WO2020066491A1 - ダイヤフラムバルブ及び流量制御装置 - Google Patents

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    • F16K27/003Housing formed from a plurality of the same valve elements

Definitions

  • the present invention relates to a diaphragm valve, a flow control device, a fluid control device, and a semiconductor manufacturing device.
  • Mass flow controllers are widely used to control the flow rate of process gases used in semiconductor manufacturing processes and the like.
  • the mass flow controller measures a mass flow using pressures before and after an orifice provided in a flow path, and controls the mass flow controller so that the mass flow becomes a target value. Is adjusted.
  • a diaphragm valve is widely used.
  • the diaphragm valve has a structure in which a diaphragm made of a thin metal plate or the like is elastically deformed by being pressed by a drive unit, and the opening and closing of the flow path and the degree of opening are adjusted.
  • This driving unit includes, for example, as shown in FIG. 5 (FIG. 4 of Patent Document 1), a stem 8 for pressing a diaphragm (reference numeral 17 in FIG. 1), and a piezoelectric actuator (piezo actuator) 2 for driving the stem. .
  • the stem 8 is driven by the piezoelectric actuator 2 in a direction to open the valve via the displacement transmitting mechanism (4, 7, 6, 5, 5b).
  • the diaphragm valve is closed by the disc spring 9. And is guided by a through hole 10b of the bonnet 10 via an O-ring 14 (Patent Document 1).
  • the O-ring 14 is formed of rubber such as nitrile rubber, fluorine rubber, silicon rubber, chloroprene rubber, and has flexibility. Since the operating stroke of the stem 8 driven by the piezoelectric actuator 2 is as small as several tens of ⁇ m, it is considered that the axial displacement of the stem 8 is allowed by the elastic deformation of the O-ring 14 rather than the sliding.
  • An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide a diaphragm valve with reduced stem runout of a stem.
  • the diaphragm valve of the present invention has a flow path inside, a valve body having a diaphragm arrangement part on one surface, and is disposed in the diaphragm arrangement part, and the opening and closing and opening degree of the flow path can be adjusted by elastic deformation.
  • a diaphragm valve having a diaphragm, a stem that elastically deforms the diaphragm by pressing the diaphragm and an actuator that drives the stem, wherein the stem is made of resin by a bonnet fixed to the valve body side. It is characterized by being held movably in the axial direction via a sleeve.
  • the resin sleeve may be formed of any one of polyacetal, ultrahigh molecular weight polyethylene, fluororesin, and phenol resin.
  • the actuator is a piezoelectric actuator.
  • the flow control device of the present invention uses the diaphragm valve configured as described above.
  • the fluid control device of the present invention is a fluid control device in which a plurality of fluid devices are arranged from upstream to downstream,
  • the plurality of fluid devices include the diaphragm valve or the flow control device configured as described above.
  • the semiconductor manufacturing apparatus of the present invention uses the above-configured diaphragm valve or flow rate control device for controlling the process gas in a semiconductor device manufacturing process requiring a process step using a process gas in a closed chamber.
  • the resin sleeve is used as the guide portion for guiding the axial movement of the stem for driving the diaphragm, the contact area between the stem and the guide portion is increased, and the guide rigidity can be increased. did it. As a result, a diaphragm valve with reduced stem shaft deflection has been realized.
  • FIG. 1 is a schematic sectional view of a diaphragm valve according to one embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic sectional view of a flow control device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic perspective view of a fluid control device according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a block diagram of a semiconductor manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing a linear actuator portion of a conventional diaphragm valve.
  • FIG. 1 shows a schematic diagram of a diaphragm valve 1 according to one embodiment of the present invention.
  • the diaphragm valve 1 As shown in FIG. 1, the diaphragm valve 1 according to the present embodiment includes a valve body 16, a diaphragm 17, and a driving unit 12.
  • the valve body 16 has a substantially block shape, and has an upstream passage 16a and a downstream passage 16b therein.
  • the upstream flow passage 16a opens at the center of the bottom surface of the diaphragm arrangement portion 16d, which is a shallow counterbore-shaped depression formed on the upper surface of the valve body 16, and the periphery of this opening rises in an annular shape to provide a valve seat 16e. Is formed.
  • the downstream flow path 16b is open to the periphery of the bottom surface of the diaphragm arrangement portion 16d.
  • the diaphragm 17 is a spherical shell-like member in which a central portion of a thin metal plate such as a special stainless steel plate or a nickel-cobalt alloy thin plate is bulged upward, and the diaphragm 17 is provided on the diaphragm arrangement portion 16 d on the upper surface of the valve body 16. Are located.
  • An annular holding adapter 18 is arranged on the outer peripheral edge of the diaphragm 17, the lower end of the bonnet 10 abuts from above, and the bonnet 10 is fastened together with the support plate 3 to the valve body 16 by bolts.
  • the diaphragm 17 is fixed, and the diaphragm arrangement portion 16d is hermetically sealed.
  • the upstream side flow path 16a communicates with the diaphragm arrangement portion 16d sealed by the diaphragm 17 through this gap, and further has a downstream side flow path.
  • a flow path communicating with 16b is formed.
  • the drive unit 12 includes the bonnet 10, the support plate 3, the piezoelectric actuator 2, the displacement transmitting mechanism (4, 7, 6, 5, 5b), the stem 8, and the disc spring 9.
  • the bonnet 10 and the support plate 3 hold the piezoelectric actuator 2, the displacement transmitting mechanisms (4, 7, 6, 5, 5b) and the stem 8 so as to be displaceable in the axial direction. Also, they are fastened together to the valve body 16 with two bolts.
  • the bonnet 10 also serves to fix the diaphragm 17 to the valve body 16 as described above.
  • the piezoelectric actuator 2 has a built-in piezoelectric element (not shown) stacked in a cylindrical case 2c.
  • the case 2c is made of a metal such as a stainless alloy, and has a hemispherical end face on the distal end 2a side and an end face on the base end 2b side closed.
  • a voltage to the stacked piezoelectric elements to extend the case 2c, the end surface of the case 2c on the tip 2a side is elastically deformed, and the hemispherical tip 2a is displaced in the longitudinal direction. That is, by applying a voltage to the stacked piezoelectric elements, the entire length of the case 2c from the distal end 2a to the proximal end 2b increases.
  • the piezoelectric actuator 2 is disposed vertically so that the tip 2 a is in contact with the support plate 3.
  • the tip of the tip 2a has a hemispherical shape, and in this embodiment, falls into a conical depression formed on the upper surface of the support plate.
  • the base end portion 2b of the piezoelectric actuator 2 is fitted and held by a pressing member 4 which is a receiving portion of the displacement transmission mechanism (4, 7, 6, 5, 5b).
  • the upper surface of the pressing member 4 is in contact with the tip of the adjusting screw 7 screwed into the screw hole of the upper connecting member 6.
  • the upper connecting member 6 has a substantially U-shape in which a bottomed cylinder is turned down and both sides are cut, and a pair of displacement transmitting members are connected to the inside thereof by screws.
  • the pair of displacement transmitting members 5 are formed of a metal material such as an invar material having a small coefficient of thermal expansion, and have a form in which a cylindrical member along the outer peripheral surface of the piezoelectric actuator 2 is divided into two along the longitudinal direction. .
  • Each of the pair of displacement transmitting members 5 has a support plate 3 inserted into each of the openings 5a and extends below the support plate 3, and a locking portion 5b is formed at a tip portion.
  • the stem 8 is disposed coaxially with the piezoelectric actuator 2 below the support plate 3 through the guide hole 10a of the bonnet 10, and is provided movably in the axial direction guided by the guide hole 10a. .
  • the stem 8 includes arm portions 8a with which the locking portions 5b formed at the lower end portions of the pair of displacement transmitting members 5 respectively engage.
  • the stem 8 is urged downward by a disc spring 9.
  • the piezoelectric actuator 2 is extended, the stem 8 is also pulled up by the pair of displacement transmitting members 5 against the urging force of the disc spring 9.
  • a diaphragm retainer 19 is attached to the distal end (lower end) of the stem 8 and is in contact with the diaphragm 17.
  • a resin sleeve 15 is used instead of the conventional O-ring 14 (see FIG. 5) in the sliding portion between the stem 8 and the guide hole 10a of the bonnet 10. That is, the stem 8 is guided by the inner periphery of the sleeve 15 whose outer periphery is fitted and fixed in the guide hole 10a of the bonnet 10. Since the sleeve 15 is formed of a self-lubricating resin such as polyacetal, ultra-high molecular weight polyethylene, fluorine resin, Teflon (registered trademark) resin, and phenol resin, the sleeve 15 has a coefficient of friction with the guided stainless steel stem 8. small. Further, the combination of the outer periphery of the stem 8 and the inner periphery of the sleeve 15 has a cylindrical contact surface, so that the contact area is large and high guide rigidity can be obtained.
  • a self-lubricating resin such as polyacetal, ultra-high molecular weight polyethylene, fluorine resin, Tef
  • the length of the piezoelectric actuator 2 is the initial length, and the piezoelectric actuator 2 is engaged with the displacement transmitting mechanism (4, 7, 6, 5, 5b).
  • the stem 8 is pushed down by the disc spring 9 and is at the lowest position. Therefore, the diaphragm 17 is pressed by the stem 8 and comes into close contact with the valve seat 16e, and the valve is fully closed.
  • the stem 8 can move up and down smoothly. Further, since the resin sleeve 15 has a high guide rigidity, it is possible to reduce an increase in the stress of the diaphragm 17 due to the shaft shake without causing the shaft shake at the time of the vertical movement, so that the life of the diaphragm 17 can be improved. it can.
  • the outer periphery of the stem 8 is slid on the inner periphery of the resin sleeve 15 whose outer periphery is fitted in the guide hole 10a of the bonnet 10.
  • the present invention is not limited to this.
  • the outer circumference of the resin sleeve 15 having the inner circumference fitted to the outer circumference may slide on the inner circumference of the guide hole 10 a of the bonnet 10. Even with such a configuration, a low coefficient of friction and high guide rigidity can be obtained.
  • FIG. 2 is a schematic sectional view of a flow rate control device according to an embodiment of the present invention, and shows a pressure type flow rate control device 20 in which the above-described diaphragm valve 1 is incorporated.
  • a cover or a substrate for feedback control which covers the entire flow control device 20 actually exists, but is not shown for convenience of explanation.
  • the flow control device 20 includes a downstream block 25, a pressure detector 22, an orifice 21, a pressure detector 26, and a flow path 25a in addition to the components of the diaphragm valve 1 described above.
  • An orifice 21 (a gasket-type orifice in the present embodiment) is provided inside the valve body 16 in a flow path on the downstream side of the diaphragm 17.
  • an upstream pressure detector 22 for detecting pressure is provided in the middle of the flow path 16b on the upstream side of the orifice 21, an upstream pressure detector 22 for detecting pressure is provided.
  • the downstream block 25 is connected to the valve body 16 by bolts, has a downstream flow path 25a communicating with a flow path 16b on the downstream side of the valve body 16, and detects a pressure in the downstream flow path 25a.
  • the opening and closing of the diaphragm valve 1 is controlled by PID control based on the detection values of the pressure detectors 22 and 26 by a control device (not shown).
  • the life of the fluid control device can be expected to be prolonged due to the prolongation of the life of the diaphragm valve.
  • FIG. 3 is a schematic perspective view of the fluid control device according to one embodiment of the present invention.
  • the fluid control device shown in FIG. 3 is provided with a metal base plate BS arranged along the width directions W1 and W2 and extending in the longitudinal directions G1 and G2. Note that W1 indicates the front side, W2 indicates the back side, G1 indicates the upstream side, and G2 indicates the downstream side.
  • Various fluid devices 991A to 991E are installed on the base plate BS via a plurality of flow path blocks 992.
  • the flow path (not shown) through which the fluid flows from the upstream side G1 to the downstream side G2 passes through the plurality of flow path blocks 992. Roads are respectively formed.
  • the “fluid device” is a device used in a fluid control device that controls the flow of a fluid, and includes a body that defines a fluid flow path, and at least two flow paths that are opened on the surface of the body. It is a device having. Specifically, an on-off valve (two-way valve) 991A, a regulator 991B, a pressure gauge 991C, an on-off valve (three-way valve) 991D, a mass flow controller 991E, and the like are included, but not limited thereto.
  • the introduction pipe 993 is connected to a flow path port on the upstream side of the flow path (not shown).
  • the present invention is applicable to various diaphragm valves such as the above-described on-off valves 991A and 991D, regulator 991B, and mass flow controller 991E.
  • FIG. 4 is a block diagram of a semiconductor manufacturing apparatus according to one embodiment of the present invention.
  • a semiconductor manufacturing apparatus 980 shown in FIG. 4 is an apparatus for executing a semiconductor manufacturing process by an atomic layer deposition method (ALD: Atomic Layer Deposition method), 981 is a process gas supply source, and 982 is a gas box (fluid control device). ) And 983, a tank, 984, an opening / closing valve, 985, a control unit, 986, a processing chamber, and 987, an exhaust pump.
  • ALD Atomic Layer Deposition method
  • 981 is a process gas supply source
  • 982 is a gas box (fluid control device).
  • the present invention is applicable to the gas box 982 described above, the fluid device constituting the gas box 982, and the on-off valve 984.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment.
  • a person skilled in the art can make various additions and changes without departing from the scope of the present invention.
  • the present invention is not limited to this.
  • the present invention is applied to a precision method such as an atomic layer etching method (ALE: Atomic Layer Etching method). It can be applied to any object that needs precise flow control.
  • ALE Atomic Layer Etching method
  • the opening and closing valve 984 is arranged outside the gas box 982 as a fluid control device.
  • various fluid devices such as an opening and closing valve, a regulator, a mass flow controller and the like are integrated and stored in the box. It is also possible for the device to include the diaphragm valve of the above embodiment.
  • Diaphragm valve 2 Piezoelectric actuator 2a: Tip 2b: Base 2c: Case 3: Support plate 4: Pressing member 5: Displacement transmitting member 6: Upper connecting member 7: Adjusting screw 8: Stem 8a: Arm 9 : Disc spring 10: Bonnet 10a: Guide hole 10b: Through hole 12: Drive unit 14: O-ring 15: Sleeve 16: Valve body 16a: Upstream flow path 16b: Downstream flow path 16d: Diaphragm arrangement section 16e: Valve seat 17: Diaphragm 18: Holder adapter 19: Diaphragm holder 20: Flow control device 21: Orifice 22: Pressure detector 25: Downstream block 25a: Downstream flow path 26: Pressure detector 980: Semiconductor manufacturing device 981: Process gas supply Source 982: Gas Box 983: Tank 984: on-off valve 985: control unit 986: a processing chamber 987: exhaust pump 991A ⁇ 991E: fluid device 992: the passage block 993: inlet pipe BS: base plate

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Abstract

ステムの軸ブレを低減したダイヤフラムバルブを提供する。 当該ダイヤフラムバルブは、内部に流体の流路(16a、16b)を有し、一面にダイヤフラム配置部(16d)を有するバルブボディ(16)と、前記ダイヤフラム配置部(16d)に配置され、弾性変形により前記流路の開閉及び開度の調節が可能なダイヤフラム(17)と、前記ダイヤフラム(17)を押圧して弾性変形させるステム(8)及び該ステム(8)を駆動するアクチュエータ(2)を有する駆動部(12)とを有するダイヤフラムバルブにおいて、前記ステム(8)は、前記バルブボディ(16)側に固定されたボンネット(10)により、樹脂製のスリーブ(15)を介して軸方向に変位可能に保持されていることを特徴とする。

Description

ダイヤフラムバルブ及び流量制御装置
 本発明は、ダイヤフラムバルブ、流量制御装置、流体制御装置、及び半導体製造装置に関する。
 半導体製造プロセス等に用いられるプロセスガスの流量制御には、質量流量制御装置(マスフローコントローラ)が広く用いられている。この質量流量制御装置は、例えば圧力式の質量流量制御装置の場合、流路に設けられたオリフィスの前後の圧力を用いて質量流量を測定し、この質量流量が目標値になるように制御バルブで調節している。このような制御バルブとして、ダイヤフラムバルブが広く用いられている。
 ダイヤフラムバルブは、金属の薄板等からなるダイヤフラムを、駆動部により押圧して弾性変形させ、流路の開閉及び開度の調節を行う構造になっている。この駆動部は、例えば、図5(特許文献1の図4)に示すように、ダイヤフラム(図1の符号17)を押圧するステム8と、これを駆動する圧電アクチュエータ(ピエゾアクチュエータ)2を含む。ステム8は、変位伝達機構(4,7,6,5,5b)を介して、圧電アクチュエータ2によりバルブを開く方向に駆動され、圧電アクチュエータ2の電圧非印加時には皿ばね9によりダイヤフラムバルブを閉じる方向に付勢されており、Oリング14を介してボンネット10の貫通孔10bによりガイドされている(特許文献1)。
 このOリング14は、ニトリルゴム、フッ素ゴム、シリコンゴム、クロロプレンゴム等のゴムで形成され、柔軟性を有する。圧電アクチュエータ2に駆動されたステム8の動作ストロークは数10μmと小さいので、摺動よりもOリング14の弾性変形によりステム8の軸方向変位を許容していると考えられる。
国際公開番号WO2017/033423A1
 しかし、上記機構では、Oリングのガイドとしての接触面積が小さいため、保持力が十分とは言えず、ステムの軸ブレが起こる場合があった。その結果、ダイヤフラムの当接箇所が偏心すると、応力が高くなって、ダイヤフラムの寿命を縮める恐れがあった。特に、流量制御装置の小型化に伴って、ダイヤフラムが小型化されると、僅かな軸ブレでもダイヤフラムにとって相対的に大きな偏心になるので、より厳しい軸ブレの抑制が求められるようになった。
 本発明の目的は、上記課題を解決し、ステムの軸ブレを低減したダイヤフラムバルブを提供することにある。
 本発明のダイヤフラムバルブは、内部に流路を有し、一面にダイヤフラム配置部を有するバルブボディと、前記ダイヤフラム配置部に配置され、弾性変形により前記流路の開閉及び開度の調節が可能なダイヤフラムと、前記ダイヤフラムを押圧して弾性変形させるステム及び該ステムを駆動するアクチュエータを有する駆動部と、を有するダイヤフラムバルブにおいて、前記ステムは、前記バルブボディ側に固定されたボンネットにより、樹脂製のスリーブを介して軸方向に変位可能に保持されていることを特徴とする。
 好適には、前記樹脂製のスリーブは、ポリアセタール、超高分子量ポリエチレン、フッ素樹脂、フェノール樹脂のいずれかで形成されたものである、構成を採用できる。
 好適には、前記アクチュエータは、圧電アクチュエータである。
 本発明の流量制御装置は、上記構成のダイヤフラムバルブを用いたものである。
 本発明の流体制御装置は、上流から下流に向かって複数の流体機器が配列された流体制御装置であって、
 前記複数の流体機器は、上記構成のダイヤフラムバルブ又は流量制御装置を含むものである。
 本発明の半導体製造装置は、密閉されたチャンバ内においてプロセスガスによる処理工程を要する半導体装置の製造プロセスにおいて、前記プロセスガスの制御に上記構成のダイヤフラムバルブ又は流量制御装置を用いる。
 本発明によれば、ダイヤフラムを駆動するステムの軸方向の動きをガイドするガイド部分として、樹脂製のスリーブを用いたので、ステムとガイド部分との接触面積が広くなり、ガイド剛性を高めることができた。それにより、ステムの軸ブレを低減したダイヤフラムバルブが実現した。
本発明の一実施形態に係るダイヤフラムバルブの概略断面図。 本発明の一実施形態に係る流量制御装置の概略断面図。 本発明の一実施形態に係る流体制御装置の概略斜視図。 本発明の一実施形態に係る半導体製造装置のブロック図。 従来のダイヤフラムバルブのリニアアクチュエータ部分を示す縦断面図。
 以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図1に本発明の一実施形態に係るダイヤフラムバルブ1の概略図を示す。
 図1に示すように、本実施形態のダイヤフラムバルブ1は、バルブボディ16と、ダイヤフラム17と、駆動部12とを含んで構成される。
 バルブボディ16は、略ブロック形状を成し、内部に上流側流路16aと下流側流路16bとを有する。上流側流路16aは、バルブボディ16の上面に形成された浅い座ぐり穴状の窪みであるダイヤフラム配置部16dの底面の中央部に開口し、この開口の周囲は環状に盛り上がってバルブシート16eを形成している。一方、下流側流路16bは、ダイヤフラム配置部16dの底面の周辺部に開口している。
 ダイヤフラム17は、本実施形態では、特殊ステンレス鋼等の金属製薄板やニッケル・コバルト合金薄板の中央部を上方へ膨出させた球殻状の部材で、バルブボディ16上面におけるダイヤフラム配置部16dに配置されている。ダイヤフラム17の外周縁部の上に円環状の抑えアダプタ18が配置され、その上からボンネット10の下端部が当接し、ボンネット10が支持プレート3とともに、ボルトによりバルブボディ16へ共締めされることで、ダイヤフラム17は固定され、ダイヤフラム配置部16dが気密に密封されている。
 ダイヤフラム17とバルブシート16eとの間には、所定量の隙間があり、上流側流路16aからこの隙間を通ってダイヤフラム17で封止されたダイヤフラム配置部16dに連通し、さらに下流側流路16bへ連通する流路が形成されている。ダイヤフラム17が駆動部12により押圧されてバルブシート16eに当接すると、流路16aと流路16bとの連通が遮断され、ダイヤフラム17がバルブシート16eから離隔することにより、流路16aと流路16bとが連通する。これにより、流路の開閉及び開度の調節が可能になっている。
 駆動部12は、ボンネット10と、支持プレート3と、圧電アクチュエータ2と、変位伝達機構(4,7,6,5,5b)と、ステム8と、皿ばね9とを有する。
 ボンネット10と、支持プレート3は、圧電アクチュエータ2と変位伝達機構(4,7,6,5,5b)とステム8を軸方向に変位可能に保持するもので、ボンネット10に支持プレート3を重ねて、2本のボルトで、バルブボディ16に共締めされている。ボンネット10は、上記のようにダイヤフラム17をバルブボディ16に固定する役割も果たしている。
 圧電アクチュエータ2は、円筒状のケース2cに図示しない積層された圧電素子を内蔵している。ケース2cは、ステンレス合金等の金属製で、半球状の先端部2a側の端面および基端部2b側の端面が閉塞している。ケース2cは、積層された圧電素子に電圧を印加して伸長させることで、ケース2cの先端部2a側の端面が弾性変形し、半球状の先端部2aが長手方向において変位する。すなわち、ケース2cは、積層された圧電素子に電圧を印可することで、先端部2aから基端部2bまでの全長が伸びる。
 圧電アクチュエータ2は、先端部2aが支持プレート3に当接するように垂直方向に配置されている。先端部2aの先端は半球状を成し、本実施形態では支持プレートの上面に形成された円錐状の窪みに落ち込むようになっている。圧電アクチュエータ2の基端部2bは、変位伝達機構(4,7,6,5,5b)の受け部である押圧部材4に嵌合保持されている。
 押圧部材4の上面は、上部連結部材6のねじ穴に螺合された調整ねじ7の先端に当接している。前記上部連結部材6は、有底円筒を伏せて両側をカットした略コの字型を有し、その内側に一対の変位伝達部材が、ねじで連結されている。
 一対の変位伝達部材5は、熱膨張係数の小さいインバー材等の金属材料で形成され、圧電アクチュエータ2の外周面に沿う円筒状部材を長手方向に沿って二つに分割した形態を呈している。これらの一対の変位伝達部材5は、それぞれの開口部5aに支持プレート3を挿通させてその下側に伸び、先端部に係止部5bが形成されている。
 一方、ステム8は、支持プレート3の下側に、ボンネット10のガイド孔10aを貫いて前記圧電アクチュエータ2と同軸に配置され、該ガイド孔10aにガイドされて軸方向に可動に設けられている。ステム8は、一対の変位伝達部材5の下端部に形成された各係止部5bがそれぞれ係合するアーム部8aを備えている。ステム8は、皿ばね9により下方向に付勢されている。圧電アクチュエータ2が伸長すると、ステム8も皿ばね9の付勢力に抗して一対の変位伝達部材5により上方向に引き上げられる。このように、圧電アクチュエータ2の長さの変位が、一連の変位伝達機構(4,7,6,5、5b)を通してステムに伝達され、ステムが軸方向に変位するようになっている。
 ステム8の先端(下端)には、ダイヤフラム押え19が取り付けられてダイヤフラム17に当接している。
 ここで本発明では、ステム8とボンネット10のガイド孔10aとの摺動部分に、従来のOリング14(図5参照)の代わりに、樹脂製スリーブ15を用いている。すなわち、ボンネット10のガイド孔10aに外周が嵌合固定されたスリーブ15の内周により、ステム8がガイドされている。スリーブ15は、ポリアセタール、超高分子量ポリエチレン、フッ素樹脂、テフロン(登録商標)樹脂、フェノール樹脂などの自己潤滑性樹脂で形成されているので、ガイドされるステンレス鋼製のステム8との摩擦係数が小さい。また、ステム8の外周とスリーブ15の内周との組み合わせは、円筒状の接触面を有するので、接触面積が広く、高いガイド剛性が得られる。
 次に、このように構成された本実施形態のダイヤフラムバルブ1の動作について、図1を参照して説明する。
 まず、圧電アクチュエータ2への印加電圧がゼロである初期状態では、圧電アクチュエータ2の長さは初期長さであり、変位伝達機構(4,7,6,5,5b)とこれに係合させたステム8は、皿ばね9に押し下げられて最下位置にある。したがって、ダイヤフラム17はステム8に押圧されて、バルブシート16eに密着し、バルブは全閉状態になる。
 次に、圧電アクチュエータ2に電圧を印加すると、圧電アクチュエータ2の長さは大きくなるため、皿ばね9の付勢力に打ち勝って、変位伝達機構(4,7,6,5,5b)とステム8は押し上げられ、ダイヤフラム17とバルブシート16eの間に隙間ができて、バルブは開き、流体がダイヤフラムバルブ1を通過できるようになる。圧電アクチュエータ2への印可電圧を調節することにより、ダイヤフラム17とバルブシート16eとの隙間を調節でき、流体の流量を調節できる。
 この際、ステム8の外周は低摩擦係数の樹脂製スリーブ15によってガイドされているので、ステム8はスムーズに上下方向移動できる。また、樹脂製スリーブ15は高いガイド剛性を有するので、上下方向移動の際に軸ブレを起こすことなく、軸ブレによるダイヤフラム17の応力上昇を低減できるため、ダイヤフラム17の寿命の向上を図ることができる。
 尚、本実施形態では、ボンネット10のガイド孔10aに外周を嵌合させた樹脂製スリーブ15の内周に、ステム8の外周を摺動させているが、これに限定されず、ステム8の外周に内周を嵌合させた樹脂製スリーブ15の外周を、ボンネット10のガイド孔10aの内周に摺動させても良い。そのような構成でも、低摩擦係数と高ガイド剛性が得られる。
 次に、本発明の流量制御装置について説明する。
 図2は、本発明の一実施形態に係る流量制御装置の概略断面図であり、上記したダイヤフラムバルブ1が組み込まれた圧力式の流量制御装置20を示す。
 図2において、流量制御装置20の全体を覆うカバーやフィードバック制御用の基板が実際には存在するが、説明の便宜上図示していない。
 流量制御装置20は、上記したダイヤフラムバルブ1の構成要素に加えて、下流側ブロック25、圧力検出器22、オリフィス21、圧力検出器26、流路25aを有する。
 バルブボディ16の内部において、ダイヤフラム17の下流側の流路内にオリフィス21(本実施形態では、ガスケット型オリフィス)が設けられている。オリフィス21の上流側の流路16bの途中には、圧力を検出する上流側の圧力検出器22が設けられている。
 下流側ブロック25は、バルブボディ16にボルトにより連結され、バルブボディ16の下流側の流路16bに連通する下流側流路25aを有し、下流側流路25a内の圧力を検出する下流側の圧力検出器26が設けられている。
 図示しない制御装置により、各圧力検出器22、26の検出値に基づいてダイヤフラムバルブ1がPID制御により開閉制御される。
 本流量制御装置では、本発明のダイヤフラムバルブを用いたので、ダイヤフラムバルブの長寿命化に伴う、流体制御装置の長寿命化が期待できる。
 次に、本発明の流体制御装置について説明する。
 図3は、本発明の一実施形態に係る流体制御装置の概略斜視図である。
 図3に示す流体制御装置には、幅方向W1、W2に沿って配列され長手方向G1、G2に延びる金属製のベースプレートBSが設けられている。なお、W1は正面側、W2は背面側、G1は上流側、G2は下流側の方向を示している。ベースプレートBSには、複数の流路ブロック992を介して各種流体機器991A~991Eが設置され、複数の流路ブロック992には、上流側G1から下流側G2に向かって流体が流通する図示しない流路がそれぞれ形成されている。
 ここで、「流体機器」とは、流体の流れを制御する流体制御装置に使用される機器であって、流体流路を画定するボディを備え、このボディの表面で開口する少なくとも2つの流路を有する機器である。具体的には、開閉弁(2方弁)991A、レギュレータ991B、プレッシャーゲージ991C、開閉弁(3方弁)991D、マスフローコントローラ991E等が含まれるが、これらに限定されるわけではない。なお、導入管993は、上記した図示しない流路の上流側の流路口に接続されている。
 本発明は、上記した開閉弁991A、991D、レギュレータ991B、マスフローコントローラ991E等の種々のダイヤフラムバルブに適用可能である。
 次に、本発明の半導体製造装置について説明する。
 図4は、本発明の一実施形態に係る半導体製造装置のブロック図である。
 図4に示す半導体製造装置980は、原子層堆積法(ALD:Atomic Layer Deposition法)による半導体製造プロセスを実行するための装置であり、981はプロセスガス供給源、982はガスボックス(流体制御装置)、983はタンク、984は開閉バルブ、985は制御部、986は処理チャンバ、987は排気ポンプを示している。
 本発明は、上記したガスボックス982およびガスボックス982を構成する流体機器、開閉バルブ984に適用可能である。
 なお、本発明は、上述した実施形態に限定されない。当業者であれば、本発明の範囲内で、種々の追加や変更等を行うことができる。例えば、上記適用例では、ALD法による半導体製造プロセスに用いる場合について例示したが、これに限定されるわけではなく、本発明は、例えば原子層エッチング法(ALE :Atomic Layer Etching法)等、精密な流量調整が必要なあらゆる対象に適用可能である。
 上記実施形態では、開閉バルブ984を流体制御装置としてのガスボックス982の外部に配置する構成としたが、開閉バルブ、レギュレータ、マスフローコントローラ等の各種の流体機器を集積化してボックスに収容した流体制御装置に上記実施形態のダイヤフラムバルブを含ませることも可能である。
1    :ダイヤフラムバルブ
2    :圧電アクチュエータ
2a   :先端部
2b   :基端部
2c   :ケース
3    :支持プレート
4    :押圧部材
5    :変位伝達部材
6    :上部連結部材
7    :調整ねじ
8    :ステム
8a   :アーム部
9    :皿ばね
10   :ボンネット
10a  :ガイド孔
10b  :貫通孔
12   :駆動部
14   :Oリング
15   :スリーブ
16   :バルブボディ
16a  :上流側流路
16b  :下流側流路
16d  :ダイヤフラム配置部
16e  :バルブシート
17   :ダイヤフラム
18   :押えアダプタ
19   :ダイヤフラム押え
20   :流量制御装置
21   :オリフィス
22   :圧力検出器
25   :下流側ブロック
25a  :下流側流路
26   :圧力検出器
980  :半導体製造装置
981  :プロセスガス供給源
982  :ガスボックス
983  :タンク
984  :開閉バルブ
985  :制御部
986  :処理チャンバ
987  :排気ポンプ
991A~991E :流体機器
992  :流路ブロック
993  :導入管
BS   :ベースプレート
GI、G2:長手方向
W1、W2:幅方向
 

Claims (6)

  1.  内部に流路を有し、一面にダイヤフラム配置部を有するバルブボディと、前記ダイヤフラム配置部に配置され、弾性変形により前記流路の開閉及び開度の調節が可能なダイヤフラムと、前記ダイヤフラムを押圧して弾性変形させるステム及び該ステムを駆動するアクチュエータを有する駆動部と、を有するダイヤフラムバルブにおいて、
     前記ステムは、前記バルブボディに固定されたボンネットにより、樹脂製のスリーブを介して軸方向に変位可能に保持されていることを特徴とする、ダイヤフラムバルブ。
  2.  前記樹脂製のスリーブは、ポリアセタール、超高分子量ポリエチレン、フッ素樹脂、フェノール樹脂のいずれかで形成されたものである、請求項1に記載のダイヤフラムバルブ。
  3.  前記アクチュエータは、圧電アクチュエータである、請求項1又は2に記載のダイヤフラムバルブ。
  4.  請求項1~3のいずれかに記載のダイヤフラムバルブを有する流量制御装置。
  5.  複数の流体機器が配列された流体制御装置であって、
     前記複数の流体機器は、請求項1~3のいずれかに記載のダイヤフラムバルブ又は請求項4に記載の流量制御装置を含む、流体制御装置。
  6.  密閉されたチャンバ内においてプロセスガスによる処理工程を要する半導体の製造プロセスにおいて、前記プロセスガスの制御に請求項1~3のいずれかに記載のダイヤフラムバルブ又は請求項4に記載の流量制御装置を用いる、半導体製造装置。
     
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