WO2017135543A1 - Laser processing method using inclination angle of laser beam - Google Patents

Laser processing method using inclination angle of laser beam Download PDF

Info

Publication number
WO2017135543A1
WO2017135543A1 PCT/KR2016/010233 KR2016010233W WO2017135543A1 WO 2017135543 A1 WO2017135543 A1 WO 2017135543A1 KR 2016010233 W KR2016010233 W KR 2016010233W WO 2017135543 A1 WO2017135543 A1 WO 2017135543A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
focusing lens
laser beam
laser
trench
edge portion
Prior art date
Application number
PCT/KR2016/010233
Other languages
French (fr)
Korean (ko)
Inventor
김병철
이정용
장의순
공태원
Original Assignee
(주)이오테크닉스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)이오테크닉스 filed Critical (주)이오테크닉스
Publication of WO2017135543A1 publication Critical patent/WO2017135543A1/en

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/064Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/08Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/38Removing material by boring or cutting

Definitions

  • the present invention relates to a laser processing method using the inclination angle of the laser beam, and more particularly, to a laser processing method for processing the object by using the inclination angle of the laser beam passing through the focusing lens.
  • the laser processing apparatus irradiates a laser beam emitted from a laser light source to an object by using an optical system, and marking, exposure, etching, and punching (processing) of the object by the irradiation of the laser beam. Machining operations such as punching, scribing, dicing and the like are performed.
  • a telecentric lens is mainly used to make the cutting plane vertical.
  • the cutting is made vertically, and since the laser beam is vertically incident, damage to the lower material may occur when only the upper member is to be processed in the laminated member.
  • the intensity of the laser beam is usually a Gaussian beam
  • an area that is optically out of the depth of field (DOF) is formed. Inclination may occur in the cut surface when machining the object having the thickness present. The inclination of the cut surface may cause problems due to dimensions in a process such as assembly later.
  • One embodiment of the present invention provides a laser processing method capable of removing only the edge portion of the upper member from the object to be formed in a stacked form.
  • an embodiment of the present invention provides a laser processing method capable of processing the cut surface perpendicular to the stage when the trench processing on the object to be processed.
  • a laser processing method including: irradiating a laser beam to an edge portion of an object to be loaded on a stage to remove the edge portion, the laser processing method comprising: passing the laser beam through a focusing lens; And irradiating an edge of the object to be processed with an inclined beam including an outer surface which is inclined with respect to a central axis of the focusing lens among the laser beams passing through the focusing lens. It is processed to be inclined in correspondence with the outer surface of the inclined beam.
  • the lower member in the laminated member can remove only the edge portion of the upper member without damaging it.
  • the trench may be vertically processed with respect to the stage when trenching the workpiece.
  • Figure 1 schematically shows a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIGS. 2A and 2B schematically illustrate a process of processing an object by using a laser beam passing through a telecentric lens in the object in which the glass substrate and the film layer are sequentially stacked.
  • 3A schematically illustrates a first tilt beam and a second tilt beam generated by passing a laser beam through a focusing lens.
  • 3b and 3c schematically show a state in which only the edge portion of the film layer is processed by using an inclined beam in a processing object in which the glass substrate and the film layer are sequentially stacked.
  • FIG. 4A and 4B schematically illustrate a process of processing a workpiece by using a laser beam passing through a telecentric lens in a workpiece having a flexible printed circuit board, a printed circuit board, and a mold layer sequentially stacked. It is shown as.
  • 5A and 5B schematically illustrate a process of processing only an edge portion of a printed circuit board using an inclined beam in a process object in which a flexible printed circuit board, a printed circuit board, and a mold layer are sequentially stacked.
  • FIGS. 6A and 6B schematically illustrate the formation of a trench in a workpiece by using a laser beam passing through a focusing lens.
  • FIG. 7A to 7C schematically illustrate a process of forming a trench in an object by obliquely injecting a laser beam into a focusing lens.
  • a laser processing method including: irradiating a laser beam to an edge portion of an object to be loaded on a stage to remove the edge portion, the laser processing method comprising: passing the laser beam through a focusing lens; And irradiating an edge of the object to be processed with an inclined beam including an outer surface which is inclined with respect to a central axis of the focusing lens among the laser beams passing through the focusing lens. It is processed to be inclined in correspondence with the outer surface of the inclined beam.
  • the focusing lens may include an F-theta lens.
  • the object to be processed may include first and second members sequentially stacked on the stage.
  • the second member may be provided to cover the first member, and the second member may have a size larger than that of the first member.
  • the inclined beam may be irradiated to an edge portion of the second member.
  • the first member may not be exposed to the laser beam passing through the focusing lens.
  • the first and second members may include a glass substrate and a film layer attached to the glass substrate.
  • the first and second members may include a flexible printed circuit board (FPCB) and a printed circuit board provided on the flexible printed circuit board.
  • FPCB flexible printed circuit board
  • the output of the laser beam may be 1W ⁇ 4W.
  • the stage may move in a direction horizontal or perpendicular to the surface of the workpiece.
  • the laser beam is directed from a central axis of the focusing lens in a first direction.
  • first inclined beam including a first vertical plane formed by the laser beam perpendicular to the object to be processed by passing through the focusing lens; Irradiating the first oblique beam onto the object to form a portion of the trench; Inclining the laser beam in a second direction from a central axis of the focusing lens; Forming a second inclined beam including a second vertical surface formed perpendicularly to the object by passing the laser beam through the focusing lens; And completing the trench by irradiating the second oblique beam to the object to be processed.
  • the second direction may be opposite to the first direction.
  • the trench may include a first trench surface corresponding to the first vertical plane of the first sloped beam and a second trench surface corresponding to the second vertical plane of the second sloped beam.
  • the first and second directions may be inclined 5 ° to 10 ° with respect to the central axis of the focusing lens.
  • the focusing lens may include an F-theta lens.
  • the object to be processed may include a substrate and a mold layer stacked on the substrate, and the trench may be formed in the mold layer.
  • the stage may move in a horizontal or vertical direction with respect to the surface of the workpiece.
  • FIG. 1 schematically shows a laser processing apparatus 100 according to an embodiment of the present invention.
  • the laser processing apparatus 100 processes the workpiece W loaded on the stage S using the laser beam L.
  • the laser processing apparatus 100 includes a laser light source 110, a beam delivery system 120, a scanner 130, and a focusing lens 140.
  • the laser light source 110 refers to a means for emitting the laser beam (L), the laser light source 110 is a gas, a liquid, a solid laser light source according to the type of material generating the laser beam (L) Can be classified.
  • the laser light source 110 may emit, for example, a pulsed laser beam, but is not limited thereto, and may emit a continuous wave laser beam according to the type of processing operation.
  • the output of the laser beam (L) emitted by the laser light source 110 may be about 1W ⁇ 4W.
  • the beam delivery system 120 transmits the laser beam L emitted from the laser light source 110 along a predetermined path, and may include, for example, a plurality of mirrors or an optical cable. .
  • the scanner 130 performs a predetermined machining operation on the object to be processed by scanning the laser beam L on the object to be processed.
  • a 2D galvanometer for scanning the laser beam L in the x-axis and y-axis directions parallel to and perpendicular to the surface of the workpiece W may be used.
  • the 2D galvanometer can improve the precision of the laser processing operation by finely controlling the scan point of the laser beam (L).
  • the scanner 130 may position the laser beam L in the processing area and control the linear motion of the laser beam L.
  • the scanner 130 may adjust an incident angle of the laser beam L incident on the focusing lens 140.
  • the stage S may also move in the x-axis and y-axis directions. Not only the scan of the laser beam L by the scanner 130 but also the movement of the stage S may be performed on a wider range of areas.
  • the scanner 130 may perform a machining operation on the workpiece W while the workpiece W is moved by the stage S.
  • a position tracking unit (not shown) may be connected to the scanner 130 and the stage S, and the position tracking unit tracks the position of the workpiece W loaded on the stage S and the scanner 130. Position information of the object (W) can be transmitted to.
  • a focusing lens 140 may be provided between the scanner 130 and the workpiece W.
  • the focusing lens 140 may serve to adjust the focus of the laser beam L so that the laser beam L passing through the scanner 130 may be focused at a desired position of the processing object W.
  • the focusing lens 140 may include an F-theta lens.
  • FIG. 2A and 2B illustrate a process of processing an object W using a laser beam La passing through a telecentric lens in the object W in which a glass substrate and a film layer are sequentially stacked. It is a schematic illustration.
  • the film layer 220 may be attached to the glass substrate 210.
  • the film layer 220 may include a polarizing plate or the like.
  • the film layer 220 may be provided to cover the glass substrate 210, and the film layer 220 may have a larger size than the glass substrate 210. Therefore, the edge portion of the film layer 220 may be exposed to the outer portion of the glass substrate 210 surface, the edge portion of the exposed film layer 220 may need to be cut.
  • the laser beam La passing through the telecentric lens may be incident on the edge portion of the film layer 220 exposed to the outer portion of the surface of the glass substrate 210.
  • the laser beam La is driven by driving the scanner (130 of FIG. 1).
  • the edge portion of the film layer 220 may be cut by moving the laser beam La in the y-axis direction or moving the stage S in the y-axis direction.
  • the laser beam La since the laser beam La is incident perpendicularly to the surface of the film layer 220, the laser beam La may also be incident on the glass substrate 210, thereby causing damage regions (eg, damage) on the glass substrate 210. D) may occur.
  • FIG. 3A schematically illustrates tilted beams L1 and L2 generated by passing the laser beam L through the focusing lens 140.
  • the laser beam L emitted from the scanner 130 of FIG. 1 is incident on the focusing lens 140.
  • the inclined beams L1 and L2 including an outer surface inclined with respect to the central axis A of the focusing lens 140 may be emitted.
  • the inclination angle ⁇ 1 in which the inclination beams L1 and L2 are inclined with respect to the central axis A of the focusing lens 140 may be about 5 ° to 10 °.
  • 3B and 3C illustrate a process in which only the edge portion of the film layer 230 is processed using the inclined beam L1 in the processing target W in which the glass substrate 210 and the film layer 230 are sequentially stacked. It is shown schematically.
  • the inclined beam focused by the focusing lens 140 (FIG. 3A) to cut the edge portion of the film layer 230 exposed to the outer portion of the glass substrate 210 surface One of the oblique beams L1 of L1 and L2 may be irradiated to the edge portion of the film layer 230.
  • the y-axis of the stage S or the movement in the y-axis direction of the inclined beam L1 driven by the scanner 130 (FIG. 1) is driven.
  • the edge portion of the film layer 220 may be cut by moving in the direction.
  • the cut surface of the cut film layer 230 may be inclined to correspond to the inclined outer surface of the inclined beam (L1).
  • the glass substrate 210 may not be exposed to the inclined beam L1. Therefore, when the film layer 230 is cut by the inclined beam L1, the glass substrate 210 may not be damaged.
  • the size of the laser beam due to the inclination angle of the inclination beam L1 As the size increases, damage to the glass substrate 210 may be prevented.
  • the output of the laser beam L may be about 1W to 4W. The laser beam L having an output in this range can cut the edge portion of the film layer 230 and does not damage the glass substrate 210 even when the inclined beam L1 is irradiated onto the glass substrate 210. You may not.
  • the stage S may move in a direction perpendicular to the surface of the object W, that is, the surface of the film layer 230, that is, in the z-axis direction.
  • FIG. 4A and 4B illustrate a laser passing through a telecentric lens in a workpiece W in which a flexible printed circuit board 310, a printed circuit board 320, and a mold layer 330 are sequentially stacked. It schematically shows a state of processing the object to be processed (W) using the beam (La).
  • a printed circuit board 320 and a mold layer 330 may be sequentially provided on the flexible printed circuit board 310. Due to the flexibility of the flexible printed circuit board 310, the edge portion of the printed circuit board 320 may need to be cut. The laser beam La passing through the telecentric lens may be incident on an edge portion of the printed circuit board 320.
  • the laser beam La is moved in the y-axis direction of the laser beam La by driving the scanner (130 of FIG. 1).
  • the edge portion of the printed circuit board 320 may be cut by moving or moving in the y-axis direction of the stage S.
  • the laser beam La since the laser beam La is incident perpendicularly to the surface of the printed circuit board 320, the laser beam La may also be incident on the flexible printed circuit board 310, thereby causing the flexible printed circuit board 310. Damaged areas D may occur on the image.
  • 5A and 5B illustrate a printed circuit board using an inclined beam L1 in a workpiece W in which a flexible printed circuit board 310, a printed circuit board 340, and a mold layer 330 are sequentially stacked. It schematically shows how to process only the edge portion of the 340.
  • L1 may be irradiated to the edge portion of the printed circuit board 340.
  • the inclination beam L1 is moved in the y-axis direction by the driving of the scanner (130 in FIG. 1) or in the y-axis direction of the stage. By moving the edge portion of the printed circuit board 340 may be cut.
  • the cut surface of the cut printed circuit board 340 may be inclined to correspond to the inclined outer surface of the inclined beam (L1).
  • the flexible printed circuit board 310 may be inclined beam ( May not be exposed to L1). Therefore, when the printed circuit board 340 is cut by the inclined beam L1, the flexible printed circuit board 310 may not be damaged.
  • the output of the laser beam L may be about 1W to 4W.
  • the laser beam L having an output in this range can cut an edge portion of the printed circuit board 340, and the flexible printed circuit board even when the inclined beam L1 is irradiated to the flexible printed circuit board 310 310 may not be damaged.
  • the stage may move in a direction perpendicular to the surface of the object W, that is, the surface of the printed circuit board 340, that is, in the z-axis direction.
  • FIGS. 6A and 6B schematically illustrate the formation of a trench in a workpiece by using a laser beam passing through the focusing lens 140.
  • a substrate 410 and a mold layer 420 sequentially stacked on the stage S are provided, and the laser beam L emitted from the scanner 130 of FIG. 1 is focused. Pass through the lens 140.
  • an inclined beam Lb including an outer surface inclined with respect to the central axis A of the focusing lens 140 may be emitted.
  • the stage S moves or moves in the y-axis direction of the inclined beam Lb by driving the scanner 130 (FIG. 1).
  • the trench may be formed in the mold layer 420 by moving in the y-axis direction.
  • the outer surface of the trench formed by the inclined beam Lb may not be perpendicular to the surface of the substrate 410 and may have an inclination angle.
  • the trench may be coated with a conductive material or a conductive coating may be formed through sputtering, and in some cases, the outer surface of the processed trench may be perpendicular to the surface of the substrate 410. There is a need.
  • FIG. 7A to 7C schematically illustrate a process of forming a trench in the workpiece W by inclining the laser beam L into the focusing lens 140.
  • a substrate 410 and a mold layer 430 sequentially stacked on the stage S are provided.
  • the laser beam L is inclined in the first direction from the central axis A of the focusing lens 140 by driving the scanner 130 (see FIG. 1).
  • the first direction may be a positive direction of the x-axis, and the inclination angle ⁇ 2 formed by the obliquely incident laser beam L with the central axis A may be 5 ° to 10 °.
  • a first oblique beam L ′ including a first vertical plane formed perpendicular to the surface of the mold layer 430 may be formed.
  • the first tilted beam L' is driven in the y-axis direction by the driving of the scanner (130 of FIG. 1).
  • the trench may be formed in the mold layer 430 by moving or moving in the y-axis direction of the stage S.
  • the surface processed in the mold layer 430a may be the first trench surface 435.
  • the first trench surface 435 may be formed to correspond to the first vertical surface of the first inclined beam L ', and the first trench surface 435 may be perpendicular to the surface of the substrate 410.
  • the laser beam L is inclined in the second direction from the central axis A of the focusing lens 140 by driving the scanner 130 (see FIG. 1).
  • the second direction may be opposite to the first direction, and the second direction may be a negative direction of the x-axis.
  • the inclination angle ⁇ 2 of the obliquely incident laser beam L and the central axis A may be 5 ° to 10 °.
  • a second oblique beam L ′′ including a second vertical plane formed perpendicular to the surface of the mold layer 430 may be formed.
  • the second oblique beam L ′′ is driven in the y-axis direction by the driving of the scanner 130 (FIG. 1).
  • the trench may be formed in the mold layer 430 by moving or moving in the y-axis direction of the stage S.
  • the surface processed in the mold layer 430b may be the second trench surface 436.
  • the second trench surface 436 may be formed to correspond to the second vertical plane of the second oblique beam L ′′, and the second trench surface 436 may be perpendicular to the surface of the substrate 410.
  • the lower member of the laminated member can be removed without damaging the edge of the upper member.
  • the trench may be vertically processed with respect to the stage when trenching the workpiece.

Abstract

Disclosed is a laser processing method using the inclination angle of a laser beam. The disclosed laser processing method is to remove an edge portion of a workpiece loaded on a stage by irradiating the laser beam to the edge portion. The method comprises the steps of: passing the laser beam through a focusing lens; and irradiating the edge of the workpiece with a tilted beam including an outer surface inclined with respect to the central axis of the focusing lens among the laser beams having passed through the focusing lens. The edge portion of the workpiece is processed to be oblique so as to correspond to the outer surface of the inclined beam.

Description

레이저 빔의 경사각을 이용한 레이저 가공방법Laser processing method using the tilt angle of the laser beam
본 발명은 레이저 빔의 경사각을 이용한 레이저 가공방법에 관한 것으로, 상세하게는 집속 렌즈를 통과한 레이저 빔의 경사각을 이용하여 가공대상물을 가공하는 레이저 가공방법에 관한 것이다.The present invention relates to a laser processing method using the inclination angle of the laser beam, and more particularly, to a laser processing method for processing the object by using the inclination angle of the laser beam passing through the focusing lens.
레이저 가공장치는 레이저 광원으로부터 출사된 레이저 빔을 광학계를 이용하여 가공대상물에 조사하고, 이러한 레이저 빔의 조사에 의해 가공대상물에 대한 마킹(marking), 노광(exposure), 식각(etching), 펀칭(punching), 스크라이빙(scribing), 다이싱(dicing) 등과 같은 가공 작업을 수행한다.The laser processing apparatus irradiates a laser beam emitted from a laser light source to an object by using an optical system, and marking, exposure, etching, and punching (processing) of the object by the irradiation of the laser beam. Machining operations such as punching, scribing, dicing and the like are performed.
가공대상물의 가공 시, 절단면을 수직으로 하기 위하여 텔레센트릭 렌즈(telecentric lens)를 주로 사용한다. 이 경우, 레이저 빔이 가공대상물의 표면에 수직으로 입사되므로 절단은 수직으로 이루어지게 되며, 레이저 빔이 수직으로 입사되므로 적층 부재에서 상부 부재만을 가공하고자 하는 경우 하부 자재에는 손상이 발생할 수 있다. When processing the workpiece, a telecentric lens is mainly used to make the cutting plane vertical. In this case, since the laser beam is vertically incident on the surface of the object to be processed, the cutting is made vertically, and since the laser beam is vertically incident, damage to the lower material may occur when only the upper member is to be processed in the laminated member.
또한, 가공대상물에 트렌치(trench)를 형성하려는 경우, 레이저 빔의 강도(intensity)의 형태는 보통 가우시안(Gaussian) 빔 형태를 가지므로, 광학적으로 피사계심도(DOF; depth of field)를 벗어나는 영역이 존재하는 두께를 갖는 가공대상물을 가공할 시에 절단면에 경사가 발생할 수 있다. 절단면의 경사는 이후 조립 등의 공정에서 치수로 인한 문제 등을 야기할 수 있다.In addition, in the case of forming a trench in a workpiece, since the intensity of the laser beam is usually a Gaussian beam, an area that is optically out of the depth of field (DOF) is formed. Inclination may occur in the cut surface when machining the object having the thickness present. The inclination of the cut surface may cause problems due to dimensions in a process such as assembly later.
본 발명의 일 실시예는 적층형으로 형성된 가공대상물에서 상부 부재의 가장자리 부분만을 제거할 수 있는 레이저 가공방법을 제공한다.One embodiment of the present invention provides a laser processing method capable of removing only the edge portion of the upper member from the object to be formed in a stacked form.
또한, 본 발명의 일 실시예는 가공대상물에 트렌치 가공 시, 절단면을 스테이지에 대해 수직으로 가공할 수 있는 레이저 가공방법을 제공한다.In addition, an embodiment of the present invention provides a laser processing method capable of processing the cut surface perpendicular to the stage when the trench processing on the object to be processed.
본 발명의 일 실시예에 따른 레이저 가공방법은 스테이지에 적재된 가공대상물의 가장자리 부분에 레이저 빔을 조사하여 상기 가장자리 부분을 제거하는 레이저 가공방법에 있어서, 상기 레이저 빔을 집속 렌즈에 통과시키는 단계; 및 상기 집속 렌즈를 통과한 상기 레이저 빔 중 상기 집속 렌즈의 중심축에 대해 경사진 외면을 포함하는 경사빔을 상기 가공대상물의 가장자리에 조사하는 단계;를 포함하고, 상기 가공대상물의 가장자리 부분은 상기 경사빔의 외면에 대응하여 경사지게 가공된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a laser processing method including: irradiating a laser beam to an edge portion of an object to be loaded on a stage to remove the edge portion, the laser processing method comprising: passing the laser beam through a focusing lens; And irradiating an edge of the object to be processed with an inclined beam including an outer surface which is inclined with respect to a central axis of the focusing lens among the laser beams passing through the focusing lens. It is processed to be inclined in correspondence with the outer surface of the inclined beam.
본 발명의 실시예에 따르면, 레이저 빔을 집속 렌즈에 통과시킴으로써 발생하는 경사빔을 이용하여, 적층 부재에서 하부 부재는 손상을 입히지 않고 상부 부재의 가장자리 부분만을 제거할 수 있다.According to the embodiment of the present invention, by using the inclined beam generated by passing the laser beam through the focusing lens, the lower member in the laminated member can remove only the edge portion of the upper member without damaging it.
또한, 집속 렌즈에 입사되는 레이저 빔의 입사 각도를 조절하여, 가공대상물에 트렌치 가공 시, 절단면을 스테이지에 대해 수직으로 가공할 수 있다.In addition, by adjusting the angle of incidence of the laser beam incident on the focusing lens, the trench may be vertically processed with respect to the stage when trenching the workpiece.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 레이저 가공장치를 개략적으로 도시한 것이다.Figure 1 schematically shows a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 2a 및 도 2b는 유리기판 및 필름층이 순차적으로 적층된 가공대상물에서, 텔레센트릭 렌즈(telecentric lens)를 통과한 레이저 빔을 이용하여 가공대상물을 가공하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.2A and 2B schematically illustrate a process of processing an object by using a laser beam passing through a telecentric lens in the object in which the glass substrate and the film layer are sequentially stacked.
도 3a는 집속 렌즈에 레이저 빔을 통과시킴으로써 발생하는 제1 경사빔 및 제2 경사빔을 개략적으로 도시한 것이다.3A schematically illustrates a first tilt beam and a second tilt beam generated by passing a laser beam through a focusing lens.
도 3b 및 도 3c는 유리기판 및 필름층이 순차적으로 적층된 가공대상물에서, 경사빔을 이용하여 필름층의 가장자리 부분만을 가공하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.3b and 3c schematically show a state in which only the edge portion of the film layer is processed by using an inclined beam in a processing object in which the glass substrate and the film layer are sequentially stacked.
도 4a 및 도 4b는 유연한 인쇄회로기판, 인쇄회로기판 및 몰드층이 순차적으로 적층된 가공대상물에서, 텔레센트릭 렌즈(telecentric lens)를 통과한 레이저 빔을 이용하여 가공대상물을 가공하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.4A and 4B schematically illustrate a process of processing a workpiece by using a laser beam passing through a telecentric lens in a workpiece having a flexible printed circuit board, a printed circuit board, and a mold layer sequentially stacked. It is shown as.
도 5a 및 도 5b는 유연한 인쇄회로기판, 인쇄회로기판 및 몰드층이 순차적으로 적층된 가공대상물에서, 경사빔을 이용하여 인쇄회로기판의 가장자리 부분만을 가공하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.5A and 5B schematically illustrate a process of processing only an edge portion of a printed circuit board using an inclined beam in a process object in which a flexible printed circuit board, a printed circuit board, and a mold layer are sequentially stacked.
도 6a 및 도 6b는 집속 렌즈를 통과한 레이저 빔을 이용하여 가공대상물에 트렌치를 형성하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.6A and 6B schematically illustrate the formation of a trench in a workpiece by using a laser beam passing through a focusing lens.
도 7a 내지 도 7c는 집속 렌즈에 레이저 빔을 경사지게 입사시켜 가공대상물에 트렌치를 형성하는 과정을 개략적으로 도시한 것이다.7A to 7C schematically illustrate a process of forming a trench in an object by obliquely injecting a laser beam into a focusing lens.
본 발명의 일 실시예에 따른 레이저 가공방법은 스테이지에 적재된 가공대상물의 가장자리 부분에 레이저 빔을 조사하여 상기 가장자리 부분을 제거하는 레이저 가공방법에 있어서, 상기 레이저 빔을 집속 렌즈에 통과시키는 단계; 및 상기 집속 렌즈를 통과한 상기 레이저 빔 중 상기 집속 렌즈의 중심축에 대해 경사진 외면을 포함하는 경사빔을 상기 가공대상물의 가장자리에 조사하는 단계;를 포함하고, 상기 가공대상물의 가장자리 부분은 상기 경사빔의 외면에 대응하여 경사지게 가공된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a laser processing method including: irradiating a laser beam to an edge portion of an object to be loaded on a stage to remove the edge portion, the laser processing method comprising: passing the laser beam through a focusing lens; And irradiating an edge of the object to be processed with an inclined beam including an outer surface which is inclined with respect to a central axis of the focusing lens among the laser beams passing through the focusing lens. It is processed to be inclined in correspondence with the outer surface of the inclined beam.
상기 집속 렌즈는 F-theta 렌즈를 포함할 수 있다.The focusing lens may include an F-theta lens.
상기 가공대상물은 상기 스테이지에 순차적으로 적층되는 제1 및 제2 부재를 포함할 수 있다.The object to be processed may include first and second members sequentially stacked on the stage.
상기 제2 부재는 상기 제1 부재를 덮도록 마련되며, 상기 제2 부재는 상기 제1 부재 보다 큰 사이즈를 가질 수 있다.The second member may be provided to cover the first member, and the second member may have a size larger than that of the first member.
상기 경사빔은 상기 제2 부재의 가장자리 부분에 조사될 수 있다.The inclined beam may be irradiated to an edge portion of the second member.
상기 제1 부재는 상기 집속 렌즈를 통과한 상기 레이저 빔에는 노출되지 않을 수 있다.The first member may not be exposed to the laser beam passing through the focusing lens.
상기 제1 및 제2 부재는 유리기판 및 상기 유리기판 상에 부착된 필름층을 포함할 수 있다.The first and second members may include a glass substrate and a film layer attached to the glass substrate.
상기 제1 및 제2 부재는 유연한 인쇄회로기판(FPCB; Flexible Printed Circuit Board) 및 상기 유연한 인쇄회로기판 상에 마련된 인쇄회로기판을 포함할 수 있다.The first and second members may include a flexible printed circuit board (FPCB) and a printed circuit board provided on the flexible printed circuit board.
상기 레이저 빔의 출력은 1W ~ 4W일 수 있다.The output of the laser beam may be 1W ~ 4W.
상기 스테이지는 상기 가공대상물 표면에 대해 수평 또는 수직인 방향으로 이동할 수 있다.The stage may move in a direction horizontal or perpendicular to the surface of the workpiece.
본 발명의 일 실시예에 따른 레이저 가공방법은 스테이지에 적재된 가공대상물에 레이저 빔을 조사하여 트렌치(trench)를 형성하는 레이저 가공방법에 있어서, 상기 레이저 빔을 집속 렌즈의 중심축으로부터 제1 방향으로 경사지게 입사시키는 단계; 상기 레이저 빔이 상기 집속 렌즈를 통과함으로써 상기 가공대상물에 대해 수직으로 형성되는 제1 수직면을 포함하는 제1 경사빔을 형성하는 단계; 상기 제1 경사빔을 상기 가공대상물에 조사하여 상기 트렌치의 일부를 형성하는 단계; 상기 레이저 빔을 상기 집속 렌즈의 중심축으로부터 제2 방향으로 경사지게 입사시키는 단계; 상기 레이저 빔이 상기 집속 렌즈를 통과함으로써 상기 가공대상물에 대해 수직으로 형성되는 제2 수직면을 포함하는 제2 경사빔을 형성하는 단계; 및 상기 제2 경사빔을 상기 가공대상물에 조사하여 상기 트렌치를 완성하는 단계;를 포함한다.In a laser processing method according to an embodiment of the present invention, in a laser processing method of forming a trench by irradiating a laser beam to a workpiece loaded on a stage, the laser beam is directed from a central axis of the focusing lens in a first direction. Incident inclinedly; Forming a first inclined beam including a first vertical plane formed by the laser beam perpendicular to the object to be processed by passing through the focusing lens; Irradiating the first oblique beam onto the object to form a portion of the trench; Inclining the laser beam in a second direction from a central axis of the focusing lens; Forming a second inclined beam including a second vertical surface formed perpendicularly to the object by passing the laser beam through the focusing lens; And completing the trench by irradiating the second oblique beam to the object to be processed.
상기 제2 방향은 상기 제1 방향과 반대 방향일 수 있다.The second direction may be opposite to the first direction.
상기 트렌치는 상기 제1 경사빔의 제1 수직면에 대응하는 제1 트렌치면 및 상기 제2 경사빔의 제2 수직면에 대응하는 제2 트렌치면을 포함할 수 있다.The trench may include a first trench surface corresponding to the first vertical plane of the first sloped beam and a second trench surface corresponding to the second vertical plane of the second sloped beam.
상기 제1 및 제2 방향은 상기 집속 렌즈의 중심축에 대해 5°~10 °기울어질 수 있다.The first and second directions may be inclined 5 ° to 10 ° with respect to the central axis of the focusing lens.
상기 집속 렌즈는 F-theta 렌즈를 포함할 수 있다.The focusing lens may include an F-theta lens.
상기 가공대상물은 기판 및 상기 기판에 적층된 몰드층을 포함하고, 상기 트렌치는 상기 몰드층에 형성될 수 있다.The object to be processed may include a substrate and a mold layer stacked on the substrate, and the trench may be formed in the mold layer.
상기 스테이지는 상기 가공대상물의 표면에 대해 수평 또는 수직인 방향으로 이동할 수 있다.The stage may move in a horizontal or vertical direction with respect to the surface of the workpiece.
아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다. DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention. In the drawings, parts irrelevant to the description are omitted in order to clearly describe the present invention, and like reference numerals designate like parts throughout the specification.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.Throughout the specification, when a part is "connected" to another part, this includes not only "directly connected" but also "electrically connected" with another element in between. . In addition, when a part is said to "include" a certain component, which means that it may further include other components, except to exclude other components unless otherwise stated.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 레이저 가공장치(100)를 개략적으로 도시한 것이다.1 schematically shows a laser processing apparatus 100 according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 레이저 가공장치(100)는 스테이지(S)에 적재된 가공대상물(W)을 레이저 빔(L)을 이용하여 가공한다. 레이저 가공장치(100)는 레이저 광원(110), 빔 전달 시스템(120), 스캐너(130) 및 집속 렌즈(140)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the laser processing apparatus 100 processes the workpiece W loaded on the stage S using the laser beam L. FIG. The laser processing apparatus 100 includes a laser light source 110, a beam delivery system 120, a scanner 130, and a focusing lens 140.
레이저 광원(110)은 레이저 빔(L)을 방출하는 수단을 말하는 것으로, 이러한 레이저 광원(110)은 레이저 빔(L)을 발생시키는 물질의 종류에 따라 기체, 액체, 고체 레이저 광원 들으로 다양하게 분류될 수 있다. 또한, 레이저 광원(110)은 예를 들면 펄스형 레이저 빔을 방출할 수 있만, 이에 한정되는 것은 아니고, 가공 작업의 종류에 따라 연속파형 레이저 빔을 방출하는 것도 가능하다. 또한, 레이저 광원(110)에 의해 방출되는 레이저 빔(L)의 출력은 약 1W ~ 4W가 될 수 있다.The laser light source 110 refers to a means for emitting the laser beam (L), the laser light source 110 is a gas, a liquid, a solid laser light source according to the type of material generating the laser beam (L) Can be classified. In addition, the laser light source 110 may emit, for example, a pulsed laser beam, but is not limited thereto, and may emit a continuous wave laser beam according to the type of processing operation. In addition, the output of the laser beam (L) emitted by the laser light source 110 may be about 1W ~ 4W.
빔 전달 시스템(120)은 레이저 광원(110)으로부터 방출된 레이저 빔(L)을 소정의 진행 경로를 따라 전달하기 위한 것으로, 예를 들면 복수의 거울을 포함하거나 또는 광 케이블 등을 포함할 수 있다. The beam delivery system 120 transmits the laser beam L emitted from the laser light source 110 along a predetermined path, and may include, for example, a plurality of mirrors or an optical cable. .
스캐너(130)는 레이저 빔(L)을 가공대상물(W) 상에 스캔함으로써 가공대상물(W)에 소정의 가공 작업을 수행하는 역할을 한다. 예를 들면, 가공대상물(W)의 표면에 나란하고 서로 수직인 x축 및 y축 방향으로 레이저 빔(L)을 스캔하는 2D 갈바노미터(galvanometer)가 사용될 수 있다. 이러한 2D 갈바노미터는 레이저 빔(L)의 스캔지점을 미세하게 제어함으로써 레이저 가공작업의 정밀도를 향상시킬 수 있다. 스캐너(130)는 레이저 빔(L)을 가공 영역에 위치시킬 수 있으며, 레이저 빔(L)의 선 운동을 제어할 수 있다. 또한, 스캐너(130)는 집속 렌즈(140)에 입사되는 레이저 빔(L)의 입사 각도를 조절할 수 있다.The scanner 130 performs a predetermined machining operation on the object to be processed by scanning the laser beam L on the object to be processed. For example, a 2D galvanometer for scanning the laser beam L in the x-axis and y-axis directions parallel to and perpendicular to the surface of the workpiece W may be used. The 2D galvanometer can improve the precision of the laser processing operation by finely controlling the scan point of the laser beam (L). The scanner 130 may position the laser beam L in the processing area and control the linear motion of the laser beam L. FIG. In addition, the scanner 130 may adjust an incident angle of the laser beam L incident on the focusing lens 140.
가공대상물(W)에 소정의 가공 작업을 수행하기 위해, 스테이지(S) 또한 x축 및 y축 방향으로 이동할 수 있다. 스캐너(130)에 의한 레이저 빔(L)의 스캔뿐만 아니라 스테이지(S)의 이동을 통해 더 넓은 범위의 영역에 대해 가공작업을 수행할 수 있다. 또한, 스테이지(S)에 의해 가공대상물(W)이 움직이는 동안에도 스캐너(130)는 가공대상물(W)에 가공작업을 수행할 수 있다. 이 경우, 스캐너(130) 및 스테이지(S)에는 위치 추적 유닛(미도시)이 연결될 수 있으며, 위치 추적 유닛은 스테이지(S)에 적재된 가공대상물(W)의 위치를 추적하여 스캐너(130)에 가공대상물(W)의 위치 정보를 전송할 수 있다.In order to perform a predetermined machining operation on the workpiece W, the stage S may also move in the x-axis and y-axis directions. Not only the scan of the laser beam L by the scanner 130 but also the movement of the stage S may be performed on a wider range of areas. In addition, the scanner 130 may perform a machining operation on the workpiece W while the workpiece W is moved by the stage S. FIG. In this case, a position tracking unit (not shown) may be connected to the scanner 130 and the stage S, and the position tracking unit tracks the position of the workpiece W loaded on the stage S and the scanner 130. Position information of the object (W) can be transmitted to.
스캐너(130)와 가공대상물(W) 사이에는 집속 렌즈(140)가 마련될 수 있다. 이러한 집속 렌즈(140)는 스캐너(130)를 경유한 레이저 빔(L)이 가공대상물(W)의 원하는 위치에 포커싱 될 수 있도록 레이저 빔(L)의 초점을 조절하는 역할을 할 수 있다. 또한, 집속 렌즈(140)는 F-theta 렌즈를 포함할 수 있다.A focusing lens 140 may be provided between the scanner 130 and the workpiece W. The focusing lens 140 may serve to adjust the focus of the laser beam L so that the laser beam L passing through the scanner 130 may be focused at a desired position of the processing object W. In addition, the focusing lens 140 may include an F-theta lens.
도 2a 및 도 2b는 유리기판 및 필름층이 순차적으로 적층된 가공대상물(W)에서, 텔레센트릭 렌즈(telecentric lens)를 통과한 레이저 빔(La)을 이용하여 가공대상물(W)을 가공하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.2A and 2B illustrate a process of processing an object W using a laser beam La passing through a telecentric lens in the object W in which a glass substrate and a film layer are sequentially stacked. It is a schematic illustration.
도 2a를 참조하면, 액정표시장치(LCD; Liquid Crystal Display) 또는 유기발광다이오드(OLED; Organic Light Emitting Diode)와 같은 소자의 경우, 유리기판(210) 상에 필름층(220)이 부착되어 있을 수 있다. 필름층(220)은 편광판 등을 포함할 수 있다. 필름층(220)은 유리기판(210)을 덮도록 마련되며, 필름층(220)은 유리기판(210)보다 큰 사이즈를 가질 수 있다. 따라서, 필름층(220)의 가장자리 부분은 유리기판(210) 면의 바깥부분으로 노출되어 있을 수 있으며, 노출된 필름층(220)의 가장자리 부분은 절단이 필요할 수 있다. 텔레센트릭 렌즈를 통과한 레이저 빔(La)은 유리기판(210) 면의 바깥부분으로 노출된 필름층(220)의 가장자리 부분에 입사될 수 있다.Referring to FIG. 2A, in the case of a device such as a liquid crystal display (LCD) or an organic light emitting diode (OLED), the film layer 220 may be attached to the glass substrate 210. Can be. The film layer 220 may include a polarizing plate or the like. The film layer 220 may be provided to cover the glass substrate 210, and the film layer 220 may have a larger size than the glass substrate 210. Therefore, the edge portion of the film layer 220 may be exposed to the outer portion of the glass substrate 210 surface, the edge portion of the exposed film layer 220 may need to be cut. The laser beam La passing through the telecentric lens may be incident on the edge portion of the film layer 220 exposed to the outer portion of the surface of the glass substrate 210.
도2a 및 2b를 참조하면, 레이저 빔(La)이 유리기판(210) 면의 바깥부분으로 노출된 필름층(220)의 가장자리 부분에 입사된 후, 스캐너(도 1의 130)의 구동에 의한 레이저 빔(La)의 y축 방향으로의 이동 또는 스테이지(S)의 y축 방향으로의 이동을 통해 필름층(220)의 가장자리 부분은 절단될 수 있다. 그러나, 레이저 빔(La)이 필름층(220)의 표면에 수직으로 입사되므로, 유리기판(210)에도 레이저 빔(La)이 입사될 수 있으며, 이로 인해 유리기판(210)상에 손상영역(D)이 발생할 수 있다.2A and 2B, after the laser beam La is incident on the edge portion of the film layer 220 exposed to the outer portion of the glass substrate 210 surface, the laser beam La is driven by driving the scanner (130 of FIG. 1). The edge portion of the film layer 220 may be cut by moving the laser beam La in the y-axis direction or moving the stage S in the y-axis direction. However, since the laser beam La is incident perpendicularly to the surface of the film layer 220, the laser beam La may also be incident on the glass substrate 210, thereby causing damage regions (eg, damage) on the glass substrate 210. D) may occur.
도 3a는 집속 렌즈(140)에 레이저 빔(L)을 통과시킴으로써 발생하는 경사빔(L1, L2)을 개략적으로 도시한 것이다.FIG. 3A schematically illustrates tilted beams L1 and L2 generated by passing the laser beam L through the focusing lens 140.
도 3a를 참조하면, 스캐너(도 1의 130)로부터 출사된 레이저 빔(L)은 집속 렌즈(140)에 입사된다. 레이저 빔(L)이 집속 렌즈(140)를 통과하면, 집속 렌즈(140)의 중심축(A)에 대해 경사진 외면을 포함하는 경사빔(L1, L2)이 출사될 수 있다. 경사빔(L1, L2)이 집속 렌즈(140)의 중심축(A)에 대해 기울어진 경사각(θ1)은 약 5°~10 °가 될 수 있다.Referring to FIG. 3A, the laser beam L emitted from the scanner 130 of FIG. 1 is incident on the focusing lens 140. When the laser beam L passes through the focusing lens 140, the inclined beams L1 and L2 including an outer surface inclined with respect to the central axis A of the focusing lens 140 may be emitted. The inclination angle θ 1 in which the inclination beams L1 and L2 are inclined with respect to the central axis A of the focusing lens 140 may be about 5 ° to 10 °.
도 3b 및 도 3c는 유리기판(210) 및 필름층(230)이 순차적으로 적층된 가공대상물(W)에서, 경사빔(L1)을 이용하여 필름층(230)의 가장자리 부분만을 가공하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.3B and 3C illustrate a process in which only the edge portion of the film layer 230 is processed using the inclined beam L1 in the processing target W in which the glass substrate 210 and the film layer 230 are sequentially stacked. It is shown schematically.
도 3b 및 도 3c를 참조하면, 유리기판(210) 면의 바깥부분으로 노출되어 있는 필름층(230)의 가장자리 부분을 절단하기 위해, 집속 렌즈(도 3a의 140)에 의해 집속된 경사빔(L1, L2)중 하나의 경사빔(L1)은 필름층(230)의 가장자리 부분에 조사될 수 있다. 경사빔(L1)이 필름층(230)의 가장자리 부분에 입사된 후, 스캐너(도 1의 130)의 구동에 의한 경사빔(L1)의 y축 방향으로의 이동 또는 스테이지(S)의 y축 방향으로의 이동을 통해 필름층(220)의 가장자리 부분은 절단될 수 있다. 절단된 필름층(230)의 절단면은 경사빔(L1)의 경사진 외면에 대응하여 경사지게 가공될 수 있다.3B and 3C, the inclined beam focused by the focusing lens 140 (FIG. 3A) to cut the edge portion of the film layer 230 exposed to the outer portion of the glass substrate 210 surface ( One of the oblique beams L1 of L1 and L2 may be irradiated to the edge portion of the film layer 230. After the inclined beam L1 is incident on the edge portion of the film layer 230, the y-axis of the stage S or the movement in the y-axis direction of the inclined beam L1 driven by the scanner 130 (FIG. 1) is driven. The edge portion of the film layer 220 may be cut by moving in the direction. The cut surface of the cut film layer 230 may be inclined to correspond to the inclined outer surface of the inclined beam (L1).
경사빔(L1)은 집속 렌즈(140)의 중심축(A)에 대해 일정 경사각(θ1)만큼 기울어져 있으므로, 유리기판(210)은 경사빔(L1)에 노출되지 않을 수 있다. 따라서, 경사빔(L1)으로 필름층(230)을 절단하는 경우, 유리기판(210)은 손상이 발생하지 않을 수 있다.Since the inclined beam L1 is inclined by a predetermined inclination angle θ 1 with respect to the central axis A of the focusing lens 140, the glass substrate 210 may not be exposed to the inclined beam L1. Therefore, when the film layer 230 is cut by the inclined beam L1, the glass substrate 210 may not be damaged.
한편, 장비의 정밀도가 낮은 경우 필름층(230)의 가장자리부분의 절단 후, 유리기판(210)에 경사빔(L1)이 조사되는 경우에도, 경사빔(L1)의 경사각으로 인해 레이저 빔의 크기가 커져 유리기판(210)의 손상이 방지될 수 있다. 레이저 빔(L)의 출력은 약 1W ~ 4W 가 될 수 있다. 이 범위의 출력을 갖는 레이저 빔(L)은 필름층(230)의 가장자리부분을 절단할 수 있으며, 유리기판(210)에 경사빔(L1)이 조사되는 경우에도 유리기판(210)을 손상시키지 않을 수 있다.On the other hand, when the precision of the equipment is low, even after the inclination beam L1 is irradiated onto the glass substrate 210 after cutting the edge of the film layer 230, the size of the laser beam due to the inclination angle of the inclination beam L1 As the size increases, damage to the glass substrate 210 may be prevented. The output of the laser beam L may be about 1W to 4W. The laser beam L having an output in this range can cut the edge portion of the film layer 230 and does not damage the glass substrate 210 even when the inclined beam L1 is irradiated onto the glass substrate 210. You may not.
또한, 필름층(230)에 경사빔(L1)을 조사하기 위해, 스테이지(S)는 가공대상물(W) 즉, 필름층(230) 표면에 대해 수직인 방향 즉, z축 방향으로 이동할 수 있다.In addition, in order to irradiate the oblique beam L1 to the film layer 230, the stage S may move in a direction perpendicular to the surface of the object W, that is, the surface of the film layer 230, that is, in the z-axis direction. .
도 4a 및 도 4b는 유연한 인쇄회로기판(310), 인쇄회로기판(320) 및 몰드층(330)이 순차적으로 적층된 가공대상물(W)에서, 텔레센트릭 렌즈(telecentric lens)를 통과한 레이저 빔(La)을 이용하여 가공대상물(W)을 가공하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.4A and 4B illustrate a laser passing through a telecentric lens in a workpiece W in which a flexible printed circuit board 310, a printed circuit board 320, and a mold layer 330 are sequentially stacked. It schematically shows a state of processing the object to be processed (W) using the beam (La).
도 4a를 참조하면, 유연한 인쇄회로기판(310) 상에는 인쇄회로기판(320) 및 몰드층(330)이 순차적으로 마련되어 있을 수 있다. 유연한 인쇄회로기판(310)의 유연성으로 인해 인쇄회로기판(320)의 가장자리 부분은 절단이 필요할 수 있다. 텔레센트릭 렌즈를 통과한 레이저 빔(La)은 인쇄회로기판(320)의 가장자리 부분에 입사될 수 있다.Referring to FIG. 4A, a printed circuit board 320 and a mold layer 330 may be sequentially provided on the flexible printed circuit board 310. Due to the flexibility of the flexible printed circuit board 310, the edge portion of the printed circuit board 320 may need to be cut. The laser beam La passing through the telecentric lens may be incident on an edge portion of the printed circuit board 320.
도4a 및 4b를 참조하면, 레이저 빔(La)이 인쇄회로기판(320)의 가장자리 부분에 입사된 후, 스캐너(도 1의 130)의 구동에 의한 레이저 빔(La)의 y축 방향으로의 이동 또는 스테이지(S)의 y축 방향으로의 이동을 통해 인쇄회로기판(320)의 가장자리 부분은 절단될 수 있다. 그러나, 레이저 빔(La)이 인쇄회로기판(320)의 표면에 수직으로 입사되므로, 유연한 인쇄회로기판(310)에도 레이저 빔(La)이 입사될 수 있으며, 이로 인해 유연한 인쇄회로기판(310) 상에 손상영역(D)이 발생할 수 있다.4A and 4B, after the laser beam La is incident on the edge portion of the printed circuit board 320, the laser beam La is moved in the y-axis direction of the laser beam La by driving the scanner (130 of FIG. 1). The edge portion of the printed circuit board 320 may be cut by moving or moving in the y-axis direction of the stage S. FIG. However, since the laser beam La is incident perpendicularly to the surface of the printed circuit board 320, the laser beam La may also be incident on the flexible printed circuit board 310, thereby causing the flexible printed circuit board 310. Damaged areas D may occur on the image.
도 5a 및 도 5b는 유연한 인쇄회로기판(310), 인쇄회로기판(340) 및 몰드층(330)이 순차적으로 적층된 가공대상물(W)에서, 경사빔(L1)을 이용하여 인쇄회로기판(340)의 가장자리 부분만을 가공하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.5A and 5B illustrate a printed circuit board using an inclined beam L1 in a workpiece W in which a flexible printed circuit board 310, a printed circuit board 340, and a mold layer 330 are sequentially stacked. It schematically shows how to process only the edge portion of the 340.
도 5a 및 도 5b를 참조하면, 인쇄회로기판(340)의 가장자리 부분을 절단하기 위해, 집속 렌즈(도 3a의 140)에 의해 집속된 경사빔(도 3a의 L1, L2)중 하나의 경사빔(L1)은 인쇄회로기판(340)의 가장자리 부분에 조사될 수 있다. 경사빔(L1)이 인쇄회로기판(340)의 가장자리 부분에 입사된 후, 스캐너(도 1의 130)의 구동에 의한 경사빔(L1)의 y축 방향으로의 이동 또는 스테이지의 y축 방향으로의 이동을 통해 인쇄회로기판(340)의 가장자리 부분은 절단될 수 있다. 절단된 인쇄회로기판(340)의 절단면은 경사빔(L1)의 경사진 외면에 대응하여 경사지게 가공될 수 있다.5A and 5B, one of the inclined beams (L1 and L2 in FIG. 3A) focused by the focusing lens (140 in FIG. 3A) to cut the edge portion of the printed circuit board 340. L1 may be irradiated to the edge portion of the printed circuit board 340. After the inclined beam L1 is incident on the edge portion of the printed circuit board 340, the inclination beam L1 is moved in the y-axis direction by the driving of the scanner (130 in FIG. 1) or in the y-axis direction of the stage. By moving the edge portion of the printed circuit board 340 may be cut. The cut surface of the cut printed circuit board 340 may be inclined to correspond to the inclined outer surface of the inclined beam (L1).
경사빔(L1)은 집속 렌즈(도 3a의 140)의 중심축(도 3a의 A)에 대해 일정 경사각(도 3a의 θ1)만큼 기울어져 있으므로, 유연한 인쇄회로기판(310)은 경사빔(L1)에 노출되지 않을 수 있다. 따라서, 경사빔(L1)으로 인쇄회로기판(340)을 절단하는 경우, 유연한 인쇄회로기판(310)은 손상이 발생하지 않을 수 있다.Since the inclined beam L1 is inclined by a predetermined inclination angle (θ 1 in FIG. 3A) with respect to the central axis (A in FIG. 3A) of the focusing lens 140 of FIG. 3A, the flexible printed circuit board 310 may be inclined beam ( May not be exposed to L1). Therefore, when the printed circuit board 340 is cut by the inclined beam L1, the flexible printed circuit board 310 may not be damaged.
한편, 장비의 정밀도가 낮은 경우 인쇄회로기판(340)의 가장자리부분의 절단 후, 유연한 인쇄회로기판(310)에 경사빔(L1)이 조사되는 경우에도, 경사빔(L1)의 경사각으로 인해 레이저 빔의 크기가 커져 유연한 인쇄회로기판(310)의 손상이 방지될 수 있다. 레이저 빔(L)의 출력은 약 1W ~ 4W 가 될 수 있다. 이 범위의 출력을 갖는 레이저 빔(L)은 인쇄회로기판(340)의 가장자리부분을 절단할 수 있으며, 유연한 인쇄회로기판(310)에 경사빔(L1)이 조사되는 경우에도 유연한 인쇄회로기판(310)을 손상시키지 않을 수 있다.On the other hand, when the precision of the equipment is low, even after the inclination beam L1 is irradiated to the flexible printed circuit board 310 after cutting the edge of the printed circuit board 340, due to the inclination angle of the inclination beam L1 Damage to the flexible printed circuit board 310 may be prevented by increasing the size of the beam. The output of the laser beam L may be about 1W to 4W. The laser beam L having an output in this range can cut an edge portion of the printed circuit board 340, and the flexible printed circuit board even when the inclined beam L1 is irradiated to the flexible printed circuit board 310 310 may not be damaged.
또한, 인쇄회로기판(340)에 경사빔(L1)을 조사하기 위해, 스테이지는 가공대상물(W) 즉, 인쇄회로기판(340) 표면에 대해 수직인 방향 즉, z축 방향으로 이동할 수 있다.Also, in order to irradiate the inclined beam L1 to the printed circuit board 340, the stage may move in a direction perpendicular to the surface of the object W, that is, the surface of the printed circuit board 340, that is, in the z-axis direction.
도 6a 및 도 6b는 집속 렌즈(140)를 통과한 레이저 빔을 이용하여 가공대상물에 트렌치(trench)를 형성하는 모습을 개략적으로 도시한 것이다.6A and 6B schematically illustrate the formation of a trench in a workpiece by using a laser beam passing through the focusing lens 140.
도 6a 및 도 6b를 참조하면, 스테이지(S)상에 순차적으로 적층된 기판(410) 및 몰드층(420)이 마련되며, 스캐너(도 1의 130)로부터 출사된 레이저 빔(L)을 집속 렌즈(140)에 통과시킨다. 레이저 빔(L)이 집속 렌즈(140)를 통과하면, 집속 렌즈(140)의 중심축(A)에 대해 경사진 외면을 포함하는 경사빔(Lb)이 출사될 수 있다.6A and 6B, a substrate 410 and a mold layer 420 sequentially stacked on the stage S are provided, and the laser beam L emitted from the scanner 130 of FIG. 1 is focused. Pass through the lens 140. When the laser beam L passes through the focusing lens 140, an inclined beam Lb including an outer surface inclined with respect to the central axis A of the focusing lens 140 may be emitted.
경사빔(Lb)을 기판(410) 상에 마련된 몰드층(420)에 조사한 후, 스캐너(도 1의 130)의 구동에 의한 경사빔(Lb)의 y축 방향으로의 이동 또는 스테이지(S)의 y축 방향으로의 이동을 통해 몰드층(420)에 트렌치를 형성할 수 있다. 경사빔(Lb)에 의해 형성된 트렌치의 외면은 기판(410)의 표면에 대해 수직이 아닐 수 있으며 경사각을 가질 수 있다. 몰드층(420)에 트렌치가 형성된 후, 트렌치에는 전도성 물질이 도포되거나 스퍼터링(sputtering)을 통해 전도성 피막이 형성될 수 있으며, 경우에 따라 가공된 트렌치의 외면은 기판(410)의 표면에 대해 수직일 필요성이 있다.After irradiating the inclined beam Lb to the mold layer 420 provided on the substrate 410, the stage S moves or moves in the y-axis direction of the inclined beam Lb by driving the scanner 130 (FIG. 1). The trench may be formed in the mold layer 420 by moving in the y-axis direction. The outer surface of the trench formed by the inclined beam Lb may not be perpendicular to the surface of the substrate 410 and may have an inclination angle. After the trench is formed in the mold layer 420, the trench may be coated with a conductive material or a conductive coating may be formed through sputtering, and in some cases, the outer surface of the processed trench may be perpendicular to the surface of the substrate 410. There is a need.
도 7a 내지 도 7c는 집속 렌즈(140)에 레이저 빔(L)을 경사지게 입사시켜 가공대상물(W)에 트렌치를 형성하는 과정을 개략적으로 도시한 것이다.7A to 7C schematically illustrate a process of forming a trench in the workpiece W by inclining the laser beam L into the focusing lens 140.
도 7a를 참조하면, 먼저 스테이지(S)상에 순차적으로 적층된 기판(410) 및 몰드층(430)이 마련된다. Referring to FIG. 7A, a substrate 410 and a mold layer 430 sequentially stacked on the stage S are provided.
도 7b를 참조하면, 스캐너(도 1의 130)의 구동을 통해 레이저 빔(L)을 집속 렌즈(140)의 중심축(A)으로부터 제1 방향으로 경사지게 입사시킨다. 제1 방향은 x축의 양의 방향이 될 수 있으며, 경사지게 입사된 레이저 빔(L)이 중심축(A)과 이루는 경사각(θ2)은 5°~10 °가 될 수 있다.Referring to FIG. 7B, the laser beam L is inclined in the first direction from the central axis A of the focusing lens 140 by driving the scanner 130 (see FIG. 1). The first direction may be a positive direction of the x-axis, and the inclination angle θ 2 formed by the obliquely incident laser beam L with the central axis A may be 5 ° to 10 °.
레이저 빔(L)이 집속 렌즈(140)를 통과하면, 몰드층(430)의 표면에 대해 수직으로 형성되는 제1 수직면을 포함하는 제1 경사빔(L')이 형성될 수 있다. 제1 경사빔(L')을 기판(410) 상에 마련된 몰드층(430)에 조사한 후, 스캐너(도 1의 130)의 구동에 의한 제1 경사빔(L')의 y축 방향으로의 이동 또는 스테이지(S)의 y축 방향으로의 이동을 통해 몰드층(430)에 트렌치를 형성할 수 있다. 몰드층(430a)에서 가공된 면은 제1 트렌치면(435)이 될 수 있다. 제1 트렌치면(435)은 제1 경사빔(L')의 제1 수직면에 대응하여 형성되고, 제1 트렌치면(435)은 기판(410)의 표면과 수직을 이룰 수 있다.When the laser beam L passes through the focusing lens 140, a first oblique beam L ′ including a first vertical plane formed perpendicular to the surface of the mold layer 430 may be formed. After irradiating the first tilted beam L 'to the mold layer 430 provided on the substrate 410, the first tilted beam L' is driven in the y-axis direction by the driving of the scanner (130 of FIG. 1). The trench may be formed in the mold layer 430 by moving or moving in the y-axis direction of the stage S. FIG. The surface processed in the mold layer 430a may be the first trench surface 435. The first trench surface 435 may be formed to correspond to the first vertical surface of the first inclined beam L ', and the first trench surface 435 may be perpendicular to the surface of the substrate 410.
도 7c를 참조하면, 스캐너(도 1의 130)의 구동을 통해 레이저 빔(L)을 집속 렌즈(140)의 중심축(A)으로부터 제2 방향으로 경사지게 입사시킨다. 제2 방향은 제1 방향과 서로 반대 방향일 수 있으며, 제2 방향은 x축의 음의 방향이 될 수 있다. 또한, 경사지게 입사된 레이저 빔(L)이 중심축(A)과 이루는 경사각(θ2)은 5°~10 °가 될 수 있다.Referring to FIG. 7C, the laser beam L is inclined in the second direction from the central axis A of the focusing lens 140 by driving the scanner 130 (see FIG. 1). The second direction may be opposite to the first direction, and the second direction may be a negative direction of the x-axis. In addition, the inclination angle θ 2 of the obliquely incident laser beam L and the central axis A may be 5 ° to 10 °.
레이저 빔(L)이 집속 렌즈(140)를 통과하면, 몰드층(430)의 표면에 대해 수직으로 형성되는 제2 수직면을 포함하는 제2 경사빔(L”)이 형성될 수 있다. 제2 경사빔(L”)을 기판(410) 상에 마련된 몰드층(430)에 조사한 후, 스캐너(도 1의 130)의 구동에 의한 제2 경사빔(L”)의 y축 방향으로의 이동 또는 스테이지(S)의 y축 방향으로의 이동을 통해 몰드층(430)에 트렌치를 형성할 수 있다. 몰드층(430b)에서 가공된 면은 제2 트렌치면(436)이 될 수 있다. 제2 트렌치면(436)은 제2 경사빔(L”)의 제2 수직면에 대응하여 형성되고, 제2 트렌치면(436)은 기판(410)의 표면과 수직을 이룰 수 있다.When the laser beam L passes through the focusing lens 140, a second oblique beam L ″ including a second vertical plane formed perpendicular to the surface of the mold layer 430 may be formed. After irradiating the second oblique beam L ″ to the mold layer 430 provided on the substrate 410, the second oblique beam L ″ is driven in the y-axis direction by the driving of the scanner 130 (FIG. 1). The trench may be formed in the mold layer 430 by moving or moving in the y-axis direction of the stage S. FIG. The surface processed in the mold layer 430b may be the second trench surface 436. The second trench surface 436 may be formed to correspond to the second vertical plane of the second oblique beam L ″, and the second trench surface 436 may be perpendicular to the surface of the substrate 410.
위 실시예에 따른 레이저 빔의 경사각을 이용한 레이저 가공방법은 레이저 빔을 집속 렌즈에 통과시킴으로써 발생하는 경사빔을 이용하여, 적층 부재에서 하부 부재는 손상을 입히지 않고 상부 부재의 가장자리 부분만을 제거할 수 있다. 또한, 집속 렌즈에 입사되는 레이저 빔의 입사 각도를 조절하여, 가공대상물에 트렌치 가공 시, 절단면을 스테이지에 대해 수직으로 가공할 수 있다. In the laser processing method using the inclination angle of the laser beam according to the above embodiment, by using the inclined beam generated by passing the laser beam through the focusing lens, the lower member of the laminated member can be removed without damaging the edge of the upper member. have. In addition, by adjusting the angle of incidence of the laser beam incident on the focusing lens, the trench may be vertically processed with respect to the stage when trenching the workpiece.
전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.The foregoing description of the present invention is intended for illustration, and it will be understood by those skilled in the art that the present invention may be easily modified in other specific forms without changing the technical spirit or essential features of the present invention. will be. Therefore, it should be understood that the embodiments described above are exemplary in all respects and not restrictive. For example, each component described as a single type may be implemented in a distributed manner, and similarly, components described as distributed may be implemented in a combined form.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The scope of the present invention is shown by the following claims rather than the above description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be construed as being included in the scope of the present invention. do.

Claims (17)

  1. 스테이지에 적재된 가공대상물의 가장자리 부분에 레이저 빔을 조사하여 상기 가장자리 부분을 제거하는 레이저 가공방법에 있어서, In the laser processing method for removing the edge portion by irradiating a laser beam to the edge portion of the object to be loaded on the stage,
    상기 레이저 빔을 집속 렌즈에 통과시키는 단계; 및Passing the laser beam through a focusing lens; And
    상기 집속 렌즈를 통과한 상기 레이저 빔 중 상기 집속 렌즈의 중심축에 대해 경사진 외면을 포함하는 경사빔을 상기 가공대상물의 가장자리에 조사하는 단계;를 포함하고,And irradiating an edge of the object to be processed with an inclined beam including an outer surface inclined with respect to a central axis of the focusing lens among the laser beams passing through the focusing lens.
    상기 가공대상물의 가장자리 부분은 상기 경사빔의 외면에 대응하여 경사지게 가공되는 레이저 가공방법. The edge portion of the object to be processed is laser processing is inclined corresponding to the outer surface of the inclined beam.
  2. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 집속 렌즈는 F-theta 렌즈를 포함하는 레이저 가공방법.The focusing lens is laser processing method comprising an F-theta lens.
  3. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 가공대상물은 상기 스테이지에 순차적으로 적층되는 제1 및 제2 부재를 포함하는 레이저 가공방법.The object to be processed includes a laser processing method including first and second members sequentially stacked on the stage.
  4. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein
    상기 제2 부재는 상기 제1 부재를 덮도록 마련되며, 상기 제2 부재는 상기 제1 부재 보다 큰 사이즈를 가지는 레이저 가공방법.And the second member is provided to cover the first member, and the second member has a larger size than the first member.
  5. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein
    상기 경사빔은 상기 제2 부재의 가장자리 부분에 조사되는 레이저 가공방법.And the inclined beam is irradiated to an edge portion of the second member.
  6. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5,
    상기 제1 부재는 상기 집속 렌즈를 통과한 상기 레이저 빔에는 노출되지 않는 레이저 가공방법.And the first member is not exposed to the laser beam passing through the focusing lens.
  7. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein
    상기 제1 및 제2 부재는 유리기판 및 상기 유리기판 상에 부착된 필름층을 포함하는 레이저 가공방법.And the first and second members comprise a glass substrate and a film layer attached to the glass substrate.
  8. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein
    상기 제1 및 제2 부재는 유연한 인쇄회로기판(FPCB; Flexible Printed Circuit Board) 및 상기 유연한 인쇄회로기판 상에 마련된 인쇄회로기판을 포함하는 레이저 가공방법.The first and second members include a flexible printed circuit board (FPCB) and a printed circuit board provided on the flexible printed circuit board.
  9. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 레이저 빔의 출력은 1W ~ 4W인 레이저 가공방법.Laser processing method of the output of the laser beam is 1W ~ 4W.
  10. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 스테이지는 상기 가공대상물의 표면에 대해 수평 또는 수직인 방향으로 이동하는 레이저 가공방법.And the stage moves in a direction horizontal or perpendicular to the surface of the workpiece.
  11. 스테이지에 적재된 가공대상물에 레이저 빔을 조사하여 트렌치(trench)를 형성하는 레이저 가공방법에 있어서, In the laser processing method of forming a trench by irradiating a laser beam to the object to be loaded on the stage,
    상기 레이저 빔을 집속 렌즈의 중심축으로부터 제1 방향으로 경사지게 입사시키는 단계;Inclining the laser beam in a first direction from a central axis of the focusing lens;
    상기 레이저 빔이 상기 집속 렌즈를 통과함으로써 상기 가공대상물에 대해 수직으로 형성되는 제1 수직면을 포함하는 제1 경사빔을 형성하는 단계; Forming a first inclined beam including a first vertical plane formed by the laser beam perpendicular to the object to be processed by passing through the focusing lens;
    상기 제1 경사빔을 상기 가공대상물에 조사하여 상기 트렌치의 일부를 형성하는 단계;Irradiating the first oblique beam onto the object to form a portion of the trench;
    상기 레이저 빔을 상기 집속 렌즈의 중심축으로부터 제2 방향으로 경사지게 입사시키는 단계;Inclining the laser beam in a second direction from a central axis of the focusing lens;
    상기 레이저 빔이 상기 집속 렌즈를 통과함으로써 상기 가공대상물에 대해 수직으로 형성되는 제2 수직면을 포함하는 제2 경사빔을 형성하는 단계; 및Forming a second inclined beam including a second vertical surface formed perpendicularly to the object by passing the laser beam through the focusing lens; And
    상기 제2 경사빔을 상기 가공대상물에 조사하여 상기 트렌치를 완성하는 단계;를 포함하는 레이저 가공방법.And irradiating the second oblique beam to the object to complete the trench.
  12. 제 11 항에 있어서,The method of claim 11,
    상기 제2 방향은 상기 제1 방향과 반대 방향인 레이저 가공방법.And said second direction is a direction opposite to said first direction.
  13. 제 12 항에 있어서,The method of claim 12,
    상기 트렌치는 상기 제1 경사빔의 제1 수직면에 대응하는 제1 트렌치면 및 상기 제2 경사빔의 제2 수직면에 대응하는 제2 트렌치면을 포함하는 레이저 가공방법.And the trench includes a first trench surface corresponding to a first vertical plane of the first sloped beam and a second trench surface corresponding to a second vertical plane of the second sloped beam.
  14. 제 11 항에 있어서,The method of claim 11,
    상기 제1 및 제2 방향은 상기 집속 렌즈의 중심축에 대해 5°~10 °기울어진 레이저 가공방법.The first and second directions are laser processing method inclined 5 ° ~ 10 ° with respect to the central axis of the focusing lens.
  15. 제 11 항에 있어서,The method of claim 11,
    상기 집속 렌즈는 F-theta 렌즈를 포함하는 레이저 가공방법.The focusing lens is laser processing method comprising an F-theta lens.
  16. 제 11 항에 있어서,The method of claim 11,
    상기 가공대상물은 기판 및 상기 기판에 적층된 몰드층을 포함하고, 상기 트렌치는 상기 몰드층에 형성되는 레이저 가공방법.The object to be processed includes a substrate and a mold layer laminated on the substrate, and the trench is formed in the mold layer.
  17. 제 11 항에 있어서,The method of claim 11,
    상기 스테이지는 상기 가공대상물의 표면에 대해 수평 또는 수직인 방향으로 이동하는 레이저 가공방법.And the stage moves in a direction horizontal or perpendicular to the surface of the workpiece.
PCT/KR2016/010233 2016-02-05 2016-09-12 Laser processing method using inclination angle of laser beam WO2017135543A1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160015001A KR101789185B1 (en) 2016-02-05 2016-02-05 Laser processing method using an angle of inclination of laser beam
KR10-2016-0015001 2016-02-05

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2017135543A1 true WO2017135543A1 (en) 2017-08-10

Family

ID=59500768

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/KR2016/010233 WO2017135543A1 (en) 2016-02-05 2016-09-12 Laser processing method using inclination angle of laser beam

Country Status (3)

Country Link
KR (1) KR101789185B1 (en)
TW (1) TWI636844B (en)
WO (1) WO2017135543A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111673296A (en) * 2020-06-29 2020-09-18 英诺激光科技股份有限公司 Cutting device and cutting method capable of improving assembling precision of lens

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114473247A (en) * 2022-03-18 2022-05-13 广东中科微精光子制造科技有限公司 Laser cutting device and laser cutting method

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070043708A (en) * 2004-08-18 2007-04-25 히다치 비아 메카닉스 가부시키가이샤 Method for laser drilling a multilayer workpiece
KR20120012001A (en) * 2010-07-30 2012-02-09 (주)미래컴퍼니 Device and method for machining multi-layer substrate using laser beams having plural wavelength
WO2012091316A2 (en) * 2010-12-28 2012-07-05 (주)큐엠씨 Laser processing apparatus
KR20130126287A (en) * 2012-05-11 2013-11-20 참엔지니어링(주) Substrate cutting and method
KR20130138575A (en) * 2012-06-11 2013-12-19 한국기술교육대학교 산학협력단 Method for processing material with laser

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6747245B2 (en) * 2002-11-06 2004-06-08 Ultratech Stepper, Inc. Laser scanning apparatus and methods for thermal processing
JP2007175744A (en) * 2005-12-28 2007-07-12 Yamazaki Mazak Corp Apparatus for adjusting axis of optical path in laser machine
JP2012071314A (en) * 2010-09-27 2012-04-12 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Machining method of composite material, and machining device of composite material
WO2014150604A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-25 Electro Scientific Industries, Inc. Coordination of beam angle and workpiece movement for taper control

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070043708A (en) * 2004-08-18 2007-04-25 히다치 비아 메카닉스 가부시키가이샤 Method for laser drilling a multilayer workpiece
KR20120012001A (en) * 2010-07-30 2012-02-09 (주)미래컴퍼니 Device and method for machining multi-layer substrate using laser beams having plural wavelength
WO2012091316A2 (en) * 2010-12-28 2012-07-05 (주)큐엠씨 Laser processing apparatus
KR20130126287A (en) * 2012-05-11 2013-11-20 참엔지니어링(주) Substrate cutting and method
KR20130138575A (en) * 2012-06-11 2013-12-19 한국기술교육대학교 산학협력단 Method for processing material with laser

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111673296A (en) * 2020-06-29 2020-09-18 英诺激光科技股份有限公司 Cutting device and cutting method capable of improving assembling precision of lens
CN111673296B (en) * 2020-06-29 2022-08-12 英诺激光科技股份有限公司 Cutting device and cutting method capable of improving lens assembly precision

Also Published As

Publication number Publication date
KR101789185B1 (en) 2017-10-23
TWI636844B (en) 2018-10-01
KR20170093509A (en) 2017-08-16
TW201728393A (en) 2017-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20110089356A (en) Laser-scribing tool architecture
JP2006289415A (en) Laser beam machining apparatus
WO2017073907A1 (en) Laser processing method and laser processing device, which use multiple focuses
WO2017135543A1 (en) Laser processing method using inclination angle of laser beam
CN114007803B (en) Laser processing device and method, chip transfer device and method
CN103081060B (en) Employ exposure device and the optical component of microlens array
WO2017039169A1 (en) Laser processing device and laser processing method using same
JP2024014997A (en) Processing equipment and processing method for ablation processing
WO2022055062A1 (en) Laser processing system and method
WO2012148117A2 (en) Selective thin film removal apparatus using divided laser beams
WO2017142132A1 (en) Marking position correcting apparatus and method
WO2013065947A1 (en) Laser machining apparatus capable of two-beam machining and method thereof
WO2013058471A1 (en) Apparatus and method for manufacturing fine pattern using interferogram of optical axis direction
US9755190B2 (en) Laser-induced thermal imaging apparatus, method of laser-induced thermal imaging, and manufacturing method of organic light-emitting display apparatus using the method
CN102343483B (en) Laser machining method, machining method of workpiece to be machined and separating method of the workpiece to be machined
JP4801634B2 (en) Laser processing apparatus and laser processing method
WO2017204386A1 (en) Method and device for cutting substrate by using laser tilting emission
WO2016003005A1 (en) Wafer marking method
WO2020022786A1 (en) Specimen inspection device and specimen inspection method
WO2016002980A1 (en) High-speed laser processing optical system and high-speed laser processing method using same
WO2021230634A1 (en) Hole formation device and hole formation method
JP2006259127A (en) Optical device
KR20160076895A (en) Laser processing apparatus and laser processing method using the laser processing apparatus
CN220679690U (en) Preparation system of PCB board counterpoint target
KR102212541B1 (en) Pattern drawing apparatus and pattern drawing method

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16889521

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 16889521

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1