WO2008114863A1 - 診断装置 - Google Patents

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Abstract

 被診断対象から測定された複数の属性を含むデータの各属性の変化度に基づいて、障害の検知とその原因の推定を行う診断装置を提供する。診断対象変化度パタン生成手段110は、被診断対象から測定された複数の属性を含む診断対象データの各属性の変化度を計算し、各属性の変化度の組み合わせである診断対象変化度パタンを生成する。基準変化度パタン記憶装置150は、被診断対象から測定された複数の属性を含むデータの各属性の変化度のパタンから構成される基準変化度パタンを、障害の種類やその原因の種類毎の診断イベントに対応付けて記憶する。変化度パタン診断手段120は、診断対象変化度パタンと基準変化度パタン記憶装置中の基準変化度パタンとのパタンマッチングを行って、被診断対象の診断を行う。
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Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011070515A (ja) * 2009-09-28 2011-04-07 Toyota Central R&D Labs Inc 障害診断システム、障害診断装置および障害診断方法
WO2013118225A1 (ja) * 2012-02-08 2013-08-15 日本電気株式会社 最適クエリ生成装置、最適クエリ抽出方法および判別モデル学習方法
WO2013118224A1 (ja) * 2012-02-08 2013-08-15 日本電気株式会社 判別モデル学習装置、判別モデル学習方法および判別モデル学習プログラム
JP2014059910A (ja) * 2009-08-28 2014-04-03 Hitachi Ltd 設備状態監視方法
JP2014106199A (ja) * 2012-11-29 2014-06-09 Satake Corp 回転機械のモニタリング装置
JP2015062126A (ja) * 2008-12-23 2015-04-02 エフ.ホフマン−ラ ロシュ アーゲーF. Hoffmann−La Roche Aktiengesellschaft 慢性病患者の診断支援または治療支援のための構造化検査方法及びその装置
US9495330B2 (en) 2012-06-14 2016-11-15 International Business Machines Corporation Anomaly detection method, program, and system
JP2017049801A (ja) * 2015-09-02 2017-03-09 三菱重工業株式会社 運転支援システム、運転支援方法及びプログラム
US9702729B2 (en) 2014-04-30 2017-07-11 International Business Machines Corporation Sensor output change detection
US9918635B2 (en) 2008-12-23 2018-03-20 Roche Diabetes Care, Inc. Systems and methods for optimizing insulin dosage
WO2018083756A1 (ja) * 2016-11-02 2018-05-11 日本郵船株式会社 船舶における異常な事象の発生防止のための装置、プログラム、および記録媒体
JP2018190245A (ja) * 2017-05-09 2018-11-29 株式会社日立製作所 設備機器の異常診断システム
US10437962B2 (en) 2008-12-23 2019-10-08 Roche Diabetes Care Inc Status reporting of a structured collection procedure
JP6647461B1 (ja) * 2019-03-08 2020-02-14 三菱電機株式会社 故障診断システム、故障予測方法、および故障予測プログラム
JP6647473B1 (ja) * 2019-03-18 2020-02-14 三菱電機株式会社 異常検知装置および異常検知方法
JPWO2021186597A1 (ja) * 2020-03-18 2021-09-23
JP2022037107A (ja) * 2017-12-11 2022-03-08 日本電気株式会社 障害分析装置、障害分析方法および障害分析プログラム
US11586981B2 (en) 2017-12-11 2023-02-21 Nec Corporation Failure analysis device, failure analysis method, and failure analysis program

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009122525A1 (ja) * 2008-03-31 2009-10-08 富士通株式会社 トラブル対処システム、方法およびそのためのプログラム
US20120011125A1 (en) 2008-12-23 2012-01-12 Roche Diagnostics Operations, Inc. Management method and system for implementation, execution, data collection, and data analysis of a structured collection procedure which runs on a collection device
JP2011138194A (ja) * 2009-12-25 2011-07-14 Sony Corp 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
US8112667B2 (en) * 2010-01-25 2012-02-07 International Business Machines Corporation Automated system problem diagnosing
US8719636B2 (en) * 2010-02-15 2014-05-06 Nec Corporation Apparatus method, and storage medium for fault cause extraction utilizing performance values
JP5419746B2 (ja) * 2010-02-23 2014-02-19 株式会社日立製作所 管理装置及び管理プログラム
WO2011138911A1 (ja) * 2010-05-06 2011-11-10 日本電気株式会社 障害分析装置、障害分析方法および記録媒体
CN104081301B (zh) * 2012-02-01 2017-02-22 Abb研究有限公司 电力系统中的一次装置的监测
JP6315905B2 (ja) 2013-06-28 2018-04-25 株式会社東芝 監視制御システム及び制御方法
JP6152788B2 (ja) * 2013-12-02 2017-06-28 富士通株式会社 障害予兆検知方法、情報処理装置およびプログラム
CN103868747B (zh) * 2014-03-13 2016-09-14 上海建工集团股份有限公司 一种基于时间序列符号化的结构损伤识别系统与识别方法
JP6523815B2 (ja) * 2015-06-22 2019-06-05 株式会社日立製作所 プラント診断装置及びプラント診断方法
EP3151077A1 (de) * 2015-09-30 2017-04-05 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur bestimmung von diagnosemustern für zeitreihen eines technischen systems und diagnoseverfahren
US10152879B2 (en) * 2015-11-10 2018-12-11 Industrial Technology Research Institute Method, apparatus, and system for monitoring manufacturing equipment
JP6031202B1 (ja) * 2016-01-29 2016-11-24 ファナック株式会社 製造機械の異常の原因を発見するセル制御装置
US11347212B2 (en) 2016-03-09 2022-05-31 Siemens Aktiengesellschaft Smart embedded control system for a field device of an automation system
CN106326933B (zh) * 2016-08-25 2019-05-24 中科君胜(深圳)智能数据科技发展有限公司 基于人在回路的智能自学习故障诊断方法
US10963797B2 (en) * 2017-02-09 2021-03-30 Caterpillar Inc. System for analyzing machine data
CN107505927B (zh) * 2017-03-29 2019-08-23 华北电力大学 基于组件的循环流化床锅炉风烟设备故障监测方法及装置
JP6939661B2 (ja) * 2018-03-13 2021-09-22 オムロン株式会社 故障予測支援装置、故障予測支援方法及び故障予測支援プログラム
EP3951528B1 (en) * 2019-03-27 2023-09-06 Nissan Motor Co., Ltd. Abnormality detection apparatus, and abnormality detection method
WO2020241829A1 (ja) 2019-05-31 2020-12-03 日本電気株式会社 情報処理装置、情報処理方法及び情報処理プログラム
US11221908B1 (en) * 2021-03-02 2022-01-11 International Business Machines Corporation Discovery of an inexplicit link between a change and an incident in a computing environment
US20230116608A1 (en) * 2021-10-07 2023-04-13 International Business Machines Corporation Management of recalibration of risk related models impacted by extreme weather events and climate change conditions
JP2023136444A (ja) * 2022-03-17 2023-09-29 富士通株式会社 解析プログラム、解析方法、および情報処理システム

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59218523A (ja) 1983-05-27 1984-12-08 Nissan Motor Co Ltd シ−ケンス機械の故障診断装置
JPH03206526A (ja) * 1989-10-09 1991-09-09 Hitachi Ltd 知識処理システム構築ツール及び推論プログラムの生成方法
JPH07141384A (ja) * 1993-11-12 1995-06-02 Hitachi Ltd データ特徴抽出方法およびデータ分類装置
JPH1020925A (ja) * 1996-07-05 1998-01-23 Toshiba Corp プラント診断装置
JP2002099319A (ja) * 2000-09-21 2002-04-05 Toshiba Corp プラント診断装置
JP2002155708A (ja) * 2000-11-17 2002-05-31 Toshiba Corp 発電プラントのガイダンス提供システムおよび方法
JP2003044123A (ja) * 2001-07-30 2003-02-14 Hitachi Ltd プラント診断装置
JP2005257416A (ja) 2004-03-10 2005-09-22 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 診断装置、検出装置、制御方法、検出方法、プログラム、及び記録媒体
JP2005345154A (ja) 2004-05-31 2005-12-15 Kyushu Electric Power Co Inc 異常予兆検出方法および装置
JP2007018530A (ja) 2006-09-11 2007-01-25 Nec Corp 忘却型ヒストグラム計算装置及びそれを用いた外れ値度計算装置
JP2007074011A (ja) 2005-09-02 2007-03-22 Ntt Docomo Inc 無線通信端末およびQoS情報収集方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004063964A2 (en) * 2003-01-07 2004-07-29 Hach Company Classification of deviations in a process
CN100498326C (zh) * 2003-03-14 2009-06-10 日本电气株式会社 诊断支持系统
US7379846B1 (en) * 2004-06-29 2008-05-27 Sun Microsystems, Inc. System and method for automated problem diagnosis

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59218523A (ja) 1983-05-27 1984-12-08 Nissan Motor Co Ltd シ−ケンス機械の故障診断装置
JPH03206526A (ja) * 1989-10-09 1991-09-09 Hitachi Ltd 知識処理システム構築ツール及び推論プログラムの生成方法
JPH07141384A (ja) * 1993-11-12 1995-06-02 Hitachi Ltd データ特徴抽出方法およびデータ分類装置
JPH1020925A (ja) * 1996-07-05 1998-01-23 Toshiba Corp プラント診断装置
JP2002099319A (ja) * 2000-09-21 2002-04-05 Toshiba Corp プラント診断装置
JP2002155708A (ja) * 2000-11-17 2002-05-31 Toshiba Corp 発電プラントのガイダンス提供システムおよび方法
JP2003044123A (ja) * 2001-07-30 2003-02-14 Hitachi Ltd プラント診断装置
JP2005257416A (ja) 2004-03-10 2005-09-22 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 診断装置、検出装置、制御方法、検出方法、プログラム、及び記録媒体
JP2005345154A (ja) 2004-05-31 2005-12-15 Kyushu Electric Power Co Inc 異常予兆検出方法および装置
JP2007074011A (ja) 2005-09-02 2007-03-22 Ntt Docomo Inc 無線通信端末およびQoS情報収集方法
JP2007018530A (ja) 2006-09-11 2007-01-25 Nec Corp 忘却型ヒストグラム計算装置及びそれを用いた外れ値度計算装置

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
I. TAKEUCHI; K. YAMANISHI: "A unifying framework for detecting outliers and change points from time series", IEEE TRANSACTIONS ON KNOWLEDGE AND DATA ENGINEERING, vol. 18, no. 4, 2006, pages 482 - 492
M. M. BREUNING ET AL.: "Proceedings of ACM SIGMOD Conference", 2000, ACM PRESS, article "LOF: Identifying density-based local outliers"
See also references of EP2128592A4
U. LERNER: "PHD thesis", 2002, STANFORD UNIVERSITY, article "Hybrid Bayesian Networks for Reasoning about Complex Systems"

Cited By (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9918635B2 (en) 2008-12-23 2018-03-20 Roche Diabetes Care, Inc. Systems and methods for optimizing insulin dosage
US11327931B2 (en) 2008-12-23 2022-05-10 Roche Diabetes Care, Inc. Structured testing method for diagnostic or therapy support of a patient with a chronic disease and devices thereof
US10565170B2 (en) 2008-12-23 2020-02-18 Roche Diabetes Care, Inc. Structured testing method for diagnostic or therapy support of a patient with a chronic disease and devices thereof
US11350822B2 (en) 2008-12-23 2022-06-07 Roche Diabetes Care, Inc. Status reporting of a structured collection procedure
US11907180B2 (en) 2008-12-23 2024-02-20 Roche Diabetes Care, Inc. Structured testing method for diagnostic or therapy support of a patient with a chronic disease and devices thereof
US10437962B2 (en) 2008-12-23 2019-10-08 Roche Diabetes Care Inc Status reporting of a structured collection procedure
JP2015062126A (ja) * 2008-12-23 2015-04-02 エフ.ホフマン−ラ ロシュ アーゲーF. Hoffmann−La Roche Aktiengesellschaft 慢性病患者の診断支援または治療支援のための構造化検査方法及びその装置
US10368745B2 (en) 2008-12-23 2019-08-06 Roche Diabetes Care Inc Systems and methods for optimizing insulin dosage
JP2017104527A (ja) * 2008-12-23 2017-06-15 エフ.ホフマン−ラ ロシュ アーゲーF. Hoffmann−La Roche Aktiengesellschaft 慢性病患者の診断支援または治療支援のための構造化検査方法及びその装置
JP2014059910A (ja) * 2009-08-28 2014-04-03 Hitachi Ltd 設備状態監視方法
JP2011070515A (ja) * 2009-09-28 2011-04-07 Toyota Central R&D Labs Inc 障害診断システム、障害診断装置および障害診断方法
US8832006B2 (en) 2012-02-08 2014-09-09 Nec Corporation Discriminant model learning device, method and program
JP5327415B1 (ja) * 2012-02-08 2013-10-30 日本電気株式会社 判別モデル学習装置、判別モデル学習方法および判別モデル学習プログラム
WO2013118225A1 (ja) * 2012-02-08 2013-08-15 日本電気株式会社 最適クエリ生成装置、最適クエリ抽出方法および判別モデル学習方法
WO2013118224A1 (ja) * 2012-02-08 2013-08-15 日本電気株式会社 判別モデル学習装置、判別モデル学習方法および判別モデル学習プログラム
US9824069B2 (en) 2012-06-14 2017-11-21 International Business Machines Corporation Anomaly detection method, program, and system
US10133703B2 (en) 2012-06-14 2018-11-20 International Business Machines Corporation Anomaly detection method, program, and system
US9805002B2 (en) 2012-06-14 2017-10-31 International Business Machines Corporation Anomaly detection method, program, and system
US9495330B2 (en) 2012-06-14 2016-11-15 International Business Machines Corporation Anomaly detection method, program, and system
JP2014106199A (ja) * 2012-11-29 2014-06-09 Satake Corp 回転機械のモニタリング装置
US9702729B2 (en) 2014-04-30 2017-07-11 International Business Machines Corporation Sensor output change detection
US11035693B2 (en) 2014-04-30 2021-06-15 International Business Machines Corporation Sensor output change detection
US10444032B2 (en) 2014-04-30 2019-10-15 International Business Machines Corporation Sensor output change detection
US10551212B2 (en) 2014-04-30 2020-02-04 International Business Machines Corporation Sensor output change detection
JP2017049801A (ja) * 2015-09-02 2017-03-09 三菱重工業株式会社 運転支援システム、運転支援方法及びプログラム
JPWO2018083756A1 (ja) * 2016-11-02 2018-11-01 日本郵船株式会社 船舶における異常な事象の発生防止のための装置、プログラム、および記録媒体
WO2018083756A1 (ja) * 2016-11-02 2018-05-11 日本郵船株式会社 船舶における異常な事象の発生防止のための装置、プログラム、および記録媒体
JP2018190245A (ja) * 2017-05-09 2018-11-29 株式会社日立製作所 設備機器の異常診断システム
JP2022037107A (ja) * 2017-12-11 2022-03-08 日本電気株式会社 障害分析装置、障害分析方法および障害分析プログラム
JP7173273B2 (ja) 2017-12-11 2022-11-16 日本電気株式会社 障害分析装置、障害分析方法および障害分析プログラム
US11586981B2 (en) 2017-12-11 2023-02-21 Nec Corporation Failure analysis device, failure analysis method, and failure analysis program
WO2020183539A1 (ja) * 2019-03-08 2020-09-17 三菱電機株式会社 故障診断システム、予測ルール生成方法、および予測ルール生成プログラム
JP6647461B1 (ja) * 2019-03-08 2020-02-14 三菱電機株式会社 故障診断システム、故障予測方法、および故障予測プログラム
WO2020188696A1 (ja) * 2019-03-18 2020-09-24 三菱電機株式会社 異常検知装置および異常検知方法
JP6647473B1 (ja) * 2019-03-18 2020-02-14 三菱電機株式会社 異常検知装置および異常検知方法
JPWO2021186597A1 (ja) * 2020-03-18 2021-09-23
WO2021186597A1 (ja) * 2020-03-18 2021-09-23 日本電気株式会社 信号分析装置、信号分析方法、および記録媒体
JP7420219B2 (ja) 2020-03-18 2024-01-23 日本電気株式会社 信号分析装置、信号分析方法、およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
EP2813913A1 (en) 2014-12-17
JP5299267B2 (ja) 2013-09-25
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