CN108414093B - 一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路及提高良率的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路及提高良率的方法。通过控制模块对有效元电路阵列进行行选通、列积分，并根据有效元电路的故障信号获得替补信号，把相邻行的有效元电阻与故障有效元电阻并联，从而使故障有效元电路正常工作，实现对红外图像的像元的实时修复，进一步，根据盲元或参考元电路的故障信号获得替补信号，将相邻的盲元或参考元电阻与故障的盲元或参考元电阻并联，从而修复盲元电路或参考元电路，解决红外焦平面的列坏线或行坏线的问题。

Description

一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路及提高良率的方法

技术领域

本发明属于非制冷红外焦平面探测器领域，更具体地，涉及一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路及提高良率的方法。

背景技术

红外焦平面探测器是热成像系统的核心部件，微测辐射热计的工作原理是：来自目标的热辐射通过红外光学系统聚焦到探测器焦平面阵列上，各个微桥的红外吸收层吸收红外能量后温度发生变化，不同微桥接收到不同能量的热辐射，其自身的温度变化就不同，从而引起各微桥的热敏层电阻值发生相应的改变，这种变化经由探测器内部的读出电路。读出电路将阻值变化以电流变化的形式得到，再由积分器转换成电压信号，经A/D转换器转换成数字信号输出；最终，经过探测器外部的信号采集和数据处理电路最终得到反映目标温度分布情况的可视化电子图像。

但由于探测器周围环境同样具有红外辐射，同时焦平面自身也具有一定的工作温度，这部分热量就成为了系统的背景噪声。在无红外辐射的情况下产生的电流，称之为暗场电流，这就需要设计能够根据环境温度变化而变化的盲元电路，通过引入与有效元相同的热敏材料制成的盲元，使得盲元电路为读出电路的输出提供补偿电流，消除暗场电流，即消除环境背景噪声对探测效果的影响。

目前国内外的红外焦平面阵列器件一般都采用行选通、列积分的方式设计读出电路，即逐行选通像元阵列，在选通的同时通过列积分上传数据。其中每一列有效元电阻具有单独的盲元电路提供补偿电流，一旦某个盲元故障则会影响整列有效元的校准信号，导致红外成像出现列条纹非均匀性；所述有效元电阻的电流来源于两端所加的偏置电压，每行有效元电阻两端的偏置电压一致，每个所述偏置电压由一个参考元电路调试获得，所以一旦某个参考元电阻故障，会导致红外成像出现行条纹非均匀性。

图1为红外焦平面阵列的读出电路结构图，其中区域2为单个有效元电路，R_sensor为有效元电阻，区域1为提供补偿电流的盲元电路，其中R_blind为盲元电阻，与R_sensor为相同的热敏电阻材料，R_sensor对入射的红外辐射响应，R_blind对入射的红外辐射无响应，其中，有效元的选通由开关Select控制；区域3为输出信号积分运算放大电路，V_o为红外图像信息输出端。V_sk、V_fid、G_sk为外加可调偏置电压，V_ref为不随温度和生产工艺而变化的恒定偏置电压。所述盲元电路在选通控制信号G_sk的控制下，接入电路，产生补偿电流I₁，与有效元电阻产生的暗场电流I₂相互抵消，从而消除系统背景噪声的影响。根据图1，可以得到：

I₁＝(V_sk-V_ref)/R_blind，

I_INT＝I₁-I₂可得：

I_INT＝I₁-I₂＝(G_sk-V_ref)/R_blind-V_fid/R_senor，

V_o＝V_ref-I_INT×T_INT/C_INT＝V_ref-(T_INT/C_INT)×[(G_sk-V_ref)/R_blind-V_fid/R_senor]

据此，可以得到V_o与R_blind密切相关，需要保证盲元电阻为一列有效元电阻提供相同的补偿电流，抑制暗场电流的影响，提高列均匀性。

当读出电路中有效元电阻由于工艺偏差导致无法导通或出现故障时，现有技术难以从根本上修复有效元电阻，只能通过后续的图像处理算法赋予故障有效元电阻一个虚拟的响应值，从而起到非均匀性校正的作用，但现有的后续处理算法均存在计算量大、收敛速度慢、依赖场景的运动、及硬件实现难度大等缺点，尤其是难以满足实时校正的需求，对大面阵图像处理困难。现有专利CN 102609923 A提供了一种图像处理算法校正红外图像的非均匀性，该方法将面阵中所有有效元对红外辐射的响应均放大并转换成电信号上传后，通过计算故障有效元周围的有效元的信号值的算术平均值，从而得到虚拟的故障有效元的信号值，以此校正图像的非均匀性。但由于现有的红外焦平面阵列器件一般都采用行选通、列输出的方式设计读出电路，所以该方法要等所有有效元的信号值都上传后才能根据周围的信号值求得算术平均值，实时性不强，并且该方法通过多点标定计算复杂，一旦故障有效元周围的有效元也无法正常工作，图像处理的计算量进一步增大，效率更低，速度更慢，处理结果也不可靠。

由于图像处理算法只能对最终的入射红外辐射响应值进行处理，但盲元或参考元对入射红外无响应，所以当读出电路的盲元电阻或参考元电阻出现故障时，图像处理技术难以对故障的盲元或参考元进行校正或赋值，无法根据图像处理算法对盲元或参考元进行修复，从而提高器件良率。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种红外焦平面探测器的读出电路及提高良率的方法，当单元电路故障时，在不影响当前工作的有效元电路行的情况下，通过自动电路切换实现故障单元电路的有效替换，实时解决有效元或盲元或参考元的故障问题，并从根本上提高像元的良率，校正焦平面阵列的非均匀性。

根据本发明的一个方面，提供了一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路，包括像元阵列，所述像元阵列包括M行×N列有效元电路，每列还包括一个盲元电路、一个积分电路，每行还包括一个参考元电路，所述M、N为大于1的整数，每行有效元电路的电流由该行的参考元电路镜像提供，每列有效元电路的第一端分别连接该列的积分电路的反相输入端，盲元电路的第一输出端连接该列积分电路的同相输入端，所有积分电路的输出端连接A/D转换器的输入端；

其特征在于，所述读出电路还包括行选通晶体管、控制模块，所述行选通晶体管的输出端连接有效元电路的第一输入端，所述控制模块的第一输出端连接行选通晶体管的输入端，第二输出端连接有效元电路的第二输入端，所述有效元电路的输出端连接控制模块的第一输入端；

所述控制模块用于获得第一选通信号，所述行选通晶体管用于根据第一选通信号逐行选通有效元电路，所述有效元电路用于获得电流信号，所述控制模块还用于根据电流信号判断对应的有效元电路是否存在故障，并在其存在故障时获得第二选通信号，用故障有效元电路相邻行的有效元电路替代故障有效元电路。

优选地，每个所述有效元电路包括：

有效元电阻、第一选通开关、第二选通开关；所述有效元电阻的第二端用于接地，第一端连接第一选通开关的第二端；所述第一选通开关的第一端作为所述有效元电路的第一端，第一选通开关的第二端还连接有第二选通开关的第一端；所述第二选通开关的第二端连接同列相邻的有效元电路的第一端；所述第一选通开关的输入端作为有效元电路的第一输入端，第二选通开关的输入端作为有效元电路的第二输入端。

优选地，所述第一选通开关为第一MOS管，所述第一MOS管的漏极作为第一选通开关的第一端，源极作为第一选通开关的第二端，栅极作为第一选通开关的输入端，用于外加第一偏置电压。

优选地，所述第二选通开关为第二MOS管，所述第二MOS管的漏极作为第二选通开关的第一端，源极作为第二选通开关的第二端，栅极作为第二选通开关的输入端，用于外加第二偏置电压。

优选地，所述控制模块的第三输出端分别连接每个参考元电路的输入端，每个所述参考元电路包括一行参考元电阻，其中一个参考元电阻作为工作参考元电阻，所述工作参考元电阻的第一输出端作为参考元电路的第一输出端，用于将电流镜像给该行的有效元电路，且工作参考元电阻的第二输出端连接控制模块的第二输入端；每个参考元电阻与同列或同行相邻的参考元电阻并联并在联接处设置有选通开关；所述选通开关的输入端作为所述参考元电路的输入端，所述选通开关的输入端作为所述参考元电路的输入端。

优选地，所述控制模块的第三输出端分别连接每个盲元电路的输入端，所述盲元电路包括一列盲元电阻，其中一个盲元电阻作为工作盲元电阻，所述工作盲元电阻的第一输出端作为所述盲元电路的第一输出端，第二输出端连接控制模块的第二输入端；每个盲元电阻与同列相邻的盲元电阻并联并在联接处设置有选通开关，所述选通开关的输入端作为所述盲元电路的输入端。

优选地，所述选通开关为MOS管，所述MOS管的栅极作为选通开关的输入端。

根据本发明的另一个方面，还提供了一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路提高良率的方法，所述焦平面探测器包括像元阵列，所述像元阵列包括M行×N列有效元电路，每列还包括一个盲元电路，每行还包括一个参考元电路；每个所述有效元电路包括有效元电阻、第二选通开关；每个有效元电阻的第二端用于接地，第一端连接该列积分电路的反相输入端，且第一端还通过第二选通开关连接同列相邻的有效元电路的第一端；所述提高良率的方法包括如下步骤：

S1：使所有第二选通开关处于断开状态；根据第一选通信号选通第一行有效元电路；

S2：分别根据选通行的各有效元电路的第一端有无电流判断其是否为故障有效元电路，将第一端无电流的有效元电路判断为故障有效元电路，并对故障有效元电路执行有效元修复操作；

S3：获得第一选通信号，根据第一选通信号判断该行有效元电路是否为最后一行有效元电路，是则结束，否则选通下一行有效元电路，并返回S2；

其中，S2中所述对故障有效元电路执行有效元修复操作具体包括如下子步骤：

S21：获得第二选通信号，选通与故障有效元电路相连的一个第二选通开关，判断故障有效元电路的第一端是否有电流，是则所述对故障有效元电路执行有效元修复操作结束，否则进入S22；

S22：获得第二选通信号，选通另一个与故障有效元电路相连的第二选通开关。

优选地，每个所述参考元电路包括一行参考元电阻，其中一个参考元电阻作为工作参考元电阻，所述工作参考元电阻的输出端作为所述参考元电路的输出端，每个参考元电阻的两端与同列或同行相邻的参考元电阻的两端相连接，其中一端的连接处设置有选通开关；在所述S1和S2之间以及S5和S2之间还包括如下步骤：

S11：使所有选通开关处于断开状态，根据选通行的有效元电路有无电流判断该行的参考元电路是否故障，若有电流则进入S2，否则判断该行的参考元电路故障，进入S12，

S12：获得参考元替补信号，选通与工作参考元电阻相连的一个选通开关，根据选通行的有效元电路的电流判断工作参考元电路是否导通，是则进入S2，否则进入S13；

S13：获得参考元替补信号，选通与工作参考元电阻相连的另一个选通开关。

优选地，每个所述盲元电路包括一列盲元电阻，其中一个盲元电阻作为工作盲元电阻，所述工作盲元电阻的输出端作为所述盲元电路的输出端；每个盲元电阻的两端与同列相邻的盲元电阻的两端相连接，其中一端的连接处设置有选通开关；在S1和S2之间还包括如下步骤：

S14：使所有选通开关处于断开状态，分别根据各列积分电路的同相输入端有无电流判断对应列的盲元电路是否故障，将同相输入端无电流的积分电路对应列的盲元电路判断为故障盲元电路，并对故障盲元电路执行盲元替换操作，直至所有盲元电路判断完毕，进入步骤S2；

其中，所述对故障盲元电路执行盲元替换操作具体包括以下子步骤：

S141：获得盲元替补信号，选通与工作盲元电阻相连的一个选通开关，根据该列积分电路的同相输入端的电流判断工作盲元电路是否导通，是则所述对故障盲元电路执行盲元替换操作结束，否则进入S142；

S142：获得盲元替补信号，选通与工作盲元电阻相连的另一个选通开关。

总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：

1.通过控制模块实现电路的自动切换，从而用相邻行的有效元电路替补故障有效元电路，实时校正像元阵列的非均匀性，在行选通模式下使每一行均能正常工作，从根本上提高像元阵列的器件良率，使所有有效元在接受同样的黑体辐射时输出的电压信号幅值相同，从而让红外焦平面呈现出均匀、无色差画面。

2.通过自动电路切换，从而用相邻行或列的参考元电路替补故障参考元电路，使每行有效元电路连接的参考元都能正常工作，进而使各行有效元电路输出的电压信号幅值相同，以避免红外焦平面呈现行坏线现象。

3.通过自动电路切换，从而用相邻的盲元电路替补故障盲元电路，使每列有效元电路连接的盲元都能正常工作，以有效地抑制甚至基本消除列条纹，提高列与列之间的均匀性，避免红外焦平面呈现列坏线现象。

4.在积分电路与A/D转换器之间设置采样保持电路，可抑制由积分电路的放大干扰带来的转换噪声，提高模数转换器的精确度和消除转换时间的不准确性。

5.由于有效元电阻之间差异较小，因此用相邻行的有效元电阻替代故障有效元电阻能保证其阵列均匀性较好，使得探测器输出信号呈现出一致变化，为后续信号处理工作带来便捷。

6.用MOS管作为选通开关，由偏置电压进行驱动，具有速度快、低功耗、封装面积小的优点。

附图说明

图1是现有技术读出电路结构示意图；

图2是本发明一个实施例的有效元电路结构示意图，其中：R₁-R₉为有效元电阻，V₁-V₃为第一偏置电压，M₁-M₂为第二选通开关，VSSA为模拟接地。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

根据本发明的一个实施例，提供了一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路，包括像元阵列，所述像元阵列包括M行×N列有效元电路，每列还包括一个盲元电路、一个积分电路，每行还包括一个参考元电路，每行有效元电路的电流由该行的参考元电路镜像提供，每列有效元电路的第一端分别连接该列的积分电路的反相输入端，盲元电路的第一输出端连接该列积分电路的同相输入端；

所述读出电路还包括行选通晶体管、控制模块，所述行选通晶体管的M×N个输出端分别连接M×N个有效元电路的第一控制端，所述控制模块的M×N个第一输出端分别连接M×N个有效元电路的第二控制端，控制模块的第二输出端连接行选通晶体管的输入端，M×N个有效元电路的输出端分别连接控制模块的M×N个第一输入端；

每个所述有效元电路包括有效元电阻、第一选通开关、第二选通开关；所述有效元电路的第二端用于接地，第一端连接第一选通开关的第二端，所述第一选通开关的第二端还连接第二选通开关的第一端，所述第一选通开关的第一端作为所述有效元电路的第一端，第二选通开关的第二端连接同列相邻的有效元电路的第一端；所述第一选通开关的控制端作为有效元电路的第一控制端，第二选通开关的控制端作为有效元电路的第二控制端；

所述控制模块用于获得第一选通信号，所述行选通晶体管用于根据第一选通信号逐行选通有效元电路，所述有效元电路用于获得电流信号，所述控制模块还用于根据电流信号判断对应的有效元电路是否存在故障，并在其存在故障时获得与所述有效元电路对应的第二选通信号，与所述有效元电路对应的第二选通开关用于根据与所述有效元电路对应的第二选通信号切换至闭合状态。

所述第一选通开关为第一MOS管，所述第一MOS管的漏极作为第一选通开关的第一端，源极作为第一选通开关的第二端，栅极作为第一选通开关的控制端，用于外加第一偏置电压。

所述第二选通开关为第二MOS管，所述第二MOS管的漏极作为第二选通开关的第一端，源极作为第二选通开关的第二端，栅极作为第二选通开关的控制端，用于外加第二偏置电压。

所述控制模块包括M个第三输出端，分别连接M个参考元电路的控制端；每个所述参考元电路包括一行参考元电阻和N个电流镜，其中一个参考元电阻作为工作参考元电阻，所述工作参考元电阻包括N个第一输出端，分别连接N个电流镜的输入端，所述工作参考元电阻的第二输出端连接控制模块的第二输入端；每个参考元电阻与同列或同行相邻的参考元电阻并联并在联接处设置有选通开关；所述选通开关的控制端作为所述参考元电路的控制端；所述电流镜的输出端作为参考元电路的输出端。

所述控制模块的N个第三输出端分别连接N个盲元电路的控制端；每个所述盲元电路包括一列盲元电阻，其中一个盲元电阻作为工作盲元电阻，所述工作盲元电阻的第一输出端作为所述盲元电路的第一输出端，第二输出端连接控制模块的第二输入端；每个盲元电阻与同列相邻的盲元电阻并联并在联接处设置有选通开关，所述选通开关的控制端作为所述盲元电路的控制端。

所述选通开关为MOS管，所述MOS管的栅极作为选通开关的控制端，源极和漏极分别连接同列相邻的两个盲元电阻或相邻的两个参考元电阻。

所述读出电路还包括采样保持电路、A/D转换器，所有积分电路的输出端连接采样保持电路的输入端，所述采样保持电路的输出端连接A/D转换器的输入端。

所述读出电路的工作方法包括如下步骤：

S1：使所有第二选通开关处于断开状态，根据第一选通信号选通像元阵列中的第一行有效元电路；

S2：分别根据选通行的各有效元电路的第一端有无电流判断其是否为故障有效元电路，将第一端无电流的有效元电路判断为故障有效元电路，并对故障有效元电路执行有效元修复操作；

S3：获得第一选通信号，根据第一选通信号判断该行有效元电路是否为最后一行有效元电路，是则结束，否则选通下一行有效元电路，并返回S2；

其中，S2中所述对故障有效元电路执行有效元修复操作具体包括如下子步骤：

S21：获得第二选通信号，选通与故障有效元电路相连的一个第二选通开关，判断故障有效元电路的第一端是否有电流，是则所述对故障有效元电路执行有效元修复操作结束，否则进入S22；

S22：获得第二选通信号，选通另一个与故障有效元电路相连的第二选通开关，所述对故障有效元电路执行有效元修复操作结束。

在所述S1和S2之间以及S5和S2之间还包括参考元检测修复步骤：

S11：使所有选通开关处于断开状态，根据选通行的有效元电路是否有电流判断该行的参考元电路是否故障，若有电流则进入S2，否则判断该行的参考元电路故障，进入S12；

S12：获得参考元替补信号，选通与工作参考元电阻相连的一个选通开关，根据选通行的有效元电路的电流判断工作参考元电路是否导通，是则进入S2，否则进入S13；

S13：获得参考元替补信号，选通与工作参考元电阻相连的另一个选通开关。

通过参考元检测修复步骤可修复选通行的参考元电路，从而使该行的有效元电路的电流恢复正常，解决红外焦平面的行坏线的问题。

在S1和S2之间还包括盲元检测修复步骤：

S14：使所有选通开关处于断开状态，分别根据各列积分电路的同相输入端是否有电流判断对应列的盲元电路是否故障，将同相输入端无电流的积分电路对应列的盲元电路判断为故障盲元电路，并对故障盲元电路执行盲元替换操作，直至所有盲元电路判断完毕，进入步骤S2；

其中，所述对故障盲元电路执行盲元替换操作具体包括以下子步骤：

S141：获得盲元替补信号，选通与工作盲元电阻相连的一个选通开关，根据该列积分电路的同相输入端的电流判断工作盲元电路是否导通，是则所述对故障盲元电路执行盲元替换操作结束，否则进入S142；

S142：获得盲元替补信号，选通与工作盲元电阻相连的另一个选通开关，所述对故障盲元电路执行盲元替换操作结束。

通过盲元检测修复步骤可一次性快速修复所有列的盲元电路，从而使该列的积分电路的输入信号恢复正常，解决红外焦平面的列坏线的问题。

如图2所示，以第5有效元电路为例，所述第5有效元电路包括有效元电阻R₅、第一选通开关、M₁，所述第一选通开关为第一MOS管，所述第一MOS管的漏极作为第一选通开关的第一端，源极作为第一选通开关的第二端，栅极作为第一选通开关的输入端，用于外加第一偏置电压V₂；当第一选通开关根据第一选通信号选通该行有效元电路时，同行的有效元电路外加的第一偏置电压均为V₂，相邻两行有效元电路无外加电压，若R₅故障导致第5有效元电路无法导通，则控制模块将会检测到该列积分电路的反相输入端无电流，进而获得有效元故障信号，M₁根据有效元故障信号获得第二选通信号，将第一选通开关的第二端连接R₂的第一端，若R₂正常则该列积分电路的反相输入端的电流恢复正常，即输出红外图像的像素点得到修复，若R₂也故障则该列积分电路的反相输入端仍旧没有电流，控制模块继续选通与第5有效元电路相连的第二选通开关，如下一行有效元电路的M₂，或上一行有效元电路的第二选通开关，直至该列积分电路的反相输入端的电流恢复正常，从红外图像上来看，该有效元电路对应的像素点得到修复，读出电路的像元阵列的器件良率得到提高。

本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路，包括像元阵列，所述像元阵列包括M行×N列有效元电路，每列还包括一个盲元电路、一个积分电路，每行还包括一个参考元电路，所述M、N为大于1的整数，每行有效元电路的电流由该行的参考元电路镜像提供，每列有效元电路的第一端分别连接该列的积分电路的反相输入端，盲元电路的第一输出端连接该列积分电路的同相输入端，所有积分电路的输出端连接A/D转换器的输入端；

其特征在于，所述读出电路还包括行选通晶体管、控制模块，所述行选通晶体管的输出端连接有效元电路的第一输入端，所述控制模块的第一输出端连接行选通晶体管的输入端，第二输出端连接有效元电路的第二输入端，所述有效元电路的输出端连接控制模块的第一输入端；

所述控制模块用于获得第一选通信号，所述行选通晶体管用于根据第一选通信号逐行选通有效元电路，所述有效元电路用于获得电流信号，所述控制模块还用于根据电流信号判断对应的有效元电路是否存在故障，并在其存在故障时获得第二选通信号，用故障有效元电路相邻行的有效元电路替代故障有效元电路；

所述有效元电路包括：有效元电阻、第一选通开关、第二选通开关；所述有效元电阻的第二端用于接地，第一端连接第一选通开关的第二端；所述第一选通开关的第一端作为所述有效元电路的第一端，第一选通开关的第二端还连接有第二选通开关的第一端；所述第二选通开关的第二端连接同列相邻的有效元电路的第一端；所述第一选通开关的输入端作为有效元电路的第一输入端，第二选通开关的输入端作为有效元电路的第二输入端。

2.如权利要求1所述的读出电路，其特征在于，所述第一选通开关为第一MOS管，所述第一MOS管的漏极作为第一选通开关的第一端，源极作为第一选通开关的第二端，栅极作为第一选通开关的输入端，用于外加第一偏置电压。

3.如权利要求2所述的读出电路，其特征在于，所述第二选通开关为第二MOS管，所述第二MOS管的漏极作为第二选通开关的第一端，源极作为第二选通开关的第二端，栅极作为第二选通开关的输入端，用于外加第二偏置电压。

4.如权利要求1所述的读出电路，其特征在于，所述控制模块的第三输出端分别连接每个参考元电路的输入端，每个所述参考元电路包括一行参考元电阻，其中一个参考元电阻作为工作参考元电阻，所述工作参考元电阻的第一输出端作为参考元电路的第一输出端，用于将电流镜像给该行的有效元电路，且工作参考元电阻的第二输出端连接控制模块的第二输入端；每个参考元电阻与同列或同行相邻的参考元电阻并联并在联接处设置有选通开关；所述选通开关的输入端作为所述参考元电路的输入端，所述选通开关的输入端作为所述参考元电路的输入端。

5.如权利要求1所述的读出电路，其特征在于，所述控制模块的第三输出端分别连接每个盲元电路的输入端，所述盲元电路包括一列盲元电阻，其中一个盲元电阻作为工作盲元电阻，所述工作盲元电阻的第一输出端作为所述盲元电路的第一输出端，第二输出端连接控制模块的第二输入端；每个盲元电阻与同列相邻的盲元电阻并联并在联接处设置有选通开关，所述选通开关的输入端作为所述盲元电路的输入端。

6.如权利要求4或5所述的读出电路，其特征在于，所述选通开关为MOS管，所述MOS管的栅极作为选通开关的输入端。

7.一种非制冷红外焦平面探测器提高良率的方法，所述焦平面探测器包括像元阵列，所述像元阵列包括M行×N列有效元电路，每列还包括一个盲元电路，每行还包括一个参考元电路；每个所述有效元电路包括有效元电阻、第二选通开关；每个有效元电阻的第二端用于接地，第一端连接该列积分电路的反相输入端，且第一端还通过第二选通开关连接同列相邻的有效元电路的第一端；其特征在于，所述提高良率的方法包括如下步骤：

S1：使所有第二选通开关处于断开状态；根据第一选通信号选通第一行有效元电路；

S2：分别根据选通行的各有效元电路的第一端有无电流判断其是否为故障有效元电路，将第一端无电流的有效元电路判断为故障有效元电路，并对故障有效元电路执行有效元修复操作；

S3：获得第一选通信号，根据第一选通信号判断该行有效元电路是否为最后一行有效元电路，是则结束，否则选通下一行有效元电路，并返回S2；

其中，S2中所述对故障有效元电路执行有效元修复操作具体包括如下子步骤：

S21：获得第二选通信号，选通与故障有效元电路相连的一个第二选通开关，判断故障有效元电路的第一端是否有电流，是则所述对故障有效元电路执行有效元修复操作结束，否则进入S22；

S22：获得第二选通信号，选通另一个与故障有效元电路相连的第二选通开关。

8.如权利要求7所述的非制冷红外焦平面探测器提高良率的方法，每个所述参考元电路包括一行参考元电阻，其中一个参考元电阻作为工作参考元电阻，所述工作参考元电阻的输出端作为所述参考元电路的输出端，每个参考元电阻的两端与同列或同行相邻的参考元电阻的两端相连接，其中一端的连接处设置有选通开关；其特征在于，在所述S1和S2之间以及S5和S2之间还包括如下步骤：

S11：使所有选通开关处于断开状态，根据选通行的有效元电路有无电流判断该行的参考元电路是否故障，若有电流则进入S2，否则判断该行的参考元电路故障，进入S12；

S12：获得参考元替补信号，选通与工作参考元电阻相连的一个选通开关，根据选通行的有效元电路的电流判断工作参考元电路是否导通，是则进入S2，否则进入S13；

S13：获得参考元替补信号，选通与工作参考元电阻相连的另一个选通开关。

9.如权利要求7所述的非制冷红外焦平面探测器提高良率的方法，每个所述盲元电路包括一列盲元电阻，其中一个盲元电阻作为工作盲元电阻，所述工作盲元电阻的输出端作为所述盲元电路的输出端；每个盲元电阻的两端与同列相邻的盲元电阻的两端相连接，其中一端的连接处设置有选通开关；其特征在于，在S1和S2之间还包括如下步骤：

S14：使所有选通开关处于断开状态，分别根据各列积分电路的同相输入端有无电流判断对应列的盲元电路是否故障，将同相输入端无电流的积分电路对应列的盲元电路判断为故障盲元电路，并对故障盲元电路执行盲元替换操作，直至所有盲元电路判断完毕，进入步骤S2；

其中，所述对故障盲元电路执行盲元替换操作具体包括以下子步骤：

S141：获得盲元替补信号，选通与工作盲元电阻相连的一个选通开关，根据该列积分电路的同相输入端的电流判断工作盲元电路是否导通，是则所述对故障盲元电路执行盲元替换操作结束，否则进入S142；

S142：获得盲元替补信号，选通与工作盲元电阻相连的另一个选通开关。

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