WO2022054936A1 - 電力増幅回路 - Google Patents

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WO2022054936A1
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power
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翔平 今井
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株式会社村田製作所
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Definitions

  • This disclosure relates to a power amplifier circuit.
  • the Doherty amplifier is a highly efficient power amplifier (power amplifier).
  • a carrier amplifier that operates regardless of the power level of the input signal and a peak amplifier that turns off when the power level of the input signal is low and turns on when the power level of the input signal is high are generally connected in parallel. ..
  • the carrier amplifier operates while maintaining saturation at the saturated output power level (see, for example, Patent Document 1).
  • the power amplifier circuit according to Patent Document 1 constitutes a Doherty amplifier including a carrier amplifier and a peak amplifier.
  • the carrier amplifier always operates in a saturated state when a modulation signal is input.
  • the peak amplifier operates only when the modulated signal exceeds a predetermined power level, and operates in a saturated state for only a short time. That is, in the Doherty amplifier, the heat generated by the carrier amplifier is larger than the heat generated by the peak amplifier. As a result, in the power amplifier circuit according to Patent Document 1, there is a risk that the temperature of the carrier amplifier will rise due to the heat generated by the carrier amplifier.
  • an object of the present disclosure is to provide a power amplifier circuit that efficiently exhausts heat generated by an amplifier element.
  • the power amplifier circuit amplifies a distributor that distributes an input signal into a first signal, a second signal, a third signal, and a fourth signal, and the first signal.
  • the first carrier amplifier that outputs the first amplified signal and the first peak amplifier that amplifies the second signal and outputs the second amplified signal when the power level of the second signal is equal to or higher than a predetermined power level.
  • a second carrier amplifier that amplifies the third signal and outputs the third amplified signal, and a fourth carrier amplifier that amplifies the fourth signal when the power level of the fourth signal is equal to or higher than a predetermined power level.
  • the present invention includes a second peak amplifier that outputs an amplified signal, a synthesizer that synthesizes the first amplified signal, the second amplified signal, the third amplified signal, and the fourth amplified signal. At least three of the first carrier amplifier, the first peak amplifier, the second carrier amplifier, and the second peak amplifier are provided on the same semiconductor substrate.
  • the power amplification circuit 100 is mounted on a mobile phone, for example, and is used to amplify the power of a signal transmitted to a base station.
  • the power amplification circuit 100 includes, for example, 2G (2nd generation mobile communication system), 3G (3rd generation mobile communication system), 4G (4th generation mobile communication system), 5G (5th generation mobile communication system), LTE ( Long Term Evolution) -Amplifies the power of signals of communication standards such as FDD (Frequency Division Duplex), LTE-TDD (Time Division Duplex), LTE-Advanced, LTE-Advanced Pro, 6G (6th generation mobile communication system). be able to.
  • the communication standard of the signal amplified by the power amplifier circuit 100 is not limited to these.
  • the power amplifier circuit 100 amplifies the input signal RFin and outputs the output signal RFout.
  • the input signal is a radio frequency (RF: Radio-Frequency) signal, and the frequency of the input signal is, for example, about several GHz to several tens of GHz.
  • FIG. 1 is a configuration diagram showing an example of the configuration of the power amplifier circuit 100 according to the first embodiment.
  • the power amplifier circuit 100 includes, for example, a distributor 110, a first carrier amplifier 120, a first peak amplifier 130, and a synthesizer 140.
  • the distributor 110 for example, distributes the input input signal RFin to a plurality of signals.
  • the distributor 110 includes, for example, a branch portion 111 and a first phase shifter 112.
  • the branch portion 111 may be, for example, a baran, a distributed constant circuit such as a coupled line 3 dB coupler, a Wilkinson type distributor, a web type distributor, or the like.
  • the branching unit 111 distributes, for example, the input signal RFin into the signal RF1 and the signal RF2.
  • the signal RF1 is a signal input to the first carrier amplifier 120.
  • the signal RF2 is a signal input to the first peak amplifier 130 through the first phase shifter 112.
  • the first phase shifter 112 is, for example, a phase shifter that is electrically connected between the branch portion 111 and the first peak amplifier 130 to delay the phase of the signal RF2 by about 90 degrees.
  • the first phase shifter 112 is composed of, for example, a 1/4 wavelength line or a distributed constant circuit.
  • the first carrier amplifier 120 amplifies the input signal RF1 and outputs the amplified signal RF11, for example.
  • the first carrier amplifier 120 is biased to, for example, class A, class AB, or class B. That is, the first carrier amplifier 120 amplifies the input signal RF1 and outputs the amplified signal RF11 regardless of the power level of the input signal such as a small instantaneous input power.
  • the first peak amplifier 130 amplifies the signal RF2 input through the first phase shifter 112, and outputs the amplified signal RF21, for example.
  • the first peak amplifier 130 is biased to, for example, class C.
  • the first peak amplifier 130 is, for example, an amplifier that operates in a region where the voltage level of the signal RF2 is equal to or higher than the maximum voltage level Vmax (or the maximum current level Imax) of the first carrier amplifier 120 by a predetermined level lower than the voltage level (or current level). Is.
  • the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130 are formed on the same semiconductor substrate 150 (see FIG. 2).
  • the heat generated by the first carrier amplifier 120 can be exhausted by using the route for exhausting the heat generated by the first peak amplifier 130, so that the temperature rise in the first carrier amplifier 120 can be reduced.
  • the structures of the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130 formed on the same semiconductor substrate 150 will be described later.
  • the synthesizer 140 for example, combines the amplified signal RF11 output from the first carrier amplifier 120 and the amplified signal RF21 output from the first peak amplifier 130, and outputs the output signal RFout.
  • the synthesizer 140 includes, for example, a second phase shifter 141 and a synthesizer 142.
  • the second phase shifter 141 is, for example, a phase shifter that is electrically connected between the first carrier amplifier 120 and the synthesizer 142 to delay the phase of the signal RF 11 by about 90 degrees.
  • the second phase shifter 141 is composed of, for example, a 1/4 wavelength line or a distributed constant circuit.
  • the compositing unit 142 inputs an amplified signal RF11 output from the first carrier amplifier 120 through the second phase shifter 141 and an amplified signal RF21 output from the first peak amplifier 130.
  • the synthesizing unit 142 synthesizes the two signals and outputs the output signal RFout.
  • the power amplifier circuit 100 forms a Doherty amplifier circuit with, for example, the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130.
  • Carrier amplifiers in Dougherty amplifier circuits often operate in their saturation region.
  • the peak amplifier is less likely to operate in the saturation region than the carrier amplifier. That is, the heat generated by the carrier amplifier is larger than the heat generated by the peak amplifier. Therefore, the power amplifier circuit 100 according to the present embodiment has a configuration in which the heat generated by the first carrier amplifier 120 is efficiently exhausted by using the route for exhausting the heat of the first peak amplifier 130.
  • the waste heat of the power amplifier circuit 1000 according to the comparative example will be described first, and then the configuration for realizing efficient waste heat in the power amplifier circuit 100 will be described.
  • FIG. 11 is a diagram showing an example of a cross-sectional view of the arrangement and configuration of the carrier amplifier 1110 and the peak amplifier 1210 of the power amplifier circuit 1000 according to the comparative example.
  • the power amplifier circuit 1000 according to the comparative example is shown to help understanding of the power amplifier circuit 10 according to the present embodiment.
  • the outline of the waste heat route is indicated by an arrow (HEAT).
  • the carrier amplifier 1110 is formed on the semiconductor substrate 1120, and is connected to the printed circuit board 1300 through the conductor 1130 and the bump 1140, for example.
  • the peak amplifier 1210 is formed on a semiconductor substrate 1220 different from the semiconductor substrate 1120 on which the carrier amplifier 1110 is formed, for example. Then, the peak amplifier 1210 is connected to the printed circuit board 1300 through, for example, a conductor 1230 and a bump 1240. That is, as shown in FIG. 11, the heat generated in the carrier amplifier 1110 is exhausted to the printed circuit board 1300 only through the conductor 1130 and the bump 1140.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of a cross-sectional view of the arrangement and configuration of the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130 in the power amplifier circuit 100.
  • HEAT waste heat route
  • the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130 are formed on the same semiconductor substrate 150.
  • the semiconductor substrate 150 is connected to the printed circuit board 180, for example, through the first conductor 160 and the first bump 161. Further, the semiconductor substrate 150 is connected to the printed circuit board 180 through, for example, the second conductor 170 and the second bump 171.
  • the first conductor 160 and the first bump 161 may be electrically connected to the first carrier amplifier 120 or may mechanically support the semiconductor substrate 150.
  • the second conductor 170 and the second bump 171 may be electrically connected to the first peak amplifier 130, or may mechanically support the semiconductor substrate 150.
  • the number of conductors and bumps between the semiconductor substrate 150 and the printed circuit board 180 is not limited.
  • the heat generated in the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130 is exhausted to the printed circuit board 180 through the conductor and the bump.
  • the heat generated by the first carrier amplifier 120 is exhausted to the printed circuit board 180 through the first conductor 160 and the first bump 161.
  • the heat generated in the first carrier amplifier 120 is exhausted to the printed circuit board 180 through the semiconductor substrate 150, the second conductor 170, and the second bump 171.
  • the heat generated by the carrier amplifier 1110 is hardly conducted toward the peak amplifier 1210. Therefore, in the power amplifier circuit 1000 according to the comparative example, the heat generated in the carrier amplifier 1110 is exhausted only by the route through the conductor 1130 and the bump 1140.
  • the second conductor 170 in the vicinity of the first peak amplifier 130 and the second conductor 170 The second bump 171 can be used. Therefore, in the power amplifier circuit 100, the route for waste heat can be increased as compared with the power amplifier circuit 1000 according to the comparative example, so that the temperature rise of the first carrier amplifier 120 can be suppressed. As a result, deterioration of the characteristics of the first carrier amplifier 120 can be suppressed. Further, it is not necessary to match the electrical characteristics of the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130, and the work man-hours for pairing can be reduced.
  • the bias circuit when a bias circuit (not shown) for biasing the first peak amplifier 130 is provided on the same semiconductor substrate 150 as the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130, the bias circuit is the first carrier amplifier 120. It is possible to detect a temperature rise. As a result, the bias circuit can operate in response to the temperature rise of the first carrier amplifier 120, so that the amplification efficiency of the power amplifier circuit 100 can be improved.
  • FIG. 3 is a diagram showing a heat equivalent circuit in the power amplifier circuit 100 according to the first embodiment.
  • P 1 indicates a heat source indicated by the power consumption of the first carrier amplifier 120.
  • P 2 indicates the heat source indicated by the power consumption of the first peak amplifier 130.
  • R ii indicates the direct thermal resistance of each amplifier.
  • R ij (i ⁇ j) indicates the thermal resistance indicating the thermal coupling between the amplifiers.
  • T 1 indicates the temperature of the first carrier amplifier 120.
  • T 2 indicates the temperature of the first peak amplifier 130.
  • T air indicates, for example, the environmental temperature.
  • the temperature of each amplifier in the heat equivalent circuit shown in FIG. 3 is calculated by the equation (1).
  • the temperature “T 1 ” of the first carrier amplifier 120 is calculated by the equation (2). To.
  • FIG. 4 is a graph showing the temperature distribution of the first carrier amplifier 120.
  • the X-axis is “R ii ”
  • the Y-axis is “R ij ”
  • the broken line shows the relationship between “R ii ” and “R ij ” corresponding to the temperature of the first carrier amplifier 120.
  • FIG. 4 shows that the temperature of the carrier amplifier drops when the thermal resistance “R ij ”, which indicates the thermal coupling between the amplifiers, is sufficiently small compared to the thermal resistance of the thermal path of each amplifier.
  • the temperature of the first carrier amplifier 120 is lower than 100 ° C. shown by the broken line at R ij ⁇ 9 ⁇ R ii . It is shown that. Therefore, in the power amplifier circuit 100, it is desirable that R ij ⁇ 9 ⁇ R ii .
  • the heat generated by the carrier amplifier can be conducted to the peak amplifier side by strengthening the thermal coupling between the carrier amplifier and the peak amplifier (reducing R ij ).
  • the heat generated in the carrier amplifier is exhausted through the conductor and the bump on the peak amplifier side, so that the temperature rise of the carrier amplifier can be suppressed.
  • FIG. 5 is a diagram showing a first modified example of the arrangement and configuration of the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130 in the power amplifier circuit 100 according to the first embodiment as viewed in cross section.
  • an example of the exhaust heat route applied to the exhaust heat route shown in FIG. 2 is indicated by an arrow.
  • heat conductive members 190 are provided on the front surface on which each amplifier of the semiconductor substrate 150 of the power amplification circuit 100 is formed and on the back surface opposite to the front surface of the semiconductor substrate 150. Be done.
  • the heat conductive member 190 is made of a member having a higher thermal conductivity than the semiconductor substrate 150.
  • the heat conductive member 190 is made of, for example, copper, aluminum, gold, a carbon-based material (for example, a graphite sheet or the like).
  • the power amplifier circuit 100 can make the thermal resistance “R ij ” in the thermal equivalent circuit smaller, so that the heat generated by the first carrier amplifier 120 is easily conducted to the first peak amplifier 130 side. Therefore, the power amplifier circuit 100 can further suppress the temperature rise of the first carrier amplifier 120. As a result, deterioration of the characteristics of the first carrier amplifier 120 can be suppressed.
  • FIG. 5 shows that the heat conductive member 190 is provided on the front surface and the back surface of the semiconductor substrate 150, but the present invention is not limited to this.
  • the heat conductive member 190 may be provided on at least one of the front surface and the back surface of the semiconductor substrate 150. Further, for example, the heat conductive member 190 may be provided on at least a part of the front surface and the back surface of the semiconductor substrate 150. Further, for example, when the semiconductor substrate 150 is formed of multiple layers, the heat conductive member 190 may be provided in an intermediate layer of the semiconductor substrate 150. Further, for example, the heat conductive member 190 may be provided on at least a part of at least one side surface of the semiconductor substrate 150.
  • FIG. 6 is a diagram showing a second modified example of the arrangement and configuration of the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130 in the power amplifier circuit 100 according to the first embodiment as viewed in cross section.
  • FIG. 6 an example of the exhaust heat route applied to the exhaust heat route shown in FIGS. 2 and 5 is indicated by an arrow.
  • the heat conductive member 190 and the heat conductive member 191 penetrating the front surface and the back surface of the semiconductor substrate 150 are provided.
  • the heat conductive member 191 is, for example, a via formed of a member having a higher thermal conductivity than the semiconductor substrate 150.
  • the heat conductive member 191 is made of, for example, copper, aluminum, gold, a carbon-based material (for example, a graphite sheet or the like).
  • the heat conductive member 191 may or may not be the same member as the heat conductive member 190. It is desirable that the heat conductive member 191 is provided in the vicinity of, for example, the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier.
  • the heat conductive member 191 is connected to, for example, the heat conductive member 190.
  • one or more heat conductive members 191 are provided between the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130.
  • the power amplifier circuit 100 can make the thermal resistance “R ij ” in the thermal equivalent circuit smaller, so that the heat generated by the first carrier amplifier 120 is easily conducted to the first peak amplifier 130 side.
  • the heat generated in the first carrier amplifier 120 is mainly exhausted to the printed circuit board 180 through the first conductor 160 and the first bump 161. That is, the temperature rise in the region (near the back surface) of the semiconductor substrate 150 near the printed circuit board 180 in the vicinity of the first carrier amplifier 120 becomes large. On the other hand, the temperature rise in the region (near the surface) of the semiconductor substrate 150 far from the printed circuit board 180 in the vicinity of the first carrier amplifier 120 is not large. Therefore, in the power amplification circuit 100, by connecting the heat conductive member 190 provided on the front surface and the heat conductive member 190 provided on the back surface by the heat conductive member 191, the temperature rise is not large from the region where the temperature rise is large. Heat can be transferred to the area. As a result, the power amplifier circuit 100 can suppress the temperature rise of the first carrier amplifier 120, so that the deterioration of the characteristics of the first carrier amplifier 120 can be suppressed.
  • the heat conductive member 191 is shown to penetrate between the front surface and the back surface of the semiconductor substrate 150, but the present invention is not limited to this.
  • the heat conductive member 191 may be provided from the front surface or the back surface toward the inside of the semiconductor substrate 150 without penetrating the semiconductor substrate 150.
  • FIG. 7 is a configuration diagram showing an example of the configuration of the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment as viewed in a plane.
  • the power amplifier circuit 200 includes, for example, a distributor 210, a Doherty amplifier including a first carrier amplifier 120 and a first peak amplifier 130, a second carrier amplifier 250, and a second carrier amplifier. It includes a Doherty amplifier configured to include a peak amplifier 260 and a synthesizer 240.
  • the distributor 210 further includes a branch portion 213, a third phase shifter 214, and a branch portion 215 as compared to the distributor 110. Since the branch portion 213 is the same as the branch portion 111 and the third phase shifter 214 is the same as the first phase shifter 112, the description thereof will be omitted.
  • the branch portion 215 may be, for example, a baran, a distributed constant circuit such as a coupling line 3 dB coupler, a Wilkinson type distributor, a web type distributor, or the like.
  • the synthesizer 240 further includes a fourth phase shifter 243, a synthesizer 244, and a synthesizer 245 as compared to the synthesizer 140. Since the fourth phase shifter 243 is the same as the second phase shifter 141 and the synthesis unit 244 is the same as the synthesis unit 142, the description thereof will be omitted.
  • the synthesizing unit 245 synthesizes the signal output from the synthesizing unit 142 and the signal output from the synthesizing unit 244, and outputs the signal RFout.
  • the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130 are formed on the same semiconductor substrate 150.
  • the second carrier amplifier 250 and the second peak amplifier 260 are formed on the same semiconductor substrate.
  • the first carrier amplifier 120, the first peak amplifier 130, the second carrier amplifier 250, and the second peak amplifier 260 may be formed on the same semiconductor substrate.
  • the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 can be suppressed.
  • at least three of the first carrier amplifier 120, the first peak amplifier 130, the second carrier amplifier 250, or the second peak amplifier 260 may be formed on the same semiconductor substrate. ..
  • the heat generated by at least the first carrier amplifier 120 or the second carrier amplifier 250 is conducted to the first peak amplifier 130 or the second peak amplifier 260 side, so that at least the first carrier amplifier 120 or the second carrier amplifier 250 It is possible to suppress the temperature rise of.
  • the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment may have the same configuration with respect to the arrangement and configuration of the second carrier amplifier 250 and the second peak amplifier 260. As a result, the power amplifier circuit 200 can further suppress the temperature rise of the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250.
  • the first peak amplifier 130 is arranged next to the first carrier amplifier 120.
  • the second peak amplifier 260 is arranged next to the first peak amplifier 130 on the opposite side of the first carrier amplifier 120.
  • the second carrier amplifier 250 is arranged next to the second peak amplifier 260 on the opposite side of the first peak amplifier 130. That is, in the power amplifier circuit 200, the distance between the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 (hereinafter referred to as the distance Lc) is the distance between the first peak amplifier 130 and the second peak amplifier 260.
  • Each amplifier is arranged so as to be larger than (hereinafter referred to as distance Lp).
  • the power amplifier circuit 200 can further suppress the temperature rise of the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250.
  • the arrangement of each amplifier in the power amplification circuit 200 is not limited to the above.
  • carrier amplifiers and peak amplifiers may be alternately arranged next to each other so that the distance Lc is larger than the distance Lp.
  • the distance Lc is, for example, the element closest to the second carrier amplifier 250 among the elements constituting the first carrier amplifier 120 and the element closest to the first carrier amplifier 120 among the elements constituting the second carrier amplifier 250. It may be the distance between the elements.
  • the distance Lc is, for example, the element closest to the second peak amplifier 260 among the elements constituting the first peak amplifier 130 and the element closest to the first peak amplifier 130 among the elements constituting the second peak amplifier 260. It may be the distance between them.
  • FIG. 8 is a diagram showing a heat equivalent circuit in the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment.
  • P 3 indicates the heat source indicated by the power consumption of the second peak amplifier 260.
  • P 4 indicates a heat source indicated by the power consumption of the second carrier amplifier 250.
  • T 3 indicates the temperature of the second peak amplifier 260.
  • T 4 indicates the temperature of the second carrier amplifier 250.
  • the thermal coupling between adjacent amplifiers is sufficiently smaller than the thermal coupling between adjacent amplifiers and is ignored. Further, for convenience, a case where the first peak amplifier 130 and the second peak amplifier 260 do not consume power in the power amplifier circuit 200 will be described.
  • the carrier combined thermal resistance obtained by combining the thermal resistance between the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 is R 12 + R 23 + R 34 .
  • the combined peak combined thermal resistance between the first peak amplifier 130 and the second peak amplifier 260 is R 23 .
  • the carrier combined thermal resistance is smaller than the peak combined thermal resistance, thermal coupling occurs between the carrier amplifiers 120 and 250, so that the temperature rise of the carrier amplifiers 120 and 250 cannot be suppressed. Therefore, it is required that the carrier combined thermal resistance is larger than the peak combined thermal resistance. That is, it is a requirement that R 12 + R 34 > 0 is satisfied.
  • the thermal resistances R 11 and R 44 of the direct heat exhaust path of the carrier amplifiers 120 and 250 are the direct exhaust heat of the peak amplifiers 130 and 260 for exhausting the heat generated by the carrier amplifiers 120 and 250. If the thermal resistance of the path is significantly smaller than that of R 12 + R 22 and R 34 + R 33 , the temperature rise of the carrier amplifiers 120 and 250 cannot be suppressed. Therefore, it is a requirement that the thermal resistance R 11 is not significantly smaller than the thermal resistance R 12 + R 22 and the thermal resistance R 44 is not significantly smaller than the thermal resistance R 34 + R 33 .
  • the heat generated from the first carrier amplifier 120 may be exhausted through R 11 or exhausted through R 12 .
  • the heat generated from the second carrier amplifier 250 may be exhausted through R 44 or exhausted through R 34. That is, the heat flow P 11 at which the first carrier amplifier 120 is exhausted through R 11 is (T 1 ⁇ T air ) / R 11 .
  • the heat flow P 12 exhausted through the direct thermal resistance R 22 of the first peak amplifier 130 is (T 1 ⁇ T air ) / (R 22 + R 12 ).
  • the heat generated in the first carrier amplifier 120 is exhausted through the direct exhaust heat route of the first peak amplifier 130.
  • the temperature rise of the first carrier amplifier 120 can be suppressed. This also applies to the relationship between the second carrier amplifier 250 and the second peak amplifier 260.
  • FIG. 9 is a graph showing the amount of temperature decrease of the carrier amplifiers 120 and 250 in the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment.
  • the temperature that is the reference for the temperature drop is the temperature of the carrier amplifier with the amplifier as the carrier peak carrier peak.
  • the X-axis is “R ii ”
  • the Y-axis is “R ij ”
  • the broken line shows the relationship between “R ii ” and “R ij ” corresponding to the temperature drop of the carrier amplifiers 120 and 250.
  • FIG. 9 is a graph showing the amount of temperature decrease of the carrier amplifiers 120 and 250 in the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment.
  • the temperature that is the reference for the temperature drop is the temperature of the carrier amplifier with the amplifier as the carrier peak carrier peak.
  • the X-axis is “R ii ”
  • the Y-axis is “R ij ”
  • the broken line shows the relationship between “R ii ” and “R ij ”
  • FIG. 9 shows that the temperature of the carrier amplifier drops when the thermal resistance “R ij ”, which indicates the thermal coupling between the amplifiers, is sufficiently small compared to the thermal resistance of the thermal path of each amplifier.
  • the power amplifier circuit 200 it is desirable that R ij ⁇ 9 ⁇ R ii . That is, the heat generated by the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 is directly transferred to the first peak amplifier 130 and the second peak amplifier 260 by the arrangement of each amplifier of the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment. Efficient heat can be exhausted through a simple heat exhaust route.
  • FIG. 10 is a configuration diagram showing an example of the configuration of the power amplifier circuit 300 according to the third embodiment as viewed in a plane.
  • the arrangement of the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 is different from that of the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment.
  • the first carrier amplifier 120, the second carrier amplifier 250, and the first peak so that the distance Lc is larger than the distance Lp.
  • the amplifier 130 and the second peak amplifier 260 are arranged.
  • the power amplification circuit 300 includes a virtual line segment 1 connecting the first peak amplifier 130 and the second peak amplifier 260, and a virtual line segment connecting the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250. It is configured so that it does not overlap with 2. In other words, the virtual line segment 1 is displaced by the distance D in parallel with the virtual line segment 2 in the plan view.
  • the virtual line segment 1 is, for example, a virtual line segment connecting the center of the region having the highest temperature in the first peak amplifier 130 and the center of the region having the highest temperature in the second peak amplifier 260. ..
  • the virtual line segment 2 is, for example, a virtual line segment connecting the center of the region having the highest temperature in the first carrier amplifier 120 and the center of the region having the highest temperature in the second carrier amplifier 250.
  • the power amplifier circuit 300 can be miniaturized by arranging the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 with a short distance. Further, since the degree of freedom in the arrangement of the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 can be increased, the circuit design becomes easy.
  • the power amplifier circuit 100 has input signal RFin, signal RF1 (first signal), signal RF2 (second signal), signal RF3 (third signal), and signal RF4 (fourth signal). ), The distributor 110 that distributes to, the first carrier amplifier 120 that amplifies the signal RF1 (first signal) and outputs the amplified signal RF11 (first amplified signal), and the power of the signal RF2 (second signal). When the level is equal to or higher than a predetermined power level, the first peak amplifier 130 that amplifies the signal RF2 (second signal) and outputs the amplified signal RF21 (second amplified signal), and the signal RF3 (third signal) are amplified.
  • the signal RF4 (fourth signal) is amplified.
  • the second peak amplifier 260 that outputs the amplified signal RF41 (fourth amplified signal), the amplified signal RF11 (first amplified signal), the amplified signal RF21 (second amplified signal), and the amplified signal RF31 (third amplification).
  • a synthesizer that synthesizes a signal) and an amplified signal RF41 (fourth amplified signal) is provided, and a first carrier amplifier 120, a first peak amplifier 130, a second carrier amplifier 250, and a second peak amplifier are provided. At least three of 260 are provided on the same semiconductor substrate 150.
  • the power amplifier circuit 100 can efficiently exhaust the heat generated by the first carrier amplifier 120 or the second carrier amplifier 250, so that the temperature of the first carrier amplifier 120 or the second carrier amplifier 250 rises. Since it can be suppressed, the specific deterioration of the first carrier amplifier 120 or the second carrier amplifier 250 can be suppressed.
  • the first carrier amplifier 120, the first peak amplifier 130, the second carrier amplifier 250, and the second peak amplifier 260 are provided on the same semiconductor substrate. ..
  • the power amplifier circuit 100 can efficiently exhaust the heat generated by the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250, so that the temperature of the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 rises. Since it can be suppressed, the specific deterioration of the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 can be suppressed.
  • the power amplifier circuit 100 further includes a plurality of conductors provided between the surface on which the semiconductor substrate 150 of the substrate on which the semiconductor substrate 150 is arranged is arranged and the semiconductor substrate 150. As a result, the heat generated in the first carrier amplifier 120 is exhausted through the plurality of conductors, so that the temperature rise of the first carrier amplifier 120 can be suppressed.
  • the plurality of conductors are electrically connected to the first conductor 160, which is electrically connected to the first carrier amplifier 120, and to the first peak amplifier 130. 2 Conductors 170 and. As a result, the heat generated in the first carrier amplifier 120 is efficiently exhausted through the plurality of conductors, so that the temperature rise of the first carrier amplifier 120 can be suppressed.
  • the power amplifier circuit 100 further includes a heat conductive member 190 (first heat conductive member) provided on at least a part of at least one surface of the semiconductor substrate 150.
  • a heat conductive member 190 first heat conductive member
  • the heat generated in the first carrier amplifier 120 is efficiently conducted to the first peak amplifier 130 side through the heat conductive member 190, so that the temperature rise of the first carrier amplifier 120 can be suppressed.
  • the power amplifier circuit 100 is provided with heat between the first carrier amplifier 120 and the first peak amplifier 130 from at least one surface of the semiconductor substrate 150 toward the inside of the semiconductor substrate 150. Further includes a conduction member 191 (second heat conduction member). As a result, heat can be transferred from the region where the temperature rise is large in the semiconductor substrate 150 to the region where the temperature rise is not large, so that the temperature rise of the first carrier amplifier 120 can be suppressed.
  • a conduction member 191 second heat conduction member
  • the heat conductive member 191 (second heat conductive member) is provided from one surface of the semiconductor substrate 150 to the other surface on the opposite side to the one surface. As a result, heat can be efficiently transferred from the region where the temperature rise is large in the semiconductor substrate 150 to the region where the temperature rise is not large, so that the temperature rise of the first carrier amplifier 120 can be further suppressed.
  • a plurality of heat conductive members 191 (second heat conductive members) of the power amplifier circuit 100 according to the first embodiment are provided.
  • heat can be efficiently transferred from the region where the temperature rise is large in the semiconductor substrate 150 to the region where the temperature rise is not large, so that the temperature rise of the first carrier amplifier 120 can be further suppressed.
  • the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment is characterized in that the first carrier amplifier 120, the first peak amplifier 130, and the second carrier amplifier 250 are arranged in this order when viewed in a plan view. As a result, the temperature rise of the first and second carrier amplifiers 120 and 250 can be suppressed, so that the specific deterioration of the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 can be suppressed.
  • the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment is characterized in that the first carrier amplifier 120, the second peak amplifier 260, and the second carrier amplifier 250 are arranged in this order when viewed in a plan view. As a result, the temperature rise of the first and second carrier amplifiers 120 and 250 can be suppressed, so that the specific deterioration of the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 can be suppressed.
  • the power amplifier circuit 200 according to the second embodiment is arranged in the order of the first carrier amplifier 120, the first peak amplifier 130, the second peak amplifier 260, and the second carrier amplifier 250 when viewed in a plan view.
  • the distance between the first and second carrier amplifiers 120 and 250 can be increased, and the heat generated by the first and second carrier amplifiers 120 and 250 can be transferred through the first and second peak amplifiers 130 and 260. Heat can be efficiently exhausted. Therefore, since the temperature rise of the first and second carrier amplifiers 120 and 250 can be suppressed, the specific deterioration of the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier 250 can be suppressed.
  • the first carrier amplifier 120, the first peak amplifier 130, the second carrier amplifier 250, and the second peak amplifier 260 are the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier.
  • the first distance between 250 is arranged to be larger than the second distance between the first peak amplifier 130 and the second peak amplifier 260.
  • the first carrier amplifier 120, the first peak amplifier 130, the second carrier amplifier 250, and the second peak amplifier 260 are the first carrier amplifier 120 and the second carrier amplifier.
  • the virtual line segment 1 connecting the 250 and the virtual line segment 2 connecting the first peak amplifier 130 and the second peak amplifier 260 are arranged so as not to overlap each other.

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Abstract

入力信号を第1信号と第2信号とに分配する分配器と、前記第1信号を増幅して第1増幅信号を出力する第1キャリアアンプと、前記第2信号の電力レベルが所定の電力レベル以上のときに、前記第2信号を増幅して第2増幅信号を出力する第1ピークアンプと、前記第1増幅信号と、前記第2増幅信号と、を合成する合成器と、を備え、前記第1キャリアアンプおよび前記第1ピークアンプは、同一の半導体基板に設けられる、電力増幅回路。

Description

電力増幅回路
 本開示は、電力増幅回路に関する。
 ドハティ増幅器は、高効率な電力増幅器(パワーアンプ)である。ドハティ増幅器は、一般的に、入力信号の電力レベルにかかわらず動作するキャリアアンプと、入力信号の電力レベルが小さい場合はオフとなり、大きい場合にオンとなるピークアンプとが並列に接続されている。そして、入力信号の電力レベルが大きい場合、キャリアアンプが飽和出力電力レベルで飽和を維持しながら動作する(例えば、特許文献1参照)。
米国特許出願公開第2019/0165739号明細書
 特許文献1に係る電力増幅回路は、キャリアアンプとピークアンプとを含むドハティ増幅器を構成している。ドハティ増幅器は、変調信号が入力されると、キャリアアンプが常に飽和状態で動作する。一方、ドハティ増幅器において、ピークアンプは、変調信号が所定の電力レベルを超えたときにしか動作せず、わずかな時間しか飽和状態で動作しない。すなわち、ドハティ増幅器では、キャリアアンプで発生する熱がピークアンプで発生する熱よりも大きくなる。これにより、特許文献1に係る電力増幅回路では、キャリアアンプで発生する熱により、キャリアアンプの温度が上昇する虞があった。
 そこで、本開示は、増幅素子で発生する熱を効率よく排熱する電力増幅回路を提供することを目的とする。
 本発明の一側面に係る電力増幅回路は、入力信号を、第1信号と、第2信号と、第3信号と、第4信号と、に分配する分配器と、前記第1信号を増幅して第1増幅信号を出力する第1キャリアアンプと、前記第2信号の電力レベルが所定の電力レベル以上のときに、前記第2信号を増幅して第2増幅信号を出力する第1ピークアンプと、前記第3信号を増幅して第3増幅信号を出力する第2キャリアアンプと、前記第4信号の電力レベルが所定の電力レベル以上のときに、前記第4信号を増幅して第4増幅信号を出力する第2ピークアンプと、前記第1増幅信号と、前記第2増幅信号と、前記第3増幅信号と、前記第4増幅信号と、を合成する合成器と、を備え、前記第1キャリアアンプと、前記第1ピークアンプと、前記第2キャリアアンプと、前記第2ピークアンプと、のうち少なくとも三つが同一の半導体基板に設けられる。
 本開示によれば、増幅素子で発生する熱を効率よく排熱する電力増幅回路を提供することができる。
第1実施形態に係る電力増幅回路の構成の一例を示す構成図である。 電力増幅回路における第1キャリアアンプおよび第1ピークアンプの配置および構成を断面で見た一例を示す図である。 第1実施形態に係る電力増幅回路における熱等価回路を示す図である。 第1キャリアアンプの温度分布を示すグラフである。 第1実施形態に係る電力増幅回路における第1キャリアアンプおよび第1ピークアンプの配置および構成を断面で見た第1変形例を示す図である。 第1実施形態に係る電力増幅回路における第1キャリアアンプおよび第1ピークアンプの配置および構成を断面で見た第2変形例を示す図である。 第2実施形態に係る電力増幅回路の構成を平面で見た一例を示す構成図である。 第2実施形態に係る電力増幅回路における熱等価回路を示す図である。 第2実施形態に係る電力増幅回路におけるキャリアアンプの温度分布を示すグラフである。 第3実施形態に係る電力増幅回路の構成を平面で見た一例を示す構成図である。 比較例に係る電力増幅回路のキャリアアンプおよびピークアンプの配置および構成を断面で見た一例を示す図である。
===第1実施形態に係る電力増幅回路100の構造===
 電力増幅回路100は、例えば、携帯電話機に搭載され、基地局に送信する信号の電力を増幅するために用いられる。電力増幅回路100は、例えば、2G(第2世代移動通信システム)、3G(第3世代移動通信システム)、4G(第4世代移動通信システム)、5G(第5世代移動通信システム)、LTE(Long Term Evolution)-FDD(Frequency Division Duplex)、LTE-TDD(Time Division Duplex)、LTE-Advanced、LTE-Advanced Pro、6G(第6世代移動通信システム)などの通信規格の信号の電力を増幅することができる。なお、電力増幅回路100が増幅する信号の通信規格はこれらに限られない。電力増幅回路100は、入力信号RFinを増幅し、出力信号RFoutを出力する。入力信号は無線周波数(RF:Radio-Frequency)信号であり、入力信号の周波数は、例えば数GHz~数十GHz程度である。
 以下、図1を参照して、第1実施形態に係る電力増幅回路100の構成について説明する。図1は、第1実施形態に係る電力増幅回路100の構成の一例を示す構成図である。図1に示すように、電力増幅回路100は、例えば、分配器110と、第1キャリアアンプ120と、第1ピークアンプ130と、合成器140とを含む。
 分配器110は、例えば、入力される入力信号RFinを複数の信号に分配する。分配器110は、例えば、分岐部111と、第1移相器112とを含む。分岐部111は、例えば、バラン、結合線路3dBカプラなどの分布定数回路、またはウィルキンソン型分配器やウェブ型分配器などであってもよい。分岐部111は、例えば、入力信号RFinを、信号RF1と、信号RF2とに分配する。信号RF1は、第1キャリアアンプ120に入力される信号である。信号RF2は、第1移相器112を通じて第1ピークアンプ130に入力される信号である。第1移相器112は、例えば、分岐部111と第1ピークアンプ130との間に電気的に接続されて、信号RF2の位相を略90度遅延させる移相器である。第1移相器112は、例えば、1/4波長線路または分布定数回路などで構成される。
 第1キャリアアンプ120は、例えば、入力される信号RF1を増幅させて、増幅信号RF11を出力する。第1キャリアアンプ120は、例えば、A級、AB級またはB級にバイアスされる。すなわち、第1キャリアアンプ120は、小さい瞬時入力電力など入力信号の電力レベルに係らず、入力される信号RF1を増幅して増幅信号RF11を出力する。
 第1ピークアンプ130は、例えば、第1移相器112を通じて入力される信号RF2を増幅させて、増幅信号RF21を出力する。第1ピークアンプ130は、例えばC級にバイアスされる。第1ピークアンプ130は、例えば、信号RF2の電圧レベルが第1キャリアアンプ120の最大電圧レベルVmax(又は最大電流レベルImax)から所定レベル低い電圧レベル(又は電流レベル)以上の領域において動作する増幅器である。
 ここで、第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130は、同一の半導体基板150上に形成されている(図2を参照)。これにより、第1キャリアアンプ120で発生する熱を、第1ピークアンプ130で発生する熱を排熱するルートを利用して排熱できるため、第1キャリアアンプ120における温度上昇を低減できる。同一の半導体基板150上に形成される第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130の構造については後述する。
 合成器140は、例えば、第1キャリアアンプ120から出力される増幅信号RF11と、第1ピークアンプ130から出力される増幅信号RF21とを合成して、出力信号RFoutを出力する。合成器140は、例えば、第2移相器141と、合成部142とを含む。第2移相器141は、例えば、第1キャリアアンプ120と合成部142との間に電気的に接続されて、信号RF11の位相を略90度遅延させる移相器である。第2移相器141は、例えば1/4波長線路または分布定数回路などで構成される。合成部142は、例えば、第1キャリアアンプ120から第2移相器141を通じて出力される増幅信号RF11と、第1ピークアンプ130から出力される増幅信号RF21とが入力される。合成部142は、二つの信号を合成して出力信号RFoutを出力する。
 このように、第1実施形態に係る電力増幅回路100は、例えば、第1キャリアアンプ120と第1ピークアンプ130とでドハティ増幅回路を形成する。ドハティ増幅回路におけるキャリアアンプは、その飽和領域で動作することが多い。一方、ピークアンプは、キャリアアンプと比較して飽和領域で動作することが少ない。すなわち、キャリアアンプで発生する熱の方が、ピークアンプで発生する熱よりも大きい。そこで、本実施形態に係る電力増幅回路100は、第1キャリアアンプ120で発生する熱を、第1ピークアンプ130の熱を排熱するルートを利用して、効率よく排熱する構成を備える。以下、まず、比較例に係る電力増幅回路1000の排熱について説明し、次に、電力増幅回路100における効率のよい排熱を実現するための構成について説明する。
<<比較例に係る電力増幅回路1000>>
 まず、図11を参照して、比較例に係る電力増幅回路1000におけるキャリアアンプ1110およびピークアンプ1210の配置および構成の概略について説明する。図11は、比較例に係る電力増幅回路1000のキャリアアンプ1110およびピークアンプ1210の配置および構成を断面で見た一例を示す図である。比較例に係る電力増幅回路1000は、本実施形態に係る電力増幅回路10の理解を助けるために示すものである。図11では、排熱ルートの概略を矢印(HEAT)で示す。
 図11に示すように、キャリアアンプ1110は、例えば、半導体基板1120に形成され、コンダクタ1130およびバンプ1140を通じて、プリント基板1300に接続される。また、ピークアンプ1210は、例えば、キャリアアンプ1110が形成される半導体基板1120とは別の半導体基板1220に形成される。そして、ピークアンプ1210は、例えば、コンダクタ1230およびバンプ1240を通じてプリント基板1300に接続される。すなわち、図11に示すように、キャリアアンプ1110で発生する熱は、コンダクタ1130およびバンプ1140のみを通じてプリント基板1300に排熱される。
<<第1実施形態に係る電力増幅回路100>>
 図2を参照して、電力増幅回路100における第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130の配置および構成の概略について説明する。図2は、電力増幅回路100における第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130の配置および構成を断面で見た一例を示す図である。図2では排熱ルートの一例を矢印(HEAT)で示す。
 図2に示すように、第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130は、同一の半導体基板150に形成される。半導体基板150は、例えば、第1コンダクタ160および第1バンプ161を通じて、プリント基板180に接続される。また、半導体基板150は、例えば、第2コンダクタ170および第2バンプ171を通じて、プリント基板180に接続される。第1コンダクタ160および第1バンプ161は、第1キャリアアンプ120に電気的に接続されるものであってもよいし、半導体基板150を機械的に支持するものであってもよい。第2コンダクタ170および第2バンプ171は、第1ピークアンプ130に電気的に接続されるものであってもよいし、半導体基板150を機械的に支持するものであってもよい。半導体基板150とプリント基板180との間のコンダクタやバンプの個数は限定されない。
 これにより、電力増幅回路100において、第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130で発生する熱が、コンダクタおよびバンプを通じてプリント基板180に排熱される。具体的には、第1キャリアアンプ120で発生する熱は、第1コンダクタ160および第1バンプ161を通じてプリント基板180に排熱される。さらに、第1キャリアアンプ120で発生する熱は、半導体基板150、第2コンダクタ170、及び第2バンプ171を通じて、プリント基板180に排熱される。
 ここで、比較例に係る電力増幅回路1000では、キャリアアンプ1110とピークアンプ1210との間は空気である。このため、キャリアアンプ1110で発生した熱は、ピークアンプ1210に向かってほとんど伝導しない。よって、比較例に係る電力増幅回路1000において、キャリアアンプ1110で発生した熱は、コンダクタ1130およびバンプ1140を通じたルートのみで排熱される。
 すなわち、電力増幅回路100においては、比較例に係る電力増幅回路1000と比較して、第1キャリアアンプ120で発生する熱を排熱するために、第1ピークアンプ130近傍の第2コンダクタ170および第2バンプ171を利用することができる。したがって、電力増幅回路100においては、比較例に係る電力増幅回路1000と比較して、排熱にかかるルートを増加させることができるため、第1キャリアアンプ120の温度上昇を抑制できる。これにより、第1キャリアアンプ120の特性劣化を抑制できる。また、第1キャリアアンプ120と第1ピークアンプ130との電気特性を合わせる必要がなくなり、ペアリングするための作業工数を削減できる。また、第1ピークアンプ130をバイアスするバイアス回路(不図示)を、第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130と同一の半導体基板150に設けた場合、当該バイアス回路が第1キャリアアンプ120の温度上昇を検知することができる。これにより、当該バイアス回路が第1キャリアアンプ120の温度上昇に応じた動作が可能となるため、電力増幅回路100の増幅効率を向上できる。
 図3を参照して、電力増幅回路100における排熱について熱等価回路を用いて説明する。図3は、第1実施形態に係る電力増幅回路100における熱等価回路を示す図である。「P1」は、第1キャリアアンプ120の消費電力が示す熱源を示す。「P2」は、第1ピークアンプ130の消費電力が示す熱源を示す。「Rii」は、各アンプの直接的な熱抵抗を示す。「Rij」(i≠j)は、各アンプ間の熱結合を示す熱抵抗を示す。「T1」は、第1キャリアアンプ120の温度を示す。「T2」は、第1ピークアンプ130の温度を示す。「Tair」は、例えば環境温度を示す。図3に示す熱等価回路における各アンプの温度は、式(1)で算出される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 ここで、一例として、ドハティ増幅回路において第1ピークアンプ130が電力を消費しない場合(例えば、P2=0)、第1キャリアアンプ120の温度「T1」は、式(2)で算出される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 式(2)に示すように、「R12」が「R11」との比較において小さくなるほど、第1キャリアアンプ120の温度T1は小さくなる。
 ここで、環境温度Tairが25℃において、第1キャリアアンプ120のみが1Wの電力を消費した場合、第1キャリアアンプ120の温度を計算した結果を図4に示す。図4は、第1キャリアアンプ120の温度分布を示すグラフである。図4では、X軸を「Rii」とし、Y軸を「Rij」とし、破線は第1キャリアアンプ120の温度に対応する「Rii」と「Rij」との関係を示す。
 図4では、アンプ間の熱結合を示す熱抵抗「Rij」が、各アンプの熱経路の熱抵抗と比較して十分小さいときに、キャリアアンプの温度が低下することが示されている。具体的には、図4には、例えば、実線で示すRij=9×Riiに基づくと、Rij<9×Riiにおいて、第1キャリアアンプ120の温度が破線で示す100℃を下回ることが示されている。よって、電力増幅回路100においては、Rij<9×Riiであることが望ましい。
 すなわち、電力増幅回路100では、キャリアアンプとピークアンプとの間の熱結合を強くする(Rijを小さくする)ことで、キャリアアンプで発生する熱をピークアンプ側に伝導させることができる。これにより、キャリアアンプで発生する熱が、ピークアンプ側のコンダクタおよびバンプを通じて排熱されるため、キャリアアンプの温度上昇を抑制できる。
<<第1変形例>>
 図5を参照して、電力増幅回路100における第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130の配置および構成の第1変形例の概略について説明する。図5は、第1実施形態に係る電力増幅回路100における第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130の配置および構成を断面で見た第1変形例を示す図である。図5では図2で示した排熱ルートに加えられる排熱ルートの一例を矢印で示す。
 図5に示すように、第1変形例においては、電力増幅回路100の半導体基板150の各アンプが形成される表面と、半導体基板150の表面と反対側の裏面とに熱伝導部材190が設けられる。熱伝導部材190は、半導体基板150よりも熱伝導率が高い部材で形成されている。熱伝導部材190は、例えば、銅、アルミニウム、金、炭素系材料(例えば、グラファイトシートなど)などで形成されている。これにより、電力増幅回路100は、熱等価回路における熱抵抗「Rij」をより小さくできるため、第1キャリアアンプ120で発生する熱が第1ピークアンプ130側に伝導しやすくなる。したがって、電力増幅回路100は、第1キャリアアンプ120の温度上昇をより抑制できる。これにより、第1キャリアアンプ120の特性劣化を抑制できる。
 なお、図5では、熱伝導部材190が半導体基板150の表面と裏面とに設けられるように示されているがこれに限定されない。例えば、熱伝導部材190は、半導体基板150の表面および裏面の少なくともいずれかに設けられていてもよい。また、例えば、熱伝導部材190は、半導体基板150の表面および裏面の少なくとも一部に設けられていてもよい。また、例えば、熱伝導部材190は、半導体基板150が多層で形成されている場合、当該半導体基板150の中間の層に設けられていてもよい。また、例えば、熱伝導部材190は、半導体基板150の少なくとも一方の側面の少なくとも一部に設けられていてもよい。
<<第2変形例>>
 図6を参照して、電力増幅回路100における第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130の配置および構成の第2変形例の概略について説明する。図6は、第1実施形態に係る電力増幅回路100における第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130の配置および構成を断面で見た第2変形例を示す図である。図6では図2および図5で示した排熱ルートに加えられる排熱ルートの一例を矢印で示す。
 図6に示すように、第2変形例においては、熱伝導部材190と、半導体基板150の表面と裏面とを貫通する熱伝導部材191が設けられる。熱伝導部材191は、半導体基板150よりも熱伝導率が高い部材で形成される例えばビアである。熱伝導部材191は、例えば、銅、アルミニウム、金、炭素系材料(例えば、グラファイトシートなど)などで形成されている。熱伝導部材191は、熱伝導部材190と同じ部材であってもよいし、そうでなくてもよい。熱伝導部材191は、例えば第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプの近傍に設けられることが望ましい。また、熱伝導部材191は、例えば熱伝導部材190と接続されることが望ましい。熱伝導部材191は、例えば、第1キャリアアンプ120と第1ピークアンプ130との間に、一つ以上が設けられる。これにより、電力増幅回路100は、熱等価回路における熱抵抗「Rij」をより小さくできるため、第1キャリアアンプ120で発生する熱が第1ピークアンプ130側に伝導しやすくなる。
 具体的には、第1キャリアアンプ120で発生した熱は、主に、第1コンダクタ160および第1バンプ161を通じてプリント基板180に排熱される。すなわち、第1キャリアアンプ120近傍の、半導体基板150のプリント基板180に近い領域(裏面近傍)の温度上昇が大きくなる。一方、第1キャリアアンプ120近傍の、半導体基板150のプリント基板180に遠い領域(表面近傍)の温度上昇は大きくない。そこで、電力増幅回路100では、熱伝導部材191によって、表面に設けられる熱伝導部材190と、裏面に設けられる熱伝導部材190とを接続することで、温度上昇が大きい領域から温度上昇が大きくない領域に熱を移動させることができる。これにより、電力増幅回路100は、第1キャリアアンプ120の温度上昇を抑制できるため、第1キャリアアンプ120の特性劣化を抑制できる。
 なお、図6では、熱伝導部材191が半導体基板150の表面と裏面との間を貫通するように示されているがこれに限定されない。例えば、熱伝導部材191は、半導体基板150を貫通せずに、表面または裏面から半導体基板150の内部に向かって設けられていてもよい。
===第2実施形態に係る電力増幅回路200の構造===
 図7を参照して、第2実施形態に係る電力増幅回路200の構成について説明する。図7は、第2実施形態に係る電力増幅回路200の構成を平面で見た一例を示す構成図である。図7に示すように、電力増幅回路200は、例えば、分配器210と、第1キャリアアンプ120と第1ピークアンプ130とを含んで構成されるドハティ増幅器と、第2キャリアアンプ250と第2ピークアンプ260とを含んで構成されるドハティ増幅器と、合成器240とを含む。
 第2キャリアアンプ250および第2ピークアンプ260は、第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130と同じであるため、その説明を省略する。分配器210は、分配器110と比較して、分岐部213と、第3移相器214と、分岐部215とをさらに含む。分岐部213は分岐部111と同じであり、第3移相器214は第1移相器112と同じであるため、その説明を省略する。分岐部215は、例えば、バラン、結合線路3dBカプラなどの分布定数回路、またはウィルキンソン型分配器やウェブ型分配器などであってもよい。合成器240は、合成器140と比較して、第4移相器243と、合成部244と、合成部245とをさらに含む。第4移相器243は第2移相器141と同じであり、合成部244は合成部142と同じであるため、その説明を省略する。合成部245は、合成部142から出力される信号と、合成部244から出力される信号とを合成して信号RFoutを出力する。
 第2実施形態に係る電力増幅回路200は、第1キャリアアンプ120と第1ピークアンプ130とが同一の半導体基板150に形成される。また、電力増幅回路200は、第2キャリアアンプ250と第2ピークアンプ260とが同一の半導体基板に形成される。さらに、電力増幅回路200は、例えば、第1キャリアアンプ120、第1ピークアンプ130、第2キャリアアンプ250、及び第2ピークアンプ260とが同一の半導体基板に形成されていてもよい。これにより、第1キャリアアンプ120で発生する熱が第1ピークアンプ130側に伝導しやすくなり、第2キャリアアンプ250で発生する熱が第2ピークアンプ260側に伝導しやすくなる。よって、電力増幅回路200は、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の温度上昇を抑制できる。これにより、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の特性劣化を抑制できる。なお、電力増幅回路200は、例えば、第1キャリアアンプ120、第1ピークアンプ130、第2キャリアアンプ250、又は第2ピークアンプ260のうち少なくとも三つが同一の半導体基板に形成されていてもよい。これにより、少なくとも第1キャリアアンプ120または第2キャリアアンプ250で発生する熱が第1ピークアンプ130または第2ピークアンプ260側に伝導することで、少なくとも第1キャリアアンプ120または第2キャリアアンプ250の温度上昇を抑制できる。
 また、第2実施形態に係る電力増幅回路200は、第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130の配置および構成の第1変形例、又は、第1キャリアアンプ120および第1ピークアンプ130の配置および構成の第2変形例で示される構成を有していてもよい。第2実施形態に係る電力増幅回路200は、第2キャリアアンプ250および第2ピークアンプ260の配置および構成についても同様の構成を有していてもよい。これにより、電力増幅回路200は、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の温度上昇をより抑制できる。
 さらに、図7に示すように、第2実施形態に係る電力増幅回路200は、例えば、第1キャリアアンプ120の隣に第1ピークアンプ130を配置する。第1キャリアアンプ120と反対側の第1ピークアンプ130の隣に、第2ピークアンプ260を配置する。そして、第1ピークアンプ130と反対側の第2ピークアンプ260の隣に、第2キャリアアンプ250を配置する。すなわち、電力増幅回路200においては、第1キャリアアンプ120と第2キャリアアンプ250との間の距離(以下、距離Lcという)が、第1ピークアンプ130と第2ピークアンプ260との間の距離(以下、距離Lpという)よりも大きくなるように各アンプが配置されている。これにより、電力増幅回路200は、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の温度上昇をより抑制できる。なお、電力増幅回路200における各アンプの配置は上記に限定されない。電力増幅回路200において、例えば、距離Lcが距離Lpよりも大きくなるように、キャリアアンプとピークアンプとが交互に隣り合って配置されていてもよい。ここで、距離Lcは、例えば、第1キャリアアンプ120を構成する素子のうち第2キャリアアンプ250に最も近い素子と、第2キャリアアンプ250を構成する素子のうち第1キャリアアンプ120に最も近い素子との間の距離であってもよい。距離Lcは、例えば、第1ピークアンプ130を構成する素子のうち第2ピークアンプ260に最も近い素子と、第2ピークアンプ260を構成する素子のうち第1ピークアンプ130に最も近い素子との間の距離であってもよい。
 図8を参照して、熱等価回路を用いて、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の温度上昇を抑制できることにつき説明する。図8は、第2実施形態に係る電力増幅回路200における熱等価回路を示す図である。「P3」は、第2ピークアンプ260の消費電力が示す熱源を示す。「P4」は、第2キャリアアンプ250の消費電力が示す熱源を示す。「T3」は、第2ピークアンプ260の温度を示す。「T4」は、第2キャリアアンプ250の温度を示す。なお、図8では、隣り合わないアンプ間の熱結合については、隣り合うアンプ間の熱結合よりも十分小さいため無視する。また、便宜上、電力増幅回路200において第1ピークアンプ130および第2ピークアンプ260が電力を消費しない場合について説明する。
 図8に示す熱等価回路において、電力増幅回路200におけるキャリアアンプ120,250で発生する熱をピークアンプ130,260の直接的な排熱経路を利用して排熱する前提条件について説明する。この点、第1キャリアアンプ120と第2キャリアアンプ250との間の熱抵抗を合成したキャリア合成熱抵抗はR12+R23+R34である。一方、第1ピークアンプ130と第2ピークアンプ260との間の熱抵抗を合成したピーク合成熱抵抗はR23である。ここで、キャリア合成熱抵抗がピーク合成熱抵抗よりも小さい場合、キャリアアンプ120,250間で熱結合を生じてしまうため、キャリアアンプ120,250の温度上昇を抑制できない。よって、キャリア合成熱抵抗がピーク合成熱抵抗よりも大きいことを要件とする。すなわち、R12+R34>0を満たすことを要件とする。
 また、キャリアアンプ120,250の直接的な排熱経路の熱抵抗R11,R44は、キャリアアンプ120,250で発生する熱を排熱するためのピークアンプ130,260の直接的な排熱経路の熱抵抗R12+R22,R34+R33と比較して著しく小さい場合、キャリアアンプ120,250の温度上昇を抑制できない。よって、熱抵抗R11が熱抵抗R12+R22と比較して著しく小さくなく、熱抵抗R44が熱抵抗R34+R33と比較して著しく小さくないことを要件とする。
 以下、これらの要件を前提としつつ、キャリアアンプ120,250の温度上昇が抑制されることにつき説明する。
 図8に示すように、第1キャリアアンプ120から発生する熱はR11を通じて排熱されるものと、R12を通じて排熱されるものとがある。第2キャリアアンプ250から発生する熱はR44を通じて排熱されるものと、R34を通じて排熱されるものとがある。すなわち、第1キャリアアンプ120がR11を通じて排熱される熱流P11は(T1-Tair)/R11となる。一方、第1ピークアンプ130の直接的な熱抵抗R22を通じて排熱される熱流P12は(T1-Tair)/(R22+R12)となる。ここで、熱流P12が、熱流P11に対して無視できない程度に大きい場合、第1キャリアアンプ120で発生する熱が第1ピークアンプ130の直接的な排熱ルートを通じて排熱される。これにより、第1キャリアアンプ120の温度上昇を抑制できる。これは、第2キャリアアンプ250と第2ピークアンプ260との関係においても同様である。
 ここで、図9を参照して、具体的に電力増幅回路200における温度抑制の効果について説明する。図9は、第2実施形態に係る電力増幅回路200におけるキャリアアンプ120,250の温度低下量を示すグラフである。温度低下の基準となるとする温度は,アンプをキャリア・ピーク・キャリア・ピークとした状態のキャリアアンプの温度である.図9では、X軸を「Rii」とし、Y軸を「Rij」とし、破線はキャリアアンプ120,250の温度低下に対応する「Rii」と「Rij」との関係を示す。図9では、アンプ間の熱結合を示す熱抵抗「Rij」が、各アンプの熱経路の熱抵抗と比較して十分小さいときに、キャリアアンプの温度が低下することが示されている。具体的には、図9には、例えば実線で示すRij=9×Riiに基づくと、Rij<9×Riiにおいて、キャリアアンプ120,250の温度が2℃低下できることが示されている。すなわち、「Rii」と「Rij」との関係によっては12℃の低下を示すことがあるため、キャリアアンプ120,250の温度上昇を10℃以上も抑制できる。よって、電力増幅回路200においては、Rij<9×Riiであることが望ましい。すなわち、第2実施形態に係る電力増幅回路200の各アンプの配置によって、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250で発生する熱を、第1ピークアンプ130および第2ピークアンプ260の直接的な排熱ルートを通じて効率よく排熱できる。
<<第3実施形態に係る電力増幅回路300>>
 図10を参照して、第3実施形態に係る電力増幅回路300の構成について説明する。図10は、第3実施形態に係る電力増幅回路300の構成を平面で見た一例を示す構成図である。図10に示すように、電力増幅回路300は、第2実施形態に係る電力増幅回路200と比較して、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の配置が異なる。なお、電力増幅回路300においては、第2実施形態に係る電力増幅回路200と同様に、距離Lcが距離Lpよりも大きくなるように、第1キャリアアンプ120、第2キャリアアンプ250、第1ピークアンプ130、及び第2ピークアンプ260が配置されている。
 図10に示すように、電力増幅回路300は、第1ピークアンプ130と第2ピークアンプ260とを結ぶ仮想線分1と、第1キャリアアンプ120と第2キャリアアンプ250とを結ぶ仮想線分2とが重ならないように構成されている。換言すると、仮想線分1が、平面視において、仮想線分2に対して並行に距離Dだけズレている。ここで、仮想線分1は、例えば、第1ピークアンプ130において最も温度が高くなる領域の中心と、第2ピークアンプ260において最も温度が高くなる領域の中心とを結ぶ仮想の線分である。また、仮想線分2は、例えば、第1キャリアアンプ120において最も温度が高くなる領域の中心と、第2キャリアアンプ250において最も温度が高くなる領域の中心とを結ぶ仮想の線分である。これにより、第1キャリアアンプ120と第2キャリアアンプ250との距離を短くして配置することで、電力増幅回路300を小型化することができる。また、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の配置の自由度を上げることができるため、回路設計が容易になる。
===まとめ===
 第1実施形態に係る電力増幅回路100は、入力信号RFinを、信号RF1(第1信号)と、信号RF2(第2信号)と、信号RF3(第3信号)と、信号RF4(第4信号)と、に分配する分配器110と、信号RF1(第1信号)を増幅して増幅信号RF11(第1増幅信号)を出力する第1キャリアアンプ120と、信号RF2(第2信号)の電力レベルが所定の電力レベル以上のときに、信号RF2(第2信号)を増幅して増幅信号RF21(第2増幅信号)を出力する第1ピークアンプ130と、信号RF3(第3信号)を増幅して増幅信号RF31(第3増幅信号)を出力する第2キャリアアンプ250と、信号RF4(第4信号)の電力レベルが所定の電力レベル以上のときに、信号RF4(第4信号)を増幅して増幅信号RF41(第4増幅信号)を出力する第2ピークアンプ260と、増幅信号RF11(第1増幅信号)と、増幅信号RF21(第2増幅信号)と、増幅信号RF31(第3増幅信号)と、増幅信号RF41(第4増幅信号)と、を合成する合成器と、を備え、第1キャリアアンプ120と、第1ピークアンプ130と、第2キャリアアンプ250と、第2ピークアンプ260と、のうち少なくとも三つが同一の半導体基板150に設けられる。これにより、電力増幅回路100は、第1キャリアアンプ120または第2キャリアアンプ250で発生する熱を効率よく排熱することができるため、第1キャリアアンプ120または第2キャリアアンプ250の温度上昇を抑制できることから、第1キャリアアンプ120または第2キャリアアンプ250の特定劣化を抑制できる。
 また、第1実施形態に係る電力増幅回路100は、第1キャリアアンプ120と、第1ピークアンプ130と、第2キャリアアンプ250と、第2ピークアンプ260と、が同一の半導体基板に設けられる。これにより、電力増幅回路100は、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250で発生する熱を効率よく排熱することができるため、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の温度上昇を抑制できることから、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の特定劣化を抑制できる。
 また、第1実施形態に係る電力増幅回路100は、半導体基板150が配置される基板の半導体基板150が配置される面と、半導体基板150と、の間に設けられる複数のコンダクタをさらに備える。これにより、第1キャリアアンプ120で発生する熱が、複数のコンダクを通じて排熱されるため、第1キャリアアンプ120の温度上昇を抑制できる。
 また、第1実施形態に係る電力増幅回路100は、複数のコンダクタは、第1キャリアアンプ120と電気的に接続される第1コンダクタ160と、第1ピークアンプ130と電気的に接続される第2コンダクタ170と、を含む。これにより、第1キャリアアンプ120で発生する熱が、複数のコンダクを通じて効率よく排熱されるため、第1キャリアアンプ120の温度上昇を抑制できる。
 また、第1実施形態に係る電力増幅回路100は、半導体基板150の少なくとも一方の面の少なくとも一部に設けられる、熱を伝導する熱伝導部材190(第1熱伝導部材)をさらに備える。これにより、第1キャリアアンプ120で発生する熱が、熱伝導部材190を通じて効率よく、第1ピークアンプ130側に伝導されるため、第1キャリアアンプ120の温度上昇を抑制できる。
 また、第1実施形態に係る電力増幅回路100は、第1キャリアアンプ120と第1ピークアンプ130との間において、半導体基板150の少なくとも一方の面から半導体基板150の内部に向かって設けられる熱伝導部材191(第2熱伝導部材)をさらに備える。これにより、半導体基板150における温度上昇が大きい領域から温度上昇が大きくない領域に熱を移動させることができるため、第1キャリアアンプ120の温度上昇を抑制できる。
 また、第1実施形態に係る電力増幅回路100は、熱伝導部材191(第2熱伝導部材)は、半導体基板150の一方の面から、一方の面と反対側の他方の面にわたって設けられる。これにより、半導体基板150における温度上昇が大きい領域から温度上昇が大きくない領域に熱を効率よく移動させることができるため、第1キャリアアンプ120の温度上昇をさらに抑制できる。
 また、第1実施形態に係る電力増幅回路100の熱伝導部材191(第2熱伝導部材)は、複数設けられている。これにより、半導体基板150における温度上昇が大きい領域から温度上昇が大きくない領域に熱を効率よく移動させることができるため、第1キャリアアンプ120の温度上昇をさらに抑制できる。
 また、第2実施形態に係る電力増幅回路200は、平面視したときに、第1キャリアアンプ120、第1ピークアンプ130、第2キャリアアンプ250の順番で並んでいることを特徴とする。これにより、第1,第2キャリアアンプ120,250の温度上昇を抑制できることから、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の特定劣化を抑制できる。
 また、第2実施形態に係る電力増幅回路200は、平面視したときに、第1キャリアアンプ120、第2ピークアンプ260、第2キャリアアンプ250の順番で並んでいることを特徴とする。これにより、第1,第2キャリアアンプ120,250の温度上昇を抑制できることから、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の特定劣化を抑制できる。
 また、第2実施形態に係る電力増幅回路200は、平面視したときに、第1キャリアアンプ120、第1ピークアンプ130、第2ピークアンプ260、第2キャリアアンプ250の順番で並んでいる。これにより、第1,第2キャリアアンプ120,250間の距離を大きくとることができ、第1,第2キャリアアンプ120,250で発生する熱を、第1,第2ピークアンプ130,260を通じて効率よく排熱することができる。このため、第1,第2キャリアアンプ120,250の温度上昇を抑制できることで、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250の特定劣化を抑制できる。
 また、第2実施形態に係る電力増幅回路200において、第1キャリアアンプ120、第1ピークアンプ130、第2キャリアアンプ250、及び第2ピークアンプ260は、第1キャリアアンプ120と第2キャリアアンプ250との間の第1距離が、第1ピークアンプ130と第2ピークアンプ260との間の第2距離よりも大きくなるように、配置されている。これにより、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250で発生する熱を、第1ピークアンプ130および第2ピークアンプ260の排熱ルートを通じて効率よく排熱できる。
 また、第2実施形態に係る電力増幅回路200において、第1キャリアアンプ120、第1ピークアンプ130、第2キャリアアンプ250、及び第2ピークアンプ260は、第1キャリアアンプ120と第2キャリアアンプ250とを結ぶ仮想線分1と、第1ピークアンプ130と第2ピークアンプ260とを結ぶ仮想線分2とが重ならないように配置されている。これにより、第1キャリアアンプ120および第2キャリアアンプ250で発生する熱を効率よく排熱できるとともに、電力増幅回路300を小型化することができる。
 以上説明した実施形態は、本開示の理解を容易にするためのものであり、本開示を限定して解釈するためのものではない。本開示は、その趣旨を逸脱することなく、変更又は改良され得るとともに、本開示にはその等価物も含まれる。すなわち、実施形態に当業者が適宜設計変更を加えたものも、本開示の特徴を備えている限り、本開示の範囲に包含される。実施形態が備える素子及びその配置などは、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。
 100,200…電力増幅回路、110,210…分配器、120…第1キャリアアンプ、130…第1ピークアンプ、150…半導体基板、250…第2キャリアアンプ、260…第2ピークアンプ。

Claims (13)

  1.  入力信号を、第1信号と、第2信号と、第3信号と、第4信号と、に分配する分配器と、
     前記第1信号を増幅して第1増幅信号を出力する第1キャリアアンプと、
     前記第2信号の電力レベルが所定の電力レベル以上のときに、前記第2信号を増幅して第2増幅信号を出力する第1ピークアンプと、
     前記第3信号を増幅して第3増幅信号を出力する第2キャリアアンプと、
     前記第4信号の電力レベルが所定の電力レベル以上のときに、前記第4信号を増幅して第4増幅信号を出力する第2ピークアンプと、
     前記第1増幅信号と、前記第2増幅信号と、前記第3増幅信号と、前記第4増幅信号と、を合成する合成器と、
     を備え、
     前記第1キャリアアンプと、前記第1ピークアンプと、前記第2キャリアアンプと、前記第2ピークアンプと、のうち少なくとも三つが同一の半導体基板に設けられる、
     電力増幅回路。
  2.  前記第1キャリアアンプと、前記第1ピークアンプと、前記第2キャリアアンプと、前記第2ピークアンプと、が同一の半導体基板に設けられる、
     請求項1に記載の電力増幅回路。
  3.  前記半導体基板が配置される基板の前記半導体基板が配置される面と、前記半導体基板と、の間に設けられる複数のコンダクタをさらに備える、
     請求項2に記載の電力増幅回路。
  4.  前記複数のコンダクタは、前記第1キャリアアンプと電気的に接続される第1コンダクタと、前記第1ピークアンプと電気的に接続される第2コンダクタと、を含む、
     請求項3に記載の電力増幅回路。
  5.  前記半導体基板の少なくとも一方の面の少なくとも一部に設けられる、熱を伝導する第1熱伝導部材をさらに備える、
     請求項2から請求項4のいずれか一項に記載の電力増幅回路。
  6.  前記第1キャリアアンプと前記第1ピークアンプとの間において、前記半導体基板の少なくとも一方の面から前記半導体基板の内部に向かって設けられる第2熱伝導部材をさらに備える、
     請求項2から請求項5のいずれか一項に記載の電力増幅回路。
  7.  前記第2熱伝導部材は、前記半導体基板の一方の面から、前記一方の面と反対側の他方の面にわたって設けられる、
     請求項6に記載の電力増幅回路。
  8.  前記第2熱伝導部材は、複数設けられている、
     請求項7に記載の電力増幅回路。
  9.  平面視したときに、前記第1キャリアアンプ、前記第1ピークアンプ、前記第2キャリアアンプの順番で並んでいることを特徴とする、請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の電力増幅器。
  10.  平面視したときに、前記第1キャリアアンプ、前記2ピークアンプ、前記第2キャリアアンプの順番で並んでいることを特徴とする、請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の電力増幅器。
  11.  平面視したときに、前記第1キャリアアンプ、前記第1ピークアンプ、前記第2ピークアンプ、前記第2キャリアアンプの順番で並んでいることを特徴とする請求項2から請求項8のいずれか一項に記載の電力増幅器。
  12.  前記第1キャリアアンプ、前記第1ピークアンプ、前記第2キャリアアンプ、及び前記第2ピークアンプは、前記第1キャリアアンプと前記第2キャリアアンプとの間の第1距離が、前記第1ピークアンプと前記第2ピークアンプとの間の第2距離よりも大きくなるように、配置されている、
     請求項2から請求項11のいずれか一項に記載の電力増幅回路。
  13.  前記第1キャリアアンプ、前記第1ピークアンプ、前記第2キャリアアンプ、及び前記第2ピークアンプは、前記第1キャリアアンプと前記第2キャリアアンプとを結ぶ仮想線分と、前記第1ピークアンプと前記第2ピークアンプとを結ぶ仮想線分とが重ならないように、配置されている、
     請求項12に記載の電力増幅回路。
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