelamento situado no lado de saída do sétimo trem de laminação em um exemplo de resultados de medições de nivelamento (declividade) de chapa de aço laminada a quente.

[0060] A figura 18 é um diagrama descritivo ilustrando um padrãoclaro e escuro escalonado.

DESCRIÇÃO DE MODALIDADES

[0061] Abaixo, um caso onde a chapa é chapa de aço laminada aquente e o seu nivelamento é medido entre trens de laminação de um laminador de acabamento de uma linha de produção de chapa de aço laminada a quente é dado como um exemplo para uma modalidade exemplar da presente invenção e é descrito com referência conforme apropriado aos desenhos anexos.-1. Estrutura Geral do Dispositivo de Medição de Nivelamento

[0062] A figura 2A até a figura 2C sã o diagramas esquemáticosilustrando um exemplo estrutural esquemático de um dispositivo de medição de nivelamento para implementação de um método de medição de nivelamento de acordo com a presente modalidade exemplar. A figura 2A ilustra um estado de situação do dispositivo de medição de nivelamento em um laminador de acabamento e as figura 2B e figura 2C ilustram estruturas esquemáticas do dispositivo de medição de ni- velamento.

[0063] Conforme ilustrado na figura 2A, um dispositivo de mediçãode nivelamento 100 de acordo com a presente modalidade exemplar é um dispositivo que mede o nivelamento de uma chapa de aço laminada a quente S entre um sexto trem de laminação F6 e um sétimo trem de laminação F7 de um laminador de acabamento de uma linha de produção de chapa de aço laminada a quente onde sete trens de lami- nação F1 a F7 estão dispostos. Um looper 200 que controla tensão da chapa de aço laminada a quente S é instalado entre os trens de lami- nação, entre o sexto trem de laminação F6 e o sétimo trem de lamina- ção F7. O dispositivo de medição de nivelamento 100 é provido com uma unidade de projeção 1, uma unidade de captura de imagem 2 e um dispositivo de análise de imagem 3. A unidade de projeção 1 projeta um padrão claro e escuro composto de porções de claras e porções escuras sobre uma superfície da chapa de aço laminada a quente S. A unidade de captura de imagem 2 captura uma imagem do padrão claro e escuro projetado sobre a superfície da chapa de aço laminada a quente S e adquire uma imagem padrão. O dispositivo de análise de imagem 3 analisa a imagem padrão adquirida pela unidade de captura de imagem 2.

[0064] Conforme mostrado na figura 2B e na figura 2C, uma posição de medição pode estar ou entre o looper 200 de acordo com a presente modalidade exemplar e o trem de laminação lateral a montante F6 ou entre o looper 200 e o trem de laminação lateral a jusante F7.

[0065] O símbolo α representa um ângulo formado entre uma direção vertical e uma linha reta formada pela projeção de um eixo óptico da unidade de captura de imagem sobre um plano que contém uma direção paralela a uma direção de laminação e a direção vertical. O valor de α é positivo quando o eixo óptico da unidade de captura de imagem 2 é inclinado a partir da direção vertical em direção ao lado do looper 200. Na figura 3A, α representa o ângulo formado entre a direção vertical e o eixo óptico da unidade de captura de imagem. O símbolo β representa um ângulo formado entre a direção vertical e uma linha reta formada pela projeção de um eixo óptico da unidade de projeção sobre o plano que contém a direção paralela à direção de lami- nação e a direção vertical. O valor de β é positivo quando o eixo óptico da unidade de projeção 1 é inclinado a partir da direção vertical em direção ao lado de um trem de laminação (o lado do trem de lamina- ção F7 na figura 2B e o lado do trem de laminação F6 na figura 2c), que é o lado oposto do lado do looper 200. Na figura 3A, β representa o ângulo formado entre a direção vertical e o eixo óptico da unidade de projeção.

[0066] A unidade de projeção 1 que é empregada pode ser, porexemplo, um projetor constituído com uma lâmpada e um plano inclinado ou similar conforme descrito na Patente Japonesa No. 4.666.272, uma fonte de luz de LED equipada com uma pluralidade de LEDs conforme descrito na Patente Japonesa No. 4.666.273 ou similar. Um padrão claro e escuro periódico a partir da unidade de projeção 1 que é usado é, por exemplo, um padrão escalonado onde porções claras M1, M2, M3 e assim por diante são dispostas em um padrão escalonado nos respectivos distanciamentos especificados predeterminados em uma direção longitudinal e uma direção lateral (figura 18). Este padrão escalonado é projetado sobre a superfície da chapa de maneira que a direção longitudinal do padrão escalonado é ao longo da direção do comprimento da chapa e a direção lateral do padrão escalonado é ao longo da direção de largura da chapa. Um distanciamento das porções claras na direção do comprimento da chapa é apresentado por PL e um distanciamento das mesmas na direção de largura é representado por PW. Várias estruturas publicamente conhecidas podem ser empre- gadas como a unidade de projeção 1 contanto que o padrão claro e escuro possa ser projetado. Desta maneira, descrições detalhadas da unidade de projeção 1 não são dadas aqui.

[0067] A unidade de captura de imagem 2 que é empregada podeser, por exemplo, uma câmera CCD bidimensional com um obturador eletrônico que tem elementos de detecção de luz em resolução SVGA e sinais de imagem de saída através de varredura progressiva, conforme descrito nas Patentes Japonesas Nos. 4.666.272 e 4.666.273. Como é descrito nas Patentes Japonesas Nos. 4.666.272 e 4.666.273, uma câmera CCD que captura imagens em baixa sensibilidade e uma câmera CCD que captura imagens em alta sensibilidade podem ser providas para servir como a unidade de captura de imagem 2 e os dois campos de imagem das mesmas dispostos de maneira a incluir uma porção mutuamente sobreposta. Desta maneira, várias estruturas publicamente conhecidas podem ser empregadas como a unidade de captura de imagem 2 contanto que as imagens do padrão claro e escuro possam ser capturadas. Desta maneira descrições detalhadas da unidade de captura de imagem 2 não são dadas aqui.

[0068] O dispositivo de análise de imagem 3 é, por exemplo, umaestrutura onde um programa que executa processamento para cálculo de nivelamento (daqui em diante referido como "programa de análise de nivelamento") é instalado em um computador para propósito geral, conforme descrito nas Patentes Japonesas Nos. 4.666.272 e 4.666.273. O dispositivo de análise de imagem 3 é configurado de maneira a salvar sinais de imagem com uma gradação predeterminada (por exemplo, 256 níveis de gradação) que são exibidos a partir da unidade de captura de imagem em memória. Os dados de imagem salvos na memória do dispositivo de análise de imagem 3 (a imagem padrão) são analisados pelo programa de análise de nivelamento. Os resultados da análise que são valores de medição de nivelamento são exibidos em uma tela de monitor do dispositivo de análise de imagem 3 e para um dispositivo de controle de nível maior (um dispositivo de controle 4 que controla o laminador de acabamento ou similar).-2. Processamento Geral do Programa de Análise de Nivelamento

[0069] Por exemplo, como descrito nas Patentes Japonesas Nos.4.666.272 e 4.666.273, o programa de análise de nivelamento mencionado acima calcula o nivelamento ao executar (1) processamento de especificação de linha de medição de formato, (2) processamento do cálculo de distribuição de densidade de pixel média ao longo das linhas de medição de formato, (3) processamento da distribuição do ângulo de inclinação de superfície da chapa de aço laminada a quente e do cálculo do formato da superfície ao longo das linhas de medição de formato, (4) processamento de computação de nivelamento (decli- vidade) e assim por diante. Várias configurações publicamente conhecidas descritas nas Patentes Japonesas Nos. 4.666.272 e 4.666.273 podem ser empregadas como o programa de análise de nivelamento. Desta maneira, o programa de análise de nivelamento é apenas descrito em esboço aqui; descrições detalhadas do mesmo não são dadas.

[0070] Processamento de Especificação de Linha de Medição de

Formato

[0071] Na imagem padrão obtida pela unidade de captura de imagem 2, o presente processamento especifica linhas de medição de formato que se estendem na direção longitudinal da imagem padrão (correspondendo à direção de comprimento da chapa) com um distanciamento predeterminado na direção lateral da imagem padrão (correspondendo à direção de largura da chapa).

[0072] Processamento de Cálculo de Distribuição de Densidade dePixel Média ao Longo das Linhas de Medição de Formato

[0073] O presente processamento calcula distribuições de densi- dade de pixel médias na imagem padrão adquirida pela unidade de captura de imagem 2 através da média de densidades de pixel ao longo de cada uma das linhas L2 que, conforme ilustrado na figura 18, se estendem na direção lateral do padrão escalonado (a direção de largura da chapa) com um comprimento que é pelo menos duas vezes o distanciamento da direção lateral especificado das porções claras, passando por pixels nas linhas de medição de formato L1 que se estendem ao longo da direção longitudinal do padrão escalonado (a direção de comprimento da chapa). O símbolo W na figura 18 representa uma largura na direção de largura da chapa de uma região de cálculo de distribuição de densidade de pixel média. Devido a esse processamento, o padrão claro e escuro é claramente observado em uma região onde luz refletida regular é detectada, e precisão de medição não é afetada de modo adverso.

[0074] (3) Distribuição de Ângulo de Inclinação de Superfície deChapa de Aço Laminada a Quente e Processamento de Cálculo de Formato de Superfície ao Longo das Linhas de Medição de Formato

[0075] Este processamento calcula distribuições de distanciamento na direção longitudinal pm(x) das porções claras do padrão claro e escuro periódico (o padrão escalonado) ao longo das linhas de medição de formato, com base nas distribuições de densidade de pixel médias ao longo das linhas de medição de formato calculadas conforme acima mencionado para a chapa de aço laminada a quente S que é o objeto da medição de nivelamento. O presente processamento também calcula, para uma imagem padrão adquirida a partir de uma chapa padrão que tem um formato de superfície plano em uma rota de passagem de chapa da chapa de aço laminada a quente S, distribui-ções de distanciamento na direção longitudinal ps(x) das porções claras do padrão claro e escuro periódico (o padrão escalonado) ao longo das linhas de medição de formato, com base nas distribuições de den- sidade de pixel médias ao longo das linhas de medição de formato. Como um método para cálculo de pm(x) e ps(x), uma técnica de análise de fase conforme descrito nas Patentes Japonesas Nos. 4.666.272 e 4.666.273 pode ser empregada.

[0076] Desta maneira, o presente processamento calcula distribuições de ângulo de inclinação θ(x) da superfície da chapa de aço laminada a quente S ao longo das linhas de medição de formato com base em uma razão R(x) = pm(x)/ps(x) das distribuições de distanciamento na direção longitudinal calculadas das porções claras do padrão claro e escuro (o padrão escalonado) e a expressão matemática (4) que segue.

[0077] Na expressão matemática (4) acima, x representa posiçõesna direção longitudinal do padrão claro e escuro (o padrão escalonado) na imagem padrão (isto é, posições ao longo da direção de comprimento da chapa). O símbolo θm(x) representa uma distribuição de ângulos de inclinação entre uma direção horizontal e a superfície da chapa. Os valores de θm(x) são positivos onde a superfície é inclinada em direção ao lado no qual o trem de laminação está instalado, que é o lado oposto do lado no qual o looper 200 está instalado, isto é, onde a superfície inclina em direção ao seu lado no qual a unidade de projeção está instalada.

[0078] Finalmente, o presente processamento calcula o formato dasuperfície da chapa de aço laminada a quente S ao longo das linhas de medição de formato através da integração, ao longo de cada linha de medição de formato, dos ângulos de inclinação da superfície da chapa de aço laminada a quente S ao longo da linha de medição de formato calculada como acima descrito.

[0079] (4) Processamento de Computação de Nivelamento (Decli-vidade)

[0080] O presente processamento computa uma declividade combase nos formatos de superfície da chapa de aço laminada a quente S ao longo das linhas de medição de formato que foram calculadas como descrito acima. Durante o cálculo da declividade, primeiro, uma taxa de alongamento para cada linha de gerenciamento de formato é calculada com base no comprimento de uma superfície em seção de interesse da superfície ao longo de cada linha de medição de formato e uma distância de linha reta nesta faixa. Uma taxa de alongamento diferencial Δε, que é a diferença entre uma taxa de alongamento SCENT de uma linha de medição de formato em uma porção central da direção de largura da chapa de aço laminada a quente S e uma taxa de alongamento εEDGE de outra linha de medição de formato, é computada (vide a expressão matemática (2) mencionada acima). Então a declivi- dade À é computada com base na taxa de alongamento diferencial Δε e a expressão matemática (3) mencionada acima.-3. Descrição de Efeitos de Exemplos de Disposição do Dispositivo de Medição de Nivelamento

[0081] O dispositivo de medição de nivelamento 100 de acordocom a presente modalidade exemplar é caracterizado pela unidade de projeção 1 e a unidade de captura de imagem 2 sendo dispostas com uma relação particular. Isso é descrito abaixo, incluindo um processo através do qual a relação particular é derivada. Primeiro, conforme ilustrado na figura 2B, um caso onde a posição de medição está entre o looper 200 e o trem de laminação lateral a jusante F7 é ilustrado como um exemplo e seus efeitos são descritos.

[0082] A figura 3A é um diagrama descritivo ilustrando uma relação entre ângulos de inclinação da superfície da chapa e mudanças no distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro. A figura 3B é um gráfico ilustrando a relação entre ângulos de inclinação e mu-danças em distanciamento.

[0083] Na figura 3A, o símbolo θs representa o ângulo de inclinação formado entre a direção horizontal e a superfície da chapa S. O valor de θs é positivo quando a superfície é inclinada em direção ao lado no qual o trem de laminação está instalado, isto é, inclinada em direção ao seu lado onde a unidade de projeção 1 está instalada.

[0084] O símbolo ps representa o distanciamento na direção longitudinal (correspondendo à direção de comprimento da chapa de aço laminada a quente S) das porções claras do padrão claro e escuro quando a chapa de aço laminada a quente S é equipada horizontalmente em uma posição de direção vertical padrão. O símbolo pm representa o distanciamento de direção longitudinal das porções claras do padrão claro e escuro quando a chapa de aço laminada a quente S é inclinada pelo ângulo de inclinação θs a partir da direção horizontal.

[0085] A propósito, o gráfico ilustrado na figura 3B é um gráfico para um caso onde α=28° e β=-3°.

[0086] Conforme mostrado na figura 3B, o ângulo de inclinação θsda superfície da chapa de aço laminada a quente S e o distanciamento na direção longitudinal pm das porções claras do padrão claro e escuro têm uma relação monotonicamente decrescente onde o pm do distanciamento diminui conforme o ângulo de inclinação θs aumenta. Pode ser também visto que a relação entre os dois é dependente do ângulo de disposição α da unidade de captura de imagem 2 e um ângulo de disposição β da unidade de projeção 1.

[0087] A figura 4A é um diagrama ilustrando uma relação entre alturas da superfície da chapa (uma posição na direção vertical) e mu-danças no distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro. A figura 4A é um diagrama descritivo. A figura 4B é um gráfico ilustrando a relação entre alturas e mudanças em distanciamento.

[0088] Na figura 4A, o símbolo hc representa uma distância na direção vertical entre a linha de passagem e um ponto principal de imagem de uma lente da unidade de captura de imagem 2. O símbolo hp representa uma distância na direção vertical entre a linha de passagem e um ponto principal da imagem de uma lente da unidade de projeção 1. Conforme ilustrado na figura 2B e na figura 2C, o termo "linha de passagem" significa uma linha reta LC através de pontos de crista C6 e C7 de respectivos rolos de trabalho laterais inferiores R de pares de rolos de trabalho superior e inferior R que são respectivamente providos nos trens de laminação adjacentes F6 e F7.

[0089] O símbolo ps representa o distanciamento na direção longitudinal (correspondendo à direção de comprimento da chapa de aço laminada a quente S) das porções claras do padrão claro e escuro quando a chapa de aço laminada a quente S é equipada na posição de linha de passagem. O símbolo pm representa o distanciamento na direção longitudinal das porções claras do padrão claro e escuro quando a chapa de aço laminada a quente S é equipada horizontalmente em uma posição verticalmente a montante a partir da posição da linha de passagem por uma altura hs.

[0090] O gráfico ilustrado na figura 4B é um gráfico para um casoonde hp=4300 mm e hc=2300.

[0091] Conforme mostrado na figura 4B, em um caso onde a alturahp da unidade de projeção 1 é diferente da altura hc da unidade de captura de imagem 2 e a relação hp>hc se aplica, a altura hs da super-fície da chapa de aço laminada a quente S e o distanciamento na direção longitudinal pm das porções claras do padrão claro e escuro têm uma relação monotonicamente crescente onde o distanciamento pm aumenta conforme a altura hs aumenta. Pode ser também visto que a relação entre as duas é dependente da altura da disposição hp da unidade de projeção 1 e da altura da disposição hc da unidade de captura de imagem 2.

[0092] Conforme acima descrito, é mostrado que quando uma relação na qual a unidade de projeção 1 é equipada verticalmente mais para cima então a unidade de captura de imagem 2 se aplica (hp>hc), o distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro aumenta conforme a superfície da chapa de aço laminada a quente S é movida para cima pelo looper 200 mas o distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro diminui conforme a superfície da chapa de aço laminada a quente é inclinada em direção à unidade de projeção 1 pelo looper 200. Em outras palavras, essas duas condições têm uma relação de neutralização mútua. Desta maneira, é aparente que se as posições de disposição hp e hc e os ângulos de disposição α e β da unidade de projeção 1 e da unidade de captura de imagem 2 forem adequadamente especificados, efeitos do ângulo de looper 200 podem ser moderados e o nivelamento da chapa de aço laminada a quente S pode ser medido com precisão sem importar o ângulo do looper.-4. Derivação de Expressão Matemática Geral da Relação de Dis-posição Particular

[0093] Conforme ilustrado nas figuras 2B e 2C descritas acima,quando a altura hs da superfície da chapa de aço laminada a quente S e o ângulo de inclinação θs da superfície da chapa de aço laminada a quente S mudam de acordo com o ângulo θL do looper 200, a relação entre a altura hs e o ângulo de inclinação θs pode ser expressa geo-metricamente pela expressão matemática (5) que segue. O significado de "a altura hs" da superfície da chapa de aço laminada a quente S é uma distância na direção vertical entre a linha de passagem (a linha LC) e a superfície da chapa de aço laminada a quente S (uma distância a partir da linha de passagem da superfície da chapa de aço laminada a quente S posicionada em uma linha reta se estendendo na direção vertical a partir de uma intersecção C dos eixos ópticos da uni- dade de projeção 1 e a unidade de captura de imagem 2).

[0094] Na expressão matemática (5), L0 representa uma distânciana direção horizontal entre a intersecção dos eixos ópticos da unidade de projeção 1 e da unidade de captura de imagem 2 e o trem de lami- nação, dos trens de laminação adjacentes, que está instalado no lado oposto da interseção a partir do looper 200.

[0095] Se uma taxa de mudança do distanciamento das porçõesclaras do padrão claro e escuro com relação ao ângulo de inclinação θs da superfície da chapa de laminação a quente S é representada por r e uma taxa de mudança de distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro com relação à altura hs da superfície da chapa de aço laminada a quente S é representada por r’, r, e r’ pode ser ge-ometricamente expresso pelas expressões matemáticas (6) e (7) que seguem, respectivamente, conforme ilustrado nos gráficos descritos acima da figura 3B e da figura 4B.

[0096] A taxa de mudança de distanciamento que é realmentemedida é representada por R, que é igual a r·r', onde a taxa de mudança r do distanciamento com relação ao ângulo de inclinação s dasuperfície da chapa de aço laminada a quente S é multiplicada pelataxa de mudança r’ do distanciamento com relação à altura hs da superfície da chapa de aço laminada a quente S. Isto é, a expressão matemática (8) que segue se aplica.

[0097] Se a expressão matemática (8) acima for rearranjada, subs-tituição de tanθs com hs/Lo como derivado da expressão matemática (5) acima, a expressão matemática (9) que segue se aplica.

[0098] Na expressão matemática (9) acima, hs é geralmente muito menor do que L0hp e hs é geralmente muito menor do que L0hc. Desta maneira, se a expressão matemática (9) for rearranjada com o primeiro termo no lado direito sendo tratado como zero, a expressão matemática (10) que segue se aplica.

[0099] Notando a equivalência entre o lado esquerdo da expressão matemática (10) e a expressão em parênteses no lado direito da expressão matemática (4), se o símbolo L’ como expresso na expressão matemática (11) for usado, a expressão matemática (10) acima pode ser expressa como expressão matemática (12).

[00100] Se a taxa de mudança r do distanciamento com relação ao ângulo de inclinação θs da superfície da chapa de aço laminada a quente S cancelar a taxa de mudança r’ do distanciamento com relação à altura hs da superfície da chapa de aço laminada a quente S, então a taxa de mudança de distanciamento que é realmente medida R = r-r' = 1. Quando R=1, da expressão matemática (11) acima,tanθm=0. Quando tanθm=0, da expressão matemática (12) acima, L0 é igual a L’. Ainda, se R=1 for substituído na expressão matemática (10) acima, a expressão matemática (13) que segue se aplica. Isto é, com a relação de disposição particular (a relação de α, β, hc e hp) com a qual L0 satisfaz a expressão matemática (13), os efeitos de variações do ângulo da chapa pelo looper 20 cancelam completamente.

[00101] Mesmo se a expressão matemática (13) não for necessariamente satisfeita, contanto que os efeitos de variações de ângulo de chapa nos erros de medição estejam dentro de uma precisão requerida, não há nenhum problema na prática. Na laminação de acabamento de laminação a quente, uma faixa de medição de declividade é 0 a 5% e precisão de medição é requerida ser ±0,2%, que como uma proporção da faixa de medição de declividade é 0,08. Se um formato de onda de chapa for suposto ser uma onda senoidal, a faixa de variação do ângulo de superfície se a declividade for 5% é -9° a +9°. Desta maneira, uma precisão de medição de ângulo requerida para assegurar a precisão de medição de declividade requerida é a mesma proporção, 0,08, de ±9°, que é ±0,72°.

[00102] Sob condições de medição práticas, variações no ângulo de inclinação θs da superfície da chapa de laminação a quente S de acordo com variações do ângulo θL do looper 200 são 0-4° C, isto é, ±2°. Desta maneira, não há nenhum problema na prática se valores aparentes de θm puderem ser suprimidos para 0,72° C ou menos, isto é, cerca de um terço de θs. Abaixo, um processo para derivar uma faixa de tolerância de L’, isto é, as condições de disposição α, β, hc e hp, se θm tiver que ser mantido para não mais do que 0,72° C é mostrado.

[00103] A fim de derivar a faixa de tolerância de L0, é primeiro suposto que L’ = aL0, dando a expressão matemática 13 que segue.tanθm = hs(1/L0-1/aL0) = hs/L0(1-1/a) = (1-1/a)tanθs . . . (13)

[00104] A fim de suprimir valores aparentes de θm para 0,72° ou menos, isto é, cerca de um terço de θs, o que segue se aplica.- 1/3θs < θm < 1/3θs- tan(1/3θs) < tanθm < tan(1/3θs)

[00105] Devido ao fato de θs ser um ângulo pequeno, não mais do que ±2°, a aproximação θs ~ tanθs pode ser aplicada.- 1/3tanθs < (1-1/a)tanθs < 1/3tanθs- 1/3 < (1-1/a) < 1/30,75 < a < 1,5

[00106] Isto é, uma precisão de medição que é não problemática na prática pode ser assegurada contanto que 0,75L0 < L' < 1,5L0. Para medição de formato prática, um campo de medição na direção de la- minação da ordem de centenas de mm a 1 m deve ser assegurado. Os valores de α, β e L0 variam dependendo de posições no campo medido. No entanto, a medição de formato que não é afetada pelas alterações do looper pode ser implementada através da seleção da faixa de medição de maneira a satisfazer a relação 0,75L0 < L' < 1,5L0.

[00107] Considerando L’, porque θs é um ângulo muito pequeno de não mais do que 0,72°, R~1. Desta maneira, a aproximação em expressão matemática (14) é aceitável.

[00108] Para sumarizar as constatações até agora, uma precisão de medição que é não problemática na prática pode ser assegurada se a expressão matemática (1) que segue for satisfeita.

[00109] -5. Método de Disposição de Chapa de Calibragem

[00110] Quando formatos tiverem que ser medidos através de um método de projeção de padrão, uma chapa de calibragem plana deve ser instalada na posição de medição previamente e medições de dis-tanciamento padrão realizadas nela. Em laminação comum, o ângulo do looper varia de 0o a 25° e o ângulo da chapa varia de a partir de aproximadamente 0o a 4°. Para minimizar erros, a faixa de variação do ângulo da chapa pode ser ajustada para ±2° e os efeitos de variações de ângulo de looper mantidos para não mais do que 0,72° se a calibragem (medição de distanciamento padrão) for realizada em um estado onde a chapa em uma porção central é inclinada em 2° da linha de passagem (a linha LC) em direção ao trem de laminação no lado oposto ao lado no qual o looper 200 está instalado. Para melhorar a precisão de calibragem, a chapa deve ser inclinada de 0o a 4° e distanciamentos padrão medidos e tirada a média.

[00111] De acordo com a presente modalidade exemplar, precisão de medição pode ser assegurada e persistência entre os trens de aca-bamento pode ser assegurada através da adição das condições que seguem à expressão matemática (1).Se 20° < α+β < 90°, então hp/hc > 1,133 e hc > 1000 mm Se -90° < α+β < -20°, então hc/hp > 1,133 e hp > 1000 mm

[00112] A razão por trás disso é descrita abaixo. Com relação aos ângulos de disposição α e β, de acordo com a teoria do método de projeção padrão, quanto maior é |α+β|, maior a taxa de mudança de distanciamento com relação a mudanças de ângulo e maior a sensibilidade de detecção do ângulo (figura 4C). A figura 4C ilustra valores calculados da taxa de mudança de distanciamento por grau de ângulo de superfície da chapa de aço, calculados a partir da expressão matemática (4). No caso de medição de distanciamentos através de processamento de imagem, uma mudança de distanciamento de 0,5% (0,005) é suficiente para medição. Desta maneira, para obter uma re- solução de medição de ângulo de menos do que 1°, é necessário que |α+β| seja pelo menos 20° C. O espaçamento entre os trens de aca-bamento é 2-3 m e a vizinhança da superfície da chapa de aço está em uma temperatura alta devido aos efeitos de calor radiante. Desta maneira, as posições de disposição devem ser pelo menos 1-1,5 m distante acima da superfície a fim de assegurar a persistência. Dado o acima, hc e hp são ambas pelo menos 1 m e |α+β| < 90°. É comum que a distância entre os trens de laminação seja 5-6 m. Desta maneira, L0 é em torno de 1-3 m. Uma diferença é aplicada entre hc e hp de maneira a cancelar os efeitos de alterações de ângulo de looper. Esta diferença é dependente de α+β e é proporcionalmente menor em 20o, o ângulo menor. Abaixo, hp é expressa como bhc em expressão matemática (13) e uma faixa que pode prover a razão b quando α+β igual a 20o é calculada.(tanα+tanβ)/(1/hc-1/bhc) = L0tanα+tanβ = L0/hc(1-1/b)

[00113] Quando α+β=20°, se for compreendido que tanα+tanβ está entre 0,352 (2xtan 10°) e 0,364 (tan 20°), então, considerando que Lo/hc < 3, b > 1/(1-2/3tan10°) = 1,133. Isto é, uma diferença de pelo menos aproximadamente x1,1333 deve ser aplicada.

[00114] A partir do raciocínio descrito acima, no dispositivo de medição de nivelamento 100 de acordo com a presente modalidade exemplar, a unidade de projeção 1 e a unidade de captura de imagem 2 são dispostas de maneira a satisfazer a expressão matemática (1) acima. Desta maneira, mesmo quando o ângulo θL do looper 200 muda (e consequentemente o ângulo de inclinação θs e altura hs da superfície da chapa de aço laminada a quente S muda), a taxa de mudança r do distanciamento com relação ao ângulo de inclinação θs da superfície da chapa de aço laminada a quente S e a taxa de mudança r’ do distanciamento com relação à altura hs da superfície da chapa de aço laminada a quente S neutralizam uma a outra. Desta maneira, o distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro na imagem padrão que é capturada é resistente à mudança. Desta maneira, o nivelamento da chapa de aço laminada a quente S viajando entre os trens de laminação, entre os quais o looper 200 é instalado, pode ser medido precisamente sem importar o ângulo do looper 200.

[00115] A figura 5 é um gráfico ilustrando um exemplo das relações entre o ângulo θL do looper 200 e a altura hs e ângulo de inclinação tθs da superfície da chapa de aço laminada a quente S passando ao longo da rota de passagem da chapa. O gráfico ilustrado na figura 5 mostra os resultados de cálculos com base em L0=2515 mm e nas condições de disposição dos trens de laminação F6 e F7 e do looper 200. Conforme mostrado na figura 5, quando o ângulo do looper θL é mudado, a altura hs e o ângulo de inclinação θs da superfície da chapa de aço laminada a quente S mudam simultaneamente.

[00116] A figura 6 é um gráfico ilustrando relações, sob as condições ilustradas na figura 5, entre o ângulo do looper θL e a taxa de mudança r do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro (vide a expressão matemática mencionada acima (6)), a taxa de mudança r (vide a expressão matemática mencionada acima (7)) e r-r1. O gráfico ilustrado na figura 6 mostra os resultados de cálculos com base nas condições ilustradas na figura 5 e sob condições que satisfazem a expressão matemática acima (1): α=28°, β=-3°, hc=2300 mm e hp=4300 mm.

[00117] Conforme mostrado na figura 6, embora a taxa de mudança r do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro com relação ao ângulo de inclinação θs da superfície da chapa de aço laminada a quente S e a taxa de mudança r’ do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro com relação à altura hs ambas mudem quando o ângulo do looper θL é mudado, a taxa geral de mu dança r-r' está substancialmente em 1 sem importar o ângulo do looper θL.

[00118] Abaixo, exemplos de resultados de medições reais de nive-lamento de uma chapa de aço laminada a quente S usando o dispositivo de medição de nivelamento 100 de acordo com a presente modalidade exemplar são descritos.Exemplos de Esboço

[00119] Para referência, a figura 7 até a figura 14 ilustram exemplos de esboço (e resultados de cálculo) onde L0 satisfaz substancialmente a expressão matemática (13). A figura 7 é um exemplo de esboço de medição a jusante do looper 200. O ângulo de disposição α da unidade de captura de imagem 2 é 28° e o ângulo de disposição β da unidade de projeção 1 é -1°. A figura 8 é um gráfico ilustrando as relações para o esboço da figura 7 entre o ângulo θL do looper 200 e as taxas de mudança r, r’ e r-r' do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro. O gráfico ilustrado na figura 8 mostra os resultados de cálculos sob condições que satisfazem a expressão matemática (1) acima: α=28°, β=-1°, hc=2300 mm e hp=4300 mm. O valor de L0 satisfazendo a expressão matemática (13) é 2515 mm. Um valor de L0 que satisfaz substancialmente a expressão matemática (13) é 2530 mm=L.

[00120] Na prática, o dispositivo foi disposto no exemplo de esboço ilustrado na figura 7 e um teste para verificar os efeitos foi realizado. Devido à interferência com equipamento existente, o eixo central da câmera foi β=-3°. De acordo com o campo de medição sendo ajustado para uma faixa de 200 mm a montante e 400 mm a jusante, uma faixa dentro das imagens foi uma faixa em toda qual a expressão matemática (1) pode ser satisfeita.

[00121] Desta maneira, a desigualdade em expressão matemática (1) é O,75Lo < L < 1,5Lo, que é rearranjada para 0,75 < L/Lo < 1,5. A Tabela 1 mostra valores calculados de L/L0 para as respectivas posições de direção de laminação. Se a posição de direção de laminação for 2oo mm a montante (-2oo mm), L/Lo = o,79 e se a posição de direção de laminação for 4oo mm a jusante (+4oo mm), L/Lo = 1,25. Desta maneira, as condições de expressão matemática (1) são satisfeitas em uma faixa ampla da Tabela 1.

[00122] A figura 9 é um exemplo de esboço de medição a jusante do looper 2oo, onde os ângulos de disposição da unidade de projeção 1 e da unidade de captura de imagem 2 são diferentes da figura 7. O ângulo de disposição α da unidade de captura de imagem 2 é 14,3° e o ângulo de disposição β da unidade de projeção 1 é 14,3°. A figura 10 é um gráfico ilustrando as relações para o esboço da figura 9 entre o ângulo θL do looper 200 e as taxas de mudança r, r’ e r-r' do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro. O gráfico ilustrado na figura 1o mostra os resultados de cálculos sob condições que satisfazem a expressão matemática (1) acima: α=14,3°, β=14,3°, hc=2o5o mm e hp=43oo mm. O valor de Lo satisfazendo a expressão matemática (13) é 2515 mm. Um valor de Lo que satisfaz substancialmente a expressão matemática (13) é 252o mm=L. Embora os ângulos de disposição da unidade de projeção 1 e da unidade de captura 2 tenham mudado, dado que tanα+tanβ é a mesma, as condições de expressão matemática (1) são satisfeitas.

[00123] A figura 11 é um exemplo de esboço de medição a jusante do looper 2oo, onde as alturas da unidade de projeção 1 e da unidade de captura de imagem 2 na figura 7 são mudadas. O ângulo de dispo-sição α da unidade de captura de imagem 2 é 1° e o ângulo de disposição β da unidade de projeção 1 é -28° C. A figura 12 é um gráfico ilustrando as relações para o esboço da figura 11 entre o ângulo θL do looper 200 e as taxas de mudança r, r’ e r-r' do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro. O gráfico ilustrado na figura 12 mostra os resultados de cálculos sob condições que satisfazem a expressão matemática (1) acima: α=1°, β=-28°, hc=4300 mm e hp=2300 mm. O valor de L0 satisfazendo a expressão matemática (13) é 2515 mm. Um valor de L0 que satisfaz substancialmente a expressão matemática (13) é 2542 mm=L.

[00124] A figura 13 é um exemplo de esboço de medição a montante do looper 200. O ângulo de disposição α da unidade de captura de imagem 2 é 28° e o ângulo de disposição β da unidade de projeção 1 é -1°. A figura 14 é um gráfico ilustrando a relação para o esboço da figura 13 entre o ângulo θL do looper 200 e as taxas de mudança r, r' e r-r' do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro. O gráfico ilustrado na figura 14 mostra os resultados de cálculos sob condições que satisfazem a expressão matemática (1) acima: a=28°, β=-1°, hc=2050 mm e hp=4300 mm. O valor de L0 satisfazendo a expressão matemática (13) é 2000 mm. Um valor de L0 que satisfaz substancialmente a expressão matemática (13) é 2014 mm=L.

[00125] Conforme ilustrado na figura 8, figura 10, figura 12 e figura 14, embora a taxa de mudança r do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro com relação ao ângulo de inclinação θs da superfície da chapa de aço laminada a quente S e a taxa de mudança r’ do distanciamento das porções claras do padrão claro e escuro com relação à altura hs ambas mudem quando o ângulo do looper θL é mudado, a taxa geral de mudança r-r' está substancialmente em 1 sem importar o ângulo do looper θL. Teste de Medição da Chapa de Calibragem

[00126] Primeiro, usando o dispositivo de medição de nivelamento 100 onde a unidade de projeção 1 e a unidade de captura de imagem 2 foram dispostas de maneira a satisfazer a expressão matemática (1) acima, uma chapa padrão (chapa de calibragem) com um formato de superfície plano foi instalada na rota de passagem de chapa da chapa de aço laminada a quente S, e um teste foi conduzido para alterar o ângulo θL do looper 200 e calcular os distanciamentos na direção longitudinal das porções claras do padrão claro e escuro para cada valor do ângulo θL.

[00127] A figura 15A é um diagrama descritivo ilustrando esquema-ticamente estados de disposição da chapa padrão em uma visão geral de teste do teste de medição de chapa padrão. A figura 15B é um gráfico ilustrando ângulos de looper θL e ângulos de inclinação θs da superfície da chapa padrão que são especificados para os Exemplos e Exemplo Comparativo. A figura 15c é um gráfico ilustrando um exemplo de uma imagem padrão capturada e linhas de medição de formato especificadas, onde a direção lateral é a direção de largura da chapa e a direção longitudinal (a direção Y) é a direção de comprimento de chapa.

[00128] Nos Exemplos ilustrados na figura 15A, a chapa padrão M é instalada de maneira que a face superior da mesma se estende ao longo da rota de passagem de chapa da chapa de aço laminada a quente S. No Exemplo Comparativo, a chapa padrão M é instalada de maneira que a face superior da mesma desvie da rota de passagem da chapa da chapa de aço laminada a quente S. Uma fonte de luz de LED equipada com uma pluralidade de LEDs foi usada como a unidade de projeção 1 e projetou um padrão escalonado servindo com o padrão claro e escuro sobre a superfície da chapa padrão M. Como ilustrado em 15C, as linhas de medição de formato L1 a L3 se esten- dendo na direção longitudinal da imagem padrão escalonado que foi capturada (a direção Y) foram especificadas, distribuições de densidade de pixel médias ao longo de cada uma das linhas de medição de formato L1 a L3 foram calculadas e a distribuição de distanciamentos de direção longitudinal das porções claras do padrão claro e escuro ao longo de cada uma das linhas de medição de formato L1 a L3 foi calculada através de análise de fase. A linha de medição de formato L1 foi especificada de maneira a passar por pixels correspondendo a uma porção central de direção de largura da chapa padrão M (correspondendo a uma porção central de direção de largura da chapa de aço laminada a quente S); as linhas de medição de formato L2 e L3 foram especificadas de maneira a passar através de pixels correspondendo a posições respectivamente distantes da linha de medição de formato L1 em 650 mm na direção de largura da chapa padrão M.

[00129] A figura 16A é um gráfico ilustrando as distribuições dos distanciamentos na direção longitudinal das porções claras calculadas para a linha de medição de formato L1 no padrão claro e escuro, para os Exemplos e Exemplo Comparativo ilustrados na figura 15A até a figura 15C. A figura 16B é um gráfico ilustrando os distanciamentos das porções claras similarmente calculados para a linha de medição de formato L2 e a figura 16C é um gráfico ilustrando os distanciamentos das porções claras similarmente calculados para a linha de medição de formato L3.

[00130] Na figura 16A até a figura 16C, o Exemplo Comparativo é representado por uma linha pontilhada espessa e os Exemplos são representados por outras linhas. Uma linha de cadeia de ponto único representa θL=0°, um linha pontilhada com um afastamento longo re-presenta θL=10°, uma linha pontilhada com um espaçamento curto representa θL=15°, uma linha de cadeia com dois pontos representa θL=20° e uma linha sólida fina representa θL=25°. Uma linha sólida espessa representa a média de θL=0° a θL=25°.

[00131] Conforme ilustrado na figura 16A até a figura 16C, nos Exemplos (o gráfico representado por uma linha sólida), embora o ângulo de looper θL seja mudado, distanciamentos substancialmente constantes das porções claras são obtidos. Em contraste, no Exemplo Comparativo (o gráfico representado por uma linha interrompida), os distanciamentos das porções claras são diferentes dos Exemplos.

[00132] Desta maneira pode ser visto que, de acordo com o dispositivo de medição de nivelamento 100 de acordo com a presente modalidade exemplar, não há nenhuma necessidade de preparar uma pluralidade de distanciamentos (valores de calibragem) das porções claras no padrão claro e escuro de uma pluralidade de chapas padrão M correspondendo a ângulos de looper θL (isto é, correspondendo às alturas hs e ângulos de inclinação θs da superfície da chapa de aço laminada a quente S).Teste de Medição de Chapa de Aço Laminada a Quente

[00133] Usando o dispositivo de medição de nivelamento 100 onde a unidade de projeção e a unidade de captura de imagem 2 foram dispostas de maneira a satisfazer a expressão matemática (1) acima, o dispositivo de medição de nivelamento 100 foi instalado entre o sexto trem de laminação F6 e o sétimo trem de laminação F7 de um lamina- dor de acabamento de uma linha de produção de chapa de aço laminada a quente (vide figura 2A), o ângulo θL do looper 200 foi ajustado para aproximadamente 10° e o nivelamento (declividade) de uma chapa de aço laminada a quente S que tinha sido laminada foi medido. Neste momento, um par de rolos de trabalho superior e inferior R e R instalado no sétimo trem de laminação F7 foi aberto. O mesmo tipo de dispositivo de medição de nivelamento foi situado no lado de saída do laminador de acabamento (o lado de saída do sétimo trem de lamina- ção F7) e mediu o nivelamento (declividade) da chapa de aço lamina- da a quente S que tinha sido laminada.

[00134] A figura 17A é um gráfico ilustrando a declividade (isto é, declividade de uma porção central na direção da largura, vizinhança da borda lateral esquerda e vizinhança da borda lateral direita da chapa de aço laminada a quente S) medida pelo dispositivo de medição de nivelamento 100 situado entre o sexto trem de laminação F6 e o sétimo trem de laminação F7 neste exemplo de resultados de medições de nivelamento (declividade) da chapa de aço laminada a quente S. A figura 17B é um gráfico ilustrando a declividade (isto é, declivida- de da porção central na direção da largura, vizinhança da borda lateral esquerda e vizinhança da borda lateral direita da chapa de aço laminada a quente S) medida pelo dispositivo de medição de nivelamento situado no lado de saída do sétimo trem de laminação F7. Na figura 17A e na figura 17B, CE representa a declividade da porção central da direção da largura da chapa de aço laminada a quente S, DS representa a declividade da vizinhança da borda lateral esquerda da chapa de aço laminada a quente S e WS representa a declividade da vizinhança da borda lateral direita da chapa de aço laminada a quente S.

[00135] Devido ao fato do par de rolos de trabalho superior e inferior R e R equipado no sétimo trem de laminação F7 ter sido aberto, a chapa de aço laminada a quente S não foi laminada pelo sétimo trem de laminação F7. Desta maneira, pode ser visto que se a declividade medida entre o sexto trem de laminação F6 e o sétimo trem de lamina- ção F7 e a declividade medida no lado de saída do sétimo trem de la- minação F7 podem ser medidas com precisão, os valores podem ser esperados ser iguais.

[00136] Conforme mostrado na figura 17A e na figura 17B, os dois conjuntos de valores de medição de declividade se igualam relativamente bem. Desta maneira pode ser visto que, de acordo com o dispositivo de medição de nivelamento 100 de acordo com a presente modalidade exemplar, embora o nivelamento seja medido entre o sexto trem de laminação F6 e o sétimo trem de laminação F7 onde o looper 200 está instalado, o nivelamento pode ser medido com precisão equivalente para um caso onde o nivelamento é medido no lado de saída do sétimo trem de laminação F7 onde o looper 200 não afeta as medições (onde o looper 200 não está instalado).-7. Método de Produção para Chapa de Aço

[00137] Na figura 2A, um método de produção para chapa de aço de acordo com a presente modalidade exemplar inclui uma etapa de laminação de uma peça semiacabada de aço, que foi laminado por um laminador de desbaste 300, nos trens de laminação F1 a F7 que cons-tituem o laminador de acabamento, e uma etapa de esfriamento da chapa de aço laminada S em uma zona de esfriamento 400. Neste método de produção para chapa de aço, uma ou ambas de condições de laminação no sétimo trem de laminação F7 e condições de esfriamento na zona de esfriamento 400 são controladas com base nos resultados de medições de nivelamento da chapa de aço S através do método de medição de nivelamento descrito acima.

[00138] O controle de condições de laminação no sétimo trem de laminação F7 e condições de esfriamento na zona de esfriamento 400 é implementado pelo dispositivo de controle 4 descrito na figura 2B e similar. Controle adicional do trem de laminação F6, do looper 200 e similar pode ser também implementado pelo dispositivo de controle 4.-8. Efeitos de aplicação do Método de Medição de Nivelamento para Produção de Chapa de Aço

[00139] De acordo com o método para medição do nivelamento de uma chapa de aço de acordo com a presente modalidade exemplar, o nivelamento da chapa de aço S pode ser medido com precisão sem ser afetado por alterações do ângulo de looper 200. Desta maneira, uma chapa com excelente planicidade pode ser produzida confiavel- mente ao controlar as condições de laminação no trem de laminação F7 e condições de esfriamento da zona de esfriamento 400 com base nos resultados de medições de planicidade. Controle usando este tipo de medidor de planicidade é descrito na, por exemplo, JP-A No. H11- 104721.

[00140] As descrições do Pedido de Patente Japonês No. 2013101935 depositado em 14 de maio de 2013 são incorporadas ao presente pedido a título de referência em sua totalidade.

[00141] Todas as referências, pedidos de patente e especificações técnicas mencionados no presente pedido são incorporados a título de referência ao presente pedido na mesma extensão como se as refe-rências, pedidos de patente e especificações técnicas individuais fossem especificamente e individualmente descritos como sendo incorporados a título de referência.

Claims (7)

1. Método para medição de nivelamento de uma chapa (S), caracterizado pelo fato de que compreende:uma etapa de aquisição de uma imagem padrão através deprojeção de um padrão claro e escuro composto de porções claras e porções escuras sobre uma superfície da chapa (S) que está viajando entre trens de laminação (F1-F7) adjacentes a partir de uma unidade de projeção (1) situada entre os trens de laminação (F1-F7), ecaptura de uma imagem do padrão claro e escuro com uma unidade de captura de imagem (2) situada entre os trens de laminação (F1-F7); euma etapa de medição do nivelamento da chapa (S) através de análise da imagem padrão adquirida, em que seL0 representar uma distância em uma direção horizontal entre uma intersecção de respectivos eixos ópticos da unidade de projeção (1) e da unidade de captura de imagem (2) e, dos trens de lamina- ção (F1-F7) adjacentes, o trem de laminação (F1-F7) que é equipado no lado oposto da intersecção a partir de um looper (200) que controla tensão da chapa (S) entre os trens de laminação (F1-F7),α representar um ângulo formado entre uma direção vertical e uma linha reta formada pela projeção do eixo óptico da unidade de captura de imagem (2) sobre um plano que contém uma direção paralela a uma direção de laminação e a direção vertical, um valor de α sendo positivo se o eixo óptico da unidade de captura de imagem (2) estiver inclinado a partir da direção vertical em direção ao lado do looperβ representar um ângulo formado entre a direção vertical e uma linha reta formada através da projeção do eixo óptico da unidade de projeção (1) sobre o plano, um valor de β sendo positivo se o eixo óptico da unidade de projeção (1) for inclinado a partir da direção verti cal em direção ao lado do trem de laminação,hc representar uma distância na direção vertical entre uma linha de passagem, que é uma linha reta passando através de pontos de crista dos respectivos rolos de trabalho (R) laterais inferiores de pares de rolos de trabalho (R) superiores e inferiores que estão respecti-vamente equipados nos trens de laminação (F1-F7) adjacentes, e um ponto principal de imagem de uma lente da unidade de captura de imagem (2), ehp representar uma distância na direção vertical entre a linha de passagem e um ponto principal de imagem de uma lente da unidade de projeção (1),então L0, α, β, hc e hp satisfazem a expressão matemática (1) que segue:

2. Método para medição de nivelamento de uma chapa (S) de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que se 20° < α+β < 90°, então hp/hc > 1,133 e hc > 1000 mm são satisfeitos, ese -90° < α+β < -20° C, então hc/hp > 1,133 e hp > 1000 mm são sa-tisfeitos.

3. Método para medição de nivelamento de uma chapa (S) de acordo com a reivindicação 1 ou 2, caracterizado pelo fato de que uma medição de tombamento padrão é implementada em um estado em que uma chapa de calibragem (M) é inclinada em 2° com relação à linha reta passando pelos pontos de crista dos rolos de trabalho (R) laterais inferiores.

4. Dispositivo para medição de nivelamento de uma chapa (S) deslocando entre trens de laminação (F1-F7) adjacentes de uma linha de laminador de acabamento que inclui os trens de laminação (F1-F7) adjacentes e um looper (200), os trens de laminação (F1-F7) adjacentes incluem um par de rolos de trabalho (R) superior e inferior e o looper (200) sendo disposto entre os trens de laminação (F1-F7) adjacentes e controlando a tensão da chapa (S) que se desloca entre os trens de laminação (F1-F7) adjacentes, caracterizado pelo fato de que o dispositivo compreende:uma unidade de projeção (1) situada entre os trens de la- minação (F1-F7) adjacentes, a unidade de projeção (1) preparada para projetar um padrão claro e escuro composto de porções claras e porções escuras sobre uma superfície da chapa (S) que está viajando entre os trens de laminação (F1-F7);uma unidade de captura de imagem (2) situada entre os trens de laminação (F1-F7), a unidade de captura de imagem (2) preparada para adquirir uma imagem padrão através de captura de uma imagem do padrão claro e escuro; eum dispositivo de análise de imagem (3) preparado para medir o nivelamento da chapa (S) através de análise da imagem padrão adquirida,em que seL0 representar uma distância em uma direção horizontal entre uma intersecção de respectivos eixos ópticos da unidade de projeção (1) e da unidade de captura de imagem (2) e, dos trens de lamina- ção (F1-F7) adjacentes, o trem de laminação (F1-F7) que é equipado no lado oposto da intersecção a partir do looper (200),α representar um ângulo formado entre uma direção vertical e uma linha reta formada pela projeção do eixo óptico da unidade de captura de imagem (2) sobre um plano que contém uma direção paralela a uma direção de laminação e a direção vertical, um valor de α sendo positivo se o eixo óptico da unidade de captura de imagem (2) estiver inclinado a partir da direção vertical em direção ao lado do looper β representar um ângulo formado entre a direção vertical e uma linha reta formada através da projeção do eixo óptico da unidade de projeção (1) sobre o plano, um valor de β sendo positivo se o eixo óptico da unidade de projeção (1) for inclinado a partir da direção vertical em direção ao lado do trem de laminação,hc representar uma distância na direção vertical entre uma linha de passagem, que é uma linha reta passando através de pontos de crista dos respectivos rolos de trabalho (R) laterais inferiores dos pares de rolos de trabalho (R) superiores e inferiores, e um ponto principal de imagem de uma lente da unidade de captura de imagem (2), ehp representar uma distância na direção vertical entre a linha de passagem e um ponto principal de imagem de uma lente da unidade de projeção (1),então L0, α, β, hc e hp satisfazem a expressão matemática (1) que segue:

5. Dispositivo (100) para medição de nivelamento de uma chapa (S) de acordo com a reivindicação 4, caracterizado pelo fato de quese 20° < α+β < 90°, então hp/hc > 1,133 e hc > 1000 mm são satisfeitos e se -90° < α+β < -20° C, então hc/hp > 1,133 e hp > 1000 mm são satisfeitos.

6. Linha de laminador de acabamento, caracterizado pelo fato de que compreende:trens de laminação (F1-F7) adjacentes cada um incluindo um par de rolos de trabalho (R) superior e inferior;um looper (200) que é disposto entre os trens de laminação (F1-F7) adjacentes e que controla tensão de uma chapa (S) deslocando entre dos trens de laminação (F1-F7) adjacentes; eo dispositivo (100) como definido na reivindicação 4 ou 5.

7. Método de produção de uma chapa (S) de aço, caracteri-zado pelo fato de que compreende:uma etapa de laminação de uma chapa de aço, que foi la-minada por desbaste por um laminador de desbaste (300), em trens de laminação (F1-F7) que constituem um laminador de acabamento; euma etapa de esfriamento da chapa (S) de aço laminada em uma zona de esfriamento (400),em que pelo menos uma de uma condição de laminação nos trens de laminação (F1-F7) e uma condição de esfriamento na zona de esfriamento (400) é controlada na base do nivelamento da chapa (S) de aço medido através do método para medição do nivelamento descrito em qualquer uma das reivindicações 1 a 3.

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