WO2017185443A1 - 一种红外焦平面探测器盲元校正方法 - Google Patents

一种红外焦平面探测器盲元校正方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2017185443A1
WO2017185443A1 PCT/CN2016/083217 CN2016083217W WO2017185443A1 WO 2017185443 A1 WO2017185443 A1 WO 2017185443A1 CN 2016083217 W CN2016083217 W CN 2016083217W WO 2017185443 A1 WO2017185443 A1 WO 2017185443A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
thd
blind
window
pixel
point
Prior art date
Application number
PCT/CN2016/083217
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
谢雪平
曾衡东
章睿
董涛
Original Assignee
成都市晶林科技有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 成都市晶林科技有限公司 filed Critical 成都市晶林科技有限公司
Publication of WO2017185443A1 publication Critical patent/WO2017185443A1/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/80Calibration

Abstract

一种红外焦平面探测器盲元校正方法,包括:S1:求图像像素I为中心,和周围像素点构成的初始窗n*n(n=3);S2:求窗口中值M,并判断I-M是否大于预设阈值v_thd,若I-M>v_thd不成立,则继续判断n是否大于预设阈值n_thd,若n>n_thd成立则判断该点为非盲元,进入下一个像素点;若n>n_thd不成立则扩大窗口n*n(n=n+2),继续求窗口中值M;若I-M>v_thd成立,则跳转至S3;S3:扩大窗口n*n(n=n+2),求其中值MI;S4:判断I-M1>v_thd是否成立,若不成立则判断该点为非盲元,若成立则确定该点为盲元,使用M替换该像素,进入下一个像素点。该方法的基本思想是可变窗口盲元消除法,根据实际应用中盲元的特点,完全不用存储盲元信息,适应任何时候、任何合格探测器,不需要迭代就可以完成对所有盲元的校正。

Description

说明书 发明名称:一种红外焦平面探测器盲元校正方法 技术领域
[0001] 本发明涉及一种盲元校正方法, 特别是涉及一种红外焦平面探测器盲元校正方 法。
背景技术
[0002] 非制冷红外焦平面阵列属于大面阵的探测器, 由于制作器件的半导体材料的不 一致性, 掩膜误差、 缺陷、 工艺等原因, 红外焦平面探测器存在不可避免的非 均匀性、 盲元, 如果忽视这些问题, 成像图像信噪比很差。 这些盲元点在图像 中表现为其灰度值变化缓慢, 不能正确地反映场景的变化。 对于盲元的定义, 主要是从器件对黑体辐射的响应程度作为量化指标的。 从目前文献来看, 国内 外现有的盲元检测与补偿算法主要为盲元矫正标定法, 该方法标定盲元的位置 信息, 然后由周围均值去矫正盲元, 该方法能精确矫正盲元, 算法思想简单明 了, 但是对于每个探测器而言都有不同盲元点, 都需要进行标定, 而且探测也 可能会产生新的盲元, 盲元位置消耗存储资源, 不利于量产和使用。
技术问题
[0003] 本发明的目的在于克服现有技术的不足, 提供一种红外焦平面探测器盲元校正 方法, 根据实际应用中盲元的特点, 不需要迭代就可以完成对所有盲元的校正 问题的解决方案
技术解决方案
[0004] 本发明的目的是通过以下技术方案来实现的: 一种红外焦平面探测器盲元校正 方法, 包括以下步骤:
[0005] S1 : 求图像像素 I为中心, 和周围像素点构成的初始窗 n*n (n=3) ;
[0006] S2: 求窗口中值 M, 并判断 I-M是否大于预设阈值 v_thd, 若 I-M〉 v_thd不成立 , 则继续判断 n是否大于预设阈值 n_thd, 若 n〉n_thd成立则判断该点为非盲元, 进入下一个像素点; 若 n > n_thd不成立则扩大窗口 n*n(n=n+2), 继续求窗口中值 M; 若 I-M〉v_tM成立, 则跳转至步骤 S3;
[0007] S3: 扩大窗口 n*n(n=n+2), 求其中值 Ml ;
[0008] S4: 判断 I-Ml〉v_thd是否成立, 若不成立则判断该点为非盲元, 若成立则确 定该点为盲元, 使用 M替换该像素, 进入下一个像素点。
发明的有益效果
有益效果
[0009] 本发明的有益效果是:
[0010] 盲元具有以下两个特点: (1) 盲元像素值和周围正常像素值相差甚远; (2) 盲元一般是孤立的 1个点、 2-6个点或行列出现。
[0011] 本方法基本思想是可变窗口盲元消除法, 根据实际应用中盲元的特点, 完全不 用存储盲元信息, 适应任何吋候、 任何合格的探测器, 不需要迭代就可以完成 对所有盲元的校正。
对附图的简要说明
附图说明
[0012] 图 1为本发明校正方法流程图。
本发明的实施方式
[0013] 下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案, 但本发明的保护范围不局限 于以下所述。
[0014] 如图 1所示, 一种红外焦平面探测器盲元校正方法, 包括以下步骤:
[0015] S1 : 求中心像素 I和周围像素点初始窗 n*n(n=3); //求图像像素 I为中心, 和周围 像素点构成的初始窗 n*n (n=3);
[0016] S2: 求窗口中值 M, 并判断 I-M是否大于预设阈值 v_thd, 若 I-M〉 v_thd不成立
, 则继续判断 n是否大于预设阈值 n_thd, 若 n〉n_thd成立则判断该点为非盲元, 进入下一个像素点; 若 n > n_thd不成立则扩大窗口 n*n(n=n+2), 继续求窗口中值
M; 若 I-M〉v_tM成立, 则跳转至步骤 S3;
[0017] S3: 扩大窗口 n*n(n=n+2), 求其中值 Ml ; [0018] S4: 判断 I-Ml〉v_thd是否成立, 若不成立则判断该点为非盲元, 若成立则确 定该点为盲元, 使用 M替换该像素, 进入下一个像素点。
[0019] 实际应用中, 一般 N=5可以完成所有盲元的校正。
[0020] 以上所述仅是本发明的优选实施方式, 应当理解本发明并非局限于本文所披露 的形式, 不应看作是对其他实施例的排除, 而可用于各种其他组合、 修改和环 境, 并能够在本文所述构想范围内, 通过上述教导或相关领域的技术或知识进 行改动。 而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本发明的精神和范围, 则都 应在本发明所附权利要求的保护范围内。

Claims

权利要求书
[权利要求 1] 一种红外焦平面探测器盲元校正方法, 其特征在于, 包括以下步骤:
S1 : 求图像像素 I为中心, 和周围像素点构成的初始窗 n*n (n=3); S2: 求窗口中值 M, 并判断 I-M是否大于预设阈值 v_thd, 若 I-M〉v_t hd不成立, 则继续判断 n是否大于预设阈值 n_thd, 若 n〉n_tM成立则 判断该点为非盲元, 进入下一个像素点; 若 n〉n_thd不成立则扩大窗 口 n*n(n=n+2), 继续求窗口中值 M; 若 I-M〉 v_thd成立, 则跳转至步 骤 S3 ;
S3: 扩大窗口 n*n(n=n+2), 求其中值 Ml ;
S4: 判断 I-Ml〉v_thd是否成立, 若不成立则判断该点为非盲元, 若 成立则确定该点为盲元, 使用 M替换该像素, 进入下一个像素点。
PCT/CN2016/083217 2016-04-26 2016-05-25 一种红外焦平面探测器盲元校正方法 WO2017185443A1 (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610264937.9 2016-04-26
CN201610264937.9A CN105928622A (zh) 2016-04-26 2016-04-26 一种红外焦平面探测器盲元校正方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2017185443A1 true WO2017185443A1 (zh) 2017-11-02

Family

ID=56836246

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/CN2016/083217 WO2017185443A1 (zh) 2016-04-26 2016-05-25 一种红外焦平面探测器盲元校正方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN105928622A (zh)
WO (1) WO2017185443A1 (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111145115A (zh) * 2019-12-20 2020-05-12 复旦大学 一种基于场景适应的非均匀校正方法及其硬件实现装置
CN111242980A (zh) * 2020-01-17 2020-06-05 中国科学院上海技术物理研究所 一种面向点目标的红外焦平面盲元动态检测方法
CN111369552A (zh) * 2020-03-13 2020-07-03 烟台艾睿光电科技有限公司 红外盲元检测方法、装置及计算机可读存储介质
CN113899456A (zh) * 2021-11-02 2022-01-07 洛阳师范学院 一种制冷型面阵红外探测器的盲元检测方法
CN115810023A (zh) * 2023-02-09 2023-03-17 昆明昆科测控技术有限公司 焦平面成像系统扎堆盲元计算系统及其工作方法
CN117197682A (zh) * 2023-09-01 2023-12-08 山东产研卫星信息技术产业研究院有限公司 一种长波红外遥感影像进行盲元检测与去除的方法
CN117855340A (zh) * 2024-03-07 2024-04-09 山西创芯光电科技有限公司 一种降低红外探测器盲元率的铟柱制备方法
CN117855340B (zh) * 2024-03-07 2024-05-17 山西创芯光电科技有限公司 一种降低红外探测器盲元率的铟柱制备方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106500855A (zh) * 2016-10-18 2017-03-15 成都市晶林科技有限公司 一种红外探测器盲元检测方法
CN113038047B (zh) * 2019-12-25 2022-09-06 中国电子科技集团公司第二十四研究所 数字像素读出电路、像素阵列及图像传感器
CN111008944B (zh) * 2019-12-25 2023-07-14 武汉高德红外股份有限公司 一种红外焦平面探测器不稳定像元查找方法及系统
CN111612773B (zh) * 2020-05-22 2021-02-02 北京富吉瑞光电科技股份有限公司 一种红外热像仪及实时自动盲元检测处理方法
CN112284539A (zh) * 2020-09-25 2021-01-29 中国科学院上海技术物理研究所 一种用于在轨短波红外成像光谱仪的盲元补偿方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7652250B2 (en) * 2006-06-26 2010-01-26 Matthew Erdtmann Noise reduction method for imaging devices
CN101980283A (zh) * 2010-10-21 2011-02-23 电子科技大学 一种动态盲元补偿方法
CN104899842A (zh) * 2015-06-29 2015-09-09 济南大学 用于远距离线结构光图像的排序自适应极值中值滤波方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104330167B (zh) * 2014-11-24 2017-07-18 浙江大立科技股份有限公司 红外焦平面阵列动态盲元处理方法及装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7652250B2 (en) * 2006-06-26 2010-01-26 Matthew Erdtmann Noise reduction method for imaging devices
CN101980283A (zh) * 2010-10-21 2011-02-23 电子科技大学 一种动态盲元补偿方法
CN104899842A (zh) * 2015-06-29 2015-09-09 济南大学 用于远距离线结构光图像的排序自适应极值中值滤波方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ENG, HOW LUNG: "Noise Adaptive Soft-Switching Median Filter", IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSING, 28 February 2001 (2001-02-28), XP011025733, ISSN: 1057-7149 *
WANG, ZHOU: "Progressive Switching Median Filter for the Removal of Impulse Noise from Highly Corrupted Images", IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS-II: ANALOG AND DIGITAL SIGNAL PROCESSING, 31 January 1999 (1999-01-31), XP011012973, ISSN: 1057-7130 *
WEI, BAOGUO: "Improved Adaptive Median Filtering", JOURNAL OF COMPUTER APPLICATIONS, vol. 28, no. 7, 31 July 2008 (2008-07-31), pages 1733 *

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111145115A (zh) * 2019-12-20 2020-05-12 复旦大学 一种基于场景适应的非均匀校正方法及其硬件实现装置
CN111145115B (zh) * 2019-12-20 2023-06-20 复旦大学 一种基于场景适应的非均匀校正方法及其硬件实现装置
CN111242980A (zh) * 2020-01-17 2020-06-05 中国科学院上海技术物理研究所 一种面向点目标的红外焦平面盲元动态检测方法
CN111242980B (zh) * 2020-01-17 2022-08-05 中国科学院上海技术物理研究所 一种面向点目标的红外焦平面盲元动态检测方法
CN111369552A (zh) * 2020-03-13 2020-07-03 烟台艾睿光电科技有限公司 红外盲元检测方法、装置及计算机可读存储介质
CN111369552B (zh) * 2020-03-13 2023-07-14 烟台艾睿光电科技有限公司 红外盲元检测方法、装置及计算机可读存储介质
CN113899456A (zh) * 2021-11-02 2022-01-07 洛阳师范学院 一种制冷型面阵红外探测器的盲元检测方法
CN115810023A (zh) * 2023-02-09 2023-03-17 昆明昆科测控技术有限公司 焦平面成像系统扎堆盲元计算系统及其工作方法
CN115810023B (zh) * 2023-02-09 2023-04-21 昆明昆科测控技术有限公司 焦平面成像系统扎堆盲元计算系统及其工作方法
CN117197682A (zh) * 2023-09-01 2023-12-08 山东产研卫星信息技术产业研究院有限公司 一种长波红外遥感影像进行盲元检测与去除的方法
CN117855340A (zh) * 2024-03-07 2024-04-09 山西创芯光电科技有限公司 一种降低红外探测器盲元率的铟柱制备方法
CN117855340B (zh) * 2024-03-07 2024-05-17 山西创芯光电科技有限公司 一种降低红外探测器盲元率的铟柱制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN105928622A (zh) 2016-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2017185443A1 (zh) 一种红外焦平面探测器盲元校正方法
CN102778296B (zh) 基于总变分的自适应红外焦平面非均匀性校正方法
CN103076156B (zh) 红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法
CN106768383B (zh) 一种红外焦平面阵列自动盲元检测与补偿方法
CN108846805B (zh) 一种基于场景自适应的红外热图像两点非均匀校正方法
CN104580894B (zh) 一种红外焦平面的多点校正方法及系统
US8582005B2 (en) Method, apparatus and system providing adjustment of pixel defect map
US20050247867A1 (en) System and methods for determining nonuniformity correction parameters in detector-array imaging
CN104677501B (zh) 非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正的方法和装置
CN106716992A (zh) 用于成像系统的增益校准
CN110595630A (zh) 基于探测器温度的多点非均匀校正的方法
CN104406699A (zh) 基于自适应红外图像校正算法红外热像仪
US10467736B2 (en) Image adjustment based on locally flat scenes
CN106500855A (zh) 一种红外探测器盲元检测方法
CN103985088B (zh) 利用加权微分约束的红外条纹非均匀性校正方法
CN109360167B (zh) 一种红外图像校正方法、装置及存储介质
WO2019183843A1 (zh) 基于帧间配准和自适应步长的红外图像非均匀性校正方法
US10600164B2 (en) Image adjustment based on locally flat scenes
CN103868601B (zh) Irfpa探测器非均匀响应的双边全变分正则化校正方法
JP2011142558A (ja) イメージセンサおよび撮像システム
CN111507915B (zh) 基于模糊配准的实时红外非均匀性校正方法、设备及介质
CN109084899B (zh) 一种红外焦平面探测器非均匀性本体输出校正方法及装置
Huawei et al. An adaptive two-point non-uniformity correction algorithm based on shutter and its implementation
CN115734089A (zh) 半导体光电传感器暗电流的校正方法和系统
CN104166960B (zh) 一种基于场景的自适应非均匀固定噪声去除方法

Legal Events

Date Code Title Description
NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16899953

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 16899953

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1