WO2016047744A1

WO2016047744A1 - 反応促進装置及び核酸検査装置

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Publication number: WO2016047744A1
Application number: PCT/JP2015/077073
Authority: WO
Inventors: 岡本　淳; 圭三米田
Original assignee: 東洋紡株式会社
Priority date: 2014-09-26
Filing date: 2015-09-25
Publication date: 2016-03-31
Also published as: JPWO2016047744A1; JP6717195B2

Abstract

　核酸を高速に、かつ安定して増幅するための反応促進装置および核酸検査装置を提供する。核酸検査装置（１００）は、熱サイクルの高温側の温度に調節される高温ヒーター部（１９４Ａ，１９４Ｂ）と、低温側の温度に調節される低温ヒーター部（１９５Ａ，１９５Ｂ）と、反応容器を低温側から高温側へ急速に加熱するための昇温ヒーター部（１９３Ａ，１９３Ｂ）とを有する。これら温調ブロックは、熱サイクルにおける反応液に与える目標温度が設定される。核酸検査装置（１００）は、保持部に保持された反応容器を、回転軸を中心とした回転方向に移動させてこれら温調ブロックと順に対向させることで、これら温調ブロックから一定温度の熱サイクルを与えられる。また反応容器が昇温ヒーター部（１９３Ａ，１９３Ｂ）を通過することで急加熱されるため、核酸増幅を短時間化することができる。

Description

反応促進装置及び核酸検査装置

　本開示は、核酸を高速に増幅するための反応促進装置、および、核酸を増幅して高感度に検出するための核酸検査装置に関するものであり、特に、高速かつ安定して核酸を増幅するための技術に関する。

　近年、遺伝子工学や酵素工学など様々な分野において、遺伝子検査を行うために、遺伝子である少量の核酸を増幅させる技術が開発されている。例えば、遺伝子のある特定の領域を選択的に増幅する技術として、ポリメラーゼ連鎖反応法（ＰＣＲ（polymerase　chain　reaction）法）などが知られている。ＰＣＲを用いると、特定のＤＮＡ（deoxyribonucleic　acid）領域を、短時間で増幅することができる。テンプレートとなるＤＮＡから数百万もの複製されたＤＮＡ断片を生成することができる。

　ＰＣＲやリガーゼ連鎖反応（ＬＣＲ（ligase　chain　reaction））などによる核酸増幅方法は、反応液に対して熱サイクルを与え、反応液の加熱と冷却とを繰り返し行うことにより、既知の遺伝子配列を増幅し、増幅された遺伝子配列を検出するものである。このような核酸増幅は、実用上、短時間で行われることが望ましい。例えば、国際公開第２００８／１４６７５４号（下記の特許文献１）は、反応液に熱サイクルを与えて熱サイクル反応を促進するための反応促進装置について記載している。

国際公開第２００８／１４６７５４号

　特許文献１に記載された技術によると、ＰＣＲ等の熱サイクル反応を促進するために、反応液に熱サイクルを与えるための熱サイクルヒータの温度を、反応液の目標温度よりもかい離したものとすることで、核酸の増幅を高速化している。しかし、熱サイクルヒータの温度が、反応液の目標温度よりもかい離しているため、核酸の増幅が安定しない可能性がある。本開示は、核酸を高速に、かつ安定して増幅するための別の技術を提供することを目的としている。

　一実施形態によると、検体と試薬とを混合した反応液に熱サイクルを与えることにより、反応液の核酸を増幅させる反応促進装置が提供される。反応促進装置は、反応液が収容される１以上の反応容器を保持するように構成された保持部と、少なくとも第１、第２および第３の温調ブロックを含み、設定温度に応じて各温調ブロックを一定温度に温調するヒーター部と、保持部を駆動して反応容器と各温調ブロックとを対向させることにより反応液に熱サイクルを与えるように構成された制御部とを備える。制御部は、熱サイクルにおいて、反応液に与える高温側の第１の温度により第１の温調ブロックを調節し、反応液に与える低温側の第２の温度により第２の温調ブロックを調節し、第１の温度を超える第３の温度により第３の温調ブロックを調節する温度調節部と、保持部を駆動して反応容器を第３、第１および第２の温調ブロックに順に対向させることにより、第１および第２の温度によって熱サイクルを反応液に与える駆動制御部とを含む。

　一実施形態によると、制御部が反応容器と第３の温調ブロックとを対向させることは、反応容器と第３の温調ブロックとが対向する時間が、第３の温調ブロックとの対向による加温で反応容器が第１の温度を超えない時間の範囲内であることを含む。

　一実施形態によると、保持部は、円盤形状であり、回転軸を有し、駆動制御部の駆動制御に従って回転軸を中心に反応容器が円周方向に移動可能に構成されている。ヒーター部の各温調ブロックは、回転軸を中心とする円周上に、反応容器と対向可能に第３、第１および第２の温調ブロックの順に配置されている。制御部の駆動制御部は、保持部の回転軸の回転の角速度を制御することにより、反応容器を、第３、第１および第２の温調ブロックに順に対向させるよう構成されている。

　一実施形態によると、制御部の駆動制御部は、反応容器を第１の温調ブロックと対向する位置まで回転により移動させて第１の時間にわたって反応容器と第１の温調ブロックとを対向させ、当該第１の時間が経過した後に反応容器を第２の温調ブロックと対向する位置まで回転により移動させて第２の時間にわたって反応容器と第２の温調ブロックとを対向させるよう保持部を駆動する。

　一実施形態によると、１以上の反応容器は、保持部の回転軸を中心とする円周の２分の１未満の領域において保持されるよう構成されている。第１および第２の温調ブロックは、反応容器が保持される領域に応じた大きさを有して回転軸を中心とする円周上に、反応容器と対向するように配置される。

　一実施形態によると、１以上の反応容器は、保持部の回転軸を中心とする円周の３分の１に収まる領域において保持されるよう構成されている。第１および第２の温調ブロックは、反応容器が保持される領域に応じた大きさを有して回転軸を中心とする円周上に、反応容器と対向するように配置される。

　一実施形態によると、制御部の温度調節部は、第１の温調ブロックを、９０度～１１０度の範囲の第１の温度により調節し、第２の温調ブロックを、室温～８０度の範囲の第２の温度により調節し、第３の温調ブロックを、１２０度～２００度の範囲の第３の温度により調節する。

　一実施形態によると、ヒーター部は、第１の温調ブロック、第２の温調ブロック、第３の温調ブロックおよび第４の温調ブロックを含み、制御部の温度調節部は、第２の温度より大きく第１の温度より小さい第４の温度により第４の温調ブロックを調節する。駆動制御部は、保持部を駆動して反応容器を第３、第１、第２および第４の温調ブロックに順に対向させることにより、第１、第２および第４の温度によって熱サイクルを反応液に与える。

　一実施形態によると、制御部の温度調節部は、第１の温調ブロックを、９０度～１１０度の範囲の第１の温度により調節し、第２の温調ブロックを、室温～８０度の範囲の第２の温度により調節し、第３の温調ブロックを、１２０度～２００度の範囲の第３の温度により調節し、第４の温調ブロックを、６０度～８０度の範囲の第４の温度により調節する。

　一実施形態によると、反応促進装置は、さらに、反応容器を第１の温調ブロックから第２の温調ブロックへ移動させた場合に、反応容器を第２の温調ブロックにおいて空冷させる空調部を備える。

　別の実施形態によると、検体と試薬とを混合した反応液に熱サイクルを与えることにより、反応液の核酸を増幅させ、反応液に励起光を照射することにより核酸増幅検査を行う核酸検査装置が提供される。核酸検査装置は、反応液が収容される１以上の反応容器を保持するように構成された保持部と、少なくとも第１、第２および第３の温調ブロックを含み、設定温度に応じて各温調ブロックを一定温度に温調するヒーター部と、保持部を駆動して反応容器と各温調ブロックとを対向させることにより反応液に熱サイクルを与えるように構成された制御部と、反応液において増幅される核酸を検出するように構成された検出部とを備える。制御部は、熱サイクルにおいて反応液に与える高温側の第１の温度により第１の温調ブロックを調節し、熱サイクルにおいて反応液に与える低温側の第２の温度により第２の温調ブロックを調節し、第１の温度を超える第３の温度により第３の温調ブロックを調節する温度調節部と、保持部を駆動して反応容器を第３、第１および第２の温調ブロックに順に対向させることにより、第１および第２の温度によって熱サイクルを反応液に与える駆動制御部とを含む。検出部は、保持部により反応容器を第２の温調ブロックから第３の温調ブロックへ移動させる間に、反応液において増幅される核酸を検出する。

　一実施形態によると、検出部は、反応容器の反応液に励起光を照射する励起光照射器と、励起光照射器により照射された励起光により生じる蛍光を検出する蛍光検出器とを含む。検出部が核酸を検出することは、保持部により反応容器を第２の温調ブロックから第３の温調ブロックへ移動させる間に、励起光照射器が反応容器に励起光を照射し、蛍光検出器が、反応容器に照射される励起光により生じる蛍光を検出することを含む。

　一実施形態によると、ヒーター部は、第１の温調ブロック、第２の温調ブロック、第３の温調ブロックおよび第４の温調ブロックを含む。制御部の温度調節部は、第２の温度より大きく第１の温度より小さい第４の温度により第４の温調ブロックを調節し、駆動制御部は、保持部を駆動して反応容器を第３、第１、第２および第４の温調ブロックに順に対向させることにより、第１、第２および第４の温度によって熱サイクルを反応液に与える。

　一実施形態によると、熱サイクルにおいて反応液に与える目標温度に各温調ブロックを温調して、反応容器を各温調ブロックと対向させるため、熱サイクルにおける目標温度で、一定時間、反応液に熱サイクルを与えることができ、核酸を高速に、かつ安定して増幅させることができる。

　この発明の上記および他の目的、特徴、局面および利点は、添付の図面と関連して理解されるこの発明に関する次の詳細な説明から明らかとなるであろう。

核酸検査装置１００の外観を示す図である。反応容器が保持盤に保持されて、ヒーター部と対向する構成の分解図である。反応容器を保持する保持部を駆動する機構、及び、反応液に熱サイクルを与えるためのヒーター部の配置を示す図である。保持部および温調ブロックの断面を示す図である。核酸検査装置１００の構成を示すブロック図である。記憶部１０６に記憶される熱サイクル動作設定１６１のデータ構造を示す図である。反応容器３００の回転移動により、反応液３１０に熱サイクルを与える例を示す図である。保持盤１８９を回転させる角速度と、反応液３１０の温度との対応を示す図である。

　以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰り返さない。

　＜実施の形態１＞
　図１は、核酸検査装置１００の外観を示す図である。図１に示すように、核酸検査装置１００と、ＰＣ２００とが互いに接続されている。

　核酸検査装置１００は、反応液に熱サイクルを与えることにより、反応液の核酸を増幅させる反応促進装置としての機能を有する。核酸検査装置１００は、例えばＰＣＲ法によって核酸を増幅させる。ＰＣＲ法では、ＤＮＡの一部分を選択的に増幅させるために、ＤＮＡポリメラーゼによる酵素反応を利用する。具体的には、（１）検体と試薬とを混合した反応液を、例えば約９４℃～９８℃にして、所定の時間（例えば１秒から１０秒程度）温度を保ち、熱変性させることで、二本鎖ＤＮＡが一本鎖ＤＮＡに変性する。（２）一本鎖ＤＮＡにＤＮＡポリメラーゼを作用させるには、予めプライマーをＤＮＡに結合させる必要があり、このアニーリングを、例えば約５０℃～７０℃で行う。そのため、核酸検査装置１００は、反応液を６０℃程度にまで急速に冷却し、一本鎖ＤＮＡとプライマーとをアニーリングさせる。（３）次に、プライマーの分離がおきずＤＮＡポリメラーゼの活性に適した温度帯にてＤＮＡポリメラーゼを反応させることにより、ＤＮＡを伸長させる。ＤＮＡの伸長は、（２）と同じ温度で行ってもよいし、加熱して（２）より高い温度で行ってもよく、所要時間は例えば３０秒から１分程度であればよい。

　核酸検査装置１００は、反応液に対し、一定の温度で一定の時間、熱サイクルを与えるため、ＰＣ２００を介して、熱サイクルで与える温度の設定および各温度を保つ時間の設定を受け付ける。核酸検査装置１００は、反応容器を、保持盤１８９に設けられた容器保持孔１８７Ａ～容器保持孔１８７Ｉ（以下、容器保持孔１８７Ａ～容器保持孔１８７Ｉを総称して「容器保持孔１８７」と記載することもある）により保持し、設定に従って、保持盤１８９を回転および停止させて、順次、核酸検査装置１００に内蔵される複数のヒーターと対向させる。温度センサ１８２は、例えば熱電対であり、反応容器の近傍に配置され、反応容器の温度を計測する。原点センサ１８３は、保持盤１８９の回転量（原点から回転した角度）を規定するための原点となる位置を検出するためのセンサである。例えば、原点となる位置に、原点センサ１８３と対向して原点センサ１８３に原点を検出させるためのセンサを配置することで、保持盤１８９の原点を設定する。これにより、核酸検査装置１００は、原点センサ１８３から出力される信号により保持盤１８９の回転量を制御し、温度センサ１８２により反応容器の温度を管理しつつ、熱サイクルにおける目標温度で、一定時間、反応液に熱サイクルを与えることができ、核酸を高速に、かつ安定して増幅させることができる。

　また、核酸検査装置１００は、反応容器の核酸を検出する機構を有している。実施の形態１の核酸検査装置１００は、蛍光光度法により、核酸を検査する。すなわち、核酸検査装置１００は、反応液に対して照射器から励起光を照射して、励起光により生じる蛍光を検出器によって検出する。なお、核酸を検出する方法は、蛍光光度法に限られない。

　＜反応容器を保持する保持部、及び、反応液に熱サイクルを与えるヒーター部の構成＞
　図２は、反応容器が保持盤に保持されて、ヒーター部と対向する構成の分解図である。

　図２に示すように、反応容器３００Ａ～反応容器３００Ｉ（以下、反応容器３００Ａ～反応容器３００Ｉを総称して、「反応容器３００」と記載することもある）は、上部から検体と試薬とを投入可能に構成されており、上部から下部へ進むに従って径が小さくなっている。反応容器３００の下部にある反応液３１０において検体と試薬とが混合される。反応容器３００は、上部にテーパー状の構造を有しており、テーパー状の構造により反応容器３００が保持盤１８９に保持される。

　反応容器３００が保持盤１８９に保持されることにより、反応液３１０とヒーター部とが対向する。核酸検査装置１００は、ヒーター部において、複数の温調ブロックを含む。各温調ブロックは、それぞれ設定温度に従って一定温度に温調する。具体的には、核酸検査装置１００は、温調ブロックとして、二本鎖ＤＮＡを一本鎖ＤＮＡに熱変性させるための高温側の温調ブロックと、アニーリングを行うための低温側の温調ブロックと、反応液を急速に加熱するための昇温側の温調ブロックとを含む。核酸検査装置１００は、高温側の温調ブロックを、９０℃～１１０℃、好ましくは約９４℃～９８℃程度に温調する。また、核酸検査装置１００は、低温側の温調ブロックを、室温～８０℃、好ましくは６０℃程度に温調し、昇温側の温調ブロックを、１２０℃～２００℃程度に温調する。

　図２の例では、低温側の温調ブロックとして、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂを示している。反応容器３００が保持盤１８９に保持された状態で、反応容器３００の反応液３１０が、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂと対向する。これにより、核酸検査装置１００は、反応液３１０に対し、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂにより６０℃程度の温度を与える。

　＜保持部を駆動する機構および各温調ブロックの配置＞
　図３は、反応容器を保持する保持部を駆動する機構、及び、反応液に熱サイクルを与えるためのヒーター部の配置を示す図である。

　図３Ａは、保持盤１８９の上面を示す図である。図３Ｂは、核酸検査装置１００において、保持盤１８９の下部に配置される各温調ブロックおよび検出機構を示す図である。

　図３Ａにおいて、回転盤１８８と保持盤１８９とは、ネジ止め等により固定されている。回転速度制御装置１９２は、回転盤１８８と固定される保持盤１８９の回転の角速度を制御するためのものである。回転盤１８８と回転速度制御装置１９２とは、例えば平歯車を構成しており、回転速度制御装置１９２の回転力により回転盤１８８が回転軸を中心として回転方向に駆動される。これにより、容器保持孔１８７によって保持される反応容器３００が、保持盤１８９の回転軸を中心に回転方向に移動する。

　図３Ｂに示すように、各温調ブロックが円周上に配置される。昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂは、昇温側の温調ブロックである。高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂは、高温側の温調ブロックである。低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂは、低温側の温調ブロックである。反応容器３００が容器保持孔１８７に保持されることにより、反応容器３００の反応液３１０が、これら温調ブロックと対向する。回転速度制御装置１９２が回転の角速度を制御することにより、保持盤１８９に保持された反応容器３００の反応液３１０が回転方向に移動する。これにより、核酸検査装置１００は、反応液３１０を、昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂと、高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂと、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂとに順に対向させて、高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂと、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂとによって熱サイクルを反応液３１０に与える。昇温側の温調ブロックである昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂは、低温側の温調ブロックである低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂによって６０℃程度に温調された反応液３１０を、高温側の温調ブロックで反応液３１０に与える温度まで急速に加熱するためのものである。これにより、反応液３１０を低温側から高温側まで上昇させる時間を短縮させることができ、核酸の増幅に要する時間を短縮化できる。

　核酸検査装置１００は、励起光照射部１９６および蛍光検出部１９７により、核酸増幅検査を行う。励起光照射部１９６は、反応液３１０に励起光を照射する。蛍光検出部１９７は、励起光照射部１９６により照射された励起光によって生じる蛍光を検出する。核酸検査装置１００において、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂと、昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂとの間に、反射板１９８が設置されている。励起光照射部１９６から照射された励起光は、反射板１９８によって反射される。核酸検査装置１００は、反応液３１０が低温側の温調ブロックである低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂの位置から、高温側の温調ブロックである高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂに移動させるまでの間に、励起光照射部１９６および蛍光検出部１９７による検査と、昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂによる昇温とを行う。

　スリップリング１８１は、回転体への給電および信号の送受信等を行うためのものであり、例えば、保持盤１８９の温度センサ１８２と原点センサ１８３とへ給電し、これら温度センサ１８２と原点センサ１８３とが出力する信号を制御回路へ伝送する。

　図４は、保持部および温調ブロックの断面を示す図である。図４に示す断面図は、図３Ａに示すＩＶ－ＩＶ’線における断面を示すものである。

　図４に示すように、保持盤１８９は回転盤１８８と固定され、回転盤１８８の回転に従って保持盤１８９も回転される。保持盤１８９は、容器保持孔１８７の上部から反応容器３００の挿入を受け付ける。反応容器３００はテーパー部により保持盤１８９に保持される。反応容器３００の反応液３１０は低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂと対向しており、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂから温度を与えられる。

　核酸検査装置１００のヒーター部の各温調ブロック（図４では高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂと、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂを示す）は、ネジ止め等により、核酸検査装置１００の筐体に固定されている。

　核酸検査装置１００は、反応促進部１９０において、保持盤１８９を回転させることにより、高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂから低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂの位置まで反応容器３００を移動させる。低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂの下部には空調部１９９Ａが設置され、側面には空調部１９９Ｂが設置される。空調部１９９Ａおよび空調部１９９Ｂは、空気を循環させるためのファンである。空調部１９９Ｂは、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂの周囲の空気を排出するファンである。空調部１９９Ａは、空気を吸入して、吸入した空気を低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂへ送り込むファンである。これにより、空調部１９９Ａおよび空調部１９９Ｂは、反応容器３００を低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂにおいて空冷する機能を発揮する。反応容器３００の反応液３１０は、高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂによって、熱サイクルの高温側である約９４℃～９８℃程度に加熱されている。核酸検査装置１００は、この反応液３１０を低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂにより熱サイクルの低温側である６０℃程度によって加熱するために、空調部１９９Ａおよび空調部１９９Ｂによって空冷させて反応液３１０の温度を急速に低下させる。これにより、核酸検査装置１００は、核酸の増幅に要する時間を短縮化するとともに、増幅を安定させることができる。

　＜核酸検査装置１００の構成＞
　図５を参照して、核酸検査装置１００の機能的な構成について説明する。

　図５は、核酸検査装置１００の構成を示すブロック図である。図５に示すように、核酸検査装置１００は、半導体リレー（ＳＳＲ（Solid　State　Relay））１０３と、温度ヒューズ１０４Ａ、温度ヒューズ１０４Ｂおよび温度ヒューズ１０４Ｃ（以下、温度ヒューズ１０４Ａ、温度ヒューズ１０４Ｂおよび温度ヒューズ１０４Ｃを総称して温度ヒューズ１０４ということもある）と、入出力Ｉ／Ｆ１０５と、記憶部１０６と、制御部１０７と、第１温調器１０８Ａ、第２温調器１０８Ｂおよび第３温調器１０８Ｃ（以下、第１温調器１０８Ａ、第２温調器１０８Ｂおよび第３温調器１０８Ｃを総称して温調器１０８ということもある）と、電源部１０９と、反応促進部１９０とを含む。反応促進部１９０は、駆動部１９１と、回転速度制御装置１９２と、各温調ブロック（昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂと、高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂと、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂ）と、励起光照射部１９６と、蛍光検出部１９７と、反射板１９８と、スリップリング１８１とを含む。なお図５では、保持盤１８９の複数の容器保持孔１８７（図５では、点線の丸として示す）と、原点センサ１８３と、温度センサ１８２とを点線で示している。

　半導体リレー１０３は、無接点のリレーであり、制御部１０７の制御に応じて空調部１９９への電力の供給を制御する。

　温度ヒューズ１０４は、電気機器の回路ショートの発生や、回路部品の故障などに起因する過電流によって生じる機器の発熱を感知して、回路を遮断する加熱保護部材である。温度ヒューズ１０４Ａ、温度ヒューズ１０４Ｂおよび温度ヒューズ１０４Ｃは、第１温調器１０８Ａ、第２温調器１０８Ｂおよび第３温調器１０８Ｃのそれぞれに対応して配置される。温度ヒューズ１０４Ａ、温度ヒューズ１０４Ｂおよび温度ヒューズ１０４Ｃは、第１温調器１０８Ａ、第２温調器１０８Ｂおよび第３温調器１０８Ｃを介して各温調ブロックに対して供給される電源によって生じる機器の発熱を感知して、回路を遮断することで各種装置を保護する。

　入出力Ｉ／Ｆ１０５は、核酸検査装置１００の外部の装置と通信するための入出力インタフェースであり、例えば汎用のインタフェースであるＵＳＢ（Universal　Serial　Bus）などである。核酸検査装置１００は、入出力Ｉ／Ｆ１０５によりＰＣ２００と接続し、ＰＣ２００で動作するプログラムに従って、保持盤１８９を回転させる等の核酸増幅のための処理を行う。

　記憶部１０６は、ＲＡＭ（Random　Access　Memory）等によって構成され、核酸検査装置１００が使用するプログラムを記憶し、核酸検査装置１００が使用する各種のデータを蓄積する。ある局面において、記憶部１０６は、熱サイクル動作設定１６１を記憶する。熱サイクル動作設定１６１は、核酸検査装置１００が反応液３１０に与える熱サイクルの設定を示す情報であり、複数の温調ブロック（図５では、熱サイクルの高温側の温度を反応液３１０に与える第１の温調ブロック（高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂ）と、熱サイクルの低温側の温度を反応液３１０に与える第２の温調ブロック（低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂ）と、反応液３１０を低温側の温度から高温側の温度まで急速に加熱するための第３の温調ブロック（昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂ）を示す）のそれぞれの温度の設定と、各温調ブロックで反応液３１０に温度を与える時間の設定とを含む。

　制御部１０７は、記憶部１０６に記憶される制御プログラムを読み込んで実行することにより、核酸検査装置１００の動作を制御する。制御部１０７は、例えばプロセッサにより実現される。制御部１０７は、プログラムに従って動作することにより、駆動制御部１７１と、温度調節部１７２としての機能を発揮する。また、制御部１０７は、半導体リレー１０３の動作を制御する信号を出力することにより、空調部１９９のオンとオフとを制御する。制御部１０７は、反応液３１０が低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂの温調ブロックに移動した場合に、空調部１９９を駆動して反応液３１０を急冷させることにより、核酸増幅に要する時間を短縮化する。

　駆動制御部１７１は、反応液３１０に熱サイクルを加えるための核酸検査装置１００の駆動を制御する。具体的には、駆動制御部１７１は、駆動部１９１に制御信号を出力することにより回転速度制御装置１９２の回転速度（角速度）を制御することで、保持盤１８９に保持される反応容器３００の移動を制御する。これにより、駆動制御部１７１は、反応容器３００の反応液３１０を、第３の温調ブロック（昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂ）、第１の温調ブロック（高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂ）および第２の温調ブロック（低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂ）に順に対向させることにより、熱サイクルを反応液３１０に与える。

　温度調節部１７２は、反応液３１０に与える熱サイクルにおいて、熱サイクル動作設定１６１の設定に従って、複数の温調ブロックそれぞれの温度を調節する。温度調節部１７２は、第１温調器１０８Ａ、第２温調器１０８Ｂおよび第３温調器１０８Ｃに対し、それぞれの温調器が対応するヒーター部の温度を示す制御信号を出力する。例えば、温度調節部１７２は、昇温側の温調ブロックに対応する第１温調器１０８Ａに対し、熱サイクル動作設定１６１に従って、１２０℃～２００℃程度の範囲のうちの任意の温度を示す制御信号を出力する。また、温度調節部１７２は、高温側の温調ブロックに対応する第２温調器１０８Ｂに対し、熱サイクル動作設定１６１に従って、例えば約９４℃～９８℃程度の温度を示す制御信号を出力する。また、温度調節部１７２は、低温側の温調ブロックに対応する第３温調器１０８Ｃに対し、熱サイクル動作設定１６１に従って、例えば６０℃程度の温度を示す制御信号を出力する。

　また、制御部１０７は、反応液３１０の位置に応じて励起光照射部１９６を駆動することにより反応液３１０に励起光を照射して、励起光の照射による蛍光を蛍光検出部１９７が検出した検出結果を蛍光検出部１９７から受け付けることで、核酸増幅の検査をする。

　温調器１０８は、制御部１０７の制御信号に従って、熱サイクル動作設定１６１に示される温度に温調ブロックを調節する。これら温調器１０８は、交流電源によって動作する。

　第１温調器１０８Ａは、昇温ヒーター部１９３Ｂの温度の測定結果を示す信号を受信し、昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂが設定に従った温度に調節されるよう、第１温調器１０８Ａに対応する半導体リレー（図示しない）を制御する。すなわち、第１温調器１０８Ａは、昇温ヒーター部１９３Ｂの温度の測定結果と、設定に示される温度とに基づいて半導体リレーの開閉を制御することで、昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂへの電源の供給を制御する。

　第２温調器１０８Ｂは、高温ヒーター部１９４Ｂの温度の測定結果を示す信号を受信し、高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂが設定に従った温度に調節されるよう、第２温調器１０８Ｂに対応する半導体リレー（図示しない）を制御する。すなわち、第２温調器１０８Ｂは、高温ヒーター部１９４Ｂの温度の測定結果と、設定に示される温度とに基づいて半導体リレーの開閉を制御することで、高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂへの電源の供給を制御する。

　第３温調器１０８Ｃは、低温ヒーター部１９５Ｂの温度の測定結果を示す信号を受信し、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂが設定に従った温度に調節されるよう、第３温調器１０８Ｃに対応する半導体リレー（図示しない）を制御する。すなわち、第３温調器１０８Ｃは半導体リレーの開閉を、低温ヒーター部１９５Ｂの温度の測定結果と、設定に示される温度とに基づいて制御することで、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂへの電源の供給を制御する。

　電源部１０９は、核酸検査装置１００の外部から供給される交流電源を受けて、直流電圧に変換する。

　駆動部１９１は、制御部１０７からの制御信号に応じて、保持盤１８９の角速度を示す信号を回転速度制御装置１９２に出力することで回転速度制御装置１９２を回転させる。

　回転速度制御装置１９２は、駆動部１９１の駆動制御に従って回転し、歯車機構により保持盤１８９を回転させることで、反応液３１０を回転方向に移動させる。

　昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂは、電気信号を熱に変える温調ユニットであり、表面に、熱伝導率が比較的高いアルミ箔等が貼り付けられて反応液３１０に温度を与える。昇温ヒーター部１９３Ｂは熱電対を含み、熱電対により測定した温度を温調器１０８Ａへ出力する。これにより第１温調器１０８Ａが昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂへの電力の供給を制御して、昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂを一定温度に調節する。

　高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂは、電気信号を熱に変える温調ユニットであり、表面に、熱伝導率が比較的高いアルミ箔等が貼り付けられて反応液３１０に熱サイクルの高温側の温度を与える。高温ヒーター部１９４Ｂは熱電対を含み、熱電対により測定した温度を温調器１０８Ｂへ出力する。これにより第２温調器１０８Ｂが高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂへ供給する電力を制御して、高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂを一定温度に調節する。

　低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂは、電気信号を熱に変える温調ユニットであり、表面に、熱伝導率が比較的高いアルミ箔等が貼り付けられて反応液３１０に熱サイクルの高温側の温度を与える。低温ヒーター部１９５Ｂは熱電対を含み、熱電対により測定した温度を温調器１０８Ｃへ出力する。これにより第３温調器１０８Ｃが低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂへ供給する電力を制御して、低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂを一定温度に調節する。

　＜データ構造＞
　図６は、記憶部１０６に記憶される熱サイクル動作設定１６１のデータ構造を示す図である。図６を参照して、熱サイクル動作設定１６１は、熱サイクル設定温度１６１Ａと、停止時間１６１Ｂとを含む。

　熱サイクル設定温度１６１Ａは、各温調ブロックの温度の設定を示す。実施の形態１の核酸検査装置１００では、反応液３１０に与える熱サイクルの低温側の温度を、熱サイクル設定温度１６１Ａの設定「低温ヒーター温度」に保持する（例えば６０℃）。制御部１０７は、設定「低温ヒーター温度」に示される温度を示す信号を第３温調器１０８Ｃへ出力する。核酸検査装置１００は、熱サイクルの高温側の温度を、熱サイクル設定温度１６１Ａの設定「高温ヒーター温度」に保持する（例えば９５℃）。制御部１０７は、設定「高温ヒーター温度」に示される温度を示す信号を第２温調器１０８Ｂへ出力する。核酸検査装置１００は、反応液を低温側の温度から高温側の温度まで急速に加熱するための昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂの温度の設定を、設定「昇温ヒーター温度」に保持する（例えば１４０℃）。制御部１０７は、設定「昇温ヒーター温度」に示される温度を示す信号を第１温調器１０８Ａへ出力する。

　停止時間１６１Ｂは、各温調ブロックにおいて、反応液３１０を停止させる時間を示す。設定「高温ヒーター停止時間」は、反応液３１０を高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂと対向させて停止させる時間を示す。設定「低温ヒーター停止時間」は、反応液３１０を低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂと対向させて停止させる時間を示す。

　核酸検査装置１００は、これら熱サイクル動作設定１６１に示される設定を、ＰＣ２００から受け付ける。熱サイクル動作設定１６１の他に、核酸検査装置１００は、ＰＣ２００から、低温側の温調ブロックから高温側の温調ブロックへ回転により反応液３１０を移動させる速度（角速度）の設定と、高温側の温調ブロックから低温側の温調ブロックへ回転により反応液３１０を移動させる速度（角速度）の設定と、空調部１９９のファンの出力の設定（冷却性能）と、空調部１９９のファンを停止させるための反応容器３００の温度の設定とを受け付ける。

　＜動作＞
　図７と図８とを参照して、核酸検査装置１００の動作を説明する。

　図７は、反応容器３００の回転移動により、反応液３１０に熱サイクルを与える例を示す図である。図８は、保持盤１８９を回転させる角速度と、反応液３１０の温度との対応を示す図である。図８において、横軸は時間を示し、縦軸は、反応容器３００の温度および保持盤１８９を回転させる角速度（反応容器３００が回転する角速度）を示す。図８において、実線は、反応容器３００の温度の測定結果（温度センサ１８２の測定結果）を示し、破線は、保持盤１８９を回転させる角速度の出力（制御部１０７から駆動部１９１へ出力される制御信号の信号値）を示す。

　図７の状態（Ａ）は、核酸検査装置１００の動作開始時の反応容器３００の位置を示す図である。図７の状態（Ａ）に示すように、核酸検査装置１００は、原点の位置において、反応容器３００が低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂにより加熱される位置にある。図７の状態（Ａ）は、図８の時間ＴＡに対応する。図７の状態（Ａ）において、反応容器３００の温度は６０度に加熱されている。核酸検査装置１００は、反応容器３００を回転させる角速度を、角速度「１０°/sec」として動作する。

　図７の状態（Ｂ）は、核酸検査装置１００が蛍光検出を行う際の反応容器３００の位置を示す図である。図７の状態（Ｂ）に示すように、核酸検査装置１００は、反応容器３００が低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂの位置から昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂの位置へと移動するまでの間に、蛍光検出を行う。図７の状態（Ｂ）は、図８の時間ＴＢに対応する。図７の状態（Ｂ）に示すように、反応容器３００は、昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂの位置へと移動しようとしている。

　図７の状態（Ｃ）は、核酸検査装置１００が反応容器３００を昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂにより加熱して、熱サイクルの低温側から高温側へと急速に加熱している状態を示す。核酸検査装置１００は、反応容器３００を昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂと対向させる時間を、反応容器３００の温度が昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂによる加温で高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂの設定温度を超えない時間とする。すなわち、反応容器３００の温度が高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂの設定温度を超えないように、昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂの大きさが設計されるとともに、昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂの温度が設定されている。図７の状態（Ｃ）は、図８の時間ＴＣに対応する。

　図７の状態（Ｄ）は、核酸検査装置１００が反応容器３００を高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂの位置まで移動させた状態である。制御部１０７は、この図７の状態（Ｄ）で、反応容器３００を停止させる（保持盤１８９を回転させる角速度を０°/secとする）。図７の状態（Ｄ）は、図８の時間ＴＤに対応する。なお、核酸検査装置１００は、反応容器３００を回転させる１回目の動作時は、ホットスタートを実施しており、高温側の温調ブロック（高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂ）における加熱時間を比較的長く（例えば３０秒程度）している。

　図７の状態（Ｅ）は、核酸検査装置１００が反応容器３００を高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂの位置から低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂの位置まで移動させた状態である。制御部１０７は、この図７の状態（Ｅ）で、停止時間１６１Ｂに示される設定「低温ヒーター停止時間」に従って、反応容器３００を停止させる。図８において、期間Ｔ２は、停止時間１６１Ｂの設定「低温ヒーター停止時間」に示される時間の長さを示す。また、期間Ｔ１は、停止時間１６１Ｂの設定「高温ヒーター停止時間」に示される時間の長さを示す。図７の状態（Ｅ）は、図８の時間ＴＥに対応する。このとき、制御部１０７は、空調部１９９を動作させて、反応容器３００の温度を、熱サイクルの高温側（９５℃程度）から低温側（６０℃程度）まで急冷させる。制御部１０７は、空調部１９９を駆動し、温度センサ１８２の出力結果と、低温側の目標温度（６０℃程度）とを比較して、温度センサ１８２の出力結果が低温側の目標温度に達すると、空調部１９９の動作を停止する。図８に示す例では、制御部１０７は、時間Ｔａｉｒの期間にわたって空調部１９９を駆動することで、反応容器３００を冷却させている。

　図７の状態（Ｆ）は、核酸検査装置１００が蛍光検出を行う際の反応容器３００の位置を示す図である。図７の状態（Ｆ）は、図８の時間ＴＦに対応する。以降、核酸検査装置１００は、反応容器３００を回転させることにより、反応液３１０に熱サイクルを与える。

　＜変形例１＞
　以上の実施形態の説明では、図３Ａに示すように、核酸検査装置１００は、保持盤１８９の回転軸を中心とする円周において、円周の３分の１程度の大きさに収まる領域に反応容器３００が保持されるよう容器保持孔１８７Ａ～容器保持孔１８７Ｉを配置している。また、図３Ｂに示すように、反応容器３００が保持される領域である容器保持孔１８７Ａ～容器保持孔１８７Ｉの範囲に応じた大きさとなるように、熱サイクルの高温側に対応する第１の温調ブロック（高温ヒーター部１９４Ａおよび高温ヒーター部１９４Ｂ）と、熱サイクルの低温側に対応する第２の温調ブロック（低温ヒーター部１９５Ａおよび低温ヒーター部１９５Ｂ）とを構成している。核酸検査装置１００は、第１の温調ブロックと、第２の温調ブロックと、第３の温調ブロック（昇温ヒーター部１９３Ａおよび昇温ヒーター部１９３Ｂ）および蛍光検出のための反射板１９８を配置する領域とを、おおよそ３等分して配置している。

　この他にも、核酸検査装置１００は、保持盤１８９の回転軸を中心とする円周において、円周の３分の１を超えて２分の１未満の領域に反応容器３００が保持されるよう容器保持孔１８７を配置してもよい。この場合、容器保持孔１８７が配置される範囲に対応して、第１の温調ブロックと第２の温調ブロックの大きさが決定される。第３の温調ブロックおよび蛍光を検出するための反射板１９８を配置する領域が確保できるのであれば、反応容器３００を保持する範囲を大きくすることで、核酸検査装置１００は、より多くの検体の核酸増幅と検査をすることができる。

　＜変形例２＞
　また、以上の実施形態の説明では、図３に示すように、核酸検査装置１００は、高温側の第１の温調ブロック、低温側の第２の温調ブロックおよび昇温側の第３の温調ブロックを配置することとして説明したが、温調ブロックの数は、３つに限られない。例えば、４つの温調ブロックを配置して、各温調ブロックをそれぞれ異なる温度で動作させてもよい。例えば、核酸検査装置１００は、第１の温調ブロック、第２の温調ブロック、第３の温調ブロック、および第４の温調ブロックを含むこととし、保持盤１８９を回転させることにより、反応容器３００を、第３の温調ブロック、第１の温調ブロック、第２の温調ブロック、第４の温調ブロックに順に対向させることとして、反応液３１０に熱サイクルを与えることとしてもよい。この場合、制御部１０７は、例えば、第１の温調ブロックを、９０℃～１１０℃の範囲、好ましくは９５℃により温調し、第２の温調ブロックを、室温～８０℃の範囲、好ましくは６０℃により温調し、第３の温調ブロックを、１２０℃～２００℃の範囲、例えば１４０℃により温調し、第４の温調ブロックを、６０℃～８０℃の範囲、好ましくは７０℃により温調することとしてもよい。これにより、反応液３１０に与える熱サイクルに応じて、反応液３１０を加熱することができる。

　＜変形例３＞
　以上の実施形態の説明では、図３に示すように、核酸検査装置１００は、円形状の保持盤１８９に、反応容器３００を保持し、保持盤１８９を回転させることで、反応容器３００の反応液３１０を、各ヒーター部に対向させることとして説明してきたが、反応容器３００を各ヒーター部に順に対向させるための構成は、円形状の保持盤１８９および回転速度制御装置１９２の組に限られない。例えば、矩形状のレールに沿って反応容器３００が移動することとし、矩形の各辺において、ヒーター部が配置される等としてもよい。

　本実施の形態に係る反応促進装置および核酸検査装置は、プロセッサと、その上で実行されるプログラムにより実現される。本実施の形態を実現するプログラムは、通信インタフェースを介してネットワークを利用した送受信等により提供されることもある。

　今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものでないと考えられるべきである。この発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

　１００　核酸検査装置、１０３　半導体リレー、１０４　温度ヒューズ、１０５　入出力Ｉ／Ｆ、１０６　記憶部、１０７　制御部、１０８　温調器、１０９　電源部、１６１　熱サイクル動作設定、１７１　駆動制御部、１７２　温度調節部、１８１　スリップリング、１８２　温度センサ、１８３　原点センサ、１８７　容器保持孔、１８８　回転盤、１８９　保持盤、１９０　反応促進部、１９１　駆動部、１９２　回転速度制御装置、１９３　昇温ヒーター部、１９４　高温ヒーター部、１９５　低温ヒーター部、１９６　励起光照射部、１９７　蛍光検出部、１９８　反射板、１９９　空調部、２００　ＰＣ、３００　反応容器、３１０　反応液、４００　回転軸。

Claims

　検体と試薬とを混合した反応液に熱サイクルを与えることにより、前記反応液の核酸を増幅させる反応促進装置であって、
　前記反応液が収容される１以上の反応容器を保持するように構成された保持部と、
　少なくとも第１、第２および第３の温調ブロックを含み、設定温度に応じて各温調ブロックを一定温度に温調するヒーター部と、
　前記保持部を駆動して前記反応容器と各前記温調ブロックとを対向させることにより前記反応液に前記熱サイクルを与えるように構成された制御部とを備え、
　前記制御部は、
　前記熱サイクルにおいて、前記反応液に与える高温側の第１の温度により前記第１の温調ブロックを調節し、前記反応液に与える低温側の第２の温度により前記第２の温調ブロックを調節し、前記第１の温度を超える第３の温度により前記第３の温調ブロックを調節する温度調節部と、
　前記保持部を駆動して前記反応容器を前記第３、第１および第２の前記温調ブロックに順に対向させることにより、前記第１および第２の温度によって前記熱サイクルを前記反応液に与える駆動制御部とを含む、反応促進装置。
　前記制御部が前記反応容器と前記第３の温調ブロックとを対向させることは、前記反応容器と前記第３の温調ブロックとが対向する時間が、前記第３の温調ブロックとの対向による加温で前記反応容器が前記第１の温度を超えない時間の範囲内であることを含む、請求項１に記載の反応促進装置。
　前記保持部は、円盤形状であり、回転軸を有し、前記駆動制御部の駆動制御に従って前記回転軸を中心に前記反応容器が円周方向に移動可能に構成されており、
　前記ヒーター部の各前記温調ブロックは、前記回転軸を中心とする円周上に、前記反応容器と対向可能に前記第３、第１および第２の温調ブロックの順に配置され、
　前記制御部の前記駆動制御部は、前記保持部の前記回転軸の回転の角速度を制御することにより、前記反応容器を、前記第３、第１および第２の前記温調ブロックに順に対向させるよう構成されている、請求項１または２に記載の反応促進装置。
　前記制御部の前記駆動制御部は、
　前記反応容器を前記第１の温調ブロックと対向する位置まで回転により移動させて第１の時間にわたって前記反応容器と前記第１の温調ブロックとを対向させ、
　当該第１の時間が経過した後に前記反応容器を前記第２の温調ブロックと対向する位置まで回転により移動させて第２の時間にわたって前記反応容器と前記第２の温調ブロックとを対向させるよう前記保持部を駆動する、請求項３に記載の反応促進装置。
　前記１以上の反応容器は、前記保持部の回転軸を中心とする円周の２分の１未満の領域において保持されるよう構成されており、
　前記第１および第２の温調ブロックは、前記反応容器が保持される前記領域に応じた大きさを有して前記回転軸を中心とする円周上に、前記反応容器と対向するように配置される、請求項３または４に記載の反応促進装置。
　前記１以上の反応容器は、前記保持部の回転軸を中心とする円周の３分の１に収まる領域において保持されるよう構成されており、
　前記第１および第２の温調ブロックは、前記反応容器が保持される前記領域に応じた大きさを有して前記回転軸を中心とする円周上に、前記反応容器と対向するように配置される、請求項５に記載の反応促進装置。
　前記制御部の前記温度調節部は、前記第１の温調ブロックを、９０度～１１０度の範囲の前記第１の温度により調節し、前記第２の温調ブロックを、室温～８０度の範囲の前記第２の温度により調節し、前記第３の温調ブロックを、１２０度～２００度の範囲の前記第３の温度により調節する、請求項１から６のいずれか１項に記載の反応促進装置。
　前記ヒーター部は、前記第１の温調ブロック、前記第２の温調ブロック、前記第３の温調ブロックおよび第４の温調ブロックを含み、
　前記制御部の前記温度調節部は、前記第２の温度より大きく前記第１の温度より小さい第４の温度により前記第４の温調ブロックを調節し、
　前記駆動制御部は、前記保持部を駆動して前記反応容器を前記第３、第１、第２および第４の温調ブロックに順に対向させることにより、前記第１、第２および第４の温度によって前記熱サイクルを前記反応液に与える、請求項１から４のいずれか１項に記載の反応促進装置。
　前記制御部の前記温度調節部は、前記第１の温調ブロックを、９０度～１１０度の範囲の前記第１の温度により調節し、前記第２の温調ブロックを、室温～８０度の範囲の前記第２の温度により調節し、前記第３の温調ブロックを、１２０度～２００度の範囲の前記第３の温度により調節し、前記第４の温調ブロックを、６０度～８０度の範囲の前記第４の温度により調節する、請求項８に記載の反応促進装置。
　前記反応促進装置は、さらに、前記反応容器を前記第１の温調ブロックから前記第２の温調ブロックへ移動させた場合に、前記反応容器を前記第２の温調ブロックにおいて空冷させる空調部を備える、請求項１から９のいずれか１項に記載の反応促進装置。
　検体と試薬とを混合した反応液に熱サイクルを与えることにより、前記反応液の核酸を増幅させ、前記反応液に励起光を照射することにより核酸増幅検査を行う核酸検査装置であって、
　前記反応液が収容される１以上の反応容器を保持するように構成された保持部と、
　少なくとも第１、第２および第３の温調ブロックを含み、設定温度に応じて各温調ブロックを一定温度に温調するヒーター部と、
　前記保持部を駆動して前記反応容器と各前記温調ブロックとを対向させることにより前記反応液に前記熱サイクルを与えるように構成された制御部と、
　前記反応液において増幅される前記核酸を検出するように構成された検出部とを備え、
　前記制御部は、
　前記熱サイクルにおいて前記反応液に与える高温側の第１の温度により前記第１の温調ブロックを調節し、前記熱サイクルにおいて前記反応液に与える低温側の第２の温度により第２の温調ブロックを調節し、前記第１の温度を超える第３の温度により前記第３の温調ブロックを調節する温度調節部と、
　前記保持部を駆動して前記反応容器を前記第３、第１および第２の前記温調ブロックに順に対向させることにより、前記第１および第２の温度によって前記熱サイクルを前記反応液に与える駆動制御部とを含み、
　前記検出部は、前記保持部により前記反応容器を前記第２の前記温調ブロックから前記第３の温調ブロックへ移動させる間に、前記反応液において増幅される前記核酸を検出する、核酸検査装置。
　前記検出部は、
　前記反応容器の前記反応液に励起光を照射する励起光照射器と、
　前記励起光照射器により照射された励起光により生じる蛍光を検出する蛍光検出器とを含み、
　前記検出部が前記核酸を検出することは、前記保持部により前記反応容器を前記第２の前記温調ブロックから前記第３の温調ブロックへ移動させる間に、前記励起光照射器が前記反応容器に前記励起光を照射し、前記蛍光検出器が、前記反応容器に照射される前記励起光により生じる蛍光を検出することを含む、請求項１１に記載の核酸検査装置。
　前記ヒーター部は、前記第１の温調ブロック、前記第２の温調ブロック、前記第３の温調ブロックおよび第４の温調ブロックを含み、
　前記制御部の前記温度調節部は、前記第２の温度より大きく前記第１の温度より小さい第４の温度により前記第４の温調ブロックを調節し、
　前記駆動制御部は、前記保持部を駆動して前記反応容器を前記第３、第１、第２および第４の温調ブロックに順に対向させることにより、前記第１、第２および第４の温度によって前記熱サイクルを前記反応液に与える、請求項１１または１２のいずれかに記載の核酸検査装置。
　前記制御部の前記温度調節部は、前記第１の温調ブロックを、９０度～１１０度の範囲の前記第１の温度により調節し、前記第２の温調ブロックを、室温～８０度の範囲の前記第２の温度により調節し、前記第３の温調ブロックを、１２０度～２００度の範囲の前記第３の温度により調節し、前記第４の温調ブロックを、６０度～８０度の範囲の前記第４の温度により調節する、請求項１３に記載の核酸検査装置。