WO2012115380A3 - Plaque d'échantillon pour spectromètre de masse maldi-tof, et procédé de spectrométrie de masse utilisant le spectromètre de masse maldi-tof mettant en œuvre la plaque d'échantillon - Google Patents

Plaque d'échantillon pour spectromètre de masse maldi-tof, et procédé de spectrométrie de masse utilisant le spectromètre de masse maldi-tof mettant en œuvre la plaque d'échantillon Download PDF

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Abstract

La présente invention concerne un spectromètre de masse pour un composé et, plus particulièrement, une plaque d'échantillon pour un spectromètre de masse à analyseur à temps de vol à désorption-ionisation laser assistée par matrice (MALDI-TOF) comprenant un nanofil métallique, et concerne également un procédé de spectrométrie de masse utilisant le spectromètre de masse MALDI-TOF incluant le nanofil métallique. A cette fin, la plaque d'échantillon pour spectromètre de masse MALDI-TOF selon la présente invention comprend : une plaque métallique, sur laquelle on forme un oxyde métallique ayant une fonction photocatalytique ; et une tache de nanofil d'oxyde métallique, formée à l'aide d'une pluralité de nanofils d'oxyde métallique formés sur au moins une partie de la surface de la plaque métallique. La croissance du nanofil d'oxyde métallique se fait par fabrication descendante.
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