JP2014215056A - データ処理装置およびリサンプリング方法 - Google Patents
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Abstract
Description
t'(k)=a0+a1k+a2k2+a3k3
で近似している。
α:コリメータレンズ306の光軸に対する回折格子の角度=光偏向器307の偏向角(出射角) Ψ=0の時の回折格子311への入射角、
m:回折の次数、
Λ:回折格子の溝間隔、
λ0:光偏向器307の偏向角(出射角) Ψ=0の時の発振波長、
関数Ψ(V)中に現れる全パラメータ (ここでは、pΨ1,...,pΨNと表記、つまり、pΨ1,...,pΨNは、関数Ψ(V)を確定するパラメータである)、
関数V(t)中に現れる全パラメータ (ここでは、pV1,...,pVMと表記、つまり、pV1,...,pVMは、関数V(t)を確定するパラメータである)
の4+N+M個である。これら4+N+M個のパラメータ全てについて、実施例1に記載の波数−時間関数パラメータ入力手順(S207)において、値を入力する。
f:印加電圧の周波数、
a:係数nKTN 3gijeNeLε/d、
V0:電圧振幅、
α:コリメータレンズ406の光軸に対する回折格子の角度=KTN光偏向器407の偏向角(出射角) Ψ=0の時の回折格子411への入射角、
m:回折の次数、
Λ:回折格子の溝間隔、
λ0:KTN光偏向器407の偏向角(出射角) Ψ=0の時の発振波長、
の7個である。これら7個のパラメータ全てについて、実施例1に記載の波数−時間関数パラメータ入力手順(S207)において、値を入力する。
その他の実施例として、上述した実施例のいくつかを組み合わせて実施することもできる。実施例2と実施例3との組合せ、実施例2と実施例4または5との組合せ、実施例3と実施例4または5との組合せ、実施例2と実施例3と実施例4または5との組合せが考えられる。
12 ビームスプリッタ
13,312,412 ミラー
14 受光素子
15 物体
16 基準面
301,401 光ファイバ
302,402 アイソレータ
303,403 集光レンズ
304,404 SOA(semiconductor optical amplifier)
305,405 反射面
306,406 コリメータレンズ
307 光偏向器
408,409 電極
310,410 電源
311,411 回折格子
407 KTN光偏向器
Claims (8)
- 光源からの光の波長掃引を行って対象の物体に照射し、該物体からの反射光を、干渉計により干渉波形信号として取得する光干渉断層撮影法を適用したデータ処理装置におけるリサンプリング方法であって、
前記データ処理装置の算出手段が、前記光源からの光の波数−時間関数パラメータを取得して波数−時間関数を確定し、前記波数−時間関数の波数が一定間隔となる、前記干渉波形信号のリサンプリング点を求める第1ステップと、
前記データ処理装置の取得手段が、前記干渉波形信号を取得する第2ステップと、
前記データ処理装置のリサンプリング手段が、前記干渉波形信号を、前記リサンプリング点でリサンプリングする第3ステップと
を備えたことを特徴とするリサンプリング方法。 - 光源からの光の波長掃引を行って対象の物体に照射し、該物体からの反射光を、干渉計により干渉波形信号として取得する光干渉断層撮影法を適用したデータ処理装置であって、
前記光源からの光の波数−時間関数パラメータを取得して波数−時間関数を確定、前記波数−時間関数の波数が一定間隔となる、前記干渉波形信号のリサンプリング点を求める算出手段と、
前記干渉波形信号を取得する取得手段と、
前記干渉波形信号を、前記リサンプリング点でリサンプリングするリサンプリング手段と
を備えたことを特徴とするデータ処理装置。
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