WO2010120128A2 - 연마용 리테이너링의 제조방법 및 그에 따라 제조된 리테이너링 - Google Patents

연마용 리테이너링의 제조방법 및 그에 따라 제조된 리테이너링 Download PDF

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    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting

Definitions

  • the present invention relates to a method for manufacturing a retaining ring for polishing and a retaining ring manufactured accordingly, and more particularly, to eliminate the operation of forming a slit by attaching the abrasive in a separate manner so that the work process can be simplified.
  • the present invention relates to a method for producing a retainer ring and a retainer ring produced accordingly.
  • polishing lining rings are widely used for polishing semiconductor devices.
  • FIG. 1 the prior art which is directly related to the present invention is shown in detail in FIG. 1.
  • the conventional retainer ring A ' is composed of an annular base material 2' and an abrasive material 4 'adhered to an upper surface of the base material 2', and in particular, cooling and polishing of heat generation. This is achieved by forming a groove 6 'on a part of the abrasive for easy discharge of the liquid.
  • the present invention has been made in order to solve the above problems of the prior art, the bonding of the base material and the abrasive, but the polishing to reduce the labor of processing the grooves by bonding the unit divided by the abrasive at a predetermined interval It is an object of the present invention to provide a method for producing a retaining ring for a solvent.
  • another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a retaining ring for polishing, which is capable of maintaining a more firmly bonded state by forming an interference fit type coupling structure between a unitary abrasive and a base material.
  • the above object of the present invention is a method of manufacturing a retaining ring for polishing for polishing a semiconductor element, the first step of smoothly processing the upper surface of the ring-shaped base material; A second step of fabricating a single abrasive unit by processing the abrasive to be integral with the top shape of the base material; The prepared abrasive unit is adhered to and fixed on the upper surface of the base material, and is achieved by a method of manufacturing a retaining ring for polishing comprising three steps of bonding each abrasive unit to be spaced at a predetermined interval.
  • the step 1 further comprises the step of forming a recess embedded in the upper surface of the base material
  • the second step further comprises the step of forming a protrusion to correspond to the groove on the lower surface of the abrasive unit by the abrasive unit and the base material Is fitted to fit together.
  • the abrasive unit and the base material may be combined in a dovetail manner.
  • the abrasive unit by attaching the abrasive unit to the upper surface of the base material at a predetermined interval so that the gap is a groove can be omitted to process the groove separately, there is an effect that the work efficiency can be shaped.
  • FIG. 2 is a process flow diagram illustrating a method of manufacturing a retaining ring for polishing according to the present invention.
  • FIG. 3 is a perspective view showing a retaining ring for polishing according to the present invention
  • Figure 4 is a cross-sectional view "I-I" line in the abrasive retaining ring according to the present invention of Figure 3,
  • Figure 5 is a cross-sectional view "II-II" line in the abrasive retainer ring according to the present invention of Figure 3;
  • base material 4 abrasive
  • FIG. 2 is a process flowchart showing a method of manufacturing a retaining ring for polishing according to the present invention.
  • Figure 3 is a perspective view showing a retaining ring for polishing according to the invention
  • Figure 4 is a cross-sectional view "II” in the polishing retaining ring according to the present invention of Figure 3
  • Figure 5 is a polishing according to the invention of Figure 3 "II-II" line cross section in retaining ring.
  • the prepared abrasive unit 45 is adhered to and fixed to the upper surface of the base material 2, and includes three steps (S3) of bonding the abrasive unit units 45 to be spaced apart at regular intervals.
  • the upper surface of the base material 2 was smoothly ground to facilitate adhesion.
  • the base material 2 is preferably a metal plate in a ring shape, but not necessarily limited thereto, and may be variously modified in shape.
  • the groove 22 is formed to be drawn in the upper surface of the base material (2).
  • the groove 22 is to be fitted and coupled with the protrusion 42 formed on the upper surface of the abrasive unit 45.
  • the abrasive 4 is processed to match the shape of the top surface of the base material 2 to produce a plurality of abrasive units 45.
  • the abrasive unit 45 is formed in an arc shape so that it can be ring-shaped when connected.
  • a plurality of abrasive units 45 may be obtained by cutting and dividing a ring-shaped abrasive having the same diameter as that of the base material 2 according to the required number.
  • the lower surface of the abrasive unit 45 may further include the step of forming a protrusion 42 to correspond to the groove 22 of the base material (2).
  • grooves 22 of the base material 2 and the protrusions 42 of the abrasive unit 45 may be coupled to each other by fitting.
  • the abrasive unit 45 and the base material 2 are coupled in a dovetail manner.
  • the produced abrasive unit 45 is adhered to the upper surface of the base material 2 by applying an adhesive (c), but each groove unit 6 is naturally formed by adhering the abrasive unit 45 to be spaced at regular intervals. Can be.

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Abstract

본 발명은 연마재를 분리형으로 부착함으로써 슬릿을 형성하는 작업을 생략할 수 있어 작업공정이 단순화될 수 있도록 한 연마용 리테이너링의 제조방법 및 그에 따라 제조된 리테이너링에 관한 것이다. 본 발명에 따른 연마용 리테이너링의 제조방법은 반도체 소자를 연마하기 위한 연마용 리테이너링의 제조방법에 있어서, 링 형상의 모재의 상면을 매끄럽게 가공하는 1단계; 연마재를 상기 모재의 상면 형상과 일체되도록 가공하여 단수의 연마재단위체를 제작하는 2단계; 상기 제작된 연마재 단위체를 상기 모재의 상면에 접착시켜 고정시키되, 각 연마재 단위체가 일정 간격으로 이격되도록 접착시키는 3단계를 포함한다. 상기 제조방법에 의해 모재의 상부에 부착된 연마재로 구성되며, 상ㄱ 연마재는 다수의 연마재 단위체가 일정한 간격으로 이격되게 부착되어 홈이 형성되도록 한 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 연마하기 위한 연마용 리테이너링을 제조할 수 있다.

Description

연마용 리테이너링의 제조방법 및 그에 따라 제조된 리테이너링
본 발명은 연마용 리테이너링의 제조방법 및 그에 따라 제조된 리테이너링에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 연마재를 분리형으로 부착함으로써 슬릿을 형성하는 작업을 생략할 수 있어 작업공정이 단순화될 수 있도록 한 연마용 리테이너링의 제조방법 및 그에 따라 제조된 리테이너링에 관한 것이다.
일반적으로 연마용 리터이너링은 반도체 소자의 연마용으로 많이 사용되고 있다.
즉, 기계적 연마 공정에 필연적으로 사용되고 있는 것인데, 이에 대한 관련 선행기술로는 대한민국 등록특허 제0884236호 및 동 제0879086호가 개시되어 있다.
한편, 본 발명과 직접적인 연관관계에 있는 선행 기술에 대해서 도 1에 상세하게 나타내었다.
도 1에 나타낸 바와 같이, 종래 리테이너 링(A')은 환형의 모재(2')와, 상기 모재(2')의 상면에 접착된 연마재(4')로 구성되며, 특히 발열의 냉각 및 연마액제의 용이한 배출을 위해 연마재의 일부위에 홈(6')을 형성하여 이루어진다.
그러나 종래 기술은 연마재에 홈을 가공하는 작업에 많은 시간이 소요되고, 이에 따라 비용이 상승할 수 밖에 없는 단점이 야기되었다.
본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로, 모재와 연마재를 접착시키되, 연마재를 분할시켜 된 단위체를 소정의 간격을 두고 접착시킴으로써 홈을 가공하는 수고를 절감할 수 있도록 한 연마용 리테이너링의 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 단위체로 된 연마제와 모재 간의 억지끼움방식의 결합구조를 형성함으로써 보다 견고한 결합상태를 유지할 수 있도록 한 연마용 리테이너링의 제조방법을 제공하는데 다른 목적이 있다.
상기한 본 발명의 목적은, 반도체 소자를 연마하기 위한 연마용 리테이너링의 제조방법에 있어서, 링 형상의 모재의 상면을 매끄럽게 가공하는 1단계; 연마재를 상기 모재의 상면 형상과 일체되도록 가공하여 단수의 연마재단위체를 제작하는 2단계; 상기 제작된 연마재 단위체를 상기 모재의 상면에 접착시켜 고정시키되, 각 연마재 단위체가 일정 간격으로 이격되도록 접착시키는 3단계를 포함하는 연마용 리테이너링의 제조방법에 의해 달성된다.
상기 1단계는 상기 모재의 상면에 내입된 요홈을 형성하는 단계를 더 포함하고, 상기 2단계는 상기 연마재 단위체의 하면에는 상기 요홈에 대응되도록 돌출부를 형성하는 단계를 더 포함함으로써 상기 연마재 단위체와 모재가 끼워 맞춰 결합되도록 한 것을 특징으로 한다.
상기 연마재 단위체와 모재는 도브테일방식으로 결합되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 모재의 상면에 연마재 단위체를 소정의 간격을 두고 접착시킴으로써 상기 간격이 홈이 되도록 하여 별도로 홈을 가공하는 작업을 생략할 수 있어 작업능률이 형상될 수 있는 효과가 있다.
또한, 연마재단위체와 모재 간의 억지끼움에 의해 보다 견고한 결합상태를 유지할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 종래 기술을 나타낸 도면.
도 2는 본 발명에 따른 연마용 리테이너링의 제조방법을 나타낸 공정 흐름도.
도 3은 본 발명에 따른 연마용 리테이너링을 나타낸 사시도,
도 4는 상기 도 3의 본 발명에 따른 연마용 리테이너링에서 "I-I"선 단면도,
도 5는 상기 도 3의 본 발명에 따른 연마용 리테이너링에서 "II-II"선 단면도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
2 : 모재 4 : 연마재
6 : 홈 22 : 요홈
42 : 돌출부 45 : 연마재 단위체
c : 접착제
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 토대로 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명에 따른 연마용 리테이너링의 제조방법을 나타낸 공정 흐름도이다.
도 3은 본 발명에 따른 연마용 리테이너링을 나타낸 사시도, 도 4는 상기 도 3의 본 발명에 따른 연마용 리테이너링에서 "I-I"선 단면도, 도 5는 상기 도 3의 본 발명에 따른 연마용 리테이너링에서 "II-II"선 단면도이다.
이하 본 발명의 제조방법과 그에 따라 제조된 제품에 대하 연관지어 설명하기로 한다.
도 2 내지 도 5에 나타낸 바와 같이, 본 발명에 따른 연마용 리테이너링의 제조방법은,
링 형상의 모재(2)의 상면을 매끄럽게 가공하는 1단계(S1);
연마재(4)를 상기 모재(2)의 상면 형상과 일체되도록 가공하여 단수의 연마재 단위체(45)를 제작하는 2단계(S2);
상기 제작된 연마재 단위체(45)를 상기 모재(2)의 상면에 접착시켜 고정시키되, 각 연마재 단위체(45)가 일정 간격으로 이격되도록 접착시키는 3단계(S3)를 포함한다.
이하 상기 각 단계에 대해 상세하게 설명한다.
1단계
모재(2)의 상면을 매끄럽게 연삭가공하여 접착이 용이하도록 하였다.
상기 모재(2)는 바람직하게는 링 형상으로 된 금속판이나 반드시 이에 한정되지 않고 그 형상을 다양하게 변형 실시될 수 있다.
한편, 도 5에 나타낸 바와 같이, 상기 모재(2)의 상면에 요홈(22)을 내측으로 인입되게 형성한다. 상기 요홈(22)은 연마재 단위체(45)의 상면에 형성된 돌출부(42)와 끼워 맞춰 결합되기 위한 것이다.
2단계
연마재(4)를 상기 모재(2)의 상면 형상과 일치되도록 가공하여 다수의 연마재 단위체(45)를 제작한다.
즉, 모재(2)가 링형임을 감안한다면 상기 연마재 단위체(45)는 호형으로 제작됨으로써 연결하면 링형상이 될 수 있도록 한다.
가장 쉬운 제작방식은 모재(2)와 동일한 직경을 갖는 링형의 연마재를 소요되는 필요 갯수에 따라 절단하여 분할함으로써 다수개의 연마재 단위체(45)를 얻을 수 있을 것이다.
특히, 연마재 단위체(45)의 하면에는 상기 모재(2)의 요홈(22)에 대응되도록 돌출부(42)를 형성하는 단계가 더 포함될 수 있다.
따라서, 상기 모재(2)의 요홈(22)과 연마재 단위체(45)의 돌출부(42)를 상호 끼워맞춤으로서 결합시킬 수 있게 된다.
가장 바람직하게는 상기 연마재 단위체(45)와 모재(2)는 도브테일방식으로 결합되도록 한다.
상기 도브테일방식은 공지의 기술사상이므로 이에 대한 상세한 설명을 생략하더라도 당업자라면 이해가능할 것이다.
3단계
상기 제작된 연마재 단위체(45)를 상기 모재(2)의 상면에 접착제(c)를 도포하여 접착시키되, 각 연마재 단위체(45)가 일정 간격으로 이격되도록 접착시킴으로써 홈(6)이 자연적으로 형성될 수 있다.
비록 본 발명이 상기 언급된 바람직한 실시예와 관련하여 설명되어졌지만, 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다양한 수정 및 변형이 가능한 것은 당업자라면 용이하게 인식할 수 있을 것이며, 이러한 변경 및 수정은 모두 첨부된 청구의 범위에 속함은 자명하다.

Claims (6)

  1. 반도체 소자를 연마하기 위한 연마용 리테이너링의 제조방법에 있어서,
    모재(2)의 상면을 매끄럽게 가공하는 1단계(S1);
    연마재(4)를 상기 모재(2)의 상면 형상과 일체되도록 가공하여 단수의 연마재 단위체(45)를 제작하는 2단계(S2);
    상기 제작된 연마재 단위체(45)를 상기 모재(2)의 상면에 접착시켜 고정시키되, 각 연마재 단위체(45)가 일정 간격으로 이격되도록 접착시키는 3단계(S3)
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 연마용 리테이너링의 제조방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 1단계는, 상기 모재(2)의 상면에 요홈(22)을 내측으로 인입되게 형성하는 단계;
    상기 2단계는, 상기 연마재 단위체(45)의 하면에는 상기 모재(2)의 요홈(22)에 대응되도록 돌출부(42)를 형성하는 단계를 더 포함하며,
    상기 연마재 단위체(45)와 모재(2)가 끼워 맞춰 결합되도록 한 것을 특징으로 하는 연마용 리테이너링의 제조방법.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 연마재 단위체(45)와 모재(2)는 도브테일방식으로 끼워 맞춰 결합되는 것을 특징으로 하는 연마용 리테이너링의 제조방법.
  4. 모재(2);
    상기 모재(2)의 상부에 부착된 연마재(4)로 구성되며,
    상기 연마재(4)는 다수의 연마재 단위체(45)가 일정한 간격으로 이격되게 부착되어 홈(6)이 형성되도록 한 것을 특징으로 하는 반도체 소자를 연마하기 위한 연마용 리테이너링.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 모재(2)의 상면에 내입된 요홈(22);
    상기 연마재 단위체(45)의 하면에 상기 모재(2)의 요홈(22)에 대응되도록 형성된 돌출부(42)를 포함하며,
    상기 연마재 단위체(45)와 모재(2)를 상호 끼워 결합되도록 한 것을 특징으로 하는 연마용 리테이너링.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 연마재 단위체(45)와 모재(2)는 도브테일방식으로 끼워 결합되는 것을 특징으로 하는 연마용 리테이너링.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105014559A (zh) * 2015-08-06 2015-11-04 广东新劲刚新材料科技股份有限公司 一种具有多层斜齿的金刚石磨轮
US20230129597A1 (en) * 2021-10-27 2023-04-27 Sch Power Tech Co., Ltd. Retaining Ring for Wafer Polishing

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005123232A (ja) * 2003-10-14 2005-05-12 Toshiba Corp 研磨装置及び研磨方法、並びに半導体装置の製造方法。
JP2007158201A (ja) * 2005-12-08 2007-06-21 Nippon Seimitsu Denshi Co Ltd Cmp装置のリテーナリング
JP2008177248A (ja) * 2007-01-16 2008-07-31 Tokyo Seimitsu Co Ltd 研磨ヘッド用リテーナリング
KR100879085B1 (ko) * 2008-03-12 2009-01-15 (주)아이에스테크노 웨이퍼 연마용 리테이너 링

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005123232A (ja) * 2003-10-14 2005-05-12 Toshiba Corp 研磨装置及び研磨方法、並びに半導体装置の製造方法。
JP2007158201A (ja) * 2005-12-08 2007-06-21 Nippon Seimitsu Denshi Co Ltd Cmp装置のリテーナリング
JP2008177248A (ja) * 2007-01-16 2008-07-31 Tokyo Seimitsu Co Ltd 研磨ヘッド用リテーナリング
KR100879085B1 (ko) * 2008-03-12 2009-01-15 (주)아이에스테크노 웨이퍼 연마용 리테이너 링

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105014559A (zh) * 2015-08-06 2015-11-04 广东新劲刚新材料科技股份有限公司 一种具有多层斜齿的金刚石磨轮
US20230129597A1 (en) * 2021-10-27 2023-04-27 Sch Power Tech Co., Ltd. Retaining Ring for Wafer Polishing

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