WO2023135744A1 - クラック測定システム、クラック測定方法及びクラック測定プログラム - Google Patents

クラック測定システム、クラック測定方法及びクラック測定プログラム Download PDF

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WO2023135744A1
WO2023135744A1 PCT/JP2022/001128 JP2022001128W WO2023135744A1 WO 2023135744 A1 WO2023135744 A1 WO 2023135744A1 JP 2022001128 W JP2022001128 W JP 2022001128W WO 2023135744 A1 WO2023135744 A1 WO 2023135744A1
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WO
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crack
width
index
image
exclusion
Prior art date
Application number
PCT/JP2022/001128
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
健聖 鈴木
達将 樺澤
浩 小林
力矢 相澤
郁弥 八周
英彰 小尾
裕典 田生
泰光 武田
Original Assignee
株式会社Rist
東急リバブル株式会社
ジャパンホームシールド株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
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Priority to JP2022532764A priority patent/JP7124995B1/ja
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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/14—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures

Definitions

  • the present invention relates to a crack measurement system, a crack measurement method, and a crack measurement program.
  • Patent Document 1 a system for estimating the state of deterioration based on an image of a concrete structure has been disclosed in order to reduce the workload of an inspector who inspects the state of deterioration of a structure.
  • the inspection support device described in Patent Document 1 converts structural deterioration factors (for example, regional information, structure structure, dimensions, materials, etc.) stored in a database into a trained model that outputs deterioration characteristics. By inputting, the deterioration factor of the target structure is specified.
  • the inspection support device performs image analysis on the characteristics of the deterioration state caused by the identified deterioration factor. Image analysis outputs parameters related to the state of deterioration, such as the presence or absence of cracks, crack patterns, and the presence or absence of delamination of concrete. Then, the inspection support device calculates the width of the crack by back-calculating the dimension corresponding to the width of the crack from the number of pixels of the portion corresponding to the crack.
  • the present invention provides a crack measurement system that can more appropriately measure the width of cracks.
  • a crack measuring apparatus includes: a first index specifying unit that specifies a first index relating to the width of each of a plurality of regions in a first crack image included in an image of a building; an exclusion area specifying unit that specifies at least one exclusion area among a plurality of areas in the first crack image, and a width of each of the at least one exclusion area, which is excluded from the first crack image based on an exclusion indicator specifying unit that specifies an exclusion indicator; and for a second crack image obtained by excluding the exclusion area from the first crack image, specifying a second indicator relating to the width of each of a plurality of areas in the second crack image.
  • FIG. 4 is a diagram showing an example of a matrix diagram formed of pixels containing depth values
  • FIG. 10 is a diagram showing an example of a matrix diagram in which depth values of central pixels are changed when specifying an exclusion area
  • FIG. 10 is a diagram showing an image T3 including an exclusion image T30 indicating an exclusion area; An image T4 including a crack image T40 from which the exclusion area is excluded.
  • FIG. 10 is a diagram for explaining processing for specifying widths of cracks and exclusion areas included in an image; It is an image in which the width of the crack is displayed in the crack image T20. It is an image in which the width of the crack is displayed in the crack image T40.
  • FIG. 4 is a diagram showing the center pixel and width of each segmented area;
  • FIG. 10 is a diagram showing the sum of widths of segmented regions of a crack image T40 and an exclusion image T30; 4 is a flow chart of processing executed by the crack measuring device 100.
  • FIG. It is a figure which shows an example of a structure of a user terminal.
  • FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a crack measurement system 10. As shown in FIG.
  • the crack measurement system 10 is, for example, a system that identifies an image showing a crack contained in a building or the like and identifies the width of the crack. Structures may include, for example, concrete structures such as buildings, houses, bridges, embankments, and the like.
  • the crack measurement system 10 specifies the width of the crack by excluding portions that are not recognized as cracks, such as delamination of paint on the building included in the cracks. For example, peeling of paint on a building has a larger width than the original crack. For this reason, the crack measurement system 10 specifies the width of the crack after excluding the delamination portion, so that the width of the crack can be specified accurately.
  • the crack measurement system 10 includes, for example, a crack measurement device 100 and a user terminal 200, which are connected via a network N.
  • the crack measuring device 100 provides a service for providing various types of information to a plurality of user terminals 200 via the network N.
  • FIG. The number of crack measuring devices 100 and user terminals 200 connected to network N is not limited.
  • the network N serves to connect one or more crack measuring devices 100 and user terminals 200 . That is, the network N means a communication network that provides a connection path so that the user terminal 200 can transmit and receive data after connecting to the crack measuring apparatus 100 .
  • One or more portions of network N may or may not be wired or wireless networks.
  • the crack measuring device 100 is, for example, a device that appropriately identifies the width of a crack based on an image containing cracks in a building acquired from the user terminal 200.
  • the crack measuring apparatus 100 appropriately identifies the width of the crack by identifying and appropriately excluding portions inappropriate as cracks.
  • the crack measuring apparatus 100 may be any information processing apparatus capable of realizing the functions described in each embodiment.
  • Crack measurement apparatus 100 may be implemented by, by way of example and without limitation, server computers, personal computers (including but not limited to desktops, laptops, tablets, etc.), media computer platforms (e.g., cable, satellite set-top boxes, digital video recorders). , handheld computing devices (eg, PDAs, email clients, etc.), or other types of computers or communication platforms.
  • the user terminal 200 is, for example, a device that displays information transmitted from the crack measuring device 100 on a display unit.
  • the user terminal 200 may be any information processing device (computer) that can implement the functions described in each embodiment.
  • User terminal 200 includes, by way of example and not limitation, smart phones, mobile phones (feature phones), personal computers (e.g., desktops, laptops, tablets, etc.), media computer platforms (e.g., cable, satellite set-top boxes, digital video recorders, etc.). ), handheld computing devices (e.g., personal digital assistants (PDAs), e-mail clients, etc.), wearable terminals (eyeglass-type devices, watch-type devices, etc.), other types of computers, or communication platforms.
  • the user terminal 200 may be expressed as an information processing device.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of the functional configuration of the crack measuring device 100. As shown in FIG.
  • the crack measuring apparatus 100 includes, for example, a storage unit 110, a transmission/reception unit 120, a conversion unit 130, a first index identification unit 140, an exclusion area identification unit 150, an exclusion index identification unit 160, and a crack identification unit 170. , a second index specifying unit 180, and a width specifying unit 190.
  • the storage unit 110 stores, for example, various types of information in a storage device.
  • the transmitting/receiving unit 120 acquires, for example, an image T1 of a building with a sign that serves as a length reference. A crack image T10 is displayed in the building image T1.
  • the transmission/reception unit 120 may acquire the image T1 from the user terminal 200, or may acquire it from another computer or database.
  • the transmission/reception unit 120 transmits various types of information to the user terminal 200 . Note that the transmitting/receiving unit 120 may transmit an error message to the user terminal 200 when an error occurs in any of the processes described below.
  • FIG. 3 is an image showing an example of the building image T1.
  • the image T1 includes a crack image T10 and a mark T11.
  • a crack image T10 is, for example, an image showing a crack in a building.
  • a crack in a building exhibits different widths in each area (hereinafter referred to as "divided area") obtained by dividing the crack perpendicularly to the length direction of the crack.
  • the segmented area includes an area that is a crack (hereinafter referred to as “cracked area”) and an area that is not cracked (hereinafter referred to as "non-cracked area”).
  • the non-cracked area is, for example, an area where the paint on the surface of the wall of the building has peeled off.
  • the crack measuring apparatus 100 measures the width of the crack after properly excluding the non-cracked region.
  • the mark T11 is, for example, an image that serves as a length reference when determining the crack width.
  • the mark T11 may be, for example, an image representing a sticker attached to the surface of the building, an image transferred to the surface of the building, or an image projected.
  • the marker T11 includes at least two feature points.
  • Feature points may represent, for example, geometric objects such as edge intersections, or codes such as two-dimensional codes.
  • the description below assumes that the mark T11 is formed of two two-dimensional codes T11a and T11b.
  • a predetermined portion of the two-dimensional code is a feature point.
  • the central portion of each two-dimensional code is a feature point, and the distance between the central portions of each two-dimensional code is set as the length reference Lbp.
  • the conversion unit 130 binarizes the image T1 so that cracks in the building can be identified.
  • the conversion unit 130 may obtain an image T2 obtained by binarizing the image T1 by inputting the image T1 into the trained model.
  • the trained model is a neural network trained to calculate the number of pixels corresponding to the width of the crack, using training images in which the number of pixels corresponding to the width of the crack is known, as training data.
  • FIG. 4 is an image showing an example of the binarized image T2.
  • the conversion unit 130 indicates the crack portion in white and indicates the portion other than the crack in black in the image T2.
  • the image T2 may include a crack image T20 and a mark T21.
  • Crack image T20 and marker T21 are binarized images of crack image T10 and marker T11, respectively.
  • the conversion unit 130 compares the number of pixels corresponding to the length reference Lbp with the length reference Lbm, for example, and converts it into a unit of length.
  • FIG. 5 is a diagram showing the label T12.
  • the length reference Lbm is, for example, the distance between the feature points of the two two-dimensional codes T12a and T12b included in the marker 12.
  • the length reference is Lbm (for example, “meter”)
  • the number of pixels corresponding to the length reference Lbp indicated by the marker T11 is PX1.
  • the number of pixels PX2 corresponding to the width Wn is multiplied by Lbp/PX1 to convert it into a unit of length (here, "meter (m)/pixel (pixel)").
  • the conversion unit 130 has been described as converting into a unit of length based on the reference Lbp of the length indicated by the marker T11, but for example, based on the reference Lbp of the length indicated by the marker T21 obtained by binarizing the marker T11 May be converted to length units.
  • Each functional unit may perform processing on the image T1, but as an example, each functional unit performs processing on the image T2 obtained by binarizing the image T1.
  • the first index specifying unit 140 specifies a first index regarding the width of each of the plurality of regions in the crack image T20.
  • the first metric may include, for example, depth values.
  • the depth value is an index corresponding to the distance of each pixel forming the width of each of the plurality of segmented regions in the crack image T20 from the end of the width of each of the plurality of segmented regions in the crack image T20.
  • the first index identification unit 140 may, for example, exclude the marker T21 shown in FIG. 4 before identifying the first index. This is a process for avoiding identification of the mark T21 as a crack.
  • FIG. 6 shows an image T22 obtained by cutting out a part of the crack image T20.
  • An image T22 shown in FIG. 6 shows, as an example, an area that can be a non-cracked area.
  • FIG. 7 is a diagram showing an example of a matrix diagram formed of pixels containing depth values. The matrix diagram shown in FIG. 7 indicates a depth value for each pixel. For example, an area composed of a plurality of pixels displaying depth values other than "0" corresponds to an area that can be a crack area or a non-crack area of the crack image T20. Also, in FIG. 7, for example, a region of pixels in which depth values other than "0" are displayed and a region along the X axis is defined as a segmented region T23.
  • the first index identifying unit 140 identifies the pixel corresponding to the edge of the width of the segmented area T23 by associating the depth value "1".
  • the first index specifying unit 140 specifies the pixels adjacent to the pixels corresponding to the ends of the width of the segmented region T23 along the X-axis by associating the depth value "2".
  • the pixels of the segmented region T23 are identified by associating the depth value "3".
  • the first index identifying section 140 performs similar processing on all the segmented regions of the crack image T20. That is, the first index identifying unit 140 identifies all the pixels forming the crack image T20 by associating the depth values.
  • the exclusion area can be specified as described later without specifying the widths of all the segmented areas of the crack image T20, so the amount of information processing can be suppressed.
  • the exclusion area specifying unit 150 identifies at least one of the plurality of segmented areas to be excluded from the crack image T20 (hereinafter , referred to as “exclusion regions”).
  • the exclusion area is an area that can be the non-crack area described above.
  • FIG. 8 is a diagram showing an example of a matrix diagram in which depth values of central pixels are changed when specifying an exclusion area.
  • FIG. 9 is an image showing a part of the crack image T20 from which the exclusion area is excluded.
  • FIG. 10 is a diagram showing an image T3 including an exclusion image T30 indicating exclusion regions.
  • the exclusion area specifying unit 150 specifies the number of all pixels forming the crack image T20.
  • the exclusion area specifying unit 150 determines whether or not the ratio of the number of pixels showing a predetermined depth value to the total number of pixels is equal to or less than a predetermined threshold value (for example, 1%).
  • the predetermined depth value may be, for example, the largest depth value or a value within a predetermined rank range from the largest depth value. For example, if the threshold value is equal to or less than a predetermined threshold, the exclusion area identification unit 150 identifies an area including pixels showing a predetermined value as an exclusion area.
  • the exclusion area specifying unit 150 when it is determined that the number of pixels with a depth value of “3” shown in FIG. Pixels P1 to P4 with a depth value of "3" are set to have a depth value of "0" as shown in FIG.
  • the exclusion area specifying unit 150 performs predetermined image processing (for example, morphology processing) to set the depth values of pixels in a certain range centered on pixels P1 to P4 to “0”.
  • predetermined image processing for example, morphology processing
  • the exclusion area specifying unit 150 specifies an area formed by the changed pixels as an exclusion area.
  • the exclusion area specifying unit 150 performs predetermined image processing to set the depth values of pixels excluding pixels P5 to P8 among the pixels having a depth value of “1” or more shown in FIG. 8 to “0”. Pixels other than P5 to P8 are specified as an exclusion area. As shown in FIG. 9, the exclusion area specifying unit 150 may display the exclusion area in black, for example. Further, as shown in FIG. 10, the exclusion area specifying unit 150 may generate an image T3 including an exclusion image T30 in which the exclusion area is displayed in white, for example.
  • the exclusion indicator specifying unit 160 specifies, for example, an exclusion indicator relating to the width of each of at least one exclusion area.
  • Exclusion indicators may include, for example, depth values.
  • the depth value is an index corresponding to the distance of each pixel forming the width of each of the plurality of segmented regions in the excluded image T30 from the end of the width of each of the plurality of segmented regions in the crack image T20. Since the process of specifying the depth value is the same as the process of specifying the depth value by the first index specifying unit 140, the description thereof will be omitted.
  • the crack identifying unit 170 identifies a crack image T40 obtained by excluding the exclusion area from the crack image T20.
  • a crack image T40 obtained by excluding the exclusion area from the crack image T20 will be described with reference to FIG.
  • FIG. 11 is an image T4 including a crack image T40 from which the exclusion area is excluded.
  • the crack identification unit 170 determines that the pixels (white) indicating the exclusion area of the exclusion image T30 illustrated in FIG.
  • the crack image T40 may be generated by making the overlapping pixels black.
  • the second index identifying unit 180 identifies a second index regarding the width of each of the plurality of segmented regions in the crack image T40, which is obtained by excluding the exclusion region from the crack image T20.
  • the second metric may include, for example, depth values.
  • the depth value is an index corresponding to the distance of each pixel forming the width of each of the plurality of segmented regions in the crack image T40 from the end of the width of each of the plurality of segmented regions in the crack image T40. Since the process of specifying the depth value is the same as the process of specifying the depth value by the first index specifying unit 140, the description thereof will be omitted.
  • the width specifying unit 190 specifies the width of the crack indicated by the crack image T20, for example, based on at least one of the first index and the exclusion index, and the second index.
  • FIG. 12 is a diagram for explaining the process of specifying the width of cracks and exclusion areas included in an image.
  • FIG. 13 is an image showing the crack width in the crack image T20.
  • FIG. 14 is an image showing the crack width in the crack image T40.
  • the width specifying unit 190 determines the largest width (hereinafter referred to as “first maximum width”) among the widths of each of the plurality of segmented regions in the crack image T20, based on the first index (for example, depth value). Identify.
  • the width specifying unit 190 also determines the largest width (hereinafter referred to as “second maximum width”) among the widths of the plurality of segmented regions in the crack image T40, for example, based on the second index (eg, depth value). ).
  • the width specifying unit 190 determines the largest width (hereinafter referred to as “third maximum width”) among the widths of the plurality of segmented regions in the exclusion image T30, for example, based on the exclusion index (eg, depth value). may be specified.
  • the width specifying unit 190 specifies the pixel Pmax indicating the maximum depth value among the pixels forming the crack image T20. Although one pixel Pmax is shown as an example in FIG. 12, there are a plurality of pixels showing the same depth value among the pixels forming the crack image T20. As shown in FIG. 12, the width specifying unit 190 draws a plurality of virtual line segments (for example, virtual line segments L1 to L3) in a plurality of directions around the specified pixel Pmax. The multiple directions may be, for example, all directions or directions within a predetermined angle range.
  • the virtual line segment is, for example, a line segment connecting one end point of the region of the crack image T20 to the other end point passing through the pixel Pmax.
  • the width specifying unit 190 specifies the length of the shortest virtual line segment (here, the virtual line segment L1) among the virtual line segments drawn around the pixel Pmax.
  • the width specifying unit 190 specifies the longest virtual line segment Lmax1 among the virtual line segments specified as the shortest virtual line segments for each of the plurality of pixels Pmax. At this time, the width specifying unit 190 specifies, for example, the coordinates of the end points of the virtual line segment Lmax1.
  • the width specifying unit 190 stores the number of pixels of the virtual line segment Lmax1 and the coordinates of the endpoints in the storage device. As shown in FIG.
  • the width specifying unit 190 for example, converts the specified virtual line segment Lmax1 into a unit of length by the converting unit 130, which is the first maximum width (here, "1.9 mm"). ) is identified and shown in the crack image T20.
  • the width specifying unit 190 specifies, in the same manner as described above, the pixel Pmax indicating the maximum depth value among the pixels forming the crack image T40.
  • the width specifying unit 190 specifies the virtual line segment Lmax2 by, for example, the same processing as described above.
  • the width specifying unit 190 specifies the second maximum width (here, "0.7 mm") that is the result of converting the virtual line segment Lmax2 into the unit of length by the converting unit 130, It is shown in a crack image T40.
  • the width specifying unit 190 may specify the third maximum width based on the depth value, which is the exclusion index, and indicate it in the exclusion image T30, as described above.
  • the width identification unit 190 identifies the width of the crack in the building based on, for example, the first maximum width and the second maximum width. For example, when the first maximum width is sufficiently larger than the second maximum width, the width identification unit 190 determines that the width of the exclusion area is large, and determines the second maximum width indicated by the crack image T40 from which the exclusion area is excluded. Identified as the width of a structural crack. Note that, for example, when the third maximum width is sufficiently larger than the second maximum width, the width specifying unit 190 determines that the width of the exclusion area is large, and determines that the width of the exclusion area is large, and the second maximum width indicated by the crack image T40 from which the exclusion area is excluded. may be specified as the width of the structural crack.
  • the width identification unit 190 determines the second maximum width. Specify as the width of the crack.
  • the width identification unit 190 determines that the first maximum width (or third maximum width) maximum width) as the width of the crack.
  • the crack measurement system 10 specifies the width of the crack after excluding areas that are not cracks, such as portions where paint has peeled off of the wall, and thus can appropriately specify the width of the crack.
  • the crack measuring apparatus 100 identifies the exclusion area based on the depth value in the exclusion area identification section 150 by identifying the depth value in the first index identification section 140, but the present invention is not limited to this.
  • the first index specifying unit 140 may specify the rate of change in the width of each of the plurality of regions in the crack image T20.
  • the exclusion area specifying unit 150 may specify the exclusion area based on the rate of change.
  • the first index specifying unit 140 thins the crack image T20 to specify the center line. Thinning is, for example, a process of converting the width of the crack image T20 into one pixel.
  • the first index identification unit 140 identifies the index regarding the width of the first region and the index regarding the width of the second region adjacent to the first region in the crack image T20, centering on the pixels forming the center line. Identify. For example, the first index identifying unit 140 identifies the index regarding the width of the first region as "4 pixels" and the index regarding the width of the second region as "11 pixels". However, the first area and the second area may be divided areas centered on one pixel included in the center line, or divided areas centered on a plurality of adjacent pixels included in the center line. may be The first index specifying unit 140 may calculate an average value of indices (here, the number of pixels) relating to the width of each segmented region in the case of a segmented region centered on a plurality of adjacent pixels.
  • the first index specifying unit 140 calculates a rate of change, which is the ratio of the width of the second region to the width of the first region, based on the index regarding the width of the first region and the index regarding the width of the second region. do.
  • the index for the first width and the index for the second width may be, for example, the number of pixels indicating the width as described above, or the length obtained by converting the number of pixels indicating the width to the standard of length. There may be.
  • the length converted to the standard of length will be described.
  • the first index identifying unit 140 determines the width of the second area "0.7 mm” (for example, the length obtained by converting "4 pixels” into the length standard) of the first area. 1.9 mm” (for example, the length obtained by converting “11 pixels” into the length standard), the change rate “271%” is specified.
  • the width of the first region is smaller than the width of the second region has been described. For example, 37%, etc. may be specified.
  • the exclusion area specifying unit 150 specifies at least one exclusion area based on the rate of change specified by the first indicator specifying unit 140, for example. Specifically, when the change rate “271%” is greater than (or “greater than”) a predetermined threshold value (for example, “200%”), the exclusion area identifying unit 150 identifies the second area as an exclusion area. may Note that when the width of the first region is greater than (or “greater than”) the width of the second region, the exclusion region specifying unit 150 sets the change rate “37%” to a predetermined threshold value (for example, “50%”). A first region may be identified as an exclusion region if less than (or "less than”).
  • the exclusion area specifying unit 150 may determine, for example, that the width of each of the segmented areas on the opposite side of the first area with respect to the second area specified as the exclusion area has a predetermined ratio to the width of the second area. If it falls below (or "below") the threshold, then the segmented area at that point may be identified as the edge of the exclusion area. Specifically, for example, the exclusion area specifying unit 150 determines that, with respect to the width of the second area of 1.9 mm, the pixels of the center line are continuous on the side opposite to the first area in the second area.
  • the width of the segmented region (e.g., "0.8 mm") centered on each pixel that is physically adjacent to each other is specified as the edge of the excluded region when the segmented region is, for example, "50%" or less (or “less than”). You may That is, the exclusion area specifying unit 150 may specify, as the exclusion area, a set of a plurality of segmented areas from the second area to the segmented area specified as the edge of the exclusion area.
  • the crack measurement system 10 can determine the area of the crack where the width suddenly increases as peeling of the paint on the surface and exclude it from the process of specifying the width of the crack, so that the width of the crack can be specified appropriately.
  • the width specifying unit 190 specifies the width of the crack by specifying the largest width based on the depth value, but it is not limited to this.
  • the width specifying unit 190 specifies the width of each of the plurality of segmented regions in the exclusion region, specifies the width of each of the plurality of segmented regions in the crack image T40, and determines the width of the crack based on the distribution of the respective widths. may be specified.
  • FIG. 15 is a diagram showing the center pixel and width of each segmented area.
  • FIG. 16 is a diagram summarizing the widths of the segmented regions of the crack image T40 and the excluded image T30.
  • the width specifying unit 190 specifies pixels (for example, pixels P10 to P15) at the center of each segmented area in the crack image T40.
  • the central pixel is, for example, the pixel specified by the thinning described above.
  • the width identifying unit 190 draws a plurality of virtual line segments in a plurality of directions around the central pixel, and identifies the number of pixels indicated by the shortest virtual line segment. Specifically, as shown in FIG. 15, the width of the segmented region centered on the pixel P11 is specified as "10" pixels, and the width of the segmented region centered around the pixel P12 is specified as "4" pixels. be done.
  • the width specifying unit 190 specifies the number of pixels, which is the width of each partitioned area in the excluded image T30, by performing the same process on the excluded image T30. Note that the width specifying unit 190 may specify the length of each segmented area by converting the number of pixels into the length standard.
  • the width specifying unit 190 counts, for example, the number of pixels indicating the width of each segmented area. Specifically, as shown in FIG. 16, the width specifying unit 190 counts the number of appearances of the number of pixels indicating the width of each partitioned area of each of the crack image T40 and the exclusion image T30.
  • the clock image T40 includes “90” segmented regions having a width of “5” pixels
  • the exclusion image T30 includes “48” segmented regions having a width of “11” pixels. ” is indicated to be included.
  • the width identifying unit 190 determines the average, median, or mode width of each segmented region in the crack image T40, and the average, median, or mode width of each segmented region in the excluded image T30. Identify the width of the crack based on either
  • the average value of the width is, for example, a value obtained by dividing the product of the number of pixels indicating the width of each segmented area and the number of appearances thereof (the location of the segmented area) by the number of appearances.
  • the median value of the width is, for example, the median value among the number of pixels indicating the width of each segmented area. 6”.
  • the mode of the width is, for example, the number of pixels with the largest number of occurrences.
  • the width specifying unit 190 determines, for example, that the ratio of the average, median, or mode width of the excluded image T30 to the average, median, or mode width of the crack image T40 is a predetermined value. If the threshold value is exceeded (or "greater than or equal to"), the maximum width of the crack image T40 may be specified as the width of the crack.
  • the crack width is specified based on the average value, the median value, and the mode value of the number of pixels, but the crack width is not limited to this.
  • the width of the crack may be determined based on the mean, median and mode of length.
  • the width specifying unit 190 may transmit the image of the diagram in which the widths shown in FIG.
  • the crack measurement system 10 can determine that the relatively large widths of the segmented regions included in the crack image T20 are peeling of the coating on the surface and exclude them from the process of specifying the width of the crack. can identify the crack width. ⁇ Processing>>
  • FIG. 17 is a flow chart of processing executed by crack measuring apparatus 100 .
  • step S100 the crack measuring device 100 acquires an image T1 of a building with a sign from the user terminal 200, for example.
  • step S101 the crack measuring apparatus 100, for example, inputs the image T1 into the trained model and acquires the image T2 obtained by binarizing the image T1.
  • the crack measuring device 100 may specify, for example, the crack image T20 and the mark T21.
  • the crack measuring device 100 may specify, for example, the depth value, which is the first index of each segmented region included in the crack image T20.
  • step S104 the crack measuring device 100 identifies an exclusion area among the segmented areas of the crack image T20, for example, based on the depth value. Thereby, the crack measuring apparatus 100 can identify a region with a high possibility of delamination on the surface of the building. Note that, for example, when the exclusion area specifying unit 150 determines that the exclusion area exceeds a predetermined threshold value (for example, 1%), the crack measuring apparatus 100 may specify that there is no exclusion area in the crack image T20.
  • a predetermined threshold value for example, 1%
  • the crack measuring apparatus 100 may specify, for example, the first maximum width of the crack image T20 as the width of the crack and shift the process to step S108, or the crack image T40 in which the exclusion area is not excluded ( The process may proceed to step S105 so as to identify a crack image T20).
  • step S105 the crack measuring apparatus 100 specifies, for example, a crack image T40 obtained by excluding the exclusion area from the crack image T20.
  • step S106 the crack measuring device 100 specifies, for example, the first maximum width of the crack image T20 and the second maximum width of the crack image T40.
  • step S107 the crack measuring device 100 identifies the width of the crack based on the ratio between the first maximum width and the second maximum width.
  • step S ⁇ b>108 the crack measuring apparatus 100 transmits to the user terminal 200 information about the width of the specified crack (for example, information indicating width, information indicating width distribution, etc.). With this, the crack measuring apparatus 100 ends the process of specifying the width of the crack.
  • the crack measuring apparatus 100 transmits to the user terminal 200 information about the width of the specified crack (for example, information indicating width, information indicating width distribution, etc.). With this, the crack measuring apparatus 100 ends the process of specifying the width of the crack.
  • FIG. 18 is a diagram showing an example of the configuration of the user terminal 200.
  • the user terminal 200 displays, for example, various information acquired from the crack measuring device 100 on the display section 200f.
  • the user terminal 200 includes functional units such as a storage unit 210, a transmission/reception unit 220, and a display processing unit 230, for example.
  • the storage unit 210 stores various information, for example.
  • the transmitting/receiving section 220 transmits/receives various information, for example, to/from the crack measuring apparatus 100 or another apparatus.
  • the display processing unit 230 causes the display unit 200f to display the acquired various information.
  • the physical configurations of the crack measuring device 100 and the user terminal 200 will be described with reference to FIG. Note that the physical configuration of the user terminal 200 is the same as the physical configuration of the crack measuring device 100, and the description thereof will be omitted.
  • the crack measuring device 100 includes a CPU (Central Processing Unit) 100a equivalent to a calculation unit, a RAM (Random Access Memory) 100b equivalent to a storage unit, a ROM (Read only Memory) 100c equivalent to a storage unit, and a communication unit 100d, an input unit 100e, and a display unit 100f. These components are connected to each other via a bus so that data can be sent and received.
  • CPU Central Processing Unit
  • RAM Random Access Memory
  • ROM Read only Memory
  • the crack measuring device 100 is configured by one computer, but the crack measuring device 100 may be realized by combining a plurality of computers.
  • At least part of the processing in crack measuring apparatus 100 and/or user terminal 200 may or may not be implemented by one or more computers (for example, cloud computing configured by one or more computers). It doesn't have to be.
  • the configuration shown in FIG. 1 is an example, and the crack measuring apparatus 100 may have configurations other than these, or may not have some of these configurations.
  • At least part of the processing in the crack measuring device 100 may or may not be performed by the user terminal 200 .
  • the user terminal 200 may or may not perform at least part of the processing of the functional units of the arithmetic unit of the crack measuring apparatus 100 .
  • the CPU 100a is a control unit that controls the execution of programs stored in the RAM 100b or ROM 100c and performs data calculation and processing.
  • the CPU 100a is an arithmetic unit that executes a program (a crack measurement program) for specifying the width of cracks occurring in a building.
  • the CPU 100a receives various data from the input section 100e and the communication section 100d, and displays the calculation result of the data on the display section 100f and stores it in the RAM 100b.
  • the RAM 100b is a rewritable storage device, and may be composed of, for example, a semiconductor memory element.
  • the RAM 100b may store data such as programs executed by the CPU 100a and various images. Note that these are examples, and the RAM 100b may store data other than these, or may not store some of them.
  • the ROM 100c is one of the storage units from which data can be read, and may be composed of, for example, a semiconductor storage element.
  • the ROM 100c may store, for example, a crack measurement program and data that is not rewritten.
  • the communication unit 100d is an interface that connects the crack measuring device 100 to other equipment.
  • the communication unit 100d may be connected to a communication network N such as the Internet.
  • the input unit 100e receives data input from the user, and may include, for example, a keyboard and a touch panel.
  • the display unit 100f visually displays the calculation result by the CPU 100a, and may be configured by an LCD (Liquid Crystal Display), for example.
  • the display unit 100f may display various images or the width of the specified crack.
  • the crack measurement program may be stored in a computer-readable storage medium such as the RAM 100b or ROM 100c and provided, or may be provided via a communication network connected by the communication unit 100d.
  • the CPU 100a executes the crack measuring program to implement the processing of the functional units shown in FIG. It should be noted that these physical configurations are examples, and do not necessarily have to be independent configurations.
  • the crack measurement system 10 includes a first index identification unit 140 that identifies a first index regarding the width of each of a plurality of regions in the crack image T20 included in the building image, and a crack image T20 that is excluded from the crack image T20 based on the first index.
  • a first index identification unit 140 that identifies a first index regarding the width of each of a plurality of regions in the crack image T20 included in the building image, and a crack image T20 that is excluded from the crack image T20 based on the first index.
  • an exclusion area specifying unit 150 for specifying at least one exclusion area among a plurality of areas in the crack image T20
  • an exclusion index specifying unit 160 for specifying an exclusion index for the width of each of the at least one exclusion area, and a crack image T20.
  • a second index identifying unit 180 that identifies a second index relating to the width of each of a plurality of regions in the crack image T40, at least one of the first index or the exclusion index, and a second and a width identification unit 190 that identifies the width of the first crack indicated by the crack image T20 based on the index.
  • the width of the crack can be specified by excluding the exclusion area that is not the crack, so that the width of the crack can be measured more appropriately.
  • the crack measurement system 10 further includes a converter 130 (first converter) that binarizes the building image so that the first crack can be identified.
  • a first index is identified in the quantified crack image T20.
  • the crack measurement system 10 determines that the building image includes a mark that serves as a length reference, and based on the number of pixels that correspond to the length reference, the width of each of the plurality of regions in the crack image T20. It further includes a conversion unit 130 (second conversion unit) that converts the number of pixels to be processed into units of length. As a result, since the number of pixels is converted into the unit of length, the crack width can be appropriately measured by reducing variation due to the skill of the inspector.
  • the width specifying unit 190 of the crack measurement system 10 specifies a first maximum width (first width), which is the largest among the widths of each of the plurality of regions in the crack image T20, based on the first index, and a second width. Based on the index, the largest second maximum width (second width) among the widths of each of the plurality of regions in the crack image T40 is identified, and the second maximum width (second width) with respect to the first maximum width (first width) 2) is less than or equal to a predetermined threshold, the second maximum width (second width) is specified as the width of the first crack, and if it exceeds the predetermined threshold, the first maximum width (first width) as the width of the first crack.
  • the crack measurement system 10 specifies the width of the crack after excluding areas that are not cracks, such as portions where paint has peeled off of the wall, and thus can appropriately specify the width of the crack.
  • the width identifying unit 190 of the crack measurement system 10 identifies the width of each of at least one exclusion area based on the exclusion index, and identifies the width of each of the plurality of areas in the crack image T40 based on the second index. and either the mean, median or mode of the width of each of the at least one exclusion region and either the mean, median or mode of the width of each of the plurality of regions in the second crack, Based on this, the width of the first crack is specified.
  • the crack measurement system 10 can specify areas that are not cracks, such as areas where wall paint has peeled off, using a technique with a small amount of calculation, so that the crack width can be specified appropriately while suppressing the amount of information processing.
  • the first index specifying unit 140 of the crack measurement system 10 corresponds to the distance from each edge of the width of each of the plurality of regions in the crack image T20 to each pixel forming the width of each of the plurality of regions in the crack image T20.
  • a depth index which is an index, is identified, and the exclusion area identification unit 150 identifies at least one exclusion area based on the depth index.
  • the exclusion area can be specified without specifying the widths of all the segmented areas of the crack image T20, so the width of the crack can be appropriately specified while suppressing the amount of information processing.
  • the exclusion area specifying unit 150 of the crack measurement system 10 determines the number of pixels whose depth index indicates a predetermined value with respect to the number of pixels forming the crack image T20. If the percentage is less than or equal to a predetermined threshold, then at least one exclusion area is identified as an area containing pixels exhibiting the predetermined value. As a result, the exclusion area can be specified without specifying the widths of all the segmented areas of the crack image T20, so the width of the crack can be appropriately specified while suppressing the amount of information processing.
  • the first index identification unit 140 of the crack measurement system 10 determines the width of the first region in the crack image T20 (for example, the length converted based on the depth value or the length) and the first region and an index related to the width of the second region (e.g., length converted by a depth value or a length standard), and an index related to the width of the first region and an index related to the width of the second region , the exclusion area identifying unit 150 identifies at least one exclusion area based on the change rate, which is the ratio of the width of the second area to the width of the first area.
  • the crack measurement system 10 can determine the area of the crack where the width suddenly increases as peeling of the paint on the surface and exclude it from the process of specifying the width of the crack, so that the width of the crack can be specified appropriately.

Landscapes

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Abstract

建造物の画像に含まれる第１のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第１指標を特定する第１指標特定部と、第１指標に基づいて、第１のクラック画像から除外される、第１のクラック画像における複数の領域のうち少なくとも一つの除外領域を特定する除外領域特定部と、少なくとも一つの除外領域それぞれの幅に関する除外指標を特定する除外指標特定部と、第１のクラック画像から除外領域を除外した第２のクラック画像について、第２のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第２指標を特定する第２指標特定部と、第１指標または除外指標の少なくともいずれかと、第２指標と、に基づいて、第１のクラック画像が示す第１のクラックの幅を特定する幅特定部と、を備える。

Description

クラック測定システム、クラック測定方法及びクラック測定プログラム
　本発明は、クラック測定システム、クラック測定方法及びクラック測定プログラムに関する。
　従来、構造物の劣化状態を点検する点検者の作業負担を軽減させるべく、コンクリート構造物を撮像した画像に基づき劣化状態を推定するシステムが開示されている（例えば特許文献１）。
特開２０１６－６５８０９号公報
　特許文献１に記載の点検支援装置は、データベースに保持されている構造物の劣化要因（例えば、地域情報、構造物の構造、寸法、材料など）を、劣化の特徴を出力する学習済みモデルに入力することで、対象の構造物の劣化要因を特定する。当該点検支援装置は、特定する劣化の要因によって生じる劣化の状態の特徴について画像解析を行う。画像解析によって、ひび割れの有無、ひび割れのパターン、コンクリートの剥離の有無などの劣化の状態に関するパラメータが出力される。そして、当該点検支援装置は、ひび割れについて、ひび割れに相当する部分の画素数からひび割れ幅に相当する寸法を逆算することで、ひび割れの幅を算出している。
　しかしながら、特許文献１に記載の点検支援装置では、劣化の状態それぞれを評価しているものの、ひび割れの幅を特定する際に、ひび割れではない部分の幅をも考慮してひび割れ幅を算出することから、適切なひび割れ幅と特定することができない場合がある。
　そこで、本発明は、クラックの幅をより適切に測定可能なクラック測定システムを提供する。
　本発明の一態様に係るクラック測定装置は、建造物の画像に含まれる第１のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第１指標を特定する第１指標特定部と、前記第１指標に基づいて、前記第１のクラック画像から除外される、前記第１のクラック画像における複数の領域のうち少なくとも一つの除外領域を特定する除外領域特定部と、前記少なくとも一つの除外領域それぞれの幅に関する除外指標を特定する除外指標特定部と、前記第１のクラック画像から前記除外領域を除外した第２のクラック画像について、前記第２のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第２指標を特定する第２指標特定部と、前記第１指標または前記除外指標の少なくともいずれかと、前記第２指標と、に基づいて、前記第１のクラック画像が示す第１のクラックの幅を特定する幅特定部と、を備える。
　本発明によれば、クラックの幅をより適切に測定可能なクラック測定システムを提供することができる。
クラック測定システムの構成を示す図である。 クラック測定装置の機能構成の一例を示す図である。 建造物の画像Ｔ１の一例を示す画像である。 ２値化された画像Ｔ２の一例を示す画像である。 標識Ｔ１２を示す図である。 クラック画像Ｔ２０の一部を切り出した画像Ｔ２２である。 深度値を含む画素で形成されるマトリクス図の一例を示す図である。 除外領域を特定する際に中心部の画素の深度値を変更したマトリクス図の一例を示す図である。 除外領域を除外したクラック画像Ｔ２０の一部を示す画像である。 除外領域を示す除外画像Ｔ３０を含む画像Ｔ３を示す図である。 除外領域を除外したクラック画像Ｔ４０を含む画像Ｔ４である。 画像に含まれるクラックおよび除外領域の幅を特定する処理を説明するための図である。 クラック画像Ｔ２０にクラックの幅を表示した画像である。 クラック画像Ｔ４０にクラックの幅を表示した画像である。 区分領域それぞれの中心の画素と幅とを示す図である。 クラック画像Ｔ４０及び除外画像Ｔ３０それぞれの区分領域の幅を集計した図である。 クラック測定装置１００により実行される処理のフローチャートである。 ユーザ端末の構成の一例を示す図である。
　添付図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。なお、各図において、同一の符号を付したものは、同一又は同様の構成を有する。
＝＝＝クラック測定システム１０＝＝＝
＜＜概要＞＞
　図１を参照して、第１実施形態に係るクラック測定システム１０の構成について説明する。図１は、クラック測定システム１０の構成を示す図である。
　クラック測定システム１０は、例えば、建造物などに含まれるクラックを示す画像を特定して、クラックの幅を特定するシステムである。建造物には、例えば、ビル、住宅、橋、堤防などのコンクリート構造物が含まれていてもよい。クラック測定システム１０は、クラックに含まれる建造物の塗装の剥離などのクラックとは認められない部分を除外して、クラックの幅を特定する。例えば建造物の塗装の剥離などは、本来のクラックに比べて大きな幅を有する。このため、クラック測定システム１０では、当該剥離部分を除外した上でクラックの幅を特定するため、クラックの幅を正確に特定できる。
　図１に示すように、クラック測定システム１０では、例えば、クラック測定装置１００と、ユーザ端末２００とを含み、それらがネットワークＮを介して接続される。クラック測定装置１００は、ネットワークＮを介して、複数のユーザ端末２００に対して各種情報の提供を実現するサービスを提供する。なお、ネットワークＮに接続されるクラック測定装置１００およびユーザ端末２００の数は限定されない。
　ネットワークＮは、１以上のクラック測定装置１００と、ユーザ端末２００とを接続する役割を担う。すなわち、ネットワークＮは、ユーザ端末２００がクラック測定装置１００に接続した後、データを送受信することができるように接続経路を提供する通信網を意味する。ネットワークＮのうちの１つまたは複数の部分は、有線ネットワークや無線ネットワークであってもよいし、そうでなくてもよい。
　クラック測定装置１００は、例えば、ユーザ端末２００から取得する建造物のクラックを含む画像に基づき、クラックの幅を適切に特定する装置である。クラック測定装置１００は、クラックとして不適切な箇所を特定して適切に除外することにより、クラックの幅を適切に特定する。クラック測定装置１００は、各実施形態において記載する機能を実現できる情報処理装置であればどのような装置であってもよい。クラック測定装置１００は、限定でなく例として、サーバコンピュータ、パーソナルコンピュータ（限定でなく例として、デスクトップ、ラップトップ、タブレットなど）、メディアコンピュータプラットホーム（例えば、ケーブル、衛星セットトップボックス、デジタルビデオレコーダ）、ハンドヘルドコンピュータデバイス（例えば、ＰＤＡ、電子メールクライアントなど）、あるいは他種のコンピュータ、またはコミュニケーションプラットホームを含む。
　ユーザ端末２００は、例えば、クラック測定装置１００から送信される情報を、表示部に表示する装置である。ユーザ端末２００は、各実施形態において記載する機能を実現できる情報処理装置（コンピュータ）であればどのような情報処理装置であってもよい。ユーザ端末２００は、限定ではなく例として、スマートフォン、携帯電話（フィーチャーフォン）、パーソナルコンピュータ（例えば、デスクトップ、ラップトップ、タブレットなど）、メディアコンピュータプラットホーム（例えば、ケーブル、衛星セットトップボックス、デジタルビデオレコーダ）、ハンドヘルドコンピュータデバイス（例えば、ＰＤＡ・（personal digital assistant）、電子メールクライアントなど）、ウェアラブル端末（メガネ型デバイス、時計型デバイスなど）、他種のコンピュータ、またはコミュニケーションプラットホームを含む。また、ユーザ端末２００は情報処理装置と表現されてもよい。
＜＜クラック測定装置１００＞＞
　図２を参照して、クラック測定装置１００の機能構成について説明する。図２は、クラック測定装置１００の機能構成の一例を示す図である。
　図２に示すように、クラック測定装置１００は、例えば、記憶部１１０、送受信部１２０、変換部１３０、第１指標特定部１４０、除外領域特定部１５０、除外指標特定部１６０、クラック特定部１７０、第２指標特定部１８０、幅特定部１９０の機能部を備える。
　記憶部１１０は、例えば、各種情報を記憶装置に記憶する。
　送受信部１２０は、例えば、長さの基準となる標識が付与された建造物の画像Ｔ１を取得する。建造物の画像Ｔ１には、クラック画像Ｔ１０が表示される。送受信部１２０は、画像Ｔ１をユーザ端末２００から取得してよいし、他のコンピュータやデータベースから取得してもよい。送受信部１２０は、各種情報をユーザ端末２００に送信する。なお、送受信部１２０は、以下に示すいずれかの処理でエラーが生じた場合、エラーメッセージをユーザ端末２００に送信してもよい。
　図３を参照して、クラックを含む建造物の画像Ｔ１の概要について説明する。図３は、建造物の画像Ｔ１の一例を示す画像である。図３に示すように、画像Ｔ１は、クラック画像Ｔ１０と、標識Ｔ１１とを含む。
　クラック画像Ｔ１０は、例えば、建造物のクラックを示す画像である。建造物のクラックは、クラックの長さ方向と垂直にクラックを区分けしたそれぞれの領域（以下、「区分領域」という。）で異なる幅を示す。区分領域には、クラックである領域（以下、「クラック領域」という。）と、クラックではない領域（以下、「非クラック領域」という。）とが含まれる。非クラック領域は、例えば、建造物の壁の表面の塗装が剥離したような領域である。本実施例において、クラック測定装置１００は、非クラック領域を適切に除外した上で、クラックの幅を測定する。
　標識Ｔ１１は、例えば、クラックの幅を求める際の長さの基準となる画像である。標識Ｔ１１は、例えば、建造物の表面に貼付されるステッカーを示す画像、建造物の表面に転写されたものの画像、又は投影されたものの画像であってもよい。図３に示すように、標識Ｔ１１は、少なくとも２つの特徴点を含む。標識Ｔ１１は、例えば、２つの特徴点の間の距離が長さの基準として設定される。特徴点は、例えば、エッジの交点のような幾何学的なもの、２次元コードのような符号を表すものであってもよい。以下、一例として、標記Ｔ１１は、二つの２次元コードＴ１１ａ，Ｔ１１ｂで形成されているものとして説明する。
　この場合、標識Ｔ１１は、例えば、２次元コードの所定箇所が特徴点となる。標識Ｔ１１は、例えば、２次元コードそれぞれの中央部が特徴点であって、２次元コードそれぞれの中央部の間の距離が長さの基準Ｌｂｐとして設定される。このように、標識Ｔ１１に２次元コードを用いることによって、２次元コードに関するライブラリを参照して、長さの基準Ｌｂｐを容易に特定できる。
　変換部１３０は、例えば、建造物のクラックが識別可能となるように画像Ｔ１を２値化する。変換部１３０は、学習済みモデルに画像Ｔ１を入力することで、画像Ｔ１を２値化した画像Ｔ２を取得してもよい。この場合、学習済みモデルは、クラックの幅に相当する画素の数が既知である学習用画像を教師データとして、クラックの幅に相当する画素の数を算出するように学習させたニューラルネットワークであってもよい。
　図４を参照して、建造物の画像Ｔ１を２値化した画像Ｔ２について説明する。図４は、２値化された画像Ｔ２の一例を示す画像である。変換部１３０は、例えば、画像Ｔ２のうち、クラック部分を白色で示し、クラック以外の部分を黒色で示す。図４に示すように、画像Ｔ２は、クラック画像Ｔ２０と、標識Ｔ２１とを含んでもよい。クラック画像Ｔ２０及び標識Ｔ２１のそれぞれは、クラック画像Ｔ１０及び標識Ｔ１１をそれぞれ２値化した画像である。クラック測定システム１０は、画像Ｔ１を２値化することによって、クラックの幅に相当する画素の数をより正確に特定できる。
　また、変換部１３０は、例えば、長さの基準Ｌｂｐに相当する画素の数を、長さの基準Ｌｂｍと比較して、長さの単位に変換する。図５は、標識Ｔ１２を示す図である。図５に示すように、長さの基準Ｌｂｍは、例えば、標識１２に含まれる二つの２次元コードＴ１２ａ，Ｔ１２ｂそれぞれの特徴点の間の距離である。具体的には、変換部１３０は、長さの基準がＬｂｍ（例えば「メートル」）に対して、標識Ｔ１１が示す長さの基準Ｌｂｐに相当する画素の数がＰＸ１である場合、区分領域の幅Ｗｎに相当する画素の数ＰＸ２に、Ｌｂｐ／ＰＸ１を掛けることで、長さの単位（ここでは「メートル（ｍ）／ピクセル（ｐｉｘｅｌ）」）に変換する。
　なお、変換部１３０は、標識Ｔ１１が示す長さの基準Ｌｂｐに基づき長さの単位に変換することとして説明したが、例えば標識Ｔ１１を２値化した標識Ｔ２１が示す長さの基準Ｌｂｐに基づき長さの単位に変換してもよい。
　以下、各機能部は、画像Ｔ１について処理を実行してもよいところ、一例として、各機能部が画像Ｔ１を２値化した画像Ｔ２について処理を実行することとして説明する。
　第１指標特定部１４０は、例えば、クラック画像Ｔ２０における複数の領域それぞれの幅に関する第１指標を特定する。第１指標は、例えば深度値を含んでいてもよい。深度値は、クラック画像Ｔ２０における複数の区分領域それぞれの幅を形成する画素それぞれの、クラック画像Ｔ２０における複数の区分領域それぞれの幅の端からの距離に相当する指標である。なお、第１指標特定部１４０は、例えば、第１指標を特定する前に、図４に示す標識Ｔ２１を除外してもよい。これは、標識Ｔ２１がクラックであると特定されることを回避するための処理である。
　図６、図７を参照して、第１指標特定部１４０が深度値を特定する処理について説明する。図６は、クラック画像Ｔ２０の一部を切り出した画像Ｔ２２である。図６に示す画像Ｔ２２は、一例として、非クラック領域となり得る領域を示す。図７は、深度値を含む画素で形成されるマトリクス図の一例を示す図である。図７に示すマトリクス図は、それぞれの画素に深度値が示されている。例えば、「０」以外の深度値が表示される複数の画素からなる領域は、クラック画像Ｔ２０のクラック領域または非クラック領域となり得る領域に相当する。また、図７において、例えば、「０」以外の深度値が表示される画素の領域であって、Ｘ軸に沿う一列の領域を、区分領域Ｔ２３とする。
　図７に示すように、第１指標特定部１４０は、区分領域Ｔ２３の幅の端に相当する画素に深度値「１」を対応付けて特定する。第１指標特定部１４０は、区分領域Ｔ２３の幅の端に相当する画素とＸ軸に沿って隣接する画素に深度値「２」を対応付けて特定する。同様に、区分領域Ｔ２３の画素に深度値「３」を対応付けて特定する。第１指標特定部１４０は、クラック画像Ｔ２０のすべての区分領域に対して同様の処理を実行する。すなわち、第１指標特定部１４０は、クラック画像Ｔ２０を形成する全ての画素に深度値を対応付けて特定する。これにより、クラック画像Ｔ２０のすべての区分領域の幅を特定することなく、後述するように除外領域を特定できるため、情報処理量を抑制できる。
　除外領域特定部１５０は、例えば、複数の区分領域それぞれの幅に関する第１指標（例えば、深度値）に基づいて、クラック画像Ｔ２０から除外される、複数の区分領域のうち少なくとも一つの領域（以下、「除外領域」という。）を特定する。除外領域は、上述した非クラック領域となり得る領域である。
　図７、図８、図９、図１０を参照して、除外領域特定部１５０がクラック画像Ｔ２０から除外領域を特定する処理について説明する。図８は、除外領域を特定する際に中心部の画素の深度値を変更したマトリクス図の一例を示す図である。図９は、除外領域を除外したクラック画像Ｔ２０の一部を示す画像である。図１０は、除外領域を示す除外画像Ｔ３０を含む画像Ｔ３を示す図である。
　除外領域特定部１５０は、クラック画像Ｔ２０を形成する全ての画素の数を特定する。除外領域特定部１５０は、全ての画素の数に対して深度値が所定の値を示す画素の数の割合が所定の閾値（例えば、１％）以下か否かを判定する。深度値が所定の値とは、例えば、深度値が最も大きい値であってもよいし、深度値が最も大きい値から所定の順位の範囲内の値であってもよい。除外領域特定部１５０は、例えば、所定の閾値以下の場合、所定の値を示す画素を含む領域を除外領域として特定する。
　具体的には、除外領域特定部１５０は、図７に示す深度値「３」の画素の数が、クラック画像Ｔ２０の画素の数の１％以下であると判定された場合、図７に示す深度値「３」の画素Ｐ１～Ｐ４を、図８に示すように深度値「０」とする。除外領域特定部１５０は、例えば、所定の画像処理（例えば、モルフォロジー処理）を実行することによって、画素Ｐ１～Ｐ４を中心とするある範囲の画素の深度値を「０」とする。除外領域特定部１５０は、所定の画像処理により深度値「１」以上の画素を深度値「０」に変更した場合、変更された画素で形成される領域を除外領域として特定する。例えば、除外領域特定部１５０は、所定の画像処理によって、図８に示される深度値が「１」以上の画素のうち画素Ｐ５～Ｐ８を除く画素の深度値を「０」とした場合、画素Ｐ５～Ｐ８を除く画素を除外領域として特定する。図９に示すように、除外領域特定部１５０は、例えば除外領域を黒色で表示させてもよい。また、図１０に示すように、除外領域特定部１５０は、例えば、除外領域を白色で表示させた除外画像Ｔ３０を含む画像Ｔ３を生成してもよい。
　除外指標特定部１６０は、例えば、少なくとも一つの除外領域それぞれの幅に関する除外指標を特定する。除外指標は、例えば深度値を含んでいてもよい。ここで、深度値は、除外画像Ｔ３０における複数の区分領域それぞれの幅を形成する画素それぞれの、クラック画像Ｔ２０における複数の区分領域それぞれの幅の端からの距離に相当する指標である。深度値を特定する処理は、第１指標特定部１４０が深度値を特定する処理と同じであるため、その説明を省略する。
　クラック特定部１７０は、例えば、クラック画像Ｔ２０から除外領域を除外したクラック画像Ｔ４０を特定する。図１１を参照して、クラック画像Ｔ２０から除外領域を除外したクラック画像Ｔ４０について説明する。図１１は、除外領域を除外したクラック画像Ｔ４０を含む画像Ｔ４である。図１１に示すように、クラック特定部１７０は、図５に示すクラック画像Ｔ２０のクラックを示す画素（白色）のうち、図１０に示す除外画像Ｔ３０の除外領域を示す画素（白色）と座標が重なる画素を黒色にして、クラック画像Ｔ４０を生成してもよい。
　第２指標特定部１８０は、例えば、クラック画像Ｔ２０から除外領域を除外したクラック画像Ｔ４０について、クラック画像Ｔ４０における複数の区分領域それぞれの幅に関する第２指標を特定する。第２指標は、例えば深度値を含んでいてもよい。深度値は、クラック画像Ｔ４０における複数の区分領域それぞれの幅を形成する画素それぞれの、クラック画像Ｔ４０における複数の区分領域それぞれの幅の端からの距離に相当する指標である。深度値を特定する処理は、第１指標特定部１４０が深度値を特定する処理と同じであるため、その説明を省略する。
　幅特定部１９０は、例えば、第１指標または除外指標の少なくともいずれかと、第２指標とに基づいて、クラック画像Ｔ２０が示すクラックの幅を特定する。
　図１２、図１３、図１４を参照して、幅特定部１９０が建造物のクラックの幅を特定する処理について説明する。図１２は、画像に含まれるクラックおよび除外領域の幅を特定する処理を説明するための図である。図１３は、クラック画像Ｔ２０にクラックの幅を表示した画像である。図１４は、クラック画像Ｔ４０にクラックの幅を表示した画像である。
　幅特定部１９０は、例えば、第１指標（例えば、深度値）に基づいて、クラック画像Ｔ２０における複数の区分領域それぞれの幅のうち最も大きい幅（以下、「第１最大幅」という。）を特定する。また、幅特定部１９０は、例えば、第２指標（例えば、深度値）に基づいて、クラック画像Ｔ４０における複数の区分領域それぞれの幅のうち最も大きい幅（以下、「第２最大幅」という。）を特定する。さらに、幅特定部１９０は、例えば、除外指標（例えば、深度値）に基づいて、除外画像Ｔ３０における複数の区分領域それぞれの幅のうち最も大きい幅（以下、「第３最大幅」という。）を特定してもよい。
　具体的には、幅特定部１９０は、クラック画像Ｔ２０を形成する画素のうち最大の深度値を示す画素Ｐｍａｘを特定する。図１２では、一例として一つの画素Ｐｍａｘを示しているが、クラック画像Ｔ２０を形成する画素には同じ深度値を示す画素が複数ある。図１２に示すように、幅特定部１９０は、特定された画素Ｐｍａｘを中心として複数の方向に複数の仮想線分（例えば、仮想線分Ｌ１～Ｌ３）を引く。複数の方向とは、例えば、全ての方向であってもよいし、所定の角度範囲の方向であってもよい。仮想線分は、例えば、クラック画像Ｔ２０の領域の一方の端点から画素Ｐｍａｘを通る他方の端点を結ぶ線分である。幅特定部１９０は、画素Ｐｍａｘを中心として引かれた仮想線分のうち最も短い仮想線分（ここでは、仮想線分Ｌ１）の長さを特定する。幅特定部１９０は、複数の画素Ｐｍａｘそれぞれで最も短い仮想線分として特定された仮想線分のうち、最も長い仮想線分Ｌｍａｘ１を特定する。このとき、幅特定部１９０は、例えば、仮想線分Ｌｍａｘ１の端点の座標を特定する。幅特定部１９０は、仮想線分Ｌｍａｘ１の画素数と、端点の座標とを記憶装置に格納する。図１３に示すように、幅特定部１９０は、例えば、特定された仮想線分Ｌｍａｘ１を変換部１３０で長さの単位に変換した結果である第１最大幅（ここでは、「１．９ｍｍ」）を特定し、クラック画像Ｔ２０に示す。
　幅特定部１９０は、上記と同様に、クラック画像Ｔ４０を形成する画素のうち最大の深度値を示す画素Ｐｍａｘを特定する。幅特定部１９０は、例えば、上記と同様の処理によって、仮想線分Ｌｍａｘ２を特定する。図１４に示すように、幅特定部１９０は、仮想線分Ｌｍａｘ２を変換部１３０で長さの単位に変換した結果である第２最大幅（ここでは、「０．７ｍｍ」）を特定し、クラック画像Ｔ４０に示す。さらに、幅特定部１９０は、上記と同様に、除外指標である深度値に基づき第３最大幅を特定し、除外画像Ｔ３０に示してもよい。
　幅特定部１９０は、例えば、第１最大幅及び第２最大幅に基づいて、建造物のクラックの幅を特定する。幅特定部１９０は、例えば、第１最大幅が第２最大幅よりも十分大きい場合、除外領域の幅が大きいと判断して、除外領域を除外したクラック画像Ｔ４０が示す第２最大幅を、建造物のクラックの幅として特定する。なお、幅特定部１９０は、例えば、第３最大幅が第２最大幅よりも十分大きい場合、除外領域の幅が大きいと判断して、除外領域を除外したクラック画像Ｔ４０が示す第２最大幅を、建造物のクラックの幅として特定してもよい。
　具体的には、幅特定部１９０は、例えば、第１最大幅（又は第３最大幅）に対する第２最大幅の割合が所定の閾値以下（又は「未満」）の場合、第２最大幅をクラックの幅として特定する。一方、幅特定部１９０は、例えば、第１最大幅（又は第３最大幅）に対する第２最大幅の割合が所定の閾値を超える（又は「以上」）場合、第１最大幅（又は第３最大幅）をクラックの幅として特定する。
　これにより、クラック測定システム１０は、壁の塗装がはがれた箇所などのクラックではない領域を除外した上でクラックの幅を特定するため、適切にクラックの幅を特定できる。
＜＜第１の変形例＞＞
　上記において、クラック測定装置１００は、第１指標特定部１４０において深度値を特定することにより、除外領域特定部１５０において深度値に基づいて除外領域を特定していたが、これに限定されない。例えば、第１指標特定部１４０は、クラック画像Ｔ２０における複数の領域それぞれの幅の変化割合を特定してもよい。除外領域特定部１５０は、変化割合に基づき除外領域を特定してもよい。
　具体的には、第１指標特定部１４０は、クラック画像Ｔ２０を細線化して中心線を特定する。細線化は、例えば、クラック画像Ｔ２０の幅を１つの画素に変換する処理である。第１指標特定部１４０は、中心線を形成する画素を中心として、クラック画像Ｔ２０における、第１の領域の幅に関する指標と、第１の領域と隣接する第２の領域の幅に関する指標とを特定する。例えば、第１指標特定部１４０は、第１の領域の幅に関する指標を「４画素」として特定し、第２の領域の幅に関する指標を「１１画素」として特定する。ただし、第１の領域および第２の領域は、中心線に含まれる一つの画素を中心とする区分領域であってもよいし、中心線に含まれる複数の隣接する画素を中心とする区分領域であってもよい。第１指標特定部１４０は、複数の隣接する画素を中心とする区分領域である場合、区分領域それぞれの幅に関する指標（ここでは、画素数）の平均値を算出してもよい。
　第１指標特定部１４０は、第１の領域の幅に関する指標及び第２の領域の幅に関する指標に基づいて、第１の領域の幅に対する第２の領域の幅の割合である変化割合を算出する。第１の幅に関する指標及び第２の幅に関する指標は、例えば、上記のように幅を示す画素数であってもよいし、幅を示す画素数が長さの基準に変換された長さであってもよい。以下、一例として、長さの基準に変換された長さとして説明する。
　具体的には、第１指標特定部１４０は、第１の領域の幅「０．７ｍｍ」（例えば、「４画素」を長さの基準に変換した長さ）に対する第２の領域の幅「１．９ｍｍ」（例えば、「１１画素」を長さの基準に変換した長さ）の変化割合「２７１％」を特定する。なお、上記では一例として、第１の領域の幅が第２の領域の幅よりも小さい場合について説明したが、第１の領域の幅が第２の領域の幅よりも大きい場合の変化割合（例えば、３７％など）を特定してもよい。
　除外領域特定部１５０は、例えば、第１指標特定部１４０で特定した変化割合に基づいて、少なくとも一つの除外領域を特定する。具体的には、除外領域特定部１５０は、変化割合「２７１％」が所定の閾値（例えば「２００％」）よりも大きい（又は「以上」）場合、第２の領域を除外領域として特定してもよい。なお、除外領域特定部１５０は、第１の領域の幅が第２の領域の幅よりも大きい（又は「以上」）場合、変化割合「３７％」が所定の閾値（例えば「５０％」）以下（又は「未満」）の場合、第１の領域を除外領域として特定してもよい。
　さらに、除外領域特定部１５０は、例えば、除外領域として特定した第２の領域に対して第１の領域とは反対側の区分領域それぞれの幅が、第２の領域の幅に対する割合が所定の閾値以下（又は「未満」）になる場合、その地点の区分領域を除外領域の端として特定してもよい。具体的には、除外領域特定部１５０は、例えば、第２の領域の幅「１．９」ｍｍに対して、第２の領域における第１の領域とは反対側で中心線の画素が連続的に隣り合うそれぞれの画素を中心とする区分領域の幅（例えば「０．８ｍｍ」）が、例えば「５０％」以下（又は「未満」）になるときの区分領域を除外領域の端として特定してもよい。すなわち、除外領域特定部１５０は、第２の領域から除外領域の端として特定された区分領域までの複数の区分領域の集合を除外領域として特定してもよい。
　これにより、クラック測定システム１０は、クラックにおいて急に幅が大きくなる領域を表面の塗装の剥離などと判定してクラックの幅を特定する処理から除外できるため、適切にクラックの幅を特定できる。
＜＜第２の変形例＞＞
　上記において、幅特定部１９０は、深度値に基づいて最も大きい幅を特定することにより、クラックの幅を特定していたが、これに限定されない。例えば、幅特定部１９０は、除外領域における複数の区分領域それぞれの幅を特定し、クラック画像Ｔ４０における複数の区分領域それぞれの幅を特定することにより、それぞれの幅の分布に基づきクラックの幅を特定してもよい。
　図１５、図１６を参照して、区分領域それぞれの幅の分布に基づきクラックの幅を特定する処理について説明する。図１５は、区分領域それぞれの中心の画素と幅とを示す図である。図１６は、クラック画像Ｔ４０及び除外画像Ｔ３０それぞれの区分領域の幅を集計した図である。
　図１５に示すように、幅特定部１９０は、クラック画像Ｔ４０における区分領域それぞれの中心の画素（例えば、画素Ｐ１０～Ｐ１５）を特定する。中心の画素は、例えば、上記の細線化によって特定される画素である。幅特定部１９０は、上述したように、中心の画素を中心として、複数の方向に複数の仮想線分を引いて、最も短い仮想線分が示す画素数を特定する。具体的には、図１５に示すように、画素Ｐ１１を中心とする区分領域の幅が画素数「１０」として特定され、画素Ｐ１２を中心とする区分領域の幅が画素数「４」として特定される。幅特定部１９０は、除外画像Ｔ３０に対しても同様の処理を実行することによって、除外画像Ｔ３０における区分領域それぞれの幅である画素数を特定する。なお、幅特定部１９０は、区分領域それぞれの、画素数を長さの基準に変換した長さを特定してもよい。
　幅特定部１９０は、例えば、区分領域それぞれの幅を示す画素数を集計する。具体的には、図１６に示すように、幅特定部１９０は、クラック画像Ｔ４０及び除外画像Ｔ３０それぞれの区分領域それぞれの幅を示す画素数の出現回数を集計する。図１６では、一例として、クロック画像Ｔ４０には画素数「５」の幅を示す区分領域が「９０」箇所含まれ、除外画像Ｔ３０には画素数「１１」の幅を示す区分領域が「４８」箇所含まれることが示されている。
　幅特定部１９０は、例えば、クラック画像Ｔ４０における区分領域それぞれの幅の平均値、中央値または最頻値のいずれかと、除外画像Ｔ３０における区分領域それぞれの幅の平均値、中央値または最頻値のいずれかとに基づいて、クラックの幅を特定する。幅の平均値とは、例えば、区分領域それぞれの幅を示す画素数とその出現回数（区分領域の個所）との積を、出現回数で除した値である。また、幅の中央値とは、例えば、区分領域それぞれの幅を示す画素数のうち、中央の値であって、例えば画素数が１～１１の範囲に分布している場合、中央値は「６」となる。また、幅の最頻値は、例えば、出現回数が最も多い画素数である。
　具体的には、幅特定部１９０は、例えば、クラック画像Ｔ４０における幅の平均値、中央値または最頻値に対する除外画像Ｔ３０における幅の平均値、中央値または最頻値の割合が、所定の閾値を超える（又は「以上」）場合、クラック画像Ｔ４０における幅の最大値を、クラックの幅として特定してもよい。
　なお、上記において、画素数における、平均値、中央値および最頻値に基づきクラックの幅を特定するよう説明したがこれに限定されず、例えば、変換部１３０によって長さの基準に変換された長さにおける、平均値、中央値および最頻値に基づきクラックの幅を特定してもよい。
　また、幅特定部１９０は、送受信部１２０を通じて、図１６に示す幅を集計した図の画像をユーザ端末２００に送信してもよい。
　これにより、クラック測定システム１０は、クラック画像Ｔ２０に含まれる区分領域それぞれの幅が相対的に大きい領域を表面の塗装の剥離などと判定してクラックの幅を特定する処理から除外できるため、適切にクラックの幅を特定できる。
＜＜処理＞＞
　図１７を参照して、クラック測定装置１００の実行される処理の手順について説明する。図１７は、クラック測定装置１００により実行される処理のフローチャートである。
　まず、ステップＳ１００において、クラック測定装置１００は、例えば、ユーザ端末２００から、標識が付与された建造物の画像Ｔ１を取得する。
　次に、ステップＳ１０１において、クラック測定装置１００は、例えば、画像Ｔ１を学習済みモデルに入力して、画像Ｔ１が２値化された画像Ｔ２を取得する。
　次に、ステップＳ１０２において、クラック測定装置１００は、例えば、クラック画像Ｔ２０と、標識Ｔ２１とを特定してもよい。
　次に、ステップＳ１０３において、クラック測定装置１００は、例えば、クラック画像Ｔ２０に含まれる区分領域それぞれの第１指標である深度値を特定してもよい。
　次に、ステップＳ１０４において、クラック測定装置１００は、例えば、深度値に基づきクラック画像Ｔ２０の区分領域のうち除外領域を特定する。これにより、クラック測定装置１００は、建造物の表面の剥離である可能性の高い領域を特定できる。なお、クラック測定装置１００は、例えば、除外領域特定部１５０において所定の閾値（例えば、１％）を超えると判定された場合、クラック画像Ｔ２０に除外領域がないこととして特定してもよい。この場合、クラック測定装置１００は、例えば、クラック画像Ｔ２０の第１最大幅をクラックの幅として特定してステップＳ１０８に処理を移行してもよいし、除外領域を除外していないクラック画像Ｔ４０（クラック画像Ｔ２０と同じ画像）を特定するようにステップＳ１０５に処理を移行してもよい。
　次に、ステップＳ１０５において、クラック測定装置１００は、例えば、クラック画像Ｔ２０から除外領域を除外したクラック画像Ｔ４０を特定する。
　次に、ステップＳ１０６において、クラック測定装置１００は、例えば、クラック画像Ｔ２０の第１最大幅と、クラック画像Ｔ４０の第２最大幅とを特定する。
　次に、ステップＳ１０７において、クラック測定装置１００は、第１最大幅と第２最大幅との比率に基づきクラックの幅を特定する。
　次に、ステップＳ１０８において、クラック測定装置１００は、特定したクラックの幅に関する情報（例えば、幅を示す情報、幅の分布を示す情報など）をユーザ端末２００に送信する。以上で、クラック測定装置１００は、クラックの幅を特定する処理を終了する。
＜＜ユーザ端末２００＞＞
　図１８を参照して、ユーザ端末２００の機能構成について説明する。図１８は、ユーザ端末２００の構成の一例を示す図である。ユーザ端末２００は、例えば、クラック測定装置１００から取得した各種情報を表示部２００ｆに表示させる。
　ユーザ端末２００は、例えば、記憶部２１０と、送受信部２２０と、表示処理部２３０との機能部を含む。記憶部２１０は、例えば各種情報を記憶する。送受信部２２０は、例えば各種情報をクラック測定装置１００又は他の装置との間で送受信する。表示処理部２３０は、例えば、取得した各種情報を表示部２００ｆに表示させる。
＝＝＝ハードウェア構成＝＝＝
　図１を参照して、クラック測定装置１００及びユーザ端末２００の物理的構成について説明する。なお、ユーザ端末２００の物理的構成は、クラック測定装置１００の物理的構成と同様であるとして、その説明を省略する。
　クラック測定装置１００は、演算部に相当するＣＰＵ（Central Processing Unit）１００ａと、記憶部に相当するＲＡＭ（Random Access Memory）１００ｂと、記憶部に相当するＲＯＭ（Read only Memory）１００ｃと、通信部１００ｄと、入力部１００ｅと、表示部１００ｆと、を有する。これらの各構成は、バスを介して相互にデータ送受信可能に接続される。
　なお、本例ではクラック測定装置１００が一台のコンピュータで構成される場合について説明するが、クラック測定装置１００は、複数のコンピュータが組み合わされて実現されてもよい。
　また、クラック測定装置１００および／またはユーザ端末２００における処理の少なくとも一部は、１以上のコンピュータ（例えば、１以上のコンピュータにより構成されるクラウドコンピューティング）により実現されていてもよいし、そうでなくてもよい。また、図１で示す構成は一例であり、クラック測定装置１００はこれら以外の構成を有してもよいし、これらの構成のうち一部を有さなくてもよい。
　また、クラック測定装置１００における処理の少なくとも一部を、ユーザ端末２００により行う構成としてもよいし、そうでなくてもよい。この場合、クラック測定装置１００の演算部の各機能部の処理のうち少なくとも一部の処理を、ユーザ端末２００で行う構成としてもよいし、そうでなくてもよい。
　ＣＰＵ１００ａは、ＲＡＭ１００ｂ又はＲＯＭ１００ｃに記憶されたプログラムの実行に関する制御やデータの演算、加工を行う制御部である。ＣＰＵ１００ａは、建造物に生じているクラックの幅を特定するプログラム（クラック測定プログラム）を実行する演算部である。ＣＰＵ１００ａは、入力部１００ｅや通信部１００ｄから種々のデータを受け取り、データの演算結果を表示部１００ｆに表示したり、ＲＡＭ１００ｂに格納したりする。
　ＲＡＭ１００ｂは、記憶装置のうちデータの書き換えが可能なものであり、例えば半導体記憶素子で構成されてよい。ＲＡＭ１００ｂは、ＣＰＵ１００ａが実行するプログラム、各種画像といったデータを記憶してよい。なお、これらは例示であって、ＲＡＭ１００ｂには、これら以外のデータが記憶されていてもよいし、これらの一部が記憶されていなくてもよい。
　ＲＯＭ１００ｃは、記憶部のうちデータの読み出しが可能なものであり、例えば半導体記憶素子で構成されてよい。ＲＯＭ１００ｃは、例えばクラック測定プログラムや、書き換えが行われないデータを記憶してよい。
　通信部１００ｄは、クラック測定装置１００を他の機器に接続するインターフェースである。通信部１００ｄは、インターネット等の通信ネットワークＮに接続されてよい。
　入力部１００ｅは、ユーザからデータの入力を受け付けるものであり、例えば、キーボード及びタッチパネルを含んでよい。
　表示部１００ｆは、ＣＰＵ１００ａによる演算結果を視覚的に表示するものであり、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）により構成されてよい。表示部１００ｆは、各種画像を表示したり、特定されたクラックの幅を表示したりしてよい。
　クラック測定プログラムは、ＲＡＭ１００ｂやＲＯＭ１００ｃ等のコンピュータによって読み取り可能な記憶媒体に記憶されて提供されてもよいし、通信部１００ｄにより接続される通信ネットワークを介して提供されてもよい。クラック測定装置１００では、ＣＰＵ１００ａがクラック測定プログラムを実行することにより、図２に示す機能部の処理が実現される。なお、これらの物理的な構成は例示であって、必ずしも独立した構成でなくてもよい。例えば、クラック測定装置１００は、ＣＰＵ１００ａとＲＡＭ１００ｂやＲＯＭ１００ｃが一体化したＬＳＩ（Large-Scale Integration）を備えていてもよい。
＝＝＝まとめ＝＝＝
　クラック測定システム１０は、建造物の画像に含まれるクラック画像Ｔ２０における複数の領域それぞれの幅に関する第１指標を特定する第１指標特定部１４０と、第１指標に基づいて、クラック画像Ｔ２０から除外される、クラック画像Ｔ２０における複数の領域のうち少なくとも一つの除外領域を特定する除外領域特定部１５０と、少なくとも一つの除外領域それぞれの幅に関する除外指標を特定する除外指標特定部１６０と、クラック画像Ｔ２０から除外領域を除外したクラック画像Ｔ４０について、クラック画像Ｔ４０における複数の領域それぞれの幅に関する第２指標を特定する第２指標特定部１８０と、第１指標または除外指標の少なくともいずれかと、第２指標と、に基づいて、クラック画像Ｔ２０が示す第１のクラックの幅を特定する幅特定部１９０と、を備える。これにより、クラックではない除外領域を除外してクラックの幅を特定することができるため、クラックの幅をより適切に測定することができる。
　また、クラック測定システム１０は、第１のクラックが識別可能となるように建造物の画像を２値化する変換部１３０（第１変換部）をさらに備え、第１指標特定部１４０は、２値化されたクラック画像Ｔ２０において第１指標を特定する。これにより、クラックでありえる箇所をより正確に特定できるため、クラックの幅をより適切に測定することができる。
　また、クラック測定システム１０は、建造物の画像は、長さの基準となる標識を含み、長さの基準に相当する画素の数に基づいて、クラック画像Ｔ２０における複数の領域それぞれの幅に相当する画素の数を、長さの単位に変換する変換部１３０（第２変換部）をさらに備える。これにより、画素の数を長さの単位に変換するため、検査員の技量によるばらつきを低減して、クラック幅を適切に測定することができる。
　また、クラック測定システム１０の幅特定部１９０は、第１指標に基づいて、クラック画像Ｔ２０における複数の領域それぞれの幅のうち最も大きい第１最大幅（第１の幅）を特定し、第２指標に基づいて、クラック画像Ｔ４０における複数の領域それぞれの幅のうち最も大きい第２最大幅（第２の幅）を特定し、第１最大幅（第１の幅）に対する第２最大幅（第２の幅）の割合が所定の閾値以下の場合、第２最大幅（第２の幅）を第１のクラックの幅として特定し、所定の閾値を超える場合、第１最大幅（第１の幅）を第１のクラックの幅として特定する。これにより、クラック測定システム１０は、壁の塗装がはがれた箇所などのクラックではない領域を除外した上でクラックの幅を特定するため、適切にクラックの幅を特定できる。
　また、クラック測定システム１０の幅特定部１９０は、除外指標に基づいて、少なくとも一つの除外領域それぞれの幅を特定し、第２指標に基づいて、クラック画像Ｔ４０における複数の領域それぞれの幅を特定し、少なくとも一つの除外領域それぞれの幅の平均値、中央値または最頻値のいずれかと、第２のクラックにおける複数の領域それぞれの幅の平均値、中央値または最頻値のいずれかと、に基づいて、第１のクラックの幅を特定する。これにより、クラック測定システム１０は、壁の塗装がはがれた箇所などのクラックではない領域を計算量が少ない手法で特定できるため、情報処理量を抑制しつつ適切にクラックの幅を特定できる。
　また、クラック測定システム１０の第１指標特定部１４０は、クラック画像Ｔ２０における複数の領域それぞれの幅を形成する画素それぞれの、クラック画像Ｔ２０における複数の領域それぞれの幅の端からの距離に相当する指標である深度指標を特定し、除外領域特定部１５０は、深度指標に基づいて、少なくとも一つの除外領域を特定する。これにより、クラック画像Ｔ２０のすべての区分領域の幅を特定することなく、除外領域を特定できるため、情報処理量を抑制しつつ適切にクラックの幅を特定できる。
　また、クラック測定システム１０の除外領域特定部１５０は、クラック画像Ｔ２０を形成する画素の数に対して、クラック画像Ｔ２０を形成する画素の数に対する、深度指標が所定の値を示す画素の数の割合が所定の閾値以下の場合、所定の値を示す画素を含む領域を少なくとも一つの除外領域として特定する。これにより、クラック画像Ｔ２０のすべての区分領域の幅を特定することなく、除外領域を特定できるため、情報処理量を抑制しつつ適切にクラックの幅を特定できる。
　また、クラック測定システム１０の第１指標特定部１４０は、クラック画像Ｔ２０における、第１の領域の幅に関する指標（例えば、深度値や長さの基準で変換した長さ）と、第１の領域と隣接する第２の領域の幅に関する指標（例えば、深度値や長さの基準で変換した長さ）と、を特定し、第１の領域の幅に関する指標及び第２の領域の幅に関する指標に基づいて、第１の領域の幅に対する第２の領域の幅の割合である変化割合を算出し、除外領域特定部１５０は、変化割合に基づいて、少なくとも一つの除外領域を特定する。これにより、クラック測定システム１０は、クラックにおいて急に幅が大きくなる領域を表面の塗装の剥離などと判定してクラックの幅を特定する処理から除外できるため、適切にクラックの幅を特定できる。
　以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。実施形態が備える各要素並びにその配置、材料、条件、形状及びサイズ等は、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。また、異なる実施形態で示した構成同士を部分的に置換し又は組み合わせることが可能である。
　１０…クラック測定システム、１００…クラック測定装置、１１０…記憶部、１２０…送受信部、１３０…変換部、１４０…第１指標特定部、１５０…除外領域特定部、１６０…除外指標特定部、１７０…クラック特定部、１８０…第２指標特定部、１９０…幅特定部、２００…ユーザ端末。

Claims (10)

  1. 　建造物の画像に含まれる第１のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第１指標を特定する第１指標特定部と、
    　前記第１指標に基づいて、前記第１のクラック画像から除外される、前記第１のクラック画像における複数の領域のうち少なくとも一つの除外領域を特定する除外領域特定部と、
    　前記少なくとも一つの除外領域それぞれの幅に関する除外指標を特定する除外指標特定部と、
    　前記第１のクラック画像から前記除外領域を除外した第２のクラック画像について、前記第２のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第２指標を特定する第２指標特定部と、
    　前記第１指標または前記除外指標の少なくともいずれかと、前記第２指標と、に基づいて、前記第１のクラック画像が示す第１のクラックの幅を特定する幅特定部と、
    　を備えるクラック測定システム。
  2. 　前記第１のクラックが識別可能となるように前記建造物の画像を２値化する第１変換部をさらに備え、
    　前記第１指標特定部は、２値化された前記第１のクラック画像において前記第１指標を特定する、
    　請求項１に記載のクラック測定システム。
  3. 　前記建造物の画像は、長さの基準となる標識を含み、
    　前記長さの基準に相当する画素の数に基づいて、前記第１のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に相当する画素の数を、長さの単位に変換する第２変換部をさらに備える、
    　請求項１または請求項２に記載のクラック測定システム。
  4. 　前記幅特定部は、
    　前記第１指標に基づいて、前記第１のクラック画像における複数の領域それぞれの幅のうち最も大きい第１の幅を特定し、
    　前記第２指標に基づいて、前記第２のクラック画像における複数の領域それぞれの幅のうち最も大きい第２の幅を特定し、
    　前記第１の幅に対する前記第２の幅の割合が所定の閾値以下の場合、前記第２の幅を前記第１のクラックの幅として特定し、前記所定の閾値を超える場合、前記第１の幅を前記第１のクラックの幅として特定する、
    　請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のクラック測定システム。
  5. 　前記幅特定部は、
    　前記除外指標に基づいて、前記少なくとも一つの除外領域それぞれの幅を特定し、
    　前記第２指標に基づいて、前記第２のクラック画像における複数の領域それぞれの幅を特定し、
    　前記少なくとも一つの除外領域それぞれの幅の平均値、中央値または最頻値のいずれかと、前記第２のクラック画像における複数の領域それぞれの幅の平均値、中央値または最頻値のいずれかと、に基づいて、前記第１のクラックの幅を特定する、
    　請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のクラック測定システム。
  6. 　前記第１指標特定部は、前記第１のクラック画像における複数の領域それぞれの幅を形成する画素それぞれの、前記第１のクラック画像における複数の領域それぞれの幅の端からの距離に相当する指標である深度指標を特定し、
    　前記除外領域特定部は、前記深度指標に基づいて、前記少なくとも一つの除外領域を特定する、
    　請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のクラック測定システム。
  7. 　前記除外領域特定部は、前記第１のクラック画像を形成する画素の数に対して、前記第１のクラック画像を形成する画素の数に対する、前記深度指標が所定の値を示す画素の数の割合が所定の閾値以下の場合、前記所定の値を示す画素を含む領域を前記少なくとも一つの除外領域として特定する、
    　請求項６に記載のクラック測定システム。
  8. 　前記第１指標特定部は、
    　前記第１のクラック画像における、第１の領域の幅に関する指標と、前記第１の領域と隣接する第２の領域の幅に関する指標と、を特定し、
    　第１の領域の幅に関する指標及び第２の領域の幅に関する指標に基づいて、前記第１の領域の幅に対する前記第２の領域の幅の割合である変化割合を算出し、
    　前記除外領域特定部は、前記変化割合に基づいて、前記少なくとも一つの除外領域を特定する、
    　請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のクラック測定システム。
  9. 　コンピュータが、
    　建造物の画像に含まれる第１のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第１指標を特定することと、
    　前記第１指標に基づいて、前記第１のクラック画像から除外される、前記第１のクラック画像における複数の領域のうち少なくとも一つの除外領域を特定することと、
    　前記少なくとも一つの除外領域それぞれの幅に関する除外指標を特定することと、
    　前記第１のクラック画像から前記除外領域を除外した第２のクラック画像について、前記第２のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第２指標を特定することと、
    　前記第１指標または前記除外指標の少なくともいずれかと、前記第２指標と、に基づいて、前記第１のクラック画像が示す第１のクラックの幅を特定することと、
    　を実行するクラック測定方法。
  10. 　コンピュータに、
    　建造物の画像に含まれる第１のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第１指標を特定することと、
    　前記第１指標に基づいて、前記第１のクラック画像から除外される、前記第１のクラック画像における複数の領域のうち少なくとも一つの除外領域を特定することと、
    　前記少なくとも一つの除外領域それぞれの幅に関する除外指標を特定することと、
    　前記第１のクラック画像から前記除外領域を除外した第２のクラック画像について、前記第２のクラック画像における複数の領域それぞれの幅に関する第２指標を特定することと、
    　前記第１指標または前記除外指標の少なくともいずれかと、前記第２指標と、に基づいて、前記第１のクラック画像が示す第１のクラックの幅を特定することと、
    　を実行させるプログラム。
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