ATE403142T1 - Verfahren zum chrakterisieren von proben von sekundärlicht emittierenden partikeln - Google Patents

Verfahren zum chrakterisieren von proben von sekundärlicht emittierenden partikeln

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ATE403142T1
ATE403142T1 AT01986914T AT01986914T ATE403142T1 AT E403142 T1 ATE403142 T1 AT E403142T1 AT 01986914 T AT01986914 T AT 01986914T AT 01986914 T AT01986914 T AT 01986914T AT E403142 T1 ATE403142 T1 AT E403142T1
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signal
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AT01986914T
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Christian Eggeling
Peet Kask
Claus Seidel
Joerg Schaffer
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Evotec Ag
Max Planck Gesellschaft
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    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/6408Fluorescence; Phosphorescence with measurement of decay time, time resolved fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N15/14Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
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