WO2013164344A1 - Verfahren zur bestimmung der achse eines drehtisches bei einem koordinatenmessgerät - Google Patents

Verfahren zur bestimmung der achse eines drehtisches bei einem koordinatenmessgerät Download PDF

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WO2013164344A1
WO2013164344A1 PCT/EP2013/059001 EP2013059001W WO2013164344A1 WO 2013164344 A1 WO2013164344 A1 WO 2013164344A1 EP 2013059001 W EP2013059001 W EP 2013059001W WO 2013164344 A1 WO2013164344 A1 WO 2013164344A1
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turntable
probing
axis
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PCT/EP2013/059001
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Martin Wimmer
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Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh
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    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • GPHYSICS
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    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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    • G01B21/042Calibration or calibration artifacts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/22Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes

Definitions

  • the present invention relates to a novel method for determining the position of the axis of a turntable in a coordinate measuring machine.
  • the reference point of a coordinate measuring machine is the origin of the device coordinate system.
  • a "device coordinate system” is the coordinate system of the CMM that is parallel to the CMM motion axes, all measurements and derived computations refer to the reference point, the reference point is determined by a so-called reference point approach, and the reference point approach is an automatic measurement routine and a prerequisite for all measurements
  • a reference point approach is carried out at least after the CMM has been put into operation. The measurement of the reference point must be repeated at later times, because the reference point drifts due to temperature influences and other influences.
  • the rotary table axis defines the exact position of the rotary table with respect to the reference point (device zero point) as well as the tilt with respect to the CMM axes, ie the position in the device coordinate system. All measuring elements, inspection features and coordinate systems are rotated around the RT axis as the turntable rotates. Errors when measuring the RT axis thus have an immediate effect on the measuring accuracy.
  • the turntable axis should also be re-measured with each probe calibration. In the case of strong temperature fluctuations, it often makes sense to re-measure the turntable axis before each workpiece measurement.
  • This document relates to a method for determining properties of a Coordinate measuring device by probing a test object, wherein the coordinate measuring machine in addition to a base, a probe tip and a sensor system with respect to the base about a rotation axis rotatable workpiece holder for holding the workpiece to be touched comprises.
  • the test object comprises at least two test bodies, and each test body has such a surface that, by touching the surface with the probe tip, coordinates of at least one fixed reference point of the test body with respect to the surface of the test body can be determined in the coordinate system of the base.
  • the at least two test bodies are fixedly attachable to the workpiece holder in such a way that they are at a distance from one another in the direction of the axis of rotation.
  • the test object is attached to the workpiece holder and in each case the reference points of the test bodies are determined in several rotational positions. From the determined reference points, the axis of rotation is determined in the coordinate system of the base, the device coordinate system.
  • a body such as a ball or a test cylinder
  • a body is mounted on the turntable and probed, most preferably at a plurality of turntable positions. From this, the RT axis is calculated.
  • these methods are usually only applicable if there is no workpiece on the turntable. The disadvantage is therefore that a workpiece whose measurement has not yet finished, must be removed from the turntable to redetermine the position of the RT-axis.
  • the so-called RT offset correction is known, for example from the software Umess-UX Carl Zeiss AG.
  • a calibration ball is mounted as close as possible to the RT axis but next to the turntable on the device base of the CMM.
  • the coordinates of the RT axis and the coordinates of the calibration sphere, or the coordinates of the center point of the calibration sphere are determined in the device coordinate system and these coordinates are related to each other, whereby the distance between the RT axis and the center of the calibration sphere is obtained.
  • the position of the calibration ball is again determined with a calibrated stylus and removed from the previously determined distance between the calibration sphere and the RT axis, the position of the RT axis is newly determined.
  • this method is fast, it is very inaccurate because the distance between the measuring sphere and the RT axis changes with temperature changes and is not corrected.
  • the object of the present invention is to find a solution to one or more of the problems identified above.
  • a simplified but sufficiently accurate method for determining the position of the turntable axis should be specified.
  • a method is provided which is suitable for repeatedly determining the position of a turntable axis in the device coordinate system of a coordinate measuring device in a simple manner.
  • a CMM with two probes attached thereto is used, each of which has a probing reference point called the "probing reference point.”
  • the probing point points can be used to determine the position of the turntable axis by probing the probing bodies For example, on the X coordinate of the turntable axis, or near the X coordinate, a second touch body reference point is located, for example, on the Y coordinate of the turntable axis, or near the Y coordinate to detect, and preferably to correct, a temporal drift in the position of the turntable axis, if desired.
  • a method which is suitable for the repeated determination of the position of a turntable axis in the device coordinate system of a coordinate measuring machine, comprising:
  • the method further comprising:
  • steps b) and c) repeating steps b) and c) at one or more later times and determining, in particular computing, the X coordinate and the Y coordinate of the turntable axis at the later time, or at the later times, from the X coordinate of first probing reference point and the Y-coordinate of the second probing reference point.
  • the method may further comprise:
  • the measuring system of the CMM is a tactile measuring system, because it is touched.
  • a tactile measuring system is known per se.
  • the measurement system of the CMM has a stylus as commonly known from tactile CMMs.
  • the probe can have a feeler element, for example a feeler ball or a differently shaped feeler element.
  • a probing is done in particular with the button, more particularly with a probe element of the probe, as commonly known from tactile CMMs.
  • the enumerated steps a) - c) can be carried out in any order.
  • steps b) and c) may be performed before step a).
  • the steps a) -c) are carried out in a short time interval from each other in order to avoid the measurement result disturbing influences, such as temperature effects.
  • the method according to the invention provides an accurate and rapid method for determining the spatial position of a turntable axis, which can be used universally for all turntable CMMs.
  • the calibration of the turntable axis can be done once, for example, on the basis of test specimens, which are located on the turntable itself, as indicated above in step a).
  • Later determinations of the position of the turntable axis are made in a simplified manner on the basis of probing bodies which are fixed next to the turntable on the CMM, for example on a workpiece holder or a measuring table of the CMM.
  • the probing body can be positioned far enough away from the turntable that a later determination of the position of the turntable axis is also possible when a workpiece is clamped on the turntable.
  • the probing of the two probes is also much faster than the previously known Einmessbacter for the turntable axis.
  • an inaccuracy due to CAA Computer Aided Accuracy
  • CAA Computer Aided Accuracy
  • constant conditions can be ensured in a simple manner, since no changes have to be made on the turntable and on the CMM in order to determine the X and Y coordinates of the turntable axis at one or more later points in time. For example, it is not necessary to remove a workpiece for re-measurement of the turntable axis from the turntable, as stated above.
  • the method thus makes it possible in a simple way to determine the turntable axis during ongoing measurement operation.
  • the method can also be easily retrofitted to existing coordinate measuring machines or their control software.
  • the terms "stationarily positioned relative to the X-coordinate of the turntable axis" and “stationarily positioned relative to the Y-coordinate of the turntable axis” mean that the corresponding reference point is stationary at least in the specified coordinate, X or Y. In the other coordinate not mentioned in each case, the reference point can be variable, as indicated in specific embodiments of the invention.
  • the term “stationary” can therefore refer to only one coordinate, X or Y. However, the term “stationary” can also be related to a plurality of coordinates, such as X and Y, which is indicated in the specific case.
  • Another term for "fixedly positioned relative to the X-coordinate of the turntable axis" is that the first probing reference point, or its position, is fixed relative to the X-coordinate of the turntable axis, which means that the distance between the turntable axis and the turntable axis
  • Another term for "fixed relative to the Y-coordinate of the turntable axis” is that the second probing reference point, or its position, relative to the Y-coordinate the turntable axis is fixed. This means that the distance between the turntable axis and the second touch body reference point in the Y direction is constant, in particular temporally immutable.
  • step a) of the method the probing of a test piece located on the turntable in a plurality of turntable positions, can be carried out in a manner known per se.
  • Methods for determining the position of a turntable axis in the device coordinate system of a CMM, which can be used in step a) of the method according to the invention are known per se and described in different variants in WO02090879A2. Examples include, without limitation, the so-called 1-sphere method, the 2-sphere method, the testing cylinder method and the self-centering method. These methods are particularly suitable for various applications and have certain characteristics. A more detailed description based on drawings is given in the examples.
  • a reference key is a key whose shape is known exactly, and in which preferably also other properties, such.
  • the shape of a probe element of the reference probe is well known, for example, the exact shape of a probe ball, which may differ from an ideal spherical shape. All measurements are made in the same Z-height of the CMM. Squareness residual errors of the CMM can lead to measurement errors in measurements at other Z-heights. Depending on the position of the turntable in the measuring volume, the entire range of rotation may not be covered.
  • the 1-sphere method is preferred with not too high accuracy requirements. It is preferred for flat, large diameter workpieces (e.g., crown wheels). The highest accuracy is achieved when the workpiece is approximately at the same measuring height as before the ball in the axis determination.
  • the RT axis is measured over the entire height of the workpiece. Squareness residual errors of the CMM are thus compensated and have less impact on the measurement uncertainty.
  • the measurement can be performed with a reference button. Either a special device is used on which both balls are attached, or the base system is determined manually at each run. Depending on the position of the turntable in the measuring volume, it may not be possible to cover the entire turning range.
  • the 2-ball method is preferred for high workpieces. Test cylinder method:
  • the RT axis is measured over the entire height of the cylinder. Squareness residual errors of the CMM are thus compensated and have less impact on the measurement uncertainty.
  • the measuring time is short and the device simple:
  • the cylinder can be attached to the turntable reproducibly at any time.
  • the test cylinder method can also be used for high workpieces.
  • the test cylinder method can be used for the measurement of shafts with low shape deviation: Instead of using a test cylinder, the turntable axis is then determined directly before each measurement sequence.
  • the measurement can be performed with a reference button. All measurements are made in the same Z-height of the CMM. Squareness residual errors of the CMM can lead to larger measurement errors when measuring at other Z-heights. Depending on the position of the turntable in the measuring volume, the entire turning range can not always be covered.
  • the element for measuring the turntable axis can be mounted directly on the workpiece pallet. It is therefore possible to re-measure the turntable axis without great expenditure of time before each workpiece measurement.
  • the test specimen used in step a) of the method may in particular be a ball, as used for example in the above-indicated 1-sphere method or 2-sphere method, or a cylinder as used in the above-mentioned test cylinder method, or a Element that can be touched with a button self-centering, such as a cone, a conical depression, a bore or a ball triplet, without being limited thereto.
  • At least one X coordinate and one Y coordinate of the turntable axis are determined.
  • the turntable axis can be parallel to the Z axis of the device coordinate system.
  • the X-coordinate and the Y-coordinate of the turntable axis are invariable over their entire length.
  • the turntable axis may instead be inclined to the Z-axis.
  • the X coordinate and the Y coordinate of the turntable axis are not contant.
  • the method according to the invention can then be carried out in a specific Z height of the device coordinate system.
  • the determination of the X and Y coordinates of the turntable axis and the determination of the X or Y coordinate of the probing body at a constant Z-value, in a parallel to the X-Y plane measurement plane can be performed.
  • the selected Z value, or the distance between the plane parallel to the X-Y plane measuring plane is preferably matched to the shape and mounting height of the probing body. For example, if selected ring-shaped probing body, then a single plane passing through the ring level is selected as the measurement plane by the ring is touched on the inside or outside.
  • probes which can be probed at different Z-heights, and whose X and / or Y coordinates (or the coordinates of the reference point of the body) can be determined at different Z-heights.
  • An example of this is a hollow cylinder, which has a greater extent in the Z direction than a ring.
  • the first probing body and the second probing body are positioned next to the turntable. That the probes do not turn with the turntable.
  • the probes are fixed relative to at least the X or Y coordinate of the turntable axis.
  • the first probing reference point is at least with respect to its X-coordinate relatively fixed to the X-coordinate of the turntable axis. Either the X-coordinates of turntable axis and first probing reference point are the same, or they have a fixed distance (offset) ⁇ .
  • the first probing body can be displaceable, or it is also fixed in the Y direction. A displacement of the first probing body in the Y direction, and thus a displacement of the first probing reference point, can be provided because the positioning of the first probing body can be adapted to the size or the space requirement of a workpiece.
  • the first touch body reference point is relatively invariable with respect to its Y coordinate to the Y coordinate of the turntable axis.
  • the second probing reference point is relatively invariable with respect to its Y-coordinate relative to the Y-coordinate of the turntable axis. Either the Y coordinates of turntable axis and second probing reference point are the same or they have a fixed distance (offset) ⁇ . In the X direction of the device coordinate system, the second probing body can be displaceable, or it is also fixed in the X direction.
  • a displacement of the second impact body in the X direction, and thus a shift of the second impact body reference point, can be provided because the positioning of the second impact body can be adapted to the size or space requirement of a workpiece.
  • the second probe body reference point is also relatively invariable relative to its X coordinate to the X coordinate of the turntable axis.
  • the X coordinate of the reference point of the first probing body be identical with the X coordinate of the turntable axis in the device coordinate system.
  • the Y-coordinate of the reference point second probe be identical to the Y-coordinate of the turntable axis, which was determined in step a).
  • a difference between the X coordinates ⁇ and a difference between the Y coordinates ⁇ be as small as possible so that errors by changing ⁇ or ⁇ are kept as small as possible. Changes in ⁇ and ⁇ can occur, for example, due to thermal expansion.
  • Preferred values of ⁇ and ⁇ are 0 to 3 mm, preferably 0 to 2 mm and most preferably 0 to 1 mm.
  • the attachment of the probing body can preferably be made directly or indirectly on / at the device base.
  • appliance base measuring table and base plate, if used in this description, refer to the same subject matter.
  • a base plate may be, for example, and without limitation, made of stone.
  • the type of attachment is not limited per se, it may for example be positive, non-positive or cohesive.
  • fastening means for example, adhesives or connecting elements can be used, such as snap-in or plug-in connections.
  • the attachment may be in a directional X or Y directional rail wherein the probes are slidable.
  • a Device provided, whereby the probes can be locked in the rail to prevent accidental displacement.
  • An indirect attachment of the probing body can be done, for example, by attaching carriers to the device base and attaching each probing body to a carrier.
  • the carriers can be attached as close to the turntable on the device base, so that they are preferably fixed in the X and Y directions.
  • the type of attachment is not limited per se, it may for example be positive, non-positive or cohesive.
  • fastening means for example, adhesives or connecting elements can be used, such as screws, snap-in or plug-in connections. For mounting with one or more screws, threaded holes already provided on the device base can be used.
  • the type of attachment of a probe on a support is not limited. It can for example be positive, non-positive or cohesive, with the above-enumerated fasteners can be used.
  • the carrier may have any shape adapted to the circumstances of the CMM.
  • An example is, without limitation, a carrier plate.
  • the carrier for example a carrier plate, may have a guide, in particular a linear guide, which is preferably aligned parallel or substantially parallel to the X or Y axis of the device coordinate system when mounting the carrier.
  • the probe body When attaching a probe body, the probe body can be inserted into the guide and moved to the desired X or Y position. At the desired position of the probe body can be fixed so that it is stationary on the device base and the carrier in the X and Y directions.
  • the invention provides a method in which
  • a difference ⁇ between the X-coordinate of the first probing reference point and the X-coordinate of the turntable axis determined in step a) is stored in the CMM
  • a difference ⁇ between the Y-coordinate of the second probing reference point and the Y-coordinate of the turntable axis determined in step a) is stored in the CMM
  • - ⁇ and ⁇ are used for the determination, in particular calculation, of the X-coordinate and the Y-coordinate of the turntable axis in the repeated orientation of the turntable axis.
  • the values ⁇ and ⁇ are also referred to as X-offset or Y-offset. In special cases, ⁇ and / or ⁇ can be zero so that there is no offset. Since the first probing body is stationary with respect to the X-coordinate of its first reference point to the X-coordinate of the turntable axis, ⁇ is constant and can be used at a later time to determine the X-coordinate of the turntable axis. The same applies to ⁇ and the second probing reference point. The values ⁇ and ⁇ can be entered into the measuring computer and processed by specially adapted measuring software.
  • first and second probing bodies is not particularly limited, as long as on or in the probing body can be defined a fixed time and relative to the body invariable reference point, which can be reproducibly detected with the measuring system of the CMM.
  • the probes are selected from a ring, a disc, a cylinder, a hollow cylinder, a sphere, a gauge block, an internal cone, and a self-centering probe ball trip, or a combination thereof.
  • An example of a ring is a gauge ring that has a very small roundness deviation but may be of any diameter.
  • the CMM's measuring system can be touched at several points to determine the center of the ring, the disc of the cylinder or the ball.
  • the CMM's measuring system can be touched at several points to determine the center of the ring, the disc of the cylinder or the ball.
  • Scanning according to the invention means the continuous, uninterrupted probing of a contour with a running (dynamic) measured value transfer, resulting in a dense sequence of points. Scanning many points minimizes or eliminates inaccuracies due to probing reproducibility.
  • a gage of a probing body a probing is sufficient to determine the associated reference point. The advantage is the saving of measuring time.
  • the probing in step a) b) and c) takes place with a reference probe.
  • a reference key is a key whose shape is known exactly, and in which preferably also other properties, such. B. bending stiffness of a shaft, are known exactly.
  • the shape of a probe element of the reference probe is well known, for example, the exact shape of a probe ball, which may differ from an ideal spherical shape. As a result, inaccuracies due to inaccurate probe data can be minimized or eliminated.
  • a reference probe can be used, which is preferred.
  • step d) instead of a measuring probe can be used, which is also used in the current measuring operation and whose shape is known less accurate than a reference probe in the rule.
  • the use of a probe can be useful if the highest accuracy is not required but for a shorter measuring time and if it can save a probe change.
  • the invention relates to a coordinate measuring machine, comprising an arrangement of
  • a first probe body mounted adjacent to the turntable and having a first probe reference point fixedly positioned relative to the X coordinate of the turntable axis
  • the coordinate measuring machine can have in any combination all objective features which have already been described previously in the method according to the invention.
  • the coordinate measuring machine is set up to carry out the method described above.
  • the coordinate measuring machine has a measuring computer and a measuring software which are set up to carry out the method according to the invention described above.
  • the measuring computer and the measuring software are set up to carry out the method described at the outset.
  • the coordinate measuring machine has a control which is set up to carry out the method according to the invention.
  • the coordinates of the probing reference points used for the method can be stored or stored, for example, in the controller or in the measuring computer, for example in the form of a file, so that the controller and / or the measuring computer has this information.
  • a difference ⁇ between the X-coordinate of the first probing reference point and the previously determined X-coordinate of the turntable axis, and a difference ⁇ between the Y-coordinate of the second probing reference point and the previously determined Y coordinate of the turntable axis in the controller or in the measuring computer to deposit so that the controller and / or the measuring computer has this information.
  • the controller and / or the measuring computer can in particular use stored values ⁇ and ⁇ for determining the X coordinate and the Y coordinate of the rotary table axis.
  • the controller is designed to control an operation of the coordinate measuring device such that the coordinate measuring device probes the first probing body and the second probing body and preferably evaluates probing information obtained therefrom, such as coordinates of probing reference points.
  • the invention also relates to the use of a coordinate measuring machine, in particular of the previously described coordinate measuring machine, for carrying out the method described above.
  • the first probing body can be variably positioned in the Y direction and / or the second probing body can be variably positioned in the X direction.
  • the scope of the invention includes a computer program which carries out and / or controls at least steps b), c) and d), optionally also a), of the method described above.
  • the computer program has program code means which can be stored on a computer-readable medium.
  • the computer program may be stored in the CMM or in a memory separate from the CMM.
  • the computer program may be stored in a data store to which the controller of the CMM has access, or in a data memory which is part of the controller or in a data memory which is part of the measuring computer.
  • the scope of the invention includes a data carrier on which a data structure is stored which, after being loaded into a working and / or main memory of a computer or computer network, comprises at least steps b), c) and d), optionally also a) , performs the method described above.
  • FIG. 3 shows the calibration of a turntable axis with the test cylinder method
  • Fig. 4 shows the positioning of two probing elements relative to the turntable axis
  • FIG. 1 shows a device coordinate system GKS with the axes X, Y and Z and the origin or reference point R at the zero point of the device coordinate system.
  • the axes of the GKS device coordinate system are also referred to as CMM axes.
  • a turntable 2 is applied, which is rotatable about the turntable axis D relative to the plate 1.
  • the turntable axis defines the exact position of the turntable with respect to the device zero point (reference point) R as well as the tilt with respect to the axes of the device coordinate system GKS, ie the position in the GKS.
  • the turntable 3 carries the workpiece 4 with the associated workpiece coordinate system WKS, which is defined by the coordinate axes X ', Y' and Z '.
  • the probing points which are determined in the method according to the invention, relate to the device coordinate system GKS, which is parallel to the travel axes of the CMM.
  • the 1-ball method for measuring the turntable axis D is described.
  • the axes of the device coordinate system GKS are designated X K MG, YKMG and Z K MG-
  • X K MG, YKMG and Z K MG- For determining the axis of rotation of a base rotatable workpiece holder, that is in a coordinate measuring machine with a so-called turntable, sees the standard VDI / VDE 2617 sheet 4 in the so-called "3D-a test" for measuring the rotation axis in the coordinate system of the base a method before.
  • a ball 5 is fixedly mounted outside a rotation axis 7 of the turntable close above the turntable surface.
  • the surface of the ball is scanned with the probe tip of the coordinate measuring machine, to determine from this the center 9 of the ball.
  • the determination of the ball center is repeated in at least three different rotational positions of the turntable with respect to the axis of rotation.
  • the solder in the circle center on the plane is then the axis of rotation of the turntable in the coordinate system (X K MG, YKMG, Z K MG) of the coordinate measuring machine.
  • the turntable axis is determined by the method explained below with reference to FIG. 3:
  • a cylindrical specimen 1 1 wherein the cylinder axis is denoted by 12.
  • a circumference 13 of the cylinder is scanned, and in another plane farther from the turntable surface, another circumference 14 of the cylinder is scanned. From the two circumferences or cross sections 13, 14, the cylinder axis is determined. However, since the displacement axis Z'KMG of the coordinate measuring machine deviates by an angle dR from the orthogonal direction Z K MG to the directions X K MG and Y K MG, the calculated cylinder axis 15 does not coincide with its mechanical cylinder axis 12.
  • the turntable is rotated by 180 °, and in the new rotational position, a lower cross section 13 'and an upper cross section 14' is measured. This results in a determined in this rotational position cylinder axis 15 '.
  • a rotary table axis 16 is then calculated which forms the axis of symmetry with respect to the cylinder axes 15 and 15 'determined in the two rotational positions.
  • the turntable axis 16 thus calculated also deviates from the mechanical rotation axis 7 of the turntable by the angle dR. However, in the turntable axis thus determined, measurement errors generated due to the perpendicularity deviation dR are suppressed in the probing of cylindrical workpieces extending in the z-direction.
  • a test object which comprises at least two test bodies having such a surface that, by touching the surface with the probe tip, coordinates of at least one reference point of the test body fixedly arranged with respect to the surface of the test body in the coordinate system of the base (ie Device coordinate system) can be determined.
  • a possible test body is a precisely manufactured ball or a cuboid.
  • the method of WO02090879A2 represents a 2-sphere method, which is generally mentioned in the description. It is also possible to use a self-centering probing body, such as a ball-type impeller or a cone.
  • test body If, for example, a ball is used as the test body, it is then possible to unambiguously determine the ball center in the coordinate system of the base by touching the surface of the ball.
  • the two test bodies are mounted on the workpiece holder or on the turntable in such a way that they are at a distance from each other in the direction of the axis of rotation.
  • WO02090879A2 The method is described in Figures 4-10 of WO02090879A2 and the associated figure description on page 12 through page 25 inclusive. The cited disclosure of WO02090879A2 is incorporated by reference for the purpose of explaining the present invention.
  • the observer's gaze falls on the X / Y plane of the device coordinate system in the Z direction so that the Z axis of the device coordinate system is perpendicular to the plane of the drawing.
  • the viewer's gaze falls, for example, on a measuring table of the CMM, on which a turntable 3 is positioned.
  • a first probing body 20 and a second probing body 21 are mounted.
  • the probes 20, 21 are teaching rings.
  • the size of the turntable 3 and the size of the teaching rings 20, 21 are not drawn to scale. In the real case, the turntable 3 would be opposite the teaching rings 20, 21 greater.
  • the position of turntable 3 and the probing bodies 20, 21 in the drawn device coordinate system is not to scale.
  • the probes 20, 21 may be mounted, for example, on the measuring table of the CMM.
  • the first gauge ring 20 has the ring center point R1 as the first probing reference point.
  • the second gauge ring 21 has the ring center point R2 as the second probing reference point.
  • Both X-coordinates can also have a deviation (offset) ⁇ .
  • Decisive is that the X-coordinate of R1 is not changeable relative to the X-coordinate of D.
  • the y-coordinates do not have to be identical, but they are not changeable relative to each other.
  • the X-coordinate of R2 may be variable, for example by displaceability of the teaching ring 21 in the direction of the axis XKMG-
  • the teaching rings 20, 21 can be mounted with a positioning device, such as a template, so near the turntable 3, that in the teaching ring 20 the X coordinate of R1 and in the teaching ring 21 the Y coordinate of R2 approximately or exactly matches the corresponding coordinates of the turntable axis D, depending on the accuracy of the positioning device.
  • the exact location of the coordinates of R1 and R2 then follows by probing the teaching rings 20, 21 on the outside or on the inside, depending on the type of teaching rings, with the measuring system of the CMM, more precisely with a button, preferably in the scanning mode.
  • the position of the turntable axis D in the device coordinate system is determined once with the measuring system of the CMM according to a known method, for example one as explained with reference to FIG. 2 or 3. Thereafter, the relative positions of D, R1 and R2 are known.
  • the coordinates of D, R1 and R2 can be entered into the measuring computer or the measurement software automatically or manually.
  • the teaching rings 20 and 21 must be touched and the coordinates of R1 and R2 must be redetermined. From this, the position of the turntable axis D in the device coordinate system can be easily calculated at any later time.
  • the observer's gaze falls from above onto a measuring table or a basis of the CMM.
  • the axes X and Y are shown only schematically.
  • the Z-axis runs in the direction of view.
  • the CMM may, for example, be a bridge-type CMM, as exemplified in US Pat. No. 1,201,0000,277 in FIG. 1 and described in structural details. Also not shown are a controller and a measurement computer, which are part of a CMM and integrated into the CMM in a known manner.
  • FIG. 5 shows an implementation scheme of the method according to the invention in its individual steps.
  • step S1 a test body 9 located on the turntable 3 is scanned in a plurality of rotary table positions with the measuring system of the CMM and the X coordinate and the Y coordinate of the rotary table axis D in the device coordinate system (X K MG, YKMG, Z K MG, Z'KMG) from the touch points.
  • This step has already been explained with reference to FIG. 2 using the example of the 1-sphere method.
  • the probing can be done for example with a known per se probe element, such as a Tastkugel.
  • step S2 the first probe body 20, which is mounted next to the turntable 3 and which has the first probe body reference point R1 stationarily positioned relative to the X coordinate of the turntable axis D, is scanned with the CMM measuring system and the X coordinate determination of the first probing reference point R1.
  • the probing can be done for example with a known per se probe element.
  • step S2 the second probe body 21, which is mounted next to the turntable 3 and which has the second probe body reference point R2 that is stationarily positioned relative to the Y coordinate of the turntable axis D, is scanned with the measuring system of the CMM and the Y coordinate is determined of the second probing reference point R2.
  • the chronological order of the steps S1, S2 and S3 is in principle arbitrary, wherein step S1 only has to be carried out once.
  • the steps S2 and S3 can be repeated as desired at later times.

Abstract

Verfahren zur wiederholten Bestimmung der Lage einer Drehtischachse (D) im Gerätekoordinatensystem eines Koordinatenmessgeräts, umfassend: a) Antasten eines auf dem Drehtisch (3) befindlichen Prüfkörpers (9) in mehreren Drehtischstellungen mit dem Messsystem des KMG und Bestimmung der X-Koordinate und der Y- Koordinate der Drehtischachse (D) im Gerätekoordinatensystem (XKMG, YKMG, ZKMG, Z'KMG) aus den Antastpunkten, wobei das Verfahren weiterhin umfasst: b) Antasten eines ersten Antastkörpers (20), der neben dem Drehtisch (3) angebracht ist und der einen relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse (D) ortsfest positionierten ersten Antastkörper-Referenzpunkt (R1) aufweist, mit dem Messsystem des KMG und Bestimmung der X-Koordinate des ersten Antastkörper-Referenzpunkts (R1), c) Antasten eines zweiten Antastkörpers (21), der neben dem Drehtisch (3) angebracht ist und der einen relativ zur Y-Koordinate der Drehtischachse (D) ortsfest positionierten zweiten Antastkörper-Referenzpunkt (R2) aufweist, mit dem Messsystem des KMG und Bestimmung der Y-Koordinate des zweiten (R2) Antastkörper-Referenzpunkts, d) Wiederholen der Schritte b) und c) an einem oder mehreren späteren Zeitpunkten und Bestimmen der X-Koordinate und der Y-Koordinate der Drehtischachse an dem späteren Zeitpunkt, oder an den späteren Zeitpunkten, aus der X-Koordinate des ersten Antastkörper-Referenzpunkts und der Y-Koordinate des zweiten Antastkörper-Referenzpunkts, sowie ein Koordinatenmessgerät, mit dem das Verfahren durchführbar ist.

Description

Verfahren zur Bestimmung der Achse eines Drehtisches bei einem Koordinatenmessgerät.
Die vorliegende Erfindung betrifft ein neuartiges Verfahren zur Bestimmung der Lage der Achse eines Drehtisches bei einem Koordinatenmessgerät.
Der Referenzpunkt eines Koordinatenmessgeräts (KMG) ist der Ursprung des Gerätekoordinatensystems. Unter einem„Gerätekoordinatensystem" ist das vorgegebene Koordinatensystem des KMG zu verstehen, welches parallel zu den Verfahrachsen des KMG liegt. Auf den Referenzpunkt beziehen sich alle Messungen und abgeleiteten Berechnungen. Der Referenzpunkt wird durch eine sog. Referenzpunktfahrt ermittelt. Die Referenzpunktfahrt ist eine automatische Messroutine und Voraussetzung für alle Messungen. Eine Referenzpunktfahrt wird zumindest nach Inbetriebnahme des KMG durchgeführt. Die Messung des Referenzpunkts muss zu späteren Zeitpunkten wiederholt werden, weil der Referenzpunkt durch Temperatureinflüsse und andere Einflüsse driftet.
Falls bei einem KMG ein Drehtisch verwendet wird, muss nach jeder Referenzpunktfahrt die Lage der Rotationsachse des Drehtisches (auch bezeichnet als Drehtischachse oder RT-Achse, RT = Rotationstisch) im Gerätekoordinatensystem neu bestimmt werden. Die Drehtischachse definiert die genaue Position des Drehtischs bezüglich des Referenzpunktes (Geräte- Nullpunkts) sowie die Verkippung bezüglich der KMG-Achsen, also die Lage im Geräte- Koordinatensystem. Alle Messelemente, Prüfmerkmale und Koordinatensysteme werden bei der Drehung des Drehtischs rechnerisch um die RT-Achse gedreht. Fehler beim Einmessen der RT-Achse wirken sich also unmittelbar auf die Messgenauigkeit aus.
Eine regelmäßige Neubestimmung der Lage der RT-Achse ist auch wegen sich ändernder Umgebungstemperatur erforderlich. Generell sollte bei jeder Tastereinmessung auch die Drehtischachse neu eingemessen werden. Bei starken Temperaturschwankungen ist es oft sinnvoll, die Drehtischachse vor jeder Werkstückmessung neu einzumessen.
Methoden zur Bestimmung der Lage einer Drehtischachse im Gerätekoordinatensystem eines KMG sind an sich bekannt und in verschiedenen Varianten beispielsweise beschrieben in WO02090879A2. Diese Schrift betrifft ein Verfahren zum Bestimmen von Eigenschaften eines Koordinatenmessgeräts durch Antasten eines Testobjekts, wobei das Koordinatenmessgerät neben einer Basis, einer Tastspitze und einem Sensorsystem eine bezüglich der Basis um eine Drehachse drehbare Werkstückhalterung zur Halterung des anzutastenden Werkstücks um- fasst. Das Testobjekt umfasst wenigstens zwei Testkörper, und ein jeder Testkörper weist eine solche Oberfläche auf, dass durch Antasten der Oberfläche mit der Tastspitze Koordinaten von wenigstens einem bezüglich der Oberfläche des Testkörpers fest angeordneten Bezugspunkt des Testkörpers im Koordinatensystem der Basis bestimmbar sind. Die wenigstens zwei Testkörper sind an der Werkstückhalterung derart fest anbringbar, dass sie in Richtung der Drehachse einen Abstand voneinander aufweisen. Bei dem Verfahren wird das Testobjekt an der Werkstückhalterung angebracht und es werden in mehreren Drehstellungen jeweils die Bezugspunkte der Testkörper bestimmt. Aus den bestimmten Bezugspunkten wird die Drehachse im Koordinatensystem der Basis, dem Gerätekoordinatensystem, bestimmt.
Bei üblichen Verfahren zur Bestimmung der Lage der RT-Achse, wie z.B. beschrieben in WO02090879A2, wird ein Körper, beispielsweise eine Kugel oder ein Prüfzylinder auf dem Drehtisch befestigt und angetastet, am besten in mehreren Drehtischpositionen. Daraus wird die RT-Achse berechnet. Diese Verfahren sind aber in der Regel nur anwendbar, wenn sich kein Werkstück auf dem Drehtisch befindet. Der Nachteil besteht also darin, dass ein Werkstück, dessen Vermessung noch nicht beendet ist, vom Drehtisch entfernt werden muss, um die Lage der RT-Achse neu zu bestimmen.
Es gibt auch Verfahren zur Einmessung der RT-Achse direkt am Werkstück. Diese Verfahren setzen jedoch ausreichend glatte Flächen am Werkstück voraus und für jedes Werkstück ist eine Neuprogrammierung erforderlich.
Als weitere Lösung ist die sogenannte RT-Offset-Korrektur bekannt, beispielsweise aus der Software Umess-UX der Carl Zeiss AG. Dabei wird eine Einmesskugel möglichst nahe bei der RT-Achse aber neben dem Drehtischteller auf der Gerätebasis des KMG befestigt. Anschließend werden die Koordinaten der RT-Achse und die Koordinaten der Einmesskugel, bzw. die Koordinaten des Mittelpunktes der Einmesskugel, im Gerätekoordinatensystem bestimmt und diese Koordinaten zueinander in Bezug gesetzt, wodurch der Abstand zwischen RT-Achse und dem Mittelpunkt der Einmesskugel erhalten wird. Nach einer Referenzpunktfahrt wird die Position der Einmesskugel mit einem kalibrierten Taststift erneut bestimmt und aus dem zuvor ermit- telten Abstand zwischen der Einmesskugel und RT-Achse die Lage der RT-Achse neu ermittelt. Dieses Verfahren ist zwar schnell, aber sehr ungenau, da der Abstand zwischen der Einmesskugel und RT-Achse sich bei Temperaturänderungen verändert und nicht korrigiert wird.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Lösung für eines oder mehrere der oben bezeichneten Probleme zu finden. Insbesondere sollte ein vereinfachtes aber hinreichend genaues Verfahren zur Bestimmung der Lage der Drehtischachse angegeben werden.
Nach einer allgemeinen Idee der Erfindung wird ein Verfahren angegeben, das zur wiederholten Bestimmung der Lage einer Drehtischachse im Gerätekoordinatensystem eines Koordinaten- messgeräts auf einfache Art und Weise geeignet ist. Es wird ein KMG mit zwei daran angebrachten Antastkörpern verwendet, die jeweils einen durch Antasten bestimmbaren Referenzpunkt aufweisen, genannt„Antastkörper-Referenzpunkt". Mit Hilfe der Antastkörper- Referenzpunkte kann die Lage der Drehtischachse durch Antasten der Antastkörper ermittelt werden. Ein Antastkörper-Referenzpunkt befindet sich beispielsweise auf der X-Koordinate der Drehtischachse, oder in der Nähe der X-Koordinate. Ein zweiter Antastkörper-Referenzpunkt befindet sich beispielsweise auf der Y-Koordinate der Drehtischachse, oder in der Nähe der Y- Koordinate. Mit dem Verfahren ist es möglich, eine zeitliche Drift der Position der Drehtischachse festzustellen und vorzugsweise zu korrigieren, wenn erwünscht. Die Vorteile des Verfahrens sind nachfolgend noch angegeben.
Angegeben wird insbesondere ein Verfahren nach Anspruch 1 . Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.
Angegeben wird insbesondere ein Verfahren, das zur wiederholten Bestimmung der Lage einer Drehtischachse im Gerätekoordinatensystem eines Koordinatenmessgeräts geeignet ist, umfassend:
a) Antasten eines auf dem Drehtisch befindlichen Prüfkörpers in mehreren Drehtischstellungen mit einem Messsystem des KMG und Bestimmung der X-Koordinate und der Y-Koordinate der Drehtischachse im Gerätekoordinatensystem aus den Antastpunkten,
wobei das Verfahren weiterhin umfasst:
b) Antasten eines ersten Antastkörpers, der neben dem Drehtisch angebracht ist und der einen relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse ortsfest positionierten ersten Antastkörper- Referenzpunkt aufweist, mit dem Messsystem des KMG und Bestimmung der X-Koordinate des ersten Antastkörper-Referenzpunkts ,
c) Antasten eines zweiten Antastkörpers, der neben dem Drehtisch angebracht ist und der einen relativ zur Y-Koordinate der Drehtischachse ortsfest positionierten zweiten Antastkörper-Referenzpunkt aufweist, mit dem Messsystem des KMG und Bestimmung der Y- Koordinate des zweiten Antastkörper-Referenzpunkts,
d) Wiederholen der Schritte b) und c) an einem oder mehreren späteren Zeitpunkten und Bestimmen, insbesondere Berechnen, der X-Koordinate und der Y-Koordinate der Drehtischachse an dem späteren Zeitpunkt, oder an den späteren Zeitpunkten, aus der X- Koordinate des ersten Antastkörper-Referenzpunkts und der Y-Koordinate des zweiten Antastkörper-Referenzpunkts.
Sofern das Koordinatenmessgerät noch nicht mit den beiden Antastkörpern versehen ist, kann das Verfahren weiterhin umfassen:
Das Anbringen des ersten Antastkörpers neben dem Drehtisch, wobei der erste Antastkörper einen ersten Antastkörper-Referenzpunkt aufweist und wobei der erste Antastkörper-Referenzpunkt relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse ortsfest positioniert wird,
Das Anbringen des zweiten Antastkörpers neben dem Drehtisch, wobei der zweite Antastkörper einen zweiten Antastkörper-Referenzpunkt aufweist und wobei der zweite Antastkörper-Referenzpunkt relativ zur Y-Koordinate der Drehtischachse ortsfest positioniert wird
Das Messsystem des KMG ist ein taktiles Messsystem, da damit angetastet wird. Ein taktiles Messystem ist an sich bekannt. Das Messsystem des KMG weist insbesondere einen Taster auf, wie von taktilen KMG allgemein bekannt. Der Taster kann ein Tastelement, beispielsweise eine Tastkugel, oder ein anders geformtes Tastelement, aufweisen. Ein Antasten erfolgt im Speziellen mit dem Taster, noch spezieller mit einem Tastelement des Tasters, wie von taktilen KMG allgemein bekannt.
Bei dem Verfahren können die aufgezählten Schritte a) - c) in beliebiger Reihenfolge durchgeführt werden. Beispielsweise können die Schritte b) und c) vor dem Schritt a) erfolgen. Vor- zugsweise werden die Schritte a)-c) in kurzem zeitlichen Abstand voneinander durchgeführt, um das Messergebnis störende Einflüsse, wie z.B. Temperatureffekte, zu vermeiden.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren wird ein genaues und schnelles Verfahren zur Bestimmung der räumlichen Lage einer Drehtischachse bereitgestellt, das universal für alle KMG mit Drehtisch einsetzbar ist. Das Einmessen der Drehtischachse kann einmalig erfolgen, beispielsweise anhand von Prüfkörpern, die sich auf dem Drehtisch selbst befinden, wie oben in Schritt a) angegeben. Spätere Bestimmungen der Lage der Drehtischachse erfolgen auf vereinfachte Weise anhand von Antastkörpern, die neben dem Drehtisch am KMG fixiert sind, beispielsweise auf einer Werkstückaufnahme oder einem Messtisch des KMG. Die Antastkörper können soweit vom Drehtisch entfernt positioniert werden, dass eine spätere Bestimmung der Lage der Drehtischachse auch möglich ist, wenn auf dem Drehtisch ein Werkstück aufgespannt ist. Dadurch wird die Bestimmung der Lage der Drehtischachse erheblich vereinfacht. Ein Werkstück muss dazu nicht vom Drehtisch entnommen werden und eine erneute Bestimmung der Lage des Werkstückkoordinatensystems nach Entfernung und Wiederauflegen des Werkstücks auf den Drehtisch ist nicht mehr erforderlich.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren können Standardabläufe für die Lagebestimmung bzw. das Einmessen einer Drehtischachse geliefert werden, wobei jeweils nur eine Position eines Antastkörpers, im Koordinatensystem des KMG bestimmt werden muss. Der Anwender muss keine weitere Eingabe machen. Da beide Antastkörper jeweils mindestens in einer Koordinate, X oder Y, ortsfest zur Drehtischachse angeordnet sind, entsteht keine Ungenauigkeit bei der Driftkorrektur. Die Driftkorrektur ist sehr genau, da kein unkorrigierter Abstand vorhanden ist, wie bei der RT-Offsetkorrektur.
Das Antasten von den beiden Antastkörpern ist zudem deutlich schneller als die bisher bekannten Einmessverfahren für die Drehtischachse.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren ist eine Ungenauigkeit aufgrund von CAA (Computer Aided Accuracy) -Restfehlern ausgeschlossen, da diese Restfehler beim erstmaligen Ermitteln der Positionen der Antastkörper-Referenzpunkte und bei der später erfolgenden, erneuten Bestimmung dieser Positionen identisch sind. In dem erfindungsgemäßen Verfahren können auf einfache Weise konstante Bedingungen sichergestellt werden, da auf dem Drehtisch und am KMG keine Veränderungen vorgenommen werden müssen, um die X- und Y-Koordinaten der Drehtischachse zu einem oder mehreren späteren Zeitpunkten zu bestimmen. So ist es z.B. nicht erforderlich, ein Werkstück zur erneuten Vermessung der Drehtischachse vom Drehtisch zu entfernen, wie oben ausgeführt.
Dadurch können Ungenauigkeiten bei der erneuten Vermessung der Drehtischachse, z.B. aufgrund von Temperaturänderungen bei Entfernung und Neupositionierung eines Werkstückes, ausgeschlossen werden. Das Verfahren ermöglicht somit auf einfache Weise die Bestimmung der Drehtischachse im laufenden Messbetrieb.
Schließlich ist das Verfahren auch auf einfache Art und Weise bei bestehenden Koordinaten- messgeräten bzw. deren Steuerungssoftware nachrüstbar.
Die Begriffe„relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse ortsfest positioniert" und„relativ zur Y- Koordinate der Drehtischachse ortsfest positioniert" bedeuten, dass der entsprechende Referenzpunkt zumindest in der angegebenen Koordinate, X oder Y, ortsfest ist. In der jeweils nicht genannten anderen Koordinate kann der Referenzpunkt veränderlich sein, wie in speziellen Ausführungsformen der Erfindung angegeben. Der Begriff „ortsfest" kann also auf nur eine Koordinate, X oder Y, bezogen sein. Der Begriff „ortsfest" kann aber auch auf mehrere Koordinaten, wie X und Y, bezogen sein, was im speziellen Fall angegeben ist. Eine andere Ausdrucksweise für„relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse ortsfest positioniert" ist, dass der erste Antastkörper-Referenzpunkt, bzw. dessen Position, relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse unveränderlich ist. Dies bedeutet, dass der Abstand zwischen der Drehtischachse und dem ersten Antastkörper-Referenzpunkt in X-Richtung konstant, insbesondere zeitlich unveränderlich, ist. Eine andere Ausdrucksweise für„relativ zur Y-Koordinate der Drehtischachse ortsfest positioniert" ist, dass der zweite Antastkörper-Referenzpunkt, bzw. dessen Position, relativ zur Y-Koordinate der Drehtischachse unveränderlich ist. Das bedeutet, dass der Abstand zwischen der Drehtischachse und dem zweiten Antastkörper-Referenzpunkt in Y-Richtung konstant, insbesondere zeitlich unveränderlich, ist.
Nachfolgend werden einzelne Verfahrensschritte detaillierter beschrieben, bezogen auf die Ausführungsform mit den Schritten a)-d), wie oben angegeben. Der Schritt a) des Verfahrens, das Antasten eines auf dem Drehtisch befindlichen Prüfkörpers in mehreren Drehtischstellungen, kann auf an sich bekannte Art und Weise erfolgen. Methoden zur Bestimmung der Lage einer Drehtischachse im Gerätekoordinatensystem eines KMG, die in Schritt a) des erfindungsgemäßen Verfahrens eingesetzt werden können, sind an sich bekannt und in verschiedenen Varianten beschrieben in WO02090879A2. Beispiele sind, ohne Beschränkung, die sogenannte 1 -Kugel-Methode, die 2-Kugel-Methode, die Prüfzylinder-Methode und die selbstzentrierende Methode. Diese Methoden sind für verschiedene Anwendungsfälle besonders geeignet und weisen bestimmte Charakteristika auf. Eine detailliertere Beschreibung anhand von Zeichnungen ist im Beispielteil angegeben.
1 - Kugel-Methode:
Es werden bei dieser Methode keine zusätzlichen Normale benötigt. Die Messung kann mit dem Referenztaster durchgeführt werden. Ein Referenztaster ist ein Taster, dessen Form genau bekannt ist, und bei dem vorzugsweise auch weitere Eigenschaften, wie z. B. Biegesteifig- keit eines Schaftes, genau bekannt sind. Speziell ist die Form eines Tastelements des Referenztasters genau bekannt, beispielsweise die genaue Form einer Tastkugel, die von einer idealen Kugelform abweichen kann. Alle Messungen werden in der gleichen Z-Höhe des KMGs durchgeführt. Rechtwinkligkeits-Restfehler des KMGs können bei Messungen in anderen Z- Höhen zu Messfehlern führen. Abhängig von der Position des Drehtischs im Messvolumen kann eventuell nicht der komplette Drehbereich abgedeckt werden. Die 1 -Kugel-Methode ist bevorzugt bei nicht allzu hohen Genauigkeitsanforderungen. Sie ist bevorzugt für flache Werkstücke mit großem Durchmesser (z.B. Tellerräder). Die höchste Genauigkeit wird erzielt, wenn sich das Werkstück ungefähr auf derselben Messhöhe befindet wie zuvor die Kugel bei der Achsbestimmung.
2- Kuqel-Methode:
Die RT-Achse wird über die gesamte Höhe des Werkstückes eingemessen. Rechtwinkligkeits- Restfehler des KMG werden so kompensiert und wirken sich weniger stark auf die Messunsicherheit aus. Die Messung kann mit einem Referenztaster durchgeführt werden. Eingesetzt wird entweder eine spezielle Vorrichtung, auf der beide Kugeln befestigt sind, oder das Basissystem wird bei jedem Ablauf manuell bestimmt. Abhängig von der Position des Drehtischs im Messvolumen kann evtl. nicht der komplette Drehbereich abgedeckt werden. Die 2-Kugel- Methode wird bevorzugt bei hohen Werkstücken eingesetzt. Prüfzylinder-Methode:
Die RT-Achse wird über die gesamte Höhe des Zylinders eingemessen. Rechtwinkligkeits- Restfehler des KMG werden so kompensiert und wirken sich weniger stark auf die Messunsicherheit aus. Die Messzeit ist kurz und die Vorrichtung einfach: Der Zylinder lässt sich jederzeit reproduzierbar auf dem Drehtisch befestigen. Auch die Prüfzylinder-Methode kann bei hohen Werkstücken eingesetzt werden. Insbesondere kann die Prüfzylinder-Methode für die Messung von Wellen mit geringer Formabweichung verwendet werden: Statt einen Prüfzylinder zu verwenden, wird dann vor jedem Messablauf die Drehtischachse direkt am Werkstück bestimmt.
Selbstzentrierende Methode:
Es handelt sich dabei um eine sehr schnelle Methode. Die Messung kann mit einem Referenztaster durchgeführt werden. Alle Messungen werden in der gleichen Z-Höhe des KMG durchgeführt. Rechtwinkligkeits-Restfehler des KMG können bei Messungen in anderen Z-Höhen zu größeren Messfehlern führen. Abhängig von der Position des Drehtischs im Messvolumen kann nicht immer der komplette Drehbereich abgedeckt werden. Bei der selbstzentrierenden Methode kann das Element zum Einmessen der Drehtischachse direkt auf der Werkstückpalette befestigt werden. Es ist deshalb möglich, ohne großen Zeitaufwand vor jeder Werkstückmessung die Drehtischachse neu einzumessen.
Der in Schritt a) des Verfahrens verwendete Prüfkörper kann insbesondere eine Kugel sein, wie beispielsweise bei der oben angegebenen 1 -Kugel-Methode oder 2-Kugel-Methode verwendet, oder ein Zylinder, wie bei der oben angegebenen Prüfzylinder-Methode verwendet, oder ein Element, das mit einem Taster selbstzentrierend angetastet werden kann, wie z.B. ein Kegel, eine kegelförmige Vertiefung, eine Bohrung oder ein Kugeltripel, ohne darauf beschränkt zu sein.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren werden zumindest eine X-Koordinate und eine Y- Koordinate der Drehtischachse bestimmt. Die Drehtischachse kann parallel zur Z-Achse des Gerätekoordinatensystems stehen. In diesem Fall sind die X-Koordinate und die Y-Koordinate der Drehtischachse unveränderlich über ihre gesamte Länge. Die Drehtischachse kann aber stattdessen zur Z-Achse geneigt sein. In diesem Fall sind die X-Koordinate und die Y- Koordinate der Drehtischachse nicht kontant. Das erfindungsgemäße Verfahren kann dann in einer bestimmten Z-Höhe des Gerätekoordinatensystems durchgeführt werden. Anders ausgedrückt kann die Bestimmung der X- und Y- Koordinaten der Drehtischachse und die Bestimmung der X- oder Y-Koordinate der Antastkörper bei einem kontanten Z-Wert, in einer zur X- Y-Ebene parallelen Messebene, durchgeführt werden. Der gewählte Z-Wert, bzw. der Abstand der zur X- Y-Ebene parallelen Messebene wird vorzugsweise auf die Form und Anbringungshöhe der Antastkörper abgestimmt. Werden beispielweise ringförmige Antastkörper gewählt, dann wird eine einzige durch den Ring verlaufende Ebene als Messebene gewählt, indem der Ring an der Innen- oder Außenseite angetastet wird. Es ist auch möglich, Antastkörper zu wählen, die in verschiedenen Z-Höhen angetastet werden können, und deren X- und/oder Y-Koordinate (bzw. die Koordinaten des Referenzpunktes des Körpers) in verschiedener Z-Höhe bestimmt werden kann. Ein Beispiel ist hierfür ein Hohlzylinder, der eine größere Ausdehnung in Z-Richtung aufweist als ein Ring. Bei dieser Variante ist es möglich, in Schritt a) des Verfahrens die X- und Y-Koordinaten der Drehtischachse in verschiedenen Z-Höhen zu messen, beispielsweise über die gesamte Z-Höhe eines Werkstückes mit der 2-Kugel-Methode, und in jeweils gleicher Z-Höhe die X- und/oder Y-Koordinate der Referenzpunkte der Antastkörper zu bestimmen.
Der erste Antastkörper und der zweite Antastkörper sind neben dem Drehtisch positioniert. D.h. die Antastkörper drehen sich nicht mit dem Drehtisch mit. Die Antastkörper sind relativ zu zumindest der X- oder der Y-Koordinate der Drehtischachse fixiert.
Der erste Antastkörperreferenzpunkt ist zumindest bezüglich seiner X-Koordinate relativ unveränderlich zur X-Koordinate der Drehtischachse. Entweder sind die X-Koordinaten von Drehtischachse und erstem Antastkörperreferenzpunkt gleich, oder sie weisen einen unveränderlichen Abstand (Offset) ΔΧ auf. In Y-Richtung des Gerätekoordinatensystems kann der erste Antastkörper verschiebbar sein, oder er wird in Y Richtung ebenfalls fixiert. Eine Verschiebung des ersten Antastkörpers in Y-Richtung, und damit eine Verschiebung des ersten Antastkörperreferenzpunkts, kann vorgesehen sein, weil so die Positionierung des ersten Antastkörpers an die Größe bzw. den Platzbedarf eines Werkstückes angepasst werden kann. Vorzugsweise ist durch entsprechende Anbringung des ersten Antastkörpers der erste Antastkörperreferenzpunkt auch bezüglich seiner Y-Koordinate relativ unveränderlich zur Y-Koordinate der Drehtischachse. Der zweite Antastkörperreferenzpunkt ist zumindest bezüglich seiner Y-Koordinate relativ unveränderlich zur Y-Koordinate der Drehtischachse. Entweder sind die Y-Koordinaten von Drehtischachse und zweitem Antastkörperreferenzpunkt gleich oder sie weisen einen unveränderlichen Abstand (Offset) ΔΥ auf. In X-Richtung des Gerätekoordinatensystems kann der zweite Antastkörper verschiebbar sein, oder er wird in X Richtung ebenfalls fixiert. Eine Verschiebung des zweiten Antastkörpers in X Richtung, und damit eine Verschiebung des zweiten Antastkörperreferenzpunkts, kann vorgesehen sein, weil so die Positionierung des zweiten Antastkörpers an die Größe bzw. den Platzbedarf eines Werkstückes angepasst werden kann. Vorzugsweise ist durch entsprechende Anbringung des zweiten Antastkörpers der zweite Antastkörperreferenzpunkt auch bezüglich seiner X-Koordinate relativ unveränderlich zur X-Koordinate der Drehtischachse.
Wie oben ausgeführt, ist es ist in dem Verfahren nicht unbedingt erforderlich, dass die X- Koordinate des Referenzpunkts des ersten Antastkörpers mit der X-Koordinate der Drehtischachse im Gerätekoordinatensystem identisch ist. Ebenso ist es nicht erforderlich, dass die Y-Koordinate des Referenzpunkts zweiten Antastkörpers identisch ist mit der Y-Koordinate der Drehtischachse, die im Schritt a) ermittelt wurde. Es wird jedoch angestrebt, dass ein Unterschied zwischen den X-Koordinaten ΔΧ und ein Unterschied zwischen den Y-Koordinaten ΔΥ möglichst gering ist, damit Fehler durch Änderung von ΔΧ oder ΔΥ möglichst gering gehalten werden. Änderung in ΔΧ und ΔΥ können beispielsweise durch thermische Ausdehnung entstehen. Bevorzugte Werte von ΔΧ und ΔΥ sind 0 bis 3 mm, vorzugsweise 0 bis 2 mm und am meisten bevorzugt 0 bis 1 mm.
Die Befestigung der Antastkörper kann vorzugsweise direkt oder indirekt auf/an der Gerätebasis erfolgen. Die Begriffe Gerätebasis, Messtisch und Basisplatte, sofern in dieser Beschreibung verwendet, bezeichnen denselben Gegenstand. Eine Basisplatte kann beispielsweise, und ohne Beschränkung, aus Stein sein. Die Art der Befestigung ist an sich nicht beschränkt, sie kann beispielsweise formschlüssig, kraftschlüssig oder stoffschlüssig sein. Als Befestigungsmittel können beispielsweise Kleber oder Verbindungselemente verwendet werden, wie beispielsweise Rast-oder Steckverbindungen. Wenn die Antastkörper in X- oder Y-Richtung verschiebbar am KMG angeordnet sind, dann kann die Befestigung in einer in X- oder Y-Richtung ausgerichteten Schiene erfolgen, worin die Antastkörper verschiebbar sind. Vorzugsweise ist dann eine Einrichtung vorgesehen, womit die Antastkörper in der Schiene arretiert werden können, um ein ungewolltes Verschieben zu vermeiden.
Eine indirekte Befestigung der Antastkörper kann beispielsweise dadurch erfolgen, dass Träger auf der Gerätebasis befestigt werden und jeder Antastkörper auf einem Träger befestigt wird.
Die Träger können möglichst nahe neben dem Drehtisch an der Gerätebasis befestigt werden, sodass sie vorzugsweise in X- und Y-Richtung ortsfest sind. Die Art der Befestigung ist an sich nicht beschränkt, sie kann beispielsweise formschlüssig, kraftschlüssig oder stoffschlüssig sein. Als Befestigungsmittel können beispielsweise Kleber oder Verbindungselemente verwendet werden, wie beispielsweise Schrauben, Rast-oder Steckverbindungen. Für eine Befestigung mit einer oder mehreren Schrauben können Gewindeöffnungen verwendet werden, die bereits an der Gerätebasis vorgesehen sind.
Die Die Art der Befestigung eines Antastkörpers auf einem Träger ist nicht beschränkt. Sie kann beispielsweise formschlüssig, kraftschlüssig oder stoffschlüssig sein, wobei die oben aufgezählten Befestigungsmittel verwendet werden können.
Der Träger kann eine beliebige, den Gegebenheiten des KMG angepasste Form aufweisen. Ein Beispiel ist, ohne Beschränkung, eine Trägerplatte. Der Träger, beispielsweise eine Trägerplatte, kann eine Führung aufweisen, insbesondere eine lineare Führung, die beim Befestigen des Trägers vorzugsweise parallel oder im Wesentlichen parallel zur X- oder Y-Achse des Gerätekoordinatensystems ausgerichtet wird. Beim Anbringen eines Antastkörpers kann der Antastkörper in die Führung eingeführt werden und an die gewünschte X- oder Y-Position verschoben werden. An der gewünschten Position kann der Antastkörper befestigt werden, sodass er auf der Gerätebasis und dem Träger in X- und Y-Richtung ortsfest ist.
Insbesondere wird mit der Erfindung ein Verfahren angegeben, bei dem
ein Unterschied ΔΧ zwischen der X-Koordinate des ersten Antastkörper-Referenzpunkts und der in Schritt a) ermittelten X-Koordinate der Drehtischachse in dem KMG abgespeichert wird, ein Unterschied ΔΥ zwischen der Y-Koordinate des zweiten Antastkörper-Referenzpunkts und der in Schritt a) ermittelten Y-Koordinate der Drehtischachse in dem KMG abgespeichert wird und
- ΔΧ und ΔΥ zur Bestimmung, insbesondere Berechnung, der X-Koordinate und der Y- Koordinate der Drehtischachse bei der wiederholten Lagebestimmung der Drehtischachse herangezogen werden.
Die Werte ΔΧ und ΔΥ werden auch als X-Offset oder Y-Offset bezeichnet. Im Spezialfall können ΔΧ und/oder ΔΥ Null sein, sodass kein Offset besteht. Da der erste Antastkörper bezüglich der X-Koordinate seines ersten Referenzpunkts ortsfest zur X-Koordinate der Drehtischachse ist, ist ΔΧ konstant und kann zu einem späteren Zeitpunkt zur Bestimmung der X-Koordinate der Drehtischachse herangezogen werden. Entsprechendes gilt für ΔΥ und den zweiten Antastkörperreferenzpunkt. Die Werte ΔΧ und ΔΥ können in den Messrechner eingegeben werden und von einer speziell angepassten Messsoftware bearbeitet werden.
Die Art des ersten und des zweiten Antastkörpers ist nicht besonders beschränkt, solange an oder in dem Antastkörper ein zeitlich und relativ zum Körper unveränderlicher Referenzpunkt definiert werden kann, welcher reproduzierbar mit dem Messsystem des KMG erfasst werden kann. Insbesondere, und ohne Beschränkung darauf, sind die Antastkörper ausgewählt aus einem Ring, einer Scheibe, einem Zylinder, einem Hohlzylinder, einer Kugel, einem Endmaß, einem Innenkegel, und einem Kugeltripel für selbstzentrierende Antastungen, oder einer Kombination davon. Ein Beispiel eines Rings ist ein Lehrring, der eine sehr geringe Rundheitsabweichung aufweist, aber einen beliebigen Durchmesser aufweisen kann. Bei einem Ring, einer Scheibe, einem Zylinder, einem Hohlzylinder oder einer Kugel kann an mehreren Punkten mit dem Messsystem des KMG angetastet werden und daraus der Mittelpunkt des Rings, der Scheibe des Zylinders oder der Kugel bestimmt werden. Insbesondere beim Antasten durch Scannen erhält man eine sehr gute Reproduzierbarkeit der Koordinate des Referenzpunkts, beispielsweise des Ring- oder Kugelmittelpunkts. Bei einem rotationssymmetrischen Antastkörper ist es bevorzugt, einen Kreisscann durchzuführen, vorzugsweise in konstanter Z-Höhe. Scannen bedeutet erfindungsgemäß das stetige, ununterbrochene Antasten einer Kontur mit laufender (dynamischer) Messwertübernahme, wodurch eine dichte Punktefolge entsteht. Durch das Scannen von vielen Punkten werden Ungenauigkeiten aufgrund der Antastreproduzierbar- keit minimiert oder ausgeschlossen. Bei Verwendung eines Endmaßes eines Antastkörpers reicht eine Antastung aus, um den zugeordneten Referenzpunkt zu bestimmen. Der Vorteil ist das Einsparen von Messzeit.
In einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens erfolgt das Antasten im Schritt a) b) und c) mit einem Referenztaster. Ein Referenztaster ist ein Taster, dessen Form genau bekannt ist, und bei dem vorzugsweise auch weitere Eigenschaften, wie z. B. Biegesteifigkeit eines Schaftes, genau bekannt sind. Speziell ist die Form eines Tastelements des Referenztasters genau bekannt, beispielsweise die genaue Form einer Tastkugel, die von einer idealen Kugelform abweichen kann. Dadurch können Ungenauigkeiten wegen ungenauer Tasterdaten minimiert oder ausgeschlossen werden. Auch bei Schritt d) kann ein Referenztaster eingesetzt werden, was bevorzugt ist. In Schritt d) kann stattdessen ein Messtaster eingesetzt werden, der auch im laufenden Messbetrieb eingesetzt wird und dessen Form in der Regel weniger genau bekannt ist als bei einem Referenztaster. Die Verwendung eines Messtasters kann dann sinnvoll sein, wenn keine höchste Genauigkeit gefordert wird aber dafür kürzere Messzeit und wenn dadurch ein Tasterwechsel eingespart werden kann.
In einem weiteren Aspekt betrifft die Erfindung ein Koordinatenmessgerät, aufweisend eine Anordnung aus
- einem Drehtisch,
- einem neben dem Drehtisch angebrachten ersten Antastkörper mit einem ersten Antastkörper-Referenzpunkt , der relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse ortsfest positioniert ist,
- einem neben dem Drehtisch angebrachten zweiten Antastkörper mit einem zweiten Antastkörper-Referenzpunkt, der relativ zur Y-Koordinate der Drehtischachse ortsfest positioniert ist.
Das Koordinatenmessgerät kann in beliebiger Kombination alle gegenständlichen Merkmale aufweisen, die bereits zuvor bei dem erfindungsgemäßen Verfahren beschrieben wurden. Insbesondere ist das Koordinatenmessgerät zur Durchführung des vorangehend beschriebenen Verfahrens eingerichtet. Insbesondere weist das Koordinatenmessgerät einen Messrechner und eine Messsoftware auf, die zur Durchführung des vorangehend beschriebenen, erfindungsgemäßen Verfahrens eingerichtet sind. Insbesondere sind der Messrechner und die Messsoftware eingerichtet zur Durchführung des eingangs beschriebenen Verfahrens.
Insbesondere weist das Koordinatenmessgerät eine Steuerung auf, die zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens eingerichtet ist.
Die für das Verfahren verwendeten Koordinaten der Antastkörper-Referenzpunkte können beispielsweise in der Steuerung oder in dem Messrechner hinterlegt werden oder hinterlegt sein, beispielsweise in Form einer Datei, sodass die Steuerung und/oder der Messrechner diese Informationen aufweist.
Es ist in einer speziellen Ausführungsform auch möglich, einen Unterschied ΔΧ zwischen der X- Koordinate des ersten Antastkörper-Referenzpunkts und der zuvor ermittelten X-Koordinate der Drehtischachse, und einen Unterschied ΔΥ zwischen der Y-Koordinate des zweiten Antastkörper-Referenzpunkts und der der zuvor ermittelten Y-Koordinate der Drehtischachse in der Steuerung oder in dem Messrechner zu hinterlegen, sodass die Steuerung und/oder der Messrechner diese Informationen aufweist. Die Steuerung und/oder der Messrechner können insbesondere gespeicherte Werte ΔΧ und ΔΥ zur Bestimmung der X-Koordinate und der Y- Koordinate der Drehtischachse, heranziehen.
In einer weiteren Ausführungsform ist die Steuerung ausgestaltet, einen Betrieb des Koordina- tenmessgeräts so zu steuern, dass das Koordinatenmessgerät den ersten Antastkörper und den zweiten Antastkörper antastet und vorzugsweise daraus erhaltene Antastinformationen, wie Koordinaten von Antastkörper-Referenzpunkten, auszuwerten.
Generell gilt, dass statt einer Hinterlegung von Informationen im KMG, z.B. in einem entsprechenden digitalen Datenformat in einem Datenspeicher, auf den die Steuerung des KMG Zugriff hat, auch eine Hinterlegung in einem vom KMG separaten Speicher möglich ist, wobei das KMG dann für dessen Betrieb vorzugsweise Zugriff auf den Speicher hat. Die Erfindung betrifft auch die Verwendung eines Koordinatenmessgeräts, insbesondere des vorangehend beschriebenen Koordinatenmessgeräts, zur Durchführung des vorangehend beschriebenen Verfahrens.
In einer speziellen Ausführungsform des erfindungsgemäßen Koordinatenmessgeräts ist der erste Antastkörper in Y-Richtung variabel positionierbar und/oder der zweite Antastkörper ist in X-Richtung variabel positionierbar. Die Vorteile dieser Ausführungsform wurden bereits bei dem Verfahren erläutert.
Ferner gehört zum Umfang der Erfindung ein Computerprogramm, das zumindest die Schritte b), c) und d), optional auch a), des oben beschriebenen Verfahrens durchführt und/oder steuert. Insbesondere weist das Computerprogramm Programmcode-Mittel auf, die auf einem computerlesbaren Datenträger gespeichert sein können. Das Computerprogramm kann in dem KMG oder in einem vom KMG separaten Speicher hinterlegt sein. Beispielsweise kann das Computerprogramm in einem Datenspeicher hinterlegt sein, auf den die Steuerung des KMG Zugriff hat, oder in einem Datenspeicher, der Teil der Steuerung ist, oder in einem Datenspeicher, der Teil des Messrechners ist.
Außerdem gehört zum Umfang der Erfindung ein Datenträger, auf dem eine Datenstruktur gespeichert ist, die nach einem Laden in einen Arbeits- und/oder Hauptspeicher eines Computers oder Computer-Netzwerkes zumindest die Schritte b), c) und d), optional auch a), des oben beschriebenen Verfahrens durchführt.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand spezieller Ausführungsbeispiele beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 die Lage einer Drehtischachse und eines Werkstücks in einem Gerätekoordinatensystem,
Fig. 2 das Einmessen einer Drehtischachse mit der 1 -Kugel-Methode,
Fig. 3 das Einmessen einer Drehtischachse mit der Prüfzylinder-Methode, Fig. 4 die Positionierung zweier Antastelemente relativ zur Drehtischachse, und
Fig. 5 ein Durchführungsschema des erfindungsgemäßen Verfahrens.
Die Fig. 1 zeigt ein Gerätekoordinatensystem GKS mit den Achsen X, Y und Z und dem Ursprung bzw. Referenzpunkt R im Nullpunkt des Gerätekoordinatensystems. Die Achsen des Gerätekoordinatensystems GKS werden auch als KMG-Achsen bezeichnet. Auf einem Messtisch 1 aus Hartgestein ist ein Drehtisch 2 aufgebracht, der um die Drehtischachse D relativ zur Platte 1 rotierbar ist. Die Drehtischachse definiert die genaue Position des Drehtisches bezüglich des Geräte-Nullpunkts (Referenzpunktes) R sowie die Verkippung bezüglich der Achsen des Gerätekoordinatensystems GKS, also die Lage im GKS. Der Drehtisch 3 trägt das Werkstück 4 mit dem zugehörigen Werkstückkoordinatensystem WKS, das durch die Koordinatenachsen X', Y' und Z' definiert ist. Die Antastpunkte, die im erfindungsgemäßen Verfahren ermittelt werden, beziehen sich auf das Gerätekoordinatensystem GKS, welches parallel zu den Verfahrachsen des KMG liegt.
Alle Messelemente, Prüfmerkmale und Koordinatensysteme werden bei der Drehung des Drehtisches rechnerisch um die Drehtischachse D gedreht. Fehler beim Einmessen der Drehtischachse D wirken sich unmittelbar auf die Messgenauigkeit aus. In den nachfolgenden Fig. 2 und 3 sind Methoden zum Einmessen der Drehtischachse D vorgestellt, die beispielhaft in Schritt a) des erfindungsgemäßen Verfahrens Anwendung finden können.
In der Fig. 2 ist die 1 -Kugel-Methode zum Einmessen der Drehtischachse D beschrieben. Die Achsen des Gerätekoordinatensystems GKS sind bezeichnet mit XKMG, YKMG und ZKMG- Zur Bestimmung der Drehachse einer bezüglich der Basis drehbaren Werkstückhalterung, das heisst bei einem Koordinatenmessgerät mit sogenanntem Drehtisch, sieht die Norm VDI/VDE 2617 Blatt 4 bei dem sogenannten "3D-a Test" zur Einmessung der Drehachse im Koordinatensystem der Basis ein Verfahren vor. Auf einem Drehtisch 3 wird eine Kugel 5 außerhalb einer Drehachse 7 des Drehtischs dicht über der Drehtischoberfläche fest montiert. Die Oberfläche der Kugel wird mit der Tastspitze des Koordinatenmessgeräts abgetastet, um hieraus den Mittelpunkt 9 der Kugel zu bestimmen. Die Bestimmung des Kugelmittelpunkts wird in wenigstens drei verschiedenen Drehstellungen des Drehtischs bezüglich der Drehachse wiederholt. Mit den so gewonnenen Kugelmittelpunkten 9, 9', 9", 9"' werden eine Ebene und ein Kreismittelpunkt bestimmt. Das Lot im Kreismittelpunkt auf die Ebene ist dann die Drehachse des Drehtischs im Koordinatensystem (XKMG, YKMG, ZKMG) des Koordinatenmessgeräts. Selbst dann, wenn eine zu den Richtungen XKMG und YKMG orientierte Verschiebeachse Z'KMG des Koordinatenmessgeräts nicht exakt orthogonal zu den Richtungen XKMG und YKMG steht, eine sogenannte Rechtwinklig- keitsabweichung bzw. Rechtwinkligkeitsfehler, vorliegt, ergibt dieses Verfahren die korrekte Orientierung der Drehtischachse im rechtwinkligen Koordinatensystem des Koordinatenmessgeräts, das heißt die eingemessene Drehtischachse stimmt mit der mechanischen Rotationsachse des Drehtischs überein.
Werden nachfolgend allerdings beispielsweise Werkstücke vermessen, die sich in z-Richtung von der Drehtischoberfläche weg erstrecken, so ergeben sich aufgrund einer Rechtwinkligkeits- abweichung zwischen den Richtungen Z'KMG und YKMG bzw. XKMG mit zunehmendem Abstand von der aus den Kugelmittelpunkten 9, 9', 9", 9"' bestimmten Ebene Messfehler. In einem solchen Fall wird die Drehtischachse mit dem nachfolgend anhand der Figur 3 erläuterten Verfahren bestimmt:
Es wird auf dem Drehtisch 3 mit mechanischer Rotationsachse 7 ein zylindrischer Prüfkörper 1 1 fest angebracht, wobei dessen Zylinderachse mit 12 bezeichnet ist. In einer Ebene nahe der Drehtischoberfläche wird ein Umfang 13 des Zylinders abgetastet, und in einer von der Drehtischoberfläche weiter entfernten Ebene wird ein weiterer Umfang 14 des Zylinders abgetastet. Aus den beiden Umfängen bzw. Querschnitten 13, 14 wird die Zylinderachse ermittelt. Da allerdings die Verschiebeachse Z'KMG des Koordinatenmessgeräts um einen Winkel dR von der zu den Richtungen XKMG und YKMG orthogonalen Richtung ZKMG abweicht, fällt die berechnete Zylinderachse 15 nicht mit dessen mechanischer Zylinderachse 12 zusammen. Es wird nun der Drehtisch um 180 ° verdreht, und in der neuen Drehstellung wird ein unterer Querschnitt 13' und ein oberer Querschnitt 14' vermessen. Es ergibt sich hieraus eine in dieser Drehstellung ermittelte Zylinderachse 15'. Es wird sodann eine Drehtischachse 16 berechnet, welche die Symmetrieachse zu den in den beiden Drehstellungen ermittelten Zylinderachsen 15 und 15' bildet. Die so berechnete Drehtischachse 16 weicht ebenfalls um den Winkel dR von der mechanischen Rotationsachse 7 des Drehtischs ab. Allerdings werden bei der so ermittelten Drehtischachse Messfehler, die aufgrund der Rechtwinkligkeitsabweichung dR erzeugt werden, bei der Antastung von zylindrischen Werkstücken, die sich in z-Richtung erstrecken, unterdrückt. Dieses Verfahren setzt hohe Anforderungen an die Präzision des zylindrischen Prüfkörpers 1 1 . Die Be- Stimmung der Zylinderachse 15 ist limitiert durch die Präzision, mit der die Querschnitte 13, 14 ausgemessen werden. Diese Präzision kann bei diesem Verfahren limitiert sein durch eine Rechtwinkligkeitsabweichung zwischen den Achsen XKMG und YKMG sowie Längenmessabwei- chungen in den Richtungen XKMG und YKMG-
Eine weitere Methode zur Bestimmung der Lage einer Drehachse in einem Gerätekoordinatensystem wird in WO02090879A2 vorgestellt. Es wird ein Testobjekt eingesetzt, welches wenigstens zwei Testkörper umfasst, die eine solche Oberfläche aufweisen, dass durch Antasten der Oberfläche mit der Tastspitze Koordinaten von wenigstens einem bezüglich der Oberfläche des Testkörpers fest bzw. reproduzierbar angeordneten Bezugspunkt des Testkörpers im Koordinatensystem der Basis (d.h. dem Gerätekoordinatensystem) bestimmbar sind. Ein möglicher Testkörper ist eine präzise gefertigte Kugel oder ein Quader. Im Fall einer Kugel stellt die Methode der WO02090879A2 eine 2-Kugelmethode dar, die im allgemeinen Teil der Beschreibung genannt ist. Es ist auch möglich, einen selbstzentrierenden Antastkörper, wie etwa ein Kugeltri- pel oder einen Konus einzusetzen. Wird beispielsweise eine Kugel als Testkörper eingesetzt, so kann durch Antasten der Kugeloberfläche dann eindeutig der Kugelmittelpunkt im Koordinatensystem der Basis bestimmt werden. Die beiden Testkörper werden derart an der Werkstückhal- terung bzw. auf dem Drehtisch angebracht, dass sie in Richtung der Drehachse einen Abstand voneinander aufweisen. Eine noch detailliertere Beschreibung der Methode ist angegeben in WO02090879A2, Seite 5 bis einschließlich Seite 10 und in den Patenansprüchen der
WO02090879A2. Die Methode ist in den Figuren 4-10 der WO02090879A2 und der zugehörigen Figurenbeschreibung auf S. 12 bis einschließlich Seite 25 beschrieben. Auf die genannte Offenbarung der WO02090879A2 wird zur Erläuterung der vorliegenden Erfindung ausdrücklich Bezug genommen.
Die weiteren Schritte des erfindungsgemäßen Verfahrens sind anhand der Fig. 4 erläutert. Der Blick des Betrachters fällt in Z-Richtung auf die X/Y-Ebene des Gerätekoordinatensystems, sodass die Z-Achse des Gerätekoordinatensystems senkrecht zur Zeichnungsebene steht. Der Blick des Betrachters fällt beispielsweise auf einen Messtisch des KMG, auf dem ein Drehtisch 3 positioniert ist. Neben dem Drehtisch 3 mit der Drehtischachse D sind ein erster Antastkörper 20 und ein zweiter Antastkörper 21 angebracht. In diesem speziellen Fall sind die Antastkörper 20, 21 Lehrringe. Die Größe des Drehtisches 3 und die Größe der Lehrringe 20, 21 sind nicht maßstäblich gezeichnet. Im realen Fall wäre der Drehtisch 3 gegenüber den Lehrringen 20, 21 größer. Auch die Lage von Drehtisch 3 und den Antastkörpern 20, 21 in dem eingezeichneten Gerätekoordinatensystem ist nicht maßstäblich. Die Antastkörper 20, 21 können beispielsweise auf dem Messtisch des KMG befestigt sein. Der erste Lehrring 20 hat den Ringmittelpunkt R1 als ersten Antastkörper-Referenzpunkt. Der zweite Lehrring 21 weist den Ringmittelpunkt R2 als zweiten Antastkörper-Referenzpunkt auf. Im vorliegenden Beispiel hat das KMG einen Messbereich von X = 850 und von Y = 1000. Die Drehtischachse D ist an den Koordinaten X = 300 und Y = -600 positioniert. Der Referenzpunkt R1 des Lehrrings 20 ist bei X = 300 und Y = -100 positioniert. D.h. die X-Koordinate von R1 ist identisch mit der X-Koordinate von D. Beide X-Koordinaten können aber auch eine Abweichung (Offset) ΔΧ aufweisen. Entscheidend ist, dass die X-Koordinate von R1 relativ zur X-Koordinate von D nicht veränderlich ist. Die bei Y = - 100 befindliche Y-Koordinate von R1 kann veränderlich sein, beispielsweise durch Verschiebbarkeit des Lehrrings 20 in Richtung der Achse YKMG- Der Referenzpunkt R2 des Lehrrings 21 ist an den Koordinaten X = 800 / Y = -600 positioniert, d.h. R2 hat die Y-Koordinate mit der Drehtischachse D gemeinsam. Die Y-Koordinaten müssen nicht identisch sein, aber sie sind relativ zueinander nicht veränderlich. Die X-Koordinate von R2 kann veränderlich sein, beispielsweise durch Verschiebbarkeit des Lehrrings 21 in Richtung der Achse XKMG- Die Lehrringe 20, 21 können mit einer Positionierungsvorrichtung, z.B. einer Schablone, so neben dem Drehtisch 3 angebracht werden, dass bei dem Lehrring 20 die X-Koordinate von R1 und bei dem Lehrring 21 die Y-Koordinate von R2 in etwa oder exakt mit den entsprechenden Koordinaten von der Drehtischachse D übereinstimmt, je nach Genauigkeit der Positionierungsvorrichtung. Die genaue Verortung der Koordinaten von R1 und R2 folgt anschließend durch Antasten der Lehrringe 20, 21 auf der Außenseite oder auf der Innenseite, je nach Art der Lehrringe, mit dem Messsystem des KMG, genauer gesagt mit einem Taster, vorzugsweise im Scanning-Modus. Die Lage der Drehtischachse D im Gerätekoordinatensystem wird mit dem Messsystem des KMG einmalig nach einem bekannten Verfahren bestimmt, z.B. eines wie anhand der Fig. 2 oder 3 erläutert. Danach sind die relativen Positionen von D, R1 und R2 bekannt. Die Koordinaten von D, R1 und R2 können in den Messrechner bzw. die Messsoftware automatisch oder manuell eingegeben werden. Für spätere Bestimmungen der Lage der Drehtischachse D im Gerätekoordinatensystem müssen lediglich die Lehrringe 20 und 21 angetastet und die Koordinaten von R1 und R2 neu bestimmt werden. Daraus lässt sich zu jedem späteren Zeitpunkt auf einfache Weise die Lage der Drehtischachse D im Gerätekoordinatensystem errechnen. Wie oben gesagt, fällt der Blick des Betrachters beispielsweise von oben auf einen Messtisch oder eine Basis des KMG. Die Achsen X und Y sind nur schematisch dargestellt. Die Z-Achse verläuft in Blickrichtung.
An sich bekannte weitere bauliche Teile eines KMG sind in Fig. 4 nicht näher dargestellt. Das KMG kann beispielsweise ein KMG in Brückenbauart sein, wie in US201 10000277 in der dortigen Fig. 1 beispielhaft dargestellt und in baulichen Details beschrieben. Ebenfalls nicht dargestellt sind eine Steuerung und ein Messrechner, die Teil eines KMG sind und auf bekannte Art und Weise in das KMG integriert sind.
In der Fig. 5 ist ein Durchführungsschema des erfindungsgemäßen Verfahrens in seinen Einzelschritten dargestellt. In Schritt S1 erfolgt das Antasten eines auf dem Drehtisch 3 befindlichen Prüfkörpers 9 in mehreren Drehtischstellungen mit dem Messsystem des KMG und die Bestimmung der X-Koordinate und der Y-Koordinate der Drehtischachse D im Gerätekoordinatensystem (XKMG, YKMG, ZKMG, Z'KMG) aus den Antastpunkten. Dieser Schritt wurde bereits anhand der Fig. 2 am Beispiel der 1 -Kugel-Methode erläutert. Das Antasten kann beispielsweise mit einem an sich bekannten Tastelement erfolgen, beispielsweise einer Tastkugel.
Die weiteren Schritte S2 und S3 erfolgen unter Verwendung von Antastkörpern 20 und 21 , die in der Fig. 4 bereits erläutert wurden. In Schritt S2 erfolgt ein Antasten des ersten Antastkörpers 20, der neben dem Drehtisch 3 angebracht ist und der den relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse D ortsfest positionierten ersten Antastkörper-Referenzpunkt R1 aufweist, mit dem Messsystem des KMG und die Bestimmung der X-Koordinate des ersten Antastkörper- Referenzpunkts R1 . Das Antasten kann beispielsweise mit einem an sich bekannten Tastelement erfolgen. In Schritt S2 erfolgt ein Antasten des zweiten Antastkörpers 21 , der neben dem Drehtisch 3 angebracht ist und der den relativ zur Y-Koordinate der Drehtischachse D ortsfest positionierten zweiten Antastkörper-Referenzpunkt R2 aufweist, mit dem Messsystem des KMG und die Bestimmung der Y-Koordinate des zweiten Antastkörper-Referenzpunkts R2. Die zeitliche Reihenfolge der Schritte S1 , S2 und S3 ist prinzipiell beliebig, wobei Schritt S1 nur einmalig durchgeführt werden muss. Die Schritte S2 und S3 können beliebig zu späteren Zeitpunkten wiederholt werden.

Claims

Patentansprüche:
1 . Verfahren zur Bestimmung der Lage einer Drehtischachse (D) im Gerätekoordinatensystem eines Koordinatenmessgeräts, umfassend:
a) Antasten eines auf dem Drehtisch (3) befindlichen Prüfkörpers (9) in mehreren Drehtischstellungen mit einem Messsystem des KMG und Bestimmung der X-Koordinate und der Y-Koordinate der Drehtischachse (D) im Gerätekoordinatensystem (XKMG, YKMG, KMG, Z'KMG) aus den Antastpunkten,
dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren weiterhin umfasst:
b) Antasten eines ersten Antastkörpers (20), der neben dem Drehtisch (3) angebracht ist und der einen relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse (D) ortsfest positionierten ersten Antastkörper-Referenzpunkt (R1 ) aufweist, mit dem Messsystem des KMG und Bestimmung der X-Koordinate des ersten Antastkörper-Referenzpunkts
(R1 ).
c) Antasten eines zweiten Antastkörpers (21 ), der neben dem Drehtisch (3) angebracht ist und der einen relativ zur Y-Koordinate der Drehtischachse (D) ortsfest positionierten zweiten Antastkörper-Referenzpunkt (R2) aufweist, mit dem Messsystem des KMG und Bestimmung der Y-Koordinate des zweiten Antastkörper-Referenzpunkts (R2),
d) Wiederholen der Schritte b) und c) an einem oder mehreren späteren Zeitpunkten und Bestimmen der X-Koordinate und der Y-Koordinate der Drehtischachse an dem späteren Zeitpunkt, oder an den späteren Zeitpunkten, aus der X-Koordinate des ersten Antastkörper-Referenzpunkts (R1 ) und der Y-Koordinate des zweiten Antastkörper-Referenzpunkts (R2).
2. Verfahren nach Anspruch 1 , bei dem der erste Antastkörper-Referenzpunkt (R1 ) auf der X-Koordinate, oder nahe bei der X-Koordinate der Drehtischachse (D) positioniert ist.
3. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem der zweite Antastkörper- Referenzpunkt (R2) auf der Y-Koordinate, oder nahe bei der Y-Koordinate der Drehtischachse (D) positioniert ist.
4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem
- ein Unterschied ΔΧ zwischen der X-Koordinate des ersten Antastkörper- Referenzpunkts (R1 ) und der in Schritt a) ermittelten X-Koordinate der Drehtischachse (D) in dem KMG abgespeichert wird,
- ein Unterschied ΔΥ zwischen der Y-Koordinate des zweiten Antastkörper- Referenzpunkts (R2) und der in Schritt a) ermittelten Y-Koordinate der Drehtischachse (D) in dem KMG abgespeichert wird und
- ΔΧ und ΔΥ zur Bestimmung der X-Koordinate und der Y-Koordinate der Drehtischachse (D) in Schritt d) herangezogen werden.
5. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die Antastkörper (20, 21 ) ausgewählt sind aus einem Ring, einer Scheibe, einem Zylinder, einem Hohlzylinder einer Kugel, einem Endmaß, einem Innenkegel, einem Kugeltripel, oder einer Kombination davon.
6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Antasten des ersten Antastkörpers (20) und des zweiten Antastkörpers (21 ) durch Scannen erfolgt.
7. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Antasten in Schritt a)-c), vorzugsweise auch in Schritt d), mit einem Referenztaster erfolgt.
8. Koordinatenmessgerät, aufweisend eine Anordnung aus
- einem Drehtisch (3),
- einem neben dem Drehtisch (3) angebrachten ersten Antastkörper (20) mit einem ersten Antastkörper-Referenzpunkt (R1 ), der relativ zur X-Koordinate der Drehtischachse (D) ortsfest positioniert ist,
- einem neben dem Drehtisch (3) angebrachten zweiten Antastkörper (21 ) mit einem zweiten Antastkörper-Referenzpunkt (R2), der relativ zur Y-Koordinate der Drehtischachse (D) ortsfest positioniert ist.
9. Koordinatenmessgerät nach Anspruch 8, bei dem der erste Antastkörper-Referenzpunkt (R1 ) auf der X-Koordinate, oder nahe bei der X-Koordinate der Drehtischachse (D) positioniert ist.
10. Koordinatenmessgerät nach Anspruch 8 oder 9, bei dem der zweite Antastkörper- Referenzpunkt (R2) auf der Y-Koordinate, oder nahe bei der Y-Koordinate der Drehtischachse (D) positioniert ist.
1 1 . Koordinatenmessgerät nach Anspruch 8, bei dem der erste Antastkörper (20) in Y- Richtung variabel positionierbar ist und/oder der zweite Antastkörper (21 ) in X-Richtung variabel positionierbar ist.
12. Koordinatenmessgerät nach einem der Ansprüche 8 bis 1 1 , das zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 -7 eingerichtet ist.
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