"Procédé pour la détection des défauts de surface des profilés et des
demi -produits
La présente invention se rapporte à un procédé pour la détection des défauts de surface des profilés et des demi-produits.
La qualité des profilés et des demi-produits métalliques est liée à un certain nombre de critères, parmi lesquels ceux relatifs à leur état de surface ont une importance particulièrement grande.
L'état de surface de ces profilés et demi-produits est notamment caractérisé par la présence de pailles ou de criques en quantités plus ou moins importantes, ce qui constitue un inconvénient, La possibilité de remédier à cet état de choses, ainsi que le choix de moyens à utiliser pour ce faire, dépendent d'une part de la constatation de la présence de tels défauts, ain�i que d'une évaluation, la plus exacte possible, de leur nature et de leur importance.
Dans le cadre plus restreint de la seule détection des défauts de surface, le procédé de la présente invention vise essentiellement les pailles se trouvant à la surface des poutrelles et produits laminés, profilés, etc... ,
<EMI ID=1.1>
blooms et les brames.
A la connaissance du demandeur, il n'y a pas, à ce jour, de procédé
<EMI ID=2.1>
des produits refroidis, ce qui présente un double inconvénient, à savoir celui de la constatation tardive des défauts et celui de ne pouvoir prendre que plus tardivement encore des contre -mesures qui sont à la fois moins efficaces et plus onéreuses, en raisor du retard apporté à la correction.
La présente invention , : -1 permet la détection des défauts sus-
<EMI ID=3.1>
observations suivantes :
1. La température superficielle d'une paille sur un produit métallique déterminé est inférieure à la température superficielle du voisinage sain de ce même produit.
2. La température d'un demi-produit, au fond d'une crique, est supérieure à celle du voisinage sain: de ce demi-produit.
<EMI ID=4.1>
mesure à distance de la température, tel que par exemple une cellule photoélectrique, le demandeur a imaginé de scruter en permanence tout ou partie de la surface du produit ou demi-produit métallique à examiner, pour en tirer les renseignements désirés.
Le procédé, objet de la présente invention, est donc essentiellement caractérisé en ce que, sur le produit ou demi-produit laminé ou au cours
<EMI ID=5.1> d'un appareil permettant de mesurer à distance la température du point visé par l'appareil sur le dit produit ou demi-produit, et en ce que l'on enregistre les résultats des mesures ainsi effectuées, ce qui permet de détecter la présence d'anomalies éventuelles dans les enregistrements, anomalies auxquelles correspond, sur les matériaux testés, la présence de l'un ou l'autre des défauts susmentionnés. Par anomalies, on entend les variations brusques et importantes du signal mesuré.
Suivant l'invention, l'appareil de mesure peut comprendre une ou plusieurs cellules photoélectriques composées elles-mêmes de photo-diodes ou de cellules distinctes.
Suivant les nécessités, ces cellules peuvent être fixes ou mobiles, disposées en rangées face à la surface à explorer, balayer cette surface suivant toute trajectoire appropriée. Toutes ces possibilités rentrent dans le domaine plus général de la détection de défauts de surface par scrutation de ces surfaces au cours du laminage des matériaux considérés.
Le schéma ci-après représente, à titre d'exemple non limitatif, différentes façons de disposer les cellules ou,photo-diodes de mesure , face à la surface à scruter.
La figure 1 représente le cas simple où une seule cellule 1 est située sur un produit 2, laminé dans le sens de la flèche 3. Cette cellule se déplace d'un mouvement alternatif transversal sur toute la largeur du produit. La trajectoire de la cellule est représentée en 4, tandis que sa trajectoire par rapport au produit 2 est représentée en 5. Il va de soi que l'on règle la vitesse du déplacement transversal de cette cellule pour que, si possible, toute la surface du produit 2 soit balayée au moins une fois. La figure 2 représente une autre disposition de cellules, celles-ci étant fixes et disposées en une rangée transversale 6 au-dessus du produit 7 laminé dans le sens de la flèche 8. En 9 se trouve le réseau des trajectoires des cellules de la rangée 6 par rapport au produit 7.
La figure 3 représente encore une autre disposition possible des cellules de mesure. Celles-ci sont disposées en une rangée 10 parallèle au sens de laminage 11 du produit 12. Toutes ces cellules sont soumises simultanément à un mouvement transversal alternatif 13 au cours duquel elles balayent une partie de la surface du produit 12. Le réseau des trajectoires relatives des cellules 10 est en 14. Ici encore, il y a lieu de régler la vitesse du déplacement transversal afin de soumettre la totalité de la surface du produit à la scrutation désirée.
La détection des défauts, au moyen des mesures ci-dessus indiquées, peut s'effectuer à partir des considérations ci-après. (Cfr. figure 4, donnant la variation temporelle de l'intensité relevée par une cellule).
Le diagramme d'enregistrement type de la température superficielle d'un produit suivant une trajectoire déterminée est constitua en fait d'une courbe 15 à variations instantanées assez rapides, dont la valeur moyenne suit une loi de variation sensiblement plus lente 16.
Au cours de l'enregistrement, on pondère les valeurs 15 suivant des tranches temporelles déterminées égales; on obtient ainsi une suite de valeurs moyennes (pts 17) se disposant le plus souvent sur la courbe 16.
La présence d'un "accident" 18 se traduit par une valeur moyenne particulière
19, s'écartant beaucoup plus nettement de la valeur moyenne 17 précédente que ne le font deux quelconques de ces moyennes consécutives. Cette différence entre deux signaux, une fols qu'elle atteint un certain seuil prédéterminé , est, suivant l'invention, significative d'un défaut et enregistrée comme telle.
Si l'on a affaire à une disposition de cellules du genre de celle reprise à la figure 2, on dispose d'un réseau de courbes analogues à celles de la figure 4, ce qui permet de se rendre compte de l'étendue d'une anomalie sur la surface du produit 7.
Une disposition analogue à celle de la figure 3 permettra également de se rendre compte de l'étendue d'une anomalie, mais en outre, comme le réseau des courbes 14 se recoupe, il existe une possibilité de contrôle par une courbe quelconque, des Indications relevées sur les autres courbes.
REVENDICATIONS
1. Procédé pour la détection des défauts de surface des profilés ou des demi-produits, caractérisé en ce que, sur le produit ou demi-produit laminé ou au cours de son laminage, on scrute la surface du dit produit ou demi-produit au moyen d'un appareil permettant de mesurer à distance la température du point visé par l'appareil sur le dit produit ou demi-produit, et en ce que l'on enregistre les résultats des mesures ainsi effectuées, ce qui permet de détecter la présence d'anomalies éventuelles dans les enregistrements, anomalies auxquelles correspond sur les matériaux testés la présence de l'un ou l'autre des défauts susmentionnés.