WO2022163532A1 - Measuring apparatus and measuring method - Google Patents

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WO2022163532A1
WO2022163532A1 PCT/JP2022/002230 JP2022002230W WO2022163532A1 WO 2022163532 A1 WO2022163532 A1 WO 2022163532A1 JP 2022002230 W JP2022002230 W JP 2022002230W WO 2022163532 A1 WO2022163532 A1 WO 2022163532A1
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printed wiring
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ceramic electronic
electronic component
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大樹 山上
行成 野津
康暉 上原
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三菱電機株式会社
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/20Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady bending forces

Definitions

  • the installation position IP of the acoustic emission (AE) sensor 301 is installed on the printed wiring board 102 closer to the ceramic electronic component 101 than the contact position CP of the support base 203 .
  • the contact position CP of the support base 203 functions as a fulcrum.
  • the installation position IP of the acoustic emission (AE) sensor 301 is installed near the ceramic electronic component 101 .
  • the acoustic emission (AE) sensor may be any size as long as it can be mounted on the printed wiring board 102 .
  • a voltage measuring device 403 acquires the maximum value of the voltage signal generated in the acoustic emission (AE) sensor 301, and a value higher than the maximum signal is taken as the trigger voltage. More preferably, the bending test is performed multiple times on printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is not mounted, and the standard deviation of the maximum voltage value is obtained. A trigger voltage is obtained by adding a value obtained by multiplying the standard deviation by 3, 2 or 1 to the average value of the maximum voltage values.
  • FIG. 9 is a partial front view schematically showing the measuring device 1 of Comparative Example 1.
  • the acoustic emission (AE) sensor 301 is incorporated inside the support base 203 .
  • Ceramic electronic component 101 is attached to support base 203 .
  • a pusher 202 is pushed into the ceramic electronic component 101 as indicated by the white arrow in FIG.
  • the measurement apparatus 1 of Comparative Example 1 evaluates the occurrence of cracks CR generated starting from the point of contact between the ceramic electronic component 101 and the pusher 202 .
  • the measuring apparatus 1 according to the present embodiment evaluates the crack CR that starts near the electrodes of the ceramic electronic component 101 . Therefore, the mode of the crack CR to be evaluated differs between the measuring apparatus 1 of Comparative Example 1 and the measuring apparatus 1 according to the present embodiment.
  • the measuring device according to Embodiment 2 has the same configuration, operation, and effects as those of the measuring device according to Embodiment 1.
  • FIG. 1 the measuring device according to Embodiment 2.
  • the frequency output by the AC voltage output device 602 is set at the resonance point of the acoustic emission (AE) sensor 601 for vibration and within the measurable range of the acoustic emission (AE) sensor 301 .
  • the voltage output by the AC voltage output device 602 is obtained by installing the acoustic emission (AE) sensor 301 on the printed wiring board 102 and fixing it using the fixing jig 302, and then applying the voltage from the AC voltage output device 602. At that time, the voltage is adjusted so as to fall within the voltage measurement range of the voltage measurement device 403 .

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Abstract

A measuring apparatus (1) is provided with a support stand (203) for mounting a printed wiring board (102), a load application device (201) for applying a load to the printed wiring board (102) mounted on the support stand, a presser (202) for pressing the printed wiring board (102) by means of the load applied from the load application device (201), and an acoustic emission (AE) sensor (301) for detecting a change that occurs in a ceramic electronic component (101) when the ceramic electronic component (101) is broken as a result of the printed wiring board (102) being pressed by the presser (202). The acoustic emission (AE) sensor (301) is configured so as to be attached to the surface of the printed wiring board (102) on which the ceramic electronic component (101) is packaged.

Description

測定装置および測定方法Measuring device and method
 本開示は、測定装置および測定方法に関するものである。 The present disclosure relates to a measuring device and a measuring method.
 近年、携帯電話およびスマートフォンの普及、自動車部品の電子化等に伴い、積層セラミックコンデンサ等のセラミック電子部品の需要は複数の産業分野において増加傾向にある。セラミック電子部品は電子機器の安定動作に必要不可欠なため、安定供給が求められる。 In recent years, with the spread of mobile phones and smartphones and the digitization of automobile parts, the demand for ceramic electronic parts such as multilayer ceramic capacitors is on the rise in multiple industrial fields. Ceramic electronic components are indispensable for the stable operation of electronic equipment, so a stable supply is required.
 ところで、セラミック電子部品では、メーカーまたは品種によって内部構造または材料が異なる。このため、セラミック電子部品によって耐プリント板曲げ性が異なる。耐プリント板曲げ性は、セラミック電子部品が実装されたプリント配線板に対して生じた機械的応力に対するセラミック電子部品の耐性である。使用されていたセラミック電子部品が他メーカーまたは他の品種に切り替えられる場合、セラミック電子部品の電気的特性だけでなく耐プリント板曲げ性も把握されなければ、セラミック電子部品がはんだ実装されたプリント配線板に対する機械的応力により、セラミック電子部品にクラックが生じることがある。クラックが生じると、ショート不良または電気特性の変化といった不具合に発展することがある。製造現場で生じる機械的応力の例としては、プリント配線板の分割、プリント配線板上に実装されたコネクタへの配線の抜き差し等により生じる機械的応力があげられる。 By the way, ceramic electronic components have different internal structures and materials depending on the manufacturer or product type. Therefore, the resistance to bending of the printed board differs depending on the ceramic electronic component. Printed board bending resistance is the resistance of a ceramic electronic component to mechanical stress applied to a printed wiring board on which the ceramic electronic component is mounted. When the used ceramic electronic parts are replaced with other manufacturers or other types, printed wiring with solder-mounted ceramic electronic parts must be understood not only for the electrical characteristics of the ceramic electronic parts but also for the bending resistance of the printed board. Mechanical stress on the plate can cause cracks in ceramic electronic components. Cracks may develop into problems such as short circuits or changes in electrical characteristics. Examples of mechanical stress that occurs at the manufacturing site include mechanical stress that occurs when a printed wiring board is divided, when wiring is inserted into or removed from a connector mounted on the printed wiring board, and the like.
 セラミック電子部品にクラックが生じないようにセラミック電子部品を使用するためには、使用されるセラミック電子部品の耐プリント板曲げ性が事前に測定され、測定結果より製造現場で生じる機械的応力の上限値が設定され、耐プリント板曲げ性および機械的応力が適切に管理されることが重要である。 In order to use ceramic electronic components so that cracks do not occur in the ceramic electronic components, the printed board bending resistance of the ceramic electronic components to be used must be measured in advance, and the upper limit of the mechanical stress generated at the manufacturing site can be determined from the measurement results. It is important that the value is set and that the printed board bending resistance and mechanical stress are properly controlled.
 従来、耐プリント板曲げ性の評価は、JISC5101-22に規定された方法により実施されている。この手法では、プリント配線板の押し曲げによりセラミック電子部品の電気特性が変化することから故障が判定される。ところが、この手法は、電気的特性が変化しないような微小クラックは検出できない。微小クラックは発生時には外観に目立った異常はなく、電気的特性も正常であることが多い。しかし、内部に発生した微小クラックにより耐湿性が劣化することでマイグレーション、デラミネーション等が発生することにより何年も経過してから故障が引き起こされることがある。 Conventionally, evaluation of printed board bending resistance is performed by the method specified in JISC5101-22. In this method, failure is determined from changes in the electrical characteristics of the ceramic electronic component due to the bending of the printed wiring board. However, this method cannot detect microcracks whose electrical characteristics do not change. When a microcrack occurs, there is no noticeable abnormality in the appearance, and the electrical characteristics are often normal. However, microcracks generated inside degrade moisture resistance, causing migration, delamination, and the like, which may cause failures after many years have passed.
 微小クラックを検出する方法としてアコースティックエミッション(AE)法による検出方法が提案されている。アコースティックエミッション(AE)法は、例えば、特開2010-237197号公報(特許文献1)に記載されている。この公報に記載された測定装置は、測定対象物に荷重を印加するための荷重印加装置と、荷重印加装置に連結された押圧子と、測定対象物を載置するための支持台とを備えている。この公報に記載された装置は、支持台に内蔵されたアコースティックエミッション(AE)センサーの反応よりセラミック電子部品の破壊が発生した際の荷重を測定する機能を有する。しかし、この公報には、プリント配線板に実装されたセラミック電子部品に対して破壊強度を測定することは開示されていない。 A detection method using the acoustic emission (AE) method has been proposed as a method for detecting microcracks. The acoustic emission (AE) method is described, for example, in Japanese Patent Laying-Open No. 2010-237197 (Patent Document 1). The measuring apparatus described in this publication includes a load applying device for applying a load to an object to be measured, a presser connected to the load applying device, and a support base for placing the object to be measured. ing. The device described in this publication has the function of measuring the load when the ceramic electronic component is destroyed from the reaction of an acoustic emission (AE) sensor built into the support base. However, this publication does not disclose measuring the breaking strength of a ceramic electronic component mounted on a printed wiring board.
特開2010-237197号公報JP 2010-237197 A
 上記公報には、耐プリント板曲げ性を評価することは開示されていない。さらに、耐プリント板曲げ性を高い精度で評価することも開示されていない。 The above publication does not disclose evaluation of bending resistance of printed boards. Furthermore, it does not disclose how to evaluate the bending resistance of printed boards with high accuracy.
 本開示は上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、耐プリント板曲げ性を高い精度で評価することができる測定装置および測定方法を提供することである。 The present disclosure has been made in view of the above problems, and its purpose is to provide a measuring apparatus and a measuring method capable of evaluating the bending resistance of a printed board with high accuracy.
 本開示の測定装置は、プリント配線板に実装されたセラミック電子部品の耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置である。測定装置は、プリント配線板を載置するための支持台と、支持台に載置されたプリント配線板に対して荷重を印加するための荷重印加装置と、荷重印加装置に接続されており、荷重印加装置から印加された荷重によりプリント配線板を押圧するための押し子と、プリント配線板が押し子に押圧されることによりセラミック電子部品が破壊されたときのセラミック電子部品に生じた変化を検出するためのアコースティックエミッションセンサーとを備えている。アコースティックエミッションセンサーは、セラミック電子部品が実装されたプリント配線板の面に取り付けられるように構成されている。 The measuring device of the present disclosure is a measuring device for measuring the printed board bending resistance of ceramic electronic components mounted on a printed wiring board. The measuring device is connected to a support base for mounting the printed wiring board, a load application device for applying a load to the printed wiring board mounted on the support base, and the load application device, A pusher for pressing the printed wiring board by the load applied from the load applying device, and the change that occurred in the ceramic electronic component when the printed wiring board was pressed by the pusher and the ceramic electronic component was destroyed. with an acoustic emission sensor for detection. Acoustic emission sensors are configured to be mounted on the surface of a printed wiring board on which ceramic electronic components are mounted.
 本開示の測定装置によれば、アコースティックエミッションセンサーは、セラミック電子部品が実装されたプリント配線板の面に取り付けられるように構成されている。したがって、耐プリント板曲げ性を高い精度で評価することができる。 According to the measuring device of the present disclosure, the acoustic emission sensor is configured to be attached to the surface of the printed wiring board on which ceramic electronic components are mounted. Therefore, the bending resistance of the printed board can be evaluated with high accuracy.
実施の形態1に係る測定装置の構成を模式的に示す正面図である。1 is a front view schematically showing the configuration of a measuring device according to Embodiment 1; FIG. 実施の形態1に係る測定装置の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing the configuration of a measuring device according to Embodiment 1; FIG. 実施の形態1に係る測定対象の構成を模式的に示す下面図である。FIG. 2 is a bottom view schematically showing the configuration of the object to be measured according to Embodiment 1; 実施の形態1に係る測定装置の動作を示すフローチャートである。4 is a flow chart showing the operation of the measuring device according to Embodiment 1. FIG. 実施の形態1に係る測定装置の押し子が測定対象を押し込む様子を模式的に示す一部正面図である。FIG. 4 is a partial front view schematically showing how the pusher of the measuring device according to Embodiment 1 pushes the object to be measured. 測定対象への押し子の接触位置を模式的に示す測定対象の下面図である。FIG. 4 is a bottom view of the object to be measured, schematically showing the contact position of the pusher on the object to be measured. 実施の形態1に係る測定装置の変形例の構成を模式的に示す正面図である。FIG. 3 is a front view schematically showing the configuration of a modification of the measuring device according to Embodiment 1; 実施の形態1に係る測定方法を示すフローチャートである。4 is a flow chart showing a measuring method according to Embodiment 1. FIG. 比較例1の測定装置の構成を模式的に示す一部正面図である。2 is a partial front view schematically showing the configuration of a measuring device of Comparative Example 1. FIG. 比較例2の測定装置の構成を模式的に示す一部正面図である。FIG. 11 is a partial front view schematically showing the configuration of a measuring device of Comparative Example 2; 実施の形態1に係る測定装置の構成を模式的に示す一部正面図である。1 is a partial front view schematically showing the configuration of a measuring device according to Embodiment 1; FIG. 実施の形態2に係る測定装置の構成を模式的に示す正面図である。FIG. 7 is a front view schematically showing the configuration of a measuring device according to Embodiment 2; 実施の形態2に係る測定装置の構成を示すブロック図である。2 is a block diagram showing the configuration of a measuring device according to Embodiment 2; FIG. 実施の形態2に係る測定装置の押し子が測定対象を押し込む様子を模式的に示す一部正面図である。FIG. 10 is a partial front view schematically showing how the pusher of the measuring device according to Embodiment 2 pushes the object to be measured; 実施の形態3に係る測定装置の構成を模式的に示す正面図である。FIG. 11 is a front view schematically showing the configuration of a measuring device according to Embodiment 3; 実施の形態3に係る測定装置の構成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram showing the configuration of a measuring device according to Embodiment 3; 実施の形態3に係る測定装置の固定治具の構成を模式的に示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view schematically showing the structure of a fixing jig of a measuring device according to Embodiment 3; 実施の形態3に係る測定装置の固定治具を用いてプリント配線板にアコースティックエミッションセンサーが固定された状態を模式的に示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view schematically showing a state in which an acoustic emission sensor is fixed to a printed wiring board using a fixing jig of a measuring device according to Embodiment 3; 実施の形態3により測定した積層セラミックコンデンサの累積故障率とひずみ量の分布を3母数ワイブル分布で示したグラフである。10 is a graph showing distributions of cumulative failure rates and strain amounts of laminated ceramic capacitors measured according to Embodiment 3, using a 3-parameter Weibull distribution. 実施の形態3により測定した積層セラミックコンデンサの累積故障率分布で、メーカー間の特性を3母数ワイブル分布で比較したグラフである。10 is a graph showing cumulative failure rate distributions of laminated ceramic capacitors measured according to Embodiment 3, and comparing characteristics between manufacturers using a 3-parameter Weibull distribution. 実施の形態4に係る測定装置の構成を模式的に示す正面図である。FIG. 11 is a front view schematically showing the configuration of a measuring device according to Embodiment 4; 実施の形態4に係る測定装置の構成を示すブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing the configuration of a measuring device according to Embodiment 4; 実施の形態4に係る測定装置の固定治具を用いてプリント配線板にアコースティックエミッションセンサーが固定された状態を模式的に示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view schematically showing a state in which an acoustic emission sensor is fixed to a printed wiring board using a fixing jig of a measuring device according to Embodiment 4;
 以下に添付図面を参照しながら、本開示の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本開示は以下の記述に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。また、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。なお、図面において、装置の構成及び部材の形状を示す図は、あくまで装置及び部材の概略的な構成及び形状を示すものである。各図面において図示される各部材の相対的な大きさ、及び相対的な位置は、必ずしも実際の部材間における大小関係及び位置関係を正確に表現するものではない。 Preferred embodiments of the present disclosure will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. Note that the present disclosure is not limited to the following description, and can be modified as appropriate without departing from the gist of the present disclosure. Further, in the present specification and drawings, constituent elements having substantially the same functions are denoted by the same reference numerals, thereby omitting redundant description. In the drawings, figures showing the configuration of the device and the shapes of the members only show the schematic configuration and shape of the device and the members. The relative size and relative position of each member illustrated in each drawing do not necessarily accurately represent the actual size relationship and positional relationship between the members.
 実施の形態1.
 図1は、実施の形態1に係るアコースティックエミッション(AE)法を適用した耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置1の構成を示す模式的に示す正面図である。図2は、実施の形態1に係るアコースティックエミッション(AE)法を適用した耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置1の構成を示すブロック図である。
Embodiment 1.
FIG. 1 is a front view schematically showing the configuration of a measuring apparatus 1 for measuring the bending resistance of a printed board to which the acoustic emission (AE) method according to Embodiment 1 is applied. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a measuring apparatus 1 for measuring the bending resistance of a printed board to which the acoustic emission (AE) method according to Embodiment 1 is applied.
 図1および図2に示されるように、実施の形態1に係る測定装置1は、測定対象100を測定するためのものである。測定対象100は、セラミック電子部品101、プリント配線板102を備える。測定装置1は、プリント配線板102に実装されたセラミック電子部品101の耐プリント板曲げ性を測定するためのものである。 As shown in FIGS. 1 and 2, the measuring device 1 according to Embodiment 1 is for measuring a measurement target 100. FIG. A measurement target 100 includes a ceramic electronic component 101 and a printed wiring board 102 . A measuring apparatus 1 is for measuring the printed board bending resistance of a ceramic electronic component 101 mounted on a printed wiring board 102 .
 測定装置1は、荷重印加部200、クラック発生検出部300、クラック発生信号処理部400、荷重印加装置停止処理部500を備える。荷重印加部200は、測定対象100を搭載するように構成されている。荷重印加部200は、荷重印加装置201、押し子202、支持台203を備える。クラック発生検出部300は、測定対象に固定されるように構成されている。クラック発生検出部300は、アコースティックエミッション(AE)センサー301、接着剤304を備える。クラック発生検出部300は、クラック発生信号処理部400に電気接続されるように構成されている。クラック発生信号処理部400は、電圧測定装置403を備える。クラック発生信号処理部400は、荷重印加装置停止処理部500に電気接続されるように構成されている。荷重印加装置停止処理部500は、例えばDCDCコンバーター等の電圧変換機能を持った電子部品を備える。荷重印加装置停止処理部500は、荷重印加部200に電気接続されるように構成されている。 The measuring device 1 includes a load applying section 200 , a crack occurrence detecting section 300 , a crack occurrence signal processing section 400 , and a load applying device stop processing section 500 . The load application unit 200 is configured to mount the object 100 to be measured. The load application unit 200 includes a load application device 201 , a pusher 202 and a support base 203 . The crack occurrence detector 300 is configured to be fixed to the object to be measured. A crack occurrence detection unit 300 includes an acoustic emission (AE) sensor 301 and an adhesive 304 . The crack occurrence detection section 300 is configured to be electrically connected to the crack occurrence signal processing section 400 . The crack generation signal processing section 400 includes a voltage measuring device 403 . The crack occurrence signal processing section 400 is configured to be electrically connected to the load applying device stop processing section 500 . The load application device stop processing unit 500 includes an electronic component having a voltage conversion function such as a DCDC converter. The load applying device stop processing section 500 is configured to be electrically connected to the load applying section 200 .
 図3は、実施の形態1に係る測定対象100の構成を模式的に示す下面図である。図2および図3に示されるように、セラミック電子部品101は、プリント配線板102に実装されている。具体的には、セラミック電子部品101は、はんだ103を用いてプリント配線板102の銅パッド102Aにはんだ実装されている。はんだ実装にはリフローが適用される。また、リフロー後にフラックス洗浄が実施される。これにより、セラミック電子部品101とプリント配線板102との間のフラックスが取り除かれる。尚、プリント配線板102の仕様は、例えばJISC5101-1に準拠している。プリント配線板102として、例えば厚さ1.6mm±0.2mmもしくは0.8mm±0.1mmのガラス布基材エポキシ樹脂プリント配線板用銅張積層板が用いられる。 FIG. 3 is a bottom view schematically showing the configuration of the measurement object 100 according to Embodiment 1. FIG. As shown in FIGS. 2 and 3, ceramic electronic component 101 is mounted on printed wiring board 102 . Specifically, ceramic electronic component 101 is solder-mounted to copper pads 102 A of printed wiring board 102 using solder 103 . Reflow is applied for solder mounting. Also, flux cleaning is performed after reflow. This removes the flux between the ceramic electronic component 101 and the printed wiring board 102 . The specifications of the printed wiring board 102 conform to, for example, JISC5101-1. As the printed wiring board 102, for example, a glass cloth-based epoxy resin printed wiring board copper-clad laminate having a thickness of 1.6 mm±0.2 mm or 0.8 mm±0.1 mm is used.
 図1に示されるように、押し子202および支持台203は荷重印加装置201にねじで固定されている。押し子202および支持台203の仕様は、例えばJISC5101-22に準拠している。押し子202の先端部の曲率半径は5mmとする。 As shown in FIG. 1, the pusher 202 and the support base 203 are fixed to the load application device 201 with screws. The specifications of the pusher 202 and the support base 203 conform to, for example, JISC5101-22. The radius of curvature of the tip of the pusher 202 is set to 5 mm.
 支持台203は、プリント配線板102を載置するためのものである。荷重印加装置201は、支持台203に載置されたプリント配線板102に対して荷重を印加するためのものである。押し子202は、荷重印加装置201に接続されている。押し子202は、荷重印加装置201から印加された荷重によりプリント配線板102を押圧するためのものである。 The support table 203 is for placing the printed wiring board 102 thereon. The load application device 201 is for applying a load to the printed wiring board 102 placed on the support base 203 . The pusher 202 is connected to the load applying device 201 . The presser 202 presses the printed wiring board 102 with the load applied from the load applying device 201 .
 アコースティックエミッション(AE)センサーは、プリント配線板102が押し子202に押圧されることによりセラミック電子部品101が破壊されたときのセラミック電子部品101に生じた変化を検出するためのものである。アコースティックエミッションセンサー(AE)301は、セラミック電子部品101が実装されたプリント配線板102の面S1に取り付けられるように構成されている。本実施の形態では、アコースティックエミッションセンサー(AE)301は、セラミック電子部品101が実装されたプリント配線板102の面S1に直接取り付けられている。本実施の形態では、アコースティックエミッション(AE)センサー301は、プリント配線板102の銅パッド102A(図11参照)に直に固定されている。本実施の形態では、アコースティックエミッションセンサー(AE)301は、セラミック電子部品101がはんだ実装されたプリント配線板102に接着剤304を用いて固定されている。接着剤304は、例えばエチレン酢酸ビニルのような熱可塑性の接着剤である。接着の際には、アコースティックエミッション(AE)センサー301およびプリント配線板102がホットプレート等で80℃に調温された状態で接着剤304が塗布され、接着される。接着剤304の塗布量は、例えば0.05ml以上0.50ml以下である。 The acoustic emission (AE) sensor is for detecting changes occurring in the ceramic electronic component 101 when the printed wiring board 102 is pressed against the pusher 202 and the ceramic electronic component 101 is destroyed. Acoustic emission sensor (AE) 301 is configured to be attached to surface S1 of printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is mounted. In this embodiment, acoustic emission sensor (AE) 301 is directly attached to surface S1 of printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is mounted. In this embodiment, acoustic emission (AE) sensor 301 is fixed directly to copper pad 102A of printed wiring board 102 (see FIG. 11). In this embodiment, acoustic emission sensor (AE) 301 is fixed using adhesive 304 to printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is solder-mounted. Adhesive 304 is a thermoplastic adhesive such as ethylene vinyl acetate. At the time of adhesion, the acoustic emission (AE) sensor 301 and the printed wiring board 102 are heated to 80° C. by a hot plate or the like, and the adhesive 304 is applied and adhered. The application amount of the adhesive 304 is, for example, 0.05 ml or more and 0.50 ml or less.
 図3に示されるように、アコースティックエミッション(AE)センサー301の設置位置IPは、プリント配線板102上で支持台203の接触位置CPよりもセラミック電子部品101側に設置される。支持台203の接触位置CPは支点として機能する。好ましくは、アコースティックエミッション(AE)センサー301の設置位置IPは、セラミック電子部品101の近くに設置される。尚、アコースティックエミッション(AE)センサーは、プリント配線板102に載置できるサイズのものであればよい。 As shown in FIG. 3, the installation position IP of the acoustic emission (AE) sensor 301 is installed on the printed wiring board 102 closer to the ceramic electronic component 101 than the contact position CP of the support base 203 . The contact position CP of the support base 203 functions as a fulcrum. Preferably, the installation position IP of the acoustic emission (AE) sensor 301 is installed near the ceramic electronic component 101 . It should be noted that the acoustic emission (AE) sensor may be any size as long as it can be mounted on the printed wiring board 102 .
 図1に示されるように、電圧測定装置403は、アコースティックエミッション(AE)センサー301の出力信号を測定するためのものである。電圧測定装置403に、例えばシングルトリガがセットされることにより、一定以上の電圧が生じた瞬間を記録することが可能となる。 As shown in FIG. 1, the voltage measuring device 403 is for measuring the output signal of the acoustic emission (AE) sensor 301. By setting, for example, a single trigger to the voltage measuring device 403, it is possible to record the moment when a voltage exceeding a certain level is generated.
 シングルトリガの閾値電圧について、周辺のノイズ状況または装置の組み合わせによって変更する必要がある。閾値電圧の決め方は、例えば次のとおりである。セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102で事前に曲げ試験が行われ、その際に生じる電圧の最大値が測定される。具体的には、セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102に対して、アコースティックエミッション(AE)センサー301が接着剤304により接着される。この状態のプリント配線板102が支持台203に載置され、荷重印加装置201で測定したい押し込み寸法まで荷重が印加されて、曲げ試験が実施される。電圧測定装置403によりアコースティックエミッション(AE)センサー301に生じた電圧信号の最大値が取得され、その最大信号よりも高い値がトリガ電圧とされる。より好ましくは、セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102に対して曲げ試験が複数回実施され、最大電圧値の標準偏差が取られる。この標準偏差が3倍もしくは2倍もしくは1倍された値が最大電圧値の平均値に加算された値がトリガ電圧とされる。  It is necessary to change the single-trigger threshold voltage depending on the surrounding noise situation or device combination. The method of determining the threshold voltage is, for example, as follows. A bending test is performed in advance on the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is not mounted, and the maximum value of the voltage generated at that time is measured. Specifically, an acoustic emission (AE) sensor 301 is adhered with an adhesive 304 to a printed wiring board 102 on which no ceramic electronic component 101 is mounted. The printed wiring board 102 in this state is placed on the support table 203, and a load is applied by the load application device 201 up to the indentation dimension to be measured, and a bending test is performed. A voltage measuring device 403 acquires the maximum value of the voltage signal generated in the acoustic emission (AE) sensor 301, and a value higher than the maximum signal is taken as the trigger voltage. More preferably, the bending test is performed multiple times on printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is not mounted, and the standard deviation of the maximum voltage value is obtained. A trigger voltage is obtained by adding a value obtained by multiplying the standard deviation by 3, 2 or 1 to the average value of the maximum voltage values.
 荷重印加装置停止処理部500は、セラミック電子部品101が破壊されたときに電圧測定装置403により測定された出力信号に基づいて、荷重印加装置201を停止させるためのものである。荷重印加装置停止処理部500は、電圧測定装置403と例えば同軸ケーブルを用いて接続されている。また、荷重印加装置停止処理部500は、荷重印加装置201と例えばインターフェイス用コネクタを用いて接続されている。 The load applying device stop processing unit 500 is for stopping the load applying device 201 based on the output signal measured by the voltage measuring device 403 when the ceramic electronic component 101 is destroyed. The load applying device stop processing unit 500 is connected to the voltage measuring device 403 using, for example, a coaxial cable. Further, the load applying device stop processing unit 500 is connected to the load applying device 201 using, for example, an interface connector.
 次に、図4および図5を参照して、本実施の形態に係る測定装置1の動作を説明する。
 図4は、本実施の形態に係る測定装置1の動作を示すフローチャートである。図5は、本実施の形態に係る測定装置1の押し子202が測定対象100を押し込む様子を模式的に示す一部正面図である。
Next, operation of the measuring device 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG.
FIG. 4 is a flow chart showing the operation of the measuring device 1 according to this embodiment. FIG. 5 is a partial front view schematically showing how the pusher 202 of the measuring device 1 according to this embodiment pushes the object 100 to be measured.
 図4および図5に示されるように、まず、セラミック電子部品101が実装されたプリント配線板102が準備される(S1)。 As shown in FIGS. 4 and 5, first, a printed wiring board 102 on which ceramic electronic components 101 are mounted is prepared (S1).
 次に、アコースティックエミッション(AE)センサー301が測定対象100に取り付けられる(S2)。測定対象100に接着剤304を用いてアコースティックエミッション(AE)センサー301が固定される。 Next, an acoustic emission (AE) sensor 301 is attached to the measurement object 100 (S2). An acoustic emission (AE) sensor 301 is fixed to the measurement target 100 using an adhesive 304 .
 測定対象100が支持台203に載置される(S3)。測定対象100に接着剤304を用いてアコースティックエミッション(AE)センサーが固定された後、セラミック電子部品101が実装されたプリント配線板102の面が下向きになるように測定対象100が支持台203に載置される。 The object 100 to be measured is placed on the support table 203 (S3). After the acoustic emission (AE) sensor is fixed to the measurement target 100 using an adhesive 304, the measurement target 100 is placed on the support base 203 so that the surface of the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is mounted faces downward. be placed.
 この状態で荷重印加装置201を用いて曲げ試験が開始される。この状態で、荷重印加装置201により測定対象100に荷重が印加される。荷重印加装置201に接続された押し子202が測定対象100を押し込む(S4)。 In this state, the bending test is started using the load application device 201. In this state, the load applying device 201 applies a load to the object 100 to be measured. A pusher 202 connected to the load applying device 201 pushes the measurement object 100 (S4).
 セラミック電子部品101にクラックが生じた際に、アコースティックエミッション(AE)センサー301がその振動を捉える。セラミック電子部品101にクラックが生じた場合、アコースティックエミッション(AE)センサー301が振動を検出し、電圧信号を生じさせる。これにより、曲げ試験をしていない状態よりも大きな電圧が生じる。電圧測定装置403はこの電圧信号が発生した瞬間を捉える。この電圧信号を電圧測定装置403が検出し、荷重印加装置停止処理部500に信号が送られ、荷重印加装置201に試験停止コマンドが送られ、荷重印加装置201が停止する。このようにして、クラックが生じた瞬間に荷重印加装置201は停止する。つまり、電圧測定装置403が測定対象100の変化を検出し、荷重印加装置201が停止する(S5)。 When a crack occurs in the ceramic electronic component 101, the acoustic emission (AE) sensor 301 captures the vibration. When the ceramic electronic component 101 cracks, an acoustic emission (AE) sensor 301 detects the vibration and produces a voltage signal. This results in a higher voltage than in the unbend-tested state. A voltage measuring device 403 captures the moment when this voltage signal is generated. This voltage signal is detected by the voltage measuring device 403, a signal is sent to the load applying device stop processor 500, a test stop command is sent to the load applying device 201, and the load applying device 201 is stopped. In this way, the load application device 201 stops at the moment a crack occurs. That is, the voltage measuring device 403 detects a change in the measurement object 100, and the load applying device 201 stops (S5).
 荷重印加装置201の停止位置からクラックが生じた押し込み寸法が測定される。荷重印加装置201の押し込み寸法が記録される(S6)。荷重印加装置201の押し込み寸法は、図示しない記録部に記録される。荷重印加装置201の押し込み寸法から測定対象100の耐プリント板曲げ性を測定することができる。荷重印加装置201から測定対象100が取り外される(S7)。 The indentation dimension of the crack is measured from the stop position of the load applying device 201 . The indentation dimension of the load applying device 201 is recorded (S6). The indentation dimension of the load applying device 201 is recorded in a recording unit (not shown). The resistance to bending of the printed board of the measurement object 100 can be measured from the indentation dimension of the load applying device 201 . The measurement target 100 is removed from the load application device 201 (S7).
 押し込み寸法とひずみ量の検量線を測定しておくことで、押し込み寸法をひずみ量に変換することができる。押し込み寸法とひずみ量の検量線は、例えばひずみゲージ等を用いて測定される。ひずみゲージは、3軸のひずみが測定可能なものが好ましい。 By measuring the calibration curve of the indentation dimension and the amount of strain, the indentation dimension can be converted into the amount of strain. A calibration curve of the indentation dimension and the amount of strain is measured using, for example, a strain gauge. The strain gauge is preferably one capable of measuring triaxial strain.
 セラミック電子部品101にクラック生じた際のプリント配線板102の押し込み寸法をひずみ量に変換し、測定のn増しを行うことで耐プリント板曲げ性の実力分布を測定することができる。なお、n増しとは、測定するサンプルの総数を増やした測定のことである。 By converting the indentation dimension of the printed wiring board 102 when a crack occurs in the ceramic electronic component 101 into a strain amount and increasing the measurement by n, it is possible to measure the actual distribution of the bending resistance of the printed board. Note that "increase by n" means measurement in which the total number of samples to be measured is increased.
 図6は、測定対象100への押し子202の接触位置PPを模式的に示す測定対象100の下面図である。図6に示されるように、押し子202が2点荷重の場合には、アコースティックエミッション(AE)センサー301の設置位置IPは、押し子202の接触位置PPよりもセラミック電子部品101側に設置される。押し子202の接触位置PPは荷重点として機能する。 FIG. 6 is a bottom view of the measurement object 100 schematically showing the contact position PP of the pusher 202 on the measurement object 100. FIG. As shown in FIG. 6, when the pusher 202 is a two-point load, the installation position IP of the acoustic emission (AE) sensor 301 is set closer to the ceramic electronic component 101 than the contact position PP of the pusher 202. be. The contact position PP of the pusher 202 functions as a load point.
 図7は、実施の形態1に係る測定装置1の変形例を模式的に示す正面図である。図7に示されるように、押し子202は1点荷重でもよい。 FIG. 7 is a front view schematically showing a modification of the measuring device 1 according to Embodiment 1. FIG. As shown in FIG. 7, the pusher 202 may be a single point load.
 続いて、図1および図8を参照して、実施の形態1に係る測定方法について説明する。
 図8は、実施の形態1に係る測定方法を示すフローチャートである。実施の形態1に係る測定方法は、プリント配線板102に実装されたセラミック電子部品101の耐プリント板曲げ性を測定するための測定方法である。測定方法は、次の工程を備える。プリント配線板102が支持台203に載置される(S10)。支持台203に載置されたプリント配線板102が荷重印加装置201に接続された押し子202に押圧される(S20)。プリント配線板102が押し子202に押圧されることによりセラミック電子部品101が破壊されたときのセラミック電子部品101に生じた変化をアコースティックエミッション(AE)センサー301が検出する(S30)。アコースティックエミッション(AE)センサー301は、セラミック電子部品101が実装されたプリント配線板102の面S1に取り付けられる。
Next, a measurement method according to Embodiment 1 will be described with reference to FIGS. 1 and 8. FIG.
FIG. 8 is a flow chart showing a measuring method according to Embodiment 1. FIG. The measuring method according to the first embodiment is a measuring method for measuring the printed board bending resistance of ceramic electronic component 101 mounted on printed wiring board 102 . The measurement method includes the following steps. Printed wiring board 102 is placed on support base 203 (S10). The printed wiring board 102 placed on the support table 203 is pressed by the presser 202 connected to the load applying device 201 (S20). Acoustic emission (AE) sensor 301 detects changes occurring in ceramic electronic component 101 when printed wiring board 102 is pressed against pusher 202 and ceramic electronic component 101 is destroyed (S30). Acoustic emission (AE) sensor 301 is attached to surface S1 of printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is mounted.
 次に、本実施の形態の作用効果を比較例と対比して説明する。
 図9は、比較例1の測定装置1を模式的に示す一部正面図である。比較例1の測定装置1では、アコースティックエミッション(AE)センサー301は、支持台203の内部に組み込まれている。セラミック電子部品101は、支持台203に取り付けられている。図9中白抜き矢印で示されるように、セラミック電子部品101に押し子202が押し込まれる。比較例1の測定装置1では、セラミック電子部品101と押し子202との接点を基点に生じるクラックCRの発生が評価される。これに対して、本実施の形態に係る測定装置1では、セラミック電子部品101の電極近傍を起点に生じるクラックCRが評価される。したがって、比較例1の測定装置1と本実施の形態に係る測定装置1では、評価されるクラックCRのモードが異なる。
Next, the effects of this embodiment will be described in comparison with a comparative example.
FIG. 9 is a partial front view schematically showing the measuring device 1 of Comparative Example 1. FIG. In the measurement device 1 of Comparative Example 1, the acoustic emission (AE) sensor 301 is incorporated inside the support base 203 . Ceramic electronic component 101 is attached to support base 203 . A pusher 202 is pushed into the ceramic electronic component 101 as indicated by the white arrow in FIG. The measurement apparatus 1 of Comparative Example 1 evaluates the occurrence of cracks CR generated starting from the point of contact between the ceramic electronic component 101 and the pusher 202 . On the other hand, the measuring apparatus 1 according to the present embodiment evaluates the crack CR that starts near the electrodes of the ceramic electronic component 101 . Therefore, the mode of the crack CR to be evaluated differs between the measuring apparatus 1 of Comparative Example 1 and the measuring apparatus 1 according to the present embodiment.
 図10は、比較例2の測定装置1を模式的に示す一部正面図である。比較例2の測定装置1では、アコースティックエミッション(AE)センサー301は、プリント配線板102に取り付けられている。セラミック電子部品101は、プリント配線板102に実装されている。図10中白抜き矢印で示されるように、プリント配線板102に押し子202が押し込まれる。比較例2の測定装置1では、クラックCRにより生じた振動は、セラミック電子部品101、はんだ103、プリント配線板102の銅パッド102A、プリント配線板102、支持台203、AEセンサー301の経路で伝わる。この場合、物性の異なるものを多く通るため、クラックCRにより生じた振動が減衰することで、振動を検出できない場合がある。特に小型サイズの部品では評価が難しい。 FIG. 10 is a partial front view schematically showing the measuring device 1 of Comparative Example 2. FIG. In measuring apparatus 1 of Comparative Example 2, acoustic emission (AE) sensor 301 is attached to printed wiring board 102 . Ceramic electronic component 101 is mounted on printed wiring board 102 . A pusher 202 is pushed into the printed wiring board 102 as indicated by the white arrow in FIG. In the measuring device 1 of Comparative Example 2, the vibration generated by the crack CR is transmitted through the ceramic electronic component 101, the solder 103, the copper pad 102A of the printed wiring board 102, the printed wiring board 102, the support base 203, and the AE sensor 301. . In this case, since many objects with different physical properties are passed through, the vibration caused by the crack CR is attenuated, and the vibration may not be detected. Evaluation is particularly difficult for small-sized parts.
 図11は、本実施の形態に係る測定装置1を模式的に示す一部正面図である。本実施の形態に係る測定装置1によれば、アコースティックエミッション(AE)センサー301は、セラミック電子部品101が実装されたプリント配線板102の面S1に取り付けられる。本実施の形態では、アコースティックエミッション(AE)センサー301はプリント配線板102の銅パッド102Aに直に固定される。クラックCRにより生じた振動は、セラミック電子部品101、はんだ103、プリント配線板102の銅パッド102A、AEセンサー301と比較例2よりも短い経路で伝わる。このため、より確実にクラックによって生じた振動を検出することができる。したがって、セラミック電子部品101に生じたクラックCRを比較例1及び2より高い精度で検出することができる。よって、耐プリント板曲げ性を高い精度で評価することができる。また、耐プリント板曲げ性の実力分布についても正確に評価することができる。 FIG. 11 is a partial front view schematically showing the measuring device 1 according to this embodiment. According to measuring apparatus 1 of the present embodiment, acoustic emission (AE) sensor 301 is attached to surface S1 of printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is mounted. In this embodiment, acoustic emission (AE) sensor 301 is directly fixed to copper pad 102 A of printed wiring board 102 . The vibration generated by the crack CR is transmitted through the ceramic electronic component 101, the solder 103, the copper pad 102A of the printed wiring board 102, the AE sensor 301, and a shorter path than in Comparative Example 2. Therefore, the vibration caused by the crack can be detected more reliably. Therefore, the crack CR generated in the ceramic electronic component 101 can be detected with higher precision than in Comparative Examples 1 and 2. Therefore, the bending resistance of the printed board can be evaluated with high accuracy. In addition, it is possible to accurately evaluate the actual distribution of bending resistance of the printed board.
 本実施の形態に係る測定装置1では、耐プリント板曲げ性の分布データを測定することが可能となる。分布データから故障率の近似曲線を算出することが可能となる。分布データは、例えばワイブル分布に従うため、最小二乗法からワイブル線の係数を求めることで近似曲線を算出することが可能となる。近似曲線から任意のひずみ量に対して故障率の値を算出することが可能となる。そのため、数値解析により故障率または分布の下限値が推定可能となる。 With the measuring device 1 according to the present embodiment, it is possible to measure the distribution data of the bending resistance of the printed board. It becomes possible to calculate an approximate curve of the failure rate from the distribution data. Since the distribution data follows the Weibull distribution, for example, it is possible to calculate the approximate curve by obtaining the coefficients of the Weibull line from the method of least squares. It becomes possible to calculate the value of the failure rate for an arbitrary amount of strain from the approximation curve. Therefore, it becomes possible to estimate the lower limit of the failure rate or distribution by numerical analysis.
 本実施の形態に係る測定装置1によれば、電圧測定装置403がアコースティックエミッション(AE)センサー301の出力信号を測定する。荷重印加装置停止処理部500がセラミック電子部品101が破壊されたときに電圧測定装置403により測定された出力信号に基づいて、荷重印加装置201を停止させる。したがって、荷重印加装置201の押し込み寸法を測定することができる。荷重印加装置201の押し込み寸法から耐プリント板曲げ性を測定することができる。 According to the measuring device 1 according to this embodiment, the voltage measuring device 403 measures the output signal of the acoustic emission (AE) sensor 301 . The load applying device stop processor 500 stops the load applying device 201 based on the output signal measured by the voltage measuring device 403 when the ceramic electronic component 101 is destroyed. Therefore, the indentation dimension of the load applying device 201 can be measured. The bending resistance of the printed board can be measured from the indentation dimension of the load applying device 201 .
 本実施の形態に係る測定方法によれば、アコースティックエミッション(AE)センサー301は、セラミック電子部品101が実装されたプリント配線板102の面S1に取り付けられる。したがって、耐プリント板曲げ性を高い精度で評価することができる。また、耐プリント板曲げ性の実力分布についても正確に評価することができる。 According to the measurement method according to the present embodiment, acoustic emission (AE) sensor 301 is attached to surface S1 of printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is mounted. Therefore, the bending resistance of the printed board can be evaluated with high accuracy. In addition, it is possible to accurately evaluate the actual distribution of bending resistance of the printed board.
 実施の形態2.
 実施の形態2に係る測定装置は、特に説明しない限り、実施の形態1に係る測定装置と同一の構成、動作、作用効果を備えている。
Embodiment 2.
Unless otherwise specified, the measuring device according to Embodiment 2 has the same configuration, operation, and effects as those of the measuring device according to Embodiment 1. FIG.
 図12は、実施の形態2に係るアコースティックエミッション(AE)法を適用した耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置1の構成を模式的に示す正面図である。図13は、実施の形態2に係るアコースティックエミッション(AE)法を適用した耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置1の構成を示すブロック図である。図14は、本実施の形態に係る測定装置1の押し子202が測定対象100を押し込む様子を模式的に示す一部正面図である。 FIG. 12 is a front view schematically showing the configuration of a measuring device 1 for measuring the bending resistance of a printed board to which the acoustic emission (AE) method according to Embodiment 2 is applied. FIG. 13 is a block diagram showing the configuration of a measuring apparatus 1 for measuring the bending resistance of a printed board to which the acoustic emission (AE) method is applied according to the second embodiment. FIG. 14 is a partial front view schematically showing how the pusher 202 of the measuring device 1 according to this embodiment pushes the object 100 to be measured.
 図12~図14に示されるように、実施の形態2に係る測定装置1では、クラック発生信号処理部400は、アンプ401と、周波数フィルタ402と、電圧測定装置403とを備える。アンプ401は、アコースティックエミッション(AE)センサー301の出力信号を増幅するためのものである。周波数フィルタ402は、アンプ401により増幅されたアコースティックエミッション(AE)センサー301の出力信号の周波数帯域を絞り込むためのものである。 As shown in FIGS. 12 to 14, in the measuring device 1 according to Embodiment 2, the crack occurrence signal processing section 400 includes an amplifier 401, a frequency filter 402, and a voltage measuring device 403. Amplifier 401 is for amplifying the output signal of acoustic emission (AE) sensor 301 . The frequency filter 402 is for narrowing down the frequency band of the output signal of the acoustic emission (AE) sensor 301 amplified by the amplifier 401 .
 アコースティックエミッション(AE)センサー301とアンプ401とは例えば同軸ケーブルを用いて接続されている。アンプ401と周波数フィルタ402も例えば同軸ケーブルを用いて接続されている。周波数フィルタ402と電圧測定装置403も例えば同軸ケーブルを用いて接続されている。アンプ401のゲインは例えば10dB以上1000dB以下に調整される。また、周波数フィルタ402は例えば10kHz以上1000kHz以下の周波数帯域に調整される。また、電圧測定装置403として例えばオシロスコープが用いられる。尚、電圧測定装置403では、電圧測定レンジは例えば―10Vから+10Vに設定され、トリガ電圧は+1mV以上もしくは―1mV以下に設定にされる。 The acoustic emission (AE) sensor 301 and amplifier 401 are connected using, for example, a coaxial cable. The amplifier 401 and frequency filter 402 are also connected using, for example, a coaxial cable. The frequency filter 402 and voltage measuring device 403 are also connected using, for example, a coaxial cable. The gain of the amplifier 401 is adjusted to, for example, 10 dB or more and 1000 dB or less. Also, the frequency filter 402 is adjusted to a frequency band of, for example, 10 kHz or more and 1000 kHz or less. An oscilloscope, for example, is used as the voltage measuring device 403 . In the voltage measurement device 403, the voltage measurement range is set to, for example, -10 V to +10 V, and the trigger voltage is set to +1 mV or more or -1 mV or less.
 周波数フィルタ402の設定値について、測定する環境または測定対象に応じて変更が必要である。周波数フィルタ402の設定値の確認方法は例えば次の通りである。セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102に事前に曲げ試験が行われ、その際に生じる電圧の周波数特性から周波数フィルタ402が決定される。具体的には、セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102に対して、AEセンサー301が接着剤304により接着される。この状態のプリント配線板102が支持台203に載置され、荷重印加装置201で測定したい押し込み寸法まで荷重が印加されて、曲げ試験が実施される。電圧測定装置403に例えばバックグラウンドノイズの最大値以上の電圧がシングルトリガに設定されていれば、セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102が曲げられることで発生する、振動が捉えられることがある。得られた波形がFFT(Fast Fourier Transform)解析されることで、周波数ピークが確認される。確認された周波数ピークが取得されないように例えばハイパスフィルタまたはローパスフィルタ、もしくはバンドパスフィルタが設定される。 The set value of the frequency filter 402 needs to be changed according to the environment to be measured or the object to be measured. A method for confirming the set value of the frequency filter 402 is, for example, as follows. A bending test is performed in advance on the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is not mounted, and the frequency filter 402 is determined from the frequency characteristics of the voltage generated at that time. Specifically, the AE sensor 301 is adhered with an adhesive 304 to the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is not yet mounted. The printed wiring board 102 in this state is placed on the support table 203, and a load is applied by the load application device 201 up to the indentation dimension to be measured, and a bending test is performed. For example, if the voltage measuring device 403 is set to a single trigger with a voltage equal to or higher than the maximum value of background noise, the vibration generated by the bending of the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is not mounted can be captured. There is A frequency peak is confirmed by FFT (Fast Fourier Transform) analysis of the obtained waveform. A high-pass filter, a low-pass filter, or a band-pass filter, for example, is set so that no identified frequency peaks are acquired.
 周波数フィルタ402の追加により、プリント配線板102の繊維の断線またはプリント配線板102と支持台203との摩擦による振動等のノイズの影響が抑制される。したがって、セラミック電子部品101のクラックによる振動のみを検出することができる。また、アンプ401の追加により、検出の難しい小型サイズのセラミック電子部品101についても測定が可能になる。小型サイズのセラミック電子部品101とは、例えば長さが3.2mm未満であり、幅が1.6mm未満であり、厚さが1.6mm未満のセラミック電子部品101である。 The addition of the frequency filter 402 suppresses the influence of noise such as vibration due to disconnection of the fibers of the printed wiring board 102 or friction between the printed wiring board 102 and the support base 203 . Therefore, only vibration caused by cracks in the ceramic electronic component 101 can be detected. Further, by adding the amplifier 401, it becomes possible to measure a small-sized ceramic electronic component 101 which is difficult to detect. The small-size ceramic electronic component 101 is, for example, a ceramic electronic component 101 having a length of less than 3.2 mm, a width of less than 1.6 mm, and a thickness of less than 1.6 mm.
 実施の形態2に係る測定装置1によれば、アンプ401は、アコースティックエミッション(AE)センサー301の出力信号を増幅する。このため、アンプ401により検出の難しい小型サイズのセラミック電子部品101についても測定することができる。また、荷重印加装置停止処理部500は、セラミック電子部品101が破壊されたときに電圧測定装置403により測定された出力信号に基づいて、荷重印加装置201を停止させる。このため、プリント配線板102の繊維の断線またはプリント配線板102と支持台203との摩擦による振動等のノイズの影響を抑制することができる。つまり、セラミック電子部品101に生じたクラックCRによる振動のみを検出することが可能となる。 According to the measuring device 1 according to Embodiment 2, the amplifier 401 amplifies the output signal of the acoustic emission (AE) sensor 301 . Therefore, even small-sized ceramic electronic components 101 that are difficult to detect by the amplifier 401 can be measured. Further, the load applying device stop processing section 500 stops the load applying device 201 based on the output signal measured by the voltage measuring device 403 when the ceramic electronic component 101 is destroyed. Therefore, it is possible to suppress the influence of noise such as vibration due to disconnection of the fibers of the printed wiring board 102 or friction between the printed wiring board 102 and the support base 203 . In other words, it becomes possible to detect only the vibration caused by the crack CR generated in the ceramic electronic component 101 .
 実施の形態3.
 実施の形態3に係る測定装置は、特に説明しない限り、実施の形態2に係る測定装置と同一の構成、動作、作用効果を備えている。
Embodiment 3.
Unless otherwise specified, the measurement device according to Embodiment 3 has the same configuration, operation, and effects as those of the measurement device according to Embodiment 2.
 図15は、実施の形態3に係るアコースティックエミッション(AE)法を適用した耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置1の構成を模式的に示す正面図である。図16は、実施の形態3に係るアコースティックエミッション(AE)法を適用した耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置1の構成を示すブロック図である。 FIG. 15 is a front view schematically showing the configuration of a measuring device 1 for measuring the bending resistance of a printed board to which the acoustic emission (AE) method according to Embodiment 3 is applied. FIG. 16 is a block diagram showing the configuration of a measuring apparatus 1 for measuring the bending resistance of a printed board to which the acoustic emission (AE) method is applied according to the third embodiment.
 図15および図16に示されるように、実施の形態3に係る測定装置1では、クラック発生検出部300は、アコースティックエミッション(AE)センサー301と、固定治具302と、グリセリン303とを備える。 As shown in FIGS. 15 and 16, in the measuring device 1 according to Embodiment 3, the crack occurrence detection section 300 includes an acoustic emission (AE) sensor 301, a fixture 302, and glycerin 303.
 図17は、固定治具302のゴム部302Aと金属部302Bとの接続の例を示している。図17に示されるように、固定治具302は、プリント配線板102にアコースティックエミッション(AE)センサー301を固定するためのものである。固定治具302は、ゴム部302Aと、金属部302Bとを含んでいる。ゴム部302Aの両端には結び目Kがそれぞれ設けられている。ゴム部302Aは2つの結び目Kを有している。金属部302Bの両端には穴Hがそれぞれ設けられている。金属部302Bは2つの穴Hを有している。ゴム部302Aの結び目Kは、金属部302Bの穴Hにそれぞれ引っかかるように構成されている。ゴム部302Aの両端がそれぞれ穴Hに通されている。穴Hに通された先で結び目Kが作られることでゴム部302Aが金属部302Bから外れない。結び目Kの最大寸法は、穴Hの内径よりも大きい。 17 shows an example of connection between the rubber portion 302A and the metal portion 302B of the fixing jig 302. FIG. As shown in FIG. 17 , fixture 302 is for fixing acoustic emission (AE) sensor 301 to printed wiring board 102 . The fixing jig 302 includes a rubber portion 302A and a metal portion 302B. A knot K is provided at each end of the rubber portion 302A. The rubber portion 302A has two knots K. Holes H are provided at both ends of the metal portion 302B. The metal portion 302B has two holes H. The knots K of the rubber portion 302A are configured to be caught in the holes H of the metal portion 302B. Both ends of the rubber portion 302A are passed through the holes H, respectively. The rubber part 302A is not separated from the metal part 302B by forming a knot K at the tip of the hole H. The maximum dimension of the knot K is larger than the inner diameter of the hole H.
 ゴム部302Aの材料は、例えば天然ゴムである。ゴム部302Aの幅は、アコースティックエミッション(AE)センサー301の直径もしくは幅よりも低い値となるように調整される。ゴム部302Aの長さは、金属部302Bを固定した状態でゴム部302Aをアコースティックエミッション(AE)センサー301の高さ分引き上げた際に、1.0N以上99.0N以下の引っ張り荷重となるように調整される。金属部302Bの材質及び厚さは、ゴム部302Aの張力により変形しない材質及び厚さであれば良いが、例えばステレンス製で厚さ1.6mmである。尚、ゴム部302Aは経時劣化するため、例えば1か月おきに新調される。 The material of the rubber portion 302A is, for example, natural rubber. The width of the rubber portion 302A is adjusted to be smaller than the diameter or width of the acoustic emission (AE) sensor 301. FIG. The length of the rubber portion 302A is such that when the rubber portion 302A is raised by the height of the acoustic emission (AE) sensor 301 with the metal portion 302B fixed, a tensile load of 1.0 N or more and 99.0 N or less is applied. adjusted to The material and thickness of the metal portion 302B may be any material and thickness that do not deform due to the tension of the rubber portion 302A. Since the rubber portion 302A deteriorates over time, it is renewed every other month, for example.
 図18は、セラミック電子部品101が実装されたプリント配線板102に固定治具302を用いてアコースティックエミッション(AE)センサー301が固定された状態を模式的に示す斜視図である。図18に示されるように、プリント配線板102にグリセリン303が塗布された後、アコースティックエミッション(AE)センサー301がプリント配線板102に搭載され、固定治具302のゴム部302Aと金属部302Bとで挟むようにして固定されている。固定治具302は、ゴム部302Aがアコースティックエミッション(AE)センサー301に接触し、金属部302Bがセラミック電子部品101が実装されていないプリント配線板102の面S2に接触するように、プリント配線板102およびアコースティックエミッション(AE)センサー301を挟むように構成されている。 FIG. 18 is a perspective view schematically showing a state in which an acoustic emission (AE) sensor 301 is fixed using a fixing jig 302 to the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is mounted. As shown in FIG. 18, after glycerin 303 is applied to printed wiring board 102, acoustic emission (AE) sensor 301 is mounted on printed wiring board 102, and rubber portion 302A and metal portion 302B of fixture 302 are attached. It is fixed by sandwiching it between The fixing jig 302 is mounted on the printed wiring board so that the rubber portion 302A contacts the acoustic emission (AE) sensor 301 and the metal portion 302B contacts the surface S2 of the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is not mounted. 102 and an acoustic emission (AE) sensor 301 .
 アコースティックエミッション(AE)センサー301の固定位置は、プリント配線板102上で支持台203の支点よりもセラミック電子部品101側に設置される。アコースティックエミッション(AE)センサー301の固定位置は、好ましくはセラミック電子部品101の近くに設置される。尚、アコースティックエミッション(AE)センサー301はプリント配線板102に載置できるサイズのものであればよい。グリセリン303の塗布量は0.01ml以上1.00ml以下になるように調整される。 The fixed position of the acoustic emission (AE) sensor 301 is set on the printed wiring board 102 closer to the ceramic electronic component 101 than the fulcrum of the support base 203 . A fixed location for the acoustic emission (AE) sensor 301 is preferably located near the ceramic electronic component 101 . Incidentally, the acoustic emission (AE) sensor 301 may be of a size that can be placed on the printed wiring board 102 . The amount of glycerin 303 applied is adjusted to 0.01 ml or more and 1.00 ml or less.
 周波数フィルタ402の設定方法について、例えばセラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102を事前に曲げ試験が行われ、その際に生じる電圧の周波数特性から周波数フィルタ402が決定される。具体的には、セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102に対して、グリセリン303が塗布された後、アコースティックエミッション(AE)センサー301が搭載され、固定治具302のゴム部302Aと金属部302Bで挟むようにして固定される。この状態のプリント配線板102が支持台203に載置され、荷重印加装置201で測定したい押し込み寸法まで荷重が印加されて、曲げ試験が実施される。電圧測定装置403に例えばバックグラウンドノイズの最大値以上の電圧をシングルトリガに設定されていれば、セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102が曲げられることで発生する、振動を捉えられることがある。得られた波形がFFT解析されることで、周波数ピークが確認される。確認された周波数ピークが取得されないように例えばハイパスフィルタまたはローパスフィルタ、もしくはバンドパスフィルタが設定される。 Regarding the setting method of the frequency filter 402, for example, a bending test is performed in advance on the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is not mounted, and the frequency filter 402 is determined from the frequency characteristics of the voltage generated at that time. Specifically, after glycerin 303 is applied to printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is not yet mounted, acoustic emission (AE) sensor 301 is mounted, and rubber portion 302A of fixing jig 302 and metal are mounted. It is fixed so as to be sandwiched between portions 302B. The printed wiring board 102 in this state is placed on the support table 203, and a load is applied by the load application device 201 up to the indentation dimension to be measured, and a bending test is performed. If the voltage measuring device 403 is set to a single trigger, for example, a voltage higher than the maximum value of background noise, the vibration generated by the bending of the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is not mounted can be captured. There is A frequency peak is confirmed by FFT-analyzing the obtained waveform. A high-pass filter, a low-pass filter, or a band-pass filter, for example, is set so that no identified frequency peaks are acquired.
 シングルトリガの設定電圧について、例えばセラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102で事前に曲げ試験が行われ、その際に生じる電圧の最大値から決定される。具体的には、セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102に対して、グリセリン303が塗布された後、アコースティックエミッション(AE)センサー301が搭載され、固定治具302のゴム部302Aと金属部302Bで挟むようにして固定される。この状態のプリント配線板102が支持台203に載置され、荷重印加装置201で測定したい押し込み寸法まで荷重が印加されて曲げ試験が実施される。電圧測定装置403でアコースティックエミッション(AE)センサー301に生じた電圧信号の最大値が取得され、その最大信号よりも高い値をトリガ電圧とされる。より好ましくは、セラミック電子部品101が未実装のプリント配線板102に対して曲げ試験が複数回実施され、最大電圧値の標準偏差が取られる。この標準偏差の3倍もしくは3倍もしくは1倍された値が最大電圧値の平均値に加算された値がトリガ電圧とされる。 The set voltage of the single trigger is determined, for example, from the maximum value of the voltage generated at the bending test performed in advance on the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is not mounted. Specifically, after glycerin 303 is applied to printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is not yet mounted, acoustic emission (AE) sensor 301 is mounted, and rubber portion 302A of fixing jig 302 and metal are mounted. It is fixed so as to be sandwiched between portions 302B. The printed wiring board 102 in this state is placed on the support base 203, and a load is applied by the load applying device 201 to the indentation dimension to be measured, and the bending test is performed. A voltage measuring device 403 obtains the maximum value of the voltage signal generated in the acoustic emission (AE) sensor 301, and the value higher than the maximum signal is taken as the trigger voltage. More preferably, the bending test is performed multiple times on printed wiring board 102 on which ceramic electronic component 101 is not mounted, and the standard deviation of the maximum voltage value is obtained. A value obtained by adding a value obtained by multiplying the standard deviation by 3, 3 or 1 to the average value of the maximum voltage value is taken as the trigger voltage.
 固定治具302を用いてアコースティックエミッション(AE)センサー301をプリント配線板102に固定することで、接着剤304を使用する場合よりも着脱が容易となる。このため、n増し評価において、接着剤304を用いた場合よりもより短い時間で評価が可能となる。なお、n増し評価とは、測定するサンプルの総数を増やした測定の評価のことである。 By fixing the acoustic emission (AE) sensor 301 to the printed wiring board 102 using the fixing jig 302, it becomes easier to attach and detach than when the adhesive 304 is used. Therefore, in n-increment evaluation, evaluation can be performed in a shorter time than when the adhesive 304 is used. It should be noted that n-added evaluation is evaluation of measurement in which the total number of samples to be measured is increased.
 効果の検証として、本願発明者らは長さ1.6mm、幅0.8mm、厚さ0.8mm、静電容量0.01μF、耐電圧50Vの積層セラミックコンデンサの耐プリント板曲げ性を測定した。図19は、本実施の形態に係る測定装置により測定した積層セラミックコンデンサの累積故障率P%とひずみ量(μST)の分布を、3母数ワイブル分布で示したグラフである。尚、n数は22である。つまり、測定したサンプルの総数は22個である。グラフでのプロット数は、故障と判断したサンプルの数である。Y軸の間隔は、約5%(=1/22)であり、n数と関係がある。 As a verification of the effect, the inventors of the present application measured the printed board bending resistance of a laminated ceramic capacitor having a length of 1.6 mm, a width of 0.8 mm, a thickness of 0.8 mm, a capacitance of 0.01 μF, and a withstand voltage of 50 V. . FIG. 19 is a graph showing distributions of the cumulative failure rate P% and the amount of strain (μST) of the multilayer ceramic capacitor measured by the measuring apparatus according to the present embodiment, using a 3-parameter Weibull distribution. Note that the n number is 22. That is, the total number of samples measured is 22. The number of plots in the graph is the number of samples judged to be faulty. The Y-axis spacing is about 5% (=1/22) and is related to the n number.
 本手法により測定したデータと、JISC5101―22に規定される耐プリント板曲げ性手法に沿って1mm、2mm曲げ相当の荷重をかけたセラミック電子部品の故障率の比較用データを比較した場合、同等の結果が得られていることが確認された。尚、比較用データの故障率は断面観察により故障の有無が判断された。断面観察の方法について、例えば、積層セラミックコンデンサがプリント配線板102から取り外され、チップ単体が樹脂埋めされる。次に、積層セラミックコンデンサの実装面と垂直面が観察できるように積層セラミックコンデンサが樹脂埋めされた樹脂ブロックの研磨が進められる。積層セラミックコンデンサの断面が見えたところで、断面が観察される。外部電極端部付近を起点に生じたクラックが内部電極に到達したサンプルが故障有と判断される。より好ましくは、複数の断面が観察され、クラックの有無が確認される。 When comparing the data measured by this method with the comparison data of the failure rate of ceramic electronic components subjected to a load equivalent to 1 mm and 2 mm bending according to the bending resistance method of printed boards specified in JISC5101-22, the results are equivalent. It was confirmed that the results of In addition, the failure rate of the comparison data was determined by cross-sectional observation. Regarding the cross-sectional observation method, for example, the laminated ceramic capacitor is removed from the printed wiring board 102 and the single chip is embedded in resin. Next, the resin block in which the multilayer ceramic capacitor is embedded in the resin is polished so that the mounting surface and the vertical surface of the multilayer ceramic capacitor can be observed. Where the cross section of the multilayer ceramic capacitor can be seen, the cross section is observed. A sample in which a crack originating near the end of the external electrode reaches the internal electrode is determined to be faulty. More preferably, a plurality of cross sections are observed to confirm the presence or absence of cracks.
 また、本願発明者らは長さ1.6mm、幅0.8mm、厚さ0.8mm、静電容量3300pF、耐電圧50Vの特徴を有する積層セラミックコンデンサの内、メーカー違いの製品の耐プリント板曲げ性を測定した。図20は、本実施の形態に係る測定装置により測定した積層セラミックコンデンサの累積故障率分布で、メーカー間の特性を3母数ワイブル分布で比較したグラフである。尚、n数は22個である。グラフでのプロット数は、故障と判断したサンプルの数である。Y軸の間隔は、約5%(=1/22)であり、n数と関係がある。A社の積層セラミックコンデンサの累積故障率プロットおよびB社の積層セラミックコンデンサの累積故障率プロットが示されている。図20のようなデータは、例えば製品採用時にメーカー別の性能を比較する際に役立つ。また、図20のようなデータは、その他、製品採用後にも製造時期による製品のばらつき評価等にも役立つ。 In addition, the inventors of the present application have found that, among multilayer ceramic capacitors having the characteristics of length 1.6 mm, width 0.8 mm, thickness 0.8 mm, capacitance of 3300 pF, and withstand voltage of 50 V, printed board-resistant products from different manufacturers Flexibility was measured. FIG. 20 is a graph showing cumulative failure rate distributions of laminated ceramic capacitors measured by the measuring apparatus according to the present embodiment, and comparing characteristics between manufacturers using a 3-parameter Weibull distribution. Incidentally, the number of n is 22. The number of plots in the graph is the number of samples judged to be faulty. The Y-axis spacing is about 5% (=1/22) and is related to the n number. A cumulative failure rate plot of the laminated ceramic capacitor of Company A and a cumulative failure rate plot of the laminated ceramic capacitor of Company B are shown. Data such as that shown in FIG. 20 is useful, for example, when comparing performance by manufacturer when adopting a product. In addition, data such as those shown in FIG. 20 are also useful for evaluation of variations in products depending on the time of manufacture even after adoption of the products.
 固定治具302の代替として、例えばビニルテープが使用されても良い。ビニルテープが使用される場合は、事前にビニルテープの剥がれによる振動の電圧強度または周波数ピークが取得され、セラミック電子部品101へ生じたクラックによる振動と分類される。 As an alternative to the fixing jig 302, for example, vinyl tape may be used. When a vinyl tape is used, the voltage intensity or frequency peak of the vibration due to peeling of the vinyl tape is obtained in advance and classified as vibration due to cracks occurring in the ceramic electronic component 101 .
 本実施の形態に係る測定装置1によれば、固定治具302がプリント配線板102にアコースティックエミッション(AE)センサー301を固定する。固定治具302を用いてアコースティックエミッション(AE)センサー301をプリント配線板102に固定することで、接着剤304を使用する場合よりも着脱が容易となる。このため、n増し評価において、接着剤304を用いた場合よりもより短い時間で評価が可能となる。 According to the measuring device 1 according to this embodiment, the fixing jig 302 fixes the acoustic emission (AE) sensor 301 to the printed wiring board 102 . Fixing the acoustic emission (AE) sensor 301 to the printed wiring board 102 using the fixing jig 302 makes attachment and detachment easier than when using the adhesive 304 . Therefore, in n-increment evaluation, evaluation can be performed in a shorter time than when the adhesive 304 is used.
 実施の形態4.
 実施の形態4に係る測定装置は、特に説明しない限り、実施の形態3に係る測定装置と同一の構成、動作、作用効果を備えている。
Embodiment 4.
Unless otherwise specified, the measurement device according to Embodiment 4 has the same configuration, operation, and effects as those of the measurement device according to Embodiment 3.
 図21は、実施の形態4に係るアコースティックエミッション(AE)法を適用した耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置1の構成を模式的に示す正面図である。図22は、実施の形態4に係るアコースティックエミッション(AE)法を適用した耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置1の構成を示すブロック図である。 FIG. 21 is a front view schematically showing the configuration of a measuring device 1 for measuring the bending resistance of a printed board to which the acoustic emission (AE) method according to Embodiment 4 is applied. FIG. 22 is a block diagram showing the configuration of a measuring apparatus 1 for measuring the bending resistance of printed boards to which the acoustic emission (AE) method is applied according to the fourth embodiment.
 図22に示されるように、実施の形態4に係る測定装置1は、クラック発生検出部300とプリント配線板102との密着性を確認するための密着性確認部600を備える。密着性確認部600は、振動用アコースティックエミッション(AE)センサー(振動体)601を備える。また、密着性確認部600は、交流電圧出力装置602およびグリセリン603を備える。振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601は、交流電圧出力装置602に電気接続されている。 As shown in FIG. 22 , the measuring device 1 according to Embodiment 4 includes an adhesion confirmation section 600 for confirming adhesion between the crack generation detection section 300 and the printed wiring board 102 . The adhesion confirmation unit 600 includes an acoustic emission (AE) sensor (vibrating body) 601 for vibration. Further, the adhesion confirmation unit 600 includes an AC voltage output device 602 and glycerin 603 . A vibration acoustic emission (AE) sensor 601 is electrically connected to an AC voltage output device 602 .
 振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601は、例えば直径φ5[mm]、高さ3.2[mm]、重量0.2gである。交流電圧出力装置602には、例えば1kHz以上1MHz以下の周波数で、振幅10[Vp-p]までのサイン波を出力できる電源が用いられる。 The vibration acoustic emission (AE) sensor 601 has, for example, a diameter of φ5 [mm], a height of 3.2 [mm], and a weight of 0.2 g. A power supply capable of outputting a sine wave with an amplitude of up to 10 [Vp-p] at a frequency of 1 kHz or more and 1 MHz or less is used for the AC voltage output device 602, for example.
 図23は、セラミック電子部品101が実装されたプリント配線板102に固定治具302を用いてアコースティックエミッション(AE)センサー301が固定された状態を模式的に示す斜視図である。図23に示されるように、固定治具302の金属部302Bに非貫通穴NHが設けられている。振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601は、非貫通穴NHに埋め込まれている。本実施の形態では、振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601は、金属部302Bに設けられた非貫通穴NHにグリセリン603が塗布された後に埋め込まれ固定されている。 FIG. 23 is a perspective view schematically showing a state in which an acoustic emission (AE) sensor 301 is fixed using a fixing jig 302 to the printed wiring board 102 on which the ceramic electronic component 101 is mounted. As shown in FIG. 23, the metal portion 302B of the fixture 302 is provided with non-through holes NH. A vibration acoustic emission (AE) sensor 601 is embedded in the non-through hole NH. In the present embodiment, the vibration acoustic emission (AE) sensor 601 is embedded and fixed after applying glycerin 603 to the non-through hole NH provided in the metal portion 302B.
 交流電圧出力装置602が出力する周波数は、振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601の共振点で、かつアコースティックエミッション(AE)センサー301の測定可能な範囲に設定される。交流電圧出力装置602が出力する電圧は、プリント配線板102にアコースティックエミッション(AE)センサー301が設置され、固定治具302を用いて固定された後に、交流電圧出力装置602から電圧が印加された際に、電圧測定装置403での電圧測定範囲に収まるように調整される。 The frequency output by the AC voltage output device 602 is set at the resonance point of the acoustic emission (AE) sensor 601 for vibration and within the measurable range of the acoustic emission (AE) sensor 301 . The voltage output by the AC voltage output device 602 is obtained by installing the acoustic emission (AE) sensor 301 on the printed wiring board 102 and fixing it using the fixing jig 302, and then applying the voltage from the AC voltage output device 602. At that time, the voltage is adjusted so as to fall within the voltage measurement range of the voltage measurement device 403 .
 金属部302Bの非貫通穴NHの深さは、金属部302Bの厚さ未満であればよい。金属部302Bの非貫通穴NHの深さは、例えば、金属部302Bの厚さが1.6mmの場合、1.2mmである。金属部302Bの非貫通穴NHの穴径は、振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601が埋め込まれた後に振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601が容易に動かない程度の嵌め合い公差を有していればよい。金属部302Bの非貫通穴NHの穴径は、例えば、直径φ5[mm]のアコースティックエミッション(AE)センサーを用いる場合、直径φ5.012[mm]である。 The depth of the non-through hole NH of the metal portion 302B should be less than the thickness of the metal portion 302B. The depth of the non-through hole NH of the metal portion 302B is, for example, 1.2 mm when the thickness of the metal portion 302B is 1.6 mm. The hole diameter of the non-through hole NH of the metal part 302B has a fitting tolerance to such an extent that the vibration acoustic emission (AE) sensor 601 does not easily move after the vibration acoustic emission (AE) sensor 601 is embedded. All you have to do is The hole diameter of the non-through hole NH of the metal portion 302B is, for example, φ5.012 [mm] when using an acoustic emission (AE) sensor with a diameter of φ5 [mm].
 振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601は、金属部302Bに接着材を用いて固定されてもよい。 The vibration acoustic emission (AE) sensor 601 may be fixed to the metal portion 302B using an adhesive.
 固定治具302によりアコースティックエミッション(AE)センサー301がプリント配線板102に固定された状態で、プリント配線板102は支持台203に載置される。その後、交流電圧出力装置602から振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601に交流電圧が印加される。振動用アコースティックエミッション(AE)センサー601は、交流電圧が印加されると、振動を生じる。生じた振動は、金属部302B、プリント配線板102、グリセリン303を経由し、アコースティックエミッション(AE)センサー301に到達する。アコースティックエミッション(AE)センサー301が振動を受け取ると、振動が電圧に変換され、電圧測定装置403で検出される。 With the acoustic emission (AE) sensor 301 fixed to the printed wiring board 102 by the fixing jig 302 , the printed wiring board 102 is placed on the support base 203 . After that, an AC voltage is applied from the AC voltage output device 602 to the vibration acoustic emission (AE) sensor 601 . A vibrating acoustic emission (AE) sensor 601 vibrates when an alternating voltage is applied. The generated vibration reaches the acoustic emission (AE) sensor 301 via the metal portion 302B, the printed wiring board 102, and the glycerin 303. FIG. When acoustic emission (AE) sensor 301 receives vibrations, the vibrations are converted into voltages and detected by voltage measuring device 403 .
 電圧測定装置403で検出された電圧Vp-pは、アコースティックエミッション(AE)センサー301とプリント配線板102の密着性が高い場合には、アコースティックエミッション(AE)センサー301が基板から浮くなどしてプリント配線板102との密着性が低い場合の2倍以上となる。 When the adhesion between the acoustic emission (AE) sensor 301 and the printed wiring board 102 is high, the voltage Vp-p detected by the voltage measuring device 403 is printed such that the acoustic emission (AE) sensor 301 is lifted from the board. It is more than double that when the adhesion to the wiring board 102 is low.
 検出された電圧から密着性に問題がないと判断された場合には、交流電圧出力装置602の出力が停止され、実施の形態3に記載された耐プリント板曲げ性評価が続行される。 When it is determined from the detected voltage that there is no problem with the adhesion, the output of the AC voltage output device 602 is stopped, and the bending resistance evaluation of the printed board described in Embodiment 3 is continued.
 検出された電圧から密着性に問題があると判断された場合には、交流電圧出力装置602の出力が停止され、プリント配線板102が支持台から取り外され、アコースティックエミッション(AE)センサー301がプリント配線板102から取り外される。その後、プリント配線板102にアコースティックエミッション(AE)センサー301が取り付けられる工程からやり直される。 When it is judged that there is a problem with the adhesion from the detected voltage, the output of the AC voltage output device 602 is stopped, the printed wiring board 102 is removed from the support, and the acoustic emission (AE) sensor 301 is printed. It is removed from the wiring board 102 . After that, the process of attaching the acoustic emission (AE) sensor 301 to the printed wiring board 102 is restarted.
 実施の形態4に係る測定方法は、振動用アコースティックエミッション(AE)センサー(振動体)601が生じた振動をアコースティックエミッション(AE)センサー301が検出した検出感度からアコースティックエミッション(AE)センサーとプリント配線板102との密着性を評価する工程をさらに備える。 The measurement method according to the fourth embodiment is based on the detection sensitivity of the vibration generated by the vibration acoustic emission (AE) sensor (vibrating body) 601 detected by the acoustic emission (AE) sensor 301, and the acoustic emission (AE) sensor and the printed wiring. A step of evaluating adhesion with the plate 102 is further provided.
 実施の形態4によれば、アコースティックエミッション(AE)センサー301とプリント配線板102との密着性を評価する工程が加えられることで、密着性が悪い状態で耐プリント板曲げ性評価が行われることを避けることができる。そのため、密着性不良による測定ミスを低減することができる。したがって、より精度高い評価が可能になる。 According to the fourth embodiment, by adding a step of evaluating the adhesion between the acoustic emission (AE) sensor 301 and the printed wiring board 102, the bending resistance of the printed board can be evaluated in a state where the adhesion is poor. can be avoided. Therefore, it is possible to reduce measurement errors due to poor adhesion. Therefore, evaluation with higher precision becomes possible.
 今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本開示の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 The embodiments disclosed this time should be considered illustrative in all respects and not restrictive. The scope of the present disclosure is indicated by the scope of claims rather than the above description, and is intended to include all changes within the meaning and scope of equivalence to the scope of claims.
 1 測定装置、100 測定対象、101 セラミック電子部品、102 プリント配線板、102A 銅パッド、103 はんだ、200 荷重印加部、201 荷重印加装置、202 押し子、203 支持台、300 クラック発生検出部、301 アコースティックエミッション(AE)センサー、302 固定治具、302A ゴム部、302B 金属部、303 グリセリン、304 接着剤、400 クラック発生信号処理部、401 アンプ、402 周波数フィルタ、403 電圧測定装置、500 荷重印加装置停止処理部、600 密着性確認部、601 振動用アコースティックエミッション(AE)センサー、602 交流電圧出力装置、603 グリセリン、H 穴、K 結び目。 1 measuring device, 100 object to be measured, 101 ceramic electronic component, 102 printed wiring board, 102A copper pad, 103 solder, 200 load application unit, 201 load application device, 202 plunger, 203 support base, 300 crack detection unit, 301 Acoustic emission (AE) sensor, 302 fixing jig, 302A rubber part, 302B metal part, 303 glycerin, 304 adhesive, 400 crack generation signal processing part, 401 amplifier, 402 frequency filter, 403 voltage measuring device, 500 load applying device Stop processing part, 600 Adhesion confirmation part, 601 Acoustic emission (AE) sensor for vibration, 602 AC voltage output device, 603 Glycerin, H hole, K knot.

Claims (7)

  1.  プリント配線板に実装されたセラミック電子部品の耐プリント板曲げ性を測定するための測定装置であって、
     前記プリント配線板を載置するための支持台と、
     前記支持台に載置された前記プリント配線板に対して荷重を印加するための荷重印加装置と、
     前記荷重印加装置に接続されており、前記荷重印加装置から印加された荷重により前記プリント配線板を押圧するための押し子と、
     前記プリント配線板が前記押し子に押圧されることにより前記セラミック電子部品が破壊されたときの前記セラミック電子部品に生じた変化を検出するためのアコースティックエミッションセンサーとを備え、
     前記アコースティックエミッションセンサーは、前記セラミック電子部品が実装された前記プリント配線板の面に取り付けられるように構成されている、測定装置。
    A measuring device for measuring the printed board bending resistance of a ceramic electronic component mounted on a printed wiring board,
    a support for mounting the printed wiring board;
    a load applying device for applying a load to the printed wiring board placed on the support;
    a presser connected to the load applying device for pressing the printed wiring board with the load applied from the load applying device;
    an acoustic emission sensor for detecting a change occurring in the ceramic electronic component when the ceramic electronic component is destroyed by the printed wiring board being pressed against the pusher;
    The measurement device, wherein the acoustic emission sensor is configured to be attached to a surface of the printed wiring board on which the ceramic electronic component is mounted.
  2.  前記アコースティックエミッションセンサーの出力信号を測定するための電圧測定装置と、
     前記セラミック電子部品が破壊されたときに前記電圧測定装置により測定された前記出力信号に基づいて、前記荷重印加装置を停止させるための荷重印加装置停止処理部とをさらに備えた、請求項1に記載の測定装置。
    a voltage measuring device for measuring an output signal of the acoustic emission sensor;
    2. The apparatus according to claim 1, further comprising a load applying device stop processing section for stopping said load applying device based on said output signal measured by said voltage measuring device when said ceramic electronic component is broken. Measurement device as described.
  3.  前記アコースティックエミッションセンサーの前記出力信号を増幅するためのアンプと、
     前記アンプにより増幅された前記アコースティックエミッションセンサーの前記出力信号の周波数帯域を絞り込むための周波数フィルタとをさらに備えた、請求項2に記載の測定装置。
    an amplifier for amplifying the output signal of the acoustic emission sensor;
    3. The measuring apparatus according to claim 2, further comprising a frequency filter for narrowing down the frequency band of said output signal of said acoustic emission sensor amplified by said amplifier.
  4.  前記プリント配線板に前記アコースティックエミッションセンサーを固定するための固定治具をさらに備え、
     前記固定治具は、ゴム部と、金属部とを含み、
     前記ゴム部の両端には結び目がそれぞれ設けられており、
     前記金属部の両端には穴がそれぞれ設けられており、
     前記ゴム部の前記結び目は、前記金属部の前記穴にそれぞれ引っかかるように構成されており、
     前記固定治具は、前記ゴム部が前記アコースティックエミッションセンサーに接触し、前記金属部が前記セラミック電子部品が実装されていない前記プリント配線板の面に接触するように、前記プリント配線板および前記アコースティックエミッションセンサーを挟むように構成されている、請求項1~3のいずれか1項に記載の測定装置。
    further comprising a fixture for fixing the acoustic emission sensor to the printed wiring board;
    The fixing jig includes a rubber portion and a metal portion,
    A knot is provided at each end of the rubber part,
    Holes are provided at both ends of the metal part,
    The knots of the rubber portion are configured to be caught in the holes of the metal portion, respectively,
    The fixing jig is arranged so that the rubber portion contacts the acoustic emission sensor and the metal portion contacts the surface of the printed wiring board on which the ceramic electronic component is not mounted. 4. The measuring device according to any one of claims 1 to 3, which is configured to sandwich an emission sensor.
  5.  振動体をさらに備え、
     前記固定治具の前記金属部に非貫通穴が設けられており、
     前記振動体は、前記非貫通穴に埋め込まれている、請求項4に記載の測定装置。
    further comprising a vibrating body,
    A non-through hole is provided in the metal portion of the fixing jig,
    The measuring device according to claim 4, wherein the vibrator is embedded in the non-through hole.
  6.  プリント配線板に実装されたセラミック電子部品の耐プリント板曲げ性を測定するための測定方法であって、
     前記プリント配線板が支持台に載置される工程と、
     前記支持台に載置された前記プリント配線板が荷重印加装置に接続された押し子に押圧される工程と、
     前記プリント配線板が前記押し子に押圧されることにより前記セラミック電子部品が破壊されたときの前記セラミック電子部品に生じた変化をアコースティックエミッションセンサーが検出する工程とを備え、
     前記アコースティックエミッションセンサーは、前記セラミック電子部品が実装された前記プリント配線板の面に取り付けられる、測定方法。
    A measuring method for measuring the printed board bending resistance of a ceramic electronic component mounted on a printed wiring board,
    a step of placing the printed wiring board on a support;
    a step of pressing the printed wiring board placed on the support base against a pusher connected to a load applying device;
    an acoustic emission sensor detecting a change occurring in the ceramic electronic component when the ceramic electronic component is destroyed by the printed wiring board being pressed against the pusher;
    The measuring method, wherein the acoustic emission sensor is attached to the surface of the printed wiring board on which the ceramic electronic component is mounted.
  7.  振動体が生じた振動を前記アコースティックエミッションセンサーが検出した検出感度から前記アコースティックエミッションセンサーと前記プリント配線板との密着性を評価する工程をさらに備える、請求項6に記載の測定方法。 The measuring method according to claim 6, further comprising a step of evaluating the adhesion between the acoustic emission sensor and the printed wiring board based on the detection sensitivity of the acoustic emission sensor to the vibration generated by the vibrating body.
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