AT251322B - Vorrichtung zum Einbringen der Probe in eine Apparatur zur Untersuchung von metallischen Proben - Google Patents

Vorrichtung zum Einbringen der Probe in eine Apparatur zur Untersuchung von metallischen Proben

Info

Publication number
AT251322B
AT251322B AT570864A AT570864A AT251322B AT 251322 B AT251322 B AT 251322B AT 570864 A AT570864 A AT 570864A AT 570864 A AT570864 A AT 570864A AT 251322 B AT251322 B AT 251322B
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
sample
introducing
examining
vacuum
axis
Prior art date
Application number
AT570864A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoan Houbart
Original Assignee
Centre Nat Rech Metall
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Centre Nat Rech Metall filed Critical Centre Nat Rech Metall
Application granted granted Critical
Publication of AT251322B publication Critical patent/AT251322B/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G01N23/20025Sample holders or supports therefor

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Vorrichtung zum Einbringen der Probe in eine Apparatur zur
Untersuchung von metallischen Proben 
 EMI1.1 
 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 
Erfindungatmosphärischem Druck unterworfen werden können, in diesem Teil mit der Vakuumeinrichtung verbunden sind und der Träger so verdrehbar ist, dass jede seiner Bohrungen über den Raum bringbar ist, und dass jede Bohrung (mit ihrem Deckel, ihrem Probenträger und ihrer Probe) eine Zwischenstellung (gegenüber dem Kanal) zwischen dem Kanal und der Öffnung durchläuft, in welcher Stellung die Probe einem stärkeren Vakuum unterworfen wird. 



   Die Zeichnungen, welche nicht massstabgerecht sind, dienen zur Erläuterung der Erfindung. 



   Fig. l ist eine schematische Darstellung eines Vertikalschnittes der erfindungsgemässen Vorrichtung, die Ebene dieses Schnittes geht durch die vertikale Achse 1 des Elektronengeschützes oder des Raumes 2 und die Rotationsachse 3 der Scheibe 4. Das Elektronengeschütz 2 enthält den emittierenden Glühfaden 5, der durch die Drähte 6 gespeist wird. Unter der Wirkung einer starken Potentialdifferenz   (z. B.   10 kV), die in den Zeichnungen nicht abgebildet ist, werden die vom Glühfaden emittierten Elektronen nach oben in Form eines Bündels 7 auf die Probe 8 gerichtet, auf welcher sie eine Strahlung erzeugen, deren Bündel 7 durch ein Fenster 10 aus dem Raum 2 austritt. Dieser unter vermindertem Druck stehende Raum 2 (die Anlage zur Erzeugung des Vakuums ist nicht eingezeichnet) weist oben eine Öffnung 12 auf, die durch die geneigte Ebene 11 begrenzt ist. 



   Oberhalb der geneigten Ebene 11 und ausserhalb des Raumes 2 rotiert eine kreisförmige Scheibe 4 um ihre Achse 3 und ist durch den Drahzapfen 14 und in einer kreisförmigen Schulter 13   geführt. Die Scheibe   4 liegt an   der Ebene 11 unter Abdichtung mit einer zusammengesetzten Dich -   tung, die durch die Punkte 15 angedeutet ist, an. Die Scheibe 4 ist versehen mit drei Löchern 16, welche hinsichtlich der Achse 3 symmetrisch und zueinander in einem Winkel von 1200 angeordnet sind. 



   Diese Löcher dienen zur Aufnahme eines   Probenhalters   17 und sind mit einem Deckel 18 be- deckt, dessen Ränder unter Abdichtung mittels einer Dichtung 19 auf der Scheibe aufliegen. 20 und
21 bezeichnen Leitungskanäle   im Gehäusekörper ; diese Kanäle   sind unterhalb der Unterseite 22 ver- bunden und dienen dazu, die gesamte Vorrichtung unter Vakuum   (,.., 10-3   mm Hg) zu setzen. 



   Fig.   2 zeigt eineDraufsicht auf den Träger   4. Man sieht die drei Deckel 18, die zueinander in   einem Winkel von 1200 stehen, dieAchse   3,   die Umrisslinien der Dichtungen   19 und die Löcher 16, in welche die Probenhalter eingesetzt sind. Fig. 3 stellt den gleichen Träger dar, jedoch in der Ansicht von unten. Man unterscheidet hier die drei Löcher 16, die Achse 3 und die Dichtung 15 Kreisum- fang 23   ausserhalb der Löcher   16, Kreisumfang 24, an dessen Aussenseite sich die Löcher befinden, und sechs strahlenförmig angeordnete Speichen 25,   welche die beiden Kreisumfänge 23, 24   mitein- ander verbinden, wobei sie den Kreisring in sechs gleiche Teile teilen. Die Speichen 25 sindam Träger 4 durch Schrauben 26 befestigt.

   Die beiden kreisförmigen Dichtungen sind jede in einer kleinen runden Nut 27, die im Träger angebracht ist, gelagert.   Fig. 4 zeigt eine Draufsicht auf das Gehäuse, das den   Raum 2 umschliesst,   nachdem der Träger   4   abgehoben wurde. Man sieht die Achse l, die Umriss-   linien 28 der Achse 3, den Sitz 29 derDrehzapfen 14,   die runde Schulter   13, die Öffnung 12 in der Ebene 11   und die Kanalöffnungen 20 und 21 im Gehäusekörper.   



   Die Vorrichtung funktioniert wie   folgt : Während   eines Messvorganges befindet sich einer der drei Probenhalter in Stellung I   (Fig. 2), wo   er einem Elektronenbeschuss ausgesetzt wird ; der zweite Probenhalter ist in Stellung II oberhalb des Kanales 21, wo er gehoben und durch einen andern ersetzt und dann einem Vakuum unterworfen wird. Diese drei Probenhalter sind mittels Dichtungen, die sie völlig umgeben, hinsichtlich des Druckes voneinander isoliert. Wenn die Messung beendet ist, wird der Träger 4 im Sinne des Pfeiles um seine Achse 3 um 1200 gedreht, wobei die drei Proben in Hinsicht auf den Druck voneinander isoliert bleiben. Die Probenhalter, die die Stellungen   IJ und III einnehmen, be-   setzen in diesem Augenblick die Stellungen II, III und I. 



   Es kann sofort mit einer neuen Messung begonnen werden, da der Vakuumverlust im Behälter wegen der Verbindung des Behälters mit dem Probenhalter, der aus Stellung m kommt, minimal ist ; es ge-   nügt, die   Pumpe, die zum Erzeugen des Vakuums von   10.   mm Hg im Raum dient, in Betrieb zu halten. 



  Während dieser Zeit wird die Probe, die aus Stellung I kommt, in Stellung II gehalten, wo sie vorübergehend atmosphärischem Druck unterworfen wird, so dass sie herausgenommen und durch eine neue Probe ersetzt werden kann. Zur gleichen Zeit befindet sich die Probe, die von Stellung II kommt (Zelle steht unter dem ersten Vakuum) in Stellung m, wo sie einem Vakuum von 10-5mm Hg unterworfen wird und somit zur Einführung in den Raum 2 vorbereitet ist. Der Zyklus wird fortgesetzt, indem die Proben im Umlauf ausgetauscht werden. 



   Während der Drehung des Trägers 4 verschieben sich die kreisförmigen Dichtungen 23 und 24 mit dem Träger, die sich in der Nut 27 nicht verformen können ; die radialen Dichtungen 25 ver- 

 <Desc/Clms Page number 3> 

 
 EMI3.1 


AT570864A 1963-07-02 1964-07-02 Vorrichtung zum Einbringen der Probe in eine Apparatur zur Untersuchung von metallischen Proben AT251322B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
BE634419 1963-07-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
AT251322B true AT251322B (de) 1966-12-27

Family

ID=3845502

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT570864A AT251322B (de) 1963-07-02 1964-07-02 Vorrichtung zum Einbringen der Probe in eine Apparatur zur Untersuchung von metallischen Proben

Country Status (2)

Country Link
AT (1) AT251322B (de)
NL (1) NL6407366A (de)

Also Published As

Publication number Publication date
NL6407366A (de) 1965-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2426343C2 (de) Gerät zur Untersuchung eines Objektes mittels Röngtenstrahlung
DE102008064130B4 (de) Driftröhrenstruktur für Ionenbeweglichkeitsspektrometer
DE2701841C3 (de) Vorrichtung zum Nachweis ionisierbarer Gasteilchen
DE2530679C2 (de) Kombinierte Wasch- und Saugvorrichtung für Laborprüfungen
DE2407924A1 (de) Vorrichtung zur herstellung eines ueberzugs durch ionenbeschuss
DE2738165C2 (de) Röntgenstrahler mit einem konzentrisch zum Brennfleck der Röntgenröhre gewölbten Fenster
EP0264807B1 (de) Wickelvorrichtung
DE2331091B2 (de) Einrichtung zur Bestimmung der Energie geladener Teilchen
DE692964C (de) ungen
AT251322B (de) Vorrichtung zum Einbringen der Probe in eine Apparatur zur Untersuchung von metallischen Proben
DE2632001C3 (de) Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse
DE700855C (de) Magnetkoerper fuer Magnettrommelscheider
DE3019107C2 (de) Elektrophoresegerät
DE1698647B1 (de) Ionisations-Vakuummeter
DE2421442A1 (de) Multiplex-bildschirmaufbau einer farbbildkathodenstrahlroehre und herstellungsverfahren
DE1287765B (de)
DE911409C (de) Korpuskularstrahlapparat, insbesondere Elektronenmikroskop
DE918824C (de) Elektronenstrahloszillograph fuer Mehrfachaufnahmen mit in Strahlrichtung hinter dem Ablenksystem angeordneter, mit diesem eine kombinierte Linse bildender Elektrode
DE2247579B2 (de) Verfahren zum Befestigen von Aufdampfmasken auf Halbleiterscheiben für Solarzellen
JPS529366A (en) Sample equipment for electron microscopes, etc
DE1960083U (de) Universal-spektrometer hoher empfindlichkeit fuer elektromagnetische wellen.
DE1491317A1 (de) Roehre mit gekreuzten Feldern
DE505705C (de) Lichtelektrische Zelle mit mehreren im gleichen Zellengefaess vereinigten photoaktiven Schichten
DE1498721C (de) Elektrodenanrnungur Gasana lyse, insbesondere fur die polarogra phische Sauerstoffanalyse
DE2037190A1 (en) Precision pattern on sheet metal - by photo-electrochemical etching