RU2382992C2 - Способ и система для определения уровня неоднородности для систем на основе болометра - Google Patents
Способ и система для определения уровня неоднородности для систем на основе болометра Download PDFInfo
- Publication number
- RU2382992C2 RU2382992C2 RU2007137162/28A RU2007137162A RU2382992C2 RU 2382992 C2 RU2382992 C2 RU 2382992C2 RU 2007137162/28 A RU2007137162/28 A RU 2007137162/28A RU 2007137162 A RU2007137162 A RU 2007137162A RU 2382992 C2 RU2382992 C2 RU 2382992C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- detectors
- column
- matrix
- heterogeneity
- radiation
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title abstract 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 47
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 12
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 7
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 229910001935 vanadium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/33—Transforming infrared radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/12—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
- G01J5/14—Electrical features thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/20—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming only infrared radiation into image signals
- H04N25/21—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming only infrared radiation into image signals for transforming thermal infrared radiation into image signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
Изобретение относится к измерительной технике. Система содержит: (а) матрицу из i×j пиксельных детекторов типа болометра для отслеживания излучения от объекта; (b) корпус, в котором расположена упомянутая матрица детекторов, причем упомянутый корпус имеет переднее окно, которое обеспечивает открытость чувствительных элементов всех i×j пиксельных детекторов для излучения, поступающего от объекта; (с) по меньшей мере, часть столбца j+1 закрытых детекторов, которые закрыты от объекта однородной эталонной поверхностью; (d) схему считывания для считывания показаний излучения от объекта, отслеживаемого каждым из i×j детекторов матрицы, и для считывания указания о неоднородности, отслеживаемого упомянутыми детекторами в столбце (j+1), (е) регистр для регистрации значений излучения, считанных со всех детекторов столбца (j+1); (f) блок обработки для определения стандартного отклонения всех значений в упомянутом регистре и для сравнения их с заданным пределом Q, причем стандартное отклонение выше Q является указанием о неоднородности выше разрешенного уровня. Технический результат - уменьшение частоты калибровки. 2 н. и 6 з.п. ф-лы, 4 ил.
Description
Область техники
Изобретение относится к неохлаждаемым матрицам видеопреобразователей типа болометра, используемым для отслеживания ИК-излучения. Более конкретно, настоящее изобретение относится к способу и системе для измерения ухудшения однородности отслеживания света различными детекторами матрицы видеопреобразователя и для предоставления указаний, когда необходимо принять особые меры для выполнения повторной калибровки из-за неоднородности.
Уровень техники
Болометры широко используются для измерения светового излучения низкого уровня, обычно в ИК-диапазоне. В самых общих случаях болометры имеют форму матрицы видеопреобразователя (МВП), где матрица содержит некоторое множество отдельных чувствительных элементов (также именуются ниже "пиксели" или "пиксельные детекторы"). Существенным преимуществом датчиков типа болометра является их небольшая масса и пониженное потребление электроэнергии, в частности из-за того, что им не требуется криогенное охлаждение. Кроме того, они обычно намного дешевле, чем охлаждаемые матрицы видеопреобразователей. Однако обычная чувствительность датчиков типа болометра значительно ниже, чем датчиков охлаждаемого типа. Более того, поскольку датчики типа болометра очень чувствительны к изменениям температуры, им необходимы специальные средства для стабилизации температуры подложки матрицы и для компенсации таких изменений температуры для каждого отдельного детектора. Необходимо отметить, что корпус, в котором расположена МВП, вносит приблизительно 80% ИК-потока. Таким образом, контроль температуры корпуса или его излучения имеет крайне важное значение.
Ванадийоксидные (вокс) резисторы широко используются в типичных болометрах, поскольку вокс-резистор имеет относительно большой ТКС (температурный коэффициент сопротивления) и низкий вклад 1/f.
Обычно МВП типа болометра используются для детектирования излучения с разрешением порядка 50 миллиградусов К температуры объекта. Изменения температуры в болометре из-за изменений теплоты в объекте составляют порядка 0,01-0,1 миллиградусов К. Необходимо отметить, что для доведения болометрического детектора до его рабочей точки необходимо нагревать активный резистор (т.е. резистор, открытый объекту) детектора температурой порядка 4°. Указанная необходимость обеспечения чувствительности и разрешения в диапазоне по меньшей мере на 40 порядков меньше нагрева активного резистора болометра обычно вынуждает использовать дифференциальное измерение. Наиболее широко распространенной и простой схемой, которая применяет дифференциальное измерение, является мост Уитстона, и детектор, который содержит мост Уитстона, действительно широко используется в МВП типа болометра.
Однако даже если используется мост Уитстона, который выполняет дифференциальное измерение, неохлаждаемые МВП типа болометра, известные из уровня техники, все еще остаются очень чувствительными к изменениям в температуре окружающей среды, и требуется специальная компенсационная схема для компенсации МВП на пиксельном уровне. Более конкретно, специальная схема требуется для компенсации неоднородности резисторов (т.е. для компенсации различных значений смещения и коэффициента усиления) и для дальнейшей компенсации неравномерного влияния изменения температуры окружающей среды на каждый детектор. Упомянутая последней неравномерность возникает из-за того, что каждый детектор имеет различное относительное местоположение по отношению к стенкам корпуса.
Для того чтобы учесть неоднородность пиксельных детекторов МВП, изготовители или пользователи известных МВП типа болометра обычно сами выполняют предварительные измерения, определяя коэффициент усиления и смещение каждого пиксельного детектора. Такие измерения выполняются при постоянных заданных температурах окружающей среды (корпуса) и подложки. Результаты измерений представляются в двух матрицах (или справочных таблицах) - матрице неоднородности усиления и матрице неоднородности смещения. Более конкретно, путем использования двух упомянутых матриц коэффициент усиления и смещение каждого пиксельного детектора регулируют во время фактического использования МВП. Необходимо отметить, что матрица смещения также периодически обновляется (например, каждые 2-3 минуты), в то время когда однородное изображение подается в МВП. Однородное изображение обычно подается посредством затвора, который закрывается и закрывает МВП от излучения объекта. Или же, в некоторых случаях, известных из уровня техники, оптика перед МВП выводится в состояние "полностью расфокусирована", в результате чего в МВП подается в сущности однородное изображение. Во время указанных периодов закрытого затвора (или периодов состояния "расфокусировки") МВП, конечно, использовать нельзя. В течение этих периодов обновляется матрица смещения. Эту процедуру калибровки обычно называют коррекцией неоднородности (Non-Uniformity Correction). Необходимо отметить, что каждая процедура калибровки, которая происходит, например, каждые 2-3 минуты, занимает несколько секунд.
В настоящей заявке при упоминании "закрытия затвора" понимается, что это означает любое действие, которое обеспечивает подачу однородного изображения в МВП путем закрытия затвора или путем выполнения расфокусировки и т.д.
Как было сказано, необходимость повторной калибровки смещения каждого детектора МВП после закрытия затвора прекращает активное использование МВП на время упомянутой процедуры повторной калибровки. Это потерянное время, которое отведено для повторной калибровки, может быть критическим. Однако то, что в известном уровне техники отсутствуют средства для определения уровня ухудшения неоднородности, а также для предотвращения работы с чрезмерно высоким ухудшением неоднородности, вынуждает пользователей применять относительно высокую и постоянную частоту калибровки (как сказано, например, каждые 2-3 минуты). Во многих случаях это чрезмерно высокая частота, которая используется только для целей предосторожности.
Поэтому одной целью настоящего изобретения является создание устройства, которое позволит значительно уменьшить частоту калибровки (которая происходит после закрытия затвора), этим значительно увеличив время фактической работы МВП.
Еще одной целью настоящего изобретения является создание устройства, которое позволит выполнять калибровку неоднородности только тогда, когда она действительно необходима.
Еще одной целью настоящего изобретения является обеспечение указания уровня неоднородности матрицы во время фактической работы матрицы и в реальном времени.
Еще одной целью настоящего изобретения является создание такого устройства, которое было бы легко изготавливать.
Другие цели и преимущества настоящего изобретения станут очевидны из нижеследующего описания.
Краткое описание изобретения
Настоящее изобретение относится к системе матрицы видеопреобразователя типа болометра, которая имеет средство для определения уровня неоднородности, которое содержит: (а) матрицу из i×j пиксельных детекторов типа болометра для отслеживания излучения объектов; (b) корпус, в котором расположена упомянутая матрица детекторов, причем корпус имеет переднее окно, которое обеспечивает открытость чувствительного элемента каждого из i×j пиксельных детекторов для излучения, поступающего от объектов; (с) по меньшей мере часть столбца j+1 закрытых детекторов, которые закрыты от объектов однородной эталонной поверхностью; (d) схему считывания для считывания показаний излучения объектов, отслеживаемых каждым из i×j детекторов матрицы, и для считывания показания неоднородности, отслеживаемого упомянутыми детекторами в столбце (j+1); (е) регистр для регистрации значений излучения, считанных со всех детекторов в столбце (j+1); (f) блок обработки для определения стандартного отклонения а всех значений в упомянутом регистре и для сравнения их с заданным пределом Q, причем стандартное отклонение выше Q является указанием на неоднородность выше разрешенного уровня.
Предпочтительно, система матрицы видеопреобразователя, кроме того, содержит механизм подачи однородного изображения во все детекторы МВП и схему калибровки для калибровки смещения всех детекторов МВП, причем упомянутые механизм и схема задействуются, когда наблюдается упомянутое указание неоднородности выше упомянутого заданного предела Q.
Предпочтительно, упомянутой однородной эталонной поверхностью является перегородка, выступающая из корпуса.
Предпочтительно, все детекторы матрицы видеопреобразователя, включая детекторы в столбце (j+1), выполняют дифференциальное измерение излучения.
Предпочтительно, каждый из детекторов имеет структуру типа моста Уитстона.
Предпочтительно, каждый из i×j детекторов типа моста Уитстона и каждый из детекторов в столбце (j+1) имеет два следующих плеча: (а) первое плечо, содержащее первый резистор Rm, который термозамкнут на подложку матрицы и является общим для всех декодеров матрицы, и второй резистор Rr, общий для всех декодеров в одном из рядов i, который закрыт по меньшей мере одной упомянутой эталонной поверхностью; (b) второе плечо, содержащее третий резистор Rc, который термозамкнут на упомянутую опорную подложку и является общим для всех декодеров в каждом из столбцов j, и четвертый резистор Rp, который уникален для каждого декодера и открыт для объектов.
Предпочтительно, схема считывания содержит селектор рядов для выбора в каждый момент времени ряда матрицы и усилители столбца j+1 для соответственного приема и усиления отслеживаемого излучения каждым из декодеров в выбранном ряду.
Настоящее изобретение также относится к способу определения уровня неоднородности в матрице видеопреобразователя типа болометра, содержащему этапы: (а) создания матрицы видеопреобразователя из i×j детекторов типа болометра, которые все открыты для объектов; (b) создания по меньшей мере части дополнительного столбца (j+1) детекторов типа болометра, которые в столбце (j+1) все закрыты от объектов однородной поверхностью; (с) установления предела Q, неоднородности, относящегося к неоднородности характеристик декодеров; (d) последовательного порядного считывания значений, отслеживаемых детекторами i×j МВП и отслеживаемых детекторами в столбце (j+1); (е) регистрации в регистре столбца показаний, которые отслеживаются декодером столбца j+1; (f) вычисления стандартного отклонения всех значений в упомянутом регистре столбца и сравнения этого стандартного отклонения с пределом Q; (g) если будет определено, что упомянутое стандартное отклонение ниже Q, продолжения нормальной эксплуатации МВП; и (h) если, однако, будет определено, что стандартное отклонение выше Q, прекращение эксплуатации МВП и выполнения калибровки неоднородности декодеров МВП.
Краткое описание чертежей
На чертежах:
- на Фиг.1 показана общая структура типичной МВП типа болометра, известной из уровня техники;
- на Фиг.2 показана общая структура одного из i×j пиксельных детекторов МВП показанной на Фиг.1;
- на Фиг.3 показана общая механическая структура МВП типа болометра и ее корпус согласно одному варианту осуществления настоящего изобретения;
- на Фиг.4 показана общая структура МВП согласно одному варианту осуществления настоящего изобретения.
Подробное описание лучших вариантов осуществления изобретения
Общая структура типичной МВП 1 типа болометра показана на Фиг.1. МВП 1 имеет i рядов и j столбцов, поэтому содержит i×j пиксельных детекторов типа болометра. Считывание показания МВП осуществляется путем выбора полного ряда пиксельных детекторов с помощью селектора рядов 2. После выбора ряда все детекторы в выбранном ряду отслеживаются одновременно, и показания всех пиксельных детекторов в выбранном ряду подаются на входы усилителей Ai-Аj соответствующего столбца j. Как будет сказано ниже, после выбора ряда эталонный сигнал является общим для всех усилителей столбца.
На Фиг.2 показана общая структура одного из упомянутых i×j пиксельных детекторов МВП, показанной на Фиг.1, согласно одному варианту осуществления, известному из уровня техники. Как показано, все резисторы детектора расположены в форме моста Уитстона, который выполняет дифференциальное измерение. Резистор Rp является "активным" резистором, особым для каждого пиксельного детектора. Все резисторы Rp термоизолированы и открыты для объектов. Резистор Rr является резистором, который является общим для всех пиксельных детекторов каждого ряда и который называется ниже "закрытым" резистором, поскольку он полностью закрыт от объектов. Резистор Rm является одним резистором, общим для всех пиксельных детекторов МВП, причем упомянутый резистор Rm термозамкнут на подложку МВП. На каждый столбец приходится один резистор Rc, который является общим для всех пиксельных детекторов этого столбца и который также термозамкнут на подложку. Поэтому в типовой МВП, показанной на Фиг.1, есть i×j резисторов Rp, j резисторов Rc, i резисторов Rr и один резистор Rm. Все резисторы предпочтительно ванадийоксидного типа и должны предпочтительно иметь максимально идентичные свойства, более конкретно максимально идентичное сопротивление, один и тот же тепловой коэффициент сопротивления (ТКС) и одни и те же тепловую емкость и тепловое сопротивление. Необходимо отметить, что один или несколько резисторов Rp, Rc, Rr и Rm могут быть выполнены из нескольких резисторов, соединенных параллельно. После выбора пикселя дифференциальное показание передается в соответствующий усилитель Ai-Aj столбца
Необходимо также отметить, что хотя все активные резисторы Rp облучаются постоянно, показание выводится из одного ряда за один раз с использованием одного усилителя на столбец. "Закрытый" резистор Rr используется для компенсации динамических характеристик активного резистора Rp. Поэтому он расположен в термоизолированной ячейке, которая закрыта от излучения объекта. Упомянутый резистор Rr подсоединяется электрически только во время считывания конкретного ряда. Другие резисторы Rc и Rm подсоединяются во время считывания каждого ряда. Эти резисторы термозамкнуты на подложку для того, чтобы предотвратить их повреждение из-за чрезмерного "нагрева. Таким образом, когда активен каждый конкретный мост, образуются в сущности два почти идентичный плеча тока, в которых токи I1 и I2 вызывают дифференциальное напряжение Vo, которое является функцией излучения объекта, подаваемого на резистор Rp.
На Фиг.3 показана структура типичной МВП 1. Для краткости описания МВП была уменьшена до размера 2×2 пиксельных детектора. Сигналы выбора ряда, генерируемые селектором 2 ряда (Фиг.1), позволяют выбирать ряды в последовательном порядке. После выбора ряда напряжение на резисторе Rm, который является одним резистором, общим для всех пиксельных детекторов МВП, одновременно подается на первый из двух входов усилителя каждого столбца в качестве эталонного сигнала. Напряжение на каждом соответствующем резисторе Rp в выбранном ряду подается на второй вход соответствующего усилителя. Можно легко понять, что структура является структурой моста Уитстона и поэтому измерение излучения в каждом детекторе дифференциальное. Различные резисторы Rc и Rr дополняют мосты.
Как сказано, для того чтобы учесть неоднородность различных пиксельных детекторов МВП, изготовители или пользователи известных МВП типа болометра обычно сами выполняют предварительные измерения для определения кривой коэффициента усиления и смещения каждого пиксельного детектора. Измерения выполняются с поддержанием температуры окружающей среды (корпуса) и температуры подложки постоянными на некотором заданном уровне. Результаты измерений представляются в двух матрицах (или справочных таблицах) - матрице неоднородности коэффициента усиления и матрице неоднородности смещения. Более конкретно, во время фактического использования МВП каждый пиксельный детектор МВП регулируется с использованием данных двух упомянутых матриц. Необходимо отметить, что матрица смещения обновляется периодически (например, через каждые 2-3 минуты) в те моменты времени, когда затвор закрыт, и закрывает МВП от излучения объекта. Конечно, МВП нельзя использовать в то время, когда затвор закрыт и выполняется обновление. Эту процедура коррекции обычно называют коррекцией неоднородности.
Как сказано выше, согласно уровню техники периодически закрывают затвор или подают в МВП однородное изображение для обновления матрицы смещения. Обновление упомянутой матрицы нарушает фактическую работу МВП, поскольку обновление упомянутой матрицы смещения не может быть выполнено во время фактического использования МВП. Как будет сказано ниже, настоящее изобретение предлагает структуру, которая позволяет определять, когда обновление матрицы смещения действительно необходимо, поэтому закрытие затвора будет осуществляться только тогда, когда это требуется. Более конкретно, как будет сказано ниже, во время фактического использования МВП настоящее изобретение определяет уровень неоднородности детекторов матрицы и только тогда, когда этот уровень выше заданного значения неоднородности, выполняется процедура калибровки, включающая закрытие затвора.
На Фиг.4 показана общая структура МВП согласно настоящему изобретению. Как показано, МВП настоящего изобретения содержит дополнительный столбец датчиков, указанный как столбец j+1. Каждый пиксельный детектор в упомянутом дополнительном столбце имеет в сущности такую же структуру, как и другие детекторы МВП. Однако резистор Rp(j+1) во всех детекторах столбца (j+1) закрыт от объектов эталонной однородной поверхностью. Термин "однородный" используется в настоящем документе для обозначения состояния, в котором поверхность имеет одинаковые температуру и коэффициент излучения (т.е. такое же излучение) на всей поверхности. Поэтому все детекторы столбца (j+1) всегда "видят" только однородную поверхность и полностью закрыты от объектов. Другими словами, все эти "закрытые" детекторы столбца (j+1) видят однородное изображение, в сущности такое же однородное изображение, которое все детекторы МВП видят при закрытии затвора в известном уровне техники. Показание каждого детектора в столбце (j+1) считывается одновременно с данными других детекторов 1-j в выбранном ряду. Отдельные показания из полного столбца j+1 затем накапливаются в регистре 16, имеющем до i ячеек. После заполнения регистра стандартное отклонение а всех значений в регистре вычисляется и сравнивается с заданным пределом Q отклонения. Стандартное отклонение выше этого предела считается указанием неоднородности, требующим калибровки смещения.
Необходимо отметить, что закрытые декодеры столбца (j+1) калибруются по их коэффициенту усиления и смещению в таком же порядке, как и все остальные i×j детекторы объектов в матрице. Более конкретно, они калибруются в любой момент времени, когда закрыт затвор. Конечно, считывание всех детекторов в столбце (j+1) занимает период полного кадра. Как сказано, в конце считывания каждого кадра показания всех детекторов столбца (j+1) усредняются, давая среднее значение m. Кроме того, вычисляется стандартное отклонение показаний детекторов. Если определено, что стандартное отклонение превышает некоторое заданное предельное значение, делается вывод, что необходимо выполнить процедуру коррекции неоднородности. Поэтому, согласно настоящему изобретению, только когда стандартное отклонение показаний столбца j+1 превышает упомянутое заданное значение Q, выполняется калибровка, включающая закрытие затвора (или подачи однородного изображения).
Более конкретно, при каждом кадре проверяется следующее выражение:
где di - отклонение конкретного показания детектора i (столбца j+1) от среднего значения m показаний всех детекторов столбца (j+1);
Q - заданное предельное значение.
Если выполнено условие выражения (1), осуществляется процедура калибровки.
Необходимо отметить, что согласно настоящему изобретению эталонная поверхность предпочтительно выступает из корпуса и закрывает все резисторы Rp(j+1). Также необходимо отметить, что может использоваться больше одной эталонной поверхности, если температура и коэффициент излучения таких поверхностей одинаковы.
На Фиг.3 показана общая механическая структура МВП типа болометра и ее корпуса согласно одному варианту осуществления настоящего изобретения, в котором эталонной поверхностью является перегородка 14, которая выступает из корпуса. Наружные стенки 12 корпуса выполнены из теплопроводящего материала и служат в качестве теплоотвода для подложки и для термозамкнутых резисторов Rm и Rc (не показаны на Фиг.3). Подложка МВП обозначена числом 13 и содержит по меньшей мере множество (i×j) активных пиксельных резисторов Rp и множество "закрытых" резисторов Rr. Прозрачное окно 15 предусмотрено над МВП для того, чтобы позволить излучению от объекта падать на активные резисторы Rp. Некоторое количество i закрытых резисторов Rr распределено рядом с активными резисторами Rp и закрыто от объекта посредством перегородок 14, которые термически соединены со стенками 12 корпуса. Как показано, резисторы Rp(j+1) также закрыты той же перегородкой 14.
Как было сказано, настоящее изобретение обеспечивает предоставление указания относительно того, когда необходима калибровка смещения (с закрытием затвора). Поэтому, хотя в известном уровне техники калибровка осуществляется произвольно через каждый заданный период времени, согласно настоящему изобретению калибровка, включая указание неоднородности, осуществляется только тогда, когда она требуется. Поэтому настоящее изобретение поможет устранить выполнение ненужных калибровок и очевидно может продлевать интервал времени между калибровками.
Хотя в качестве иллюстрации были описаны некоторые варианты осуществления настоящего изобретения, очевидно, что изобретение может быть осуществлено на практике с многими модификациями, изменения и переделками, а также с использованием многочисленных эквивалентов или альтернативных решений, которые будут понятны специалистам в данной области техники, без отхода от смысла изобретения или выхода за пределы объема формулы изобретения.
Claims (8)
1. Система матрицы видеопреобразователя типа болометра, имеющая средство для определения уровня неоднородности, которая содержит:
a) матрицу из i×j пиксельных детекторов типа болометра для отслеживания излучения от объекта;
b) корпус, в котором расположена упомянутая матрица детекторов, причем упомянутый корпус имеет переднее окно, которое обеспечивает открытость чувствительных элементов всех i×j пиксельных детекторов для излучения, поступающего от объекта;
c) по меньшей мере, часть столбца j+1 закрытых детекторов, которые закрыты от объекта однородной эталонной поверхностью;
d) схему считывания для считывания показаний излучения от объекта, отслеживаемого каждым из i×j детекторов матрицы, и для считывания указания о неоднородности, отслеживаемого упомянутыми детекторами в столбце (j+1); и
e) регистр для регистрации значений излучения, считанных со всех детекторов столбца (j+1); и
f) блок обработки для определения стандартного отклонения α всех значений в упомянутом регистре и для сравнения их с заданным пределом Q, причем стандартное отклонение выше Q является указанием о неоднородности выше разрешенного уровня.
a) матрицу из i×j пиксельных детекторов типа болометра для отслеживания излучения от объекта;
b) корпус, в котором расположена упомянутая матрица детекторов, причем упомянутый корпус имеет переднее окно, которое обеспечивает открытость чувствительных элементов всех i×j пиксельных детекторов для излучения, поступающего от объекта;
c) по меньшей мере, часть столбца j+1 закрытых детекторов, которые закрыты от объекта однородной эталонной поверхностью;
d) схему считывания для считывания показаний излучения от объекта, отслеживаемого каждым из i×j детекторов матрицы, и для считывания указания о неоднородности, отслеживаемого упомянутыми детекторами в столбце (j+1); и
e) регистр для регистрации значений излучения, считанных со всех детекторов столбца (j+1); и
f) блок обработки для определения стандартного отклонения α всех значений в упомянутом регистре и для сравнения их с заданным пределом Q, причем стандартное отклонение выше Q является указанием о неоднородности выше разрешенного уровня.
2. Система матрицы видеопреобразователя по п.1, кроме того, содержащая механизм для подачи однородного изображения во все детекторы матрицы видеопреобразователя (МВП) и калибровочную схему для калибровки смещения всех детекторов МВП, причем упомянутые механизм и схема активируются, когда наблюдается указание о неоднородности выше упомянутого заданного предела Q.
3. Система матрицы видеопреобразователя по п.1, отличающаяся тем, что упомянутой однородной эталонной поверхностью является перегородка, выступающая из корпуса.
4. Система матрицы видеопреобразователя по п.1, отличающаяся тем, что все детекторы матрицы видеопреобразователя, включая детекторы в столбце (j+1), выполняют дифференциальное измерение излучения.
5. Система матрицы видеопреобразователя по п.4, отличающаяся тем, что каждый из детекторов имеет структуру типа моста Уитстона.
6. Система матрицы видеопреобразователя по п.5, отличающаяся тем, что каждый из i×j детекторов типа моста Уитстона и каждый из детекторов столбца (j+1) имеет два следующих плеча:
a) первое плечо, содержащее первый резистор Rm, который термозамкнут на подложку матрицы и является общим для всех детекторов матрицы, и второй резистор Rr, общий для всех детекторов в одном из рядов i, который закрыт, по меньшей мере, одной упомянутой эталонной поверхностью; и
b) второе плечо, содержащее третий резистор Rc, который термозамкнут на упомянутую опорную подложку и является общим для всех детекторов в каждом из столбцов j, и четвертый резистор Rp, который уникален для каждого детектора и открыт для объектов.
a) первое плечо, содержащее первый резистор Rm, который термозамкнут на подложку матрицы и является общим для всех детекторов матрицы, и второй резистор Rr, общий для всех детекторов в одном из рядов i, который закрыт, по меньшей мере, одной упомянутой эталонной поверхностью; и
b) второе плечо, содержащее третий резистор Rc, который термозамкнут на упомянутую опорную подложку и является общим для всех детекторов в каждом из столбцов j, и четвертый резистор Rp, который уникален для каждого детектора и открыт для объектов.
7. Система матрицы видеопреобразователя по п.1, отличающаяся тем, что схема считывания содержит селектор ряда для выбора в каждый отдельный момент времени ряда матрицы и усилители j+1 столбцов для соответствующего приема и усиления отслеженного излучения каждым из детекторов в выбранном ряду.
8. Способ определения уровня неоднородности для матрицы видеопреобразователя типа болометра, содержащий этапы:
a) получения матрицы видеопреобразователя из ixj детекторов типа болометра, которые все открыты для объектов;
b) получения, по меньшей мере, части дополнительного столбца (j+1) детекторов типа болометра, причем все упомянутые детекторы столбца (j+1) закрыты от объектов посредством однородной поверхности;
c) определения предела Q неоднородности, относящегося к неоднородности характеристик детекторов;
d) последовательного порядного считывания значений, полученных i×j детекторами МВП и полученных детекторами столбца (j+1);
e) регистрации в регистре столбца показаний, которые получены детектором столбца j+1;
f) вычисления стандартного отклонения всех значений в упомянутом регистре столбца и сравнения этого стандартного отклонения с предельным значением Q;
g) если определено, что упомянутое стандартное отклонение ниже Q, продолжения нормальной эксплуатации МВП; и
h) если, однако, определено, что стандартное отклонение выше Q, прекращения эксплуатации МВП и выполнения калибровки детекторов МВП по неоднородности.
a) получения матрицы видеопреобразователя из ixj детекторов типа болометра, которые все открыты для объектов;
b) получения, по меньшей мере, части дополнительного столбца (j+1) детекторов типа болометра, причем все упомянутые детекторы столбца (j+1) закрыты от объектов посредством однородной поверхности;
c) определения предела Q неоднородности, относящегося к неоднородности характеристик детекторов;
d) последовательного порядного считывания значений, полученных i×j детекторами МВП и полученных детекторами столбца (j+1);
e) регистрации в регистре столбца показаний, которые получены детектором столбца j+1;
f) вычисления стандартного отклонения всех значений в упомянутом регистре столбца и сравнения этого стандартного отклонения с предельным значением Q;
g) если определено, что упомянутое стандартное отклонение ниже Q, продолжения нормальной эксплуатации МВП; и
h) если, однако, определено, что стандартное отклонение выше Q, прекращения эксплуатации МВП и выполнения калибровки детекторов МВП по неоднородности.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IL167637A IL167637A (en) | 2005-03-24 | 2005-03-24 | Method and system for determining the rate of non uniformity of bolometer based systems |
IL167637 | 2005-03-24 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2007137162A RU2007137162A (ru) | 2009-04-20 |
RU2382992C2 true RU2382992C2 (ru) | 2010-02-27 |
Family
ID=36130108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2007137162/28A RU2382992C2 (ru) | 2005-03-24 | 2006-01-12 | Способ и система для определения уровня неоднородности для систем на основе болометра |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7807969B2 (ru) |
EP (1) | EP1872103B1 (ru) |
KR (1) | KR101201663B1 (ru) |
AT (1) | ATE464545T1 (ru) |
AU (1) | AU2006225967B2 (ru) |
CA (1) | CA2602191A1 (ru) |
DE (1) | DE602006013610D1 (ru) |
ES (1) | ES2343134T3 (ru) |
IL (1) | IL167637A (ru) |
RU (1) | RU2382992C2 (ru) |
WO (1) | WO2006100663A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2574524C1 (ru) * | 2014-12-15 | 2016-02-10 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный научно-исследовательский институт химии и механики" (ФГУП "ЦНИИХМ") | Быстродействующий широкодиапазонный инфракрасный микроболометрический детектор |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2915572B1 (fr) | 2007-04-26 | 2009-07-17 | Sagem Defense Securite | Procede de maintenance d'une matrice de detecteurs du type bolometre pour la detection et la mesure de l'energie rayonnante. |
FR2951895B1 (fr) | 2009-10-22 | 2012-07-13 | Ulis | Procede de correction des images delivrees par un detecteur non regule en temperature, et detecteur mettant en oeuvre un tel procede |
MD340Z (ru) * | 2010-04-23 | 2011-09-30 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий | Болометр |
US10079982B2 (en) * | 2011-06-10 | 2018-09-18 | Flir Systems, Inc. | Determination of an absolute radiometric value using blocked infrared sensors |
CN103907342B (zh) * | 2011-10-07 | 2018-10-23 | 菲力尔系统公司 | 利用阻隔红外传感器确定绝对辐射值的方法和装置 |
US20150226613A1 (en) * | 2014-02-07 | 2015-08-13 | Raytheon Company | Imaging device with shutterless non-uniformity correction |
WO2016185698A1 (ja) * | 2015-05-21 | 2016-11-24 | 富士フイルム株式会社 | 赤外線撮像装置 |
CN108519161B (zh) * | 2018-04-10 | 2019-11-26 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种红外焦平面非均匀性校正方法 |
FR3082346B1 (fr) * | 2018-06-08 | 2020-10-23 | Ulis | Dispositif et procede de compensation de chaleur parasite dans une camera infrarouge |
FR3088512B1 (fr) * | 2018-11-09 | 2020-10-30 | Schneider Electric Ind Sas | Procede de traitement d'une image |
ES2773726B2 (es) * | 2019-01-14 | 2021-05-18 | Univ Santiago Compostela | Sensor bolométrico resistivo |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5600143A (en) * | 1994-12-02 | 1997-02-04 | Litton Systems, Inc. | Sensor including an array of sensor elements and circuitry for individually adapting the sensor elements |
US6515285B1 (en) * | 1995-10-24 | 2003-02-04 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Method and apparatus for compensating a radiation sensor for ambient temperature variations |
US6141048A (en) * | 1996-08-19 | 2000-10-31 | Eastman Kodak Company | Compact image capture device |
US6410916B1 (en) * | 1999-08-23 | 2002-06-25 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration, Inc. | Room temperature IR camera |
US6583416B1 (en) * | 1999-11-15 | 2003-06-24 | Sarnoff Corporation | Uncooled IR detector array having improved temperature stability and reduced fixed pattern noise |
EP1117250A2 (en) * | 2000-01-11 | 2001-07-18 | Agilent Technologies Inc. (a Delaware Corporation) | Active pixel sensor with improved reference signal |
US7435961B2 (en) * | 2006-03-17 | 2008-10-14 | Lucent Technologies Inc. | Imaging sensor |
FR2918449B1 (fr) * | 2007-07-02 | 2010-05-21 | Ulis | Dispositif de detection de rayonnement infrarouge a detecteurs bolometriques |
-
2005
- 2005-03-24 IL IL167637A patent/IL167637A/en active IP Right Grant
-
2006
- 2006-01-12 CA CA002602191A patent/CA2602191A1/en not_active Abandoned
- 2006-01-12 EP EP06700672A patent/EP1872103B1/en active Active
- 2006-01-12 KR KR1020077024271A patent/KR101201663B1/ko active IP Right Grant
- 2006-01-12 ES ES06700672T patent/ES2343134T3/es active Active
- 2006-01-12 RU RU2007137162/28A patent/RU2382992C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2006-01-12 AT AT06700672T patent/ATE464545T1/de not_active IP Right Cessation
- 2006-01-12 AU AU2006225967A patent/AU2006225967B2/en not_active Ceased
- 2006-01-12 WO PCT/IL2006/000048 patent/WO2006100663A1/en active Application Filing
- 2006-01-12 DE DE602006013610T patent/DE602006013610D1/de active Active
- 2006-01-12 US US11/886,681 patent/US7807969B2/en active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2574524C1 (ru) * | 2014-12-15 | 2016-02-10 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный научно-исследовательский институт химии и механики" (ФГУП "ЦНИИХМ") | Быстродействующий широкодиапазонный инфракрасный микроболометрический детектор |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2006225967B2 (en) | 2011-09-22 |
ATE464545T1 (de) | 2010-04-15 |
WO2006100663A1 (en) | 2006-09-28 |
ES2343134T3 (es) | 2010-07-23 |
CA2602191A1 (en) | 2006-09-28 |
AU2006225967A1 (en) | 2006-09-28 |
US7807969B2 (en) | 2010-10-05 |
IL167637A (en) | 2009-09-22 |
RU2007137162A (ru) | 2009-04-20 |
KR20070114226A (ko) | 2007-11-29 |
EP1872103B1 (en) | 2010-04-14 |
EP1872103A1 (en) | 2008-01-02 |
DE602006013610D1 (de) | 2010-05-27 |
US20090194696A1 (en) | 2009-08-06 |
KR101201663B1 (ko) | 2012-11-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2382992C2 (ru) | Способ и система для определения уровня неоднородности для систем на основе болометра | |
RU2399891C2 (ru) | Способ и система измерения и компенсации измерений температуры корпуса системы на основе болометра | |
JP5845301B2 (ja) | 抵抗型イメージングボロメータを具備した赤外線放射検出用デバイス及びそのようなボロメータのアレイを具備したシステム | |
US6465785B1 (en) | Apparatus and method for compensating for pixel non-uniformity in a bolometer | |
JP5795034B2 (ja) | 赤外線センサのビデオ信号を補正するための方法および撮像システム | |
US7030378B2 (en) | Real-time radiation sensor calibration | |
US8748808B2 (en) | Detection and correction of a loss of calibration of microbolometer thermal imaging radiometers | |
JP2008185465A (ja) | 赤外線センサの温度補償方法および装置 | |
KR101158259B1 (ko) | 적외선 센서의 신호 검출 회로 및 그 보정방법 | |
KR101732346B1 (ko) | 다중 기준 상관 이중 표본화 감지 방법 및 이를 이용한 마이크로 볼로미터 | |
EP2387704B1 (en) | System and method for athermal operation of a focal plane array | |
JPH10122956A (ja) | 赤外線カメラ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20130113 |