WO2009065519A8 - Procédé pour mesurer la force qui agit sur un objet capturé dans une pincette/un piège optique et pincette/piège optique - Google Patents
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Abstract
L'invention concerne un procédé pour mesurer la force qui agit sur un objet capturé dans une pincette/un piège optique, avec lequel la lumière renvoyée par l'objet capturé à travers l'objectif de la pincette/du piège optique est captée par un détecteur et la force est déterminée à partir du signal du détecteur, avec lequel un rayon laser (1) à polarisation linéaire dans une première direction qui est utilisé pour générer la pincette/le piège optique passe par un séparateur de faisceaux polarisant (2) et traverse ensuite un élément de rotation de la polarisation (8) et un objectif (3). Selon l'invention, le rayon laser (1) se voit appliquer une polarisation circulaire par l'élément de rotation de la polarisation (8) et est concentré par l'objectif (3) puis capture un objet dans la zone de la concentration. Toujours selon l'invention, la lumière du même rayon laser (1) renvoyée à travers l'objectif (3) par l'objet capturé travers l'élément de rotation de la polarisation (8) dans le sens inverse, se voit appliquer une polarisation linéaire par cet élément de rotation de la polarisation (8) dans une deuxième direction perpendiculaire à la première direction et passe ensuite par le séparateur de faisceaux polarisant. Le séparateur de faisceaux polarisant (2) sépare le rayon laser d'éclairage (1) et la lumière laser renvoyée, et cette dernière est captée au moyen du détecteur (7). L'invention concerne également une pincette/un piège optique comprenant un objectif (3) pour concentrer un rayon laser (1) pour la capture d'un objet dans la zone de concentration de ce rayon laser (1) et comprenant aussi un détecteur (7) pour capter un signal de détecteur qui est généré par la lumière laser renvoyée par un objet sur le détecteur (7) à travers l'objectif (3). Selon l'invention, le signal du détecteur permet de déterminer une force qui agit sur l'objet et l'objet de l'invention comprend également un séparateur de faisceaux polarisant (2) dans une zone commune du trajet du rayon laser incident et renvoyé et, à la suite de celui-ci dans la direction du rayon laser d'éclairage (1), un élément de rotation de la polarisation (8) pour former un aiguillage optique entre le rayon laser incident (1) et la lumière laser renvoyée par l'objet à travers l'objectif (3). Toujours selon l'invention, le détecteur (7) est disposé dans le trajet du rayon de lumière renvoyé séparé de la lumière laser incidente (1).
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007055598.0 | 2007-11-20 | ||
DE200710055598 DE102007055598A1 (de) | 2007-11-20 | 2007-11-20 | Verfahren zur Messung der Kraft, die auf ein in einer optischen Pinzette/Falle gefangenes Objekt wirkt und optische Pinzette/Falle |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2009065519A1 WO2009065519A1 (fr) | 2009-05-28 |
WO2009065519A8 true WO2009065519A8 (fr) | 2009-09-11 |
Family
ID=40394203
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/EP2008/009582 WO2009065519A1 (fr) | 2007-11-20 | 2008-11-13 | Procédé pour mesurer la force qui agit sur un objet capturé dans une pincette/un piège optique et pincette/piège optique |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102007055598A1 (fr) |
WO (1) | WO2009065519A1 (fr) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008034089A1 (de) * | 2008-07-21 | 2010-01-28 | Universität Bielefeld | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Kraft, die auf ein in einer optischen Fallenanordnung gefangenes Objekt wirkt |
DE102010027721A1 (de) | 2010-04-14 | 2011-10-20 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Verfahren und Vorrichtungen zur Positions- und Kraftdetektion |
DE102010027720A1 (de) | 2010-04-14 | 2011-10-20 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Verfahren und Vorrichtungen zur Positions- und Kraftdetektion |
US11156755B2 (en) * | 2019-03-28 | 2021-10-26 | Facebook Technologies, Llc | Aligning a polarization device using a spatially variant polarization element |
CN112730334B (zh) * | 2020-12-23 | 2024-03-22 | 之江实验室 | 基于电偶极旋转散射光探测的纳米微粒识别装置和方法 |
CN112880912B (zh) * | 2021-01-08 | 2022-01-18 | 浙江大学 | 基于真空全息光镊的空间分辨压强测量系统及方法 |
CN117253644B (zh) * | 2023-11-20 | 2024-02-20 | 之江实验室 | 用于研究光诱导耦合相互作用的双光束真空光镊系统 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19757785B4 (de) * | 1997-12-28 | 2005-09-01 | Günter Prof. Dr. Fuhr | Verfahren zur Bestimmung optisch induzierter Kräfte |
JP4185711B2 (ja) * | 2002-06-10 | 2008-11-26 | 株式会社キーエンス | 複数の光源を備えた顕微鏡 |
WO2005029139A2 (fr) * | 2003-09-19 | 2005-03-31 | The Regents Of The University Of California | Detecteur de force de lumiere, et procede pour mesurer les forces de piegeage optique dans l'axe a partir des variations de la force d'impulsion de la lumiere le long d'un axe optique |
-
2007
- 2007-11-20 DE DE200710055598 patent/DE102007055598A1/de not_active Withdrawn
-
2008
- 2008-11-13 WO PCT/EP2008/009582 patent/WO2009065519A1/fr active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102007055598A1 (de) | 2009-05-28 |
WO2009065519A1 (fr) | 2009-05-28 |
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