WO2009075262A1 - Procédé et appareil de mesure d'onde électromagnétique - Google Patents

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WO2009075262A1
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Toru Hisakado
Noritaka Yamashita
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Nec Corporation
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
    • G01R29/0871—Complete apparatus or systems; circuits, e.g. receivers or amplifiers
    • H04B5/77—

Abstract

La présente invention concerne un appareil de mesure d'onde électromagnétique permettant de mesurer la fuite d'ondes électromagnétiques engendrée par un appareil à mesurer et qui réalise une communication sans contact avec un appareil de communication. L'appareil de mesure d'onde électromagnétique est muni d'une section d'antenne permettant de recevoir des ondes électromagnétiques perdues générées par une section de formation de champ magnétique de fuite de l'appareil à mesurer, d'une section d'ajustement de position, qui réalise un ajustement de position de sorte que l'appareil de communication et la section de formation de champ magnétique de fuite de l'appareil à mesurer ne se chevauchent pas et que la section d'antenne chevauche la section de formation de champ magnétique de fuite de l'appareil à mesurer, d'une section de détection qui détecte que l'appareil à mesurer réalise le traitement, enfin d'une section de mesure qui mesure les ondes électromagnétiques perdues à partir des signaux reçus par la section d'antenne, en fonction des signaux transmis par la section de détection.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011182012A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Mitsubishi Electric Corp 非接触設定装置、及びプログラム
JP2017118740A (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 日置電機株式会社 測定装置
JP2018026944A (ja) * 2016-08-10 2018-02-15 日置電機株式会社 測定装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7265373B2 (ja) * 2019-02-28 2023-04-26 株式会社アドバンテスト 試験システム、インタフェースユニット

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000242746A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Hitachi Ltd 非接触式ｉｃカードの検査装置およびその方法
JP2001024425A (ja) * 1999-07-06 2001-01-26 Kitagawa Ind Co Ltd ループアンテナ用積層体
JP2002007969A (ja) * 2000-06-23 2002-01-11 Toray Eng Co Ltd 非接触ｉｃカード用検査装置
JP2003270279A (ja) * 2002-03-13 2003-09-25 Jr East Mechatronics Co Ltd 電波強度検査機
JP2005033413A (ja) * 2003-07-10 2005-02-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd ループアンテナ及び非接触ｉｃカード読取／書込装置
JP2005121403A (ja) * 2003-10-15 2005-05-12 Sony Corp 周波数測定器

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4579599B2 (ja) * 2004-07-01 2010-11-10 富士通株式会社 Ｒｆｉｄタグの評価システム
JP2006184264A (ja) * 2004-12-01 2006-07-13 Tohoku Univ アンテナ装置および磁界発生装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000242746A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Hitachi Ltd 非接触式ｉｃカードの検査装置およびその方法
JP2001024425A (ja) * 1999-07-06 2001-01-26 Kitagawa Ind Co Ltd ループアンテナ用積層体
JP2002007969A (ja) * 2000-06-23 2002-01-11 Toray Eng Co Ltd 非接触ｉｃカード用検査装置
JP2003270279A (ja) * 2002-03-13 2003-09-25 Jr East Mechatronics Co Ltd 電波強度検査機
JP2005033413A (ja) * 2003-07-10 2005-02-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd ループアンテナ及び非接触ｉｃカード読取／書込装置
JP2005121403A (ja) * 2003-10-15 2005-05-12 Sony Corp 周波数測定器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011182012A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Mitsubishi Electric Corp 非接触設定装置、及びプログラム
JP2017118740A (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 日置電機株式会社 測定装置
JP2018026944A (ja) * 2016-08-10 2018-02-15 日置電機株式会社 測定装置

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