WO2014048016A1 - 漏电辉点拦检方法及装置 - Google Patents
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Definitions
- the pixel electrode switch is turned on, and the driving signal is transmitted to the data side;
- the leakage point is detected by selectively driving the conductive terminals of the first region or the second region of the gate side.
- the switching signal switching unit intercepting the leakage point of the second area specifically includes:
- the switch signal switching unit intercepts the leakage point of the first area, and specifically includes:
- the step of detecting the leakage point by selectively driving the conductive terminal of the second region of the gate side comprises:
- the intercepting the leakage point of the first area specifically includes:
- the step of dividing the terminal area of the gate side into the first area and the second area according to the number of the CF on the gate side comprises:
- the terminal area equally dividing the gate side is the first area and the second area;
- the terminal regions on the gate side are equally divided into upper and lower regions, that is, the first region and the second region.
- the invention provides a data line driving circuit, and the conductive adhesive on the gate side is inserted into the channel through the conductive terminal, and the conductive glue on the gate side is divided into the first region and the second region, and then the pixel electrode switch is turned on, and the data is turned on.
- the side transmits the driving signal, and opens the access channel of the conductive adhesive in different areas on the gate side to intercept the leakage point method, which has the beneficial effect of conveniently detecting the leakage point in the Cell segment, and improves the defect detection capability of the system. Improve product yield, reduce leakage, and save costs.
- FIG. 3 is a schematic view showing a structure of detecting a leakage point of a liquid crystal panel
- FIG. 2 is a schematic flow chart of an embodiment of a method for detecting leakage currents of the present invention. As shown in FIG. 2, the method for detecting leakage leakage points of the present invention includes the following steps:
- Step S01 providing a driving circuit of the data line, and introducing a gate driving on the gate side, and electrically connecting the terminal area on the gate side through the conductive adhesive;
- the invention detects the leakage point of the liquid crystal panel in the cell segment.
- a driving circuit for the data line is provided and the gate driving of the gate side is introduced, and the driving terminal electrically connected to the terminal region on the gate side is electrically connected to the conductive terminal to detect the leakage point;
- the switching signal generator supplies a driving circuit of the data line and introduces the gate driving on the gate side, and then electrically connects the terminal region on the gate side through the conductive paste.
- Step S02 after dividing the terminal on the gate side into the first area and the second area, turning on the pixel electrode switch, and transmitting a driving signal to the data side;
- the area division of the gate side terminal region is based on COF on the gate side (Chip On The number of films, the flip-chip film is determined; specifically, if the gate side has an even number of COFs, the first region and the second region are equally divided; if the gate side has an odd number of COFs The first region and the second region are not equally divided; if the gate side has only one COF, the gate side is equally divided into upper and lower regions.
- Step S03 the leakage point is intercepted by selectively driving the conductive terminals of the first region or the second region of the gate side.
- the conductive terminal of the first region of the driving gate side is selected while the conductive terminal of the second region is not driven; thus, for the first region Since the data side transmits the driving signal and simultaneously drives the conductive terminal on the gate side of the first region, the liquid crystal of the first region is deflected and transmitted by the electric field force.
- the test frame is opposite to the first region. The test signal is input on both the data side and the gate side, and the test signal on the data side directly acts on the pixel electrode and the storage capacitor. At this time, the first area is displayed in white.
- the terminal area on the gate side is electrically connected through the conductive paste, and the terminal on the gate side is divided into two areas: the first area and the second area. Then, the pixel electrode switch is turned on to transmit a drive signal to the data side.
- the switching signal switching unit 02 does not drive the corresponding conductive terminal on the gate side of the second region, that is, the gate side of the second region has no input driving signal, if the second region liquid crystal is intact, the second region will be completely displayed as black. If there is a TFT abnormality in the liquid crystal in the second region (such as leakage of the TFT switch), since the test signal on the data side of the first region can directly act on the pixel electrode of the liquid crystal and the storage capacitor, the pixel in the liquid crystal in the second region When the electrode is turned on, the corresponding position of the pixel electrode will emit light, that is, a leakage point is generated. Referring to FIG. 3, FIG.
- the switching signal switching unit 02 drives the gate side second.
- the conductive terminal of the region does not drive the conductive terminal of the first region, and the leakage point of the first region is intercepted.
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Abstract
一种漏电辉点拦检方法和装置，包括：提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，将栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；将栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，并向数据侧传送驱动信号；通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子拦检漏电辉点。该漏电辉点拦检装置，通过提供一数据线的驱动电路，将栅极侧的端子区通过导电胶电性连接、开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号、通过选择性驱动栅极侧不同区域导电端子拦检漏电辉点，具有在Cell段便捷地拦检漏电辉点的有益效果，提高了系统的缺陷检出能力，提升了产品的良率，减少了漏放，节约了成本。
Description
技术领域
本发明涉及液晶面板技术领域，尤其涉及一种漏电辉点拦检方法及装置。
背景技术
TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal
Display，薄膜晶体管液晶显示器）面板的漏电辉点指的是，由TFT开关漏电而形成的辉点。参照图1，图1为TFT开关异常结构示意图；如图1所示，当TFT开关异常时，液晶面板上会出现辉点，影响液晶面板的使用效果。
考虑到检测成本，目前现有技术在液晶面板的Cell制程阶段仍采用1D1G点灯方式对其进行检测，即提供一个数据线的驱动电路，与栅极侧通过导电胶电性连接的导电端子是否启用进行配合，检测漏电辉点；但1D1G点灯驱动检测方式只能点亮黑、白和灰这种单色画面，具体为：对于VA模式而言，在某帧显示为黑时，导电端子导通，而测试帧对数据线并无信号输入，潜在存在的已损坏的TFT对应的像素位置同样显示为黑；若某帧显示为白时，由于白色为三原色混合而成，需要液晶在电场力的作用下发生偏转透光，此时，导电端子导通，而测试帧对数据线也输入测试信号；通常情况下，数据线输入的测试信号仍可直接作用于像素点击与存储电容，潜在存在的已经损坏的TFT对应的像素位置也同样地显示为白色；而灰色作为黑色和白色之间的一种色调，其中潜在已经损坏的TFT对应的像素显示灰色的原因类似于白色，在此不再赘述。由此可见，现有技术中，在液晶面板的Cell制程却无法检测潜在的因TFT开关损坏而引发的漏电辉点。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种漏电辉点拦检方法及装置，旨在拦检液晶面板在Cell制程阶段的漏电辉点。
本发明公开了一种漏电辉点拦检方法，包括以下步骤：
提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，将所述栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；
将所述栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，并向数据侧传送驱动信号；
通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。
优选地，所述通过选择性驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检漏电辉点的步骤具体包括：
驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检所述第二区域的漏电辉点；
优选地，所述通过选择性驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检漏电辉点的步骤具体包括：
驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检所述第一区域的漏电辉点。
优选地，所述拦检所述第二区域的漏电辉点具体包括：
在驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子时，若第二区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
优选地，所述拦检所述第一区域的漏电辉点具体包括：
在驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子时，若第一区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
本发明还公开一种漏电辉点拦检装置，包括：
开关信号产生器，用于提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动；
将所述栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；将所述栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，并向数据侧传送驱动信号；
开关信号转接单元，用于通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。
优选地，所述开关信号转接单元通过选择性驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检漏电辉点包括：
所述开关信号转接单元驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检所述第二区域的漏电辉点；
优选地，所述开关信号转接单元通过选择性驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检漏电辉点包括：
所述开关信号转接单元驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检所述第一区域的漏电辉点。
优选地，所述开关信号转接单元拦检所述第二区域的漏电辉点具体包括：
在驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子时，若第二区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
优选地，所述开关信号转接单元拦检所述第一区域的漏电辉点具体包括：
在驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子时，若第一区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
本发明还公开一种漏电辉点拦检方法，包括以下步骤：
提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，将所述栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；
根据所述栅极侧上的覆晶薄膜COF个数，划分所述栅极侧的端子区为第一区域和第二区域，开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号；
通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。
优选地，所述通过选择性驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检漏电辉点的步骤具体包括：
驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检所述第二区域的漏电辉点。
优选地，所述通过选择性驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检漏电辉点的步骤具体包括：
驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检所述第一区域的漏电辉点。
优选地，所述拦检所述第二区域的漏电辉点具体包括：
在驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子时，若第二区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
优选地，所述拦检所述第一区域的漏电辉点具体包括：
在驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子时，若第一区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
优选地，所述根据所述栅极侧上的覆晶薄膜COF个数，划分所述栅极侧的端子区为第一区域和第二区域的步骤具体包括：
当所述栅极侧有偶数个COF时，等分所述栅极侧的端子区为所述第一区域和第二区域；
当所述栅极侧有奇数个COF时，不等分所述栅极侧的端子区为所述第一区域和第二区域；
当所述栅极侧仅有一个COF时，平均划分所述栅极侧的端子区为上下两个区域，即所述第一区域和第二区域。
本发明通过提供一个数据线的驱动电路，将栅极侧的导电胶通过导电端子接入通道并将栅极侧的导电胶分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号、通过开启栅极侧不同区域导电胶的接入通道，拦检漏电辉点方法，具有在Cell段便捷地拦检漏电辉点的有益效果，提高了系统的缺陷检出能力，提升了产品的良率，减少了漏放，节约了成本。
附图说明
图1为TFT开关异常结构示意图；
图2是本发明漏电辉点拦检方法一实施例流程示意图；
图3是对液晶面板进行漏电辉点检测结构示意图；
图4是本发明漏电辉点拦检装置一实施例结构示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
以下结合说明书附图及具体实施例进一步说明本发明的技术方案。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
参照图2，图2是本发明漏电辉点拦检方法一实施例流程示意图；如图2所示，本发明漏电辉点拦检方法包括以下步骤：
步骤S01、提供一个数据线的驱动电路，并导入栅极侧的栅极驱动，将所述栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；
本发明是在cell段对液晶面板的漏电辉点进行检测。对于VA模式而言，提供一个数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，与是否驱动栅极侧的端子区通过导电胶电性连接的导电端子进行配合，检测漏电辉点；本实施例中，首先开关信号产生器提供一个数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，然后，将栅极侧的端子区通过导电胶进行电性连接。
步骤S02、将所述栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，并向数据侧传送驱动信号；
为了后续便捷地对液晶面板的漏电辉点进行拦检，将栅极侧的端子区分为两个区域；然后，开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号。
在一优选的实施例中，栅极侧端子区的区域划分是根据栅极侧上COF（Chip On
Film，覆晶薄膜）的个数决定的；具体地，若所述栅极侧有偶数个COF时，则所述第一区域和第二区域等分；若所述栅极侧有奇数个COF时，则所述第一区域和第二区域不等分；若所述栅极侧仅有一个COF时，则所述栅极侧平均分为上下两个区域。
步骤S03、通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。
在同一帧的显示时间内，开启像素电极开关后，向数据侧传送驱动信号时，选择驱动栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动第二区域的导电端子；这样，对于第一区域，由于数据侧传送有驱动信号，同时驱动了第一区域栅极侧的导电端子，则第一区域的液晶受电场力的作用而发生偏转透光，此时，由于测试帧对第一区域的数据侧和栅极侧都输入了测试信号，则该数据侧的测试信号直接作用于像素电极和存储电容，此时，第一区域显示为白色。由于第二区域栅极侧对应的导电端子没有被驱动，即第二区域的栅极侧没有输入驱动信号，若第二区域液晶完好无损，则第二区域将完全显示为黑色；若第二区域液晶中有TFT异常（比如TFT开关漏电），则由于第一区域的数据侧的测试信号可直接作用于液晶的像素电极与存储电容，因此，在第二区域液晶中的像素电极导通时，该像素电极对应的位置将发出光亮，即产生漏电辉点。参照图3，图3是对液晶面板进行漏电辉点检测结构示意图；图3所示的现象即为上述拦检时，若第二区域存在漏电辉点时的拦检结果。通过图3可知，只要检测区域中存在漏电辉点，则可以一目了然地将其检测出来。
可采用上述同样的道理来检测栅极侧的第一区域，即在同一帧的显示时间内，开启像素电极开关后，向数据侧传送驱动信号时，驱动栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动第一区域的导电端子，对第一区域的漏电辉点进行拦检。
在一优选的实施例中，开关信号转接单元可周期性地显示黑/白区域，即可实现对液晶面板的区域进行漏电辉点检测。
本实施例通过提供一个数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，将栅极侧的端子区通过导电胶电性连接并将栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号、通过选择性驱动栅极侧不同区域导电端子，拦检漏电辉点的方法，具有在Cell段便捷地拦检漏电辉点的有益效果，提高了系统的缺陷检出能力，提升了产品的良率，减少了漏放。
参照图4，图4是本发明漏电辉点拦检装置一实施例结构示意图；如图5所示，本发明漏电辉点拦检装置包括：
开关信号产生器01，用于提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动。
本发明是在cell段对液晶面板的漏电辉点进行检测。对于VA模式而言，开关信号产生器01提供一个数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，与是否驱动栅极侧的端子区通过导电胶电性连接的导电端子进行配合，检测漏电辉点；本实施例中，开关信号产生器01提供一个数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动。
为了后续便捷地对液晶面板的漏电辉点进行拦检，将栅极侧的端子区通过导电胶进行电性连接后，将栅极侧的端子区分为两个区域：第一区域和第二区域；然后，开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号。
在一优选的实施例中，栅极侧端子区的区域划分是根据栅极侧上COF（Chip On
Film，覆晶薄膜）的个数决定的；具体地，若所述栅极侧有偶数个COF时，则所述第一区域和第二区域等分；若所述栅极侧有奇数个COF时，则所述第一区域和第二区域不等分；若所述栅极侧仅有一个COF时，则所述栅极侧平均分为上下两个区域。
开关信号转接单元02，用于通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。
在同一帧的显示时间内，开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号时，开关信号转接单元02选择驱动栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动第二区域的导电端子；这样，对于第一区域，由于数据侧传送有开关信号产生器01产生的驱动信号，同时开关信号转接单元02驱动了第一区域栅极侧的导电端子，则第一区域的液晶受电场力的作用而发生偏转透光，此时，由于测试帧对第一区域的数据侧和栅极侧都输入了测试信号，则该数据侧的测试信号直接作用于像素电极和存储电容，此时，第一区域显示为白色。由于开关信号转接单元02没有驱动第二区域栅极侧对应的导电端子，即第二区域的栅极侧没有输入驱动信号，若第二区域液晶完好无损，则第二区域将完全显示为黑色；若第二区域液晶中有TFT异常（比如TFT开关漏电），则由于第一区域的数据侧的测试信号可直接作用于液晶的像素电极与存储电容，因此，在第二区域液晶中的像素电极导通时，该像素电极对应的位置将发出光亮，即产生漏电辉点。参照图3，图3是对液晶面板进行漏电辉点检测结构示意图；图3所示的现象即为上述拦检时，若第二区域存在漏电辉点时的拦检结果。通过图3可知，只要检测区域中存在漏电辉点，则可以一目了然地将其检测出来。
可采用上述同样的道理来检测栅极侧的第一区域，即在同一帧的显示时间内，开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号时，开关信号转接单元02驱动栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动第一区域的导电端子，对第一区域的漏电辉点进行拦检。
在一优选的实施例中，开关信号转接单元02可周期性地显示黑/白区域，即可实现对液晶面板的区域进行漏电辉点检测。
本实施例通过提供一个数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，将栅极侧的端子区通过导电胶电性连接并将栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号、通过选择性驱动栅极侧不同区域导电端子，拦检漏电辉点，具有在Cell段便捷地拦检漏电辉点的有益效果，提高了系统的缺陷检出能力，提升了产品的良率，减少了漏放。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制其专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (16)
- 一种漏电辉点拦检方法，其特征在于，包括以下步骤：提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，将所述栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；将所述栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，并向数据侧传送驱动信号；通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。
- 如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过选择性驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检漏电辉点的步骤具体包括：驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检所述第二区域的漏电辉点。
- 如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过选择性驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检漏电辉点的步骤具体包括：驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检所述第一区域的漏电辉点。
- 如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述拦检所述第二区域的漏电辉点具体包括：在驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子时，若第二区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
- 如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述拦检所述第一区域的漏电辉点具体包括：在驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子时，若第一区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
- 一种漏电辉点拦检装置，其特征在于，包括：开关信号产生器，用于提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动；将所述栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；将所述栅极侧的端子区分为第一区域和第二区域后，开启像素电极开关，并向数据侧传送驱动信号；开关信号转接单元，用于通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。
- 如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述开关信号转接单元通过选择性驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检漏电辉点包括：所述开关信号转接单元驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检所述第二区域的漏电辉点。
- 如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述开关信号转接单元通过选择性驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检漏电辉点包括：所述开关信号转接单元驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检所述第一区域的漏电辉点。
- 如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述开关信号转接单元拦检所述第二区域的漏电辉点具体包括：在驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子时，若第二区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
- 如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述开关信号转接单元拦检所述第一区域的漏电辉点具体包括：在驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子时，若第一区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
- 一种漏电辉点拦检方法，其特征在于，包括以下步骤：提供一数据线的驱动电路并导入栅极侧的栅极驱动，将所述栅极侧的端子区通过导电胶电性连接；根据所述栅极侧上的覆晶薄膜COF个数，划分所述栅极侧的端子区为第一区域和第二区域，开启像素电极开关，向数据侧传送驱动信号；通过选择性驱动所述栅极侧第一区域或第二区域的导电端子，拦检漏电辉点。
- 如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述通过选择性驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检漏电辉点的步骤具体包括：驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检所述第二区域的漏电辉点。
- 如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述通过选择性驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，拦检漏电辉点的步骤具体包括：驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，拦检所述第一区域的漏电辉点。
- 如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述拦检所述第二区域的漏电辉点具体包括：在驱动所述栅极侧第一区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第二区域的导电端子时，若第二区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
- 如权利要求13所述的方法，其特征在于，所述拦检所述第一区域的漏电辉点具体包括：在驱动所述栅极侧第二区域的导电端子，同时不驱动所述栅极侧第一区域的导电端子时，若第一区域存在透光的亮点，则所述透光的亮点即为所述漏电辉点。
- 如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述根据所述栅极侧上的覆晶薄膜COF个数，划分所述栅极侧的端子区为第一区域和第二区域的步骤具体包括：当所述栅极侧有偶数个COF时，等分所述栅极侧的端子区为所述第一区域和第二区域；当所述栅极侧有奇数个COF时，不等分所述栅极侧的端子区为所述第一区域和第二区域；当所述栅极侧仅有一个COF时，平均划分所述栅极侧的端子区为上下两个区域，即所述第一区域和第二区域。
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