WO2014190612A1 - 自动校正液晶显示器闪烁的方法和装置 - Google Patents

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李京鹏
任健
朱红
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    • G09G2320/0693—Calibration of display systems

Definitions

  • the present invention relates to the field of liquid crystal display technologies, and in particular, to a method and apparatus for automatically correcting flicker of a liquid crystal display.
  • display screen flickering causes display effects to be affected.
  • the flicker is usually adjusted by manually adjusting the integrated circuit (IC) code, but the manual adjustment will cause a certain error, which in turn affects the display quality of the product.
  • IC integrated circuit
  • the main problem to be solved by the present invention is to provide a method and apparatus for automatically correcting the flicker of a liquid crystal display to avoid errors caused by manual adjustment and to improve the display effect of the liquid crystal display.
  • a method of automatically correcting flicker of a liquid crystal display comprising:
  • the flicker under a specific gray level is tested and sampled to obtain a flicker sample value; the common voltage Vcom value in the code is automatically adjusted according to a specific step size according to the preset flicker reference value and the flicker sample value.
  • the method further includes: storing the sampled scintillation samples under a specific gray level for data storage. If the resulting flicker sample value is multiple data, the mean is calculated and stored as a flicker sample value.
  • the comparison and adjustment operations are performed one or more times until the sampled value is less than or equal to the reference value.
  • the test unit is configured to test and sample the flicker under a specific gray scale to obtain a flicker sample value; the data adjustment unit is configured to use the preset flicker reference value and the flickering obtained by the test unit.
  • the sample value automatically adjusts the common voltage Vcom value in the code by a specific step size.
  • the apparatus also includes a data storage unit for storing data for the flicked sample values obtained by testing the samples at a particular gray level.
  • the data storage unit is configured to store the mean of the plurality of data as a scintillation sample value.
  • the apparatus further includes a comparing unit for comparing the flicker sample value with the flicker reference value; and when the sampled value is greater than the reference value, the data adjusting unit automatically adjusts the common voltage Vcom value by a specific step size.
  • the data adjustment unit ends the test.
  • the device also includes a setting unit for preset a flicker reference value.
  • the apparatus also includes a terminal control chip for controlling the specific operational status of each unit in the apparatus.
  • FIG. 1 is a schematic flow chart of a method for automatically correcting flicker of a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a detailed flowchart of a method for automatically correcting flicker of a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention
  • a schematic diagram of an apparatus for automatically correcting the flicker of a liquid crystal display. 1 is a schematic flow chart of a method for automatically correcting a liquid crystal display blinking according to an embodiment of the present invention.
  • the liquid crystal display flash can be automatically corrected by performing the method flow as shown in FIG. The execution of the method flow shown in Figure 1 is as follows:
  • step 110 the flicker under a specific gray scale is tested and sampled to obtain a flicker sample value; in step 120, according to the preset flicker reference value and the flicker sample value, the code is automatically adjusted according to a specific step size. Common voltage Vcom value.
  • Step 201 setting a flicker reference value under a specific gray scale
  • the flicker is tested under the specific gray level of the liquid crystal display, for example, the gray scale 30, and the maximum flicker of the gray scale 30 is 10, then the flicker reference value of the gray scale 30 can be set to 10.
  • Step 202 Perform test sampling on the flicker under a specific gray scale
  • the position and number of the test points can be set as needed.
  • Step 203 Store the flicked sample values obtained by testing the sampling under a specific gray scale for data storage; store the flicker sample values obtained by the test sampling in step 202, and if the obtained flicker sample values are multiple data, calculate The mean is stored as a scintillation sample value.
  • Step 204 Compare the flicker sample value with the flicker reference value
  • the flicker sample value obtained after the test in step 203 is compared with the flicker reference value set in step 201. If the sample value is less than or equal to the reference value, the picture quality is not problematic, and the test is directly ended; if the sampled value is larger than the reference value, The blinking state is poor, and it is necessary to continue correcting the flicker, and the process proceeds to step
  • Step 205 Automatically adjust the common voltage Vcom value in the IC code by a specific step size.
  • the Vcom value can be adjusted in a certain step, for example 0.2.
  • step 202 to step 205 may be repeatedly performed a plurality of times until the sampled value is less than or equal to the reference value.
  • the above-mentioned operation can obtain the flicker sampling value corresponding to the set flicker reference value, so that the flicker can be minimized by automatically adjusting the Vcom value, the error caused by the manual adjustment is avoided, and the display effect of the liquid crystal display is improved.
  • the device includes: a setting unit, a testing unit, a data storage unit, a comparison unit, and a data adjustment unit.
  • the setting unit is configured to set a reference value of the flicker under a specific gray level; the test unit is configured to test and sample the flicker under a specific gray level to obtain a flicker sample value; and the data storage unit is to be tested under a specific gray level
  • the scintillation sample value obtained by sampling is used for data storage; the comparison unit is used to compare the flicker sample value with the flicker reference value; and the data adjustment unit is configured to automatically adjust the common code in the IC code according to the comparison result of the comparison unit. Voltage Vcom value.
  • Each of the above units can be connected to the terminal control chip through the data line, and the terminal control chip 6 controls the specific working state.
  • the terminal control chip can be connected to other units through the data line: the terminal control chip can be connected to the liquid crystal display through the setting unit of the liquid crystal display bus to control the output display effect;
  • the terminal control chip can be connected to the test unit through a universal serial bus (USB) to control the test unit;
  • USB universal serial bus
  • the terminal control chip can be connected to the data storage unit through a random access memory (RAM) bus to control the storage of the sampled data by the data storage unit;
  • RAM random access memory
  • the terminal control chip can be connected to the comparison unit through the data bus to control the comparison unit to compare the sampled value with the reference value;
  • the terminal control chip can be connected to the data adjustment unit through a flash (Flash) bus to control the data adjustment unit to store the adjusted Vcom value.
  • flash Flash
  • the keyboard can be used to control the terminal control chip.
  • the terminal control chip is connected to the liquid crystal display through the setting unit through the liquid crystal display bus, the flicker reference value is set, and the screen is outputted on the liquid crystal display.
  • the test unit is connected to the terminal control chip through USB, and then the control terminal controls the chip to enter the flash data sampling mode through the keyboard input, and the terminal control chip sets the flashing reference value by the control setting unit, and controls the test unit to test the flicker under the specific gray level.
  • the control data storage unit stores the sampled flicker sample value under a specific gray level for data storage; the control comparison unit compares the flicker sample value with the flicker reference value, and feeds the comparison result to the terminal control chip. If the sampled value is less than or equal to the reference value, the picture quality is no problem, the terminal control chip directly ends the test; if the sampled value is larger than the reference value, indicating that the blinking state is poor, the terminal control chip confirms that it needs to continue to correct the flicker, and presses through the data adjustment unit.
  • the specific step size automatically adjusts the common voltage Vcom value in the IC code.
  • the terminal control chip can continue to perform the test and adjustment of the flicker, that is, the control test unit tests and samples the flicker under a specific gray level; the control data storage unit will test under a specific gray level.
  • the sampled flicker sample value is used for data storage; the control comparison unit compares the flicker sample value with the flicker reference value, and feeds back the comparison result to the terminal control chip. If the sampled value is less than or equal to the reference value, the picture quality is no problem, the terminal control chip ends the test; if the sampled value is larger than the reference value, indicating that the blinking state is poor, the terminal control chip confirms that it needs to continue to correct the flicker, and presses the specificity through the data adjustment unit.
  • the step size automatically adjusts the common voltage Vcom value in the IC code.
  • the method of automatically correcting the flicker of the liquid crystal display can obtain the flicker sampling value corresponding to the set flicker reference value, so that the flicker can be minimized by automatically adjusting the Vcom value, thereby avoiding The error caused by manual adjustment improves the display effect of the liquid crystal display.

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Abstract

公开了一种自动校正液晶显示器闪烁的方法和装置，涉及液晶显示器技术领域。该方法对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值（110）；根据预设的闪烁参考值以及该闪烁采样值，按特定步长自动调节代码中的公共电压Vcom值（120）。该方法自动校正液晶显示器闪烁，能够通过自动调节Vcom值，最小化闪烁，避免了手动调整的误差，改善了液晶显示器的显示效果。

Description

自动校正液晶显示器闪烁的方法和装置 技术领域 本发明涉及液晶显示器技术领域， 具体涉及一种自动校正液晶显示器闪烁 的方法和装置。 背景技术 目前， 移动终端通讯产品采用的液晶显示器主要存在的缺陷有： 显示画面 闪烁导致显示效果受到影响。 目前通常通过手动调整集成电路（IC )代码的方 式调整闪烁， 但手动调整会产生一定误差， 进而影响产品的显示品质。 发明内容 有鉴于此， 本发明要解决的主要问题在于提供一种自动校正液晶显示器闪 烁的方法和装置， 以避免手动调整所带来的误差， 改善液晶显示器的显示效果。
为解决上述技术问题， 本发明的技术方案可以这样实现：
提供一种自动校正液晶显示器闪烁的方法， 该方法包括：
对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样， 得到闪烁采样值； 根据预设的闪烁 参考值以及所述闪烁采样值，按特定步长自动调节代码中的公共电压 Vcom值。
该方法还包括：将在特定灰阶下测试采样得到的闪烁采样值进行数据存储。 如果得到的闪烁采样值是多个数据， 计算出均值并作为闪烁采样值进行存 储。
根据所述闪烁参考值以及所述闪烁采样值调节所述公共电压 Vcom值时， 将闪烁采样值与闪烁参考值进行对比； 在采样值比参考值大时， 按特定步长自 动调节所述公共电压 Vcom值。
在采样值小于或等于参考值时， 结束测试。
所述对比以及调节操作，执行一次或多次， 直至采样值小于或等于参考值。 提供一种自动校正液晶显示器闪烁的装置， 该装置包括测试单元、 数据调 整单元； 其中，
所述测试单元用于对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值； 所述数据调整单元用于根据预设的闪烁参考值以及测试单元得到的闪烁采 样值， 按特定步长自动调节代码中的公共电压 Vcom值。
所述装置还包括数据存储单元， 用于将在特定灰阶下测试采样所得到的闪 烁采样值进行数据存储。
如果得到的闪烁采样值是多个数据， 所述数据存储单元用于将所述多个数 据的均值作为闪烁采样值进行存储。
所述装置还包括比较单元， 用于将闪烁采样值与闪烁参考值进行对比； 在采样值比参考值大时， 所述数据调整单元按特定步长自动调节所述公共 电压 Vcom值。
在采样值小于或等于参考值时， 所述数据调整单元结束测试。
所述装置还包括设置单元， 用于预设闪烁参考值。
所述装置还包括终端控制芯片， 用于控制所述装置中各单元的具体工作状 态。
根据本发明实施例的自动校正液晶显示器闪烁的技术， 能够通过自动调节 Vcom值使闪烁最小， 避免了手动调整所带来的误差， 改善了液晶显示器的显 示效果。 附图说明 图 1为本发明实施例的自动校正液晶显示器闪烁的方法的示意性流程图； 图 2为本发明实施例的自动校正液晶显示器闪烁的方法的详细流程图； 图 3为本发明实施例的自动校正液晶显示器闪烁的装置的示意图。 具体实施方式 图 1示出本发明实施例的自动校正液晶显示器闪烁方法的示意性流程图。 在实际应用中， 可以通过执行如图 1所示的方法流程来自动校正液晶显示器闪 烁。 图 1所示的方法流程的执行过程如下：
在步骤 110中， 对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样， 得到闪烁采样值； 在步骤 120中， 根据预设的闪烁参考值以及所述闪烁采样值， 按特定步长 自动调节代码中的公共电压 Vcom值。
图 2示出本发明实施例的自动校正液晶显示器闪烁的方法的详细流程图。 作为示例性实施例， 可以将图 1所示流程图细化为如图 2所示的流程， 该流程 包括以下步骤： 步骤 201 : 设置特定灰阶下的闪烁参考值；
其中， 闪烁在液晶显示器的特定灰阶下进行测试， 例如灰阶 30, 规定在灰 阶 30下的闪烁最大值为 10, 那么就可以将灰阶 30时的闪烁参考值设为 10。
步骤 202: 对特定灰阶下的闪烁进行测试采样；
根据步骤 201中特定灰阶下的画面进行闪烁的实测， 测试点的位置和数量 可以根据需要自行设定。
步骤 203: 将在特定灰阶下测试采样得到的闪烁采样值进行数据存储； 将步骤 202中测试采样所得到的闪烁采样值进行数据存储， 如果得到的闪 烁采样值是多个数据， 可以计算出均值并作为闪烁采样值进行存储。
步骤 204: 将闪烁采样值与闪烁参考值进行对比；
将经过步骤 203测试后得到的闪烁采样值与步骤 201设置的闪烁参考值进 行对比， 如果采样值小于或等于参考值， 说明画面品质无问题， 直接结束测试； 如果采样值比参考值大， 说明闪烁状态差， 需要继续校正闪烁， 进入步骤 205。
步骤 205: 按特定步长自动调节 IC代码中的公共电压 Vcom值。
其中， 可以将 Vcom值按一定的步长进行调节， 例如 0.2。
之后， 可以返回步骤 202, 以继续校正闪烁。
基于上述描述， 步骤 202至步骤 205可能重复执行多次， 直至采样值小于 或等于参考值。
可见， 通过上述操作能够得到与设置的闪烁参考值相符合的闪烁采样值， 因此能够通过自动调节 Vcom值使闪烁最小， 避免了手动调整所带来的误差， 改善了液晶显示器的显示效果。
对应于图 1、 图 2所述的自动校正液晶显示器闪烁的方法， 提供一种自动 校正液晶显示器闪烁的设备。 如图 3所示， 该设备包括： 设置单元、 测试单元、 数据存储单元、 比较单元和数据调整单元。 其中， 设置单元用于设置特定灰阶 下的闪烁的参考值； 测试单元用于对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样， 得到 闪烁采样值； 数据存储单元用于将在特定灰阶下测试采样所得到的闪烁采样值 进行数据存储； 比较单元用于将闪烁采样值与闪烁参考值进行对比； 数据调整 单元： 用于根据比较单元的对比结果，按特定步长自动调节 IC代码中的公共电 压 Vcom值。
以上各单元均可通过数据线与终端控制芯片连接， 由终端控制芯片 6控制 具体的工作状态。 具体而言， 终端控制芯片可以通过数据线与其它各单元相连接： 终端控制芯片可以通过液晶显示器总线经设置单元与液晶显示器相连， 以 控制输出显示效果；
终端控制芯片可以通过通用串行总线 （USB ) 与测试单元相连， 以控制测 试单元；
终端控制芯片可以通过随机存储器（RAM )总线与数据存储单元相连， 以 控制数据存储单元对采样数据的存储；
终端控制芯片可以通过数据总线与比较单元相连， 以控制比较单元对采样 值与参考值进行数据对比；
终端控制芯片可以通过闪存（Flash )总线与数据调整单元相连， 以控制数 据调整单元对调整后的 Vcom值进行存储。
在实际应用中， 当对液晶显示器进行闪烁测试和调整时， 可用键盘来控制 终端控制芯片。 通过液晶显示器总线将终端控制芯片经设置单元与液晶显示器 相连， 设置好闪烁参考值， 并在液晶显示器输出画面。 通过 USB将测试单元连 接到终端控制芯片， 然后通过键盘输入控制终端控制芯片进入到闪烁数据采样 模式， 终端控制芯片将控制设置单元设置闪烁参考值， 控制测试单元对特定灰 阶下的闪烁进行测试并采样； 控制数据存储单元将在特定灰阶下测试采样的闪 烁采样值进行数据存储； 控制比较单元将闪烁采样值与闪烁参考值进行对比， 并将对比结果反馈给终端控制芯片。 如果采样值小于或等于参考值， 说明画面 品质无问题， 终端控制芯片直接结束测试； 如果采样值比参考值大， 说明闪烁 状态差， 终端控制芯片确认需要继续校正闪烁， 并通过数据调整单元按特定步 长自动调节 IC代码中的公共电压 Vcom值。
在调节所述公共电压 Vcom值之后， 终端控制芯片可以继续进行闪烁的测 试和调整， 即： 控制测试单元对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样； 控制数据 存储单元将在特定灰阶下测试采样的闪烁采样值进行数据存储； 控制比较单元 将闪烁采样值与闪烁参考值进行对比， 并将对比结果反馈给终端控制芯片。 如 果采样值小于或等于参考值， 说明画面品质无问题， 终端控制芯片结束测试； 如果采样值比参考值大， 说明闪烁状态差， 终端控制芯片确认需要继续校正闪 烁， 并通过数据调整单元按特定步长自动调节 IC代码中的公共电压 Vcom值。
在进行一次或多次的上述闪烁测试和调整后， 采样值小于或等于参考值， 说明画面品质无问题， 终端控制芯片结束测试。 综上所述可见， 无论是方法还是装置，本发明自动校正液晶显示器 闪烁的 技术， 能够得到与设置的闪烁参考值相符合的闪烁采样值， 因此能够通过自动 调节 Vcom值使闪烁最小， 避免了手动调整所带来的误差， 改善了液晶显示器 的显示效果。
以上所述， 仅为本发明的示例性实施例， 而并非用于限定本发明的保护范 围。 本领域的普通技术人员在不脱离本发明的精神和范围的情况下， 还可以作 出各种变化和变型， 所有等同的技术方案均属于本发明的保护范围。

Claims

权 利 要 求 书
1、 一种自动校正液晶显示器闪烁的方法， 包括：
对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样， 得到闪烁采样值； 根据预设的闪烁 参考值以及所述闪烁采样值，按特定步长自动调节代码中的公共电压 Vcom值。
2、 根据权利要求 1所述的方法， 还包括： 将在特定灰阶下测试采样得到的 闪烁采样值进行数据存储。
3、根据权利要求 2所述的方法，其中，如果得到的闪烁采样值是多个数据， 计算出均值并作为闪烁采样值进行存储。
4、 根据权利要求 1至 3任一项所述的方法， 其中， 根据所述闪烁参考值以 及所述闪烁采样值调节所述公共电压 Vcom值时， 将闪烁采样值与闪烁参考值 进行对比； 在采样值比参考值大时， 按特定步长自动调节所述公共电压 Vcom 值。
5、 根据权利要求 4所述的方法， 其中， 在采样值小于或等于参考值时， 结 束测试。
6、 根据权利要求 4所述的方法， 其中， 所述对比以及调节操作， 执行一次 或多次， 直至采样值小于或等于参考值。
7、 一种自动校正液晶显示器闪烁的装置， 包括测试单元、 数据调整单元； 其中，
所述测试单元用于对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值； 所述数据调整单元用于根据预设的闪烁参考值以及测试单元得到的闪烁采 样值， 按特定步长自动调节代码中的公共电压 Vcom值。
8、 根据权利要求 7所述的装置， 还包括数据存储单元， 用于将在特定灰阶 下测试采样所得到的闪烁采样值进行数据存储。
9、根据权利要求 8所述的装置，其中，如果得到的闪烁采样值是多个数据， 所述数据存储单元用于将所述多个数据的均值作为闪烁采样值进行存储。
10、 根据权利要求 7至 9任一项所述的装置， 还包括比较单元， 用于将闪 烁采样值与闪烁参考值进行对比；
在采样值比参考值大时， 所述数据调整单元按特定步长自动调节所述公共 电压 Vcom值。
11、 根据权利要求 10所述的装置， 其中， 在采样值小于或等于参考值时，
12、根据权利要求 7所述的装置， 还包括设置单元， 用于预设闪烁参考值。
13、 根据权利要求 7、 8、 9或 12所述的装置， 还包括终端控制芯片， 用于 控制所述装置中各单元的具体工作状态。
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