WO2015100777A1 - 显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置 - Google Patents

显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置 Download PDF

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WO2015100777A1
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PCT/CN2014/070386
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黄海波
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TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
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Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
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    • G06T7/0004—Industrial image inspection
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    • G—PHYSICS
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    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30121—CRT, LCD or plasma display

Definitions

  • the present invention relates to the field of detection technology of display panels; and more particularly, to a defect detection method and a defect detection apparatus for a display panel. Background technique
  • a defect detecting method for a display panel including the steps of:
  • the grayscale value of each pixel in the specific region is binarized to obtain a plurality of boundaries, wherein the grayscale value of the pixel on the boundary line and other pixels than the pixel on the boundary line
  • the grayscale values are different;
  • the plurality of remaining boundary line pressure defect specification lines when the width of the remaining boundary line is not less than the width of the defect specification line, determining that the remaining boundary line is a defect line.
  • the defect detecting method further includes the step of: G) determining that the remaining boundary line is not a defect line when a width of the remaining boundary line is smaller than a width of the defect specification line.
  • the specific implementation manner of “binarizing the grayscale value of each pixel in the specific region based on the obtained average grayscale value” is: Comparing a grayscale value of each pixel in the specific region with the average grayscale value; wherein, when a grayscale value of a certain pixel in the specific region is not smaller than the average grayscale value, Setting the grayscale value of the certain pixel to "1", when the grayscale value of a certain pixel in the specific region is smaller than the average grayscale value, setting the grayscale value of the certain pixel to ""0".
  • a defect detecting apparatus for a display panel comprising: an image acquiring unit configured to acquire an edge image of the display panel and a grayscale value of each pixel in the edge image; a unit configured to select a specific area in the edge image and obtain a grayscale value of each pixel in the specific area; a calculating unit configured to grayscale all pixels in the specific area The values are averaged to obtain an average grayscale value of all pixels in the specific region; a binarization processing unit configured to be based on the obtained average grayscale value for each pixel in the specific region The grayscale value is binarized to obtain a plurality of boundaries, wherein the grayscale value of the pixel on the boundary line is different from the grayscale value of the pixel other than the pixel on the boundary line; Configuring to filter horizontal and vertical lines of the plurality of dividing lines to obtain a plurality of remaining dividing lines; a defect determining unit configured
  • the defect determination unit determines that the width of the remaining boundary line is smaller than the width of the defect specification line, the defect determination unit determines that the remaining boundary line is not a defect line.
  • the binarization processing unit compares a grayscale value of each pixel in the specific region with the average grayscale value; wherein, when a grayscale value of a certain pixel in the specific region When the average grayscale value is not less than, the binarization processing unit sets the grayscale value of the certain pixel to "1", When the grayscale value of a certain pixel in the specific region is smaller than the average grayscale value, the binarization processing unit sets the grayscale value of the certain pixel to "0". Further, the width of the boundary line is the same as the width of each of the pixels.
  • the defect detecting method and the defect detecting device of the display panel of the present invention can easily distinguish certain defects of the display panel that are difficult to be detected (for example, bumps or shell cracks on the terminal side of the display panel), thereby improving the detection accuracy. Thereby improving the defect detection capability of the display panel.
  • FIG. 1 is a flow chart showing a defect detecting method of a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a block diagram showing a defect detecting device of a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a flowchart illustrating a defect detecting method of a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • an edge image of the display panel is acquired, and grayscale values of each pixel in the edge image are acquired.
  • an image sensor such as a charge-coupled device (CCD) may be used to scan and image an edge of the display panel with set parameters to acquire an edge image of the display panel, and read the display panel.
  • a specific area is selected in an edge image of the display panel, and grayscale values of each pixel in the specific area are acquired.
  • a selection box can be utilized on the display panel Select a specific area in the edge image.
  • step 101 Since the grayscale value of each pixel in the edge image of the display panel has been read out in step 101, the location can be easily obtained according to the position of the selected specific region in the edge image of the display panel.
  • step 103 the grayscale values of all the pixels in the specific region are averaged to obtain an average grayscale value of all pixels in the specific region.
  • step 104 the grayscale value of each pixel in the specific region is binarized based on the obtained average grayscale value to obtain a plurality of boundaries, wherein the pixels on each boundary line
  • the grayscale value is different from the grayscale value of the pixels other than the pixels on the boundary line in the specific region, that is, the grayscale map of each boundary line and the specific region
  • the grayscale map of the region outside the boundary line has a large grayscale difference, so that each boundary line is easily distinguished.
  • the width of each of the dividing lines may be, for example, the same as the width of each pixel in the specific area, but the present invention is not limited thereto.
  • the grayscale value of each pixel is binarized in the whole specific region according to the average grayscale value of all the pixels in the specific region, which is specifically: The grayscale value of each pixel in the region is compared with the obtained average grayscale value; wherein, when the grayscale value of a certain pixel in the specific region is not less than (ie, greater than or equal to) the average grayscale In the case of the order value, the grayscale value of the certain pixel is set to "1", and when the grayscale value of a certain pixel in the specific region is smaller than the average grayscale value, the grayscale of the certain pixel is The value is set to "0", which converts the grayscale value of each pixel in the specific region into "0" or "1".
  • the gray scale image displayed by the pixel with the grayscale value of "0" is the darkest
  • the grayscale map of the pixel display with the grayscale value of "1" is the whitest
  • the grayscale map displayed by the area outside the dividing line is the darkest
  • the grayscale map displayed by each dividing line is the whitest, so each dividing line can be easily distinguished.
  • horizontal and vertical lines of the plurality of dividing lines in the specific area are filtered to obtain a plurality of remaining dividing lines. It should be understood that some of the remaining dividing lines described herein do not include horizontal lines (i.e., horizontal dividing lines) and vertical lines (i.e., vertical dividing lines).
  • step 106 the plurality of remaining boundary lines are subjected to a pressure defect specification line to determine whether the width of the remaining boundary line (ie, the line width) is smaller than a width of the defect specification line.
  • step 107 is performed to determine that the remaining boundary line is a defect line.
  • step 108 is performed to determine that the remaining boundary line is not a defect line.
  • the defect line here refers to the display panel.
  • the defect is, for example, a defect such as a bump or a shell crack on the terminal side of the display panel.
  • the above-described exemplary embodiments of the present invention may be implemented by hardware, firmware, or implemented as software or computer code that can be stored in a recording medium such as a CD ROM, a RAM, a floppy disk, a hard disk, or a magneto-optical disk, or implemented through a network.
  • a recording medium such as a CD ROM, a RAM, a floppy disk, a hard disk, or a magneto-optical disk, or implemented through a network.
  • the downloaded computer code originally stored in a remote recording medium or non-transitory machine readable medium and stored in a local recording medium, such that the methods or portions of the methods described herein can be stored using a general purpose computer, a dedicated processor, or Such software processing on a recording medium of programmable or dedicated hardware such as an ASIC or FPGA.
  • FIG. 2 is a block diagram showing a defect detecting device of a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • the defect detecting apparatus 200 of the display panel includes: an image acquiring unit 201, a selecting unit 202, a calculating unit 203, a binarization processing unit 204, a filtering unit 205, and a defect judgment.
  • Unit 206 defect determination unit 207.
  • the image acquisition unit 201 is configured to acquire an edge image of the display panel and a grayscale value of each pixel in the edge image.
  • the image acquisition unit 201 can be, for example, but not limited to, an image sensor such as a charge-coupled device (CCD).
  • CCD charge-coupled device
  • the image acquisition unit 201 scans and captures an edge of the display panel with the set parameters to obtain an edge image of the display panel, and reads a gray of each pixel in the edge image of the display panel by using a predetermined program. Order value.
  • the selection unit 202 is configured to select a specific region among the edge images of the display panel acquired by the image acquisition unit 201, and obtain a grayscale value of each pixel in the specific region.
  • the position of the specific region selected by the selection unit 202 in the edge image of the display panel is The grayscale value of each pixel in the specific region can be easily acquired.
  • the calculating unit 203 is configured to average the grayscale values of all the pixels in the specific region to obtain an average grayscale value of all the pixels in the specific region.
  • the binarization processing unit 204 is configured to perform binarization processing on the grayscale value of each pixel in the specific region according to the average grayscale value of all pixels in the specific region obtained by the computing unit 203, Obtaining a plurality of dividing lines, wherein a grayscale value of a pixel on each boundary line is different from a grayscale value of a pixel other than the pixel on the boundary line; that is, a grayscale of each boundary line
  • the map and the grayscale map of the region other than the boundary line in the specific region have a large grayscale difference, so that each of the boundary lines is easily distinguished.
  • each of the dividing lines may be, for example, the same as the width of each pixel in the specific area, but the present invention is not limited thereto.
  • the binarization processing unit 204 performs binarization processing on the grayscale value of each pixel in the entire specific region according to the average grayscale value of all pixels in the specific region, which is specifically: binarization The processing unit 204 compares the grayscale value of each pixel in the specific region with the obtained average grayscale value; wherein, when a grayscale value of a certain pixel in the specific region is not less than (ie, greater than Or equal to the average grayscale value, the binarization processing unit 204 sets the grayscale value of the certain pixel to "1", when the grayscale value of a certain pixel in the specific region is smaller than the average At the grayscale value, the binarization processing unit 204 sets the grayscale value of the certain pixel to "0", such that the binarization processing unit 204 converts the grayscale value of each pixel in the specific region into "
  • the gray scale map displayed by the pixel with the gray scale value of "0" is the darkest
  • the gray scale map of the pixel display with the gray scale value of "1” is the whitest, so that if the specific region is divided
  • the grayscale map displayed in the area other than the dividing line is the darkest
  • the grayscale map displayed by each dividing line is the whitest, so each boundary can be easily distinguished.
  • the filtering unit 205 is configured to filter the horizontal lines and the vertical lines of the plurality of dividing lines to obtain a plurality of remaining dividing lines. It should be understood that some of the remaining dividing lines described herein do not include horizontal lines (i.e., horizontal dividing lines) and vertical lines (i.e., vertical dividing lines).
  • the defect judging unit 206 is configured to judge whether the width of the remaining dividing line (ie, the line width) is smaller than the width of the defect specification line.
  • the defect determining unit 207 is configured to determine whether the remaining dividing line is a defective line based on the judgment of the defect determining unit 206.
  • the defect determination unit 207 determines that the remaining boundary line is a defect line; When the unit 206 determines that the width of the remaining boundary line is smaller than the width of the defect specification line, the defect determination unit 207 determines that the remaining boundary line is not a defect line.
  • the defect line herein refers to a defect on the display panel, such as a defect such as a bump or a shell crack on the terminal side of the display panel.
  • the present invention it is possible to easily distinguish certain defects of the display panel that are difficult to be detected (for example, bumps or shell cracks on the terminal side of the display panel), thereby improving detection accuracy, Thereby improving the defect detection capability of the display panel.

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Abstract

一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置。该缺陷检测方法包括步骤：A）获取显示面板的边缘图像及该边缘图像中每个像素的灰阶值；B）在该边缘图像中选择一特定区域，并获得该特定区域中的每个像素的灰阶值；C）获得该特定区域中的所有像素的平均灰阶值；D）基于该平均灰阶值对该特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理，以获得若干分界线，其中，分界线上的像素的灰阶值与除分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同；E）过滤若干分界线中的水平线和垂直线，以得到若干剩余的分界线；F）对若干剩余的分界线压缺陷规格线，当所述剩余的分界线的宽度不小于与缺陷规格线的宽度时，确定所述剩余的分界线为缺陷线。

Description

说 明 书 显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置 技术领域
本发明涉及显示面板的检测技术领域； 更具体地讲， 涉及一种显示面板的 缺陷检测方法及缺陷检测装置。 背景技术
随着显示技术领域的飞速发展， 高品质图像显示的显示面板 （例如， 液晶 显示面板） 已变得越来越流行。 然而根据现有的显示面板的制造技术， 完全避 免显示缺陷的发生是非常困难也是不现实的， 因此在显示面板的制造工序中， 对显示面板进行显示缺陷检査的工序是十分必要的。 现有技术中， 一般采用光源照射显示面板， 并获取对应的灰阶图， 继而根 据灰阶图是否出现灰阶差异来判定显示面板是否具有缺陷。 然而， 由于某些类 型的缺陷 （例如在显示面板端子侧的凸起或贝壳裂）在光源照射显示面板时对 应灰阶图的灰阶差异较小， 不易被分辨， 极易被漏检， 从而降低对显示面板的 缺陷检测能力。 发明内容
为了解决上述现有技术存在的问题， 本发明的目的在于提供一种能够极易 分辨显示面板上的各种缺陷， 从而提高检测准确率的显示面板的缺陷检测方法 及缺陷检测装置。 根据本发明的一方面， 提供了一种显示面板的缺陷检测方法， 包括步骤：
A) 获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个像素的灰阶值； B ) 在所 述边缘图像中选择一特定区域， 并获得所述特定区域中的每个像素的灰阶值； C) 对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值， 以得到所述特定区域中 的所有像素的平均灰阶值； D) 基于得到的所述平均灰阶值对所述特定区域中 的每个像素的灰阶值进行二值化处理， 以获得若干分界线， 其中， 所述分界线 上的像素的灰阶值与除所述分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同； E) 过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线， 以得到若干剩余的分界线； F) 对 所述若干剩余的分界线压缺陷规格线， 当所述剩余的分界线的宽度不小于所述 缺陷规格线的宽度时， 确定所述剩余的分界线为缺陷线。 进一步地， 所述的缺陷检测方法还包括步骤： G) 当所述剩余的分界线的 宽度小于所述缺陷规格线的宽度时， 确定所述剩余的分界线不为缺陷线。 进一步地， 在所述步骤 D) 中， 所述 "基于得到的所述平均灰阶值来对所 述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理"的具体实现方式为： 将所 述特定区域中的每个像素的灰阶值与所述平均灰阶值进行比较； 其中， 当所述 特定区域中的某个像素的灰阶值不小于所述平均灰阶值时， 将该某个像素的灰 阶值设置为 " 1 "， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值 时， 将该某个像素的灰阶值设置为 "0"。 进一步地， 所述分界线的宽度与每个所述像素的宽度相同。 根据本发明的另一方面， 还提供了一种显示面板的缺陷检测装置， 包括： 图像获取单元， 被配置为获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个像素 的灰阶值； 选择单元， 被配置为在所述边缘图像中选择一特定区域， 并获得所 述特定区域中的每个像素的灰阶值； 计算单元， 被配置为对所述特定区域中的 所有像素的灰阶值取平均值， 以得到所述特定区域中的所有像素的平均灰阶 值； 二值化处理单元， 被配置为基于得到的所述平均灰阶值对所述特定区域中 的每个像素的灰阶值进行二值化处理， 以获得若干分界线， 其中， 所述分界线 上的像素的灰阶值与除所述分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同； 过 滤单元， 被配置为过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线， 以得到若干剩余 的分界线； 缺陷判断单元， 被配置为判断所述剩余的分界线的宽度是否小于所 述缺陷规格线的宽度； 缺陷确定单元， 被配置为当所述缺陷判断单元判断为所 述剩余的分界线的宽度不小于所述缺陷规格线的宽度时， 确定所述剩余的分界 线为缺陷线。 进一步地， 当所述缺陷判断单元判断所述剩余的分界线的宽度小于所述缺 陷规格线的宽度时， 所述缺陷确定单元确定所述剩余的分界线不为缺陷线。 进一步地， 所述二值化处理单元对所述特定区域中的每个像素的灰阶值与 所述平均灰阶值进行比较； 其中， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小 于所述平均灰阶值时，所述二值化处理单元将该某个像素的灰阶值设置为" 1 "， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时， 所述二值化处 理单元将该某个像素的灰阶值设置为 "0"。 进一步地， 所述分界线的宽度与每个所述像素的宽度相同。 本发明的显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测装置， 能够容易地分辨出显 示面板的某些难以被检测出的缺陷（例如在显示面板端子侧的凸起或贝壳裂）， 提高检测准确率， 从而提升对显示面板的缺陷检测能力。
附图说明
通过下面结合附图进行的详细描述， 本发明的上述和其它目的、 特点和优 点将会变得更加清楚， 附图中：
图 1是示出根据本发明的示例性实施例的显示面板的缺陷检测方法的流程 图； 图 2是示出根据本发明的示例性实施例的显示面板的缺陷检测装置的框 图。
具体实施方式
以下， 将参照附图更充分地描述本发明的示例性实施例， 其示例在附图中 示出。 然而， 可以以许多不同的形式实施示例性实施例， 并且本发明不应被解 释为局限于在此阐述的示例性实施例。 相反， 提供这些示例性实施例从而本公 开将会彻底和完整， 并可完全地将示例性实施例的范围传达给本领域的技术人 员。
图 1是示出根据本发明的示例性实施例的显示面板的缺陷检测方法的流程 图。 如图 1所示， 在步骤 101中， 获取显示面板的边缘图像， 并获取所述边缘 图像中每个像素的灰阶值。例如，可利用电荷耦合元件（Charge-coupled Device, CCD)等图像传感器以设定的参数对显示面板的边缘进行扫描取像， 以获取所 述显示面板的边缘图像， 并读取所述显示面板的边缘图像中的每个像素的灰阶 值。 在步骤 102中， 在所述显示面板的边缘图像中选择一特定区域， 并获取所 述特定区域中的每个像素的灰阶值。 例如， 可利用一选择框在所述显示面板的 边缘图像中选择一特定区域。 由于在步骤 101中已经读取出所述显示面板的边 缘图像中的每个像素的灰阶值， 因此根据选择的特定区域在显示面板的边缘图 像中所处的位置， 能够容易地获取所述特定区域中的每个像素的灰阶值。 在步骤 103中， 对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值， 以得到 所述特定区域中的所有像素的平均灰阶值。 然后在步骤 104中， 基于得到的所 述平均灰阶值对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化处理， 以获得 若干分界线， 其中， 每条分界线上的像素的灰阶值与所述特定区域中的除所述 分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同， 也就是说， 每条分界线的灰阶 图与所述特定区域中除所述分界线之外的区域的灰阶图具有较大的灰阶差异， 从而使得每条分界线极易被分辨。 此外， 每条分界线的宽度可例如与所述特定 区域中的每个像素的宽度相同， 但本发明并不局限于此。 此外， 在步骤 104中， 根据得到所述特定区域中的所有像素的平均灰阶值 在整个所述特定区域中对每个像素的灰阶值做二值化处理， 具体为： 将所述特 定区域中的每个像素的灰阶值与得到的所述平均灰阶值进行比较； 其中， 当所 述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于（即大于或等于）所述平均灰阶值时， 将该某个像素的灰阶值设置为 " 1 "， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值小 于所述平均灰阶值时， 将该某个像素的灰阶值设置为 "0"， 这样将所述特定区 域中的每个像素的灰阶值转换成 "0"或 " 1 "。 这里， 可例如以灰阶值为 "0" 代表像素显示的灰阶图最黑， 以灰阶值为 " 1 "代表像素显示的灰阶图最白， 这样， 如果所述特定区域中除每条分界线之外的区域显示的灰阶图为最黑， 而 每条分界线显示的灰阶图为最白， 因此能够容易地分辨出每条分界线。 在步骤 105中， 将所述特定区域中的所述若干分界线中的水平线和垂直线 进行过滤， 以得到若干剩余的分界线。 应当理解， 这里所述的若干剩余的分界 线是不包括水平线 （即水平分界线） 和垂直线 （即垂直分界线）。 在步骤 106中， 对所述若干剩余的分界线进行压缺陷规格线， 以判断所述 剩余的分界线的宽度 （即线宽） 是否小于与所述缺陷规格线的宽度重合。 当在 步骤 106判断为所述剩余的分界线的宽度不小于与所述缺陷规格线的宽度时， 则执行步骤 107， 确定所述剩余的分界线为缺陷线。 当在步骤 106判断为所述 剩余的分界线的宽度小于所述缺陷规格线的宽度时， 则执行步骤 108， 确定所 述剩余的分界线不为缺陷线。 应该理解， 这里的缺陷线指的是所述显示面板上 的缺陷， 例如在所述显示面板端子侧的凸起或贝壳裂等缺陷。 本发明的上述示例性实施例可通过硬件、 固件实现， 或者被实现为可存储 在记录介质 （诸如 CD ROM、 RAM, 软盘、 硬盘或磁光盘） 中的软件或计算 机代码， 或者被实现通过网络下载的原始存储在远程记录介质或非暂时机器可 读介质中并将被存储在本地记录介质中的计算机代码， 从而在此描述的方法或 部分方法可被存储在使用通用计算机、 专用处理器或者可编程或专用硬件（诸 如 ASIC或 FPGA) 的记录介质上的这样的软件处理。 可以理解， 计算机、 处 理器、微处理器控制器或可编程硬件包括可存储或接收软件或计算机代码的存 储组件 （例如， RAM、 ROM, 闪存等）， 当所述软件或计算机代码被计算机、 处理器或硬件访问且执行时， 实现在此描述的处理方法。 此外， 当通用计算机 访问用于实现在此示出的处理的代码时， 代码的执行将通用计算机转换为用于 执行在此示出的处理的专用计算机。 图 2是示出根据本发明的示例性实施例的显示面板的缺陷检测装置的框 图。
如图 2所示， 根据本发明的示例性实施例的显示面板的缺陷检测装置 200 包括： 图像获取单元 201、选择单元 202、计算单元 203、二值化处理单元 204、 过滤单元 205、 缺陷判断单元 206、 缺陷确定单元 207。 图像获取单元 201用于获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个像 素的灰阶值。 具体而言， 图像获取单元 201可例如是， 但不限于， 电荷耦合元 件 （Charge-coupled Device, CCD) 等图像传感器。 利用图像获取单元 201以 设定的参数对显示面板的边缘进行扫描取像， 以获取所述显示面板的边缘图 像， 并利用既定程式读取所述显示面板的边缘图像中的每个像素的灰阶值。 选择单元 202用于在由图像获取单元 201获取的显示面板的所述边缘图像 中选择一特定区域， 并获得该特定区域中的每个像素的灰阶值。 这里， 由于已 由图像获取单元 201读取出所述显示面板的边缘图像中的每个像素的灰阶值， 因此根据选择单元 202选择的特定区域在显示面板的边缘图像中所处的位置， 能够容易地获取所述特定区域中的每个像素的灰阶值。 计算单元 203用于对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值， 以得 到所述特定区域中的所有像素的平均灰阶值。 二值化处理单元 204用于根据由计算单元 203得到的所述特定区域中的所 有像素的所述平均灰阶值对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行二值化 处理， 以获得若干分界线， 其中， 每条分界线上的像素的灰阶值与除所述分界 线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同； 也就是说， 每条分界线的灰阶图与 所述特定区域中除所述分界线之外的区域的灰阶图具有较大的灰阶差异， 从而 使得每条分界线极易被分辨。 此外， 每条分界线的宽度可例如与所述特定区域 中的每个像素的宽度相同， 但本发明并不局限于此。 此外， 二值化处理单元 204根据得到所述特定区域中的所有像素的平均灰 阶值在整个所述特定区域中对每个像素的灰阶值做二值化处理， 具体为： 二值 化处理单元 204将所述特定区域中的每个像素的灰阶值与得到的所述平均灰阶 值进行比较； 其中， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于 （即大于或 等于）所述平均灰阶值时， 二值化处理单元 204将该某个像素的灰阶值设置为 " 1 "， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时， 二值化 处理单元 204将该某个像素的灰阶值设置为 "0 "， 这样二值化处理单元 204将 所述特定区域中的每个像素的灰阶值转换成 " 0 "或 " 1 "。 这里， 可例如以灰 阶值为 "0"代表像素显示的灰阶图最黑， 以灰阶值为 " 1 "代表像素显示的灰 阶图最白， 这样， 如果所述特定区域中除每条分界线之外的区域显示的灰阶图 为最黑， 而每条分界线显示的灰阶图为最白， 因此能够容易地分辨出每条分界
过滤单元 205用于过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线， 以得到若干 剩余的分界线。 应当理解， 这里所述的若干剩余的分界线是不包括水平线 （即 水平分界线） 和垂直线 （即垂直分界线）。 缺陷判断单元 206用于判断所述剩余的分界线的宽度 （即线宽）是否小于 与所述缺陷规格线的宽度。 缺陷确定单元 207用于基于所述缺陷判断单元 206 的判断来确定所述剩余的分界线是否为缺陷线。 具体而言， 当所述缺陷判断单 元 206判断为所述剩余的分界线的宽度不小于所述缺陷规格线的宽度时， 缺陷 确定单元 207确定所述剩余的分界线为缺陷线； 当缺陷判断单元 206判断所述 剩余的分界线的宽度小于所述缺陷规格线的宽度时，所述缺陷确定单元 207确 定所述剩余的分界线不为缺陷线。 应该理解， 这里的缺陷线指的是所述显示面 板上的缺陷， 例如在所述显示面板端子侧的凸起或贝壳裂等缺陷。 综上所述， 根据本发明的示例性实施例， 能够容易地分辨出显示面板的某 些难以被检测出的缺陷 （例如在显示面板端子侧的凸起或贝壳裂）， 提高检测 准确率， 从而提升对显示面板的缺陷检测能力。
尽管已经参照其示例性实施例具体显示和描述了本发明， 但是本领域的技 术人员应该理解， 在不脱离权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下， 可以对其进行形式和细节上的各种改变。

Claims

权利要求书
1、 一种显示面板的缺陷检测方法， 其中， 包括以下步骤：
A) 获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个像素的灰阶值；
B ) 在所述边缘图像中选择一特定区域， 并获得所述特定区域中的每个像 素的灰阶值；
C) 对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值， 以得到所述特定区 域中的所有像素的平均灰阶值；
D) 基于得到的所述平均灰阶值对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进 行二值化处理， 以获得若干分界线， 其中， 所述分界线上的像素的灰阶值与除 所述分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同；
E)过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线， 以得到若干剩余的分界线;
F) 对所述若干剩余的分界线压缺陷规格线， 当所述剩余的分界线的宽度 不小于所述缺陷规格线的宽度时， 确定所述剩余的分界线为缺陷线。
2、 根据权利要求 1所述的缺陷检测方法， 其中， 还包括步骤：
G) 当所述剩余的分界线的宽度小于所述缺陷规格线的宽度时， 确定所述 剩余的分界线不为缺陷线。
3、 根据权利要求 1所述的缺陷检测方法， 其中， 在所述步骤 D) 中， 所 述 "基于得到的所述平均灰阶值来对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行 二值化处理"的具体实现方式为： 将所述特定区域中的每个像素的灰阶值与所 述平均灰阶值进行比较； 其中， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于 所述平均灰阶值时， 将该某个像素的灰阶值设置为 " 1 "， 当所述特定区域中的 某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时，将该某个像素的灰阶值设置为" 0"。
4、 根据权利要求 2所述的缺陷检测方法， 其中， 在所述步骤 D) 中， 所 述 "基于得到的所述平均灰阶值来对所述特定区域中的每个像素的灰阶值进行 二值化处理"的具体实现方式为： 将所述特定区域中的每个像素的灰阶值与所 述平均灰阶值进行比较； 其中， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于 所述平均灰阶值时， 将该某个像素的灰阶值设置为 " 1 "， 当所述特定区域中的 某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时，将该某个像素的灰阶值设置为" 0"。
5、 根据权利要求 1所述的缺陷检测方法， 其中， 所述分界线的宽度与每 个所述像素的宽度相同。
6、 根据权利要求 2所述的缺陷检测方法， 其中， 所述分界线的宽度与每 个所述像素的宽度相同。
7、 根据权利要求 3所述的缺陷检测方法， 其中， 所述分界线的宽度与每 个所述像素的宽度相同。
8、 根据权利要求 4所述的缺陷检测方法， 其中， 所述分界线的宽度与每 个所述像素的宽度相同。
9、 一种显示面板的缺陷检测装置， 其中， 包括： 图像获取单元，被配置为获取显示面板的边缘图像及所述边缘图像中每个 像素的灰阶值； 选择单元， 被配置为在所述边缘图像中选择一特定区域， 并获得所述特定 区域中的每个像素的灰阶值； 计算单元， 被配置为对所述特定区域中的所有像素的灰阶值取平均值， 以 得到所述特定区域中的所有像素的平均灰阶值； 二值化处理单元， 被配置为基于得到的所述平均灰阶值对所述特定区域中 的每个像素的灰阶值进行二值化处理， 以获得若干分界线， 其中， 所述分界线 上的像素的灰阶值与除所述分界线上的像素之外的其它像素的灰阶值不同； 过滤单元， 被配置为过滤所述若干分界线中的水平线和垂直线， 以得到若 干剩余的分界线； 缺陷判断单元，被配置为判断所述剩余的分界线的宽度是否小于所述缺陷 规格线的宽度； 缺陷确定单元，被配置为当所述缺陷判断单元判断为所述剩余的分界线的 宽度不小于所述缺陷规格线的宽度时， 确定所述剩余的分界线为缺陷线。
10、 根据权利要求 9所述的缺陷检测装置， 其中， 当所述缺陷判断单元判 断所述剩余的分界线的宽度小于所述缺陷规格线的宽度时， 所述缺陷确定单元 确定所述剩余的分界线不为缺陷线。
11、 根据权利要求 9所述的缺陷检测装置， 其中， 所述二值化处理单元对 所述特定区域中的每个像素的灰阶值与所述平均灰阶值进行比较； 其中， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于所述平均灰阶值时， 所述二值化处理单元将该某个像素的灰阶值设置为 " 1 "， 当所述特定区域中的 某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时， 所述二值化处理单元将该某个像素 的灰阶值设置为 "0"。
12、 根据权利要求 10所述的缺陷检测装置， 其中， 所述二值化处理单元 对所述特定区域中的每个像素的灰阶值与所述平均灰阶值进行比较； 其中， 当所述特定区域中的某个像素的灰阶值不小于所述平均灰阶值时， 所述二值化处理单元将该某个像素的灰阶值设置为 " 1 "， 当所述特定区域中的 某个像素的灰阶值小于所述平均灰阶值时， 所述二值化处理单元将该某个像素 的灰阶值设置为 "0"。
13、 根据权利要求 9所述的缺陷检测装置， 其中， 所述分界线的宽度与每 个所述像素的宽度相同。
14、 根据权利要求 10所述的缺陷检测装置， 其中， 所述分界线的宽度与 每个所述像素的宽度相同。
15、 根据权利要求 11所述的缺陷检测装置， 其中， 所述分界线的宽度与 每个所述像素的宽度相同。
16、 根据权利要求 12所述的缺陷检测装置， 其中， 所述分界线的宽度与 每个所述像素的宽度相同。
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