CN103076156B - 红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法 - Google Patents
红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103076156B CN103076156B CN201310005450.5A CN201310005450A CN103076156B CN 103076156 B CN103076156 B CN 103076156B CN 201310005450 A CN201310005450 A CN 201310005450A CN 103076156 B CN103076156 B CN 103076156B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- average
- focal plane
- noise
- pixel
- time domain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 22
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 6
- 230000005457 Black-body radiation Effects 0.000 claims description 5
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 5
- 210000003734 kidney Anatomy 0.000 claims description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 4
- 210000001113 umbilicus Anatomy 0.000 claims description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 7
- 238000003331 infrared imaging Methods 0.000 description 5
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 206010027146 Melanoderma Diseases 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000035772 mutation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Abstract
本发明涉及盲元检测的技术领域，尤其涉及一种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，本方法主要包括两个具体方面，基于滑动窗口的定标系数的响应异常盲元检测方法；基于多温度，多帧补偿的噪声盲元检测方法。通过本方法对红外焦平面进行盲元补偿可知,该方法查找速度快、定位准确、误判率低，是一种比较实用的盲元检测方法。
Description
技术领域
本发明涉及一种盲元检测方法，尤其涉及一种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法。
背景技术
由于红外探测器在制作过程中半导体材料的不一致，掩膜误差、缺陷、工艺等因素的影响，其信号输出幅值会出现不均匀现象，严重者就会出现文中所讲的盲元问题。由于这些不均匀性及盲元的存在，可能会使所获得的图像信号模糊不清、畸变，甚至使探测器失去探测能力，对于成本较高的焦平面阵列来说，若能通过非均匀校正使均匀性很差的探测器获得满意的校正结果，通过盲元检测和补偿剔除过亮或过暗的像元，提高红外焦平面阵列的成像质量，则具有很高的应用价值和意义。
无效像元的存在会降低红外成像的温度辨率，严重影响红外成像图像质量。因此，无效像元的数量和位置成为红外焦平面阵列探测器的一个重要品质参数。而且，在目前材料和工艺水平下要从红外焦平面阵探测器上根本地消除无效像元几乎不可能。因此，进行无效像元的补偿是必不可少的。对无效像元的补偿的关键在于如何判别无效像元及其体位置。无效像元的过判别会增加补偿算法的计算量，同时也会损失图像细节信节，而欠判别则会影响去盲元的效果，降低红外成像的温度分辨率和系统对点状小目标检测和跟踪性能。因此，建立精确的红外焦平面阵列探测器无效像元的理论模型，导出可靠的无效像元的检测判据具有十分重要的意义。
盲元也称为无效像元，对于无效像元的定义，国标中主要是从器件本身对黑体辐射的响应程度作为量化指标的，无效像元(Non-effective pixel)包括死像元和过热像元;死像元(Dead pixel):像元响应率小于平均响应率的1/10的像元;过热像元(Overhot Pixel):像元噪声电压大于平均噪声电压的10倍的像元。所以对于盲元而言，主要表现形式有:
1)信号输出始终为固定输出值或者校正前过亮或者过暗的像元，包括始终处于截止状态的像元、处于饱和状态的像元和固定灰度像元。在成像时表现为亮点、黑点或固定灰度点。
2)闪烁像元，噪声过大，信号被噪声淹没。在成像时表现为时而亮点时而黑点，
其输出信号变化与成像场景无对应关系。
实验发现，国标的盲元定义对成像系统中无效像元补偿来说并不合适。我们平时所说的盲元属于异常像元，对于异常像元种类主要包括：直流电平像元，响应率异常像元，受 噪声的影响较大的噪声像元等，其中部分响应率异常（过强或者过弱）的像元可以通过非均匀性校正算法进行校正，不应属于盲元范畴。
在红外焦平面阵列探测器的大量测试中，如果采用响应率小于平均响应率的1/10来作为盲元判据，在实际输出信号测试时还是可以看到明显的异常响应信号突变峰值，或成像演示时还是可以看到明显的固定位置亮点和黑斑，而且会存在部分可校正的响应异常像元被误判的情况。这是因为国标的非均匀性定义是基于黑体辐射的响应程度作为量化指标的，该定义只考虑到无效像元的二种主要情况，未能涵盖所有无效像元情况。在实际的红外成像系统中必须加上信号传输和处理通道等的影响。实际上，国际上对于红外成像层面的无效像元的定义还没有统一的标准。因此，本发明针对盲元形成的机理与其表现特性，定义四种类型的无效像元：
(1) 始终产生相同信号输出的死像元；
(2) 响应曲线趋势异常，难以进行校正的异常像元；
(3)噪声大于固定闭值的噪声像元；
(4)时变性明显不同于正常像元的闪烁或漂移像元。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：产生四种类型的无效像元，1、始终产生相同信号输出的死像元；2、响应曲线趋势异常，难以进行校正的异常像元；3、噪声大于固定闭值的噪声像元和4、时变性明显不同于正常像元的闪烁或漂移像元的问题，提供一种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法。
为了克服背景技术中存在的缺陷，本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：这种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法的步骤如下：
步骤1，记录不同温度下黑体辐射源的探测原始数据图像幅时，黑体每个像素点的幅图像的均值、整个焦平面响应均值、偏差极值和时域噪声均方根，
步骤1中低温时，
低温黑体下每个像素点的幅图像的均值为，，
整个焦平面响应均值为，，
偏差极值为，，
时域噪声均方根为，；
中温时，
中温黑体下的每个像素点的幅图像的均值为，，
整个焦平面响应均值为，，
偏差极值为，，
时域噪声均方根为，；；
高温时，
高温黑体下的每个像素点的幅图像的均值为，，
整个焦平面响应均值为，，
偏差极值为，，
时域噪声均方根为， ；
步骤2，计算不同温度下焦平面时域噪声均方根的均值，将时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合，
步骤2中在
低温时，焦平面时域噪声均方根的均值，；
中温时，焦平面时域噪声均方根的均值，；
高温时，焦平面时域噪声均方根的均值， ；
低温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合，；
中温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合，；
高温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合,”；
步骤3，计算不同温度下焦平面偏差极值均值，将偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，记为像元集合，
所述步骤3中在
低温时，焦平面偏差极值的均值，；
中温时，焦平面偏差极值的均值，；
高温时，焦平面偏差极值的均值，；
低温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，像元集合,；
中温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，像元集合，；
高温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，像元集合，；
步骤4，利用采集不同温度下黑体获得的图像数据，计算两点一段非均匀性校正参数，记为像元集合；
步骤5，对两点一段非均匀性校正参数所组成的阵列进行镜像延拓，求其中值，其中延拓的与领域运算限制在5×5的滑动窗口中；
步骤6，利用滑动窗口机制，将两点一段非均匀性校正参数与窗口中值进行比较，记为像元集合；
步骤7：将获得最终的盲元检测结果取并集，得到最终的结果。
根据本发明的另一个实施例，进一步包括所述取0.3。
根据本发明的另一个实施例，进一步包括取0.8。
根据本发明的另一个实施例，进一步包括所述步骤4中在低中高三个温度下黑体获得的图像数据，计算两点一段非均匀性校正参数为,,和，其计算方式为，
，
记像元集合, ，
,。
根据本发明的另一个实施例，进一步包括所述步骤5中在滑动窗口中，对两点一段非均匀性校正参数,,,进行排序，并选出中值
，
，
，
。
根据本发明的另一个实施例，进一步包括所述步骤6中两点一段非均匀性校正参数与窗口中值进行比较，其像元集合为,,,，取0.9, 取0.5，
，
，
，
。
根据本发明的另一个实施例，进一步包括所述步骤7中将获得最终的盲元检测结果取并集，其并集结果为。
本发明的有益效果是：本发明创造性地提出了一种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，通过该方法可以准确，快速定位出上述四种类型的无效像元，误判率低，该技术可以提高无效像元的检测准确度。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的检测方法流程示意图；
图2是连接图1下部分示意图；
图3是本发明阵列进行镜像严拓的示意图。
具体实施方式
如图1和图2所示，为红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法的流程图，这种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法主要包括两个具体方面：基于滑动窗口的定标系数的响应异常盲元检测方法；基于多温度，多帧补偿的噪声盲元检测方法。基于滑动窗口的定标系数的响应异常盲元检测方法，参照图2所示。
本发明的方法步骤如下：
为了检测噪声大于固定闭值的噪声像元、时变性明显不同于正常像元的闪烁或漂移像元的问题：
利用基于多温度，多帧补偿的噪声盲元检测方法，是通过采集三个不同温度下的高中低黑体标准源，每个温度下采集50帧图像计算其均值，偏差极值，与时域噪声均方根，再与探测器所有像元的均值，偏差极值，与时域噪声均方根的平均值作比较，大于规定阈值的即可判为盲元。其检测方法为步骤1至步骤3。
步骤1，记录不同温度下黑体辐射源的探测原始数据图像幅时，黑体每个像素点的幅图像的均值、整个焦平面响应均值、偏差极值和时域噪声均方根；
不同温度分别为：
当低温时：
低温黑体下的每个像素点的幅图像的均值为，，
整个焦平面响应均值为，，
偏差极值为，，
时域噪声均方根为，；
当中温时，
中温黑体下的每个像素点的幅图像的均值为，，
整个焦平面响应均值为，，
偏差极值为，，
时域噪声均方根为，；
当高温时，
高温黑体下的每个像素点的幅图像的均值为，，
整个焦平面响应均值为，，
偏差极值为，，
时域噪声均方根为，。
步骤2，计算不同温度下焦平面时域噪声均方根的均值，将时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合；
不同温度下焦平面时域噪声均方根的均值分别为：
低温时，焦平面时域噪声均方根的均值，；
中温时，焦平面时域噪声均方根的均值，；
高温时，焦平面时域噪声均方根的均值， ；
不同温度下时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较：
低温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合，；（取0.3）；
中温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合，；（取0.3）；
高温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合,；（取0.3）。
步骤3，计算不同温度下焦平面偏差极值均值，将偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，记为像元集合；
不同温度下焦平面偏差极值均值：
低温时，焦平面偏差极值的均值，；
中温时，焦平面偏差极值的均值，；
高温时，焦平面偏差极值的均值，；
不同温度下偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较：
低温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，记为像元集合,，（取0.8）。
中温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，记为像元集合，，（取0.8）。
高温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，记为像元集合，，（取0.8）。
步骤1至步骤3得到的记为像元集合、、、、和作为盲元判据。
为了检测类型始终产生相同信号输出的死像元、响应曲线趋势异常导致难以进行校正的异常像元的问题：
如图3所示，图中实心黑点代表像元，圆形代表窗口，内部方框为原始尺寸，外部方框为严拓后的尺寸，窗口内的像元为参与计算的像元。该圆形窗口沿着一帧图像中的像元，从左至右，从上至下的方式移动，每移动到一个新像元位置，该圆形窗口便覆盖不同的像元。在某个窗口下，通过采集三个不同温度下的高、中、低黑体标准源，计算窗口中所有像元的两点一段非均匀性校正参数，将窗口中心的非均匀性校正参数与窗口内所有像元非均匀性参数的均值进行比较，大于规定阈值即为盲元。其检测方法为步骤4至步骤6。
步骤4，利用采集不同温度下黑体获得的图像数据，计算两点一段非均匀性校正参数，记像元集合；将两段的增益作为盲元判据。
在低中高三个温度下黑体获得的图像数据，计算两点一段非均匀性校正参数为,,和，其计算方式为，
，
；
像元集合, ，
,。
步骤5，对两点一段非均匀性校正参数所组成的阵列进行镜像延拓，求其中值，其中严拓的与领域运算限制在5×5的滑动窗口中；将两点一段非均匀性校正参数为,,和所组成的阵列进行镜像延拓，其中延拓的与领域运算限制在5×5的滑动窗口中。
在滑动窗口中，对两点一段非均匀性校正参数,,和进行排序，并选出中值
，
，
，
。
步骤6，利用滑动窗口机制，将两点一段非均匀性校正参数与窗口中值进行比较，记为像元集合；
两点一段非均匀性校正参数与窗口中值进行比较，其像元集合为,,,（取0.9, 取0.5），
，
，
，
。
步骤7：将获得最终的盲元检测结果取并集，得到最终的结果。
将获得最终的盲元检测结果取并集，其并集结果为。
本发明创造性地提出了一种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，通过该方法可以准确，快速定位出上述四种类型的无效像元，误判率低，该技术可以提高无效像元的检测准确度。
Claims (4)
1.一种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于，该方法的步骤如下：
步骤1，记录不同温度下黑体辐射源的探测原始数据图像 幅时，黑体每个像素点的幅图像的均值、整个焦平面响应均值、偏差极值和时域噪声均方根，
步骤1中低温时，
低温黑体下每个像素点的幅图像的均值为
整个焦平面响应均值为
偏差极值为
时域噪声均方根为
中温时，
中温黑体下的每个像素点的幅图像的均值为
整个焦平面响应均值为
偏差极值为
时域噪声均方根为
高温时，
高温黑体下的每个像素点的幅图像的均值为
整个焦平面响应均值为
偏差极值为
时域噪声均方根为
步骤2，计算不同温度下焦平面时域噪声均方根的均值，将时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合，
步骤2中在
低温时，焦平面时域噪声均方根的均值
中温时，焦平面时域噪声均方根的均值
高温时，焦平面时域噪声均方根的均值
低温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合
中温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合
高温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合
步骤3，计算不同温度下焦平面偏差极值均值，将偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，记为像元集合，
所述步骤3中在
低温时，焦平面偏差极值的均值
中温时，焦平面偏差极值的均值
高温时，焦平面偏差极值的均值
低温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，像元集合
中温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，像元集合
高温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，像元集合
步骤4，利用采集不同温度下黑体获得的图像数据，计算两点一段非均匀性校正参数，记为像元集合；
所述步骤4中在低中高三个温度下黑体获得的图像数据，计算两点一段非均匀性校正参数为
步骤5，对两点一段非均匀性校正参数所组成的阵列进行镜像延拓，求其中值，其中延拓的与领域运算限制在5×5的滑动窗口中；
所述步骤5中在滑动窗口中，对两点一段非均匀性校正参数进行排序，并选出中值
步骤6，利用滑动窗口机制，将两点一段非均匀性校正参数与窗口中值进行比较，记为像元集合；
所述步骤6中两点一段非均匀性校正参数与步骤5中对两点一段非均匀性校正参数所组成的阵列进行镜像延拓后求其中值的窗口中值进行比较，其像元集合为
步骤7：将获得最终的盲元检测结果取并集，得到最终的结果。
2.如权利要求1所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述取0.3。
3.如权利要求1所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述取0.8。
4.如权利要求1所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述步骤7中将获得最终的盲元检测结果取并集，其并集结果为
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201310005450.5A CN103076156B (zh) | 2013-01-08 | 2013-01-08 | 红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201310005450.5A CN103076156B (zh) | 2013-01-08 | 2013-01-08 | 红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103076156A CN103076156A (zh) | 2013-05-01 |
| CN103076156B true CN103076156B (zh) | 2015-07-22 |
Family
ID=48152761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201310005450.5A Expired - Fee Related CN103076156B (zh) | 2013-01-08 | 2013-01-08 | 红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103076156B (zh) |
Families Citing this family (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103310108B (zh) * | 2013-06-21 | 2016-02-17 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种红外焦平面探测器盲元筛选方法 |
| CN103335721B (zh) * | 2013-06-21 | 2015-10-21 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 基于场景匹配的红外焦平面阵列动态盲元检测方法 |
| CN104515599B (zh) * | 2013-09-29 | 2018-09-04 | 南京理工大学 | 基于fpga的红外焦平面阵列盲元检测系统及方法 |
| CN104181613B (zh) * | 2014-08-13 | 2017-02-15 | 中国人民解放军理工大学 | 一种地基红外测云仪现场标定方法 |
| CN105372040A (zh) * | 2015-12-01 | 2016-03-02 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法 |
| CN106500855A (zh) * | 2016-10-18 | 2017-03-15 | 成都市晶林科技有限公司 | 一种红外探测器盲元检测方法 |
| CN106855435B (zh) * | 2016-11-15 | 2019-04-09 | 北京空间机电研究所 | 长波线阵红外相机星上非均匀性实时校正方法 |
| CN107131958A (zh) * | 2017-04-28 | 2017-09-05 | 深圳东方红鹰科技有限公司 | 探测相机主控板的检测系统及方法 |
| CN108805853A (zh) * | 2017-04-28 | 2018-11-13 | 武汉多谱多勒科技有限公司 | 一种红外图像盲元检测方法 |
| CN107631807B (zh) * | 2017-09-08 | 2019-08-16 | 天津津航技术物理研究所 | 一种tdi红外探测器组件盲元检测及替换方法 |
| WO2019143688A1 (en) | 2018-01-19 | 2019-07-25 | Pcms Holdings, Inc. | Multi-focal planes with varying positions |
| CN108426640B (zh) * | 2018-02-28 | 2019-05-10 | 北京理工大学 | 一种针对红外探测器缺损像元的校正方法 |
| CN110542482B (zh) * | 2018-05-29 | 2020-11-13 | 杭州海康微影传感科技有限公司 | 一种盲元检测方法、装置及电子设备 |
| CN110542480B (zh) * | 2018-05-29 | 2020-11-13 | 杭州海康微影传感科技有限公司 | 一种盲元检测方法、装置及电子设备 |
| CN109799068B (zh) * | 2018-09-28 | 2020-09-04 | 浙江兆晟科技股份有限公司 | 一种不稳定盲元检测方法及系统 |
| CN109270591B (zh) * | 2018-10-16 | 2020-09-11 | 烟台艾睿光电科技有限公司 | 红外机芯组件噪声盲元查找方法、装置以及红外机芯组件 |
| CN109584205A (zh) * | 2018-10-19 | 2019-04-05 | 中国人民解放军海军工程大学 | 盲元检测方法及装置 |
| CN109583018B (zh) * | 2018-10-26 | 2023-04-18 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） | 红外焦平面组件的敏感参数监测方法和装置 |
| CN111369552B (zh) * | 2020-03-13 | 2023-07-14 | 烟台艾睿光电科技有限公司 | 红外盲元检测方法、装置及计算机可读存储介质 |
| CN111986171B (zh) * | 2020-08-14 | 2024-02-27 | 西安应用光学研究所 | 一种用于红外线阵探测器的异常元检测方法 |
| CN112903106B (zh) * | 2021-01-27 | 2022-06-21 | 西北工业大学深圳研究院 | 一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法 |
| CN113781580B (zh) * | 2021-09-10 | 2024-03-26 | 北京安酷智芯科技有限公司 | 一种快速识别盲元的方法、装置、电子设备及存储介质 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6670596B2 (en) * | 2001-08-06 | 2003-12-30 | Raytheon Company | Radiometry calibration system and method for electro-optical sensors |
| CN100561149C (zh) * | 2008-09-17 | 2009-11-18 | 电子科技大学 | 一种ufpa中无效像元的判别方法 |
| US8159568B2 (en) * | 2009-03-26 | 2012-04-17 | Ahdoot Ned M | Hardware implemented pixel level digital filter and processing of electromagnetic signals |
| CN101825516A (zh) * | 2010-05-04 | 2010-09-08 | 电子科技大学 | 一种红外焦平面阵列器件的测试装置及其测试方法 |
| CN102214354A (zh) * | 2011-04-29 | 2011-10-12 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种红外图像无效像元实时检测方法 |
| CN102410880B (zh) * | 2011-08-05 | 2013-06-19 | 重庆邮电大学 | 基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法 |
-
2013
- 2013-01-08 CN CN201310005450.5A patent/CN103076156B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103076156A (zh) | 2013-05-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103076156B (zh) | 红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法 | |
| CN102564598B (zh) | 一种红外探测器测温的定标和校正方法及相应的测温方法 | |
| CN104331896B (zh) | 一种基于深度信息的系统标定方法 | |
| CN104515599B (zh) | 基于fpga的红外焦平面阵列盲元检测系统及方法 | |
| CN108414093B (zh) | 一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路及提高良率的方法 | |
| CN108426640B (zh) | 一种针对红外探测器缺损像元的校正方法 | |
| TWI480578B (zh) | 偵測廣角鏡頭之光學中心的方法以及光學中心偵測裝置 | |
| CN108921865A (zh) | 一种抗干扰的亚像素直线拟合方法 | |
| CN103345755A (zh) | 一种基于Harris算子的棋盘格角点亚像素提取方法 | |
| CN103335722B (zh) | 红外热像仪校正方法 | |
| CN106679817A (zh) | 一种用于标定红外热像仪的方法 | |
| CN100561149C (zh) | 一种ufpa中无效像元的判别方法 | |
| CN103335717B (zh) | 一种基于变积分模式的红外热像仪高精度抗温漂测温方法 | |
| CN106327474A (zh) | 一种自动在线盲元检测方法 | |
| CN109974866B (zh) | 一种红外焦平面阵列非均匀性校正方法及校正电路 | |
| CN102938137A (zh) | 基于图像序列分析的线扫描图像动态非均匀性校正方法 | |
| CN102589707B (zh) | 红外焦平面阵列探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法 | |
| CN107341780A (zh) | 一种红外图像预处理校正方法 | |
| CN106644078A (zh) | 一种用于太赫兹图像非均匀性校正的方法 | |
| CN108871185B (zh) | 零件检测的方法、装置、设备以及计算机可读存储介质 | |
| CN107356596A (zh) | 水下标定目标成像装置及光学图像法水质浊度在线检测方法 | |
| CN107643611A (zh) | 一种液晶屏与背光源装配精度的自动检测系统 | |
| CN102885631B (zh) | 一种运用于平板ccd探测器的畸变校正方法 | |
| CN104111118A (zh) | 一种基于斩波器的红外图像非均匀性校正方法 | |
| CN101843090B (zh) | 白/黑像素校正装置和方法以及成像系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20161130 Address after: Henglin Town, Wujin District of Jiangsu Yu Xiang Village 213001 city of Changzhou Province Patentee after: Changzhou Xin Jing Hua Photoelectric Technology Co.,Ltd. Address before: Yao Guan Zhen Tong Ji village Wujin District 213000 Jiangsu city of Changzhou Province Patentee before: JIANGSU TAOYUAN ELECTRONIC TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
|
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20150722 |