JP5523658B2 - 光画像計測装置 - Google Patents
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Description
図1に示すように、眼底観察装置1は、眼底カメラとして機能する眼底カメラユニット1Aと、光画像計測装置(OCT装置)の光学系を格納したOCTユニット150と、各種の演算処理や制御処理等を実行する演算制御装置200とを含んで構成されている。
眼底カメラユニット1Aは、図12に示した従来の眼底カメラ1000とほぼ同様の外観構成を有している。また、眼底カメラユニット1Aは、図13に示した従来の光学系と同様に、被検眼Eの眼底Efを照明する照明光学系100と、この照明光の眼底反射光を撮像装置10に導く撮影光学系120とを備えている。
次に、図3を参照しつつOCTユニット150の構成について説明する。同図に示すOCTユニット150は、従来の光画像計測装置とほぼ同様の光学系を有するものであり、光源から出力された光を参照光と信号光とに分割し、参照物体を経由した参照光と被測定物体(眼底Ef)を経由した信号光とを重畳して干渉光を生成する干渉計を具備するとともに、この干渉光の検出結果を解析して眼底Efの断層画像や3次元画像を形成するように構成されている。
次に、演算制御装置200の構成について説明する。この演算制御装置200は、OCTユニット150のスペクトロメータ180のCCD184から入力される検出信号を解析して、被検眼Eの眼底Efの断層画像を形成する処理を行う。このときの解析手法は、従来のフーリエドメインOCTの手法と同じである。
以上のような構成を有する眼底観察装置1の制御系の構成について、図5を参照しつつ説明する。図5は、眼底観察装置1が具備する構成のうち、本発明に係る動作や処理に関わる部分を特に選択して示したものである。
信号光LSの走査は、前述のように、眼底カメラユニット1Aの走査ユニット141のガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きを変更することにより行われる。制御部210は、ミラー駆動機構241、242をそれぞれ制御することで、ガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きをそれぞれ変更し、信号光LSを眼底Ef上において走査する。
次に、画像形成部220及び画像処理部230によるOCT画像に関する処理について、その一例を説明する。
以上のような構成を有する眼底観察装置1の動作について説明する。図8に示すフローチャートは、眼底観察装置1の動作の一例を表している。
以上のように動作する本実施形態に係る眼底観察装置1(光画像計測装置)の作用及び効果について説明する。
以上に詳述した構成は、本発明に係る光画像計測装置を好適に実施するための一例に過ぎないものである。したがって、本発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。以下、本発明に係る光画像計測装置の各種の変形例を説明する。
この発明に係る画像処理装置について説明する。なお、上記の実施形態においては、演算制御装置200が画像処理装置として用いられている。
この発明に係るプログラムについて説明する。上記の実施形態においては、制御プログラム204aがプログラムに相当している。
1A 眼底カメラユニット
120 撮影光学系
141 走査ユニット
150 OCTユニット
200 演算制御装置
201 マイクロプロセッサ
204 ハードディスクドライブ
204a 制御プログラム
208 画像形成ボード
208a 眼底画像形成ボード
208b OCT画像形成ボード
210 制御部
220 画像形成部
230 画像処理部
240 ユーザインターフェイス
250 画像記憶部
L0 低コヒーレンス光
LR 参照光
LS 信号光
LC 干渉光
R 走査領域
R1〜Rm 走査線
G1〜Gm 断層画像
E 被検眼
Ef 眼底
Ef′ 眼底画像(2次元画像)
Claims (5)
- 被検眼の深度方向に沿う複数の断面のそれぞれにおける断層画像を形成する光画像計測装置であって、
光源から出力された光を参照光と信号光とに分割し、前記被検眼を経由した信号光と参照光とを重畳して干渉光を生成する干渉計と、
前記信号光で前記被検眼を走査する走査ユニットと、
前記干渉光を検出して検出信号を出力する光検出素子と、
前記検出信号に基づいて前記被検眼の断層画像を形成する画像形成部と、
前記複数の断面のうちの一の断面における断層画像と、前記一の断面の走査線に隣接する走査線に対応する他の断層画像とに基づいて演算することにより、前記一の断面における新たな断層画像を形成する画像処理手段と
を備えることを特徴とする光画像計測装置。 - 前記画像処理手段は、前記一の断面の所定位置における断層画像の画素の画素値と、前記所定位置に対応する位置における前記他の断層画像の画素の画素値とに基づいて演算することにより、前記所定位置における前記新たな断層画像の画素の画素値を求める、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記画像処理手段は、前記所定位置における前記新たな断層画像の画素の画素値として、前記所定位置における断層画像の画素の画素値と前記所定位置に対応する位置における前記他の断層画像の画素の画素値との平均値を算出する、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記画像処理手段は、前記所定位置における前記新たな断層画像の画素の画素値として、前記所定位置における断層画像の画素の画素値と前記所定位置に対応する位置における前記他の断層画像の画素の画素値との中央値を算出する、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記画像形成部は、
前記走査ユニットよる各走査点に対応する前記検出信号に基づいて、当該走査点における前記深度方向の画像を形成し、
前記走査ユニットによる複数の走査点の位置情報に基づいて前記深度方向の画像を配列することにより前記断層画像を形成する
ことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
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