WO2014104618A1 - 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 - Google Patents
태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 Download PDFInfo
- Publication number
- WO2014104618A1 WO2014104618A1 PCT/KR2013/011467 KR2013011467W WO2014104618A1 WO 2014104618 A1 WO2014104618 A1 WO 2014104618A1 KR 2013011467 W KR2013011467 W KR 2013011467W WO 2014104618 A1 WO2014104618 A1 WO 2014104618A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- solar cell
- silver
- composition
- glass frit
- forming
- Prior art date
Links
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims abstract description 59
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 56
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 49
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims abstract description 46
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims abstract description 46
- SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N silver(1+) nitrate Chemical compound [Ag+].[O-]N(=O)=O SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 22
- LFAGQMCIGQNPJG-UHFFFAOYSA-N silver cyanide Chemical compound [Ag+].N#[C-] LFAGQMCIGQNPJG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- 229910001961 silver nitrate Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 229940098221 silver cyanide Drugs 0.000 claims abstract description 10
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 13
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 7
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 6
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 6
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 6
- 239000011572 manganese Substances 0.000 claims description 6
- 239000011734 sodium Substances 0.000 claims description 6
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 6
- -1 antifoams Substances 0.000 claims description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 claims description 4
- 239000013008 thixotropic agent Substances 0.000 claims description 4
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 claims description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000003963 antioxidant agent Substances 0.000 claims description 3
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims description 3
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 3
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 claims description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 3
- 239000000049 pigment Substances 0.000 claims description 3
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 claims description 3
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011591 potassium Substances 0.000 claims description 3
- VSZWPYCFIRKVQL-UHFFFAOYSA-N selanylidenegallium;selenium Chemical compound [Se].[Se]=[Ga].[Se]=[Ga] VSZWPYCFIRKVQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 claims description 3
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 3
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000012963 UV stabilizer Substances 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 17
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 13
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 7
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 7
- 239000012086 standard solution Substances 0.000 description 7
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910015902 Bi 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 5
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002354 inductively-coupled plasma atomic emission spectroscopy Methods 0.000 description 4
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 101710134784 Agnoprotein Proteins 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- VXQBJTKSVGFQOL-UHFFFAOYSA-N 2-(2-butoxyethoxy)ethyl acetate Chemical compound CCCCOCCOCCOC(C)=O VXQBJTKSVGFQOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SVTBMSDMJJWYQN-UHFFFAOYSA-N 2-methylpentane-2,4-diol Chemical compound CC(O)CC(C)(C)O SVTBMSDMJJWYQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 4-Butyrolactone Chemical compound O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 2
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-hydroxypropanoate Chemical compound CCOC(=O)C(C)O LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 2
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 2
- 238000010812 external standard method Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000007603 infrared drying Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000000326 ultraviolet stabilizing agent Substances 0.000 description 2
- KZVBBTZJMSWGTK-UHFFFAOYSA-N 1-[2-(2-butoxyethoxy)ethoxy]butane Chemical compound CCCCOCCOCCOCCCC KZVBBTZJMSWGTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-2-ol Chemical compound COCC(C)O ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAYXUHPQHDHDDZ-UHFFFAOYSA-N 2-(2-butoxyethoxy)ethanol Chemical compound CCCCOCCOCCO OAYXUHPQHDHDDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 2-butoxyethanol Chemical compound CCCCOCCO POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethanol Chemical compound CCOCCO ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CRWNQZTZTZWPOF-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-4-phenylpyridine Chemical compound C1=NC(C)=CC(C=2C=CC=CC=2)=C1 CRWNQZTZTZWPOF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229920000896 Ethulose Polymers 0.000 description 1
- 239000001859 Ethyl hydroxyethyl cellulose Substances 0.000 description 1
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000020 Nitrocellulose Substances 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001807 Urea-formaldehyde Polymers 0.000 description 1
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FJWGYAHXMCUOOM-QHOUIDNNSA-N [(2s,3r,4s,5r,6r)-2-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-dinitrooxy-2-(nitrooxymethyl)-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-trinitrooxy-2-(nitrooxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-3-yl]oxy-3,5-dinitrooxy-6-(nitrooxymethyl)oxan-4-yl] nitrate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](O[N+]([O-])=O)[C@H]1O[N+]([O-])=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](O[N+]([O-])=O)[C@H](O[N+]([O-])=O)[C@@H](CO[N+]([O-])=O)O1)O[N+]([O-])=O)CO[N+](=O)[O-])[C@@H]1[C@@H](CO[N+]([O-])=O)O[C@@H](O[N+]([O-])=O)[C@H](O[N+]([O-])=O)[C@H]1O[N+]([O-])=O FJWGYAHXMCUOOM-QHOUIDNNSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 229920000180 alkyd Polymers 0.000 description 1
- WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N alpha-terpineol Chemical compound CC1=CCC(C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000002518 antifoaming agent Substances 0.000 description 1
- 230000003078 antioxidant effect Effects 0.000 description 1
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N delta-terpineol Natural products CC(C)(O)C1CCC(=C)CC1 SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229940028356 diethylene glycol monobutyl ether Drugs 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 235000019326 ethyl hydroxyethyl cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 229940116333 ethyl lactate Drugs 0.000 description 1
- 229940051250 hexylene glycol Drugs 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229940032007 methylethyl ketone Drugs 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001220 nitrocellulos Polymers 0.000 description 1
- 229940079938 nitrocellulose Drugs 0.000 description 1
- JCGNDDUYTRNOFT-UHFFFAOYSA-N oxolane-2,4-dione Chemical compound O=C1COC(=O)C1 JCGNDDUYTRNOFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- WVDDGKGOMKODPV-ZQBYOMGUSA-N phenyl(114C)methanol Chemical compound O[14CH2]C1=CC=CC=C1 WVDDGKGOMKODPV-ZQBYOMGUSA-N 0.000 description 1
- 229920001083 polybutene Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920000193 polymethacrylate Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 229940116411 terpineol Drugs 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/20—Conductive material dispersed in non-conductive organic material
- H01B1/22—Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Definitions
- the present invention relates to a composition for forming a solar cell electrode and an electrode prepared therefrom.
- Solar cells generate electrical energy using the photoelectric effect of pn junctions that convert photons of sunlight into electricity.
- front and rear electrodes are formed on the upper and lower surfaces of the semiconductor wafer or substrate on which the pn junction is formed.
- the photovoltaic effect of the pn junction is induced by solar light incident on the semiconductor wafer, and electrons generated therefrom provide a current flowing through the electrode to the outside.
- the electrode of the solar cell may be formed on the wafer surface by coating, patterning and firing the composition for forming a solar cell electrode.
- the thickness of the emitter is continuously thinned to increase the efficiency of the solar cell, it may cause a shunting phenomenon that may degrade the performance of the solar cell, and to increase the conversion efficiency. It is gradually increasing the area of the solar cell, which can increase the contact resistance of the solar cell can reduce the efficiency of the solar cell.
- An object of the present invention is to provide a composition for forming a solar cell electrode excellent in contact between the electrode and the wafer surface.
- Another object of the present invention is to provide a composition for forming a solar cell electrode which can minimize contact resistance and series resistance.
- Still another object of the present invention is to provide a solar cell electrode having an excellent conversion efficiency and a Fill Factor value.
- Another object of the present invention is to provide an electrode made of the composition.
- Solar cell electrode formation composition of one aspect of the present invention is a silver (Ag) powder; Glass frit containing from about 0.1 mol% to about 50 mol% silver element; And an organic vehicle.
- the silver element may be derived from silver cyanide or silver nitrate.
- the composition comprises about 60% to about 95% by weight of the silver powder; From about 0.1 wt% to about 20 wt% of the glass frit; And about 1% to about 30% by weight of the organic vehicle.
- the glass frit may contain about 0.9 mol% to about 45 mol% of silver elements based on the total number of moles of glass frit.
- the glass frit may comprise silver cyanide, silver nitrate or a mixture thereof; And one or more metal oxides.
- the metal oxide may include lead (Pb), bismuth (Bi), tellurium (Te), phosphorus (P), germanium (Ge), gallium (Ga), cerium (Ce), iron (Fe), lithium (Li), Silicon (Si), zinc (Zn), tungsten (W), magnesium (Mg), cesium (Cs), strontium (Sr), molybdenum (Mo), titanium (Ti), tin (Sn), indium (In), Vanadium (V), barium (Ba), nickel (Ni), copper (Cu), sodium (Na), potassium (K), arsenic (As), cobalt (Co), zirconium (Zr), manganese (Mn) and It may include one or more metal oxides selected from the group consisting of oxides of aluminum (Al).
- the glass frit may have an average particle diameter (D50) of about 0.1 ⁇ m to about 10 ⁇ m.
- the composition may further include at least one additive selected from the group consisting of dispersants, thixotropic agents, plasticizers, viscosity stabilizers, antifoams, pigments, ultraviolet stabilizers, antioxidants and coupling agents.
- at least one additive selected from the group consisting of dispersants, thixotropic agents, plasticizers, viscosity stabilizers, antifoams, pigments, ultraviolet stabilizers, antioxidants and coupling agents.
- Solar cell electrode which is another aspect of the present invention may be formed of the composition for forming a solar cell electrode.
- the composition for forming a solar cell electrode of the present invention introduced silver cyanide or silver nitrate into a glass frit to improve contact between the electrode and the wafer, and the solar cell electrode made of the composition had a contact resistance (Rc) and a series resistance (Rs). Excellent conversion efficiency by minimizing.
- FIG. 1 is a schematic diagram schematically showing the structure of a solar cell according to an embodiment of the present invention.
- Composition for forming a solar cell electrode of the present invention is a silver (Ag) powder (A); Glass frits containing silver elements (B); And organic vehicles (C).
- A silver
- B Glass frits containing silver elements
- C organic vehicles
- the composition for solar cell electrode formation of this invention uses silver (Ag) powder as electroconductive powder.
- the silver powder may be a powder having a particle size of nano size or micro size, for example, may be a silver powder of several tens to hundreds of nanometers, a silver powder of several tens to tens of micrometers, and having two or more different sizes Silver powder can also be mixed and used.
- the silver powder may have a spherical shape, a plate shape, or an amorphous shape.
- the silver powder may have an average particle diameter (D50) of about 0.1 ⁇ m to about 10 ⁇ m, and more preferably about 0.5 ⁇ m to about 5 ⁇ m.
- D50 average particle diameter
- the average particle diameter was measured using a 1064LD model manufactured by CILAS after dispersing the conductive powder in isopropyl alcohol (IPA) at 25 ° C. for 3 minutes with ultrasonic waves. Within this range, the contact resistance and the wire resistance can be lowered.
- the silver powder may be included in an amount of about 60 wt% to about 95 wt% based on the total weight of the composition for forming a solar cell electrode. Within this range, it is possible to prevent the conversion efficiency from lowering due to an increase in the resistance, and to prevent pasting from becoming difficult due to the relative decrease in the amount of the organic vehicle. Preferably from about 70% to about 90% by weight.
- the glass frit etches the anti-reflection film during the firing process of the composition for forming a solar cell electrode, generates silver crystal grains in the emitter region to melt the silver particles and lowers the resistance, and It improves the adhesion between the wafers and softens during sintering to induce an effect of lowering the firing temperature.
- Increasing the area of the solar cell in order to increase the efficiency of the solar cell can increase the contact resistance of the solar cell to minimize the damage to the pn junction (pn junction) and to minimize the series resistance.
- pn junction pn junction
- series resistance the contact resistance of the solar cell to minimize the damage to the pn junction (pn junction) and to minimize the series resistance.
- a glass frit that can sufficiently secure thermal stability even at a wide firing temperature.
- Glass frits of the present invention include silver cyanide (AgCN), silver nitrate (AgNO 3 ) or mixtures thereof; And one or more metal oxides.
- the glass frit of the present invention may be prepared by mixing, melting, and pulverizing silver cyanide (melting point: 335 ° C.), silver nitrate (melting point: 444 ° C.) or a mixture of these and metal oxides. have.
- the metal oxide may be one or more.
- the metal oxide may include lead (Pb), bismuth (Bi), tellurium (Te), phosphorus (P), germanium (Ge), gallium (Ga), cerium (Ce), iron (Fe), lithium (Li), Silicon (Si), zinc (Zn), tungsten (W), magnesium (Mg), cesium (Cs), strontium (Sr), molybdenum (Mo), titanium (Ti), tin (Sn), indium (In), Vanadium (V), barium (Ba), nickel (Ni), copper (Cu), sodium (Na), potassium (K), arsenic (As), cobalt (Co), zirconium (Zr), manganese (Mn) and It may include one or more selected from the group consisting of oxides of aluminum (Al).
- the glass frit may contain about 0.1 mol% to about 50 mol% of silver elements relative to the total number of moles of glass frit, and preferably about 0.9 mol% to about 45 mol%.
- the content of the silver element can be measured by Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometer (ICP-OES). Since the inductively coupled plasma-atomic emission spectroscopy (ICP-OES) uses a very small amount of sample, it can shorten the sample preparation time, reduce the error due to sample pretreatment, and have an excellent analysis sensitivity.
- ICP-OES Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometer
- the inductively coupled plasma-atomic emission spectroscopy is a step of pre-treating a sample, preparing a standard solution, and the content of the silver element in the glass frit by measuring and converting the concentration of the element (Ag) Including the step of calculating the content of the silver element contained in the glass frit can be precisely measured.
- the pretreatment of the sample may carbonize the sample by dissolving and heating the sample in an appropriate amount using an acid solution capable of dissolving silver (Ag), which is the metal to be analyzed, of the glass frit as the sample.
- an acid solution capable of dissolving silver (Ag), which is the metal to be analyzed, of the glass frit as the sample.
- sulfuric acid (H 2 SO 4 ) solution may be preferably used.
- the carbonized sample may be appropriately diluted to an analytical concentration range of the Ag element with a solvent such as distilled water and hydrogen peroxide (H 2 O 2 ).
- the analytical concentration range may be used in a diluted state of about 10,000 times in consideration of the element detection capability of the applied ICP-OES device.
- the pretreated sample may be calibrated with a standard solution, for example, silver (Ag) elemental standard solution (Ag + 1000 mg / L) as measured by an ICP-OES instrument.
- a standard solution for example, silver (Ag) elemental standard solution (Ag + 1000 mg / L) as measured by an ICP-OES instrument.
- element concentration of the sample pre-treated with the ICP-OES measuring device (ppm) is measured and then converted to calculate the content of silver element in the glass frit.
- silver crystals may be precipitated on the glass frit in addition to the silver crystalline (Ag crystalline) formed by the conductive powder after firing.
- the glass frit-like silver element derived from silver cyanide or silver nitrate acts as an insulator between the silver crystal and the wafer between the interfaces of electrodes formed in the order of silver crystal-glass-wafer on the glass frit. It can impart conductivity to glass and fill isolated pores or voids formed on the glass frit, thereby reducing the contact resistance and series resistance of the wafer-silver electrode.
- the glass frit can be prepared from the metal oxides described above using conventional methods. For example, it mixes with the composition of the metal oxide described above. Mixing can be performed using a ball mill or planetary mill. The mixed composition is melted at the conditions of 700 ° C. to 1300 ° C. and quenched at 25 ° C. The obtained result can be pulverized by a disk mill, planetary mill or the like to obtain a glass frit.
- the glass frit may have an average particle diameter (D50) of about 0.1 ⁇ m to about 10 ⁇ m, and the glass frit may have a spherical shape or an irregular shape.
- D50 average particle diameter
- the glass frit may be included in an amount of about 0.1 wt% to about 20 wt%, preferably about 0.5 wt% to about 10 wt%, based on the total weight of the composition for forming a solar cell electrode. It can be included in the above range to ensure the pn junction stability under a variety of sheet resistance and to minimize the series resistance value, can finally improve the efficiency of the solar cell.
- the organic vehicle imparts suitable viscosity and rheological properties to the composition through mechanical mixing with the inorganic component of the composition for forming a solar cell electrode.
- the organic vehicle may be an organic vehicle that is typically used in a composition for forming a solar cell electrode, and may include a binder resin and a solvent.
- an acrylate-based or cellulose-based resin may be used, and ethyl cellulose is generally used.
- the solvent for example, hexane, toluene, ethyl cellosolve, cyclohexanone, butyl cellosolve, butyl carbitol (diethylene glycol monobutyl ether), dibutyl carbitol (diethylene glycol dibutyl ether) Butyl carbitol acetate (diethylene glycol monobutyl ether acetate), propylene glycol monomethyl ether, hexylene glycol, terpineol, methyl ethyl ketone, benzyl alcohol, gamma butyrolactone or ethyl lactate alone or the like It can mix and use 2 or more types.
- the organic vehicle may be included in about 1% by weight to about 30% by weight relative to the total weight of the composition for forming a solar cell electrode. It is possible to secure sufficient adhesive strength and excellent printability in the above range.
- the composition for forming a solar cell electrode of the present invention may further include a conventional additive as needed to improve the flow characteristics, process characteristics and stability in addition to the components described above.
- the additive may be used alone or in combination of two or more of a dispersant, thixotropic agent, plasticizer, viscosity stabilizer, antifoaming agent, pigment, ultraviolet stabilizer, antioxidant, coupling agent and the like. These may be included in about 0.1% to about 5% by weight relative to the total weight of the composition for forming a solar cell electrode, but may be changed in content as necessary.
- Another aspect of the invention relates to an electrode formed from the composition for forming a solar cell electrode and a solar cell comprising the same.
- 1 illustrates a structure of a solar cell according to an embodiment of the present invention.
- a composition for forming an electrode is printed and baked on a wafer 100 or a substrate including a p layer (or n layer) 101 and an n layer (or p layer) 102 as an emitter.
- the rear electrode 210 and the front electrode 230 may be formed.
- the electrode forming composition may be printed on the back side of the wafer and then dried at a temperature of about 200 ° C. to 400 ° C. for about 10 to 90 seconds to perform a preliminary preparation step for the back electrode.
- the composition for forming an electrode on the front surface of the wafer may be printed and dried to perform a preliminary preparation step for the front electrode. Thereafter, a firing process of firing for 30 seconds to 180 seconds at 600 ° C to 1000 ° C, preferably 750 ° C to 950 ° C may be performed to form the front electrode and the rear electrode.
- Glass frits of Examples and Comparative Examples were prepared with the compositions shown in Tables 1 to 5.
- the content of silver (Ag) contained in the glass frit prepared in Examples and Comparative Examples was measured by inductively coupled plasma-atomic emission spectroscopy (ICP-OES). 6 is representatively shown.
- Spherical silver powder (Dowa Hightech CO. LTD, AG-4-8) 86.90% by weight, 3.1% by weight of glass frit prepared in the composition of Table 1 below, 0.2% by weight of dispersant BYK102 (BYK-chemie) and 0.3% by weight of thixotropic agent Thixatrol ST (Elementis co.) As an additive % was added and evenly mixed and dispersed by mixing with a three-roll kneader to prepare a composition for forming a solar cell electrode.
- a composition for forming a solar cell electrode was prepared in the same manner as in Example 1, except that the glass frit prepared with the compositions of Tables 1 and 2 was used.
- a composition for forming a solar cell electrode was prepared in the same manner as in Example 1 except that the glass frit prepared with the compositions of Tables 3 and 4 including silver nitrate was used.
- a composition for forming a solar cell electrode was prepared in the same manner as in Example 1, except that the glass frit prepared with the composition of Table 5 was used.
- Pretreatment of the Sample 0.01 g of glass frit, the sample to be analyzed, is placed in a beaker and weighed accurately to 0.0001 g units. 200 ml of 5 mol% sulfuric acid (H 2 SO 4 ) was added to a beaker containing the sample, and the sample was completely carbonized by heating at 220 ° C. for 3 hours using a hot plate. Pretreatment was completed by adding hydrogen peroxide (H 2 O 2 ) until the beaker containing the carbonized sample became transparent.
- H 2 SO 4 5 mol% sulfuric acid
- Standard Solution Silver (Ag) Elemental Standard Solution (Ag + 1000mg / L) for Element Measurement was prepared.
- Nitric acid (HNO 3 ) was added to a beaker containing a pretreated sample, followed by air cooling for 5 minutes.
- the prepared standard solution was introduced into an ICP-OES measuring instrument (PerkinElmer, Inc.) to prepare a calibration curve by an external standard method, and the concentration of silver element (Ag) in the sample was measured using the ICP-OES measuring instrument. ) was measured and converted to calculate the content of silver element in the glass frit.
- Silver content (%) element concentration (ppm) x Dilution Factor (DF) / 10000
- Mole of silver element content of silver element / molecular weight of silver element
- Mole% of silver element mole of silver element / sum of mole of all elements
- Example 9 Example 24
- Example 36 .00
- Example 10 43.58
- Example 25 42.25
- Example 37 36.85
- Example 43 0.95
- Example 75 0.91
- Example 44 5.02
- Example 64 5.69
- Example 45 9.77
- Example 65 11.10
- Example 46 18.45
- Example 66 21.19 Example 78 17.91
- Example 47 32.98
- Example 67 31.20 Example 79 26.51 Comparative Example 1 0 Comparative Example 2 0 - -
- composition for forming a solar cell electrode prepared in Examples and Comparative Examples was printed by screen printing in a predetermined pattern on the entire surface of a crystalline mono wafer (Wafer), and dried using an infrared drying furnace.
- the cell formed by the above process was fired for 60 seconds to 210 seconds between 600 ° C. and 900 ° C. using a belt type kiln, and the cell thus manufactured was contacted with the solar cell using a TLM (Transfer Length Method) measuring device.
- Rc) and contact resistivity ( ⁇ c) were measured and shown in Tables 7 to 11, respectively.
- the composition for forming a solar cell electrode according to the above Examples and Comparative Examples was printed by screen printing in a predetermined pattern on the entire surface of a crystalline mono wafer (Wafer), and dried using an infrared drying furnace. After printing the aluminum paste on the back of the back of the wafer and dried in the same manner.
- the cell formed by the above process was fired for 30 seconds to 180 seconds at a temperature range of 400 ° C. to 900 ° C. using a belt type kiln, and the cell thus manufactured is a solar cell efficiency measuring device (Pasan, CT-801).
- the series resistance (Rs), Fill Factor (FF,%) and conversion efficiency (%) of the solar cell were measured using the following Tables 7 to 11, respectively.
- Example 1 0.5389 0.9544 5.24 76.45 16.55
- Example 2 0.4699 0.7875 5.03 76.66 16.77
- Example 3 0.4314 0.6743 4.80 76.86 17.00
- Example 4 0.3838 0.6203 4.54 77.05 17.21
- Example 5 0.3078 0.4837 5.27 76.44 16.54
- Example 6 0.5364 0.9459 5.03 76.68 16.78
- Example 7 0.4692 0.7782 4.80 76.87 17.00
- Example 8 0.4308 0.6728 4.55 77.05 17.21
- Example 9 0.3835 0.6169 5.24 76.45 16.55
- Example 10 0.2952 0.4801 5.04 76.64 16.77
- Example 11 0.5232 0.9380 4.81 76.84 16.98
- Example 12 0.4738 0.7886 4.72 76.96 17.07
- Example 13 0.4347 0.6748 4.48 77.07 17.22
- Example 14 0.3855 0.6
- Example 21 0.4993 0.8839 5.28 76.44 16.53
- Example 22 0.4744 0.7915 5.05 76.64 16.77
- Example 23 0.4372 0.6897 4.82 76.82 16.97
- Example 24 0.3873 0.6258 4.61 77.04 17.19
- Example 25 0.3141 0.5115 4.40 77.12 17.29
- Example 26 0.5079 0.9095 5.24 76.47 16.57
- Example 27 0.4681 0.7668 5.00 76.69 16.80
- Example 28 0.4287 0.6691 4.79 76.90 17.00
- Example 29 0.3821 0.6100 4.71 76.97 17.11
- Example 30 0.2906 0.4602 4.47 77.08 17.25
- Example 31 0.3894 0.6282 4.70 76.98 17.12
- Example 32 0.3787 0.6048 4.67 77.00 17.14
- Example 33 0.5147 0.9227 5.28 76.41 16.52
- Example 34 0.4650 0.7620 5.
- Example 43 0.4840 0.7717 5.39 76.38 16.49
- Example 44 0.4446 0.6979 5.18 76.59 16.64
- Example 45 0.4116 0.6061 5.02 76.68 16.83
- Example 46 0.3759 0.5488 4.85 76.96 17.02
- Example 47 0.3136 0.4639 4.58 77.19 17.36
- Example 48 0.4853 0.7739 5.36 76.40 16.51
- Example 49 0.4409 0.6958 5.17 76.60 16.67
- Example 50 0.4126 0.6106 5.01 76.68 16.85
- Example 51 0.3756 0.5469 4.85 76.95 17.01
- Example 52 0.3226 0.4733 4.59 77.18 17.35
- Example 53 0.4833 0.7705 5.56 76.38 16.46
- Example 54 0.4456 0.6982 5.18 76.59 16.62
- Example 55 0.4111 0.5969 5.01 76.70 16.85
- Example 56 0.3774 0.5594
- Example 64 0.4460 0.7094 5.17 76.61 16.68
- Example 65 0.4144 0.6222 5.00 76.70 16.86
- Example 66 0.3662 0.5432 4.86 76.93 16.99
- Example 67 0.3308 0.4913 4.60 77.16 17.34
- Example 68 0.4915 0.7884 5.33 76.44 16.53
- Example 69 0.4460 0.7035 5.19 76.57 16.60
- Example 70 0.4173 0.6384 5.00 76.71 16.86
- Example 71 0.3775 0.5637 4.87 76.92 16.98
- Example 72 0.2987 0.4461 4.50 77.22 17.38
- Example 73 0.3358 0.5048 4.88 76.91 16.98
- Example 74 0.3413 0.5155 4.89 76.87 16.97
- Example 75 0.4826 0.7689 5.69 76.16 16.20
- Example 76 0.4462 0.7112 5.17 76.63 16.68
- the glass frit of Examples 1 to 42 containing silver elements derived from silver cyanide and Examples 43 to 84 containing silver elements derived from silver nitrate has lower contact resistance, contact resistivity and series resistance than the electrodes of Comparative Examples 1 to 2 using glass frits derived from metal oxides, It can be seen that the Fill Factor value is excellent.
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
본 발명은 은(Ag) 분말; 은 원소를 약 0.1 몰% 내지 약 50 몰% 함유한 유리 프릿; 및 유기 비히클;을 포함하는 것을 특징으로 하는 태양전지 전극 형성용 조성물에 관한 것으로, 상기 태양전지 전극 형성용 조성물은 시안화은 또는 질산은을 포함하는 유리 프릿을 도입하여 전극과 웨이퍼와 접촉성을 개선하였으며, 상기 조성물로 제조된 태양전지 전극은 접촉 저항(Rc)과 직렬 저항(Rs)이 최소화되므로 변환 효율이 우수하다.
Description
본 발명은 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극에 관한 것이다.
태양전지는 태양광의 포톤(photon)을 전기로 변환시키는 pn 접합의 광전 효과를 이용하여 전기 에너지를 발생시킨다. 태양전지는 pn 접합이 구성되는 반도체 웨이퍼 또는 기판 상·하면에 각각 전면 전극과 후면 전극이 형성되어 있다. 태양전지는 반도체 웨이퍼에 입사되는 태양광에 의해 pn 접합의 광전 효과가 유도되고, 이로부터 발생된 전자들이 전극을 통해 외부로 흐르는 전류를 제공한다. 이러한 태양전지의 전극은 태양전지 전극 형성용 조성물의 도포, 패터닝 및 소성에 의해, 웨이퍼 표면에 형성될 수 있다.
최근 태양전지의 효율을 증가시키기 위해 에미터(emitter)의 두께가 지속적으로 얇아짐에 따라, 태양전지의 성능을 저하시킬 수 있는 션팅(shunting) 현상을 유발시킬 수 있으며, 변환 효율을 증가시키기 위해 태양전지의 면적을 점차 증가시키고 있는데, 이는 태양전지의 접촉저항을 높여 태양전지의 효율을 감소시킬 수 있다.
따라서, 웨이퍼와 접촉성을 향상하여 접촉저항(Rc)과 직렬저항(Rs)을 최소화시켜 변환 효율이 우수한 태양전지 전극을 제조할 수 있는 태양전지 전극 형성용 조성물의 개발이 시급히 요구되고 있다.
본 발명의 목적은 전극과 웨이퍼 표면의 접촉성이 우수한 태양전지 전극 형성용 조성물을 제공하기 위함이다.
본 발명의 다른 목적은 접촉저항과 직렬저항을 최소화할 수 있는 태양전지 전극 형성용 조성물을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 변환효율 및 Fill Factor 값이 우수한 태양전지 전극을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 상기 조성물로 제조된 전극을 제공하는 것이다.
본 발명의 상기 및 기타의 목적들은 하기 설명되는 본 발명에 의하여 모두 달성될 수 있다.
본 발명의 일 관점인 태양전지 전극 형성용 조성물은 은(Ag) 분말; 은 원소를 약 0.1 몰% 내지 약 50 몰% 함유한 유리 프릿; 및 유기 비히클;을 포함할 수 있다.
상기 은 원소는 시안화은 또는 질산은으로부터 유래된 것일 수 있다.
상기 조성물은 상기 은 분말 약 60 중량% 내지 약 95 중량%; 상기 유리 프릿 약 0.1 중량% 내지 약 20 중량%; 및 상기 유기 비히클 약 1 중량% 내지 약 30 중량%를 포함할 수 있다.
상기 유리 프릿은 유리 프릿 전체 몰수 대비 은 원소를 약 0.9 몰% 내지 약 45 몰% 함유할 수 있다.
상기 유리 프릿은 시안화은, 질산은 또는 이들의 혼합물; 및 1종 이상의 금속산화물로부터 형성된 것일 수 있다.
상기 금속산화물은 납(Pb), 비스무스(Bi), 텔루륨(Te), 인(P), 게르마늄(Ge), 갈륨(Ga), 세륨(Ce), 철(Fe), 리튬(Li), 규소(Si), 아연(Zn), 텅스텐(W), 마그네슘(Mg), 세슘(Cs), 스트론튬(Sr), 몰리브덴(Mo), 티타늄(Ti), 주석(Sn), 인듐(In), 바나듐(V), 바륨(Ba), 니켈(Ni), 구리(Cu), 나트륨(Na), 칼륨(K), 비소(As), 코발트(Co), 지르코늄(Zr), 망간(Mn) 및 알루미늄(Al)의 산화물로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 금속산화물을 포함할 수 있다.
상기 유리 프릿은 평균입경(D50)이 약 0.1㎛ 내지 약 10㎛일 수 있다.
상기 조성물은 분산제, 요변제, 가소제, 점도 안정화제, 소포제, 안료, 자외선 안정제, 산화방지제 및 커플링제로 이루어진 군으로부터 선택되는 첨가제를 1종 이상 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 관점인 태양전지 전극은 상기 태양전지 전극 형성용 조성물로 형성될 수 있다.
본 발명의 태양전지 전극 형성용 조성물은 시안화은 또는 질산은을 유리 프릿에 도입하여 전극과 웨이퍼와 접촉성을 개선하였으며, 상기 조성물로 제조된 태양전지 전극은 접촉 저항(Rc)과 직렬 저항(Rs)을 최소화시켜 변환 효율이 우수하다.
도 1은 본 발명의 일 구체예에 따른 태양전지의 구조를 간략히 도시한 개략도이다.
태양전지 전극 형성용 조성물
본 발명의 태양전지 전극 형성용 조성물은 은(Ag) 분말(A); 은 원소를 함유한 유리 프릿(B); 및 유기 비히클(C);을 포함한다. 이하, 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.
(A) 은 분말
본 발명의 태양전지 전극 형성용 조성물은 도전성 분말로서 은(Ag) 분말을 사용한다. 상기 은 분말은 나노 사이즈 또는 마이크로 사이즈의 입경을 갖는 분말일 수 있는데, 예를 들어 수십 내지 수백 나노미터 크기의 은 분말, 수 내지 수십 마이크로미터의 은 분말일 수 있으며, 2이상의 서로 다른 사이즈를 갖는 은 분말을 혼합하여 사용할 수도 있다.
은 분말은 입자 형상이 구형, 판상, 무정형 형상을 가질 수 있다.
은 분말은 평균입경(D50)은 바람직하게는 약 0.1㎛ 내지 약 10㎛이며, 더욱 바람직하게는 약 0.5㎛ 내지 약 5㎛이 될 수 있다. 상기 평균입경은 이소프로필알코올(IPA)에 도전성 분말을 초음파로 25℃에서 3분 동안 분산시킨 후 CILAS社에서 제작한 1064LD 모델을 사용하여 측정된 것이다. 상기 범위 내에서, 접촉 저항과 선 저항이 낮아지는 효과를 가질 수 있다.
은 분말은 태양전지 전극 형성용 조성물 전체 중량 대비 약 60 중량% 내지 약 95 중량%로 포함될 수 있다. 상기 범위에서, 저항의 증가로 변환 효율이 낮아지는 것을 막을 수 있고, 유기 비히클 양의 상대적인 감소로 페이스트화가 어려워지는 것을 막을 수 있다. 바람직하게는 약 70 중량% 내지 약 90 중량%로 포함될 수 있다.
(B) 은 원소를 함유한 유리 프릿
유리 프릿(glass frit)은 태양전지 전극 형성용 조성물의 소성 공정 중 반사 방지막을 에칭(etching)하고, 은 입자를 용융시켜 저항이 낮아질 수 있도록 에미터 영역에 은 결정 입자를 생성시키고, 전도성 분말과 웨이퍼 사이의 접착력을 향상시키고 소결시에 연화하여 소성 온도를 보다 낮추는 효과를 유도한다.
태양전지의 효율을 증가시키기 위하여 태양전지의 면적을 증가시키면 태양전지의 접촉저항이 높아질 수 있으므로 pn 접합(pn junction)에 대한 피해를 최소화함과 동시에 직렬저항을 최소화시켜야 한다. 또한, 다양한 면저항의 웨이퍼의 증가에 따라 소성 온도가 변동폭이 커지므로 넓은 소성 온도에서도 열안정성을 충분히 확보될 수 있는 유리 프릿을 사용하는 것이 바람직하다.
본 발명의 유리 프릿은 시안화은(AgCN), 질산은(AgNO3) 또는 이들의 혼합물 ; 및 1종 이상의 금속산화물로부터 형성된 것이다. 구체적으로, 본 발명의 유리 프릿은 은(Ag)보다 녹는점이 낮은 시안화은(melting point : 335℃), 질산은(melting point : 444℃) 또는 이들 혼합물 및 금속산화물을 혼합, 용융, 분쇄하여 제조될 수 있다. 상기 금속산화물은 1종 이상일 수 있다.
상기 금속산화물은 납(Pb), 비스무스(Bi), 텔루륨(Te), 인(P), 게르마늄(Ge), 갈륨(Ga), 세륨(Ce), 철(Fe), 리튬(Li), 규소(Si), 아연(Zn), 텅스텐(W), 마그네슘(Mg), 세슘(Cs), 스트론튬(Sr), 몰리브덴(Mo), 티타늄(Ti), 주석(Sn), 인듐(In), 바나듐(V), 바륨(Ba), 니켈(Ni), 구리(Cu), 나트륨(Na), 칼륨(K), 비소(As), 코발트(Co), 지르코늄(Zr), 망간(Mn) 및 알루미늄(Al)의 산화물로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함할 수 있다.
상기 유리 프릿은 유리 프릿 전체 몰수 대비 은 원소를 약 0.1 몰% 내지 약 50 몰% 함유할 수 있으며, 바람직하게는 약 0.9 몰% 내지 약 45 몰% 함유할 수 있다.
상기 은 원소의 함량은 유도결합플라즈마-원자방출분광법(ICP-OES; Inductively Coupled Plasma - Optical Emission Spectrometer)에 의하여 측정될 수 있다. 상기 유도결합플라즈마-원자방출분광법(ICP-OES)은 매우 적은 양의 시료를 사용하므로 시료 준비 시간을 단축할 수 있고, 시료 전처리에 의한 오차를 줄일 수 있으며 분석 감도가 우수한 이점이 있다.
구체적으로, 상기 유도결합플라즈마-원자방출분광법(ICP-OES)는 시료를 전처리 하는 단계, 표준 용액을 준비하는 단계, 및 은(Ag) 원소의 농도를 측정 및 환산하여 유리 프릿 내 은 원소의 함량을 산출하는 단계를 포함하여 유리 프릿 내 함유된 은 원소의 함량을 정밀하게 측정할 수 있다.
상기 시료를 전처리하는 단계는 시료인 유리 프릿의 분석 대상 금속인 은(Ag)을 용해할 수 있는 산성용액을 이용하여 시료를 적당량 용해하고 가열하여 시료를 탄화시킬 수 있다. 상기 산성용액은 바람직하게는 황산(H2SO4) 용액을 사용할 수 있다.
상기 탄화된 시료는 증류수, 과산화수소(H2O2) 등의 용매로 Ag 원소의 분석농도 범위까지 적당히 희석할 수 있다. 상기 분석농도 범위는 적용되는 ICP-OES 기기의 원소 검출능력을 고려하여 약 10,000배까지 희석된 상태로 사용할 수 있다.
상기 전처리된 시료는 ICP-OES 기기로 측정시 표준 용액, 예를 들면, 원소 측정용 은(Ag) 원소 표준용액(Ag+ 1000mg/L)으로 교정(calibration)할 수 있다.
예로서, 상기 표준용액을 ICP-OES 측정기기에 도입하여 외부 표준법(external standard method)으로 검정곡선(calibration curve)을 작성한 후 상기 ICP-OES 측정기기로 전처리된 시료의 은(Ag) 원소 농도(ppm)를 측정한 후 환산하여 유리 프릿 내 은 원소의 함량을 산출할 수 있다.
본 발명의 유리 프릿으로 제조된 태양전지 전극은 소성 후 도전성 분말에 의하여 형성되는 은 결정(Ag crystalline)이외에 유리 프릿상에서도 은 결정이 석출될 수 있다. 또한, 상기 시안화은 또는 질산은으로부터 유래된 유리 프릿상 은 원소는 유리 프릿 상에서 은 결정-유리(glass)-웨이퍼(wafer) 순으로 형성된 전극의 계면 사이에서 은 결정과 웨이퍼 간의 인슐레이터(insulator)로 작용하는 유리(glass)에 전도성을 부여해주고, 유리 프릿 상에 형성된 고립된 포어(pore) 또는 보이드(void)를 채워줄 수 있으므로 웨이퍼-은 전극의 접촉저항 및 시리즈 저항을 감소시킬 수 있다.
상기 유리 프릿은 통상의 방법을 사용하여 상기 기술된 금속산화물로부터 제조할 수 있다. 예를 들면, 상기 기술된 금속산화물의 조성으로 혼합한다. 혼합은 볼 밀(ball mill) 또는 플라네터리 밀(planetary mill)을 사용하여 혼합할 수 있다. 혼합된 조성물을 700℃ 내지 1300℃의 조건에서 용융시키고, 25℃에서 퀀칭(quenching)한다. 얻은 결과물을 디스크 밀(disk mill), 플라네터리 밀 등에 의해 분쇄하여 유리 프릿을 얻을 수 있다.
상기 유리 프릿은 평균입경(D50)이 약 0.1㎛ 내지 약 10㎛인 것이 사용될 수 있으며, 상기 유리 프릿의 형상은 구형이어도 부정형상이어도 무방하다.
상기 유리 프릿은 태양전지 전극 형성용 조성물 전체 중량 대비 약 0.1 중량% 내지 약 20 중량%, 바람직하게는 약 0.5 중량% 내지 약 10 중량%로 포함될 수 있다. 상기 범위로 포함시켜 다양한 면저항 하에서 pn 접합 안정성을 확보할 수 있고 직렬저항 값을 최소화시킬 수 있으며, 종국적으로 태양전지의 효율을 개선할 수 있다.
(C) 유기 비히클
유기 비히클은 태양전지 전극 형성용 조성물의 무기성분과 기계적 혼합을 통하여 조성물에 인쇄에 적합한 점도 및 유변학적 특성을 부여한다.
상기 유기 비히클은 통상적으로 태양전지 전극 형성용 조성물에 사용되는 유기 비히클이 사용될 수 있는데, 통상 바인더 수지와 용매 등을 포함할 수 있다.
상기 바인더 수지로는 아크릴레이트계 또는 셀룰로오스계 수지 등을 사용할 수 있으며 에틸 셀룰로오스가 일반적으로 사용되는 수지이다. 그러나, 에틸 하이드록시에틸 셀룰로오스, 니트로 셀룰로오스, 에틸 셀룰로오스와 페놀 수지의 혼합물, 알키드 수지, 페놀계 수지, 아크릴산 에스테르계 수지, 크실렌계 수지, 폴리부텐계 수지, 폴리에스테르계 수지, 요소계 수지, 멜라민계 수지, 초산비닐계 수지, 목재 로진(rosin) 또는 알콜의 폴리메타크릴레이트 등을 사용할 수도 있다.
상기 용매로는 예를 들어, 헥산, 톨루엔, 에틸셀로솔브, 시클로헥사논, 부틸셀로솔브, 부틸 카비톨(디에틸렌 글리콜 모노부틸 에테르), 디부틸 카비톨(디에틸렌 글리콜 디부틸 에테르), 부틸 카비톨 아세테이트(디에틸렌 글리콜 모노부틸 에테르 아세테이트), 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르, 헥실렌 글리콜, 터핀올(Terpineol), 메틸에틸케톤, 벤질알콜, 감마부티로락톤 또는 에틸락테이트 등을 단독 또는 2종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.
상기 유기 비히클은 태양전지 전극 형성용 조성물 전체 중량 대비 약 1 중량% 내지 약 30 중량%로 포함될 수 있다. 상기 범위에서 충분한 접착강도와 우수한 인쇄성을 확보할 수 있다.
(D) 첨가제
본 발명의 태양전지 전극 형성용 조성물은 상기에서 기술한 구성 요소 외에 유동 특성, 공정 특성 및 안정성을 향상시키기 위하여 필요에 따라 통상의 첨가제를 더 포함할 수 있다. 상기 첨가제는 분산제, 요변제, 가소제, 점도 안정화제, 소포제, 안료, 자외선 안정제, 산화방지제, 커플링제 등을 단독 또는 2종 이상 혼합하여 사용할 수 있다. 이들은 태양전지 전극 형성용 조성물 전체 중량 대비 약 0.1중량% 내지 약 5 중량%로 포함될 수 있지만 필요에 따라 함량을 변경할 수 있다.
태양전지 전극 및 이를 포함하는 태양전지
본 발명의 다른 관점은 상기 태양전지 전극 형성용 조성물로부터 형성된 전극 및 이를 포함하는 태양전지에 관한 것이다. 도 1은 본 발명의 일 구체예에 따른 태양전지의 구조를 나타낸 것이다.
도 1을 참조하면, p층(또는 n층)(101) 및 에미터로서의 n층(또는 p층)(102)을 포함하는 웨이퍼(100) 또는 기판 상에, 전극 형성용 조성물을 인쇄하고 소성하여 후면 전극(210) 및 전면 전극(230)을 형성할 수 있다. 예컨대, 전극 형성용 조성물을 웨이퍼의 후면에 인쇄 도포한 후, 대략 200℃ 내지 400℃ 온도로 대략 10 내지 90초 정도 건조하여 후면 전극을 위한 사전 준비 단계를 수행할 수 있다. 또한, 웨이퍼의 전면에 전극 형성용 조성물을 인쇄한 후 건조하여 전면 전극을 위한 사전 준비단계를 수행할 수 있다. 이후에, 600℃ 내지 1000℃, 바람직하게는 750℃ 내지 950℃에서 30초 내지 180초 소성하는 소성 과정을 수행하여 전면 전극 및 후면 전극을 형성할 수 있다.
이하, 실시예를 통하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명하고자 하나, 이러한 실시예들은 단지 설명의 목적을 위한 것으로, 본 발명을 제한하는 것으로 해석되어서는 안 된다.
실시예 1-84 및 비교예 1-2
유리 프릿의 제조: 하기 표 1 내지 표 5의 조성으로 실시예 및 비교예의 유리 프릿을 제조하였다. 실시예 및 비교예에서 제조된 유리 프릿이 함유한 은(Ag) 원소의 함량(단위: 몰%)을 유도결합플라즈마-원자방출분광법(ICP-OES)으로 측정하여 그 결과값 중 일부를 하기 표 6에 대표적으로 나타내었다.
실시예 1
유기 바인더로서 에틸셀룰로오스 (Dow chemical company, STD4) 3.0 중량%를 용매인 부틸 카비톨 (Butyl Carbitol) 6.5 중량%에 60℃에서 충분히 용해한 후 평균입경이 2.0㎛인 구형의 은 분말(Dowa Hightech CO. LTD, AG-4-8) 86.90 중량%, 하기 표 1의 조성으로 제조된 유리 프릿 3.1 중량%, 첨가제로서 분산제 BYK102(BYK-chemie) 0.2 중량% 및 요변제 Thixatrol ST (Elementis co.) 0.3 중량% 투입하여 골고루 믹싱 후 3롤 혼련기로 혼합 분산시켜 태양전지 전극 형성용 조성물을 준비하였다.
실시예 2 내지 42
하기 표 1 및 표 2의 조성으로 제조된 유리 프릿을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 같은 방법으로 태양전지 전극 형성용 조성물을 준비하였다.
실시예 43 내지 84
질산은을 포함하는 하기 표 3 및 표 4의 조성으로 제조된 유리 프릿을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 같은 방법으로 태양전지 전극 형성용 조성물을 준비하였다.
비교예 1 내지 2
하기 표 5의 조성으로 제조된 유리 프릿을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 같은 방법으로 태양전지 전극 형성용 조성물을 준비하였다.
표 1
AgCN | PbO | Bi2O3 | TeO2 | P2O5 | Li2CO3 | SiO2 | ZnO | WO3 | MgO | CeO2 | SrCO3 | MoO3 | TiO2 | SnO | In2O3 | |
실시예1 | 1 | - | 40 | 50 | - | 2 | 7 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예2 | 5 | - | 40 | 50 | - | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예3 | 10 | - | 35 | 50 | - | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예4 | 20 | - | 30 | 40 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예5 | 30 | - | 25 | 35 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예6 | 1 | 40 | - | 50 | - | 2 | 7 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예7 | 5 | 40 | - | 50 | - | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예8 | 10 | 35 | - | 50 | - | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예9 | 20 | 30 | - | 40 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예10 | 40 | - | - | 50 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예11 | 1 | - | - | 50 | 40 | 2 | 7 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예12 | 5 | - | - | 50 | 40 | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예13 | 10 | - | - | 50 | 35 | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예14 | 20 | - | - | 40 | 30 | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예15 | 30 | - | - | 35 | 25 | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예16 | 1 | - | 40 | 50 | - | 2 | 5 | 2 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예17 | 5 | - | 40 | 50 | - | 2 | 2 | - | 1 | - | - | - | - | - | - | - |
실시예18 | 10 | - | 35 | 50 | - | 2 | 2 | - | - | 1 | - | - | - | - | - | - |
실시예19 | 20 | - | 30 | 40 | - | 2 | 5 | - | - | - | - | - | 3 | - | - | - |
실시예20 | 30 | - | 25 | 35 | - | 2 | 5 | - | - | - | - | - | - | - | 3 | - |
(단위: 중량%)
표 2
AgCN | PbO | Bi2O3 | TeO2 | P2O5 | Li2CO3 | SiO2 | ZnO | WO3 | MgO | CeO2 | SrCO3 | MoO3 | TiO2 | SnO | In2O3 | |
실시예21 | 1 | 40 | 20 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | - | 32 | - | - | - | - |
실시예22 | 5 | 40 | 40 | - | - | 2 | 2 | - | - | - | - | 11 | - | - | - | - |
실시예23 | 10 | 35 | 35 | - | - | 2 | 2 | - | - | - | - | 16 | - | - | - | - |
실시예24 | 20 | 30 | 30 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | - | 13 | - | - | - | - |
실시예25 | 30 | 25 | 25 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | - | 13 | - | - | - | - |
실시예26 | 1 | 40 | 20 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | 32 | - | - | - | - | - |
실시예27 | 5 | 40 | 40 | - | - | 2 | 2 | - | - | - | 11 | - | - | - | - | - |
실시예28 | 10 | 35 | 35 | - | - | 2 | 2 | - | - | - | 16 | - | - | - | - | - |
실시예29 | 20 | 30 | 30 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | 13 | - | - | - | - | - |
실시예30 | 30 | 25 | 25 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | 13 | - | - | - | - | - |
실시예31 | 18 | - | 30 | 40 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | 2 |
실시예32 | 18 | - | 30 | 40 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | 2 | - | - |
실시예33 | 1 | - | 40 | 50 | - | 2 | - | 7 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예34 | 5 | - | 40 | 50 | - | 2 | - | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예35 | 10 | - | 35 | 50 | - | 2 | - | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예36 | 20 | - | 30 | 40 | - | 2 | - | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예37 | 30 | - | 25 | 35 | - | 2 | - | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예38 | 1 | - | 40 | 50 | - | 2 | - | - | - | - | 7 | - | - | - | - | - |
실시예39 | 5 | - | 40 | 50 | - | 2 | - | - | 1 | - | - | 2 | - | - | - | - |
실시예40 | 10 | - | 35 | 50 | - | 2 | - | - | - | 1 | 2 | - | - | - | - | - |
실시예41 | 20 | - | 30 | 40 | - | 2 | - | - | - | - | - | 5 | 3 | - | - | - |
실시예42 | 30 | - | 25 | 35 | - | 2 | - | 5 | - | - | - | - | - | - | 3 | - |
(단위: 중량%)
표 3
AgNO3 | PbO | Bi2O3 | TeO2 | P2O5 | Li2CO3 | SiO2 | ZnO | WO3 | MgO | CeO2 | SrCO3 | MoO3 | TiO2 | SnO | In2O3 | |
실시예43 | 1 | - | 40 | 50 | - | 2 | 7 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예44 | 5 | - | 40 | 50 | - | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예45 | 10 | - | 35 | 50 | - | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예46 | 20 | - | 30 | 40 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예47 | 40 | - | 5 | 45 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예48 | 1 | 40 | - | 50 | - | 2 | 7 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예49 | 5 | 40 | - | 50 | - | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예50 | 10 | 35 | - | 50 | - | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예51 | 20 | 30 | - | 40 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예52 | 30 | 25 | - | 35 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예53 | 1 | - | - | 50 | 40 | 2 | 7 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예54 | 5 | - | - | 50 | 40 | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예55 | 10 | - | - | 50 | 35 | 2 | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예56 | 20 | - | - | 40 | 30 | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예57 | 30 | - | - | 35 | 25 | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예58 | 1 | - | 40 | 50 | - | 2 | 5 | 2 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예59 | 5 | - | 40 | 50 | - | 2 | 2 | - | 1 | - | - | - | - | - | - | - |
실시예60 | 10 | - | 35 | 50 | - | 2 | 2 | - | - | 1 | - | - | - | - | - | - |
실시예61 | 20 | - | 30 | 40 | - | 2 | 5 | - | - | - | - | - | 3 | - | - | - |
실시예62 | 30 | - | 25 | 35 | - | 2 | 5 | - | - | - | - | - | - | - | 3 | - |
실시예63 | 1 | 40 | 20 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | - | 32 | - | - | - | - |
(단위: 중량%)
표 4
AgNO3 | PbO | Bi2O3 | TeO2 | P2O5 | Li2CO3 | SiO2 | ZnO | WO3 | MgO | CeO2 | SrCO3 | MoO3 | TiO2 | SnO | In2O3 | |
실시예64 | 5 | 40 | 40 | - | - | 2 | 2 | - | - | - | - | 11 | - | - | - | - |
실시예65 | 10 | 35 | 35 | - | - | 2 | 2 | - | - | - | - | 16 | - | - | - | - |
실시예66 | 20 | 30 | 30 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | - | 13 | - | - | - | - |
실시예67 | 30 | 25 | 25 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | - | 13 | - | - | - | - |
실시예68 | 1 | 40 | 20 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | 32 | - | - | - | - | - |
실시예69 | 5 | 40 | 40 | - | - | 2 | 2 | - | - | - | 11 | - | - | - | - | - |
실시예70 | 10 | 35 | 35 | - | - | 2 | 2 | - | - | - | 16 | - | - | - | - | - |
실시예71 | 20 | 30 | 30 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | 13 | - | - | - | - | - |
실시예72 | 30 | 25 | 25 | - | - | 2 | 5 | - | - | - | 13 | - | - | - | - | - |
실시예73 | 18 | - | 30 | 40 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | 2 |
실시예74 | 18 | - | 30 | 40 | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | 2 | - | - |
실시예75 | 1 | - | 40 | 50 | - | 2 | - | 7 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예76 | 5 | - | 40 | 50 | - | 2 | - | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예77 | 10 | - | 35 | 50 | - | 2 | - | 3 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예78 | 20 | - | 30 | 40 | - | 2 | - | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예79 | 30 | - | 25 | 35 | - | 2 | - | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - |
실시예80 | 1 | - | 40 | 50 | - | 2 | - | - | - | - | 7 | - | - | - | - | - |
실시예81 | 5 | - | 40 | 50 | - | 2 | - | - | 1 | - | - | 2 | - | - | - | - |
실시예82 | 10 | - | 35 | 50 | - | 2 | - | - | - | 1 | 2 | - | - | - | - | - |
실시예83 | 20 | - | 30 | 40 | - | 2 | - | - | - | - | - | 5 | 3 | - | - | - |
실시예84 | 30 | - | 25 | 35 | - | 2 | - | 5 | - | - | - | - | - | - | 3 | - |
(단위: 중량%)
표 5
AgCN | PbO | Bi2O3 | TeO2 | P2O5 | Li2CO3 | SiO2 | ZnO | WO3 | MgO | CeO2 | SrCO3 | MoO3 | TiO2 | SnO | In2O3 | |
비교예1 | - | 40 | 50 | - | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
비교예2 | - | 50 | 40 | - | - | 2 | 8 | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
(단위: 중량%)
유도결합플라즈마-원자방출분광법(ICP-OES)을 이용한 유리 프릿 내 은(Ag) 원소 함량의 측정
시료의 전처리: 분석 대상 시료인 유리 프릿 0.01g을 비커에 담고 0.0001g 단위까지 정확하게 칭량한다. 시료가 담겨진 비커에 5mol% 황산(H2SO4) 200ml를 투입 후 열판(hot plate)를 이용하여 220℃에서 3시간 동안 가열하여 시료를 완전히 탄화시켰다. 탄화된 시료가 담겨진 비커가 투명하게 될 때까지 과산화수소(H2O2)를 투입하여 전처리를 완료하였다.
표준용액의 준비: 원소 측정용 은(Ag) 원소 표준용액(Ag+ 1000mg/L)을 준비하였다.
은(Ag) 원소 함량의 측정: 전처리가 완료된 시료가 담겨진 비커에 질산(HNO3)을 투입하여 5분간 가열 후 공냉 하였다. 준비된 표준용액을 ICP-OES 측정기기(PerkinElmer社)에 도입하여 외부 표준법(external standard method)으로 검정곡선(calibration curve)을 작성한 후 상기 ICP-OES 측정기기로 시료의 은(Ag) 원소 농도(ppm)를 측정한 후 환산하여 유리 프릿 내 은 원소의 함량을 산출하였다.
은 원소의 함량(%) = 원소 농도(ppm)×Dilution Factor(DF)/10000
은 원소의 mole = 은 원소의 함량 / 은 원소의 분자량
은 원소의 mole % = 은 원소의 mole / 전체 원소의 mole 총합
표 6
은원소 함량(mole%) | 은원소 함량(mole%) | 은원소 함량(mole%) | |||
실시예6 | 1.24 | 실시예21 | 1.62 | 실시예33 | 1.41 |
실시예7 | 6.12 | 실시예22 | 8.78 | 실시예34 | 7.60 |
실시예8 | 12.51 | 실시예23 | 16.74 | 실시예35 | 14.42 |
실시예9 | 23.25 | 실시예24 | 30.11 | 실시예36 | 26.00 |
실시예10 | 43.58 | 실시예25 | 42.25 | 실시예37 | 36.85 |
실시예43 | 0.95 | 실시예63 | 0.99 | 실시예75 | 0.91 |
실시예44 | 5.02 | 실시예64 | 5.69 | 실시예76 | 4.89 |
실시예45 | 9.77 | 실시예65 | 11.10 | 실시예77 | 9.56 |
실시예46 | 18.45 | 실시예66 | 21.19 | 실시예78 | 17.91 |
실시예47 | 32.98 | 실시예67 | 31.20 | 실시예79 | 26.51 |
비교예1 | 0 | 비교예2 | 0 | - | - |
접촉저항 및 접촉비저항의 측정방법
상기 실시예 및 비교예에서 준비된 태양전지 전극 형성용 조성물을 결정계 모노 웨이퍼(Wafer) 전면에 일정한 패턴으로 스크린 프린팅 하여 인쇄하고, 적외선 건조로를 사용하여 건조시켰다. 상기 과정으로 형성된 Cell을 벨트형 소성로를 사용하여 600℃ 내지 900℃ 사이로 60초에서 210초간 소성을 행하였으며, 이렇게 제조 완료된 Cell은 TLM(Transfer Length Method)측정장비를 사용하여 태양전지의 접촉저항(Rc) 및 접촉비저항(ρc)을 측정하여 하기 표 7 내지 표 11에 각각 나타내었다.
직렬저항, Fill Factor 및 Efficiency 측정방법
상기 실시예 및 비교예에 따른 태양전지 전극 형성용 조성물을 결정계 모노 웨이퍼(Wafer) 전면에 일정한 패턴으로 스크린 프린팅 하여 인쇄하고, 적외선 건조로를 사용하여 건조시켰다. 이후 Wafer의 후면에 알루미늄 페이스트를 후면 인쇄한 후 동일한 방법으로 건조하였다. 상기 과정으로 형성된 Cell을 벨트형 소성로를 사용하여 400℃ 내지 900℃ 온도 범위에서 30초 내지 180초 동안 소성하였으며, 이렇게 제조 완료된 셀(Cell)은 태양전지효율 측정장비 (Pasan社, CT-801)를 사용하여 태양전지의 직렬저항(Rs), Fill Factor (FF, %) 및 변환효율(%)을 측정하여 하기 표 7 내지 표 11에 각각 나타내었다.
표 7
Sample | 접촉저항(Rc)(mΩ) | 접촉비저항(mΩ·cm2) | 직렬저항(Rs)(mΩ) | Fill Factor | Efficiency (%) |
실시예 1 | 0.5389 | 0.9544 | 5.24 | 76.45 | 16.55 |
실시예 2 | 0.4699 | 0.7875 | 5.03 | 76.66 | 16.77 |
실시예 3 | 0.4314 | 0.6743 | 4.80 | 76.86 | 17.00 |
실시예 4 | 0.3838 | 0.6203 | 4.54 | 77.05 | 17.21 |
실시예 5 | 0.3078 | 0.4837 | 5.27 | 76.44 | 16.54 |
실시예 6 | 0.5364 | 0.9459 | 5.03 | 76.68 | 16.78 |
실시예 7 | 0.4692 | 0.7782 | 4.80 | 76.87 | 17.00 |
실시예 8 | 0.4308 | 0.6728 | 4.55 | 77.05 | 17.21 |
실시예 9 | 0.3835 | 0.6169 | 5.24 | 76.45 | 16.55 |
실시예 10 | 0.2952 | 0.4801 | 5.04 | 76.64 | 16.77 |
실시예 11 | 0.5232 | 0.9380 | 4.81 | 76.84 | 16.98 |
실시예 12 | 0.4738 | 0.7886 | 4.72 | 76.96 | 17.07 |
실시예 13 | 0.4347 | 0.6748 | 4.48 | 77.07 | 17.22 |
실시예 14 | 0.3855 | 0.6211 | 5.24 | 76.45 | 16.55 |
실시예 15 | 0.3093 | 0.4974 | 5.03 | 76.66 | 16.77 |
실시예 16 | 0.5228 | 0.9329 | 5.24 | 76.45 | 16.56 |
실시예 17 | 0.4683 | 0.7766 | 5.02 | 76.68 | 16.80 |
실시예 18 | 0.4372 | 0.6832 | 4.82 | 76.84 | 16.98 |
실시예 19 | 0.3861 | 0.6222 | 4.72 | 76.96 | 17.08 |
실시예 20 | 0.3124 | 0.5007 | 4.54 | 77.06 | 17.21 |
표 8
Sample | 접촉저항(Rc)(mΩ) | 접촉비저항(mΩ·cm2) | 직렬저항(Rs)(mΩ) | Fill Factor | Efficiency(%) |
실시예 21 | 0.4993 | 0.8839 | 5.28 | 76.44 | 16.53 |
실시예 22 | 0.4744 | 0.7915 | 5.05 | 76.64 | 16.77 |
실시예 23 | 0.4372 | 0.6897 | 4.82 | 76.82 | 16.97 |
실시예 24 | 0.3873 | 0.6258 | 4.61 | 77.04 | 17.19 |
실시예 25 | 0.3141 | 0.5115 | 4.40 | 77.12 | 17.29 |
실시예 26 | 0.5079 | 0.9095 | 5.24 | 76.47 | 16.57 |
실시예 27 | 0.4681 | 0.7668 | 5.00 | 76.69 | 16.80 |
실시예 28 | 0.4287 | 0.6691 | 4.79 | 76.90 | 17.00 |
실시예 29 | 0.3821 | 0.6100 | 4.71 | 76.97 | 17.11 |
실시예 30 | 0.2906 | 0.4602 | 4.47 | 77.08 | 17.25 |
실시예 31 | 0.3894 | 0.6282 | 4.70 | 76.98 | 17.12 |
실시예 32 | 0.3787 | 0.6048 | 4.67 | 77.00 | 17.14 |
실시예 33 | 0.5147 | 0.9227 | 5.28 | 76.41 | 16.52 |
실시예 34 | 0.4650 | 0.7620 | 5.06 | 76.63 | 16.76 |
실시예 35 | 0.4283 | 0.6690 | 4.83 | 76.81 | 16.97 |
실시예 36 | 0.3620 | 0.5724 | 4.73 | 76.96 | 17.05 |
실시예 37 | 0.2898 | 0.4445 | 4.45 | 77.09 | 17.25 |
실시예 38 | 0.5156 | 0.9277 | 5.23 | 76.48 | 16.60 |
실시예 39 | 0.4751 | 0.7943 | 4.99 | 76.69 | 16.82 |
실시예 40 | 0.4397 | 0.6898 | 4.75 | 76.90 | 17.01 |
실시예 41 | 0.3787 | 0.6048 | 4.63 | 77.04 | 17.19 |
실시예 42 | 0.2783 | 0.4558 | 4.42 | 77.09 | 17.27 |
표 9
Sample | 접촉저항(Rc)(mΩ) | 접촉비저항(mΩ·cm2) | 직렬저항(Rs)(mΩ) | Fill Factor | Efficiency(%) |
실시예43 | 0.4840 | 0.7717 | 5.39 | 76.38 | 16.49 |
실시예44 | 0.4446 | 0.6979 | 5.18 | 76.59 | 16.64 |
실시예45 | 0.4116 | 0.6061 | 5.02 | 76.68 | 16.83 |
실시예46 | 0.3759 | 0.5488 | 4.85 | 76.96 | 17.02 |
실시예47 | 0.3136 | 0.4639 | 4.58 | 77.19 | 17.36 |
실시예48 | 0.4853 | 0.7739 | 5.36 | 76.40 | 16.51 |
실시예49 | 0.4409 | 0.6958 | 5.17 | 76.60 | 16.67 |
실시예50 | 0.4126 | 0.6106 | 5.01 | 76.68 | 16.85 |
실시예51 | 0.3756 | 0.5469 | 4.85 | 76.95 | 17.01 |
실시예52 | 0.3226 | 0.4733 | 4.59 | 77.18 | 17.35 |
실시예53 | 0.4833 | 0.7705 | 5.56 | 76.38 | 16.46 |
실시예54 | 0.4456 | 0.6982 | 5.18 | 76.59 | 16.62 |
실시예55 | 0.4111 | 0.5969 | 5.01 | 76.70 | 16.85 |
실시예56 | 0.3774 | 0.5594 | 4.85 | 76.97 | 17.02 |
실시예57 | 0.3135 | 0.4597 | 4.60 | 77.18 | 17.35 |
실시예58 | 0.4984 | 0.8082 | 5.57 | 76.35 | 16.42 |
실시예59 | 0.4402 | 0.6956 | 5.19 | 76.58 | 16.61 |
실시예60 | 0.4140 | 0.6115 | 5.03 | 76.68 | 16.81 |
실시예61 | 0.3740 | 0.5449 | 4.86 | 76.93 | 17.00 |
실시예62 | 0.3308 | 0.4913 | 4.51 | 77.21 | 17.37 |
실시예63 | 0.4909 | 0.7818 | 5.36 | 76.41 | 16.53 |
표 10
Sample | 접촉저항(Rc)(mΩ) | 접촉비저항(mΩ·cm2) | 직렬저항(Rs)(mΩ) | Fill Factor | Efficiency(%) |
실시예64 | 0.4460 | 0.7094 | 5.17 | 76.61 | 16.68 |
실시예65 | 0.4144 | 0.6222 | 5.00 | 76.70 | 16.86 |
실시예66 | 0.3662 | 0.5432 | 4.86 | 76.93 | 16.99 |
실시예67 | 0.3308 | 0.4913 | 4.60 | 77.16 | 17.34 |
실시예68 | 0.4915 | 0.7884 | 5.33 | 76.44 | 16.53 |
실시예69 | 0.4460 | 0.7035 | 5.19 | 76.57 | 16.60 |
실시예70 | 0.4173 | 0.6384 | 5.00 | 76.71 | 16.86 |
실시예71 | 0.3775 | 0.5637 | 4.87 | 76.92 | 16.98 |
실시예72 | 0.2987 | 0.4461 | 4.50 | 77.22 | 17.38 |
실시예73 | 0.3358 | 0.5048 | 4.88 | 76.91 | 16.98 |
실시예74 | 0.3413 | 0.5155 | 4.89 | 76.87 | 16.97 |
실시예75 | 0.4826 | 0.7689 | 5.69 | 76.16 | 16.20 |
실시예76 | 0.4462 | 0.7112 | 5.17 | 76.63 | 16.68 |
실시예77 | 0.4204 | 0.6387 | 5.00 | 76.71 | 16.86 |
실시예78 | 0.3775 | 0.5714 | 4.84 | 76.97 | 17.04 |
실시예79 | 0.2925 | 0.3887 | 4.60 | 77.15 | 17.33 |
실시예80 | 0.4760 | 0.7594 | 5.15 | 76.63 | 16.69 |
실시예81 | 0.4581 | 0.7391 | 5.04 | 76.67 | 16.79 |
실시예82 | 0.4468 | 0.7183 | 4.91 | 76.83 | 16.93 |
실시예83 | 0.4221 | 0.6500 | 4.62 | 77.15 | 17.31 |
실시예84 | 0.2922 | 0.3882 | 4.48 | 77.22 | 17.40 |
표 11
Sample | 접촉저항(Rc)(mΩ) | 접촉비저항(mΩ·cm2) | 직렬저항(Rs)(mΩ) | Fill Factor | Efficiency(%) |
비교예 1 | 0.9281 | 1.5338 | 8.03 | 73.90 | 14.83 |
비교예 2 | 0.8461 | 1.4611 | 7.39 | 74.01 | 15.01 |
상기 표 7 내지 표 11의 결과에서 확인할 수 있듯이, 시안화은으로부터 유래된 은 원소를 함유한 실시예 1 내지 실시예 42의 유리 프릿과 질산은으로부터 유래된 은 원소를 함유한 실시예 43 내지 실시예 84의 유리 프릿을 사용한 태양전지 전극 형성용 조성물로 제조된 전극은 금속산화물로부터 유래된 유리 프릿을 사용한 비교예 1 내지 비교예 2의 전극에 비하여 접촉저항, 접촉비저항 및 직렬저항값이 낮고, 변환효율과 Fill Factor 값이 우수한 것을 확인할 수 있다.
본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 이 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의하여 용이하게 실시될 수 있으며, 이러한 변형이나 변경은 모두 본 발명의 영역에 포함되는 것으로 볼 수 있다.
Claims (9)
- 은(Ag) 분말;은 원소를 약 0.1 몰% 내지 약 50 몰% 함유한 유리 프릿; 및유기 비히클;을 포함하는 것을 특징으로 하는 태양전지 전극 형성용 조성물.
- 제 1항에 있어서,상기 은 원소는 시안화은 또는 질산은으로부터 유래된 것을 특징으로 하는 태양전지 전극 형성용 조성물.
- 제1항에 있어서,상기 은 분말 약 60 중량% 내지 약 95 중량%;상기 유리 프릿 약 0.1 중량% 내지 약 20 중량%; 및상기 유기 비히클 약 1 중량% 내지 약 30 중량%를 포함하는 것을 특징으로 하는 태양전지 전극 형성용 조성물.
- 제1항에 있어서,상기 유리 프릿은 유리 프릿 전체 몰수 대비 은 원소를 약 0.9 몰% 내지 약 45 몰% 함유한 것을 특징으로 하는 태양전지 전극 형성용 조성물.
- 제1항에 있어서,상기 유리 프릿은 시안화은, 질산은 또는 이들의 혼합물; 및 1종 이상의 금속산화물로부터 형성된 것을 특징으로 하는 태양전지 전극 형성용 조성물.
- 제5항에 있어서,상기 금속산화물은 납(Pb), 비스무스(Bi), 텔루륨(Te), 인(P), 게르마늄(Ge), 갈륨(Ga), 세륨(Ce), 철(Fe), 리튬(Li), 규소(Si), 아연(Zn), 텅스텐(W), 마그네슘(Mg), 세슘(Cs), 스트론튬(Sr), 몰리브덴(Mo), 티타늄(Ti), 주석(Sn), 인듐(In), 바나듐(V), 바륨(Ba), 니켈(Ni), 구리(Cu), 나트륨(Na), 칼륨(K), 비소(As), 코발트(Co), 지르코늄(Zr), 망간(Mn) 및 알루미늄(Al)의 산화물로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 금속산화물을 포함하는 것을 특징으로 하는 태양전지 전극 형성용 조성물.
- 제1항에 있어서,상기 유리 프릿은 평균입경(D50)이 약 0.1㎛ 내지 약 10㎛인 것을 특징으로 하는 태양전지 전극 형성용 조성물.
- 제1항에 있어서,상기 조성물은 분산제, 요변제, 가소제, 점도 안정화제, 소포제, 안료, 자외선 안정제, 산화방지제 및 커플링제로 이루어진 군으로부터 선택되는 첨가제를 1종 이상 더 포함하는 것을 특징으로 하는 태양전지 전극 형성용 조성물.
- 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항의 태양전지 전극 형성용 조성물로 제조된 태양전지 전극.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/758,041 US9627556B2 (en) | 2012-12-29 | 2013-12-11 | Composition for forming electrode of solar cell and electrode manufactured by using same |
CN201380063466.XA CN104838448A (zh) | 2012-12-29 | 2013-12-11 | 形成太阳能电池电极用的组成物及使用该组成物所制电极 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20120157690 | 2012-12-29 | ||
KR10-2012-0157690 | 2012-12-29 | ||
KR10-2013-0152675 | 2013-12-09 | ||
KR1020130152675A KR20140092744A (ko) | 2012-12-29 | 2013-12-09 | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2014104618A1 true WO2014104618A1 (ko) | 2014-07-03 |
Family
ID=51021611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/KR2013/011467 WO2014104618A1 (ko) | 2012-12-29 | 2013-12-11 | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
WO (1) | WO2014104618A1 (ko) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100069699A (ko) * | 2007-09-27 | 2010-06-24 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | Ag 전극 페이스트, 태양전지 셀 및 그 제조방법 |
US20100244205A1 (en) * | 2008-01-30 | 2010-09-30 | Basf Se | Glass Frits |
JP2011096747A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Shoei Chem Ind Co | 太陽電池電極形成用導電性ペースト |
US20120199192A1 (en) * | 2008-05-30 | 2012-08-09 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Conductive compositions and processes for use in the manufacture of semiconductor devices - organic medium components |
US20120325308A1 (en) * | 2009-10-13 | 2012-12-27 | Lg Chem, Ltd. | Silver paste composition and solar cell using the same |
-
2013
- 2013-12-11 WO PCT/KR2013/011467 patent/WO2014104618A1/ko active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100069699A (ko) * | 2007-09-27 | 2010-06-24 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | Ag 전극 페이스트, 태양전지 셀 및 그 제조방법 |
US20100244205A1 (en) * | 2008-01-30 | 2010-09-30 | Basf Se | Glass Frits |
US20120199192A1 (en) * | 2008-05-30 | 2012-08-09 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Conductive compositions and processes for use in the manufacture of semiconductor devices - organic medium components |
US20120325308A1 (en) * | 2009-10-13 | 2012-12-27 | Lg Chem, Ltd. | Silver paste composition and solar cell using the same |
JP2011096747A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Shoei Chem Ind Co | 太陽電池電極形成用導電性ペースト |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2015037933A1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
WO2014126293A1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
KR101982412B1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
WO2017175902A1 (ko) | 태양전지용 후면전극 페이스트 조성물 | |
WO2015037798A1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
WO2014098351A1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
WO2014196712A1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
KR20160083354A (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
US9911872B2 (en) | Composition for forming electrode of solar cell, and electrode manufactured using same | |
WO2014157800A1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
WO2017061764A1 (ko) | 태양전지 전면전극용 페이스트 조성물 및 이를 이용한 태양전지 | |
KR20150054597A (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
KR20170141559A (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
WO2017160074A1 (ko) | 태양전지용 무연 도전 페이스트 | |
KR101731674B1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
WO2017183881A1 (ko) | 태양전지 후면전극용 페이스트 조성물 | |
KR20190031816A (ko) | 태양전지 후면전극용 페이스트 조성물 | |
WO2019103278A1 (ko) | 유리프릿, 이를 포함하는 perc 태양전지 전극 형성용 페이스트, 및 perc 태양전지 전극 | |
KR102406747B1 (ko) | 태양전지 전극 형성 방법 및 태양전지 | |
KR20140123205A (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
KR101721731B1 (ko) | 태양전지 전극용 페이스트 및 이로부터 제조된 전극 | |
WO2014104618A1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
WO2017222181A1 (en) | Composition for p-type solar cell electrode, electrode prepared therefrom and p-type solar cell prepared using the same | |
KR101737172B1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 | |
KR102052201B1 (ko) | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 13866572 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 14758041 Country of ref document: US |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 13866572 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |