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Application filed by Othmar EiselefiledCriticalOthmar Eisele
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Publication of AT95117BpublicationCriticalpatent/AT95117B/de
Analysing Materials By The Use Of Radiation
(AREA)
Description
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Richtplatte.
Zur Prüfung der völligen Ebenheit eines Arbeitsstückes werden bisher meist die an sich bekannten Richtplatten verwendet, die aber den Übelstand aufweisen, dass sie bei gegebener Grösse nur für verhältnismässig kleine Flächen benutzt werden können. Die Erfindung betrifft eine Ric1ltplatte, die auch da Prüfen von Arbeitsstücken von wesentlich grösseren Ausmassen als ihren eigenen ermöglicht. Zu diesem Zwecke sind mit der Platte an deren Längsrändern zwei Längsschienen fest verbunden, an denen Qurr- schienen parallel zu den Querrändern der Platte verschiebbar angeordnet sind.
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Claims (1)
PATENT-ANSPRUCH : Richtplatte zum Prüfen der völligen Ebenheit von Flächen, Rahmen, Fundamenten ete., gekenn-
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parallel zu den Querrändern der Platte verschiebbar angeordnet sind, so dass auch Arbeitsstücke von wesentlich grösseren Ausmassen als die Richtplatte mit Hilfe des Unterrandes dieser Querschienen geprüft werden können.
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