WO2023084988A1 - 接触子及びそれを用いた単結晶ダイヤモンドの微小摩耗特性の評価方法 - Google Patents

接触子及びそれを用いた単結晶ダイヤモンドの微小摩耗特性の評価方法 Download PDF

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WO2023084988A1
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crystal diamond
wear
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English (en)
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均 角谷
真和 李
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住友電気工業株式会社
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/56—Investigating resistance to wear or abrasion

Definitions

  • the present disclosure relates to a contactor and a method for evaluating microwear characteristics of single crystal diamond using the contactor.
  • This application claims priority based on Japanese application No. 2021-183404 filed on November 10, 2021, and incorporates all the descriptions described in the Japanese application.
  • single-crystal diamond for industrial use, the distribution of nitrogen impurities and crystal defects varies from crystal to crystal, and even within the same crystal, the wear characteristics differ from region to region when viewed in minute regions. Therefore, when using single-crystal diamond as a tool material for precision machining, it is important to fully understand the difference in wear characteristics between minute regions within the same crystal.
  • Non-Patent Document 1 a method using a cast iron wheel having a small diameter and a V-shaped cutting edge or a metal-bonded diamond grinding wheel is known (Non-Patent Document 1, Non-Patent Document 2).
  • the contacts of the present disclosure are An annular contact made of polycrystalline diamond composed of a plurality of diamond particles, It is configured so that the rotation axis passes through the center, a first portion having a constant radial thickness and including an inner end; a second portion having a radially decreasing thickness and including an outer end; The second part is a first surface continuous with the top surface of the first portion; a second surface continuous with the bottom surface of the first portion; and a connection surface connecting the first surface and the second surface and including the outer end portion.
  • the plurality of diamond particles have an average particle size of 10 nm or more and 300 nm or less.
  • the evaluation method of the present disclosure is A method for evaluating wear characteristics in microregions of single crystal diamond, comprising: a first step of forming wear marks on the single-crystal diamond by pressing the single-crystal diamond against the outer end portion while rotating the contactor; and a second step of evaluating wear characteristics in a minute region of the single crystal diamond based on the length of the wear scar.
  • FIG. 1 is a photograph substitute view showing the appearance of an example of a contactor according to an embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 2 is a top view of an example contact in accordance with an embodiment of the present disclosure; 3 is a cross-sectional view of the contact shown in FIG. 2, taken along line XI-XI. 4 is an enlarged view of the contact second portion shown in FIG. 3.
  • FIG. FIG. 5 is a cross-sectional view of a second portion according to another embodiment of the present disclosure;
  • FIG. 6 is an overview diagram of a wear test apparatus used in a method of evaluating wear characteristics in microregions of single crystal diamond according to an embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 7 is a diagram showing the ⁇ 100> direction and the ⁇ 110> direction of the (001) plane of single crystal diamond.
  • FIG. 8 is a diagram substituting for a photograph showing wear scars formed in Example 1.
  • FIG. 9 is a photograph-substitute drawing showing wear marks formed in Example 2.
  • FIG. 10 is a graph showing the relationship between test numbers and wear scar lengths in Examples 1 and 2;
  • FIG. 11 is a diagram in place of a photograph showing an ultraviolet-excited fluorescence image of the specimen A.
  • FIG. FIG. 12 is a graph showing the relationship between the test number and the wear scar length for the specimen A.
  • FIG. FIG. 13 is a photograph substitute view showing an ultraviolet-excited fluorescence image of the specimen B.
  • FIG. FIG. 14 is a graph showing the relationship between the test number and the wear scar length in test piece B.
  • Non-Patent Document 1 Since the cast iron wheel described in Non-Patent Document 1 is softer than the single crystal diamond, the cutting edge tends to lose its shape during the wear test, and wear marks are not left depending on the wear direction. In addition, the diamond powder of the abrasive is blown away, and the sharpness is quickly dulled. For this reason, it is difficult to quantitatively and appropriately evaluate wear characteristics in minute regions of single-crystal diamond.
  • an object of the present disclosure is to provide a contactor used in a method of evaluating wear characteristics in a minute region of single crystal diamond and a method of evaluating wear characteristics in a minute region of single crystal diamond using the same.
  • the contactor of the present disclosure is An annular contact made of polycrystalline diamond composed of a plurality of diamond particles, It is configured so that the rotation axis passes through the center, a first portion having a constant radial thickness and including an inner end; a second portion having a radially decreasing thickness and including an outer end; The second part is a first surface continuous with the top surface of the first portion; a second surface continuous with the bottom surface of the first portion; and a connection surface connecting the first surface and the second surface and including the outer end portion.
  • the plurality of diamond particles have an average particle size of 10 nm or more and 300 nm or less.
  • the Knoop hardness of the polycrystalline diamond may be 120 GPa or more. According to this, the accuracy of evaluation of microwear characteristics is improved.
  • a line of intersection between the connecting surface and the cross section including the rotating shaft may be a straight line. According to this, the evaluation results of microwear characteristics are stabilized.
  • the length from the rotating shaft to the outer end is longer than the length from the rotating shaft to the first boundary and is longer than the length from the rotating shaft to the second boundary. good. According to this, the evaluation results of microwear characteristics are stabilized.
  • the evaluation method of the present disclosure is A method for evaluating wear characteristics in microregions of single crystal diamond, comprising: a first step of forming wear marks on the single-crystal diamond by pressing the single-crystal diamond against the outer end portion while rotating the contactor; and a second step of evaluating wear characteristics in a minute region of the single crystal diamond based on the length of the wear scar.
  • the single crystal diamond has a flat surface;
  • the first step is A 1-1 step of arranging the single crystal diamond so that the plane faces the contact and is parallel to the rotation axis; and a step 1-2 of pressing the single crystal diamond against the outer end portion by applying a load in the direction normal to the third plane to the single crystal diamond.
  • the third plane may be the (001) plane, and the wear scar may be parallel to the ⁇ 100> direction of the (001) plane. According to this, the accuracy of evaluation of microwear characteristics is improved.
  • FIGS. 3, 4, and 5 are compressed in the vertical direction.
  • FIG. 1 A contact according to an embodiment of the present disclosure (hereinafter also referred to as "this embodiment") will be described with reference to FIGS. 1 to 5.
  • FIG. The contact 1 of the present embodiment is an annular contact 1 made of polycrystalline diamond composed of a plurality of diamond particles, configured so that the rotation axis R passes through the center, a first portion 2 having a constant thickness in the radial direction and including an inner end; comprising a second portion 3 having a radially decreasing thickness and including an outer end 3A;
  • the second part 3 is A first surface 31 continuous with the upper surface of the first portion 2, a second surface 32 continuous with the lower surface of the first portion 2, and a connection that connects the first surface 31 and the second surface 32 and includes the outer end portion 3A.
  • An angle ⁇ formed by a first line segment indicating the first surface 31 and a second line segment indicating the second surface 32 in a cross section along the rotation axis R is 100° or more and 150° or less,
  • the length between the first boundary portion 31A, which is the boundary between the first surface 31 and the connection surface 33, and the second boundary portion 32A, which is the boundary between the second surface 32 and the connection surface 33, is 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less.
  • the length from the rotation axis R to the outer end portion 3A is 0.5 mm or more and 5 mm or less,
  • the average particle size of the plurality of diamond particles is 10 nm or more and 300 nm or less.
  • the contactor of this embodiment is made of polycrystalline diamond made up of a plurality of diamond grains.
  • polycrystalline diamond composed of a plurality of diamond grains means polycrystalline diamond in which diamond grains are directly bonded to each other.
  • Polycrystalline diamond is a polycrystalline body consisting of a diamond single phase without including a binding phase (binder) formed by one or both of a sintering aid and a binding material generally used in diamond sintered bodies.
  • the above polycrystalline diamond can contain unavoidable impurities in addition to diamond components as long as the effects of the present disclosure are achieved.
  • the unavoidable impurities include hydrogen (H), oxygen (O), nitrogen (N), sodium (Na), magnesium (Mg), aluminum (Al), silicon (Si), phosphorus (P), and sulfur (S). , chlorine (Cl), potassium (K), calcium (Ca), titanium (Ti), iron (Fe), molybdenum (Mo) and the like.
  • the content of the diamond component in the polycrystalline diamond is preferably 99% by volume or more.
  • Polycrystalline diamond is composed of diamond components and inevitable impurities, and the content of diamond components in polycrystalline diamond is preferably 99% by volume or more. It can be confirmed by the X-ray diffraction method that the polycrystalline diamond contains 99% by volume or more of the diamond component. The fact that the polycrystalline diamond does not contain a binder phase can be confirmed by observing the surface of the polycrystalline diamond with an optical microscope or an electron microscope.
  • the average particle diameter of the plurality of diamond particles constituting the polycrystalline diamond (hereinafter also referred to as "average particle diameter of diamond particles”) is 10 nm or more and 300 nm or less. That is, the polycrystalline diamond is a nanopolycrystalline diamond (NPD: Nano Polycrystalline Diamond) in which fine diamond particles of several tens of nanometers level are strongly bonded.
  • NPD Nano Polycrystalline Diamond
  • the hardness of polycrystalline diamond has no orientation dependence, and the polycrystalline diamond has higher hardness and strength than single crystal diamond.
  • the lower limit of the average particle diameter of the diamond particles is 10 nm or more, may be 20 nm or more, or may be 30 nm or more, from the viewpoint of obtaining the mechanical strength peculiar to diamond.
  • the upper limit of the average particle size of the diamond particles is 300 nm or less, and even if it is 200 nm or less, from the viewpoint that the polycrystalline diamond 75 can exhibit isotropic hardness and wear resistance in all directions. It may be 100 nm or less.
  • the average particle size of the diamond particles is 10 nm or more and 300 nm or less, may be 20 nm or more and 200 nm or less, or may be 30 nm or more and 100 nm or less.
  • the average particle size of the diamond particles is obtained by a cutting method using a scanning electron microscope (SEM). Specifically, first, a scanning electron microscope is used to observe polycrystalline diamond at a magnification of 1,000 to 100,000 times to obtain an SEM image.
  • SEM scanning electron microscope
  • the number of crossings of the crystal grain boundaries of the diamond grains is counted for each of the above straight lines, and the average intercept length is obtained by dividing the length of the straight line by the number of crossings, and 1.128 is added to the average intercept length.
  • the numerical value obtained by multiplication be an average particle diameter.
  • the above measurements are performed on three SEM images, and the average particle size is obtained for each of the three SEM images.
  • the average value of the average particle diameters of three SEM images is defined as the average particle diameter of diamond particles in this specification.
  • the hardness of the polycrystalline diamond forming the contactor of this embodiment may be equal to or greater than the hardness of the single-crystal diamond 75 .
  • the hardness of the single crystal diamond 75 varies from 70 to 120 GPa depending on the plane orientation. Therefore, the Knoop hardness of the polycrystalline diamond may be 120 GPa or more, 125 GPa or more, or 130 GPa or more. Although the upper limit of the Knoop hardness of polycrystalline diamond is not particularly limited, it can be 160 GPa or less from the viewpoint of manufacturing. The Knoop hardness of the polycrystalline diamond may be 120 GPa or more and 160 GPa or less, 125 GPa or more and 155 GPa or less, or 130 GPa or more and 150 GPa or less.
  • the contactor 1 includes a first portion 2 and a second portion 3 that is continuous with the first portion 2 and surrounds the outer periphery of the first portion 2.
  • the length of the second portion 3 in the direction of the rotation axis R decreases toward the outer end portion 3A.
  • L1, L2, and L3 are set in order from the rotation axis, it means that the relationship L1>L2>L3 is shown.
  • the contactor 1 has a circular diameter when viewed from above.
  • the maximum length of the contactor 1 in the direction of the rotation axis R is not particularly limited, it can be, for example, 0.2 mm or more and 2 mm or less.
  • the length r1 in the direction perpendicular to the rotation axis R between the rotation axis R of the contactor 1 and the outer end portion 3A is 0.5 mm or more and 5 mm or less. According to this, the handling of the contactor 1 is easy, and a minute wear mark can be formed on the single-crystal diamond 75 .
  • the lower limit of the length r1 is 0.5 mm or more, may be 1 mm or more, or may be 1.5 mm or more, from the viewpoint of ease of handling of the contactor 1.
  • the upper limit of the length r1 is 5 mm or less, may be 3 mm or less, or may be 2 mm or less from the viewpoint of forming minute abrasion marks.
  • the length r1 is 0.5 mm or more and 5 mm or less, may be 1 mm or more and 3 mm or less, or may be 1.5 mm or more and 2 mm or less.
  • the angle ⁇ formed by the first surface 31 and the second surface 32 of the contactor 1 is 100° or more and 150° or less.
  • a length D in the direction of the rotation axis R between the second surface 32 and the second boundary portion 32A that is the boundary between the second surface 32 and the connection surface 33 is 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less.
  • the angle ⁇ formed between the first surface 31 and the second surface 32 is an angle formed between virtual planes obtained by enlarging the first surface 31 and the second surface 32, as indicated by the dotted line in FIG. means According to this, the wear marks formed on the single-crystal diamond 75 become clear, and a stable wear test becomes possible.
  • the step of forming wear scars on the single-crystal diamond 75 using the contactor 1, which is performed to evaluate the microwear characteristics of the single-crystal diamond 75 is also referred to as a wear test.
  • the lower limit of the angle ⁇ is 100° or more, and may be 110° or more.
  • the upper limit of the angle ⁇ is 150° or less, and may be 140° or less, from the viewpoint of forming clear wear marks.
  • the angle ⁇ is 100° or more and 150° or less, and may be 110° or more and 140° or less.
  • the lower limit of the length D is 1 ⁇ m or more, and may be 2 ⁇ m or more, from the viewpoint of maintaining the shape of the contactor outer end portion 3A during the wear test.
  • the upper limit of the length D is 10 ⁇ m or less, and may be 8 ⁇ m or less, from the viewpoint of forming a clear wear scar.
  • the length D is 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, and may be 2 ⁇ m or more and 8 ⁇ m or less.
  • the line of intersection between the connecting surface 33 and the cross section including the rotation axis R may be a straight line. According to this, a stable wear test becomes possible. Therefore, variations in the evaluation results of microwear characteristics are suppressed, and the evaluation results are stabilized.
  • the length from the rotation axis R to the outer end 3A is greater than the length from the rotation axis R to the first boundary 31A, and the length from the rotation axis R to the second boundary 32A. It can be larger than the length. According to this, a stable wear test becomes possible. Therefore, variations in the evaluation results of microwear characteristics are suppressed, and the evaluation results are stabilized.
  • the radius of the arc may be 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, or 2 ⁇ m or more and 8 ⁇ m or less.
  • the first portion 2 of the contactor 1 preferably includes a hole formed in a portion corresponding to the rotation axis R. According to this, a spindle can be inserted into the hole in a wear test.
  • the contact 1 can also comprise a shaft fixed to the first part 2 .
  • high-purity graphite (purity of 99.9% or more) is used as a starting material and sintered by a direct conversion method under ultrahigh pressure to synthesize polycrystalline diamond.
  • the sintering conditions can be, for example, a temperature of 2200 to 2300° C., a pressure of 15 to 16 GPa, and a sintering time of 10 to 30 minutes.
  • the obtained polycrystalline diamond is formed into the shape of the contactor of the present embodiment by laser processing and grinding and polishing processing with a diamond whetstone to obtain the contactor.
  • FIG. 6 is a general view of a wear tester used in the method for evaluating minute wear characteristics of this embodiment.
  • the wear test device includes a machining center 60 and a sample holder 70 .
  • the machining center 60 has a spindle 61 and a fixing screw 62 for fixing the contactor 1 to the spindle 61 .
  • the sample holder 70 includes a jig 76 for holding a single crystal diamond 75 , an air cylinder 71 for moving the jig 76 in the direction of the contactor 1 , and a linear guide 72 arranged around the air cylinder 71 .
  • the evaluation method of the wear characteristics in the minute region of the single crystal diamond of the present embodiment is as follows. A first step of forming wear marks on the single-crystal diamond 75 by pressing the single-crystal diamond 75 against the outer end portion 3A while rotating the contactor 1 according to Embodiment 1; and a second step of evaluating the wear characteristics in the minute region of the single-crystal diamond 75 based on the length of the wear scar.
  • a spindle 61 of a machining center 60 is inserted into the hole of the contactor 1 and fixed with a fixing screw 62 . Since the contactor 1 is fixed to the spindle 61, when the spindle 61 is rotated, the contactor 1 rotates in synchronization therewith.
  • the rotation speed is preferably 100 rpm or more and 1000 rpm or less and/or a peripheral speed of 1 m/min or more and 10 m/min or less from the viewpoint of suppressing thermal reaction wear.
  • the contactor 1 is fixed to the spindle 61 by the fixing screw 62 in FIG. 6, the method of fixing the contactor 1 and the spindle 61 is not limited to this.
  • contactor 1 and spindle 61 can be fixed using an adhesive.
  • a single crystal diamond 75 is fixed to the jig 76 of the sample holding part 70 .
  • An air cylinder 71 is installed in the direction opposite to the direction in which the single crystal diamond 75 is fixed to the jig 76 .
  • a load is applied to the air cylinder 71 in the direction of arrow b, causing the air cylinder 71 to move the contactor 1.
  • move in the direction of As a result, the single-crystal diamond 75 is pressed against the outer end portion 3A of the contactor 1, and a wear mark is formed on the single-crystal diamond 75.
  • the pressing pressure is preferably 0.1 MPa or more and 0.2 MPa or less.
  • the pressing time is preferably 60 seconds.
  • the single-crystal diamond 75 has a plane 77, and the first step is to arrange the single-crystal diamond 75 so that the plane 77 faces the contactor 1 and is parallel to the rotation axis R. 1-1 and a 1-2 step of pressing the single crystal diamond 75 against the outer end portion 3A of the contactor 1 by applying a load in the direction normal to the plane 77 to the single crystal diamond 75. . According to this, the accuracy of the microwear test is improved.
  • the plane 77 of the single-crystal diamond 75 is the (001) plane, and the wear marks may be parallel to the ⁇ 100> direction of the (001) plane. According to this, the accuracy of the microwear test is improved.
  • the plurality of wear marks may be substantially parallel, and the distance between the wear marks may be 0.05 mm or more and 0.1 mm or less.
  • the first surface 31 and the second surface 32 of the contactor 1 are directly connected to form a V-shape, and if the connection surface 33 does not exist, the wear trace for evaluation
  • the ⁇ 100> direction of the (001) plane of the single crystal diamond is pretreated 5 times or more under the above wear scar formation conditions (rotation speed, pressing pressure, pressing time).
  • the length D of the end portion 3A is adjusted to 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less.
  • ⁇ Second step> the wear characteristics of the single-crystal diamond 75 are evaluated based on the length of the wear marks formed on the single-crystal diamond 75 in the first step.
  • the wear characteristics can be evaluated by the amount of wear (amount removed), the area of the wear scar, or the length of the wear scar. In the present embodiment, evaluation is made based on the easily measurable wear scar length. The length of the wear scar is measured with an optical microscope at an observation magnification of 500 times.
  • the evaluation method for minute wear characteristics of the present embodiment can evaluate the wear characteristics (wear resistance) of minute regions of the single-crystal diamond 75 with high accuracy. As a result, the distribution state of the wear characteristics of the single-crystal diamond 75 due to non-uniform distribution of impurities and crystal defects can be investigated in detail. This evaluation method is useful for selection and quality evaluation of the single crystal diamond 75 when using the single crystal diamond 75 for precision cutting tools such as precision cutting tools and small-diameter end mills.
  • the contact is made of polycrystalline diamond made up of a plurality of diamond grains.
  • the average particle size of the plurality of diamond particles is 50 nm.
  • the Knoop hardness of the polycrystalline diamond is 130 GPa.
  • the conditions for forming wear scars were a contact rotation speed of 313 rpm (peripheral speed of 3.15 m/min), a pressing pressure of 0.1 MPa per wear scar, and a pressing time of 60 seconds.
  • the wear scar spacing on the specimen is 0.1 mm or 0.05 mm.
  • Example 1 Evaluation of microwear properties in ⁇ 100> direction of (001) plane of synthetic type IIa single crystal diamond
  • the contact has a V-shaped outer end (that is, the first surface 31 and the second surface 32 intersect to form an angle ⁇ , and the connecting surface 33 does not exist).
  • the length r1 is 1.6 mm (a circle with a diameter of ⁇ 3.2 mm when viewed from above, the circumference of the second portion is about 10 mm), the angle ⁇ is 120°, and the rotation axis R
  • the maximum length (thickness) in the direction is 0.6 mm.
  • the synthetic type IIa single crystal diamond was evaluated by forming wear marks parallel to the ⁇ 100> direction of the (001) plane.
  • the results are shown as solid lines in the graph of FIG.
  • the horizontal axis indicates the test number
  • the vertical axis indicates the length ( ⁇ m) of the wear scar.
  • the test number corresponds to the number of wear scar formations. For example, test number 5 means the formation of the fifth wear scar.
  • the length of the wear scar gradually shortens until the formation of the fifth wear scar indicated by test number 5.
  • the second portion of the contact before the wear test is in a V-shaped and sharp state, so wear marks are likely to be formed, and as the number of pretreatment tests increases, the tip of the second portion wears out. , it is presumed that wear scars are less likely to be formed.
  • the outer edge becomes flat and the length D of the outer edge becomes about 5 to 6 ⁇ m.
  • the length and width of the wear marks become substantially constant values. It is presumed that this is because the wear resistance of polycrystalline diamond is far superior to that of single crystal diamond in the ⁇ 100> direction of the (001) plane.
  • Example 2 Evaluation of microwear properties in ⁇ 110> direction of (001) plane of synthetic IIa single crystal diamond
  • wear marks were made on the synthetic type IIa single crystal diamond parallel to the ⁇ 110> direction of the (001) plane. formed and evaluated. The results are shown as the dotted line in the graph of FIG.
  • the wear scar becomes shorter as the test number (the number of times the wear scar is formed) increases. This is because the wear resistance of polycrystalline diamond is at the same level as the wear resistance in the ⁇ 110> direction of the (001) plane of single crystal diamond, so the outer end of the contact continues to wear out little by little. It is speculated that
  • Example 3 Comparison of wear characteristics in ⁇ 100> and ⁇ 110> directions of (001) plane of synthetic IIa single crystal diamond
  • the asymptotic value of the wear scar length in the ⁇ 100> direction of the (001) plane of the synthetic IIa single crystal diamond was about 145 to 150 ⁇ m.
  • the wear scar length in the ⁇ 110> direction of the (001) plane of the synthetic IIa single crystal diamond at the start of the test (hereinafter also referred to as " ⁇ 110> wear scar length”
  • ⁇ 110> wear scar length is about 110 to 120 ⁇ m. Therefore, the ⁇ 100> wear scar length is approximately 1.3 times the ⁇ 110> wear scar length, which is approximately 2.2 times the wear volume.
  • Example 4 Evaluation of the relationship between the growth sector of synthetic Ib single crystal diamond and microwear characteristics
  • the contactor has a cross-sectional shape shown in FIG. °, the length D is 5 ⁇ m, and the maximum length (thickness) in the direction of the rotation axis R is 0.6 mm.
  • FIG. 11 is a diagram in place of a photograph showing an ultraviolet-excited fluorescence image of the specimen A.
  • FIG. FIG. 13 is a photograph substitute view showing an ultraviolet-excited fluorescence image of the specimen B.
  • FIG. 13 shows an ultraviolet-excited fluorescence image superimposed with wear marks observed with an optical microscope.
  • FIG. 12 is a graph showing the relationship between the test number and the wear scar length for the specimen A.
  • test numbers 7 to 12 show wear marks formed in the (111) sector
  • test numbers 13 to 27 show wear marks formed in the (100) sector
  • test numbers 28 indicates a wear scar formed in the (110) sector.
  • FIG. 14 is a graph showing the relationship between the test number and the wear scar length for test piece B.
  • test number 5 indicates wear marks formed in the (110) sector
  • test numbers 6 to 26 indicate wear marks formed in the (100) sector
  • test number 27 indicates wear marks formed in the (110) sector.

Abstract

複数のダイヤモンド粒子で構成された多結晶ダイヤモンドからなる円環状の接触子であって、中心を回転軸が貫通するように構成され、径方向に一定の厚みを有し内端部を含む第１部分と、径方向に減少する厚みを有し外端部を含む第２部分を備え、前記第２部分は、前記第１部分の上面と連続する第１面と、前記第１部分の下面と連続する第２面と、前記第１面と前記第２面とを接続し前記外端部を含む接続面とを有し、前記回転軸に沿った断面において、前記第１面を示す第１線分と前記第２面を示す第２線分とが成す角度θは１００°以上１５０°以下であり、前記第１面と前記接続面との境界である第１境界部と、前記第２面と前記接続面との境界である第２境界部との間の長さは１μｍ以上１０μｍ以下であり、前記回転軸から前記外端部までの長さは０．５ｍｍ以上５ｍｍ以下であり、前記複数のダイヤモンド粒子の平均粒径は、１０ｎｍ以上３００ｎｍ以下である、接触子。

Description

接触子及びそれを用いた単結晶ダイヤモンドの微小摩耗特性の評価方法
　本開示は、接触子及びそれを用いた単結晶ダイヤモンドの微小摩耗特性の評価方法に関する。本出願は、２０２１年１１月１０日出願の日本出願２０２１‐１８３４０４号に基づく優先権を主張し、前記日本出願に記載されたすべての記載内容を援用するものである。
工業用の単結晶ダイヤモンドでは、窒素不純物や結晶欠陥の分布状態が結晶毎に異なったり、同一の結晶内でも、微小領域で見ると、領域毎に摩耗特性が異なる。
したがって、特に精密加工用の工具材料として単結晶ダイヤモンドを用いる場合は、同一結晶内での微小領域毎の摩耗特性の相違を十分に把握しておくことが重要である。
　単結晶ダイヤモンドの微小領域での摩耗特性を評価するために、小径でＶ字型刃先を有する鋳鉄ホイールやメタルボンドダイヤモンド砥石ホイールを用いた方法が知られている（非特許文献１、非特許文献２）。
Ｅｉｌｅｅｎ　Ｍ．Ｗｉｌｋｓ＆Ｊ．Ｗｉｌｋｓ．（１９５９）．"Ｔｈｅ　Ｒｅｓｉｓｔａｎｃｅ　ｏｆ　Ｄｉａｍｏｎｄ　ｔｏ　Ａｂｒａｓｉｏｎ"．Ｐｈｉｌｏｓｏｐｈｉｃａｌ．Ｍａｇａｚｉｎｅ，４：３８，１５８－１７０． Ｅ　Ｍ　Ｗｉｌｋｓ　ａｎｄ　Ｊ　Ｗｉｌｋｓ．（１９７２）．"Ｔｈｅ　ｒｅｓｉｓｔａｎｃｅ　ｏｆ　ｄｉａｍｏｎｄ　ｔｏ　ａｂｒａｓｉｏｎ"．Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　Ｐｈｙｓｉｃｓ　Ｄ：Ａｐｐｌｉｅｄ　Ｐｈｙｓｉｃｓ，５，１９０２－１９１９．
　本開示の接触子は、
　複数のダイヤモンド粒子で構成された多結晶ダイヤモンドからなる円環状の接触子であって、
中心を回転軸が貫通するように構成され、
径方向に一定の厚みを有し内端部を含む第１部分と、
径方向に減少する厚みを有し外端部を含む第２部分を備え、
前記第２部分は、
前記第１部分の上面と連続する第１面と、前記第１部分の下面と連続する第２面と、前記第１面と前記第２面とを接続し前記外端部を含む接続面とを有し、
前記回転軸に沿った断面において
前記第１面を示す第１線分と前記第２面を示す第２線分とが成す角度θは１００°以上１５０°以下であり、
前記第１面と前記接続面との境界である第１境界部と、前記第２面と前記接続面との境界である第２境界部との間の長さは１μｍ以上１０μｍ以下であり、
　前記回転軸から前記外端部までの長さは０．５ｍｍ以上５ｍｍ以下であり、
前記複数のダイヤモンド粒子の平均粒径は、１０ｎｍ以上３００ｎｍ以下である、接触子である。
　本開示の評価方法は、
　単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性の評価方法であって、
　上記の接触子を回転させながら、前記単結晶ダイヤモンドを前記外端部に押しつけることにより、前記単結晶ダイヤモンドに摩耗痕を形成する第１工程と、
　前記摩耗痕の長さに基づき、前記単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性を評価する第２工程と、を備える、評価方法である。
図１は、本開示の一実施形態に係る接触子の一例の外観を示す写真代用図である。 図２は、本開示の一実施形態に係る接触子の一例の上面図である。 図３は、図２に示される接触子のＸＩ－ＸＩ線断面図である。 図４は、図３に示される接触子第２部分の拡大図である。 図５は、本開示の他の実施形態に係る第２部分の断面図である。 図６は、本開示の一実施形態に係る単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性の評価方法に用いられる摩耗試験装置の概観図である。 図７は、単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１００＞方向及び＜１１０＞方向を示す図である。 図８は、実施例１で形成された摩耗痕を示す写真代用図である。 図９は、実施例２で形成された摩耗痕を示す写真代要図である。 図１０は、実施例１及び実施例２における試験番号と摩耗痕長さとの関係を示すグラフである。 図１１は、試験体Ａの紫外線励起蛍光像を示す写真代用図である。 図１２は、試験体Ａにおける試験番号と摩耗痕長さとの関係を示すグラフである。 図１３は、試験体Ｂの紫外線励起蛍光像を示す写真代用図である。 図１４は、試験体Ｂにおける試験番号と摩耗痕長さとの関係を示すグラフである。
　 [本開示が解決しようとする課題]
　非特許文献１に記載の鋳鉄ホイールは単結晶ダイヤモンドに対して柔らかいため、摩耗試験中に刃先が型崩れしやすく摩耗方向によっては摩耗痕が付かない。また、研磨材のダイヤモンド粉末が飛ばされ、切れ味がすぐに鈍化してしまう。このため、単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性を定量的に、適切に評価することは難しい。
　特許文献２に記載のメタルボンドダイヤモンド砥石ホイールは、単結晶ダイヤモンド材料に対して用いた場合、ダイヤモンド砥粒が脱落しやすく、刃先形状が崩れやすい。加えて、ダイヤモンド砥粒の粒度や強度のバラツキにより、刃先の研削性能が安定しない。このため、単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性を定量的に、適切に評価することは難しい。
　そこで、本開示は、単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性の評価方法に用いられる接触子及びこれを用いた単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性の評価方法を提供することを目的とする。
　 [本開示の効果]
　本開示によれば、単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性に用いられる接触子を提供することが可能となる。更に該接触子を用いて単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性を評価することが可能となる。
　［本開示の実施形態の説明］
　最初に本開示の実施態様を列記して説明する。
　（１）本開示の接触子は、
　複数のダイヤモンド粒子で構成された多結晶ダイヤモンドからなる円環状の接触子であって、
中心を回転軸が貫通するように構成され、
径方向に一定の厚みを有し内端部を含む第１部分と、
径方向に減少する厚みを有し外端部を含む第２部分を備え、
前記第２部分は、
前記第１部分の上面と連続する第１面と、前記第１部分の下面と連続する第２面と、前記第１面と前記第２面とを接続し前記外端部を含む接続面とを有し、
前記回転軸に沿った断面において
前記第１面を示す第１線分と前記第２面を示す第２線分とが成す角度θは１００°以上１５０°以下であり、
前記第１面と前記接続面との境界である第１境界部と、前記第２面と前記接続面との境界である第２境界部との間の長さは１μｍ以上１０μｍ以下であり、
　前記回転軸から前記外端部までの長さは０．５ｍｍ以上５ｍｍ以下であり、
前記複数のダイヤモンド粒子の平均粒径は、１０ｎｍ以上３００ｎｍ以下である、接触子である。
　本開示によれば、単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性（本明細書において、微小領域における摩耗特性を「微小摩耗特性」とも記す。）を評価することが可能となる。
　（２）前記多結晶ダイヤモンドのヌープ硬度は１２０ＧＰａ以上であってもよい。これによると、微小摩耗特性の評価の精度が向上する。
　（３）前記接続面と前記回転軸を含む断面との交線が直線であってもよい。これによると、微小摩耗特性の評価結果が安定する。
　（４）前記回転軸から前記外端部までの長さは、前記回転軸から前記第１境界部までの長さよりも大きく、かつ前記回転軸から第２境界部までの長さよりも大きくてもよい。これによると、微小摩耗特性の評価結果が安定する。
　（５）本開示の評価方法は、
　単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性の評価方法であって、
　上記の接触子を回転させながら、前記単結晶ダイヤモンドを前記外端部に押しつけることにより、前記単結晶ダイヤモンドに摩耗痕を形成する第１工程と、
　前記摩耗痕の長さに基づき、前記単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性を評価する第２工程と、を備える、評価方法である。
　本開示によれば、単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性を評価することが可能となる。
　（６）前記単結晶ダイヤモンドは平面を有し、
　前記第１工程は、
　　前記単結晶ダイヤモンドを、前記平面が、前記接触子と対向し、かつ、前記回転軸と平行になるように配置する第１－１工程と、
　　前記単結晶ダイヤモンドに対して前記第３の平面の法線方向の荷重を加えることにより、前記単結晶ダイヤモンドを前記外端部に押しつける第１－２工程と、を含んでいてもよい。
　これによると、微小摩耗特性の評価の精度が向上する。
　（７）前記第３の平面は（００１）面であり、前記摩耗痕は、前記（００１）面の＜１００＞方向に平行であってもよい。これによると、微小摩耗特性の評価の精度が向上する。
　［本開示の実施形態の詳細］
　本開示の接触子及びそれを用いた単結晶ダイヤモンドの微小摩耗特性の評価方法について、以下に図面を参照しつつ説明する。本開示の図面において、同一の参照符号は、同一部分または相当部分を表すものである。また、長さ、幅、厚さ、深さなどの寸法関係は図面の明瞭化と簡略化のために適宜変更されており、必ずしも実際の寸法関係を表すものではない。なお、説明の都合上、図３、図４、図５は縦方向に圧縮されている。
　本明細書において「Ａ～Ｂ」という形式の表記は、範囲の上限下限（すなわちＡ以上Ｂ以下）を意味し、Ａにおいて単位の記載がなく、Ｂにおいてのみ単位が記載されている場合、Ａの単位とＢの単位とは同じである。
　［実施形態１：接触子］
　本開示の一実施形態（以下、「本実施形態」とも記す。）の接触子について、図１～図５を用いて説明する。本実施形態の接触子１は、複数のダイヤモンド粒子で構成された多結晶ダイヤモンドからなる円環状の接触子１であって、
中心を回転軸Ｒが貫通するように構成され、
径方向に一定の厚みを有し内端部を含む第１部分２と、
径方向に減少する厚みを有し外端部３Ａを含む第２部分３を備え、
第２部分３は、
第１部分２の上面と連続する第１面３１と、第１部分２の下面と連続する第２面３２と、第１面３１と第２面３２とを接続し外端部３Aを含む接続面３３とを有し、
回転軸Ｒに沿った断面において
第１面３１を示す第１線分と第２面３２を示す第２線分とが成す角度θは１００°以上１５０°以下であり、
第１面３１と接続面３３との境界である第１境界部３１Aと、第２面３２と接続面３３との境界である第２境界部３２Ａとの間の長さは１μｍ以上１０μｍ以下であり、
回転軸Ｒから外端部３Ａまでの長さは０．５ｍｍ以上５ｍｍ以下であり、
前記複数のダイヤモンド粒子の平均粒径は、１０ｎｍ以上３００ｎｍ以下である。
　本実施形態の接触子は、複数のダイヤモンド粒子からなる多結晶ダイヤモンドからなる。ここで、複数のダイヤモンド粒子からなる多結晶ダイヤモンドとは、ダイヤモンド粒子同士が直接結合した多結晶ダイヤモンドを意味する。多結晶ダイヤモンドは、ダイヤモンド焼結体に一般的に用いられる焼結助剤及び結合材の一方又は両方により形成される結合相（バインダー）を含まず、ダイヤモンド単相からなる多結晶体である。
　上記多結晶ダイヤモンドは、本開示の効果を奏する限り、ダイヤモンド成分以外に、不可避不純物を含むことができる。該不可避不純物としては、水素（Ｈ）、酸素（Ｏ）、窒素（Ｎ）、ナトリウム（Ｎａ）、マグネシウム（Ｍｇ）、アルミニウム（Ａｌ）、珪素（Ｓｉ）、リン（Ｐ）、硫黄（Ｓ）、塩素（Ｃｌ）、カリウム（Ｋ）、カルシウム（Ｃａ）、チタン（Ｔｉ）、鉄（Ｆｅ）、モリブデン（Ｍｏ）等が挙げられる。
　上記多結晶ダイヤモンドのダイヤモンド成分の含有率は、９９体積％以上が好ましい。
多結晶ダイヤモンドは、ダイヤモンド成分と、不可避不純物と、からなり、多結晶ダイヤモンドのダイヤモンド成分の含有率は９９体積％以上が好ましい。多結晶ダイヤモンドがダイヤモンド成分を９９体積％以上含むことは、Ｘ線回折法により確認することができる。多結晶ダイヤモンドが結合相を含まないことは、多結晶ダイヤモンドの表面を光学顕微鏡や電子顕微鏡で観察することにより確認することができる。
　上記多結晶ダイヤモンドを構成する複数のダイヤモンド粒子の平均粒径（以下、「ダイヤモンド粒子の平均粒径」とも記す。）は、１０ｎｍ以上３００ｎｍ以下である。すなわち、上記多結晶ダイヤモンドは、数十ｎｍレベルの微細なダイヤモンド粒子が強固に結合したナノ多結晶ダイヤモンド（ＮＰＤ：Ｎａｎｏ　Ｐｏｌｙｃｒｙｓｔａｌｌｉｎｅ　Ｄｉａｍｏｎｄ）である。多結晶ダイヤモンドの硬度には方位依存性がなく、上記多結晶ダイヤモンドは単結晶ダイヤモンドより高い硬度と強度を備えている。
　上記ダイヤモンド粒子の平均粒径の下限は、ダイヤモンド特有の機械的強度を得られるという観点から、１０ｎｍ以上であり、２０ｎｍ以上であってもよく、３０ｎｍ以上であってもよい。上記ダイヤモンド粒子の平均粒径の上限は、多結晶ダイヤモンド７５が全方位に対して等方的な硬度及び耐摩耗性を示すことができるという観点から、３００ｎｍ以下であり、２００ｎｍ以下であってもよく、１００ｎｍ以下であってもよい。上記ダイヤモンド粒子の平均粒径は、１０ｎｍ以上３００ｎｍ以下であり、２０ｎｍ以上２００ｎｍ以下であってもよく、３０ｎｍ以上１００ｎｍ以下であってもよい。
　上記ダイヤモンド粒子の平均粒径は、走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いた切断法により求められる。具体的には、まず走査電子顕微鏡を用いて多結晶ダイヤモンドを１０００～１０００００倍の倍率で観察し、ＳＥＭ画像を得る。
　次にそのＳＥＭ画像に円を描き、その円の中心から８本の直線を放射状（各直線間の交差角度がほぼ等しくなるよう）に円の外周まで引く。この場合、上記の観察倍率及び円の直径は、上記の直線１本あたりが横切るダイヤモンド粒子（結晶粒子）の個数が１０～５０個程度になるように設定する。
　次に、上記の各直線毎にダイヤモンド粒子の結晶粒界を横切る数を数え、直線の長さをその横切る数で割ることにより平均切片長さを求め、その平均切片長さに１．１２８をかけて得られる数値を平均粒径とする。上記の測定を３枚のＳＥＭ画像で行い、３枚のＳＥＭ画像毎に平均粒径を求める。３枚のＳＥＭ画像の平均粒径の平均値を、本明細書におけるダイヤモンド粒子の平均粒径とする。
　なお、同一の試料において測定する限りにおいては、測定視野の選択個所を変更して複数回行っても、測定結果のばらつきはほとんどなく、任意に測定視野を設定しても恣意的にはならないことが確認された。
　接触子１を用いて単結晶ダイヤモンド７５の微小領域における摩耗特性を評価する際には、接触子１を回転軸Ｒを中心に回転させながら、接触子１の外端部３Ａを単結晶ダイヤモンド７５に接触させて、単結晶ダイヤモンド７５に摩耗痕を形成する。よって、本実施形態の接触子を構成する多結晶ダイヤモンドの硬度は、単結晶ダイヤモンド７５の硬度と同等でもよいし、またはそれより大きくてもよい。
　単結晶ダイヤモンド７５の硬度は、面方位によって７０－１２０ＧＰａと変化する。従って、上記多結晶ダイヤモンドのヌープ硬度は、１２０ＧＰａ以上であってもよく、１２５ＧＰａ以上であってもよく、また、１３０ＧＰａ以上であってもよい。多結晶ダイヤモンドのヌープ硬度の上限は特に制限されないが、製造上の観点から、１６０ＧＰａ以下とすることができる。多結晶ダイヤモンドのヌープ硬度は、１２０ＧＰａ以上１６０ＧＰａ以下であってもよく、１２５ＧＰａ以上１５５ＧＰａ以下であってもよく、また、１３０ＧＰａ以上１５０ＧＰａ以下であってもよい。
　本明細書において、多結晶ダイヤモンドのヌープ硬度の測定は、ＪＩＳ　Ｚ　２２５１：２００９に規定される条件で行われる。具体的には、菱形のヌープ圧子を、多結晶ダイヤモンドの表面に押し込み、試験力４．９Ｎで１０秒間負荷して圧痕をつける。試験温度は２３℃±５℃とする。試験力を解除した後、多結晶ダイヤモンドの表面に残った圧痕の長い方の対角線長さａ（μｍ）を測定し、下記式（１）よりヌープ硬度（ＨＫ）を算出する。
ＨＫ＝１４２２９×Ｆ／ａ２　　式（１）
　図１～図３に示されるように、接触子１は、第１部分２と、第１部分２と連続し、第１部分２の外周を取り囲む第２部分３とを備え、回転軸Ｒを含む断面において、第２部分３の回転軸Ｒ方向の長さは、外端部３Ａに向かって減少する。ここで、第２部分３の回転軸Ｒ方向の長さは、外端部３Ａに向かって減少するとは、図３に示されるように、第２部分３の回転軸Ｒ方向の長さを、回転軸から近い順にＬ１，Ｌ２，Ｌ３とした場合、Ｌ１＞Ｌ２＞Ｌ３の関係を示すことを意味する。図２に示されるように、接触子１は、上面視において円径である。接触子１の回転軸Ｒ方向の最大長さは特に限定されないが、例えば、０．２ｍｍ以上２ｍｍ以下とすることができる。
　接触子１の回転軸Ｒと外端部３Ａとの間の回転軸Ｒに直交する方向の長さｒ１は、０．５ｍｍ以上５ｍｍ以下である。これによると、接触子１の取り扱いが容易であり、かつ、単結晶ダイヤモンド７５に微小な摩耗痕を形成することができる。
　上記長さｒ１の下限は、接触子１の取り扱いの容易性の観点から、０．５ｍｍ以上であり、１ｍｍ以上であってもよく、１．５ｍｍ以上であってもよい。上記長さｒ１の上限は、微小な摩耗痕を形成する観点から、５ｍｍ以下であり、３ｍｍ以下であってもよく、２ｍｍ以下であってもよい。上記長さｒ１は、０．５ｍｍ以上５ｍｍ以下であり、１ｍｍ以上３ｍｍ以下であってもよく、１．５ｍｍ以上２ｍｍ以下であってもよい。
　接触子１の第１面３１と第２面３２とがなす角度θは、１００°以上１５０°以下であり、第１面３１と接続面３３との境界である第１境界部３１Ａと、第２面３２と接続面３３との境界である第２境界部３２Ａとの間の回転軸Ｒ方向の長さＤは、１μｍ以上１０μｍ以下である。本明細書において、第１面３１と第２面３２とのなす角度θとは、図４の点線で示されるように、第１面３１及び第２面３２を拡大した仮想平面同士のなす角度を意味する。これによると、単結晶ダイヤモンド７５に形成される摩耗痕が明瞭となり、かつ、安定した摩耗試験が可能となる。よって、微小摩耗特性の評価結果のバラツキが抑制され、評価結果が安定する。本明細書において、単結晶ダイヤモンド７５の微小摩耗特性の評価のために行われる、接触子１を用いて単結晶ダイヤモンド７５に摩耗痕を形成する工程を、摩耗試験とも記す。
　上記角度θの下限は、摩耗試験時の外端部３Aの形状の維持の観点から、１００°以上であり、１１０°以上であってもよい。上記角度θの上限は、明瞭な摩耗痕を形成する観点から、１５０°以下であり、１４０°以下であってもよい。上記角度θは、１００°以上１５０°以下であり、１１０°以上１４０°以下であってもよい。
　上記長さＤの下限は、摩耗試験時の接触子外端部３Aの形状の維持の観点から、１μｍ以上であり、２μｍ以上であってもよい。上記長さＤの上限は、明瞭な摩耗痕を形成する観点から、１０μｍ以下であり、８μｍ以下であってもよい。上記長さＤは、１μｍ以上１０μｍ以下であり、２μｍ以上８μｍ以下であってもよい。
　図４に示されるように、接続面３３と回転軸Ｒを含む断面との交線が直線であってもよい。これによると、安定した摩耗試験が可能となる。よって、微小摩耗特性の評価結果のバラツキが抑制され、評価結果が安定する。
　図５に示されるように、回転軸Ｒから外端部３Ａまでの長さは、回転軸Ｒから第１境界部３１Ａまでの長さよりも大きく、かつ回転軸Ｒから第２境界部３２Ａまでの長さよりも大きくてもよい。これによると、安定した摩耗試験が可能となる。よって、微小摩耗特性の評価結果のバラツキが抑制され、評価結果が安定する。回転軸Ｒを含む断面において、接続面３３は円弧である場合、該円弧の半径は１μｍ以上１０μｍ以下であってもよく、２μｍ以上８μｍ以下であってもよい。
　図１～図３に示されるように、接触子１の第１部分２は、回転軸Ｒに相当する部分に形成された穴を含むことが好ましい。これによると、摩耗試験において、該穴にスピンドルを挿入することができる。また、接触子１は、第１部分２に固定された軸を備えることができる。
　本実施形態の接触子の製造方法の一例について説明する。まず、高純度グラファイト（純度９９．９％以上）を出発物質として、超高圧下の直接変換法で焼結させて、多結晶ダイヤモンドを合成する。焼結条件は、例えば、温度２２００～２３００℃、圧力１５～１６ＧＰａ、焼結時間１０～３０分とすることができる。得られた多結晶ダイヤモンドをレーザー加工と、ダイヤモンド砥石による研削および研磨加工により、本実施形態の接触子の形状に成形して、接触子を得る。
　［実施形態２：単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性の評価方法］
　本実施形態の単結晶ダイヤモンド７５の微小領域における摩耗特性の評価方法について、図６を用いて説明する。図６は、本実施形態の微小摩耗特性の評価方法に用いられる摩耗試験装置の概観図である。摩耗試験装置は、マシニングセンタ６０と、試料保持部７０とを備える。マシニングセンタ６０は、スピンドル６１と、接触子１をスピンドル６１に固定するための固定ネジ６２とを備える。試料保持部７０は、単結晶ダイヤモンド７５を保持するための治具７６と、治具７６を接触子１方向へ移動させるエアシリンダ７１と、エアシリンダ７１の周囲に配置されるリニアガイド７２とを備える。
　本実施形態の単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性の評価方法は、
　実施形態１に記載の接触子１を回転させながら、単結晶ダイヤモンド７５を外端部３Ａに押しつけることにより、単結晶ダイヤモンド７５に摩耗痕を形成する第１工程と、
　該摩耗痕の長さに基づき、単結晶ダイヤモンド７５の微小領域における摩耗特性を評価する第２工程と、を備える、評価方法である。
　＜第１工程＞
　接触子１の穴にマシニングセンター６０のスピンドル６１を挿入し、固定ネジ６２で固定する。接触子１はスピンドル６１に固定されているため、スピンドル６１を回転させると、これに同期して接触子１が回転する。回転速度は、熱的反応摩耗の抑制の観点から、１００ｒｐｍ以上１０００ｒｐｍ以下、及び／又は、周速１ｍ／ｍｉｎ以上１０ｍ／ｍｉｎ以下が好ましい。図６では、接触子１は固定ネジ６２によりスピンドル６１に固定されているが、接触子１とスピンドル６１との固定方法はこれに限定されない。例えば、接触子１とスピンドル６１とを接着剤を用いて固定することができる。
　試料保持部７０の治具７６に単結晶ダイヤモンド７５を固定する。治具７６の単結晶ダイヤモンド７５を固定した方向とは反対側の方向には、エアシリンダ７１が設置されている。図６の矢印ａの方向で示されるように、エアシリンダ７１に向けて一定圧のエアーを送り込むことにより、エアシリンダ７１に対して矢印ｂの方向に荷重が加わり、エアシリンダ７１が接触子１の方向に移動する。これにより、単結晶ダイヤモンド７５が接触子１の外端部３Ａに押し付けられ、単結晶ダイヤモンド７５に摩耗痕が形成される。押し付け圧は０．１ＭＰａ以上０．２ＭＰａ以下が好ましい。押し付け時間は６０秒が好ましい。
　単結晶ダイヤモンド７５は平面７７を有し、上記第１工程は、単結晶ダイヤモンド７５を、平面７７が接触子１と対向し、かつ、回転軸Ｒと平行になるように配置する第１－１工程と、単結晶ダイヤモンド７５に対し平面７７の法線方向の荷重を加えることにより、単結晶ダイヤモンド７５を接触子１の外端部３Ａに押しつける第１－２工程と、を含んでいてもよい。これによると、微小摩耗試験の精度が向上する。単結晶ダイヤモンド７５が平面７７を有するように加工する際は、単結晶ダイヤモンド７５の（１００）面を、メタルボンドダイヤモンド砥石又はスカイフで平行研磨することが好ましい。
　単結晶ダイヤモンド７５の平面７７は（００１）面であり、上記摩耗痕は、該（００１）面の＜１００＞方向に平行であってもよい。これによると、微小摩耗試験の精度が向上する。
　一つの単結晶ダイヤモンド７５に複数の摩耗痕を形成する場合は、複数の摩耗痕は略平行であり、かつ、各摩耗痕の間隔は、０．０５ｍｍ以上０．１ｍｍ以下とすることができる。
　なお、摩耗痕の形成開始前に、接触子１の第１面３１と第２面３２とが直接接続してＶ字形状を形成し、接続面３３が存在しない場合は、評価用の摩耗痕を形成する前に、単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１００＞方向に対して上記の摩耗痕の形成条件（回転速度、押し付け圧、押し付け時間）で５回以上の前処理を行い、外端部３Ａの長さＤが１μｍ以上１０μｍ以下となるように調整する。
　＜第２工程＞
　第２工程では、第１工程において単結晶ダイヤモンド７５に形成された摩耗痕の長さに基づき、単結晶ダイヤモンド７５の摩耗特性を評価する。摩耗特性は、摩耗量（除去量）や摩耗痕の面積、あるいは摩耗痕の長さで評価することができる。本実施形態では、簡易に測定可能な摩耗痕の長さで評価する。摩耗痕の長さは、光学顕微鏡にて、観察倍率５００倍で計測される。
　本実施形態の微小摩耗特性の評価方法は、単結晶ダイヤモンド７５の微小領域の摩耗特性（耐摩耗性）を高精度に評価できる。これにより単結晶ダイヤモンド７５の、不純物や結晶欠陥の不均一分布による摩耗特性の分布状態が詳細に調査できる。この評価方法は、単結晶ダイヤモンド７５を精密バイトや小径エンドミルなどの精密切削工具に用いる際の、単結晶ダイヤモンド７５の選定や品質評価に有用である。
　本実施の形態を実施例によりさらに具体的に説明する。ただし、これらの実施例により本実施の形態が限定されるものではない。
　試験体として、不純物や結晶欠陥をほとんど含まない高純度で無色透明の合成単結晶ダイヤモンド（ＩＩａ型、不純物０．１ｐｐｍ以下）および、通常工業用に生産されている黄色の合成単結晶ダイヤモンド（Ｉｂ型、百ｐｐｍ前後の窒素を孤立置換型不純物として含む）を用いた。各試験体の（１００）面を、メタルボンドダイヤモンド砥石あるいはスカイフ板で平行研磨して平面を形成し、該平面上で微小摩耗特性を評価した。
　単結晶ダイヤモンドの摩耗特性には、不純物や結晶欠陥が影響すると推察される。よって、まず、不純物や結晶欠陥をほとんど含まない合成単結晶ダイヤモンド（以下、「合成ＩＩａ型単結晶ダイヤモンド」とも記す。）からなる試験体において、本評価方法の妥当性の確認と、接触子の損耗状態及び安定性を調査した（後述の実施例１及び実施例２）。
更に、該合成ＩＩａ型単結晶ダイヤモンドの微小摩耗特性の方位による違いを評価した（後述の実施例３）。
　次に、通常工業用に生産されている合成単結晶ダイヤモンド（以下、「合成Ｉｂ型単結晶ダイヤモンド」とも記す。）からなる試験体において、成長セクターと微小摩耗特性との関係を調査した（後述の実施例４）。
　以下の全ての実施例において、接触子は複数のダイヤモンド粒子からなる多結晶ダイヤモンドからなる。上記複数のダイヤモンド粒子の平均粒径は５０ｎｍである。該多結晶ダイヤモンドのヌープ硬度は１３０ＧＰａである。
　以下の全ての実施例において、摩耗痕の形成条件は、接触子の回転速度３１３ｒｐｍ（周速３．１５ｍ／ｍｉｎ）、１つの摩耗痕当たりの押し付け圧０．１ＭＰａ、押し付け時間６０秒である。試験体上の摩耗痕の間隔は、０．１ｍｍ又は０．０５ｍｍである。
　［実施例１：合成ＩＩａ型単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１００＞方向の微小摩耗特性の評価］
　接触子として、実施形態１に記載の接触子を準備した。該接触子は、外端部がＶ字形状である（すなわち、第１面３１と第２面３２とが交差して角度θを形成しており、接続面３３は存在しない）こと以外は、図３に示される断面形状を有し、長さｒ１が１．６ｍｍ（上面視において、直径φ３．２ｍｍの円状、第２部分の周長約１０ｍｍ）、角度θは１２０°、回転軸Ｒ方向の最大長さ（厚さ）０．６ｍｍである。
　図７及び図８に示されるように、合成ＩＩａ型単結晶ダイヤモンドに対して、（００１）面の＜１００＞方向に平行に摩耗痕を形成して評価を行った。その結果を、図１０のグラフの実線として示す。図１０の座標系において、横軸は試験番号を示し、縦軸は摩耗痕の長さ（μｍ）を示す。試験番号は、摩耗痕の形成回数に対応する。例えば、試験番号５とは、５回目の摩耗痕の形成を意味する。
　図１０に示されるように、試験番号５で示される５回目の摩耗痕の形成までは、摩耗痕の長さが徐々に短くなる。これは、摩耗試験前の接触子の第２部分はＶ字形状で鋭利な状態であるため、摩耗痕が形成されやすく、前処理試験の回数の増加に伴い、第２部分の先端が摩耗し、摩耗痕が形成されにくくなるためと推察される。５回目の摩耗痕の形成後は、外端部が平坦となり、外端部の長さＤが５～６μｍ程度となる。５回目以降の摩耗痕の形成では、外端部の摩耗がほぼ生じずに安定するため、摩耗痕の長さ及び幅がほぼ一定の値となる。これは、多結晶ダイヤモンドの耐摩耗性は、単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１００＞方向の耐摩耗性に比べてはるかに優れているためと推察される。
　上記より、前処理として５回以上の摩耗痕の形成を行うことで、その後は安定した微小摩耗評価が可能となることが確認された。また、単結晶ダイヤモンドからなる試験体に対して安定した摩耗試験が可能であることが確認された。
　［実施例２：合成ＩＩａ単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１１０＞方向の微小摩耗特性の評価］
　その後、実施例１と同一の接触子を用いて、図７及び図９に示されるように、合成ＩＩａ型単結晶ダイヤモンドに対して、（００１）面の＜１１０＞方向に平行に摩耗痕を形成して評価を行った。その結果を、図１０のグラフの点線として示す。
　図１０に示されるように、試験番号（摩耗痕の形成回数）の増加に従い、摩耗痕が短くなる。これは、多結晶ダイヤモンドの耐摩耗性は、単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１１０＞方向の耐摩耗性と同レベルであるため、接触子の外端部は、少しずつ摩滅し続けるためと推察される。
　実施例１及び実施例２より、結晶間の耐摩耗性の違いや結晶内の摩耗特性の分布状態を調べる目的では、単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１００＞方向に平行な摩耗痕を形成して評価を行うことが好ましいことが確認された。
　［実施例３：合成ＩＩａ単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１００＞と＜１１０＞方向の摩耗特性比較］
　実施例１では、合成ＩＩａ単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１００＞方向の摩耗痕長（以下、「＜１００＞摩耗痕長」とも記す。）の漸近値は１４５～１５０μｍ程度となっている。一方、実施例２では、試験開始時（試験番号１）の合成ＩＩａ単結晶ダイヤモンドの（００１）面の＜１１０＞方向の摩耗痕長（以下、「＜１１０＞摩耗痕長」とも記す。）は１１０～１２０μｍ程度である。したがって、＜１００＞摩耗痕長は＜１１０＞摩耗痕長の約１．３倍となり、摩耗体積に換算すると約２．２倍となる。
　上記の結果は、非特許文献２のメタルボンドダイヤモンド砥石ホイールによる実験結果と傾向は同じであるが、本実施形態の接触子は、外端部の摩耗（ヘタリ）が非常に小さいため、結晶による違いや、結晶内の場所による違いに関して、より正確に評価することが可能である。
　実施例１～実施例３より、本実施形態の接触子を用いた評価方法によれば、単結晶ダイヤモンドの摩耗特性（ダイヤモンド本来の耐摩耗性に関する特性）の面方位による違いを、数十μｍレベルの微小領域においても正確に評価できることが確認された。
　［実施例４：合成Ｉｂ単結晶ダイヤモンドの成長セクターと微小摩耗特性との関係の評価］
　接触子として、実施形態１に記載の接触子を準備した。該接触子は、図３に示される断面形状を有し、長さｒ１が１．６ｍｍ（上面視において、直径φ３．２ｍｍの円状、第２部分の周長約１０ｍｍ）、角度θは１２０°、長さＤは５μｍ、回転軸Ｒ方向の最大長さ（厚さ）０．６ｍｍである。
　上記接触子を用いて、窒素不純物を１００ｐｐｍ前後含む合成Ｉｂ型単結晶ダイヤモンドの試験体に対して、（００１）面の＜１００＞方向に平行に摩耗痕を形成し、成長セクターと微小摩耗特性との関係を評価した。上記試験体は２つ準備した。以下、それぞれ試験体Ａ及び試験体Ｂと記す。
　試験体Ａ及び試験体Ｂにおける成長セクターの分布は、紫外線励起蛍光像観察により確認される。図１１は、試験体Ａの紫外線励起蛍光像を示す写真代用図である。図１３は、試験体Ｂの紫外線励起蛍光像を示す写真代用図である。図１３では、紫外線励起蛍光像に、光学顕微鏡で観察された摩耗痕を重ね合わせて示している。
　図１２は、試験体Ａにおける試験番号と摩耗痕長さとの関係を示すグラフである。図１２において、試験番号７～試験番号１２は（１１１）セクター内に形成された摩耗痕を示し、試験番号１３～試験番号２７は（１００）セクター内に形成された摩耗痕を示し、試験番号２８は（１１０）セクター内に形成された摩耗痕を示す。
　図１４は、試験体Ｂにおける試験番号と摩耗痕長さとの関係を示すグラフである。図１４において、試験番号５は（１１０）セクター内に形成された摩耗痕を示し、試験番号６～試験番号２６は（１００）セクター内に形成された摩耗痕を示し、試験番号２７は（１１０）セクター内に形成された摩耗痕を示す。
　図１２及び図１４より、摩耗特性は成長セクターにより異なり、特に（１１０）セクターの耐摩耗性が非常に高いことが確認された。各成長セクター内の窒素量は通常、（１１１）＞（１００）＞（１１３）＞（１１０）であることが知られており、（１１０）セクターにはほとんど窒素は含まれない。このため、（１１０）セクター部の摩耗量が少ないと推察される。
　上記より、本実施形態の接触子を用いた単結晶ダイヤモンドの微小摩耗特性の評価方法により、不純物を含む単結晶ダイヤモンドの耐摩耗性は、成長セクターにより異なること、及び、不純物の分布状態によって少なからず影響を受けることが確認された。
　以上のように本開示の実施の形態および実施例について説明を行なったが、上述の各実施の形態および実施例の構成を適宜組み合わせたり、様々に変形することも当初から予定している。
　今回開示された実施の形態および実施例はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本開示の範囲は上記した実施の形態および実施例ではなく請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味、および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
１　接触子
２　第１部分
３　第２部分
３Ａ　外端部
３１　第１面
３２　第２面
３１Ａ　第１境界部
３２Ａ　第２境界部
３３　接続面
Ｒ　回転軸
６０　マシニングセンタ
６１　スピンドル
６２　固定ネジ
７０　試料保持部
７１　エアシリンダ
７２　リニアガイド
７５　単結晶ダイヤモンド
７６　治具
７７　平面 

Claims (7)

  1. 　複数のダイヤモンド粒子で構成された多結晶ダイヤモンドからなる円環状の接触子であって、
    中心を回転軸が貫通するように構成され、
    径方向に一定の厚みを有し内端部を含む第１部分と、
    径方向に減少する厚みを有し外端部を含む第２部分を備え、
    前記第２部分は、
    前記第１部分の上面と連続する第１面と、前記第１部分の下面と連続する第２面と、前記第１面と前記第２面とを接続し前記外端部を含む接続面とを有し、
    前記回転軸に沿った断面において
    前記第１面を示す第１線分と前記第２面を示す第２線分とが成す角度θは１００°以上１５０°以下であり、
    前記第１面と前記接続面との境界である第１境界部と、前記第２面と前記接続面との境界である第２境界部との間の長さは１μｍ以上１０μｍ以下であり、
    前記回転軸から前記外端部までの長さは０．５ｍｍ以上５ｍｍ以下であり、
    前記複数のダイヤモンド粒子の平均粒径は、１０ｎｍ以上３００ｎｍ以下である、接触子。
  2. 　前記多結晶ダイヤモンドのヌープ硬度は１２０ＧＰａ以上である、請求項１に記載の接触子。
  3. 　前記接続面と前記回転軸を含む断面との交線が直線である、請求項１又は請求項２に記載の接触子。
  4. 　前記回転軸から前記接触子の端部までの長さは、前記回転軸から前記第１境界部までの長さよりも大きく、かつ前記回転軸から第２境界部までの長さよりも大きい、請求項１又は請求項２に記載の接触子。
  5. 　単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性の評価方法であって、
    　請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の前記接触子を回転させながら、前記単結晶ダイヤモンドを前記外端部に押しつけることにより、前記単結晶ダイヤモンドに摩耗痕を形成する第１工程と、
    　前記摩耗痕の長さに基づき、前記単結晶ダイヤモンドの微小領域における摩耗特性を評価する第２工程と、を備える、評価方法。
  6. 　前記単結晶ダイヤモンドは平面を有し、
    　前記第１工程は、
    　　前記単結晶ダイヤモンドを、前記平面が、前記接触子と対向し、かつ、前記回転軸と平行になるように配置する第１－１工程と、
    　　前記単結晶ダイヤモンドに対して前記平面の法線方向の荷重を加えることにより、前記単結晶ダイヤモンドを前記外端部に押しつける第１－２工程と、を含む、請求項５に記載の評価方法。
  7. 　前記単結晶ダイヤモンドの前記平面は（００１）面であり、
    　前記摩耗痕は、前記（００１）面の＜１００＞方向に平行である、請求項６に記載の評価方法。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110146372A1 (en) * 2009-12-18 2011-06-23 Varel Europe S.A.S. Synthetic Materials for PDC Cutter Testing or for Testing Other Superhard Materials
JP2014091661A (ja) * 2012-11-06 2014-05-19 Sumitomo Electric Ind Ltd ダイヤモンド多結晶体およびその製造方法
CN105158098A (zh) * 2015-08-26 2015-12-16 南京航空航天大学 一种磨粒位姿可控的单颗磨粒磨削试验平台及其试验方法
WO2019069888A1 (ja) * 2017-10-03 2019-04-11 英二 草野 試料保持台

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110146372A1 (en) * 2009-12-18 2011-06-23 Varel Europe S.A.S. Synthetic Materials for PDC Cutter Testing or for Testing Other Superhard Materials
JP2014091661A (ja) * 2012-11-06 2014-05-19 Sumitomo Electric Ind Ltd ダイヤモンド多結晶体およびその製造方法
CN105158098A (zh) * 2015-08-26 2015-12-16 南京航空航天大学 一种磨粒位姿可控的单颗磨粒磨削试验平台及其试验方法
WO2019069888A1 (ja) * 2017-10-03 2019-04-11 英二 草野 試料保持台

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
LEE MASAKAZU, MANABE, KEISUKE. TERAMOTO. MINORI. H AR ANO. KATSUKO. KOBAYASHI. YULAKA. SUMI YA. HITOSHI: "Wear characteristics of various diamonds", LECTURE PROCEEDINGS OF ACADEMIC LECTURE CONFERENCE OF 2019 JSPE SPRING CONFERENCE, 13 March 2019 (2019-03-13), pages 646 - 647, XP093065188 *

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