WO2022085161A1 - ダイヤモンド焼結体、及びダイヤモンド焼結体を備える工具 - Google Patents

ダイヤモンド焼結体、及びダイヤモンド焼結体を備える工具 Download PDF

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WO2022085161A1
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diamond
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diamond sintered
diamond particles
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大継 岩崎
暁彦 植田
倫子 松川
暁 久木野
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住友電工ハードメタル株式会社
住友電気工業株式会社
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    • C04B2235/786—Micrometer sized grains, i.e. from 1 to 100 micron

Definitions

  • the present disclosure relates to a diamond sintered body and a tool including the diamond sintered body.
  • the diamond sintered body has excellent hardness and does not have directional hardness and cleavage, it is widely used for tools such as cutting tools, dressers and dies, and excavation bits.
  • diamond powder which is a raw material, is used together with a sintering aid or a binder at a high pressure and high temperature (generally, a pressure of about 5 to 8 GPa and a temperature at which diamond is thermodynamically stable). It is obtained by sintering under the condition of (about 1300 to 2200 ° C.).
  • a sintering aid iron group element metals such as Fe, Co and Ni, and carbonates such as CaCO 3 are used.
  • the binder ceramics such as SiC are used.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-239472
  • Patent Document 1 describes a high-strength, high-wear-resistant diamond sintered body having sintered diamond particles having an average particle size of 2 ⁇ m or less and the remaining bonded phase.
  • the content of the sintered diamond particles in the diamond sintered body is 80% by volume or more and 98% by volume or less, and the content in the bonded phase is 0.5% by mass or more and less than 50% by mass.
  • Part or all of at least one element selected from the group consisting of titanium, zirconium, hafnium, vanadium, niobium, tantalum, chromium, and molybdenum, including the bonded phase with cobalt, has an average particle size of 0.8 ⁇ m.
  • a high-strength, high-wear-resistant diamond sintered body which exists as the following carbide particles, the structure of the carbide particles is discontinuous, and the adjacent diamond particles are bonded to each other. Has been done.
  • Patent Document 1 describes a method for manufacturing the high-strength, high-wear-resistant diamond sintered body, which uses a belt-type ultra-high pressure device, has a pressure of 5.7 GPa or more and 7.5 GPa or less, and a temperature of 1400 ° C. or more and 1900.
  • a method for producing a high-strength, high-wear-resistant diamond sintered body, which is characterized by sintering under conditions of ° C. or lower, is disclosed.
  • the diamond sintered body of the present disclosure is A diamond sintered body containing diamond particles.
  • the content of the diamond particles is 80% by volume or more and 99% by volume or less with respect to the diamond sintered body.
  • the average particle size of the diamond particles is 0.1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less.
  • the dislocation density of the diamond particles is 1.2 ⁇ 10 16 m -2 or more and 5.4 ⁇ 10 19 m -2 or less.
  • the tool of the present disclosure includes the above-mentioned diamond sintered body.
  • the present disclosure has been made in view of the above circumstances, and an object of the present disclosure is to provide a diamond sintered body having excellent crack resistance and a tool provided with the diamond sintered body.
  • the diamond sintered body according to one aspect of the present disclosure is A diamond sintered body containing diamond particles.
  • the content of the diamond particles is 80% by volume or more and 99% by volume or less with respect to the diamond sintered body.
  • the average particle size of the diamond particles is 0.1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less.
  • the dislocation density of the diamond particles is 1.2 ⁇ 10 16 m -2 or more and 5.4 ⁇ 10 19 m -2 or less.
  • the diamond sintered body has excellent crack resistance.
  • crack growth resistance means resistance to the growth of cracks generated in the diamond sintered body during cutting when it receives an external force.
  • the dislocation density of the diamond particles is preferably 1.5 ⁇ 10 16 m ⁇ 2 or more and 1.0 ⁇ 10 17 m ⁇ 2 or less.
  • the diamond sintered body further contains a bonded phase
  • the diamond sintered body further contains a bonded phase.
  • the binding phase is Elemental metals, alloys, and intermetal compounds containing at least one metal element selected from the group consisting of Group 4 elements, Group 5 elements, Group 6 elements, iron, aluminum, silicon, cobalt, and nickel in the periodic table. At least one selected from the group consisting of, or It consists of at least one metal element selected from the group consisting of Group 4 elements, Group 5 elements, Group 6 elements, iron, aluminum, silicon, cobalt and nickel in the periodic table, and nitrogen, carbon, boron and oxygen.
  • the bonded phase preferably contains cobalt.
  • the tool according to one aspect of the present disclosure includes the above diamond sintered body.
  • fracture resistance means resistance to chipping of a tool during machining of a material.
  • Impact resistance means resistance to momentary forces applied from the outside during processing of a material.
  • the present disclosure is not limited to these examples.
  • the notation in the form of "A to Z" means the upper and lower limits of the range (that is, A or more and Z or less), and there is no description of the unit in A, and the unit is described only in Z. In the case, the unit of A and the unit of Z are the same.
  • the diamond sintered body according to this embodiment is A diamond sintered body containing diamond particles.
  • the content of the diamond particles is 80% by volume or more and 99% by volume or less with respect to the diamond sintered body.
  • the average particle size of the diamond particles is 0.1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less.
  • the dislocation density of the diamond particles is 1.2 ⁇ 10 16 m -2 or more and 5.4 ⁇ 10 19 m -2 or less.
  • the diamond sintered body contains diamond particles. That is, the diamond sintered body has a basic composition of diamond as particles. In one aspect of the present embodiment, diamond particles can also be grasped as diamond crystal grains. It is preferable that the diamond sintered body further contains a bonding phase (binder) formed by one or both of the sintering aid and the binder. The diamond particles and the bonded phase will be described later.
  • the diamond sintered body is a polycrystal composed of a plurality of diamond particles. Therefore, the diamond sintered body does not have directional (anisotropic) and cleavage properties like a single crystal, and has isotropic hardness and crack resistance in all directions.
  • the diamond sintered body may contain unavoidable impurities as long as the effect of the present embodiment is exhibited.
  • unavoidable impurities include hydrogen, oxygen and the like.
  • the content of the diamond particles is preferably 80% by volume or more and 99% by volume or less, and preferably 80% by volume or more and 90% by volume or less with respect to the diamond sintered body.
  • the content of diamond particles (% by volume) and the content of bonded phase (% by volume) described later in the diamond sintered body are determined by scanning electron microscope (SEM) (“JSM-7800F” (trade name) manufactured by JEOL Ltd.). Using the incidental energy dispersive X-ray analyzer (EDX) (Octane Electro EDS system) (hereinafter also referred to as "SEM-EDX”), microstructure observation, element analysis, etc. are performed on the diamond sintered body. Can be confirmed by implementing.
  • SEM scanning electron microscope
  • EDX incidental energy dispersive X-ray analyzer
  • microstructure observation, element analysis, etc. are performed on the diamond sintered body. Can be confirmed by implementing.
  • the specific measurement method is as follows.
  • the diamond sintered body First, cut an arbitrary position of the diamond sintered body to prepare a sample containing a cross section of the diamond sintered body.
  • a focused ion beam device, a cross-section polisher device, or the like can be used to prepare the cross section.
  • the cross section is observed by SEM to obtain a backscattered electron image.
  • the region where the diamond particles are present is the black region
  • the region where the bonded phase is present is the gray region or the white region.
  • the magnification when observing the cross section by SEM is appropriately adjusted so that the number of diamond particles observed in the measurement field of view is 100 or more.
  • the magnification when observing the cross section by SEM may be 10000 times.
  • the magnification when observing the cross section by SEM may be 200 times.
  • the reflected electron image is binarized using image analysis software (Mitani Shoji Co., Ltd.'s "WinROOF ver. 7.4.5", “WinROOF2018”, etc.).
  • the above image analysis software automatically sets an appropriate binarization threshold value based on the image information (the measurer does not arbitrarily set the threshold value).
  • the inventors have confirmed that there is no significant change in the measurement result even when the brightness of the image is changed.
  • the area ratio of the pixels derived from the dark field (pixels derived from the diamond particles) to the area of the measurement field is calculated. By considering the calculated area ratio as% by volume, the content rate (volume%) of diamond particles can be obtained.
  • Obtaining the content rate (volume%) of the coupled phase by calculating the area ratio of the pixels derived from the bright visual field (pixels derived from the coupled phase) to the area of the measured visual field from the image after the binarization process. Can be done.
  • the fact that the pixels derived from the dark field are derived from the diamond particles can be confirmed by performing elemental analysis on the diamond sintered body by SEM-EDX.
  • the average particle size of the diamond particles is 0.1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, and preferably 0.2 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the average particle size of the diamond particles is 0.1 ⁇ m or more, the diamond particles are densely sintered, and a diamond sintered body having excellent fracture resistance is obtained. Since the average particle size of the diamond particles is 50 ⁇ m or less, the diamond sintered body has no anisotropy and has excellent cutting stability when used as a cutting tool of a cutting tool.
  • the average particle size of the diamond particles is obtained by measuring the median diameter d50 of a plurality of diamond particles in each of five arbitrarily selected measurement fields and calculating the average value thereof. Means the value given.
  • the specific method is as follows.
  • the diamond sintered body First, cut an arbitrary position of the diamond sintered body to prepare a sample containing a cross section of the diamond sintered body.
  • a focused ion beam device, a cross-section polisher device, or the like can be used to prepare the cross section.
  • the cross section is observed by SEM to obtain a backscattered electron image.
  • the region where the diamond particles are present is the black region
  • the region where the bonded phase is present is the gray region or the white region.
  • the magnification when observing the cross section by SEM is appropriately adjusted so that the number of diamond particles observed in the measurement field of view is 100 or more.
  • the magnification when observing the cross section by SEM may be 10000 times.
  • the magnification when observing the cross section by SEM may be 200 times.
  • the median diameter d50 in each measurement field of view is calculated, and the average value thereof is calculated.
  • the average value corresponds to the average particle size of diamond particles.
  • the present inventor shows that there is almost no variation in the measurement results even if the selection points of the measurement field of the diamond sintered body are changed and the calculation is performed a plurality of times. Have confirmed. That is, the present inventors think that it is not arbitrary even if the measurement field of view is arbitrarily set.
  • the dislocation density of the diamond particles is 1.2 ⁇ 10 16 m -2 or more and 5.4 ⁇ 10 19 m -2 or less, and 1.5 ⁇ 10 16 m -2 or more and 1.0 ⁇ 10 17 m -2 .
  • the following is preferable.
  • the dislocation density of the diamond particles is 1.2 ⁇ 10 16 m -2 or more, a relatively large number of immobile dislocations are present, so that crack growth generated in the diamond particles is suppressed, and diamond firing with excellent crack growth resistance is achieved. It becomes a unit.
  • the dislocation density of the diamond particles is 5.4 ⁇ 10 19 mph or less, the occurrence of cracks in the diamond particles is suppressed, and the diamond sintered body having excellent impact resistance is obtained.
  • the present inventors diligently investigated the relationship between the dislocation density of diamond particles in a diamond sintered body and the crack growth resistance of the diamond sintered body.
  • the conventional diamond sintered body for example, the diamond sintered body described in Patent Document 1
  • the dislocation density of the diamond sintered body is measured at a large synchrotron radiation facility (for example, Kyushu Synchrotron Radiation Research Center (Saga Prefecture)). Specifically, it is measured by the following method.
  • test piece made of a diamond sintered body.
  • the size of the test piece is 3 mm ⁇ 6 mm on the observation surface and 0.4 mm in thickness.
  • the observation surface of the test piece is mirror-polished with a diamond slurry having an average particle size of 3 ⁇ m, and then immersed in hydrochloric acid for 72 hours. As a result, the bound phase is dissolved in hydrochloric acid on the observation surface of the test piece, and diamond particles remain.
  • X-ray diffraction measurement was performed on the test piece under the following conditions, and the main orientations of diamond (111), (220), (311), (331), (422), (440), (531). Obtain the line profile of the diffraction peak from each azimuth plane of.
  • X-ray diffraction measurement conditions X-ray source: Synchrotron radiation Device condition: Detector NaI (cuts fluorescence by appropriate ROI) Energy: 18 keV (wavelength: 0.6888 ⁇ ) Spectral crystal: Si (111) Incident slit: width 3 mm x height 0.5 mm Light receiving slit: Double slit (width 3 mm x height 0.5 mm) Mirror: Platinum coated mirror Incident angle: 2.5mrad Scanning method: 2 ⁇ - ⁇ scan Measurement peaks: 7 diamonds (111), (220), (311), (331), (422), (440), (531). However, if it is difficult to obtain a profile due to texture, orientation, etc., the peak of the surface index is excluded.
  • Measurement conditions Make sure that the number of measurement points is 9 or more within the full width at half maximum corresponding to each measurement peak.
  • the peak top intensity shall be 2000 counts or more. Since the tail of the peak is also used for analysis, the measurement range is about 10 times the full width at half maximum.
  • the line profile obtained by the above-mentioned X-ray diffraction measurement has a shape including both true spread due to physical quantities such as non-uniform strain of the test piece and spread due to the device.
  • the instrument-derived components are removed from the measured line profile to obtain a true line profile.
  • the true line profile is obtained by fitting the obtained line profile and the device-derived line profile by a pseudo Voigt function and subtracting the device-derived line profile.
  • LaB 6 is used as a standard sample for removing the diffraction line spread caused by the device. Further, when synchrotron radiation having high parallelism is used, the diffraction line spread caused by the device can be regarded as 0.
  • the dislocation density is calculated by analyzing the obtained true line profile using the modified Williamson-Hall method and the modified Warren-Averbach method.
  • the modified Williamson-Hall method and the modified Warren-Averbach method are known line profile analysis methods used to determine the dislocation density.
  • ⁇ K indicates the half width of the line profile.
  • D indicates the crystallite size.
  • M indicates an arrangement parameter.
  • b represents a Burgers vector.
  • ⁇ indicates the dislocation density.
  • K indicates a scattering vector.
  • O (K 2 C) indicates a higher-order term of K 2 C.
  • C indicates the average value of the contrast factor.
  • C in the above formula (I) is represented by the following formula (II).
  • C C h00 [1-q (h 2 k 2 + h 2 l 2 + k 2 l 2 ) / (h 2 + k 2 + l 2 ) 2 ] (II)
  • the contrast factor Ch00 and the coefficient q related to the contrast factor in the spiral dislocation and the blade dislocation are calculated code ANIZC, the slip system is ⁇ 110> ⁇ 111 ⁇ , and the elastic stiffness C 11 is 1076 GPa. , C 12 is 125 GPa, and C 44 is 576 GPa.
  • h, k and l correspond to the Miller index (hkl) of diamond, respectively.
  • the contrast factor C h00 is a spiral dislocation 0.183 and a blade dislocation 0.204.
  • the coefficients q with respect to the contrast factor are spiral dislocations 1.35 and blade dislocations 0.30.
  • the spiral dislocation ratio is fixed at 0.5 and the blade dislocation ratio is fixed at 0.5.
  • a (L) represents a Fourier series.
  • AS (L) indicates a Fourier series with respect to crystallite size.
  • L indicates the Fourier length.
  • the present inventors have confirmed that as long as the dislocation density of diamond particles is measured in the same sample, there is almost no variation in the measurement results even if the measurement range is changed and the calculation is performed multiple times. That is, the present inventors think that it is not arbitrary even if the measurement field of view is arbitrarily set.
  • the diamond sintered body further contains a bonded phase.
  • the binding phase is At least one metal element selected from the group consisting of Group 4 elements, Group 5 elements, Group 6 elements, iron, aluminum, silicon, cobalt and nickel (hereinafter, also referred to as "Group A") in the periodic table. At least one selected from the group consisting of single metals, alloys, and intermetallic compounds, including At least one metal element selected from the group (Group A) consisting of Group 4 elements, Group 5 elements, Group 6 elements, iron, aluminum, silicon, cobalt and nickel in the periodic table, and nitrogen, carbon and boron.
  • group B a compound consisting of at least one non-metal element selected from the group consisting of oxygen (hereinafter, also referred to as "group B"), and at least one selected from the group consisting of a solid solution derived from the above compound.
  • group B a compound consisting of at least one non-metal element selected from the group consisting of oxygen
  • group B at least one selected from the group consisting of a solid solution derived from the above compound.
  • the bonded phase is composed of at least one selected from the group consisting of elemental metals containing at least one metal element selected from group A, alloys, and intermetallic compounds.
  • the bonded phase contains at least one selected from the group consisting of elemental metals, alloys, and intermetallic compounds containing at least one metal element selected from group A.
  • the bonded phase is selected from the group consisting of a compound consisting of at least one metal element selected from group A, at least one non-metal element selected from group B, and a solid solution derived from the compound. Consists of at least one species.
  • the bonded phase is selected from the group consisting of a compound consisting of at least one metal element selected from group A, at least one non-metal element selected from group B, and a solid solution derived from the compound. Includes at least one species.
  • the bonded phase is at least one selected from the group consisting of a single metal, an alloy, and an intermetal compound containing at least one metal element selected from group A, and at least one selected from group A. It is composed of a compound composed of the metal element of the above, at least one non-metal element selected from the group B, and at least one selected from the group consisting of a solid solution derived from the above compound.
  • the bonded phase is at least one selected from the group consisting of a single metal, an alloy, and an intermetal compound containing at least one metal element selected from group A, and at least one selected from group A.
  • Group 4 elements of the periodic table include, for example, titanium (Ti), zirconium (Zr) and hafnium (Hf).
  • Group 5 elements include, for example, vanadium (V), niobium (Nb) and tantalum (Ta).
  • Group 6 elements include, for example, chromium (Cr), molybdenum (Mo) and tungsten (W).
  • the bonded phase preferably contains at least one selected from the group consisting of cobalt, titanium, iron, tungsten and boron, and more preferably contains cobalt.
  • composition of the bonded phase contained in the diamond sintered body can be specified by the above-mentioned EDX incidental to SEM.
  • the content of the bonded phase is preferably 1% by volume or more and 20% by volume or less, and more preferably 10% by volume or more and 20% by volume or less with respect to the diamond sintered body.
  • the content of the bonded phase (% by volume) can be confirmed by performing microstructure observation, elemental analysis, etc. on the diamond sintered body using the above-mentioned SEM-attached EDX.
  • the diamond sintered body of the present embodiment has excellent crack growth resistance, it can be suitably used for cutting tools, abrasion resistant tools, grinding tools, friction stirring joining tools and the like. That is, the tool of the present embodiment includes the above-mentioned diamond sintered body.
  • the above-mentioned tool has excellent chipping resistance and excellent impact resistance in processing various materials.
  • the cutting tool is particularly suitable for turning and turning aluminum alloys (for example, ADC12, AC4B) and the like.
  • the above tool may be entirely composed of a diamond sintered body, or only a part thereof (for example, in the case of a cutting tool, a cutting edge portion) may be composed of a diamond sintered body.
  • Cutting tools include drills, end mills, replaceable cutting tips for drills, replaceable cutting tips for end mills, replaceable cutting tips for milling, replaceable cutting tips for turning, metal saws, gear cutting tools, and reamers. , Taps, cutting tools, etc.
  • wear-resistant tools examples include dies, scribers, scribed wheels, dressers, and the like.
  • Examples of the grinding tool include a grinding wheel and the like.
  • the method for manufacturing a diamond sintered body according to the present embodiment is as follows.
  • a raw material powder for diamond particles (hereinafter, also referred to as “diamond powder”) and a raw material powder for a bonded phase (hereinafter, also referred to as “bonded phase raw material powder”) are prepared.
  • the diamond powder is not particularly limited, and known diamond particles can be used as the raw material powder.
  • the average particle size of the diamond powder is not particularly limited, and can be, for example, 0.1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less.
  • the bonded phase raw material powder is not particularly limited, and may be any powder containing elements constituting the bonded phase.
  • Examples of the bonded phase raw material powder include cobalt powder and titanium powder.
  • As the bound phase raw material powder one kind of powder may be used alone or a plurality of kinds of powders may be used in combination depending on the composition of the desired bound phase.
  • the raw material powder of the diamond particles (diamond powder) and the raw material powder of the bonded phase (bonded phase raw material powder) are mixed to obtain a mixed powder.
  • the diamond powder and the bonded phase raw material powder may be mixed at an arbitrary blending ratio so that the content of diamond particles in the diamond sintered body is within the above range.
  • the method of mixing both powders is not particularly limited, and may be a mixing method using an attritor or a mixing method using a ball mill.
  • the mixing method may be wet or dry.
  • Step of forming dislocations in diamond particles the mixed powder is heated at a holding pressure of 4 GPa or more and 7 GPa or less, a holding temperature of 30 ° C. or more and 600 ° C. or less, and a holding time of 50 minutes or more and 190 minutes or less to generate dislocations in the diamond particles. do.
  • the route from the state of normal temperature (23 ⁇ 5 ° C.) and atmospheric pressure to the state of the holding pressure and the holding temperature is not particularly limited.
  • the high-pressure and high-temperature generator used in the method for manufacturing a diamond sintered body of the present embodiment is not particularly limited as long as it can obtain the desired pressure and temperature conditions.
  • the high-pressure and high-temperature generator is preferably a belt-type high-pressure and high-temperature generator.
  • the container for storing the mixed powder is not particularly limited as long as it is a high-pressure and high-temperature resistant material, and for example, tantalum (Ta), niobium (Nb) and the like are preferably used.
  • the mixed powder is first placed in a capsule made of a refractory metal such as Ta or Nb, heated in a vacuum and sealed, and then the mixed powder is used. Remove adsorbed gas and air. After that, it is preferable to carry out a step of forming dislocations in the diamond particles described above and a step of sintering the mixed powder described later.
  • the step of sintering the mixed powder as it is without taking out the mixed powder from the capsule made of the refractory metal is performed. It is preferable to do it.
  • the holding pressure is preferably 4 GPa or more and 7 GPa or less, and more preferably 4.5 GPa or more and 6 GPa or less.
  • the holding temperature is preferably 30 ° C. or higher and 600 ° C. or lower, and more preferably 50 ° C. or higher and 500 ° C. or lower.
  • the holding time is preferably 50 minutes or more and 190 minutes or less, and more preferably 60 minutes or more and 180 minutes or less.
  • the mixed powder is sintered at a sintering pressure of 4 GPa or more and 8 GPa or less and a sintering temperature of 1400 ° C. or higher and 1700 ° C. or lower for a sintering time of 1 minute or more and 60 minutes or less.
  • a sintering pressure of 4 GPa or more and 8 GPa or less
  • a sintering temperature of 1400 ° C. or higher and 1700 ° C. or lower for a sintering time of 1 minute or more and 60 minutes or less.
  • the sintering pressure is preferably 4 GPa or more and 8 GPa or less, and more preferably 4.5 GPa or more and 7 GPa or less.
  • the sintering temperature is preferably 1400 ° C. or higher and 1700 ° C. or lower, and more preferably 1450 ° C. or higher and 1550 ° C. or lower.
  • the sintering time is preferably 1 minute or more and 60 minutes or less, and more preferably 5 minutes or more and 20 minutes or less.
  • Each prepared raw material powder is added in various blending ratios and mixed by a dry method using a ball mill so that the finally obtained diamond sintered body has the composition shown in Table 3-1 or Table 3-2.
  • a mixed powder was prepared.
  • the mixed powder is sintered in a state of being in contact with a disk made of WC-6% Co cemented carbide as described later. Therefore, it is considered that cobalt and tungsten are infiltrated into the diamond sintered body from the disk during sintering, and the cobalt content and the tungsten content in the diamond sintered body increase.
  • the blending ratio of each raw material powder was determined in consideration of the increase in the cobalt content and the increase in the tungsten content in advance.
  • the mixed powder was placed in a capsule made of Ta in contact with a disk made of WC-6% Co cemented carbide, heated in vacuum, and sealed. Then, the mixed powder was heat-treated at the holding pressure, holding temperature and holding time shown in Table 2-1 or Table 2-2 using a high-pressure high-temperature generator.
  • composition of the bonded phase in the diamond sintered body was specified by SEM-EDX. Since the specific measurement method is the same as the method described in the above [Details of Embodiments of the present disclosure] column, the description thereof will not be repeated. The results are shown in Tables 3-1 and 3-2 (see "Composition of bound phase” column).
  • ⁇ Cutting test 2 Turning test> Using each of the diamond sintered bodies of the samples 15 to 20 prepared as described above, a cutting tool (holder: CSRP R3225-N12, chip: SPGN120308, tool equipped with the diamond sintered body on the cutting edge portion of the chip) is prepared. Then, a turning test was carried out. The cutting conditions for the turning test are shown below. The turning test can be evaluated as a cutting tool having excellent chipping resistance and wear resistance as the cutting distance (km) is longer. Further, in this case, the diamond sintered body used for the cutting tool can be evaluated to have excellent crack growth resistance. The results are shown in Table 3-1. In the cutting test 2, the samples 15 to 19 correspond to the examples. Sample 20 corresponds to a comparative example.
  • ⁇ Cutting test 3 Rolling test> Cutting tool using each of the diamond sintered bodies of samples 21 to 32 produced as described above (cutter: RF4080R, tip: SNEW1204ADFR, tool equipped with the diamond sintered body on the cutting edge portion of the tip in the tip exchange type cutter) was prepared and a milling test was carried out.
  • the cutting conditions for the rolling test are shown below.
  • the larger the cutting volume (cm 3 ) the more excellent the chipping resistance and the impact resistance can be evaluated as a cutting tool.
  • the diamond sintered body used for the cutting tool can be evaluated to have excellent crack growth resistance.
  • Table 3-2 In the cutting test 3, the samples 23 to 30 and the sample 32 correspond to the examples. Sample 21, sample 22 and sample 31 correspond to comparative examples.

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Abstract

ダイヤモンド粒子を含むダイヤモンド焼結体であって、上記ダイヤモンド粒子の含有率は、上記ダイヤモンド焼結体に対して、８０体積％以上９９体積％以下であり、上記ダイヤモンド粒子の平均粒径は、０．１μｍ以上５０μｍ以下であり、上記ダイヤモンド粒子の転位密度は、１．２×１０１６ｍ－２以上５．４×１０１９ｍ－２以下である、ダイヤモンド焼結体。

Description

ダイヤモンド焼結体、及びダイヤモンド焼結体を備える工具
　本開示は、ダイヤモンド焼結体、及びダイヤモンド焼結体を備える工具に関する。
　ダイヤモンド焼結体は、優れた硬度を有するとともに、硬さの方向性及び劈開性がないことから、切削バイト、ドレッサー及びダイス等の工具、並びに、掘削ビット等に広く用いられている。
　従来のダイヤモンド焼結体は、原料であるダイヤモンドの粉末を、焼結助剤又は結合材とともに、ダイヤモンドが熱力学的に安定な高圧高温（一般的には、圧力が５～８ＧＰａ程度及び温度が１３００～２２００℃程度）の条件で焼結することにより得られる。焼結助剤としては、Ｆｅ、Ｃｏ及びＮｉ等の鉄族元素金属、ＣａＣＯ３等の炭酸塩等が用いられる。結合材としては、ＳｉＣ等のセラミックス等が用いられる。
　例えば、特開２００５－２３９４７２号公報（特許文献１）には、平均粒径が２μｍ以下の焼結ダイヤモンド粒子と、残部の結合相とを備えた高強度・高耐摩耗性ダイヤモンド焼結体であって、前記ダイヤモンド焼結体中の前記焼結ダイヤモンド粒子の含有率は８０体積％以上９８体積％以下であり、前記結合相中の含有率が０．５質量％以上５０質量％未満であるチタン、ジルコニウム、ハフニウム、バナジウム、ニオブ、タンタル、クロム、およびモリブデンからなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素と、前記結合相中の含有率が５０質量％以上９９．５質量％未満であるコバルトとを前記結合相は含み、前記チタン、ジルコニウム、ハフニウム、バナジウム、ニオブ、タンタル、クロム、およびモリブデンからなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素の一部または全部が平均粒径０．８μｍ以下の炭化物粒子として存在し、前記炭化物粒子の組織は不連続であり、隣り合う前記ダイヤモンド粒子同士は互いに結合していることを特徴とする、高強度・高耐摩耗性ダイヤモンド焼結体が開示されている。
　また、特許文献１には、当該高強度・高耐摩耗性ダイヤモンド焼結体の製造方法であって、ベルト型超高圧装置を用いて圧力５．７ＧＰａ以上７．５ＧＰａ以下、温度１４００℃以上１９００℃以下の条件で焼結することを特徴とする、高強度・高耐摩耗性ダイヤモンド焼結体の製造方法が開示されている。
特開２００５－２３９４７２号公報
　本開示のダイヤモンド焼結体は、
　ダイヤモンド粒子を含むダイヤモンド焼結体であって、
　上記ダイヤモンド粒子の含有率は、上記ダイヤモンド焼結体に対して、８０体積％以上９９体積％以下であり、
　上記ダイヤモンド粒子の平均粒径は、０．１μｍ以上５０μｍ以下であり、
　上記ダイヤモンド粒子の転位密度は、１．２×１０１６ｍ－２以上５．４×１０１９ｍ－２以下である。
　本開示の工具は、上記ダイヤモンド焼結体を備える。
　［本開示が解決しようとする課題］
　特許文献１のダイヤモンド焼結体は、切削工具等に適用すると、刃先の欠損が生じる場合がある。また、近年はより高効率な（例えば、送り速度が大きい）切削加工が求められており、ダイヤモンド焼結体の更なる性能の向上（例えば、亀裂進展の抑制等）が期待されている。
　本開示は、上記事情に鑑みてなされたものであり、優れた耐亀裂進展性を有するダイヤモンド焼結体、及びダイヤモンド焼結体を備える工具を提供することを目的とする。
　［本開示の効果］
　本開示によれば、優れた耐亀裂進展性を有するダイヤモンド焼結体、及びダイヤモンド焼結体を備える工具を提供することが可能になる。
　［本開示の実施形態の説明］
　最初に本開示の実施態様を列記して説明する。
　［１］本開示の一態様に係るダイヤモンド焼結体は、
　ダイヤモンド粒子を含むダイヤモンド焼結体であって、
　上記ダイヤモンド粒子の含有率は、上記ダイヤモンド焼結体に対して、８０体積％以上９９体積％以下であり、
　上記ダイヤモンド粒子の平均粒径は、０．１μｍ以上５０μｍ以下であり、
　上記ダイヤモンド粒子の転位密度は、１．２×１０１６ｍ－２以上５．４×１０１９ｍ－２以下である。
　上記ダイヤモンド焼結体は、優れた耐亀裂進展性を有する。ここで「耐亀裂進展性」とは、切削時においてダイヤモンド焼結体に発生する亀裂が外力を受けたときに進展することに対する耐性を意味する。
　［２］上記ダイヤモンド粒子の転位密度は、１．５×１０１６ｍ－２以上１．０×１０１７ｍ－２以下であることが好ましい。このように規定することで、更に耐亀裂進展性に優れるダイヤモンド焼結体となる。
　［３］上記ダイヤモンド焼結体は、結合相を更に含み、
　上記結合相は、
　周期表の第４族元素、第５族元素、第６族元素、鉄、アルミニウム、珪素、コバルト及びニッケルからなる群より選ばれる少なくとも１種の金属元素を含む単体金属、合金、及び金属間化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種、又は、
　周期表の第４族元素、第５族元素、第６族元素、鉄、アルミニウム、珪素、コバルト及びニッケルからなる群より選ばれる少なくとも１種の金属元素と、窒素、炭素、硼素及び酸素からなる群より選ばれる少なくとも１種の非金属元素とからなる化合物、及び、上記化合物由来の固溶体からなる群より選ばれる少なくとも１種、
を含むことが好ましい。このように規定することで、更に耐亀裂進展性に優れるダイヤモンド焼結体となる。
　［４］上記結合相は、コバルトを含むことが好ましい。このように規定することで、更に耐亀裂進展性に優れるダイヤモンド焼結体となる。
　［５］本開示の一態様に係る工具は、上記ダイヤモンド焼結体を備える。
　上記工具は、耐亀裂進展性に優れるダイヤモンド焼結体を備えるため、各種材料の加工において優れた耐欠損性及び優れた耐衝撃性を有する。ここで、「耐欠損性」とは、材料の加工時における工具の欠けに対する耐性を意味する。「耐衝撃性」とは、材料の加工時において外部から加えられる瞬間的な力に対する耐性を意味する。
　［本開示の実施形態の詳細］
　本開示の実施形態の詳細を、以下に説明する。なお、本開示はこれらの例示に限定されるものではない。ここで、本明細書において「Ａ～Ｚ」という形式の表記は、範囲の上限下限（すなわちＡ以上Ｚ以下）を意味し、Ａにおいて単位の記載がなく、Ｚにおいてのみ単位が記載されている場合、Ａの単位とＺの単位とは同じである。
　≪ダイヤモンド焼結体≫
　本実施形態に係るダイヤモンド焼結体は、
　ダイヤモンド粒子を含むダイヤモンド焼結体であって、
　上記ダイヤモンド粒子の含有率は、上記ダイヤモンド焼結体に対して、８０体積％以上９９体積％以下であり、
　上記ダイヤモンド粒子の平均粒径は、０．１μｍ以上５０μｍ以下であり、
　上記ダイヤモンド粒子の転位密度は、１．２×１０１６ｍ－２以上５．４×１０１９ｍ－２以下である。
　上記ダイヤモンド焼結体は、ダイヤモンド粒子を含む。すなわち、ダイヤモンド焼結体は、粒子であるダイヤモンドを基本組成とする。本実施形態の一側面において、ダイヤモンド粒子は、ダイヤモンドの結晶粒と把握することもできる。上記ダイヤモンド焼結体は、焼結助剤及び結合材の一方又は両方により形成される結合相（バインダー）を更に含むことが好ましい。上記ダイヤモンド粒子及び上記結合相については後述する。
　上記ダイヤモンド焼結体は、複数のダイヤモンド粒子により構成される多結晶体である。そのため、上記ダイヤモンド焼結体は、単結晶のような方向性（異方性）及び劈開性がなく、全方位に対して等方的な硬度及び耐亀裂進展性を有する。
　ダイヤモンド焼結体は、本実施形態の効果を示す範囲において不可避不純物を含んでいても構わない。不可避不純物としては、例えば、水素、酸素等を挙げることができる。
　＜ダイヤモンド粒子＞
　（ダイヤモンド粒子の含有率）
　本実施形態において、上記ダイヤモンド粒子の含有率は、上記ダイヤモンド焼結体に対して、８０体積％以上９９体積％以下であり、８０体積％以上９０体積％以下であることが好ましい。
　ダイヤモンド焼結体におけるダイヤモンド粒子の含有率（体積％）及び後述する結合相の含有率（体積％）は、走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）（日本電子社製の「ＪＳＭ－７８００Ｆ」（商品名））付帯のエネルギー分散型Ｘ線分析装置（ＥＤＸ）（Ｏｃｔａｎｅ　Ｅｌｅｃｔ（オクタンエレクト）　ＥＤＳ　システム）（以下「ＳＥＭ－ＥＤＸ」とも記す。）を用いて、ダイヤモンド焼結体に対し、組織観察、元素分析等を実施することによって確認することができる。具体的な測定方法は、下記の通りである。
　まず、ダイヤモンド焼結体の任意の位置を切断し、ダイヤモンド焼結体の断面を含む試料を作製する。断面の作製には、集束イオンビーム装置、クロスセクションポリッシャ装置等を用いることができる。次に、上記断面をＳＥＭにて観察して、反射電子像を得る。反射電子像においては、ダイヤモンド粒子が存在する領域が黒色領域となり、結合相が存在する領域が灰色領域又は白色領域となる。ＳＥＭにて上記断面を観察する際の倍率は、測定視野において観察されるダイヤモンド粒子の数が１００個以上となるように適宜調整する。例えば、ダイヤモンド粒子の平均粒径が０．５μｍである場合、ＳＥＭにて上記断面を観察する際の倍率は１００００倍であってもよい。ダイヤモンド粒子の平均粒径が３０μｍである場合、ＳＥＭにて上記断面を観察する際の倍率は２００倍であってもよい。
　次に、上記反射電子像に対して画像解析ソフト（三谷商事（株）の「Ｗｉｎ　ＲＯＯＦ　ｖｅｒ．７．４．５」、「ＷｉｎＲＯＯＦ２０１８」等）を用いて二値化処理を行う。上記画像解析ソフトは画像情報に基づき適切な二値化の閾値を自動的に設定する（測定者が恣意的に閾値を設定することはない）。また、画像の明るさ等を変動させた場合でも測定結果に大きな変動がないことを発明者らは確認している。二値化処理後の画像から、測定視野の面積に占める暗視野に由来する画素（ダイヤモンド粒子に由来する画素）の面積比率を算出する。算出された面積比率を体積％とみなすことにより、ダイヤモンド粒子の含有率（体積％）を求めることができる。
　二値化処理後の画像から、測定視野の面積に占める明視野に由来する画素（結合相に由来する画素）の面積比率を算出することにより、結合相の含有率（体積％）を求めることができる。
　同一の試料においてダイヤモンド焼結体におけるダイヤモンド粒子の含有率（体積％）及び後述する結合相の含有率（体積％）を測定する限り、測定視野の選択箇所を変更して複数回算出しても、測定結果のばらつきはほとんどないことを、本発明者らは確認している。すなわち、任意に測定視野を設定しても恣意的にはならないと本発明者らは考えている。
　なお、暗視野に由来する画素がダイヤモンド粒子に由来することは、ダイヤモンド焼結体に対してＳＥＭ－ＥＤＸによる元素分析を行うことにより確認することができる。
　（ダイヤモンド粒子の平均粒径）
　ダイヤモンド粒子の平均粒径は、０．１μｍ以上５０μｍ以下であり、０．２μｍ以上４０μｍ以下であることが好ましい。ダイヤモンド粒子の平均粒径が０．１μｍ以上であることによって、ダイヤモンド粒子が緻密に焼結され、耐欠損性に優れるダイヤモンド焼結体となる。ダイヤモンド粒子の平均粒径が５０μｍ以下であることによって、異方性が無く、切削工具の刃先として用いた場合切削安定性に優れるダイヤモンド焼結体となる。
　本実施形態において、ダイヤモンド粒子の平均粒径とは、任意に選択された５箇所の各測定視野において、複数のダイヤモンド粒子のメジアン径ｄ５０をそれぞれ測定し、これらの平均値を算出することにより得られた値を意味する。具体的な方法は下記の通りである。
　まず、ダイヤモンド焼結体の任意の位置を切断し、ダイヤモンド焼結体の断面を含む試料を作製する。断面の作製には、集束イオンビーム装置、クロスセクションポリッシャ装置等を用いることができる。次に、上記断面をＳＥＭにて観察して、反射電子像を得る。反射電子像においては、ダイヤモンド粒子が存在する領域が黒色領域となり、結合相が存在する領域が灰色領域又は白色領域となる。ＳＥＭにて上記断面を観察する際の倍率は、測定視野において観察されるダイヤモンド粒子の数が１００個以上となるように適宜調整する。例えば、ダイヤモンド粒子の平均粒径が０．５μｍである場合、ＳＥＭにて上記断面を観察する際の倍率は１００００倍であってもよい。ダイヤモンド粒子の平均粒径が３０μｍである場合、ＳＥＭにて上記断面を観察する際の倍率は２００倍であってもよい。
　５つのＳＥＭ画像のそれぞれについて、測定視野内に観察されるダイヤモンド粒子の粒界を分離した状態で、画像処理ソフト（三谷商事（株）の「Ｗｉｎ　ＲＯＯＦ　ｖｅｒ．７．４．５」、「ＷｉｎＲＯＯＦ２０１８」等）を用いて、各ダイヤモンド粒子の円相当径を算出する。このとき、一部が上記測定視野の外に出ているダイヤモンド粒子については、カウントしないものとする。
　算出された各ダイヤモンド粒子の円相当径の分布から、各測定視野におけるメジアン径ｄ５０を算出し、これらの平均値を算出する。該平均値が、ダイヤモンド粒子の平均粒径に該当する。
　なお、同一の試料においてダイヤモンド粒子の平均粒径を算出する限り、ダイヤモンド焼結体における測定視野の選択箇所を変更して複数回算出しても、測定結果のばらつきはほとんどないことを本発明者らは確認している。すなわち、任意に測定視野を設定しても恣意的にはならないと本発明者らは考えている。
　（ダイヤモンド粒子の転位密度）
　上記ダイヤモンド粒子の転位密度は、１．２×１０１６ｍ－２以上５．４×１０１９ｍ－２以下であり、１．５×１０１６ｍ－２以上１．０×１０１７ｍ－２以下であることが好ましい。ダイヤモンド粒子の転位密度が１．２×１０１６ｍ－２以上であることによって、不動転位が比較的多く存在するため、ダイヤモンド粒子に発生する亀裂進展が抑制され、耐亀裂進展性に優れるダイヤモンド焼結体となる。ダイヤモンド粒子の転位密度が５．４×１０１９ｍ－２以下であることによって、ダイヤモンド粒子の亀裂の発生を抑制し、耐衝撃性に優れるダイヤモンド焼結体となる。
　従来、ダイヤモンド焼結体におけるダイヤモンド粒子の転位密度と、当該ダイヤモンド焼結体の物性との相関関係については着目されていなかった。そこで本発明者らは、ダイヤモンド焼結体におけるダイヤモンド粒子の転位密度と、ダイヤモンド焼結体の耐亀裂進展性との関係について鋭意調査を行った。その結果、従来から存在するダイヤモンド焼結体に比べて、ダイヤモンド粒子の転位密度を高くすると、ダイヤモンド粒子における（１１１）結晶面でのすべり運動が抑制され、もって当該耐亀裂進展性が向上することを初めて見出した。なお、この調査によって、従来のダイヤモンド焼結体（例えば、特許文献１に記載のダイヤモンド焼結体）は、ダイヤモンド粒子の転位密度が１．０１×１０１６ｍ－２以上１．１８×１０１６ｍ－２未満であることが明らかになっている。
　本明細書において、ダイヤモンド焼結体の転位密度は大型放射光施設（例えば、九州シンクロトロン光研究センター（佐賀県））において測定される。具体的には下記の方法で測定される。
　ダイヤモンド焼結体からなる試験体を準備する。試験体の大きさは、観察面が３ｍｍ×６ｍｍであり、厚みが０．４ｍｍである。試験体の観察面を平均粒径３μｍのダイヤモンドスラリーを用いて鏡面研磨した後、塩酸に７２時間浸漬する。これにより、当該試験体の観察面において結合相は塩酸に溶解し、ダイヤモンド粒子が残る。
　該試験体について、下記の条件でＸ線回折測定を行い、ダイヤモンドの主要な方位である（１１１）、（２２０）、（３１１）、（３３１）、（４２２）、（４４０）、（５３１）の各方位面からの回折ピークのラインプロファイルを得る。
　（Ｘ線回折測定条件）
　Ｘ線源：放射光
　装置条件：検出器ＮａＩ（適切なＲＯＩにより蛍光をカットする。）
　エネルギー：１８ｋｅＶ（波長：０．６８８８Å）
　分光結晶：Ｓｉ（１１１）
　入射スリット：幅３ｍｍ×高さ０．５ｍｍ
　受光スリット：ダブルスリット（幅３ｍｍ×高さ０．５ｍｍ）
　ミラー：白金コート鏡
　入射角：２．５ｍｒａｄ
　走査方法：２θ－θｓｃａｎ
　測定ピーク：ダイヤモンドの（１１１）、（２２０）、（３１１）、（３３１）、（４２２）、（４４０）、（５３１）の７本。ただし、集合組織、配向などによりプロファイルの取得が困難な場合は、その面指数のピークを除く。
　測定条件：各測定ピークに対応する半値全幅中に、測定点が９点以上となるようにする。ピークトップ強度は２０００ｃｏｕｎｔｓ以上とする。ピークの裾も解析に使用するため、測定範囲は半値全幅の１０倍程度とする。
　上記のＸ線回折測定により得られるラインプロファイルは、試験体の不均一ひずみなどの物理量に起因する真の拡がりと、装置起因の拡がりの両方を含む形状となる。不均一ひずみ及び結晶子サイズを求めるために、測定されたラインプロファイルから、装置起因の成分を除去し、真のラインプロファイルを得る。真のラインプロファイルは、得られたラインプロファイルおよび装置起因のラインプロファイルを擬Ｖｏｉｇｔ関数によりフィッティングし、装置起因のラインプロファイルを差し引くことにより得る。装置起因の回折線拡がりを除去するための標準サンプルとしては、ＬａＢ６を用いる。また、平行度の高い放射光を用いる場合は、装置起因の回折線拡がりは０とみなすこともできる。
　得られた真のラインプロファイルを修正Ｗｉｌｌｉａｍｓｏｎ－Ｈａｌｌ法及び修正Ｗａｒｒｅｎ－Ａｖｅｒｂａｃｈ法を用いて解析することによって転位密度を算出する。修正Ｗｉｌｌｉａｍｓｏｎ－Ｈａｌｌ法及び修正Ｗａｒｒｅｎ－Ａｖｅｒｂａｃｈ法は、転位密度を求めるために用いられている公知のラインプロファイル解析法である。
　修正Ｗｉｌｌｉａｍｓｏｎ－Ｈａｌｌ法の式は、下記式（Ｉ）で示される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
　上記式（Ｉ）において、ΔＫはラインプロファイルの半値幅を示す。Ｄは結晶子サイズを示す。Ｍは配置パラメータを示す。ｂはバーガースベクトルを示す。ρは転位密度を示す。Ｋは散乱ベクトルを示す。Ｏ（Ｋ２Ｃ）はＫ２Ｃの高次項を示す。Ｃはコントラストファクターの平均値を示す。
　上記式（Ｉ）におけるＣは、下記式（ＩＩ）で表される。
　Ｃ＝Ｃｈ００［１－ｑ（ｈ２ｋ２＋ｈ２ｌ２＋ｋ２ｌ２）／（ｈ２＋ｋ２＋ｌ２）２］　（ＩＩ）
　上記式（ＩＩ）において、らせん転位と刃状転位におけるそれぞれのコントラストファクターＣｈ００およびコントラストファクターに関する係数ｑは、計算コードＡＮＩＺＣを用い、すべり系が＜１１０＞｛１１１｝、弾性スティフネスＣ１１が１０７６ＧＰａ、Ｃ１２が１２５ＧＰａ、Ｃ４４が５７６ＧＰａとして求める。上記式（ＩＩ）中、ｈ、ｋ及びｌは、それぞれダイヤモンドのミラー指数（ｈｋｌ）に相当する。コントラストファクターＣｈ００は、らせん転位０．１８３であり、刃状転位０．２０４である。コントラストファクターに関する係数ｑは、らせん転位１．３５であり、刃状転位０．３０である。なお、らせん転位比率は０．５、刃状転位比率は０．５に固定する。
　また、転位と不均一ひずみとの間にはコントラストファクターＣを用いて下記式（ＩＩＩ）の関係が成り立つ。下記式（ＩＩＩ）において、Ｒｅは転位の有効半径を示す。ε（Ｌ）は、不均一ひずみを示す。
　＜ε（Ｌ）２＞＝（ρＣｂ２／４π）ｌｎ（Ｒｅ／Ｌ）　（ＩＩＩ）
　上記式（ＩＩＩ）の関係と、Ｗａｒｒｅｎ－Ａｖｅｒｂａｃｈの式より、下記式（ＩＶ）の様に表すことができ、修正Ｗａｒｒｅｎ－Ａｖｅｒｂａｃｈ法として、転位密度ρ及び結晶子サイズを求めることができる。下記式（ＩＶ）において、Ａ（Ｌ）はフーリエ級数を示す。ＡＳ（Ｌ）は結晶子サイズに関するフーリエ級数を示す。Ｌはフーリエ長さを示す。
　ｌｎＡ（Ｌ）＝ｌｎＡＳ（Ｌ）－（πＬ２ρｂ２／２）ｌｎ（Ｒｅ／Ｌ）（Ｋ２Ｃ）＋Ｏ（Ｋ２Ｃ）２　（ＩＶ）
　修正Ｗｉｌｌｉａｍｓｏｎ－Ｈａｌｌ法及び修正Ｗａｒｒｅｎ－Ａｖｅｒｂａｃｈ法の詳細は、“Ｔ．Ｕｎｇａｒ　ａｎｄ　Ａ．Ｂｏｒｂｅｌｙ，“Ｔｈｅ　ｅｆｆｅｃｔ　ｏｆ　ｄｉｓｌｏｃａｔｉｏｎ　ｃｏｎｔｒａｓｔ　ｏｎ　ｘ－ｒａｙ　ｌｉｎｅ　ｂｒｏａｄｅｎｉｎｇ：Ａ　ｎｅｗ　ａｐｐｒｏａｃｈ　ｔｏ　ｌｉｎｅ　ｐｒｏｆｉｌｅ　ａｎａｌｙｓｉｓ”Ａｐｐｌ．Ｐｈｙｓ．Ｌｅｔｔ．，ｖｏｌ．６９，ｎｏ．２１，ｐ．３１７３，１９９６．”及び“Ｔ．Ｕｎｇａｒ，Ｓ．Ｏｔｔ，Ｐ．Ｓａｎｄｅｒｓ，Ａ．Ｂｏｒｂｅｌｙ，Ｊ．Ｗｅｅｒｔｍａｎ，“Ｄｉｓｌｏｃａｔｉｏｎｓ，ｇｒａｉｎ　ｓｉｚｅ　ａｎｄ　ｐｌａｎａｒ　ｆａｕｌｔｓ　ｉｎ　ｎａｎｏｓｔｒｕｃｔｕｒｅｄ　ｃｏｐｐｅｒ　ｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ　ｂｙ　ｈｉｇｈ　ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ　Ｘ－ｒａｙ　ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ　ａｎｄ　ａ　ｎｅｗ　ｐｒｏｃｅｄｕｒｅ　ｏｆ　ｐｅａｋ　ｐｒｏｆｉｌｅ　ａｎａｌｙｓｉｓ”Ａｃｔａ　Ｍａｔｅｒ．，ｖｏｌ．４６，ｎｏ．１０，ｐｐ．３６９３－３６９９，１９９８．”に記載されている。
　同一の試料においてダイヤモンド粒子の転位密度を測定する限り、測定範囲の選択箇所を変更して複数回算出しても、測定結果のばらつきはほとんどないことを本発明者らは確認している。すなわち、任意に測定視野を設定しても恣意的にはならないと本発明者らは考えている。
　＜結合相＞
　本実施形態において、上記ダイヤモンド焼結体は、結合相を更に含み、
　上記結合相は、
　周期表の第４族元素、第５族元素、第６族元素、鉄、アルミニウム、珪素、コバルト及びニッケルからなる群（以下、「群Ａ」とも記す。）より選ばれる少なくとも１種の金属元素を含む単体金属、合金、及び金属間化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種、又は、
　周期表の第４族元素、第５族元素、第６族元素、鉄、アルミニウム、珪素、コバルト及びニッケルからなる群（群Ａ）より選ばれる少なくとも１種の金属元素と、窒素、炭素、硼素及び酸素からなる群（以下、「群Ｂ」とも記す。）より選ばれる少なくとも１種の非金属元素とからなる化合物、及び、上記化合物由来の固溶体からなる群より選ばれる少なくとも１種、
を含むことが好ましい。換言すると上記結合相は、下記の（ａ）から（ｆ）のいずれかの形態とすることができる。
　（ａ）上記結合相は、群Ａより選ばれる少なくとも１種の金属元素を含む単体金属、合金、及び金属間化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種からなる。
　（ｂ）上記結合相は、群Ａより選ばれる少なくとも１種の金属元素を含む単体金属、合金、及び金属間化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種を含む。
　（ｃ）上記結合相は、群Ａより選ばれる少なくとも１種の金属元素と、群Ｂより選ばれる少なくとも１種の非金属元素とからなる化合物、及び、上記化合物由来の固溶体からなる群より選ばれる少なくとも１種からなる。
　（ｄ）上記結合相は、群Ａより選ばれる少なくとも１種の金属元素と、群Ｂより選ばれる少なくとも１種の非金属元素とからなる化合物、及び、上記化合物由来の固溶体からなる群より選ばれる少なくとも１種を含む。
　（ｅ）上記結合相は、群Ａより選ばれる少なくとも１種の金属元素を含む単体金属、合金、及び金属間化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種、並びに、群Ａより選ばれる少なくとも１種の金属元素と、群Ｂより選ばれる少なくとも１種の非金属元素とからなる化合物、及び、上記化合物由来の固溶体からなる群より選ばれる少なくとも１種からなる。
　（ｆ）上記結合相は、群Ａより選ばれる少なくとも１種の金属元素を含む単体金属、合金、及び金属間化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種、並びに、群Ａより選ばれる少なくとも１種の金属元素と、群Ｂより選ばれる少なくとも１種の非金属元素とからなる化合物、及び、上記化合物由来の固溶体からなる群より選ばれる少なくとも１種を含む。
　周期表の第４族元素は、例えば、チタン（Ｔｉ）、ジルコニウム（Ｚｒ）及びハフニウム（Ｈｆ）を含む。第５族元素は、例えば、バナジウム（Ｖ）、ニオブ（Ｎｂ）及びタンタル（Ｔａ）を含む。第６族元素は、例えば、クロム（Ｃｒ）、モリブデン（Ｍｏ）及びタングステン（Ｗ）を含む。
　本実施形態の一側面において、上記結合相は、コバルト、チタン、鉄、タングステン及び硼素からなる群より選ばれる少なくとも１種を含むことが好ましく、コバルトを含むことがより好ましい。
　ダイヤモンド焼結体に含まれる結合相の組成は、上述したＳＥＭ付帯のＥＤＸにより特定することができる。
　（結合相の含有率）
　上記結合相の含有率は、上記ダイヤモンド焼結体に対して、１体積％以上２０体積％以下であることが好ましく、１０体積％以上２０体積％以下であることがより好ましい。結合相の含有率（体積％）は、上述したＳＥＭ付帯のＥＤＸを用いて、ダイヤモンド焼結体に対し、組織観察、元素分析等を実施することによって確認することができる。
　≪工具≫
　本実施形態のダイヤモンド焼結体は、耐亀裂進展性に優れているため、切削工具、耐摩工具、研削工具、摩擦撹拌接合用ツール等に好適に用いることができる。すなわち、本実施形態の工具は、上記のダイヤモンド焼結体を備えるものである。上記工具は、各種材料の加工において優れた耐欠損性及び優れた耐衝撃性を有する。上記工具が切削工具である場合、上記切削工具はアルミ合金（例えば、ＡＤＣ１２、ＡＣ４Ｂ）等の転削加工及び旋削加工に特に適している。
　上記の工具は、その全体がダイヤモンド焼結体で構成されていてもよいし、その一部（例えば切削工具の場合、刃先部分）のみがダイヤモンド焼結体で構成されていてもよい。
　切削工具としては、ドリル、エンドミル、ドリル用刃先交換型切削チップ、エンドミル用刃先交換型切削チップ、フライス加工用刃先交換型切削チップ、旋削加工用刃先交換型切削チップ、メタルソー、歯切工具、リーマ、タップ、切削バイト等を挙げることができる。
　耐摩工具としては、ダイス、スクライバー、スクライビングホイール、ドレッサー等を挙げることができる。
　研削工具としては、研削砥石等を挙げることができる。
　≪ダイヤモンド焼結体の製造方法≫
　本実施形態に係るダイヤモンド焼結体の製造方法は、
　ダイヤモンド粒子の原料粉末と結合相の原料粉末とを準備する工程と、
　上記ダイヤモンド粒子の原料粉末と上記結合相の原料粉末とを混合して混合粉末を得る工程と、
　４ＧＰａ以上７ＧＰａ以下の保持圧力、３０℃以上６００℃以下の保持温度で、５０分以上１９０分以下の保持時間の間、上記混合粉末を加熱して、上記ダイヤモンド粒子に転位を生成する工程と、
　４ＧＰａ以上８ＧＰａ以下の焼結圧力、１４００℃以上１９００℃以下の焼結温度で、１分以上６０分以下の焼結時間の間、上記混合粉末を焼結する工程と、
を備える。
　＜ダイヤモンド粒子の原料粉末と結合相の原料粉末とを準備する工程＞
　本工程では、ダイヤモンド粒子の原料粉末（以下「ダイヤモンド粉末」とも記す。）と結合相の原料粉末（以下、「結合相原料粉末」とも記す。）とを準備する。ダイヤモンド粉末は、特に限定されず、公知のダイヤモンド粒子を原料粉末として用いることができる。
　ダイヤモンド粉末の平均粒径は、特に限定されず、例えば、０．１μｍ以上５０μｍ以下とすることができる。
　結合相原料粉末は、特に限定されず、結合相を構成する元素を含む粉末であればよい。結合相原料粉末としては、例えば、コバルトの粉末、チタンの粉末等が挙げられる。結合相原料粉末は、目的とする結合相の組成に応じて、１種の粉末を単独で用いてもよいし、複数種の粉末を組み合わせて用いてもよい。
　＜混合粉末を得る工程＞
　本工程では、上記ダイヤモンド粒子の原料粉末（ダイヤモンド粉末）と上記結合相の原料粉末（結合相原料粉末）とを混合して混合粉末を得る。このとき、上記ダイヤモンド粉末と上記結合相原料粉末とは、ダイヤモンド焼結体中におけるダイヤモンド粒子の含有率が上述の範囲内となるように、任意の配合比率にて混合してもよい。
　両粉末を混合する方法は、特に限定されず、アトライターを用いた混合方法でもよいし、ボールミルを用いた混合方法でもよい。混合する方法は、湿式でもよいし、乾式でもよい。
　＜ダイヤモンド粒子に転位を生成する工程＞
　本工程では、４ＧＰａ以上７ＧＰａ以下の保持圧力、３０℃以上６００℃以下の保持温度で、５０分以上１９０分以下の保持時間の間、上記混合粉末を加熱して、上記ダイヤモンド粒子に転位を生成する。ダイヤモンドの溶解及び再析出が生じない低温でダイヤモンド粉末を加圧することで、ダイヤモンドの結晶構造が変化し、転位が発生する。
　本実施形態において、常温（２３±５℃）及び大気圧の状態から上記保持圧力及び保持温度の状態までの経路は、特に限定されない。
　本実施形態のダイヤモンド焼結体の製造方法において用いられる高圧高温発生装置は、目的とする圧力及び温度の条件が得られる装置であれば特に制限はない。生産性及び作業性を高める観点から、高圧高温発生装置は、ベルト型の高圧高温発生装置が好ましい。また、混合粉末を収納する容器は、耐高圧高温性の材料であれば特に制限はなく、たとえば、タンタル（Ｔａ）、ニオブ（Ｎｂ）等が好適に用いられる。
　ダイヤモンド焼結体中への不純物の混入を防止するためには、例えば、まず上記混合粉末をＴａ、Ｎｂ等の高融点金属製のカプセルに入れて真空中で加熱して密封し、混合粉末から吸着ガス及び空気を除去する。その後、上述したダイヤモンド粒子に転位を生成する工程、並びに、後述する混合粉末を焼結する工程を行うことが好ましい。本実施形態の一側面において、上述したダイヤモンド粒子に転位を生成する工程の後に、上記高融点金属製のカプセルから上記混合粉末を取り出すことなく、そのままの状態で引き続き混合粉末を焼結する工程を行うことが好ましい。
　上記保持圧力は、４ＧＰａ以上７ＧＰａ以下であることが好ましく、４．５ＧＰａ以上６ＧＰａ以下であることがより好ましい。
　上記保持温度は、３０℃以上６００℃以下であることが好ましく、５０℃以上５００℃以下であることがより好ましい。
　上記保持時間は、５０分以上１９０分以下であることが好ましく、６０分以上１８０分以下であることがより好ましい。
　＜混合粉末を焼結する工程＞
　本工程では、４ＧＰａ以上８ＧＰａ以下の焼結圧力、１４００℃以上１７００℃以下の焼結温度で、１分以上６０分以下の焼結時間の間、上記混合粉末を焼結する。これにより本開示のダイヤモンド焼結体が得られる。
　上記焼結圧力は、４ＧＰａ以上８ＧＰａ以下であることが好ましく、４．５ＧＰａ以上７ＧＰａ以下であることがより好ましい。
　上記焼結温度は、１４００℃以上１７００℃以下であることが好ましく、１４５０℃以上１５５０℃以下であることがより好ましい。
　上記焼結時間は、１分以上６０分以下であることが好ましく、５分以上２０分以下であることがより好ましい。
　本実施の形態を実施例によりさらに具体的に説明する。ただし、これらの実施例により本実施の形態が限定されるものではない。
　≪ダイヤモンド焼結体の作製≫
　＜ダイヤモンド粒子の原料粉末と結合相の原料粉末とを準備する工程＞
　原料粉末として、表１－１及び表１－２に示す平均粒径又は組成の粉末を準備した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
　＜混合粉末を得る工程＞
　最終的に得られるダイヤモンド焼結体が表３－１又は表３－２に記載の組成となるように、準備した各原料粉末を種々の配合割合で加えて、ボールミルを用いて乾式で混合し、混合粉末を作製した。ここで、上記混合粉末は、後述するようにＷＣ－６％Ｃｏ超硬合金製の円盤に接した状態で焼結が行われる。そのため焼結の際、当該円盤からコバルト及びタングステンがダイヤモンド焼結体に溶浸し、ダイヤモンド焼結体中のコバルトの含有率及びタングステンの含有率が上昇すると考えられる。このコバルトの含有率の上昇分及びタングステンの含有率の上昇分を予め考慮して、各原料粉末の配合割合を決定した。
　＜ダイヤモンド粒子に転位を生成する工程＞
　次に、上記混合粉末を、ＷＣ－６％Ｃｏ超硬合金製の円盤に接した状態でＴａ製のカプセルに入れて真空中で加熱して密閉した。その後、高圧高温発生装置を用いて、表２－１又は表２－２に示す保持圧力、保持温度及び保持時間で上記混合粉末を加熱処理した。
　＜混合粉末を焼結する工程＞
　上述のダイヤモンド粒子に転位を生成する工程に引き続いて、表２－１又は表２－２に示す焼結圧力、焼結温度及び焼結時間で上記混合粉末を焼結した。以上の工程を経て、試料１～３２のダイヤモンド焼結体を製造した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
　≪ダイヤモンド焼結体の特性評価≫
　＜ダイヤモンド焼結体の組成＞
　ダイヤモンド焼結体におけるダイヤモンド粒子と結合相との含有率（体積比）を測定した。具体的な測定方法は、上記の［本開示の実施形態の詳細］の欄に記載された方法と同一であるため、その説明は繰り返さない。各試料において、ダイヤモンド焼結体におけるダイヤモンド粒子の含有率は、表３－１及び表３－２（「含有率」の欄参照）に示される通りであることが確認された。
　＜ダイヤモンド粒子の平均粒径＞
　ダイヤモンド焼結体におけるダイヤモンド粒子の平均粒径を測定した。具体的な測定方法は、上記の［本開示の実施形態の詳細］の欄に記載された方法と同一であるため、その説明は繰り返さない。結果を表３－１及び表３－２（「平均粒径」の欄参照）に示す。
　＜結合相の組成＞
　ダイヤモンド焼結体における結合相の組成をＳＥＭ－ＥＤＸにより特定した。具体的な測定方法は、上記の［本開示の実施形態の詳細］の欄に記載された方法と同一であるため、その説明は繰り返さない。結果を表３－１及び表３－２（「結合相の組成」の欄参照）に示す。
　＜ダイヤモンド粒子の転位密度＞
　ダイヤモンド焼結体におけるダイヤモンド粒子の転位密度を測定した。具体的な測定方法は、上記の［本開示の実施形態の詳細］の欄に記載された方法と同一であるため、その説明は繰り返さない。結果を表３－１及び表３－２（「転位密度」の欄参照）に示す。
　≪ダイヤモンド焼結体を備える工具の評価≫
　＜切削試験１：転削加工試験＞
　上述のようにして作製した試料１～１４のダイヤモンド焼結体それぞれを用いて切削工具（カッタ：ＲＦ４０８０Ｒ、チップ：ＳＮＥＷ１２０４ＡＤＦＲ、チップ交換型カッタにおけるチップの刃先部分に上記ダイヤモンド焼結体を備える工具）を作製し、転削加工試験を実施した。転削加工試験の切削条件を以下に示す。上記転削加工試験は、切削体積（ｃｍ３）が大きいほど耐欠損性、耐衝撃性に優れる切削工具として評価することができる。また、この場合、切削工具に用いたダイヤモンド焼結体は、耐亀裂進展性に優れると評価することができる。結果を表３－１に示す。切削試験１において、試料３～１０及び試料１２～１４が実施例に相当する。試料１、試料２及び試料１１が比較例に相当する。
　（転削加工試験の切削条件）
被削材　　　　：ＡＤＣ１２（６０ｍｍ×２９０ｍｍ×６０ｍｍ）
切削速度　　　：３０００ｍ／分
送り量　　　　：０．２ｍｍ／ｔ
切り込み　　　：０．４ｍｍ
クーラント　　：ｗｅｔ
評価方法　　　：被削材の２９０ｍｍ×６０ｍｍ面を転削加工して、切削工具の平均逃げ面摩耗幅が２５０μｍに達するまでの切削体積（ｃｍ３）
　＜切削試験２：旋削加工試験＞
　上述のようにして作製した試料１５～２０のダイヤモンド焼結体それぞれを用いて切削工具（ホルダ：ＣＳＲＰ　Ｒ３２２５－Ｎ１２、チップ：ＳＰＧＮ１２０３０８、チップの刃先部分に上記ダイヤモンド焼結体を備える工具）を作製し、旋削加工試験を実施した。旋削加工試験の切削条件を以下に示す。上記旋削加工試験は、切削距離（ｋｍ）が長いほど耐欠損性、耐摩耗性に優れる切削工具として評価することができる。また、この場合、切削工具に用いたダイヤモンド焼結体は、耐亀裂進展性に優れると評価することができる。結果を表３－１に示す。切削試験２において、試料１５～１９が実施例に相当する。試料２０が比較例に相当する。
　（旋削加工試験の切削条件）
被削材　　　　：Ｔｉ－６Ａｌ－４Ｖ（φ１２０ｍｍ×２８０ｍｍ）
切削速度　　　：２７０ｍ／分
送り量　　　　：０．１２ｍｍ／ｒｅｖ
切り込み　　　：０．３５ｍｍ
クーラント　　：ｗｅｔ
評価方法　　　：被削材の外径を旋削加工して、切削工具の平均逃げ面摩耗幅が２００μｍに達するまでの切削距離（ｋｍ）
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000006
　＜結果＞
　切削試験１の結果から試料３～１０及び試料１２～１４の切削工具（実施例の切削工具）は、切削体積が、３８００ｃｍ３以上という良好な結果が得られた。一方試料１、試料２及び試料１１の切削工具（比較例の切削工具）は、切削加工の初期の段階で欠けが発生し、切削体積を求めることができなかった。以上の結果から、実施例の切削工具は、比較例の切削工具に比べて耐欠損性、耐衝撃性に優れることが分かった。また、実施例のダイヤモンド焼結体は、比較例のダイヤモンド焼結体に比べて耐亀裂進展性に優れることが分かった。
　切削試験２の結果から試料１５～１９の切削工具（実施例の切削工具）は、切削距離が、３．６ｋｍ以上という良好な結果が得られた。一方試料２０の切削工具（比較例の切削工具）は、切削加工の初期の段階で欠けが発生し、切削距離を求めることができなかった。以上の結果から、実施例の切削工具は、比較例の切削工具に比べて耐欠損性に優れることが分かった。また、実施例のダイヤモンド焼結体は、比較例のダイヤモンド焼結体に比べて耐亀裂進展性に優れることが分かった。
　＜切削試験３：転削加工試験＞
　上述のようにして作製した試料２１～３２のダイヤモンド焼結体それぞれを用いて切削工具（カッタ：ＲＦ４０８０Ｒ、チップ：ＳＮＥＷ１２０４ＡＤＦＲ、チップ交換型カッタにおけるチップの刃先部分に上記ダイヤモンド焼結体を備える工具）を作製し、転削加工試験を実施した。転削加工試験の切削条件を以下に示す。上記転削加工試験は、切削体積（ｃｍ３）が大きいほど耐欠損性、耐衝撃性に優れる切削工具として評価することができる。また、この場合、切削工具に用いたダイヤモンド焼結体は、耐亀裂進展性に優れると評価することができる。結果を表３－２に示す。切削試験３において、試料２３～３０及び試料３２が実施例に相当する。試料２１、試料２２及び試料３１が比較例に相当する。
　（転削加工試験の切削条件）
被削材　　　　：ＡＣ４Ｂ（６０ｍｍ×２９０ｍｍ×６０ｍｍ）
切削速度　　　：３３００ｍ／分
送り量　　　　：０．１ｍｍ／ｔ
切り込み　　　：０．３ｍｍ
クーラント　　：ｗｅｔ
評価方法　　　：被削材の２９０ｍｍ×６０ｍｍ面を転削加工して、切削工具の平均逃げ面摩耗幅が２５０μｍに達するまでの切削体積（ｃｍ３）
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000007
　＜結果＞
　切削試験３の結果から試料２３～３０及び試料３２の切削工具（実施例の切削工具）は、切削体積が、４７００ｃｍ３以上という良好な結果が得られた。一方試料２１、試料２２及び試料３１の切削工具（比較例の切削工具）は、切削加工の初期の段階で欠けが発生し、切削体積を求めることができなかった。以上の結果から、実施例の切削工具は、比較例の切削工具に比べて耐欠損性、耐衝撃性に優れることが分かった。また、実施例のダイヤモンド焼結体は、比較例のダイヤモンド焼結体に比べて耐亀裂進展性に優れることが分かった。
　以上のように本開示の実施の形態及び実施例について説明を行なったが、上述の各実施の形態及び実施例の構成を適宜組み合わせたり、様々に変形することも当初から予定している。
　今回開示された実施形態および実施例はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した説明でなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内のすべての変更が含まれることが意図される。

Claims (5)

  1. 　ダイヤモンド粒子を含むダイヤモンド焼結体であって、
    　前記ダイヤモンド粒子の含有率は、前記ダイヤモンド焼結体に対して、８０体積％以上９９体積％以下であり、
    　前記ダイヤモンド粒子の平均粒径は、０．１μｍ以上５０μｍ以下であり、
    　前記ダイヤモンド粒子の転位密度は、１．２×１０１６ｍ－２以上５．４×１０１９ｍ－２以下である、ダイヤモンド焼結体。
  2. 　前記ダイヤモンド粒子の転位密度は、１．５×１０１６ｍ－２以上１．０×１０１７ｍ－２以下である、請求項１に記載のダイヤモンド焼結体。
  3. 　結合相を更に含み、
    　前記結合相は、
    　周期表の第４族元素、第５族元素、第６族元素、鉄、アルミニウム、珪素、コバルト及びニッケルからなる群より選ばれる少なくとも１種の金属元素を含む単体金属、合金、及び金属間化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種、又は、
    　周期表の第４族元素、第５族元素、第６族元素、鉄、アルミニウム、珪素、コバルト及びニッケルからなる群より選ばれる少なくとも１種の金属元素と、窒素、炭素、硼素及び酸素からなる群より選ばれる少なくとも１種の非金属元素とからなる化合物、及び、前記化合物由来の固溶体からなる群より選ばれる少なくとも１種、
    を含む、請求項１に記載のダイヤモンド焼結体。
  4. 　前記結合相は、コバルトを含む、請求項３に記載のダイヤモンド焼結体。
  5. 　請求項１から請求項４のいずれか一項に記載のダイヤモンド焼結体を備える工具。
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