WO2021253164A1 - 打码方法、打码装置和触控芯片 - Google Patents

打码方法、打码装置和触控芯片 Download PDF

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Abstract

一种打码方法，一个打码周期分为两轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；其中，所述Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。该打码方法能够消除水波纹的影响。

Description

打码方法、打码装置和触控芯片 技术领域
本申请实施例涉及信息技术领域，并且更具体地，涉及一种打码方法、打码装置和触控芯片。
背景技术
目前，主动笔作为电子设备的主要外设输入配件，逐渐受到市场的关注。触控屏上分布着一定数量的水平方向和竖直方向的检测电极，因此可通过检测电极对主动笔发出上行扩频信号，与主动笔建立同步后，主动笔的笔尖处通过检测电极发射下行信号，并根据下行信号计算出笔尖在触控屏上的二维位置坐标。
发明人发现，使用主动笔对电子设备进行操作时，显示器上出现各种形式的显示波纹，有时犹如水的涟漪般向前推进，有时看到几条移动的亮线，或看到时有时无的波纹，这些现象统称为水波纹现象。因此，如何有效解决显示器上出现的水波纹现象，成为亟待解决的问题。
发明内容
本申请实施例提供一种打码方法、打码装置和触控芯片，能够有效解决显示器上出现的水波纹现象。
第一方面，提供了一种打码方法，一个打码周期分为两轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
根据第一方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电 极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
根据第一方面，在一种可能的实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于1。
根据第一方面，在一种可能的实现方式中，在所述第一轮打码中，对I根所述检测电极打空码；在所述第二轮打码中，对O根所述检测电极打空码；其中，所述I根检测电极和所述O根检测电极分别位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间。
根据第一方面，在一种可能的实现方式中，I＝1，O＝1。
根据第一方面，在一种可能的实现方式中，Q＝2或者Q＝1。
根据第一方面，在一种可能的实现方式中，M-N＝K-L。
第二方面，提供了另一种打码方法，一个打码周期分为三轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的G个检测电极和打负码的H个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q，M+K+H≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
根据第二方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
根据第二方面，在一种可能的实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于2。
根据第二方面，在一种可能的实现方式中，在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之 间；在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F。
根据第二方面，在一种可能的实现方式中，I＝1，O＝1，P＝1。
根据第二方面，在一种可能的实现方式中，Q＝2或者Q＝1。
根据第二方面，在一种可能的实现方式中，M-N＝K-L＝G-H。
第三方面，提供了另一种打码方法，一个打码周期分为四轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q；在第四轮打码中，对相邻的T个检测电极打正码，对相邻的Y个检测电极打负码，对U个检测电极打空码，所述打正码的T个检测电极和打负码的Y个检测电极实现抵消，其中，T+Y+U＝P，│T-Y│≤Q，M+K+H+T≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
根据第三方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
根据第三方面，在一种可能的实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于3。
根据第三方面，在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测 电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第四轮打码中，W根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F，W<U。
根据第三方面，在一种可能的实现方式中，I＝1，O＝1，P＝1，W＝1。
根据第三方面，在一种可能的实现方式中，M-N＝K-L＝G-H＝T-Y。
第四方面，提供了一种打码装置，一个打码周期分为两轮打码，所述装置对P个检测电极打码，所述装置包括：打码模块，用于在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；以及用于在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
根据第四方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
根据第四方面，在一种可能的实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于1。
根据第四方面，在一种可能的实现方式中，打码模块还用于在所述第一轮打码中，对I根所述检测电极打空码；在所述第二轮打码中，对O根所述检测电极打空码；其中，所述I根检测电极和所述O根检测电极分别位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间。
根据第四方面，在一种可能的实现方式中，I＝1，O＝1。
根据第四方面，在一种可能的实现方式中，Q＝2或者Q＝1
根据第四方面，在一种可能的实现方式中，M-N＝K-L。
第五方面，提供了另一种打码装置，一个打码周期分为三轮打码，所述装置对P个检测电极打码，所述装置包括：打码模块，在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵 消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；以及用于在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的G个检测电极和打负码的H个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q，M+K+H≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
根据第五方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
根据第五方面，在一种可能的实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于2。
根据第五方面，在一种可能的实现方式中，在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F。
根据第五方面，在一种可能的实现方式中，I＝1，O＝1，P＝1。
根据第五方面，在一种可能的实现方式中，Q＝2或者Q＝1。
根据第五方面，在一种可能的实现方式中，M-N＝K-L＝G-H。
第六方面，提供了另一种打码装置，一个打码周期分为四轮打码，所述装置对P个检测电极打码，所述装置包括：打码模块，用于在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；用于在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；用于在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打 正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q；以及用于在第四轮打码中，对相邻的T个检测电极打正码，对相邻的Y个检测电极打负码，对U个检测电极打空码，所述打正码的T个检测电极和打负码的Y个检测电极实现抵消，其中，T+Y+U＝P，│T-Y│≤Q，M+K+H+T≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
根据第六方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
根据第六方面，在一种可能的实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于3。
根据第六方面，在一种可能的实现方式中，在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第四轮打码中，W根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F，W<U。
根据第六方面，在一种可能的实现方式中，I＝1，O＝1，P＝1，W＝1。
根据第六方面，在一种可能的实现方式中，M-N＝K-L＝G-H＝T-Y。
第七方面，提供了一种触控芯片，该触控芯片包括上述任意方面的打码装置。
基于上述技术方案，在一个周期内对P根检测电极进行多轮打码，每轮打码中，对一部分检测电极打正码以及对另一部分电极打负码，抵消后的打正码的检测电极小于主动笔不出现水波纹的检测电极数目，多轮打码中，P根检测电极均实现打正码，从而使主动笔在能够在划线不断线的情况下解决显示器上出现的水波纹现象。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些 示例性说明并不构成对实施例的限定，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本发明的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。
图1是主动笔在触控屏上使用的原理示意图。
图2是单个检测电极工作时水波纹产生的原理分析示意图。
图3是多个检测电极工作时水波纹产生的原理分析示意图。
图4是本申请实施例的打码方法的示意图。
图5是本申请实施例的正码和负码分析的示意图。
图6是本申请实施例的正码时序的示意图。
图7是本申请实施例的负码时序的示意图。
图8是本申请实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图9是本申请另一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图10是本申请又一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图11是本申请又一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图12是本申请又一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图13是本申请又一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图14是本申请又一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图15是本申请又一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图16是本申请又一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图17是本申请又一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图18是本申请又一实施例打码方法的一种可能实现方式的示意图。
图19是本申请实施例的打码装置示意性框图。
图20是本申请实施例的触控芯片示意性框图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请部分实施例进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
请参考图1，触控屏120上分布着一定数量检测电极，检测电极包括横 向检测电极和纵向检测电极，主动笔110需要接收触控屏120通过横向检测电极和/或纵向检测电极发出的上行扩频信号131，主动笔110接收到正确的上行扩频信号后，主动笔110向触控屏120发出下行信号132。主动笔的蓝牙芯片111接收触控屏的蓝牙芯片121传输的信息，例如下行信号的频率。其中，触控屏120发出的上行扩频信号131用于唤醒主动笔110以及与主动笔110之间建立同步，主动笔110发出的下行信号132用于计算主动笔110在触控屏120上的二维位置坐标。
请参考图2，图2为单个检测电极和显示器的简易分析示意图，触控屏上的传感器210上有多个检测电极，本申请实施例以单个横向检测电极TX1为例进行说明。横向检测电极TX1211和显示阴极板220存在电容C1-Cn，显示阴极板220和地之间存在电阻R，当触控屏通过横向检测电极TX1211向主动笔发送上行扩频信号时，存在一个很大的能量经过电容C1-Cn，并耦合到显示阴极板220，由于电阻R的存在，显示阴极板220上会残留部分上行扩频信号V1-Vn，这些残留的上行扩频信号V1-Vn通过电容Cd1-Cdn影响了显示驱动电路231输出的显示数据DDIC Data，从而影响了发光二极管D1的显示，最终引起显示器230出现肉眼可见的水波纹。
在传统的触控屏中，横向检测电极和纵向检测电极分别与地之间的自容均为100Pf左右，而在Y-OCTA触控屏中，横向检测电极和纵向检测电极分别与地之间的自容为500Pf左右。相比于传统触控屏，Y-OCTA触控屏发送的上行扩频信号更加容易耦合到显示器中，残留的上行扩频信号越大，水波纹越明显。
请参考图3，图3为多个检测电极和显示器的简易分析示意图。显示阴极板和地之间的等效电阻Rs远小于检测电极的等效阻抗，ZTX1-ZTXn分别为单个检测电极的等效阻抗，RTX1-RTXn分别为单个检测电极的等效电阻。在主动笔应用中，触控屏通过对横向检测电极和/或纵向检测电极同时打正码向主动笔传送上行扩频信号，为保证主动笔与触控屏在一定距离内主动笔能接收到触控屏发送的上行扩频信号，需要同时对多个检测电极打正码，例如对全部的横向检测电极或纵向检测电极打正码，主动笔接收到的上行扩频信号足够强。但是，残留的上行扩频信号Vn满足Vn∝n*VTX，n为打码检测电极的数目，VTX为上行扩频信号的大小，即同时打码的检测电 极数目越多，残留的上行扩频信号Vn越大，越容易出现水波纹。
主动笔在触控屏上划线时，触控屏需要实时显示主动笔的划线痕迹，为保证触控屏显示主动笔的划线痕迹不出现断线，以及主动笔与触控屏在一定距离内主动笔能接收触控屏发出的上行扩频信号，需要触控屏的全屏检测电极同时工作，而此时，显示器也更容易出现水波纹。
为此，本申请提供了一种打码方法，能够使得主动笔与触控屏在一定距离内主动笔能接收触控屏发出的上行扩频信号的同时，触控屏显示主动笔的划线痕迹不出现断线，以及避免出现肉眼可见的水波纹或者使减缓水波纹现象。
图4为本申请实施例提出的一种打码方法的示意图。触控屏对一部分检测电极发出正确的上行扩频信号，该上行扩频信号称为正码，触控屏对另一部分检测电极发出与正码相位相反的上行扩频信号，该上行扩频信号称为负码。上行扩频信号也称为打码信号。利用负码抵消正码的方式，使得残留的上行扩频信号Vn达到最小，从而消除水波纹的影响。本申请实施例以相邻两个检测电极为例进行说明，其中一个检测电极向主动笔传送正码，另外一个检测电极对主动笔传送负码，若两个检测电极的等效电阻和对地自容分别相等，正码和负码抵消，则残留的上行扩频信号为0，避免了上行扩频信号对显示器造成的干扰，消除了水波纹的影响。如图5所示，正码和负码相位越对称，抵消越完美。
主动笔和触摸屏是两个互相独立的系统，两者需要按照主动笔协议进行通讯和交互才能配合使用。对于一般的主动笔协议来说，例如微软主动笔协议(Microsoft Pen Protocol，MPP)协议、通用触控笔联盟(Universal Stylus Initiative，USI)协议、华为主动笔(Huawei Pen Protocol，HPP)协议等，需要触摸屏发出上行扩频信号以唤醒主动笔并与主动笔进行同步。本申请实施例以HPP协议为例进行说明。主动笔协议里规定是码表序列称为正码，负码是与正码相位相反180度的码。请参考图6和图7，将图6的上行扩频信号定义为正码，则图7的上行扩频信号的相位和图7中的上行扩频信号相差180度，图7中的上行扩频信号为负码。在图6中的上行扩频信号中，“1”采用31bit编码0x4259F1BA表示，“0”采用31bit编码0x3DA60E45表示，每个bit的时长为1us。在图7中的上行扩频信号中，“0”采用31bit编码 0x4259F1BA表示，“1”采用31bit编码0x3DA60E45表示。本申请实施例中只是以HPP协议中编码为例，但在实际应用中并不局限于此种扩频编码。
在本申请实施例中，一个打码周期分为两轮打码，对P个检测电极打码，该方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，P不大于触控屏检测电极的数目。
例如图8所示，在一个打码周期内，对触控屏的全部横向检测电极TX1-TX17进行打码，在第一轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX9打正码，对相邻的检测电极TX10-TX17打负码，9个打正码的检测电极和8个打负码的检测电极抵消，剩下1个打正码的检测电极，而主动笔出现水波纹和抵消后的打码检测电极数目相关，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目1，例如Q＝1；在第二轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX8打负码，对相邻的检测电极TX9-TX17打正码，9个打正码的检测电极和8个打负码的检测电极抵消，剩下1个打正码的检测电极，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目1，例如Q＝1。其中，P＝17，M＝9，N＝8，K＝9，L＝8。阴极板残留的上行扩频信号较小，不会出现肉眼可见水波纹现象。
若主动笔在图中位置1处，由于在第一轮打码中位置1处的存在多个检测电极同时打正码，主动笔和触控屏在一定高度范围内能接收到正码；若主动笔在图中位置2处，由于在第二轮打码中位置2处的存在多个检测电极同时打正码，主动笔和触控屏在一定高度范围内能接收到正码；若主动笔在图中位置3处，由于在第一轮打码和第二轮打码中，检测电极TX9相邻的检测电极TX10和TX8打负码，降低了主动笔接收到的正码强度，使得主动笔在一定高度范围内接收不到触控屏的正码，或者说，主动笔在位置3处能够接收正码的高度低于主动笔在位置1或位置2处接收正码的高度。其中TX9在两轮打码中均打正码，即打2次正码的检测电极数目为1，当然为保证主 动笔划线时不出现断线的情况，也可以对多个检测电极打两次正码。由于在第一轮打码和第二轮打码中，对触控屏上的所有横向检测电极打正码，能保证主动笔在触控屏上的任意位置都能收到正码，在避免水波纹现象的同时保证了主动笔划线时不出现断线的情况。
又例如图9所示，在一个打码周期内，对触控屏的16个横向检测电极进行打码，在第一轮打码中，对相邻的检测电极TX2-TX9打正码，对相邻的检测电极TX10-TX17打负码，8个打正码的检测电极和8个打负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极，阴极板残留的上行扩频信号为0，实现完美抵消；在第二轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX8打负码，对相邻的检测电极TX9-TX16打正码，8个打正码的检测电极和8个打负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极，阴极板残留的上行扩频信号为0，实现完美抵消。其中，P＝16，M＝8，N＝8，K＝8，L＝8。由于在一个周期内，每一轮的打正码的检测电极和打负码的检测电极数目相等，实现完美抵消，从而不会出现肉眼可见水波纹现象。
在另外一种实施例中，在第一轮打码和第二轮打码中，对检测电极TX9均打两次正码，也可以对多个检测电极打两次正码，即打两次正码的检测电极数目大于或等于1，有利于主动笔划线不出现断线的情况。
在另外一种实施例中，第一轮打码中抵消后的打码检测电极的数目可以等于第二轮打码中抵消后的打码检测电极的数目，即M-N＝K-L。
在另外一种实施例中，也可以只选取部分的横向检测电极打码，例如图10所示，触控屏只对TX2-TX17打码，对边缘处的横向检测电极TX1不打码，主动笔在一般情况下很少点击边缘处，因此不会影响主动笔的使用。
在另外一种实施例中，也可以选取全屏的纵向检测电极打码，或者也可以选取部分的纵向检测电极打码。
在另外一种实施例中，在第一轮打码中，对I根所述检测电极打空码；在第二轮打码中，对O根所述检测电极打空码；其中，I根检测电极和O根检测电极分别位于打正码的检测电极和打负码的检测电极之间。
例如图11所示，在一个打码周期内，对触控屏的17个横向检测电极进行打码，在第一轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX9打正码，对相邻的检测电极TX11-TX17打负码，对打正码的检测电极TX9和打负码的检测电 极TX11之间的检测点击TX10打空码，9个打正码的检测电极和7个打负码的检测电极抵消，剩下2个打正码的检测电极，而主动笔出现水波纹和抵消后的打码检测电极数目相关，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目2，例如Q＝2；在第二轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX7打负码，对相邻的检测电极TX9-TX17打正码，对打正码的检测电极TX9和打负码的检测电极TX7之间的检测点击TX8打空码，9个打正码的检测电极和7个打负码的检测电极抵消，剩下2个打码的检测电极，而主动笔出现水波纹和抵消后的打码检测电极数目相关，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目2，例如Q＝2。其中，P＝17，M＝9，N＝7，K＝9，L＝7，I＝1，O＝1。在打正码的检测电极和打负码的检测电极之间打空码，使得主动笔在位置3处，打负码的检测电极对打正码的检测电极影响较小，有利于保证主动笔和触控屏在一定高度内能接收到正码以及主动笔划线时不出现断线的情况。
在本申请另一实施例中，一个打码周期分为三轮打码，对P个检测电极打码，该方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对相邻F个检测电极打空码，所述打正码的G个检测电极和打负码的H个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q，M+K+H≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
例如图12所示，对触控屏的横向检测电极TX1-TX17进行打码，在第一轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX6打正码，对相邻的检测电极TX7-TX11打负码，对TX12-TX17打空码，6个打正码的检测电极和5个打负码的检测电极抵消，剩下1个打正码的检测电极，而主动笔出现水波纹和抵消后打码的检测电极数目相关，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目1，例如Q＝2；在第二轮打码中，对 TX1-TX5打空码，对相邻的检测电极TX6-TX11打正码，对相邻的检测电极TX12-TX17打负码，6个打正码的检测电极和6个打负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目0，例如Q＝2；在第三轮打码中，对TX1-TX5打空码，对相邻的检测电极TX6-TX10打负码，对相邻的检测电极TX11-TX17打正码，7个打正码的检测电极和5个打负码的检测电极抵消，剩下2个打正码的检测电极，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目2，例如Q＝2。其中，P＝17，M＝6，N＝5，B＝6，K＝6，L＝6，J＝5，G＝7，H＝5，F＝5。
在另外一种实施例中，在第一轮打码、第二轮打码以及第三轮打码中，对检测电极TX6和TX11均打两次正码，也可以对多个检测电极打两次正码，即打两次正码的检测电极数目大于或等于2，有利于主动笔划线不出现断线的情况。
在另外一种实施例中，第一轮打码中抵消后的打码检测电极的数目可以等于第二轮打码中抵消后的打码检测电极的数目，第二轮打码中抵消后的打码检测电极的数目等于第三轮打码中抵消后的打码检测电极的数目，即M-N＝K-L＝G-H。
在另外一种实施例中，例如图13所示，对每一轮的打正码的检测电极数目等于打负码的检测电极数目，以实现完美抵消，从而不出现水波纹的现象。
在另外一种实施例中，也可以只选取部分的横向检测电极打码，例如图14所示，触控屏只对TX2-TX16打码，对边缘处的横向检测电极TX1和TX17不打码，主动笔在一般情况下很少点击边缘处，因此不会影响主动笔的使用。
在另外一种实施例中，也可以选取全屏的纵向检测电极打码，或者也可以选取部分的纵向检测电极打码。
在另外一种实施例中，I根打空码的检测电极位于打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于打正码的检测电极和打负码的检测电极之间；在第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于打正码的检测电极和打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F。
例如图15所示，在一个打码周期内，对触控屏的17个横向检测电极进行打码，在第一轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX6打正码，对相邻的检测电极TX8-TX13打负码，对检测电极TX7、TX14-TX17打空码，打空码的检测电极TX7位于对打正码的检测电极TX6和打负码的检测电极TX8之间，6个打正码的检测电极和6个打负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极；在第二轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX4、TX13-TX14打负码，对相邻的检测电极TX6-TX11打正码，对检测电极TX5、TX12、TX15-TX17打空码，打空码的检测电极TX5位于对打正码的检测电极TX6和打负码的检测电极TX4之间，打空码的检测电极TX12位于对打正码的检测电极TX11和打负码的检测电极TX13之间，6个打正码的检测电极和6个打负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极；在第三轮打码中，对相邻的检测电极TX3-TX9打负码，对相邻的检测电极TX11-TX17打正码，对检测电极TX1-TX2、TX10打空码，打空码的检测电极TX10位于对打正码的检测电极TX11和打负码的检测电极TX9之间，6个打正码的检测电极和6个打负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极。其中，P＝17，M＝6，N＝6，B＝5，K＝6，L＝6，J＝5，G＝7，H＝7，F＝3，I＝1，O＝1，P＝1。在打正码的检测电极和打负码的检测电极之间打空码，使得主动笔位于打正码的检测电极和打负码的检测电极之间处时，打负码的检测电极对打正码的检测电极影响较小，有利于保证主动笔和触控屏在一定高度内能接收到正码以及主动笔划线时不出现断线的情况。
在本申请另一实施例中，一个打码周期分为四轮打码，对P个检测电极打码，该方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q；在第四轮打码中，对相邻的T 个检测电极打正码，对相邻的Y个检测电极打负码，对U个检测电极打空码，所述打正码的T个检测电极和打负码的Y个检测电极实现抵消，其中，T+Y+U＝P，│T-Y│≤Q，M+K+H+T≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
例如图16所示，对触控屏的横向检测电极TX1-TX17进行打码，在第一轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX5打正码，对相邻的检测电极TX6-TX10打负码，对TX11-TX17打空码，5个打正码的检测电极和5个打负码的检测电极抵消，剩下0个打正码的检测电极，而主动笔出现水波纹和抵消后打码的检测电极数目相关，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目0，例如Q＝2；在第二轮打码中，对TX1-TX4、TX14-TX17打空码，对相邻的检测电极TX5-TX9打正码，对相邻的检测电极TX10-TX13打负码，5个打正码的检测电极和4个打负码的检测电极抵消，剩下1个打正码的检测电极，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目1，例如Q＝2；在第三轮打码中，对TX1-TX4、TX14-TX17打空码，对相邻的检测电极TX5-TX8打负码，对相邻的检测电极TX9-TX13打正码，5个打正码的检测电极和4个打负码的检测电极抵消，剩下1个打正码的检测电极，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目，例如Q＝2；在第四轮打码中，对TX1-TX8打空码，对相邻的检测电极TX9-TX12打负码，对相邻的检测电极TX13-TX17打正码，5个打正码的检测电极和4个打负码的检测电极抵消，剩下1个打正码的检测电极，主动笔不出现水波纹的检测电极数目Q大于或等于抵消后打码的检测电极数目1，例如Q＝2；其中，P＝17，M＝5，N＝5，B＝7，K＝5，L＝4，J＝8，G＝5，H＝4，F＝9，T＝5，Y＝4，U＝8。
在另外一种实施例中，在第一轮打码、第二轮打码、第三轮打码以及第四轮打码中，对检测电极TX5、TX9和TX13均打两次正码，也可以对多个检测电极打两次正码，即打两次正码的检测电极数目大于或等于3，有利于主动笔划线不出现断线的情况。
在另外一种实施例中，第一轮打码中抵消后的打码检测电极的数目可以等于第二轮打码中抵消后的打码检测电极的数目，第二轮打码中抵消后的打码检测电极的数目等于第三轮打码中抵消后的打码检测电极的数目，第三轮 打码中抵消后的打码检测电极的数目等于第四轮打码中抵消后的打码检测电极的数目，即M-N＝K-L＝G-H＝T-Y。
在另外一种实施例中，也可以只选取部分的横向检测电极打码，例如图17所示，触控屏只对TX2-TX16打码，对边缘处的横向检测电极TX1和TX17不打码，主动笔在一般情况下很少点击边缘处，因此不会影响主动笔的使用。
在另外一种实施例中，也可以选取全屏的纵向检测电极打码，或者也可以选取部分的纵向检测电极打码。
在另外一种实施例中，I根打空码的检测电极位于打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于打正码的检测电极和打负码的检测电极之间；在第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于打正码的检测电极和打负码的检测电极之间；在所述第四轮打码中，W根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F，W<U。
例如图18所示，在一个打码周期内，对触控屏的17个横向检测电极进行打码，在第一轮打码中，对相邻的检测电极TX1-TX5打正码，对相邻的检测电极TX7-TX11打负码，对检测电极TX6、TX12-TX17打空码，打空码的检测电极TX6位于对打正码的检测电极TX5和打负码的检测电极TX7之间，5个打正码的检测电极和5个打负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极；在第二轮打码中，对检测电极TX1-TX4、TX10、TX11-TX15打空码，对相邻的检测电极TX5-TX9打正码，对相邻的检测电极TX15-TX17打负码，打空码的检测电极TX10位于对打正码的检测电极TX9和打负码的检测电极TX11之间，5个打正码的检测电极和5个打负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极；在第三轮打码中，对相邻的检测电极TX3-TX7打负码，对相邻的检测电极TX9-TX13打正码，对检测电极TX1-TX2、TX8、TX14-TX17打空码，打空码的检测电极TX8位于对打正码的检测电极TX9和打负码的检测电极TX7之间，5个打正码的检测电极和5个打负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极；在第四轮打码中，对相邻的检测电极TX7-TX11打负码，对相邻的检测电极TX13-TX17打正码，对检测电极TX1-TX6、TX12打空码，打空码的检测电极TX12位于对打正码的检测电极TX13和打负码的检测电极TX11之间，5个打正码的检测电极和5个打 负码的检测电极抵消，剩下0个打码的检测电极。其中，P＝17，M＝5，N＝5，B＝7，K＝5，L＝5，J＝7，G＝5，H＝5，F＝7，T＝5，Y＝5，U＝7，I＝1，O＝1，P＝1，W＝1。在打正码的检测电极和打负码的检测电极之间打空码，使得主动笔位于打正码的检测电极和打负码的检测电极之间处时，打负码的检测电极对打正码的检测电极影响较小，有利于保证主动笔和触控屏在一定高度内能接收到正码以及主动笔划线时不出现断线的情况。
本申请还提供了一种打码装置，该打码装置可以执行前述图8至图11中任意可能的打码方法。如图19所示，一个打码周期分为两轮打码，所述装置对P个检测电极打码，打码装置200包括：
打码模块201，用于在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；以及用于在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
在一种实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
在一种实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于1。
在一种实现方式中，打码模块还用于在所述第一轮打码中，对I根所述检测电极打空码；在所述第二轮打码中，对O根所述检测电极打空码；其中，所述I根检测电极和所述O根检测电极分别位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间。
在一种实现方式中，I＝1，O＝1。
在一种实现方式中，Q＝2或者Q＝1。
在一种实现方式中，M-N＝K-L。
本申请还提供了一种打码装置，该打码装置可以执行前述图12至图15中任意可能的打码方法。一个打码周期分为两轮打码，所述装置对P个检测电极打码，打码装置200包括：
打码模块201，用于在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码， 对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；用于在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；以及用于在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的G个检测电极和打负码的H个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q，M+K+H≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
在一种实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
在一种实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于2。
在一种实现方式中，在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F。
在一种实现方式中，I＝1，O＝1，P＝1。
在一种实现方式中，Q＝2或者Q＝1。
在一种实现方式中，M-N＝K-L＝G-H。
本申请还提供了一种打码装置，该打码装置可以执行前述图13至图18中任意可能的打码方法。一个打码周期分为两轮打码，所述装置对P个检测电极打码，打码装置200包括：
打码模块201，用于在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；用于在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；用于在 第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q；以及用于在第四轮打码中，对相邻的T个检测电极打正码，对相邻的Y个检测电极打负码，对U个检测电极打空码，所述打正码的T个检测电极和打负码的Y个检测电极实现抵消，其中，T+Y+U＝P，│T-Y│≤Q，M+K+H+T≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
在一种实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
在一种实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于3。
在一种实现方式中，在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第四轮打码中，W根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F，W<U。
在一种实现方式中，I＝1，O＝1，P＝1，W＝1。
在一种实现方式中，M-N＝K-L＝G-H＝T-Y。
本申请还提供了一种触控芯片，如图20所示，该触控芯片203可以包括图19所示的打码装置200。
需要说明的是，在不冲突的前提下，本申请描述的各个实施例和/或各个实施例中的技术特征可以任意的相互组合，组合之后得到的技术方案也应落入本申请的保护范围。
应理解，本申请实施例中的具体的例子只是为了帮助本领域技术人员更好地理解本申请实施例，而非限制本申请实施例的范围，本领域技术人员可以在上述实施例的基础上进行各种改进和变形，而这些改进或者变形均落在本申请的保护范围内。
以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限 于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (41)

  1. 一种打码方法，其特征在于，一个打码周期分为两轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：
    在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；
    在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；
    其中，所述Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
  2. 根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
  3. 根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，打两次正码的检测电极数目大于或等于1。
  4. 根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，
    在所述第一轮打码中，对I根所述检测电极打空码；
    在所述第二轮打码中，对O根所述检测电极打空码；
    其中，所述I根检测电极和所述O根检测电极分别位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间。
  5. 根据权利要求4所述的打码方法，其特征在于，I＝1，O＝1。
  6. 根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，Q＝2或者Q＝1。
  7. 根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，M-N＝K-L。
  8. 一种打码方法，其特征在于，一个打码周期分为三轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：
    在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；
    在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；
    在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的G个检测电极和打负码的H个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q，M+K+H≥P；
    其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
  9. 根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
  10. 根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，打两次正码的检测电极数目大于或等于2。
  11. 根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，
    在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    其中，I<B，O<J，P<F。
  12. 根据权利要求11所述的打码方法，其特征在于，I＝1，O＝1，P＝1。
  13. 根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，Q＝2或者Q＝1。
  14. 根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，M-N＝K-L＝G-H。
  15. 一种打码方法，其特征在于，一个打码周期分为四轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：
    在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；
    在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；
    在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q；
    在第四轮打码中，对相邻的T个检测电极打正码，对相邻的Y个检测电极打负码，对U个检测电极打空码，所述打正码的T个检测电极和打负码的Y个检测电极实现抵消，其中，T+Y+U＝P，│T-Y│≤Q，M+K+H+T≥P；
    其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
  16. 根据权利要求15所述的打码方法，其特征在于，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
  17. 根据权利要求15所述的打码方法，其特征在于，打两次正码的检 测电极数目大于或等于3。
  18. 根据权利要求15所述的打码方法，其特征在于，
    在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第四轮打码中，W根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    其中，I<B，O<J，P<F，W<U。
  19. 根据权利要求18所述的打码方法，其特征在于，I＝1，O＝1，P＝1，W＝1。
  20. 根据权利要求15所述的打码方法，其特征在于，M-N＝K-L＝G-H＝T-Y。
  21. 一种打码装置，其特征在于，一个打码周期分为两轮打码，所述装置对P个检测电极打码，所述装置包括：
    打码模块，用于在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；以及
    用于在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；
    其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
  22. 根据权利要求21所述的打码装置，其特征在于，所述检测电极为 横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
  23. 根据权利要求21所述的打码装置，其特征在于，打两次正码的检测电极数目大于或等于1。
  24. 根据权利要求21所述的打码装置，其特征在于，打码模块还用于
    在所述第一轮打码中，对I根所述检测电极打空码；
    在所述第二轮打码中，对O根所述检测电极打空码；
    其中，所述I根检测电极和所述O根检测电极分别位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间。
  25. 根据权利要求24所述的打码装置，其特征在于，I＝1，O＝1。
  26. 根据权利要求21所述的打码装置，其特征在于，Q＝2或者Q＝1。
  27. 根据权利要求21所述的打码装置，其特征在于，M-N＝K-L。
  28. 一种打码装置，其特征在于，一个打码周期分为三轮打码，所述装置对P个检测电极打码，所述装置包括：
    打码模块，用于在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；
    用于在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；
    以及用于在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的G个检测电极和打负码的H个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q，M+K+H ≥P；
    其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
  29. 根据权利要求28所述的打码装置，其特征在于，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
  30. 根据权利要求28所述的打码装置，其特征在于，打两次正码的检测电极数目大于或等于2。
  31. 根据权利要求28所述的打码装置，其特征在于，
    在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    其中，I<B，O<J，P<F。
  32. 根据权利要求31所述的打码装置，其特征在于，I＝1，O＝1，P＝1。
  33. 根据权利要求28所述的打码装置，其特征在于，Q＝2或者Q＝1。
  34. 根据权利要求28所述的打码装置，其特征在于，M-N＝K-L＝G-H。
  35. 一种打码装置，其特征在于，一个打码周期分为四轮打码，所述装置对P个检测电极打码，所述装置包括：
    打码模块，用于在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个 检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B＝P，│M-N│≤Q；
    用于在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J＝P，│K-L│≤Q；
    用于在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，G+H+F＝P，│G-H│≤Q；
    以及用于在第四轮打码中，对相邻的T个检测电极打正码，对相邻的Y个检测电极打负码，对U个检测电极打空码，所述打正码的T个检测电极和打负码的Y个检测电极实现抵消，其中，T+Y+U＝P，│T-Y│≤Q，M+K+H+T≥P；
    其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。
  36. 根据权利要求35所述的打码装置，其特征在于，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。
  37. 根据权利要求35所述的打码装置，其特征在于，打两次正码的检测电极数目大于或等于3。
  38. 根据权利要求35所述的打码装置，其特征在于，
    在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
    在所述第四轮打码中，W根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电 极和所述打负码的检测电极之间；
    其中，I<B，O<J，P<F，W<U。
  39. 根据权利要求38所述的打码装置，其特征在于，I＝1，O＝1，P＝1，W＝1。
  40. 根据权利要求35所述的打码装置，其特征在于，M-N＝K-L＝G-H＝T-Y。
  41. 一种触控芯片，其特征在于，包括：
    根据上述权利要求21-40中任意一项所述的打码装置。
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