WO2014198617A1 - Bereitstellen einer information über einen alterungszustand eines halbleiterbauelements - Google Patents

Bereitstellen einer information über einen alterungszustand eines halbleiterbauelements Download PDF

Info

Publication number
WO2014198617A1
WO2014198617A1 PCT/EP2014/061651 EP2014061651W WO2014198617A1 WO 2014198617 A1 WO2014198617 A1 WO 2014198617A1 EP 2014061651 W EP2014061651 W EP 2014061651W WO 2014198617 A1 WO2014198617 A1 WO 2014198617A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
semiconductor device
semiconductor
current
information
temperature
Prior art date
Application number
PCT/EP2014/061651
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Marco BOHLLÄNDER
Original Assignee
Siemens Aktiengesellschaft
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Aktiengesellschaft filed Critical Siemens Aktiengesellschaft
Priority to EP14728930.0A priority Critical patent/EP2989474B1/de
Priority to CN201480033683.9A priority patent/CN105431745B/zh
Publication of WO2014198617A1 publication Critical patent/WO2014198617A1/de

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2621—Circuits therefor for testing field effect transistors, i.e. FET's
    • G01R31/2628—Circuits therefor for testing field effect transistors, i.e. FET's for measuring thermal properties thereof
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2642—Testing semiconductor operation lifetime or reliability, e.g. by accelerated life tests

Definitions

  • the present invention relates to a method for providing ⁇ information about an aging state of a semiconductor device of the power electronics.
  • information should be able to be provided via a semiconductor component of a power converter of an electrically operated vehicle or windmill.
  • the present invention relates to a power semiconductor device that provides corresponding information about the aging state of a semiconductor device.
  • Power semiconductors age. Analogous to the profile of a car tire, power semiconductors (IGBT, diode, MOSFET, etc.) make use of the failure.
  • IGBT Indium Tin-Oxide
  • MOSFET MOSFET
  • the power semiconductor ⁇ conductor When using the power semiconductor ⁇ conductor in a power converter of an electrically driven vehicle, such a failure at a spontaneous total failure of the power converter output stage, as a result, the motor vehicle is unable to operate ⁇ may result. Similar to autorei ⁇ fen, the profile of wear depends on the road surface properties, the driver's driving behavior and the weather, the power semiconductor ages at different speeds also in dependence of many applica tion ⁇ parameter. However, unlike the tires of the aging state of the power semi ⁇ conductor can not be detected with visual inspection.
  • the virtual junction temperature (only indirectly measurable) is necessary and furthermore the forward voltage at load current is expedient.
  • the virtual junction temperature (measured with a measurement current) in conjunction with the power loss that generates this virtual junction temperature gives information about the internal old state of the semiconductor, while the forward voltage at load current (two to four orders of magnitude larger than the measurement current) provides information about the state chip top side contact.
  • Load cycle tests are type tests that take place in the development / qualification phase of the power semiconductors, which are used to determine the service life curves of the power semiconductors.
  • the power semi ⁇ conductor must before starting the test to determine the virtual junction temperature are selectively calibrated (hereinafter also referred to "junction temperature").
  • junction temperature The now common metho ⁇ en, the "passive calibration" in which the semiconductor is heated from the outside, must be Additional equipment can be carried out (heating chamber or heating plate) and can not be done in the place of use (inverter).
  • a method for determining the Temperaturkalibrierkennline a semiconductor device of the power electronics is known.
  • the power terminals of the semiconductor device are connected together with a first current source for a load current, with a second current source for a measuring current, with a voltmeter for measuring the voltage dropping across either the power terminals or to the power terminals connected auxiliary terminals voltage.
  • the semiconductor device connected to a data processing system is heated at intervals when switched on the first power source via the power loss.
  • the at shutdown The first current source and the second current source connected via the power or auxiliary terminals, voltage between the intervals after a determined by the main thermal time constant of the semiconductor device time is measured as the temperature representing values.
  • the temperature is detected by means of at least ei ⁇ NEN coupled to the semiconductor component and with the Da ⁇ ten kaussystem interconnected temperature sensor and the respective temperature conces- assigns the voltage value.
  • the values and the temperatures form, after an approximation, the calibration characteristic of the semiconductor component.
  • DE 10 2010 000 875 A1 teaches a method for determining the junction temperature of a power transistor in a power converter. The method can be used to detect signs of aging and to predict the remaining life of the power semiconductor also by theificatwi ⁇ resistor of the power transistor is calculated. Furthermore, WO 2013/075 733 AI teaches a method for determining the junction temperature of a power transistor in a power converter. The method can be used to detect signs of aging and to predict the remaining life of the power semiconductor also by theificatwi ⁇ resistor of the power transistor is calculated. Furthermore, WO 2013/075 733 AI teaches a method for determining the junction temperature of a power transistor in a power converter. The method can be used to detect signs of aging and to predict the remaining life of the power semiconductor also by theificatwi ⁇ resistor of the power transistor is calculated. Furthermore, WO 2013/075 733 AI teaches a method for determining the junction temperature of a power transistor in a power converter. The method can be used to detect signs of aging
  • an unloaded reference transistor is arranged together with the power transistors on a common substrate.
  • the reference transistor and at least one power transistor are subjected to a test current, wherein the method for monitoring the power transistors ⁇ now determines their expected residual life.
  • the object of the present invention is to be able to better determine the aging of a semiconductor component in the field.
  • this object is achieved by a method for providing information about an aging state of a semiconductor component of the power electronics
  • thermal resistance of the semiconductor device from the quotient of a temperature lift and a power loss of the semiconductor device
  • the invention provides a Leis ⁇ tung semiconductor device for an electrical machine with
  • a measuring device for performing the following steps:
  • a calibration of the semiconductor element recorded in which a temperature-voltage characteristic and a resistance reference value for the thermal resistance of the semiconductor for the removal of heat loss to au .
  • voltage measurements are carried out before and after an active He warming of the semiconductor device.
  • a change in the thermal resistance gives information about the aging state of the semiconductor device. Without much effort can thus be obtained during the field use of the semiconductor device information about its aging ⁇ condition.
  • the current temperature value which is obtained from the current voltage on the basis of the characteristic, it is preferably proposed to the virtual temperature of a barrier layer of the semiconductor device or a this temperature represents my ⁇ leaders value.
  • an internal semi ⁇ conductor temperature is used directly for the estimation of aging and not a temperature outside of the Halbleiterbauele- element.
  • the measurement current is at least two sizes ⁇ magnitude smaller than the load current.
  • a measuring current which is between 0.25 and 1 »of the rated current or load current. Since the load current source naturally in the
  • Powertrain of an electrically operated vehicle is present, it usually requires for carrying out the method according to the invention only an additional small current measuring current source in the corresponding semiconductor teran Aunt and a voltage measuring device.
  • the load current for heating of the semiconductor device can be ge ⁇ pulses. Thus, it is not necessarily necessary to heat with direct current or a sinusoidal alternating current.
  • the semiconductor device may be integrated (e.g., integrated into a
  • Power converter may be connected to an electric machine, and the electric machine is energized with the load current for heating the semiconductor device so that the electric machine does not substantially move.
  • the load ⁇ current is thus used for the measurement cycle exclusively for the generation of heat loss.
  • the method according to the invention for providing the information about the aging state of the semiconductor device takes place immediately before the start or after an operating end of the electrical machine which is connected as a load to the semiconductor component .
  • the user of the electric machine can be given a corresponding old approximately ⁇ information or corresponding information (eg, driver of a motor vehicle).
  • the determination of the temperature-voltage characteristic before the in ⁇ commissioning of the semiconductor device can be conveniently carried out by the same means as the measurement of the voltage across the semiconductor device and the heating of the semiconductor device after start-up of the semiconductor device.
  • the same components eg measuring current source, load current source, voltmeter, etc.
  • the same components are used both for active calibration and for later measurement. This compensates for systematic errors which would possibly arise if different equipment were used for calibration and measurement.
  • the semiconductor device may be part of a power converter. This allows, for example, a premature failure of a power converter to be detected.
  • the semiconductor component is part of one of a plurality of half bridges of the power converter, wherein the half bridges are cooled in series with each other by ademit- current, and only from the last in the coolant flow half bridge the aging state is estimated.
  • a power of the semiconductor device can be controlled.
  • the power of an nes converter can be reduced if a failure of the semiconductor device is expected in the near future.
  • the method according to the invention or the power semiconductor device according to the invention can preferably be embodied or integrated in a motor vehicle or a wind turbine.
  • a driver can be informed in good time about an upcoming workshop appointment.
  • the maintenance and repair service provider can, by means of the timely transmission of the information about the aging status of the semiconductor components to him, be prepared logistically and technically.
  • the require ⁇ a program of preventive maintenance are essential support.
  • An aligned planning for exchanging the semiconductor device with the proposed method can now advantageously ensure that physical and personal resources are used more cost-effectively and on time.
  • the information ⁇ and / or diagnostic system that provides visual and / or acoustically the application-related groove ⁇ zer from the derived information about the state of aging of the semiconductor components technical information and corresponding options for action, is connected to the communication system at the installation site of the semiconductor components, which comprises information on the Aging states of the semiconductor devices receives commu ⁇ nicically connected.
  • FIG. 2 shows a circuit arrangement for measuring electrical quantities in a half-bridge
  • FIG. 3 shows a characteristic of the virtual junction temperature over the collector-emitter voltage
  • FIG. 5 shows a basic structure of a cooling system for three half-bridges of a power converter.
  • the life-time simulation continues to serve as an indispensable basic design of the power semiconductors. It will be explained with reference to FIG. 1 how up to now the service life of power semiconductor components has been determined and what contribution the present invention makes.
  • the example of FIG. 1 relates to the power converter or converter of an electrically operated vehicle. But the information on the state of aging can be done for any other Leis ⁇ processing semiconductor similarly.
  • the example of the power ⁇ vehicle should preferably be the life expected ei ⁇ nes (IGBT or MOSFET) estimated the inverter output advertising to.
  • the travel profile F is converted into a temperature profile for the inverter. Then, the temperature profile is mapped to a function exposed by the power semiconductor manufacturer ⁇ life curve. There- out can then estimate the life of the IGBTs of the converters or converters for an average driving profile F. In fact, however, there are different driving cycles for each of the n different drivers, so that the service life of the power semiconductors in each case also varies
  • the inverter 2 is equipped with a voltage measuring device 3 and a measuring current source 4.
  • Components 3, 4 of the power converter is preferably a so-called "active Kali ⁇ bration" occurs at the end of the manufacturing process in the final inspection.
  • the characteristic of the virtual junction temperature over the collector-emitter voltage with the measuring current source 4 determines (500 mA for example) provides a tinctze ⁇ SSIG low measuring current.
  • the heating of the power semiconductor device is carried out with the much more powerful load current source, the additional Zeitauf ⁇ wall for the "active calibration”. sec per converter about 15 to 30 s. An additional measuring equipment next to a temperature sensor is not necessary.
  • This information (Info) can relate to the current age state of the semiconductor device or an estimate of the remaining life. The latter can be based on an updating of the individual driving profile
  • Herge ⁇ represents an actual relation between the determination of the aging state and the individual driving profile.
  • Each power converter can thus be monitored individually. For example, when starting the engine or after stopping the vehicle, a test can be carried out that lasts about 1/5 of the time in the final test (see Calibration 5), ie about 3 to 6 seconds.
  • FIG 2 shows a part of a power converter, as it is customarily ⁇ used in electrically powered vehicles.
  • a first IGBT 1 and a second IGBT 2 each having a free-wheeling diode D 1, D 2 connected in parallel, form a half-bridge and are connected in series to a DC link with the terminals DC and DC +.
  • a load 9 which is symbolized by an inductance L and a resistor R.
  • a shunt or another current sensor may be provided between the center tap 8 and the inductance L in order to be able to carry out a current measurement for the determination of the power loss (see below).
  • the voltmeter 3 is now connected to the collector-emitter path or an auxiliary collector auxiliary emitter path of the first IGBT 1.
  • the measuring current source 4 is connected between the emitter of the IGBT 1 and the center tap 8 or between the auxiliary emitter and the auxiliary collector. It supplies a measuring current I_Mess.
  • the measurement for measuring current needs the aforementioned potash ⁇ bration 5.
  • led throughput that is described in the subsequently published DE 10 2012 005 815 "active calibration", which takes less than a minute.
  • the active calibration is characterized by the fact that the temperature calibration characteristic is obtained by active heating of the test ⁇ ling by their own power loss.
  • the module in the form of the semiconductor device of the power electronics is active, that is, heated with a load current. The heating process takes place in one or more intervals.
  • the semiconductor device is not cooled, only the thermal capacities of the water cooler or Ka of the air cooler at ist ⁇ fan is switched to charge.
  • the chip is actively heated in the module for a defined time via the load current and the resulting forward voltage. After From ⁇ turn of the load current of the measuring current on the performance is fed line connections.
  • the measuring current can be fed even when the load current is flowing, since the heating resulting from the flowing measuring current is negligible compared to that from the load current.
  • the temperature above the chip drops sharply.
  • the chip temperature reaches after a certain time approximately the temperature of the heat sink. After that both sink the same fast.
  • the time until both temperatures are approximately at the same level can be estimated from the largest main thermal time constant of the semiconductor component .
  • the main thermal time constant can be determined from the manufacturer's instructions, is an indication determined by the manufacturer or can be estimated.
  • the power converter or a semiconductor component of it is preferably supplied pulsed with deactivated cooling by the load current source 7 with power.
  • an IGBT is fed with appropriate control from the intermediate circuit, whereby a current flow I_Last by the IGBT 1 and the load 9 is formed and the IGBT, ie the semiconductor device, heats up.
  • the load is usually a choke or an electric motor in the test field at the end ⁇ test. After commissioning of the semiconductor device, the load is in the case of a motor vehicle whose electric motor.
  • the temperature equibrium in the power semiconductor is waited for, which can take about 3 to 10 s.
  • the measuring current I_Mess from the measuring current source 4 is fed and a pair of values of the calibration curve ⁇ Uce; Tvj ⁇ recorded. This is repeated once or several times ("active calibration").
  • active calibration the calibration can also be obtained by other methods.
  • the temperature value during the calibration is obtained, for example, by an NTC resistor (negative temperature coefficient).
  • the resulting calibration characteristic (see FIG. 3) is stored in the converter or power converter.
  • the forward voltage at load current I_Last is measured (z. B. by means of the above-mentioned shunt) and also stored. Calibration of the electronic components is not necessary insofar as systematic errors in the calibration and in the measurement compensate each other.
  • the IGBT is pulsed in a manner comparable to the final test.
  • the load 9 is now the motor winding.
  • the forward voltage drop Uce at load current I_load (bond output) and at measurement current I_Mess (thermal resistance) is measured and compared with the reference value Rth, ref obtained during the final test from the final test (that is to say before the semiconductor device is put into operation). The deviations are used to determine aging conditions.
  • step S1 the determination of an aging state of a semiconductor component in the power electronics (in short power semiconductor component or power semiconductor) will now be explained in more detail in connection with FIG.
  • step S1 the mentioned calibration is carried out in order to determine the temperature characteristic according to FIG.
  • step S1 the mentioned calibration is carried out in order to determine the temperature characteristic according to FIG.
  • step S1 the usual “passive Calibration” or other calibration.
  • a reference value Rth, ref for the thermal resistance from the semiconductor component to the outside, for example, to a heat sink (cooler) is also determined.
  • the loss Leis ⁇ tung example is the product of the load current I_Last through the IGBT 1 and the forward voltage Uce the IGBT 1 (measured by the voltage measurement unit 3).
  • the temperature deviation ⁇ is determined as in the subsequent steps S3 and S4.
  • the Layer structure of the semiconductor device not yet aged and it results in the reference value Rth, ref.
  • a concrete aging state is to be found now or be given for a residual life a pre ⁇ forecasting.
  • a reference temperature is determined Tref of the half ⁇ circuit device first, in Step S3, by applying the voltage Uce is measured at half ⁇ semiconductor device IGBT 1 and the corresponding locking ⁇ bed temperature is determined as Tref then using the characteristic (see FIG. 3).
  • a current temperature Ta is determined.
  • the heating of the semiconductor device takes place in ⁇ example by a short load current pulse. The losses in the semiconductor device cause the corresponding heating.
  • the collector-emitter voltage (generally the voltage across the blocking layer of the semiconductor component) is measured during measurement current. From the tempera ⁇ turkennline of FIG 3, finally, the current tempera ture Ta is obtained.
  • step S5 the current thermal resistance Rth, a is determined, which the semiconductor device now currently has.
  • the temperature deviation between the current temperature Ta (current temperature value) and the reference temperature Tref (temperature reference value) determined in step S3 is determined.
  • the resulting temperature swing is then divided by the power dissipation that resulted in the heating of the semiconductor device.
  • step S6 the difference ARth between the aktuel ⁇ len thermal resistance Rth, a and the resistance reference value Rth, ref is determined and compared in step S7, for example, with a threshold. If the difference ARth exceeds, for example, a threshold value, then the thermal resistance of the semiconductor component has increased significantly and it has a correspondingly high aging has occurred. Consequently, corresponding information can be output to the driver or a device. The information can also be generated by any other operation depending on the difference ARth.
  • a power converter 10 of an electrically powered motor vehicle according to FIG 5 has un ⁇ ter alia, three half bridges HB1, HB2 and HB3. These are cooled by a cooling device, which is flowed through by a cooling medium (eg 50/50 water / glycol mixture).
  • the cooling medium 11 flows past the half bridges HB1 to HB3 in series. This means that, according to the temperature profile shown in FIG. 5, the coolant initially has the lowest temperature Tin when it cools the half-bridge HB1.
  • Cooling medium 11 continues to heat up until it has absorbed the power loss (or the heat flow) of the half-bridge HB3 at the end and has reached the outlet temperature Tout. Accordingly, the half-bridge HB3 is warmer than the half-bridge HB2 even with symmetrical heating which of their ⁇ hand is warmer than the half-bridge HB1. It is therefore sufficient to determine the aging state of the HB3 half-bridge in order to determine the state of aging of the power converter. In this case, as ⁇ derum, it suffices to analyze an IGBT or a diode of the half bridge with respect to age.
  • an "active calibration ⁇ method" with the known from load change tests Aging is monitoring functions in a Serienumrichter for lifetime about test used in the field.
  • the driver can be in detecting an aging given a case-specific information that, for example, to a workshop
  • the power of the converter can also be throttled in the event of advanced aging, thus avoiding the vehicle being immobilized due to age-related failure of the power semiconductors.It is possible to react to a possible failure or, alternatively, in other applications predictable actual loads are used, eg. B. wind turbine converter. This is particularly advantageous because offshore plants have a very low accessibility and are often exposed to high load cycling.
  • the present invention is not on
  • Power converter let alone limited to power converter with half bridges. Rather, the present invention can also be used for differently used power semiconductors.
  • the calibration characteristic curve it is sufficient to record two points for the calibration characteristic curve: one at room temperature (completely possible without load current flow) and one at, for example, 90 ° C. after a single current pulse of, for example, 5 s. Also the current for this
  • the present invention is also particularly applicable to electrically powered vehicles that are powered by a high voltage battery. Accordingly, the converters switch there against the intermediate circuit voltage, which is 400 V in motor vehicles. In power converters for wind turbines, the intermediate circuit voltage is sometimes also at several kV. The switching frequencies of converters in automobiles and wind turbines are usually in the kHz range.
  • the method for determining the aging state can be optimized by ⁇ because that measurements are used repeatedly. For example, the collector-emitter voltage Uce at load current must be measured to determine the power loss. Since this measurement is also necessary for the determination of bond outputs, two pieces of information can be obtained from it.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)

Abstract

Für einen konkreten Leistungshalbleiter soll der Alterungszustand zuverlässiger bestimmt werden können. Dazu werden vor Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements (IGBT 1) eine Temperatur-Spannungs-Kennlinie (S1) und ein Widerstandsreferenzwert (S2) des thermischen Widerstands des Halbleiterbauelements ermittelt. Nach der Inbetriebnahme wird dann zur Bestimmung eines aktuellen thermischen Widerstandswerts (S5) ein Temperaturhub des Halbleiterbauelements bei dessen Erwärmung bestimmt (S3,S4). Anschließend wird ein Unterschied zwischen dem aktuellen thermischen Widerstandswert und dem Widerstandsreferenzwert ermittelt (S6) und in Abhängigkeit davon eine Information über den Alterszustand abgegeben (S7).

Description

Beschreibung
Bereitstellen einer Information über einen Alterungszustand eines Halbleiterbauelements
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bereit¬ stellen einer Information über einen Alterungszustand eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik. Insbesondere soll eine derartige Information über ein Halbleiterbauelement eines Stromrichters eines elektrisch betriebenen Fahrzeugs oder Windrads bereitgestellt werden können. Darüber hinaus betrifft die vorliegende Erfindung eine Leistungshalbleitervorrichtung, die eine entsprechende Information über den Alterungszustand eines Halbleiterbauelements bereitstellt.
Leistungshalbleiter altern. Analog zu dem Profil eines Autoreifens nutzen sich Leistungshalbleiter (IGBT, Diode, MOSFET etc.) bishin zum Ausfall ab. Bei Einsatz des Leistungshalb¬ leiters in einem Stromrichter eines elektrisch betriebenen Fahrzeugs kann ein solcher Ausfall zu einem spontanen Totalausfall der Stromrichterendstufe, in dessen Folge das Kraft¬ fahrzeug fahruntüchtig ist, führen. Ähnlich wie bei Autorei¬ fen, deren Profilabnutzung von den Fahrbahneigenschaften, dem Fahrverhalten des Fahrers und vom Wetter abhängt, altert der Leistungshalbleiter ebenfalls in Abhängigkeit vieler Applika¬ tionsparameter unterschiedlich schnell. Anders jedoch als beim Autoreifen kann der Alterungszustand des Leistungshalb¬ leiters nicht mit Sichtprüfung ermittelt werden. Zur Messung des Lebensdauerverbrauchs ist die virtuelle Sperrschichttem- peratur (nur indirekt messbar) notwendig und darüber hinaus die Durchlassspannung bei Laststrom zweckmäßig. Die virtuelle Sperrschichttemperatur (gemessen mit einem Messstrom) in Verbindung mit der Verlustleistung, die diese virtuelle Sperrschichttemperatur erzeugt gibt Auskunft über den inneren Alt- erstzustand des Halbleiters, während die Durchlassspannung bei Laststrom (zwei bis vier Größenordnungen größer als der Messstrom) Auskunft über den Zustand der Chipoberseitenkon- taktierung gibt. Diese Messmethoden werden bei Lastwechseltests angewandt. Lastwechseltests sind in der Entwicklungs-/Qualifizierungs- phase der Leistungshalbleiter stattfindende Typprüfungen, anhand deren Ergebnisse die Lebensdauerkurven der Leistungs- halbleiter ermittelt werden. Dazu müssen die Leistungshalb¬ leiter vor Testbeginn zur Bestimmung der virtuellen Sperrschichttemperatur (im Folgenden auch kurz „Sperrschichttemperatur") selektiv kalibriert werden. Die heute übliche Metho¬ de, die „passive Kalibrierung", bei der der Halbleiter von außen erwärmt wird, muss mit Zusatzequipment durchgeführt werden (Wärmekammer oder Heizplatte) und kann nicht im Einsatzort (Umrichter) erfolgen.
Bislang wurde im Vorfeld während der Produktentwicklung be- rechnet, wie lange der jeweilige Leistungshalbleiter seine Funktion erfüllt. Zur Schätzung der Lebensdauer der Leistungshalbleiter im Kraftfahrzeugbereich werden verschiedene Fahrprofile in einer Lebensdauersimulation an den Lebensdauerkurven der Leistungshalbleiter gespiegelt. Die Qualität der Rechnung ist zum einen vom Praxisbezug des Fahrprofils abhän¬ gig und zum anderen von der späteren Realität, also ob sich der Fahrer des elektrisch betriebenen Fahrzeugs tatsächlich an das Fahrprofil des Herstellers hält. Letzteres ist vermut¬ lich eher selten der Fall. Eine Messung des Lebensdauerver- brauchs bzw. der Alterungsrate im Feld erfolgt bislang nicht.
Aus der nachveröffentlichten DE 10 2012 005 815 ist ein Verfahren zur Ermittlung der Temperaturkalibrierkennlinie eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik bekannt. Dazu werden die Leistungsanschlüsse des Halbleiterbauelements mit einer ersten Stromquelle für einen Laststrom, mit einer zweiten Stromquelle für einen Messstrom, mit einem Voltmeter zur Messung der über entweder die Leistungsanschlüsse oder mit den Leistungsanschlüssen verbundenen Hilfsanschlüsse abfal- lenden Spannung zusammengeschaltet. Weiterhin wird das mit einem Datenverarbeitungssystem verbundene Halbleiterbauelement in Intervallen bei zugeschalteter erster Stromquelle über dessen Verlustleistung erwärmt. Die bei abgeschalteter erster Stromquelle und zugeschalteter zweiter Stromquelle über die Leistungs- oder Hilfsanschlüsse abfallende Spannung zwischen den Intervallen nach einer durch die thermische Hauptzeitkonstante des Halbleiterbauelements bestimmten Zeit- dauer wird als die Temperatur repräsentierenden Werte gemessen. Gleichzeitig wird die Temperatur mittels wenigstens ei¬ nen an das Halbleiterbauelement gekoppelten und mit dem Da¬ tenverarbeitungssystem zusammengeschalteten Temperatursensors erfasst und die jeweilige Temperatur dem Spannungswert zuge- ordnet. Die Werte und die Temperaturen bilden nach einer Näherung die Kalibrierkennlinie des Halbleiterbauelements.
Die DE 10 2010 000 875 AI lehrt ein Verfahren zur Bestimmung der Sperrschichttemperatur eines Leistungstransistors in ei- nem Stromrichter. Das Verfahren kann zudem zur Erkennung von Alterungserscheinungen und zur Prognose der Restlebensdauer des Leistungshalbleiters verwendet werden, indem der Wärmewi¬ derstand des Leistungstransistors berechnet wird. Weiterhin lehrt die WO 2013/ 075 733 AI ein Verfahren
zur -Lebensdauerüberwachung von Leistungstransistoren. Dazu wird ein unbelasteter Referenztransistor zusammen mit den Leistungstransistoren auf einem gemeinsamen Substrat angeordnet. In einem Testmodus wird der Referenztransistor und min- destens ein Leistungstransistor mit einem Prüfstrom beaufschlagt, wobei das Verfahren zur Überwachen der Leistungs¬ transistoren nunmehr deren zu erwartende Rest-Lebensdauer ermittelt . Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, die Alterung eines Halbleiterbauelements im Feld besser feststellen zu können.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe gelöst durch ein Verfahren zum Bereitstellen einer Information über einen Alterungszustand eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik durch
- vor Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements: o Ermitteln einer Kennlinie einer Temperatur des
Halbleiterbauelements gegenüber einer elektrischen Spannung an dem Halbleiterbauelement bei einem Messstrom und
o Ermitteln eines Widerstandsreferenzwerts eines
thermischen Widerstands des Halbleiterbauelements aus dem Quotienten eines Temperaturhubs und einer Verlustleistung des Halbleiterbauelements,
- nach Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements:
o Messen einer Spannung an dem Halbleiterbauelement bei dem Messstrom und Bestimmen eines Temperaturre¬ ferenzwerts aus der gemessenen Spannung anhand der Kennlinie,
o Erwärmen des Halbleiterbauelements durch einen eine Verlustleistung hervorrufenden Laststrom, Messen einer aktuellen Spannung bei dem Messstrom an dem Halbleiterbauelement nach dem Erwärmen und Bestim¬ men eines aktuellen Temperaturwerts aus der aktuel¬ len Spannung anhand der Kennlinie,
o Bestimmen eines aktuellen thermischen Widerstandswerts des Halbleiterelements aus einem Temperatur¬ hub, der zwischen dem aktuellen Temperaturwert und dem Temperaturreferenzwert ermittelt wird, und der Verlustleistung,
o Ermitteln eines Unterschieds zwischen dem aktuellen thermischen Widerstandswert und dem Widerstandrefe¬ renzwert und
o Ausgeben der Information über den Alterungszustand des Halbleiterbauelements in Abhängigkeit von dem Unterschied .
Darüber hinaus wird erfindungsgemäß bereitgestellt eine Leis¬ tungshalbleitervorrichtung für eine elektrische Maschine mit
- einem Halbleiterbauelement der Leistungselektronik,
- einer Speichereinrichtung, in der
o eine Kennlinie einer Temperatur des Halbleiterbau¬ elements gegenüber einer elektrischen Spannung an dem Halbleiterbauelement sowie o ein Widerstandreferenzwert eines thermischen Wider¬ stands des Halbleiterbauelements aus dem Quotienten eines Temperaturhubs und einer Verlustleistung des Halbleiterbauelements gespeichert sind, und
- einer Messeinrichtung zum Durchführen folgender Schritte:
o Messen einer Spannung an dem Halbleiterbauelement bei einem Messstrom und Bestimmen eines Temperaturreferenzwerts aus der gemessenen Spannung anhand der Kennlinie,
o Erwärmen des Halbleiterbauelements durch einen eine Verlustleistung hervorrufenden Laststrom, Messen einer aktuellen Spannung bei dem Messstrom an dem Halbleiterbauelement nach dem Erwärmen und Bestim¬ men eines aktuellen Temperaturwerts aus der aktuel¬ len Spannung anhand der Kennlinie,
o Bestimmen eines aktuellen thermischen Widerstandswerts des Halbleiterelements aus einem Temperatur¬ hub, der zwischen dem aktuellen Temperaturwert und dem Temperaturreferenzwert ermittelt wird, und der Verlustleistung,
o Ermitteln eines Unterschieds zwischen dem aktuellen thermischen Widerstandswert und dem Widerstandrefe¬ renzwert und
o Ausgeben einer Information über einen Alterungszustand des Halbleiterbauelements in Abhängigkeit von dem Unterschied.
In vorteilhafter Weise erfolgt vor Inbetriebnahme des Halb¬ leiterbauelements, d.h. im Rahmen der Fertigung des Stromrichters, zunächst eine Kalibrierung des Halbleiterelements, bei dem eine Temperatur-Spannungs-Kennlinie aufgenommen und ein Widerstandsreferenzwert für den thermischen Widerstand des Halbleiters für den Abtransport von Verlustwärme nach au ßen ermittelt wird. Nach der Inbetriebnahme, d.h. während de bestimmungsgemäßen Feldeinsatzes des Halbleiterbauelements werden dann Spannungsmessungen vor und nach einem aktiven Er wärmen des Halbleiterbauelements durchgeführt. Aus den Span¬ nungsmessungen wird dann auf einen Temperaturhub und aus dem Temperaturhub auf einen aktuellen thermischen Widerstand ge¬ schlossen. Eine Änderung des thermischen Widerstands ergibt Auskunft über den Alterungszustand des Halbleiterbauelements. Ohne großen Aufwand kann somit während des Feldeinsatzes des Halbleiterbauelements eine Information über seinen Alterungs¬ zustand gewonnen werden.
Bei dem aktuellen Temperaturwert, der aus der aktuellen Spannung anhand der Kennlinie gewonnen wird, handelt es sich vor- zugsweise um die virtuelle Temperatur einer Sperrschicht des Halbleiterbauelements bzw. eine diese Temperatur repräsentie¬ renden Wert. Damit wird also unmittelbar eine interne Halb¬ leitertemperatur für die Schätzung der Alterung herangezogen und nicht eine Temperatur außerhalb des Halbleiterbauele- ments.
Günstigerweise ist der Messstrom um mindestens zwei Größen¬ ordnungen kleiner als der Laststrom. Besonders bevorzugt ist ein Messstrom, der zwischen 0,25 und 1 » des Nennstroms bzw. Laststroms liegt. Da die Laststromquelle naturgemäß in dem
Antriebsstrang eines elektrisch betriebenen Fahrzeugs vorhanden ist, bedarf es in der Regel zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens lediglich einer zusätzlichen Messstromquelle kleinen Ausmaßes in der entsprechenden Halblei- teranordnung und einer Spannungsmessungseinrichtung .
Der Laststrom zum Erwärmen des Halbleiterbauelements kann ge¬ pulst sein. Damit ist es nicht zwangsläufig notwendig, mit Gleichstrom oder einem sinusförmigen Wechselstrom zu heizen.
Das Halbleiterbauelement kann (z.B. integriert in einen
Stromrichter) an einer elektrischen Maschine angeschlossen sein, und die elektrische Maschine wird mit dem Laststrom zum Erwärmen des Halbleiterbauelements so bestromt, dass sich die elektrische Maschine im Wesentlichen nicht bewegt. Der Last¬ strom wird also für den Messzyklus ausschließlich zur Erzeugung von Verlustwärme genutzt. Ferner kann es von Vorteil sein, wenn das erfindungsgemäße Verfahren zum Bereitstellen der Information über den Alterungszustand des Halbleiterbauelements unmittelbar vor dem Start oder nach einem Betriebsende der elektrischen Maschine erfolgt, die als Last an das Halbleiterbauelement angeschlos¬ sen ist. Damit kann dem Nutzer der elektrischen Maschine (z.B. Fahrer eines Kraftfahrzeugs) eine entsprechende Alte¬ rungsinformation oder eine korrespondierende Information gegeben werden.
Das Ermitteln der Temperatur-Spannungs-Kennlinie vor der In¬ betriebnahme des Halbleiterbauelements kann günstigerweise mit denselben Mitteln erfolgen wie das Messen der Spannung an dem Halbleiterbauelement und das Erwärmen des Halbleiterbau- elements nach Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements. In diesem Fall werden sowohl zum aktiven Kalibrieren als auch zum späteren Messen dieselben Komponenten (z.B. Messstromquelle, Laststromquelle, Spannungsmesser etc.) verwendet. Da¬ mit werden systematische Fehler kompensiert, die sich unter Umständen ergeben würden, wenn unterschiedliches Equipment für Kalibrierung und Messung herangezogen werden würde.
Das Halbleiterbauelement kann Teil eines Stromrichters sein. Damit lässt sich beispielsweise ein zu erwartender Ausfall eines Stromrichters vorzeitig erkennen.
In einer speziellen Ausgestaltung ist das Halbleiterbauelement Teil einer von mehreren Halbbrücken des Stromrichters, wobei die Halbbrücken in Serie miteinander von einem Kühlmit- telstrom gekühlt werden, und nur von der im Kühlmittelstrom letzten Halbbrücke wird der Alterungszustand geschätzt. Dies hat den Vorteil, dass nicht alle Halbbrücken separat hin¬ sichtlich Alterung überwacht werden müssen. Vielmehr reicht es, wenn die im Betrieb wärmste Halbbrücke überwacht wird.
In Abhängigkeit von der ausgegebenen Information über den Alterungszustand kann eine Leistung des Halbleiterbauelements gesteuert werden. Somit kann beispielsweise die Leistung ei- nes Stromrichters reduziert werden, wenn in naher Zukunft ein Ausfall des Halbleiterbauelements zu erwarten ist.
Wie bereits erwähnt, kann das erfindungsgemäße Verfahren bzw. die erfindungsgemäße Leistungshalbleitervorrichtung bevorzugt in einem Kraftfahrzeug oder einem Windrad ausgeführt werden bzw. integriert sein. Damit kann beispielsweise ein Fahrer rechtzeitig auf einen bevorstehenden Werkstatttermin hingewiesen werden.
Kommen die beispielsweise in Leistungshalbleitervorrichtungen integrierten Halbleiterbauelemente für einen Betrieb elektri¬ scher Maschinen in Kraftfahrzeugen zum Einsatz, werden für einen anwendungsbezogenen Nutzer aus den Informationen über den Alterungszustand der Halbleiterbauelemente weitere, davon abgeleitete technische Hinweise und sich daraus eröffnende Handlungsoptionen bereitgestellt. Unabhängig von konkreten technischen Maßnahmen, welche üblicherweise zur Verhinderung von Leistungsabfall und Zerstörung der Halbleiterbauelemente implementiert sind, werden Vorschläge und/oder Warnungen für den anwendungsbezogenen Nutzer aufgezeigt, sein Nutzungsverhalten einem ggf. technisch kritischen Alterungszustand der Halbleiterbauelemente anzupassen. Es ist vorteilhaft, die In¬ formationen über den Alterungszustand der Halbleiterbauele- mente mittels eines Kommunikationssystems an ein, insbesonde¬ re in Fahrzeugen vorhandenes, Informations- und/oder Diagno¬ sesystem bereitzustellen. Das Informations- und/oder Diagnosesystem kann dann die technischen Hinweise und entsprechenden Handlungsoptionen ableiten und dem anwendungsbezogenen Nutzer visuell und/oder akustisch und/oder via mechanischem Feedback bereitstellen.
Damit der Leistungsabfall und die drohende Zerstörung der Halbleiterbauelemente sowie daraus resultierende Auswirkungen auf abhängige Komponenten rechtzeitig erkannt und behoben werden können, ist eine, insbesondere zu Vermeidung von technischen Ausfällen der Halbleiterelemente, zeitnahe Übermitt¬ lung der Informationen zum Alterungszustand der Halbleiter- bauelemente an den anwendungsbezogenen Nutzer wie auch an entsprechende Hersteller und ausgewählte Wartungs- und
Instandhaltungsdienstleister vorteilhaft. Für die zeitnahe Übermittlung der Informationen zum Alterungszustand der Halb- leiterbauelemente können beispielsweise Kommunikationstrans¬ fers angesehen werden, wie sie für eine Kommunikation in Internet-Netzen mit oder ohne drahtloser Kommunikationsverbindungen üblich sind. Die Hersteller von Halbleiterbauelementen, wie auch die Hersteller, welche die Halbleiterbauelemente in ihre Produkte integrieren, haben von den erfindungsgemäßen Informationen über den Alterungszustand der Halbleiterbauelemente künftig einen Wettbewerbsvorteil. Sie können unter realen Betriebsbe- dingungen zuverlässiger die Lebensdauer der Halbleiterbauelemente abschätzen, somit auch exaktere Aussagen zur Zuverläs¬ sigkeit ihrer höher integrierten Produkte abgeben und darüber hinaus gewonnene Erkenntnisse in eine effizientere Entwick¬ lung zur Verbesserung ihrer Produkte einfließen lassen.
Zeichnet sich nun ein notwendiger Austausch der Halbleiterbauelemente sowie eventuell von ihnen abhängiger Komponenten ab, kann sich der Wartungs- und Instandhaltungsdienstleister, mittels der zeitnahen Übermittlung der Informationen über den Alterungszustand der Halbleiterbauelemente an ihn, logistisch und technisch darauf vorbereiten. Insbesondere die Anforde¬ rungen einer vorbeugenden Wartung werden wesentlich unterstützt. Eine darauf ausgerichtete Planung zum Austausch der mit dem vorgeschlagenen Verfahren Halbleiterbauelemente kann nunmehr vorteilhaft sicherstellen, dass materielle und perso¬ nelle Ressourcen kosten- und termingerechter eingesetzt werden .
Die zeitnahe Übermittlung der Informationen über den Alte- rungszustand der Halbleiterbauelemente wird mittels Kommuni¬ kationsverbindungen, insbesondere mittels drahtloser Kommunikationsverbindungen, zwischen einem Kommunikationssystem, welches sich am Einbauort der Halbleiterbauelemente befindet, und Kommunikationssystemen, auf welche die Hersteller und die Wartungs- und Instandhaltungsdienstleister jeweils vor Ort Zugriff haben, durchgeführt. Alle benannten Kommunikations¬ systeme stellen im Allgemeinen immer auch die geeigneten Kom- munikationsverbindungen zur Kommunikation bereit.
Es ist weiterhin vorteilhaft, das Kommunikationssystem mit geeigneten Kommunikationsverbindungen in die Leistungshalbleitervorrichtung zu intergieren und es somit nahe am Einbau- ort der Halbleiterbauelemente anzuordnen. Das Informations¬ und/oder Diagnosesystem, welches dem anwendungsbezogene Nut¬ zer die aus den Informationen über den Alterungszustand der Halbleiterbauelemente abgeleiteten technischen Hinweisen und entsprechenden Handlungsoptionen visuell und/oder akustisch bereitstellt, ist mit dem Kommunikationssystem am Einbauort der Halbleiterbauelemente, welches die Informationen über die Alterungszustände der Halbleiterbauelemente aufnimmt, kommu¬ nikativ verbunden. Zur weiteren Verarbeitung und Darstellung der Informationen über den Alterungszustand der Halbleiterbauelemente werden von den entsprechenden Herstellern sowie ausgewählten Wartungs- und Instandhaltungsdienstleistern entsprechende Infor- mations- und/oder Diagnosesysteme eingesetzt, wobei diese In- formations- und/oder Diagnosesysteme vor Ort mit den jeweili¬ gen Kommunikationssystemen kommunikativ verbunden sind.
Die vorliegende Erfindung wird nun anhand der beigefügten Zeichnungen näher erläutert, in denen zeigen:
FIG 1 eine schematische Darstellung zur Gewinnung einer
Information über den Alterungszustand von Stromrichterkomponenten eines Fahrzeugs gemäß der vor- liegenden Erfindung;
FIG 2 eine Schaltungsanordnung zur Messung von elektrischen Größen in einer Halbbrücke; FIG 3 eine Kennlinie der virtuellen Sperrschichttemp tur über der Kollekter-Emitter-Spannung;
FIG 4 den prinzipiellen Verfahrensablauf zum Gewinnen einer Information über den Alterungszustand eines Leistungshalbleiterbauelements ; und
FIG 5 einen prinzipiellen Aufbau eines Kühlsystems für drei Halbbrücken eines Stromrichters.
Die nachfolgend näher geschilderten Ausführungsbeispiele stellen bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung dar.
Die Lebensdauersimulation dient weiterhin zur unverzichtbaren grundlegenden Auslegung der Leistungshalbleiter. Anhand von FIG 1 wird erläutert, wie bislang die Lebensdauer von Leis- tungshableiterbauelementen ermittelt wurde und welchen Beitrag die vorliegende Erfindung leistet. Das Beispiel von FIG 1 bezieht sich auf den Stromrichter bzw. Umrichter eines elektrisch betriebenen Fahrzeugs. Die Information über den Alterungszustand kann aber auch für beliebige andere Leis¬ tungshalbleiter auf ähnliche Weise erfolgen.
Ein Autohersteiler gewinnt aus mehreren tatsächlich aufgezeichneten individuellen Fahrprofilen fl, f2,..., fn ein typisches (ggf. mittleres) Fahrprofil F als Abbild der n Ein¬ zelprofile. Aus dem mittleren Fahrprofil F bzw. einem ent- sprechenden Nutzungsprofil des jeweiligen Halbleiters kann eine mittlere Lebensdauer des Leistungshalbleiters durch Si¬ mulation 1 (SIM) durchgeführt werden. Am Beispiel des Kraft¬ fahrzeugs soll vorzugsweise die zu erwartende Lebensdauer ei¬ nes IGBT (oder MOSFET) der Umrichterendstufe abgeschätzt wer- den. Dazu wird bei der Simulation 1 das Fahrprofil F in ein Temperaturprofil für den Umrichter umgerechnet. Anschließend wird das Temperaturprofil auf eine vom Leistungshalbleiter¬ hersteller bereitgestellte Lebensdauerkurve abgebildet. Da- raus lässt sich dann die Lebensdauer der IGBTs der Stromrichter bzw. Umrichter für ein durchschnittliches Fahrprofil F schätzen. Tatsächlich liegen aber für die n verschiedenen Fahrer jeweils unterschiedliche Fahrzyklen vor, sodass sich auch die Lebensdauer der Leistungshalbleiter im jeweiligen
Fahrzeug unterscheiden. Wünschenswert ist es, für das indivi¬ duelle Fahrzeug das Lebensdauerende der Leistungshalbleiter abschätzen zu können. Um eine Abschätzung der Lebensdauer eines mit einem konkreten, individuellen Nutzungsprofil genutzten Leistungshablei- terbauelements vornehmen zu können, wird daher im vorliegenden Beispiel der Umrichter 2 mit einer Spannungsmesseinrichtung 3 und einer Messstromquelle 4 ausgestattet. Mit diesen in den Stromrichter 2 zusätzlich integrierten Komponenten 3, 4 erfolgt am Ende des Herstellungsprozesses des Stromrichters bei der Endprüfung vorzugsweise eine sogenannte „aktive Kali¬ brierung". Dabei wird die Kennlinie der virtuellen Sperrschichttemperatur gegenüber der Kollektor-Emitter-Spannung mit der Messstromquelle 4 ermittelt, die einen verhältnismä¬ ßig geringen Messstrom (z.B. 500 mA) liefert. Das Aufheizen des Leistungshalbleiterbauelements erfolgt mit der wesentlich leistungsstärkeren Laststromquelle. Der zusätzliche Zeitauf¬ wand für die „aktive Kalibrierung" beträgt je Umrichter ca. 15 s bis 30 s. Eine zusätzliche Messausstattung neben einem Temperatursensor ist nicht nötig.
Anhand der Kalibrierung und einem individuellen Fahrprofil kann nun eine Recheneinrichtung 6 einen Lebensdauerstatus des Leistungshalbleiters berechnen und eine entsprechende Infor¬ mation ausgeben. Diese Information (Info) kann den aktuellen Lebensalterzustand des Halbleiterbauelements betreffen oder eine Schätzung der restlichen Lebensdauer. Letztere kann sich auf eine Fortschreibung des individuellen Fahrprofils
und/oder auf ein Fahrprofil mit verminderter Leistungsaufnahme beziehen. Es wird somit ein tatsächlicher Bezug zwischen der Bestimmung des Alterungszustands und dem individuellen Fahrprofil herge¬ stellt. Jeder Stromrichter lässt sich somit individuell über¬ wachen. So lässt sich beispielsweise beim Motorstart oder nach dem Abstellen des Fahrzeugs ein entsprechender Test durchführen, der ca. 1/5 der Zeit bei der Endprüfung (vgl. Kalibrierung 5) dauert, also ca. 3 bis 6 s.
Ist die Höhe der Alterung festgestellt, so können entspre- chende Schritte eingeleitet werden. Beispielsweise kann bei geringer Alterung die folgende Information an den Fahrer abgegeben werden: „Bitte Werkstatt aufsuchen". Bei fortge¬ schrittener Alterung kann zusätzlich zu der Information an den Fahrer eine Drosselung der Umrichterleistung erfolgen.
FIG 2 zeigt einen Teil eines Stromrichters, wie er üblicher¬ weise in elektrisch betriebenen Fahrzeugen eingesetzt wird. Ein erster IGBT 1 und ein zweiter IGBT 2, denen jeweils eine Freilaufdiode Dl, D2 parallel geschaltet ist, bilden eine Halbbrücke und sind seriell an einen Zwischenkreis mit den Klemmen DC- und DC+ geschaltet. Eine Laststromquelle 7, die einen Laststrom I_Last liefert, symbolisiert den Zwischen¬ kreis. An einem Mittelabgriff 8 zwischen den beiden IGBTs hängt eine Last 9, die durch eine Induktivität L und einen Widerstand R symbolisiert ist. Zwischen dem Mittelabgriff 8 und der Induktivität L kann ein Shunt oder ein anderer Stromsensor vorgesehen sein, um eine Strommessung für die Bestimmung der Verlustleistung (siehe unten) durchführen zu können. Erfindungsgemäß ist nun an die Kollektor-Emitter-Strecke oder eine Hilfskollektor-Hilfsemitter-Strecke des ersten IGBT 1 der Spannungsmesser 3 angeschlossen. Darüber hinaus ist die Messstromquelle 4 zwischen den Emitter des IGBT 1 und den Mittelabgriff 8 oder zwischen Hilfsemitter und Hilfskollektor geschaltet. Sie liefert einen Messstrom I_Mess. Mit dieser zusätzlichen Messeinrichtung (u. a. Spannungsmesser 3 und Messstromquelle 4) können im Feld Lebensdauerüberwachungs¬ funktionen gewährleistet werden, wie sie bei üblichen Last- wechseltests eingesetzt werden. Zum einen lässt sich eine Durchlassspannungsmessung bei Laststrom I_Last durchführen. Zum anderen lässt sich eine Durchlassspannungsmessung bei einem sehr kleinen Messstrom durchführen, der durch die zusätz- lieh benötigte Stromquelle 4 getrieben wird und vorzugsweise etwa 0,025 bis 0,1 % des Nennstroms des Leistungshalbleiter¬ bauelements beträgt. Mit der Durchlassspannung bei Laststrom werden Bondabgänge, und bei Messstrom werde Schichtdegradati¬ onen (Verschlechterungen des thermischen Widerstands via Sperrschichttemperaturermittlung) erkannt.
Die Messung bei Messstrom benötigt die bereits erwähnte Kali¬ brierung 5. Vorzugsweise wird die in der nachveröffentlichten DE 10 2012 005 815 beschriebene „aktive Kalibrierung" durch- geführt, die weniger als eine Minute dauert.
Die aktive Kalibrierung zeichnet sich dadurch aus, dass die Temperaturkalibrierkennlinie durch aktive Erwärmung der Prüf¬ linge durch ihre eigene Verlustleistung gewonnen wird. Bei der Kalibrierung im Messaufbau wird das Modul in Form des Halbleiterbauelements der Leistungselektronik aktiv, das heißt mit einem Laststrom, geheizt. Der Aufheizvorgang geschieht in einem oder mehreren Intervallen. Das Halbleiterbauelement wird nicht gekühlt, lediglich die thermischen Ka- pazitäten des Wasserkühlers oder des Luftkühlers bei abge¬ schaltetem Lüfter laden sich auf. Über den Laststrom und die sich dadurch einstellende Vorwärtsspannung wird der Chip im Modul für eine definierte Zeit aktiv geheizt. Nach dem Ab¬ schalten des Laststroms wird der Messstrom über die Leis- tungsanschlüsse eingespeist. Natürlich kann der Messstrom auch bei fließendem Laststrom eingespeist werden, da die aus dem fließenden Messstrom resultierende Erwärmung gegenüber der aus dem Laststrom vernachlässigbar ist. Anfangs sinkt die Temperatur über dem Chip stark ab. Die thermischen Kapazitä- ten des Halbleiterbauelements entladen sich über die entspre¬ chenden thermischen Widerstände in den Kühler. Dabei erreicht die Chiptemperatur nach einer bestimmten Zeit annähernd die Temperatur des Kühlkörpers. Danach sinken beide gleich schnell ab. Die Zeit, bis sich beide Temperaturen etwa auf dem gleichen Niveau befinden, lässt sich aus der größten thermischen Hauptzeitkonstante des Halbleiterbauelements ab¬ schätzen. Die thermische Hauptzeitkonstante lässt sich aus den Herstellerangaben ermitteln, ist eine durch den Hersteller ermittelte Angabe oder lässt sich abschätzen.
Bei der Kalibrierung 5, die automatisch durchführbar ist und somit für ein Serienprodukt geeignet ist, wird eine Kali- brierkennlinie ermittelt, die für typische Fälle in FIG 3 dargestellt ist. Mit abnehmender virtueller Sperrschichttemperatur Tvj steigt die Kollektor-Emitter-Spannung Uce und es gilt allgemein: Uce=f (Tvj) bei kleinem Messstrom.
Im konkreten Fall wird der Stromrichter bzw. ein Halbleiterbauelement von ihm bei deaktivierter Kühlung durch die Laststromquelle 7 vorzugsweise gepulst mit Strom versorgt. Bei¬ spielsweise wird also ein IGBT bei entsprechender Ansteuerung aus dem Zwischenkreis gespeist, wodurch ein Stromfluss I_Last durch den IGBT 1 und die Last 9 entsteht und den IGBT, also das Halbleiterbauelement, aufheizt. Die Last ist bei der End¬ prüfung meist eine Drossel oder ein Elektromotor im Prüffeld. Nach Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements ist die Last im Falle eines Kraftfahrzeugs dessen Elektromotor.
Nach dem Abschalten des Laststroms wird das Temperaturequi- librium im Leistungshalbleiter abgewartet, was ca. 3 bis 10 s dauern kann. Nun wird der Messstrom I_Mess von der Messstromquelle 4 eingespeist und ein Wertepaar der Kalibrierkennlinie {Uce; Tvj} aufgenommen. Dies wird einmal oder mehrfach wiederholt („aktive Kalibrierung"). Die Kalibrierung kann selbstverständlich auch mit anderen Methoden gewonnen werden.
Der Temperaturwert bei der Kalibrierung wird beispielsweise durch einen NTC-Widerstand (negativer Temperaturkoeffizient) gewonnen. Die resultierende Kalibrierkennlinie (vgl. FIG 3) wird im Umrichter bzw. Stromrichter gespeichert. Gleichzeitig wird die Vorwärtsspannung bei Laststrom I_Last gemessen (z. B. mittels des oben bereits erwähnten Shunt) und ebenfalls gespeichert. Eine Kalibrierung der elektronischen Bauteile ist insoweit nicht notwendig, als sich systematische Fehler bei der Kalibrierung und bei der Messung kompensieren.
Im Feld wird bei entsprechenden Gelegenheiten (z. B. Start des Motors oder nach Abstellen des Motors) der IGBT vergleichbar zur Endprüfung gepulst mit Strom versorgt. Die Last 9 ist nun die Motorwicklung. Dabei wird der Vorwärtsspan- nungsabfall Uce bei Laststrom I_Last (Bondabgang) und bei Messstrom I_Mess (thermischer Widerstand) gemessen und mit dem bei der Endprüfung gewonnenen Referenzwert Rth, ref von der Endprüfung (d.h. vor der Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements) verglichen. Über die Abweichungen werden Alte- rungszustände ermittelt.
Die Bestimmung eines Alterungszustands eines Halbleiterbau¬ elements in der Leistungselektronik (kurz Leistungshalbleiterbauelement bzw. Leistungshalbleiter) wird nun im Zusammen- hang mit FIG 4 näher erläutert. Zunächst wird in Schritt Sl bei der Endprüfung, d.h. vor Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements, die erwähnte Kalibrierung durchgeführt, um die Temperaturkennlinie gemäß FIG 3 zu ermitteln. Neben der be¬ schriebenen „aktiven Kalibrierung" kann auch die übliche „passive Kalibrierung" oder eine andere Kalibrierung durchgeführt werden.
Vor der Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements wird gemäß Schritt S2 außerdem ein Referenzwert Rth, ref für den thermi- sehen Widerstand von dem Halbleiterbauelement nach außen, z.B. zu einer Wärmesenke (Kühler) ermittelt. Der thermische Widerstand ist der Quotient aus Temperaturhub und Verlust¬ leistung, d.h. Rth=AT/Pv. Dabei entspricht die Verlustleis¬ tung beispielsweise dem Produkt aus dem Laststrom I_Last durch den IGBT 1 und der Vorwärtsspannung Uce am IGBT 1 (gemessen durch die Spannungsmesseinheit 3) . Der Temperaturhub ΔΤ wird wie in den nachfolgenden Schritten S3 und S4 bestimmt. Vor Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements ist der Schichtaufbau des Halbleiterbauelements noch nicht gealtert und es resultiert der Referenzwert Rth,ref.
Nach Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements soll nun ein konkreter Alterungszustand festgestellt werden bzw. eine Vor¬ hersage für eine Restlebensdauer gegeben werden. Dazu wird zunächst in Schritt S3 eine Referenztemperatur Tref des Halb¬ leiterbauelements ermittelt, indem die Spannung Uce am Halb¬ leiterbauelement IGBT 1 gemessen wird und anschließend anhand der Kennlinie (vgl. FIG 3) die korrespondierende Sperr¬ schichttemperatur als Tref ermittelt wird.
In einem anschließenden Schritt S4 wird das Halbleiterbauele¬ ment erwärmt und es wird eine aktuelle Temperatur Ta ermit- telt. Das Erwärmen des Halbleiterbauelements erfolgt bei¬ spielsweise durch einen kurzen Laststromimpuls. Die Verluste im Halbleiterbauelement rufen die entsprechende Erwärmung hervor. Unmittelbar anschließend wird bei Messstrom die Kollektor-Emitter-Spannung (allgemein die Spannung an der Sperr- schicht des Halbleiterbauelements) gemessen. Aus der Tempera¬ turkennlinie von FIG 3 wird schließlich die aktuelle Tempera¬ tur Ta gewonnen.
In einem folgenden Schritt S5 wird der aktuelle thermische Widerstand Rth, a bestimmt, den das Halbleiterbauelement nun aktuell besitzt. Hierzu wird der Temperaturhub zwischen der aktuellen Temperatur Ta (aktueller Temperaturwert) und der in Schritt S3 bestimmten Referenztemperatur Tref (Temperaturreferenzwert) ermittelt. Der resultierende Temperaturhub wird dann durch die Verlustleistung dividiert, die zu dem Erwärmen des Halbleiterbauelements geführt hat.
In Schritt S6 wird der Unterschied ARth zwischen dem aktuel¬ len thermischen Widerstand Rth, a und dem Widerstandsreferenz- wert Rth, ref ermittelt und in Schritt S7 beispielsweise mit einem Schwellwert verglichen. Übersteigt der Unterschied ARth beispielsweise einen Schwellwert, so hat sich der thermische Widerstand des Halbleiterbauelements deutlich erhöht und es ist eine entsprechend hohe Alterung eingetreten. Folglich kann dem Fahrer oder einem Gerät einen korrespondierende Information ausgegeben werden. Die Information kann aber auch durch eine beliebige andere Operation in Abhängigkeit von dem Unterschied ARth generiert werden.
In einem konkreten Beispiel besitzt ein Stromrichter 10 eines elektrisch betriebenen Kraftfahrzeugs entsprechend FIG 5 un¬ ter anderem drei Halbbrücken HB1, HB2 und HB3. Diese werden von einer Kühleinrichtung gekühlt, welche von einem Kühlmedium (z.B. 50/50 Wasser/Glykol-Gemisch) durchflössen wird. Das Kühlmedium 11 strömt an den Halbbrücken HB1 bis HB3 seriell vorbei. Dies bedeutet, dass das Kühlmittel gemäß dem in FIG 5 dargestellten Temperaturverlauf zu Beginn die niedrigste Tem- peratur Tin besitzt, wenn es die Halbbrücke HB1 kühlt. Das
Kühlmedium 11 heizt sich immer weiter auf, bis es am Ende die Verlustleistung (bzw. den Wärmestrom) der Halbbrücke HB3 aufgenommen hat und die Auslasstemperatur Tout erreicht hat. Dementsprechend ist auch bei symmetrischer Aufheizung die Halbbrücke HB3 wärmer als die Halbbrücke HB2, welche ihrer¬ seits wärmer ist als die Halbbrücke HB1. Für die Bestimmung des Alterungszustands des Stromrichters reicht es daher, den Alterungszustand der Halbbrücke HB3 zu bestimmen. Dabei wie¬ derum genügt es, einen IGBT oder eine Diode der Halbbrücke hinsichtlich ihres Alters zu analysieren.
In dem obigen Beispiel wird also eine „aktive Kalibrier¬ methode" mit den aus Lastwechseltests bekannten Alterungs- überwachungsfunktionen in einem Serienumrichter zur Lebens- dauerüberprüfung im Feld genutzt. Dem Fahrer kann bei Erkennen einer Alterung eine fallspezifische Information gegebene werden, dass beispielsweise eine Werkstatt aufzusuchen sei. Unter Umständen kann auch die Leistung des Umrichters bei fortgeschrittener Alterung gedrosselt werden. So wird ein Liegenbleiben des Fahrzeugs aufgrund alterungsbedingten Ausfalls der Leistungshalbleiter vermieden. Es kann vor einem etwaigen Ausfall reagiert werden. Alternativ kann die Erfindung auch bei anderen Applikationen besonders mit schwer vorhersagbaren tatsächlichen Belastungen eingesetzt werden, z. B. Windkraftanlagenumrichter. Dies ist besonders vorteilhaft, denn Offshore-Anlagen besitzen eine sehr geringe Erreichbarkeit und sind oftmals hohen Lastwechselbelastungen ausgesetzt. Die vorliegende Erfindung ist aber nicht auf
Stromrichter, geschweige denn auf Stromrichter mit Halbbrücken begrenzt. Vielmehr kann die vorliegende Erfindung auch für anders eingesetzte Leistungshalbleiter genutzt werden. Nachfolgend sind einige weitere konkrete Beispiele und Varia¬ tionsmöglichkeiten geschildert. Beispielsweise genügt es, für die Kalibrierkennlinie zwei Punkte aufzunehmen: einen bei Raumtemperatur (komplett ohne Laststromfluss möglich) und einen bei etwa beispielsweise 90°C nach einem einzigen Stromim- puls von z.B. 5 s Länge. Auch die Stromstärke für diesen
Stromimpuls kann variiert werden und muss nicht bei 100 % des Nennstroms oder 50 bis 100 % des Nennstroms liegen. Unter Um¬ ständen kann auch statt DC-Strom mit einem Wechselstrom bei taktenden Halbleitern erwärmt werden. Dies hätte den Vorteil, dass bei der üblichen Prüfung des Motors, die mit Wechsel¬ strom stattfindet, der obere Punkt der Kennlinie gleich nach der Prüfung ermittelt werden kann. Der untere Punkt der Kennlinie kann dann nach Abkühlung oder bereits vor der Prüfung ermittelt werden. Die Ermittlung der Kennlinie ist somit in die Endprüfung besser integrierbar.
Die vorliegende Erfindung ist speziell auch für elektrisch betriebene Kraftfahrzeuge anwendbar, die mit einer Hochvolt- Batterie gespeist werden. Dementsprechend schalten die Strom- richter dort gegen die Zwischenkreisspannung, die bei Kraftfahrzeugen im Bereich von 400 V liegt. Bei Stromrichtern für Windkraftanlagen liegt die Zwischenkreisspannung zum Teil auch bei mehreren kV. Die Schaltfrequenzen von Umrichtern liegen in Automobilen und Windkraftanlagen meist im kHz- Bereich.
Bei den oben beschriebenen Feldmessungen hängt stets eine betriebsmäßig vorgesehene Last am Leistungshalbleiter. So ist beispielsweise bei einem verbauten Serienumrichter die Last der Motor (bei automotiven oder Industrieantrieben) bzw. der Generator (bei Windkraftanlagen) . Der Strom für die Erwärmung der Leistungshalbleiter zur Rth-Bestimmung kann über eine Stromquelle oder ein Netz zur Verfügung gestellt werden. Aus Sicherheitsgründen ist es in der Regel notwendig, dass sich die elektrische Maschine im Wesentlichen bei dem Test nicht bewegt. Die Ansteuerung der Leistungshalbleiter bzw. des Stromrichters hat also entsprechend zu erfolgen.
Das Verfahren zur Ermittlung des Alterungszustands kann da¬ durch optimiert werden, dass Messungen mehrfach verwertet werden. So muss beispielsweise die Kollekter-Emitter-Spannung Uce bei Laststrom zur Bestimmung der Verlustleistung gemessen werden. Da diese Messung auch für die Ermittlung von Bondabgängen notwendig ist, können aus ihr zwei Informationen gewonnen werden.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zum Bereitstellen einer Information (Info) über einen Alterungszustand eines Halbleiterbauelements (IGBT1) der Leistungselektronik durch
- vor Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements:
o Ermitteln (Sl) einer Kennlinie einer Temperatur des Halbleiterbauelements gegenüber einer elektrischen Spannung an dem Halbleiterbauelement (IGBT1) und o Ermitteln (S2) eines Widerstandreferenzwerts eines thermischen Widerstands des Halbleiterbauelements aus dem Quotienten eines Temperaturhubs und einer Verlustleistung des Halbleiterbauelements,
- nach Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements:
o Messen (S3) einer Spannung an dem Halbleiterbauele¬ ment bei einem Messstrom und Bestimmen eines Temperaturreferenzwerts aus der gemessenen Spannung anhand der Kennlinie,
o Erwärmen (S4) des Halbleiterbauelements durch einen eine Verlustleistung hervorrufenden Laststrom, Messen einer aktuellen Spannung bei dem Messstrom an dem Halbleiterbauelement nach dem Erwärmen und Be¬ stimmen eines aktuellen Temperaturwerts aus der ak¬ tuellen Spannung anhand der Kennlinie,
o Bestimmen (S5) eines aktuellen thermischen Widerstandswerts des Halbleiterelements aus einem Tempe¬ raturhub, der zwischen dem aktuellen Temperaturwert und dem Temperaturreferenzwert ermittelt wird, und der Verlustleistung,
o Ermitteln (S6) eines Unterschieds zwischen dem ak¬ tuellen thermischen Widerstandswert und dem Widerstandreferenzwert und
o Ausgeben (S7) der Information (Info) über den Alterungszustand des Halbleiterbauelements in Abhängig- keit von dem Unterschied.
2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Temperaturwert eine virtuelle Temperatur einer Sperrschicht des Halbleiterbauele¬ ments (IGBT1) repräsentiert.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, wobei der Messstrom um mindestens zwei Größenordnungen kleiner ist als der Last¬ strom.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Laststrom gepulst ist.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Halbleiterbauelement (IGBT1) an eine elektrische Maschine angeschlossen ist, und die elektrische Maschine mit dem Last- ström zum Erwärmen des Halbleiterbauelements so bestromt wird, dass sich die elektrische Maschine im Wesentlichen nicht bewegt.
6. Verfahren nach Anspruch 5, das unmittelbar vor dem Start oder nach dem Abstellen der elektrischen Maschine erfolgt.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Ermitteln (Sl) der Kennlinie vor der Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements mit denselben Mitteln erfolgt wie das Messen (S3) der Spannung an dem Halbleiterbauelement und das Erwärmen (S4) des Halbleiterbauelements nach Inbetriebnahme des Halbleiterbauelements.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Halbleiterbauelement (IGBT1) Teil eines Stromrichters
(10) ist.
9. Verfahren nach Anspruch 8, wobei das Halbleiterbauelement (IGBT1) Teil einer von mehreren Halbbrücken des Stromrichters (10) ist, und wobei die Halbbrücken in Serie hintereinander von einem Kühlmittelstrom (11) gekühlt werden und nur von der im Kühlmittelstrom letzten Halbbrücke der Alterungszustand geschätzt wird.
10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei in Abhängigkeit von der ausgegebenen Information (Info) eine Leistung des Halbleiterbauelements gesteuert wird.
11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei mittels der Informationen (Info) über den Alterungszustand der Halbleiterbauelemente (IGBT1) weitere, davon abgeleitete technische Hinweise und/oder sich daraus eröffnende Hand¬ lungsoptionen für einen anwendungsbezogenen Nutzer, insbeson- dere Vorschläge und/oder Warnungen zu seinem Nutzungsverhal¬ ten, bereitgestellt werden.
12. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die abgeleiteten technischen Hinweise und die sich daraus er- öffnenden Handlungsoptionen für den anwendungsbezogenen Nutzer mittels eines insbesondere in Fahrzeugen vorhandenen Informations- und/oder Diagnosesystems visuell und/oder akus¬ tisch und/oder via mechanischem Feedback bereitgestellt werden .
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei Informationen (Info) über den Alterungszustand der Halbleiterbau¬ elemente (IGBT1) für Hersteller von Halbleiterbauelementen (IGBT1) und/oder für Hersteller von Produkten, welche Halb- leiterbauelemente (IGBT1) intergieren, und/oder für Wartungs¬ und Instandhaltungsdienstleister, zur weiteren Verarbeitung und Darstellung mittels deren jeweiliger Informationsund/oder Diagnosesysteme, bereitgestellt werden.
14. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei eine zeitnahe Übermittlung der Informationen zum Alterungszustand der Halbleiterbauelemente (IGBT1) an den anwendungsbe¬ zogenen Nutzer und/oder an entsprechende Hersteller und/oder an ausgewählte Wartungs- und Instandhaltungsdienstleister er- folgt.
15. Leistungshalbleitervorrichtung für eine elektrische Maschine mit - einem Halbleiterbauelement (IGBT1) der Leistungselektro¬ nik,
- einer Speichereinrichtung, in der
o eine Kennlinie einer Temperatur des Halbleiterbau- elements gegenüber einer elektrischen Spannung an dem Halbleiterbauelement sowie
o ein Widerstandreferenzwert eines thermischen Wider¬ stands des Halbleiterbauelements aus dem Quotienten eines Temperaturhubs und einer Verlustleistung des Halbleiterbauelements gespeichert sind, und
- einer Messeinrichtung zum Durchführen folgender Schritte:
o Messen (S3) einer Spannung an dem Halbleiterbauelement bei einem Messstrom und Bestimmen eines Temperaturreferenzwerts aus der gemessenen Spannung an- hand der Kennlinie,
o Erwärmen (S4) des Halbleiterbauelements durch einen eine Verlustleistung hervorrufenden Laststrom, Messen einer aktuellen Spannung bei dem Messstrom an dem Halbleiterbauelement nach dem Erwärmen und Be- stimmen eines aktuellen Temperaturwerts aus der ak¬ tuellen Spannung anhand der Kennlinie,
o Bestimmen (S5) eines aktuellen thermischen Widerstandswerts des Halbleiterelements aus einem Tempe¬ raturhub, der zwischen dem aktuellen Temperaturwert und dem Temperaturreferenzwert ermittelt wird, und der Verlustleistung,
o Ermitteln (S6) eines Unterschieds zwischen dem aktuellen thermischen Widerstandswert und dem Widerstandreferenzwert und
o Ausgeben (S7) einer Information (Info) über einen
Alterungszustand des Halbleiterbauelements in Ab¬ hängigkeit von dem Unterschied.
16. Leistungshalbleitervorrichtung nach Anspruch 15, wobei ein Kommunikationssystem zur Integration vorgesehen ist, wel ches Informationen über den Alterungszustand von Halbleiterbauelementen (IGBT1) mittels geeigneter Kommunikationsverbin düngen übermittelt.
17. Leistungshalbleitervorrichtung nach einem der Ansprüche 15 oder 16, die in ein Kraftfahrzeug, eine Photovoltaikanlage oder ein Windrad integriert ist.
PCT/EP2014/061651 2013-06-13 2014-06-05 Bereitstellen einer information über einen alterungszustand eines halbleiterbauelements WO2014198617A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP14728930.0A EP2989474B1 (de) 2013-06-13 2014-06-05 Bereitstellen einer information über einen alterungszustand eines halbleiterbauelements
CN201480033683.9A CN105431745B (zh) 2013-06-13 2014-06-05 提供关于半导体元器件的老化状态的信息

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102013211038.3A DE102013211038B3 (de) 2013-06-13 2013-06-13 Bereitstellen einer Information über einen Alterungszustand eines Halbleiterbauelements
DE102013211038.3 2013-06-13

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2014198617A1 true WO2014198617A1 (de) 2014-12-18

Family

ID=50897603

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/EP2014/061651 WO2014198617A1 (de) 2013-06-13 2014-06-05 Bereitstellen einer information über einen alterungszustand eines halbleiterbauelements

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP2989474B1 (de)
CN (1) CN105431745B (de)
DE (1) DE102013211038B3 (de)
WO (1) WO2014198617A1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105486992A (zh) * 2015-11-05 2016-04-13 南车株洲电力机车研究所有限公司 一种绝缘栅双极型晶体管的在线健康管理装置和方法
CN106885986A (zh) * 2017-04-12 2017-06-23 上海电气集团股份有限公司 一种功率变流器开关动态参量提取装置及提取方法
JP2019502913A (ja) * 2015-12-18 2019-01-31 ツェットエフ、フリードリッヒスハーフェン、アクチエンゲゼルシャフトＺｆ Ｆｒｉｅｄｒｉｃｈｓｈａｆｅｎ Ａｇ 半導体部品を備えるパワーエレクトロニクス機器の経年劣化を検出する方法及び装置、並びにパワーエレクトロニクスシステム

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK2724170T3 (en) * 2011-06-21 2015-12-14 Wind Solutions As Kk Method for estimation of life of the end of a power semiconductor devices
CN106168647B (zh) * 2016-05-27 2019-04-02 重庆大学 Igbt老化状态检测系统
CN106124957B (zh) * 2016-07-19 2019-03-08 浙江大学 一种绝缘栅双极型晶体管退化的在线监测方法
CN106443400B (zh) * 2016-09-14 2019-06-11 河北工业大学 一种igbt模块的电-热-老化结温计算模型建立方法
US20190250205A1 (en) * 2018-02-13 2019-08-15 GM Global Technology Operations LLC Thermal model based health assessment of igbt
DE102018115312A1 (de) * 2018-06-26 2020-01-02 Schaeffler Technologies AG & Co. KG Verfahren zur Bestimmung einer Lebensdauer eines Halbleiterleistungsmoduls
CN109613376A (zh) * 2019-01-11 2019-04-12 西安君信电子科技有限责任公司 功率器件动态老炼壳温补偿装置及方法
JP7118019B2 (ja) * 2019-02-05 2022-08-15 三菱電機株式会社 半導体モジュール、および半導体モジュールの寿命予測システム
FR3094499B1 (fr) * 2019-03-28 2021-11-19 Continental Automotive Procédé et dispositif d’estimation du vieillissement d’un composant électronique
DE102019129728B4 (de) 2019-11-05 2022-06-30 Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover Verfahren, Vorrichtung und Computerprogramm zum Überwachen zumindest eines Halbbrücken-Leistungsmoduls eines Umrichters
CN112525385B (zh) * 2020-10-21 2022-08-02 中国电子科技集团公司第十三研究所 一种热阻测量仪器校准系统
DE102021202150A1 (de) * 2021-03-05 2022-09-08 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Leistungsmodul mit Alterungserkennung
CN113504421B (zh) * 2021-06-23 2023-10-13 中国电子科技集团公司第三十八研究所 一种电子产品全自动老化方法
DE102022200634A1 (de) 2022-01-20 2023-07-20 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren und Vorrichtung zur Reduzierung von Spannungsbelastungen von Halbleiterbauelementen eines Wechselrichters
CN115493724B (zh) * 2022-09-15 2023-11-10 天津隆华瑞达科技有限公司 线束热敏电阻检测方法、装置、电阻检测仪和存储介质

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3832273A1 (de) * 1988-09-22 1990-03-29 Asea Brown Boveri Verfahren und anordnung zur bestimmung des waermewiderstandes von igbt-bauelementen
DE102010000875A1 (de) * 2010-01-13 2011-07-14 Infineon Technologies AG, 85579 Verfahren zur Messung der Junction-Temperatur bei Leistungshalbleitern in einem Stromrichter

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01297571A (ja) * 1988-05-26 1989-11-30 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体の信頼性評価装置
EP2773930B1 (de) * 2011-11-21 2015-01-28 EBM-Papst Mulfingen GmbH&CO. KG Elektronische ansteuerschaltung mit leistungstransistoren sowie verfahren zur lebensdauer-überwachung der leistungstransistoren
CN106443401B (zh) * 2016-10-16 2020-02-04 北京工业大学 一种功率mos器件温升和热阻构成测试装置和方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3832273A1 (de) * 1988-09-22 1990-03-29 Asea Brown Boveri Verfahren und anordnung zur bestimmung des waermewiderstandes von igbt-bauelementen
DE102010000875A1 (de) * 2010-01-13 2011-07-14 Infineon Technologies AG, 85579 Verfahren zur Messung der Junction-Temperatur bei Leistungshalbleitern in einem Stromrichter

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JOHN SOFIA: "Fundamentals of Thermal Resistance Measurement", ANALYSIS TECH, 1 January 1995 (1995-01-01), pages 1 - 50, XP055139452, Retrieved from the Internet <URL:http://samunet.hu/extfil/Temperature_saturation_voltage.pdf> [retrieved on 20140910] *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105486992A (zh) * 2015-11-05 2016-04-13 南车株洲电力机车研究所有限公司 一种绝缘栅双极型晶体管的在线健康管理装置和方法
JP2019502913A (ja) * 2015-12-18 2019-01-31 ツェットエフ、フリードリッヒスハーフェン、アクチエンゲゼルシャフトＺｆ Ｆｒｉｅｄｒｉｃｈｓｈａｆｅｎ Ａｇ 半導体部品を備えるパワーエレクトロニクス機器の経年劣化を検出する方法及び装置、並びにパワーエレクトロニクスシステム
CN106885986A (zh) * 2017-04-12 2017-06-23 上海电气集团股份有限公司 一种功率变流器开关动态参量提取装置及提取方法
CN106885986B (zh) * 2017-04-12 2023-06-27 上海电气集团股份有限公司 一种功率变流器开关动态参量提取装置及提取方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP2989474A1 (de) 2016-03-02
CN105431745A (zh) 2016-03-23
DE102013211038B3 (de) 2014-10-16
CN105431745B (zh) 2018-11-13
EP2989474B1 (de) 2021-01-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2014198617A1 (de) Bereitstellen einer information über einen alterungszustand eines halbleiterbauelements
EP3224631B1 (de) Verfahren zur bestimmung einer alterung von leistungshalbleitermodulen sowie vorrichtung und schaltungsanordnung
EP2964480B1 (de) Verfahren zum überlast-betrieb eines halbleiterschalters eines elektrifizierten kraftfahrzeugs und mittel zu dessen implementierung
DE102009049994B4 (de) Kühlleistungs-Messverfahren für eine Wechselrichtervorrichtung
WO2013014120A1 (de) Thermische überwachung eines umrichters
DE112013002881T5 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Überwachung der Funktionstüchtigkeit eines Leistungsschalters
EP2160928A2 (de) System und verfahren zur erfassung der kennlinien von leuchtdioden (leds)
DE102005043882B4 (de) Verfahren zum Betreiben von Schaltnetzteilen
DE102014202622A1 (de) Verfahren zum Überwachen einer Batterie mit mehreren Batteriezellen
EP1036883A2 (de) Verfahren zum Beheizen der Einbaubohle eines Strassenfertigers, sowie elektrische Heizeinrichtung
DE102020116424A1 (de) Verfahren und elektronische Einrichtung zur Temperaturüberwachung einer Leistungselektronik und Kraftfahrzeug
EP3411724A1 (de) Alterungsdetektor für eine elektrische schaltungskomponente, verfahren zur überwachung einer alterung einer schaltungskomponente, bauelement und steuergerät
DE10351843A1 (de) Verfahren und elektrische Schaltungen zur Ermittlung einer Temperatur eines Leistungshalbleiters
EP2853024A2 (de) Umrichter für eine elektrische maschine mit überwachung der kontaktierung der halbleiterbauelemente
DE102012222481A1 (de) Verfahren zum Ermitteln einer Sperrschichttemperatur eines Leistungshalbleiters unter Berücksichtigung der Degradation und Mittel zu dessen Implementierung
EP3938794B1 (de) Umrichter und verfahren zur bewertung der thermischen belastung eines umrichters
WO2019206953A1 (de) Verfahren zur ermittlung eines zustandes der thermischen anbindung mindestens einer komponente innerhalb eines elektrischen energiespeichersystems an eine wärmequelle oder wärmesenke
DE10048704B4 (de) Verfahren für eine Vorrichtung mit Leistungshalbleitern und Vorrichtung
EP3561981A1 (de) Verfahren zur reduktion eines temperaturanstiegs bei einem steuerbaren schaltelement
DE102015013301B3 (de) Hochspannungs-Fahrzeugheizung und Verfahren zur Nutzung von Rekuperationsleistung in einem Fahrzeug
DE102013201344A1 (de) Managementsystem für ein elektrisches Antriebssystem und Verfahren zum Einstellen von Betriebsparametern eines elektrischen Antriebssystems
DE112018005357T5 (de) Leistungsumwandlungsvorrichtung
DE102010021171A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Restlebensdauerermittlung für elektronische Aufbauten
WO2009015961A1 (de) Elektrische einrichtung mit einem halbleiterbauelement
EP1519025B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben einer Brennkraftmaschine

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201480033683.9

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 14728930

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2014728930

Country of ref document: EP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE