ATE459135T1 - Funktionsüberprüfungsverfahren eines moduls für analogeingänge und modul für analogeingänge, bei dem dieses verfahren umgesetzt wird - Google Patents

Funktionsüberprüfungsverfahren eines moduls für analogeingänge und modul für analogeingänge, bei dem dieses verfahren umgesetzt wird

Info

Publication number
ATE459135T1
ATE459135T1 AT08169755T AT08169755T ATE459135T1 AT E459135 T1 ATE459135 T1 AT E459135T1 AT 08169755 T AT08169755 T AT 08169755T AT 08169755 T AT08169755 T AT 08169755T AT E459135 T1 ATE459135 T1 AT E459135T1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
analog
analog inputs
procedure
digital
inputs module
Prior art date
Application number
AT08169755T
Other languages
English (en)
Inventor
Dominique Grosjean
Nicolas Delplanque
Original Assignee
Schneider Electric Ind Sas
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Schneider Electric Ind Sas filed Critical Schneider Electric Ind Sas
Application granted granted Critical
Publication of ATE459135T1 publication Critical patent/ATE459135T1/de

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10—Calibration or testing
    • H03M1/1071—Measuring or testing
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12—Analogue/digital converters

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Input From Keyboards Or The Like (AREA)
  • Programmable Controllers (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
AT08169755T 2007-11-26 2008-11-24 Funktionsüberprüfungsverfahren eines moduls für analogeingänge und modul für analogeingänge, bei dem dieses verfahren umgesetzt wird ATE459135T1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0759314A FR2924226B1 (fr) 2007-11-26 2007-11-26 Procede de verification du fonctionnement d'un module d'entrees analogiques et module d'entrees analogiques mettant en oeuvre ce procede

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ATE459135T1 true ATE459135T1 (de) 2010-03-15

Family

ID=39473353

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT08169755T ATE459135T1 (de) 2007-11-26 2008-11-24 Funktionsüberprüfungsverfahren eines moduls für analogeingänge und modul für analogeingänge, bei dem dieses verfahren umgesetzt wird

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP2066037B1 (de)
AT (1) ATE459135T1 (de)
DE (1) DE602008000708D1 (de)
ES (1) ES2338947T3 (de)
FR (1) FR2924226B1 (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2423771B1 (de) * 2010-08-23 2016-12-28 Siemens Aktiengesellschaft Analoge Eingabebaugruppe für eine speicherprogrammierbare Steuerung
FR2999028B1 (fr) 2012-11-30 2016-02-05 Schneider Electric Ind Sas Dispositif de protection contre les surtensions pour alimentation d'automate.
CN103901288B (zh) * 2012-12-26 2017-04-26 浙江海得新能源有限公司 一种plc的自动化单板测试平台及方法
DE102013112488A1 (de) * 2013-11-13 2015-05-13 Pilz Gmbh & Co. Kg Sicherheitssteuerung mit konfigurierbaren Eingängen
CN109901042B (zh) * 2017-12-07 2024-03-29 英业达科技有限公司 使用usb且具电压可调功能的jtag控制装置及其方法
CN114337667A (zh) * 2021-12-23 2022-04-12 上海交通大学 用于空间引力波探测的惯性传感器两自由度驱动电路

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57119259A (en) * 1981-01-19 1982-07-24 Hitachi Ltd Testing method for a/d converter
JP2003139822A (ja) * 2001-11-01 2003-05-14 Mitsubishi Electric Corp メモリテスタを用いたテストシステムおよびテスト方法
US7129719B2 (en) * 2004-06-01 2006-10-31 Samsung Techwin Co., Ltd. Apparatus for detecting defect in circuit pattern and defect detecting system having the same

Also Published As

Publication number Publication date
FR2924226A1 (fr) 2009-05-29
ES2338947T3 (es) 2010-05-13
EP2066037B1 (de) 2010-02-24
FR2924226B1 (fr) 2010-02-26
DE602008000708D1 (de) 2010-04-08
EP2066037A1 (de) 2009-06-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE459135T1 (de) Funktionsüberprüfungsverfahren eines moduls für analogeingänge und modul für analogeingänge, bei dem dieses verfahren umgesetzt wird
TW200709671A (en) Ad conversion device and semiconductor device
DE602006021165D1 (de) Auswählbare abtastauslösung in echtzeit für mehrere eingänge eines analog-digital-wandlers
ATE496320T1 (de) Schwellwertbasierter sicherheitsschaltkreis für ein eisenbahnsystem
ATE523963T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur analog-digital umsetzung
ATE377293T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur spannungsreferenzerzeugung durch ladungsumverteilung zur verwendung bei der analog/digital-umsetzung
ATE466291T1 (de) Verfahren zur prüfung der digitalen ausgängein eines plc-moduls und entsprechendes plc-modul
CN106301368A (zh) 用于测试模/数转换器的方法及其系统
ATE544239T1 (de) Analog/digitalwandler mit einer sar-topologie sowie zugehöriges verfahren
US20110080310A1 (en) Digital-to-analog converter (dac) with reference-rotated dac elements
WO2009112830A3 (en) Circuit testing
DE502008002444D1 (de) Verfahren zur Inbetriebnahme eines Mehrkanaldimmers
CN107621844B (zh) 输入/输出单元
US20140222365A1 (en) Measuring transducer having two transmission channels
JP4898539B2 (ja) Ｄ／ａコンバータ及びその動作テスト方法
DE602006018874D1 (de) Spannungsgenerator- Anordnung und Verfahren zur Spannungsumwandlung
CN117077595A (zh) 接口时序范围的获取方法
US20070268037A1 (en) Circuit testing apparatus
WO1998017003A3 (en) Testing control signals in a/d converters
TW200644440A (en) Cyclic pipeline analog to digital converter
ATE395749T1 (de) Verfahren und system zur digital-analog-wandlung unter anwendung eines mehrzweckstromsummierers
TW200612106A (en) IC tester
JP2008076358A (ja) 半導体集積回路及び半導体検査装置
KR100340057B1 (ko) 아날로그-디지털변환기의시험방법
KR100631872B1 (ko) 아날로그-디지털 변환기의 비아이에스티 및 비아이에스씨장치

Legal Events

Date Code Title Description
RER Ceased as to paragraph 5 lit. 3 law introducing patent treaties