WO2021014589A1 - 画像データ管理装置および画像データ管理方法 - Google Patents

Abstract

画像データ管理装置は、基板に所定の対基板作業を行う対基板作業機が同種の対象物を撮像した複数の画像データの中から少なくとも一つの抽出対象の画像データを選定する。画像データ管理装置は、取得部と選定部とを備える。取得部は、画像データを画像処理して取得される対象物の計測値を複数の階級に区分して複数の画像データについて各階級に属する画像データの度数を算出した度数関連情報を取得する。選定部は、取得部によって取得された度数関連情報に基づいて画像データの度数分布または相対度数分布における特徴部が含まれる少なくとも一つの階級である対象階級を選出して、対象階級に属する少なくとも一つの画像データを抽出対象の画像データに選定する。

Description

画像データ管理装置および画像データ管理方法

　本明細書は、画像データ管理装置および画像データ管理方法に関する技術を開示する。

　特許文献１に記載の保存画像の再分類システムは、吸着ノズルに吸着された部品を撮像した画像を正常画像と異常画像に分類して記憶装置に保存し、保存された画像を再分類する。具体的には、保存画像を再分類する演算装置は、記憶装置に保存されている複数の正常画像から部品の吸着姿勢（例えば、位置ずれなど）を計測して、計測値を部品種毎に統計処理して分布を評価する。計測値が所定のばらつき範囲から外れる正常画像は、部品装着機の画像認識システムによって正常画像と判定されていても誤認識の可能性があるので、上記演算装置は、正常の判定が疑わしいものとして当該正常画像を再分類する。

　また、上記演算装置は、記憶装置に保存されている異常画像についても、異常画像から部品の吸着姿勢を計測する。計測値が当該部品と同じ部品種の正常画像の部品の吸着姿勢の所定のばらつき範囲内であれば、当該異常画像が正常画像のばらつき範囲内に収まっており誤認識の可能性があるので、上記演算装置は、異常の判定が疑わしいものとして当該異常画像を再分類する。

国際公開第２０１８／０８７９３２号

　しかしながら、特許文献１に記載の保存画像の再分類システムは、撮像画像から得られる部品の吸着姿勢の計測値の分布に基づいて、記憶装置に保存されている画像を、判定が疑わしいものと疑わしくないものとに再分類するものであり、所定の抽出対象の画像データを選定するものではない。

　このような事情に鑑みて、本明細書は、対基板作業機が同種の対象物を撮像した複数の画像データの中から所定の抽出対象の画像データを選定可能な画像データ管理装置および画像データ管理方法を開示する。

　本明細書は、基板に所定の対基板作業を行う対基板作業機が同種の対象物を撮像した複数の画像データの中から少なくとも一つの抽出対象の前記画像データを選定する画像データ管理装置を開示する。前記画像データ管理装置は、取得部と選定部とを備える。前記取得部は、前記画像データを画像処理して取得される前記対象物の計測値を複数の階級に区分して複数の前記画像データについて各階級に属する前記画像データの度数を算出した度数関連情報を取得する。前記選定部は、前記取得部によって取得された前記度数関連情報に基づいて前記画像データの度数分布または相対度数分布における特徴部が含まれる少なくとも一つの階級である対象階級を選出して、前記対象階級に属する少なくとも一つの前記画像データを前記抽出対象の前記画像データに選定する。

　また、本明細書は、基板に所定の対基板作業を行う対基板作業機が同種の対象物を撮像した複数の画像データの中から少なくとも一つの抽出対象の前記画像データを選定する画像データ管理方法を開示する。前記画像データ管理方法は、取得工程と選定工程とを備える。前記取得工程は、前記画像データを画像処理して取得される前記対象物の計測値を複数の階級に区分して複数の前記画像データについて各階級に属する前記画像データの度数を算出した度数関連情報を取得する。前記選定工程は、前記取得工程によって取得された前記度数関連情報に基づいて前記画像データの度数分布または相対度数分布における特徴部が含まれる少なくとも一つの階級である対象階級を選出して、前記対象階級に属する少なくとも一つの前記画像データを前記抽出対象の前記画像データに選定する。

　上記の画像データ管理装置によれば、取得部および選定部を備える。これにより、画像データ管理装置は、画像データの度数分布または相対度数分布における特徴部が含まれる対象階級に属する画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。画像データ管理装置について上述したことは、画像データ管理方法についても同様に言える。

対基板作業ラインＷＭＬの構成例を示す構成図である。 部品装着機ＷＭ３の構成例を示す平面図である。 画像データ管理装置８０の制御ブロックの一例を示すブロック図である。 画像データ管理装置８０による制御手順の一例を示すフローチャートである。 良否判断部８３による制御手順の一例を示すフローチャートである。 付加部８６および階級抽出部８７による制御手順の一例を示すフローチャートである。 保持部材３０に保持されている部品９２を部品カメラ１４によって撮像した撮像画像の一例を示す模式図である。 部品９２の計測値（幅寸法）と画像データの度数の関係の一例を示す模式図である。 部品９２の計測値（幅寸法）と画像データの度数の関係の他の一例を示す模式図である。

　１．実施形態
　１－１．対基板作業ラインＷＭＬの構成例
　対基板作業ラインＷＭＬでは、基板９０に所定の対基板作業を行う。対基板作業ラインＷＭＬを構成する対基板作業機ＷＭの種類および数は、限定されない。図１に示すように、本実施形態の対基板作業ラインＷＭＬは、印刷機ＷＭ１、印刷検査機ＷＭ２、部品装着機ＷＭ３、リフロー炉ＷＭ４および外観検査機ＷＭ５の複数（５つ）の対基板作業機ＷＭを備えており、基板９０は、基板搬送装置によって、この順に搬送される。

　印刷機ＷＭ１は、基板９０の複数の部品９２の装着位置に、はんだ９１を印刷する。印刷検査機ＷＭ２は、印刷機ＷＭ１によって印刷されたはんだ９１の印刷状態を検査する。図２に示すように、部品装着機ＷＭ３は、印刷機ＷＭ１によってはんだ９１が印刷された基板９０に複数の部品９２を装着する。部品装着機ＷＭ３は、一つであっても良く、複数であっても良い。部品装着機ＷＭ３が複数設けられる場合は、複数の部品装着機ＷＭ３が分担して、複数の部品９２を装着することができる。

　リフロー炉ＷＭ４は、部品装着機ＷＭ３によって複数の部品９２が装着された基板９０を加熱し、はんだ９１を溶融させて、はんだ付けを行う。外観検査機ＷＭ５は、部品装着機ＷＭ３によって装着された複数の部品９２の装着状態などを検査する。このように、対基板作業ラインＷＭＬは、複数（５つ）の対基板作業機ＷＭを用いて、基板９０を順に搬送し、検査処理を含む生産処理を実行して基板製品９００を生産することができる。なお、対基板作業ラインＷＭＬは、例えば、機能検査機、バッファ装置、基板供給装置、基板反転装置、シールド装着装置、接着剤塗布装置、紫外線照射装置などの対基板作業機ＷＭを必要に応じて備えることもできる。

　対基板作業ラインＷＭＬを構成する複数（５つ）の対基板作業機ＷＭおよびライン管理装置ＷＬＣは、通信部ＬＣによって電気的または電磁気的に接続されている。また、ライン管理装置ＷＬＣおよび管理装置ＷＨＣは、通信部ＬＣによって電気的または電磁気的に接続されている。通信部ＬＣは、有線または無線によって、これらを通信可能に接続する。また、通信方法は、種々の方法をとり得る。

　本実施形態では、複数（５つ）の対基板作業機ＷＭ、ライン管理装置ＷＬＣおよび管理装置ＷＨＣによって、構内情報通信網（ＬＡＮ：Ｌｏｃａｌ　Ａｒｅａ　Ｎｅｔｗｏｒｋ）が構成されている。よって、複数（５つ）の対基板作業機ＷＭは、通信部ＬＣを介して、互いに通信することができる。また、複数（５つ）の対基板作業機ＷＭは、通信部ＬＣを介して、ライン管理装置ＷＬＣと通信することができる。さらに、ライン管理装置ＷＬＣおよび管理装置ＷＨＣは、通信部ＬＣを介して、互いに通信することができる。

　ライン管理装置ＷＬＣは、対基板作業ラインＷＭＬを構成する複数（５つ）の対基板作業機ＷＭの制御を行い、対基板作業ラインＷＭＬの動作状況を監視する。ライン管理装置ＷＬＣには、複数（５つ）の対基板作業機ＷＭを制御する種々の制御データが記憶されている。ライン管理装置ＷＬＣは、複数（５つ）の対基板作業機ＷＭの各々に制御データを送信する。また、複数（５つ）の対基板作業機ＷＭの各々は、ライン管理装置ＷＬＣに動作状況および生産状況を送信する。

　管理装置ＷＨＣは、少なくとも一つのライン管理装置ＷＬＣを管理する。例えば、ライン管理装置ＷＬＣによって取得された対基板作業機ＷＭの動作状況および生産状況は、必要に応じて、管理装置ＷＨＣに送信される。管理装置ＷＨＣには、データサーバＤＳが設けられている。データサーバＤＳは、対基板作業機ＷＭが取得した種々の取得データを保存することができる。例えば、対基板作業機ＷＭによって撮像された種々の画像データは、取得データに含まれる。対基板作業機ＷＭによって取得された稼働状況の記録（ログデータ）などは、取得データに含まれる。

　また、データサーバＤＳは、基板９０の生産に関する種々の生産情報を保存することができる。例えば、部品９２の形状に関する情報、部品９２を撮像した画像データの画像処理に関する情報、部品９２の取り扱いに関する情報、部品９２を撮像するときの撮像条件に関する情報、部品９２の電気的特性に関する情報などの形状関連情報は、生産情報に含まれる。

　さらに、部品９２の供給方法に関する情報であるパッケージ情報は、生産情報に含まれる。また、印刷検査機ＷＭ２、外観検査機ＷＭ５などの検査機が対象物ＴＧ０を検査する際に使用する検査基準情報は、生産情報に含まれる。さらに、検査機による検査結果は、生産情報に含まれる。また、基板製品９００の品質情報（トレーサビリティ情報）は、生産情報に含まれる。

　１－２．部品装着機ＷＭ３の構成例
　部品装着機ＷＭ３は、基板９０に複数の部品９２を装着する。図２に示すように、部品装着機ＷＭ３は、基板搬送装置１１、部品供給装置１２、部品移載装置１３、部品カメラ１４、基板カメラ１５および制御装置１６を備えている。

　基板搬送装置１１は、例えば、ベルトコンベアなどによって構成され、基板９０を搬送方向（Ｘ軸方向）に搬送する。基板９０は、回路基板であり、電子回路および電気回路のうちの少なくとも一方が形成される。基板搬送装置１１は、部品装着機ＷＭ３の機内に基板９０を搬入し、機内の所定位置に基板９０を位置決めする。基板搬送装置１１は、部品装着機ＷＭ３による複数の部品９２の装着処理が終了した後に、基板９０を部品装着機ＷＭ３の機外に搬出する。

　部品供給装置１２は、基板９０に装着される複数の部品９２を供給する。部品供給装置１２は、基板９０の搬送方向（Ｘ軸方向）に沿って設けられる複数のフィーダ１２１を備えている。複数のフィーダ１２１の各々は、複数の部品９２が収納されるキャリアテープ（図示略）をピッチ送りさせて、フィーダ１２１の先端側に位置する供給位置において部品９２を採取可能に供給する。また、部品供給装置１２は、チップ部品などと比べて比較的大型の電子部品（例えば、リード部品など）を、トレイ上に配置した状態で供給することもできる。

　部品移載装置１３は、ヘッド駆動装置１３１および移動台１３２を備えている。ヘッド駆動装置１３１は、直動機構によって移動台１３２を、Ｘ軸方向およびＹ軸方向に移動可能に構成されている。移動台１３２には、クランプ部材（図示略）によって装着ヘッド２０が着脱可能（交換可能）に設けられている。装着ヘッド２０は、少なくとも一つの保持部材３０を用いて、部品供給装置１２によって供給される部品９２を採取し保持して、基板搬送装置１１によって位置決めされた基板９０に部品９２を装着する。保持部材３０は、例えば、吸着ノズル、チャックなどを用いることができる。

　部品カメラ１４および基板カメラ１５は、公知の撮像装置を用いることができる。部品カメラ１４は、光軸が鉛直方向（Ｚ軸方向）の上向きになるように、部品装着機ＷＭ３の基台に固定されている。部品カメラ１４は、保持部材３０に保持されている部品９２を下方から撮像することができる。基板カメラ１５は、光軸が鉛直方向（Ｚ軸方向）の下向きになるように、部品移載装置１３の移動台１３２に設けられている。基板カメラ１５は、基板９０を上方から撮像することができる。部品カメラ１４および基板カメラ１５は、制御装置１６から送出される制御信号に基づいて撮像を行う。部品カメラ１４および基板カメラ１５によって撮像された撮像画像の画像データは、制御装置１６に送信される。

　制御装置１６は、公知の演算装置および記憶装置を備えており、制御回路が構成されている（いずれも図示略）。制御装置１６には、部品装着機ＷＭ３に設けられる各種センサから出力される情報、画像データなどが入力される。制御装置１６は、制御プログラムおよび予め設定されている所定の装着条件などに基づいて、各装置に対して制御信号を送出する。

　例えば、制御装置１６は、基板搬送装置１１によって位置決めされた基板９０を基板カメラ１５に撮像させる。制御装置１６は、基板カメラ１５によって撮像された撮像画像を画像処理して、基板９０の位置決め状態を認識する。また、制御装置１６は、部品供給装置１２によって供給された部品９２を保持部材３０に採取させ保持させて、保持部材３０に保持されている部品９２を部品カメラ１４に撮像させる。制御装置１６は、部品カメラ１４によって撮像された撮像画像を画像処理して、部品９２の保持姿勢を認識する。

　制御装置１６は、制御プログラムなどによって予め設定される装着予定位置の上方に向かって、保持部材３０を移動させる。また、制御装置１６は、基板９０の位置決め状態、部品９２の保持姿勢などに基づいて、装着予定位置を補正して、実際に部品９２を装着する装着位置を設定する。装着予定位置および装着位置は、位置（Ｘ軸座標およびＹ軸座標）の他に回転角度を含む。

　制御装置１６は、装着位置に合わせて、保持部材３０の目標位置（Ｘ軸座標およびＹ軸座標）および回転角度を補正する。制御装置１６は、補正された目標位置において補正された回転角度で保持部材３０を下降させて、基板９０に部品９２を装着する。制御装置１６は、上記のピックアンドプレースサイクルを繰り返すことによって、基板９０に複数の部品９２を装着する装着処理を実行する。

　１－３．画像データ管理装置８０の構成例
　既述したように、対基板作業機ＷＭによって取得された種々の画像データは、データサーバＤＳに保存される。例えば、部品装着機ＷＭ３では、部品カメラ１４によって撮像された撮像画像の画像データは、データサーバＤＳに保存される。また、基板カメラ１５によって撮像された撮像画像の画像データは、データサーバＤＳに保存される。

　これにより、管理装置ＷＨＣ、ライン管理装置ＷＬＣまたは対基板作業機ＷＭ（上記の例では、部品装着機ＷＭ３若しくは外観検査機ＷＭ５）は、対基板作業に不具合が生じたときに、データサーバＤＳに保存されている画像データに基づいて、不具合の原因を調査することができる。また、部品９２の形状関連情報を管理する管理装置ＷＨＣは、必要に応じて、データサーバＤＳに保存されている形状関連情報を修正することができ、新たに形状関連情報を作成することができる。さらに、対象物ＴＧ０の検査基準情報を管理する管理装置ＷＨＣは、必要に応じて、データサーバＤＳに保存されている検査基準情報を修正することができ、新たに検査基準情報を作成することができる。

　しかしながら、画像データは、例えば、テキストデータなどと比べて、データ容量が大きくなり易いので、画像データをデータサーバＤＳに送信する際に、図１に示す通信部ＬＣの負荷が増大する可能性がある。また、対基板作業機ＷＭの直近にデータサーバＤＳが設けられる場合であっても、画像データは、データサーバＤＳの保存領域を占有し易い。そこで、本実施形態では、対基板作業機ＷＭが取得した複数の画像データの中から所定の画像データを抽出可能な画像データ管理装置８０が設けられている。

　画像データ管理装置８０は、基板９０に所定の対基板作業を行う対基板作業機ＷＭが同種の対象物ＴＧ０を撮像した複数の画像データの中から少なくとも一つの抽出対象の画像データを選定する。例えば、対基板作業機ＷＭが基板９０に部品９２を装着する部品装着機ＷＭ３の場合、基板９０の位置決め作業、部品９２の採取作業、部品９２の装着作業などは、対基板作業に含まれる。

　図２に示すように、例えば、対基板作業機ＷＭが部品装着機ＷＭ３の場合、部品装着機ＷＭ３は、位置決めされた基板９０の位置決め基準部９０Ｍを撮像する基板カメラ１５を備えている。この場合、対象物ＴＧ０は、位置決め基準部９０Ｍであり、画像データには、基板カメラ１５が位置決め基準部９０Ｍを撮像した撮像画像の画像データが含まれる。また、部品装着機ＷＭ３は、保持部材３０に保持されている部品９２を撮像する部品カメラ１４を備えている。この場合、対象物ＴＧ０は、部品９２であり、画像データには、部品カメラ１４が部品９２を撮像した撮像画像の画像データが含まれる。

　後記するように、対基板作業機ＷＭ、対基板作業、対象物ＴＧ０および画像データは、限定されない。本明細書では、部品装着機ＷＭ３が部品９２の採取作業および装着作業において取得した画像データ（部品カメラ１４が保持部材３０に保持されている部品９２を撮像した撮像画像の画像データ）を例に説明されている。

　画像データ管理装置８０は、制御ブロックとして捉えると、取得部８１と、選定部８２とを備えている。対基板作業機ＷＭは、良否判断部８３および付加部８６のうちの少なくとも一方を備えることができる。画像データ管理装置８０は、データ送信部８４、管理部８５および階級抽出部８７のうちの少なくとも一つをさらに備えることができる。図３に示すように、本実施形態の画像データ管理装置８０は、取得部８１と、選定部８２と、データ送信部８４と、管理部８５と、階級抽出部８７とを備えている。対基板作業機ＷＭである部品装着機ＷＭ３は、良否判断部８３と、付加部８６とを備えている。

　また、本実施形態の画像データ管理装置８０では、取得部８１、選定部８２、データ送信部８４および階級抽出部８７がライン管理装置ＷＬＣに設けられ、管理部８５が管理装置ＷＨＣに設けられている。取得部８１、選定部８２、データ送信部８４、管理部８５および階級抽出部８７は、種々の制御装置に設けることができる。また、取得部８１、選定部８２、データ送信部８４、管理部８５および階級抽出部８７は、クラウド上に形成することもできる。

　さらに、画像データ管理装置８０および部品装着機ＷＭ３は、図４Ａおよび図４Ｃに示すフローチャートに従って、制御を実行する。また、部品装着機ＷＭ３は、図４Ｂに示すフローチャートに従って、制御を実行する。取得部８１は、ステップＳ１１に示す処理を行う。選定部８２は、ステップＳ１２～ステップＳ１４に示す処理および判断を行う。良否判断部８３は、ステップＳ２１～ステップＳ２４に示す処理および判断を行う。データ送信部８４は、ステップＳ１５に示す処理を行う。管理部８５は、ステップＳ１６およびステップＳ１７に示す処理を行う。付加部８６は、ステップＳ３１に示す処理を行う。階級抽出部８７は、ステップＳ３２に示す処理を行う。

　１－３－１．取得部８１
　取得部８１は、度数関連情報を取得する（図４Ａに示すステップＳ１１）。度数関連情報は、画像データを画像処理して取得される対象物ＴＧ０の計測値を複数の階級に区分して複数の画像データについて各階級に属する画像データの度数を算出したものをいう。

　図５は、保持部材３０に保持されている部品９２を部品カメラ１４によって撮像した撮像画像の一例を示している。部品装着機ＷＭ３の制御装置１６は、画像データを画像処理して、対象物ＴＧ０である部品９２（保持部材３０に保持されている部品９２）を取得する。

　そして、制御装置１６は、画像データから取得された部品９２を計測して、保持部材３０に保持されている部品９２が採取すべき部品９２であるか否かを評価する。制御装置１６は、採取すべき部品９２と比べて、以下に示す計測ポイントがすべて一致若しくは許容範囲に含まれるときに、対象物ＴＧ０である部品９２が採取すべき部品９２であると評価する。この場合、制御装置１６は、当該部品９２の装着を許容する。

　逆に、制御装置１６は、採取すべき部品９２と比べて、以下に示す計測ポイントのうちの少なくとも一つが不一致若しくは許容範囲に含まれないときに、対象物ＴＧ０である部品９２が採取すべき部品９２でないと評価する。この場合、制御装置１６は、当該部品９２の装着を規制し、例えば、当該部品９２を廃棄ボックス（図示略）に移動する。

　例えば、部品９２の幅寸法および奥行き寸法は、計測ポイントに含まれる。また、部品９２がリード部品の場合、リードの本数、位置（座標）、向き、長さ寸法、幅寸法、ピッチなどは、計測ポイントに含まれる。さらに、部品９２がＢＧＡ（Ｂａｌｌ　Ｇｒｉｄ　Ａｒｒａｙ）部品の場合、バンプの数、位置（座標）、直径、ピッチなどは、計測ポイントに含まれる。

　また、部品９２に方向チェックマークが設けられている場合、方向チェックマークの位置、輝度などは、計測ポイントに含まれる。方向チェックマークに基づいて、部品９２の装着方向の正否が判別される。なお、部品装着機ＷＭ３は、保持部材３０に保持されている部品９２を側方から撮像する側方カメラ（図示略）を備えることができる。この場合、部品９２の高さ寸法は、計測ポイントに含まれる。

　図５の破線で示す部品９２は、部品９２の計測に関する基準値ＲＰ１（幅寸法ＬＸ０および奥行き寸法ＬＹ０）を示している。同図の実線で示す部品９２は、保持部材３０に保持されている部品９２の実際の幅寸法ＬＸ１および奥行き寸法ＬＹ０の一例を示している。制御装置１６は、計測ポイントである部品９２の幅寸法ＬＸ１および奥行き寸法ＬＹ０がそれぞれの許容範囲に含まれるときに、対象物ＴＧ０である部品９２が採取すべき部品９２であると評価する。制御装置１６は、計測ポイントである部品９２の幅寸法ＬＸ１および奥行き寸法ＬＹ０のうちの少なくとも一方がそれぞれの許容範囲に含まれないときに、対象物ＴＧ０である部品９２が採取すべき部品９２でないと評価する。

　取得部８１は、対象物ＴＧ０（部品９２）の計測値を複数の階級に区分して、対基板作業機ＷＭ（部品装着機ＷＭ３）が同種の対象物ＴＧ０（部品９２）を撮像した複数の画像データについて、各階級に属する画像データの度数を算出した度数関連情報を取得する。制御装置１６は、対象物ＴＧ０（部品９２）の計測値に基づいて、度数関連情報を作成することができる。また、以下に示すように、取得部８１は、制御装置１６によって計測された対象物ＴＧ０（部品９２）の計測値を取得して、度数関連情報を作成することもできる。

　図６は、部品カメラ１４によって撮像された撮像画像の画像データから取得される部品９２の計測値（幅寸法）と、画像データの度数の関係の一例を示している。同図の横軸は、部品９２の計測値（幅寸法）を示している。同図では、部品９２の計測値（幅寸法）は、例えば、１１の階級に区分されているが、階級の数は、限定されない。また、同図の縦軸は、画像データの度数を示している。図５の実線で示す部品９２の幅寸法は、幅寸法ＬＸ１であり、基準値ＲＰ１の幅寸法ＬＸ０と比べて大きい。よって、図６に示すように、図５の撮像画像の画像データは、基準値ＲＰ１の幅寸法ＬＸ０が属する階級に対して、紙面右側の階級（大きい階級）に含まれる。

　同様にして、取得部８１は、部品装着機ＷＭ３が同種の部品９２を撮像した複数の画像データ（部品カメラ１４によって撮像された撮像画像の画像データ）について、各階級に属する画像データの度数を算出することができる。同種の部品９２は、部品種が同じ部品９２をいい、例えば、製造者が異なる部品９２、製造ロットが異なる部品９２なども含まれる。また、取得部８１は、例えば、部品９２の奥行き寸法などの他の計測ポイントについても、同様にして、各階級に属する画像データの度数を算出することができる。

　度数関連情報は、対象物ＴＧ０である部品９２の計測値の階級と画像データの度数が階級ごとに記録されている度数分布データであっても良く、度数分布データに基づいて作成される度数分布若しくは相対度数分布であっても良い。度数分布データは、対象物ＴＧ０である部品９２の計測値の階級と、階級に属する画像データの度数の組み合わせを記録したものであり、例えば、表、配列などによって表すことができる。

　図６に示すように、度数分布は、対象物ＴＧ０である部品９２の計測値の階級ごとの画像データの度数をグラフ化したものであり、例えば、ヒストグラム、折れ線、曲線Ｌ１１などによって表すことができる。曲線Ｌ１１は、各階級の画像データの度数を滑らかな曲線で結んでグラフ化したものである。

　また、相対度数分布は、各階級の画像データの度数を、画像データの総数で除してグラフ化したものであり、同様に、ヒストグラム、折れ線、曲線などによって表すことができる。このようなグラフ化により、画像データ管理装置８０の使用者は、画像データの度数の傾向を容易に把握することができる。なお、図６に示す度数分布は、正規分布であるが、度数分布は、正規分布に限定されない。

　１－３－２．選定部８２および良否判断部８３
　既述したように、例えば、図１に示す通信部ＬＣの負荷の軽減、データサーバＤＳの保存領域の有効活用の観点から、対基板作業機ＷＭが取得した複数の画像データの中から所定の画像データを抽出する必要がある。そこで、選定部８２は、取得部８１によって取得された度数関連情報に基づいて画像データの度数分布または相対度数分布における特徴部ＦＰ１が含まれる少なくとも一つの階級である対象階級ＴＣ１を選出して、対象階級ＴＣ１に属する少なくとも一つの画像データを抽出対象の画像データに選定する。

　特徴部ＦＰ１は、画像データの度数分布または相対度数分布の特徴を示している部分であれば良く、限定されない。例えば、図６に示す部品９２の計測値の代表値ＦＰ１１（例えば、中央値、最頻値または平均値。以下、同じ。）が得られる撮像画像には、当該部品９２を撮像した一般的な撮像画像が多く含まれる。逆に、部品９２の計測値の最大値ＦＰ１２または最小値ＦＰ１３が得られる撮像画像には、当該部品９２を撮像した複数の撮像画像における特異な撮像画像が含まれる場合が多い。

　管理者が対基板作業の不具合の原因を調査するときには、これらの撮像画像の画像データが保存されていれば十分な場合が多い。例えば、代表値ＦＰ１１から最大値ＦＰ１２までの間の計測値が得られる撮像画像は、計測値として代表値ＦＰ１１または最大値ＦＰ１２が得られる撮像画像に基づいて類推することができる場合が多い。このことは、後記されている対象物ＴＧ０の形状関連情報を修正または作成する場合、対象物ＴＧ０の検査基準情報を修正または作成する場合などについても同様に言える。そこで、特徴部ＦＰ１は、対象物ＴＧ０の計測値の代表値ＦＰ１１、最大値ＦＰ１２および最小値ＦＰ１３のうちの少なくとも一つであると良い。

　この場合、選定部８２は、対象物ＴＧ０である部品９２の計測値の代表値ＦＰ１１が含まれる対象階級ＴＣ１１に属する少なくとも一つの画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。また、選定部８２は、対象物ＴＧ０である部品９２の計測値の最大値ＦＰ１２が含まれる対象階級ＴＣ１２に属する少なくとも一つの画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。さらに、選定部８２は、対象物ＴＧ０である部品９２の計測値の最小値ＦＰ１３が含まれる対象階級ＴＣ１３に属する少なくとも一つの画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。

　同様の観点から、特徴部ＦＰ１は、度数分布または相対度数分布の統計値に基づいて算出される度数分布または相対度数分布の代表値ＦＰ２１、最大値ＦＰ２２および最小値ＦＰ２３のうちの少なくとも一つであっても良い。例えば、選定部８２は、度数分布または相対度数分布の中央値、最頻値または平均値を算出して、算出値を代表値ＦＰ２１とすることができる。

　また、例えば、選定部８２は、度数分布または相対度数分布の標準偏差を算出して、代表値ＦＰ２１に標準偏差の整数倍（例えば、三倍）を加算した加算値を最大値ＦＰ２２とすることができる。選定部８２は、度数分布または相対度数分布の標準偏差を算出して、代表値ＦＰ２１から標準偏差の整数倍（例えば、三倍）を減算した減算値を最小値ＦＰ２３とすることができる。図６では、代表値ＦＰ２１は、代表値ＦＰ１１と一致している。また、最大値ＦＰ２２は、最大値ＦＰ１２と一致し、最小値ＦＰ２３は、最小値ＦＰ１３と一致している。

　この場合、選定部８２は、度数分布または相対度数分布の代表値ＦＰ２１が含まれる対象階級ＴＣ１１に属する少なくとも一つの画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。また、選定部８２は、度数分布または相対度数分布の最大値ＦＰ２２が含まれる対象階級ＴＣ１２に属する少なくとも一つの画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。さらに、選定部８２は、度数分布または相対度数分布の最小値ＦＰ２３が含まれる対象階級ＴＣ１３に属する少なくとも一つの画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。

　このようにして、選定部８２は、対象階級ＴＣ１を選出する（図４Ａに示すステップＳ１２）。そして、選定部８２は、対基板作業機ＷＭ（部品装着機ＷＭ３）が同種の対象物ＴＧ０（部品９２）を撮像した複数の画像データについて、対象階級ＴＣ１に属するか否かを判断する（ステップＳ１３）。画像データが対象階級ＴＣ１に属する場合（ステップＳ１３で「Ｙｅｓ」の場合）、選定部８２は、当該画像データを抽出対象の画像データに選定する（ステップＳ１４）。画像データが対象階級ＴＣ１に属さない場合（ステップＳ１３で「Ｎｏ」の場合）、ステップＳ１４に示す処理は行われず、当該画像データは、抽出対象の画像データに選定されない。

　なお、対象階級ＴＣ１に属する画像データのうち、対象階級ＴＣ１１に属する画像データは、対象階級ＴＣ１２または対象階級ＴＣ１３に属する画像データと比べて度数が高い。そのため、選定部８２は、対象階級ＴＣ１１に属する複数の画像データのうちの一部の画像データを抽出対象の画像データに選定すると良い。例えば、選定部８２は、対象階級ＴＣ１１に属する複数の画像データのうち、対象階級ＴＣ１２または対象階級ＴＣ１３に属する画像データの度数以下の数の画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。

　また、少なくとも一つの対象階級ＴＣ１の各々について、少なくとも一つの画像データが抽出対象の画像データに選定されていれば良い。さらに、抽出対象の画像データに選定されなかった画像データは、削除しても良く、圧縮処理して保存しても良い。当該画像データを圧縮処理して保存する場合、制御装置１６は、当該画像データを可逆圧縮して保存することができる。また、制御装置１６は、抽出対象の画像データと比べた重要度を考慮して、抽出対象の画像データに選定されなかった画像データを非可逆圧縮して保存することもできる。

　良否判断部８３は、画像データに基づいて対象物ＴＧ０の良否を判断する。例えば、対基板作業機ＷＭが部品装着機ＷＭ３の場合、良否判断部８３は、図２に示す部品カメラ１４によって撮像された撮像画像の画像データに基づいて部品９２を認識して、部品９２の良否を判断することができる。この場合、部品９２の良否判断は、既述した採取すべき部品９２であるか否かの評価に含まれる。

　また、対基板作業機ＷＭが印刷検査機ＷＭ２の場合、良否判断部８３は、印刷検査機ＷＭ２によって撮像された撮像画像の画像データに基づいてはんだ９１の印刷状態を認識して、はんだ９１の印刷状態の良否を判断することができる。さらに、対基板作業機ＷＭが外観検査機ＷＭ５の場合、良否判断部８３は、外観検査機ＷＭ５によって撮像された撮像画像の画像データに基づいて部品９２を認識して、部品９２の良否を判断することができる。

　いずれの場合も、良否判断部８３は、画像データから対象物ＴＧ０を認識する（図４Ｂに示すステップＳ２１）。そして、良否判断部８３は、認識結果が所定範囲内か否かを判断する（ステップＳ２２）。上記所定範囲は、例えば、後記されている対象物ＴＧ０の計測に関する許容範囲ＲＡ１を用いることができる。認識結果が所定範囲内の場合（ステップＳ２２で「Ｙｅｓ」の場合）、良否判断部８３は、対象物ＴＧ０を良好と判断する（ステップＳ２３）。認識結果が所定範囲に含まれない場合（ステップＳ２２で「Ｎｏ」の場合）、良否判断部８３は、対象物ＴＧ０を不良と判断する（ステップＳ２４）。

　選定部８２は、対象階級ＴＣ１に属する画像データに加えて、良否判断部８３が対象物ＴＧ０を不良と判断したときに用いられた画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。例えば、図６に示す画像データＥＰ１は、許容範囲ＲＡ１に含まれず、良否判断部８３は、画像データＥＰ１から取得される対象物ＴＧ０（部品９２）を不良と判断する。この場合、選定部８２は、対象階級ＴＣ１に属する画像データに加えて、画像データＥＰ１を抽出対象の画像データに選定する。

　これにより、対象階級ＴＣ１に属する画像データと、良否判断部８３が対象物ＴＧ０（部品９２）を不良と判断したときに用いられた画像データとの対比が容易になり、管理者は、これらの画像データを対比して、不具合の原因調査を行うことができる。このことは、後記されている対象物ＴＧ０の形状関連情報を修正または作成する場合、対象物ＴＧ０の検査基準情報を修正または作成する場合などについても同様に言える。

　１－３－３．データ送信部８４
　データ送信部８４は、対基板作業機ＷＭによって取得された複数の画像データのうち、選定部８２によって選定された抽出対象の画像データをデータサーバＤＳに送信する（図４Ａに示すステップＳ１５）。

　データ送信部８４は、選定部８２によって抽出対象の画像データが選定される毎に、抽出対象の画像データをデータサーバＤＳに送信することができる。また、データ送信部８４は、選定部８２によって所定数の抽出対象の画像データが選定されたときに、所定数の抽出対象の画像データを一度に、または、複数回に分けて、データサーバＤＳに送信することもできる。さらに、データ送信部８４は、制御プログラムが切り替わるときに、切り替わる前の制御プログラムを使用して生産した基板製品９００について取得された所定数の抽出対象の画像データを一度に、または、複数回に分けて、データサーバＤＳに送信することもできる。いずれの場合も、送信された画像データは、データサーバＤＳに保存される。

　本実施形態の画像データ管理装置８０は、データ送信部８４を備えるので、対基板作業機ＷＭによって取得された複数の画像データをすべてデータサーバＤＳに送信する場合と比べて、図１に示す通信部ＬＣの負荷を軽減することができる。また、画像データ管理装置８０は、対基板作業機ＷＭによって取得された複数の画像データをすべてデータサーバＤＳに保存する場合と比べて、データサーバＤＳの保存領域を確保することができ、データサーバＤＳの保存領域を有効活用することができる。

　なお、データ送信部８４は、選定部８２によって選定された抽出対象の画像データと共に、度数関連情報をデータサーバＤＳに送信することもできる。度数関連情報は、度数分布データであっても良く、度数分布若しくは相対度数分布であっても良い。また、データサーバＤＳに送信する度数関連情報には、抽出対象の画像データに関する情報の他に、選定部８２によって選定されなかった画像データに関する情報が含まれていると良い。これにより、後に画像データが取得された場合に、度数関連情報の更新が容易になる。

　１－３－４．管理部８５
　管理部８５は、対象物ＴＧ０の計測に関する基準値ＲＰ１および許容範囲ＲＡ１を含む対象物ＴＧ０の形状に関連する情報が少なくとも定義されている形状関連情報を管理する。形状関連情報は、図１および図３に示すデータサーバＤＳに保存されており、例えば、既述した良否判断部８３が対象物ＴＧ０の良否を判断する際に使用される。

　基準値ＲＰ１は、例えば、対象物ＴＧ０の公称値（例えば、データシートに記載の公称値など）に合わせて設定することができる。許容範囲ＲＡ１は、例えば、対象物ＴＧ０のもつトレランス（例えば、データシートに記載の寸法公差など）に合わせて設定することができる。また、許容範囲ＲＡ１は、例えば、対象物ＴＧ０を撮像するときの撮像条件などの相違を考慮して、上記トレランスを増減させて設定することもできる。さらに、基準値ＲＰ１および許容範囲ＲＡ１は、予め試験的に度数関連情報を取得して、取得した度数関連情報を用いて設定しても良い。

　管理部８５は、対象物ＴＧ０の許容範囲ＲＡ１に相当する階級に対象物ＴＧ０の計測値が含まれず且つ対象物ＴＧ０が適当であるときに、当該計測値が許容範囲ＲＡ１に含まれるように形状関連情報に定義されている基準値ＲＰ１および許容範囲ＲＡ１のうちの少なくとも一方を修正する（図４Ａに示すステップＳ１６）。

　例えば、図６に示す画像データＥＰ１から取得される部品９２の計測値は、部品９２の許容範囲ＲＡ１に相当する階級に含まれない。このときに部品９２が適当である場合、管理部８５は、当該計測値が許容範囲ＲＡ１に含まれるように形状関連情報に定義されている基準値ＲＰ１および許容範囲ＲＡ１のうちの少なくとも一方を修正する。部品９２が適当であるか否かは、管理者が判断することができる。また、部品９２が適当であるか否かは、例えば、ニューラルネットワーク、ディープラーニングなどの人工知能的な手法によって、対基板作業機ＷＭまたは管理部８５が判断しても良い。

　図６に示すように、管理部８５は、形状関連情報に定義されている許容範囲ＲＡ１を、許容範囲ＲＡ１より広範囲の許容範囲ＲＡ２に修正することができる。上記修正により、図６に示す画像データＥＰ１から取得される対象物ＴＧ０の計測値は、修正された許容範囲ＲＡ２に含まれるようになる。また、管理部８５は、例えば、形状関連情報に定義されている基準値ＲＰ１を、基準値ＲＰ１が属する階級より一階級大きい階級の階級値に修正することもできる。許容範囲ＲＡ１が基準値ＲＰ１を中心に設定される場合、上記修正により、図６に示す画像データＥＰ１から取得される対象物ＴＧ０の計測値は、許容範囲ＲＡ１に含まれるようになる。

　但し、図６に示す例では、形状関連情報に定義されている基準値ＲＰ１のみを修正すると、対象階級ＴＣ１３が許容範囲ＲＡ１に相当する階級に含まれなくなる。そのため、管理部８５は、画像データＥＰ１から取得される対象物ＴＧ０の計測値が許容範囲ＲＡ１に含まれるように形状関連情報に定義されている基準値ＲＰ１および許容範囲ＲＡ１の両方を修正すると良い。

　また、管理部８５は、対象物ＴＧ０の許容範囲ＲＡ１に相当する階級に対象物ＴＧ０の計測値が含まれず且つ対象物ＴＧ０が適当であるときに、当該計測値が許容範囲ＲＡ１に含まれる形状関連情報を作成することもできる。上述したいずれの場合も、管理部８５は、形状関連情報を適正化することができる。

　対基板作業機ＷＭが対象物ＴＧ０を検査する検査機の場合、管理部８５は、検査機が対象物ＴＧ０を検査する際に使用する情報であって対象物ＴＧ０の計測に関する基準値ＲＰ１および許容範囲ＲＡ１が定義されている検査基準情報を管理することもできる。本実施形態では、検査機は、印刷検査機ＷＭ２または外観検査機ＷＭ５である。

　図１に示すように、対基板作業機ＷＭが、基板９０に印刷されたはんだ９１の印刷状態を検査する印刷検査機ＷＭ２の場合、印刷機ＷＭ１によるはんだ９１の印刷作業は、対基板作業に含まれる。また、印刷検査機ＷＭ２は、はんだ９１を撮像する検査カメラＣＵ１を備えている。この場合、対象物ＴＧ０は、はんだ９１であり、画像データには、検査カメラＣＵ１によって撮像された撮像画像の画像データが含まれる。なお、はんだ９１の計測ポイントには、はんだ９１の面積、高さおよび体積が含まれる。

　図１に示すように、対基板作業機ＷＭが、基板９０に装着された部品９２の装着状態を検査する外観検査機ＷＭ５の場合、部品装着機ＷＭ３による部品９２の装着作業は、対基板作業に含まれる。また、外観検査機ＷＭ５は、部品９２を撮像する検査カメラＣＵ２を備えている。この場合、対象物ＴＧ０は、部品９２であり、画像データには、検査カメラＣＵ２によって撮像された撮像画像の画像データが含まれる。なお、部品９２の計測ポイントは、既述した部品９２の計測ポイントと同様である。

　形状関連情報と同様に、検査基準情報は、図１および図３に示すデータサーバＤＳに保存されている。検査基準情報には、対象物ＴＧ０の計測に関する基準値ＲＰ１および許容範囲ＲＡ１が定義されている。基準値ＲＰ１および許容範囲ＲＡ１は、形状関連情報と同様にして設定することができる。

　管理部８５は、対象物ＴＧ０の許容範囲ＲＡ１に相当する階級に対象物ＴＧ０の計測値が含まれず且つ対象物ＴＧ０が適当であるときに、当該計測値が許容範囲ＲＡ１に含まれるように検査基準情報に定義されている基準値ＲＰ１および許容範囲ＲＡ１のうちの少なくとも一方を修正する（図４Ａに示すステップＳ１７）。また、管理部８５は、対象物ＴＧ０の許容範囲ＲＡ１に相当する階級に対象物ＴＧ０の計測値が含まれず且つ対象物ＴＧ０が適当であるときに、当該計測値が許容範囲ＲＡ１に含まれる検査基準情報を作成することもできる。管理部８５は、形状関連情報の場合と同様にして、検査基準情報を修正または作成することができる。これにより、管理部８５は、検査基準情報を適正化することができる。

　１－３－５．付加部８６および階級抽出部８７
　図７は、部品カメラ１４によって撮像された撮像画像の画像データから取得される部品９２の計測値（幅寸法）と、画像データの度数の関係の他の一例を示している。曲線Ｌ２０で示すように、図７に示す度数分布は、複数の分布（同図では、曲線Ｌ２１および曲線Ｌ２２で示される二つの正規分布）を含む点で、図６に示す度数分布と異なる。なお、部品９２以外の対象物ＴＧ０および幅寸法以外の他の計測ポイントについても、同様の度数分布（度数関連情報）が得られる場合がある。

　複数の分布を含む度数分布または相対度数分布（度数関連情報）は、例えば、部品９２の製造者、部品９２の製造ロットなどの相違に起因して生じる可能性がある。例えば、一の製造者が製造した部品９２の度数分布または相対度数分布（度数関連情報）が曲線Ｌ２１の正規分布で示され、他の製造者が製造した部品９２の度数分布または相対度数分布（度数関連情報）が曲線Ｌ２２の正規分布で示される場合が想定される。また、部品９２について上述したことは、部品９２を用いた対基板作業についても生じる可能性がある。

　例えば、図２に示す部品供給装置１２において搭載位置が異なるフィーダ１２１から部品９２が採取された場合に、キャリアテープの送り精度などの相違に起因して生じる可能性がある。また、同一のフィーダ１２１から部品９２が採取される場合であっても、部品移載装置１３の直動機構の熱膨張などに起因して生じる可能性もある。さらに、部品９２を撮像する部品カメラ１４の個体差、複数の部品装着機ＷＭ３が使用される場合の部品装着機ＷＭ３の個体差などに起因して生じる可能性もある。

　そこで、本実施形態では、対基板作業機ＷＭである部品装着機ＷＭ３は、付加部８６を備えている。付加部８６は、対象物ＴＧ０を用いた対基板作業に関する付加情報を画像データに付加する（図４Ｃに示すステップＳ３１）。例えば、付加情報は、基板９０に関する情報である基板情報、対基板作業において使用される使用機器に関する情報である機器情報、対基板作業の作業条件および作業結果に関する情報である作業情報、並びに、対象物ＴＧ０に関する情報である対象物情報のうちの少なくとも一つである。

　例えば、基板９０に付されている識別コードから読み取られる情報（基板９０を特定する識別情報など）、基板９０に設けられている位置決め基準部９０Ｍの位置情報および形状情報、基板９０の搬送速度などは、基板情報に含まれる。また、例えば、対基板作業機ＷＭが部品装着機ＷＭ３の場合、部品装着機ＷＭ３を特定する情報、フィーダ１２１を特定する情報、フィーダ１２１の部品供給装置１２における搭載位置（部品９２の吸着位置）を特定する情報、装着ヘッド２０および保持部材３０を特定する情報などは、機器情報に含まれる。

　また、例えば、制御装置１６に記憶されている制御プログラムおよび予め設定されている装着条件などは、作業条件に関する作業情報に含まれる。例えば、制御プログラムのバージョン情報、部品９２の装着順序、部品９２が基板９０に装着されるときの回路番号、部品９２の吸着位置および許容値、部品９２の装着位置、フィーダ１２１のキャリアテープの送り回数および送り補正量などは、作業条件に関する作業情報に含まれる。

　また、部品移載装置１３のヘッド駆動装置１３１は、例えば、ボールねじなどの直動機構により移動台１３２を、Ｘ軸方向およびＹ軸方向に移動させる。この場合、ボールねじの温度によって熱膨張の程度が異なるので、制御装置１６は、ボールねじの温度に応じて移動量を補正する。移動台１３２の熱膨張に対する補正量は、作業条件に関する作業情報に含まれる。

　さらに、例えば、基板カメラ１５によって撮像された撮像画像を画像処理して、基板９０の位置決め状態を認識した認識結果（良好または不良、エラーコードなど）は、作業結果に関する作業情報に含まれる。部品カメラ１４によって撮像された撮像画像を画像処理して、部品９２の保持姿勢を認識した認識結果（良好または不良、エラーコードなど）は、作業結果に関する作業情報に含まれる。

　また、印刷検査機ＷＭ２によって撮像された撮像画像を画像処理して、はんだ９１の印刷状態を検査した検査結果（良好または不良、エラーコードなど）は、作業結果に関する作業情報に含まれる。さらに、外観検査機ＷＭ５によって撮像された撮像画像を画像処理して、部品９２の装着状態を検査した検査結果（良好または不良、エラーコードなど）は、作業結果に関する作業情報に含まれる。

　また、例えば、部品装着機ＷＭ３によって基板９０に装着される部品９２に関する情報は、対象物情報に含まれる。例えば、部品９２が基板９０に装着されるときの回路番号、部品９２の吸着位置、部品９２の装着位置、部品９２の部品種、部品９２の製造者、部品９２の製造ロット、部品９２の形状関連情報およびパッケージ情報などは、対象物情報に含まれる。さらに、印刷機ＷＭ１によって基板９０に印刷されるはんだ９１に関する情報は、対象物情報に含まれる。

　また、印刷検査機ＷＭ２、外観検査機ＷＭ５などの検査機が対象物ＴＧ０を検査する際に使用する検査基準情報は、対象物情報に含まれる。なお、付加情報は、基板情報、機器情報、作業情報および対象物情報の複数の情報に含まれる場合もある。例えば、部品９２の吸着位置は、機器情報に含まれると共に、作業情報および対象物情報にも含まれる。

　階級抽出部８７は、度数関連情報に基づいて複数の分布を含む度数分布または相対度数分布が得られるときに、画像データに付加されている付加情報に基づいて、複数の分布の中から付加情報に対応する分布を選出して、当該分布が属する階級を抽出する（図４Ｃに示すステップＳ３２）。この場合、取得部８１は、階級抽出部８７によって抽出された階級に属する画像データについて、度数関連情報を取得する。

　例えば、既述した一の製造者が製造した部品９２の度数分布または相対度数分布（度数関連情報）が図７に示す曲線Ｌ２１の正規分布で示され、他の製造者が製造した部品９２の度数分布または相対度数分布（度数関連情報）が曲線Ｌ２２の正規分布で示される場合を想定する。この場合、階級抽出部８７は、例えば、画像データに付加されている対象物情報に含まれる部品９２の製造者の情報に基づいて、曲線Ｌ２１および曲線Ｌ２２で示される二つの正規分布のうち、当該製造者に対応する分布を選出する。

　そして、階級抽出部８７は、選出した分布が属する階級（図７に示す第一階級ＲＫ１または第二階級ＲＫ２）を抽出する。取得部８１は、階級抽出部８７によって抽出された階級（第一階級ＲＫ１または第二階級ＲＫ２）に属する画像データについて、度数関連情報を取得する。このように、度数関連情報に基づいて複数の分布を含む多峰性の度数分布または相対度数分布が得られる場合であっても、画像データ管理装置８０は、既述した事項を適用することができる。

　また、上述した例において、一の製造者が製造した部品９２について、形状関連情報が作成されており、他の製造者が製造した部品９２について、形状関連情報が作成されていない場合を想定する。この場合、一の製造者が製造した部品９２について設定されている許容範囲ＲＡ１に相当する階級に部品９２の計測値が含まれないが、他の製造者が製造した部品９２について設定されるべき許容範囲ＲＡ１に相当する階級に部品９２の計測値が含まれる場合がある。この場合、管理部８５は、他の製造者が製造した部品９２の計測値が許容範囲ＲＡ１に含まれる形状関連情報を作成すると良い。上述したことは、検査基準情報についても同様に言える。

　２．その他
　上記実施形態では、対基板作業機ＷＭである部品装着機ＷＭ３の制御装置１６が、画像データを画像処理して対象物ＴＧ０である部品９２を計測している。しかしながら、画像データ管理装置８０の取得部８１が、画像データを画像処理して対象物ＴＧ０である部品９２を計測して、対象物ＴＧ０である部品９２の計測値を取得することもできる。上述したことは、他の対基板作業機ＷＭおよび対象物ＴＧ０についても同様に言える。

　また、データサーバＤＳは、管理装置ＷＨＣに設けられているが、対基板作業機ＷＭに設けることもできる。さらに、データサーバＤＳは、対基板作業機ＷＭの製造者が対基板作業機ＷＭの不具合に対応するときに用いる管理装置に設けることもできる。この場合、対基板作業機ＷＭの製造者は、データサーバＤＳに保存されている画像データを使用して、対基板作業機ＷＭの不具合に対応することができる。

　３．画像データ管理方法
　画像データ管理装置８０について既述したことは、画像データ管理方法についても同様に言える。具体的には、画像データ管理方法は、取得工程と、選定工程とを備える。取得工程は、取得部８１が行う制御に相当する。選定工程は、選定部８２が行う制御に相当する。また、画像データ管理方法は、良否判断工程、データ送信工程、管理工程、付加工程、階級抽出工程のうちの少なくとも一つを備えることができる。良否判断工程は、良否判断部８３が行う制御に相当する。データ送信工程は、データ送信部８４が行う制御に相当する。管理工程は、管理部８５が行う制御に相当する。付加工程は、付加部８６が行う制御に相当する。階級抽出工程は、階級抽出部８７が行う制御に相当する。

　４．実施形態の効果の一例
　画像データ管理装置８０によれば、取得部８１および選定部８２を備える。これにより、画像データ管理装置８０は、画像データの度数分布または相対度数分布における特徴部ＦＰ１が含まれる対象階級ＴＣ１に属する画像データを抽出対象の画像データに選定することができる。画像データ管理装置８０について上述したことは、画像データ管理方法についても同様に言える。

８０：画像データ管理装置、８１：取得部、８２：選定部、
８３：良否判断部、８４：データ送信部、８５：管理部、８６：付加部、
８７：階級抽出部、９０：基板、ＤＳ：データサーバ、ＦＰ１：特徴部、
ＦＰ１１，ＦＰ２１：代表値、ＦＰ１２，ＦＰ２２：最大値、
ＦＰ１３，ＦＰ２３：最小値、ＲＰ１：基準値、ＲＡ１：許容範囲、
ＴＣ１：対象階級、ＴＧ０：対象物、ＷＭ：対基板作業機。

Claims (11)

1. 　基板に所定の対基板作業を行う対基板作業機が同種の対象物を撮像した複数の画像データの中から少なくとも一つの抽出対象の前記画像データを選定する画像データ管理装置であって、
   　前記画像データを画像処理して取得される前記対象物の計測値を複数の階級に区分して複数の前記画像データについて各階級に属する前記画像データの度数を算出した度数関連情報を取得する取得部と、
   　前記取得部によって取得された前記度数関連情報に基づいて前記画像データの度数分布または相対度数分布における特徴部が含まれる少なくとも一つの階級である対象階級を選出して、前記対象階級に属する少なくとも一つの前記画像データを前記抽出対象の前記画像データに選定する選定部と、
   を備える画像データ管理装置。
2. 　前記特徴部は、前記対象物の前記計測値の代表値、最大値および最小値のうちの少なくとも一つである請求項１に記載の画像データ管理装置。
3. 　前記特徴部は、前記度数分布または前記相対度数分布の統計値に基づいて算出される前記度数分布または前記相対度数分布の代表値、最大値および最小値のうちの少なくとも一つである請求項１に記載の画像データ管理装置。
4. 　前記度数関連情報は、前記対象物の前記計測値の階級と前記画像データの度数が階級ごとに記録されている度数分布データまたは前記度数分布データに基づいて作成される前記度数分布若しくは前記相対度数分布である請求項１～請求項３のいずれか一項に記載の画像データ管理装置。
5. 　前記対基板作業機は、前記画像データに基づいて前記対象物の良否を判断する良否判断部を備え、
   　前記選定部は、前記対象階級に属する前記画像データに加えて、前記良否判断部が前記対象物を不良と判断したときに用いられた前記画像データを前記抽出対象の前記画像データに選定する請求項１～請求項４のいずれか一項に記載の画像データ管理装置。
6. 　前記対基板作業機によって取得された複数の前記画像データのうち、前記選定部によって選定された前記抽出対象の前記画像データをデータサーバに送信するデータ送信部をさらに備える請求項１～請求項５のいずれか一項に記載の画像データ管理装置。
7. 　前記対象物の計測に関する基準値および許容範囲を含む前記対象物の形状に関連する情報が少なくとも定義されている形状関連情報を管理する管理部をさらに備え、
   　前記管理部は、前記対象物の前記許容範囲に相当する階級に前記対象物の前記計測値が含まれず且つ前記対象物が適当であるときに、当該計測値が前記許容範囲に含まれるように前記形状関連情報に定義されている前記基準値および前記許容範囲のうちの少なくとも一方を修正し、または、当該計測値が前記許容範囲に含まれる前記形状関連情報を作成する請求項１～請求項６のいずれか一項に記載の画像データ管理装置。
8. 　前記対基板作業機は、前記対象物を検査する検査機であり、
   　前記検査機が前記対象物を検査する際に使用する情報であって前記対象物の計測に関する基準値および許容範囲が定義されている検査基準情報を管理する管理部をさらに備え、
   　前記管理部は、前記対象物の前記許容範囲に相当する階級に前記対象物の前記計測値が含まれず且つ前記対象物が適当であるときに、当該計測値が前記許容範囲に含まれるように前記検査基準情報に定義されている前記基準値および前記許容範囲のうちの少なくとも一方を修正し、または、当該計測値が前記許容範囲に含まれる前記検査基準情報を作成する請求項１～請求項６のいずれか一項に記載の画像データ管理装置。
9. 　前記対基板作業機は、前記対象物を用いた前記対基板作業に関する付加情報を前記画像データに付加する付加部を備え、
   　前記度数関連情報に基づいて複数の分布を含む前記度数分布または前記相対度数分布が得られるときに、前記画像データに付加されている前記付加情報に基づいて、複数の前記分布の中から前記付加情報に対応する前記分布を選出して、当該分布が属する階級を抽出する階級抽出部をさらに備え、
   　前記取得部は、前記階級抽出部によって抽出された階級に属する前記画像データについて、前記度数関連情報を取得する請求項１～請求項８のいずれか一項に記載の画像データ管理装置。
10. 　前記付加情報は、前記基板に関する情報である基板情報、前記対基板作業において使用される使用機器に関する情報である機器情報、前記対基板作業の作業条件および作業結果に関する情報である作業情報、並びに、前記対象物に関する情報である対象物情報のうちの少なくとも一つである請求項９に記載の画像データ管理装置。
11. 　基板に所定の対基板作業を行う対基板作業機が同種の対象物を撮像した複数の画像データの中から少なくとも一つの抽出対象の前記画像データを選定する画像データ管理方法であって、
    　前記画像データを画像処理して取得される前記対象物の計測値を複数の階級に区分して複数の前記画像データについて各階級に属する前記画像データの度数を算出した度数関連情報を取得する取得工程と、
    　前記取得工程によって取得された前記度数関連情報に基づいて前記画像データの度数分布または相対度数分布における特徴部が含まれる少なくとも一つの階級である対象階級を選出して、前記対象階級に属する少なくとも一つの前記画像データを前記抽出対象の前記画像データに選定する選定工程と、
    を備える画像データ管理方法。

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