WO2010126314A2 - 탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지 - Google Patents

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Definitions

  • the present invention relates to a silicon solar cell, and more particularly to a silicon solar cell comprising a carbon nanotube layer located on at least one of the front and rear surfaces of the p-n junction silicon substrate.
  • a solar cell is a semiconductor device that directly converts solar energy into electrical energy using a photovoltaic effect, the basic structure of which is shown in FIG. 1.
  • a solar cell has a junction structure of a p-type semiconductor 110 and an n-type semiconductor 120 like a diode, and when light L is incident on the solar cell, the solar cell forms a semiconductor of the light and the solar cell.
  • the interaction with the material causes the negatively charged electrons and electrons to escape, creating positively charged holes, and as they move, current flows. This is called a photovoltaic effect.
  • the electrons are attracted toward the n-type semiconductor 120 and the holes are attracted to the p-type semiconductor 110 by the electric field formed at the pn junction 115, respectively, and the n-type semiconductor 120 and the p-type semiconductor, respectively.
  • the electrode 140 moves to the electrodes 140 and 130 bonded to the 110, and current flows through the external circuit 150 connected to the electrodes 140 and 130.
  • the technical problem to be solved by the present invention is to provide a silicon solar cell with improved photoelectric conversion efficiency by the introduction of a carbon nanotube layer.
  • an aspect of the present invention provides a pn junction silicon substrate including a p-type silicon layer and an n-type silicon layer, a carbon nanotube layer located on the front or rear surface of the silicon substrate, and the carbon nanotube layer.
  • a silicon solar cell comprising a first electrode located on a surface of a silicon substrate that is not located.
  • the silicon solar cell may further include a second electrode positioned on the carbon nanotube layer.
  • the surface of the silicon substrate on which the carbon nanotube layer is located may have an uneven structure.
  • Another aspect of the present invention to achieve the above technical problem is a silicon aspect comprising a pn junction silicon substrate comprising a p-type silicon layer and an n-type silicon layer, and carbon nanotube layers located on the front and rear surfaces of the silicon substrate Provide a battery.
  • the silicon solar cell may further include an electrode disposed on at least one carbon nanotube layer among carbon nanotube layers positioned on the front and rear surfaces of the silicon substrate.
  • At least one of the front and rear surfaces of the silicon substrate may have an uneven structure.
  • the carbon nanotube layer may be formed on the surface of the p-n junction silicon substrate to increase the intensity of the electric field applied to the device, thereby reducing the recombination rate or recombination rate of the electrons and holes.
  • a new p-n junction may be induced, thereby obtaining a multi-exciton generation (MEG) effect.
  • the carbon nanotube layer when the carbon nanotube layer is located on the p-type silicon layer, the carbon nanotube layer itself has an advantage that the back field (BSF) effect can be obtained. Therefore, the efficiency of the silicon solar cell can be increased by introducing a carbon nanotube layer.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing the basic structure of a solar cell.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a silicon solar cell in which a carbon nanotube layer is located on the front surface of a p-n junction silicon substrate.
  • FIG 3 is a cross-sectional view illustrating a silicon solar cell in which a carbon nanotube layer is located on a rear surface of a p-n junction silicon substrate.
  • FIG 4 is a schematic view showing a carbon nanotube layer located on a surface of a silicon substrate having a flat structure (a) or an uneven structure (b).
  • FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a silicon solar cell in which a carbon nanotube layer is positioned on the front and rear surfaces of a silicon substrate.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of a silicon solar cell not including a carbon nanotube layer prepared according to Comparative Example 1.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of a silicon solar cell not including a carbon nanotube layer prepared according to Comparative Example 1.
  • 8 to 10 are graphs showing photoelectric conversion efficiency of silicon solar cells including carbon nanotube layers prepared according to Preparation Examples 1 to 3, respectively.
  • 11 and 12 are cross-sectional views illustrating silicon solar cells manufactured according to Preparation Example 4 and Preparation Example 5, respectively.
  • FIG. 13 is a cross-sectional view illustrating a silicon solar cell manufactured according to Comparative Example 2.
  • FIG. 15 is a cross-sectional view showing a silicon solar cell manufactured according to Preparation Example 6.
  • 16 is a graph showing the photoelectric conversion efficiency of the silicon solar cell prepared according to Preparation Example 6.
  • a silicon solar cell includes a pn junction silicon substrate including a p-type silicon layer and an n-type silicon layer, a carbon nanotube layer positioned on the front or rear surface of the silicon substrate, and the carbon nanotube layer. And a first electrode located on the surface of the silicon substrate, which is not located, and a second electrode located on the carbon nanotube layer. However, the second electrode positioned on the carbon nanotube layer may be omitted.
  • the silicon solar cell may have an uneven structure on the surface of the silicon substrate on which the carbon nanotube layer is located.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a silicon solar cell in which a carbon nanotube layer is located on the front surface of a p-n junction silicon substrate.
  • the silicon solar cell includes a pn junction silicon substrate 100 including a p-type silicon layer 110 and an n-type silicon layer 120, and a front surface 122 of the silicon substrate 100. on the surface of the n-type silicon layer), the carbon nanotube layer 220, the rear electrode 130 and the carbon nanotube layer 220 located on the back surface 112 of the silicon substrate 100 It includes a front electrode 140 located. However, the front electrode 140 may be omitted.
  • FIG 3 is a cross-sectional view illustrating a silicon solar cell in which a carbon nanotube layer is located on a rear surface of a p-n junction silicon substrate.
  • the silicon solar cell includes a pn junction silicon substrate 100 including a p-type silicon layer 110 and an n-type silicon layer 120, and a back surface 112 of the silicon substrate 100 (ie, on the carbon nanotube layer 210 located on the surface of the p-type silicon layer, on the front electrode 140 and the carbon nanotube layer 210 located on the front surface 122 of the silicon substrate 100. It includes a rear electrode 130 located. However, the back electrode 130 may be omitted.
  • the pn junction silicon substrate 100 is a substrate on which the pn junction 115 of the p-type silicon layer 110 and the n-type silicon layer 120 is formed. It plays a role of generating electric current by power effect.
  • the p-type silicon layer 110 may be, for example, a silicon layer doped with group III elements such as B, Ga, and In
  • the n-type silicon layer 120 may be, for example, P, As, Sb. It may be a silicon layer doped with Group 5 elements, such as.
  • the p-n bonded silicon substrate 100 may be formed by applying an n-type dopant of a Group 5 element to a p-type silicon substrate and then heat-treating the n-type dopant to the p-type silicon substrate. On the other hand, it may be formed by ion doping using plasma or by stacking a p-type emitter silicon layer on an n-type silicon substrate.
  • the present invention is not limited thereto.
  • the thicknesses of the carbon nanotube layers 220 and 210 positioned on the front surface 122 or the rear surface 112 of the pn junction silicon substrate 100 are not particularly limited, solar light may be formed on the surface of the silicon substrate 100.
  • the carbon nanotube layer 220 positioned on the incident front surface 122 it may be preferably formed to a thickness of about 200nm or less. This is because when the thickness of the carbon nanotube layer 220 positioned on the front surface 122 of the silicon substrate 100 exceeds 200 nm, it may partially block sunlight from entering the silicon substrate 100.
  • the carbon nanotubes forming the carbon nanotube layers 220 and 210 are not particularly limited, and may include carbon nanotubes known in the art such as single-walled carbon nanotubes and multi-walled carbon nanotubes.
  • the carbon nanotube layers 220 and 210 may be formed using a spray method, a screen printing method using a paste, or the like. However, the present invention is not limited thereto.
  • the carbon nanotube layers 220 and 210 may be formed using a spray method.
  • the spray method is to disperse the carbon nanotubes in a solvent such as ethanol to prepare a dispersion solution, spray the dispersion solution on the silicon substrate 100, and then a simple heat treatment (for example, at about 80 °C) Heat treatment) has the advantage of easily forming the carbon nanotube layer (220, 210).
  • the strength of the electric field applied to the device may be increased, thereby reducing the recombination rate or recombination rate of electrons and holes.
  • Photoelectric conversion efficiency can be improved.
  • carbon nanotubes generally have the characteristics of a p-type semiconductor, when the carbon nanotube layer is located on an n-type silicon layer, it may induce formation of a new pn junction, thereby generating multiple exciton generation (MEG). The effect can be obtained.
  • the back surface field (BSF) effect can be obtained by the carbon nanotube layer itself. There is an advantage that can omit the process of forming the backside electric field by high temperature heat treatment (to be described later).
  • the surface of the silicon substrate 100 on which the carbon nanotube layers 220 and 210 are positioned may have an uneven structure.
  • FIG 4 is a schematic view showing a carbon nanotube layer located on a surface of a silicon substrate having a flat structure (a) or an uneven structure (b).
  • the carbon is arranged close to the vertical direction with respect to the pn junction surface in the silicon substrate 100.
  • the amount of nanotubes 200 may be increased.
  • the intensity of the electric field applied to the device can be further increased, thereby contributing to the improvement of the photoelectric conversion efficiency.
  • the texturing process for forming the uneven structure is not particularly limited, and wet etching using a base or an acid solution or dry etching using a plasma may be used.
  • the vertical direction of the carbon nanotubes included in the carbon nanotube layers 220 and 210 may be increased by using a rubbing method such as rubbing the carbon nanotube layers 220 and 210 with a rubbing roller.
  • the front electrode 140 may include a metal such as Au, Ag, Pd / Ag, Ti / Au, or the like.
  • the front electrode 140 may be formed by, for example, applying an electrode forming paste containing Ag or Au according to a predetermined pattern and then performing heat treatment, or using the patterned chrome mask as the front electrode.
  • Metal, for example, Ti / Au may be formed by vapor deposition by sputtering.
  • the front electrode 140 may be omitted, in which case the carbon nano having excellent light transmittance and electrical conductivity
  • the tube layer 220 may take the role of the front electrode 140.
  • the back electrode 130 may include, for example, one or more metals selected from the group consisting of Cu, W, Fe, Al, C, Ag, Ni, Ti, and TiN.
  • the back electrode 130 may use an aluminum electrode. This is because the aluminum electrode not only has excellent conductivity but also has good affinity with silicon, so that the aluminum electrode is well bonded.
  • the aluminum electrode may form a P + layer, that is, a back surface field (BSF, not shown), at a junction surface with the back surface 112 of the silicon substrate 100 through a high temperature heat treatment process as a trivalent element. have.
  • BSF back surface field
  • the rear electric field prevents electrons excited by sunlight from inside the silicon substrate 100 to move to the rear side and recombine, thereby reducing leakage current and increasing solar cell efficiency.
  • the back electrode 130 may be formed by applying an electrode forming paste including a metal such as aluminum according to a predetermined pattern and then performing heat treatment.
  • the rear electrode 130 may be omitted. In this case, the carbon nanotube layer 210 as described above. By itself, the effect of the rear field can be obtained.
  • a silicon solar cell includes a pn junction silicon substrate including a p-type silicon layer and an n-type silicon layer, a carbon nanotube layer positioned on the front and rear surfaces of the silicon substrate, and the front and rear surfaces. It includes an electrode located on the carbon nanotube layer positioned on. However, at least one of the electrodes positioned on the carbon nanotube layer may be omitted.
  • the silicon solar cell may have a concave-convex structure on at least one surface of the front and rear of the silicon substrate.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a silicon solar cell in which a carbon nanotube layer is positioned on the front and rear surfaces of a silicon substrate.
  • a silicon solar cell includes a pn junction silicon substrate 100 including a p-type silicon layer 110 and an n-type silicon layer 120, a front surface 122 and a rear surface of the silicon substrate 100 ( Carbon nanotube layers 220 and 210 positioned on 112, and a front electrode 140 and a rear electrode 130 positioned on the carbon nanotube layers 220 and 210 are included. However, at least one of the front electrode 140 and the rear electrode 130 positioned on the carbon nanotube layers 220 and 210 may be omitted.
  • Each configuration and manufacturing method of the silicon solar cell illustrated in FIG. 5 is except that the carbon nanotube layers 220 and 210 are formed on both the front surface 122 and the rear surface 112 of the silicon substrate 100. 2 and 3 are the same as described above.
  • At least one of the front surface 122 and the rear surface 112 of the silicon substrate 100 may have a concave-convex structure, and with reference to the embodiment described with reference to FIG. .
  • p-type silicon wafer manufactured by Siltron, resistivity: 1 to 5 ⁇ m, thickness: 500 ⁇ 5 ⁇ m, doping density: 4.5 x 10 16 ion / cm 3 , Orientation: 100
  • the standard RCA cleaning process includes SC1 (Standard Clean-1) and SC2 (Standard Clean-2) processes.
  • SC1 Standard Clean-1
  • SC2 Standard Clean-2
  • 4 OH: H 2 O 2 : DI-water 1: 1: 5 with a cleaning solution for 5 minutes at 70 °C to remove the metal and organic residue on the wafer cone
  • SPM surfuric acid peroxide mixture or piraha solution
  • a back electrode including Al was formed to a thickness of 200 nm on the rear surface of the pn junction silicon substrate (the surface of the p-type silicon layer) by using a sputtering method, and an RTA process using a halogen lamp ( Run at 850 ° C.) to form a BSF layer.
  • a silicon solar cell was manufactured in the same manner as in Preparation Example 1, except that the carbon nanotube layer was formed on the rear surface of the p-n junction silicon substrate (the surface of the p-type silicon layer).
  • a silicon solar cell was manufactured in the same manner as in Preparation Example 1, except that the carbon nanotube layer was formed on both surfaces (front and back) of the p-n junction silicon substrate.
  • a silicon solar cell was manufactured in the same manner as in Preparation Example 1, except that no carbon nanotube layer was formed (FIG. 6).
  • dark current is a current measured in the absence of light, and current on the light is close to natural light using a Xen lamp. Measured by configuring the light source in the state.
  • the light intensity of the xenon lamp is 4 mW / cm 2
  • the AM (air mass) is 1.5.
  • the photoelectric conversion efficiency of the silicon solar cell may be improved, and in particular, the carbon nanotubes are formed on both sides of the pn junction silicon substrate. It can be seen that the highest efficiency can be obtained when a layer is introduced (Production Example 3).
  • p-type silicon wafer (resistance: 1 to 10 ⁇ m, thickness: 500 ⁇ m, doping density: 2.5 x 10 15 ion / cm 3 Orientation: 100) was prepared, and then soaked for 10 seconds in a 50% HF solution for removal of the native oxide film on the wafer. After adding 4M KOH solution and isopropyl alcohol (isopropylalcohol, IPA) to the etchant in a volume ratio of 14: 1, the wafer was added to the etchant, and anisotropic wet etching was performed at 80 ° C. for 10 minutes to perform p-type silicon. The uneven structure was formed on the surface of the wafer.
  • isopropyl alcohol isopropylalcohol, IPA
  • a silicon solar cell was manufactured in the same manner as in Preparation Example 4, except that the carbon nanotube layer was not formed (FIG. 13).
  • Preparation Example 4 and Preparation Example 5 can be seen that the current density and the photoelectric conversion efficiency is significantly improved compared to Comparative Example 2.
  • the light absorption rate can be increased by the uneven structure formed on the surface of the p-n bonded silicon substrate, and the photoelectric conversion efficiency can be further increased by forming a carbon nanotube layer on the uneven structure.
  • a silicon solar cell was manufactured in the same manner as in Preparation Example 5, except that the back electrode was not formed (FIG. 15).
  • the efficiency of the silicon solar cell including the carbon nanotube layer prepared according to Preparation Example 6 but not including the back electrode is shown in FIG. 16 and Table 3 below.
  • the photoelectric conversion efficiency of Preparation Example 6 shows a value close to about 90% of the photoelectric conversion efficiency of Preparation Example 5. That is, in the case of forming the carbon nanotube layer on the back surface (the surface of the p-type silicon layer) of the pn junction silicon substrate, the high temperature heat treatment process (ie, RTA process) for forming the back electrode and the back electric field is omitted. It can be seen that even in the case of high photoelectric conversion efficiency. This is because the carbon nanotubes formed on the rear surface play a role of the rear electrode, and the carbon nanotube layer itself may obtain the rear field effect.
  • the high temperature heat treatment process ie, RTA process
  • p-n junction silicon substrate 110 p-type silicon layer
  • n-type silicon layer 122 the front

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Abstract

탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지를 제공한다. 탄소나노튜브층은 p형 실리콘층과 n형 실리콘층을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판의 전면 및 후면 중 적어도 한 면 상에 위치한다. 이에 따르면, 탄소나노튜브층의 도입에 의해 소자에 가해지는 전기장의 세기를 증가시켜 광전변환효율을 향상시킬 수 있다.

Description

탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지
본 발명은 실리콘 태양전지에 관한 것으로, 보다 상세하게는 p-n 접합 실리콘 기판의 전면 및 후면 중 적어도 한 면 상에 위치하는 탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지에 관한 것이다.
최근 환경 문제와 고유가 문제에 직면하여 청정 대체에너지 개발에 대한 관심이 높아지면서 태양전지(solar cell 또는 photovoltaic cell)의 개발에도 많은 연구가 이루어지고 있다. 태양전지는 광기전력효과(photovoltaic effect)를 이용하여 태양에너지를 직접 전기에너지로 변환시키는 반도체 소자로서, 그 기본적인 구조는 도 1에 나타낸 바와 같다.
도 1을 참조하면, 태양전지는 다이오드와 같이 p형 반도체(110)와 n형 반도체(120)의 접합 구조를 가지며, 태양전지에 빛(L)이 입사되면 빛과 태양전지의 반도체를 구성하는 물질과의 상호작용으로 (-)전하를 띤 전자와 전자가 빠져나가 (+)전하를 띤 정공이 발생하며, 이들이 이동하면서 전류가 흐르게 된다. 이를 광기전력효과라 하는데, p-n 접합부(115)에 형성되는 전기장에 의해 전자는 n형 반도체(120) 쪽으로, 정공은 p형 반도체(110) 쪽으로 끌어 당겨져 각각 n형 반도체(120) 및 p형 반도체(110)와 접합된 전극(140, 130)으로 이동하게 되고, 이 전극(140, 130)들에 연결된 외부 회로(150)를 통해 전류가 흐르게 된다.
상기와 같은 원리를 가진 태양전지는 크게 실리콘 태양전지와 화합물 반도체태양전지로 분류할 수 있는데, 광전변환효율과 관련하여 그 효율이 높지 않아 많은 문제점들이 지적되어 왔다. 이에 실리콘 태양전지의 광전변환효율의 향상을 위하여 여러 가지 연구들이 행하여져 왔으며, 예를 들어, J. Non-crytal. Solids, 354, 19 (2008) Vacuum, 80, 1090 (2006); Science, 285, 692 (1999). 등 논문에서는, 요철구조 및 반사 방지막을 통하여 반사율을 줄이거나, 후면 전극의 열처리 조건 변화를 통해 소수 캐리어의 재결합을 저감하여 태양전지의 효율을 향상시키고자 하였다. 그러나, 전자-정공의 재결합, 재결합속도, 접촉저항 등에서 극복해야 할 문제점들로 인해 광전변환효율의 향상에 있어서는 주목할 만한 효율의 증가는 보이지 않고 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 탄소나노튜브층의 도입에 의해 광전변환효율이 향상된 실리콘 태양전지를 제공함에 있다.
상기 기술적 과제를 이루기 위하여 본 발명의 일 측면은 p형 실리콘층과 n형 실리콘층을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판, 상기 실리콘 기판의 전면 또는 후면 상에 위치하는 탄소나노튜브층 및 상기 탄소나노튜브층이 위치하지 않는 실리콘 기판의 표면 상에 위치하는 제1 전극을 포함하는 실리콘 태양전지를 제공한다.
상기 실리콘 태양전지는 탄소나노튜브층 상에 위치하는 제2 전극을 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 탄소나노튜브층이 위치하는 실리콘 기판의 표면은 요철 구조를 가질 수 있다.
상기 기술적 과제를 이루기 위하여 본 발명의 다른 측면은 p형 실리콘층과 n형 실리콘층을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판 및, 상기 실리콘 기판의 전면 및 후면 상에 위치하는 탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지를 제공한다.
상기 실리콘 태양전지는 실리콘 기판의 전면 및 후면 상에 위치하는 탄소나노튜브층 중 적어도 하나의 탄소나노튜브층 상에 위치하는 전극을 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 실리콘 기판의 전면 및 후면 중 적어도 한 면은 요철 구조를 가질 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, p-n 접합 실리콘 기판의 표면에 탄소나노튜브층을 형성하여 소자에 가해지는 전기장의 세기를 증가시킬 수 있으므로 전자와 정공의 재결합율 내지 재결합속도를 감소시킬 수 있다. 또한, 탄소나노튜브층이 n형 실리콘층 상에 위치하는 경우에는 새로운 p-n 접합 형성을 유도할 수도 있으므로 다중 여기자 생성(MEG) 효과를 얻을 수 있다. 또한, 탄소나노튜브층이 p형 실리콘층 상에 위치하는 경우에는 탄소나노튜브층 자체만으로도 후면 전계(BSF) 효과를 얻을 수 있는 장점이 있다. 따라서, 탄소나노튜브층의 도입에 의해 실리콘 태양전지의 효율을 증가시킬 수 있다.
다만, 본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 태양전지의 기본적인 구조를 나타낸 단면도이다.
도 2는 탄소나노튜브층이 p-n 접합 실리콘 기판의 전면 상에 위치하는 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 3은 탄소나노튜브층이 p-n 접합 실리콘 기판의 후면 상에 위치하는 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 4는 플랫 구조(a) 또는 요철 구조(b)를 갖는 실리콘 기판의 표면 상에 위치하는 탄소나노튜브층을 나타낸 개략도이다.
도 5는 탄소나노튜브층이 실리콘 기판의 전면 및 후면 상에 위치하는 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 6은 비교예 1에 따라 제조된 탄소나노튜브층을 포함하지 않는 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 7은 비교예 1에 따라 제조된 탄소나노튜브층을 포함하지 않는 실리콘 태양전지의 광전변환효율을 나타낸 그래프이다.
도 8 내지 도 10는 각각 제조예 1 내지 3에 따라 제조된 탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지의 광전변환효율을 나타낸 그래프이다.
도 11 및 도 12는 각각 제조예 4 및 제조예 5에 따라 제조된 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 13은 비교예 2에 따라 제조된 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 14는 제조예 4, 제조예 5 및 비교예 2에 따라 제조된 실리콘 태양전지의 광전변화효율을 나타낸 그래프이다.
도 15는 제조예 6에 따라 제조된 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 16은 제조예 6에 따라 제조된 실리콘 태양전지의 광전변환효율을 나타낸 그래프이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다. 도면들에 있어서, 층 및 영역들의 두께는 명확성을 기하기 위하여 과장된 것이다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다. 또한, 하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 실리콘 태양전지는 p형 실리콘층과 n형 실리콘층을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판, 상기 실리콘 기판의 전면 또는 후면 상에 위치하는 탄소나노튜브층, 상기 탄소나노튜브층이 위치하지 않는 실리콘 기판의 표면 상에 위치하는 제1 전극 및 상기 탄소나노튜브층 상에 위치하는 제2 전극을 포함한다. 다만, 상기 탄소나노튜브층 상에 위치하는 제2 전극은 생략될 수 있다.
또한, 상기 실리콘 태양전지는 상기 탄소나노튜브층이 위치하는 실리콘 기판의 표면에 요철 구조를 가질 수 있다.
도 2는 탄소나노튜브층이 p-n 접합 실리콘 기판의 전면 상에 위치하는 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 2를 참조하면, 실리콘 태양전지는 p형 실리콘층(110)과 n형 실리콘층(120)을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판(100), 상기 실리콘 기판(100)의 전면(122)(즉, n형 실리콘층의 표면) 상에 위치하는 탄소나노튜브층(220), 상기 실리콘 기판(100)의 후면(112) 상에 위치하는 후면 전극(130) 및 상기 탄소나노튜브층(220) 상에 위치하는 전면 전극(140)을 포함한다. 다만, 상기 전면 전극(140)은 생략될 수 있다.
도 3은 탄소나노튜브층이 p-n 접합 실리콘 기판의 후면 상에 위치하는 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 3을 참조하면, 실리콘 태양전지는 p형 실리콘층(110)과 n형 실리콘층(120)을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판(100), 상기 실리콘 기판(100)의 후면(112)(즉, p형 실리콘층의 표면) 상에 위치하는 탄소나노튜브층(210), 상기 실리콘 기판(100)의 전면(122) 상에 위치하는 전면 전극(140) 및 상기 탄소나노튜브층(210) 상에 위치하는 후면 전극(130)을 포함한다. 다만, 상기 후면 전극(130)은 생략될 수 있다.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 p-n 접합 실리콘 기판(100)은 p형 실리콘층(110)과 n형 실리콘층(120)의 p-n 접합(115)이 형성된 기판으로서, 빛을 받아 광기전력효과에 의해 전류를 발생시키는 역할을 한다. 상기 p형 실리콘층(110)은 예를 들어, B, Ga, In 등의 3족 원소들이 도핑되어 있는 실리콘층일 수 있으며, 상기 n형 실리콘층(120)은 예를 들어, P, As, Sb 등의 5족 원소들이 도핑되어 있는 실리콘층일 수 있다.
상기 p-n 접합 실리콘 기판(100)은 p형 실리콘 기판에 5족 원소의 n형 도펀트(dopant)를 도포한 후 열처리하여 n형 도펀트를 p형 실리콘 기판으로 확산시킴으로써 형성할 수 있다. 한편, 플라즈마를 이용한 이온도핑에 의하거나, n형 실리콘 기판 상에 p형 이미터 실리콘층을 적층하여 형성할 수도 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 p-n 접합 실리콘 기판(100)의 전면(122) 또는 후면(112) 상에 위치하는 탄소나노튜브층(220, 210)의 두께는 특별히 제한되지는 않지만, 실리콘 기판(100) 표면 중 태양광이 입사되는 전면(122) 상에 위치하는 탄소나노튜브층(220)의 경우, 바람직하게는 약 200nm 이하의 두께로 형성할 수 있다. 이는 실리콘 기판(100)의 전면(122) 상에 위치하는 탄소나노튜브층(220)의 두께가 200nm를 초과하는 경우, 태양광이 실리콘 기판(100) 내로 들어오는 것을 일정 부분 차단할 수 있기 때문이다. 상기 탄소나노튜브층(220, 210)을 형성하는 탄소나노튜브는 특별히 제한되는 것은 아니며, 단일벽 탄소나노튜브, 다중벽 탄소나노튜브 등 당업계에서 공지된 탄소나노튜브를 포함할 수 있다.
상기 탄소나노튜브층(220, 210)은 스프레이(spray)법, 페이스트(paste)를 이용한 스크린 프린팅(screen printing)법 등을 이용하여 형성할 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니다. 바람직하게는 상기 탄소나노튜브층(220, 210)은 스프레이법을 이용하여 형성할 수 있다. 상기 스프레이법은 탄소나노튜브를 에탄올 등의 용매에 분산시켜 분산 용액을 제조하고, 그 분산용액을 실리콘 기판(100) 상에 분무한 후, 후속 공정으로 간단한 열처리(예를 들어, 80℃ 정도에서의 열처리)를 통해 용이하게 탄소나노튜브층(220, 210)을 형성할 수 있는 이점이 있다.
이와 같이, p-n 접합 실리콘 기판(100) 상에 탄소나노튜브층(220, 210)을 형성하는 경우, 소자에 가해지는 전기장의 세기를 증가시킬 수 있으므로 전자와 정공의 재결합율 내지 재결합속도를 감소시켜 광전변환효율을 향상시킬 수 있다. 또한, 탄소나노튜브는 대체로 p형 반도체의 성격을 가지므로, 탄소나노튜브층이 n형 실리콘층 상에 위치하는 경우에는 새로운 p-n 접합 형성을 유도할 수도 있으므로 다중 여기자 생성(multiple exciton generation, MEG) 효과를 얻을 수 있다. 또한, 탄소나노튜브층이 p형 실리콘층 상에 위치하는 경우에는 탄소나노튜브층 자체로도 후면 전계(back surface field, BSF) 효과를 얻을 수 있으므로, 후면 전극(특히, Al 전극)의 증착과 고온 열처리에 의한 후면 전계 형성과정(후술함)을 생략할 수 있는 장점이 있다.
또한, 상기 탄소나노튜브층(220, 210)이 위치하는 실리콘 기판(100)의 표면은 요철 구조를 가질 수 있다.
도 4는 플랫 구조(a) 또는 요철 구조(b)를 갖는 실리콘 기판의 표면 상에 위치하는 탄소나노튜브층을 나타낸 개략도이다.
도 4를 참조하면, 실리콘 기판(100) 표면 상에 요철 구조(b)를 형성함으로써, 수광면에서의 광흡수율 증가 이외에, 실리콘 기판(100) 내의 p-n 접합면에 대하여 수직 방향에 가깝게 배열되는 탄소나노튜브(200)의 양을 증가시킬 수 있다. 이 경우, 도 4에 도시된 등전위면(E)에서 알 수 있는 바와 같이 소자에 가해지는 전기장의 세기를 더욱 증가시킬 수 있으므로 광전변환효율 향상에 기여할 수 있다. 상기 요철 구조를 형성하기 위한 텍스쳐링(texturing) 공정은 특별히 제한되는 것은 아니며, 염기 또는 산 용액을 이용한 습식식각이나, 플라즈마를 이용한 건식식각을 이용할 수 있다.
한편, 상기 요철 구조를 형성하지 않는 경우에는 상기 탄소나노튜브층(220, 210)을 형성한 후, 탄소나노튜브층(220, 210)을 접착성 테이프로 붙였다가 분리하는 테이핑(tapping)법 또는 탄소나노튜브층(220, 210)을 러빙 롤러 등으로 마찰시키는 러빙(rubbing)법 등을 이용하여 탄소나노튜브층(220, 210)에 포함된 탄소나노튜브의 수직 방향성을 증가시킬 수도 있다.
다시 도 2 및 도 3을 참조하면, 상기 전면 전극(140)은 Au, Ag, Pd/Ag, Ti/Au 등의 금속을 포함할 수 있다. 상기 전면 전극(140)은, 예를 들어, Ag 또는 Au를 포함하는 전극 형성용 페이스트를 소정의 패턴에 따라 도포한 후 열처리하여 형성하거나, 패턴이 형성된 크롬 마스크를 사용하여 상기 전면 전극으로 사용할 수 있는 금속, 일 예로, Ti/Au를 스퍼터링법에 의해 증착함으로써 형성할 수 있다. 다만, 실리콘 기판(100)의 전면(122) 상에 탄소나노튜브층(220)이 위치하는 경우, 상기 전면 전극(140)은 생략될 수도 있으며, 이 경우 우수한 광투과성 및 전기 전도성을 갖는 탄소나노튜브층(220)이 전면 전극(140)의 역할을 대신할 수 있다.
상기 후면 전극(130)은 예를 들어, Cu, W, Fe, Al, C, Ag, Ni, Ti 및 TiN로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상의 금속을 포함할 수 있다. 바람직하게는 상기 후면 전극(130)은 알루미늄 전극을 사용할 수 있다. 상기 알루미늄 전극은 전도성이 우수할 뿐만 아니라 실리콘과의 친화력이 좋아서 접합이 잘 되기 때문이다. 또한, 알루미늄 전극은 3가 원소로서 고온 열처리 과정을 통해 실리콘 기판(100)의 후면(112)과의 접합면에서 P+층, 즉 후면 전계(Back Surface Field, BSF, 미도시)를 형성할 수 있다. 상기 후면 전계는 실리콘 기판(100) 내부에서 태양광에 의해 여기된 전자가 후면으로 이동하여 재결합하게 되는 것을 방지함으로써, 누설전류를 줄이고 태양전지의 효율을 증대시킬 수 있다. 상기 후면 전극(130)은 알루미늄과 같은 금속을 포함한 전극 형성용 페이스트를 소정 패턴에 따라 도포한 후 열처리하여 형성할 수 있다. 다만, 실리콘 기판(100)의 후면(112) 상에 탄소나노튜브층(210)이 형성되는 경우, 상기 후면 전극(130)은 생략될 수도 있으며, 이 경우 상술한 바와 같이 탄소나노튜브층(210) 자체로도 후면 전계의 효과를 얻을 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 실리콘 태양전지는 p형 실리콘층과 n형 실리콘층을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판, 상기 실리콘 기판의 전면 및 후면 상에 위치하는 탄소나노튜브층, 및 상기 전면 및 후면 상에 위치하는 탄소나노튜브층 상에 위치하는 전극을 포함한다. 다만, 상기 탄소나노튜브층 상에 위치하는 전극 중 적어도 하나의 전극은 생략될 수 있다.
또한, 상기 실리콘 태양전지는 상기 실리콘 기판의 전면 및 후면 중 적어도 한 면에 요철 구조를 가질 수 있다.
도 5는 탄소나노튜브층이 실리콘 기판의 전면 및 후면 상에 위치하는 실리콘 태양전지를 나타낸 단면도이다.
도 5을 참조하면, 실리콘 태양전지는 p형 실리콘층(110)과 n형 실리콘층(120)을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판(100), 상기 실리콘 기판(100)의 전면(122) 및 후면(112) 상에 위치하는 탄소나노튜브층(220, 210), 및 상기 탄소나노튜브층(220, 210) 상에 위치하는 전면 전극(140) 및 후면 전극(130)을 포함한다. 다만, 상기 탄소나노튜브층(220, 210) 상에 위치하는 전면 전극(140) 및 후면 전극(130) 중 적어도 하나는 생략될 수 있다.
도 5에 도시된 실리콘 태양전지의 각 구성 및 그 제조방법은, 탄소나노튜브층(220, 210)이 실리콘 기판(100)의 전면(122) 및 후면(112) 상에 모두 형성된다는 것을 제외하면, 상기 도 2 및 도 3을 참조하며 설명한 바와 동일하다.
또한, 상기 실리콘 기판(100)의 전면(122) 및 후면(112) 중 적어도 한 면은 요철 구조를 가질 수 있으며, 이러한 요철 구조와 관련하여서는 상기 도 4를 참조하며 설명한 실시예를 참고하기로 한다.
이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 바람직한 실험예(example)를 제시한다. 다만, 하기의 실험예는 본 발명의 이해를 돕기 위한 것일 뿐, 본 발명이 하기의 실험예에 의해 한정되는 것은 아니다.
<제조예 1>
시판되는 p형 실리콘 웨이퍼(제조사: 실트론, 비저항: 1 ~ 5 Ωcm, 두께: 500 ± 5 ㎛, 도핑 밀도: 4.5 x 1016 ion/cm3, 배향성: 100)를 표준 RCA 세정 공정을 사용하여 세척하였다. 상기 표준 RCA 세정 공정으로는 SC1(Standard Clean-1)과 SC2(Standard Clean-2) 공정이 있는데, 먼저 SC1 공정(NH4OH : H2O2 : DI-water = 1 : 1 : 5의 세정액으로 70℃에서 5분 동안)을 수행하여 실시콘 웨이퍼 상의 금속과 유기 잔재물을 제거한 후, SC2 공정(HCl : H2O2 : DI-water = 1 : 1 : 5의 세정액으로 70℃에서 5분 동안)을 수행하여 실리콘 웨이퍼 상의 금속을 제거하였다. 이후, 상기 p형 실리콘 웨이퍼에 WET 클리닝 공정을 수행하였는데, SPM(surfuric acid peroxide mixture 또는 piraha solution) 처리와 HF 처리를 수행하였다.
다음으로, p-n 접합을 형성하기 위한 POCl3 확산 공정(950℃의 온도에서 예비 증착 시간(predeposition time)은 10 분 동안, 이후 30 분 동안)을 수행하였다 (상기 확산 공정에 의해 실리콘 웨이퍼의 표면 저항은 20 ~ 200Ω/sq에서 40Ω/sq로, 도핑 밀도는 ~2 x 1019 ion/cm3 로 되었다).
상기 POCl3 확산 공정을 통하여 p-n 접합을 형성함으로써 수득되는 p-n 접합 실리콘 기판의 전면(n형 실리콘층의 표면) 상에 탄소나노튜브를 에탄올에 용해시킨 용액을 분무하여, 1 nm 내지 200 nm 두께로 탄소나노튜브층을 형성하였다. 이어서, p-n 접합 실리콘 기판의 전면 상에 형성된 탄소나노튜브층 상에 스퍼터링법을 이용하여 Ti/Au를 포함하는 전면 전극을 Ti는 50 nm 두께로, Au는 4 nm 두께로 형성하였다.
이후, 상기 p-n 접합 실리콘 기판의 후면(p형 실리콘층의 표면) 상에 스퍼터링법을 이용하여, Al을 포함하는 후면 전극을 200 nm 두께로 형성하였고, 할로겐 램프(halogen lamp)를 이용한 RTA 공정(850℃에서 수행)을 수행하여 BSF층을 형성하였다.
<제조예 2>
탄소나노튜브층을 p-n 접합 실리콘 기판의 후면(p형 실리콘층의 표면) 상에 형성하는 것을 제외하고는, 제조예 1과 동일한 방법으로 실리콘 태양전지를 제조하였다.
<제조예 3>
탄소나노튜브층을 p-n 접합 실리콘 기판의 양면(전면 및 후면) 상에 형성하는 것을 제외하고는, 제조예 1과 동일한 방법으로 실리콘 태양전지를 제조하였다.
<비교예 1>
탄소나노튜브층을 형성하지 않는 것을 제외하고는, 제조예 1과 동일한 방법으로 실리콘 태양전지를 제조하였다(도 6).
제조예 1 내지 3에 따라 제조된 탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지와 비교예 1에 따라 제조된 탄소나노튜브층을 포함하지 않은 실리콘 태양전지의 효율을 도 7 내지 도 10 및 하기 표 1에 나타내었다.
도 7 내지 도 10에서, 암전류(dark current)는 빛이 없는 상태에서 전류를 측정한 것이고, 빛을 조사한 상태에서의 전류(current on the light)는 제논 램프(Xe lamp)를 이용하여 자연광에 가까운 상태로 광원을 구성하여 측정한 것이다. 여기서, 상기 제논 램프의 빛의 세기는 4mW/cm2이고, AM(air mass)은 1.5인 상태이다.
표 1
비교예 1 제조예 1 제조예 2 제조예 3
전압(V) 0.46 0.47 0.47 0.47
전류밀도(mA/cm2) 35.1 87.1 39.9 109
충전인자(FF) 0.35 0.42 0.40 0.45
광전변환효율(Eff)(%) 5.25 15.56 8.24 20.53
도 7 내지 도 10 및 상기 표 1을 참조하면, 제조예 1(도 8), 제조예 2(도 9) 및 제조예 3(도 10)은 비교예 1(도 7)에 비하여 전류 밀도 및 광전변환효율이 크게 향상되었음을 알 수 있다.
따라서, p-n 접합 실리콘 기판의 전면 및 후면 중 적어도 한 면 상에 탄소나노튜브층을 도입하는 경우, 실리콘 태양전지의 광전변환효율을 향상시킬 수 있으며, 특히 p-n 접합 실리콘 기판의 양면 상에 탄소나노튜브층을 도입하는 경우(제조예 3) 가장 높은 효율을 얻을 수 있음을 알 수 있다.
<제조예 4>
p형 실리콘 웨이퍼(비저항: 1 ~ 10 Ωcm, 두께: 500 ㎛, 도핑 밀도: 2.5 x 1015 ion/cm3, 배향성: 100)를 준비한 후, 웨이퍼 상의 자연 산화막 제거를 위하여 50% HF 용액에 10초 동안 담갔다 꺼냈다. 항온조에 4M KOH 용액과 아이소프로필알코올(isopropylalcohol, IPA)을 14:1의 부피비로 혼합한 식각액을 넣은 후, 상기 식각액에 웨이퍼를 투입하고 80℃에서 10분 동안 이방성 습식식각을 수행하여 p형 실리콘 웨이퍼의 표면에 요철 구조를 형성하였다.
이후, p-n 접합을 형성하기 위한 POCl3 확산 공정, p-n 접합 실리콘 기판의 표면 중 요철 구조가 형성된 전면(n형 실리콘층의 표면) 상에 탄소나노튜브층을 형성하는 공정, 전면 전극 및 후면 전극을 형성하는 공정을 제조예 1과 동일한 방법으로 수행하였다.
이로써, 요철 구조를 갖는 실리콘 기판의 전면(n형 실리콘층 표면) 상에 형성된 탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지를 제조하였다(도 11).
<제조예 5>
탄소나노튜브층을 요철 구조를 갖는 실리콘 p-n 접합 실리콘 기판의 전면(n형 실리콘층의 표면) 및 후면(p형 실리콘층의 표면) 상에 형성하는 것을 제외하고는, 제조예 4와 동일한 방법으로 실리콘 태양전지를 제조하였다(도 12).
<비교예 2>
탄소나노튜브층을 형성하지 않는 것을 제외하고는, 제조예 4와 동일한 방법으로 실리콘 태양전지를 제조하였다(도 13).
제조예 4 및 5에 따라 제조된 탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지와 비교예 2에 따라 제조된 탄소나노튜브층을 포함하지 않은 실리콘 태양전지의 효율을 도 14 및 하기 표 2에 나타내었다.
표 2
비교예 2 제조예 4 제조예 5
전압(V) 0.48 0.51 0.53
전류밀도(mA/cm2) 49.01 74.43 105.44
충전인자(FF) 0.53 0.64 0.72
광전변환효율(Eff)(%) 9.29 15.13 22.73
도 14 및 상기 표 2를 참조하면, 제조예 4 및 제조예 5는 비교예 2에 비하여 전류 밀도 및 광전변환효율이 크게 향상되었음을 알 수 있다.
따라서, p-n 접합 실리콘 기판의 표면에 형성된 요철 구조에 의해 광흡수율을 높일 수 있는 이외에, 요철 구조 상에 탄소나노튜브층을 형성함으로써 광전변환효율을 더욱 높일 수 있음을 알 수 있다.
<제조예 6>
후면 전극을 형성하지 않은 것을 제외하고는, 제조예 5와 동일한 방법으로 실리콘 태양전지를 제조하였다(도 15).
제조예 6에 따라 제조된 탄소나노튜브층을 포함하되, 후면 전극을 포함하지 않는 실리콘 태양전지의 효율을 도 16 및 하기 표 3에 나타내었다.
표 3
제조예 6
전압(V) 0.51
전류밀도(mA/cm2) 86.21
충전인자(FF) 0.73
광전변환효율(Eff)(%) 20.45
도 16 및 상기 표 3을 참조하면, 제조예 6의 광전변환효율은 제조예 5의 광전변환효율에 약 90%에 가까운 값을 보여준다. 즉, p-n 접합 실리콘 기판의 후면(p형 실리콘층의 표면) 상에 탄소나노튜브층을 형성하는 경우, 후면 전극의 형성 공정과 후면 전계 형성을 위한 고온 열처리 공정(즉, RTA 공정)을 생략한 경우에도 높은 광전변환효율을 얻을 수 있음을 알 수 있다. 이는, 후면에 형성된 탄소나노튜브가 후면 전극의 역할을 수행하며, 탄소나노튜브층 자체로도 후면 전계 효과를 얻을 수 있기 때문인 것으로 보인다.
한편, 본 실험예에서는 후면 전극을 생략한 경우만을 예시하였으나, p-n 접합 실리콘 기판의 전면(n형 실리콘의 표면) 상에 탄소나노튜브층을 형성하는 경우, 우수한 광투과성 및 전기 전도성을 갖는 탄소나노튜브층이 전면 전극의 역할을 대신할 수 있으므로 별도의 전면 전극(금속 전극)을 형성하는 공정을 생략할 수 있을 것이다.
이상, 본 발명을 바람직한 실시예를 들어 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 사상 및 범위 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형 및 변경이 가능하다.
[부호의 설명]
100: p-n 접합 실리콘 기판 110: p형 실리콘층
112: 후면 115: p-n 접합
120: n형 실리콘층 122: 전면
125: 요철 구조 130: 후면 전극
140: 전면 전극 200: 탄소나노튜브
210, 220: 탄소나노튜브층

Claims (6)

  1. p형 실리콘층과 n형 실리콘층을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판;
    상기 실리콘 기판의 전면 또는 후면 상에 위치하는 탄소나노튜브층; 및
    상기 탄소나노튜브층이 위치하지 않는 실리콘 기판의 표면 상에 위치하는 제1 전극을 포함하는 실리콘 태양전지.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 탄소나노튜브층 상에 위치하는 제2 전극을 더 포함하는 실리콘 태양전지.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 탄소나노튜브층이 위치하는 실리콘 기판의 표면은 요철 구조를 갖는 실리콘 태양전지.
  4. p형 실리콘층과 n형 실리콘층을 포함하는 p-n 접합 실리콘 기판; 및
    상기 실리콘 기판의 전면 및 후면 상에 위치하는 탄소나노튜브층을 포함하는 실리콘 태양전지.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 실리콘 기판의 전면 및 후면 상에 위치하는 탄소나노튜브층 중 적어도 하나의 탄소나노튜브층 상에 위치하는 전극을 더 포함하는 실리콘 태양전지.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 실리콘 기판의 전면 및 후면 중 적어도 한 면은 요철 구조를 갖는 실리콘 태양전지.
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