WO2021187433A1 - 光学フィルタ、その製造方法および光学モジュール - Google Patents

光学フィルタ、その製造方法および光学モジュール Download PDF

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雄大 沼田
真郷 葛田
祥一 松田
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日東電工株式会社
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    • H01L31/054—Optical elements directly associated or integrated with the PV cell, e.g. light-reflecting means or light-concentrating means

Definitions

  • the present invention relates to an optical filter, a method for manufacturing the same, and an optical module.
  • the present invention relates to an optical module having an optical filter on the front surface of an infrared receiver of the device.
  • the device is, for example, a sensing device or a communication device.
  • infrared ray includes at least light (electromagnetic wave) having a wavelength in the range of 760 nm or more and 2000 nm or less used for sensing or communication.
  • visible light refers to light in the range of 400 nm or more and less than 760 nm.
  • Patent Document 1 discloses an infrared receiving and emitting unit having a dielectric multilayer film that transmits infrared rays and reflects and transmits visible light, and a satin-finished surface. Further, in Patent Document 2, visible light is scattered by utilizing Rayleigh scattering due to a fine uneven shape formed by roughening the surface of a transparent base material to make it white and transmit infrared rays. An optical article for infrared communication having a rate of 12% or more is disclosed.
  • Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-165493 Patent No. 4212010
  • Japanese Unexamined Patent Publication No. 2013-65052 Patent No. 5756962
  • Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-058091 Patent No. 5274164
  • the infrared light receiving / receiving unit described in Patent Document 1 colors the appearance only with visible light reflected by the dielectric multilayer film, and the color changes depending on the viewing angle. Another problem is that the dielectric multilayer film is expensive.
  • an infrared communication film using a dielectric multilayer film as described in Patent Document 1 shows the contour of the hand when the movement of the hand is photographed with an infrared camera through this film. It turned out to be difficult to use for motion capture applications. It is considered that this is because the linear transmittance of infrared rays is low.
  • Patent Document 3 and Non-Patent Document 1 disclose that a fine particle dispersion or a colloidal amorphous aggregate having an amorphous structure can express a vivid structural color (for example, blue) with less angle dependence. .. Patent Document 3 describes that a fine particle dispersion having an amorphous structure is particularly useful for applications that reflect light having a specific wavelength (for example, a coloring material or an infrared reflective film).
  • the present invention has been made to solve the above problems, an optical filter capable of realizing an infrared transmittance filter having a high linear transmittance of infrared rays and having isotropic backscattering characteristics, and a method for manufacturing the same. And to provide an optical module.
  • An optical filter with backscattering characteristics The linear transmittance for light of at least a part of wavelengths in the wavelength range of 760 nm or more and 2000 nm or less is 60% or more.
  • BRDF (0 °; 0 °; 20 °, -60 °), bidirectional reflectance distribution function in the direction of 20 ° azimuth angle from the incident surface and -60 ° polar angle when the polar angle of the incident light is 30 °.
  • the value of is BRDF (30 °; 20 °, -60 °), and when the polar angle of the incident light in the incident direction is 60 °, the azimuth angle from the incident surface is 20 ° and the polar angle is -60 °.
  • BRDF 60 °; 20 °, -60 °
  • / BRDF (0 °; 20 °, -60 °) is 1.0 or less
  • / BRDF (0 °; 20 °, -60 °) is 1.0 or less
  • the three-dimensional shape includes, for example, a three-dimensional curved surface.
  • It has a base material and a film formed on the base material. The linear transmittance of the film with respect to light of at least a part of wavelengths in the wavelength range of 760 nm or more and 2000 nm or less is 60% or more.
  • BRDF (0 °; 0 °; 20 °, -60 °), bidirectional reflectance distribution function in the direction of 20 ° azimuth angle from the incident surface and -60 ° polar angle when the polar angle of the incident light is 30 °.
  • the value of is BRDF (30 °; 20 °, -60 °), and when the polar angle of the incident light in the incident direction is 60 °, the azimuth angle from the incident surface is 20 ° and the polar angle is -60 °.
  • BRDF 60 °; 20 °, -60 °
  • / BRDF (0 °; 20 °, -60 °) is 1.0 or less
  • / BRDF (0 °; 20 °, -60 °) is 1.0 or less
  • the optical filter according to any one of 7.
  • Item 8 The optical filter according to item 8, wherein the base material is made of plastic or glass.
  • the optical filter according to any one of items 1 to 10 wherein the linear transmittance with respect to light having a wavelength of 950 nm is 60% or more.
  • the fine particles include first monodisperse fine particles having an average particle size in the range of 80 nm or more and 300 nm or less.
  • the coefficient of variation of the average value of the distance between the centers of gravity of the fine particles in a cross section perpendicular to the plane direction of the filter is 10% or more.
  • [Item 29] Item 28. The manufacturing method according to item 28, wherein the applying step is performed by a coating method.
  • the applying step is performed by a dip coating method.
  • the optical module according to item 31, wherein the device is a sensing device, a communication device, a solar cell, a heater, or a power feeding device.
  • an infrared transmission filter having a high linear transmittance of infrared rays and an optical filter having isotropic backscattering characteristics, a manufacturing method thereof, and an optical module are provided.
  • FIG. 6 is a histogram of the distance between the centers of gravity of the particles obtained from the cross-sectional TEM image of the optical filter 10A of Example 1. It is a histogram of the distance between the centers of gravity of the particles obtained from the cross-sectional TEM image of the optical filter 20A of Comparative Example 1. This is an example of a camera image acquired using a motion capture device.
  • FIG. It is a figure which shows the optical image of the optical filter 20A of the comparative example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram for demonstrating the optical characteristic of the optical filter 10 by embodiment of this invention.
  • FIG. It is a figure which shows the absorption rate spectrum obtained as the difference between the diffuse transmittance spectrum and the diffuse reflectance spectrum of the optical filter 10A of Example 1.
  • FIG. It is a linear transmittance spectrum of the optical filter 20A of Comparative Example 1.
  • FIG. 10A It is a figure which shows the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filter 10A of Example 1 and the optical filter of Comparative Example A. It is a figure which shows the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filter 10A of Example 1.
  • FIG. It is a figure which shows the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filter of Comparative Example A. It is a figure which shows the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 2.
  • FIG. It is a figure which shows the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 6. It is a figure which shows the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filter of the comparative example 3.
  • FIG. 44A It is a figure which shows the optical image (visible light) which shows the optical filter of an Example formed in the shape of a hemisphere. It is a figure which shows the infrared image of the optical filter of the hemispherical embodiment shown in FIG. 44A. It is a figure which shows typically the measurement optical system of BRDF. It is a graph which shows BRDF of the sample of the optical filter of Example 6. It is a graph which shows BRDF of the sample of the optical filter of Comparative Example A. It is a graph which shows the difference from BRDF (0 °) of the sample of the optical filter of Example 6. It is a graph which shows the difference from BRDF (0 °) of the sample of the optical filter of Comparative Example A.
  • optical filter according to the embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention is not limited to those exemplified below.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention is an optical filter containing a matrix and fine particles dispersed in the matrix, and the fine particles form at least a colloidal amorphous aggregate and have a wavelength range of 760 nm or more and 2000 nm or less.
  • the linear transmittance for light of at least a part of the wavelengths is 60% or more. For example, it is possible to obtain an optical filter having a linear transmittance of 60% or more for light having wavelengths of 950 nm and 1550 nm.
  • the wavelength range of light (near infrared rays) in which the linear transmittance of the optical filter is 60% or more is preferably 810 nm or more and 1700 nm or less, and more preferably 840 nm or more and 1650 nm or less.
  • Such an optical filter is suitably used for, for example, an InGaAs sensor, an InGaAs / GaAsSb sensor, a CMOS sensor, an NMOS sensor, and a CCD sensor.
  • both the matrix and the fine particles are transparent to visible light (hereinafter, simply referred to as "transparent").
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention may exhibit a white color.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention contains a colloidal amorphous aggregate.
  • the colloidal amorphous aggregate is an aggregate of colloidal particles (particle size 1 nm to 1 ⁇ m), does not have long-range order, and does not cause Bragg reflection.
  • colloidal particles When colloidal particles are distributed in a long-range order, they become so-called colloidal crystals (a type of photonic crystal), in contrast to Bragg reflection. That is, the fine particles (colloidal particles) contained in the optical filter according to the embodiment of the present invention do not form a diffraction grating.
  • the fine particles contained in the optical filter according to the embodiment of the present invention include monodisperse fine particles having an average particle size of 1/10 or more of the wavelength of infrared rays. That is, with respect to infrared rays having a wavelength in the range of 760 nm or more and 2000 nm or less, the average particle size of the fine particles is preferably at least 80 nm or more, preferably 150 nm or more, and further preferably 200 nm or more. The upper limit of the average particle size of the fine particles is, for example, 300 nm. It may contain two or more monodisperse fine particles having different average particle sizes. It is preferable that the individual fine particles are substantially spherical.
  • fine particles are also used in the meaning of aggregates of fine particles, and monodisperse fine particles have a coefficient of variation (standard deviation / average particle size expressed as a percentage) of 20% or less. It is preferably 10% or less, more preferably 1 to 5%.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention increases the linear transmittance of infrared rays by using particles having a particle size (particle diameter, volume sphere equivalent diameter) of 1/10 or more of the wavelength. The principle is different from that of the optical article described in Patent Document 2 using Rayleigh scattering.
  • the average particle size was determined based on a three-dimensional SEM image.
  • a focused ion beam scanning electron microscope hereinafter referred to as "FIB-SEM”
  • FIB-SEM focused ion beam scanning electron microscope
  • a continuous cross-sectional SEM image is acquired using a model number Helios G4 UX manufactured by FEI, and the continuous image position is corrected. After that, the three-dimensional image was reconstructed.
  • the acquisition of the cross-sectional reflected electron image by SEM and the FIB (acceleration voltage: 30 kV) processing were repeated 100 times at intervals of 50 nm to reconstruct the three-dimensional image.
  • the obtained three-dimensional image was binarized using the Threshold function of analysis software (AVIZO manufactured by Thermo Fisher Scientific), and an image of fine particles was extracted.
  • AVIZO Threshold function of analysis software
  • a Separate object operation was performed, and then the volume of each fine particle was calculated. Assuming that each particle is a sphere, the diameter equivalent to a volume sphere was calculated, and the average value of the particle sizes of the fine particles was taken as the average particle size.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention has a refractive index of fine particles and a matrix, an average particle size of fine particles, a body integration ratio, a distribution (degree of aperiodicity), and a thickness of 760 nm or more and 2000 nm.
  • the linear transmittance for light of at least a part of the wavelengths in the following wavelength range is 60% or more.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention may exhibit a white color.
  • the L * measured by the SCE method on the CIE1976 color space is preferably 20 or more, more preferably 40 or more, further preferably 50 or more, and particularly preferably 60 or more. If L * is 20 or more, it can be said that it is generally white.
  • the upper limit of L * is, for example, 100. The method for measuring the linear transmittance will be described later in Experimental Examples (including Examples and Comparative Examples).
  • FIG. 1 shows a schematic cross-sectional view of the optical filter 10 according to the embodiment of the present invention.
  • the optical filter 10 according to the embodiment of the present invention includes a matrix 12 transparent to visible light and transparent fine particles 14 dispersed in the transparent matrix 12.
  • the fine particles 14 constitute at least a colloidal amorphous aggregate. It may contain other fine particles that do not disturb the colloidal amorphous aggregate composed of the fine particles 14.
  • the optical filter 10 has a substantially flat surface as schematically shown in FIG.
  • the substantially flat surface means a surface that does not have an uneven structure having a size that scatters (diffracts) or diffusely reflects visible light or infrared rays.
  • the optical filter 10 is a cholesteric liquid crystal (high molecular weight liquid crystal, low molecular weight liquid crystal, a mixture of these liquid crystals, and a cross-linking agent mixed with these liquid crystal materials and solidified by cross-linking, etc., and expresses a cholesteric phase. Includes a wide range of things to do.)
  • the optical filter 10 is, for example, in the form of a film, but is not limited to this.
  • the transparent fine particles 14 are, for example, silica fine particles.
  • silica fine particles for example, silica fine particles synthesized by the Stöber method can be used.
  • fine particles inorganic fine particles other than silica fine particles may be used, and resin fine particles may be used.
  • resin fine particles for example, fine particles composed of at least one of polystyrene and polymethyl methacrylate are preferable, and fine particles composed of crosslinked polystyrene, crosslinked polymethyl methacrylate or a crosslinked styrene-methyl methacrylate copolymer are preferable. More preferred.
  • fine particles for example, polystyrene fine particles or polymethyl methacrylate fine particles synthesized by emulsion polymerization can be appropriately used. Further, hollow silica fine particles and hollow resin fine particles containing air can also be used.
  • the fine particles formed of an inorganic material have an advantage of being excellent in heat resistance and light resistance.
  • the volume fraction of the fine particles is preferably 6% or more and 60% or less, more preferably 20% or more and 50% or less, and further preferably 20% or more and 40% or less.
  • the transparent fine particles 14 may have optical isotropic properties.
  • the matrix 12 includes, but is not limited to, for example, an acrylic resin (for example, polymethyl methacrylate, methyl polyacrylate), polycarbonate, polyester, poly (diethylene glycol bisallyl carbonate), polyurethane, epoxy resin, and polyimide. ..
  • the matrix 12 is preferably formed using a curable resin (thermosetting or photocurable), and is preferably formed using a photocurable resin from the viewpoint of mass productivity.
  • the photocurable resin various (meth) acrylates can be used.
  • the (meth) acrylate preferably contains a bifunctional or trifunctional or higher functional (meth) acrylate.
  • the matrix 12 preferably has optical isotropic properties. When a curable resin containing a polyfunctional monomer is used, a matrix 12 having a crosslinked structure can be obtained, so that heat resistance and light resistance can be improved.
  • the optical filter 10 in which the matrix 12 is made of a resin material can be in the form of a flexible film.
  • the thickness of the optical filter 10 is, for example, 10 ⁇ m or more and 10 mm or less.
  • the thickness of the optical filter 10 is, for example, 10 ⁇ m or more and 1 mm or less, and further 10 ⁇ m or more and 500 ⁇ m or less, the flexibility can be remarkably exhibited.
  • silica fine particles having a hydrophilic surface When silica fine particles having a hydrophilic surface are used as the fine particles, it is preferable to form them by, for example, photocuring a hydrophilic monomer.
  • the hydrophilic monomer include polyethylene glycol (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol tri (meth) acrylate, polypropylene glycol (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, and polypropylene glycol tri (meth).
  • These monomers can be cured by using a photopolymerization initiator as appropriate.
  • the photopolymerization initiator include carbonyl compounds such as benzoin ether, benzophenone, anthraquinone, thioxane, ketal, and acetophenone, sulfur compounds such as disulfide and dithiocarbamate, organic peroxides such as benzoyl peroxide, azo compounds, and transition metals. Examples thereof include complexes, polysilane compounds, and dye sensitizers.
  • the amount to be added is preferably 0.05 parts by mass or more and 3 parts by mass or less, and more preferably 0.05 parts by mass or more and 1 part by mass or less with respect to 100 parts by mass of the mixture of the fine particles and the monomer.
  • the refractive index difference is 0.01 or more. Is preferable, 0.6 or less is preferable, 0.03 or more is more preferable, and 0.11 or less is more preferable. If the difference in refractive index is smaller than 0.03, the scattering intensity becomes weak and it becomes difficult to obtain desired optical characteristics. Further, if the difference in refractive index exceeds 0.11, the linear transmittance of infrared rays may decrease.
  • the linear transmittance of infrared rays is adjusted by reducing the thickness. Can be done. In this way, the linear transmittance of infrared rays can be adjusted, for example, by controlling the thickness of the optical filter and the difference in refractive index. Further, depending on the application, it can be used in combination with a filter that absorbs infrared rays.
  • the refractive index for visible light can be represented by, for example, the refractive index for light of 546 nm.
  • the refractive index refers to the refractive index for light of 546 nm.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention includes, for example, a step of preparing a curable resin composition in which fine particles are dispersed and mixed in a curable resin, and a step of applying the curable resin composition to the surface of a base material. It can be produced by a production method including a step of curing the curable resin contained in the curable resin composition applied to the surface.
  • the base material may be, for example, a glass substrate or, for example, a resin film such as PET (polyethylene terephthalate), TAC (triacetyl cellulose), or PI (polyimide), but is not limited thereto.
  • the step of dispersing and mixing the fine particles in the curable resin can be performed using a known dispersion / mixing device such as a homomixer or a homogenizer (for example, an ultrasonic homogenizer or a high-pressure homogenizer). Further, the applying step can be performed by various known methods such as a coating method (for example, a dip coating method, a spray coating method, a die coating method) and a printing method.
  • a coating method for example, a dip coating method, a spray coating method, a die coating method
  • a printing method for example, a printing method.
  • Table 1 shows the configurations and optical characteristics of the optical filters of Examples and Comparative Examples.
  • Various optical filters shown in Table 1 were produced depending on the combination of the silica fine particles and the type of resin, the addition of the flocculant, and the difference in the dispersion / mixing method.
  • the optical filters of Examples 1 to 13 and Comparative Examples 1 to 3 were formed as a film using the acrylic resin and silica fine particles shown in Table 1.
  • silica fine particles monodisperse silica fine particles synthesized by the Stover method ((average particle size 110 nm, particle size CV value 4.5%), (average particle size 181 nm, particle size CV value 4.7%), (Average particle size 221 nm, CV value of particle size 4.9%) and (Average particle size 296 nm, CV value of particle size 6.1%)) were used.
  • Houtfoam Sibol 220 manufactured by Fuji Chemical Co., Ltd. was used as the silica fine particles.
  • the particle size distribution of the silica fine particles was measured with a scanning electron microscope SU3800 manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation.
  • Silica fine particles are mixed and dispersed in acrylic monomers A to E in a predetermined composition to prepare a curable resin composition, which is applied to the surface of a base material using an applicator so as to obtain a film having a predetermined thickness. And obtained by curing.
  • Darocure 1173 was blended with 0.2 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the acrylic monomer, irradiated with a UV lamp, and cured by photopolymerization. Resins (polymers) having different refractive indexes were formed depending on the type of monomer.
  • Acrylic monomers A to E are shown below. Monomers A and E are trifunctional acrylates, monomers B and C are bifunctional acrylates, and monomer D is a monofunctional acrylate.
  • B: Ethoxylated bisphenol A diacrylate (m + n 10)
  • C: Ethoxylated bisphenol A diacrylate (m + n 3)
  • E Trimethylolpropane EO-modified triacrylate
  • the acrylic monomers B and C are represented by the following chemical formula (Chemical Formula 1).
  • a sample piece having the same thickness as the average particle size of the silica fine particles is cut out by cutting the d / 2 position with respect to the cross-sectional direction with a microtome, and is used for TEM observation. Samples were obtained. Adjacent to each other by performing automatic identification Dronay diagram analysis of fine particles using image processing software Image J from a cross-sectional TEM image containing images of 200 or more particles using TEM (HT7820 manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation). The average value (La) and standard deviation (Ld) of the distance between the centers of gravity of the fine particles were determined.
  • the coefficient of variation was obtained from the average value of the distance between the centers of gravity (also referred to as "the distance between the average centers of gravity”) and the standard deviation.
  • the distance between the centers of gravity only particles having a particle size of 150 nm or more were targeted, and particles having a particle size of less than 150 nm were not targeted.
  • these values are indicators of whether or not the silica fine particles constitute a colloidal amorphous aggregate and the distribution state of the silica fine particles in the colloidal amorphous aggregate.
  • the lower limit of La is preferably 100 nm or more, more preferably 150 nm or more, further preferably 175 nm or more, and particularly preferably 200 nm or more.
  • the upper limit of La is preferably 600 nm or less, more preferably 500 nm or less.
  • the colloidal amorphous aggregate contained in the optical filter according to the embodiment of the present invention can be characterized by the coefficient of variation of the average distance between the centers of gravity of the fine particles 14.
  • a small coefficient of variation indicates a large long-range order, and an angle-dependent reflection color due to Bragg reflection appears.
  • the coefficient of variation of the average distance between the centers of gravity of the fine particles 14 is preferably 10% or more, preferably 45% or less, more preferably 15% or more, and 40. % Or less, more preferably 20% or more, further preferably 40% or less, even more preferably 25% or more, and even more preferably 35% or less. ..
  • FIG. 2 shows a cross-sectional TEM image of the optical filter 10A of Example 1
  • FIG. 3 shows a cross-sectional TEM image of the optical filter 20A of Comparative Example 1.
  • the white circles in the TEM image in the figure are silica fine particles, and the black circles are traces of the silica fine particles falling off. In the image processing, the black circle was also treated as silica fine particles.
  • the silica fine particles are substantially uniformly dispersed, whereas in the cross section of the optical filter 20A shown in FIG. 3, the silica fine particles are partially aggregated. I understand. This is because, in the production of the optical filter 20A of Comparative Example 1, in addition to the acrylic monomer A, polyethylene glycol as a coagulant was added in an amount of 0.1% by mass based on the acrylic monomer A.
  • FIG. 4 shows a histogram of the distance between the centers of gravity of the particles obtained from the cross-sectional TEM image of the optical filter 10A of Example 1
  • FIG. 5 shows the particles obtained from the cross-sectional TEM image of the optical filter 20A of Comparative Example 1.
  • the histogram of the distance between the centers of gravity of is shown.
  • Table 1 shows the average distance between the centers of gravity La (nm), the standard deviation Ld (nm), and the coefficient of variation (CV value of the distance) obtained from these.
  • the CV value of the distance may be simply referred to as the CV value.
  • the distribution of silica fine particles in the optical filter 10A of Example 1 is more uniform than the distribution of silica fine particles in the optical filter 20A of Comparative Example 1.
  • the Ld of the optical filter 10A of Example 1 is 84 nm and the CV value is 27.8%, whereas the Ld of the optical filter 20A of Comparative Example 1 is 168 nm and the CV value is 49.3%, which are large values. There is.
  • FIG. 6 is an example of a camera image acquired using a motion capture device, and is a camera image acquired without using a filter.
  • FIG. 7 is an example of a camera image acquired using the motion capture device via the optical filter 10A of Example 1
  • FIG. 8 is an example of the camera image acquired using the motion capture device via the optical filter 20A of Comparative Example 1. This is an example of a camera image.
  • Leap Motion Controller (registered trademark) was used as a motion capture device, and a camera image of a hand located at a distance of about 20 cm was acquired.
  • This device uses infrared rays having a wavelength of 850 nm.
  • FIGS. 6, 7 and 8 when the optical filter 10A of the embodiment is used (FIG. 7), an image as clear as the case where the filter is not used (FIG. 6) is obtained.
  • the optical filter 20A of the comparative example FIG. 9
  • a clear image could not be obtained and the hand could not be recognized.
  • FIG. 9 shows an optical image of the optical filter 10A of Example 1
  • FIG. 10 shows an optical image of the optical filter 20A of Comparative Example 1.
  • the optical filter 10A of Example 1 and the optical filter 20A of Comparative Example 1 were arranged as a film of about 5 cm ⁇ about 10 cm so as to cover the front surface of the device. As can be seen from FIGS. 9 and 10, both films are white. Therefore, the optical filter 10A of Example 1 is suitably used as an infrared transmission filter and exhibits white color, so that it has high designability. Of course, colors and patterns can be imparted to the surface of the optical filter 10A of Example 1 by printing or the like. The advantages of the optical filter according to the embodiment of the present invention will be described in detail below.
  • optical characteristics of the optical filter can be evaluated as follows.
  • the optical filter 10 when incident light I 0 is incident on the optical filter 10, a part of the incident light I 0 is transmitted through the optical filter 10 (transmitted light I i ), and a part is interfacially reflected (interfacial reflected light). Ri ), the other part is scattered.
  • the scattered light includes a forward scattered light S f emitted in front of the optical filter 10 and a back scattered light S b emitted in the rear.
  • the backscattered light S b causes the optical filter 10 to exhibit white color.
  • a part of the incident light I 0 is absorbed by the optical filter 10, but the resin and silica fine particles used here have a small absorption rate for light of 400 nm to 2000 nm.
  • FIG. 12 is a schematic diagram showing a method for measuring the diffuse transmittance of the optical filter
  • FIG. 13 is a schematic diagram showing a method for measuring the linear transmittance of the optical filter.
  • the diffuse transmittance as shown in FIG. 12, a sample (optical filter 10) is placed in the opening of the integrating sphere 32, and the intensity of the incident light I 0 is the total intensity of the transmitted light I i and the forward scattered light S f. It was calculated as a percentage of.
  • the linear transmittance was measured by arranging the sample (optical filter 10) at a position 20 cm away from the opening of the integrating sphere 32. The intensity of the transmitted light I i obtained at this time was determined as a percentage of the intensity of the incident light I 0.
  • the diameter of the opening is 1.8 cm, which corresponds to 0.025 sr in solid angle.
  • an ultraviolet-visible near-infrared spectrophotometer UH4150 manufactured by Hitachi High-Tech Science Corporation was used. Table 1 shows the values of the linear transmittance with respect to infrared rays of 760 nm, 950 nm and 1550 nm. Further, the linear transmittance spectrum of each sample is shown in FIG. 14 and the like. The presence or absence of Bragg reflection can be determined by the presence or absence of dimples (local decrease in transmittance) in the linear transmittance spectrum. The presence or absence of Bragg reflection is also shown in Table 1.
  • the whiteness of the backscattered light S b was measured using a spectrophotometer CM-2600-D (manufactured by Konica Minolta Japan Co., Ltd.).
  • the values of the x and y coordinates on the CIE1931 chromaticity diagram were obtained together with the L * value of the SCE (specular reflection removal) method.
  • FIG. 14 shows the linear transmittance spectrum of the optical filter 10A of Example 1
  • FIG. 15 shows the absorptance spectrum obtained as the difference between the diffuse transmittance spectrum and the diffuse reflectance spectrum of the optical filter 10A of Example 1.
  • the optical filter 10A of Example 1 has a high infrared transmittance. In particular, it has a high transmittance for infrared rays having a wavelength of 900 nm or more.
  • the absorption of infrared rays of 1200 nm or more seen in the absorptivity spectrum of FIG. 15 is due to the characteristic absorption of the resin (organic compound) and is slight.
  • FIG. 16 shows the linear transmittance spectrum of the optical filter 20A of Comparative Example 1.
  • the transmittance of the optical filter 20A of Comparative Example 1 is low. Comparing Example 1 and Comparative Example 1 with reference to Table 1, the values of the L * indicating whiteness and the x and y coordinates on the CIE chromaticity diagram are significantly different between Example 1 and Comparative Example 1.
  • the linear transmittance of infrared rays is very different. This is considered to be due to the fact that the CV value in Comparative Example 1 was 49.3%, which was larger than that in Example 1 at 27.8%, and that the silica fine particles were aggregated. That is, it can be seen that the CV value can be an index for improving the linear transmittance of infrared rays.
  • FIG. 17 is a diagram showing a cross-sectional TEM image of the optical filter of Example 2
  • FIG. 18 is a histogram of the distance between the centers of gravity of the particles obtained from the cross-sectional TEM image of the optical filter of Example 2.
  • FIG. 19 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 2.
  • silica fine particles having an average particle size of 221 nm were used, whereas in Example 2, silica fine particles having an average particle size of 296 nm were used.
  • the CV value of Example 2 is almost the same as the CV value of Example 1, but the infrared linear transmittance is lower in Example 2. That is, it can be seen that the infrared linear transmittance can be controlled by controlling the average particle size of the silica fine particles.
  • FIG. 35 is a diagram showing a cross-sectional TEM image of the optical filter of Comparative Example 3
  • FIG. 36 is a histogram of the distance between the centers of gravity of the particles obtained from the cross-sectional TEM image of the optical filter of Comparative Example 3.
  • FIG. 37 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Comparative Example 3. Comparative Example 3 is different from Examples 1 and 2 in that silica fine particles having an average particle size of 110 nm are used. As is clear from the results of FIG.
  • Comparative Example 3 has an infrared linear transmittance of 87 at 760 nm. %, And the linear transmittance of visible light is also high. Further, the whiteness of Comparative Example 3 is inferior to that of Examples 1 and 2. From this, it can be seen that the infrared linear transmittance and the whiteness can be controlled by controlling the average particle size of the silica fine particles. From the comparison between Example 1, Example 2 and Comparative Example 3, it is considered that it is preferable to contain silica fine particles having an average particle size of 221 nm or more.
  • FIG. 20 is a linear transmittance spectrum of the optical filters of Examples 3 and 4.
  • the optical filters of Examples 3 and 4 have volume fractions of silica fine particles of 34% and 38%, respectively, which are larger than 29% of Example 1.
  • the linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 9 shown in FIG. 25 is referred to.
  • the optical filter of Example 9 has a low volume fraction of silica fine particles of 6%.
  • the infrared linear transmittance at 950 nm is slightly reduced, and the value of L * is greatly reduced. It is considered that this is due to the decrease in the intensity of the scattered light due to the decrease in the volume fraction of the silica fine particles.
  • FIG. 21 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 5.
  • the thickness of the optical filter of Example 1 is 100 ⁇ m, whereas the thickness of the optical filter of Example 5 is 500 ⁇ m. Comparing Example 5 with Example 1, the transmittance of the infrared linear transmittance is reduced, but the whiteness is improved. By increasing the thickness of the optical filter, the transmittance of visible light can also be reduced.
  • FIG. 22 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 6.
  • Example 6 uses a monomer different from Examples 1 to 5 and has a polymer having a refractive index of 1.52 as a matrix.
  • the refractive index of the matrix of Examples 1 to 5 was 1.49, and the difference from the refractive index of 1.43 of the silica fine particles was 0.06, whereas in Example 6, the difference in refractive index was 0. It is as large as .09.
  • the infrared linear transmittance and the value of L * at any of 760 nm, 950 nm and 1550 nm are also improved.
  • FIG. 23 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 7.
  • the optical filter of Example 6 is formed on a glass substrate, whereas the optical filter of Example 7 is different in that it is formed on a PET film. Comparing FIG. 23 and FIG. 22 and the results in Table 1, it is considered that the influence of the base material is small.
  • FIG. 24 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 8.
  • the thickness of the optical filter of Example 7 is 100 ⁇ m, whereas the thickness of the optical filter of Example 8 is 500 ⁇ m. Comparing Example 8 with Example 7, the transmittance of the infrared linear transmittance is reduced, but L * is improved. By increasing the thickness of the optical filter, the transmittance of visible light can also be reduced.
  • FIG. 26 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 10
  • FIG. 27 is a diagram showing a cross-sectional TEM image of the optical filter of Example 10.
  • FIG. 28 is a histogram of the distance between the centers of gravity of the particles obtained from the cross-sectional TEM image of the optical filter of Example 10.
  • Example 10 has a polymer having a refractive index of 1.54 as a matrix, and the difference in refractive index from the silica fine particles is 0.11, which is further larger than the difference in refractive index in Example 6.
  • the infrared linear transmittance is lowered and the value of L * is improved.
  • FIG. 29 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 11.
  • Example 11 has a polymer having a refractive index of 1.46 as a matrix.
  • the difference in refractive index is as small as 0.03.
  • the infrared linear transmittance at 1550 nm is decreased, the transmittance in the visible light region is increased, and the whiteness is decreased.
  • FIG. 30 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 12.
  • the optical filter of Example 12 contains fine particles having an average particle size of 110 nm and fine particles having an average particle size of 221 nm as silica fine particles.
  • the volume ratio (110 nm: 221 nm) is 1: 1.
  • both the infrared linear transmittance and the whiteness are lower (see Table 1). This is considered to be the effect of mixing silica fine particles having an average particle size of 110 nm (see Comparative Example 3 and FIG. 37).
  • FIG. 31 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Example 13.
  • the optical filter of Example 13 is different from the optical filter of Example 6 in that silica fine particles having an average particle size of 181 nm are used. Comparing FIG. 31 with FIG. 22, in Example 13, the wavelength at which the linear transmittance increases is shifted to the shorter wavelength side than in Example 6. That is, the linear transmittance of the optical filter of Example 13 in the visible light region is slightly higher than that of Example 6, and as a result, the value of L * and the whiteness are slightly lower than those of Example 6, but the linear transmittance of infrared rays.
  • silica fine particles having an average particle size of 181 nm are preferably used. From the viewpoint of whiteness, it is preferable to contain silica fine particles having an average particle size of 200 nm or more, and it is more preferable to contain silica fine particles having an average particle size of 221 nm or more.
  • FIG. 32 is a diagram showing a cross-sectional TEM image of the optical filter of Comparative Example 2.
  • FIG. 33 is a histogram of the distance between the centers of gravity of the particles obtained from the cross-sectional TEM image of the optical filter of Comparative Example 2.
  • FIG. 34 is a linear transmittance spectrum of the optical filter of Comparative Example 2, and shows the results of an incident angle of 0 ° and an incident angle of 60 °. The incident angle of 0 ° is the normal direction of the surface of the optical filter.
  • Comparative Example 2 has a matrix having a refractive index of 1.48 formed by using the acrylic monomer E.
  • the refractive index of the matrix is only 0.01 different from that of Example 1.
  • the angle of incidence of the linear transmittance depends on the angle of the surface of the sample with respect to the incident light using the automatic angle variable system attached to the ultraviolet-visible near-infrared spectrophotometer UH4150 (manufactured by Hitachi High-Tech Science) (FIG. 11).
  • the angle of the optical filter 10 inside) was changed for measurement.
  • the aggregate of silica fine particles in the optical filter of Comparative Example 2 has a long-range order.
  • the CV value in Table 1 is as small as 9.4%.
  • steep dimples local decrease in transmittance
  • This steep dimple is due to Bragg reflection, and the aggregate of silica fine particles in the optical filter of Comparative Example 2 is not a colloidal amorphous aggregate but has a colloidal crystal having a long-range order or a structure close to a colloidal crystal. ing.
  • the CV value is preferably 10% or more. Further, from the results of Comparative Example 1 described above, it is considered that the CV value is preferably 49% or less in order to suppress the aggregation of silica fine particles.
  • the linear transmittance with respect to light of at least a part of wavelengths in the wavelength range of 760 nm or more and 2000 nm or less is 60% or more.
  • the x and y coordinates on the white CIE1931 chromaticity diagram when the standard light is used as the D65 light source are within the range of 0.25 ⁇ x ⁇ 0.40 and 0.25 ⁇ y ⁇ 0.40. In addition, the change in color depending on the viewing angle is also suppressed.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention adjusts the refractive index of the fine particles and the matrix, the average particle size of the fine particles, the volume fraction, the distribution (degree of aperiodicity) and the thickness.
  • desired optical characteristics for example, infrared linear transmittance and whiteness
  • optical filters having different optical characteristics can be stacked and used. Further, depending on the application, for example, it can be used in combination with a filter that absorbs infrared rays. As can be seen from FIG. 9, even when used in combination with a filter exhibiting black or other colors, the optical filter according to the embodiment of the present invention exhibits white color, so that the design can be enhanced.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention is also characterized by the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum.
  • the optical filter of Comparative Example A is a white IR window (https://www.tokaioptical.com/jp/product14/) manufactured by Tokai Optical Co., Ltd., which is commercially available as an infrared transmission filter.
  • the optical filter of Comparative Example A corresponds to the optical article described in Patent Document 2, is composed of a dielectric multilayer film and a PET film, and has a satin-like surface.
  • the optical filter of Comparative Example A had a white color and a thickness of 120 ⁇ m.
  • FIG. 38 is a diagram showing the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filter 10A of Example 1 and the optical filter of Comparative Example A.
  • 39 and 40 are graphs in which each graph is standardized with the maximum transmittance
  • FIG. 39 is a diagram showing the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filter 10A of Example 1.
  • FIG. 40 is a diagram showing the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filter of Comparative Example A.
  • the linear transmittance of the optical filter 10A of Example 1 is larger than that of the optical filter of Comparative Example A. Further, the decrease in the infrared linear transmittance due to the increase in the incident angle is smaller in the optical filter 10A of Example 1 than in the optical filter of Comparative Example A.
  • the infrared linear transmittance of 950 nm is 88% when the incident angle is 0 °, while it is 80% when the incident angle is 60 °, and 90% of the transmittance when the incident angle is 0 °. That is all.
  • the linear transmittance for infrared rays at 950 nm is 30% when the incident angle is 0 °, whereas it is 9% when the incident angle is 60 °, and the incident angle is 0 °.
  • the linear transmittance at the time of is reduced to 30%.
  • the infrared linear transmittance of the optical filter according to the embodiment of the present invention has a small dependence on the incident angle.
  • the linear transmittance when the incident angle is 60 ° with respect to infrared rays of 950 nm has an incident angle of 0 °. At that time, 80% or more, further 85% or more, and further 90% or more of the linear transmittance can be obtained.
  • the curved portion where the linear transmittance monotonically increases from visible light to infrared light shifts to the long wavelength side as the incident angle increases (about). 50 nm).
  • This characteristic incident angle dependence is also seen in the incident angle dependence of the linear transmittance spectrum of the optical filters of Examples 2, 6 and 3 shown in FIGS. 41, 42 and 43. That is, the characteristic incident angle dependence that the curved portion where the linear transmittance monotonically increases from visible light to infrared light shifts to the longer wavelength side as the incident angle increases is that the silica fine particles contained in the optical film are colloidal amorphous. It is thought that this is due to the fact that it constitutes an aggregate.
  • the curved portion where the linear transmittance monotonically increases from visible light to infrared light shifts to the short wavelength side as the incident angle increases (about). 100 nm). That is, the tendency is exactly the opposite.
  • the curved portion where the linear transmittance monotonically increases from visible light to infrared light shifts to the short wavelength side as the incident angle increases. There is a risk that the light on the side will be transmitted (light leakage).
  • the transmittance for light on the shorter wavelength side decreases as the incident angle increases, so that the optical filter is similar to the optical filter of Comparative Example A. There is no risk of light leakage.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention can exhibit white color as described above, it has rich colors by printing characters, pictures, and photographs on the surface of the optical filter using an infrared transmissive ink, for example.
  • An optical filter rich in design can be obtained. That is, the optical filter according to the embodiment of the present invention may have an optical filter layer containing a matrix and fine particles, and a print layer formed of infrared transmissive ink arranged on the optical filter layer.
  • the print layer may be formed directly on the surface of the optical filter layer, or a print layer formed on the surface of a transparent film may be arranged on the optical filter layer.
  • the infrared transmissive ink a known infrared transmissive ink may be selected according to the application or the wavelength of infrared rays to be transmitted.
  • the optical filter according to the embodiment can be a flat film as illustrated, but is not limited to this and can take various forms.
  • the optical filter according to the embodiment may have a three-dimensional shape.
  • it can be in the form of a film having a three-dimensional shape.
  • an optical filter may be formed on the surface of an object having a three-dimensional shape by using a coating method.
  • the surface of an object may have any shape, such as a part or all of a spherical surface, a curved surface of an arbitrary shape, or a part or all of the surface of a polyhedron. However, it is preferable that the surface of the object does not cause light scattering.
  • FIGS. 44A and 44B an optical filter formed in a hemispherical shape can be obtained.
  • FIG. 44A is a diagram showing an optical image (visible light) showing an optical filter of the hemispherical shape of the embodiment
  • FIG. 44B is an infrared ray of the optical filter of the hemispherical embodiment shown in FIG. 44A. It is a figure which shows the image.
  • the images shown in FIGS. 44A and 44B were taken using a full high-definition digital movie camera DVSA10FHDIR manufactured by Kenko Tokina Corporation.
  • FIG. 44A is an image taken in the visible light mode under white LED illumination
  • FIG. 44B is an image taken only by the infrared LED light of the camera in a dark room.
  • the optical filters shown in FIGS. 44A and 44B were formed by applying the same material as in Example 6 to the surface of a hemisphere made of acrylic resin (PMMA) having a radius of 2 cm and a thickness of 1 mm by dip coating. , An optical filter having a thickness of 300 ⁇ m. As shown in FIG. 44A, a hemispherical white filter was obtained. Further, as shown in FIG. 44B, this filter transmits infrared rays.
  • PMMA acrylic resin
  • An optical filter having a three-dimensional shape has a base material of FIGS. 44A and 44B and a film formed on the base material, and the film has desired optical characteristics, but the embodiment of the present invention.
  • the optical filter having a three-dimensional shape according to the above is not limited to this.
  • the three-dimensional shape may include a three-dimensional curved surface.
  • the three-dimensional curved surface includes, for example, a spherical surface or an ellipsoidal surface. Further, the three-dimensional shape may include at least a part of the three-dimensional shape.
  • the three-dimensional shape includes various shapes such as a sphere, an ellipsoid, a polyhedron, a cone and a cylinder.
  • optical components that may include an optical filter in at least a part include a three-dimensional lidar, a car emblem with a built-in camera, a robot housing, a game controller or switch equipped with a motion capture sensor, and a camera housing. Can be done.
  • the optical filter can also be used as at least a part of the cover of the optical component.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention diffuses and reflects visible light as described above, and thus exhibits white color.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention can be characterized by backscattering characteristics.
  • backscattering characteristics can be evaluated by a bidirectional reflectance distribution function (hereinafter, abbreviated as "BRDF").
  • BRDF quantifies the scattering characteristics on a substance surface as a constant unique to the surface, and is the ratio of (micro) illuminance to brightness in a specific incident direction and reflection direction, and is steradian -1 (sr -1). ) Dimension.
  • BRDF was measured in various incident and reflection directions for the samples (flat film) of Example 6 and Comparative Example A described above.
  • FIG. 45 schematically shows the measurement optical system of BRDF.
  • a goniometer automatic measuring device GP-4L manufactured by Nikka Densoku Co., Ltd. was used for the BRDF measurement.
  • a xenon lamp L11033 (150W) manufactured by Hamamatsu Photonics Co., Ltd. is used as the light source LS, and the sample is irradiated with light transmitted through a 550 nm bandpass filter (TS OD4 10NM bandpass filter 550NM 12.5MM) manufactured by Edmond Optics. bottom.
  • the diameter of the irradiated light beam was 3 mm.
  • a photomultiplier tube (R13456) manufactured by Hamamatsu Photonics Co., Ltd. was used as the detector DE, and the set voltage was 430 V.
  • the incident angle (extreme angle in the incident direction of the incident light) ⁇ i from the light source LS to the sample surface is 0 °, 30 °, 60 °, and the reflection direction is the polar angle with the azimuth ⁇ r from the incident surface being 20 °.
  • the BRDF with ⁇ r in the range of ⁇ 70 ° to 70 ° was measured.
  • a BRDF (sr -1 ) having an incident angle ⁇ i of 0 °, an azimuth angle of 20 ° in the reflection direction, and a polar angle ⁇ r of ⁇ 70 ° is expressed as BRDF (0 °; 20 °, ⁇ 70 °).
  • Example 6 The measurement results of Example 6 are shown in Tables 2 and 3, and the measurement results of Comparative Example A are shown in Tables 4 and 5.
  • Tables 2, 3, and 4 and 5 show the BRDF measurements and the maximum, minimum, average, and standard deviation.
  • the BRDF of the optical filter sample of Example 6 is shown in FIG. 46
  • the BRDF of the optical filter sample of Comparative Example A is shown in FIG. 47, respectively.
  • BRDF (0 °) having an incident angle ⁇ i of 0 °
  • BRDF having an incident angle ⁇ i of 60 ° ( The difference from 60 °) was used.
  • the BRDF value of Example 6 has a small dependence on the polar angle ⁇ r when the incident angle ⁇ i is 0 °, 30 °, and 60 °. As shown in Tables 2 and 3, the maximum value of BRDF (30 °) with an incident angle ⁇ i of 30 ° is 0.150, the minimum value is 0.123, the average value is 0.14, and the standard deviation is 0. It is 005237. The maximum value of BRDF (60 °) with an incident angle ⁇ i of 60 ° is 0.148, the minimum value is 0.120, the average value is 0.13, and the standard deviation is 0.009855.
  • BRDF (30 °) and BRDF (60 °) are small at any polar angle ⁇ r. It can also be seen from the fact that D_30 °, which is the difference from BRDF (0 °) shown in FIG. 48, is 0.13 or less, and D_60 ° is 0.25 or less, which are small values.
  • the BRDF value of Comparative Example A has a polar angle ⁇ r dependence at which the incident angles ⁇ i are 0 °, 30 °, and 60 °. big.
  • the maximum value of BRDF (30 °) with an incident angle ⁇ i of 30 ° is 0.793
  • the minimum value is 0.054
  • the average value is 0.34
  • the standard deviation is 0. It is 252327.
  • the maximum value of BRDF (60 °) with an incident angle ⁇ i of 60 ° is 0.789
  • the minimum value is 0.042
  • the average value is 0.28
  • the standard deviation is 0.269342.
  • the difference between the BRDF (30 °) and the BRDF (60 °) is particularly large in the region where the polar angle ⁇ r is negative. It can also be seen from the fact that the maximum value of D_30 °, which is the difference from the BRDF (0 °) shown in FIG. 48, is 1.91, and the maximum value of D_60 ° is 3.87, which are large values.
  • D_30 ° and D_60 ° can be used as parameters indicating that the backscattering characteristics of the optical filter according to the embodiment of the present invention are highly isotropic.
  • D_30 ° (-30 °) and D_60 ° (-30 °) when the polar angle ⁇ r is ⁇ 30 ° are 0.03 and 0.16, respectively.
  • D_30 ° (-60 °) and D_60 ° (-60 °) when the polar angle ⁇ r is ⁇ 60 ° are 0.01 and 0.09, respectively.
  • D_30 ° (-30 °) and D_60 ° (-30 °) when the polar angle ⁇ r is ⁇ 30 ° are 1.17 and 0.14, respectively. .. Further, D_30 ° (-60 °) and D_60 ° (-60 °) when the polar angle ⁇ r is ⁇ 60 ° are 1.61 and 3.55, respectively.
  • / BRDF (0 °; 20 °, -60 °) is 0.50 or less and
  • / BRDF (0 °; 20 °, -60 °) should be 0.50 or less.
  • / BRDF (0 °; 20 °, -60 °) is 0.25 or less.
  • the optical film of Example 6 has a BRDF (0 °; 20 °, -60 °) -BRDF (30 °; 20 °, -60 °)
  • / BRDF (0 °; 20 °, -60 °) is 0. It has a high isotropic property of 2 or less.
  • the backward scattering characteristics of the optical film of Example 6 have been described for light having a wavelength of 550 nm.
  • the above relationship can be satisfied not only for light at 550 nm, but also for light having at least a part of the wavelength within the visible light wavelength range. That is, at least one in the wavelength range of 760 nm or more and 2000 nm or less by adjusting any one of the refractive index of the fine particles and the matrix, the average particle size of the fine particles, the body integration rate, the distribution (degree of aperiodicity) and the thickness.
  • the linear transmittance with respect to the light having a wavelength of the part is set to 60% or more, and the isotropic property with high backscattering characteristics can be obtained with respect to the light having at least a part of the wavelengths within the wavelength range of visible light.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention can have desired infrared transmittance characteristics even when processed into various three-dimensional shapes.
  • the three-dimensional shape of the optical filter can be appropriately designed according to the shape of the infrared light receiving surface and the relative positional relationship.
  • the optical filter according to the embodiment of the present invention is not limited to the illustrated sensing device (for example, infrared camera) and communication device, and is used for various purposes.
  • it is suitably used for a solar cell, a heater using infrared rays, and an optical power supply device using infrared rays.
  • optical filter according to the embodiment of the present invention can be used as an infrared transmission filter used in, for example, sensor technology or communication technology.

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Abstract

光学フィルタは、後方散乱特性を有し、７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の波長範囲内の少なくとも一部の波長の光に対する直線透過率が６０％以上であり、入射光の入射方向の極角が０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が３０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が６０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値であるＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）とすると、入射光が可視光の波長範囲内の少なくとも一部の波長を有する光であるとき、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下である。

Description

光学フィルタ、その製造方法および光学モジュール
　本発明は、光学フィルタ、その製造方法および光学モジュールに関し、例えば、赤外線の直進透過率が高く、可視光の拡散反射率が高い赤外線フィルタとして好適に用いられる光学フィルタ、その製造方法およびそのような光学フィルタをデバイスが有する赤外線受光部の前面に備える光学モジュールに関する。上記デバイスは例えばセンシングデバイスまたは通信デバイスである。
　赤外線を利用した、センサ技術または通信技術が開発・実用化されている。赤外線を受光する素子は、可視光にも感度を有するので、赤外線だけを選択的に透過させる赤外線透過フィルタが用いられている。赤外線の定義は、技術分野によって異なる。本明細書において、「赤外線」は、センシングまたは通信に用いられる波長が７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の範囲内の光（電磁波）を少なくとも含むものとする。また、「可視光」は４００ｎｍ以上７６０ｎｍ未満の範囲内の光をいう。
　従来の赤外線透過フィルタは、可視光を吸収するために黒色を呈するものが主流で、そのため、意匠性が低いという問題があった。
　そこで、例えば特許文献１には、赤外線を透過させ、かつ可視光を反射および透過させる誘電体多層膜と、梨地状に加工された表面を有する赤外線受発光部が開示されている。また、特許文献２には、透明基材の表面を粗面化することにより形成された微細な凹凸形状によるレイリー散乱を利用して可視光を散乱させて、白色を呈させるとともに、赤外線の透過率を１２％以上とした赤外線通信用光学物品が開示されている。
特開２００６－１６５４９３号公報（特許第４１２２０１０号公報） 特開２０１３－６５０５２号公報（特許第５７５６９６２号公報） 特開２０１０－０５８０９１号公報（特許第５２７４１６４号公報）
　特許文献１に記載の赤外線受発光部は、誘電体多層膜によって反射された可視光のみで外観を彩色するものであり、見る角度によって色が変化する。また、誘電体多層膜は高価であるという問題もある。
　特許文献１に記載されているような、誘電体多層膜を利用した赤外線通信用フィルムは、本発明者の検討によると、このフィルムを介して赤外線カメラで手の動きを撮影すると、手の輪郭がぼやけてしまい、モーションキャプチャー用途に用いることは難しいことが分かった。これは、赤外線の直線透過率が低いためと考えられる。
　一方、例えば、特許文献３および非特許文献１には、アモルファス構造を有する微粒子分散体またはコロイドアモルファス集合体が、角度依存性の少ない鮮やかな構造色（例えば青）を発現できることが開示されている。特許文献３には、アモルファス構造を有する微粒子分散体は特定の波長の光を反射する用途（例えば色材や赤外線反射膜等）に特に有用であると記載されている。
　本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、赤外線の直線透過率の高い赤外線透過フィルタを実現することが可能で、等方的な後方散乱特性を有する光学フィルタ、その製造方法および光学モジュールを提供することを目的とする。
　本発明の実施形態によると以下の項目に示す解決手段が提供される。
［項目１］
　後方散乱特性を有する光学フィルタであって、
　７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の波長範囲内の少なくとも一部の波長の光に対する直線透過率が６０％以上であり、
　入射光の入射方向の極角が０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が３０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が６０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値であるＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）とすると、前記入射光が可視光の波長範囲内の少なくとも一部の波長を有する光であるとき、
　｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下である、光学フィルタ。
［項目２］
　｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．５０以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．５０以下である、項目１に記載の光学フィルタ。
［項目３］
　｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．２５以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．２５以下である、項目１に記載の光学フィルタ。
［項目４］
　ＳＣＥ方式で測定したＬ＊が２０以上である、項目１から３のいずれか1項に記載の光学フィルタ。
［項目５］
　３次元形状を有する、項目１から４のいずれか1項に記載の光学フィルタ。前記３次元形状は、例えば、3次元曲面を含む。
［項目６］
　前記３次元形状は、立体形状の少なくとも一部を含む、項目１から５のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目７］
　前記立体形状は、球体、楕円体、多面体、円錐および円柱のいずれかの形状を含む、項目６に記載の光学フィルタ。
［項目８］
　基材と、前記基材の上に形成されたフィルムとを有し、
　前記フィルムの７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の波長範囲内の少なくとも一部の波長の光に対する直線透過率が６０％以上であり、
　入射光の入射方向の極角が０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が３０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が６０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値であるＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）とすると、前記入射光が可視光の波長範囲内の少なくとも一部の波長を有する光であるとき、
　｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下である、項目１から７のいずれかに記載の光学フィルタ。
［項目９］
　前記基材は、プラスチックまたはガラスで形成されている、項目８に記載の光学フィルタ。
［項目１０］
　前記基材の表面は、コロナ処理、プラズマ処理、ＵＶオゾン処理およびプライマー処理のいずれかがなされている、項目８または９に記載の光学フィルタ。
［項目１１］
　波長が９５０ｎｍの光に対する直線透過率が６０％以上である、項目１から１０のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目１２］
　波長が１５５０ｎｍの光に対する直線透過率が６０％以上である、項目１から１１のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目１３］
　標準光をＤ６５光源としたときに呈する色のＣＩＥ１９３１色度図上のｘ，ｙ座標は、０．２５≦ｘ≦０．４０、０．２５≦ｙ≦０．４０である、項目１から１２のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目１４］
　前記フィルタの可視光の波長領域の透過率曲線は、長波長側から短波長側にかけて直線透過率が単調に減少する曲線部分を有し、前記曲線部分は入射角の増大につれて長波長側にシフトする、項目１から１３のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目１５］
　波長が９５０ｎｍの光に対する入射角が６０°のときの直線透過率は、入射角が０°のときの直線透過率の８０％以上である、項目１から１４のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目１６］
　赤外線透過インクで形成されたプリント層をさらに有する項目１から１５のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目１７］
　マトリクスと、前記マトリクス中に分散された微粒子とを含む、項目１から１６のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目１８］
　前記微粒子は、平均粒径が８０ｎｍ以上３００ｎｍ以下の範囲内にある、単分散の第１微粒子を含む、項目１７に記載の光学フィルタ。
［項目１９］
　前記第１微粒子の平均粒径は１５０ｎｍ以上である、項目１８に記載の光学フィルタ。
［項目２０］
　前記フィルタの面方向に対して垂直な断面における前記微粒子の重心間距離の平均値が２００ｎｍ以上である、項目１７から１９のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目２１］
　前記フィルタの面方向に対して垂直な断面における前記微粒子の重心間距離の平均値の変動係数が１０％以上である、項目１７から２０のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目２２］
　前記フィルタの面方向に対して垂直な断面における前記微粒子の重心間距離の平均値の変動係数が４５％以下である、項目１７から２１のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目２３］
　前記マトリクスは、架橋構造を有する樹脂を含む、項目１７から２２のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目２４］
　前記微粒子は、少なくともコロイドアモルファス集合体を構成している、項目１７から２３のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目２５］
　前記微粒子の体積分率は６％以上６０％以下である、項目１７から２４のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目２６］
　波長が５４６ｎｍの光に対する前記マトリクスの屈折率をｎＭ、前記微粒子の屈折率をｎＰとするとき、｜ｎＭ－ｎＰ｜が０．０３以上０．６以下である、項目１７から２５のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目２７］
　前記マトリクスは樹脂で形成されており、前記微粒子は無機材料で形成されている、項目１７から２６のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
［項目２８］
　項目２７に記載の光学フィルタを製造する方法であって、
　硬化性樹脂に前記微粒子を分散・混合させた硬化性樹脂組成物を用意する工程と、
　前記硬化性樹脂組成物を基材の表面に付与する工程と、
　前記表面に付与された前記硬化性樹脂組成物に含まれる前記硬化性樹脂を硬化させる工程と
を包含する、製造方法。
［項目２９］
　前記付与工程は、塗布法で行われる、項目２８に記載の製造方法。
［項目３０］
　前記付与工程は、ディップコーティング法で行われる、項目２９に記載の製造方法。
［項目３１］
　赤外線受光部を備えたデバイスと、
　前記デバイスの前記赤外線受光部の前面に配置された、項目１から２７のいずれか１項に記載の光学フィルタと
を有する、光学モジュール。
［項目３２］
　前記デバイスは、センシングデバイス、通信デバイス、太陽電池、ヒーター、または給電デバイスである、項目３１に記載の光学モジュール。
　本発明の実施形態によると、赤外線の直線透過率の高い赤外線透過フィルタを実現することが可能で、等方的な後方散乱特性を有する光学フィルタ、その製造方法および光学モジュールが提供される。
本発明の実施形態による光学フィルタ１０の模式的な断面図である。 実施例１の光学フィルタ１０Ａの断面ＴＥＭ像を示す図である。 比較例１の光学フィルタ２０Ａの断面ＴＥＭ像を示す図である。 実施例１の光学フィルタ１０Ａの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。 比較例１の光学フィルタ２０Ａの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。 モーションキャプチャデバイスを用いて取得したカメラ画像の例である。 実施例１の光学フィルタ１０Ａを介してモーションキャプチャデバイスを用いて取得したカメラ画像の例である。 比較例１の光学フィルタ２０Ａを介してモーションキャプチャデバイスを用いて取得したカメラ画像の例である。 実施例１の光学フィルタ１０Ａの光学像を示す図である。 比較例１の光学フィルタ２０Ａの光学像を示す図である。 本発明の実施形態による光学フィルタ１０の光学特性を説明するための模式図である。 光学フィルタの拡散透過率の測定方法を示す模式図である。 光学フィルタの直線透過率の測定方法を示す模式図である。 実施例１の光学フィルタ１０Ａの直線透過率スペクトルである。 実施例１の光学フィルタ１０Ａの拡散透過率スペクトルと拡散反射率スペクトルとの差として求められた吸収率スペクトルを示す図である。 比較例１の光学フィルタ２０Ａの直線透過率スペクトルである。 実施例２の光学フィルタの断面ＴＥＭ像を示す図である。 実施例２の光学フィルタの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。 実施例２の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例３および４の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例５の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例６の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例７の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例８の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例９の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例１０の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例１０の光学フィルタの断面ＴＥＭ像を示す図である。 実施例１０の光学フィルタの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。 実施例１１の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例１２の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 実施例１３の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。 比較例２の光学フィルタの断面ＴＥＭ像を示す図である。 比較例２の光学フィルタの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。 比較例２の光学フィルタの直線透過率スペクトルである（入射角０°、６０°）。 比較例３の光学フィルタの断面ＴＥＭ像を示す図である。 比較例３の光学フィルタの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。 比較例３の光学フィルタの直線透過率スペクトルである 実施例１の光学フィルタ１０Ａおよび比較例Ａの光学フィルタの直線透過率スペクトルの入射角依存性を示す図である。 実施例１の光学フィルタ１０Ａの直線透過率スペクトルの入射角依存性を示す図である。 比較例Ａの光学フィルタの直線透過率スペクトルの入射角依存性を示す図である。 実施例２の光学フィルタの直線透過率スペクトルの入射角依存性を示す図である。 実施例６の光学フィルタの直線透過率スペクトルの入射角依存性を示す図である。 比較例３の光学フィルタの直線透過率スペクトルの入射角依存性を示す図である。 半球面状に形成された実施例の光学フィルタを示す光学画像（可視光）を示す図である。 図４４Ａに示した半球面状の実施例の光学フィルタの赤外線画像を示す図である。 ＢＲＤＦの測定光学系を模式的に示す図である。 実施例６の光学フィルタの試料のＢＲＤＦを示すグラフである。 比較例Ａの光学フィルタの試料のＢＲＤＦを示すグラフである。 実施例６の光学フィルタの試料のＢＲＤＦ（０°）との差を示すグラフである。 比較例Ａの光学フィルタの試料のＢＲＤＦ（０°）との差を示すグラフである。
　以下、図面を参照して、本発明の実施形態による光学フィルタを説明する。本発明の実施形態による光学フィルタは、以下で例示するものに限定されない。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、マトリクスと、マトリクス中に分散された微粒子とを含む光学フィルタであって、微粒子は、少なくともコロイドアモルファス集合体を構成しており、７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の波長範囲内の少なくとも一部の波長の光に対する直線透過率が６０％以上である。例えば、波長が９５０ｎｍおよび１５５０ｎｍの光に対する直線透過率が６０％以上の光学フィルタを得ることができる。光学フィルタの直線透過率が６０％以上である光（近赤外線）の波長範囲は、例えば８１０ｎｍ以上１７００ｎｍ以下であることが好ましく、８４０ｎｍ以上１６５０ｎｍ以下であることがさらに好ましい。このような光学フィルタは、例えば、ＩｎＧａＡｓセンサ、ＩｎＧａＡｓ／ＧａＡｓＳｂセンサ、ＣＭＯＳセンサ、ＮＭＯＳセンサ、ＣＣＤセンサに好適に用いられる。ここで、マトリクスおよび微粒子はともに、可視光に対して透明（以下、単に「透明」という。）であることが好ましい。本発明の実施形態による光学フィルタは、白色を呈し得る。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、コロイドアモルファス集合体を含む。コロイドアモルファス集合体とは、コロイド粒子（粒径１ｎｍ～１μｍ）の集合体で、長距離秩序を有さず、ブラッグ反射を起こさない集合体をいう。コロイド粒子が長距離秩序を有するように分布すると、いわゆるコロイド結晶（フォトニック結晶の一種）となり、ブラッグ反射が起きるのと対照的である。すなわち、本発明の実施形態による光学フィルタが有する微粒子（コロイド粒子）は、回折格子を形成しない。
　本発明の実施形態による光学フィルタが含む微粒子は、平均粒径が赤外線の波長の１０分の１以上の単分散の微粒子を含む。すなわち、波長が７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の範囲内の赤外線に対して、微粒子の平均粒径は少なくとも８０ｎｍ以上であることが好ましく、１５０ｎｍ以上であることが好ましく、２００ｎｍ以上であることがさらに好ましい。微粒子の平均粒径の上限は例えば３００ｎｍである。平均粒径が異なる２以上の単分散の微粒子を含んでもよい。個々の微粒子はほぼ球形であることが好ましい。なお、本明細書において、微粒子（複数）は、微粒子の集合体の意味でも用い、単分散の微粒子とは、変動係数（標準偏差／平均粒径を百分率で表した値）が２０％以下、好ましくは１０％以下、より好ましくは１～５％のものをいう。本発明の実施形態による光学フィルタは、粒径（粒子直径、体積球相当径）が波長の１０分の１以上の粒子を利用することで、赤外線の直線透過率を高くする。特許文献２に記載の光学物品がレイリー散乱を利用しているのと原理が異なる。
　平均粒径は、ここでは、３次元ＳＥＭ像に基づいて求めた。具体的には、集束イオンビーム走査型電子顕微鏡（以下、「ＦＩＢ－ＳＥＭ」という。）として、ＦＥＩ社製の型番Ｈｅｌｉｏｓ　Ｇ４　ＵＸを用いて、連続断面ＳＥＭ像を取得し、連続画像位置を補正した後、３次元像を再構築した。詳細には、ＳＥＭによる断面反射電子像の取得とＦＩＢ（加速電圧：３０ｋＶ）加工とを５０ｎｍ間隔で１００回繰り返し、３次元像を再構築した。得られた３次元像について、解析ソフト（Ｔｈｅｒｍｏ　Ｆｉｓｈｅｒ　Ｓｃｉｅｎｔｉｆｉｃ社製のＡＶＩＺＯ）のＳｅｇｍｅｎｔｉｏｎ機能を用いて２値化を行い、微粒子の像を抽出した。次に、個々の微粒子を識別するために、Ｓｅｐａｒａｔｅ　ｏｂｊｅｃｔ操作を実施した後、各微粒子の体積を算出した。各粒子を球と仮定し、体積球相当径を算出し、微粒子の粒径を平均した値を平均粒径とした。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、微粒子およびマトリクスの屈折率、微粒子の平均粒径、体積分率、分布（非周期性の程度）および厚さのいずれかを調整することによって、７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の波長範囲内の少なくとも一部の波長の光に対する直線透過率を６０％以上とする。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、白色を呈し得る。ここで、白色とは、標準光をＤ６５光源としたときのＣＩＥ１９３１色度図上のｘ、ｙ座標がそれぞれ０．２５≦ｘ≦０．４０、０．２５≦ｙ≦０．４０の範囲内にあるものをいう。もちろん、ｘ＝０．３３３、ｙ＝０．３３３に近いほど白色度は高く、好ましくは、０．２８≦ｘ≦０．３７、０．２８≦ｙ≦０．３７であり、さらに好ましくは０．３０≦ｘ≦０．３５、０．３０≦ｙ≦０．３５である。また、ＣＩＥ１９７６色空間上のＳＣＥ方式で測定したＬ＊は２０以上であることが好ましく、４０以上であることがより好ましく、５０以上がさらに好ましく、６０以上であることが特に好ましい。Ｌ＊が２０以上であれば概ね白色と言える。Ｌ＊の上限値は例えば１００である。直線透過率の測定方法は、実験例（実施例および比較例を含む）において、後述する。
　図１に本発明の実施形態による光学フィルタ１０の模式的な断面図を示す。本発明の実施形態による光学フィルタ１０は、可視光に対して透明なマトリクス１２と、透明なマトリクス１２中に分散された透明な微粒子１４とを含む。微粒子１４は、少なくともコロイドアモルファス集合体を構成している。微粒子１４が構成するコロイドアモルファス集合体を乱さない他の微粒子を含んでもよい。
　光学フィルタ１０は、図１に模式的に示すように、実質的に平坦な表面を有している。ここで、実質的に平坦な表面とは、可視光や赤外線を散乱（回折）または拡散反射させるような大きさの凹凸構造を有しない表面をいう。また、光学フィルタ１０は、コレステリック液晶（高分子液晶、低分子液晶、これらの液晶混合物、および、これらの液晶材料に架橋剤を混合し、架橋するなどして固化したもので、コレステリック相を発現するものを広く包含する。）を含まない。なお、光学フィルタ１０は、例えば、フィルム状であるが、これに限られない。
　透明な微粒子１４は、例えば、シリカ微粒子である。シリカ微粒子として、例えばストーバー法により合成されたシリカ微粒子を用いることができる。また微粒子として、シリカ微粒子以外の無機微粒子を用いてよく、樹脂微粒子を用いてもよい。樹脂微粒子としては、例えば、ポリスチレンおよびポリメタクリル酸メチルのうちの少なくとも１種からなる微粒子が好ましく、架橋したポリスチレン、架橋したポリメタクリル酸メチルまたは架橋したスチレン－メタクリル酸メチル共重合体からなる微粒子がさらに好ましい。なお、このような微粒子としては、例えば、エマルション重合により合成されたポリスチレン微粒子又はポリメタクリル酸メチル微粒子を適宜用いることができる。また、空気を含んだ中空シリカ微粒子および中空樹脂微粒子を用いることもできる。なお、無機材料で形成されている微粒子は、耐熱性・耐光性に優れるという利点を有する。微粒子の全体（マトリクスおよび微粒子を含む）に対する体積分率は、６％以上６０％以下が好ましく、２０％以上５０％以下がより好ましく、２０％以上４０％以下がさらに好ましい。透明な微粒子１４は光学的等方性を有してもよい。
　マトリクス１２は、例えば、アクリル樹脂（例えば、ポリメタクリル酸メチル、ポリアクリル酸メチル）、ポリカーボネート、ポリエステル、ポリ（ジエチレングリコールビスアリルカーボネート）、ポリウレタン、エポキシ樹脂、ポリイミドを挙げられるが、これらに限られない。マトリクス１２は、硬化性樹脂（熱硬化性または光硬化性）を用いて形成することが好ましく、量産性の観点から光硬化性樹脂を用いて形成することが好ましい。光硬化性樹脂としては、種々の（メタ）アクリレートを用いることができる。（メタ）アクリレートは、２官能または３官能以上の（メタ）アクリレートを含むことが好ましい。また、マトリクス１２は光学的等方性を有していることが好ましい。多官能モノマーを含む硬化性樹脂を用いると、架橋構造を有するマトリクス１２が得られるので、耐熱性および耐光性を向上させることができる。
　マトリクス１２が樹脂材料で形成された光学フィルタ１０は、柔軟性を有するフィルム状であり得る。光学フィルタ１０の厚さは、例えば、１０μｍ以上１０ｍｍ以下である。光学フィルタ１０の厚さが、例えば、１０μｍ以上１ｍｍ以下、さらには１０μｍ以上５００μｍ以下であれば、柔軟性を顕著に発揮することができる。
　微粒子として、表面が親水性のシリカ微粒子を用いる場合、例えば親水性のモノマーを光硬化することによって形成することが好ましい。親水性モノマーとして、例えば、ポリエチレングリコール（メタ）アクリレート、ポリエチレングリコールジ（メタ）アクリレート、ポリエチレングリコールトリ（メタ）アクリレート、ポリプロピレングリコール（メタ）アクリレート、ポリプロピレングリコールジ（メタ）アクリレート、ポリプロピレングリコールトリ（メタ）アクリレート、２－ヒドロキシエチル（メタ）アクリレート、あるいは、２－ヒドロキシプロピル（メタ）アクリレート、アクリルアミド、メチレンビスアクリルアミド、エトキシ化ビスフェノールＡジ（メタ）アクリレートを挙げることができるが、これらに限られない。またこれらのモノマーは１種類を単独で用いてもよいし、または２種類以上を混合して用いてもよい。もちろん、２種類以上のモノマーは、単官能モノマーと多官能モノマーとを含んでもよく、あるいは、２種類以上の多官能モノマーを含んでもよい。
　これらのモノマーは光重合開始剤を適宜用いて硬化反応させることができる。光重合開始剤としては、例えばベンゾインエーテル、ベンゾフェノン、アントラキノン、チオキサン、ケタール、アセトフェノン等のカルボニル化合物や、ジスルフィド、ジチオカーバメート等のイオウ化合物、過酸化ベンゾイル等の有機過酸化物、アゾ化合物、遷移金属錯体、ポリシラン化合物、色素増感剤等が挙げられる。添加量は微粒子とモノマーとの混合物１００質量部に対して０．０５質量部以上３質量部以下が好ましく、０．０５質量部以上１質量部以下がさらに好ましい。
　可視光に対するマトリクスの屈折率をｎＭ、微粒子の屈折率をｎＰとするとき、｜ｎＭ－ｎＰ｜（以下、単に屈折率差ということがある。）が０．０１以上であることが好ましく、０．６以下であることが好ましく、０．０３以上であることがより好ましく、０．１１以下であることがより好ましい。屈折率差が０．０３よりも小さいと散乱強度が弱くなり、所望の光学特性が得られにくくなる。また、屈折率差が０．１１を超えると、赤外線の直線透過率が低下することがある。また、例えば、ジルコニア微粒子（屈折率２．１３）とアクリル樹脂とを用いることで、屈折率差を０．６にした場合は、厚さを小さくすることによって赤外線の直線透過率を調整することができる。このように、赤外線の直線透過率は、例えば、光学フィルタの厚さと屈折率差とを制御することによって、調整することもできる。また、用途に応じて、赤外線を吸収するフィルタと重ねて用いることもできる。なお、可視光に対する屈折率は例えば５４６ｎｍの光に対する屈折率で代表され得る。ここでは、特に断らない限り、屈折率は５４６ｎｍの光に対する屈折率をいう。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、例えば、硬化性樹脂に微粒子を分散・混合させた硬化性樹脂組成物を用意する工程と、硬化性樹脂組成物を基材の表面に付与する工程と、表面に付与された硬化性樹脂組成物に含まれる硬化性樹脂を硬化させる工程とを包含する、製造方法によって、製造され得る。基材は、例えばガラス基板であっても、例えば、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＴＡＣ（トリアセチルセルロース）、ＰＩ（ポリイミド）のような樹脂フィルムであってよいが、これらに限られない。硬化性樹脂に微粒子を分散・混合させる工程は、ホモミキサ、ホモジナイザ（例えば、超音波ホモジナイザ、高圧ホモジナイザ）などの公知の分散・混合装置を用いて行うことができる。また、付与工程は、例えば、塗布法（例えば、ディップコーティング法、スプレーコーティング法、ダイコーティング法）や印刷法など、公知の種々の方法で行うことができる。
　以下、具体的な実験例（実施例および比較例）を示して、本発明の実施形態による光学フィルタの構成と光学特性の特徴を説明する。実施例および比較例の光学フィルタの構成および光学特性を表１に示す。シリカ微粒子と樹脂の種類との組合せ、凝集剤の添加、さらには分散・混合方法の違いによって、表１に示す種々の光学フィルタを作製した。
　実施例１～１３および比較例１～３の光学フィルタは、表１に記載のアクリル樹脂とシリカ微粒子とを用いてフィルムとして形成した。シリカ微粒子としては、ストーバー法で合成された単分散シリカ微粒子（（平均粒径１１０ｎｍ、粒径のＣＶ値４．５％）、（平均粒径１８１ｎｍ、粒径のＣＶ値４．７％）、（平均粒径２２１ｎｍ、粒径のＣＶ値４．９％）、および（平均粒径２９６ｎｍ、粒径のＣＶ値６．１％））を用いた。ここでは、シリカ微粒子として、富士化学株式会社製のハウトフォームＳｉｂｏｌ２２０を用いた。シリカ微粒子の粒度分布は、株式会社日立ハイテク社製の走査電子顕微鏡ＳＵ３８００で測定した。
　アクリルモノマーＡ～Ｅにシリカ微粒子を所定の配合で混合・分散し、硬化性樹脂組成物を調製し、アプリケータを用いて、基材の表面に所定の厚さのフィルムが得られるように塗布し、硬化することによって得た。光重合開始剤としてＤａｒｏｃｕｒｅ１１７３をアクリルモノマー１００質量部に対して０．２質量部を配合し、ＵＶランプを照射し光重合によって硬化させた。モノマーの種類によって、屈折率の異なる樹脂（ポリマ）を形成した。
　アクリルモノマーＡ～Ｅを以下に示す。モノマーＡおよびＥは３官能アクリレートであり、モノマーＢおよびＣは２官能アクリレートであり、モノマーＤは単官能アクリレートである。
　　Ａ：ペンタエリストールトリアクリレート
　　Ｂ：エトキシ化ビスフェノールＡジアクリレート（ｍ+ｎ=10）
　　Ｃ：エトキシ化ビスフェノールＡジアクリレート（ｍ+ｎ=3）
　　Ｄ：メトキシポリエチレングリコール＃400メタクリレート
　　Ｅ：トリメチロールプロパンＥＯ変性トリアクリレート
　なお、アクリルモノマーＢおよびＣは、下記の化学式（化１）で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
　得られたフィルムの厚さをｄとしたとき、断面方向に対してｄ／２の位置をミクロトームで切断することによって、シリカ微粒子の平均粒径と同じ厚さの試料片を切り出し、ＴＥＭ観察用の試料を得た。ＴＥＭ（株式会社日立ハイテク社製ＨＴ７８２０）を用いて２００個以上の粒子の画像を含む断面ＴＥＭ像から、画像処理ソフトＩｍａｇｅ　Ｊを用いて、微粒子を自動識別ドロネー図解析を行うことによって、隣接する微粒子の重心間距離の平均値（Ｌａ）および標準偏差（Ｌｄ）を求めた。また、重心間距離の平均値（「平均重心間距離」ともいう。）と標準偏差から、変動係数（距離のＣＶ値）を求めた。ここでは、重心間距離を求めるにあたって、粒径が１５０ｎｍ以上の粒子のみを対象とし、粒径が１５０ｎｍ未満の粒子は対象としなかった。後述するように、これらの値は、シリカ微粒子がコロイドアモルファス集合体を構成しているか否か、およびコロイドアモルファス集合体におけるシリカ微粒子の分布状態の指標となる。Ｌａの下限値は、１００ｎｍ以上が好ましく、１５０ｎｍ以上がさらに好ましく、１７５ｎｍ以上が一層好ましく、２００ｎｍ以上が特に好ましい。Ｌａの上限値は、６００ｎｍ以下が好ましく、５００ｎｍ以下がさらに好ましい。
　本発明の実施形態による光学フィルタが有するコロイドアモルファス集合体は、微粒子１４の平均重心間距離の変動係数で特徴づけることができる。変動係数が小さい場合は、長距離秩序が大きいことを示し、ブラッグ反射に起因した角度依存性のある反射色が発現する。一方で、変動係数が大きい場合は、Ｍｉｅ散乱の影響が大きくなり光散乱の波長依存性が少なくなる傾向にある。したがって、本発明の実施形態による光学フィルタにおいては、微粒子１４の平均重心間距離の変動係数は１０％以上であることが好ましく、４５％以下が好ましく、１５％以上であることがより好ましく、４０％以下であることがより好ましく、２０％以上であることがさらに好ましく、４０％以下であることがさらに好ましく、２５％以上であることがなおいっそう好ましく、３５％以下であることがなおいっそう好ましい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
　図２に実施例１の光学フィルタ１０Ａの断面ＴＥＭ像を示し、図３に比較例１の光学フィルタ２０Ａの断面ＴＥＭ像を示す。図中のＴＥＭ像における白い円はシリカ微粒子であり、黒い円はシリカ微粒子が抜け落ちた跡である。画像処理においては、黒い円もシリカ微粒子として扱った。
　図２に示した光学フィルタ１０Ａの断面においては、シリカ微粒子がほぼ均一に分散しているのに対し、図３に示した光学フィルタ２０Ａの断面においては、シリカ微粒子が一部凝集していることがわかる。これは、比較例１の光学フィルタ２０Ａの作製の際に、アクリルモノマーＡに加え、凝集剤としてポリエチレングリコールをアクリルモノマーＡに対して０．１質量％加えたためである。
　次に、図４に、実施例１の光学フィルタ１０Ａの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムを示し、図５に、比較例１の光学フィルタ２０Ａの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムを示す。これらから求めた平均重心間距離Ｌａ（ｎｍ）、標準偏差Ｌｄ（ｎｍ）および変動係数（距離のＣＶ値）を表１に示す。以下では、距離のＣＶ値を単にＣＶ値ということがある。
　実施例１の光学フィルタ１０Ａにおけるシリカ微粒子の分布は、比較例１の光学フィルタ２０Ａにおけるシリカ微粒子の分布に比べて均一性が高いことがわかる。実施例１の光学フィルタ１０ＡのＬｄが８４ｎｍ、ＣＶ値が２７．８％であるのに対し、比較例１の光学フィルタ２０ＡのＬｄは１６８ｎｍ、ＣＶ値は４９．３％と大きな値を示している。
　次に、図６～図８を参照して、実施例１の光学フィルタ１０Ａおよび比較例１の光学フィルタ２０Ａを赤外線フィルタとしての性能を比較した結果を説明する。図６は、モーションキャプチャデバイスを用いて取得したカメラ画像の例であり、フィルタを用いることなく取得したカメラ画像である。図７は、実施例１の光学フィルタ１０Ａを介してモーションキャプチャデバイスを用いて取得したカメラ画像の例であり、図８は、比較例１の光学フィルタ２０Ａを介してモーションキャプチャデバイスを用いて取得したカメラ画像の例である。
　ここでは、モーションキャプチャデバイスとして、Leap Motion Controller（登録商標）を用い、約２０ｃｍ離れた位置にある手のカメラ画像を取得した。なお、このデバイスは波長が８５０ｎｍの赤外線を用いている。図６、図７および図８を比較すると明らかなように、実施例の光学フィルタ１０Ａを用いた場合（図７）は、フィルタを用いない場合（図６）と同程度に鮮明な画像が得られているのに対し、比較例の光学フィルタ２０Ａを用いた場合（図９）では、鮮明な画像を取得することができず、手を認識することができなかった。
　図９に、実施例１の光学フィルタ１０Ａの光学像を示し、図１０に比較例１の光学フィルタ２０Ａの光学像を示す。実施例１の光学フィルタ１０Ａおよび比較例１の光学フィルタ２０Ａは、約５cm×約１０cmのフィルムとして、デバイスの前面を覆うように配置した。図９および図１０からわかるように、いずれのフィルムも白色を呈している。したがって、実施例１の光学フィルタ１０Ａは、赤外線透過フィルタとして好適に用いられるとともに、白色を呈するので、高い意匠性を有している。もちろん、実施例１の光学フィルタ１０Ａの表面に印刷等によって、色や模様を付与することもできる。本発明の実施形態による光学フィルタが有する利点は以下で詳細に説明する。
　光学フィルタの光学特性は以下のようにして評価することができる。
　図１１に示すように、光学フィルタ１０に入射光Ｉ０が入射すると、入射光Ｉ０の一部は光学フィルタ１０を透過し（透過光Ｉｉ）、一部は界面反射し（界面反射光Ｒｉ）、他の一部は散乱される。散乱光には、光学フィルタ１０の前方に出射される前方散乱光Ｓｆと、後方に出射される後方散乱光Ｓｂとがある。後方散乱光Ｓｂによって、光学フィルタ１０は白色を呈する。入射光Ｉ０の一部は、光学フィルタ１０によって吸収されるが、ここで用いている樹脂およびシリカ微粒子は、４００ｎｍ～２０００ｎｍの光に対する吸収率は小さい。
　図１２は、光学フィルタの拡散透過率の測定方法を示す模式図であり、図１３は、光学フィルタの直線透過率の測定方法を示す模式図である。拡散透過率は、図１２に示すように、積分球３２の開口部に試料（光学フィルタ１０）を配置し、透過光Ｉｉおよび前方散乱光Ｓｆの合計の強度の入射光Ｉ０の強度に対する百分率として求めた。また、直線透過率は、試料（光学フィルタ１０）を積分球３２の開口部から２０ｃｍ離した位置に配置して測定した。この時に得られた透過光Ｉｉの強度の入射光Ｉ０の強度に対する百分率として求めた。開口の直径は１．８ｃｍで、立体角で０．０２５ｓｒに相当する。分光器として、紫外可視近赤外分光光度計ＵＨ４１５０（株式会社日立ハイテクサイエンス製）を用いた。表１には７６０ｎｍ、９５０ｎｍおよび１５５０ｎｍの赤外線に対する直線透過率の値を示している。また、各試料の直線透過率スペクトルを図１４などに示す。直線透過率スペクトルにディンプル（局所的な透過率の低下）が存在するか否かで、ブラッグ反射の有無を判定できる。ブラッグ反射の有無も表１に示した。
　後方散乱光Ｓｂの白色度は、分光測色計ＣＭ－２６００－Ｄ（コニカミノルタジャパン株式会社製）を用いて測定した。ＳＣＥ（正反射除去）方式のＬ＊の値とともに、ＣＩＥ１９３１色度図上のｘ、ｙ座標の値を求めた。Ｌ＊の値が大きいほど、ｘ、ｙの値は０．３３に近いほど、白色度は高い。これらの値も表１に示した。
　図１４に、実施例１の光学フィルタ１０Ａの直線透過率スペクトルを示し、図１５に実施例１の光学フィルタ１０Ａの拡散透過率スペクトルと拡散反射率スペクトルとの差として求められた吸収率スペクトルを示す。図１４からわかるように、実施例１の光学フィルタ１０Ａは高い赤外線透過率を有している。特に、９００ｎｍ以上の波長の赤外線に対する透過率が高い。なお、図１５の吸収率スペクトルにみられる１２００ｎｍ以上の赤外線に対する吸収は、樹脂（有機化合物）の特性吸収によるものであり、わずかである。
　図１６に、比較例１の光学フィルタ２０Ａの直線透過率スペクトルを示す。図１６を図１５と比較すると明らかなように、比較例１の光学フィルタ２０Ａの透過率は低い。表１を参照して、実施例１と比較例１とを比較すると、白色度を示すＬ＊、ＣＩＥ色度図上のｘ、ｙ座標の値は、実施例１と比較例１とで大差はないものの、赤外線の直線透過率は大きく異なっている。これは、ＣＶ値が比較例１では４９．３％と実施例１の２７．８％に比べて大きく、シリカ微粒子が凝集していることが影響していると考えられる。すなわち、ＣＶ値は、赤外線の直線透過率を向上させる指標となり得ることがわかる。
　次に、図１７～図１９を参照して、実施例２の光学フィルタについて説明する。図１７は、実施例２の光学フィルタ断面ＴＥＭ像を示す図であり、図１８は、実施例２の光学フィルタの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。図１９は、実施例２の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。実施例１では、平均粒径が２２１ｎｍのシリカ微粒子を用いていたのに対し、実施例２では、平均粒径が２９６ｎｍのシリカ微粒子を用いている。実施例２のＣＶ値は実施例１のＣＶ値とほぼ同じであるが、赤外線直線透過率は実施例２の方が低い。すなわち、シリカ微粒子の平均粒径を制御することによって、赤外線直線透過率を制御できることがわかる。
　ここで、比較のために、図３５～図３７を参照して、比較例３の光学フィルタについて説明する。図３５は、比較例３の光学フィルタの断面ＴＥＭ像を示す図であり、図３６は、比較例３の光学フィルタの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。図３７は、比較例３の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。比較例３では、平均粒径が１１０ｎｍのシリカ微粒子を用いた点で、実施例１および２と異なる。図３７および表１の結果から明らかなように、比較例３のＣＶ値は、実施例１および実施例２のＣＶ値とほぼ同じであるが、比較例３は７６０ｎｍの赤外線直線透過率が８７％と高く、さらに、可視光の直線透過率も高い。また、比較例３の白色度は、実施例１および２に比べると劣る。このことから、シリカ微粒子の平均粒径を制御することによって、赤外線直線透過率および白色度を制御できることがわかる。実施例１と、実施例２および比較例３との比較から、平均粒径が２２１ｎｍ以上のシリカ微粒子を含むことが好ましいと考えられる。
　次に、図２０を参照し、実施例３および４の光学フィルタについて説明する。図２０は、実施例３および４の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。実施例３および４の光学フィルタは、シリカ微粒子の体積分率がそれぞれ３４％および３８％であり、実施例１の２９％よりも大きい。実施例１の結果と比較すると、９５０ｎｍおよび１５５０ｎｍにおける赤外線直線透過率およびＣＩＥ色度図上のｘ、ｙ座標に大差はなく、７６０ｎｍにおける赤外線直線透過率およびＬ＊の値が少し向上している。実施例３と実施例４との直線透過率スペクトルを比較すると、シリカ微粒子の体積分率が増大すると、散乱波長が短波長側にシフトし、Ｌ＊の値が少し向上している。
　ここで比較のために図２５に示す実施例９の光学フィルタの直線透過率スペクトルを参照する。実施例９の光学フィルタはシリカ微粒子の体積分率が６％と低い。実施例１の結果と比較すると、９５０ｎｍにおける赤外線直線透過率が少し低下し、Ｌ＊の値が大きく低下している。これは、シリカ微粒子の体積分率の減少による散乱光の強度の低下によると考えられる。
　このように、シリカ微粒子の体積分率を制御することによって、赤外線直線透過率およびＬ＊の値を制御することができる。
　次に、図２１を参照して、実施例５の光学フィルタについて説明する。図２１は、実施例５の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。実施例１の光学フィルタの厚さが１００μｍであるのに対し、実施例５の光学フィルタの厚さは５００μｍである。実施例５を実施例１と比較すると、赤外線直線透過率の透過率は低下するが、白色度は向上している。光学フィルタの厚さを大きくすることによって、可視光の透過率も低下させることができる。
　次に、図２２を参照して、実施例６の光学フィルタについて説明する。図２２は、実施例６の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。実施例６は、実施例１～５と異なるモノマーを用いて、屈折率が１．５２のポリマをマトリクスとして有している。実施例１～５のマトリクスの屈折率が１．４９であり、シリカ微粒子の屈折率１．４３との差が、０．０６であったのに対し、実施例６では、屈折率差が０．０９と大きい。実施例１と比較すると、７６０ｎｍ、９５０ｎｍおよび１５５０ｎｍのいずれの赤外線直線透過率およびＬ＊の値も向上している。
　次に、図２３を参照して、実施例７の光学フィルタについて説明する。図２３は、実施例７の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。実施例６の光学フィルタがガラス基板上に形成されたのに対し、実施例７の光学フィルタはＰＥＴフィルム上に形成された点で異なる。図２３と図２２との比較および表１の結果を比較すると、基材の影響は少ないと考えられる。
　次に、図２４を参照して、実施例８の光学フィルタについて説明する。図２４は、実施例８の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。実施例７の光学フィルタの厚さが１００μｍであるのに対し、実施例８の光学フィルタの厚さは５００μｍである。実施例８を実施例７と比較すると、赤外線直線透過率の透過率は低下するが、Ｌ＊は向上している。光学フィルタの厚さを大きくすることによって、可視光の透過率も低下させることができる。
　次に、図２６～２８を参照して、実施例１０の光学フィルタについて説明する。図２６は、実施例１０の光学フィルタの直線透過率スペクトルであり、図２７は、実施例１０の光学フィルタの断面ＴＥＭ像を示す図である。図２８は、実施例１０の光学フィルタの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。実施例１０は、屈折率が１．５４のポリマをマトリクスとして有しており、シリカ微粒子との屈折率差は０．１１と、実施例６における屈折率差よりもさらに大きい。実施例１、６と比較すると、赤外線直線透過率が低下し、Ｌ＊の値が向上する。
　次に、図２９を参照して、実施例１１の光学フィルタについて説明する。図２９は、実施例１１の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。実施例１１は、屈折率が１．４６のポリマをマトリクスとして有している。実施例１１では、屈折率差が０．０３と小さい。実施例１と比較すると、１５５０ｎｍにおける赤外線直線透過率が低下し、可視光領域の透過率が上昇し、白色度が低下していることがわかる。
　次に、図３０を参照して、実施例１２の光学フィルタについて説明する。図３０は、実施例１２の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。実施例１２の光学フィルタは、シリカ微粒子として、平均粒径が１１０ｎｍの微粒子と、平均粒径が２２１ｎｍの微粒子とを含む。体積比（１１０ｎｍ：２２１ｎｍ）は、１：１である。実施例１と比較すると、赤外線直線透過率および白色度ともに低下している（表１参照）。これは平均粒径１１０ｎｍのシリカ微粒子を混合した影響と考えられる（比較例３、図３７参照）。
　次に、図３１を参照して、実施例１３の光学フィルタについて説明する。図３１は、実施例１３の光学フィルタの直線透過率スペクトルである。実施例１３の光学フィルタは、平均粒径が１８１ｎｍのシリカ微粒子を用いている点で、実施例６の光学フィルタと異なる。図３１を図２２と比較すると、実施例１３の方が、直線透過率が上昇する波長が実施例６よりも短波長側にシフトしている。すなわち、実施例１３の光学フィルタの可視光領域における直線透過率が実施例６よりも少し高く、その結果、Ｌ＊の値および白色度が実施例６よりも少し低いが、赤外線の直線透過率は高い値を有しており、平均粒径が１８１ｎｍのシリカ微粒子が好適に用いられることがわかる。なお、白色度の観点からは、平均粒径が２００ｎｍ以上のシリカ微粒子を含むことが好ましく、２２１ｎｍ以上のシリカ微粒子を含むことがさらに好ましい。
　次に、図３２～図３４を参照して、比較例２の光学フィルタについて説明する。図３２は、比較例２の光学フィルタの断面ＴＥＭ像を示す図である。図３３は、比較例２の光学フィルタの断面ＴＥＭ像から求めた粒子の重心間距離のヒストグラムである。図３４は、比較例２の光学フィルタの直線透過率スペクトルであり、入射角が０°と入射角が６０°の結果を示している。入射角０°は光学フィルタの表面の法線方向である。比較例２はアクリルモノマーＥを用いて形成された、屈折率が１．４８のマトリクスを有している。マトリクスの屈折率は実施例１と０．０１しか変わらない。なお、直線透過率の入射角依存性は、紫外可視近赤外分光光度計ＵＨ４１５０（日立ハイテクサイエンス社製）に付属の自動角度可変システムを用いて、入射光に対する試料の表面の角度（図１１中の光学フィルタ１０の角度）を変化させて測定した。
　図３２および図３３からわかるように、比較例２の光学フィルタにおけるシリカ微粒子の集合体は長距離秩序を有している。その結果、表１のＣＶ値は９．４％と小さい値となっている。また、図３４に示した直線透過率スペクトルの可視光領域に急峻なディンプル（局所的な透過率の低下）が見られている。この急峻なディンプルは、ブラッグ反射によるものであり、比較例２の光学フィルタにおけるシリカ微粒子の集合体は、コロイドアモルファス集合体ではなく、長距離秩序を有するコロイド結晶またはコロイド結晶に近い構造を有している。また、可視光領域の急峻なディンプルは、入射角によってシフトしているので、比較例２の光学フィルタは見る角度によって色が変わって見える。したがって、可視光領域におけるブラッグ反射を抑制するためには、ＣＶ値は１０％以上が好ましいと考えられる。また、上述の比較例１の結果から、シリカ微粒子の凝集を抑制するために、ＣＶ値は４９％以下が好ましいと考えられる。
　実施例１～１３の光学フィルタは、直線透過率スペクトルにおいて急峻なディンプルが見られず、シリカ微粒子がコロイドアモルファス集合体を構成している。また、７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の波長範囲内の少なくとも一部の波長の光に対する直線透過率が６０％以上を示している。さらに、標準光をＤ６５光源としたときの白色のＣＩＥ１９３１色度図上のｘ、ｙ座標は、０．２５≦ｘ≦０．４０、０．２５≦ｙ≦０．４０の範囲内にある。また、見る角度による色の変化も抑制される。
　上述したことから明らかなように、本発明の実施形態による光学フィルタは、微粒子およびマトリクスの屈折率、微粒子の平均粒径、体積分率、分布（非周期性の程度）および厚さを調整することによって、所望の光学特性（例えば、赤外線直線透過率および白色度）を得ることができるとともに、見る角度による色の変化も抑制される。また、異なる光学特性を有する光学フィルタを重ねて用いることもできる。また、用途に応じて、例えば、赤外線を吸収するフィルタと重ねて用いることができる。図９から理解されるように、例えば、黒色やその他色を呈するフィルタと重ねて用いても、本発明の実施形態による光学フィルタは白色を呈するので、意匠性を高めることができる。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、直線透過率スペクトルの入射角依存性にも特徴を有する。
　図３８～図４０を参照して、実施例１の光学フィルタ１０Ａおよび比較例Ａの光学フィルタの直線透過率スペクトルの入射角依存性（入射角０°、１５°、３０°、４５°、６０°）を説明する。比較例Ａの光学フィルタは、赤外線透過フィルタとして市販されている、東海光学株式会社製のホワイトＩＲウインドウ（ｈｔｔｐｓ：／／ｗｗｗ．ｔｏｋａｉｏｐｔｉｃａｌ．ｃｏｍ／ｊｐ／ｐｒｏｄｕｃｔ１４／）である。比較例Ａの光学フィルタは、特許文献２に記載の光学物品に相当し、誘電体多層膜とＰＥＴフィルムから構成されており、梨地状表面を有する。比較例Ａの光学フィルタは白色を呈し、厚さは１２０μｍであった。
　図３８は、実施例１の光学フィルタ１０Ａおよび比較例Ａの光学フィルタの直線透過率スペクトルの入射角依存性を示す図である。図３９および図４０は、それぞれのグラフを最大透過率で規格化したグラフであり、図３９は、実施例１の光学フィルタ１０Ａの直線透過率スペクトルの入射角依存性を示す図であり、図４０は、比較例Ａの光学フィルタの直線透過率スペクトルの入射角依存性を示す図である。
　図３８からわかるように、実施例１の光学フィルタ１０Ａの直線透過率は、比較例Ａの光学フィルタに比べて大きい。また、入射角の増大による赤外線直線透過率の低下は、実施例１の光学フィルタ１０Ａの方が比較例Ａの光学フィルタよりも小さい。例えば、９５０ｎｍの赤外線直線透過率は、入射角が０°のとき８８％であるのに対し、入射角が６０°のとき８０％であり、入射角が０°のときの透過率の９０％以上である。これに対し、比較例Ａでは、９５０ｎｍの赤外線に対する直線透過率は、入射角が０°のとき３０％であるのに対し、入射角が６０°のとき９％であり、入射角が０°のときの直線透過率の３０％まで低下している。このように、本発明の実施形態による光学フィルタの赤外線直線透過率は入射角依存性が小さく、例えば９５０ｎｍの赤外線に対して、入射角が６０°のときの直線透過率は入射角が０°のときの直線透過率の８０％以上、さらには８５％以上、さらには９０％以上を得ることができる。
　図３９に示した、実施例１の光学フィルタ１０Ａの透過率曲線を見ると、可視光から赤外線にかけて直線透過率が単調に上昇する曲線部分が、入射角の増大につれて長波長側にシフト（約５０ｎｍ）している。この特徴的な入射角依存性は、図４１、図４２および図４３に示した実施例２、実施例６および比較例３の光学フィルタの直線透過率スペクトルの入射角依存性にも見られる。すなわち、可視光から赤外線にかけて直線透過率が単調に上昇する曲線部分が、入射角の増大につれて長波長側にシフトするという特徴的な入射角依存性は、光学フィルムに含まれるシリカ微粒子がコロイドアモルファス集合体を構成していることに起因すると考えられる。これに対し、図４０に示した比較例Ａの光学フィルタの透過率曲線では、可視光から赤外線にかけて直線透過率が単調に上昇する曲線部分が、入射角の増大につれて短波長側にシフト（約１００ｎｍ）している。すなわち、まったく逆の傾向になっている。
　比較例Ａの光学フィルタでは、可視光から赤外線にかけて直線透過率が単調に上昇する曲線部分が、入射角の増大につれて短波長側にシフトするので、斜め入射光に対して、本来遮断したい短波長側の光を透過してしまう（光漏れ）おそれが生じる。これに対し、シリカ微粒子がコロイドアモルファス集合体を構成している光学フィルタでは、入射角の増大に伴って、より短波長側の光に対する透過率が低下するので、比較例Ａの光学フィルタのように光漏れが生じるおそれがない。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、上述したように白色を呈し得るので、赤外線透過インクを用いて、例えば、文字、絵、写真を光学フィルタの表面に印刷することによって、豊かな色彩を有する意匠性に富んだ光学フィルタを得ることができる。すなわち、本発明の実施形態による光学フィルタは、マトリクスと微粒子とを含む光学フィルタ層と、光学フィルタ層上に配置された、赤外線透過インクで形成されたプリント層とを有してもよい。プリント層は、光学フィルタ層の表面に直接形成されてもよいし、透明なフィルムの表面にプリント層を形成したものを、光学フィルタ層上に配置してもよい。赤外線透過インクとしては、用途または透過すべき赤外線の波長に応じて、公知の赤外線透過インクを選択すればよい。
　実施形態による光学フィルタは例示したような平面状のフィルムであり得るが、これに限られず様々な形態をとり得る。実施形態による光学フィルタは、３次元形状を有し得る。例えば、３次元形状を有するフィルム状であり得る。具体的には、例えば、３次元形状を有する物体の表面に、塗布法を用いて、光学フィルタを形成してもよい。物体の表面は、球面の一部または全部、任意形状の曲面、多面体の表面の一部または全部など、任意の形状を有してよい。ただし、物体の表面は、光散乱を起こさないことが好ましい。
　例えば、図４４Ａおよび図４４Ｂに示すように、半球面状に形成された光学フィルタを得ることができる。図４４Ａは、半球面状に形成された実施例の光学フィルタを示す光学画像（可視光）を示す図であり、図４４Ｂは、図４４Ａに示した半球面状の実施例の光学フィルタの赤外線画像を示す図である。図４４Ａおよび図４４Ｂに示した画像は、株式会社ケンコー・トキナー社製のフルハイビジョンデジタルムービーカメラＤＶＳＡ１０ＦＨＤＩＲを用いて撮影した。図４４Ａは、白色ＬＥＤ照明下で、可視光モードで撮影した画像であり、図４４Ｂは、暗室内で、上記カメラの赤外線ＬＥＤの光のみで撮像した画像である。
　図４４Ａおよび図４４Ｂに示した光学フィルタは、半径が２cm、厚さが１mmのアクリル樹脂（ＰＭＭＡ）製の半球の表面に、ディップコーティングにより実施例６と同じ材料を付与することによって形成された、厚さが３００μｍの光学フィルタである。図４４Ａに示すように、半球面状の白色のフィルタが得られた。また、図４４Ｂに示すように、このフィルタは赤外線を透過している。
　次に、３次元形状を有する光学フィルタとして好適に用いられる、後方散乱特性の等方性が高い、本発明の実施形態による光学フィルタをさらに詳細に説明する。３次元形状を有する光学フィルタは、図４４Ａおよび図４４Ｂ基材と基材上に形成されたフィルムとを有しており、フィルムが所望の光学特性を有しているが、本発明の実施形態による３次元形状を有する光学フィルタはこれに限られない。３次元形状は３次元曲面を含んでもよい。３次元曲面は、例えば、球面や楕円面を含む。また、３次元形状は、立体形状の少なくとも一部を含み得る。立体形状は、球体、楕円体、多面体、円錐および円柱など、種々の形状を含む。光学フィルタを少なくとも一部に含み得る光学部品としては、例えば、３次元Lidar、カメラを内蔵した車用エンブレム、ロボット筐体、モーションキャプチャセンサーが搭載されたゲームコントローラやスイッチ、カメラ筐体を挙げることができる。また、光学フィルタは、光学部品のカバーの少なくとも一部としても用いられ得る。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、上述したように可視光を拡散反射するので白色を呈する。本発明の実施形態による光学フィルタは、後方散乱特性に特徴づけることができる。以下では、本発明の実施形態による光学フィルタが、等方的な後方散乱特性を有していることを説明する。後方散乱特性は、双方向反射率分布関数（bidirectional reflectance distribution function、以下、「ＢＲＤＦ」と略す。）によって評価され得る。ＢＲＤＦとは、物質表面における散乱特性をその表面固有の定数として定量化するものであり、特定の入射方向および反射方向における（微小）照度と輝度の比であって、steradian-1（sr-1)の次元を持つ。
　上述した実施例６および比較例Aの試料（平坦なフィルム）について種々の入射方向および反射方向についてＢＲＤＦを測定した。図４５にＢＲＤＦの測定光学系を模式的に示す。
　ＢＲＤＦの測定にはニッカ電測株式会社製のゴニオフォトメータ自動計測装置ＧＰ－４Ｌを用いた。光源ＬＳには、浜松ホトニクス株式会社製のキセノンランプL11033（１５０Ｗ）を用い、エドモンドオプティクス社製の５５０ｎｍのバンドパスフィルタ（ＴＳ　ＯＤ４　１０ＮＭ　バンドパスフィルタ　５５０ＮＭ　１２．５ＭＭ）を透過した光を試料に照射した。照射した光ビームの直径は３ｍｍとした。検出器ＤＥには、浜松ホトニクス株式会社製の光電子増倍管（R１３４５６）を用い、設定電圧は430Ｖとした。
　光源ＬＳから試料表面への入射角（入射光の入射方向の極角）θｉは、０°、３０°、６０°とし、反射方向は、入射面からの方位角Φｒが２０°で、極角θｒが－７０°～７０°の範囲のＢＲＤＦを測定した。入射角θｉが０°、反射方向の方位角Φｒが２０°、極角θｒが－７０°のＢＲＤＦ（ｓｒ－１）をＢＲＤＦ（０°；２０°、－７０°）と表すことにする。
　実施例６の測定結果を表２、表３に、比較例Ａの測定結果を表４、表５に示す。なお、入射角θｉが０°で、反射方向の極角θｒが－１０°～１０°の範囲は、光源ＬＳと検出器ＤＥとのアライメントの影響で、正確な測定値が得られない。また、反射方向の極角θｒが９０°～７０°の範囲は検出誤差が大きいので、測定値を記載していない。表２、表３および表４、表５には、ＢＲＤＦの測定値と、最大値、最小値、平均値および標準偏差を示している。実施例６の光学フィルタの試料のＢＲＤＦを図４６に、比較例Ａの光学フィルタの試料のＢＲＤＦを図４７にそれぞれ示す。
　また、後方散乱特性の等方性を示すパラメータとして、入射角θｉが０°のＢＲＤＦ（０°）と、入射角θｉが３０°のＢＲＤＦ（３０°）および入射角θｉが６０°のＢＲＤＦ（６０°）との差を用いた。具体的には、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）および｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）を用いた。ここで、｜｜は絶対値を表す。表２、表３および表４、表５中では、それぞれＢＲＤＦ（０°）との差を、Ｄ＿３０°、Ｄ＿６０°としている。実施例６の光学フィルタの試料のＢＲＤＦ（０°）との差、Ｄ＿３０°およびＤ＿６０°を図４８に、比較例Ａの光学フィルタの試料のＢＲＤＦ（０°）との差、Ｄ＿３０°およびＤ＿６０°を図４９にそれぞれ示す。
　まず、図４６および図４８を参照する。実施例６のＢＲＤＦの値は、入射角θｉが０°、３０°および６０°のいずれも、極角θｒの依存性が小さい。表２、表３に示したように、入射角θｉが３０°のＢＲＤＦ（３０°）の最大値は０．１５０、最小値は０．１２３、平均値は０．１４、標準偏差は０．００５２３７である。入射角θｉが６０°のＢＲＤＦ（６０°）の最大値は０．１４８、最小値は０．１２０、平均値は０．１３、標準偏差は０．００９８５５である。また、ＢＲＤＦ（３０°）とＢＲＤＦ（６０°）との差はいずれの極角θｒにおいても小さい。図４８に示したＢＲＤＦ（０°）との差であるＤ＿３０°が０．１３以下、Ｄ＿６０°が０．２５以下と小さい値になっていることからもわかる。
　次に、図４７および図４９を参照する。実施例６についての図４６および図４８と比較すると明らかなように、比較例ＡのＢＲＤＦの値は、入射角θｉが０°、３０°および６０°のいずれも、極角θｒの依存性が大きい。表４、表５に示したように、入射角θｉが３０°のＢＲＤＦ（３０°）の最大値は０．７９３、最小値は０．０５４、平均値は０．３４、標準偏差は０．２５２３２７である。入射角θｉが６０°のＢＲＤＦ（６０°）の最大値は０．７８９、最小値は０．０４２、平均値は０．２８、標準偏差は０．２６９３４２である。また、ＢＲＤＦ（３０°）とＢＲＤＦ（６０°）との差は、極角θｒが負の領域で特に大きいことがわかる。図４８に示したＢＲＤＦ（０°）との差であるＤ＿３０°の最大値が１．９１、Ｄ＿６０°の最大値が３．８７と大きな値になっていることからもわかる。
　上記の結果から、本発明の実施形態による光学フィルタの後方散乱特性の等方性が高いことを示すパラメータとして、Ｄ＿３０°およびＤ＿６０°を用いることができる。実施例６の光学フィルタについて、極角θｒが－３０°のときのＤ＿３０°（－３０°）およびＤ＿６０°（－３０°）は、それぞれ、０．０３および０．１６である。また、極角θｒが－６０°のときのＤ＿３０°（－６０°）およびＤ＿６０°（－６０°）は、それぞれ、０．０１および０．０９である。
　これに対し、比較例Ａの光学フィルタについて、極角θｒが－３０°のときのＤ＿３０°（－３０°）およびＤ＿６０°（－３０°）は、それぞれ、１．１７および０．１４である。また、極角θｒが－６０°のときのＤ＿３０°（－６０°）およびＤ＿６０°（－６０°）は、それぞれ、１．６１および３．５５である。このように、比較例Ａの光学フィルタでは、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０超、または、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０超となっている。
　したがって、後方散乱特性の等方性の指標として、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下であることが好ましいと言える。｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．５０以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．５０以下であることがさらに好ましく、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．２５以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．２５以下であることがより一層好ましい。実施例６の光学フィルムは、ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．２以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．２以下という高い等方性を有している。
　ここでは、入射光が可視光の波長範囲内の光の例として、波長が５５０ｎｍの光について、実施例６の光学フィルムの後方散乱特性を説明したが、本発明の実施形態による光学フィルムは、５５０ｎｍの光に対してだけではなく、可視光の波長範囲内の少なくとも一部の波長を有する光に対して上記の関係を満足し得る。すなわち、微粒子およびマトリクスの屈折率、微粒子の平均粒径、体積分率、分布（非周期性の程度）および厚さのいずれかを調整することによって、７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の波長範囲内の少なくとも一部の波長の光に対する直線透過率を６０％以上とするとともに、可視光の波長範囲内の少なくとも一部の波長を有する光に対して、後方散乱特性の高い等方性を得ることができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000006
　後方散乱の等方性が高いと、見る角度による色の変化が小さい。言い換えると、光学フィルタの形状に拘わらず、所望の色を呈する。可視光の後方散乱特性の等方性が高いということは、赤外線の透過率特性も等方性が高いことを意味している。したがって、本発明の実施形態による光学フィルタは、種々の３次元形状に加工された場合であっても、所望の赤外線の透過率特性を有し得る。もちろん、光学フィルタの３次元形状は、赤外線受光面の形状や、相対的な位置関係に応じて、適宜、設計され得る。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、例示したセンシングデバイス（例えば赤外線カメラ）や通信デバイスに限られず、種々の用途に用いられる。例えば、太陽電池、赤外線を用いたヒーター、赤外線を用いた光給電デバイスに好適に用いられる。
　本発明の実施形態による光学フィルタは、例えば、センサ技術または通信技術などに用いられる赤外線透過フィルタとして用いることができる。
　１０、１０Ａ、２０Ａ　：光学フィルタ
　１２　　　　　　　　　：マトリクス
　１４　　　　　　　　　：微粒子

Claims (32)

  1. 　後方散乱特性を有する光学フィルタであって、
    　７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の波長範囲内の少なくとも一部の波長の光に対する直線透過率が６０％以上であり、
    　入射光の入射方向の極角が０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が３０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が６０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値であるＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）とすると、前記入射光が可視光の波長範囲内の少なくとも一部の波長を有する光であるとき、
    　｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下である、光学フィルタ。
  2. 　　｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．５０以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．５０以下である、請求項１に記載の光学フィルタ。
  3. 　　｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．２５以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が０．２５以下である、請求項１に記載の光学フィルタ。
  4. 　ＳＣＥ方式で測定したＬ＊が２０以上である、請求項１から３のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  5. 　３次元形状を有する、請求項１から４のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  6. 　前記３次元形状は、立体形状の少なくとも一部を含む、請求項５に記載の光学フィルタ。
  7. 　前記立体形状は、球体、楕円体、多面体、円錐および円柱のいずれかの形状を含む、請求項６に記載の光学フィルタ。
  8. 　基材と、前記基材の上に形成されたフィルムとを有し、
    　前記フィルムの７６０ｎｍ以上２０００ｎｍ以下の波長範囲内の少なくとも一部の波長の光に対する直線透過率が６０％以上であり、
    　入射光の入射方向の極角が０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が３０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値をＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）、入射光の入射方向の極角が６０°であるときの、入射面からの方位角が２０°で、極角が－６０°の方向における双方向反射率分布関数の値であるＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）とすると、前記入射光が可視光の波長範囲内の少なくとも一部の波長を有する光であるとき、
    　｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（３０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下であり、かつ、｜ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）－ＢＲＤＦ（６０°；２０°、－６０°）｜／ＢＲＤＦ（０°；２０°、－６０°）が１．０以下である、請求項１から７のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  9. 　前記基材は、プラスチックまたはガラスで形成されている、請求項８に記載の光学フィルタ。
  10. 　前記基材の表面は、コロナ処理、プラズマ処理、ＵＶオゾン処理およびプライマー処理のいずれかがなされている、請求項８または９に記載の光学フィルタ。
  11. 　波長が９５０ｎｍの光に対する直線透過率が６０％以上である、請求項１から１０のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  12. 　波長が１５５０ｎｍの光に対する直線透過率が６０％以上である、請求項１から１１のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  13. 　標準光をＤ６５光源としたときに呈する色のＣＩＥ１９３１色度図上のｘ，ｙ座標は、０．２５≦ｘ≦０．４０、０．２５≦ｙ≦０．４０である、請求項１から１２のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  14. 　前記フィルタの可視光の波長領域の透過率曲線は、長波長側から短波長側にかけて直線透過率が単調に減少する曲線部分を有し、前記曲線部分は入射角の増大につれて長波長側にシフトする、請求項１から１３のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  15. 　波長が９５０ｎｍの光に対する入射角が６０°のときの直線透過率は、入射角が０°のときの直線透過率の８０％以上である、請求項１から１４のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  16. 　赤外線透過インクで形成されたプリント層をさらに有する請求項１から１５のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  17. 　マトリクスと、前記マトリクス中に分散された微粒子とを含む、請求項１から１６のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  18. 　前記微粒子は、平均粒径が８０ｎｍ以上３００ｎｍ以下の範囲内にある、単分散の第１微粒子を含む、請求項１７に記載の光学フィルタ。
  19. 　前記第１微粒子の平均粒径は１５０ｎｍ以上である、請求項１８に記載の光学フィルタ。
  20. 　前記フィルタの面方向に対して垂直な断面における前記微粒子の重心間距離の平均値が２００ｎｍ以上である、請求項１７から１９のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  21. 　前記フィルタの面方向に対して垂直な断面における前記微粒子の重心間距離の平均値の変動係数が１０％以上である、請求項１７から２０のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  22. 　前記フィルタの面方向に対して垂直な断面における前記微粒子の重心間距離の平均値の変動係数が４５％以下である、請求項１７から２１のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  23. 　前記マトリクスは、架橋構造を有する樹脂を含む、請求項１７から２２のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  24. 　前記微粒子は、少なくともコロイドアモルファス集合体を構成している、請求項１７から２３のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  25. 　前記微粒子の体積分率は６％以上６０％以下である、請求項１７から２４のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  26. 　波長が５４６ｎｍの光に対する前記マトリクスの屈折率をｎＭ、前記微粒子の屈折率をｎＰとするとき、｜ｎＭ－ｎＰ｜が０．０３以上０．６以下である、請求項１７から２５のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  27. 　前記マトリクスは樹脂で形成されており、前記微粒子は無機材料で形成されている、請求項１７から２６のいずれか１項に記載の光学フィルタ。
  28. 　請求項２７に記載の光学フィルタを製造する方法であって、
    　硬化性樹脂に前記微粒子を分散・混合させた硬化性樹脂組成物を用意する工程と、
    　前記硬化性樹脂組成物を基材の表面に付与する工程と、
    　前記表面に付与された前記硬化性樹脂組成物に含まれる前記硬化性樹脂を硬化させる工程と
    を包含する、製造方法。
  29. 　前記付与工程は、塗布法で行われる、請求項２８に記載の製造方法。
  30. 　前記付与工程は、ディップコーティング法で行われる、請求項２９に記載の製造方法。
  31. 　赤外線受光部を備えたデバイスと、
    　前記デバイスの前記赤外線受光部の前面に配置された、請求項１から２７のいずれか１項に記載の光学フィルタと
    を有する、光学モジュール。
  32. 　前記デバイスは、センシングデバイス、通信デバイス、太陽電池、ヒーター、または給電デバイスである、請求項３１に記載の光学モジュール。
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