WO2023058291A1 - イオン生成装置およびイオン注入装置 - Google Patents

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WO2023058291A1
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cathode
arc chamber
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thermal shield
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翔 河津
正輝 佐藤
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住友重機械イオンテクノロジー株式会社
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    • H01J2237/317Processing objects on a microscale

Definitions

  • the present disclosure relates to ion generators and ion implanters.
  • the process of implanting ions into semiconductor wafers is standardly performed for the purpose of changing the conductivity of semiconductors and changing the crystal structure of semiconductors.
  • the equipment used in this process is commonly called an ion implanter.
  • ions are generated by an ion generator having an indirectly heated cathode (IHC) and an arc chamber. The generated ions are pulled out of the arc chamber through the extraction electrode.
  • IHC indirectly heated cathode
  • the present disclosure is to provide an ion generator capable of generating more multiply charged ions under low arc conditions.
  • An ion generator includes an arc chamber having an interior space and a front slit for extracting an ion beam from a plasma generated in the interior space, and an axially applied magnetic field in the interior space.
  • a first cathode cap projecting axially into the interior of the arc chamber and emitting thermoelectrons toward the interior space;
  • a first heating source heating the first cathode cap;
  • a first extending portion extending cylindrically in the axial direction on the radially outer side of the first cathode cap and adjacent to the first cathode cap with a gap in the radial direction perpendicular to the axial direction;
  • a first thermal shield including a first tip projecting upwardly and a first tip opening axially opening at the first tip.
  • the first radial opening width of the first tip opening is smaller than the maximum radial width of the first cathode cap.
  • An ion implanter includes an ion generator of a certain aspect, a beam accelerator that accelerates an ion beam extracted from the ion generator, and an implantation processing chamber in which a wafer is irradiated with the ion beam output from the beam accelerator. Prepare.
  • an ion generator capable of generating more multiply charged ions under lower arc conditions can be provided.
  • FIG. 1 is a top view showing a schematic configuration of an ion implanter according to an embodiment
  • FIG. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing which shows schematic structure of the ion generator which concerns on 1st Embodiment.
  • 3 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the first cathode according to the first embodiment
  • FIG. 4 is a plan view showing the configuration of the first cathode of FIG. 3 when viewed in the axial direction
  • 5(a) and 5(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathode according to the modification of the first embodiment.
  • 6A and 6B are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathode according to the modification of the first embodiment.
  • 7A and 7B are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathode according to the modification of the first embodiment.
  • 8A and 8B are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathode according to the modification of the first embodiment.
  • 9A and 9B are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathode according to the modification of the first embodiment.
  • 10(a) and 10(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of a first cathode according to a modification of the first embodiment.
  • FIG. 11A to 11O are cross-sectional views schematically showing the shape of a first cathode cap according to modifications of the first embodiment.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a first cathode according to a second embodiment; 13A to 13C are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathode according to the modified example of the second embodiment.
  • 14A to 14C are cross-sectional views schematically showing the configuration of a first cathode according to modifications of the second embodiment.
  • 15(a) and 15(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathode according to the modification of the second embodiment.
  • FIG. 16A and 16B are cross-sectional views schematically showing the structure of a first cathode according to a modification of the second embodiment.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a first cathode according to the third embodiment; 18A and 18B are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathode according to the modification of the third embodiment.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a first cathode according to a fourth embodiment;
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a first cathode according to a modification of the fourth embodiment; It is a sectional view showing a schematic structure of an ion generating device concerning a 5th embodiment.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a first cathode according to the third embodiment
  • 18A and 18B are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathode according to
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a repeller according to a fifth embodiment;
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a repeller according to a modification of the fifth embodiment;
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a repeller according to a sixth embodiment;
  • FIG. 14 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a repeller according to a modification of the sixth embodiment;
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a repeller according to a seventh embodiment;
  • FIG. 21 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a repeller according to an eighth embodiment; It is a sectional view showing a schematic structure of an ion generating device concerning a 9th embodiment.
  • FIG. 20 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of an ion generator according to a tenth embodiment;
  • FIG. 1 is a top view showing a schematic configuration of an ion implanter 100 according to an embodiment.
  • the ion implanter 100 is a so-called high energy ion implanter.
  • the ion implanter 100 extracts and accelerates ions generated by the ion generator 10 to generate an ion beam IB, and transports the ion beam IB along the beam line to an object to be processed (eg, substrate or wafer W). and implant ions into the object to be processed.
  • an object to be processed eg, substrate or wafer W
  • the ion implanter 100 includes a beam generation unit 12 that generates and mass separates ions, a beam acceleration unit 14 that further accelerates the ion beam IB into a high energy ion beam, energy analysis and energy dispersion of the high energy ion beam. , a beam transport unit 18 for transporting the high-energy ion beam to the wafer W, and a substrate transfer processing unit 20 for implanting the high-energy ion beam into the wafer W.
  • the beam generation unit 12 has an ion generator 10 , an extraction electrode 11 and a mass spectrometer 22 .
  • ions are extracted from the ion generator 10 through the extraction electrode 11 and accelerated at the same time.
  • the mass spectrometer 22 has a mass analysis magnet 22a and a mass analysis slit 22b. As a result of mass analysis by the mass spectrometer 22 , ion species necessary for implantation are selected, and ion beams of the selected ion species are guided to the next beam acceleration unit 14 .
  • the beam acceleration unit 14 includes a plurality of linear accelerators for accelerating ion beams, that is, one or more high frequency resonators.
  • the beam acceleration unit 14 is a radio frequency acceleration mechanism that accelerates ions by the action of radio frequency (RF) electric fields.
  • the beam acceleration unit 14 comprises a first linear accelerator 15a with a basic multi-stage radio frequency resonator and a second linear accelerator 15b with an additional multi-stage radio frequency resonator for ultra-high energy ion implantation.
  • the ion beam accelerated by the beam acceleration unit 14 is redirected by the beam deflection unit 16 .
  • the high-energy ion beam emitted from the beam acceleration unit 14 has a certain range of energy distribution. Therefore, in order to reciprocate and collimate the high-energy ion beam downstream of the beam acceleration unit 14 to irradiate the wafer, highly accurate energy analysis, energy dispersion control, trajectory correction, and beam convergence must be performed in advance. / divergence adjustment is required.
  • the beam deflection unit 16 performs energy analysis of the high-energy ion beam, energy dispersion control, and trajectory correction.
  • the beam deflection unit 16 comprises at least two precision deflection magnets, at least one energy width limiting slit, at least one energy analysis slit and at least one transverse focusing device.
  • a plurality of bending electromagnets are configured to perform energy analysis of the high-energy ion beam and precise correction of the angle of ion implantation into the wafer W.
  • the beam deflection unit 16 has an energy analyzing electromagnet 24, a transverse converging quadrupole lens 26 that suppresses energy dispersion, an energy analyzing slit 28, and a deflection electromagnet 30 that provides steering (ion beam trajectory correction).
  • the energy analyzing electromagnet 24 is sometimes called an energy filtering electromagnet (EFM).
  • EFM energy filtering electromagnet
  • the beam transport unit 18 is a beamline device that transports the ion beam IB emitted from the beam deflection unit 16, and includes a beam shaper 32 composed of a converging/diverging lens group, a beam scanner 34, and a beam collimator. 36 and a final energy filter 38 (including a final energy separation slit).
  • the length of the beam transport unit 18 is designed to match the total length of the beam generation unit 12 and beam acceleration unit 14 .
  • the beam acceleration unit 14 and the beam transport unit 18 are connected by the beam deflection unit 16 to form an overall U-shaped layout.
  • a substrate transfer processing unit 20 is provided at the downstream end of the beam transport unit 18 .
  • the substrate transport processing unit 20 includes an implant processing chamber 42 and a substrate transport section 44 .
  • the implantation processing chamber 42 is provided with a platen driving device 40 that holds the wafer W being ion-implanted and moves the wafer W in a direction perpendicular to the beam scanning direction.
  • the substrate transfer unit 44 is provided with a wafer transfer mechanism such as a transfer robot for transferring the wafer W before ion implantation into the implantation processing chamber 42 and for carrying out the ion-implanted wafer W from the implantation processing chamber 42 .
  • the ion generator 10 is configured to generate multiply charged ions of dopants such as boron (B), phosphorus (P) or arsenic (As).
  • the beam acceleration unit 14 accelerates multiply charged ions extracted from the ion generator 10 to generate a high energy ion beam of 1 MeV or more, 4 MeV or more or 12 MeV or more. Accelerating multiply charged ions (for example, divalent, trivalent, quadrivalent or higher) can produce an ion beam with higher energy than accelerating singly charged ions.
  • the beam acceleration unit 14 may be configured as one linear accelerator as a whole instead of a two-stage linear accelerator as shown, or may be divided into three or more stages of linear accelerators and mounted. .
  • the beam acceleration unit 14 may also consist of any other type of acceleration device, for example it may comprise a DC acceleration mechanism. This embodiment is not limited to a specific ion acceleration method, and any beam accelerator capable of generating a high-energy ion beam of 1 MeV or more, 4 MeV or more, or 12 MeV or more can be adopted.
  • High-energy ion implantation implants the desired dopant ions into the wafer surface at higher energies than ion implantation with energies of less than 1 MeV, so that the desired dopant ions are implanted into deeper regions of the wafer surface (e.g., depths of 5 ⁇ m or more). of dopants can be implanted.
  • An application of high-energy ion implantation is, for example, the formation of P-type and/or N-type regions in the manufacture of semiconductor devices such as modern image sensors.
  • each part of the ion implanter 100 of the present disclosure is not limited by the configuration of each part other than the ion generator as long as the ion generator described later can be applied.
  • the ion generator and the ion implanter of the present disclosure are suitable for generating an ion beam composed of multiply charged ions, but can also be applied to generate an ion beam composed of singly charged ions. Please note.
  • the ion generator 10 generates arc discharge in the inner space of the arc chamber to generate plasma containing multiply charged ions.
  • the ion generator 10 is of a type that uses a so-called indirectly heated cathode, and generates plasma by colliding thermal electrons emitted from a cathode cap with a source gas.
  • a source gas e.g., a gas that is used to strip more electrons from the atoms contained in the source gas and generate multiply charged ions.
  • Such high arc conditions result in greater wear of the arc chamber and shorter life of the ion generator, requiring frequent maintenance of the device.
  • the operating rate of the ion implanter 100 is lowered, and the production efficiency of semiconductor devices is lowered.
  • the present embodiment provides an ion generator capable of generating more multiply charged ions under low arc conditions.
  • the "low arc conditions” expressed here are arc conditions in which the arc voltage and arc current are relatively lower than the "high arc conditions” required to generate multiply charged ions in conventional ion generators.
  • high-density plasma is efficiently generated even under low arc conditions, and high-density plasma is generated.
  • a thermal shield provided around the cathode cap is used to narrow the range in which thermoelectrons are emitted from the cathode cap to the inner space of the arc chamber.
  • thermoelectrons Providing a plurality of thermal shields around the cathode cap to accelerate the temperature rise of the cathode cap.
  • a voltage is applied to the thermal shield provided around the cathode cap to extract thermoelectrons.
  • a single thermal shield is provided around the repeller head to facilitate temperature rise of the repeller head.
  • a thermal shield provided around the repeller head is used to narrow the range in which thermal electrons are emitted from the repeller head toward the inner space of the arc chamber.
  • a plurality of thermal shields are provided around the repeller head to further accelerate the temperature rise of the repeller head.
  • a voltage is applied to the thermal shield provided around the repeller head to extract thermal electrons.
  • FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of the ion generator 10 according to the first embodiment.
  • the ion generator 10 includes an arc chamber 50, a magnetic field generator 52, a first cathode 54, a repeller 56, a first filament power supply 58a, a first cathode power supply 58b, a first arc power supply 58c, and an extraction power supply. 58d and a repeller power supply 58e.
  • An extraction electrode 11 for extracting the ion beam IB through the front slit 60 of the arc chamber 50 is arranged near the ion generator 10 .
  • the extraction electrode 11 includes a first extraction electrode 11a and a second extraction electrode 11b.
  • the first extraction electrode 11a is connected to a suppression power supply 11c and applied with a negative suppression voltage.
  • a ground voltage is applied to the second extraction electrode 11b.
  • An extraction power source 58d is connected to the arc chamber 50 to apply a positive extraction voltage.
  • the arc chamber 50 has an internal space S in which plasma is generated.
  • the arc chamber 50 has a substantially rectangular parallelepiped box shape defining an internal space S.
  • the arc chamber 50 has a front slit 60 for extracting the ion beam IB from the plasma generated in the interior space S.
  • the front slit 60 has an elongated shape extending in the direction (also referred to as the axial direction) from the first cathode 54 toward the repeller 56 .
  • a plasma generation region P where high-density plasma is generated is schematically indicated by a dashed line.
  • the arc chamber 50 has four side walls including a front wall 50a and a rear wall 50b, and a first end wall 50c and a second end wall 50d.
  • the front wall 50 a has a front slit 60 .
  • a projecting portion 50e projecting toward the inside of the arc chamber 50 is provided in the central portion of the front wall 50a, and a front slit 60 is formed in the projecting portion 50e.
  • the rear wall 50b faces the front wall 50a with the internal space S therebetween.
  • a gas introduction port 62 for introducing a source gas is provided in the rear wall 50b.
  • the first end wall 50c and the second end wall 50d are arranged so as to face each other in the axial direction with the internal space S interposed therebetween.
  • the first end wall 50c has a first cathode insertion hole 50f extending in the axial direction.
  • the second end wall 50d has an axially extending repeller insertion hole 50g.
  • the arc chamber 50 is made of a high-melting-point material.
  • high-melting-point metals such as tungsten (W), molybdenum (Mo), tantalum (Ta), or alloys thereof are used.
  • Part or all of the arc chamber 50 may be composed of graphite (C).
  • the front wall 50a or the protruding portion 50e is made of graphite, and the side walls other than the front wall 50a or the protruding portion 50e (for example, the rear wall 50b), the first end wall 50c and the second end wall 50d are made of high melting point material such as tungsten. It may be made of metal.
  • the magnetic field generator 52 is provided outside the arc chamber 50 and generates a magnetic field B applied axially in the inner space S of the arc chamber 50 .
  • the magnetic field generator 52 has a first magnetic pole 52a and a second magnetic pole 52b and generates, for example, an axial magnetic field B from the first magnetic pole 52a to the second magnetic pole 52b.
  • the direction of the magnetic field B may be the opposite direction, or may be the direction from the second magnetic pole 52b to the first magnetic pole 52a.
  • Arc chamber 50 is positioned between first magnetic pole 52a and second magnetic pole 52b.
  • the first cathode 54 supplies thermal electrons to the internal space S of the arc chamber 50 .
  • the first cathode 54 is inserted through the first cathode insertion hole 50 f and fixed to the first cathode support member 64 while being electrically insulated from the arc chamber 50 .
  • a first cathode support member 64 is provided outside the arc chamber 50 .
  • First cathode 54 includes a first heating source 70 , a first cathode cap 72 , a first thermal break 74 and a first thermal shield 76 .
  • the first heat source 70 is a heat source for heating the first cathode cap 72 .
  • the first heating source 70 is, for example, a filament connected to the first filament power supply 58a.
  • the first heating source 70 is arranged inside the first thermal break 74 so as to face the first cathode cap 72 .
  • a first cathode power source 58b is connected between the first heating source 70 and the first cathode cap 72 to apply a cathode voltage.
  • the first cathode cap 72 is a solid member axially protruding into the arc chamber 50 .
  • the first cathode cap 72 has a shape rotationally symmetrical with respect to the central axis C extending in the axial direction, and has, for example, a truncated cone shape.
  • the first cathode cap 72 emits thermoelectrons toward the internal space S by being heated by the first heat source 70 .
  • a first arc power supply 58c is connected between the first cathode cap 72 and the arc chamber 50 to apply an arc voltage.
  • the first thermal break 74 is a cylindrical member that supports the first cathode cap 72 and extends axially from the first cathode support member 64 toward the first cathode cap 72 .
  • the first thermal shield 76 extends axially in a cylindrical shape radially outside the first cathode cap 72 and the first thermal break 74 .
  • the first thermal shield 76 reflects heat radiation from the first cathode cap 72 and the first thermal break 74, which are in a high temperature state, and suppresses heat escape from the first cathode cap 72 and the first thermal break 74. , promote the temperature rise of the first cathode cap 72 and the first thermal break 74 .
  • the first cathode cap 72, the first thermal break 74, and the first thermal shield 76 are made of high-melting-point materials, for example, high-melting-point metals such as tungsten, molybdenum, and tantalum, their alloys, or graphite.
  • high-melting-point metals such as tungsten, molybdenum, and tantalum, their alloys, or graphite.
  • first cathode cap 72 and first thermal shield 76 are constructed of tungsten
  • first thermal break 74 is constructed of tantalum.
  • the repeller 56 is provided on the opposite side of the first cathode 54 in the axial direction across the internal space S.
  • the repeller 56 repels electrons in the vicinity of the repeller 56 and causes the electrons to stay in the plasma generation region P to increase plasma generation efficiency.
  • the repeller 56 is inserted through the repeller insertion hole 50 g and fixed to the repeller support member 66 while being electrically insulated from the arc chamber 50 .
  • a repeller support member 66 is provided outside the arc chamber 50 .
  • a repeller power supply 58e is connected between the repeller 56 and the arc chamber 50 to apply a repeller voltage. Note that the repeller power supply 58e may not be provided, and the repeller 56 may be configured to have a floating potential. In a configuration in which the repeller power supply 58e is not provided, the arc voltage may be applied to the repeller 56 by connecting the arc power supply 58c to the repeller 56.
  • the repeller 56 includes a repeller head 80 and a repeller shaft 82 .
  • the repeller head 80 is a solid member that protrudes axially toward the inside of the arc chamber 50 and is arranged so as to be exposed to the internal space S.
  • the repeller head 80 is provided at a position facing the first cathode cap 72 in the axial direction.
  • the repeller shaft 82 is a columnar member that supports the repeller head 80 and extends axially from the repeller support member 66 toward the repeller head 80 .
  • the repeller head 80 and the repeller shaft 82 are made of high-melting-point material, for example, high-melting-point metals such as tungsten, molybdenum, and tantalum, alloys thereof, or graphite. Part or all of the repeller 56 may be composed of graphite.
  • the repeller shaft 82 may be made of graphite and the repeller head 80 may be made of a refractory metal such as tungsten.
  • a filament constituting the first heating source 70 is heated by the first filament power source 58a and emits primary thermoelectrons.
  • the primary thermoelectrons emitted by the first heating source 70 are accelerated by a cathode voltage (for example, 200 V to 600 V) from the first cathode power supply 58b, collide with the first cathode cap 72, and heat generated by the collision causes the first Heat the cathode cap 72 .
  • the first cathode cap 72 heated by the first heat source 70 emits secondary thermoelectrons into the internal space S. As shown in FIG.
  • thermoelectrons emitted by the first cathode cap 72 are accelerated by an arc voltage (eg, 50V to 150V) from the first arc power supply 58c.
  • the accelerated secondary thermal electrons are supplied to the plasma generation region P as electrons having sufficient energy to generate plasma containing multiply charged ions.
  • Electrons supplied to the plasma generation region P are bound by the magnetic field B applied in the axial direction in the internal space S, and spirally move along the magnetic field B.
  • the repeller 56 repels the electrons to the plasma generation region P by a repeller voltage (for example, 120 V to 200 V) from the repeller power supply 58e.
  • a repeller voltage for example, 120 V to 200 V
  • the electrons spirally moving in the plasma generation region P ionize the source gas introduced from the gas introduction port 62 to generate plasma containing multiply charged ions in the internal space S.
  • the first thermal shield 76 provided around the first cathode cap 72 is used to narrow the range in which thermoelectrons are emitted from the first cathode cap 72 toward the internal space S of the arc chamber 50. do.
  • the range of the plasma generation region P (the width w in the radial direction perpendicular to the axial direction) is narrowed so that high-density plasma is generated in a narrower range.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the first cathode 54 according to the first embodiment, and is an enlarged view of the first cathode 54 shown in FIG.
  • an arrow A1 indicates a direction axially extending from the outside to the inside of the arc chamber 50 with the first end wall 50c as a reference.
  • Arrow A1 is the direction toward the inner side of arc chamber 50 along the axial direction.
  • Arrow A2 is in the direction opposite to arrow A1 and is the direction toward the outside of arc chamber 50 along the axial direction.
  • the potential of the first thermal shield 76 is the same as the potential of the first cathode cap 72 .
  • the first cathode cap 72 axially protrudes into the arc chamber 50 .
  • the first cathode cap 72 has a tapered shape whose radial width decreases toward the inside of the arc chamber 50, and has, for example, a symmetrical trapezoidal shape in the cross section of FIG.
  • the first cathode cap 72 has a thermionic emission surface 72a, a heat input surface 72b, and a flange 72c.
  • the thermionic emission surface 72a is a surface that protrudes toward the inside of the arc chamber 50 and is a surface that emits thermionic electrons supplied to the internal space S.
  • the thermionic emission surface 72a is composed of a tip end surface 72d configured as a flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber 50 and a curved surface (for example, a truncated cone surface) exposed in a direction oblique to the axial direction. and a configured side surface 72e.
  • the radial width wb of the tip surface 72d is smaller than the maximum radial width wa (the outer diameter of the side surface 72e) of the thermionic emission surface 72a, and is preferably 10% or more and 95% or less of the maximum width wa. is 50% or more and 80% or less of the maximum width wa.
  • the heat inflow surface 72b is a flat surface facing the first heat source 70 and axially exposed to the outside of the arc chamber 50.
  • the first cathode cap 72 is heated mainly by primary thermoelectrons traveling from the first heat source 70 toward the heat input surface 72b.
  • the flange 72c is provided so as to protrude radially outward (for example, in a direction radially away from the central axis C) at or near the heat inflow surface 72b. Flange 72c engages locking end 74a of first thermal break 74 .
  • the first thermal break 74 has a locking end 74a protruding toward the inside of the arc chamber 50 in the direction of the arrow A1 and a mounting end 74b protruding toward the outside of the arc chamber 50 in the direction of the arrow A2. have.
  • the first thermal break 74 axially extends cylindrically from the mounting end 74b toward the locking end 74a.
  • Locking end 74 a engages flange 72 c of first cathode cap 72 to secure first cathode cap 72 .
  • Attachment end 74 b is attached to first cathode support member 64 .
  • the first thermal shield 76 is provided radially outside the first cathode cap 72 and the first thermal break 74 .
  • the first thermal shield 76 has a first tip portion 76a projecting toward the inside of the arc chamber 50 in the direction of arrow A1, and a first end portion 76b projecting toward the outside of the arc chamber 50 in the direction of arrow A2.
  • the first tip portion 76 a protrudes further into the arc chamber 50 than the first cathode cap 72 .
  • the axial position of the first tip portion 76a is closer to the inside of the arc chamber 50 than the axial position of the tip of the first cathode cap 72 (the tip surface 72d).
  • a first end 76b is attached to the first cathode support member 64 . Note that, in a modified example, the first end portion 76b may be attached to the first thermal break 74 .
  • the first thermal shield 76 has a first tip opening 76c that opens axially at a first tip portion 76a. Thermionic electrons supplied from the first cathode cap 72 toward the internal space S pass through the first tip opening 76c.
  • the first tip opening 76c is configured to narrow the passing range of the thermoelectrons emitted from the thermoelectron emitting surface 72a.
  • a first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is smaller than the maximum radial width of the first cathode cap 72 (the radial width at the position of the flange 72c), and is smaller than the diameter of the thermionic emission surface 72a. smaller than the maximum width wa of the direction.
  • the first opening width w1 of the first tip opening 76c is 5% or more and 95% or less, for example, 50% or more and 90% or less of the maximum width wa of the thermal electron emission surface 72a.
  • a radial tip width wb of the thermoelectron emitting surface 72a (a radial width wb of the tip surface 72d) is smaller than the first opening width w1 of the first tip opening 76c.
  • the radial width wb of the tip surface 72d is, for example, 5% or more and 95% or less, for example, 10% or more and 90% or less of the first opening width w1 of the first tip opening 76c.
  • the first thermal shield 76 has a first extension portion 76d that extends cylindrically in the axial direction from the first end portion 76b toward the first tip portion 76a.
  • the first extending portion 76d is adjacent to the first cathode cap 72 and the first thermal break 74 with a gap in the radial direction.
  • the first extension portion 76d has a first cylindrical portion 76f and a first tapered portion 76g.
  • the first cylindrical portion 76f is a portion where the radial width of the inner surface 76e of the first extending portion 76d is constant, and is arranged adjacent to the first thermal break 74 with a gap in the radial direction.
  • the first cylindrical portion 76f is configured such that at least the inner surface 76e has a cylindrical shape.
  • the first cylindrical portion 76f is configured, for example, so that the distance d1 from the inner surface 76e of the first extending portion 76d to the first thermal break 74 is constant.
  • the first cylindrical portion 76f shown in FIG. 3 is not adjacent to the first cathode cap 72 with a radial gap therebetween, in a variant, the first cylindrical portion 76f is radially adjacent to the first cathode cap 72. may be configured to be adjacent to each other with a gap between them.
  • the first taper portion 76g is a portion where the radial width of the inner surface 76e of the first extending portion 76d changes in the axial direction. It is a portion that becomes smaller toward the inside.
  • the first tapered portion 76g is arranged adjacent to the first cathode cap 72 with a gap in the radial direction, and is arranged along the thermionic emission surface 72a (side surface 72e) of the first cathode cap 72 .
  • the first tapered portion 76g is configured such that at least the inner surface 76e has a truncated cone shape.
  • the first taper portion 76g is configured, for example, so that the distance d2 from the inner surface 76e of the first extension portion 76d to the first cathode cap 72 is constant.
  • the inclination angle ⁇ 2 of the inner surface 76e of the first tapered portion 76g with respect to the radial direction is the same as the inclination angle ⁇ 1 of the side surface 72e of the first cathode cap 72 with respect to the radial direction.
  • the first taper portion 76g may be configured such that the outer surface 76h of the first extension portion 76d has a truncated cone shape.
  • the first tapered portion 76g shown in FIG. 3 is adjacent to the first thermal break 74 (locking end portion 74a) with a gap in the radial direction. may be configured so as not to be adjacent to each other with a gap in the radial direction.
  • FIG. 4 is a plan view showing the configuration of the first cathode 54 in FIG. 3 when viewed in the axial direction, and the first cathode 54 is viewed from the inside of the arc chamber 50 to the outside.
  • the first thermal shield 76 is shaded for clarity.
  • the first cathode cap 72 and the first thermal shield 76 have rotationally symmetrical shapes with respect to the central axis C extending in the axial direction, and are arranged coaxially with each other.
  • the first thermal break 74 is not visible in FIG. 4, the first thermal break 74 also has a shape rotationally symmetrical with respect to the central axis C, and is coaxial with the first cathode cap 72 and the first thermal shield 76 . are arranged so that
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is smaller than the maximum radial width wa of the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72, and (the radial width wb of the tip surface 72d). Therefore, at least a portion of the first thermal shield 76 is arranged so as to overlap the first cathode cap 72 in the axial direction. More specifically, at least a portion of the edge of the first tip opening 76c of the first thermal shield 76 axially overlaps the thermionic emission surface 72a (specifically, the side surface 72e) of the first cathode cap 72. .
  • the first cathode cap by making the first opening width w1 of the first tip opening 76c of the first thermal shield 76 smaller than the maximum radial width of the first cathode cap 72, the first cathode cap The radial range in which thermoelectrons are emitted from 72 toward the interior of arc chamber 50 can be narrowed. As a result, thermal electrons can be intensively supplied to a limited range in the radial direction, and high-density plasma can be generated in the plasma generation region P even under low arc conditions.
  • the first cathode cap 72 since the first cathode cap 72 has a tapered shape, thermal electrons emitted from the side surface 72 e of the first cathode cap 72 can be supplied toward the inside of the arc chamber 50 . Also, since the first thermal shield 76 has the first tapered portion 76g, the inner surface 76e of the first extending portion 76d is positioned closer to the side surface 72e of the first cathode cap 72, thereby preventing the heat from the first cathode cap 72 from By suppressing escape, the temperature rise of the first cathode cap 72 can be accelerated. As a result, the first cathode cap 72 can be easily maintained at a high temperature even under low arc conditions, and more thermal electrons can be supplied to the plasma generation region P.
  • FIGS. 5(a) and 5(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of first cathodes 54A and 54B according to modifications.
  • the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 projects further into the arc chamber than the first tip 76a of the first thermal shield 76.
  • the axial position of the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 is closer to the inside of the arc chamber than the axial position of the first tip portion 76a.
  • the first cathode cap 72 has a longer axial length than in FIG.
  • the axial length of the first extension portion 76d (eg, the first tapered portion 76g) may be reduced compared to FIG.
  • the axial position of the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 is the same as the axial position of the first tip portion 76a of the first thermal shield 76. is.
  • FIGS. 6(a) and 6(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of first cathodes 54C and 54D according to modifications.
  • the distance d2 from the inner surface 76e of the first extending portion 76d to the first cathode cap 72 changes according to the position in the axial direction. It is configured such that the distance d2 becomes smaller as it goes.
  • the inclination angle ⁇ 2 of the inner surface 76e of the first tapered portion 76g with respect to the radial direction is smaller than the inclination angle ⁇ 1 of the side surface 72e of the first cathode cap 72 with respect to the radial direction.
  • the distance d2 from the inner surface 76e of the first extending portion 76d to the first cathode cap 72 increases toward the inside of the arc chamber. configured to be large.
  • the inclination angle ⁇ 2 of the inner surface 76e of the first tapered portion 76g with respect to the radial direction is larger than the inclination angle ⁇ 1 of the side surface 72e of the first cathode cap 72 with respect to the radial direction.
  • FIG. 7(a) and (b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathodes 54E and 54F according to the modification.
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is smaller than the maximum radial width wa of the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72.
  • the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip face 72d).
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is equal to the radial tip width wb (tip surface less than the radial width wb) of 72d.
  • FIGS. 8(a) and 8(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of first cathodes 54G and 54H according to modifications.
  • the first tip portion 76a of the first thermal shield 76 extends radially inward.
  • the first tip portion 76a extends radially inward from the tip of the first extension portion 76d.
  • the first tip opening 76c in FIG. 8(a) has a tapered shape whose radial width increases toward the inside of the arc chamber.
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is smaller than the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip face 72d).
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c may be the same as the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip surface 72d). Good or bigger.
  • the first tip portion 76a of the first thermal shield 76 extends radially inward as in FIG. 8(a).
  • the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 protrudes further into the arc chamber than the first tip 76a, and the first tip 76a extends radially inward toward the
  • the first tip opening 76c in FIG. 8(b) has a tapered shape in which the width in the radial direction becomes smaller toward the inside of the arc chamber.
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is larger than the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip face 72d).
  • FIG. 9(a) and (b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of the first cathodes 54I and 54J according to the modification.
  • the first cathode 54I shown in FIG. 9A only the inner surface 76e of the first tapered portion 76g of the first thermal shield 76 is tapered, and the outer surface 76h is not tapered.
  • the inner surface 76e of the first taper portion 76g is a truncated cone surface
  • the outer surface 76h of the first taper portion 76g is a cylindrical surface.
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is larger than the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip face 72d).
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c may be the same as the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip surface 72d). good, or less.
  • the first extension portion 76d of the first thermal shield 76 has the first cylindrical portion 76f but does not have the first tapered portion 76g.
  • the first cylindrical portion 76f is adjacent to the first cathode 54 with a gap in the radial direction, and the first tip portion 76a is provided at the tip of the first cylindrical portion 76f.
  • the first tip portion 76a extends radially inward from the first cylindrical portion 76f.
  • the first tip opening 76c in FIG. 9(b) has a tapered shape in which the width in the radial direction increases toward the inside of the arc chamber.
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is smaller than the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip face 72d).
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c may be the same as the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip surface 72d). Good or bigger.
  • the first tip portion 76a projects further into the arc chamber than the tip of the first cathode cap 72 (tip surface 72d).
  • the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 may be axially positioned at the same position as the first tip 76a, or further inside the arc chamber than the first tip 76a. You may protrude towards it.
  • FIGS. 10(a) and 10(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of first cathodes 54K and 54L according to modifications.
  • the first tapered portion 76g is configured in a dome shape.
  • an inner surface 76e and an outer surface 76h of the first tapered portion 76g are curved surfaces convex toward the inside of the arc chamber.
  • the inner surface 76e and the outer surface 76h of the first tapered portion 76g are configured to be part of a spherical surface, an ellipsoidal surface, or a paraboloid of revolution, for example.
  • the first tip portion 76a projects further into the arc chamber than the tip of the first cathode cap 72 (tip surface 72d).
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is the same as the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip face 72d).
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c may be larger than the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip surface 72d). , can be smaller.
  • the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 protrudes further into the arc chamber than the first tip portion 76a.
  • the first tip portion 76 a extends obliquely to the axial direction toward the first cathode cap 72 .
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c is larger than the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip face 72d).
  • first cathode cap 72 shown in FIGS. 3 to 10B may have a polygonal truncated pyramid shape instead of the truncated cone shape.
  • the first cathode cap 72 shown in FIGS. 3 to 10(b) may have a shape that is rotationally asymmetric with respect to the central axis C of FIG.
  • the shape of the space formed by the inner surface 76e of the first taper portion 76g shown in FIGS. 3 and 5(a) to 9(a) may be a truncated pyramid shape.
  • the shape of the space formed by the inner surface 76e of the first tapered portion 76g shown in FIG. 9B may be a polygonal prism shape.
  • FIGS. 11(a) to (o) are cross-sectional views schematically showing the shape of the first cathode cap 72 according to the modification.
  • FIGS. 11(a)-(o) show a first cathode cap 72 having a shape different from the truncated cone shape shown in FIGS. 3-10.
  • the first cathode cap 72 shown in FIGS. 11(a)-(o) can be used in place of the truncated cone-shaped first cathode cap 72 shown in FIGS. 3-10. That is, the first cathode cap 72 shown in FIGS. 11(a)-(o) can be used in combination with the first thermal shield 76 shown in FIGS. 3-10.
  • FIG. 11(a) shows a columnar (or polygonal columnar) first cathode cap 72.
  • the thermoelectron emitting surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11A includes a tip surface 72d composed of a flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber, and a cylindrical surface ( or a polygonal cylindrical surface).
  • the thermionic emission surface 72a has a constant radial width, and both the maximum radial width wa and the tip width wb of the thermoelectron emitting surface 72a are equal to the radial width of the tip surface 72d ( diameter of the side surface 72e).
  • FIG. 11(b) shows a cone-shaped (or polygonal pyramid-shaped) first cathode cap 72 .
  • the thermoelectron emitting surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(b) is configured by a conical surface (or polygonal pyramidal surface) protruding axially toward the inside of the arc chamber. Therefore, the first cathode cap 72 of FIG. 11(b) does not have a tip surface constituted by a flat surface exposed in the axial direction toward the interior of the arc chamber.
  • the maximum radial width wa of the thermionic emission surface 72a corresponds to the diameter of the bottom surface of the cone (or polygonal pyramid), and the radial tip width of the thermionic emission surface 72a is zero. be.
  • FIG. 11(c) shows a dome-shaped first cathode cap 72.
  • the first cathode cap 72 has, for example, a shape obtained by cutting a sphere or an oval sphere in half.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. It does not have a tip face consisting of a flat surface that is configured and axially exposed toward the interior of the arc chamber.
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the radial diameter of the dome shape, and the radial tip width of the thermoelectron emitting surface 72a is zero.
  • FIG. 11(d) shows a first cathode cap 72 having a shape in which a cylinder and a truncated cone (or a polygonal prism and a truncated polygonal pyramid) are coaxially stacked.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(d) includes a tip surface 72d composed of a flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber, and a truncated cone surface (or a truncated polygonal pyramid surface). and a second side surface 72e2 formed of a cylindrical surface (or polygonal cylindrical surface).
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the cylinder (or polygonal prism), and the radial tip width wb of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the tip surface 72d. Corresponds to the width of the direction.
  • FIG. 11(e) shows a first cathode cap 72 having a shape in which a cylinder and a cone (or a polygonal prism and a polygonal pyramid) are coaxially stacked.
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the cylinder (or polygonal prism), and the radial tip width of the thermoelectron emitting surface 72a is zero.
  • FIG. 11(f) shows a first cathode cap 72 having a shape in which a cylinder and a dome shape are coaxially stacked.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(f) is a curved surface (for example, a spherical surface, an ellipsoidal surface, or a part of a paraboloid of revolution) projecting axially toward the interior of the arc chamber. It has a tip surface 72d configured and a side surface 72e configured by a cylindrical surface.
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the cylinder, and the radial tip width of the thermoelectron emitting surface 72a is zero.
  • FIG. 11(g) shows a first cathode cap 72 having a shape in which two cylinders (or polygonal cylinders) with different diameters are coaxially stacked.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(g) includes a tip end surface 72d composed of a flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber, and a small diameter cylindrical surface (or a polygonal surface).
  • a first side surface 72e1 composed of a cylindrical surface
  • an intermediate end surface 72f composed of a ring-shaped flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber, and a cylindrical surface (or polygonal cylindrical surface) having a large diameter. and a second side surface 72e2 configured.
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emission surface 72a corresponds to the diameter of the second side surface 72e2
  • the radial tip width wb of the thermoelectron emission surface 72d corresponds to the radial width of the tip surface 72d. It corresponds to the width (the diameter of the first side surface 72e1).
  • FIG. 11(h) shows a first cathode cap 72 having a shape in which a cylinder (or polygonal cylinder) and a cone with a diameter smaller than the cylinder (or a polygonal pyramid with a diameter smaller than the polygonal cylinder) are coaxially stacked.
  • the thermionic electron emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. It has an intermediate end face 72f consisting of a ring-shaped flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the chamber, and a side face 72e consisting of a cylindrical surface (or polygonal cylindrical surface).
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the side surface 72e, and the radial tip width of the thermoelectron emitting surface 72a is zero.
  • FIG. 11(i) shows a first cathode cap 72 having a shape in which a cylinder (or polygonal cylinder) and a dome shape with a smaller diameter than the cylinder (or polygonal cylinder) are coaxially stacked.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(i) is a curved surface (for example, a spherical surface, an ellipsoidal surface, or a part of a paraboloid of revolution) protruding axially toward the interior of the arc chamber.
  • thermoelectron emitting surface 72a an intermediate end face 72f consisting of a ring-shaped flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber; and a side face 72e consisting of a cylindrical surface (or a polygonal cylindrical surface).
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the side surface 72e, and the radial tip width of the thermoelectron emitting surface 72a is zero.
  • FIG. 11(j) shows a first cathode cap 72 having a shape in which two cylinders (or two polygonal prisms) with different diameters and one truncated cone (or one truncated polygonal pyramid) are coaxially stacked. , where one truncated cone (or one truncated polygonal pyramid) connects between two cylinders (or two polygonal prisms).
  • the thermionic electron emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(j) includes a tip surface 72d composed of a flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber, and a small diameter cylindrical surface (or a polygonal surface).
  • thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the third side surface 72e3
  • radial tip width wb of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the radial tip width wb of the tip surface 72d. It corresponds to the width (the diameter of the first side surface 72e1).
  • FIG. 11(k) shows a first cathode cap 72 having a shape in which a column (or polygonal column), a truncated cone (or truncated polygonal pyramid), and a cone (or polygonal pyramid) are coaxially stacked.
  • a frustum (or truncated pyramid) connects between the cylinder (or polygonal prism) and the cone (or pyramid).
  • first side surface 72e1 composed of a truncated cone surface (or a polygonal truncated pyramid surface) having an inclination angle different from that of the surface 72d
  • second side surface 72e2 composed of a cylindrical surface (or a polygonal cylindrical surface).
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the second side surface 72e2
  • the radial tip width of the thermoelectron emitting surface 72a is zero.
  • FIG. 11(l) shows a first cathode cap 72 having a shape in which a cylinder, a truncated cone, and a dome shape are coaxially stacked, and the truncated cone connects between the cylinder and the dome shape.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(l) is a curved surface (for example, a spherical surface, an ellipsoidal surface, or a part of a paraboloid of revolution) protruding axially toward the interior of the arc chamber.
  • thermoelectron emitting surface 72a It has a tip end surface 72d configured, a first side surface 72e1 configured as a truncated cone surface, and a second side surface 72e2 configured as a cylindrical surface.
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the second side surface 72e2, and the radial tip width of the thermoelectron emitting surface 72a is zero.
  • FIG. 11(m) shows a first cathode cap 72 having a shape in which the edge of the tip of a cylinder is chamfered.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(m) includes a tip surface 72d formed of a flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber, and a tip surface 72d projecting obliquely with respect to the axial direction. It has a first side surface 72e1 composed of a curved surface and a second side surface 72e2 composed of a cylindrical surface.
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the second side surface 72e2
  • the radial tip width wb of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the radial tip width wb of the tip surface 72d. corresponds to the width.
  • FIG. 11(n) shows a first cathode cap 72 having a dome-shaped truncated shape.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(n) includes a tip surface 72d composed of a flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber, a radially outer surface and an inner surface of the arc chamber. It has a side surface 72e configured with a curved surface that is convex toward the side.
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the radial diameter of the dome shape
  • the radial tip width wb of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the radial direction of the tip surface 72d. corresponds to the width of
  • FIG. 11(o) shows a first cathode cap 72 having a shape in which a truncated cone and a dome shape are coaxially stacked.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 shown in FIG. 11(o) is a curved surface (for example, a spherical surface, an ellipsoidal surface, or a part of a paraboloid of revolution) protruding axially toward the interior of the arc chamber. It has a tip end surface 72d configured and a side surface 72e configured with a truncated cone surface.
  • the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a corresponds to the diameter of the truncated cone (side surface 72e), and the radial tip width of the thermoelectron emitting surface 72a is zero.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the first cathode 154 according to the second embodiment.
  • the first cathode 154 according to the second embodiment differs from the first embodiment in that it further includes a second thermal shield 78 .
  • the second embodiment will be described with a focus on the points of difference from the first embodiment, and the description of the common points will be omitted as appropriate.
  • the first cathode 154 includes a first heating source 70 , a first cathode cap 72 , a first thermal break 74 , a first thermal shield 76 and a second thermal shield 78 .
  • a first heat source 70, a first cathode cap 72, a first thermal break 74 and a first thermal shield 76 are constructed in the same manner as in the first embodiment.
  • the second thermal shield 78 extends cylindrically in the axial direction outside the first thermal shield 76 in the radial direction.
  • the second thermal shield 78 reflects heat radiation from the first thermal shield 76, which is in a high temperature state, and suppresses heat escape from the first thermal shield 76, thereby accelerating the temperature rise of the first thermal shield 76.
  • the second thermal shield 78 promotes the temperature rise of the first cathode cap 72 and the first thermal break 74 by promoting the temperature rise of the first thermal shield 76 .
  • the potential of the second thermal shield 78 is the same as the potentials of the first cathode cap 72 , the first thermal break 74 and the first thermal shield 76 .
  • the second thermal shield 78 has a rotationally symmetrical shape with respect to the axial direction, and is arranged coaxially with the central axis C, for example.
  • the second thermal shield 78 has a second tip portion 78a projecting toward the inside of the arc chamber 50 in the direction of arrow A1, and a second end portion 78b projecting toward the outside of the arc chamber 50 in the direction of arrow A2.
  • the second tip 78a shown in FIG. 12 protrudes further into the arc chamber 50 than the first tip 76a of the first thermal shield 76. That is, the axial position of the second tip portion 78a is closer to the inside of the arc chamber 50 than the axial position of the first tip portion 76a.
  • a second end 78 b is attached to the first cathode support member 64 . Alternatively, the second end 78 b may be attached to the first thermal shield 76 or the first thermal break 74 .
  • the second thermal shield 78 has a second tip opening 78c opening in the axial direction at the second tip portion 78a.
  • Thermionic electrons supplied from the first cathode cap 72 toward the internal space S pass through the second tip opening 78c.
  • a second radial opening width w2 of the second tip opening 78c is larger than a first radial opening width w1 of the first tip opening 76c.
  • the second opening width w2 of the second tip opening 78c shown in FIG. 12 is larger than the maximum radial width wa of the thermionic emission surface 72a.
  • the second radial opening width w2 of the second tip opening 78c is smaller than the maximum radial width w1a of the outer surface 76h of the first extension portion 76d of the first thermal shield 76 .
  • the second thermal shield 78 has a second extension portion 78d that extends cylindrically in the axial direction from the second end portion 78b toward the second tip portion 78a.
  • the second extension portion 78d is adjacent to the first extension portion 76d of the first thermal shield 76 with a gap in the radial direction.
  • the second extension portion 78d has a second cylindrical portion 78f and a second tapered portion 78g.
  • the second tapered portion 78g is a portion where the radial width of the inner surface 78e of the second extending portion 78d changes in the axial direction. It is a portion that becomes smaller toward the inside.
  • the second tapered portion 78g is arranged adjacent to the first tapered portion 76g of the first thermal shield 76 with a gap in the radial direction, and is arranged along the first tapered portion 76g.
  • the second tapered portion 78g is configured such that at least the inner surface 78e has a conical shape.
  • the second tapered portion 78g shown in FIG. 12 is configured such that the distance d4 from the inner surface 78e of the second extension portion 78d to the outer surface 76h of the first extension portion 76d is constant.
  • the distance d4 may change according to the position in the axial direction, the distance d4 may be configured to decrease toward the inside of the arc chamber 50, or the distance d4 may decrease toward the inside of the arc chamber 50. It may be configured such that the distance d4 increases as it goes.
  • the axial length of the second tapered portion 78g shown in FIG. 12 is greater than the axial length of the first tapered portion 76g. In a modification, the axial length of the second tapered portion 78g may be the same as or smaller than the axial length of the first tapered portion 76g.
  • a combination of features (1) and (2) described above is employed to generate more multiply charged ions under low arc conditions.
  • the temperature rise of the first cathode cap 72 can be accelerated compared to the case where one thermal shield 76 is used.
  • the first thermal shield 76 to narrow the range in which thermoelectrons are emitted from the first cathode cap 72 toward the internal space S of the arc chamber 50, a higher density plasma can be generated in a narrower range. can be generated.
  • first cathodes 154A, 154B, and 154C are cross-sectional views schematically showing the configuration of first cathodes 154A, 154B, and 154C according to modifications.
  • first cathode 154A shown in FIG. 13(a) the axial positions of the first tip portion 76a and the second tip portion 78a are the same, and the first tip portion 76a and the second tip portion 78a are the same as the first cathode. It protrudes toward the inside of the arc chamber from the tip of the cap 72 (tip surface 72d).
  • the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72, the first tip portion 76a and the second tip portion 78a have the same axial position.
  • the axial positions of the first tip portion 76a and the second tip portion 78a are the same, and the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 is the first tip. It projects further into the arc chamber than the portion 76a and the second tip portion 78a.
  • FIGS. 14(a) to 14(c) are cross-sectional views schematically showing the configuration of first cathodes 154D, 154E, and 154F according to modifications.
  • the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 and the first tip portion 76a have the same axial position, and the second tip portion 78a It protrudes further into the arc chamber than the tip (tip surface 72d) of the cathode cap 72 and the first tip portion 76a.
  • the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 and the first tip portion 76a In the first cathode 154E shown in FIG.
  • the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 and the second tip portion 78a have the same axial position, and the tip of the first cathode cap 72 (tip The surface 72d) and the second tip 78a project further into the arc chamber than the first tip 76a.
  • the second tip portion 78a protrudes toward the inside of the arc chamber more than the first tip portion 76a, and the first cathode cap 72 protrudes further than the second tip portion 78a.
  • the tip (tip surface 72d) protrudes toward the inside of the arc chamber.
  • FIGS. 15(a) and 15(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of first cathodes 154G and 154H according to modifications.
  • the second tip portion 78a of the second thermal shield 78 is configured to extend radially inward.
  • the second tip opening 78c has a tapered shape whose radial width increases toward the inside of the arc chamber.
  • the second opening width w2 in the second tip opening 78c in the radial direction is smaller than the maximum width wa of the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72, and and the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 (the radial width wb of the tip surface 72d).
  • the second opening width w2 of the second tip opening 78c may be the same as the first opening width w1 of the first tip opening 76c. That is, the second opening width w2 of the second tip opening 78c may be greater than or equal to the first opening width w1 of the first tip opening 76c.
  • the second radial opening width w2 at the second tip opening 78c is the maximum width wa of the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 and the first radial opening width w2 at the first tip opening 76c. It is configured to be smaller than the opening width w1 and larger than the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 (the radial width wb of the tip surface 72d). In this case, like the first tip opening 76c, the second tip opening 78c is also configured to narrow the passing range of the thermoelectrons emitted from the thermoelectron emission surface 72a.
  • the second opening width w2 of the second tip opening 78c is the same as the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 (the radial width wb of the tip surface 72d). It may be one or less.
  • the second opening width w2 of the second tip opening 78c is adjusted by the second tip portion 78a extending radially inward.
  • the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 may be configured such that the second tip portion 78a does not extend radially inward, that is, in the configuration shown in FIGS.
  • FIGS. 16(a) and 16(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of first cathodes 154I and 154J according to modifications.
  • the second extension portion 78d of the second thermal shield 78 has a second cylindrical portion 78f but does not have a second tapered portion 78g.
  • the second cylindrical portion 78f is adjacent to the first tapered portion 76g with a gap in the radial direction, and the second tip portion 78a is provided at the tip of the second cylindrical portion 78f. be done.
  • the second tip portion 78a extends radially inward from the second cylindrical portion 78f.
  • the second tip opening 78c has a tapered shape whose radial width increases toward the inside of the arc chamber.
  • the second radial opening width w2 of the second tip opening 78c is smaller than the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c. It is larger than the radial tip width wb of the face 72a (the radial width wb of the tip face 72d).
  • the second tip opening 78c is also configured to narrow the passing range of the thermoelectrons emitted from the thermoelectron emission surface 72a.
  • the second opening width w2 of the second tip opening 78c is the same as the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72 (the radial width wb of the tip surface 72d). It may be one or less.
  • the second opening width w2 of the second tip opening 78c may be the same as or larger than the first opening width w1 of the first tip opening 76c. In this case, the second opening width w2 of the second tip opening 78c may be smaller than or equal to the maximum radial width w1a of the first extension portion 76d of the first thermal shield 76. , and may be larger.
  • the second tip portion 78a does not extend radially inward from the second cylindrical portion 78f. Therefore, in FIG. 16(b), the second radial opening width w2 of the second tip opening 78c corresponds to the radial width of the inner surface 78e of the second extending portion 78d. It is larger than the maximum width w1a in the radial direction.
  • the shape of the second thermal shield 78 is similar to that of the first thermal shield 76 shown in FIGS. 9(a), 10(a) and (b). You may also, as the shape of the first cathode cap 72, the first cathode cap 72 shown in FIGS. 11(a) to 11(o) may be employed. Furthermore, in the second embodiment as well, the features relating to the arrangement of the first cathode cap 72 and the first thermal shield 76 shown in FIGS. The features relating to the shape of the first thermal shield 76 that are described can be used in combination as appropriate.
  • FIG. 17 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the first cathode 254 according to the third embodiment.
  • a first cathode 254 according to the third embodiment differs from the first embodiment in that a first thermal shield 276 is attached to the arc chamber 50 .
  • the third embodiment will be described with a focus on the points of difference from the first embodiment, and the description of the common points will be omitted as appropriate.
  • the first cathode 254 includes a first heating source 70 , a first cathode cap 72 , a first thermal break 74 and a first thermal shield 276 .
  • the first heating source 70, the first cathode cap 72 and the first thermal break 74 are constructed in the same manner as in the first embodiment.
  • the first thermal shield 276 is provided radially outside the first cathode cap 72 .
  • the first thermal shield 276 has a first tip 276a projecting toward the interior of the arc chamber 50 in the direction of arrow A1 and a first end 276b projecting toward the exterior of the arc chamber 50 in the direction of arrow A2.
  • the first tip portion 276 a protrudes further into the arc chamber 50 than the first cathode cap 72 .
  • the axial position of the first tip portion 276a is closer to the inside of the arc chamber 50 than the axial position of the tip of the first cathode cap 72 (the tip surface 72d).
  • First end 276 b is attached to arc chamber 50 , for example, to first end wall 50 c of arc chamber 50 .
  • the first thermal shield 276 may be configured to be integral with the first endwall 50c or may be configured to extend axially from the first endwall 50c toward the interior of the arc chamber 50. .
  • the first thermal shield 276 has a first tip opening 276c that opens axially at a first tip portion 276a.
  • Thermionic electrons supplied from the first cathode cap 72 toward the internal space S pass through the first tip opening 276c.
  • a first radial opening width w1 of the first tip opening 276c is smaller than the maximum radial width of the first cathode cap 72 (the radial width at the position of the flange 72c), and is smaller than the diameter of the thermionic emission surface 72a. smaller than the maximum width wa of the direction.
  • the first opening width w1 of the first tip opening 276c is larger than the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip surface 72d).
  • the first thermal shield 276 has a first extending portion 276d cylindrically extending in the axial direction from the first end portion 276b toward the first tip portion 276a.
  • the first extending portion 276d is adjacent to the first cathode cap 72 with a gap in the radial direction.
  • the first extension portion 276d has a first tapered portion 276g in which the radial width of the inner surface 276e of the first extension portion 276d becomes smaller toward the inside of the arc chamber 50 .
  • the first extension portion 276d is configured so that the entirety of the first extension portion 276d becomes a first tapered portion 276g.
  • the first tapered portion 276g is arranged adjacent to the first cathode cap 72 with a gap in the radial direction, and is arranged along the thermionic emission surface 72a (side surface 72e) of the first cathode cap 72 .
  • the first tapered portion 276g is configured such that at least the inner surface 276e has a truncated cone shape.
  • the first taper portion 276g is configured, for example, so that the distance d2 from the inner surface 276e of the first extension portion 276d to the first cathode cap 72 is constant.
  • the inclination angle ⁇ 2 of the inner surface 276e of the first tapered portion 276g with respect to the radial direction is the same as the inclination angle ⁇ 1 of the side surface 72e of the first cathode cap 72 with respect to the radial direction.
  • the first tapered portion 276g may be configured such that the outer surface 276h has a truncated cone shape.
  • the potential of the first thermal shield 276 is the same as the potential of the arc chamber 50.
  • An arc voltage is applied between the arc chamber 50 and the first cathode cap 72 by the first arc power supply 58c. Therefore, unlike the potentials of the first cathode cap 72 and the first thermal break 74, the potential of the first thermal shield 276 is higher than the potentials of the first cathode cap 72 and the first thermal break 74 by the arc voltage.
  • the potential (ie, arc voltage) of the first thermal shield 276 with respect to the first cathode cap 72 and the first thermal break 74 is, for example, +30V to +150V.
  • thermoelectrons are emitted from the first cathode cap 72 toward the inside of the arc chamber 50 .
  • a voltage here, equal to the arc voltage
  • thermoelectrons are emitted from the first cathode cap 72 toward the inside of the arc chamber 50 .
  • the arc condition is low.
  • even higher density plasma can be generated.
  • the first tip 276a of the first thermal shield 276 protrudes toward the inside of the arc chamber 50 more than the tip of the first cathode cap 72 (tip surface 72d).
  • Thermal electrons emitted from the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 can be extracted more efficiently.
  • more of the of thermionic electrons compared to the configuration in which the tip (tip surface 72d) of the first cathode cap 72 protrudes toward the inside of the arc chamber 50 more than the first tip portion 276a.
  • the third embodiment by further combining and adopting the above feature (1), more multiply charged ions can be generated under low arc conditions. Specifically, by making the first radial opening width w1 at the first tip portion 276a of the first thermal shield 276 smaller than the maximum radial width wa of the thermionic emission surface 72a, the inside of the arc chamber 50 is A larger number of thermal electrons can be supplied to a narrower range of the space S to generate higher density plasma.
  • the distance d2 from the inner surface 276e of the first thermal shield 276 to the first cathode cap 72 may vary depending on the position in the axial direction.
  • a distance d2 from the inner surface 276e of the first thermal shield 276 to the first cathode cap 72 may be configured to decrease toward the inside of the arc chamber as shown in FIG. 6(a).
  • a distance d2 from the inner surface 276e of the first thermal shield 276 to the first cathode cap 72 may be configured to increase toward the inside of the arc chamber as shown in FIG. 6(b).
  • the first radial opening width w1 at the first tip portion 276a is equal to the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial tip width wb of the tip surface 72d). It may be configured to be the same as the width wb).
  • the first radial opening width w1 at the first tip portion 276a is equal to the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial tip width wb of the tip surface 72d). It may be configured to be smaller than the width wb).
  • the first thermal shield 276 may be configured such that the first tip portion 276a extends radially inward, as in FIG. 8(a).
  • the first tip opening 276c may have a tapered shape with a radial width that increases toward the interior of the arc chamber.
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 276c may be smaller than or equal to the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip surface 72d). , or larger.
  • the first thermal shield 276 may be configured such that only the inner surface 276e of the first tapered portion 276g is tapered, and the outer surface of the first tapered portion 276g is not tapered, as in FIG. 9(a).
  • the first thermal shield 276 may be configured such that the first extension portion 276d includes only the first cylindrical portion and does not include the first tapered portion 276g, as in FIG. 9B.
  • the first tip portion 276a may be configured to extend radially inward.
  • the first tip opening 276c may have a tapered shape with a radial width that increases toward the interior of the arc chamber.
  • the first thermal shield 276 may have a dome-shaped first tapered portion 276g as in FIG. 10(a).
  • the inner surface 276e and the outer surface 276h of the first tapered portion 276g may be curved surfaces that are convex toward the radially outer side and the inner side of the arc chamber.
  • the inner surface 276e and the outer surface 276h of the first tapered portion 276g may be configured to be part of a spherical surface, an ellipsoidal surface, or a paraboloid of revolution.
  • FIGS. 18(a) and 18(b) are cross-sectional views schematically showing the configuration of first cathodes 254A and 254B according to modifications.
  • the first extension portion 276d of the first thermal shield 276 has a first cylindrical portion 276f and a first tapered portion 276g.
  • the first cylindrical portion 276f is a portion where the radial width of the inner surface 276e of the first extending portion 276d is constant.
  • the first cylindrical portion 276f is provided closer to the outside of the arc chamber than the first tapered portion 276g.
  • the first end portion 276b is provided at the end of the first cylindrical portion 276f.
  • the first tapered portion 276g is provided closer to the inside of the arc chamber than the first cylindrical portion 276f.
  • the first tip portion 276a is provided at the tip of the first tapered portion 276g.
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 276c is smaller than the maximum radial width wa of the thermoelectron emitting surface 72a of the first cathode cap 72, and the thermoelectron emitting surface 72a (the radial width wb of the tip surface 72d).
  • the first opening width w1 of the first tip opening 276c may be the same as or larger than the radial maximum width wa of the thermionic emission surface 72a.
  • the first opening width w1 of the first tip opening 276c may be the same as or smaller than the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip surface 72d). good.
  • the first extension 276d of the first thermal shield 276 has a first cylindrical portion 276f but a first tapered portion (eg, 276g in FIG. 18(a)). ).
  • the first extension portion 276d is configured such that the radial width of the inner surface 276e of the first extension portion 276d is constant.
  • the first tip portion 276a is provided at the tip of the first cylindrical portion 276f.
  • the first end portion 276b is provided at the end of the first cylindrical portion 276f.
  • the first radial opening width w1 of the first tip opening 276c is larger than the maximum radial width wa of the thermionic emission surface 72a of the first cathode cap 72.
  • the shape of the first cathode cap 72 shown in FIGS. 11(a) to 11(o) may be adopted as the shape of the first cathode cap 72.
  • the potential of the first thermal shield 276 may differ from the potential of the arc chamber 50.
  • the first thermal shield 276 may be attached to the first end wall 50 c via an electrical insulating member provided between the first thermal shield 276 and the arc chamber 50 .
  • the potential of the first thermal shield 276 may be lower than the potential of the arc chamber 50 .
  • the potential of the arc chamber 50 with respect to the first cathode cap 72 may be between +30V and +150V, while the potential of the first thermal shield 276 with respect to the first cathode cap 72 may be between +5V and +100V.
  • FIG. 19 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the first cathode 354 according to the fourth embodiment.
  • the first cathode 354 according to the fourth embodiment differs from the first and second embodiments in that it includes a second thermal shield 378 attached to the arc chamber 50 .
  • the fourth embodiment will be described with a focus on the points of difference from the first embodiment, and the description of the common points will be omitted as appropriate.
  • the first cathode 354 includes a first heat source 70 , a first cathode cap 72 , a first thermal break 74 , a first thermal shield 76 and a second thermal shield 378 .
  • a first heat source 70, a first cathode cap 72, a first thermal break 74 and a first thermal shield 76 are constructed in the same manner as in the first embodiment.
  • the second thermal shield 378 extends cylindrically in the axial direction outside the first thermal shield 76 in the radial direction.
  • the second thermal shield 378 has a rotationally symmetrical shape with respect to the axial direction, and is arranged coaxially with the central axis C shown in FIG. 4, for example.
  • the second thermal shield 378 reflects heat radiation from the first thermal shield 76, which is in a high temperature state, and suppresses heat escape from the first thermal shield 76, thereby accelerating the temperature rise of the first thermal shield 76. .
  • the second thermal shield 378 facilitates the temperature rise of the first thermal break 74 and the first cathode cap 72 by facilitating the temperature rise of the first thermal shield 76 .
  • the potential of the second thermal shield 378 is the same as the potential of the arc chamber 50 and the potential of the first thermal shield 76 is the same as the potential of the first cathode cap 72 .
  • An arc voltage is applied between the arc chamber 50 and the first cathode cap 72 by the first arc power supply 58c. Therefore, the potential of the second thermal shield 378 is different from the potential of the first cathode cap 72, the first thermal break 74 and the first thermal shield 76, and the potential of the first cathode cap 72, the first thermal break 74 and the first thermal shield is different. higher than 76 by the arc voltage.
  • the potential (ie, arc voltage) of the second thermal shield 378 relative to the first cathode cap 72, first thermal break 74 and first thermal shield 76 is, for example, +30V to +150V.
  • the second thermal shield 378 has a second tip 378a projecting toward the interior of the arc chamber 50 in the direction of arrow A1 and a second end 378b projecting toward the exterior of the arc chamber 50 in the direction of arrow A2.
  • the second tip portion 378 a protrudes further into the arc chamber 50 than the first cathode cap 72 and the first thermal shield 76 .
  • the axial position of the second tip portion 378 a is closer to the inner side of the arc chamber 50 than the axial position of the tip (tip surface 72 d ) of the first cathode cap 72 . It is on the inner side of the arc chamber 50 relative to the axial position of the tip portion 76a.
  • the second end 378b is attached to the arc chamber 50, eg, attached to the first end wall 50c of the arc chamber 50. As shown in FIG.
  • the second thermal shield 378 has a second tip opening 378c opening in the axial direction at the second tip portion 378a.
  • Thermionic electrons supplied from the first cathode cap 72 toward the internal space S pass through the second tip opening 378c.
  • a second radial opening width w2 of the second tip opening 378c is smaller than the maximum radial width w1a of the outer surface 76h of the first thermal shield 76 .
  • the second opening width w2 of the second tip opening 378c shown in FIG. 19 is larger than the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c and larger than the maximum radial width wa of the thermionic emission surface 72a. .
  • the second opening width w2 of the second tip opening 378c may be the same as the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c. That is, the second opening width w2 of the second tip opening 378c may be greater than or equal to the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c.
  • the second thermal shield 378 has a second extending portion 378d cylindrically extending in the axial direction from the second end portion 378b toward the second tip portion 378a.
  • the second extension portion 378d is adjacent to the first extension portion 76d of the first thermal shield 76 with a gap in the radial direction.
  • the second extending portion 378d has a second tapered portion 378g in which the radial width of the inner surface 378e of the second extending portion 378d becomes smaller toward the inside of the arc chamber 50 .
  • the second extending portion 378d is configured so that the entirety thereof becomes a second tapered portion 378g.
  • the second tapered portion 378g is arranged adjacent to the first tapered portion 76g with a gap in the radial direction, and is arranged along the outer surface 76h of the first tapered portion 76g.
  • the second tapered portion 378g is configured such that at least the inner surface 378e has a truncated cone shape.
  • the second tapered portion 378g may be configured such that the outer surface 378h has a truncated cone shape.
  • the second tapered portion 378g is configured, for example, so that the distance d4 from the inner surface 378e of the second extension portion 378d to the outer surface 76h of the first extension portion 76d is constant.
  • thermoelectrons are directed from the first cathode cap 72 into the arc chamber 50 more efficiently. can be pulled out to
  • the second opening width w2 of the second tip opening 378c is greater than or equal to the first radial opening width w1 of the first tip opening 76c, so that the arc chamber 50 is separated from the first cathode cap 72.
  • the range in which thermoelectrons are emitted toward the internal space S of is limited by the first opening width w1 of the first tip opening 76c.
  • the first thermal shield 76 can achieve feature (1)
  • the second thermal shield 378 can achieve feature (3).
  • FIG. 20 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the first cathode 354A according to the modification.
  • the second thermal shield 378 is configured to be integral with the first end wall 50c of the arc chamber 50.
  • the first end wall 50 c of the arc chamber 50 has a second thermal shield 378 configured to extend axially into the interior of the arc chamber 50 .
  • a second thermal shield 378 has a second end 378b joined to the first end wall 50c.
  • the second thermal shield 378 has a second extension 378d that extends axially from the second distal end 378b to the second distal end 378a.
  • the second extension portion 378d has a second cylindrical portion 378f configured such that the radial widths of the inner surface 378e and the outer surface 378h of the second extension portion 378d are constant.
  • the second extending portion 378d is composed only of a second cylindrical portion 378f and does not have a second tapered portion (eg, 378g in FIG. 19).
  • the second tip portion 378a is configured to extend radially inward from the tip of the second extension portion 378d.
  • the second tip opening 378c has a tapered shape with a radial width increasing toward the inside of the arc chamber 50 .
  • the second extension portion 378d shown in FIG. 20 may have only the second tapered portion 378g as shown in FIG.
  • the second extending portion 378d shown in FIG. 20 may have both a second cylindrical portion 378f and a second tapered portion 378g, similar to the first thermal shield 276 shown in FIG. 18(a).
  • the second opening width w2 of the second tip opening 378c may be larger than, equal to, or smaller than the maximum radial width w1a of the outer surface 76h of the first thermal shield 76. .
  • the second opening width w2 of the second tip opening 378c may be larger than, equal to, or smaller than the maximum radial width of the first cathode cap 72 .
  • the second opening width w2 of the second tip opening 378c may be larger than, equal to, or smaller than the maximum radial width wa of the thermionic emission surface 72a.
  • the second opening width w2 of the second tip opening 378c may be larger than, equal to, or smaller than the first opening width w1 of the first tip opening 76c.
  • the second opening width w2 of the second tip opening 378c may be larger than or equal to the radial tip width wb of the thermionic emission surface 72a (the radial width wb of the tip surface 72d). and may be smaller.
  • the modification of the above-described first embodiment can also be applied to the fourth embodiment.
  • the structures shown in FIGS. 3 to 10B can be used as the first cathode cap 72 and the first thermal shield 76 according to the fourth embodiment.
  • shapes shown in FIGS. 11(a) to 11(o) can be used.
  • a structure similar to that of the second thermal shield 78 shown in FIGS. 12 to 16B may be used as the second thermal shield 378 according to the fourth embodiment.
  • FIG. 21 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of an ion generator 410 according to the fifth embodiment.
  • the fifth embodiment differs from the above-described first embodiment in that a repeller 456 includes a thermal shield 86 (hereinafter also referred to as a third thermal shield 86).
  • a repeller 456 includes a thermal shield 86 (hereinafter also referred to as a third thermal shield 86).
  • the fifth embodiment will be described with a focus on the points of difference from the first embodiment, and the description of the common points will be omitted as appropriate.
  • the ion generator 410 includes an arc chamber 50, a magnetic field generator 52, a first cathode 54, a repeller 456, a first filament power supply 58a, a first cathode power supply 58b, a first arc power supply 58c, and an extraction power supply. 58d and a repeller power supply 58e.
  • the arc chamber 50, magnetic field generator 52, first cathode 54 and various power sources 58a-58e are constructed in the same manner as in the first embodiment.
  • the repeller power supply 58e may not be provided, and the repeller 456 may be configured to have a floating potential. In a configuration in which the repeller power supply 58e is not provided, the arc voltage may be applied to the repeller 456 by connecting the arc power supply 58c to the repeller 456.
  • the repeller 456 includes a repeller head 80 , a repeller shaft 82 , a repeller connection portion 84 and a third thermal shield 86 .
  • a repeller head 80 and a repeller shaft 82 are constructed in the same manner as in the first embodiment described above.
  • the repeller connecting portion 84 is provided between the repeller head 80 and the repeller shaft 82 and has a disk shape extending in the radial direction.
  • the third thermal shield 86 is provided radially outward of the repeller head 80 and axially extends from the outer periphery of the repeller connecting portion 84 toward the inside of the arc chamber 50 in a cylindrical shape.
  • the third thermal shield 86 reflects heat radiation from the repeller head 80 which is in a high temperature state, suppresses heat escape from the repeller head 80 , and accelerates the temperature rise of the repeller head 80 .
  • the repeller connecting portion 84 and the third thermal shield 86 are made of high-melting-point material, for example, high-melting-point metals such as tungsten, molybdenum, and tantalum, their alloys, or graphite.
  • FIG. 22 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the repeller 456 according to the fifth embodiment, and is an enlarged view of the repeller 456 shown in FIG.
  • an arrow A3 indicates a direction axially extending from the outside of the arc chamber 50 toward the inside with the second end wall 50d as a reference.
  • Arrow A3 is the direction toward the inner side of arc chamber 50 along the axial direction.
  • Arrow A4 is in the opposite direction to arrow A3 and is the direction toward the outside of arc chamber 50 along the axial direction.
  • the repeller head 80 is a solid member that axially protrudes toward the inside of the arc chamber 50 and is arranged so as to be exposed to the internal space S.
  • the repeller head 80 has a shape rotationally symmetrical with respect to the central axis C extending in the axial direction, for example, a shape in which the edges of the upper and lower surfaces of a cylinder are chamfered.
  • the repeller head 80 has a tip end face 80a formed of a plane exposed axially toward the inside of the arc chamber 50, an end face 80b formed of a plane facing the outside of the arc chamber 50, and a plane facing radially outward.
  • the repeller connecting portion 84 has a shape rotationally symmetrical with respect to the central axis C extending in the axial direction, and is arranged coaxially with the repeller head 80 and the repeller shaft 82 .
  • the third thermal shield 86 has a third tip portion 86a protruding toward the interior of the arc chamber 50 in the direction of arrow A3.
  • the third thermal shield 86 has a third tip opening 86c that opens axially at a third tip portion 86a.
  • the third thermal shield 86 has a third extension portion 86d that axially extends cylindrically from the repeller connection portion 84 toward the third tip portion 86a.
  • the third extending portion 86d is adjacent to the repeller head 80 with a gap in the radial direction.
  • the third thermal shield 86 has a rotationally symmetrical shape with respect to the central axis C extending in the axial direction.
  • the third thermal shield 86 is arranged coaxially with the repeller head 80 , the repeller shaft 82 and the repeller connecting portion 84 , for example.
  • the axial position of the third tip portion 86a of the third thermal shield 86 is the same as the axial position of the tip of the repeller head 80 (tip surface 80a).
  • the third tip 86a of the third thermal shield 86 may protrude further into the arc chamber than the tip of the repeller head 80 (tip surface 80a).
  • the tip (tip face 80a) of the repeller head 80 may protrude further into the arc chamber than the third tip 86a of the third thermal shield 86.
  • the third extending portion 86d has a third cylindrical portion 86f.
  • the third cylindrical portion 86f is a portion where the radial width of the inner surface 86e of the third extending portion 86d is constant.
  • the third cylindrical portion 86f is configured such that at least the inner surface 86e has a cylindrical shape.
  • the third cylindrical portion 86f is configured, for example, so that the distance d5 from the inner surface 86e of the third extending portion 86d to the side surface 80c of the repeller head 80 is constant.
  • the third extending portion 86d shown in FIG. 22 is composed only of the third cylindrical portion 86f and is configured not to have a tapered portion.
  • the third extension portion 86d of the third thermal shield 86 may have a third tapered portion.
  • the third tapered portion is configured such that the radial width of the inner surface 86e of the third extending portion 86d changes according to the position in the axial direction.
  • the radial width of the inner surface 86e of the third extending portion 86d may be configured to increase toward the interior of the arc chamber, or conversely, to decrease toward the interior of the arc chamber. may be configured.
  • the distance d5 from the inner surface 86e of the third extending portion 86d to the side surface 80c of the repeller head 80 may be configured to increase toward the inside of the arc chamber, or conversely, toward the inside of the arc chamber. It may be configured to become smaller as the
  • thermoelectrons are emitted from the repeller head 80 maintained at a high temperature, more thermoelectrons can be supplied from the repeller head 80 to the inner space S of the arc chamber 50 by promoting the temperature rise. Therefore, according to the present embodiment, by providing the third thermal shield 86 around the repeller head 80, the efficiency of plasma generation in the plasma generation region P can be enhanced.
  • the repeller 456 according to the fifth embodiment may be used in combination with the first cathode according to the modified example of the first embodiment, and the repeller 456 according to the second embodiment, the third embodiment or the third embodiment. 4, or in combination with the first cathode according to any of these variations.
  • FIG. 23 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a repeller 456A according to a modification.
  • Repeller 456 ⁇ /b>A includes repeller head 480 , repeller shaft 82 , repeller connecting portion 84 , and third thermal shield 86 .
  • the feature (5) described above is adopted, and thermoelectrons are emitted from the repeller head 480 toward the internal space S of the arc chamber 50 using the third thermal shield 86 provided around the repeller head 480. narrow the range.
  • This modification will be described with a focus on the differences from the above-described fifth embodiment, and the description of the common points will be omitted as appropriate.
  • the repeller head 480 has a tapered shape in which the width in the radial direction decreases toward the inside of the arc chamber 50, and has, for example, a symmetrical trapezoidal shape in the cross section of FIG.
  • the repeller head 480 has a rotationally symmetrical shape with respect to the central axis C extending in the axial direction, for example, a truncated cone shape.
  • the repeller head 480 has a tip surface 480a constituted by a flat surface exposed in the axial direction toward the inside of the arc chamber 50, and a side surface 480c exposed in a direction oblique to the axial direction.
  • a tip surface 480 a and a side surface 480 c of the repeller head 480 are thermoelectron emitting surfaces that emit thermoelectrons toward the internal space S of the arc chamber 50 .
  • a radial width wd of the tip surface 480 a of the repeller head 480 is smaller than the maximum radial width wc of the repeller head 480 .
  • the third extending portion 86d of the third thermal shield 86 has a third taper portion 86g configured such that the radial width of the inner surface 86e decreases toward the inside of the arc chamber.
  • the third tapered portion 86g is arranged adjacent to the repeller head 480 with a gap in the radial direction, and is arranged along the side surface 480c of the repeller head 480. As shown in FIG.
  • the third tapered portion 86g is configured such that the space defined by at least the inner surface 86e has a truncated cone shape.
  • the third tapered portion 86g is configured, for example, so that the distance d5 from the inner surface 86e to the side surface 480c of the repeller head 480 is constant.
  • the third radial opening width w3 of the third tip opening 86c of the third thermal shield 86 is smaller than the maximum radial width wc of the repeller head 480, and the radial tip width wd of the repeller head 480 (the diameter of the tip face 480a). direction width wd). Therefore, at least part of the third thermal shield 86 is arranged so as to axially overlap the repeller head 480 . More specifically, at least a portion of the edge of the third tip opening 86c of the third thermal shield 86 axially overlaps the side surface 480c of the repeller head 480, which is the thermoelectron emitting surface.
  • the structures of the repeller head 480 and the third thermal shield 86 structures similar to those of the first cathode cap 72 and the first thermal shield 76 shown in FIGS. 3 to 10(b) can be used. More specifically, as the structure of the third extension portion 86d of the third thermal shield 86, the structure of the first extension portion 76d (or the first tapered portion 76g) shown in FIGS. can be used. As the shape of the repeller head 480, the shape of the first cathode cap 72 shown in FIGS. 11(a) to 11(o) can be used.
  • FIG. 24 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the repeller 556 according to the sixth embodiment.
  • the repeller 556 differs from the fifth embodiment shown in FIG. 22 in that it further includes an additional thermal shield 88 (also referred to as a fourth thermal shield 88).
  • the feature (6) described above is adopted, and a plurality of thermal shields 86 and 88 are provided around the repeller head 80 to further accelerate the temperature rise of the repeller head 80 .
  • the sixth embodiment will be described with a focus on differences from the fifth embodiment described above, and descriptions of common points will be omitted as appropriate.
  • the repeller 556 includes a repeller head 80 , a repeller shaft 82 , a repeller connection portion 84 , a third thermal shield 86 and a fourth thermal shield 88 .
  • a repeller head 80, a repeller shaft 82, a repeller connection portion 84, and a third thermal shield 86 are configured in the same manner as in the fifth embodiment, but the diameter of the repeller connection portion 84 is larger than that in FIG.
  • the fourth thermal shield 88 is provided radially outward of the third thermal shield 86 and extends cylindrically in the axial direction from the outer periphery of the repeller connecting portion 84 .
  • the fourth thermal shield 88 has a fourth tip 88a projecting into the arc chamber 50 in the direction of arrow A3.
  • the fourth thermal shield 88 has a fourth tip opening 88c that opens axially at a fourth tip portion 88a.
  • the fourth thermal shield 88 has a fourth extension portion 88d that axially extends cylindrically from the repeller connection portion 84 toward the fourth tip portion 88a.
  • the fourth extending portion 88d is adjacent to the third extending portion 86d with a gap in the radial direction.
  • the fourth thermal shield 88 has a rotationally symmetrical shape with respect to the central axis C extending in the axial direction.
  • the fourth thermal shield 88 is arranged coaxially with, for example, the repeller head 80 , the repeller shaft 82 , the repeller connecting portion 84 and the third thermal shield 86 .
  • a fourth tip portion 88a of the fourth thermal shield 88 protrudes further into the arc chamber than the tip of the repeller head 80 (tip surface 80a) and the third tip portion 86a of the third thermal shield 86.
  • the axial position of the fourth tip portion 88a of the fourth thermal shield 88 may be the same as the axial position of the tip (tip surface 80a) of the repeller head 80, or the third thermal shield 86 may be the same as the axial position of the third tip portion 86a.
  • at least one of the tip (tip surface 80a) of the repeller head 80 and the third tip 86a of the third thermal shield 86 is positioned further inside the arc chamber than the fourth tip 88a of the fourth thermal shield 88. You may protrude towards it.
  • the fourth extending portion 88d has a fourth cylindrical portion 88f.
  • the fourth cylindrical portion 88f is a portion where the radial width of the inner surface 88e of the fourth extending portion 88d is constant.
  • the fourth cylindrical portion 88f is configured such that at least the inner surface 88e has a cylindrical shape.
  • the fourth cylindrical portion 88f is configured, for example, so that the distance d6 from the inner surface 88e of the fourth extension portion 88d to the outer surface 86h of the third extension portion 86d is constant.
  • the fourth extending portion 88d shown in FIG. 24 is composed only of the fourth cylindrical portion 88f and is configured so as not to have a tapered portion.
  • the fourth extension portion 88d of the fourth thermal shield 88 may have a fourth tapered portion.
  • the fourth tapered portion is configured such that the radial width of the inner surface 88e of the fourth extension portion 88d changes according to the axial position.
  • the radial width of the inner surface 488e of the fourth extension 88d may be configured to increase toward the interior of the arc chamber, or conversely, to decrease toward the interior of the arc chamber. may be configured. That is, the distance d6 from the inner surface 88e of the fourth extension 88d to the outer surface 86h of the third extension 86d may be configured to increase toward the inside of the arc chamber. may be configured to become smaller toward the inside of the .
  • the fourth thermal shield 88 reflects heat radiation from the third thermal shield 86, which is in a high temperature state, and suppresses heat escape from the third thermal shield 86, thereby accelerating the temperature rise of the third thermal shield 86. .
  • the fourth thermal shield 88 accelerates the temperature rise of the third thermal shield 86 , thereby accelerating the temperature rise of the repeller head 80 .
  • the repeller 556 according to the sixth embodiment may be used in combination with the first cathode according to the modified example of the first embodiment, and the repeller 556 according to the second, third, or third embodiment may be used in combination. 4, or in combination with the first cathode according to any of these variations.
  • FIG. 25 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of a repeller 556A according to a modification.
  • Repeller 556 ⁇ /b>A includes repeller head 480 , repeller shaft 82 , repeller connecting portion 84 , third thermal shield 86 , and fourth thermal shield 88 .
  • the repeller head 480 has a truncated conical shape
  • the third extending portion 86d of the third thermal shield 86 has a third tapered portion 86g.
  • the fourth extension portion 88d of the fourth thermal shield 88 has a fourth tapered portion 88g.
  • a combination of features (5) and (6) described above is employed to generate more multiply charged ions under low arc conditions.
  • the temperature rise of the repeller head 480 can be further accelerated.
  • the third thermal shield 86 to narrow the range in which thermoelectrons are emitted from the repeller head 480 toward the internal space S of the arc chamber 50, high-density plasma can be generated in a narrower range.
  • the repeller 556A may have a structure similar to the first cathode 154 shown in FIG.
  • the third extending portion 86d (or third tapered portion 86g) may be configured similarly to the first extending portion 76d (or first tapered portion 76g) shown in FIGS. 3-16(b).
  • the fourth extending portion 88d (fourth tapered portion 88g) may be configured similarly to the second extending portion 78d (or second tapered portion 78g) shown in FIGS. 12 to 16(b).
  • the repeller head 480 may have a shape similar to the first cathode cap 72 shown in FIGS. 11(a)-(o).
  • the fourth radial opening width w4 of the fourth tip opening 88c is larger than the third opening width w3 of the third tip opening 86c, the maximum width wc of the repeller head 480, and the tip width wd of the repeller head 480.
  • the fourth radial opening width w4 of the fourth tip opening 88c is the same as any of the third opening width w3 of the third tip opening 86c, the maximum width wc of the repeller head 480, and the tip width wd of the repeller head 480. or less than either of these.
  • FIG. 26 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the repeller 656 according to the seventh embodiment.
  • a repeller 656 according to the seventh embodiment includes a repeller head 80 , a repeller shaft 82 and a third thermal shield 286 .
  • the seventh embodiment differs from the fifth embodiment in that a third thermal shield 286 is attached to the arc chamber 50.
  • FIG. In the following, the seventh embodiment will be described with a focus on the points of difference from the fifth embodiment, and the description of the common points will be omitted as appropriate.
  • the third thermal shield 286 has a third tip 286a projecting into the arc chamber in the direction of arrow A3 and a third distal end 286b projecting into the arc chamber in the direction of arrow A4. .
  • the third tip portion 286 a protrudes further into the arc chamber 50 than the repeller head 80 . In other words, the axial position of the third tip portion 286 a is closer to the inside of the arc chamber 50 than the axial position of the tip of the repeller head 80 (tip surface 80 a ).
  • the third thermal shield 286 has a third tip opening 286c that opens axially at a third tip portion 286a.
  • the third end 286b is attached to the arc chamber 50, for example, to the arc chamber 50 second end wall 50d.
  • the third thermal shield 286 may be configured to be integral with the second end wall 50d or may be configured to extend axially from the second end wall 50d toward the interior of the arc chamber 50. .
  • the third thermal shield 286 has a third extending portion 286d cylindrically extending in the axial direction from the third end portion 286b toward the third tip portion 286a.
  • the third extending portion 286d is adjacent to the repeller head 80 with a gap in the radial direction.
  • the third extension portion 286d has a third cylindrical portion 286f configured such that the radial width of the inner surface 286e of the third extension portion 286d is constant.
  • the third extending portion 286d shown in FIG. 26 is composed only of the third cylindrical portion 286f and is configured not to have a tapered portion.
  • the third extension portion 286d of the third thermal shield 286 may have a third tapered portion.
  • thermoelectrons are directed from the repeller head 80 toward the inside of the arc chamber 50 more efficiently. can be pulled out to As a result, compared to the case where the repeller head 80 and the thermal shield 286 have the same potential, more thermal electrons can be supplied toward the internal space S of the arc chamber 50, and even under low arc conditions, Higher density plasma can be generated.
  • a third thermal shield 286 according to the seventh embodiment is configured similarly to the first thermal shield 276 shown in FIG. 18(b).
  • the third thermal shield 286 may be configured similarly to the first thermal shield 276 shown in FIG. 17 or 18(a). More specifically, as the structure of the third extension portion 286d of the third thermal shield 286, the structure of the first extension portion 276d shown in FIGS. 17 to 18B can be used.
  • the third thermal shield 286 according to the seventh embodiment may have the same structure as the first thermal shield 76 shown in FIGS. 3-10(b).
  • As the shape of the repeller head 80 a truncated cone shape similar to the first cathode cap 72 shown in FIGS. A single cathode cap 72 configuration may also be used.
  • the repeller 656 according to the seventh embodiment may be used in combination with the first cathode according to the modified example of the first embodiment, and the repeller 656 according to the second, third, or third embodiment. 4, or in combination with the first cathode according to any of these variations.
  • FIG. 27 is a cross-sectional view showing in detail the configuration of the repeller 756 according to the eighth embodiment.
  • a repeller 756 according to the eighth embodiment includes a repeller head 80 , a repeller shaft 82 , a repeller connection portion 84 , a third thermal shield 86 and a fourth thermal shield 388 .
  • the eighth embodiment differs from the sixth embodiment in that a fourth thermal shield 388 is attached to the arc chamber 50.
  • FIG. In the following, the eighth embodiment will be described with a focus on the points of difference from the sixth embodiment, and the description of the common points will be omitted as appropriate.
  • the fourth thermal shield 388 has a fourth tip 388a projecting into the arc chamber in the direction of arrow A3 and a fourth distal end 388b projecting into the arc chamber in the direction of arrow A4. .
  • the fourth tip portion 388 a protrudes further into the arc chamber 50 than the tip of the repeller head 80 (tip surface 80 a ) and the third tip portion 86 a of the third thermal shield 86 .
  • the axial position of the fourth tip portion 388a is closer to the inside of the arc chamber 50 than the axial positions of the tip (tip surface 80a) of the repeller head 80 and the third tip portion 86a of the third thermal shield 86. .
  • the fourth thermal shield 388 has a fourth tip opening 388c that opens axially at a fourth tip 388a.
  • the fourth end 388b is attached to the arc chamber 50, for example, to the arc chamber 50 second end wall 50d.
  • the fourth thermal shield 388 may be configured to be integral with the second end wall 50d or may be configured to extend axially from the second end wall 50d toward the interior of the arc chamber 50. .
  • the fourth thermal shield 388 has a fourth extending portion 388d cylindrically extending in the axial direction from the fourth end portion 388b toward the fourth tip portion 388a.
  • the fourth extension portion 388d is adjacent to the third extension portion 86d with a gap in the radial direction.
  • the fourth extension portion 388d has a fourth cylindrical portion 388f configured such that the radial width of the inner surface 388e of the fourth extension portion 388d is constant.
  • the fourth extending portion 388d shown in FIG. 27 is composed only of the fourth cylindrical portion 388f and is configured not to have a tapered portion.
  • the fourth extension portion 388d of the fourth thermal shield 388 may have a fourth tapered portion.
  • thermoelectrons by adopting the features (6) and (7) described above, more multiply charged ions are generated under low arc conditions. Specifically, by providing a plurality of thermal shields 86 and 388 around the repeller head 80, the temperature rise of the repeller head 80 can be accelerated. Furthermore, by applying a voltage (here, equal to the repeller voltage) for drawing the thermoelectrons to the fourth thermal shield 388, the thermoelectrons can be drawn more efficiently from the repeller head 80 toward the inside of the arc chamber 50. can be done.
  • a voltage here, equal to the repeller voltage
  • a repeller 756 according to the eighth embodiment may be configured similarly to the first cathodes 354, 354A shown in FIGS. 19-20.
  • the structure of the third extension portion 86d of the third thermal shield 86 the structure of the first extension portion 76d (or the first tapered portion 76g) shown in FIGS. 19 to 20 can be used.
  • the structure of the fourth extension portion 388d of the fourth thermal shield 388 the structure of the second extension portion 378d (or the second tapered portion 378g) shown in FIGS. 19 to 20 can be used.
  • As the third thermal shield 86 a structure similar to that of the first thermal shield 76 shown in FIGS.
  • thermo shield 388 the A structure similar to the second thermal shield 78 shown in FIG.
  • shape of the repeller head 80 a truncated cone shape similar to that of the first cathode cap 72 shown in FIGS. A shape may be used.
  • the repeller 756 according to the eighth embodiment may be used in combination with the first cathode according to the modified example of the first embodiment, and the repeller 756 according to the second embodiment, the third embodiment or the third embodiment. 4, or in combination with the first cathode according to any of these variations.
  • FIG. 28 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of an ion generator 810 according to the ninth embodiment.
  • the ninth embodiment differs from the above-described first embodiment in that a second cathode 55 is provided instead of the repeller 56 .
  • the ninth embodiment is a dual cathode type ion generator provided with two cathodes, a first cathode 54 and a second cathode 55 .
  • the ninth embodiment will be described with a focus on the points of difference from the first embodiment, and the description of the common points will be omitted as appropriate.
  • the ion generator 810 includes an arc chamber 50, a magnetic field generator 52, a first cathode 54, a second cathode 55, a first filament power supply 58a, a first cathode power supply 58b, a first arc power supply 58c, It has an extraction power supply 58d, a second filament power supply 58f, a second cathode power supply 58g, and a second arc power supply 58h.
  • Arc chamber 50, magnetic field generator 52, first cathode 54, first filament power supply 58a, first cathode power supply 58b, first arc power supply 58c and extraction power supply 58d are configured in the same manner as in the first embodiment.
  • the second cathode 55 supplies thermal electrons to the internal space S of the arc chamber 50 .
  • the second cathode 55 is provided on the opposite side of the first cathode 54 in the axial direction with the internal space S interposed therebetween.
  • the second cathode 55 is inserted into a second cathode insertion hole 50h provided in the second end wall 50d and fixed to the second cathode support member 65 while being electrically insulated from the arc chamber 50.
  • a second cathode support member 65 is provided outside the arc chamber 50 .
  • the second cathode 55 includes a second heating source 90 , a second cathode cap 92 , a second thermal break 94 and a second thermal shield 96 .
  • the second heat source 90 is a heat source for heating the second cathode cap 92 .
  • the second heating source 90 is, for example, a filament connected to the second filament power supply 58f.
  • the second heat source 90 is arranged inside the second thermal break 94 so as to face the second cathode cap 92 .
  • a second cathode power supply 58g is connected between the second heating source 90 and the second cathode cap 92 to apply a cathode voltage.
  • the second cathode cap 92 is a solid member axially protruding into the arc chamber 50 .
  • the second cathode cap 92 has, for example, a truncated cone shape.
  • the second cathode cap 92 emits thermoelectrons toward the internal space S by being heated by the second heat source 90 .
  • a second arc power supply 58h is connected between the second cathode cap 92 and the arc chamber 50 to apply an arc voltage.
  • the first arc power source 58c and the second arc power source 58h may be shared.
  • the arc voltage may be applied to the second cathode cap 92 by connecting the first arc power supply 58c to the second cathode cap 92 without providing the second arc power supply 58h.
  • the second thermal break 94 is a cylindrical member that supports the second cathode cap 92 and extends axially from the second cathode support member 65 toward the second cathode cap 92 .
  • the second thermal shield 96 extends cylindrically in the axial direction outside the second cathode cap 92 and the second thermal break 94 in the radial direction.
  • the second thermal shield 96 reflects heat radiation from the second cathode cap 92 and the second thermal break 94, which are in a high temperature state, and suppresses heat escape from the second cathode cap 92 and the second thermal break 94. , promote the temperature rise of the second cathode cap 92 and the second thermal break 94 .
  • the second cathode cap 92, the second thermal break 94, and the second thermal shield 96 are made of high-melting-point materials, for example, high-melting-point metals such as tungsten, molybdenum, and tantalum, their alloys, or graphite.
  • high-melting-point metals such as tungsten, molybdenum, and tantalum, their alloys, or graphite.
  • the second cathode cap 92 and the second thermal shield 96 are composed of tungsten and the second thermal break 94 is composed of tantalum.
  • the second cathode 55 is configured similarly to the first cathode 54 according to the first embodiment shown in FIG.
  • the second cathode 55 includes a configuration similar to that of the first cathode 54, with the "first" replaced by "second.”
  • the second thermal shield 96 extends cylindrically in the axial direction outside the second cathode cap 92 in the radial direction, and is adjacent to the second cathode cap 92 in the radial direction with a gap therebetween. , a second tip projecting into the arc chamber and a second tip opening axially open at the second tip.
  • the second radial opening width of the second tip opening is smaller than the maximum radial width of the thermionic emission surface of the second cathode cap 92 .
  • thermoelectrons can be supplied to the internal space S of the arc chamber 50 .
  • the second opening width in the radial direction of the second tip opening is smaller than the maximum radial width of the thermionic emission surface of the second cathode cap.
  • the radial range in which thermoelectrons are emitted toward the interior of the chamber 50 can be narrowed. As a result, thermal electrons can be intensively supplied to a limited range in the radial direction, and high-density plasma can be generated in the plasma generation region P even under low arc conditions.
  • the second cathode 55 according to the ninth embodiment may be used in combination with the first cathode according to the modified example of the first embodiment. Alternatively, it may be used in combination with the first cathode according to the fourth embodiment or modifications thereof.
  • the second cathode 55 may be configured similarly to the first cathodes 54A to 54L according to the modifications shown in FIGS. 5(a) to 10(b).
  • the second cathode cap 92 of the second cathode 55 may have the same shape as the first cathode cap 72 according to the modifications shown in FIGS. 11(a) to (o).
  • the second cathode 55 may be configured similarly to the first cathode 154 according to the second embodiment.
  • the second cathode 55 heats each of the "first heat source 70, the first cathode cap 72, the first thermal break 74, the first thermal shield 76 and the second thermal shield 78" of the first cathode 154 to the "second heat source”.
  • the third thermal shield extends cylindrically in the axial direction outside the second cathode cap and the second thermal break in the radial direction, and is adjacent to the second cathode cap and the second thermal break in the radial direction with a gap therebetween. 3 extensions, a third tip projecting toward the interior of the arc chamber, and a third tip opening axially open at the third tip.
  • the fourth thermal shield extends cylindrically in the axial direction outside the third thermal shield in the radial direction, and is adjacent to the third extending portion in the radial direction with a gap therebetween. It has an inwardly protruding fourth tip and a fourth tip opening axially open at the fourth tip.
  • the third radial opening width of the third tip opening is larger than the maximum radial width of the thermionic emission surface of the second cathode cap.
  • the second cathode 55 may be configured similarly to the first cathodes 154A to 154J according to the modification of the second embodiment.
  • a second cathode 55 configured in the same manner as the first cathodes 154 to 154J according to the second embodiment or the modification of the second embodiment is the first cathode according to the modification of the first embodiment. or in combination with the first cathode according to the second, third, or fourth embodiment, or modifications thereof.
  • the second cathode 55 may be configured similarly to the first cathode 254 according to the third embodiment.
  • the second cathode 55 converts each of the "first heating source 70, the first cathode cap 72, the first thermal break 74 and the first thermal shield 276" of the first cathode 254 into a "second heating source, second cathode cap, second thermal break and second thermal shield". That is, the second cathode 55 includes a second heating source, a second cathode cap, a second thermal break, and a second thermal shield.
  • the second thermal shield extends cylindrically in the axial direction outside the second cathode cap and the second thermal break in the radial direction, and is adjacent to the second cathode cap and the second thermal break in the radial direction with a gap therebetween. 2 extensions, a second tip projecting into the interior of the arc chamber, and a second tip opening axially opening at the second tip.
  • the potential of the second thermal shield is higher than the potential of the second cathode cap, and the second tip axially projects further into the arc chamber than the second cathode cap.
  • the second cathode 55 may be configured similarly to the first cathodes 254A and 254B according to the modification of the third embodiment.
  • a second cathode 55 configured in the same manner as the first cathodes 254 to 254B according to the third embodiment or the modification of the third embodiment is the first cathode according to the modification of the first embodiment. or in combination with the first cathode according to the second, third, or fourth embodiment, or modifications thereof.
  • the second cathode 55 may be configured similarly to the first cathode 354 according to the fourth embodiment.
  • the second cathode 55 heats each of the "first heating source 70, the first cathode cap 72, the first thermal break 74, the first thermal shield 76 and the second thermal shield 378" of the first cathode 354 to the "second heat source”.
  • the third thermal shield extends cylindrically in the axial direction outside the second cathode cap and the second thermal break in the radial direction, and is adjacent to the second cathode cap and the second thermal break in the radial direction with a gap therebetween. 3 extensions, a third tip projecting toward the interior of the arc chamber, and a third tip opening axially open at the third tip.
  • the fourth thermal shield extends cylindrically in the axial direction outside the third thermal shield in the radial direction, and is adjacent to the third extending portion in the radial direction with a gap therebetween. It has an inwardly protruding fourth tip and a fourth tip opening axially open at the fourth tip.
  • the fourth radial opening width of the fourth tip opening is greater than or equal to the third radial opening width of the third tip opening.
  • the second cathode 55 may be configured similarly to the first cathode 354A according to the modification of the fourth embodiment.
  • the second cathode 55 configured in the same manner as the first cathodes 354 to 354A according to the fourth embodiment or the modification of the fourth embodiment is the first cathode according to the modification of the first embodiment. or in combination with the first cathode according to the second, third, or fourth embodiment, or modifications thereof.
  • FIG. 29 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of an ion generator 910 according to the tenth embodiment.
  • the tenth embodiment differs from the above embodiments in that the repeller 956 has the same structure as the second cathode 55 .
  • the tenth embodiment will be described with a focus on the points of difference from the above-described embodiments, and the description of the common points will be omitted as appropriate.
  • Ion generator 910 includes arc chamber 50, magnetic field generator 52, first cathode 54, repeller 956, first filament power supply 58a, first cathode power supply 58b, first arc power supply 58c, and extraction power supply. 58d and a repeller power supply 58e.
  • the arc chamber 50, the magnetic field generator 52, the first cathode 54, the first filament power supply 58a, the first cathode power supply 58b, the first arc power supply 58c, the extraction power supply 58d and the repeller power supply 58e are the same as in the first embodiment. Configured.
  • the repeller 956 includes a repeller head 992 , a second thermal break 994 and a second thermal shield 996 .
  • the repeller 956 is configured similarly to the second cathode 55 of FIG. 28 with the second heating source 90 removed.
  • Repeller 956 replaces "second cathode cap 92, second thermal break 94 and second thermal shield 96" of second cathode 55 with "repeller head 992, second thermal break 994 and second thermal shield 996" respectively. Including the same configuration as the one.
  • the repeller 956 differs from the second cathode 55 in that it does not include the second heating source 90 .
  • the repeller head 992 is heated by interaction with the plasma generated in the plasma generation region P.
  • the repeller 956 may be configured similarly to the first cathodes 54A-54L according to the modified examples shown in FIGS.
  • a repeller head 992 of the repeller 956 may have a shape similar to that of the first cathode cap 72 according to the modification shown in FIGS. 11(a)-(o).
  • the repeller 956 may be configured in the same manner as the first cathode 154 according to the second embodiment with the first heating source removed. In this case, the repeller 956 replaces each of the "first cathode cap 72, first thermal break 74, first thermal shield 76 and second thermal shield 78" of the first cathode 154 with "repeller head, second thermal break, third Includes the same configuration as that replaced with "Thermal Shield and 4th Thermal Shield". That is, the repeller 956 includes a repeller head, a second thermal break, a third thermal shield, and a fourth thermal shield. The repeller 956 may be configured similarly to the first cathodes 154A to 154J according to the modified example of the second embodiment, excluding the first heat source.
  • the repeller 956 may be configured similarly to the first cathode 254 according to the third embodiment with the first heat source removed. In this case, the repeller 956 replaces each of the "first cathode cap 72, first thermal break 74 and first thermal shield 276" of the first cathode 254 with "repeller head, second thermal break and second thermal shield". Including the same configuration as the one. That is, the repeller 956 includes a repeller head, a second thermal break, and a second thermal shield. The repeller 956 may be configured in the same manner as the first cathodes 254A and 254B according to the modified example of the third embodiment, excluding the first heat source.
  • the repeller 956 may be configured in the same manner as the first cathode 354 according to the fourth embodiment with the first heating source removed.
  • the repeller 956 replaces each of the "first cathode cap 72, first thermal break 74, first thermal shield 76 and second thermal shield 378" of the first cathode 354 with "repeller head, second thermal break, third Includes the same configuration as that replaced with "Thermal Shield and 4th Thermal Shield". That is, the repeller 956 includes a repeller head, a second thermal break, a third thermal shield, and a fourth thermal shield.
  • the repeller 956 may be configured similarly to the first cathode 354A according to the modification of the fourth embodiment.
  • the present disclosure has been described with reference to the above-described embodiments, but the present disclosure is not limited to the above-described embodiments, and the configurations of the embodiments may be combined as appropriate. may be replaced. Further, it is also possible to appropriately rearrange the combinations and the order of processing in each embodiment based on the knowledge of a person skilled in the art, and to add modifications such as various design changes to the embodiments. Modified embodiments may also be included within the scope of the ion generator and ion implanter according to the present disclosure.
  • the heating source of the cathode cap is a filament
  • sources other than filaments may be used as heating sources.
  • the cathode cap may be heated by using a laser as a heating source and irradiating the heat inflow surface of the cathode cap with laser light.
  • thermal shields are provided radially outside the cathode cap or repeller head.
  • three or more thermal shields may be provided radially outside the cathode cap or repeller head.
  • an additional thermal shield may be provided radially outside the second thermal shield included in the first cathode, or an additional thermal shield may be provided radially outside the fourth thermal shield included in the repeller or second cathode. may be provided.
  • the repeller used in combination with the first cathode according to the present disclosure has been described.
  • the repeller according to the present disclosure is applicable to any form of ion generator and ion implanter comprising a repeller, and includes a first cathode cap and a first thermal shield having a tapered shape according to the present disclosure. It is not limited to the combination with the cathode.
  • the repeller according to the present disclosure may be used in combination with a first cathode in which at least one of the first cathode cap and the first thermal shield does not have a tapered shape, or in combination with a first cathode in which the first thermal shield does not. may be used
  • a repeller according to the present disclosure may be used in combination with any form of indirectly heated first cathode.
  • an arc chamber having an interior space and a front slit for extracting an ion beam from a plasma generated in the interior space; a magnetic field generator for generating an axially applied magnetic field in the interior space; a first cathode configured to supply thermal electrons to the interior space;
  • the first cathode is a first cathode cap projecting in the axial direction toward the interior of the arc chamber and emitting thermoelectrons supplied to the interior space; a first heating source for heating the first cathode cap; a first extending portion cylindrically extending in the axial direction outside the first cathode cap in the radial direction and adjacent to the first cathode cap with a gap in a radial direction orthogonal to the axial direction; a first thermal shield having a first tip projecting into the arc chamber and a first tip opening opening in the axial direction at the first tip;
  • the ion generator wherein the first radial opening width of the first tip opening is smaller than the maximum radial
  • the first cathode cap includes a tip surface exposed in the axial direction toward the interior of the arc chamber; Said 1st opening width is an ion generator as described in any one of aspect 1 to 5 characterized by being larger than the width
  • the first cathode cap includes a tip surface exposed in the axial direction toward the interior of the arc chamber;
  • the ion generator according to any one of modes 1 to 5, wherein the width of the first opening is equal to or less than the width of the tip surface in the radial direction.
  • the first tip portion protrudes in the axial direction toward the inside of the arc chamber more than the tip of the first cathode cap that protrudes in the axial direction toward the inside of the arc chamber.
  • the ion generator according to any one of aspects 1 to 7.
  • the axially protruding tip of the first cathode cap toward the interior of the arc chamber is at the same axial position as the first tip, or at a position greater than that of the first tip. 7.
  • the first tip portion extends radially inward from the first extension portion.
  • Ion generation according to any one of aspects 1 to 12, wherein the second radial opening width of the second tip opening is smaller than the maximum radial width of the second cathode cap.
  • Device [Aspect 14] further comprising a repeller provided on the opposite side of the first cathode in the axial direction across the internal space; The repeller is a repeller head projecting axially into the arc chamber; 13.
  • the first cathode extends cylindrically in the axial direction outside the first thermal shield in the radial direction, and has a second extension portion adjacent to the first extension portion in the radial direction with a gap therebetween. and a second thermal shield having a second tip projecting toward the interior of the arc chamber and a second tip opening opening in the axial direction at the second tip. 13.
  • the second tip is at the same axial position as the first tip, or protrudes further into the arc chamber than the first tip. 16.
  • Aspect 17 Aspect 15 characterized in that, in a cross section along the axial direction, the second radial opening width of the second tip opening is smaller than the maximum radial width of the outer surface of the first extending portion. Or the ion generator according to 16. [Aspect 18] The ion generator according to aspect 17, wherein the second opening width is equal to or greater than the first opening width. [Aspect 19] 18. The ion generator according to aspect 17, wherein the second aperture width is smaller than the first aperture width. [Aspect 20] Aspect 15, wherein the second extending portion has a second tapered portion configured such that the radial width of the inner surface of the second extending portion decreases toward the inside of the arc chamber. 20. The ion generator according to any one of 19 to 19.
  • a fourth thermal shield having a fourth tip projecting toward and a fourth tip opening opening in the axial direction at the fourth tip; 24.
  • Ion generation according to any one of aspects 15 to 23, wherein the third radial opening width of the third tip opening is less than the maximum radial width of the second cathode cap.
  • Device [Aspect 25] further comprising a repeller provided on the opposite side of the first cathode in the axial direction across the internal space; The repeller is a repeller head projecting axially into the arc chamber; 24.
  • the ion generator according to any one of aspects 15 to 23, further comprising: a thermal shield extending cylindrically in the axial direction radially outward of the repeller head.
  • an arc chamber having an interior space and a front slit for extracting an ion beam from a plasma generated in the interior space; a magnetic field generator for generating an axially applied magnetic field in the interior space; a first cathode configured to supply thermal electrons to the interior space;
  • the first cathode is a first cathode cap projecting in the axial direction toward the interior of the arc chamber and emitting thermoelectrons supplied to the interior space; a first heating source for heating the first cathode cap; a first extending portion cylindrically extending in the axial direction outside the first cathode cap in the radial direction and adjacent to the first cathode cap with a gap in a radial direction orthogonal to the axial direction; a first thermal shield having a first tip projecting into the arc chamber and a first tip opening opening in the axial direction at the first tip; the potential of the first thermal shield is higher than the potential of the first cathode cap;
  • the first extension has a first taper configured such that the radial width of the inner surface of the first extension decreases toward the interior of the arc chamber.
  • the first cathode cap includes a tip surface exposed in the axial direction toward the interior of the arc chamber; 32.
  • the first cathode cap includes a tip surface exposed in the axial direction toward the interior of the arc chamber; 32.
  • the first tip portion extends radially inward from the first extension portion.
  • the first tip opening has a tapered shape in which the width in the radial direction increases toward the interior of the arc chamber.
  • an arc chamber having an interior space and a front slit for extracting an ion beam from a plasma generated in the interior space; a magnetic field generator for generating an axially applied magnetic field in the interior space; a first cathode configured to supply thermal electrons to the interior space;
  • the first cathode is a first cathode cap projecting in the axial direction toward the interior of the arc chamber and emitting thermoelectrons supplied to the interior space; a first heating source for heating the first cathode cap; a first extending portion cylindrically extending in the axial direction outside the first cathode cap in the radial direction and adjacent to the first cathode cap with a gap in a radial direction orthogonal to the axial direction; a first thermal shield having a first tip projecting into the arc chamber and a first tip opening opening in the axial direction at the first tip; a second extending portion cylindrically extending in the axial direction outside the first thermal shield in the radial direction and adjacent
  • a second thermal shield having a second tip projecting toward and a second tip opening opening in the axial direction at the second tip;
  • the ion generator wherein the second radial opening width of the second tip opening is equal to or greater than the first radial opening width of the first tip opening.
  • the second tip projects axially into the arc chamber beyond the first cathode cap and the first tip.
  • the potential of the second thermal shield is higher than the potential of the first cathode cap or the first thermal shield.
  • Aspect 44 44.
  • the first cathode cap has a tapered shape in which the width in the radial direction decreases toward the inside of the arc chamber.
  • the first extension has a first taper configured such that the radial width of the inner surface of the first extension decreases toward the interior of the arc chamber. 44.
  • the first extension and the cathode cap are configured to have a constant distance.
  • the first cathode cap includes a tip surface exposed in the axial direction toward the interior of the arc chamber; 47.
  • the first opening width is larger than the radial width of the tip surface.
  • the first cathode cap includes a tip surface exposed in the axial direction toward the interior of the arc chamber; 47.
  • the width of the first opening is equal to or less than the width of the tip surface in the radial direction.
  • 49 49.
  • Aspect 40 characterized in that, in a cross section along the axial direction, the second radial opening width of the second tip opening is smaller than the maximum radial width of the outer surface of the first extending portion. 54. The ion generator according to any one of 53.
  • Aspect 55 Aspect 40, wherein the second extending portion has a second tapered portion configured such that the radial width of the inner surface of the second extending portion decreases toward the interior of the arc chamber. 54. The ion generator according to any one of 54. [Aspect 56] 56.
  • a fourth thermal shield having a fourth tip projecting toward and a fourth tip opening opening in the axial direction at the fourth tip; 58.
  • Aspect 60 60.
  • an ion generator capable of generating more multiply charged ions under lower arc conditions can be provided.
  • SYMBOLS 10 Ion generator, 12... Beam generation unit, 14... Beam acceleration unit, 16... Beam deflection unit, 18... Beam transport unit, 20... Substrate transfer processing unit, 42... Implantation processing chamber, 50... Arc chamber, 52... Magnetic field generator 54 First cathode 56 Repeller 60 Front slit 70 First heating source 72 First cathode cap 76 First thermal shield 76a First tip 76c Second 1 tip opening 76d...first extension part 76e...inner surface 76g...first tapered part 76h...outer surface 78...second thermal shield 78a...second tip part 78c...second tip opening 78d... Second extending portion 78e inner surface 78g second tapered portion 78h outer surface 100 ion implanter B magnetic field P plasma generation region S inner space W wafer.

Landscapes

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Abstract

イオン生成装置10は、アークチャンバ50と、アークチャンバ50の内部空間Sにおいて軸方向に印加される磁場Bを生成する磁場生成器52と、アークチャンバ50の内部に向けて軸方向に突出し、内部空間Sに向けて熱電子を放出する第1カソードキャップ72と、第1カソードキャップ72の径方向外側において軸方向に筒状に延在し、第1カソードキャップ72と軸方向と直交する径方向に間隙をおいて隣り合う第1延在部と、アークチャンバの内部に向けて突出する第1先端部と、第1先端部において軸方向に開口する第1先端開口とを含む第1サーマルシールド76と、を備える。第1先端開口における径方向の第1開口幅は、第1カソードキャップ72の径方向の最大幅よりも小さい。

Description

イオン生成装置およびイオン注入装置
 本開示は、イオン生成装置およびイオン注入装置に関する。
 半導体製造工程では、半導体の導電性を変化させる目的、半導体の結晶構造を変化させる目的などのため、半導体ウェハにイオンを注入する工程が標準的に実施されている。この工程で使用される装置は、一般にイオン注入装置と呼ばれる。このようなイオン注入装置では、間接加熱型のカソード(IHC;Indirectly Heated Cathode)と、アークチャンバとを備えたイオン生成装置によってイオンが生成される。生成されたイオンは、引出電極を通じてアークチャンバの外部に引き出される。
特開2016-225139号公報
 近年、ウェハ表面のより深い領域にイオンを注入するために、高エネルギーイオンビームの生成を求められることが増加している。高エネルギーイオンビームを生成するには、イオン生成装置にて多価イオンを生成し、生成された多価イオンを直流加速機構や高周波加速機構(例えば線形加速機構)を利用して加速することが有効である。イオン生成装置にて十分な量の多価イオンを生成する場合には、アーク電圧やアーク電流をより大きくした高アーク条件とする必要があり、アークチャンバの損耗がより顕著となりうる。このような高アーク条件下では、イオン生成装置の寿命が短くなり、イオン注入装置の生産性の低下につながる。
 本開示は、低アーク条件において、より多くの多価イオンを生成可能なイオン生成装置を提供することにある。
 本開示のある態様のイオン生成装置は、内部空間を有し、内部空間にて生成されるプラズマからイオンビームを引き出すためのフロントスリットを有するアークチャンバと、内部空間において軸方向に印加される磁場を生成する磁場生成器と、アークチャンバの内部に向けて軸方向に突出し、内部空間に向けて熱電子を放出する第1カソードキャップと、第1カソードキャップを加熱する第1加熱源と、第1カソードキャップの径方向外側において軸方向に筒状に延在し、第1カソードキャップと軸方向と直交する径方向に間隙をおいて隣り合う第1延在部と、アークチャンバの内部に向けて突出する第1先端部と、第1先端部において軸方向に開口する第1先端開口とを含む第1サーマルシールドと、を備える。第1先端開口における径方向の第1開口幅は、第1カソードキャップの径方向の最大幅よりも小さい。
 本開示の別の態様は、イオン注入装置である。イオン注入装置は、ある態様のイオン生成装置と、イオン生成装置から引き出されるイオンビームを加速させるビーム加速装置と、ビーム加速装置から出力されるイオンビームがウェハに照射される注入処理室と、を備える。
 なお、以上の構成要素の任意の組み合わせや本開示の構成要素や表現を、方法、装置、システムなどの間で相互に置換したものもまた、本開示の態様として有効である。
 本開示の限定的ではない例示的な実施の形態によれば、より低いアーク条件において、より多くの多価イオンを生成可能なイオン生成装置を提供できる。
実施の形態に係るイオン注入装置の概略構成を示す上面図である。 第1の実施の形態に係るイオン生成装置の概略構成を示す断面図である。 第1の実施の形態に係る第1カソードの構成を詳細に示す断面図である。 図3の第1カソードを軸方向に見たときの構成を示す平面図である。 図5(a),(b)は、第1の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 図6(a),(b)は、第1の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 図7(a),(b)は、第1の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 図8(a),(b)は、第1の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 図9(a),(b)は、第1の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 図10(a),(b)は、第1の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 図11(a)~(o)は、第1の実施の形態の変形例に係る第1カソードキャップの形状を模式的に示す断面図である。 第2の実施の形態に係る第1カソードの構成を詳細に示す断面図である。 図13(a)~(c)は、第2の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 図14(a)~(c)は、第2の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 図15(a),(b)は、第2の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 図16(a),(b)は、第2の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 第3の実施の形態に係る第1カソードの構成を詳細に示す断面図である。 図18(a),(b)は、第3の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を模式的に示す断面図である。 第4の実施の形態に係る第1カソードの構成を詳細に示す断面図である。 第4の実施の形態の変形例に係る第1カソードの構成を詳細に示す断面図である。 第5の実施の形態に係るイオン生成装置の概略構成を示す断面図である。 第5の実施の形態に係るリペラーの構成を詳細に示す断面図である。 第5の実施の形態の変形例に係るリペラーの構成を詳細に示す断面図である。 第6の実施の形態に係るリペラーの構成を詳細に示す断面図である。 第6の実施の形態の変形例に係るリペラーの構成を詳細に示す断面図である。 第7の実施の形態に係るリペラーの構成を詳細に示す断面図である。 第8の実施の形態に係るリペラーの構成を詳細に示す断面図である。 第9の実施の形態に係るイオン生成装置の概略構成を示す断面図である。 第10の実施の形態に係るイオン生成装置の概略構成を示す断面図である。
 以下、図面を参照しながら、実施の形態に係るイオン生成装置およびイオン注入装置を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を適宜省略する。また、以下に述べる構成は例示であり、本開示の範囲を何ら限定するものではない。
 図1は、実施の形態に係るイオン注入装置100の概略構成を示す上面図である。イオン注入装置100は、いわゆる高エネルギーイオン注入装置である。イオン注入装置100は、イオン生成装置10で発生させたイオンを引き出して加速することでイオンビームIBを生成し、イオンビームIBをビームラインに沿って被処理物(例えば基板またはウェハW)まで輸送し、被処理物にイオンを注入する。
 イオン注入装置100は、イオンを生成して質量分離するビーム生成ユニット12と、イオンビームIBをさらに加速して高エネルギーイオンビームにするビーム加速ユニット14と、高エネルギーイオンビームのエネルギー分析、エネルギー分散の制御および軌道補正を行うビーム偏向ユニット16と、高エネルギーイオンビームをウェハWまで輸送するビーム輸送ユニット18と、高エネルギーイオンビームをウェハWに注入する基板搬送処理ユニット20とを備える。
 ビーム生成ユニット12は、イオン生成装置10と、引出電極11と、質量分析装置22と、を有する。ビーム生成ユニット12では、イオン生成装置10から引出電極11を通してイオンが引き出されると同時に加速され、引出加速されたイオンビームは質量分析装置22により質量分析される。質量分析装置22は、質量分析磁石22a、質量分析スリット22bを有する。質量分析装置22による質量分析の結果、注入に必要なイオン種が選別され、選別されたイオン種のイオンビームは、次のビーム加速ユニット14に導かれる。
 ビーム加速ユニット14は、イオンビームの加速を行う複数の線形加速装置、すなわち、一つ以上の高周波共振器を備えている。ビーム加速ユニット14は、高周波(RF)電場の作用によりイオンを加速する高周波加速機構である。ビーム加速ユニット14は、基本的な複数段の高周波共振器を備える第1線形加速器15aと、超高エネルギーイオン注入用の追加の複数段の高周波共振器を備える第2線形加速器15bとを備える。ビーム加速ユニット14により加速されたイオンビームは、ビーム偏向ユニット16により方向が変化させられる。
 ビーム加速ユニット14から出射される高エネルギーイオンビームは、ある範囲のエネルギー分布を持っている。このため、ビーム加速ユニット14の下流で高エネルギーのイオンビームを往復走査および平行化させてウェハに照射するためには、事前に高い精度のエネルギー分析、エネルギー分散の制御、軌道補正およびビームの収束/発散の調整を実施しておくことが必要となる。
 ビーム偏向ユニット16は、高エネルギーイオンビームのエネルギー分析、エネルギー分散の制御、軌道補正を行う。ビーム偏向ユニット16は、少なくとも二つの高精度偏向電磁石と、少なくとも一つのエネルギー幅制限スリットと、少なくとも一つのエネルギー分析スリットと、少なくとも一つの横収束機器とを備える。複数の偏向電磁石は、高エネルギーイオンビームのエネルギー分析と、ウェハWへのイオン注入角度の精密な補正とを行うよう構成されている。
 ビーム偏向ユニット16は、エネルギー分析電磁石24と、エネルギー分散を抑制する横収束四重極レンズ26と、エネルギー分析スリット28と、ステアリング(イオンビームの軌道補正)を提供する偏向電磁石30とを有する。なお、エネルギー分析電磁石24は、エネルギーフィルタ電磁石(EFM)と呼ばれることもある。高エネルギーイオンビームは、ビーム偏向ユニット16によって方向転換され、ウェハWの位置する方向へ向かう。
 ビーム輸送ユニット18は、ビーム偏向ユニット16から出たイオンビームIBを輸送するビームライン装置であり、収束/発散レンズ群から構成されるビーム整形器32と、ビーム走査器34と、ビーム平行化器36と、最終エネルギーフィルタ38(最終エネルギー分離スリットを含む)とを有する。ビーム輸送ユニット18の長さは、ビーム生成ユニット12とビーム加速ユニット14とを合計した長さに合わせて設計されている。ビーム加速ユニット14およびビーム輸送ユニット18は、ビーム偏向ユニット16によって連結されることにより、全体でU字状のレイアウトを形成する。
 ビーム輸送ユニット18の下流側の終端には、基板搬送処理ユニット20が設けられる。基板搬送処理ユニット20は、注入処理室42と、基板搬送部44とを含む。注入処理室42には、イオン注入中のウェハWを保持し、ウェハWをビーム走査方向と直交する方向に動かすプラテン駆動装置40が設けられる。基板搬送部44には、イオン注入前のウェハWを注入処理室42に搬入し、イオン注入済のウェハWを注入処理室42から搬出するための搬送ロボットなどのウェハ搬送機構が設けられる。
 イオン生成装置10は、例えば、硼素(B)、リン(P)または砒素(As)等のドーパントの多価イオンを生成するよう構成される。ビーム加速ユニット14は、イオン生成装置10から引き出される多価イオンを加速させ、1MeV以上、4MeV以上または12MeV以上の高エネルギーイオンビームを生成する。多価イオン(例えば2価、3価、4価以上)を加速させることで、1価のイオンを加速させる場合に比べてより高エネルギーのイオンビームを生成できる。
 ビーム加速ユニット14は、図示するような二段式の線形加速装置ではなく、全体が一つの線形加速装置として構成されてもよいし、三段以上の線形加速装置に分かれて実装されてもよい。また、ビーム加速ユニット14が他の任意の形式の加速装置で構成されてもよく、例えば直流加速機構を備えてもよい。本実施の形態は、特定のイオン加速方式には限定されず、1MeV以上、4MeV以上または12MeV以上の高エネルギーイオンビームを生成可能であれば任意のビーム加速装置を採用することができる。
 高エネルギーのイオン注入によれば、1MeV未満のエネルギーのイオン注入に比べてより高エネルギーで所望のドーパントイオンがウェハ表面に打ち込まれるので、ウェハ表面のより深い領域(例えば深さ5μm以上)に所望のドーパントを注入することができる。高エネルギーイオン注入の用途は、例えば、最新のイメージセンサ等の半導体デバイス製造におけるP型領域および/またはN型領域の形成である。
 なお、本開示のイオン注入装置100の各部の構成については、種々の態様が考え得る。本開示のイオン注入装置は、後述するイオン生成装置を適用できるものであれば、イオン生成装置以外の他の各部の構成の態様によって限定されるものではない。また、本開示のイオン生成装置およびイオン注入装置は、多価イオンで構成されるイオンビームの生成に好適であるが、1価イオンで構成されるイオンビームの生成にも適用可能であることに留意されたい。
 本実施の形態に係るイオン生成装置10は、アークチャンバの内部空間にてアーク放電を発生させ、多価イオンを含むプラズマを生成する。イオン生成装置10は、いわゆる間接加熱型カソードを用いる形式であり、カソードキャップから放出される熱電子をソースガスに衝突させてプラズマを生成する。一般的に、ソースガスに含まれる原子からより多くの電子を剥ぎ取って多価イオンを生成するためには、アーク電圧やアーク電流をより大きくした高アーク条件とする必要がある。このような高アーク条件では、アークチャンバの損耗が激しくなり、イオン生成装置の寿命が短くなるため、頻繁に装置をメンテナンスする必要が生じる。そうすると、イオン注入装置100の稼働率が低下し、半導体デバイスの生産効率が低下してしまう。
 そこで、本実施の形態では、より多くの多価イオンを低アーク条件にて生成可能であるイオン生成装置を提供する。ここで表現される「低アーク条件」とは、従来のイオン生成装置において多価イオンを生成するために必要な「高アーク条件」よりもアーク電圧やアーク電流が相対的に低いアーク条件のことをいう。本実施の形態では、以下の特徴(1)~(7)の少なくとも一つを採用することで、低アーク条件であっても高密度のプラズマが効率的に生成されるようにし、高密度のプラズマからより多くの多価イオンが引き出されることが可能となるようにする。
(1)カソードキャップの周囲に設けられるサーマルシールドを利用して、カソードキャップからアークチャンバの内部空間に向けて熱電子が放出される範囲を狭くする。
(2)カソードキャップの周囲に複数のサーマルシールドを設け、カソードキャップの温度上昇を促進する。
(3)カソードキャップの周囲に設けられるサーマルシールドに熱電子を引き出すための電圧を印加する。
(4)リペラーヘッドの周囲に一つのサーマルシールドを設け、リペラーヘッドの温度上昇を促進する。
(5)リペラーヘッドの周囲に設けられるサーマルシールドを利用して、リペラーヘッドからアークチャンバの内部空間に向けて熱電子が放出される範囲を狭くする。
(6)リペラーヘッドの周囲に複数のサーマルシールドを設け、リペラーヘッドの温度上昇をさらに促進する。
(7)リペラーヘッドの周囲に設けられるサーマルシールドに熱電子を引き出すための電圧を印加する。
(第1の実施の形態)
 図2は、第1の実施の形態に係るイオン生成装置10の概略構成を示す図である。イオン生成装置10は、アークチャンバ50と、磁場生成器52と、第1カソード54と、リペラー56と、第1フィラメント電源58aと、第1カソード電源58bと、第1アーク電源58cと、引出電源58dと、リペラー電源58eとを備える。
 イオン生成装置10の近傍には、アークチャンバ50のフロントスリット60を通じてイオンビームIBを引き出すための引出電極11が配置される。引出電極11は、第1引出電極11aと、第2引出電極11bとを備える。第1引出電極11aは、サプレッション電源11cに接続され、負のサプレッション電圧が印加される。第2引出電極11bには、グランド電圧が印加される。アークチャンバ50には、引出電源58dが接続され、正の引出電圧が印加される。
 アークチャンバ50は、プラズマが生成される内部空間Sを有する。アークチャンバ50は、内部空間Sを区画する略直方体の箱形状を有する。アークチャンバ50は、内部空間Sにて生成されるプラズマからイオンビームIBを引き出すためのフロントスリット60を有する。フロントスリット60は、第1カソード54からリペラー56に向かう方向(軸方向ともいう)に延びる細長い形状を有している。図面において、高密度のプラズマが生成されるプラズマ生成領域Pを破線で模式的に示している。
 アークチャンバ50は、前面壁50aおよび背面壁50bを含む四つの側壁と、第1端壁50cおよび第2端壁50dとを有する。前面壁50aは、フロントスリット60を有する。前面壁50aの中央部には、アークチャンバ50の内部に向けて突出する突出部50eが設けられ、突出部50eにフロントスリット60が形成される。突出部50eにフロントスリット60を形成することで、より高密度のプラズマからイオンビームIBを引き出すことができる。背面壁50bは、内部空間Sを挟んで前面壁50aと対向する。背面壁50bには、ソースガスを導入するためのガス導入口62が設けられる。第1端壁50cおよび第2端壁50dは、内部空間Sを挟んで軸方向に対向するように配置される。第1端壁50cは、軸方向に延在する第1カソード挿通孔50fを有する。第2端壁50dは、軸方向に延在するリペラー挿通孔50gを有する。
 アークチャンバ50は、高融点材料で構成され、例えば、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、タンタル(Ta)などの高融点金属またはそれらの合金が用いられる。アークチャンバ50の一部または全体は、グラファイト(C)で構成されてもよい。例えば、前面壁50aまたは突出部50eがグラファイトで構成され、前面壁50aまたは突出部50e以外の側壁(例えば、背面壁50b)、第1端壁50cおよび第2端壁50dがタングステンなどの高融点金属で構成されてもよい。
 磁場生成器52は、アークチャンバ50の外部に設けられ、アークチャンバ50の内部空間Sにおいて軸方向に印加される磁場Bを生成する。磁場生成器52は、第1磁極52aおよび第2磁極52bを有し、例えば、第1磁極52aから第2磁極52bに向かう軸方向の磁場Bを生成する。磁場Bの方向は、逆方向であってもよく、第2磁極52bから第1磁極52aに向かう方向であってもよい。アークチャンバ50は、第1磁極52aと第2磁極52bの間に配置される。
 第1カソード54は、アークチャンバ50の内部空間Sに熱電子を供給する。第1カソード54は、第1カソード挿通孔50fに挿通され、アークチャンバ50と電気的に絶縁された状態で第1カソード支持部材64に固定される。第1カソード支持部材64は、アークチャンバ50の外部に設けられる。第1カソード54は、第1加熱源70と、第1カソードキャップ72と、第1サーマルブレイク74と、第1サーマルシールド76とを含む。
 第1加熱源70は、第1カソードキャップ72を加熱するための熱源である。第1加熱源70は、例えば、第1フィラメント電源58aに接続されるフィラメントである。第1加熱源70は、第1サーマルブレイク74の内部において第1カソードキャップ72と対向するように配置される。第1加熱源70と第1カソードキャップ72の間には、第1カソード電源58bが接続され、カソード電圧が印加される。
 第1カソードキャップ72は、アークチャンバ50の内部に向けて軸方向に突出する中実部材である。第1カソードキャップ72は、軸方向に延びる中心軸Cに対して回転対称な形状を有し、例えば、円錐台形状を有する。第1カソードキャップ72は、第1加熱源70によって加熱されることにより、内部空間Sに向けて熱電子を放出する。第1カソードキャップ72とアークチャンバ50の間には、第1アーク電源58cが接続され、アーク電圧が印加される。
 第1サーマルブレイク74は、第1カソードキャップ72を支持する円筒状部材であり、第1カソード支持部材64から第1カソードキャップ72に向けて軸方向に延在する。第1サーマルシールド76は、第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74の径方向外側において軸方向に筒状に延在する。第1サーマルシールド76は、高温状態となる第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74からの熱輻射を反射し、第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74からの熱逃げを抑制することにより、第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74の温度上昇を促進する。
 第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74および第1サーマルシールド76は、高融点材料で構成され、例えば、タングステン、モリブデン、タンタルなどの高融点金属、それらの合金、またはグラファイトが用いられる。一例として、第1カソードキャップ72および第1サーマルシールド76はタングステンで構成され、第1サーマルブレイク74はタンタルで構成される。
 リペラー56は、内部空間Sを挟んで、第1カソード54とは軸方向の反対側に設けられる。リペラー56は、リペラー56の近傍にある電子を跳ね返し、プラズマ生成領域Pに電子を滞留させてプラズマ生成効率を高める。リペラー56は、リペラー挿通孔50gに挿通され、アークチャンバ50と電気的に絶縁された状態でリペラー支持部材66に固定される。リペラー支持部材66は、アークチャンバ50の外部に設けられる。リペラー56とアークチャンバ50との間には、リペラー電源58eが接続され、リペラー電圧が印加される。なお、リペラー電源58eが設けられなくてもよく、リペラー56が浮遊電位となるように構成されてもよい。また、リペラー電源58eが設けられない構成において、リペラー56にアーク電源58cを接続することにより、リペラー56にアーク電圧を印加してもよい。
 リペラー56は、リペラーヘッド80と、リペラー軸82とを含む。リペラーヘッド80は、アークチャンバ50の内部に向けて軸方向に突出する中実部材であり、内部空間Sに露出するように配置される。リペラーヘッド80は、第1カソードキャップ72と軸方向に対向する位置に設けられる。リペラー軸82は、リペラーヘッド80を支持する柱状部材であり、リペラー支持部材66からリペラーヘッド80に向けて軸方向に延在する。
 リペラーヘッド80およびリペラー軸82は、高融点材料で構成され、例えば、タングステン、モリブデン、タンタルなどの高融点金属、それらの合金、またはグラファイトが用いられる。リペラー56の一部または全体がグラファイトで構成されてもよい。例えば、リペラー軸82がグラファイトで構成され、リペラーヘッド80がタングステンなどの高融点金属で構成されてもよい。
 つづいて、イオン生成装置10の動作について説明する。第1加熱源70を構成するフィラメントは、第1フィラメント電源58aによって加熱され、1次熱電子を放出する。第1加熱源70が放出する1次熱電子は、第1カソード電源58bによるカソード電圧(例えば200V~600V)によって加速され、第1カソードキャップ72に衝突し、その衝突により発生する熱で第1カソードキャップ72を加熱する。第1加熱源70によって加熱された第1カソードキャップ72は、2次熱電子を内部空間Sに放出する。第1カソードキャップ72が放出する2次熱電子は、第1アーク電源58cによるアーク電圧(例えば50V~150V)によって加速される。加速された2次熱電子は、多価イオンを含むプラズマを生成するために十分なエネルギーを持った電子としてプラズマ生成領域Pに供給される。プラズマ生成領域Pに供給される電子は、内部空間Sにおいて軸方向に印加される磁場Bに束縛され、磁場Bに沿って螺旋状に運動する。リペラー56は、リペラー電源58eによるリペラー電圧(例えば120V~200V)によって、電子をプラズマ生成領域Pに跳ね返す。その結果、電子の運動をプラズマ生成領域Pに制限してプラズマ生成効率を高めることができる。プラズマ生成領域Pにて螺旋状に運動する電子は、ガス導入口62から導入されるソースガスを電離させ、内部空間Sにおいて多価イオンを含むプラズマを生成する。
 第1の実施の形態では、上述の特徴(1)を採用することにより、低アーク条件においてより多くの多価イオンが生成されるようにする。具体的には、第1カソードキャップ72の周囲に設けられる第1サーマルシールド76を利用して、第1カソードキャップ72からアークチャンバ50の内部空間Sに向けて熱電子が放出される範囲を狭くする。熱電子が放出される範囲を狭くすることで、プラズマ生成領域Pの範囲(軸方向と直交する径方向の幅w)を狭くし、より狭い範囲により高密度のプラズマが生成されるようにする。このような第1カソード54の構成について、図3を参照しながら詳述する。
 図3は、第1の実施の形態に係る第1カソード54の構成を詳細に示す断面図であり、図2に示される第1カソード54の拡大図である。図3において、第1端壁50cを基準として、アークチャンバ50の外部から内部に向けて軸方向に延びる方向を矢印A1で示している。矢印A1は、軸方向に沿ってアークチャンバ50の内部側に向かう方向である。矢印A2は、矢印A1とは反対の方向であり、軸方向に沿ってアークチャンバ50の外部側に向かう方向である。第1の実施の形態において、第1サーマルシールド76の電位は、第1カソードキャップ72の電位と同じである。
 第1カソードキャップ72は、アークチャンバ50の内部に向けて軸方向に突出する。第1カソードキャップ72は、アークチャンバ50の内部に向かうにつれて径方向の幅が小さくなるテーパー形状を有し、例えば、図3の断面において左右対称な台形状を有する。第1カソードキャップ72は、熱電子放出面72aと、熱流入面72bと、フランジ72cとを有する。
 熱電子放出面72aは、アークチャンバ50の内部に向けて突出する面であり、内部空間Sに供給される熱電子を放出する面である。熱電子放出面72aは、アークチャンバ50の内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面72dと、軸方向に対して斜めとなる方向に露出する曲面(例えば、円錐台面)で構成される側面72eとを有する。先端面72dの径方向の幅wbは、熱電子放出面72aの径方向の最大幅wa(側面72eの外径)よりも小さく、例えば、最大幅waの10%以上95%以下であり、好ましくは、最大幅waの50%以上80%以下である。
 熱流入面72bは、第1加熱源70と対向する平面であり、アークチャンバ50の外部に向けて軸方向に露出する。第1カソードキャップ72は、主に、第1加熱源70から熱流入面72bに向かう1次熱電子によって加熱される。フランジ72cは、熱流入面72bの位置またはその近傍において径方向外側(例えば、中心軸Cから径方向に離れる方向)に突出するように設けられる。フランジ72cは、第1サーマルブレイク74の係止端部74aと係合する。
 第1サーマルブレイク74は、アークチャンバ50の内部に向けて矢印A1の方向に突出する係止端部74aと、アークチャンバ50の外部に向けて矢印A2の方向に突出する取付端部74bとを有する。第1サーマルブレイク74は、取付端部74bから係止端部74aに向けて軸方向に円筒状に延びる。係止端部74aは、第1カソードキャップ72のフランジ72cと係合して第1カソードキャップ72を固定する。取付端部74bは、第1カソード支持部材64に取り付けられる。
 第1サーマルシールド76は、第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74の径方向外側に設けられる。第1サーマルシールド76は、アークチャンバ50の内部に向けて矢印A1の方向に突出する第1先端部76aと、アークチャンバ50の外部に向けて矢印A2の方向に突出する第1末端部76bとを有する。第1先端部76aは、第1カソードキャップ72よりもアークチャンバ50の内部に向けて突出している。つまり、第1先端部76aの軸方向の位置は、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)の軸方向の位置よりもアークチャンバ50の内部側にある。第1末端部76bは、第1カソード支持部材64に取り付けられる。なお、変形例において、第1末端部76bは、第1サーマルブレイク74に取り付けられてもよい。
 第1サーマルシールド76は、第1先端部76aにおいて軸方向に開口する第1先端開口76cを有する。第1先端開口76cは、第1カソードキャップ72から内部空間Sに向けて供給される熱電子を通過させる。第1先端開口76cは、熱電子放出面72aから放出される熱電子の通過範囲を狭めるように構成される。第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、第1カソードキャップ72の径方向の最大幅(フランジ72cの位置での径方向の幅)よりも小さく、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waよりも小さい。第1先端開口76cの第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの最大幅waの5%以上95%以下であり、例えば、50%以上90%以下である。熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)は、第1先端開口76cの第1開口幅w1よりも小さい。先端面72dの径方向の幅wbは、例えば、第1先端開口76cの第1開口幅w1の5%以上95%以下であり、例えば、10%以上90%以下である。
 第1サーマルシールド76は、第1末端部76bから第1先端部76aに向けて軸方向に筒状に延在する第1延在部76dを有する。第1延在部76dは、第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74と径方向に間隙をおいて隣り合う。第1延在部76dは、第1円筒部76fと、第1テーパー部76gとを有する。
 第1円筒部76fは、第1延在部76dの内面76eの径方向の幅が一定となる部分であり、第1サーマルブレイク74と径方向に間隙をおいて隣り合うように配置される。第1円筒部76fは、少なくとも内面76eが円筒形状となるよう構成される。第1円筒部76fは、例えば、第1延在部76dの内面76eから第1サーマルブレイク74までの間隔d1が一定となるように構成される。図3に示される第1円筒部76fは、第1カソードキャップ72と径方向に間隙をおいて隣り合わないが、変形例においては、第1円筒部76fは、第1カソードキャップ72と径方向に間隙をおいて隣り合うよう構成されてもよい。
 第1テーパー部76gは、第1延在部76dの内面76eの径方向の幅が軸方向に変化する部分であり、第1延在部76dの内面76eの径方向の幅がアークチャンバ50の内部に向かうにつれて小さくなる部分である。第1テーパー部76gは、第1カソードキャップ72と径方向に間隙をおいて隣り合うように配置され、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72a(側面72e)に沿って配置される。第1テーパー部76gは、少なくとも内面76eが円錐台形状となるよう構成される。第1テーパー部76gは、例えば、第1延在部76dの内面76eから第1カソードキャップ72までの間隔d2が一定となるように構成される。例えば、第1テーパー部76gの内面76eの径方向に対する傾斜角θ2は、第1カソードキャップ72の側面72eの径方向に対する傾斜角θ1と同じである。第1テーパー部76gは、第1延在部76dの外面76hが円錐台形状となるよう構成されてもよい。図3に示される第1テーパー部76gは、第1サーマルブレイク74(係止端部74a)と径方向に間隙をおいて隣り合っているが、第1テーパー部76gは、第1サーマルブレイク74と径方向に間隙をおいて隣り合わないように構成されてもよい。
 図4は、図3の第1カソード54を軸方向に見たときの構成を示す平面図であり、第1カソード54をアークチャンバ50の内部から外部に向かう方向に見ている。図4において、分かりやすさのため、第1サーマルシールド76を網掛けで示している。図4に示されるように、第1カソードキャップ72および第1サーマルシールド76は、軸方向に延びる中心軸Cに対して回転対称な形状を有し、互いに同軸となるように配置されている。図4において、第1サーマルブレイク74が見えていないが、第1サーマルブレイク74も中心軸Cに対して回転対称な形状を有し、第1カソードキャップ72および第1サーマルシールド76と互いに同軸となるように配置されている。
 上述のとおり、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の最大幅waよりも小さく、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも大きい。したがって、第1サーマルシールド76の少なくとも一部は、第1カソードキャップ72と軸方向に重なるように配置される。より具体的には、第1サーマルシールド76の第1先端開口76cの縁の少なくとも一部は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72a(具体的には、側面72e)と軸方向に重なる。
 第1の実施の形態によれば、第1サーマルシールド76の第1先端開口76cの第1開口幅w1を第1カソードキャップ72の径方向の最大幅よりも小さくすることで、第1カソードキャップ72からアークチャンバ50の内部に向けて熱電子が放出される径方向の範囲を狭くできる。その結果、径方向に限定された範囲に熱電子を集中的に供給することができ、低アーク条件であってもプラズマ生成領域Pにおいて高密度のプラズマを生成できる。
 第1の実施の形態によれば、第1カソードキャップ72がテーパー形状を有するため、第1カソードキャップ72の側面72eから放出される熱電子をアークチャンバ50の内部に向けて供給できる。また、第1サーマルシールド76が第1テーパー部76gを有するため、第1延在部76dの内面76eを第1カソードキャップ72の側面72eのより近くに配置し、第1カソードキャップ72からの熱逃げを抑制することにより、第1カソードキャップ72の温度上昇を促進できる。その結果、低アーク条件であっても第1カソードキャップ72を高温に維持しやすくなり、プラズマ生成領域Pにより多くの熱電子を供給できる。
(第1の実施の形態に係る変形例)
 以下、図5(a)~図10(b)を参照して、第1の実施の形態に係る第1カソード54の変形例を示す。以下では、第1カソードキャップ72および第1サーマルシールド76の構造を示しながら、上述した第1の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 図5(a),(b)は、変形例に係る第1カソード54A、54Bの構成を模式的に示す断面図である。図5(a)に示す第1カソード54Aでは、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)が第1サーマルシールド76の第1先端部76aよりもアークチャンバの内部に向けて突出している。つまり、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)の軸方向の位置は、第1先端部76aの軸方向の位置よりもアークチャンバの内部側にある。図5(a)では、図3に比べて第1カソードキャップ72の軸方向の長さが大きい。さらなる変形例では、図3に比べて第1延在部76d(例えば、第1テーパー部76g)の軸方向の長さを小さくしてもよい。図5(b)に示す第1カソード54Bにおいて、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)の軸方向の位置は、第1サーマルシールド76の第1先端部76aの軸方向の位置と同じである。
 図6(a),(b)は、変形例に係る第1カソード54C、54Dの構成を模式的に示す断面図である。図6(a)に示す第1カソード54Cでは、第1延在部76dの内面76eから第1カソードキャップ72までの間隔d2が軸方向の位置に応じて変化しており、アークチャンバの内部に向かうにつれて間隔d2が小さくなるように構成される。図6(a)において、第1テーパー部76gの内面76eの径方向に対する傾斜角θ2は、第1カソードキャップ72の側面72eの径方向に対する傾斜角θ1よりも小さい。
 図6(b)に示す第1カソード54Dでは、図6(a)とは逆に、第1延在部76dの内面76eから第1カソードキャップ72までの間隔d2がアークチャンバの内部に向かうにつれて大きくなるように構成される。図6(b)において、第1テーパー部76gの内面76eの径方向に対する傾斜角θ2は、第1カソードキャップ72の側面72eの径方向に対する傾斜角θ1よりも大きい。
 図7(a),(b)は、変形例に係る第1カソード54E,54Fの構成を模式的に示す断面図である。図7(a)に示す第1カソード54Eにおいて、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の最大幅waよりも小さく、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)と同じである。図7(b)に示す第1カソード54Fにおいて、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも小さい。
 図8(a),(b)は、変形例に係る第1カソード54G、54Hの構成を模式的に示す断面図である。図8(a)に示す第1カソード54Gでは、第1サーマルシールド76の第1先端部76aが径方向内側に延在する。第1先端部76aは、第1延在部76dの先端から径方向内側に延在する。図8(a)の第1先端開口76cは、アークチャンバの内部に向かうにつれて径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有する。さらなる変形例において、図8(a)の第1先端開口76cは、径方向の幅が一定となるよう構成されてもよいし、アークチャンバの内部に向かうにつれて径方向の幅が小さくなる逆テーパー形状を有してもよい。図8(a)において、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも小さい。さらなる変形例において、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)と同じであってもよいし、それより大きくてもよい。
 図8(b)に示す第1カソード54Hでは、図8(a)と同様、第1サーマルシールド76の第1先端部76aが径方向内側に延在する。図8(b)では、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)が第1先端部76aよりもアークチャンバの内部に向けて突出しており、第1先端部76aは、第1カソードキャップ72に向かって径方向内側に延在している。図8(b)の第1先端開口76cは、径方向の幅がアークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるテーパー形状を有する。さらなる変形例において、図8(b)の第1先端開口76cは、径方向の幅が一定となるよう構成されてもよいし、アークチャンバの内部に向かうにつれて径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有してもよい。図8(b)において、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも大きい。
 図9(a),(b)は、変形例に係る第1カソード54I,54Jの構成を模式的に示す断面図である。図9(a)に示す第1カソード54Iでは、第1サーマルシールド76の第1テーパー部76gの内面76eのみがテーパー形状となっており、外面76hはテーパー形状となっていない。図9(a)では、第1テーパー部76gの内面76eは円錐台面であり、第1テーパー部76gの外面76hは円筒面である。図9(a)において、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも大きい。さらなる変形例では、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)と同じであってもよいし、それより小さくてもよい。
 図9(b)に示す第1カソード54Jにおいて、第1サーマルシールド76の第1延在部76dは、第1円筒部76fを有するが、第1テーパー部76gを有しない。図9(b)では、第1円筒部76fが第1カソード54と径方向に間隙をおいて隣り合っており、第1円筒部76fの先端に第1先端部76aが設けられる。第1先端部76aは、第1円筒部76fから径方向内側に延在している。図9(b)の第1先端開口76cは、アークチャンバの内部に向かうにつれて径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有する。さらなる変形例において、図9(b)の第1先端開口76cは、径方向の幅が一定となるよう構成されてもよいし、アークチャンバの内部に向かうにつれて径方向の幅が小さくなる逆テーパー形状を有してもよい。図9(b)において、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも小さい。さらなる変形例では、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)と同じであってもよいし、それより大きくてもよい。
 図9(a),(b)において、第1先端部76aは、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)よりもアークチャンバの内部に向けて突出している。さらなる変形例において、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)は、第1先端部76aと軸方向の位置が同じであってもよいし、第1先端部76aよりもアークチャンバの内部に向けて突出してもよい。
 図10(a),(b)は、変形例に係る第1カソード54K,54Lの構成を模式的に示す断面図である。図10(a),(b)に示す第1カソード54K,54Lでは、第1テーパー部76gがドーム状に構成されている。具体的には、第1テーパー部76gの内面76eおよび外面76hがアークチャンバの内部側に向けて凸となる曲面で構成される。第1テーパー部76gの内面76eおよび外面76hは、例えば、球面、楕円球面または回転放物面の一部となるように構成される。
 図10(a)に示す第1カソード54Kでは、第1先端部76aは、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)よりもアークチャンバの内部に向けて突出している。図10(a)において、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)と同じである。さらなる変形例として、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)より大きくてもよいし、小さくてもよい。
 図10(b)に示す第1カソード54Lにおいて、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)は、第1先端部76aよりもアークチャンバの内部に向けて突出している。第1先端部76aは、第1カソードキャップ72に向かって軸方向に対して斜めに延在している。図10(b)において、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも大きい。
 なお、図3~図10(b)に示される第1カソードキャップ72と第1サーマルシールド76の配置に関する特徴、および、図3~図10(b)に示される第1サーマルシールド76の形状に関する特徴は、適宜組み合わせて用いることができる。また、図3~図10(b)に示される第1カソードキャップ72は、円錐台形状ではなく、多角錐台形状であってもよい。図3~図10(b)に示される第1カソードキャップ72は、図3の中心軸Cに対して非回転対称となる形状を有してもよい。図3、図5(a)~図9(a)に示される第1テーパー部76gの内面76eで構成される空間の形状は、角錐台形状であってもよい。図9(b)に示される第1テーパー部76gの内面76eで構成される空間の形状は、多角柱形状であってもよい。図3~図10(b)示される第1テーパー部76gの内面76eで構成される空間の形状は、図3の中心軸Cに対して非回転対称となる形状を有してもよい。
 図11(a)~(o)は、変形例に係る第1カソードキャップ72の形状を模式的に示す断面図である。図11(a)~(o)は、図3~図10に示した円錐台形状とは異なる形状の第1カソードキャップ72を示す。図11(a)~(o)に示される第1カソードキャップ72は、図3~図10に示される円錐台形状の第1カソードキャップ72と置き換えて用いることができる。つまり、図11(a)~(o)に示される第1カソードキャップ72は、図3~図10に示される第1サーマルシールド76と組み合わせて用いることができる。
 図11(a)は、円柱形状(または多角柱形状)の第1カソードキャップ72を示す。図11(a)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面72dと、径方向に露出する円筒面(または多角筒面)で構成される側面72eとを有する。図11(a)において、熱電子放出面72aの径方向の幅が一定であり、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waおよび先端幅wbはともに、先端面72dの径方向の幅(側面72eの直径)に対応する。
 図11(b)は、円錐形状(または多角錐形状)の第1カソードキャップ72を示す。図11(b)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に突出する円錐面(または多角錐面)によって構成される。したがって、図11(b)の第1カソードキャップ72は、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面を有しない。図11(b)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは円錐形状(または多角錐形状)の底面の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅は0である。
 図11(c)は、ドーム形状の第1カソードキャップ72を示す。第1カソードキャップ72は、例えば、球体または楕円球体を半分に切断した形状を有する。図11(c)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に突出する曲面(例えば、球面、楕円球面または回転放物面の一部)によって構成され、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面を有しない。図11(c)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waはドーム形状の径方向の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅は0である。
 図11(d)は、円柱と円錐台(または多角柱と多角錐台)を同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示す。図11(d)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面72dと、円錐台面(または多角錐台面)で構成される第1側面72e1と、円筒面(または多角筒面)で構成される第2側面72e2とを有する。図11(d)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは円柱(または多角柱)の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wbは先端面72dの径方向の幅に対応する。
 図11(e)は、円柱と円錐(または多角柱と多角錐)を同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示す。図11(e)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に突出する円錐面(または多角錐面)で構成される先端面72dと、円筒面(または多角筒面)で構成される側面72eとを有する。図11(e)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは円柱(または多角柱)の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅は0である。
 図11(f)は、円柱とドーム形状を同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示す。図11(f)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に突出する曲面(例えば、球面、楕円球面または回転放物面の一部)で構成される先端面72dと、円筒面で構成される側面72eとを有する。図11(f)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは円柱の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅は0である。
 図11(g)は、直径の異なる二つの円柱(または多角柱)を同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示す。図11(g)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面72dと、直径の小さな円筒面(または多角筒面)で構成される第1側面72e1と、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出するリング状の平面で構成される中間端面72fと、直径の大きな円筒面(または多角筒面)で構成される第2側面72e2とを有する。図11(g)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは第2側面72e2の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wbは先端面72dの径方向の幅(第1側面72e1の直径)に対応する。
 図11(h)は、円柱(または多角柱)と、円柱よりも小さな直径の円錐(または多角柱よりも小さな直径の多角錐)を同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示す。図11(h)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出する円錐面(または多角錐面)で構成される先端面72dと、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出するリング状の平面で構成される中間端面72fと、円筒面(または多角筒面)で構成される側面72eとを有する。図11(h)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは側面72eの直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅は0である。
 図11(i)は、円柱(または多角柱)と、円柱(または多角柱)よりも小さな直径のドーム形状とを同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示す。図11(i)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に突出する曲面(例えば、球面、楕円球面または回転放物面の一部)で構成される先端面72dと、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出するリング状の平面で構成される中間端面72fと、円筒面(または多角筒面)で構成される側面72eとを有する。図11(i)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは側面72eの直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅は0である。
 図11(j)は、直径の異なる二つの円柱(または二つの多角柱)と、一つの円錐台(または一つの多角錐台)とを同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示し、一つの円錐台(または一つの多角錐台)が二つの円柱(または二つの多角柱)の間を接続している。図11(j)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面72dと、直径の小さな円筒面(または多角筒面)で構成される第1側面72e1と、円錐台面(または多角錐台面)で構成される第2側面72e2と、直径の大きな円筒面(または多角筒面)で構成される第3側面72e3とを有する。図11(j)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは第3側面72e3の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wbは先端面72dの径方向の幅(第1側面72e1の直径)に対応する。
 図11(k)は、円柱(または多角柱)と、円錐台(または多角錐台)と、円錐(または多角錐)とを同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示し、円錐台(または多角錐台)が円柱(または多角柱)と円錐(または多角錐)の間を接続している。図11(k)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に突出する円錐面(または多角錐面)で構成される先端面72dと、先端面72dとは異なる傾斜角を有する円錐台面(または多角錐台面)で構成される第1側面72e1と、円筒面(または多角筒面)で構成される第2側面72e2とを有する。図11(k)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは第2側面72e2の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅は0である。
 図11(l)は、円柱と、円錐台と、ドーム形状とを同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示し、円錐台が円柱とドーム形状の間を接続している。図11(l)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に突出する曲面(例えば、球面、楕円球面または回転放物面の一部)で構成される先端面72dと、円錐台面で構成される第1側面72e1と、円筒面で構成される第2側面72e2とを有する。図11(l)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは第2側面72e2の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅は0である。
 図11(m)は、円柱の先端の縁が面取りされた形状を有する第1カソードキャップ72を示す。図11(m)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面72dと、軸方向に対して斜めに突出する曲面で構成される第1側面72e1と、円筒面で構成される第2側面72e2とを有する。図11(l)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは第2側面72e2の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wbは先端面72dの径方向の幅に対応する。
 図11(n)は、ドーム形状の先端を切断した形状を有する第1カソードキャップ72を示す。図11(n)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面72dと、径方向外側およびアークチャンバの内部側に向けて凸となる曲面で構成される側面72eとを有する。図11(n)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waはドーム形状の径方向の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wbは先端面72dの径方向の幅に対応する。
 図11(o)は、円錐台とドーム形状を同軸上に重ねた形状を有する第1カソードキャップ72を示す。図11(o)に示す第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aは、アークチャンバの内部に向けて軸方向に突出する曲面(例えば、球面、楕円球面または回転放物面の一部)で構成される先端面72dと、円錐台面で構成される側面72eとを有する。図11(o)において、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waは円錐台(側面72e)の直径に対応し、熱電子放出面72aの径方向の先端幅は0である。
(第2の実施の形態)
 図12は、第2の実施の形態に係る第1カソード154の構成を詳細に示す断面図である。第2の実施の形態に係る第1カソード154は、第2サーマルシールド78をさらに含む点で、第1の実施の形態と相違する。以下、第2の実施の形態について、第1の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 第1カソード154は、第1加熱源70と、第1カソードキャップ72と、第1サーマルブレイク74と、第1サーマルシールド76と、第2サーマルシールド78とを含む。第1加熱源70、第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74および第1サーマルシールド76は、第1の実施の形態と同様に構成される。
 第2サーマルシールド78は、第1サーマルシールド76の径方向外側において軸方向に筒状に延在する。第2サーマルシールド78は、高温状態となる第1サーマルシールド76からの熱輻射を反射し、第1サーマルシールド76からの熱逃げを抑制することにより、第1サーマルシールド76の温度上昇を促進する。第2サーマルシールド78は、第1サーマルシールド76の温度上昇を促進することにより、第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74の温度上昇を促進する。第2の実施の形態において、第2サーマルシールド78の電位は、第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74および第1サーマルシールド76の電位と同じである。
 第2サーマルシールド78は、軸方向に対して回転対称な形状を有し、例えば、中心軸Cと同軸となるように配置される。第2サーマルシールド78は、アークチャンバ50の内部に向けて矢印A1の方向に突出する第2先端部78aと、アークチャンバ50の外部に向けて矢印A2の方向に突出する第2末端部78bとを有する。
 図12に示される第2先端部78aは、第1サーマルシールド76の第1先端部76aよりもアークチャンバ50の内部に向けて突出している。つまり、第2先端部78aの軸方向の位置は、第1先端部76aの軸方向の位置よりもアークチャンバ50の内部側にある。第2末端部78bは、第1カソード支持部材64に取り付けられる。変形例において、第2末端部78bは、第1サーマルシールド76または第1サーマルブレイク74に取り付けられてもよい。
 第2サーマルシールド78は、第2先端部78aにおいて軸方向に開口する第2先端開口78cを有する。第2先端開口78cは、第1カソードキャップ72から内部空間Sに向けて供給される熱電子を通過させる。第2先端開口78cにおける径方向の第2開口幅w2は、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1よりも大きい。図12に示される第2先端開口78cの第2開口幅w2は、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waより大きい。第2先端開口78cにおける径方向の第2開口幅w2は、第1サーマルシールド76の第1延在部76dの外面76hの径方向の最大幅w1aよりも小さい。
 第2サーマルシールド78は、第2末端部78bから第2先端部78aに向けて軸方向に筒状に延在する第2延在部78dを有する。第2延在部78dは、第1サーマルシールド76の第1延在部76dと径方向に間隙をおいて隣り合う。第2延在部78dは、第2円筒部78fと、第2テーパー部78gとを有する。
 第2円筒部78fは、第2延在部78dの内面78eの径方向の幅が一定となる部分であり、第1サーマルシールド76の第1円筒部76fと径方向に間隙をおいて隣り合うように配置される。第2円筒部78fは、少なくとも内面78eが円筒形状となるよう構成される。第2円筒部78fは、例えば、第2延在部78dの内面78eから第1延在部76dの外面76hまでの間隔d3が一定となるように構成される。図12に示される第2円筒部78fの軸方向の長さは、第1円筒部76fの軸方向の長さと同じである。変形例において、第2円筒部78fの軸方向の長さは、第1円筒部76fの軸方向の長さより大きくてもよいし、小さくてもよい。
 第2テーパー部78gは、第2延在部78dの内面78eの径方向の幅が軸方向に変化する部分であり、第2延在部78dの内面78eの径方向の幅がアークチャンバ50の内部に向かうにつれて小さくなる部分である。第2テーパー部78gは、第1サーマルシールド76の第1テーパー部76gと径方向に間隙をおいて隣り合うように配置され、第1テーパー部76gに沿って配置される。第2テーパー部78gは、少なくとも内面78eが円錐形状となるよう構成される。図12に示される第2テーパー部78gは、第2延在部78dの内面78eから第1延在部76dの外面76hまでの間隔d4が一定となるように構成される。なお、変形例において、間隔d4が軸方向の位置に応じて変化してもよく、アークチャンバ50の内部に向かうにつれて間隔d4が小さくなるように構成されてもよいし、アークチャンバ50の内部に向かうにつれて間隔d4が大きくなるように構成されてもよい。図12に示される第2テーパー部78gの軸方向の長さは、第1テーパー部76gの軸方向の長さよりも大きい。変形例において、第2テーパー部78gの軸方向の長さは、第1テーパー部76gの軸方向の長さと同じでもよいし、それよりも小さくてもよい。
 第2の実施の形態では、上述の特徴(1)および(2)を組み合わせて採用することにより、低アーク条件においてより多くの多価イオンが生成されるようにする。具体的には、複数のサーマルシールド76,78を組み合わせて用いることで、一つのサーマルシールド76を用いる場合に比べて第1カソードキャップ72の温度上昇を促進できる。さらに、第1サーマルシールド76を利用して、第1カソードキャップ72からアークチャンバ50の内部空間Sに向けて熱電子が放出される範囲を狭くすることにより、より狭い範囲により高密度のプラズマを生成できる。
(第2の実施の形態に係る変形例)
 以下、図13(a)~図16(b)を参照して、第2の実施の形態に係る第1カソード154の変形例を示す。以下では、第1カソードキャップ72、第1サーマルシールド76および第2サーマルシールド78の構造を示しながら、上述の実施の形態にて説明した内容との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 図13(a)~(c)は、変形例に係る第1カソード154A,154B,154Cの構成を模式的に示す断面図である。図13(a)に示す第1カソード154Aでは、第1先端部76aおよび第2先端部78aの軸方向の位置が同じであり、第1先端部76aおよび第2先端部78aは、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)よりもアークチャンバの内部に向けて突出している。図13(b)に示す第1カソード154Bでは、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)、第1先端部76aおよび第2先端部78aの軸方向の位置が同じである。図13(c)に示す第1カソード154Cでは、第1先端部76aおよび第2先端部78aの軸方向の位置が同じであり、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)が第1先端部76aおよび第2先端部78aよりもアークチャンバの内部に向けて突出している。
 図14(a)~(c)は、変形例に係る第1カソード154D,154E,154Fの構成を模式的に示す断面図である。図14(a)に示す第1カソード154Dでは、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)と第1先端部76aの軸方向の位置が同じであり、第2先端部78aは、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)および第1先端部76aよりもアークチャンバの内部に向けて突出している。図14(b)に示す第1カソード154Eでは、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)および第2先端部78aの軸方向の位置が同じであり、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)および第2先端部78aは、第1先端部76aよりもアークチャンバの内部に向けて突出している。図14(c)に示す第1カソード154Fでは、第1先端部76aよりも第2先端部78aがアークチャンバの内部に向けて突出しており、第2先端部78aよりも第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)がアークチャンバの内部に向けて突出している。
 図15(a),(b)は、変形例に係る第1カソード154G,154Hの構成を模式的に示す断面図である。図15(a),(b)に示す第1カソード154G,154Hでは、第2サーマルシールド78の第2先端部78aが径方向内側に延在するよう構成される。また、第2先端開口78cは、アークチャンバの内部に向かうにつれて径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有する。
 図15(a)において、第2先端開口78cにおける径方向の第2開口幅w2は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの最大幅waよりも小さく、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1および第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも大きくなるよう構成される。なお、さらなる変形例において、第2先端開口78cの第2開口幅w2は、第1先端開口76cの第1開口幅w1と同じであってもよい。つまり、第2先端開口78cの第2開口幅w2は、第1先端開口76cの第1開口幅w1以上であってもよい。
 図15(b)では、第2先端開口78cにおける径方向の第2開口幅w2は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの最大幅waおよび第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1よりも小さく、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも大きくなるよう構成される。この場合、第2先端開口78cも第1先端開口76cと同様に、熱電子放出面72aから放出される熱電子の通過範囲を狭めるように構成される。さらなる変形例において、第2先端開口78cの第2開口幅w2は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)と同じであってもよく、それより小さくてもよい。
 図15(a),(b)では、径方向内側に延在する第2先端部78aによって第2先端開口78cの第2開口幅w2を調整している。さらなる変形例では、第2先端部78aが径方向内側に延在しない構成、つまり、図12~図14(c)に示されるような構成において、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの最大幅wa、先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)、第1先端開口76cの第1開口幅w1のいずれかと同じ、または、いずれかよりも小さな第2開口幅w2が設定されてもよい。
 図16(a),(b)は、変形例に係る第1カソード154I,154Jの構成を模式的に示す断面図である。図16(a),(b)に示す第1カソード154I,154Jにおいて、第2サーマルシールド78の第2延在部78dは、第2円筒部78fを有するが、第2テーパー部78gを有しない。図16(a),(b)では、第2円筒部78fが第1テーパー部76gと径方向に間隙をおいて隣り合っており、第2円筒部78fの先端に第2先端部78aが設けられる。
 図16(a)において、第2先端部78aは、第2円筒部78fから径方向内側に延在している。また、第2先端開口78cは、アークチャンバの内部に向かうにつれて径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有する。図16(a)において、第2先端開口78cにおける径方向の第2開口幅w2は、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1よりも小さく、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも大きい。この場合、第2先端開口78cも第1先端開口76cと同様に、熱電子放出面72aから放出される熱電子の通過範囲を狭めるように構成される。さらなる変形例において、第2先端開口78cの第2開口幅w2は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)と同じであってもよく、それより小さくてもよい。なお、第2先端開口78cの第2開口幅w2は、第1先端開口76cの第1開口幅w1と同じであってもよいし、それより大きくてもよい。この場合、第2先端開口78cの第2開口幅w2は、第1サーマルシールド76の第1延在部76dの径方向の最大幅w1aより小さくてもよいし、それと同じであってもよいし、それよりも大きくてもよい。
 図16(b)において、第2先端部78aは、第2円筒部78fから径方向内側に延在していない。したがって、図16(b)では、第2先端開口78cにおける径方向の第2開口幅w2は、第2延在部78dの内面78eの径方向の幅に対応し、第1延在部76dの径方向の最大幅w1aよりも大きい。
 第2の実施の形態のさらなる変形例では、第2サーマルシールド78の形状として、図9(a),図10(a),(b)に示される第1サーマルシールド76と同様の形状を採用してもよい。また、第1カソードキャップ72の形状として、図11(a)~(o)に示される第1カソードキャップ72を採用してもよい。さらに、第2の実施の形態においても、図3~図10(b)に示される第1カソードキャップ72と第1サーマルシールド76の配置に関する特徴、および、図3~図10(b)に示される第1サーマルシールド76の形状に関する特徴は、適宜組み合わせて用いることができる。
(第3の実施の形態)
 図17は、第3の実施の形態に係る第1カソード254の構成を詳細に示す断面図である。第3の実施の形態に係る第1カソード254は、第1サーマルシールド276がアークチャンバ50に取り付けられている点で、第1の実施の形態と相違する。以下、第3の実施の形態について、第1の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 第1カソード254は、第1加熱源70と、第1カソードキャップ72と、第1サーマルブレイク74と、第1サーマルシールド276とを含む。第1加熱源70、第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74は、第1の実施の形態と同様に構成される。
 第1サーマルシールド276は、第1カソードキャップ72の径方向外側に設けられる。第1サーマルシールド276は、アークチャンバ50の内部に向けて矢印A1の方向に突出する第1先端部276aと、アークチャンバ50の外部に向けて矢印A2の方向に突出する第1末端部276bとを有する。第1先端部276aは、第1カソードキャップ72よりもアークチャンバ50の内部に向けて突出している。つまり、第1先端部276aの軸方向の位置は、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)の軸方向の位置よりもアークチャンバ50の内部側にある。第1末端部276bは、アークチャンバ50に取り付けられ、例えば、アークチャンバ50の第1端壁50cに取り付けられる。第1サーマルシールド276は、第1端壁50cと一体となるように構成されてもよく、第1端壁50cからアークチャンバ50の内部に向けて軸方向に延在するよう構成されてもよい。
 第1サーマルシールド276は、第1先端部276aにおいて軸方向に開口する第1先端開口276cを有する。第1先端開口276cは、第1カソードキャップ72から内部空間Sに向けて供給される熱電子を通過させる。第1先端開口276cにおける径方向の第1開口幅w1は、第1カソードキャップ72の径方向の最大幅(フランジ72cの位置での径方向の幅)よりも小さく、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waよりも小さい。第1先端開口276cの第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも大きい。
 第1サーマルシールド276は、第1末端部276bから第1先端部276aに向けて軸方向に筒状に延在する第1延在部276dを有する。第1延在部276dは、第1カソードキャップ72と径方向に間隙をおいて隣り合う。第1延在部276dは、第1延在部276dの内面276eの径方向の幅がアークチャンバ50の内部に向かうにつれて小さくなる第1テーパー部276gを有する。第1延在部276dは、その全体が第1テーパー部276gとなるように構成される。第1テーパー部276gは、第1カソードキャップ72と径方向に間隙をおいて隣り合うように配置され、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72a(側面72e)に沿って配置される。第1テーパー部276gは、少なくとも内面276eが円錐台形状となるよう構成される。第1テーパー部276gは、例えば、第1延在部276dの内面276eから第1カソードキャップ72までの間隔d2が一定となるように構成される。例えば、第1テーパー部276gの内面276eの径方向に対する傾斜角θ2は、第1カソードキャップ72の側面72eの径方向に対する傾斜角θ1と同じである。第1テーパー部276gは、外面276hが円錐台形状となるよう構成されてもよい。
 第3の実施の形態において、第1サーマルシールド276の電位は、アークチャンバ50の電位と同じである。アークチャンバ50と第1カソードキャップ72の間には第1アーク電源58cによるアーク電圧が印加されている。そのため、第1サーマルシールド276の電位は、第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74の電位とは異なり、第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74よりもアーク電圧の分だけ高い。第1カソードキャップ72および第1サーマルブレイク74に対する第1サーマルシールド276の電位(つまり、アーク電圧)は、例えば、+30V~+150Vである。
 第3の実施の形態では、上述の特徴(3)を採用することにより、低アーク条件においてより多くの多価イオンが生成されるようにする。具体的には、第1サーマルシールド276に熱電子を引き出すための電圧(ここでは、アーク電圧に等しい)を印加することにより、第1カソードキャップ72からアークチャンバ50の内部に向けて熱電子をより効率的に引き出すことができる。その結果、第1サーマルシールド276および第1カソードキャップ72の電位が同じとなる場合に比べて、アークチャンバ50の内部空間Sに向けてより多くの熱電子を供給することができ、低アーク条件であっても、より高密度のプラズマを生成できる。
 第3の実施の形態によれば、第1サーマルシールド276の第1先端部276aを第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)よりもアークチャンバ50の内部に向けて突出させることにより、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)から放出される熱電子をより効率的に引き出すことができる。これにより、第1先端部276aよりも第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)がアークチャンバ50の内部に向けて突出する構成に比べて、アークチャンバ50の内部空間Sに向けてより多くの熱電子を供給できる。
 第3の実施の形態において、上述の特徴(1)をさらに組み合わせて採用することにより、低アーク条件においてより多くの多価イオンを生成することができる。具体的には、第1サーマルシールド276の第1先端部276aにおける径方向の第1開口幅w1を熱電子放出面72aの径方向の最大幅waよりも小さくすることで、アークチャンバ50の内部空間Sのより狭い範囲により多くの熱電子を供給し、より高密度のプラズマを生成できる。
(第3の実施の形態に係る変形例)
 第3の実施の形態においても、第1の実施の形態に係る変形例における第1サーマルシールド76と同様の構造を採用できる。第1サーマルシールド276は、第1サーマルシールド276の内面276eから第1カソードキャップ72までの間隔d2が軸方向の位置に応じて変化してもよい。第1サーマルシールド276の内面276eから第1カソードキャップ72までの間隔d2は、図6(a)のようにアークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるように構成されてもよい。第1サーマルシールド276の内面276eから第1カソードキャップ72までの間隔d2は、図6(b)のようにアークチャンバの内部に向かうにつれて大きくなるよう構成されてもよい。
 第1サーマルシールド276は、図7(a)と同様、第1先端部276aにおける径方向の第1開口幅w1が熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)と同じとなるように構成されてもよい。第1サーマルシールド276は、図7(b)と同様、第1先端部276aにおける径方向の第1開口幅w1が熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)より小さくなるよう構成されてもよい。
 第1サーマルシールド276は、図8(a)と同様、第1先端部276aが径方向内側に延在するように構成されてもよい。この場合、第1先端開口276cは、アークチャンバの内部に向かうにつれて径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有してもよい。第1先端開口276cにおける径方向の第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)より小さくてもよいし、それと同じであってもよいし、それより大きくてもよい。
 第1サーマルシールド276は、図9(a)と同様、第1テーパー部276gの内面276eのみがテーパー形状となり、第1テーパー部276gの外面がテーパー形状とならないように構成されてもよい。第1サーマルシールド276は、図9(b)と同様、第1延在部276dが第1円筒部のみを含み、第1テーパー部276gを含まないように構成されてもよい。この場合、第1先端部276aは、径方向内側に延在するように構成されてもよい。第1先端開口276cは、アークチャンバの内部に向かうにつれて径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有してもよい。
 第1サーマルシールド276は、図10(a)と同様、第1テーパー部276gがドーム状に構成されてもよい。つまり、第1テーパー部276gの内面276eおよび外面276hは、径方向外側およびアークチャンバの内部側に向けて凸となる曲面で構成されてもよい。第1テーパー部276gの内面276eおよび外面276hは、球面、楕円球面または回転放物面の一部となるように構成されてもよい。
 図18(a),(b)は、変形例に係る第1カソード254A,254Bの構成を模式的に示す断面図である。図18(a)に示す第1カソード254Aにおいて、第1サーマルシールド276の第1延在部276dは、第1円筒部276fおよび第1テーパー部276gを有する。第1円筒部276fは、第1延在部276dの内面276eの径方向の幅が一定となる部分である。第1円筒部276fは、第1テーパー部276gよりもアークチャンバの外部側に設けられる。第1末端部276bは、第1円筒部276fの末端に設けられる。第1テーパー部276gは、第1円筒部276fよりもアークチャンバの内部側に設けられる。第1先端部276aは、第1テーパー部276gの先端に設けられる。
 図18(a)において、第1先端開口276cにおける径方向の第1開口幅w1は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の最大幅waよりも小さく、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)よりも大きい。なお、第1先端開口276cの第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waと同じであってもよいし、それより大きくてもよい。第1先端開口276cの第1開口幅w1は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)と同じであってもよいし、それより小さくてもよい。
 図18(b)に示す第1カソード254Bにおいて、第1サーマルシールド276の第1延在部276dは、第1円筒部276fを有するが、第1テーパー部(例えば、図18(a)の276g)を有しない。第1延在部276dは、第1延在部276dの内面276eの径方向の幅が一定となるように構成される。第1先端部276aは、第1円筒部276fの先端に設けられる。第1末端部276bは、第1円筒部276fの末端に設けられる。図18(b)において、第1先端開口276cにおける径方向の第1開口幅w1は、第1カソードキャップ72の熱電子放出面72aの径方向の最大幅waよりも大きい。
 第3の実施の形態のさらなる変形例では、第1カソードキャップ72の形状として、図11(a)~(o)に示される第1カソードキャップ72の形状を採用してもよい。
 第3の実施の形態のさらなる変形例では、第1サーマルシールド276の電位は、アークチャンバ50の電位と異なってもよい。この場合、第1サーマルシールド276とアークチャンバ50の間に設けられる電気絶縁部材を介して、第1サーマルシールド276が第1端壁50cに取り付けられてもよい。第1サーマルシールド276の電位は、アークチャンバ50の電位よりも低くてもよい。例えば、第1カソードキャップ72に対するアークチャンバ50の電位が+30V~+150Vである一方、第1カソードキャップ72に対する第1サーマルシールド276の電位が+5V~+100Vであってもよい。
(第4の実施の形態)
 図19は、第4の実施の形態に係る第1カソード354の構成を詳細に示す断面図である。第4の実施の形態に係る第1カソード354は、アークチャンバ50に取り付けられる第2サーマルシールド378を含む点で、第1の実施の形態および第2の実施の形態と相違する。以下、第4の実施の形態について、第1の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 第1カソード354は、第1加熱源70と、第1カソードキャップ72と、第1サーマルブレイク74と、第1サーマルシールド76と、第2サーマルシールド378とを含む。第1加熱源70、第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74および第1サーマルシールド76は、第1の実施の形態と同様に構成される。
 第2サーマルシールド378は、第1サーマルシールド76の径方向外側において軸方向に筒状に延在する。第2サーマルシールド378は、軸方向に対して回転対称な形状を有し、例えば、図4に示す中心軸Cと同軸となるように配置される。第2サーマルシールド378は、高温状態となる第1サーマルシールド76からの熱輻射を反射し、第1サーマルシールド76からの熱逃げを抑制することにより、第1サーマルシールド76の温度上昇を促進する。第2サーマルシールド378は、第1サーマルシールド76の温度上昇を促進することにより、第1サーマルブレイク74および第1カソードキャップ72の温度上昇を促進する。
 第4の実施の形態において、第2サーマルシールド378の電位は、アークチャンバ50の電位と同じであり、第1サーマルシールド76の電位は、第1カソードキャップ72の電位と同じである。アークチャンバ50と第1カソードキャップ72の間には第1アーク電源58cによるアーク電圧が印加されている。そのため、第2サーマルシールド378の電位は、第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74および第1サーマルシールド76の電位とは異なり、第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74および第1サーマルシールド76よりもアーク電圧の分だけ高い。第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74および第1サーマルシールド76に対する第2サーマルシールド378の電位(つまり、アーク電圧)は、例えば、+30V~+150Vである。
 第2サーマルシールド378は、アークチャンバ50の内部に向けて矢印A1の方向に突出する第2先端部378aと、アークチャンバ50の外部に向けて矢印A2の方向に突出する第2末端部378bとを有する。第2先端部378aは、第1カソードキャップ72および第1サーマルシールド76よりもアークチャンバ50の内部に向けて突出している。つまり、第2先端部378aの軸方向の位置は、第1カソードキャップ72の先端(先端面72d)の軸方向の位置よりもアークチャンバ50の内部側にあり、第1サーマルシールド76の第1先端部76aの軸方向の位置よりもアークチャンバ50の内部側にある。第2末端部378bは、アークチャンバ50に取り付けられ、例えば、アークチャンバ50の第1端壁50cに取り付けられる。
 第2サーマルシールド378は、第2先端部378aにおいて軸方向に開口する第2先端開口378cを有する。第2先端開口378cは、第1カソードキャップ72から内部空間Sに向けて供給される熱電子を通過させる。第2先端開口378cにおける径方向の第2開口幅w2は、第1サーマルシールド76の外面76hの径方向の最大幅w1aよりも小さい。図19に示される第2先端開口378cの第2開口幅w2は、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1よりも大きく、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waより大きい。なお、第2先端開口378cの第2開口幅w2は、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1と同じであってもよい。つまり、第2先端開口378cの第2開口幅w2は、第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1以上であってもよい。
 第2サーマルシールド378は、第2末端部378bから第2先端部378aに向けて軸方向に筒状に延在する第2延在部378dを有する。第2延在部378dは、第1サーマルシールド76の第1延在部76dと径方向に間隙をおいて隣り合う。第2延在部378dは、第2延在部378dの内面378eの径方向の幅がアークチャンバ50の内部に向かうにつれて小さくなる第2テーパー部378gを有する。第2延在部378dは、その全体が第2テーパー部378gとなるように構成される。第2テーパー部378gは、第1テーパー部76gと径方向に間隙をおいて隣り合うように配置され、第1テーパー部76gの外面76hに沿って配置される。第2テーパー部378gは、少なくとも内面378eが円錐台形状となるよう構成される。第2テーパー部378gは、外面378hが円錐台形状となるよう構成されてもよい。第2テーパー部378gは、例えば、第2延在部378dの内面378eから第1延在部76dの外面76hまでの間隔d4が一定となるように構成される。
 第4の実施の形態では、上述の特徴(1)~(3)を組み合わせて採用することにより、低アーク条件においてより多くの多価イオンが生成されるようにする。具体的には、第1サーマルシールド76を利用して、第1カソードキャップ72からアークチャンバ50の内部空間Sに向けて熱電子が放出される範囲を狭くすることにより、より狭い範囲により高密度のプラズマを生成できる。また、複数のサーマルシールド76,378を用いることで、一つのサーマルシールド76を用いる場合に比べて第1カソードキャップ72の温度上昇を促進できる。さらに、第2サーマルシールド378に熱電子を引き出すための電圧(ここでは、アーク電圧に等しい)を印加することにより、第1カソードキャップ72からアークチャンバ50の内部に向けて熱電子をより効率的に引き出すことができる。
 第4の実施の形態によれば、第2先端開口378cの第2開口幅w2が第1先端開口76cにおける径方向の第1開口幅w1以上となるため、第1カソードキャップ72からアークチャンバ50の内部空間Sに向けて熱電子が放出される範囲は、第1先端開口76cの第1開口幅w1によって制限される。その結果、第1サーマルシールド76によって上述の特徴(1)を実現し、第2サーマルシールド378によって特徴(3)を実現することができる。二つの特徴(1),(3)のそれぞれを個別のサーマルシールド76,378によって実現することで、それぞれの特徴(1),(3)に最適となるようにサーマルシールド76,378の形状を決定できる。
(第4の実施の形態に係る変形例)
 図20は、変形例に係る第1カソード354Aの構成を詳細に示す断面図である。図20に示す第1カソード354Aにおいて、第2サーマルシールド378は、アークチャンバ50の第1端壁50cと一体となるように構成される。つまり、アークチャンバ50の第1端壁50cは、アークチャンバ50の内部に軸方向に延在するよう構成される第2サーマルシールド378を有する。
 第2サーマルシールド378は、第1端壁50cに接合される第2末端部378bを有する。第2サーマルシールド378は、第2末端部378bから第2先端部378aに向けて軸方向に延在する第2延在部378dを有する。第2延在部378dは、第2延在部378dの内面378eおよび外面378hの径方向の幅が一定となるよう構成される第2円筒部378fを有する。第2延在部378dは、第2円筒部378fのみで構成され、第2テーパー部(例えば図19の378g)を有しない。第2先端部378aは、第2延在部378dの先端から径方向内側に延在するよう構成される。第2先端開口378cは、アークチャンバ50の内部に向かうにつれて径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有する。
 なお、図20に示す第2延在部378dは、図19に示すように第2テーパー部378gのみを有してもよい。図20に示す第2延在部378dは、図18(a)に示される第1サーマルシールド276と同様に、第2円筒部378fおよび第2テーパー部378gの双方を有してもよい。第2先端開口378cの第2開口幅w2は、第1サーマルシールド76の外面76hの径方向の最大幅w1aより大きくてもよいし、それと同じであってもよいし、それより小さくてもよい。第2先端開口378cの第2開口幅w2は、第1カソードキャップ72の径方向の最大幅より大きくてもよいし、それと同じであってもよいし、それより小さくてもよい。第2先端開口378cの第2開口幅w2は、熱電子放出面72aの径方向の最大幅waより大きくてもよいし、それと同じであってもよいし、それより小さくてもよい。第2先端開口378cの第2開口幅w2は、第1先端開口76cの第1開口幅w1より大きくてもよいし、それと同じであってもよいし、それより小さくてもよい。第2先端開口378cの第2開口幅w2は、熱電子放出面72aの径方向の先端幅wb(先端面72dの径方向の幅wb)より大きくてもよいし、それと同じであってもよいし、それより小さくてもよい。
 第4の実施の形態においても、上述の第1実施の形態に係る変形例を適用することができる。第4の実施の形態に係る第1カソードキャップ72および第1サーマルシールド76として、図3~図10(b)に示される構造を用いることができる。また、第4の実施の形態に係る第1カソードキャップ72の形状として、図11(a)~(o)に示される形状を用いることができる。また、第4の実施の形態に係る第2サーマルシールド378として、図12~図16(b)に示される第2サーマルシールド78と同様の構造を用いてもよい。
(第5の実施の形態)
 図21は、第5の実施の形態に係るイオン生成装置410の概略構成を示す断面図である。第5の実施の形態では、リペラー456がサーマルシールド86(以下、第3サーマルシールド86ともいう)を含む点で、上述の第1の実施の形態と相違する。以下、第5の実施の形態について、第1の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 イオン生成装置410は、アークチャンバ50と、磁場生成器52と、第1カソード54と、リペラー456と、第1フィラメント電源58aと、第1カソード電源58bと、第1アーク電源58cと、引出電源58dと、リペラー電源58eとを備える。アークチャンバ50、磁場生成器52、第1カソード54および各種電源58a~58eは、第1の実施の形態と同様に構成される。なお、リペラー電源58eが設けられなくてもよく、リペラー456が浮遊電位となるように構成されてもよい。また、リペラー電源58eが設けられない構成において、リペラー456にアーク電源58cを接続することにより、リペラー456にアーク電圧を印加してもよい。
 リペラー456は、リペラーヘッド80と、リペラー軸82と、リペラー接続部84と、第3サーマルシールド86を含む。リペラーヘッド80およびリペラー軸82は、上述の第1の実施の形態と同様に構成される。
 リペラー接続部84は、リペラーヘッド80とリペラー軸82の間に設けられ、径方向に延在する円板形状を有する。第3サーマルシールド86は、リペラーヘッド80の径方向外側に設けられ、リペラー接続部84の外周からアークチャンバ50の内部に向けて軸方向に筒状に延在する。第3サーマルシールド86は、高温状態となるリペラーヘッド80からの熱輻射を反射し、リペラーヘッド80からの熱逃げを抑制することにより、リペラーヘッド80の温度上昇を促進する。リペラー接続部84および第3サーマルシールド86は、高融点材料で構成され、例えば、タングステン、モリブデン、タンタルなどの高融点金属、それらの合金、またはグラファイトが用いられる。
 図22は、第5の実施の形態に係るリペラー456の構成を詳細に示す断面図であり、図21に示されるリペラー456の拡大図である。図22において、第2端壁50dを基準として、アークチャンバ50の外部から内部に向けて軸方向に延びる方向を矢印A3で示している。矢印A3は、軸方向に沿ってアークチャンバ50の内部側に向かう方向である。矢印A4は、矢印A3とは反対の方向であり、軸方向に沿ってアークチャンバ50の外部側に向かう方向である。
 リペラーヘッド80は、アークチャンバ50の内部に向けて軸方向に突出する中実部材であり、内部空間Sに露出するように配置される。リペラーヘッド80は、軸方向に延びる中心軸Cに対して回転対称な形状を有し、例えば、円柱の上面および下面の縁が面取りされた形状を有する。リペラーヘッド80は、アークチャンバ50の内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面80aと、アークチャンバ50の外部に向けられる平面で構成される末端面80bと、径方向外側に向けられる円筒面で構成される側面80cとを有する。リペラー接続部84は、軸方向に延びる中心軸Cに対して回転対称な形状を有し、リペラーヘッド80およびリペラー軸82と同軸となるように配置される。
 第3サーマルシールド86は、アークチャンバ50の内部に向けて矢印A3の方向に突出する第3先端部86aを有する。第3サーマルシールド86は、第3先端部86aにおいて軸方向に開口する第3先端開口86cを有する。第3サーマルシールド86は、リペラー接続部84から第3先端部86aに向けて軸方向に筒状に延在する第3延在部86dを有する。第3延在部86dは、リペラーヘッド80と径方向に間隙をおいて隣り合う。第3サーマルシールド86は、軸方向に延びる中心軸Cに対して回転対称な形状を有する。第3サーマルシールド86は、例えば、リペラーヘッド80、リペラー軸82およびリペラー接続部84と同軸となるように配置されている。
 第3サーマルシールド86の第3先端部86aの軸方向の位置は、リペラーヘッド80の先端(先端面80a)の軸方向の位置と同じである。変形例において、第3サーマルシールド86の第3先端部86aは、リペラーヘッド80の先端(先端面80a)よりもアークチャンバの内部に向けて突出してもよい。別の変形例において、リペラーヘッド80の先端(先端面80a)は、第3サーマルシールド86の第3先端部86aよりもアークチャンバの内部に向けて突出してもよい。
 第3延在部86dは、第3円筒部86fを有する。第3円筒部86fは、第3延在部86dの内面86eの径方向の幅が一定となる部分である。第3円筒部86fは、少なくとも内面86eが円筒形状となるよう構成される。第3円筒部86fは、例えば、第3延在部86dの内面86eからリペラーヘッド80の側面80cまでの間隔d5が一定となるように構成される。図22に示される第3延在部86dは、第3円筒部86fのみで構成され、テーパー部を有しないように構成される。なお、変形例において、第3サーマルシールド86の第3延在部86dは、第3テーパー部を有してもよい。第3テーパー部は、第3延在部86dの内面86eの径方向の幅が軸方向の位置に応じて変化するよう構成される。例えば、第3延在部86dの内面86eの径方向の幅は、アークチャンバの内部に向かうにつれて大きくなるように構成されてもよいし、逆に、アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるように構成されてもよい。つまり、第3延在部86dの内面86eからリペラーヘッド80の側面80cまでの間隔d5は、アークチャンバの内部に向かうにつれて大きくなるように構成されてもよいし、逆に、アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるように構成されてもよい。
 第5の実施の形態では、上述の特徴(4)を採用することにより、低アーク条件においてより多くの多価イオンが生成されるようにする。リペラーヘッド80は、プラズマ生成領域Pにて生成されるプラズマとの相互作用によって加熱され、高温状態となる。第3サーマルシールド86は、高温状態となるリペラーヘッド80からの熱輻射を反射し、リペラーヘッド80からの熱逃げを抑制することにより、リペラーヘッド80の温度上昇を促進する。高温状態に維持されるリペラーヘッド80からは熱電子が放出されるため、この様な温度上昇の促進により、リペラーヘッド80からアークチャンバ50の内部空間Sに向けてより多くの熱電子を供給できる。したがって、本実施の形態によれば、リペラーヘッド80の周囲に第3サーマルシールド86を設けることにより、プラズマ生成領域Pにおけるプラズマ生成効率を高めることができる。
 第5の実施の形態に係るリペラー456は、第1の実施の形態の変型例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよく、第2の実施の形態、第3の実施の形態もしくは第4の実施の形態、または、これらの変形例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。
(第5の実施の形態に係る変形例)
 図23は、変形例に係るリペラー456Aの構成を詳細に示す断面図である。リペラー456Aは、リペラーヘッド480と、リペラー軸82と、リペラー接続部84と、第3サーマルシールド86を含む。本変形例では、上述の特徴(5)を採用し、リペラーヘッド480の周囲に設けられる第3サーマルシールド86を利用して、リペラーヘッド480からアークチャンバ50の内部空間Sに向けて熱電子が放出される範囲を狭くする。本変形例について、上述した第5の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 リペラーヘッド480は、アークチャンバ50の内部に向かうにつれて径方向の幅が小さくなるテーパー形状を有し、例えば、図23の断面において左右対称な台形状を有する。リペラーヘッド480は、軸方向に延びる中心軸Cに対して回転対称な形状を有し、例えば、円錐台形状を有する。リペラーヘッド480は、アークチャンバ50の内部に向けて軸方向に露出する平面で構成される先端面480aと、軸方向に対して斜めとなる方向に露出する側面480cとを有する。リペラーヘッド480の先端面480aおよび側面480cは、アークチャンバ50の内部空間Sに向けて熱電子を放出する熱電子放出面である。リペラーヘッド480の先端面480aの径方向の幅wdは、リペラーヘッド480の径方向の最大幅wcよりも小さい。
 第3サーマルシールド86の第3延在部86dは、内面86eの径方向の幅がアークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるよう構成される第3テーパー部86gを有する。第3テーパー部86gは、リペラーヘッド480と径方向に間隙をおいて隣り合うように配置され、リペラーヘッド480の側面480cに沿って配置される。第3テーパー部86gは、少なくとも内面86eで構成される空間が円錐台形状となるよう構成される。第3テーパー部86gは、例えば、内面86eからリペラーヘッド480の側面480cまでの間隔d5が一定となるように構成される。
 第3サーマルシールド86の第3先端開口86cにおける径方向の第3開口幅w3は、リペラーヘッド480の径方向の最大幅wcよりも小さく、リペラーヘッド480の径方向の先端幅wd(先端面480aの径方向の幅wd)よりも大きい。したがって、第3サーマルシールド86の少なくとも一部は、リペラーヘッド480と軸方向に重なるように配置される。より具体的には、第3サーマルシールド86の第3先端開口86cの縁の少なくとも一部は、リペラーヘッド480の熱電子放出面である側面480cと軸方向に重なる。
 なお、リペラーヘッド480および第3サーマルシールド86の構造として、図3~図10(b)に示される第1カソードキャップ72および第1サーマルシールド76と同様の構造を用いることができる。より具体的には、第3サーマルシールド86の第3延在部86dの構造として、図3~図10(b)に示される第1延在部76d(または第1テーパー部76g)の構造を用いることができる。また、リペラーヘッド480の形状として、図11(a)~(o)に示される第1カソードキャップ72の形状を用いることができる。
(第6の実施の形態)
 図24は、第6の実施の形態に係るリペラー556の構成を詳細に示す断面図である。リペラー556は、追加のサーマルシールド88(第4サーマルシールド88ともいう)をさらに含む点で、図22に示す第5の実施の形態と相違する。第6の実施の形態では、上述の特徴(6)を採用し、リペラーヘッド80の周囲に複数のサーマルシールド86,88を設け、リペラーヘッド80の温度上昇をさらに促進する。第6の実施の形態について、上述の第5の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 リペラー556は、リペラーヘッド80と、リペラー軸82と、リペラー接続部84と、第3サーマルシールド86と、第4サーマルシールド88とを含む。リペラーヘッド80、リペラー軸82、リペラー接続部84および第3サーマルシールド86は、第5の実施の形態と同様に構成されるが、リペラー接続部84の直径は、図22に比べて大きい。
 第4サーマルシールド88は、第3サーマルシールド86の径方向外側に設けられ、リペラー接続部84の外周から軸方向に筒状に延在する。第4サーマルシールド88は、アークチャンバ50の内部に向けて矢印A3の方向に突出する第4先端部88aを有する。第4サーマルシールド88は、第4先端部88aにおいて軸方向に開口する第4先端開口88cを有する。第4サーマルシールド88は、リペラー接続部84から第4先端部88aに向けて軸方向に筒状に延在する第4延在部88dを有する。第4延在部88dは、第3延在部86dと径方向に間隙をおいて隣り合う。第4サーマルシールド88は、軸方向に延びる中心軸Cに対して回転対称な形状を有する。第4サーマルシールド88は、例えば、リペラーヘッド80、リペラー軸82、リペラー接続部84および第3サーマルシールド86と同軸となるように配置されている。
 第4サーマルシールド88の第4先端部88aは、リペラーヘッド80の先端(先端面80a)および第3サーマルシールド86の第3先端部86aよりもアークチャンバの内部に向けて突出している。変形例において、第4サーマルシールド88の第4先端部88aの軸方向の位置は、リペラーヘッド80の先端(先端面80a)の軸方向の位置と同じであってもよいし、第3サーマルシールド86の第3先端部86aの軸方向の位置と同じであってもよい。別の変形例において、リペラーヘッド80の先端(先端面80a)および第3サーマルシールド86の第3先端部86aの少なくとも一方は、第4サーマルシールド88の第4先端部88aよりもアークチャンバの内部に向けて突出してもよい。
 第4延在部88dは、第4円筒部88fを有する。第4円筒部88fは、第4延在部88dの内面88eの径方向の幅が一定となる部分である。第4円筒部88fは、少なくとも内面88eが円筒形状となるよう構成される。第4円筒部88fは、例えば、第4延在部88dの内面88eから第3延在部86dの外面86hまでの間隔d6が一定となるように構成される。図24に示す第4延在部88dは、第4円筒部88fのみで構成され、テーパー部を有しないように構成される。なお、変形例において、第4サーマルシールド88の第4延在部88dは、第4テーパー部を有してもよい。第4テーパー部は、第4延在部88dの内面88eの径方向の幅が軸方向の位置に応じて変化するよう構成される。例えば、第4延在部88dの内面488eの径方向の幅は、アークチャンバの内部に向かうにつれて大きくなるように構成されてもよいし、逆に、アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるように構成されてもよい。つまり、第4延在部88dの内面88eから第3延在部86dの外面86hまでの間隔d6は、アークチャンバの内部に向かうにつれて大きくなるように構成されてもよいし、逆に、アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるように構成されてもよい。
 第4サーマルシールド88は、高温状態となる第3サーマルシールド86からの熱輻射を反射し、第3サーマルシールド86からの熱逃げを抑制することにより、第3サーマルシールド86の温度上昇を促進する。第4サーマルシールド88は、第3サーマルシールド86の温度上昇を促進することにより、結果として、リペラーヘッド80の温度上昇を促進する。
 第6の実施の形態に係るリペラー556は、第1の実施の形態の変型例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよく、第2の実施の形態、第3の実施の形態もしくは第4の実施の形態、または、これらの変形例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。
(第6の実施の形態に係る変形例)
 図25は、変形例に係るリペラー556Aの構成を詳細に示す断面図である。リペラー556Aは、リペラーヘッド480と、リペラー軸82と、リペラー接続部84と、第3サーマルシールド86と、第4サーマルシールド88とを含む。本変形例では、図23の変形例と同様に、リペラーヘッド480が円錐台形状を有し、第3サーマルシールド86の第3延在部86dが第3テーパー部86gを有する。また、第4サーマルシールド88の第4延在部88dが第4テーパー部88gを有する。
 本変形例では、上述の特徴(5)および(6)を組み合わせて採用することにより、低アーク条件においてより多くの多価イオンが生成されるようにする。具体的には、第3サーマルシールド86および第4サーマルシールド88を組み合わせることにより、リペラーヘッド480の温度上昇をさらに促進できる。さらに、第3サーマルシールド86を利用して、リペラーヘッド480からアークチャンバ50の内部空間Sに向けて熱電子が放出される範囲を狭くすることにより、より狭い範囲により高密度のプラズマを生成できる。
 リペラー556Aは、図12に示される第1カソード154と同様の構造を備えてもよい。第3延在部86d(または第3テーパー部86g)は、図3~図16(b)に示される第1延在部76d(または第1テーパー部76g)と同様に構成されてもよい。第4延在部88d(第4テーパー部88g)は、図12~図16(b)に示される第2延在部78d(または第2テーパー部78g)と同様に構成されてもよい。リペラーヘッド480は、図11(a)~(o)に示される第1カソードキャップ72と同様の形状を有してもよい。
 図25において、第4先端開口88cにおける径方向の第4開口幅w4は、第3先端開口86cの第3開口幅w3、リペラーヘッド480の最大幅wcおよびリペラーヘッド480の先端幅wdよりも大きい。さらなる変形例では、第4先端開口88cにおける径方向の第4開口幅w4は、第3先端開口86cの第3開口幅w3、リペラーヘッド480の最大幅wcおよびリペラーヘッド480の先端幅wdのいずれかと同じであってもよいし、これらのいずれかより小さくてもよい。
(第7の実施の形態)
 図26は、第7の実施の形態に係るリペラー656の構成を詳細に示す断面図である。第7の実施の形態に係るリペラー656は、リペラーヘッド80と、リペラー軸82と、第3サーマルシールド286とを含む。第7の実施の形態では、第3サーマルシールド286がアークチャンバ50に取り付けられている点で、第5の実施の形態と相違する。以下、第7の実施の形態について、第5の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 第3サーマルシールド286は、アークチャンバの内部に向けて矢印A3の方向に突出する第3先端部286aと、アークチャンバの外部に向けて矢印A4の方向に突出する第3末端部286bとを有する。第3先端部286aは、リペラーヘッド80よりもアークチャンバ50の内部に向けて突出している。つまり、第3先端部286aの軸方向の位置は、リペラーヘッド80の先端(先端面80a)の軸方向の位置よりもアークチャンバ50の内部側にある。第3サーマルシールド286は、第3先端部286aにおいて軸方向に開口する第3先端開口286cを有する。第3末端部286bは、アークチャンバ50に取り付けられ、例えば、アークチャンバ50の第2端壁50dに取り付けられる。第3サーマルシールド286は、第2端壁50dと一体となるように構成されてもよく、第2端壁50dからアークチャンバ50の内部に向けて軸方向に延在するよう構成されてもよい。
 第3サーマルシールド286は、第3末端部286bから第3先端部286aに向けて軸方向に筒状に延在する第3延在部286dを有する。第3延在部286dは、リペラーヘッド80と径方向に間隙をおいて隣り合う。第3延在部286dは、第3延在部286dの内面286eの径方向の幅が一定となるように構成される第3円筒部286fを有する。図26に示す第3延在部286dは、第3円筒部286fのみで構成され、テーパー部を有しないように構成される。なお、変形例において、第3サーマルシールド286の第3延在部286dは、第3テーパー部を有してもよい。
 第7の実施の形態では、上述の特徴(7)を採用することにより、低アーク条件においてより多くの多価イオンが生成されるようにする。具体的には、第3サーマルシールド286に熱電子を引き出すための電圧(ここでは、リペラー電圧に等しい)を印加することにより、リペラーヘッド80からアークチャンバ50の内部に向けて熱電子をより効率的に引き出すことができる。その結果、リペラーヘッド80およびサーマルシールド286の電位が同じとなる場合に比べて、アークチャンバ50の内部空間Sに向けてより多くの熱電子を供給することができ、低アーク条件であっても、より高密度のプラズマを生成できる。
 第7の実施の形態に係る第3サーマルシールド286は、図18(b)に示す第1サーマルシールド276と同様に構成される。変形例において、第3サーマルシールド286は、図17または図18(a)に示す第1サーマルシールド276と同様に構成されてもよい。より具体的には、第3サーマルシールド286の第3延在部286dの構造として、図17~図18(b)に示される第1延在部276dの構造を用いることができる。第7の実施の形態に係る第3サーマルシールド286は、図3~図10(b)に示される第1サーマルシールド76と同様の構造を有してもよい。また、リペラーヘッド80の形状として、図17~図18(b)に示される第1カソードキャップ72と同様の円錐台形状を用いてもよいし、図11(a)~(o)に示される第1カソードキャップ72の形状を用いてもよい。
 第7の実施の形態に係るリペラー656は、第1の実施の形態の変型例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよく、第2の実施の形態、第3の実施の形態もしくは第4の実施の形態、または、これらの変形例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。
(第8の実施の形態)
 図27は、第8の実施の形態に係るリペラー756の構成を詳細に示す断面図である。第8の実施の形態に係るリペラー756は、リペラーヘッド80と、リペラー軸82と、リペラー接続部84と、第3サーマルシールド86と、第4サーマルシールド388を含む。第8の実施の形態では、第4サーマルシールド388がアークチャンバ50に取り付けられている点で、第6の実施の形態と相違する。以下、第8の実施の形態について、第6の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 第4サーマルシールド388は、アークチャンバの内部に向けて矢印A3の方向に突出する第4先端部388aと、アークチャンバの外部に向けて矢印A4の方向に突出する第4末端部388bとを有する。第4先端部388aは、リペラーヘッド80の先端(先端面80a)および第3サーマルシールド86の第3先端部86aよりもアークチャンバ50の内部に向けて突出している。つまり、第4先端部388aの軸方向の位置は、リペラーヘッド80の先端(先端面80a)および第3サーマルシールド86の第3先端部86aの軸方向の位置よりもアークチャンバ50の内部側にある。第4サーマルシールド388は、第4先端部388aにおいて軸方向に開口する第4先端開口388cを有する。第4末端部388bは、アークチャンバ50に取り付けられ、例えば、アークチャンバ50の第2端壁50dに取り付けられる。第4サーマルシールド388は、第2端壁50dと一体となるように構成されてもよく、第2端壁50dからアークチャンバ50の内部に向けて軸方向に延在するよう構成されてもよい。
 第4サーマルシールド388は、第4末端部388bから第4先端部388aに向けて軸方向に筒状に延在する第4延在部388dを有する。第4延在部388dは、第3延在部86dと径方向に間隙をおいて隣り合う。第4延在部388dは、第4延在部388dの内面388eの径方向の幅が一定となるように構成される第4円筒部388fを有する。図27に示す第4延在部388dは、第4円筒部388fのみで構成され、テーパー部を有しないように構成される。なお、変形例において、第4サーマルシールド388の第4延在部388dは、第4テーパー部を有してもよい。
 第8の実施の形態では、上述の特徴(6),(7)を採用することにより、低アーク条件においてより多くの多価イオンが生成されるようにする。具体的には、リペラーヘッド80の周囲に複数のサーマルシールド86,388を設けることにより、リペラーヘッド80の温度上昇を促進できる。さらに、第4サーマルシールド388に熱電子を引き出すための電圧(ここでは、リペラー電圧に等しい)を印加することにより、リペラーヘッド80からアークチャンバ50の内部に向けて熱電子をより効率的に引き出すことができる。
 第8の実施の形態に係るリペラー756は、図19~図20に示される第1カソード354、354Aと同様に構成されてもよい。第3サーマルシールド86の第3延在部86dの構造として、図19~図20に示される第1延在部76d(または第1テーパー部76g)の構造を用いることができる。また、第4サーマルシールド388の第4延在部388dの構造として、図19~図20に示される第2延在部378d(または第2テーパー部378g)の構造を用いることができる。なお、第3サーマルシールド86として、図3~図10(b)に示される第1サーマルシールド76と同様の構造を用いてもよく、第4サーマルシールド388として、図12~図16(b)に示される第2サーマルシールド78と同様の構造を用いてもよい。リペラーヘッド80の形状として、図19~図20に示される第1カソードキャップ72と同様の円錐台形状を用いてもよいし、図11(a)~(o)に示される第1カソードキャップ72の形状を用いてもよい。
 第8の実施の形態に係るリペラー756は、第1の実施の形態の変型例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよく、第2の実施の形態、第3の実施の形態もしくは第4の実施の形態、または、これらの変形例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。
(第9の実施の形態)
 図28は、第9の実施の形態に係るイオン生成装置810の概略構成を示す断面図である。第9の実施の形態では、リペラー56の代わりに第2カソード55が設けられる点で、上述の第1の実施の形態と相違する。第9の実施の形態は、第1カソード54および第2カソード55の二つのカソードが設けられるデュアルカソード型のイオン生成装置である。以下、第9の実施の形態について、第1の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 イオン生成装置810は、アークチャンバ50と、磁場生成器52と、第1カソード54と、第2カソード55と、第1フィラメント電源58aと、第1カソード電源58bと、第1アーク電源58cと、引出電源58dと、第2フィラメント電源58fと、第2カソード電源58gと、第2アーク電源58hとを備える。アークチャンバ50、磁場生成器52、第1カソード54、第1フィラメント電源58a、第1カソード電源58b、第1アーク電源58cおよび引出電源58dは、第1の実施の形態と同様に構成される。
 第2カソード55は、アークチャンバ50の内部空間Sに熱電子を供給する。第2カソード55は、内部空間Sを挟んで、第1カソード54とは軸方向の反対側に設けられる。第2カソード55は、第2端壁50dに設けられる第2カソード挿通孔50hに挿通され、アークチャンバ50と電気的に絶縁された状態で第2カソード支持部材65に固定される。第2カソード支持部材65は、アークチャンバ50の外部に設けられる。第2カソード55は、第2加熱源90と、第2カソードキャップ92と、第2サーマルブレイク94と、第2サーマルシールド96とを含む。
 第2加熱源90は、第2カソードキャップ92を加熱するための熱源である。第2加熱源90は、例えば、第2フィラメント電源58fに接続されるフィラメントである。第2加熱源90は、第2サーマルブレイク94の内部において第2カソードキャップ92と対向するように配置される。第2加熱源90と第2カソードキャップ92の間には、第2カソード電源58gが接続され、カソード電圧が印加される。
 第2カソードキャップ92は、アークチャンバ50の内部に向けて軸方向に突出する中実部材である。第2カソードキャップ92は、例えば、円錐台形状を有する。第2カソードキャップ92は、第2加熱源90によって加熱されることにより、内部空間Sに向けて熱電子を放出する。第2カソードキャップ92とアークチャンバ50の間には、第2アーク電源58hが接続され、アーク電圧が印加される。なお、第1アーク電源58cと第2アーク電源58hを共通化してもよい。例えば、第2アーク電源58hを設けない構成とし、第2カソードキャップ92に第1アーク電源58cを接続することにより、第2カソードキャップ92にアーク電圧を印加してもよい。
 第2サーマルブレイク94は、第2カソードキャップ92を支持する円筒状部材であり、第2カソード支持部材65から第2カソードキャップ92に向けて軸方向に延在する。第2サーマルシールド96は、第2カソードキャップ92および第2サーマルブレイク94の径方向外側において軸方向に筒状に延在する。第2サーマルシールド96は、高温状態となる第2カソードキャップ92および第2サーマルブレイク94からの熱輻射を反射し、第2カソードキャップ92および第2サーマルブレイク94からの熱逃げを抑制することにより、第2カソードキャップ92および第2サーマルブレイク94の温度上昇を促進する。
 第2カソードキャップ92、第2サーマルブレイク94および第2サーマルシールド96は、高融点材料で構成され、例えば、タングステン、モリブデン、タンタルなどの高融点金属、それらの合金、またはグラファイトが用いられる。一例として、第2カソードキャップ92および第2サーマルシールド96はタングステンで構成され、第2サーマルブレイク94はタンタルで構成される。
 第2カソード55は、図3に示される第1の実施の形態に係る第1カソード54と同様に構成される。第2カソード55は、第1カソード54の構成要素の「第1」を「第2」に置き換えたものと同様の構成を含む。例えば、第2サーマルシールド96は、第2カソードキャップ92の径方向外側において軸方向に筒状に延在し、第2カソードキャップ92と径方向に間隙をおいて隣り合う第2延在部と、アークチャンバの内部に向けて突出する第2先端部と、第2先端部において軸方向に開口する第2先端開口とを有する。第2先端開口における径方向の第2開口幅は、第2カソードキャップ92の熱電子放出面の径方向の最大幅よりも小さい。
 第9の実施の形態によれば、第1カソード54と第2カソード55を併用することにより、アークチャンバ50の内部空間Sにより多くの熱電子を供給することができる。また、第2カソード55においても、第2先端開口における径方向の第2開口幅は、第2カソードキャップの熱電子放出面の径方向の最大幅よりも小さいため、第2カソードキャップ92からアークチャンバ50の内部に向けて熱電子が放出される径方向の範囲を狭くできる。その結果、径方向に限定された範囲に熱電子を集中的に供給することができ、低アーク条件であってもプラズマ生成領域Pにおいて高密度のプラズマを生成できる。
 第9の実施の形態に係る第2カソード55は、第1の実施の形態の変型例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよく、第2の実施の形態、第3の実施の形態もしくは第4の実施の形態、または、これらの変形例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。
(第9の実施の形態に係る変形例)
 第2カソード55は、図5(a)~図10(b)に示される変形例に係る第1カソード54A~54Lと同様に構成されてもよい。第2カソード55の第2カソードキャップ92は、図11(a)~(o)に示される変形例に係る第1カソードキャップ72と同様の形状を有してもよい。
 第2カソード55は、第2の実施の形態に係る第1カソード154と同様に構成されてもよい。この場合、第2カソード55は、第1カソード154の「第1加熱源70、第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74、第1サーマルシールド76および第2サーマルシールド78」のそれぞれを「第2加熱源、第2カソードキャップ、第2サーマルブレイク、第3サーマルシールドおよび第4サーマルシールド」に置き換えたものと同様の構成を含む。つまり、第2カソード55は、第2加熱源と、第2カソードキャップと、第2サーマルブレイクと、第3サーマルシールドと、第4サーマルシールドとを含む。第3サーマルシールドは、第2カソードキャップおよび第2サーマルブレイクの径方向外側において軸方向に筒状に延在し、第2カソードキャップおよび第2サーマルブレイクと径方向に間隙をおいて隣り合う第3延在部と、アークチャンバの内部に向けて突出する第3先端部と、第3先端部において軸方向に開口する第3先端開口とを有する。第4サーマルシールドは、第3サーマルシールドの径方向外側において軸方向に筒状に延在し、第3延在部と径方向に間隙をおいて隣り合う第4延在部と、アークチャンバの内部に向けて突出する第4先端部と、第4先端部において軸方向に開口する第4先端開口とを有する。第3先端開口における径方向の第3開口幅は、第2カソードキャップの熱電子放出面の径方向の最大幅よりも大きい。第2カソード55は、第2の実施の形態の変形例に係る第1カソード154A~154Jと同様に構成されてもよい。
 第2の実施の形態または第2の実施の形態の変形例に係る第1カソード154~154Jと同様に構成される第2カソード55は、第1の実施の形態の変型例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよく、第2の実施の形態、第3の実施の形態もしくは第4の実施の形態、または、これらの変形例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。
 第2カソード55は、第3の実施の形態に係る第1カソード254と同様に構成されてもよい。この場合、第2カソード55は、第1カソード254の「第1加熱源70、第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74および第1サーマルシールド276」のそれぞれを「第2加熱源、第2カソードキャップ、第2サーマルブレイクおよび第2サーマルシールド」に置き換えたものと同様の構成を含む。つまり、第2カソード55は、第2加熱源と、第2カソードキャップと、第2サーマルブレイクと、第2サーマルシールドとを含む。第2サーマルシールドは、第2カソードキャップおよび第2サーマルブレイクの径方向外側において軸方向に筒状に延在し、第2カソードキャップおよび第2サーマルブレイクと径方向に間隙をおいて隣り合う第2延在部と、アークチャンバの内部に向けて突出する第2先端部と、第2先端部において軸方向に開口する第2先端開口とを有する。第2サーマルシールドの電位は、第2カソードキャップの電位よりも高く、第2先端部は、第2カソードキャップよりもアークチャンバの内部に向けて軸方向に突出している。第2カソード55は、第3の実施の形態の変形例に係る第1カソード254A,254Bと同様に構成されてもよい。
 第3の実施の形態または第3の実施の形態の変形例に係る第1カソード254~254Bと同様に構成される第2カソード55は、第1の実施の形態の変型例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよく、第2の実施の形態、第3の実施の形態もしくは第4の実施の形態、または、これらの変形例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。
 第2カソード55は、第4の実施の形態に係る第1カソード354と同様に構成されてもよい。この場合、第2カソード55は、第1カソード354の「第1加熱源70、第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74、第1サーマルシールド76および第2サーマルシールド378」のそれぞれを「第2加熱源、第2カソードキャップ、第2サーマルブレイク、第3サーマルシールドおよび第4サーマルシールド」に置き換えたものと同様の構成を含む。つまり、第2カソード55は、第2加熱源と、第2カソードキャップと、第2サーマルブレイクと、第3サーマルシールドと、第4サーマルシールドとを含む。第3サーマルシールドは、第2カソードキャップおよび第2サーマルブレイクの径方向外側において軸方向に筒状に延在し、第2カソードキャップおよび第2サーマルブレイクと径方向に間隙をおいて隣り合う第3延在部と、アークチャンバの内部に向けて突出する第3先端部と、第3先端部において軸方向に開口する第3先端開口とを有する。第4サーマルシールドは、第3サーマルシールドの径方向外側において軸方向に筒状に延在し、第3延在部と径方向に間隙をおいて隣り合う第4延在部と、アークチャンバの内部に向けて突出する第4先端部と、第4先端部において軸方向に開口する第4先端開口とを有する。第4先端開口における径方向の第4開口幅は、第3先端開口における径方向の第3開口幅以上である。第2カソード55は、第4の実施の形態の変形例に係る第1カソード354Aと同様に構成されてもよい。
 第4の実施の形態または第4の実施の形態の変形例に係る第1カソード354~354Aと同様に構成される第2カソード55は、第1の実施の形態の変型例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよく、第2の実施の形態、第3の実施の形態もしくは第4の実施の形態、または、これらの変形例に係る第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。
(第10の実施の形態)
 図29は、第10の実施の形態に係るイオン生成装置910の概略構成を示す断面図である。第10の実施の形態では、リペラー956が第2カソード55と同様の構造を有する点で、上述の実施の形態と相違する。以下、第10の実施の形態について、上述の実施の形態との相違点を中心に説明し、共通点については説明を適宜省略する。
 イオン生成装置910は、アークチャンバ50と、磁場生成器52と、第1カソード54と、リペラー956と、第1フィラメント電源58aと、第1カソード電源58bと、第1アーク電源58cと、引出電源58dと、リペラー電源58eとを備える。アークチャンバ50、磁場生成器52、第1カソード54、第1フィラメント電源58a、第1カソード電源58b、第1アーク電源58c、引出電源58dおよびリペラー電源58eは、第1の実施の形態と同様に構成される。
 リペラー956は、リペラーヘッド992と、第2サーマルブレイク994と、第2サーマルシールド996とを含む。リペラー956は、図28の第2カソード55から第2加熱源90を除外したものと同様に構成される。リペラー956は、第2カソード55の「第2カソードキャップ92、第2サーマルブレイク94および第2サーマルシールド96」のそれぞれを「リペラーヘッド992、第2サーマルブレイク994および第2サーマルシールド996」に置き換えたものと同様の構成を含む。リペラー956は、第2加熱源90を含まない点で、第2カソード55と相違する。リペラーヘッド992は、プラズマ生成領域Pにて生成されるプラズマとの相互作用によって加熱される。
(第10の実施の形態に係る変形例)
 リペラー956は、図5(a)~図10(b)に示される変形例に係る第1カソード54A~54Lから第1加熱源を除外したものと同様に構成されてもよい。リペラー956のリペラーヘッド992は、図11(a)~(o)に示される変形例に係る第1カソードキャップ72と同様の形状を有してもよい。
 リペラー956は、第2の実施の形態に係る第1カソード154から第1加熱源を除外したものと同様に構成されてもよい。この場合、リペラー956は、第1カソード154の「第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74、第1サーマルシールド76および第2サーマルシールド78」のそれぞれを「リペラーヘッド、第2サーマルブレイク、第3サーマルシールドおよび第4サーマルシールド」に置き換えたものと同様の構成を含む。つまり、リペラー956は、リペラーヘッドと、第2サーマルブレイクと、第3サーマルシールドと、第4サーマルシールドとを含む。リペラー956は、第2の実施の形態の変形例に係る第1カソード154A~154Jから第1加熱源を除外したものと同様に構成されてもよい。
 リペラー956は、第3の実施の形態に係る第1カソード254から第1加熱源を除外したものと同様に構成されてもよい。この場合、リペラー956は、第1カソード254の「第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74および第1サーマルシールド276」のそれぞれを「リペラーヘッド、第2サーマルブレイクおよび第2サーマルシールド」に置き換えたものと同様の構成を含む。つまり、リペラー956は、リペラーヘッドと、第2サーマルブレイクと、第2サーマルシールドとを含む。リペラー956は、第3の実施の形態の変形例に係る第1カソード254A,254Bから第1加熱源を除外したものと同様に構成されてもよい。
 リペラー956は、第4の実施の形態に係る第1カソード354から第1加熱源を除外したものと同様に構成されてもよい。この場合、リペラー956は、第1カソード354の「第1カソードキャップ72、第1サーマルブレイク74、第1サーマルシールド76および第2サーマルシールド378」のそれぞれを「リペラーヘッド、第2サーマルブレイク、第3サーマルシールドおよび第4サーマルシールド」に置き換えたものと同様の構成を含む。つまり、リペラー956は、リペラーヘッドと、第2サーマルブレイクと、第3サーマルシールドと、第4サーマルシールドとを含む。リペラー956は、第4の実施の形態の変形例に係る第1カソード354Aと同様に構成されてもよい。
 以上、本開示を上述の各実施の形態を参照して説明したが、本開示は上述の各実施の形態に限定されるものではなく、各実施の形態の構成を適宜組み合わせてもよいし、置換してもよい。また、当業者の知識に基づいて各実施の形態における組み合わせや処理の順番を適宜組み替えることや各種の設計変更等の変形を実施の形態に対して加えることも可能であり、そのような組み替えや変形が加えられた実施の形態も本開示に係るイオン生成装置およびイオン注入装置の範囲に含まれ得る。
 上述の実施の形態および変形例では、カソードキャップの加熱源をフィラメントとする場合について示した。さらなる変形例では、加熱源としてフィラメント以外を使用してもよい。例えば、レーザを加熱源とし、カソードキャップの熱流入面にレーザ光を照射することにより、カソードキャップを加熱してもよい。
 上述の実施の形態および変形例では、カソードキャップまたはリペラーヘッドの径方向外側に一つまたは二つのサーマルシールドを設ける場合について示した。さらなる変形例では、カソードキャップまたはリペラーヘッドの径方向外側に三以上のサーマルシールドを設けてもよい。例えば、第1カソードが含む第2サーマルシールドの径方向外側に追加のサーマルシールドをさらに設けてもよいし、リペラーまたは第2カソードが含む第4サーマルシールドの径方向外側に追加のサーマルシールドをさらに設けてもよい。
 上述の実施の形態および変形例では、本開示に係る第1カソードと組み合わせて用いられるリペラーについて説明した。本開示に係るリペラーは、リペラーを備える任意の態様のイオン生成装置およびイオン注入装置に適用可能であり、本開示に係るテーパー形状の第1カソードキャップおよびテーパー形状の第1サーマルシールドを含む第1カソードとの組み合わせに限定されるものではない。本開示に係るリペラーは、第1カソードキャップおよび第1サーマルシールドの少なくとも一方がテーパー形状を有しない第1カソードと組み合わせて用いられてもよいし、第1サーマルシールドを有しない第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。本開示に係るリペラーは、任意の態様の間接加熱型である第1カソードと組み合わせて用いられてもよい。
 以下、本開示のいくつかの態様について説明する。
[態様1]
 内部空間を有し、前記内部空間にて生成されるプラズマからイオンビームを引き出すためのフロントスリットを有するアークチャンバと、
 前記内部空間において軸方向に印加される磁場を生成する磁場生成器と、
 前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第1カソードと、を備え、
 前記第1カソードは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第1カソードキャップと、
 前記第1カソードキャップを加熱する第1加熱源と、
 前記第1カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第1カソードキャップと前記軸方向と直交する径方向に間隙をおいて隣り合う第1延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第1先端部と、前記第1先端部において前記軸方向に開口する第1先端開口とを有する第1サーマルシールドと、を含み、
 前記第1先端開口における前記径方向の第1開口幅は、前記第1カソードキャップの前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とするイオン生成装置。
[態様2]
 前記第1先端開口の縁の少なくとも一部は、前記第1カソードキャップと前記軸方向に重なる位置に設けられることを特徴とする態様1に記載のイオン生成装置。
[態様3]
 前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が小さくなるテーパー形状を有することを特徴する態様1または2に記載のイオン生成装置。
[態様4]
 前記第1延在部は、前記第1延在部の内面の前記径方向の幅が前記アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるよう構成される第1テーパー部を有することを特徴する態様1から3のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様5]
 前記第1延在部と前記第1カソードキャップの間隔が一定となるように構成されることを特徴とする態様1から4のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様6]
 前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に露出する先端面を含み、
 前記第1開口幅は、前記先端面の前記径方向の幅よりも大きいことを特徴とする態様1から5のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様7]
 前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に露出する先端面を含み、
 前記第1開口幅は、前記先端面の前記径方向の幅以下であることを特徴とする態様1から5のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様8]
 前記第1先端部は、前記第1カソードキャップの前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出する先端よりも前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出していることを特徴とする態様1から7のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様9]
 前記第1カソードキャップの前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出する先端は、前記第1先端部と前記軸方向の位置が同じであるか、または、前記第1先端部よりも前記アークチャンバの内部に向けて突出していることを特徴とする態様1から6のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様10]
 前記第1サーマルシールドの電位は、前記第1カソードキャップの電位と同じであることを特徴とする態様1から9のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様11]
 前記第1先端部は、前記第1延在部から前記径方向の内側に延在することを特徴とする態様1から10のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様12]
 前記第1先端開口は、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有することを特徴とする態様1から11のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様13]
 前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられ、前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第2カソードをさらに備え、
 前記第2カソードは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第2カソードキャップと、
 前記第2カソードキャップを加熱する第2加熱源と、
 前記第2カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第2カソードキャップと前記径方向に間隙をおいて隣り合う第2延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第2先端部と、前記第2先端部において前記軸方向に開口する第2先端開口とを有する第2サーマルシールドと、を含み、
 前記第2先端開口における前記径方向の第2開口幅は、前記第2カソードキャップの前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とする態様1から12のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様14]
 前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられるリペラーをさらに備え、
 前記リペラーは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出するリペラーヘッドと、
 前記リペラーヘッドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在するサーマルシールドと、を含むことを特徴とする態様1から12のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様15]
 前記第1カソードは、前記第1サーマルシールドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第1延在部と前記径方向に間隙をおいて隣り合う第2延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第2先端部と、前記第2先端部において前記軸方向に開口する第2先端開口とを有する第2サーマルシールドをさらに含むことを特徴とする態様1から12のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様16]
 前記第2先端部は、前記第1先端部と前記軸方向の位置が同じであるか、または、前記第1先端部よりも前記アークチャンバの内部に向けて突出していることを特徴とする態様15に記載のイオン生成装置。
[態様17]
 前記軸方向に沿った断面において、前記第2先端開口における前記径方向の第2開口幅は、前記第1延在部の外面の前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とする態様15または16に記載のイオン生成装置。
[態様18]
 前記第2開口幅は、前記第1開口幅以上であることを特徴とする態様17に記載のイオン生成装置。
[態様19]
 前記第2開口幅は、前記第1開口幅より小さいことを特徴とする態様17に記載のイオン生成装置。
[態様20]
 前記第2延在部は、前記第2延在部の内面の前記径方向の幅が前記アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるよう構成される第2テーパー部を有することを特徴とする態様15から19のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様21]
 前記第2サーマルシールドの電位は、前記第1サーマルシールドの電位と同じであることを特徴とする態様15から20のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様22]
 前記第2先端部は、前記第2延在部から前記径方向の内側に延在することを特徴とする態様15から21のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様23]
 前記第2先端開口は、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有することを特徴とする態様15から22のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様24]
 前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられ、前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第2カソードをさらに備え、
 前記第2カソードは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第2カソードキャップと、
 前記第2カソードキャップを加熱する第2加熱源と、
 前記第2カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第2カソードキャップと前記軸方向と直交する径方向に間隙をおいて隣り合う第3延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第3先端部と、前記第3先端部において前記軸方向に開口する第3先端開口とを有する第3サーマルシールドと、
 前記第3サーマルシールドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第3延在部と前記径方向に間隙をおいて隣り合う第4延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第4先端部と、前記第4先端部において前記軸方向に開口する第4先端開口とを有する第4サーマルシールドと、を含み、
 前記第3先端開口における前記径方向の第3開口幅は、前記第2カソードキャップの前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とする態様15から23のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様25]
 前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられるリペラーをさらに備え、
 前記リペラーは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出するリペラーヘッドと、
 前記リペラーヘッドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在するサーマルシールドと、を含むことを特徴とする態様15から23のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様26]
 内部空間を有し、前記内部空間にて生成されるプラズマからイオンビームを引き出すためのフロントスリットを有するアークチャンバと、
 前記内部空間において軸方向に印加される磁場を生成する磁場生成器と、
 前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第1カソードと、を備え、
 前記第1カソードは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第1カソードキャップと、
 前記第1カソードキャップを加熱する第1加熱源と、
 前記第1カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第1カソードキャップと前記軸方向と直交する径方向に間隙をおいて隣り合う第1延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第1先端部と、前記第1先端部において前記軸方向に開口する第1先端開口とを有する第1サーマルシールドと、を含み、
 前記第1サーマルシールドの電位は、前記第1カソードキャップの電位よりも高く、
 前記第1先端部は、前記第1カソードキャップよりも前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出していることを特徴とするイオン生成装置。
[態様27]
 前記第1先端開口における前記径方向の第1開口幅は、前記第1カソードキャップの前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とする態様26に記載のイオン生成装置。
[態様28]
 前記第1先端開口の縁の少なくとも一部は、前記第1カソードキャップと前記軸方向に重なる位置に設けられることを特徴とする態様26または27に記載のイオン生成装置。
[態様29]
 前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が小さくなるテーパー形状を有することを特徴する態様26から28のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様30]
 前記第1延在部は、前記第1延在部の内面の前記径方向の幅が前記アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるよう構成される第1テーパー部を有することを特徴する態様26から29のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様31]
 前記第1延在部と前記第1カソードキャップの間隔が一定となるように構成されることを特徴とする態様26から30のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様32]
 前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に露出する先端面を含み、
 前記第1先端開口における前記径方向の第1開口幅は、前記先端面の前記径方向の幅よりも大きいことを特徴とする態様26から31のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様33]
 前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に露出する先端面を含み、
 前記第1先端開口における前記径方向の第1開口幅は、前記先端面の前記径方向の幅以下であることを特徴とする態様26から31のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様34]
 前記第1先端部は、前記第1延在部から前記径方向の内側に延在することを特徴とする態様26から33のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様35]
 前記第1先端開口は、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有することを特徴とする態様26から34のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様36]
 前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられ、前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第2カソードをさらに備え、
 前記第2カソードは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第2カソードキャップと、
 前記第2カソードキャップを加熱する第2加熱源と、
 前記第2カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第2カソードキャップと前記径方向に間隙をおいて隣り合う第2延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第2先端部と、前記第2先端部において前記軸方向に開口する第2先端開口とを有する第2サーマルシールドと、を含み、
 前記第2サーマルシールドの電位は、前記第2カソードキャップの電位よりも高く、
 前記第2先端部は、前記第2カソードキャップよりも前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出していることを特徴とする態様26から35のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様37]
 前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられるリペラーをさらに備え、
 前記リペラーは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出するリペラーヘッドと、
 前記リペラーヘッドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在するサーマルシールドと、を含むことを特徴とする態様26から35のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様38]
 内部空間を有し、前記内部空間にて生成されるプラズマからイオンビームを引き出すためのフロントスリットを有するアークチャンバと、
 前記内部空間において軸方向に印加される磁場を生成する磁場生成器と、
 前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第1カソードと、を備え、
 前記第1カソードは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第1カソードキャップと、
 前記第1カソードキャップを加熱する第1加熱源と、
 前記第1カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第1カソードキャップと前記軸方向と直交する径方向に間隙をおいて隣り合う第1延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第1先端部と、前記第1先端部において前記軸方向に開口する第1先端開口とを有する第1サーマルシールドと、
 前記第1サーマルシールドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第1延在部と前記径方向に間隙をおいて隣り合う第2延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第2先端部と、前記第2先端部において前記軸方向に開口する第2先端開口とを有する第2サーマルシールドと、を含み、
 前記第2先端開口における前記径方向の第2開口幅は、前記第1先端開口における前記径方向の第1開口幅以上であることを特徴とするイオン生成装置。
[態様39]
 前記第2先端部は、前記第1カソードキャップおよび前記第1先端部よりも前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出していることを特徴とする態様38に記載のイオン生成装置。
[態様40]
 前記第2サーマルシールドの電位は、前記第1カソードキャップまたは前記第1サーマルシールドの電位よりも高いことを特徴とする態様38または39に記載のイオン生成装置。
[態様41]
 前記第2サーマルシールドの電位は、前記第1カソードキャップおよび前記第1サーマルシールドの電位よりも高いことを特徴とする態様38または39に記載のイオン生成装置。
[態様42]
 前記第1開口幅は、前記第1カソードキャップの前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とする態様40または41に記載のイオン生成装置。
[態様43]
 前記第1先端開口の縁の少なくとも一部は、前記第1カソードキャップと前記軸方向に重なる位置に設けられることを特徴とする態様40から42のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様44]
 前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が小さくなるテーパー形状を有することを特徴する態様40から43のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様45]
 前記第1延在部は、前記第1延在部の内面の前記径方向の幅が前記アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるよう構成される第1テーパー部を有することを特徴する態様40から44のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様46]
 前記第1延在部と前記カソードキャップの間隔が一定となるように構成されることを特徴とする態様40から45のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様47]
 前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に露出する先端面を含み、
 前記第1開口幅は、前記先端面の前記径方向の幅よりも大きいことを特徴とする態様40から46のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様48]
 前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に露出する先端面を含み、
 前記第1開口幅は、前記先端面の前記径方向の幅以下であることを特徴とする態様40から46のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様49]
 前記第1先端部は、前記第1カソードキャップよりも前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出していることを特徴とする態様40から48のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様50]
 前記第1カソードキャップの前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出する先端は、前記第1先端部と前記軸方向の位置が同じであるか、または、前記第1先端部よりも前記アークチャンバの内部に向けて突出していることを特徴とする態様40から47のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様51]
 前記第1サーマルシールドの電位は、前記第1カソードキャップの電位と同じであることを特徴とする態様40から50のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様52]
 前記第1先端部は、前記第1延在部から前記径方向の内側に延在することを特徴とする態様40から51のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様53]
 前記第1先端開口は、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有することを特徴とする態様40から52のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様54]
 前記軸方向に沿った断面において、前記第2先端開口における前記径方向の第2開口幅は、前記第1延在部の外面の前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とする態様40または53のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様55]
 前記第2延在部は、前記第2延在部の内面の前記径方向の幅が前記アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるよう構成される第2テーパー部を有することを特徴とする態様40から54のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様56]
 前記第2先端部は、前記第2延在部から前記径方向の内側に延在することを特徴とする態様40から55のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様57]
 前記第2先端開口は、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有することを特徴とする態様40から56のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様58]
 前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられ、前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第2カソードをさらに備え、
 前記第2カソードは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第2カソードキャップと、
 前記第2カソードキャップを加熱する第2加熱源と、
 前記第2カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第2カソードキャップと前記軸方向と直交する径方向に間隙をおいて隣り合う第3延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第3先端部と、前記第3先端部において前記軸方向に開口する第3先端開口とを有する第3サーマルシールドと、
 前記第3サーマルシールドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第3延在部と前記径方向に間隙をおいて隣り合う第4延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第4先端部と、前記第4先端部において前記軸方向に開口する第4先端開口とを有する第4サーマルシールドと、を含み、
 前記第4先端開口における前記径方向の第4開口幅は、前記第3先端開口における前記径方向の第3開口幅以上であることを特徴とする態様38から57のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様59]
 前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられるリペラーをさらに備え、
 前記リペラーは、
 前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出するリペラーヘッドと、
 前記リペラーヘッドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在するサーマルシールドと、を含むことを特徴とする態様38から57のいずれか一つに記載のイオン生成装置。
[態様60]
 態様1から59のいずれか一つに記載のイオン生成装置と、
 前記イオン生成装置から引き出されるイオンビームを加速させるビーム加速装置と、
 前記ビーム加速装置から出力されるイオンビームがウェハに照射される注入処理室と、を備えることを特徴とするイオン注入装置。
 本開示の限定的ではない例示的な実施の形態によれば、より低いアーク条件において、より多くの多価イオンを生成可能なイオン生成装置を提供できる。
 10…イオン生成装置、12…ビーム生成ユニット、14…ビーム加速ユニット、16…ビーム偏向ユニット、18…ビーム輸送ユニット、20…基板搬送処理ユニット、42…注入処理室、50…アークチャンバ、52…磁場生成器、54…第1カソード、56…リペラー、60…フロントスリット、70…第1加熱源、72…第1カソードキャップ、76…第1サーマルシールド、76a…第1先端部、76c…第1先端開口、76d…第1延在部、76e…内面、76g…第1テーパー部、76h…外面、78…第2サーマルシールド、78a…第2先端部、78c…第2先端開口、78d…第2延在部、78e…内面、78g…第2テーパー部、78h…外面、100…イオン注入装置、B…磁場、P…プラズマ生成領域、S…内部空間、W…ウェハ。

Claims (26)

  1.  内部空間を有し、前記内部空間にて生成されるプラズマからイオンビームを引き出すためのフロントスリットを有するアークチャンバと、
     前記内部空間において軸方向に印加される磁場を生成する磁場生成器と、
     前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第1カソードと、を備え、
     前記第1カソードは、
     前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第1カソードキャップと、
     前記第1カソードキャップを加熱する第1加熱源と、
     前記第1カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第1カソードキャップと前記軸方向と直交する径方向に間隙をおいて隣り合う第1延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第1先端部と、前記第1先端部において前記軸方向に開口する第1先端開口とを有する第1サーマルシールドと、を含み、
     前記第1先端開口における前記径方向の第1開口幅は、前記第1カソードキャップの前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とするイオン生成装置。
  2.  前記第1先端開口の縁の少なくとも一部は、前記第1カソードキャップと前記軸方向に重なる位置に設けられることを特徴とする請求項1に記載のイオン生成装置。
  3.  前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が小さくなるテーパー形状を有することを特徴する請求項1または2に記載のイオン生成装置。
  4.  前記第1延在部は、前記第1延在部の内面の前記径方向の幅が前記アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるよう構成される第1テーパー部を有することを特徴する請求項1から3のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  5.  前記第1延在部と前記第1カソードキャップの間隔が一定となるように構成されることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  6.  前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に露出する先端面を含み、
     前記第1開口幅は、前記先端面の前記径方向の幅よりも大きいことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  7.  前記第1カソードキャップは、前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に露出する先端面を含み、
     前記第1開口幅は、前記先端面の前記径方向の幅以下であることを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  8.  前記第1先端部は、前記第1カソードキャップの前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出する先端よりも前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出していることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  9.  前記第1カソードキャップの前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出する先端は、前記第1先端部と前記軸方向の位置が同じであるか、または、前記第1先端部よりも前記アークチャンバの内部に向けて突出していることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  10.  前記第1サーマルシールドの電位は、前記第1カソードキャップの電位と同じであることを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  11.  前記第1先端部は、前記第1延在部から前記径方向の内側に延在することを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  12.  前記第1先端開口は、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有することを特徴とする請求項1から11のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  13.  前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられ、前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第2カソードをさらに備え、
     前記第2カソードは、
     前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第2カソードキャップと、
     前記第2カソードキャップを加熱する第2加熱源と、
     前記第2カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第2カソードキャップと前記径方向に間隙をおいて隣り合う第2延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第2先端部と、前記第2先端部において前記軸方向に開口する第2先端開口とを有する第2サーマルシールドと、を含み、
     前記第2先端開口における前記径方向の第2開口幅は、前記第2カソードキャップの前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とする請求項1から12のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  14.  前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられるリペラーをさらに備え、
     前記リペラーは、
     前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出するリペラーヘッドと、
     前記リペラーヘッドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在するサーマルシールドと、を含むことを特徴とする請求項1から12のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  15.  前記第1カソードは、前記第1サーマルシールドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第1延在部と前記径方向に間隙をおいて隣り合う第2延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第2先端部と、前記第2先端部において前記軸方向に開口する第2先端開口とを有する第2サーマルシールドをさらに含むことを特徴とする請求項1から12のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  16.  前記第2先端部は、前記第1先端部と前記軸方向の位置が同じであるか、または、前記第1先端部よりも前記アークチャンバの内部に向けて突出していることを特徴とする請求項15に記載のイオン生成装置。
  17.  前記軸方向に沿った断面において、前記第2先端開口における前記径方向の第2開口幅は、前記第1延在部の外面の前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とする請求項15または16に記載のイオン生成装置。
  18.  前記第2開口幅は、前記第1開口幅以上であることを特徴とする請求項17に記載のイオン生成装置。
  19.  前記第2開口幅は、前記第1開口幅より小さいことを特徴とする請求項17に記載のイオン生成装置。
  20.  前記第2延在部は、前記第2延在部の内面の前記径方向の幅が前記アークチャンバの内部に向かうにつれて小さくなるよう構成される第2テーパー部を有することを特徴とする請求項15から19のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  21.  前記第2サーマルシールドの電位は、前記第1サーマルシールドの電位と同じであることを特徴とする請求項15から20のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  22.  前記第2先端部は、前記第2延在部から前記径方向の内側に延在することを特徴とする請求項15から21のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  23.  前記第2先端開口は、前記アークチャンバの内部に向かうにつれて前記径方向の幅が大きくなるテーパー形状を有することを特徴とする請求項15から22のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  24.  前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられ、前記内部空間に熱電子を供給するよう構成される第2カソードをさらに備え、
     前記第2カソードは、
     前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出し、前記内部空間に供給される熱電子を放出する第2カソードキャップと、
     前記第2カソードキャップを加熱する第2加熱源と、
     前記第2カソードキャップの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第2カソードキャップと前記軸方向と直交する径方向に間隙をおいて隣り合う第3延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第3先端部と、前記第3先端部において前記軸方向に開口する第3先端開口とを有する第3サーマルシールドと、
     前記第3サーマルシールドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在し、前記第3延在部と前記径方向に間隙をおいて隣り合う第4延在部と、前記アークチャンバの内部に向けて突出する第4先端部と、前記第4先端部において前記軸方向に開口する第4先端開口とを有する第4サーマルシールドと、を含み、
     前記第3先端開口における前記径方向の第3開口幅は、前記第2カソードキャップの前記径方向の最大幅よりも小さいことを特徴とする請求項15から23のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  25.  前記内部空間を挟んで、前記第1カソードとは前記軸方向の反対側に設けられるリペラーをさらに備え、
     前記リペラーは、
     前記アークチャンバの内部に向けて前記軸方向に突出するリペラーヘッドと、
     前記リペラーヘッドの径方向外側において前記軸方向に筒状に延在するサーマルシールドと、を含むことを特徴とする請求項15から23のいずれか一項に記載のイオン生成装置。
  26.  請求項1から25のいずれか一項に記載のイオン生成装置と、
     前記イオン生成装置から引き出されるイオンビームを加速させるビーム加速装置と、
     前記ビーム加速装置から出力されるイオンビームがウェハに照射される注入処理室と、を備えることを特徴とするイオン注入装置。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07161323A (ja) * 1993-12-07 1995-06-23 Nissin Electric Co Ltd イオン源
JP2010073387A (ja) * 2008-09-17 2010-04-02 Seiko Epson Corp イオン発生装置、半導体プロセス用イオン注入装置および半導体装置の製造方法
JP2015225720A (ja) * 2014-05-26 2015-12-14 住友重機械イオンテクノロジー株式会社 イオン発生装置および熱電子放出部
JP2016225139A (ja) * 2015-05-29 2016-12-28 住友重機械イオンテクノロジー株式会社 プラズマ生成装置および熱電子放出部

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07161323A (ja) * 1993-12-07 1995-06-23 Nissin Electric Co Ltd イオン源
JP2010073387A (ja) * 2008-09-17 2010-04-02 Seiko Epson Corp イオン発生装置、半導体プロセス用イオン注入装置および半導体装置の製造方法
JP2015225720A (ja) * 2014-05-26 2015-12-14 住友重機械イオンテクノロジー株式会社 イオン発生装置および熱電子放出部
JP2016225139A (ja) * 2015-05-29 2016-12-28 住友重機械イオンテクノロジー株式会社 プラズマ生成装置および熱電子放出部

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