WO2023078528A1 - Verfahren und vorrichtung zur kompensation von verzerrungen - Google Patents

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WO2023078528A1
WO2023078528A1 PCT/EP2021/080376 EP2021080376W WO2023078528A1 WO 2023078528 A1 WO2023078528 A1 WO 2023078528A1 EP 2021080376 W EP2021080376 W EP 2021080376W WO 2023078528 A1 WO2023078528 A1 WO 2023078528A1
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substrate
distortions
substrate surface
distortion
compensation
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PCT/EP2021/080376
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English (en)
French (fr)
Inventor
Thomas UHRMANN
Markus Wimplinger
Friedrich Paul Lindner
Jürgen Burggraf
Thomas Wagenleitner
Dominik ZINNER
Martin Finger
Harald ROHRINGER
Original Assignee
Ev Group E. Thallner Gmbh
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Filing date
Publication date
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    • H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
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    • H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67288—Monitoring of warpage, curvature, damage, defects or the like

Definitions

  • the invention relates to a method and a device according to the independent patent claims.
  • wafers In the semiconductor industry, different substrates are used to produce components, so-called devices. The most commonly used type of substrates are so-called wafers.
  • the manufacturing process of such a component includes several, sometimes hundreds, processes with several process steps.
  • the processes are, for example, coating, embossing, exposure, cleaning, etching, bonding, debonding or back-thinning processes.
  • the aim of the different processes is usually the production of several hundred to thousands of individual components on a substrate.
  • lithographic mask can be defined with high accuracy in a computer become. However, their production will be subject to errors due to the manufacturing process. A defective mask necessarily results in defective exposures. It is also conceivable that a maskless lithography method is used, in which one or more SLMs (spatial light modulators), in particular DMDs (digital micromirror devices), are used, with which an incorrect exposure takes place that has to be corrected .
  • SLMs spatial light modulators
  • DMDs digital micromirror devices
  • a substrate can have very precise structures on a substrate surface. However, if the rear side of the substrate is ground back or even just polished, this can lead to undesired distortion of the substrate, in particular the substrate surface.
  • substrates are also deformed and distorted over a large area.
  • substrates are thinned by the grinding and/or polishing processes on the one hand, and internal stresses are built into the substrates on the other hand, which lead to a convex, concave curvature or to a global curvature pattern that changes as a function of location.
  • components on such substrates are subsequently distorted again, even if they were in an undistorted state before the grinding and/or polishing processes.
  • distortion can either be of a mechanical nature, such as that which occurs when mechanical stresses are introduced during a grinding process, or it can be the deviation of a photolithographically exposed layer from its target state, which is caused by a defective or at least poorly manufactured lithographic mask . In this case, therefore, the substrate on which the photolithographically exposed layer is located may itself be undistorted, but the structure produced thereon will be produced distorted.
  • the distortions are generally location dependent. In particular, they change continuously as a function of location.
  • the distortions can therefore also be specified as distortion fields. So distortions are either local and/or global. For the sake of simplicity, however, only distortions are mentioned in the further course of the publication.
  • Distortions are preferably described as vectors, in particular as two-dimensional ones. The vectors lie within a tangent plane to their point of origin.
  • Distortions can be present and/or compensated either on the active substrate surface and/or on the passive substrate surface opposite the active substrate surface.
  • Active substrate surface is understood in particular as that substrate surface on which functional elements, for example MEMS, LEDs, transistors, coatings etc. are located, while the matching substrate surface is used for fixing, for example. Any passive substrate surface can become an active substrate surface in a manufacturing process. It is also conceivable that a substrate has two active substrate surfaces. At the beginning of a process, both substrate surfaces are mostly passive. In the case of thin substrates in particular, it is conceivable that the compensation for a distortion has an effect across the substrate thickness and thus also on the opposite side of the substrate. This makes it possible to compensate for distortions on the active substrate surface from the passive substrate surface. However, the distortions are preferably compensated for directly on the active substrate surface, in particular because this makes particularly efficient monitoring possible and conceivable.
  • the publication WO2012083978A1 shows e.g. a substrate holder that can compensate for local and/or global distortions of a substrate with the help of several deformation elements.
  • the publication WO2021079786A1 shows a device that can be used to measure and partially compensate for distortions.
  • the substrate returns to its original shape, i.e. it behaves elastically.
  • attempts are made to compensate for the distortions caused by such substrate holders before carrying out further process steps on the substrate.
  • One of the most important procedures to ensure that the local and/or global Distortions on at least one substrate surface have been compensated before proceeding further is the above-mentioned bonding.
  • the invention relates to a method for compensating for distortions on at least one substrate surface of a substrate, at least one local action being generated on at least one of the substrate surfaces.
  • the invention further relates to a device for compensating for distortions on at least one substrate surface of a substrate, wherein at least one local action can be generated on at least one of the substrate surfaces.
  • the invention further relates to a product produced using the method according to the invention and/or the device according to the invention.
  • the at least one local action is generated with the aim of generating deformations in order to bring the substrate into a desired shape.
  • a sub-area of the substrate that has no distortion can be deformed by the at least one local action in order to compensate for a distortion in another sub-area.
  • the at least one local action compensates for the at least one distortion on at least one substrate surface and, in particular, generates deformations at another location.
  • the newly created deformations will enhance the newly created condition of the at least one substrate surface.
  • the device has means for generating the local action, with the means for generating the local action preferably comprising a laser.
  • the substrate is in particular a wafer.
  • the substrate or the sub strate can have any shape, but they are preferably circular.
  • the diameter of the substrates is industrially standardized.
  • the industry standard diameters are 1 inch, 2 inch, 3 inch, 4 inch, 5 inch, 6 inch, 8 inch, 12 inch and 18 inch.
  • the In principle, however, the invention can be used for any substrate, regardless of its diameter.
  • Distortion includes both local and global distortions.
  • Local distortions are understood to mean, in particular, locally limited, small-area distortions that have little or no influence on the entire area of the substrate.
  • Global distortion is understood to mean, in particular, the large-area deviation of a substrate, in particular a wafer, from its planar shape.
  • Thin substrates in particular have the property of deforming or bending over a large area as a result of mechanical and/or chemical influences and/or gravitation. In such cases, the substrates exhibit strong global deviations from flatness. For example, a convex, sagging shape of a substrate that is only peripherally fixed to an upper substrate holder is typical. These gravitational effects are mostly reversible as soon as the substrate is fully supported. Grinding and polishing processes can permanently and extensively curve a substrate. These bulges can be convex, concave, or change as a function of location.
  • Coating and/or etching of a substrate can also lead to global distortion.
  • the most common global distortion is due to the difference in thermal expansion coefficients between the coating and the substrate. Since coatings are usually carried out at higher temperatures and the coated substrate is cooled down after coating, the build-up of thermal stresses causes global distortion of the substrate.
  • Global distortions can be compensated by compensating for local distortions.
  • a global distortion can be compensated for by carrying out multiple compensations for local distortions along a grid of the at least one substrate surface. The type and/or strength, in particular the intensity, of the compensations in the grid changes as a function of location in such a way that the global distortion is compensated for.
  • the origin of distortions can also be differentiated according to whether the distortions are caused by the property of the substrate or by the environment. For example, a coating, a grinding or polishing process, components created in the substrate, a density of components on the substrate that varies as a function of location, etc. can lead to distortions. These distortions are called intrinsic. The distortions can also only occur when the substrate is fixed to a substrate holder and may even be reversible, i.e. they usually disappear when the substrate holder is removed. These distortions are called extrinsic. However, since the substrates are usually processed on a substrate holder, compensation for distortions caused by a substrate holder is also of great importance. Such distortions can also be compensated according to the invention. Extrinsic distortions are caused, for example, by a specific substrate holder topography. No substrate holder surface can be ground and polished perfectly and always has a waviness.
  • the invention is suitable for compensating for all types of distortion mentioned.
  • the local action includes or generates:
  • the distortions are located in particular on an active substrate surface.
  • the active substrate surface has structures in particular, such as LEDs, MEMS, etc.
  • One or more distortions can be compensated. These can be compensated simultaneously or sequentially.
  • the at least one local action can be generated on the active substrate surface and/or on a passive substrate surface opposite the active substrate surface.
  • Several local actions can be created, which are created simultaneously or one after the other. If several local actions are generated, these can be generated on the active substrate surface and/or on the passive substrate surface.
  • the substrate it is particularly advantageously possible to introduce permanent, in particular plastic, changes in the substrate, preferably locally in a targeted manner.
  • the local action is generated by electromagnetic radiation, preferably by a laser.
  • the electromagnetic radiation or the laser has the necessary parameters with which a physical and/or chemical reaction can be triggered in the vicinity of the distortion, so that the distortion can be compensated for.
  • the electromagnetic radiation or the laser it is not necessary for the electromagnetic radiation or the laser to act precisely on the point of distortion.
  • the laser must act on the vicinity of the distortion in such a way that the distortion is compensated.
  • a laser is used whose pulse duration can be adjusted. If the pulse duration cannot be adjusted, a laser with the shortest possible pulse duration, preferably in the picosecond or femtosecond range, is used. Short pulse durations cause purely local heating, which may be necessary to bring about the physical and/or chemical reaction mentioned, which is necessary for compensating for the distortion.
  • the pulse durations are less than 10' 5 s, preferably less than 10' 7 s, more preferably less than 10' 9 s, most preferably less than 10' 12 s, most preferably less than 10' 15 s.
  • the laser power is greater than 1 watt, preferably greater than 10 watts, more preferably greater than 100 watts, most preferably greater than 1000 watts, most preferably greater than 10000 watts.
  • a laser is used whose laser beam shape can be shaped, in particular by optical elements. This advantageously makes it possible to switch between a circular and a longitudinal laser beam.
  • a longitudinally shaped laser beam will result in an anisotropic effect since its horizontal photon density distribution is different from its vertical photon density distribution.
  • the laser is used in a maskless exposure device which has at least one SLM (spatial light module), in particular at least one DMD (digital micromirror device).
  • SLM spatial light module
  • DMD digital micromirror device
  • the substrate surface is monitored, with the compensation being observed in-situ.
  • a laser is preferably coupled into an optical system of a metrology device which can be used to monitor the substrate surface. This creates a particularly efficient way of observing the compensation for the distortion in situ.
  • a change in density can occur either through the removal of a dissolved component, the absorption, ie the solution, of a component or through the formation of bubbles or pores.
  • the formation of bubbles or pores i st Usually undesirable, but can be acceptable if the laser exposure side is ground or polished away in a later process step.
  • the action of the electromagnetic radiation or the laser beam leads to a solid-state phase transformation.
  • the solid state phase transformation should preferably not be reversible.
  • the substrate has at least one metastable phase in order to be converted into a stable phase by the heat effect of the laser beam, which remains stable even after the environment has cooled down.
  • the amorphization of at least one substrate surface, which then recrystallizes after exposure to a laser beam is conceivable.
  • phase transformation results in residual tensile or compressive stresses that deform the immediate surroundings, in particular elastically.
  • the effect of the laser beam and the associated heating produce thermal stresses and/or an expansion of the material, which lead to plastic deformation of the material.
  • the material is preferably a metal. It would be conceivable, for example, that the metallic TSV surfaces in a hybrid substrate surface be bombarded in a targeted manner in order to generate plastic deformation there, which leads to compensation for the distortions.
  • the local action is generated by a coating applied to the substrate surface.
  • the substrate surface in particular the passive substrate surface, is preferably coated. Internal stresses and/or thermal stresses are preferably built into the coating.
  • the coating is a metal, a metal alloy, an oxide or a ceramic. Residual stresses can be adjusted by bombarding the coating with particles on an atomic scale, in particular ions, less preferably with coarse-grained particles on a nanometer or micrometer scale.
  • the residual stresses set in this way are predominantly compressive residual stresses.
  • Thermal stresses can be adjusted by the targeted deposition of a material with a known coefficient of thermal expansion. If the thermal expansion coefficient of the substrate differs from that of the coating, either tensile or compressive residual stresses arise in the coating when it is cooled from a coating temperature to an ambient temperature.
  • the coating can preferably be structured. Due to the structuring, i.e. the removal of material, internal stresses in the coating are locally reduced or increased. As a result, the coating also influences the underlying substrate and thus the distortion. In particular, the structuring can take place in such a way that the thickness of the coating is locally removed only partially. By setting a relief, the stress states in the coating and thus also in the substrate can be changed and the distortion in the substrate can be compensated.
  • the coating is an oxide, and in a particularly preferred embodiment it is a native oxide.
  • many substrates that come into contact with the environment are always coated with a native oxide that is a few nanometers thick. This eliminates the costly production of a coating.
  • the coating can in particular consist of at least one of the following materials or material classes...
  • Si3N4 Silicon nitride
  • the stress state of the coating and thus of the underlying substrate is preferably changed by the local, targeted removal or structuring of the oxide. This change in turn requires compensation for the distortion. If the native oxide is too thin, a thermal oxide can be created.
  • the thermal oxide is particularly advantageously produced on the active substrate surface before the production of active components. This means that the active components are not exposed to high thermal loads.
  • a substrate with a thermal oxide is purchased and the active substrate surface is freed from the thermal oxide by thinning back, so that the thermal oxide only remains on the passive substrate surface.
  • the coating is a polymer.
  • the internal stresses here are mainly caused by the curing of the polymer, which in particular leads to crosslinking of the polymer.
  • the polymer is structured by photolithography and/or imprint lithography.
  • residual stresses in particular residual tensile or compressive stresses (hereinafter simply referred to as residual stresses) can be generated.
  • the internal stresses generated in this way cause a mostly elastic deformation of the surrounding material and are therefore able to compensate for the existing distortions. If the internal stresses remain, the elastic deformation and thus the compensation of the distortions also remain.
  • the elastic compensation of distortions thus describes a further possibility for compensating for distortions, in addition to compensating for distortions due to permanent, in particular plastic, deformation.
  • the internal stresses mentioned are caused in particular by layers applied to the at least one substrate surface, which layers can in particular be structured.
  • the invention is particularly suitable for compensating for deviations from the target state that result from process steps that have already taken place, in order to prepare the substrates for subsequent process steps, in particular in order to be able to achieve better results in the subsequent process steps.
  • the invention can preferably also be used to compensate in advance for known and/or expected irregularities in future process steps, in particular to make provision for them.
  • expected distortions are maintained.
  • the substrates are deformed before a process is carried out using the method according to the invention in such a way that the process can take place more uniformly and irregular distortions are thus minimized, in particular largely eliminated.
  • the at least one local action causes deformations of the substrate, in particular at the edges of the substrate.
  • the substrate is bent upwards at least in certain areas at the edges. This can be caused in particular by laser bombardment at the edges of the substrate.
  • the distortions are compensated for by the deformations of the substrate.
  • the target state of the substrate can be such that the periphery of the substrate is slightly curved upwards.
  • the actions according to the invention are carried out in such a way that, on the one hand, the distortions on the substrate surface can be compensated for and, at the same time, the periphery of the substrate curves slightly upwards. In a subsequent bonding process, this can preferably reduce or even prevent the formation of edge defects (edge voids).
  • the curvature of the substrate is adjusted in such a way that the edges curve concavely in relation to the bond contact surface so that the natural acceleration of the bond wave towards the wafer edge is counteracted, and the bond wave is preferably up to 5 mm in particular up to 3 mm, with particular preference up to 2 mm towards the edge at a continuous speed and/or has a radius of curvature at the contact point of the wafer which deviates at most +/-30% or preferably +/-20% from the radius of curvature at the contact point of the wafer , which is present after 50mm from the bond initiation point.
  • the edges of at least one of the two wafers are curved in a convex manner with respect to the bonding contact surface so that during the later bonding process the lower distortion of the wafer in the edge area, which is often observed, is caused in particular by the falling atmospheric pressure in the space between the wafers, immediately in front of the contact point of the wafers along the bonding shaft, is held up by compensation using the method according to the invention.
  • the local action is generated by removing material from the substrate.
  • parts of the substrate are removed on at least one of the substrate surfaces. Removal is by sawing, laser, ion or atomic bombardment or any other suitable method of material removal.
  • the substrate will deform accordingly in the vicinity of the material removal, in particular if it has internal stresses.
  • This embodiment is particularly suitable for use on the passive substrate surface, in particular if this is to be thinned back in a later method step by a back-thinning process.
  • the substrate can be further processed.
  • the invention can be used to change distortion of the lithographic pattern. This ensures that subsequent method steps are carried out on an undistorted or rectified layer.
  • a method is carried out in which the substrate surface is measured and the distortions on the substrate surface are then compensated for and the substrate surface is then measured again.
  • a first method step at least one, in particular the active, substrate surface is measured.
  • the Measurement is preferably carried out with an interferometer.
  • the measurement of the substrate surface leads to a distortion map.
  • the distortion map represents the deviation of the actual state from the target state.
  • the distortion map is saved by software or hardware.
  • the necessary compensations are calculated in order to convert the actual state into the target state, i.e. to compensate for all distortions accordingly.
  • This step can be omitted if the compensation method according to the invention can be carried out using obvious steps. If, for example, distortions along an x-axis have to be compensated for and it is known that the application of a compensation method according to the invention at a point on the x-axis delivers the necessary result, an exact calculation can be dispensed with.
  • the calculations are preferably carried out using models which describe the effect of the compensation method on the distortion.
  • these are mechanical cal models.
  • models that describe experimentally obtained data can also be used with advantage. Both variants can or will preferably be combined and the mechanical model is preferably continuously calibrated, in particular with experimentally obtained data.
  • the models particularly preferably use finite element methods (FEM) simulations, at least in part.
  • At least one inventive compensation method is carried out in order to compensate for the distortions.
  • the compensation method according to the invention is used in parallel with the Measurement of the substrate surface.
  • a control loop can be used to monitor any distortion compensation that is carried out and regulate it accordingly. Due to the in-situ monitoring of the compensation, a particularly fast, exact and cost-effective compensation of all distortions is possible.
  • a fourth method step the at least one, in particular the active, substrate surface is measured again.
  • the measurement of the substrate surface again leads to a distortion map.
  • the distortion map represents the deviation of the actual state from the target state.
  • the distortion map is saved by software or hardware. If the distortion map still shows too many and/or excessive distortions, individual positions on the substrate surface can be approached again and the third method step is repeated accordingly. If a distortion map with minimal distortions, in particular no more distortions, is measured, the method can be aborted.
  • the distortion imposed by the compensation method according to the invention is determined by forming the difference between the measurement before the method and after the method.
  • This information can be used in a feedback loop for, in particular, continuous calibration of the compensation method according to the invention.
  • the process and/or device parameters for subsequently processed substrates can thus preferably be selected in such a way that the results better achieve the desired target state.
  • This continuous calibration preferably enables stable results over a large number of substrates if the quality of these substrates is subject to a trend.
  • Another subject matter of the invention relates to a method for bonding two substrates, with distortions of at least one of the substrates being compensated for using the method according to the invention or with the device according to the invention, and the two substrates then being bonded to one another.
  • the course of the bond wave can be influenced by the compensation of the distortions according to the invention.
  • the bonding wave should preferably propagate symmetrically and/or concentrically in relation to the contact point.
  • the distortions are particularly preferably influenced in such a way that the bonding wave speed decreases towards the edge. As a result, the formation of edge defects is minimized or even avoided as far as possible. At least one of the two substrates involved in the bonding process is convexly curved towards the bond interface. The distortions are therefore compensated for in particular in such a way that there is a slightly convex curvature towards the bonding interface.
  • the distortions are preferably compensated for in such a way that the substrate surface can be described as part of a sphere, a parabola or an ellipsoid during bonding.
  • ideal bonding results can be achieved, i.e. the deviations between the partial areas of both substrates to be bonded are minimized.
  • a first substrate can be bonded to a second substrate. It is conceivable that the distortions of the second substrate were also compensated for by the method according to the invention. But it is also conceivable that the distortions of the first substrate have been compensated in such a way that the areas of the two substrates to be bonded to one another are congruent or have minimal deviations from one another. In this case, the distortion compensation need only be performed on the first substrate.
  • a prerequisite for a good bonding result is, in particular, that the positions of the areas to be bonded to each other on both substrates have been measured very well.
  • the invention is particularly suitable for compensating for the distortions of substrate surfaces of two hybrid substrates that have electrical and dielectric areas.
  • the metallic areas of the hybrid substrates are the surfaces of the TSVs (through silicon vias), which must be positioned correctly before and after the bonding process in order to guarantee an intact electrical connection between the two substrates.
  • distortion maps are recorded as described in publication WO2012079786A1.
  • Figure la a plan view of a substrate in a target state
  • FIG. 1b shows a top view of a substrate in an actual state
  • FIG. 1 c is a plan view of a substrate with compensated distortion
  • FIG. 2 shows a side view with several according to the invention
  • Figure 3 is a side view of a substrate with global distortions
  • Figure 4 is a side view of the substrate without global distortions.
  • the same components or components with the same function are identified by the same reference symbols.
  • FIG. 1a shows a top view of a very simplified substrate 1 in a desired state.
  • the substrate 1 has five structures 2 on its active substrate surface 1a.
  • the structures 2 can be components such as MEMS, LEDs or chips. It is conceivable that the structures 2 are lithographically produced structures. For the sake of simplicity, only five structures 2 are shown and each of the structures 2 is symbolized by a simple square. The number, shape, orientation of the structures 2 can generally be arbitrary.
  • Figure 1a represents the target state, i.e. the optimal arrangement and orientation of structures 2 in relation to substrate 1.
  • Figure 1a shows a coordinate system with an X and a Y axis for structure 2 on the right. These two axes span a plane for structure 2 on the right.
  • FIG. 1b shows a top view of a very simplified substrate 1 in an actual state and an enlargement of a structure 2' in the lower right corner.
  • Errors in the production or influencing of the active substrate surface 1a and/or a passive substrate surface 1p can cause some, generally all, structures 2, 2′ to deviate 4 from their target positions and orientations.
  • This deviation 4 is shown in FIG. 1b using the structure 2' on the right.
  • Structure 2' is translated along the x and y axes. A slight rotation to the ideal position would also be conceivable. For the sake of clarity, this is not shown in the figure.
  • the deviation 4 from the target position is referred to as distortion.
  • FIG. 1c shows a top view of a very simplified substrate 1 in which a compensation method according to the invention, in the present case the action of a laser 3, 3', leads to a compensation 7 of the distortion 4.
  • Two laser points 3, 3' are shown.
  • the laser point 3 has an elongated shape and is aligned vertically, the laser point 3' has a circular shape.
  • the laser points 3 , 3 ′ each produce corresponding areas of influence 6 , 6 ′ in which physical and/or chemical reactions take place, which lead to the compensation 7 of the distortion 4 .
  • These two laser points 3, 3' are also intended to illustrate that several laser point shapes are possible.
  • the compensation method according to the invention is carried out on the active substrate surface 1a. All compensation methods can also be carried out on the passive substrate surface 1p, which is opposite the active substrate surface 1a.
  • FIG. 2 shows a side view of a substrate 1.
  • the substrate 1 has a plurality of structures 2 on its active substrate surface 1a.
  • the substrate will again show distortions at different positions. These distortions are not shown explicitly in FIG.
  • Several exemplary compensation methods according to the invention are illustrated by means of enlargements (A-D).
  • the two enlargements A each describe the compensation 7 of distortions 4 by introducing energy with the aid of electromagnetic waves, in particular a laser and/or particles, in particular ions.
  • an area of influence 6 in which a physical and/or chemical reaction takes place, which is in particular irreversible and can each contribute to the compensation 7 of the distortion 4.
  • the enlargements A were shown on the active substrate surface 1a and on the passive substrate surface 1p in order to show that this type of compensation 7 can advantageously be carried out on both substrate surfaces 1a, 1p.
  • the enlargement B describes the compensation 7 of distortions 4 by introducing energy with the aid of electromagnetic waves, in particular a laser and/or particles, in particular ions, into a coating 5 which is located on the substrate 1.
  • the coating 5 is preferably located on the passive substrate surface 1p, since the active substrate surface 1a is preferably uncoated for further processing.
  • the coating 5 is changed in the area of influence 6 in such a way that residual tensile or compressive stresses build up in it. These, in turn, can be generated by the same physical and/or chemical reactions as in other compensation methods. It would be conceivable, for example, for a metastable phase to be converted into a stable phase which has a larger volume than the metastable phase. In this case, residual compressive stresses build up. If the stable phase has a smaller volume than the initial phase, internal tensile stresses build up.
  • the implantation of ions, atoms or molecules which lead to the development of printing properties, is conceivable. Material removal by sublimation and/or melting is conceivable. The removal of individual chemical components of a compound by supplying heat is conceivable.
  • the coating 5 could outgas due to the supply of heat, for example, and in particular could lose water, oxygen or nitrogen compounds.
  • the coating is an oxide, most preferably a native oxide.
  • the enlargement C describes the compensation 7 of distortions 4 by the complete removal of the coating 5 and/or even the removal of parts of the substrate 1.
  • the partial removal of the substrate 1 can also be carried out on the active substrate surface 1a, but is less there advantageous since the structures 2 could be damaged and/or soiled as a result.
  • a partial removal of the substrate 1 at the passive substrate surface 1p can be removed in later method steps by a back-thinning process.
  • the enlargement D describes the compensation 7 of distortions 4 by structuring the coating 5.
  • the coating 5 is structured using a lithography process.
  • the structuring is preferably carried out using imprint lithography.
  • the material of the coating is preferably a polymer.
  • the use of maskless photolithography is also conceivable.
  • a device with at least one SLM, in particular a DMD is used.
  • the structuring changes the effect of the internal stresses of the coating 5 on the underlying substrate and thus allows the compensation 7 of the distortions 4.
  • FIG. 3 shows a side view of a substrate 1 with global distortions.
  • the global distortions are location-dependent distortions over the entire substrate 1 .
  • actions can be generated in the areas of influence 6 (FIG. 4) which result in the desired compensations.
  • the compensations then lead to the desired result, for example the undistorted substrate 1 (see FIG. 4).
  • FIG. 4 shows the application of the method according to the invention, in that actions are generated in a targeted manner in the areas of influence 6 in order to generate deformations at the edges, so that the substrate 1 arches upwards at the edges.
  • the curvature is exaggerated in the figure for the sake of clarity.

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Kompensation (7) von Verzerrungen (4) auf einer Substratoberfläche (1a,1p) eines Substrats (1), ein Verfahren zum Bonden zweier Substrate sowie ein Produkt.

Description

Verfahren und Vorrichtung zur Kompensation von Verzerrungen
Beschreibung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung gemäß den nebengeordneten Patentansprüchen.
In der Halbleiterindustrie werden unterschiedliche Substrate verwendet, um Bauteile, sogenannte Devices, herzustellen. Die am häufigsten verwendete Art von Substraten sind sogenannte Wafer.
Der Herstellprozess eines solchen Bauteils umfasst mehrere, manchmal hunderte, Prozesse mit mehreren Prozessschritten. Bei den Prozessen handelt es sich beispielsweise um Beschichtungs-, Präge-, Belichtungs-, Reinigungs-, Ätz-, Bond-, Debond- oder Rückdünnprozesse. Ziel der unterschiedlichen Prozesse ist meistens die Herstellung mehrerer hundert bis tausend einzelner Bauteile auf einem Sub strat.
Alle diese Prozesse sind grundsätzlich fehlerbehaftet. Beispielswei se kann in einem Computer eine lithographische Maske mit hoher Genauigkeit definiert werden. Deren Herstellung wird aber durch Herstellverfahren fehlerbehaftet sein. Aus einer fehlerbehafteten Maske ergeben sich notwendigerweise auch fehlerbehaftete Belichtungen. Denkbar ist auch, dass ein maskenloses Lithografieverfahren verwendet wird, bei dem eine oder mehrere SLMs (engl . : spatial light modulators), insbesondere DMDs (engl . : digital micromirror device) verwendet werden, mit dem eine fehlerhafte Belichtung erfolgt, die korrigiert werden muss.
Ähnliche Probleme treten bei Verfahren auf, bei denen es starke mechanische Einwirkungen auf ein Substrat gibt. Ein Substrat kann sehr exakte Strukturen auf einer Sub stratoberfläche aufweisen. Wird die Rückseite des Sub strats aber zurückgeschliffen oder auch nur poliert, kann dieses zu einer unerwünschten Verzerrung des Substrats, insbesondere der Substratoberfläche, führen.
Möglich ist also, dass Substrate auch großflächig verformt und verzerrt werden. Beispielsweise werden Substrate durch die Schleif- und/oder Polierprozesse einerseits gedünnt, andererseits werden auch Eigenspannungen in die Substrate eingebaut, die zu einer konvexen, konkaven Krümmung oder zu einem globalen Krümmungsmuster führen, das sich als Funktion des Ortes ändert. Bauteile auf solchen Sub straten werden dadurch, auch wenn sie sich vor dem Schleif- und/oder Polierprozesse in einem unverzerrten Zustand befunden haben, nachträglich erneut verzerrt.
Denkbar wäre auch, dass zwei Substrate miteinander verbondet werden und es durch den Bondvorgang zu einer Verzerrung einer der äußeren Substratoberflächen kommt. Wird eine der äußeren Substratoberflächen mit einem weiteren Substrat verbondet, das unverzerrt i st, ist die Bondoberfläche zwischen beiden Substraten dennoch fehlerbehaftet. In dieser Druckschrift wird die Differenz zwi schen einem Ist-Zustand und einem Soll-Zustand als Verzerrung bezeichnet. Diese Verzerrung kann entweder mechanischer Natur sein, wie sie beispielsweise beim Einbringen mechanischer Spannungen durch einen Schleifprozess entsteht, oder es kann sich dabei um die Abweichung einer fotolithographisch belichteten Schicht von ihrem Soll-Zustand handeln, die durch eine fehlerhafte oder zumindest schlecht hergestellte lithographische Maske entsteht. In diesem Fall kann also das Substrat, auf dem sich die fotolithographisch belichtete Schicht befindet, selbst unverzerrt sein, aber die darauf hergestellte Struktur wird verzerrt hergestellt.
Die Verzerrungen sind im Allgemeinen ortsabhängig. Insbesondere ändern sie sich kontinuierlich als Funktion des Ortes. Die Verzerrungen können daher auch als Verzerrungsfelder angegeben werden. Verzerrungen sind also entweder lokal und/oder global . Der Einfachheit halber wird im weiteren Verlauf der Druckschrift aber immer nur von Verzerrungen gesprochen. Verzerrungen werden vorzugsweise als, insbesondere zweidimensionale, Vektoren beschrieben. Die Vektoren liegen innerhalb einer Tangentialebene an den Punkt ihres Ursprungs.
Verzerrungen können entweder auf der aktiven Substratoberfläche und/oder auf der der aktiven Substratoberfläche gegenüberliegenden passiven Substratoberfläche vorhanden sein und/oder kompensiert werden. Unter aktiver Substratoberfläche versteht man insbesondere j ene Substratoberfläche auf der sich funktionale Elemente, beispielsweise MEMS, LEDs, Transistoren, Beschichtungen etc. befinden, während die passe Substratoberfläche beispielsweise der Fixierung dient. Jede passive Substratoberfläche kann in einem Herstellverfahren zur aktiven Substratoberfläche werden. Denkbar ist auch, dass ein Substrat über zwei aktive Sub stratoberflächen verfügt. Am Beginn eines Verfahrens sind beide Substratoberflächen meistens passiv. Insbesondere bei dünnen Substraten ist es denkbar, dass sich die Kompensation einer Verzerrung über die Substratdicke hinweg und damit auch auf die gegenüberliegende Substratseite auswirkt. Damit wird die Kompensation von Verzerrungen auf der aktiven Substratoberfläche von der passiven Substratoberfläche aus ermöglicht. Bevorzugt werden die Verzerrungen allerdings direkt an der aktiven Substratoberfläche kompensiert, insbesondere weil dadurch vorzugsweise eine besonders effiziente Überwachung möglich und denkbar ist.
Im Stand der Technik existieren Druckschriften, aus denen eine Beeinflussung einer Verformung eines Sub strats hervorgehen. Die Druckschrift WO2012083978A1 zeigt z.B . einen Substrathalter, der mit Hilfe mehrerer Verformungselemente lokale und/oder globale Verzerrungen eines Substrats kompensieren kann. Die Druckschrift WO2021079786A1 zeigt eine Vorrichtung, mit deren Hilfe Verzerrungen vermessen und teilweise kompensiert werden können.
Das Problem im Stand der Technik besteht insbesondere darin, dass die Kompensation von lokalen und/oder globalen Verzerrungen durch den Substrathalter erfolgt. Insbesondere ist die Kompensation der Verzerrungen nicht permanent, d.h. die Verzerrungen entstehen erneut, wenn die aktiven steuerbaren Verformungselemente der Substrathalter ausgeschaltet oder die Substrate entnommen werden.
Das Substrat verformt sich in seine ursprüngliche Form zurück, es verhält sich also elastisch. Im Stand der Technik versucht man, die Verzerrungen durch derartige Substrathalter zu kompensieren, bevor man weitere Prozessschritte an dem Substrat durchführt. Eines der wichtigsten Verfahren bei dem sichergestellt werden muss, dass die lokalen und/oder globalen Verzerrungen an mindestens einer Substratoberfläche kompensiert wurden, bevor weiterverfahren werden kann, ist das o.g. Bonden.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die Nachteile des Standes der Technik zu beseitigen.
Diese Aufgabe wird mit dem Gegenstand der vorliegenden Erfindung gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben. In den Rahmen der Erfindung fallen auch sämtliche Kombinationen aus zumindest zwei von in der Beschreibung, in den Ansprüchen und/oder den Figuren angegebenen Merkmalen. Bei angegebenen Wertebereichen sind auch innerhalb der genannten Grenzen liegende Werte als Grenzwerte offenbart und in beliebiger Kombination beanspruchbar.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kompensation von Verzerrungen auf mindestens einer Substratoberfläche eines Substrats, wobei auf mindestens einer der Sub stratoberflächen mindestens eine lokale Aktion erzeugt wird.
Die Erfindung betrifft weiterhin eine Vorrichtung zur Kompensation von Verzerrungen auf mindestens einer Substratoberfläche eines Sub strats, wobei auf mindestens einer der Substratoberflächen mindestens eine lokale Aktion erzeugbar ist.
Die Erfindung betrifft weiterhin ein Produkt, hergestellt mit dem erfindungsgemäßen Verfahren und/oder der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
Insbesondere wenn mehrere Verzerrungen vorhanden sind, müssen nicht alle vorhandenen Verzerrungen kompensiert werden. Es ist auch möglich, einige Verzerrungen bestehen zu lassen, um eine gewünschte Verformung zu erzielen. Vorzugsweise werden aber vor allem Verzerrungen in der Nähe funktionaler Einheiten und Strukturen kompensiert, da derartige Verzerrungen einen Nachteil bei weiteren Verfahrensschritten darstellen.
Denkbar ist insbesondere, dass die mindestens eine lokale Aktion mit dem Ziel erzeugt wird, Verformungen zu erzeugen, um das Substrat in eine gewünschte Form zu bringen. Insbesondere kann ein Teilbereich des Substrats, das keine Verzerrung aufweist, durch die mindestens eine lokale Aktion verformt werden, um eine Verzerrung in einem anderen Teilbereich zu kompensieren.
Die mindestens eine lokale Aktion kompensiert die mindestens eine Verzerrung an mindestens einer Substratoberfläche und erzeugt insbesondere Verformungen an einer anderen Stelle. Die neu erzeugten Verformungen werden den neu geschaffenen Zustand der mindestens einen Substratoberfläche verbessern.
Insbesondere ist vorgesehen, dass die Vorrichtung Mittel zur Erzeugung der lokalen Aktion aufwei st, wobei die Mittel zur Erzeugung der lokalen Aktion vorzugsweise einen Laser umfassen.
Das Substrat ist insbesondere ein Wafer.
Das Substrat bzw. die Sub strate können j ede beliebige Form besitzen, sie sind aber bevorzugt kreisrund. Der Durchmesser der Substrate ist insbesondere industriell genormt. Für Wafer sind die industrieüblichen Durchmesser, 1 Zoll, 2 Zoll, 3 Zoll, 4 Zoll, 5 Zoll, 6 Zoll, 8 Zoll, 12 Zoll und 18 Zoll . Die Erfindung kann aber grundsätzlich für j edes Substrat unabhängig von dessen Durchmesser angewendet werden.
Unter Verzerrung fallen sowohl lokale als auch globale Verzerrungen.
Unter lokalen Verzerrungen versteht man insbesondere örtlich begrenzte, kleinflächige Verzerrungen, die keinen oder nur einen geringen Einfluss auf die gesamte Fläche des Substrats haben.
Unter einer globalen Verzerrung versteht man insbesondere die großflächige Abweichung eines Substrats, insbesondere Wafers, von seiner ebenen Form. Insbesondere dünne Substrate haben die Eigenschaft, sich durch mechanische und/oder chemische Beeinflussung und/oder die Gravitation großflächig zu verformen bzw. zu verbiegen. Die Substrate weisen in solchen Fällen starke globale Abweichungen von der Ebenheit auf. Typisch ist beispielweise eine konvexe, durchhängende Form eines an einem oberen Substrathalters nur peripher fixierten Substrats. Diese gravitativen Effekte sind meistens reversibel, sobald das Substrat vollflächig unterstützt wird. Schleif- und Polierprozesse können ein Substrat bleibend und großflächig wölben. Diese Wölbungen können konvex oder konkav sein oder sich als Funktion des Ortes ändern. Auch eine Beschichtung und/oder Ätzen eines Substrats kann ebenfalls zu einer globalen Verzerrung führen. Bei einer Beschichtung ist die globale Verzerrung meistens auf die Differenz in den thermi schen Ausdehnungskoeffizienten zwischen der Beschichtung und dem Substrat zurückzuführen. Da Beschichtungen meistens bei höheren Temperaturen durchgeführt werden und das beschichtete Sub strat nach der Beschichtung abgekühlt wird, erfolgt durch den Aufbau von thermischen Spannungen eine globale Verzerrung des Substrats. Es können globale Verzerrungen durch die Kompensation lokaler Verzerrungen kompensiert werden. Insbesondere kann durch die Durchführung mehrerer Kompensationen lokaler Verzerrungen entlang eines Rasters der mindesten einen Substratoberfläche eine globale Verzerrung kompensiert werden. Die Art und/oder Stärke, insbesondere die Intensität, der Kompensationen im Raster ändert sich als Funktion des Ortes so, dass die globale Verzerrung kompensiert wird.
Der Ursprung von Verzerrungen kann auch dahingehend unterschieden werden, ob die Verzerrungen durch die Eigenschaft des Substrats oder durch die Umgebung erzeugt werden. Beispielsweise kann eine Beschichtung, ein Schleif- oder Polierprozess, im Substrat erzeugte Bauteile, eine al s Funktion des Ortes variierende Dichte von Bauteilen auf dem Sub strat etc. zu Verzerrungen führen. Diese Verzerrungen werden als intrinsisch bezeichnet. Die Verzerrungen können auch erst durch die Fixierung an einem Substrathalter entstehen und sind möglicherweise sogar reversibel, d.h. verschwinden in der Regel bei der Entnahme vom Sub strathalter. Diese Verzerrungen werden als extrinsisch bezeichnet. Da die Substrate allerdings meistens auf einem Substrathalter prozessiert werden kommt einer Kompensation von Verzerrungen, hervorgerufen durch einen Substrathalter, ebenfalls eine große Bedeutung zu. Erfindungsgemäß können auch derartige Verzerrungen kompensiert werden. Extrinsische Verzerrungen werden beispielsweise hervorgerufen durch eine spezifische Substrathaltertopografie. Keine Substrathalteroberfläche kann perfekt geschliffen und poliert werden und weist immer eine Welligkeit auf.
Wird ein solcher Sub strathalter z.B . in einer Bondanlage verwendet, kann es von Vorteil sein, die Sub strate auf dem Substrathalter zu fixieren und danach ein erfindungsgemäßes Verfahren zur Kompensation der Verzerrungen durchzuführen, um die für den Bondprozess vorgesehene Substratoberfläche so anzupassen, dass das Bondergebnis optimal wird. Denkbar ist sogar, dass die Verzerrungen vor der Fixierung des Substrats am Substrathalter so kompensiert werden, dass bei der Fixierung des Substrats am Substrathalter die gewünschte Substratoberfläche vorhanden ist.
Die Erfindung ist geeignet, um alle genannten Arten von Verzerrungen zu kompensieren.
Die lokale Aktion umfasst bzw. erzeugt:
-eine physikalische und/oder chemische Reaktion, und/oder -Mechanische und/oder thermische Spannungen, und/oder -Verformungen und/oder Verwölbungen des Substrats, insbesondere am Rand des Substrats, und/oder
-Materialentfernung an der mindestens einen Substratoberfläche.
Die Verzerrungen befinden sich insbesondere auf einer aktiven Substratoberfläche. Die aktive Substratoberfläche weist insbesondere Strukturen auf, wie zum Beispiel LEDs, MEMS etc.
Es können eine oder mehrere Verzerrungen kompensiert werden. Diese können gleichzeitig oder nacheinander kompensiert werden.
Die mindestens eine lokale Aktion kann auf der aktiven Substratoberfläche und/oder auf einer passiven Sub stratoberfläche erzeugt werden, welche der aktiven Substratoberfläche gegenüberliegt. Es können mehrere lokale Aktionen erzeugt werden, die gleichzeitig oder nacheinander erzeugt werden. Wenn mehrere lokale Aktionen erzeugt werden, können diese auf der aktiven Substratoberfläche und/oder auf der passiven Substratoberfläche erzeugt werden.
Erfindungsgemäß i st es insbesondere vorteilhaft möglich, bleibende, insbesondere plastische, Veränderungen in dem Substrat, vorzugsweise gezielt lokal, einzubringen. Dadurch i st es erfindungsgemäß insbesondere möglich, das Substrat lokal und/oder global so zu verformen, dass seine Oberflächentopologie an einen Soll-Zustand angepasst wird.
In einer bevorzugten Ausführungsform ist vorgesehen, dass die lokale Aktion durch eine elektromagnetische Strahlung, bevorzugt durch einen Laser, erzeugt wird. Die elektromagnetische Strahlung bzw. der Laser verfügt über die notwendigen Parameter, mit denen eine physikalische und/oder chemische Reaktion in der näheren Umgebung der Verzerrung ausgelöst werden kann, sodass die Verzerrung kompensiert werden kann.
Dabei ist es nicht notwendig, dass die elektromagnetische Strahlung bzw. der Laser genau auf den Punkt der Verzerrung einwirken muss. Der Laser muss so auf die nähere Umgebung der Verzerrung einwirken, dass die Verzerrung kompensiert wird.
In einer anderen bevorzugten Ausführungsform wird ein Laser verwendet, dessen Pulsdauer eingestellt werden kann. Sollte die Pulsdauer nicht eingestellt werden können, wird ein Laser mit möglichst kurzer Pulsdauer, vorzugsweise im Piko- oder Femtosekundenbereich verwendet. Kurze Pulsdauern bewirken eine rein lokale Erhitzung, welche notwendig sein kann, um die genannte physikalische und/oder chemische Reaktion zu bewirken, die für die Kompensation der Verzerrung notwendig ist. Die Pulsdauern sind kleiner als I O'5 s, vorzugsweise kleiner als 10'7 s, noch bevorzugter kleiner als 10'9 s, am bevorzugtesten kleiner als 10'12 s, am allerbevorzugtesten kleiner als 10'15 s.
Die Laserleistung ist größer al s 1 Watt, vorzugsweise größer als 10 Watt, noch bevorzugter größer als 100 Watt, am bevorzugtesten größer als 1000 Watt, am allerbevorzugtesten größer als 10000 Watt.
In einer anderen bevorzugten Ausführungsform wird ein Laser verwendet, dessen Laserstrahlform, insbesondere durch optische Elemente, geformt werden kann. Dadurch wird es vorteilhafter Weise möglich, zwischen einem kreisrunden und einem longitudinalen Laserstrahl zu wechseln. Ein longitudinal geformter Laserstrahl wird einen anisotropen Effekt zur Folge haben, da seine horizontale Photonendichteverteilung sich von seiner vertikalen Photonendichteverteilung unterscheidet.
In einer anderen bevorzugten Ausführungsform wird der Laser in einer maskenlosen Belichtungsvorrichtung verwendet, die über mindestens ein SLM (engl . : spatial light module), insbesondere mindestens ein DMD (engl . : digital micromirror device), verfügt. Durch das Rastern und den örtlich aufgelösten Beschuss der Substratoberfläche kann die Kompensation der Verzerrung besonders gut gesteuert werden.
In einer anderen bevorzugten Ausführungsform wird eine Überwachung der Substratoberfläche durchgeführt, wobei die Kompensation in-situ beobachtet wird. Bevorzugt wird ein Laser in ein optisches System einer Metrologievorrichtung, welche zur Überwachung der Substratoberfläche verwendet werden kann, eingekoppelt. Dadurch wird eine besonders effiziente Möglichkeit geschaffen, die Kompensation der Verzerrung in-situ zu beobachten.
Folgende lokale Aktionen insbesondere Reaktionen bzw. physikalische und/oder chemische Effekte sind denkbar, die zur Kompensation der Verzerrung führen können.
Denkbar ist, dass eine Einwirkung z.B . eines Laserstrahls zu einem lokalen Aufschmelzen und anschließendem Erstarren der lokalen Umgebung, auf die z.B . der Laser einwirkt, führt. Durch das Aufschmelzen und Erstarren können Eigenspannungen lokal im Substrat auf- oder abgebaut werden.
Denkbar ist auch, dass das Aufschmelzen und Erstarren zu einer bleibenden Volumenänderung führen. Unter der Annahme der Massenerhaltung muss das Material, und bei gleicher Dichte damit auch das Volumen, erhalten bleiben. Allerdings werden beim Schmelzvorgang Atome den Schmelzverband verlassen und auf Grund der immensen Hitze des Laserstrahl s sofort sublimieren und in die Umgebung abgegeben werden. Damit wird die Masse geringer und bei gleichbleibender Dichte auch das Volumen. Die Volumenverminderung führt dazu, dass sich die Umgebung in den Bereich des Lasers ausdehnen kann, insbesondere wenn die Umgebung unter Druckeigenspannungen steht.
Eine weitere Möglichkeit besteht darin, dass sich beim Erstarrungsvorgang die Dichte ändert. Eine Dichteänderung kann entweder durch den Entzug einer gelösten Komponente, die Aufnahme, d.h. die Lösung, einer Komponente oder durch Blasen- bzw. Porenbildung erfolgen. Die Blasen- bzw. Porenbildung i st meistens unerwünscht, kann aber akzeptabel sein, wenn die Seite der Lasereinwirkung in einem späteren Verfahrensschritt weggeschliffen bzw. wegpoliert wird.
Denkbar ist auch, dass die Einwirkung der elektromagnetischen Strahlung bzw. des Laserstrahls zu einer Festkörperphasenumwandlung führt. Die Festkörperphasenumwandlung sollte bevorzugt nicht reversibel sein. Das Substrats besitzt in diesem Fall mindestens eine metastabile Phase, um durch die Wärmeeinwirkung des Laserstrahls in eine stabile Phase umgewandelt zu werden, die auch nach der Abkühlung der Umgebung stabil bleibt. Denkbar ist beispielsweise die Amorphisierung mindestens einer Substratoberfläche, die dann nach der Einwirkung eines Laserstrahls rekristallisiert.
Denkbar ist auch, dass durch die Phasenumwandlung Zug- oder Druckeigenspannungen entstehen, welche die nähere Umgebung, insbesondere elastisch, verformen.
Eine weitere Möglichkeit besteht darin, dass durch die Einwirkung des Laserstrahls und die damit einhergehende Erwärmung thermi sche Spannungen und/oder eine Ausdehnung des Materials erzeugt werden, welche zu einer plastischen Verformung des Materials führen. Bei dem Material handelt es sich in diesem Fall vorzugsweise um ein Metall . Denkbar wäre beispielsweise, dass man gezielt die metalli schen TSV Oberflächen in einem Hybridsub stratoberfläche beschießt, um dort eine plastische Verformung zu erzeugen, welche zur Kompensation der Verzerrungen führt.
In einer anderen beispielhaften Ausführungsform wird die lokale Aktion durch eine Beschichtung erzeugt, welche auf die Substratoberfläche aufgebracht wird. Bevorzugt wird die Substratoberfläche, insbesondere die passive Substratoberfläche, beschichtet. Vorzugswei se werden in die Beschichtung Eigenspannungen und/oder thermische Spannungen eingebaut.
Insbesondere handelt es sich bei der Beschichtung um ein Metall, eine Metalllegierung, ein Oxid oder eine Keramik. Eigenspannungen können durch einen Beschuss der Beschichtung mit Partikeln in atomaren Maßstab, insbesondere Ionen, weniger bevorzugt durch grobkörnige Partikel im Nanometer- bzw. Mikrometer Maßstab, eingestellt werden.
Die so eingestellten Eigenspannungen sind vorwiegend Druckeigenspannungen. Thermische Spannungen können durch die gezielte Abscheidung eins Materials mit bekanntem thermischem Ausdehnungskoeffizienten eingestellt werden. Unterscheidet sich der thermische Ausdehnungskoeffizient des Substrats von j enem der Beschichtung, stellen sich bei einer Abkühlung von einer Beschichtungstemperatur auf eine Umgebungstemperatur entweder Zug- oder Druckeigenspannungen in der Beschichtung ein.
Bevorzugt kann die Beschichtung strukturiert werden. Durch die Strukturierung, also durch die Entfernung von Material, werden Eigenspannungen in der Beschichtung lokal ab- bzw. aufgebaut. Dadurch beeinflusst die Beschichtung auch das darunterliegende Substrat und damit die Verzerrung. Insbesondere kann die Strukturierung so erfolgen, dass die Beschichtung lokal nur teilweise in der Dicke abgetragen wird. Durch die Einstellung eines Reliefs können die Spannungszustände in der Beschichtung und damit auch im Substrat geändert und die Verzerrung im Sub strat kompensiert werden. In einer bevorzugten Ausführungsform handelt es sich bei der Beschichtung um ein Oxid, in einer besonders bevorzugten Ausführungsform um ein natives Oxid. Vorteilhafterweise sind viele Sub strate, die mit der Umgebung in Kontakt kommen, immer mit einem nativen Oxid überzogen, das einige Nanometer dick ist. Dadurch entfällt die kostspielige Herstellung einer Beschichtung.
Die Beschichtung kann insbesondere aus mindestens einem der folgenden Materialien bzw. Materialklassen bestehen ...
- Oxid, insbesondere
-- Siliziumdioxid (SiO2), bevorzugt
---Natives Siliziumdioxid (SiO2)
- Keramik, insbesondere
-- Siliziumnitrid (Si3N4)
- Halbleiter, insbesondere
-- Ge, Si, Alpha-Sn, B, Se, Te
- Verbindungshalbleiter
-- GaAs, GaNInP, InxGal -xN ,InSb, InAs, GaSb, AIN, InN, GaP, BeTe, ZnO, CuInGaSe2, ZnS, ZnSe, ZnTe, CdS, CdSe, CdTe, Hg( l -x)Cd(x)Te, BeSe, HgS, AlxGal -xAs, GaS, GaSe, GaTe, InS, InSe, InTe, CuInSe2, CuInS2, CuInGaS2, SiC, SiGe
- Metall, insbesondere
- Cu, Ag, Au, Al, Fe, Ni, Co, Pt, W, Cr, Pb, Ti, Ta, Zn, Sn
- Metalllegierung
- Polymer, insbesondere
-- Polymere aus Sol-Gelen, insbesondere --- Polyhedrales oligomerisches Silsesquioxan (POS S), Polydimethylsiloxan (PDMS), Tetraethylorthosilicat (TEOS), Poly(organo)siloxane (Silikon), Perfluoropolyether (PFPE)
Bevorzugt wird durch die lokale, gezielte Abtragung bzw. Strukturierung des Oxids der Spannungszustand der Beschichtung und damit des darunterliegenden Substrats geändert. Diese Änderung bedingt wiederum die Kompensation der Verzerrung. Sollte das native Oxid zu dünn sein, kann ein thermi sches Oxid erstellt werden. Besonders vorteilhaft wird das thermische Oxid bereits vor der Herstellung von aktiven Bauteilen auf der aktiven Substratoberfläche hergestellt. Damit werden die aktiven Bauteile keiner hohen thermischen Belastung ausgesetzt. In einer besonders bevorzugten Vorgehensweise wird ein Substrat mit thermischem Oxid eingekauft und die aktive Substratoberfläche durch Rückdünnen vom thermischen Oxid befreit, sodass das thermische Oxid nur an der passiven Substratoberfläche vorhanden bleibt.
In einer anderen bevorzugten Ausführungsform handelt es sich bei der Beschichtung um ein Polymer. Die Eigenspannungen werden hier hauptsächlich durch die Aushärtung des Polymers hervorgerufen, welche insbesondere zu einer Vernetzung des Polymers führt. Die Strukturierung des Polymers erfolgt durch Fotolithografie und/oder Imprintlithografie.
Es können erfindungsgemäß insbesondere Zug- oder Druckeigenspannungen (im Weiteren nur mehr als Eigenspannungen bezeichnet) erzeugt werden. Die so erzeugten Eigenspannungen rufen eine meist elastische Verformung des umgebenden Materials hervor und sind dadurch in der Lage die vorhandenen Verzerrungen zu kompensieren. Bleiben die Eigenspannungen aufrecht, so bleibt auch die elastische Verformung und damit die Kompensation der Verzerrungen aufrecht. Die elastische Kompensation von Verzerrungen beschreibt damit eine weitere Möglichkeit, um Verzerrungen zu kompensieren, zusätzlich zur Kompensation der Verzerrungen durch bleibende, insbesondere plastische, Verformung. Die genannten Eigenspannungen werden insbesondere durch auf die mindestens eine Substratoberfläche aufgebrachte Schichten, die insbesondere strukturiert werden können, hervorgerufen.
Grundsätzlich eignet sich die Erfindung insbesondere dazu, Abweichungen vom Soll-Zustand, die aus bereits erfolgten Prozessschritten resultieren, zu kompensieren, um die Substrate für nachfolgende Prozessschritte vorzubereiten, insbesondere um in den nachfolgenden Prozessschritten bessere Ergebnisse erzielen zu können.
Mit Vorzug kann das die Erfindung auch dazu eingesetzt werden, um bekannte und/oder erwartete Unregelmäßigkeiten zukünftiger Prozessschritte vorab zu kompensieren, insbesondere vorzuhalten. In einer bevorzugten Ausführungsform werden dabei erwartete Verzerrungen vorgehalten. In einer alternativen, besonders bevorzugten Ausführungsform werden die Substrate vor der Durchführung eines Prozesses mittels dem erfindungsgemäßen Verfahren derart verformt, dass der Prozess gleichmäßiger stattfinden kann und somit unregelmäßige Verzerrungen minimiert, insbesondere weitgehend eliminiert werden.
Gemäß einer anderen bevorzugten Ausführungsform ist vorgesehen, dass die mindestens eine lokale Aktion Verformungen des Substrats hervorruft, insbesondere an Rändern des Substrats. Insbesondere wird das Sub strat an den Rändern zumindest bereichsweise nach oben gebogen. Dieses kann insbesondere durch Beschuss mit Laser an den Rändern des Substrats hervorgerufen werden. Durch die Verformungen des Substrats werden die Verzerrungen kompensiert. Insbesondere kann der Soll-Zustand des Substrats so aussehen, dass die Peripherie des Substrats leicht nach oben gekrümmt wird. Die erfindungsgemäßen Aktionen werden so durchgeführt, dass sich einerseits die Verzerrungen an der Substratoberfläche kompensieren lassen, und dass sich gleichzeitig die Peripherie des Substrats leicht nach oben wölbt. In einem späteren Bondvorgang kann dadurch die Entstehung von Randdefekten (engl . : edge voids) vorzugsweise vermindert oder sogar verhindert werden.
In einer besonders bevorzugten Ausführungsform wird die Wölbung des Substrats so eingestellt, dass sich die Ränder soweit konkav mit Bezug auf die Bond-Kontaktfläche wölben, dass der natürlichen Beschleunigung der Bondwelle zum Wafer Rand hin entgegengewirkt wird, und die Bondwelle insbesondere bis 5 mm, bevorzugt bis 3 mm, mit besonderem Vorzug bis 2 mm zum Rand hin mit kontinuierlicher Geschwindigkeit läuft und / oder einen Krümmungsradius im Kontaktpunkt der Wafer aufweist, der maximal +/-30% oder mit Vorzug +/-20% vom Krümmungsradius im Kontaktpunkt der Wafer abweicht, der nach 50mm vom Bond-Initiierungspunkt vorliegt.
In einer alternativen Ausführungsform werden die Ränder von zumindest einem der beiden Wafer soweit nach konvex mit Bezug auf die Bond- Kontaktfläche gewölbt, dass beim späteren Bondvorgang die häufig zu beobachtende geringere Verzerrung des Wafers im Randbereich, insbesondere verursacht durch den abfallenden Atmosphären Druck im Raum zwischen den Wafern, unmittelbar vor dem Kontaktpunkt der Wafer entlang der Bondwelle, durch Kompensation mittels dem erfindungsgemäßen Verfahren vorgehalten wird.
In einer anderen beispielhaften Ausführungsform wird die lokale Aktion durch Entfernung von Material des Substrats erzeugt. Insbesondere werden an mindestens einer der Sub stratoberflächen Teile des Substrats entfernt. Die Entfernung erfolgt durch Sägen, Laser, Ionen oder Atombeschuss oder j ede andere geeignete Art der Materialentfernung. Durch die Materialentfernung wird sich das Substrat, insbesondere wenn es Eigenspannungen aufweist, in der Umgebung der Materialentnahme entsprechend verformen. Diese Ausführungsform eignet sich vor Allem für die Anwendung auf der passiven Substratoberfläche, insbesondere falls diese in einem späteren Verfahrensschritt durch einen Rückdünnprozess zurück gedünnt werden sollte.
Insbesondere nachdem die Verzerrungen erfindungsgemäß derart kompensiert wurden, dass sich am Substrat, insbesondere auf der mindestens einen Substratoberfläche, der gewünschte Soll-Zustand ergeben hat, kann das Substrat weiterprozessiert werden.
Besitzt das Substrat eine Substratoberfläche, die lithographisch behandelt wurde, kann die Erfindung dazu verwendet werden, um eine Verzerrung der lithographischen Struktur zu ändern. Dadurch wird sichergestellt, dass nachfolgende Verfahrensschritte an einer unverzerrten bzw. entzerrten Schicht durchgeführt werden.
In einer besonders bevorzugten Ausführungsform wird ein Verfahren durchgeführt, wobei eine Vermessung der Sub stratoberfläche erfolgt und danach die Kompensation der Verzerrungen auf der Substratoberfläche erfolgt und im Anschluss die Substratoberfläche erneut vermessen wird.
Insbesondere erfolgt in einem ersten Verfahrensschritt eine Vermessung mindestens einer, insbesondere der aktiven, Sub stratoberfläche. Die Vermessung erfolgt vorzugsweise mit einem Interferometer. Die Vermessung der Substratoberfläche führt zu einer Verzerrungskarte. Die Verzerrungskarte stellt die Abweichung des Ist-Zustandes vom Soll-Zustand dar. Die Verzerrungskarte wird von einer Software oder Hardware gespeichert.
In einem zweiten, optionalen, Verfahrensschritt erfolgt eine Berechnung der notwendigen Kompensationen, um den Ist-Zustand in den Soll-Zustand umzuwandeln, d.h. alle Verzerrungen entsprechen zu kompensieren. Auf diesen Schritt kann verzichtet werden, wenn das erfindungsgemäße Kompensationsverfahren durch naheliegende Schritte durchgeführt werden kann. Müssen beispielsweise Verzerrungen entlang einer x-Achse kompensiert werden und man weiß, dass die Anwendung eines erfindungsgemäßen Kompensationsverfahrens auf einem Punkt der x-Achse das notwendige Ergebnis liefert, kann auf eine exakte Berechnung verzichtet werden.
Mit Vorzug werden für komplexere Kompensationserfordernisse die Berechnungen mit Hilfe von Modellen durchgeführt, welche die Auswirkung des Kompensationsverfahrens auf die Verzerrung beschreiben. Insbesondere handelt es sich hierbei um mechani sche Modelle. Alternativ können mit Vorteil auch Modelle eingesetzt werden, die experimentell gewonnene Daten beschreiben. Mit Vorzug können bzw. werden beide Varianten kombiniert und das mechanische Modell wird insbesondere mit experimentell gewonnen Daten mit Vorzug kontinuierlich kalibriert. Mit besonderem Vorzug nutzen die Modelle zumindest teilweise Finite Elemente Methoden (FEM) Simulationen.
In einem dritten Verfahrensschritt wird mindestens ein erfindungsgemäßes Kompensationsverfahren durchgeführt, um die Verzerrungen zu kompensieren. In einer besonders bevorzugten Vorgehensweise erfolgt die Anwendung des erfindungsgemäßen Kompensationsverfahrens parallel zur Vermessung der Sub stratoberfläche. Durch eine Regelschleife kann j ede durchgeführte Kompensation einer Verzerrung überwacht und entsprechend geregelt werden. Durch die in-situ Überwachung der Kompensation ist eine besonders schnelle, exakte und kostengünstige Kompensation aller Verzerrung möglich.
In einem vierten Verfahrensschritt wird die mindestens eine, insbesondere die aktive, Substratoberfläche erneut vermessen. Die Vermessung der Substratoberfläche führt erneut zu einer Verzerrungskarte. Die Verzerrungskarte stellt die Abweichung des Ist-Zustandes vom Soll-Zustand dar. Die Verzerrungskarte wird von einer Software oder Hardware gespeichert. Sollte die Verzerrungskarte immer noch zu viele und/oder zu starke Verzerrungen aufzeigen, können einzelne Positionen der Substratoberfläche erneut angefahren werden und der dritte Verfahrensschritt wird entsprechend wiederholt. Sollte eine Verzerrungskarte mit minimalen Verzerrungen, insbesondere keinen Verzerrungen mehr vermessen werden, kann das Verfahren abgebrochen werden.
In einer besonders bevorzugten Ausführungsform wird die, durch das erfindungsgemäße Kompensationsverfahren eingeprägte Verzerrung durch Bildung der Differenz aus der Vermessung vor dem Verfahren und nach dem Verfahren ermittelt. Diese Information kann in einer Feedback-Schleife zur insbesondere kontinuierlichen Kalibrierung des erfindungsgemäßen Kompensationsverfahrens verwendet werden. Mit Vorzug können damit die Prozess und / oder Vorrichtungsparameter für nachfolgende prozessierte Substrate so gewählt werden, dass die Ergebnisse besser den angestrebten Sollzustand erreichen. Diese kontinuierliche Kalibrierung ermöglicht mit Vorzug stabile Ergebni sse über eine Vielzahl von Substraten, wenn die Qualität dieser Substrate einem Trendverlauf unterliegt. Ein anderer Gegenstand der Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bonden zweier Substrate, wobei Verzerrungen mindestens eines der Substrate mit dem erfindungsgemäßen Verfahren bzw. mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung kompensiert werden und danach die beiden Substrate miteinander gebondet werden.
Durch die erfindungsgemäße Kompensation der Verzerrungen kann insbesondere der Verlauf der Bondwelle beeinflusst werden. Vorzugsweise soll sich die Bondwelle symmetrisch und/oder konzentrisch in Bezug zum Kontaktpunkt ausbreiten.
Besonders bevorzugt werden die Verzerrungen so beeinflusst, dass die Bondwellengeschwindigkeit zum Rand hin abnimmt. Dadurch wird die Bildung von Randdefekten möglichst minimiert bzw. sogar vermieden. Mindestens eines der beiden Sub strate, die am Bondvorgang beteiligt sind, ist zur Bondgrenzfläche hin konvex gekrümmt. Es werden die Verzerrungen daher insbesondere so kompensiert, dass sich eine leicht konvexe Krümmung zur Bondgrenzfläche hin ergibt.
In mindestens einem der beiden Substrate werden die Verzerrungen vorzugsweise so kompensiert, dass sich die Substratoberfläche während des Bondens als Teil einer Kugel, einer Parabel oder eines Ellipsoids beschreiben lässt. Durch eine derartige mathematische Formgebung der Substratoberfläche lassen sich ideale Bondergebnisse erzielen, d.h. die Abweichungen zwischen den miteinander zu verbondenden Teilbereichen beider Substrate werden minimiert.
Ein erstes Substrat kann zu einem zweiten Substrat gebondet werden. Denkbar ist, dass die Verzerrungen des zweiten Substrats ebenfalls durch das erfindungsgemäße Verfahren kompensiert wurden. Denkbar ist aber auch, dass die Verzerrungen des ersten Substrats so kompensiert wurden, dass die zueinander zu bondenden Bereiche der beiden Substrate deckungsgleich sind, bzw. minimale Abweichungen voneinander aufweisen. In diesem Fall muss die Kompensation der Verzerrungen nur am ersten Substrat durchgeführt werden. Voraussetzung für ein gutes Bondergebnis ist insbesondere, dass die Positionen der miteinander zu verbondenden Bereiche an beiden Substraten sehr gut vermessen wurden.
Die Erfindung eignet sich insbesondere dafür, die Verzerrungen von Substratoberflächen zweier Hybridsubstrate, die über elektrische und dielektrische Bereiche verfügen, zu kompensieren. Die metallischen Bereiche der Hybridsub strate sind die Oberflächen der TSVs (engl . : through silicon vias), deren korrekte Positionierung vor und nach dem Bondvorgang gewährleistet sein muss, um eine intakte elektrische Verbindung zwischen den beiden Substraten zu garantieren. Insbesondere werden Verzerrungskarten, wie in der Druckschrift WO2012079786A1 beschrieben, aufgenommen.
Weitere Vorteile, Merkmale und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsbei spiele sowie anhand der Zeichnungen. Diese zeigen schematisch in:
Figur l a eine Aufsicht auf ein Substrat in einem Soll-Zustand,
Figur 1b eine Aufsicht auf ein Substrat in einem Ist-Zustand,
Figur 1 c eine Aufsicht auf ein Substrat mit kompensierter Verzerrung,
Figur 2 eine Seitenansicht mit mehreren erfindungsgemäßen
Kompensationsverfahren,
Figur 3 eine Seitenansicht eines Substrats mit globalen Verzerrungen, und
Figur 4 eine Seitenansicht des Substrats ohne globale Verzerrungen. In den Figuren sind gleiche Bauteile oder Bauteile mit der gleichen Funktion mit den gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet.
Die Figur la zeigt eine Aufsicht auf ein sehr vereinfachtes Substrat 1 in einem Soll-Zustand. Das Substrat 1 verfügt über fünf Strukturen 2 auf seiner aktiven Substratoberfläche l a. Bei den Strukturen 2 kann es sich um Bauteile wie MEMS, LEDs oder Chips handeln. Denkbar ist, dass es ich bei den Strukturen 2 um lithographi sch erzeugte Strukturen handelt. Der Einfachheit halber werden nur fünf Strukturen 2 dargestellt und j ede der Strukturen 2 wird durch ein einfaches Quadrat symbolisiert. Die Anzahl, Form, Orientierung der Strukturen 2 kann im Allgemeinen beliebig sein. Die Figur l a repräsentiert den Soll-Zustand, d.h. die optimale Anordnung und Orientierung der Strukturen 2 in Bezug zum Substrat 1. In der Figur l a ist ein Koordinatensystem mit einer X - und einer Y - Achse für die rechte Struktur 2 dargestellt. Diese beiden Achsen spannen eine Ebene für die rechte Struktur 2 auf.
Die Figur 1b zeigt eine Aufsicht auf ein sehr vereinfachtes Sub strat 1 in einem Ist-Zustand sowie in der rechten unteren Ecke eine Vergrößerung einer Struktur 2‘ . Durch Fehler in der Herstellung oder Beeinflussung der aktiven Substratoberfläche l a und/oder einer passiven Substratoberfläche 1 p können einige, im Allgemeinen alle, Strukturen 2,2‘ eine Abweichung 4 von ihren Soll-Positionen und Orientierungen unterliegen. Diese Abweichung 4 wird in der Figur 1b anhand der rechten Struktur 2‘ dargestellt. Die Struktur 2‘ i st entlang der x- und der y-Achse verschoben. Denkbar wäre auch eine leichte Rotation zur Idealposition. Der Anschaulichkeit halber wird darauf in der Figur verzichtet. Die Abweichung 4 von der Soll-Position wird als Verzerrung bezeichnet. Die Figur 1c zeigt eine Aufsicht auf ein sehr vereinfachtes Substrat 1 bei dem ein erfindungsgemäßes Kompensationsverfahren, im vorliegenden Fall die Einwirkung eines Lasers 3 , 3 ‘ zu einer Kompensation 7 der Verzerrung 4 führt. Dargestellt sind zwei Laserpunkte 3 , 3 ‘ . Der Laserpunkt 3 besitzt eine längliche Form und ist vertikal ausgerichtet, der Laserpunkt 3 ‘ besitzt eine kreisförmige Form. Die Laserpunkte 3 , 3 ‘ erzeugen j eweils entsprechende Einflussbereiche 6, 6‘ , in denen physikali sche und/oder chemische Reaktionen stattfinden, welche zur Kompensation 7 der Verzerrung 4 führen. Diese beiden Laserpunkte 3 , 3 ‘ sollen auch veranschaulichen, dass mehrere Laserpunktformen möglich sind.
In den Figuren la-l c wird das erfindungsgemäße Kompensationsverfahren an der aktiven Substratoberfläche l a durchgeführt. Es können alle Kompensationsmethoden auch auf der passiven Substratoberfläche 1 p durchgeführt werden, die der aktiven Substratoberfläche l a gegenüber liegt.
Die Figur 2 zeigt eine Seitenansicht eines Substrats 1. Das Substrat 1 verfügt an seiner aktiven Sub stratoberfläche l a über mehrere Strukturen 2. Im vorliegenden Fall könnte es sich beispielsweise um Mikrochips handeln, die im Substrat 1 erzeugt worden sind. Im Allgemeinen wird das Substrat wieder Verzerrungen an unterschiedlichen Positionen aufweisen. Diese Verzerrungen werden in der Figur 2 nicht explizit dargestellt. Mehrere beispielhafte erfindungsgemäße Kompensationsverfahren werden anhand von Vergrößerungen (A-D) dargestellt.
Die beiden Vergrößerungen A beschreiben j eweils die Kompensation 7 von Verzerrungen 4 durch das Einbringen von Energie mit Hilfe von elektromagnetischen Wellen, insbesondere einem Laser und/oder von Partikeln, insbesondere Ionen. Im Substrat 1 entsteht j eweils ein Einflussbereich 6, in dem eine physikalische und/oder chemische Reaktion stattfindet, die insbesondere irreversibel ist und so j eweils zu der Kompensation 7 der Verzerrung 4 beitragen kann. Die Vergrößerungen A wurden an der aktiven Substratoberfläche l a und an der passiven Substratoberfläche 1 p dargestellt, um aufzuzeigen, dass diese Art der Kompensation 7 vorteilhafterweise an beiden Substratoberflächen l a, l p durchgeführt werden kann.
Die Vergrößerung B beschreibt die Kompensation 7 von Verzerrungen 4 durch das Einbringen von Energie mit Hilfe von elektromagnetischen Wellen, insbesondere einem Laser und/oder von Partikeln, insbesondere Ionen, in eine Beschichtung 5, die sich auf dem Substrat 1 befindet. Die Beschichtung 5 befindet sich vorzugsweise an der passiven Substratoberfläche 1 p, da die aktive Substratoberfläche l a vorzugswei se unbeschichtet weiterprozessiert wird.
Die Beschichtung 5 wird im Einflussbereich 6 so verändert, dass sich in ihr Zug- oder Druckeigenspannungen aufbauen. Diese können wiederum durch dieselben physikalischen und/oder chemischen Reaktion erzeugt werden, wie in anderen Kompensationsverfahren. Denkbar wäre beispielswei se, dass es zu einer Umwandlung einer metastabilen Phase in eine stabile Phase kommt, die ein größeres Volumen als die metastabile Phase besitzt. In diesem Fall bauen sich Druckeigenspannungen auf. Besitzt die stabile Phase ein kleineres Volumen als die Ausgangsphase, bauen sich Zugeigenspannungen auf. Denkbar ist die Implantation von Ionen, Atomen oder Molekülen, welche zum Aufbau von Druckeigenschaften führen. Denkbar ist die Materialentfernung durch Sublimation und/oder Schmelzen. Denkbar ist die Entfernung einzelner chemischer Komponenten einer Verbindung durch Zufuhr von Wärme. Die Beschichtung 5 könnte beispielsweise durch Wärmezufuhr ausgasen, und insbesondere Wasser, Sauerstoff oder Stickstoffverbindungen verlieren. Vorzugsweise handelt es sich bei der Beschichtung um ein Oxid, am bevorzugtesten um ein natives Oxid. Die Vergrößerung C beschreibt die Kompensation 7 von Verzerrungen 4 durch die vollständige Entfernung der Beschichtung 5 und/oder sogar der Entfernung von Teilen des Sub strats 1. Die teilweise Entfernung des Substrats 1 kann auch an der aktiven Substratoberfläche l a durchgeführt werden, ist dort aber weniger vorteilhaft, da dadurch die Strukturen 2 beschädigt und/oder verschmutzt werden könnten. Des Weiteren kann eine teilweise Entfernung des Substrats 1 an der passiven Sub stratoberfläche 1 p in späteren Verfahrensschritten durch einen Rückdünnprozess entfernt werden.
Die Vergrößerung D beschreibt die Kompensation 7 von Verzerrungen 4 durch eine Strukturierung der Beschichtung 5. Dazu wird die Beschichtung 5 durch ein Lithografieverfahren strukturiert. Die Strukturierung erfolgt vorzugsweise mit Hilfe der Imprintlithografie. In diesem Fall ist das Material der Beschichtung vorzugsweise ein Polymer. Denkbar ist auch die Verwendung von maskenloser Fotolithografie. Bei einer maskenlosen Fotolithografie wird eine Vorrichtung mit mindestens einem SLM, insbesondere einem DMD verwendet. Durch die Strukturierung wird die Auswirkung der Eigenspannungen der Beschichtung 5 auf das darunterliegende Substrat verändert und erlaubt so die Kompensation 7 der Verzerrungen 4.
Von allen genannten Kompensationsverfahren ist die direkte Beeinflussung des Substrats 1 durch einen Laser die effizienteste Art, da auf die Abscheidung einer Beschichtung 5 gänzlich verzichtet werden kann. Die Verwendung einer Beschichtung 5 hat dann Vorteile, wenn die Beschichtung 5 durch natürliche Ursachen, insbesondere die Atmosphäre, entsteht, wie das bei nativen Oxiden der Fall ist. Die oben beschriebenen Ausführungsformen dienen lediglich der Veranschaulichung des erfindungsgemäßen Gedankens und schränken den Gegenstand der Erfindung in keiner Weise ein.
Die Figur 3 zeigt eine Seitenansicht eines Substrats 1 mit globalen Verzerrungen. Die globalen Verzerrungen sind ortsabhängige Verzerrungen über das gesamte Substrat 1 . Durch eine ortsabhängige, gezielte Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens, insbesondere eines Lasers, können Aktionen in den Einflussbereichen 6 (Figur 4) erzeugt werden, welche die gewünschten Kompensationen zur Folge haben. Die Kompensationen führen dann zu dem gewünschten Ergebnis, beispielsweise dem unverzerrten Sub strat 1 (siehe Figur 4).
Die Figur 4 zeigt die Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens, indem Aktionen in den Einflussbereichen 6 gezielt erzeugt werden, um Verformungen an den Rändern zu erzeugen, sodass sich das Sub strat 1 an den Rändern nach oben wölbt. Die Wölbung wird in der Figur der Anschaulichkeit halber übertrieben dargestellt.
Bezugszeichenliste
Substrat
Aktive Substratoberfläche
Passive Substratoberfläche
Struktur
Laser
Verzerrung
Beschichtung
Einflussbereich
Kompensation
Vergrößerungen
Achsen

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Kompensation (7) von Verzerrungen (4) auf mindestens einer Substratoberfläche (la,lp) eines Substrats (1), wobei auf mindestens einer der Substratoberflächen mindestens eine lokale Aktion erzeugt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , wobei die lokale Aktion durch eine elektromagnetische Strahlung, bevorzugt durch einen Laser, erzeugt wird.
3. Verfahren nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei eine Überwachung der Substratoberfläche ( l a, l p) durchgeführt wird, wobei die Kompensation (7) in-situ beobachtet wird.
4. Verfahren nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die lokale Aktion durch eine Beschichtung (5) erzeugt wird, welche auf die Sub stratoberfläche ( l a, l p) aufgebracht wird.
5. Verfahren nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die lokale Aktion durch Entfernung von Material des Substrats (1 ) erzeugt wird.
6. Verfahren nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die mindestens eine lokale Aktion Verformungen des Substrats ( 1 ) hervorruft, insbesondere an Rändern des Substrats.
7. Verfahren nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei eine Vermessung der Substratoberfläche ( l a, l p) erfolgt und danach die Kompensation (7) der Verzerrungen (4) auf der Substratoberfläche (l a, l p) erfolgt und im Anschluss die Substratoberfläche ( l a, l p) erneut vermessen wird.
8. Verfahren zum Bonden zweier Substrate (1), wobei Verzerrungen mindestens eines der Substrate (1) mit einem Verfahren gemäß mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche kompensiert werden und danach die beiden Substrate (1) miteinander gebondet werden.
9. Vorrichtung zur Kompensation (7) von Verzerrungen (4) auf mindestens einer Substratoberfläche (la,lp) eines Substrats (1), wobei auf mindestens einer der Substratoberflächen (la,lp) mindestens eine lokale Aktion erzeugbar ist.
10. Vorrichtung gemäß Anspruch 9, wobei die Vorrichtung Mittel zur Erzeugung der lokalen Aktion aufweist, wobei die Mittel zur Erzeugung der lokalen Aktion vorzugsweise einen Laser umfassen.
11. Produkt, hergestellt mit einem Verfahren und/oder einer Vorrichtung gemäß mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche.
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