WO2014168161A9 - 高周波モジュール - Google Patents

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    • H03H9/0057—Balance-unbalance or balance-balance networks using surface acoustic wave devices having two acoustic tracks being electrically cascaded the balanced terminals being on the same side of the tracks

Definitions

  • the present invention relates to a high-frequency module including a plurality of filter elements.
  • a portable device or the like having a wireless communication function includes a filter circuit in order to pass only high-frequency signals having a desired frequency and attenuate high-frequency signals other than the desired frequency.
  • Patent Document 1 describes a filter circuit including a plurality of SAW filters. Specifically, in the filter circuit of Patent Document 1, a plurality of SAW filters are connected in series between an input terminal and an output terminal. A SAW filter is also connected between the connection line connecting the SAW filters connected in series and the ground.
  • the filter circuit described in Patent Document 1 has an inductor or a series circuit of inductors and capacitors (referred to as a correction circuit) connected in parallel to the series circuit of the SAW filter. Yes.
  • the correction circuit is set so that the high-frequency signal outside the pass band (suppression target signal) propagating through the circuit unit composed of the SAW filter group and the suppression target signal propagating through the correction circuit have the same amplitude and the phase is reversed. adjust.
  • the suppression target signal is canceled at the connection point between the circuit unit including the SAW filter group and the correction circuit, and is not output from the output terminal.
  • a correction circuit composed of an inductor or a series circuit of an inductor and a capacitor must be provided only for improving the attenuation characteristics, separately from the circuit unit composed of the SAW filter group having the main filter function.
  • the number of components of the filter circuit is increased, and the filter circuit is increased in size, which is not suitable for current portable terminals and the like that are required to be reduced in size.
  • An object of the present invention is to provide a high-frequency module having a small filter circuit with excellent attenuation characteristics outside the passband.
  • the present invention includes a first external connection terminal, a second external connection terminal, a filter unit connected between the first external connection terminal and the second external connection terminal, and the first external connection terminal or the second external connection.
  • the present invention relates to a high-frequency module including a matching element connected between at least one of the terminals and the filter unit, and has the following characteristics.
  • the filter unit includes a first terminal connected to the first external connection terminal, a second terminal connected to the second external connection terminal, and a plurality of filter elements connected in series between the first terminal and the second terminal. Is provided.
  • At least one of the intermediate connection portions connecting the filter elements and the matching element are inductively coupled or capacitively coupled.
  • a sub-propagation path is formed via an inductive coupling or capacitive coupling path generated by the connection unit and the matching element.
  • the sub-propagation path has different amplitude characteristics and phase characteristics from the main propagation path depending on the degree of coupling of inductive coupling or capacitive coupling.
  • the high-frequency module of the present invention preferably has the following configuration.
  • the connection portion and the matching element that are inductively coupled or capacitively coupled to each other are inductively coupled or capacitively coupled so that the impedance outside the pass band of the filter portion changes.
  • the high frequency module of the present invention preferably has the following configuration.
  • the connection portion and the matching element that are inductively coupled or capacitively coupled to each other are inductively coupled or capacitively coupled so that the attenuation pole frequency outside the pass band of the filter portion changes.
  • the attenuation pole frequency is adjusted as an adjustment mode of the attenuation characteristic.
  • the matching element is connected in series between the first external connection terminal and the first terminal, or connected in series between the second external connection terminal and the second terminal.
  • a series connection type matching element may be used.
  • the matching element is connected between the connection line connecting the first external connection terminal and the first terminal and the grant, or the second external connection terminal and the second terminal. It may be a shunt connection type matching element connected between a connection line for connecting to the ground.
  • connection modes of the matching elements show specific connection modes of the matching elements. By appropriately determining these connection modes, it is possible to appropriately adjust the above-described attenuation characteristics while appropriately performing impedance matching between the filter unit and the outside.
  • the connecting portion is composed of a linear conductor pattern.
  • connection portion can be realized with a simple structure, and the filter portion and the high-frequency module can be formed in a small size.
  • the high-frequency module according to the present invention further includes a third terminal and a second filter unit, and the second filter unit includes a first connection line connecting the first terminal and the filter element connected to the first terminal, and a second filter unit. You may be connected between 3 terminals.
  • the high frequency module of the present invention may have the following configuration.
  • the high-frequency module includes a flat plate-like filter substrate having IDT electrodes and connection portions forming the filter portion formed on the first main surface, and a flat plate-like surface facing the first main surface of the filter substrate with a space therebetween.
  • a cover layer, a connection electrode protruding from the first main surface and penetrating the cover layer, and a laminated substrate on which a matching element is mounted or formed are provided.
  • the filter substrate is arranged so that the first main surface side faces the mounting surface of the multilayer substrate.
  • the filter substrate is connected to the multilayer substrate via connection electrodes.
  • a high-frequency module can be realized with a filter unit made of WLP (Wafer Level Package) and a laminated substrate. Thereby, a high frequency module can be reduced in size.
  • WLP Wafer Level Package
  • the high frequency module of the present invention may have the following configuration.
  • the matching element is a mounting element mounted on the mounting surface of the multilayer substrate.
  • the connecting portion is disposed in the vicinity of the first side of the first main surface of the filter substrate.
  • the mountable element is mounted in the vicinity of the first side of the filter substrate.
  • This configuration shows a specific configuration example of a high-frequency module using WLP in the case where the matching element is a mounting type element. With this configuration, the matching element and the connection portion can be reliably coupled.
  • the high frequency module of the present invention preferably has the following configuration.
  • the matching element includes a rectangular parallelepiped housing and a spiral conductor formed in the housing and having a substantially rectangular outer periphery in plan view.
  • the matching element is arranged so that the long side of the housing is parallel to the first side of the filter substrate.
  • the high frequency module of the present invention may have the following configuration.
  • the matching element is composed of a conductor pattern formed on the mounting surface or inside of the multilayer substrate, and the conductor pattern and the connection portion are at least partially overlapped in plan view.
  • This configuration shows a specific configuration example of a high-frequency module using WLP in the case where the matching element is made of a conductor pattern formed on a multilayer substrate.
  • the matching element and the connection portion can be reliably coupled.
  • the matching element is not mounted on the multilayer substrate as a mounting circuit element, there is no need for a planar space for mounting the matching element, and the planar shape of the high-frequency module can be reduced.
  • the high frequency module of the present invention may have the following configuration.
  • the high-frequency module includes a flat filter substrate in which an IDT electrode and a connection portion constituting a filter portion are formed on a first main surface, and a first main surface of the filter substrate disposed on the first main surface side of the filter substrate. And a flat plate-like filter mounting substrate on which the side is mounted.
  • the matching element is formed on the filter mounting substrate.
  • This configuration shows a case where the high-frequency module is realized by CSP (Chip Sized Package).
  • FIG. 5 is a circuit diagram showing a specific example of a matching element of the high-frequency module shown in FIGS. 1 to 4. It is a graph which shows the change of the passage characteristic of a high frequency module when changing the coupling degree of a matching element and a connection conductor.
  • FIG. 1 is a circuit block diagram showing a first circuit example of the high-frequency module according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a circuit block diagram showing a second circuit example of the high-frequency module according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a circuit block diagram showing a third circuit example of the high-frequency module according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a circuit block diagram showing a fourth circuit example of the high-frequency module according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 5A, FIG. 5B, FIG. 5C, and FIG. 5D are circuit diagrams showing specific examples of matching elements on the first external connection terminal side.
  • 5E, FIG. 5F, FIG. 5G, and FIG. 5H are circuit diagrams showing specific examples of matching elements on the second external connection terminal side.
  • the high-frequency modules 11, 12, 13, and 14 include a first external connection terminal P 1, a second external connection terminal P 2, and a filter unit 20.
  • the filter unit 20 is connected between the first external connection terminal P1 and the second external connection terminal P2.
  • the filter unit 20 includes a first terminal P21 and a second terminal P22.
  • the first terminal P21 is connected to the first external connection terminal P1 via a series connection type matching element or a shunt connection type matching element described later.
  • the second terminal P22 is connected to the second external connection terminal P2 via a series connection type matching element or a shunt connection type matching element described later.
  • the filter unit 20 includes a plurality of SAW resonators 201, 202, 203, 204, 205, 206, 207, 208 (hereinafter, when a plurality of SAW resonators are collectively described, a plurality of SAW resonators 201- 208). These SAW resonators correspond to the “filter element” of the present invention.
  • the plurality of SAW resonators 201 to 208 each have a resonance frequency and function as a band pass filter (BPF) having band pass characteristics individually.
  • BPF band pass filter
  • one end of the SAW resonator 201 is connected to the first terminal P21 via the connection conductor 301.
  • the other end of the SAW resonator 201 is connected to one end of the SAW resonator 202.
  • the other end of the SAW resonator 202 is connected to one end of the SAW resonator 203 via a connection conductor 302.
  • the other end of the SAW resonator 203 is connected to one end of the SAW resonator 204.
  • the other end of the SAW resonator 204 is connected to one end of the SAW resonator 205 via a connection conductor 303.
  • the other end of the SAW resonator 205 is connected to one end of the SAW resonator 206.
  • the other end of the SAW resonator 206 is connected to one end of the SAW resonator 207 via a connection conductor 304.
  • the other end of the SAW resonator 207 is connected to one end of the SAW resonator 208.
  • the other end of the SAW resonator 208 is connected to the second terminal P22 via the connection conductor 305.
  • connection conductors connections between the SAW resonators 201 and 202, between the SAW resonators 203 and 204, between the SAW resonators 205 and 206, and between the SAW resonators 207 and 208 are not particularly referred to as connection conductors. Can be regarded as a connection conductor. These connecting conductors correspond to the “connecting portion” of the present invention.
  • the filter unit 20 realizes desired band pass characteristics and attenuation characteristics outside the pass band as the filter unit 20 by combining the band pass characteristics and attenuation characteristics of the SAW resonators 201-208.
  • each high-frequency module has a specific circuit configuration as shown below.
  • a high frequency module 11 shown in FIG. 1 includes series connection type matching elements 41 and 42.
  • One of the matching elements 41 and 42 can be omitted.
  • the matching element 41 is connected between the first terminal P21 of the filter unit 20 and the first external connection terminal P1.
  • the matching element 41 is an inductor 41L connected in series between the first terminal P21 and the first external connection terminal P1 shown in FIG. 5A, or a matching element 41L shown in FIG.
  • the capacitor 41C is connected in series between the first terminal P21 and the first external connection terminal P1.
  • the element value (inductance or capacitance) of the matching element 41 is set to an element value that realizes impedance matching between the circuit connected to the first external connection terminal P1 side and the filter unit 20.
  • the matching element 42 is connected between the second terminal P22 of the filter unit 20 and the second external connection terminal P2.
  • the matching element 42 is an inductor 42L connected in series between the second terminal P22 and the second external connection terminal P2 shown in FIG. 5E, or the matching element 42 shown in FIG.
  • the capacitor 42C is connected in series between the two terminal P22 and the second external connection terminal P2.
  • the element value (inductance or capacitance) of the matching element 42 is set to an element value that realizes impedance matching between the circuit connected to the second external connection terminal P2 side and the filter unit 20.
  • At least one of the matching elements 41 and 42 is inductively coupled or capacitive with respect to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, 304, and 305 of the filter unit 20, as indicated by a dotted arrow in FIG. Sexual coupling.
  • the matching element and the connection conductor are coupled to each other by the matching element and the connection conductor located at least via one SAW resonator.
  • the matching element 41 is coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305.
  • the matching element 41 is the inductor 41L
  • the inductor 41L is inductively coupled or capacitively coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305.
  • the matching element 41 is the capacitor 41C
  • the capacitor 41C is capacitively coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305.
  • the matching element 42 is coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304. If the matching element 42 is the inductor 42L, the inductor 42L is inductively coupled or capacitively coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304. If the matching element 42 is the capacitor 42C, the capacitor 42C is capacitively coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304.
  • the connecting conductor and the matching element to be coupled are connected in high frequency.
  • the matching element 41 is the inductor 41L and the inductor 41L and the connection conductor 304 are inductively coupled
  • an inductive coupling circuit having a mutual inductance M between the inductor 41L (matching element 41) and the connection conductor 304 is formed. Composed.
  • the high-frequency signal is not propagated between the first external connection terminal P1 and the second external connection terminal P2 only through the main propagation path having the filter unit 20 as a propagation path, and a part of the high-frequency signal is inductor 41L.
  • the inductive coupling circuit, and the sub-propagation path having the connection conductor 304 as a propagation path are also propagated.
  • the high-frequency module 11 becomes a combined transmission characteristic in which the transmission characteristic of the main propagation path and the transmission characteristic of the sub-propagation path are combined.
  • the amplitude and phase of the high-frequency signal propagating through the sub-propagation path can be adjusted by adjusting the coupling mode and coupling degree between the matching element to be coupled and the connection conductor.
  • the transmission characteristics of the sub-propagation path can be adjusted.
  • the transmission characteristics are, for example, attenuation characteristics (amplitude characteristics) and phase characteristics.
  • the transmission characteristic as the high frequency module 11 can be adjusted. For example, as will be described later, attenuation characteristics outside the passband can be adjusted.
  • the effective inductance value of the inductor 41L (matching element 21) can be increased by the mutual induction component due to the above-described coupling. Therefore, the line length of the inductor 41L can be further shortened.
  • the high frequency module 12 shown in FIG. 2 includes shunt connection type matching elements 43 and 44.
  • One of the matching elements 43 and 44 can be omitted.
  • the matching element 43 is connected between the connection line 401 that connects the first terminal P21 of the filter unit 20 and the first external connection terminal P1 and the ground.
  • the matching element 43 is an inductor 43L connected between the connection line 401 connecting the first terminal P21 and the first external connection terminal P1 shown in FIG.
  • the capacitor 43C is connected between the connection line 401 that connects the first terminal P21 and the first external connection terminal P1 shown in FIG. 5D and the ground.
  • the element value (inductance or capacitance) of the matching element 43 is set to an element value that realizes impedance matching between the circuit connected to the first external connection terminal P1 side and the filter unit 20.
  • the matching element 44 is connected between the connection line 402 that connects the second terminal P22 of the filter unit 20 and the second external connection terminal P2 and the ground. More specifically, the matching element 44 is an inductor 44L connected between the connection line 402 connecting the second terminal P22 and the second external connection terminal P2 shown in FIG. The capacitor 44C is connected between the connection line 402 that connects the second terminal P22 and the second external connection terminal P2 shown in FIG. 5H and the ground.
  • the element value (inductance or capacitance) of the matching element 44 is set to an element value that realizes impedance matching between the circuit connected to the second external connection terminal P2 side and the filter unit 20.
  • At least one of the matching elements 43 and 44 is inductively coupled or capacitive with respect to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, 304, and 305 of the filter unit 20, as indicated by a dotted arrow in FIG. Sexual coupling.
  • the matching element and the connection conductor are coupled to each other by the matching element and the connection conductor located at least via one SAW resonator.
  • the matching element 43 is coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305. If the matching element 43 is the inductor 43L, the inductor 43L is inductively coupled or capacitively coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305. If the matching element 43 is the capacitor 43C, the capacitor 43C is capacitively coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305.
  • the matching element 44 is coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304. If the matching element 44 is the inductor 44L, the inductor 44L is inductively coupled or capacitively coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304. If the matching element 44 is the capacitor 44C, the capacitor 44C is capacitively coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304.
  • the connecting conductor to be coupled and the matching element are connected in a high frequency manner.
  • a matching element 44 capacitor 44C if the connection conductor 301 and capacitor 44C are capacitively coupled, the capacitive coupling circuit having a coupling capacitor C M between the capacitor 44C (matching element 44) and the connection conductor 301 Is configured.
  • the high-frequency signal is not propagated between the first external connection terminal P1 and the second external connection terminal P2 only through the main propagation path having the filter unit 20 as a propagation path, and part of the high-frequency signal is connected to the connection conductor. It is also propagated to the sub-propagation path having the propagation path 301, the capacitive coupling circuit and the capacitor 44C (matching element 44).
  • the high-frequency module 12 becomes a combined transmission characteristic in which the transmission characteristic of the main propagation path and the transmission characteristic of the sub-propagation path are combined.
  • the high-frequency module 13 shown in FIG. 3 includes a series connection type matching element 41 and a shunt connection type matching element 44.
  • the matching element 41 is connected between the first terminal P21 of the filter unit 20 and the first external connection terminal P1.
  • the matching element 41 is an inductor 41L connected in series between the first terminal P21 and the first external connection terminal P1 shown in FIG. 5A, or a matching element 41L shown in FIG.
  • the capacitor 41C is connected in series between the first terminal P21 and the first external connection terminal P1.
  • the element value (inductance or capacitance) of the matching element 41 is set to an element value that realizes impedance matching between the circuit connected to the first external connection terminal P1 side and the filter unit 20.
  • the matching element 44 is connected between the connection line 402 that connects the second terminal P22 of the filter unit 20 and the second external connection terminal P2 and the ground. More specifically, the matching element 44 is an inductor 44L connected between the connection line 402 connecting the second terminal P22 and the second external connection terminal P2 shown in FIG. The capacitor 44C is connected between the connection line 402 that connects the second terminal P22 and the second external connection terminal P2 shown in FIG. 5H and the ground.
  • the element value (inductance or capacitance) of the matching element 44 is set to an element value that realizes impedance matching between the circuit connected to the second external connection terminal P2 side and the filter unit 20.
  • At least one of the matching elements 41 and 44 is inductively coupled or capacitive with respect to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, 304, and 305 of the filter unit 20 as indicated by a dotted arrow in FIG. Sexual coupling.
  • the matching element and the connection conductor are coupled to each other by the matching element and the connection conductor located at least via one SAW resonator.
  • the matching element 41 is coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305.
  • the matching element 41 is the inductor 41L
  • the inductor 41L is inductively coupled or capacitively coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305.
  • the matching element 41 is the capacitor 41C
  • the capacitor 41C is capacitively coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305.
  • the matching element 44 is coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304. If the matching element 44 is the inductor 44L, the inductor 44L is inductively coupled or capacitively coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304. If the matching element 44 is the capacitor 44C, the capacitor 44C is capacitively coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304.
  • the high-frequency module 13 has a combined transmission characteristic in which the transmission characteristic of the main propagation path through the filter unit 20 and the transmission characteristic of the sub-propagation path through the coupling unit are combined. Even with the high-frequency module 13 having such a configuration, a desired attenuation characteristic can be realized with a simpler configuration than the conventional configuration, similarly to the high-frequency modules 11 and 12 described above.
  • the high-frequency module 14 shown in FIG. 4 includes a shunt connection type matching element 42 and a series connection type matching element 43.
  • the matching element 42 is connected between the second terminal P22 of the filter unit 20 and the second external connection terminal P2.
  • the matching element 42 is an inductor 42L connected in series between the second terminal P22 and the second external connection terminal P2 shown in FIG. 5E, or the matching element 42 shown in FIG.
  • the capacitor 42C is connected in series between the two terminal P22 and the second external connection terminal P2.
  • the element value (inductance or capacitance) of the matching element 42 is set to an element value that realizes impedance matching between the circuit connected to the second external connection terminal P2 side and the filter unit 20.
  • the matching element 43 is connected between the connection line 401 that connects the first terminal P21 of the filter unit 20 and the first external connection terminal P1 and the ground.
  • the matching element 43 is an inductor 43L connected between the connection line 401 connecting the first terminal P21 and the first external connection terminal P1 shown in FIG.
  • the capacitor 43C is connected between the connection line 401 that connects the first terminal P21 and the first external connection terminal P1 shown in FIG. 5D and the ground.
  • the element value (inductance or capacitance) of the matching element 43 is set to an element value that realizes impedance matching between the circuit connected to the first external connection terminal P1 side and the filter unit 20.
  • At least one of the matching elements 42 and 43 is inductively coupled or capacitive with respect to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, 304, and 305 of the filter unit 20 as indicated by a dotted arrow in FIG. 4.
  • the matching element and the connection conductor are coupled to each other by the matching element and the connection conductor located at least via one SAW resonator.
  • the matching element 42 is coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304. If the matching element 42 is the inductor 42L, the inductor 42L is inductively coupled or capacitively coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304. If the matching element 42 is the capacitor 42C, the capacitor 42C is capacitively coupled to at least one of the connection conductors 301, 302, 303, and 304.
  • the matching element 43 is coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305. If the matching element 43 is the inductor 43L, the inductor 43L is inductively coupled or capacitively coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305. If the matching element 43 is the capacitor 43C, the capacitor 43C is capacitively coupled to at least one of the connection conductors 302, 303, 304, and 305.
  • the high-frequency module 14 has a combined transmission characteristic in which the transmission characteristic of the main propagation path through the filter unit 20 and the transmission characteristic of the sub-propagation path through the coupling unit are combined. Even with the high-frequency module 14 having such a configuration, a desired attenuation characteristic can be realized with a simpler configuration than the conventional configuration, similarly to the high-frequency modules 11, 12, and 13 described above.
  • FIG. 6 is a graph showing changes in pass characteristics of the high-frequency module when the degree of coupling between the matching element and the connection conductor is changed.
  • the horizontal axis in FIG. 6 indicates the frequency
  • the vertical axis in FIG. 6 indicates the attenuation amount of the signal propagating from the first external connection terminal P1 to the second external connection terminal P2.
  • the characteristic of the dotted line shown in FIG. 6 shows a case where the inductive coupling is weaker and the capacitive coupling is stronger than the characteristic of the solid line. 6 indicates a case where the inductive coupling is stronger and the capacitive coupling is weaker than the solid line characteristics.
  • a SAW resonator is connected between the connection position of the SAW resonators 202 and 203 of the filter unit 20 and the ground, and the SAW resonator is connected between the connection position of the SAW resonators 204 and 205 and the ground.
  • a case is shown in which a resonator is connected and a ladder structure in which the SAW resonator is connected between the connection position of the SAW resonators 206 and 207 and the ground is shown.
  • the high-frequency module in the present embodiment is a band-pass filter whose pass band is the 800 MHz band.
  • the stronger the inductive coupling and the weaker the capacitive coupling the higher the frequency of the attenuation pole that appears on the higher frequency side of the passband.
  • the weaker the inductive coupling and the stronger the capacitive coupling the lower the frequency of the attenuation pole appearing on the high frequency side of the passband.
  • the frequency of the attenuation pole in FIG. 6 is a peak frequency in the approximate center of the frequency axis.
  • the attenuation characteristics on the high frequency side of the pass band can be changed. For example, the stronger the capacitive coupling and the weaker the inductive coupling, the smaller the attenuation near the passband, but the greater the attenuation at the frequency of the attenuation pole.
  • the capacitive coupling becomes weaker and the inductive coupling becomes stronger the amount of attenuation near the passband can be increased.
  • the frequency position, frequency width, and insertion loss of the passband hardly change without being affected by the strength of inductive coupling and capacitive coupling.
  • FIG. 7 is an equivalent circuit diagram of a high-frequency module having a duplexer configuration.
  • the high-frequency module 101 includes a filter unit 21, a first external connection terminal P1, a second external connection terminal P2, and a third external connection terminal that also serves as the third terminals P31 and P32 of the filter unit 21.
  • the first external connection terminal P1 is connected to an antenna.
  • the second external connection terminal P2 is connected to the transmission circuit.
  • the third external connection terminals (third terminals P31 and P32) are connected to the receiving circuit.
  • the filter 21 includes a first terminal P21 ', a second terminal P22, third terminals P31 and P32, a fourth terminal P23, and a fifth terminal P24.
  • the first terminal P21 ' is connected to the first external connection terminal P1 via the connection line 401.
  • An inductor 43L corresponding to the above-described matching element is connected between the connection line 401 and the ground.
  • the second terminal P22 is connected to the second external connection terminal P2 through the connection line 402.
  • a plurality of SAW resonators 201, 202, 203, 204, 205, 206 are connected in series between the first terminal P21 'and the second terminal P22.
  • one end of the SAW resonator 201 is connected to the first terminal P ⁇ b> 21 ′ via the connection conductor 301.
  • the other end of the SAW resonator 201 is connected to one end of the SAW resonator 202.
  • the other end of the SAW resonator 202 is connected to one end of the SAW resonator 203 via a connection conductor 302.
  • the other end of the SAW resonator 203 is connected to one end of the SAW resonator 204.
  • the other end of the SAW resonator 204 is connected to one end of the SAW resonator 205 via a connection conductor 303.
  • the other end of the SAW resonator 205 is connected to one end of the SAW resonator 206.
  • the other end of the SAW resonator 206 is connected to the second terminal P22 via a connection conductor 304.
  • one end of the SAW resonator 211 is connected to a connection point between the SAW resonator 202 and the SAW resonator 203, in other words, a predetermined position of the connection conductor 302, and the other end of the SAW resonator 211 is connected to the fourth terminal.
  • the fourth terminal P23 is connected to the ground via the inductor 50.
  • a connection point between the SAW resonator 204 and the SAW resonator 205 in other words, a predetermined position of the connection conductor 303 is connected to one end of the SAW resonator 212, and the other end of the SAW resonator 212 is connected to the fifth terminal P24. It is connected to the.
  • a connection point between the SAW resonator 206 and the second terminal P22 in other words, a predetermined position of the connection conductor 304 is connected to one end of the SAW resonator 213, and the other end of the SAW resonator 213 is connected to the fifth terminal P24. It is connected.
  • the fifth terminal P24 is connected to the ground via the inductor 60.
  • the filter unit 21 combines the bandpass characteristics and attenuation characteristics of the SAW resonators 201-208, 211, 212, and 213 between the first terminal P21 ′ and the second terminal P22.
  • a desired first band pass characteristic between the first and second terminals of the filter unit 21 and a first attenuation characteristic outside the first pass band are realized.
  • a SAW resonator 211 and longitudinally coupled SAW resonators 231 and 232 are connected in series.
  • the filter unit 21 combines the band-pass characteristics and the attenuation characteristics of the SAW resonators 221, 231, and 232 between the first terminal P21 ′ and the third terminals P31 and P32, thereby obtaining a filter.
  • a desired second band pass characteristic between the first and third terminals of the unit 21 and a second attenuation characteristic outside the second pass band are realized.
  • the second pass band is a frequency band different from the first pass band, and the second pass band is set to be within the attenuation band range outside the first pass band.
  • the filter unit 21 functions as a duplexer having the first terminal P21 'as a common terminal and the second terminal P22 and the third terminals P31 and P32 as individual terminals.
  • any of the connection conductors 302, 303, and 304 and the inductor 43L are inductively coupled.
  • the first attenuation characteristic can be adjusted by adjusting the degree of coupling.
  • the bandwidth and the amount of attenuation of the frequency band in which the amount of attenuation in the first attenuation characteristic is large can be adjusted so as to overlap the second passband. This can be achieved by selecting the connection conductors 302, 303, and 304 to be coupled to the inductor 43L and adjusting the degree of coupling between the coupled connection conductor and the inductor 43L.
  • FIG. 8 is a graph showing a change in isolation between the second external connection terminal and the third external connection terminal of the high-frequency module when the degree of coupling between the matching element and the connection conductor is changed.
  • the horizontal axis in FIG. 8 indicates the frequency
  • the vertical axis in FIG. 8 indicates the amount of isolation.
  • FIG. 8 shows that the lower the isolation amount, the stronger the isolation between the second and third terminals.
  • the dotted line characteristics shown in FIG. 8 indicate a case where the inductive coupling is weaker and the capacitive coupling is stronger than the solid line characteristics.
  • the characteristic of the broken line shown in FIG. 8 shows the case where the inductive coupling is stronger and the capacitive coupling is weaker than the characteristic of the solid line.
  • the isolation characteristics between the second and third terminals can be appropriately adjusted. That is, the isolation characteristic between the transmission circuit and the reception circuit can be optimized.
  • the high-frequency module having the above configuration can be realized by the following structure.
  • an example in which the high-frequency module 101 having the above-described duplexer configuration is structurally realized will be described.
  • FIG. 9 is a conceptual side view showing the main structure of the high-frequency module.
  • the high-frequency module 101 includes a multilayer substrate 100, a filter substrate 200, a cover layer 290, a side cover layer 291, and a mounting circuit element 430.
  • the laminated substrate 100 is formed by laminating a plurality of dielectric layers.
  • a predetermined pattern of electrodes is formed on the surface 100 ⁇ / b> S and the inner layer of the multilayer substrate 100, and wiring patterns and inductors 50 and 60 excluding the filter portion 21 of the high-frequency module 101 are formed.
  • External connection electrodes are formed on the bottom surface 100R of the multilayer substrate 100, and the first external connection terminal P1, the second external connection terminal P2, and the third external connection terminal described above are realized by these external connection electrodes.
  • the filter unit 21 is formed by the filter substrate 200, the cover layer 290, the side cover layer 291, the connection electrode 293, and the mounting electrode 294.
  • the filter substrate 200 is a flat piezoelectric substrate.
  • a filter electrode is formed on the first main surface of the filter substrate 200.
  • the filter electrode is, for example, a so-called IDT electrode.
  • IDT electrode an electrode pattern for realizing each connection conductor including the connection conductor 304 is formed on the first main surface of the filter substrate 200.
  • a flat cover layer 290 is disposed on the first main surface side of the filter substrate 200.
  • the cover layer 290 is made of a flat insulating material and has the same shape as the filter substrate 200 in plan view. Further, the cover layer 290 is disposed so as to overlap the filter substrate 200 in plan view, and is disposed at a predetermined distance from the first main surface of the filter substrate 200.
  • a side cover layer 291 is disposed between the first main surface of the filter substrate 200 and the cover layer 290.
  • the side cover layer 291 is also made of an insulating material, and the filter substrate 200 and the cover layer are viewed in plan view. Over the entire circumference of 290, it is formed only within a predetermined width range from the outer peripheral end to the inside. That is, the cover layer 290 has a frame-like structure having an opening at the center.
  • the cover layer 290 and the side cover layer 291 the region where the filter electrode on the first main surface of the filter substrate 200 is formed is the filter substrate 200, the cover layer 290, and the side cover layer 291. Is disposed in the sealed space 292. As a result, the resonance characteristics of the SAW resonator can be improved, and the desired characteristics as a filter can be accurately realized.
  • connection electrode 293 has a shape in which one end is in contact with the first main surface of the filter substrate 200 and the other end is exposed on the surface of the cover layer 290 opposite to the filter substrate 200 side. At this time, the connection electrode 293 is formed so as to penetrate the side cover layer 291 and the cover layer 290. One end of the connection electrode 293 is connected to an electrode pattern formed on the first main surface of the filter substrate 200.
  • the mounting electrode 294 is connected to the other end of the connection electrode 293 and formed in a shape protruding from the surface of the cover layer 290 opposite to the filter substrate 200 side.
  • the connection electrode 293 and the mounting electrode 294 By providing a plurality of sets of the connection electrode 293 and the mounting electrode 294, the first terminal P21 ′, the second terminal P22, the third terminals P31 and P32, the fourth terminal P23, and the fifth terminal of the filter unit 21 described above. P24 is realized.
  • a bump may be formed on the other end of the connection electrode 293 using solder, Au, or the like, and connected to the mounting electrode 294 via the bump.
  • the filter unit 21 has a so-called WLP (Wafer Level Package) structure, and the filter unit 21 can be formed in a small size.
  • WLP Wafer Level Package
  • the WLP structure filter unit 21 is mounted on the top surface (mounting surface) 100S of the multilayer substrate 100. Thereby, the filter unit 21 is connected to the first external connection terminal P1, the second external connection terminal P2, and the third external connection terminal.
  • the inductor 43L is realized by the mounted circuit element 430.
  • the mounting circuit element 430 includes a rectangular parallelepiped housing made of an insulating material, and a spiral electrode serving as the inductor 43L is formed inside the housing.
  • the spiral electrode is realized by a tubular linear electrode and an interlayer connection electrode that extend along the outer periphery of the casing and are partially cut.
  • the linear electrodes of each layer are connected to form one linear electrode by an interlayer connection electrode. Both ends of the spiral electrode are connected to external connection electrodes formed on opposite end surfaces of the casing.
  • the mounting circuit element 430 having such a configuration is mounted on the top surface (mounting surface) 100S of the multilayer substrate 100 in the same manner as the filter unit 21.
  • a connection line between the first terminal P21 ′ of the filter unit 21 and the first external connection terminal P1 is formed on the top surface 100S and inside of the multilayer substrate 100, and a ground electrode is formed inside the multilayer substrate 100.
  • the mounting circuit element 430 is connected to a mounting land. Accordingly, it is possible to realize a structure in which the inductor 43L is connected between the connection line between the first terminal P21 'of the filter unit 21 and the first external connection terminal P1 and the ground.
  • the inductive coupling between the inductor 43L and a predetermined connection conductor of the filter unit 21 is obtained by disposing the mounting circuit element 430 that realizes the inductor 43L in the vicinity of the filter unit 21 having the WLP structure. Can do.
  • the electrode pattern constituting the filter unit 21 has a structure as shown in FIG. 10, for example.
  • FIG. 10 is a conceptual plan view showing the main structure of the high-frequency module. Specifically, the IDT electrode constituting the SAW resonators 201-206, 211, 212, 213, and 221 and the IDT electrode constituting the longitudinally coupled SAW resonators 231 and 232 are formed on the first main surface of the filter substrate 200. And the electrode pattern which comprises each connection conductor is formed. In addition, land electrodes constituting the terminals P21 ', P22, P23, and P24 are also formed. The IDT electrode, the electrode pattern constituting the connection conductor, and the land electrode are formed in a predetermined pattern configuration so as to realize the circuit configuration shown in FIG.
  • the electrode pattern constituting the connection conductor 304 is formed in the vicinity of the first end side of the filter substrate 200 in a shape extending along the first end side.
  • the mounted circuit element 430 is mounted at a position close to the first end side of the filter substrate 200.
  • the inductor 43L made of a spiral electrode of the mounting circuit element 430 and the connecting conductor 304 made of a linear electrode pattern are brought close to each other, so that inductive coupling is generated as shown by a thick dotted line arrow in FIG. be able to.
  • the arrangement position of the mounting circuit element 430 is changed on the top surface 100S of the multilayer substrate 100 as shown by the thin broken line arrows in FIG.
  • the distance between the inductor 43L made of the spiral electrode of the mounting circuit element 430 and the connection conductor 304 made of a linear electrode pattern and the length of the electrode extending oppositely can be adjusted.
  • FIG. 10 shows an example in which the long side surface of the mounting circuit element 430 and the first end side of the filter substrate 200 are arranged in parallel.
  • the short side surface (end surface on which the external connection electrode is formed) of the mounting circuit element 430 and the first end surface of the filter substrate 200 may be arranged in parallel.
  • by arranging the longitudinal side surface of the mounting circuit element 430 and the first end side of the filter substrate 200 in parallel stronger inductive coupling can be realized more easily.
  • FIG. 10 shows an example in which the mounting circuit element 430 is mounted so that the center axis of the spiral electrode is orthogonal to the top surface 100S. However, the center axis of the spiral electrode is parallel to the top surface 100S.
  • the mounting circuit element 430 may be mounted.
  • FIG. 11 is a conceptual side view showing the main structure of the high-frequency module.
  • the inductor 43L is not realized by a mounted circuit element, but is realized by an electrode pattern formed in the multilayer substrate 100.
  • the configuration of the filter unit 21 is the same as that of the high-frequency module 101 shown in FIGS.
  • an inductor 43L made of an electrode pattern of a spiral electrode is formed.
  • the spiral electrode is realized by a tubular linear electrode formed on a plurality of dielectric layers constituting the multilayer body 100 and partly divided and an interlayer connection electrode.
  • the linear electrodes of the respective dielectric layers are connected in the stacking direction by interlayer connection electrodes, and are connected so as to become one linear electrode. With this configuration, it is possible to realize a spiral electrode having a central axis along the stacking direction.
  • One end of the spiral electrode constituting the inductor 43L is connected via a via conductor 431V to a land electrode on which the mounting electrode 294 serving as the first terminal P21 'of the filter unit 21 is mounted.
  • the land electrode is formed on the top surface 100 ⁇ / b> S of the multilayer substrate 100.
  • the other end of the spiral electrode constituting the inductor 43L is connected to an internal ground pattern formed near the bottom surface 100R in the multilayer substrate 100 via a via conductor 432V.
  • the spiral electrode that constitutes the inductor 43L is formed so that at least a portion thereof overlaps with the electrode pattern that constitutes the connection conductor 304 of the filter portion 21 in plan view.
  • the thick broken line arrow in FIG. 11 is formed between the inductor 43L formed of a spiral electrode in the multilayer substrate 100 and the connection conductor 304 formed of a linear electrode pattern formed on the first main surface of the filter substrate 200.
  • inductive binding can occur.
  • the inductor 43L and the connection conductor are changed by changing the distance between the spiral electrode constituting the inductor 43L and the electrode pattern constituting the connection conductor 304 of the filter unit 21 and the overlapping area of the spiral electrode and the electrode pattern.
  • the degree of coupling with 304 can be adjusted.
  • the attenuation characteristic of the high-frequency module 101A can be adjusted, and the desired attenuation characteristic can be realized more accurately.
  • the inductor 43L is not a mounted circuit element, a region for mounting the mounted circuit element may not be provided on the top surface 100S of the multilayer substrate 100. Thereby, the area which planarly viewed the multilayer substrate 100 can be reduced, and the planar area of the high-frequency module 101A can be reduced.
  • FIG. 12 is a conceptual side view showing the main structure of the high-frequency module.
  • the high frequency module 101B shown in FIG. 12 is realized by a so-called CSP (Chip Sized Package) structure.
  • CSP Chip Sized Package
  • the high frequency module 101B includes a filter substrate 200.
  • the filter substrate 200 is formed with the electrode pattern constituting each connection conductor including the filter electrode that realizes the filter unit 21 and the connection conductor 304.
  • the high-frequency module 101B further includes a filter mounting substrate 280.
  • the filter mounting substrate 280 is made of, for example, an alumina substrate, and has a larger area in plan view than the filter substrate 200 by a predetermined amount.
  • the filter substrate 200 is mounted on the filter mounting substrate 280 by the bump conductor 281 so that the first main surface is on the filter mounting substrate 280 side.
  • An external connection bump conductor 282 is formed on the surface of the filter mounting substrate 280 opposite to the mounting surface of the filter substrate 200.
  • the filter mounting substrate 280 is formed with a circuit pattern and an inductor 43L excluding the filter portion 21 of the high-frequency module 101B (high-frequency module 101 as a circuit configuration).
  • a mold resin 283 is applied to the surface of the filter mounting substrate 280 on which the filter substrate 200 is mounted.
  • the electrode pattern constituting the filter electrode and the connection conductor can be prevented from being exposed to the external environment, the resonance characteristics of the SAW resonator can be improved, and the desired characteristics as the filter can be accurately realized. Can do.
  • the electrode pattern constituting the inductor 43L formed on the filter mounting substrate 280 and the electrode pattern realizing the connection conductor 304 formed on the filter substrate 200 are at least partially overlapped in plan view. Deploy. Accordingly, as shown in FIG. 12, inductive coupling can be generated between the electrode pattern constituting the inductor 43L and the electrode pattern realizing the connection conductor 304.
  • inductive coupling can be generated between the electrode pattern constituting the inductor 43L and the electrode pattern realizing the connection conductor 304.
  • the distance (distance) between the electrode pattern constituting the inductor 43L and the electrode pattern realizing the connection conductor 304 can be shortened, stronger inductive coupling can be easily realized. be able to.
  • the high frequency module 101B can be realized in a small size and a thin shape.
  • an inductor is used as a matching element.
  • the matching element is a capacitor
  • the same structure can be realized.
  • a mounting type multilayer capacitor element may be used.
  • the capacitor may be realized by a plurality of plate electrodes formed so as to face different layers in the multilayer substrate 100.
  • a capacitor may be realized by an electrode pattern formed on the filter mounting substrate 280.
  • connection conductor coupled to the matching element may be provided with at least one SAW resonator interposed therebetween.
  • the influence on the attenuation characteristic is increased. Can be bigger.
  • the matching element and the connection conductor having many SAW resonators interposed therebetween are coupled. The greater the effect, the greater the effect on the attenuation characteristics.

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Abstract

高周波モジュール（１１）は、フィルタ部（２０）、第１、第２外部接続端子（Ｐ１，Ｐ２）を備える。フィルタ部（２０）は第１、第２端子（Ｐ２１，Ｐ２２）と、複数のＳＡＷ共振子（２０１－２０８）を備える。複数のＳＡＷ共振子（２０１－２０８）は、接続導体によって接続されている。第１端子（Ｐ２１）と第１外部接続端子（Ｐ１）との間には、整合素子（４１）が接続されており、第２端子（Ｐ２２）と第２外部接続端子（Ｐ２）との間には、整合素子（４２）が接続されている。整合素子（４１，４２）の少なくとも一方は、ＳＡＷ共振子を少なくとも一つ介した位置にある接続導体（３０１，３０２，３０３，３０４，３０５）の少なくとも一つに誘導性結合または容量性結合している。

Description

高周波モジュール
　本発明は、複数のフィルタ素子を備えた高周波モジュールに関するものである。
　無線通信機能を備える携帯機器等では、所望周波数の高周波信号のみを通過し、当該所望周波数以外の高周波信号を減衰させるために、フィルタ回路を備えている。
　例えば、特許文献１には、ＳＡＷフィルタを複数備えたフィルタ回路が記載されている。具体的に、特許文献１のフィルタ回路は、入力端子と出力端子との間に、複数のＳＡＷフィルタが直列接続されている。直列接続された各ＳＡＷフィルタを接続する接続ラインとグランドとの間にも、それぞれＳＡＷフィルタが接続されている。
　特許文献１に記載のフィルタ回路は、通過帯域外の減衰特性を改善するために、インダクタもしくはインダクタとキャパシタの直列回路（補正回路と称する）を、ＳＡＷフィルタの直列回路に対して並列接続している。この際、ＳＡＷフィルタ群からなる回路部を伝搬する通過帯域外の高周波信号（抑圧対象信号）と、補正回路を伝搬する抑圧対象信号が、振幅が一致し位相が逆転するように、補正回路を調整する。これにより、抑圧対象信号は、ＳＡＷフィルタ群からなる回路部と補正回路との接続点で相殺され、出力端子からは出力されない。
特開２０１２－１０９８１８号公報
　しかしながら、上述の構成では、主たるフィルタ機能を有するＳＡＷフィルタ群からなる回路部とは別に、減衰特性を改善するためだけに、インダクタもしくはインダクタとキャパシタの直列回路からなる補正回路を設けなければならない。
　したがって、フィルタ回路の構成要素が多くなり、フィルタ回路が大型化してしまい、小型化が要求される現在の携帯端末等には不向きである。
　本発明の目的は、通過帯域外の減衰特性が優れた小型のフィルタ回路を有する高周波モジュールを提供することにある。
　この発明は、第１外部接続端子と、第２外部接続端子と、第１外部接続端子と第２外部接続端子との間に接続されたフィルタ部と、第１外部接続端子もしくは第２外部接続端子の少なくとも一方とフィルタ部との間に接続された整合素子と、を備えた高周波モジュールに関するものであり、次の特徴を有する。
　フィルタ部は、第１外部接続端子に接続する第１端子と、第２外部接続端子に接続する第２端子と、第１端子と第２端子との間に直列接続された複数のフィルタ素子とを備える。複数のフィルタ素子における一方端のフィルタ素子と第１端子とを接続する一方端の接続部、複数のフィルタ素子における他方端のフィルタ素子と第２端子とを接続する他方端の接続部、隣り合うフィルタ素子間を接続する中間の接続部の少なくとも一つと整合素子とは、誘導性結合もしくは容量性結合されている。
　この構成では、高周波信号が複数のフィルタ部を伝搬する主伝搬経路とは別に、接続部と整合素子によって生じる誘導性結合または容量性結合の経路を介する副伝搬経路が形成される。副伝搬経路は、誘導性結合または容量性結合の結合度によって主伝搬経路とは異なる振幅特性および位相特性となり、副伝搬経路の振幅特性および位相特性を調整することで、高周波モジュールとしての伝送特性を調整することができる。これにより、別途インダクタやキャパシタを設けなくても、高周波モジュールの伝送特性を調整し、例えば減衰特性を改善できる。
　また、この発明の高周波モジュールは、次の構成であることが好ましい。互いに誘導性結合もしくは容量性結合する接続部と整合素子は、フィルタ部の通過帯域外のインピーダンスが変化するように誘導性結合もしくは容量性結合されている。
　この構成に示すように、結合態様や結合度を適宜調整することで、通過帯域の特性を変化させることなく、通過帯以外の特性すなわち減衰特性を変化させることができる。
　また、この発明の高周波モジュールでは、次の構成であることが好ましい。互いに誘導性結合もしくは容量性結合する接続部と整合素子は、フィルタ部の通過帯域外の減衰極周波数が変化するように誘導性結合もしくは容量性結合されている。
　この構成では、減衰特性の調整態様として、減衰極周波数が調整される。
　また、この発明の高周波モジュールでは、整合素子は、第１外部接続端子と第１端子との間に直列接続されるか、もしくは、第２外部接続端子と第２端子との間に直列接続される、シリーズ接続型の整合素子であってもよい。
　また、この発明の高周波モジュールでは、整合素子は、第１外部接続端子と第１端子とを接続する接続ラインとグラントとの間に接続されるか、もしくは、第２外部接続端子と第２端子とを接続する接続ラインとグランドの間に接続される、シャント接続型の整合素子であってもよい。
　これらの構成では、整合素子の具体的な接続態様を示している。これらの接続態様を適宜決定することで、フィルタ部と外部とのインピーダンス整合を適切に行いながら、上述の減衰特性の調整も適切に行える。
　また、この発明の高周波モジュールでは、接続部は線状導体パターンからなることが好ましい。
　この構成では、接続部を簡素な構造で実現でき、フィルタ部及び高周波モジュールを小型に形成することができる。
　また、この発明の高周波モジュールでは、第３端子と、第２のフィルタ部とを備え、第２のフィルタ部が、第１端子および該第１端子に接続するフィルタ素子を接続する接続ラインと第３端子との間に接続されていてもよい。
　この構成では、第１端子を共通端子とし、第２端子及び第３端子を個別端子とする合成分波器を実現できる。
　また、この発明の高周波モジュールでは、次の構成であってもよい。高周波モジュールは、フィルタ部を構成するＩＤＴ電極および接続部が第１主面に形成された平板状のフィルタ基板と、該フィルタ基板の第１主面に対して間隔を空けて対向する平板状のカバー層と、第１主面から突出し、カバー層を貫通する形状の接続電極と、整合素子が実装または形成された積層基板と、を備える。フィルタ基板は、第１主面側が積層基板の実装面に向くように配置されている。フィルタ基板は、接続電極を介して積層基板に接続されている。
　この構成では、ＷＬＰ（Ｗａｆｅｒ　Ｌｅｖｅｌ　Ｐａｃｋａｇｅ）からなるフィルタ部と積層基板とで高周波モジュールを実現できる。これにより、高周波モジュールを小型化できる。
　また、この発明の高周波モジュールでは、次の構成であってもよい。整合素子は、積層基板の実装面に実装される実装型素子である。接続部は、フィルタ基板の第１主面における第１辺の近傍に配置されている。実装型素子は、フィルタ基板の第１辺の近傍に実装されている。
　この構成では、整合素子が実装型素子の場合におけるＷＬＰを用いた高周波モジュールの具体的な構成例を示している。この構成により、整合素子と接続部との結合を確実に実現できる。
　また、この発明の高周波モジュールでは、次の構成であることが好ましい。整合素子は、直方体形状の筐体と、該筐体内に形成され平面視して略長方形の外周形からなるスパイラル導体と、を備える。整合素子は、筐体の長辺がフィルタ基板の第１辺に平行になるように、配置されている。
　この構成では、整合素子と接続部との結合を得やすく、所望とする結合量への調整も容易になる。
　また、この発明の高周波モジュールでは、次の構成であってもよい。整合素子は、積層基板の実装面または内部に形成された導体パターンからなり、該導体パターンと接続部は、平面視して少なくとも一部が重なっている。
　この構成では、整合素子が積層基板に形成された導体パターンからなる場合におけるＷＬＰを用いた高周波モジュールの具体的な構成例を示している。この構成により、整合素子と接続部との結合を確実に実現できる。また、整合素子が実装型回路素子として積層基板に実装される態様ではないので、当該整合素子を実装するための平面的スペースが必要なく、高周波モジュールの平面形状を小さくすることができる。
　また、この発明の高周波モジュールでは、次の構成であってもよい。高周波モジュールは、フィルタ部を構成するＩＤＴ電極および接続部が第１主面に形成された平板状のフィルタ基板と、該フィルタ基板の第１主面側に配置され該フィルタ基板の第１主面側が実装された平板状のフィルタ実装用基板と、を備える。整合素子は、フィルタ実装用基板に形成されている。
　この構成では、高周波モジュールをＣＳＰ（Ｃｈｉｐ　Ｓｉｚｅｄ　Ｐａｃｋａｇｅ）で実現する場合を示している。
　この発明によれば、優れた通過帯域外の減衰特性を備えた小型のフィルタ回路を有する高周波モジュールを実現することができる。
本発明の実施形態に係る高周波モジュールの第１回路例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施形態に係る高周波モジュールの第２回路例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施形態に係る高周波モジュールの第３回路例を示す回路ブロック図である。 本発明の実施形態に係る高周波モジュールの第４回路例を示す回路ブロック図である。 図１から図４に示す高周波モジュールの整合素子の具体例を示す回路図である。 整合素子と接続導体の結合度を変化させた時の高周波モジュールの通過特性の変化を示すグラフである。 デュプレクサ構成からなる高周波モジュールの等価回路図である。 整合素子と接続導体の結合度を変化させた時の高周波モジュールの第２外部接続端子と第３外部接続端子との間のアイソレーションの変化を示すグラフである。 高周波モジュールの第１の構造の主要構造を示す側面概念図である。 高周波モジュールの第１の構造の主要構造を示す平面概念図である。 高周波モジュールの第２の構造の主要構造を示す側面概念図である。 高周波モジュールの第３の構造の主要構造を示す側面概念図である。
　本発明の実施形態に係る高周波モジュールについて、図を参照して説明する。図１は本発明の実施形態に係る高周波モジュールの第１回路例を示す回路ブロック図である。図２は本発明の実施形態に係る高周波モジュールの第２回路例を示す回路ブロック図である。図３は本発明の実施形態に係る高周波モジュールの第３回路例を示す回路ブロック図である。図４は本発明の実施形態に係る高周波モジュールの第４回路例を示す回路ブロック図である。図５（Ａ）、図５（Ｂ）、図５（Ｃ）、図５（Ｄ）は第１外部接続端子側の整合素子の具体例を示す回路図である。図５（Ｅ）、図５（Ｆ）、図５（Ｇ）、図５（Ｈ）は第２外部接続端子側の整合素子の具体例を示す回路図である。
　まず、図１から図４のそれぞれ示す高周波モジュール１１，１２，１３，１４に対して共通な回路構成について説明する。
　高周波モジュール１１，１２，１３，１４は、第１外部接続端子Ｐ１、第２外部接続端子Ｐ２、フィルタ部２０を備える。フィルタ部２０は、第１外部接続端子Ｐ１と第２外部接続端子Ｐ２との間に接続されている。
　フィルタ部２０は、第１端子Ｐ２１、第２端子Ｐ２２を備える。第１端子Ｐ２１は、後述するシリーズ接続型の整合素子もしくはシャント接続型の整合素子を介して第１外部接続端子Ｐ１に接続される。第２端子Ｐ２２は、後述するシリーズ接続型の整合素子もしくはシャント接続型の整合素子を介して第２外部接続端子Ｐ２に接続される。
　フィルタ部２０は、複数のＳＡＷ共振子２０１，２０２，２０３，２０４，２０５，２０６，２０７，２０８（以下、複数のＳＡＷ共振子をまとめて説明する場合には単純に複数のＳＡＷ共振子２０１－２０８と称する）を備える。これらＳＡＷ共振子が、本発明の「フィルタ素子」に相当する。
　複数のＳＡＷ共振子２０１－２０８は、それぞれに共振周波数を有し、それぞれ個別に帯域通過特性を有する帯域通過フィルタ（ＢＰＦ）として機能する。複数のＳＡＷ共振子２０１－２０８は、第１端子Ｐ２１と第２端子Ｐ２２との間に直列接続されている。
　より具体的には、ＳＡＷ共振子２０１の一方端は、接続導体３０１を介して第１端子Ｐ２１に接続されている。ＳＡＷ共振子２０１の他方端は、ＳＡＷ共振子２０２の一方端に接続されている。
　ＳＡＷ共振子２０２の他方端は、接続導体３０２を介してＳＡＷ共振子２０３の一方端に接続されている。ＳＡＷ共振子２０３の他方端は、ＳＡＷ共振子２０４の一方端に接続されている。
　ＳＡＷ共振子２０４の他方端は、接続導体３０３を介してＳＡＷ共振子２０５の一方端に接続されている。ＳＡＷ共振子２０５の他方端は、ＳＡＷ共振子２０６の一方端に接続されている。
　ＳＡＷ共振子２０６の他方端は、接続導体３０４を介してＳＡＷ共振子２０７の一方端に接続されている。ＳＡＷ共振子２０７の他方端は、ＳＡＷ共振子２０８の一方端に接続されている。
　ＳＡＷ共振子２０８の他方端は、接続導体３０５を介して第２端子Ｐ２２に接続されている。
　なお、ここでは、ＳＡＷ共振子２０１，２０２間、ＳＡＷ共振子２０３，２０４間、ＳＡＷ共振子２０５，２０６間、ＳＡＷ共振子２０７，２０８間の接続を、特に接続導体と称していないが、所定の長さの伝送路をもって接続する場合には、接続導体として見なすことができる。そして、これら接続導体が、本発明の「接続部」に相当する。
　フィルタ部２０は、これらＳＡＷ共振子２０１－２０８の帯域通過特性および減衰特性を組み合わせることで、フィルタ部２０としての所望の帯域通過特性および通過帯域外の減衰特性を実現している。
　このような高周波モジュール１１，１２，１３，１４の共通回路構成に対して、各高周波モジュールは、具体的に次に示すような回路構成からなる。
　（第１回路例）
　図１に示す高周波モジュール１１は、シリーズ接続型の整合素子４１，４２を備える。なお、整合素子４１，４２の一方は、省略することができる。
　整合素子４１は、フィルタ部２０の第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１との間に接続されている。整合素子４１は、具体的には、図５（Ａ）に示す第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１との間に直列接続されたインダクタ４１Ｌであったり、図５（Ｂ）に示す第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１との間に直列接続されたキャパシタ４１Ｃである。整合素子４１の素子値（インダクタンスまたはキャパシタンス）は、第１外部接続端子Ｐ１側に接続される回路とフィルタ部２０とのインピーダンス整合を実現する素子値に設定されている。
　整合素子４２は、フィルタ部２０の第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２との間に接続されている。整合素子４２は、具体的には、図５（Ｅ）に示す第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２との間に直列接続されたインダクタ４２Ｌであったり、図５（Ｆ）に示す第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２との間に直列接続されたキャパシタ４２Ｃである。整合素子４２の素子値（インダクタンスまたはキャパシタンス）は、第２外部接続端子Ｐ２側に接続される回路とフィルタ部２０とのインピーダンス整合を実現する素子値に設定されている。
　さらに、整合素子４１，４２の少なくとも一方は、図１の点線矢印に示すように、フィルタ部２０の接続導体３０１，３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つに対して、誘導性結合または容量性結合している。この際、整合素子と接続導体は、少なくとも一つのＳＡＷ共振子を介した位置にある整合素子と接続導体同士で結合している。
　より具体的には、整合素子４１は、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと結合している。例えば、整合素子４１がインダクタ４１Ｌであれば、インダクタ４１Ｌは、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと誘導性結合または容量性結合している。整合素子４１がキャパシタ４１Ｃであれば、キャパシタ４１Ｃは、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと容量性結合している。
　整合素子４２は、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと結合している。整合素子４２がインダクタ４２Ｌであれば、インダクタ４２Ｌは、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと誘導性結合または容量性結合している。整合素子４２がキャパシタ４２Ｃであれば、キャパシタ４２Ｃは、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと容量性結合している。
　このような構成とすることで、結合する接続導体と整合素子は、高周波的に接続される。例えば、整合素子４１がインダクタ４１Ｌであり、インダクタ４１Ｌと接続導体３０４とが誘導性結合した場合、インダクタ４１Ｌ（整合素子４１）と接続導体３０４との間に相互インダクタンスＭを有する誘導性結合回路が構成される。これにより、高周波信号は、第１外部接続端子Ｐ１と第２外部接続端子Ｐ２との間で、フィルタ部２０を伝搬経路とする主伝搬経路のみで伝搬されず、高周波信号の一部がインダクタ４１Ｌ（整合素子４１）、誘導性結合回路および接続導体３０４を伝搬経路とする副伝搬経路にも伝搬される。
　これにより、高周波モジュール１１としては、主伝搬経路の伝送特性と副伝搬経路の伝送特性とが合成された合成伝送特性となる。
　ここで、結合する整合素子と接続導体との結合態様および結合度を調整することで、副伝搬経路を伝搬する高周波信号の振幅および位相を調整することができる。言い換えれば、副伝搬経路の伝送特性を調整することができる。伝送特性とは、例えば減衰特性（振幅特性）や位相特性である。
　さらに、この結合態様および結合度を調整することで、高周波モジュール１１として通過させたい高周波信号（所望の高周波信号）の周波数帯域の伝送特性に殆ど影響を与えることなく、通過帯域外の減衰特性にのみ副伝搬経路を設置したことによる影響を与えることができる。
　そして、このように副伝搬経路の伝送特性を調整することで、高周波モジュール１１としての伝送特性を調整できる。例えば、後述するように、通過帯域外の減衰特性を調整することができる。
　この際、従来構成のような高周波フィルタの伝送特性を調整するためのインダクタやキャパシタを別途必要としないので、所望の減衰特性を有する高周波フィルタを簡素な構成で実現できる。これにより、高周波フィルタを小型に形成することができる。
　さらに、上述の結合による相互誘導成分によって、インダクタ４１Ｌ（整合素子２１）の実効的なインダクタンス値を大きくさせることもできる。したがって、インダクタ４１Ｌの線路長をより短くすることも可能である。
　（第２回路例）
　図２に示す高周波モジュール１２は、シャント接続型の整合素子４３，４４を備える。なお、整合素子４３，４４の一方は、省略することができる。
　整合素子４３は、フィルタ部２０の第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１とを接続する接続ライン４０１とグランドとの間に接続されている。整合素子４３は、具体的には、図５（Ｃ）に示す第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１とを接続する接続ライン４０１とグランドとの間に接続されたインダクタ４３Ｌであったり、図５（Ｄ）に示す第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１とを接続する接続ライン４０１とグランドとの間に接続されたキャパシタ４３Ｃである。整合素子４３の素子値（インダクタンスまたはキャパシタンス）は、第１外部接続端子Ｐ１側に接続される回路とフィルタ部２０とのインピーダンス整合を実現する素子値に設定されている。
　整合素子４４は、フィルタ部２０の第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２とを接続する接続ライン４０２とグランドとの間に接続されている。整合素子４４は、具体的には、図５（Ｇ）に示す第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２とを接続する接続ライン４０２とグランドとの間に接続されたインダクタ４４Ｌであったり、図５（Ｈ）に示す第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２とを接続する接続ライン４０２とグランドとの間に接続されたキャパシタ４４Ｃである。整合素子４４の素子値（インダクタンスまたはキャパシタンス）は、第２外部接続端子Ｐ２側に接続される回路とフィルタ部２０とのインピーダンス整合を実現する素子値に設定されている。
　さらに、整合素子４３，４４の少なくとも一方は、図２の点線矢印に示すように、フィルタ部２０の接続導体３０１，３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つに対して、誘導性結合または容量性結合している。この際、整合素子と接続導体は、少なくとも一つのＳＡＷ共振子を介した位置にある整合素子と接続導体同士で結合している。
　より具体的には、整合素子４３は、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと結合している。整合素子４３がインダクタ４３Ｌであれば、インダクタ４３Ｌは、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと誘導性結合または容量性結合している。整合素子４３がキャパシタ４３Ｃであれば、キャパシタ４３Ｃは、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと容量性結合している。
　整合素子４４は、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと結合している。整合素子４４がインダクタ４４Ｌであれば、インダクタ４４Ｌは、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと誘導性結合または容量性結合している。整合素子４４がキャパシタ４４Ｃであれば、キャパシタ４４Ｃは、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと容量性結合している。
　このような構成とすることで、結合する接続導体と整合素子は、高周波的に接続される。例えば、整合素子４４がキャパシタ４４Ｃであり、キャパシタ４４Ｃと接続導体３０１とが容量性結合した場合、キャパシタ４４Ｃ（整合素子４４）と接続導体３０１との間に結合容量ＣＭを有する容量性結合回路が構成される。これにより、高周波信号は、第１外部接続端子Ｐ１と第２外部接続端子Ｐ２との間で、フィルタ部２０を伝搬経路とする主伝搬経路のみで伝搬されず、高周波信号の一部が接続導体３０１、容量性結合回路およびキャパシタ４４Ｃ（整合素子４４）を伝搬経路とする副伝搬経路にも伝搬される。
　これにより、高周波モジュール１２としては、主伝搬経路の伝送特性と副伝搬経路の伝送特性とが合成された合成伝送特性となる。
　このような構成の高周波モジュール１２であっても、上述の高周波モジュール１１と同様に、所望の減衰特性を、従来構成よりも簡素な構成で実現できる。
　（第３回路例）
　図３に示す高周波モジュール１３は、シリーズ接続型の整合素子４１およびシャント接続型の整合素子４４を備える。
　整合素子４１は、フィルタ部２０の第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１との間に接続されている。整合素子４１は、具体的には、図５（Ａ）に示す第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１との間に直列接続されたインダクタ４１Ｌであったり、図５（Ｂ）に示す第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１との間に直列接続されたキャパシタ４１Ｃである。整合素子４１の素子値（インダクタンスまたはキャパシタンス）は、第１外部接続端子Ｐ１側に接続される回路とフィルタ部２０とのインピーダンス整合を実現する素子値に設定されている。
　整合素子４４は、フィルタ部２０の第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２とを接続する接続ライン４０２とグランドとの間に接続されている。整合素子４４は、具体的には、図５（Ｇ）に示す第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２とを接続する接続ライン４０２とグランドとの間に接続されたインダクタ４４Ｌであったり、図５（Ｈ）に示す第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２とを接続する接続ライン４０２とグランドとの間に接続されたキャパシタ４４Ｃである。整合素子４４の素子値（インダクタンスまたはキャパシタンス）は、第２外部接続端子Ｐ２側に接続される回路とフィルタ部２０とのインピーダンス整合を実現する素子値に設定されている。
　さらに、整合素子４１，４４の少なくとも一方は、図３の点線矢印に示すように、フィルタ部２０の接続導体３０１，３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つに対して、誘導性結合または容量性結合している。この際、整合素子と接続導体は、少なくとも一つのＳＡＷ共振子を介した位置にある整合素子と接続導体同士で結合している。
　より具体的には、整合素子４１は、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと結合している。整合素子４１がインダクタ４１Ｌであれば、インダクタ４１Ｌは、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと誘導性結合または容量性結合している。整合素子４１がキャパシタ４１Ｃであれば、キャパシタ４１Ｃは、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと容量性結合している。
　整合素子４４は、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと結合している。整合素子４４がインダクタ４４Ｌであれば、インダクタ４４Ｌは、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと誘導性結合または容量性結合している。整合素子４４がキャパシタ４４Ｃであれば、キャパシタ４４Ｃは、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと容量性結合している。
　これにより、高周波モジュール１３としては、フィルタ部２０を介する主伝搬経路の伝送特性と、結合部を介する副伝搬経路の伝送特性とが合成された合成伝送特性となる。このような構成の高周波モジュール１３であっても、上述の高周波モジュール１１，１２と同様に、所望の減衰特性を、従来構成よりも簡素な構成で実現できる。
　（第４回路例）
　図４に示す高周波モジュール１４は、シャント接続型の整合素子４２およびシリーズ接続型の整合素子４３を備える。
　整合素子４２は、フィルタ部２０の第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２との間に接続されている。整合素子４２は、具体的には、図５（Ｅ）に示す第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２との間に直列接続されたインダクタ４２Ｌであったり、図５（Ｆ）に示す第２端子Ｐ２２と第２外部接続端子Ｐ２との間に直列接続されたキャパシタ４２Ｃである。整合素子４２の素子値（インダクタンスまたはキャパシタンス）は、第２外部接続端子Ｐ２側に接続される回路とフィルタ部２０とのインピーダンス整合を実現する素子値に設定されている。
　整合素子４３は、フィルタ部２０の第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１とを接続する接続ライン４０１とグランドとの間に接続されている。整合素子４３は、具体的には、図５（Ｃ）に示す第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１とを接続する接続ライン４０１とグランドとの間に接続されたインダクタ４３Ｌであったり、図５（Ｄ）に示す第１端子Ｐ２１と第１外部接続端子Ｐ１とを接続する接続ライン４０１とグランドとの間に接続されたキャパシタ４３Ｃである。整合素子４３の素子値（インダクタンスまたはキャパシタンス）は、第１外部接続端子Ｐ１側に接続される回路とフィルタ部２０とのインピーダンス整合を実現する素子値に設定されている。
　さらに、整合素子４２，４３の少なくとも一方は、図４の点線矢印に示すように、フィルタ部２０の接続導体３０１，３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つに対して、誘導性結合または容量性結合している。この際、整合素子と接続導体は、少なくとも一つのＳＡＷ共振子を介した位置にある整合素子と接続導体同士で結合している。
　より具体的には、整合素子４２は、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと結合している。整合素子４２がインダクタ４２Ｌであれば、インダクタ４２Ｌは、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと誘導性結合または容量性結合している。整合素子４２がキャパシタ４２Ｃであれば、キャパシタ４２Ｃは、接続導体３０１，３０２，３０３，３０４の少なくとも一つと容量性結合している。
　整合素子４３は、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと結合している。整合素子４３がインダクタ４３Ｌであれば、インダクタ４３Ｌは、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと誘導性結合または容量性結合している。整合素子４３がキャパシタ４３Ｃであれば、キャパシタ４３Ｃは、接続導体３０２，３０３，３０４，３０５の少なくとも一つと容量性結合している。
　これにより、高周波モジュール１４としては、フィルタ部２０を介する主伝搬経路の伝送特性と、結合部を介する副伝搬経路の伝送特性とが合成された合成伝送特性となる。このような構成の高周波モジュール１４であっても、上述の高周波モジュール１１，１２，１３と同様に、所望の減衰特性を、従来構成よりも簡素な構成で実現できる。
　図６は、整合素子と接続導体の結合度を変化させた時の高周波モジュールの通過特性の変化を示すグラフである。図６の横軸は周波数を示し、図６の縦軸は第１外部接続端子Ｐ１から第２外部接続端子Ｐ２へ伝搬する信号の減衰量を示す。図６に示す点線の特性は、実線の特性よりも誘導性結合が弱く容量性結合が強い場合を示す。図６に示す破線の特性は、実線の特性よりも誘導性結合が強く容量性結合が弱い場合を示す。なお、図６の特性は、フィルタ部２０のＳＡＷ共振子２０２，２０３の接続位置とグランドとの間にＳＡＷ共振子を接続し、ＳＡＷ共振子２０４，２０５の接続位置とグランドとの間にＳＡＷ共振子を接続し、ＳＡＷ共振子２０６，２０７の接続位置とグランドとの間にＳＡＷ共振子を接続するラダー構造にした場合を示している。なお、本実施形態における高周波モジュールは、８００ＭＨｚ帯を通過帯域とする帯域通過フィルタである。
　図６に示すように、誘導性結合が強くなり容量性結合が弱くなるほど、通過帯域の高周波数側に現れる減衰極の周波数は高くなる。一方、誘導性結合が弱くなり容量性結合が強くなるほど、通過帯域の高周波数側に現れる減衰極の周波数は低くなる。なお、図６における減衰極の周波数とは、周波数軸のほぼ中央にあるピーク周波数のことである。
　また、誘導性結合および容量性結合を適宜設定することで、通過帯域の高周波数側の減衰特性を変化させることができる。例えば、容量性結合が強くなり誘導性結合が弱くなるほど、通過帯域付近での減衰量が小さいが、減衰極の周波数での減衰量を大きく取ることができる。また、容量性結合が弱くなり誘導性結合が強くなるほど、通過帯域付近での減衰量を、より大きく取ることができる。
　そして、図６に示すように、誘導性結合および容量性結合の強さに影響されることなく、通過帯域の周波数位置、周波数幅および挿入損失は殆ど変化しない。
　したがって、本実施形態の構成を用いて、結合態様および結合度を適宜調整することで、通過帯域の特性を変化させることなく、高周波数側の減衰特性を所望の特性に調整することができる。言いかえれば、所望の通過帯域特性と減衰特性を有する高周波モジュールを実現することができる。
　このような構成からなる高周波モジュールは、具体的な適用例として、図７に示すデュプレクサ構成に利用することができる。図７は、デュプレクサ構成からなる高周波モジュールの等価回路図である。
　高周波モジュール１０１は、フィルタ部２１、第１外部接続端子Ｐ１、第２外部接続端子Ｐ２、および、フィルタ部２１の第３端子Ｐ３１，Ｐ３２を兼用する第３外部接続端子を備える。具体的な適用例として、第１外部接続端子Ｐ１は、アンテナに接続される。第２外部接続端子Ｐ２は送信回路に接続される。第３外部接続端子（第３端子Ｐ３１，Ｐ３２）は受信回路に接続される。
　フィルタ２１は、第１端子Ｐ２１’、第２端子Ｐ２２、第３端子Ｐ３１，Ｐ３２、第４端子Ｐ２３、および第５端子Ｐ２４を備える。
　第１端子Ｐ２１’は、接続ライン４０１を介して第１外部接続端子Ｐ１に接続されている。接続ライン４０１とグランドとの間には、上述の整合素子に対応するインダクタ４３Ｌが接続されている。第２端子Ｐ２２は、接続ライン４０２を介して第２外部接続端子Ｐ２に接続されている。
　第１端子Ｐ２１’と第２端子Ｐ２２との間には、複数のＳＡＷ共振子２０１，２０２，２０３，２０４，２０５，２０６が直列接続されている。
　より具体的には、ＳＡＷ共振子２０１の一方端は、接続導体３０１を介して第１端子Ｐ２１’に接続されている。ＳＡＷ共振子２０１の他方端は、ＳＡＷ共振子２０２の一方端に接続されている。ＳＡＷ共振子２０２の他方端は、接続導体３０２を介してＳＡＷ共振子２０３の一方端に接続されている。ＳＡＷ共振子２０３の他方端は、ＳＡＷ共振子２０４の一方端に接続されている。ＳＡＷ共振子２０４の他方端は、接続導体３０３を介してＳＡＷ共振子２０５の一方端に接続されている。ＳＡＷ共振子２０５の他方端は、ＳＡＷ共振子２０６の一方端に接続されている。ＳＡＷ共振子２０６の他方端は、接続導体３０４を介して第２端子Ｐ２２に接続されている。
　また、ＳＡＷ共振子２０２とＳＡＷ共振子２０３の接続点、言い換えれば接続導体３０２の所定位置には、ＳＡＷ共振子２１１の一方端が接続され、当該ＳＡＷ共振子２１１の他方端は、第４端子Ｐ２３に接続されている。第４端子Ｐ２３は、インダクタ５０を介してグランドに接続されている。
　ＳＡＷ共振子２０４とＳＡＷ共振子２０５の接続点、言い換えれば、接続導体３０３の所定位置は、ＳＡＷ共振子２１２の一方端に接続されており、ＳＡＷ共振子２１２の他方端は、第５端子Ｐ２４に接続されている。ＳＡＷ共振子２０６と第２端子Ｐ２２との接続点、言い換えれば接続導体３０４の所定位置は、ＳＡＷ共振子２１３の一方端に接続されており、ＳＡＷ共振子２１３の他方端は第５端子Ｐ２４に接続されている。第５端子Ｐ２４は、インダクタ６０を介してグランドに接続されている。
　この構成により、フィルタ部２１は、第１端子Ｐ２１’と第２端子Ｐ２２との間に対して、これらＳＡＷ共振子２０１－２０８，２１１，２１２，２１３の帯域通過特性および減衰特性を組み合わせることで、フィルタ部２１の第１、第２端子間としての所望の第１帯域通過特性および第１通過帯域外の第１減衰特性を実現している。
　第１端子Ｐ２１’と第３端子Ｐ３１，Ｐ３２との間には、ＳＡＷ共振子２１１と縦結合型ＳＡＷ共振子２３１，２３２が直列接続されている。この構成により、フィルタ部２１は、第１端子Ｐ２１’と第３端子Ｐ３１，Ｐ３２との間に対して、これらＳＡＷ共振子２２１，２３１，２３２の帯域通過特性および減衰特性を組み合わせることで、フィルタ部２１の第１、第３端子間としての所望の第２帯域通過特性および第２通過帯域外の第２減衰特性を実現している。第２通過帯域は、第１通過帯域とは異なる周波数帯域であり、第２通過帯域は、第１通過帯域外の減衰帯域範囲内となるように設定されている。
　これにより、フィルタ部２１は、第１端子Ｐ２１’を共通端子とし、第２端子Ｐ２２および第３端子Ｐ３１，Ｐ３２をそれぞれ個別端子とするデュプレクサとして機能する。
　さらに、高周波モジュール１０１では、接続導体３０２，３０３，３０４のいずれかとインダクタ４３Ｌとを、誘導性結合させる。そして、この結合度を調整することで、第１減衰特性を調整することができる。
　ここで、本実施形態の構成を用いれば、第２通過帯域に重ねるように、第１減衰特性における減衰量を大きく取る周波数帯域の帯域幅および減衰量を調整することができる。これは、インダクタ４３Ｌに結合させる接続導体３０２，３０３，３０４の選択と、結合する接続導体とインダクタ４３Ｌとの結合度を調整すれば可能である。
　図８は、整合素子と接続導体の結合度を変化させた時の高周波モジュールの第２外部接続端子と第３外部接続端子との間のアイソレーションの変化を示すグラフである。図８の横軸は周波数を示し、図８の縦軸はアイソレーション量を示す。図８ではアイソレーション量が低いほど、第２、第３端子間で強くアイソレーションされていることを示している。図８に示す点線の特性は、実線の特性よりも誘導性結合が弱く容量性結合が強い場合を示す。図８に示す破線の特性は、実線の特性よりも誘導性結合が強く容量性結合が弱い場合を示す。
　図８に示すように、誘導性結合および容量性結合を調整することにより、受信回路Ｒｘ（第３端子側）の通過帯域のアイソレーション量およびアイソレーション特性を調整することができる。また、図８に示すように、誘導性結合および容量性結合を調整しても、送信回路Ｔｘ（第２端子側）の通過帯域のアイソレーション量およびアイソレーション特性は殆ど変化しない。
　このように、高周波モジュール１０１の構成を用いることで、第２、第３端子間のアイソレーション特性を適切に調整することができる。すなわち、送信回路と受信回路との間のアイソレーション特性を最適化することができる。
　以上のような構成からなる高周波モジュールは、次に示すような構造によって実現することができる。なお、以下では、上述のデュプレクサ構成からなる高周波モジュール１０１を構造的に実現する例を示す。
　（第１の構造）
　図９は、高周波モジュールの主要構造を示す側面概念図である。高周波モジュール１０１は、積層基板１００、フィルタ基板２００、カバー層２９０、側面カバー層２９１、実装型回路素子４３０を備える。
　積層基板１００は、複数の誘電体層を積層してなる。積層基板１００の表面１００Ｓおよび内層には、所定パターンの電極が形成されており、高周波モジュール１０１のフィルタ部２１を除く配線パターンやインダクタ５０，６０が形成されている。積層基板１００の底面１００Ｒには、外部接続用電極が形成されており、これら外部接続用電極により、上述の第１外部接続端子Ｐ１、第２外部接続端子Ｐ２、第３外部接続端子が実現される。
　フィルタ部２１は、フィルタ基板２００、カバー層２９０、側面カバー層２９１、接続電極２９３、および実装用電極２９４によって形成されている。
　フィルタ基板２００は、平板状の圧電基板からなる。フィルタ基板２００の第１主面には、フィルタ電極が形成されている。フィルタ電極は、例えば、所謂ＩＤＴ電極からなる。このように、圧電基板の主面にＩＤＴ電極を形成することで、上述の各ＳＡＷ共振子を実現することができる。また、フィルタ基板２００の第１主面には、接続導体３０４を含む各接続導体を実現する電極パターンが形成されている。フィルタ基板２００の第１主面側には、平板状のカバー層２９０が配置されている。カバー層２９０は、平板状の絶縁性材料からなり、平面視してフィルタ基板２００と同じ形状からなる。また、カバー層２９０は、平面視して、フィルタ基板２００と重なるように配置されており、フィルタ基板２００の第１主面から所定距離の間隔を空けて配置されている。
　フィルタ基板２００の第１主面とカバー層２９０との間には、側面カバー層２９１が配置されている、側面カバー層２９１も絶縁性材料からなり、平面視して、フィルタ基板２００およびカバー層２９０の全周に亘って、外周端から内側へ所定幅の範囲にのみ形成されている。すなわち、カバー層２９０は、中央に開口を有する枠状の構造である。
　このように、カバー層２９０と側面カバー層２９１が配置されることで、フィルタ基板２００の第１主面のフィルタ電極が形成される領域は、フィルタ基板２００、カバー層２９０、および側面カバー層２９１によって密閉空間２９２内に配置される。これにより、ＳＡＷ共振子の共振特性を向上させることができ、フィルタとしての所望の特性を精確に実現することができる。
　接続電極２９３は、フィルタ基板２００の第１主面に一方端が接し、他方端がカバー層２９０におけるフィルタ基板２００側と反対側の面に露出する形状からなる。この際、接続電極２９３は、側面カバー層２９１およびカバー層２９０を貫通するように形成されている。接続電極２９３の一方端は、フィルタ基板２００の第１主面に形成された電極パターンに接続されている。
　実装用電極２９４は、接続電極２９３の他方端に接続し、カバー層２９０におけるフィルタ基板２００側と反対側の面から突出する形状で形成されている。この接続電極２９３と実装用電極２９４の組を複数設けることにより、上述のフィルタ部２１の第１端子Ｐ２１’、第２端子Ｐ２２、第３端子Ｐ３１，Ｐ３２、第４端子Ｐ２３、および第５端子Ｐ２４が実現される。なお、接続電極２９３の他方端に半田やＡｕ等を用いてバンプを形成し、当該バンプを介して実装用電極２９４と接続してもよい。
　以上のような構成とすることで、フィルタ部２１は、所謂ＷＬＰ（Ｗａｆｅｒ　Ｌｅｖｅｌ　Ｐａｃｋａｇｅ）の構造となり、フィルタ部２１を小型に形成することができる。
　そして、このＷＬＰ構造のフィルタ部２１は、積層基板１００の天面（実装面）１００Ｓに実装されている。これにより、フィルタ部２１は、第１外部接続端子Ｐ１、第２外部接続端子Ｐ２、第３外部接続端子に接続される。
　インダクタ４３Ｌは、実装型回路素子４３０によって実現される。具体的には、実装型回路素子４３０は、絶縁性材料からなる直方体形状の筐体を備え、当該筐体の内部に、インダクタ４３Ｌとなるスパイラル電極が形成されている。スパイラル電極は、筐体の外周に沿って伸長し一部が分断された管状の線状電極と層間接続電極によって実現される。各層の線状電極は、層間接続電極によって一本の線状電極になるように接続されている。スパイラル電極の両端は、筐体の対向する両端面に形成された外部接続電極に接続されている。
　このような構成からなる実装型回路素子４３０は、フィルタ部２１と同様に、積層基板１００の天面（実装面）１００Ｓに実装されている。ここで、フィルタ部２１の第１端子Ｐ２１’と第１外部接続端子Ｐ１との接続ラインが積層基板１００の天面１００Ｓおよび内部に形成され、グランド電極が積層基板１００の内部に形成されており、実装型回路素子４３０の実装用ランドに接続されている。これにより、インダクタ４３Ｌがフィルタ部２１の第１端子Ｐ２１’と第１外部接続端子Ｐ１との接続ラインとグランドとの間に接続される構造を実現できる。
　そして、インダクタ４３Ｌを実現する実装型回路素子４３０を、ＷＬＰ構造のフィルタ部２１に近接して配置することで、インダクタ４３Ｌとフィルタ部２１の所定の接続導体との間の誘導性結合を得ることができる。
　フィルタ部２１を構成する電極パターンは、例えば図１０に示すような構造になっている。図１０は、高周波モジュールの主要構造を示す平面概念図である。具体的には、フィルタ基板２００の第１主面には、ＳＡＷ共振子２０１－２０６，２１１，２１２，２１３，２２１を構成するＩＤＴ電極、縦結合型ＳＡＷ共振子２３１，２３２を構成するＩＤＴ電極、および、各接続導体を構成する電極パターンが形成されている。また、各端子Ｐ２１’，Ｐ２２，Ｐ２３，Ｐ２４を構成するランド電極も形成されている。これらＩＤＴ電極、接続導体を構成する電極パターン、およびランド電極は、図７に示す回路構成を実現するように、所定のパターン構成で形成されている。
　この際、接続導体３０４を構成する電極パターンは、フィルタ基板２００の第１端辺の近傍に、該第１端辺に沿って伸長する形状で形成されている。
　そして、実装型回路素子４３０は、当該フィルタ基板２００の第１端辺に近接する位置に実装されている。これにより、実装型回路素子４３０のスパイラル電極からなるインダクタ４３Ｌと、線状の電極パターンからなる接続導体３０４とが近接するので、図１０の太点線矢印に示すように、誘導性結合を生じさせることができる。このような構成とすることで、減衰特性調整用の素子を別途設けることなく、所望の減衰特性を有する高周波モジュール１０１を実現することができる。
　ここで、実装型回路素子４３０の配置位置を、図１０の細破線矢印に示すように、積層基板１００の天面１００Ｓ上において変化させる。これにより、実装型回路素子４３０のスパイラル電極からなるインダクタ４３Ｌと、線状の電極パターンからなる接続導体３０４との距離、および、対向して伸長する電極の長さを調整することができる。この構成により、インダクタ４３Ｌと接続導体３０４との誘導性結合を調整することができ、減衰特性を調整することにより、所望とする減衰特性を精確に実現することができる。
　なお、図１０では、実装型回路素子４３０の長手側面と、フィルタ基板２００の第１端辺とが平行になるように配置した例を示した。しかしながら、実装型回路素子４３０の短手側面（外部接続電極が形成される端面）と、フィルタ基板２００の第１端面とが平行になるように配置してもよい。ただし、実装型回路素子４３０の長手側面と、フィルタ基板２００の第１端辺とを平行に配置することで、より強い誘導性結合を、より簡単に実現することができる。
　また、図１０では、スパイラル電極の中心軸が天面１００Ｓに直交するように、実装型回路素子４３０を実装する例を示したが、スパイラル電極の中心軸が天面１００Ｓに平行になるように、実装型回路素子４３０を実装してもよい。
　（第２の構造）
　図１１は、高周波モジュールの主要構造を示す側面概念図である。図１１に示す高周波モジュール１０１Ａは、インダクタ４３Ｌが、実装型回路素子で実現されず、積層基板１００内に形成された電極パターンによって実現される。フィルタ部２１の構成は、図９、図１０に示した高周波モジュール１０１と同じであり、説明は省略する。
　積層基板１００の内部には、スパイラル電極の電極パターンからなるインダクタ４３Ｌが形成されている。スパイラル電極は、積層体１００を構成する複数の誘電体層に形成された一部が分断された管状の線状電極と層間接続電極によって実現される。各誘電体層の線状電極は、層間接続電極によって積層方向に接続され、一本の線状電極になるように接続されている。この構成により、中心軸が積層方向に沿ったスパイラル電極を実現することができる。インダクタ４３Ｌを構成するスパイラル電極の一方端は、ビア導体４３１Ｖを介して、フィルタ部２１の第１端子Ｐ２１’となる実装用電極２９４が実装されるランド電極に接続されている。ランド電極は、積層基板１００の天面１００Ｓに形成されている。インダクタ４３Ｌを構成するスパイラル電極の他方端は、ビア導体４３２Ｖを介して、積層基板１００内の底面１００Ｒ近傍に形成された内部グランドパターンに接続されている。
　さらに、インダクタ４３Ｌを構成するスパイラル電極は、平面視して、フィルタ部２１の接続導体３０４を構成する電極パターンと少なくとも一部が重なり合うようにして形成されている。
　この構成により、積層基板１００内のスパイラル電極からなるインダクタ４３Ｌと、フィルタ基板２００の第１主面に形成された線状の電極パターンからなる接続導体３０４との間で、図１１の太破線矢印に示すように、誘導性結合を生じさせることができる。この際、インダクタ４３Ｌを構成するスパイラル電極と、フィルタ部２１の接続導体３０４を構成する電極パターンとの距離、および、当該スパイラル電極と電極パターンの重なる面積を変化させることで、インダクタ４３Ｌと接続導体３０４との結合度を調整できる。これにより、上述の第１の構造と同様に、高周波モジュール１０１Ａの減衰特性を調整することができ、所望とする減衰特性をより精確に実現することができる。
　また、本実施形態では、インダクタ４３Ｌが実装型回路素子ではないので、当該実装型回路素子を実装するための領域を、積層基板１００の天面１００Ｓに設けなくてもよい。これにより、積層基板１００を平面視した面積を小さくでき、高周波モジュール１０１Ａの平面面積を小さくすることができる。
　（第３の構造）
　図１２は、高周波モジュールの主要構造を示す側面概念図である。図１２に示す高周波モジュール１０１Ｂは、所謂ＣＳＰ（Ｃｈｉｐ　Ｓｉｚｅｄ　Ｐａｃｋａｇｅ）構造で実現されている。
　高周波モジュール１０１Ｂは、フィルタ基板２００を備える。フィルタ基板２００には、上述のようにフィルタ部２１を実現するフィルタ電極、および接続導体３０４を含む各接続導体を構成する電極パターンが形成されている。
　高周波モジュール１０１Ｂは、さらにフィルタ実装用基板２８０を備える。フィルタ実装用基板２８０は、例えばアルミナ基板からなり、平面視した面積がフィルタ基板２００よりも所定量大きい。
　フィルタ基板２００は、第１主面がフィルタ実装用基板２８０側になるように、バンプ導体２８１によってフィルタ実装用基板２８０に実装されている。フィルタ実装用基板２８０におけるフィルタ基板２００の実装面と反対側の面には、外部接続用バンプ導体２８２が形成されている。
　フィルタ実装用基板２８０には、高周波モジュール１０１Ｂ（回路構成としては高周波モジュール１０１）のフィルタ部２１を除く回路パターンおよびインダクタ４３Ｌが形成されている。
　フィルタ実装用基板２８０におけるフィルタ基板２００が実装された面には、モールド樹脂２８３が塗布されている。これにより、フィルタ電極および接続導体を構成する電極パターンが外部環境に曝されることを防止でき、ＳＡＷ共振子の共振特性を向上させることができ、フィルタとしての所望の特性を精確に実現することができる。
　ここで、フィルタ実装用基板２８０に形成されたインダクタ４３Ｌを構成する電極パターンと、フィルタ基板２００に形成された接続導体３０４を実現する電極パターンとが、平面視して少なくとも一部が重なるように配置する。これより、図１２に示すように、インダクタ４３Ｌを構成する電極パターンと接続導体３０４を実現する電極パターンとの間に、誘導性結合を生じさせることができる。特に、本実施形態の構成では、インダクタ４３Ｌを構成する電極パターンと接続導体３０４を実現する電極パターンとの間隔（距離）を短くすることができるので、より強い誘導性結合を、容易に実現することができる。
　また、高周波モジュール１０１Ｂ全体がＣＳＰ構造であるので、高周波モジュール１０１Ｂを小型且つ薄型で実現することができる。
　なお、上述の各実現構造では、整合素子としてインダクタを用いる例を示したが、整合素子がキャパシタの場合についても、同様の構造で実現することができる。例えば、第１の構造であれば、実装型の積層コンデンサ素子を用いればよい。第２の構造であれば、積層基板１００内の異なる層に互いに対向するように形成した複数の平板電極によって、キャパシタを実現すればよい。また、第３の構造であれば、フィルタ実装用基板２８０に形成した電極パターンによってキャパシタを実現すればよい。
　また、整合素子と結合する接続導体は、上述のように、少なくとも間に一つのＳＡＷ共振子を介するようにすればよいとしたが、間に介するＳＡＷ共振子が多いほど、減衰特性与える影響を大きくすることができる。例えば、第１の構造（図９参照）であれば、フィルタ基板２００と実装型回路素子４３０との位置関係が同じであれば、間に介するＳＡＷ共振子が多い整合素子と接続導体とを結合させるほど、減衰特性に与える影響を大きくすることができる。
１１，１２，１３，１４，１０１，１０１Ａ，１０１Ｂ：高周波モジュール、
２０，２１：フィルタ部、
２０１－２０８：ＳＡＷ共振子、
３０１－３０５：接続導体、
４１，４２：（シリーズ接続型の）整合素子、
４３，４４：（シャント接続型の）整合素子、
４１Ｌ，４２Ｌ，４３Ｌ，４４Ｌ：インダクタ、
４１Ｃ，４２Ｃ，４３Ｃ，４４Ｃ：キャパシタ、
４０１，４０２：接続ライン、
Ｐ１：第１外部接続端子、
Ｐ２：第２外部接続端子、
Ｐ２１，Ｐ２１’：第１端子、
Ｐ２２：第２端子、
Ｐ３１，Ｐ３２：第３端子、
Ｐ２３：第４端子、
Ｐ２４：第５端子、
１００：積層基板、
１００Ｓ：天面、
１００Ｒ：底面、
２００：フィルタ基板、
２８０：フィルタ実装用基板、
２８１：バンプ導体、
２８２：外部接続用バンプ導体、
２８３：モールド樹脂、
２９０：カバー層、
２９１：側面カバー層、
２９２：密閉空間、
２９３：接続電極、
２９４：実装用電極、
４３０：実装型回路素子

Claims (12)

  1. 　第１外部接続端子と、
    　第２外部接続端子と、
    　前記第１外部接続端子と前記第２外部接続端子との間に接続されたフィルタ部と、
    　前記第１外部接続端子もしくは前記第２外部接続端子の少なくとも一方と前記フィルタ部との間に接続された整合素子と、
    を備えた高周波モジュールであって、
    　前記フィルタ部は、
    　前記第１外部接続端子に接続する第１端子と、
    　前記第２外部接続端子に接続する第２端子と、
    　前記第１端子と前記第２端子との間に直列接続された複数のフィルタ素子と、
    　前記複数のフィルタ素子の一方端のフィルタ素子と前記第１端子とを接続する一方端の接続部、前記複数のフィルタ素子の他方端のフィルタ素子と前記第２端子とを接続する他方端の接続部、隣り合うフィルタ素子間を接続する中間の接続部と、
    　を備え、
    　前記接続部の少なくとも一つと前記整合素子とが誘導性結合もしくは容量性結合されている、高周波モジュール。
  2. 　互いに前記誘導性結合もしくは前記容量性結合する前記接続部と前記整合素子は、
    　前記フィルタ部の通過帯域外のインピーダンスが変化するように前記誘導性結合もしくは前記容量性結合されている、請求項１に記載の高周波モジュール。
  3. 　互いに前記誘導性結合もしくは前記容量性結合する前記接続部と前記整合素子は、
    　前記フィルタ部の通過帯域外の減衰極周波数が変化するように前記誘導性結合もしくは前記容量性結合されている、請求項２に記載の高周波モジュール。
  4. 　前記整合素子は、前記第１外部接続端子と前記第１端子との間に直列接続されるか、もしくは、前記第２外部接続端子と前記第２端子との間に直列接続される、シリーズ接続型の整合素子である、
    　請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の高周波モジュール。
  5. 　前記整合素子は、前記第１外部接続端子と前記第１端子とを接続する接続ラインとグラントとの間に接続されるか、もしくは、前記第２外部接続端子と前記第２端子とを接続する接続ラインとグランドの間に接続される、シャント接続型の整合素子である、
    　請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の高周波モジュール。
  6. 　前記接続部は線状導体パターンからなる、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の高周波モジュール。
  7. 　第３端子と、第２のフィルタ部とを備え、
    　前記第２のフィルタ部は、前記第１端子および該第１端子に接続するフィルタ素子を接続する接続ラインと、前記第３端子との間に接続されている、
    　請求項１乃至請求項６のいずれかに記載の高周波モジュール。
  8. 　前記フィルタ部を構成するＩＤＴ電極および前記接続部が第１主面に形成された平板状のフィルタ基板と、
    　該フィルタ基板の前記第１主面に対して間隔を空けて対向する平板状のカバー層と、
    　前記第１主面から突出し、前記カバー層を貫通する形状の接続電極と、
    　前記整合素子が実装または形成された積層基板と、を備え、
    　前記フィルタ基板は、前記第１主面側が前記積層基板の実装面に向くように配置され、
    　前記フィルタ基板は、前記接続電極を介して前記積層基板に接続されている、請求項１乃至請求項７のいずれかに記載の高周波モジュール。
  9. 　前記整合素子は、前記積層基板の実装面に実装される実装型素子であり、
    　前記接続部は、前記フィルタ基板の前記第１主面における第１辺の近傍に配置されており、
    　前記実装型素子は、前記フィルタ基板の前記第１辺の近傍に実装されている、
    　請求項８に記載の高周波モジュール。
  10. 　前記整合素子は、
    　直方体形状の筐体と、
    　該筐体内に形成され、平面視して略長方形の外周形からなるスパイラル導体と、
    　を備え、
    　前記整合素子は、前記筐体の長辺が前記フィルタ基板の前記第１辺に平行になるように、配置されている、
    　請求項９に記載の高周波モジュール。
  11. 　前記整合素子は、
    　前記積層基板の実装面または内部に形成された導体パターンからなり、
    　該導体パターンと前記接続部は、平面視して少なくとも一部が重なっている、
    　請求項８に記載の高周波モジュール。
  12. 　前記フィルタ部を構成するＩＤＴ電極および前記接続部が第１主面に形成された平板状のフィルタ基板と、
    　該フィルタ基板の前記第１主面側に配置され、該フィルタ基板の前記第１主面側が実装された平板状のフィルタ実装用基板と、を備え、
    　前記整合素子は、前記フィルタ実装用基板に形成されている、請求項１乃至請求項７のいずれかに記載の高周波モジュール。
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