WO2013045210A3 - Konfokale verfahren und vorrichtung zum vermessen homogen reflektierender oberflächen - Google Patents

Konfokale verfahren und vorrichtung zum vermessen homogen reflektierender oberflächen Download PDF

Info

Publication number
WO2013045210A3
WO2013045210A3 PCT/EP2012/067113 EP2012067113W WO2013045210A3 WO 2013045210 A3 WO2013045210 A3 WO 2013045210A3 EP 2012067113 W EP2012067113 W EP 2012067113W WO 2013045210 A3 WO2013045210 A3 WO 2013045210A3
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
point
homogeneously
measuring
reflective surfaces
confocal method
Prior art date
Application number
PCT/EP2012/067113
Other languages
English (en)
French (fr)
Other versions
WO2013045210A2 (de
Inventor
Detlef Gerhard
Werner Gergen
Martin Weber
Original Assignee
Siemens Aktiengesellschaft
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Aktiengesellschaft filed Critical Siemens Aktiengesellschaft
Priority to US14/347,199 priority Critical patent/US20140233040A1/en
Priority to EP12766922.4A priority patent/EP2721370A2/de
Priority to CN201280046873.5A priority patent/CN103842770A/zh
Publication of WO2013045210A2 publication Critical patent/WO2013045210A2/de
Publication of WO2013045210A3 publication Critical patent/WO2013045210A3/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/22Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring depth
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0608Height gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2210/00Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
    • G01B2210/50Using chromatic effects to achieve wavelength-dependent depth resolution

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

Mittels eines konfokalen Sensorsystems (A) wird ein durch dieses erzeugter Brennpunkt (BP), entlang einer zur x-, y-Ebene eines x-, y-, z-Koordinatensystems orthogonalen optischen Achse (4), in eine Soll-z-Koodinate eines zu vermessenden Punktes (P) einer zu vermessenden Oberfläche (7) eines Objektes (B) verschoben, wobei eine von einem Abstand des Brennpunktes (BP) entlang der z-Achse zum Punkt (P) abhängige Lichtintensität (I(z)) des von der Oberfläche (7) reflektierten Lichts erfasst und mit dieser mittels einer Auswerteeinrichtung (21) die Ist-z-Koordinate (Zp) des Punktes (P) bestimmt wird.
PCT/EP2012/067113 2011-09-26 2012-09-03 Verfahren und vorrichtung zum vermessen homogen reflektierender oberflächen WO2013045210A2 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/347,199 US20140233040A1 (en) 2011-09-26 2012-09-03 Methods and Devices for Measuring Homogeneously Reflective Surfaces
EP12766922.4A EP2721370A2 (de) 2011-09-26 2012-09-03 Verfahren und vorrichtung zum vermessen homogen reflektierender oberflächen
CN201280046873.5A CN103842770A (zh) 2011-09-26 2012-09-03 用于测量均匀反射性表面的共焦方法和装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011083421A DE102011083421A1 (de) 2011-09-26 2011-09-26 Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen homogen reflektierender Oberflächen
DE102011083421.4 2011-09-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2013045210A2 WO2013045210A2 (de) 2013-04-04
WO2013045210A3 true WO2013045210A3 (de) 2013-07-11

Family

ID=46968165

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/EP2012/067113 WO2013045210A2 (de) 2011-09-26 2012-09-03 Verfahren und vorrichtung zum vermessen homogen reflektierender oberflächen

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20140233040A1 (de)
EP (1) EP2721370A2 (de)
CN (1) CN103842770A (de)
DE (1) DE102011083421A1 (de)
WO (1) WO2013045210A2 (de)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3100298B1 (de) 2014-01-27 2020-07-15 Veeco Instruments Inc. Waferträger mit haltetaschen mit verbundradien für systeme zur chemischen dampfphasenabscheidung
JP5866573B1 (ja) * 2015-03-23 2016-02-17 マシンビジョンライティング株式会社 検査用照明装置及び検査システム
CN105181298B (zh) * 2015-05-13 2018-02-06 北京理工大学 多次反射式激光共焦长焦距测量方法与装置
US9627239B2 (en) * 2015-05-29 2017-04-18 Veeco Instruments Inc. Wafer surface 3-D topography mapping based on in-situ tilt measurements in chemical vapor deposition systems
WO2017102428A1 (en) 2015-12-18 2017-06-22 Asml Netherlands B.V. Focus monitoring arrangement and inspection apparatus including such an arrangement
JP7193308B2 (ja) * 2018-11-09 2022-12-20 株式会社キーエンス プロファイル測定装置
EP3798777A1 (de) * 2019-09-24 2021-03-31 Siemens Aktiengesellschaft Ereignisorientierte übertragung von prozessmesswerten

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0679864A1 (de) * 1993-09-30 1995-11-02 Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Optischer konfokalapparat
US5737084A (en) * 1995-09-29 1998-04-07 Takaoka Electric Mtg. Co., Ltd. Three-dimensional shape measuring apparatus

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4025577C2 (de) * 1990-08-11 1999-09-09 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zum berührungslosen Messen des Abstands von einem Objekt
JP3560123B2 (ja) * 1998-03-17 2004-09-02 横河電機株式会社 共焦点装置
CN1122821C (zh) * 1999-05-13 2003-10-01 中国科学院上海光学精密机械研究所 共焦扫描检测材料面形的方法
JP4874103B2 (ja) * 2005-04-14 2012-02-15 パナソニック株式会社 外観検査装置及び方法
DE102008017091A1 (de) * 2008-04-02 2009-10-08 Bundesrepublik Deutschland, vertr.d.d. Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie, d.vertr.d.d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt Mikroskop und Verfahren zum Vermessen einer Topografie einer Probe
JP2010121960A (ja) * 2008-11-17 2010-06-03 Nikon Corp 測定装置及び被検物の測定方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0679864A1 (de) * 1993-09-30 1995-11-02 Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Optischer konfokalapparat
US5737084A (en) * 1995-09-29 1998-04-07 Takaoka Electric Mtg. Co., Ltd. Three-dimensional shape measuring apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
US20140233040A1 (en) 2014-08-21
DE102011083421A1 (de) 2013-03-28
EP2721370A2 (de) 2014-04-23
WO2013045210A2 (de) 2013-04-04
CN103842770A (zh) 2014-06-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2013045210A3 (de) Konfokale verfahren und vorrichtung zum vermessen homogen reflektierender oberflächen
GB201320087D0 (en) Six degree-of-freedom laser tracker that cooperates with a remote structured-light scanner
PH12017501215A1 (en) Device for processing a surface
MX2016010256A (es) Metodos y aparatos para monitorear el estado de un objeto en movimiento y sistemas para la inspeccion rapida de un vehiculo.
GB2526038A (en) Multi-mode optical measurement device and method of operation
EP2894491A3 (de) Distanzmessvorrichtung und Verfahren dafür
WO2011029740A3 (de) Vorrichtungen und verfahren zur positionsbestimmung und oberflächenvermessung
WO2011064339A3 (de) Verfahren und anordnung zur taktil-optischen bestimmung der geometrie eines messobjektes
WO2014133646A3 (en) Apparatus and method for three dimensional surface measurement
RU2013135115A (ru) Ручной лазерный дальномер
WO2010057169A3 (en) Device and method for measuring six degrees of freedom
WO2013090631A3 (en) Film thickness monitor
EP1906142A3 (de) Elektrooptisches Entfernungsmessverfahren, Entfernungsmessprogramm und Entfernungsmesssystem
ATE484729T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur beurteilung der relativen raumlage zweier gegenstände
WO2015100403A3 (en) Method and apparatus for precise determination of a position of a target on a surface
EP2515073A3 (de) Verfahren und System zur Positionierung eines Laservibrometers während einer kontaktfreien Abtastung
EP2827170A3 (de) Verfahren und System zur Bestimmung der Position und Orientierung eines Messinstrumentes
WO2010010311A3 (fr) Dispositif optique et procede de mesure de rotation d'un objet
RU2017100254A (ru) Сенсорное устройство, устройство измерения и способ измерений
ATE523798T1 (de) Optoelektronischer sensor zur detektion von objektkanten
ATE518112T1 (de) Einrichtung und verfahren zur nachverfolgung der bewegung eines werkzeuges einer handhabungseinheit
WO2015110250A3 (de) Verfahren zum abbilden eines objektes und optikvorrichtung
FI20116329A (fi) Mittauskohteen mittaus
HK1212779A1 (zh) 借助測量用光學器件確定定距離下的景深的方法及裝置
WO2015155000A3 (de) Tiefenbestimmung einer oberfläche eines prüfobjektes mittels eines farbigen streifenmusters

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 12766922

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A2

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2012766922

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 14347199

Country of ref document: US