WO2008069159A1 - Method for producing microlens - Google Patents

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Mibuko Shimada
Fumiko Yonezawa
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Abstract

Disclosed is a method for producing a microlens, which comprises a step for applying a radiation-sensitive resin composition over a substrate, a step for performing patterning through exposure and development, a step for applying a composition for forming a microlens upper film, and a step for performing a heat treatment. This method enables to produce microlenses with a narrow pitch between adjacent microlenses. The composition for forming a microlens upper film contains a polymer having at least one acid group selected from the group consisting of a carboxylic acid group, a sulfonic acid group and a phosphoric acid group.

Description

明 細 書 マイクロレンズの製造方法 技術分野  Technical Document Microlens Manufacturing Method Technical Field
本発明はマイク口レンズの製造法およびマイク口レンズ上層膜の形成用組成物 に関する。 さらに詳しくは、 C C Dや C MO Sに代表される固体撮像素子、 特に マイク口レンズを用いる固体撮像素子において隣接するマイク口レンズの隙間が 狭ピッチであるマイク口レンズの製造方法およびその方法で用いられるマイク口 レンズ上層膜の形成用組成物に関する。 背景技術  The present invention relates to a method for producing a microphone mouth lens and a composition for forming a microphone mouth lens upper layer film. More specifically, in a solid-state image pickup device represented by a CCD or a CMOS, particularly in a solid-state image pickup device using a microphone mouth lens, a method for manufacturing a microphone mouth lens in which a gap between adjacent microphone mouth lenses is a narrow pitch, and the method used therefor. The present invention relates to a composition for forming a lens upper layer film. Background art
近年の撮像素子は年々高精細化、 高画素化が進むとともに受光素子のサイズは 低下し、 感度の低下が問題となっている。 さらにマイクロレンズサイズの低下と ともにレンズ間の隙間がノィズの発生となりさらに問題となっている。  In recent years, image sensors have become increasingly finer and more pixelated year by year, and the size of the light receiving element has decreased, resulting in a problem of reduced sensitivity. Furthermore, as the microlens size decreases, the gap between the lenses causes noise, which is a further problem.
感度向上、 ノイズ低減や集光効率を上げるため、 隙間なくマイクロレンズを配 置することが理想的であり、 特開 2 0 0 6— 4 1 4 6 7号公報ゃ特開 2 0 0 6 - 1 5 6 8 9 8号公報で提案されているが、 その製造方法が具体的に示されていな かったり、 エッチングにより製造する場合がほとんどであった。  In order to improve sensitivity, reduce noise, and increase light collection efficiency, it is ideal to arrange microlenses without gaps. Japanese Patent Laid-Open No. 2 0 06-4 1 4 6 7 Although it has been proposed in Japanese Patent No. 1 5 6 8 98, the manufacturing method is not specifically shown, and in most cases it is manufactured by etching.
さらなる問題点としてはマイクロレンズの薄膜化、 サイズの低下に伴い、 エツ チングによる加工が困難になっている点である。 発明の開示  A further problem is that the processing by etching becomes difficult as the microlens film becomes thinner and the size decreases. Disclosure of the invention
本発明の目的は、 C C Dや C MO Sに代表される固体撮像素子、 特にマイクロ レンズを用いる固体撮像素子において隣接するマイク口レンズの隙間が狭ピッチ であるマイク口レンズの製造方法およびそのためのマイク口レンズ上層膜の形成 用組成物を提供することにある。  An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a microphone mouth lens in which a gap between adjacent microphone mouth lenses is a narrow pitch in a solid-state image pickup device represented by a CCD or a CMOS, particularly a solid-state image pickup device using a microlens, and a microphone therefor An object of the present invention is to provide a composition for forming a mouth lens upper layer film.
本発明の他の目的および利点は以下の説明から明らかになろう。 本発明によれば、 本発明の上記目的および利点は、 基板上に感放射線性樹脂組 成物からマイクロレンズを製造する方法であって、 (a ) 基板上にマイクロレン ズを形成するための感放射線性樹脂組成物を塗布する工程、 (b ) 露光及び現像 を行ってパターンニングする工程、 (c ) 基板上のパターン上にマイクロレンズ 上層膜形成用組成物を塗布する工程および (d ) 熱処理を行なう工程を有するこ とを特徴とするマイク口レンズの製造方法によって達成される。 Other objects and advantages of the present invention will become apparent from the following description. According to the present invention, the above objects and advantages of the present invention are a method for producing a microlens from a radiation-sensitive resin composition on a substrate, comprising: (a) a method for forming a microlens on a substrate. A step of applying a radiation-sensitive resin composition, (b) a step of patterning by exposure and development, (c) a step of applying a composition for forming a microlens upper layer film on a pattern on a substrate, and (d) This is achieved by a method of manufacturing a microphone mouth lens, which includes a step of performing a heat treatment.
本発明によれば、 本発明の上記目的および利点は、 第 2に、 カルボン酸基、 ス ルホン酸基およびリン酸基よりなる群から選ばれる少なくとも 1つの酸基を含む 重合体を含有しマイクロレンズ上層膜用形成に用いられる組成物によつて達成さ れる。 図面の簡単な説明  According to the present invention, the above-mentioned objects and advantages of the present invention are, secondly, containing a polymer containing at least one acid group selected from the group consisting of a carboxylic acid group, a sulfonic acid group, and a phosphoric acid group. This is achieved by the composition used for forming the lens upper layer film. Brief Description of Drawings
図 1は、 隣接するマイクロレンズの模式的断面図である。 発明を実施するための最良の形態  FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of adjacent microlenses. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
以下、 本発明のマイク口レンズの製造方法について詳細を述べる。  Hereinafter, the manufacturing method of the microphone mouth lens of the present invention will be described in detail.
本発明のマイクロレンズの製造方法は、 上記のとおり、 (a ) 基板上にマイク 口レンズを形成するための感放射線性樹脂組成物を塗布する工程と、 (b ) 露光 及び現像を行ってパターンニングする工程と、 (c ) 基板上のパターン上にマイ クロレンズ上層膜形成用組成物を塗布する工程と (d ) 熱処理を行なう工程から なる。  The method for producing a microlens of the present invention includes, as described above, (a) a step of applying a radiation-sensitive resin composition for forming a microphone aperture lens on a substrate, and (b) a pattern by performing exposure and development. (C) a step of applying a composition for forming a microlens upper layer film on a pattern on a substrate, and (d) a step of performing a heat treatment.
工程 (a ) における基板としては、 例えばカラーフィルター、 高屈折率樹脂層、 反射防止膜層、 平坦化膜層などの透明樹脂層が配置された光電変換素子が挙げら れる。 この際塗布方法は特に限定されることはなく、 例えばスピンコート法、 ノ 一コート法、 ロールコート法などの塗布方法を用いることができる。 膜厚は特に 規定されることはないが、 好ましくは 0 . 0 5〜1 0 mである。 通常は 5 0〜 1 2 0でにてプレベークして溶剤を揮発させることにより被膜を形成する。  Examples of the substrate in the step (a) include a photoelectric conversion element in which a transparent resin layer such as a color filter, a high refractive index resin layer, an antireflection film layer, and a planarization film layer is disposed. At this time, the coating method is not particularly limited, and for example, a coating method such as a spin coating method, a non-coating method, or a roll coating method can be used. The film thickness is not particularly limited, but is preferably 0.05 to 10 m. Usually, the film is formed by pre-baking at 50 to 120 to volatilize the solvent.
次いで工程 (b ) では、 先ず、 該被膜に露光を行なう。 露光に用いられる放射 線としては、 たとえば、 可視光線; g線、 i線等の紫外線、 A r Fエキシマレー ザ一、 K r Fエキシマレーザー等の遠紫外線;シンクロトロン放射線等の X線; 電子線などの各種放射線を挙げることができる。 Next, in step (b), first, the film is exposed. Radiation used for exposure Examples of rays include: visible rays; ultraviolet rays such as g rays and i rays; far ultraviolet rays such as Ar F excimer lasers and K r F excimer lasers; X rays such as synchrotron radiation; Can be mentioned.
露光後はアルカリ現像液により現像して所望のパターンを形成する。 現像方法 としては、 例えばシャワー現像、 スプレー現像、 浸漬現像、 パドル現像などが挙 げられる。 現像条件としては、 2 0〜4 0 で 1 0秒〜 5分間程度が好ましい。 アルカリ現像液としては、 たとえば、 水酸化ナトリウム、 水酸化カリウム、 アン モニァ水またはテトラメチルアンモニゥムヒドロキシドなどを、 濃度が 0 . 0 5 〜 5重量%程度になるように水に溶解させた水溶液が挙げられる。 これらアル力 リ水溶液には、 たとえば、 メタノール、 エタノールなどの水溶性の有機溶剤、 界 面活性剤などを適宜添加してもよい。 現像後は、 水で洗浄し、 風乾する。  After the exposure, development is performed with an alkaline developer to form a desired pattern. Examples of development methods include shower development, spray development, immersion development, and paddle development. The development conditions are preferably 20 to 40 and about 10 seconds to 5 minutes. As an alkaline developer, for example, sodium hydroxide, potassium hydroxide, ammonia water or tetramethylammonium hydroxide is dissolved in water so that the concentration is about 0.05 to 5% by weight. An aqueous solution may be mentioned. For example, a water-soluble organic solvent such as methanol or ethanol, a surfactant, or the like may be appropriately added to these aqueous solutions. After development, wash with water and air dry.
現像後あるいはマイクロレンズ上層膜形成用組成物の塗布、 水洗、 乾燥後は例 えば紫外線を照射することによって感放射線性組成物中に残存する 1 , 2一ナフ トキノンジアジド化合物をィンデンカルボン酸化合物に変換させることができる。 次いで工程 (c ) において、 マイクロレンズ上層膜形成用組成物の塗布を行な う。 感放射線性樹脂組成物同様塗布方法は特に限定されることはなく、 例えばス ビンコ一卜法、 バーコート法、 ロールコート法などの塗布方法を用いることがで きる。 マイクロレンズ上層膜形成用組成物の膜厚は、 固形分として、 好ましくは ;!〜 5 0 0 n m、 より好ましくは 2〜 4 0 0 n mであり、 溶剤を揮発させる目的 でプレベークを行なったり、 必要以上の上層膜用組成物を取り除くために水洗に よる洗浄を行なったりしてもよい。 本発明の上層膜形成用組成物は、 後記するよ うに酸基を有するため、 この酸基がマイク口レンズ組成物中の官能基と反応する。 そのため、 過剰の上層膜形成用組成物は洗浄によって除去されるものの、 上層膜 形成用組成物が全て洗浄により除去されることはない。 洗浄を行って、 過剰の上 層膜形成用組成物を除去した後でもマイクロレンズ上に残存する上層膜形成用組 成物は以後の工程 (d ) において、 十分にレンズのメルト性を制御することがで きる。 このような残存する上層膜形成用組成物も本発明におけるマイクロレンズ 上層膜として十分に機能する上層膜を与えるものである。 - その後、 工程 (d ) において、 パターンを溶融してマイクロレンズを形成する とともに、 永久膜としての特性を充分発揮させるために、 加熱処理を行う。 加熱 処理条件は特に限定されないが、 例えばオーブン、 ホットプレート、 遠赤外線炉 などを使用し、 好ましくは 1 0 0〜3 0 0でで 3 0秒〜 3 0分処理を行なう。 本発明で用いられる好ましい感放射線性樹脂組成物は、 例えば (A) アルカリ 可溶性樹脂、 (B ) 1 , 2—ナフトキノンジアジド化合物、 および (C ) 分子内 に少なくとも 1個のエポキシ基を有する化合物からなる。 After development or after application of the composition for forming the microlens upper layer film, washing with water, and drying, the 1,2-mononaphthoquinonediazide compound remaining in the radiation-sensitive composition is converted into an indenecarboxylic acid compound, for example, by irradiating ultraviolet rays. Can be made. Next, in the step (c), the microlens upper layer film-forming composition is applied. The coating method is not particularly limited as in the case of the radiation sensitive resin composition. For example, a coating method such as a spin coating method, a bar coating method, or a roll coating method can be used. The film thickness of the microlens upper layer film-forming composition is preferably as solid content:! ~ 500 nm, more preferably 2 ~ 400 nm, and pre-baking for the purpose of volatilizing the solvent, In order to remove the composition for the upper layer film more than necessary, it may be washed with water. Since the composition for forming an upper layer film of the present invention has an acid group as described later, this acid group reacts with a functional group in the microphone mouth lens composition. Therefore, although the excess upper layer film-forming composition is removed by washing, the upper layer film-forming composition is not completely removed by washing. Even after washing and removing the excess upper layer forming composition, the upper layer forming composition remaining on the microlens sufficiently controls the melt property of the lens in the subsequent step (d). be able to. Such a remaining composition for forming an upper layer film also provides an upper layer film that sufficiently functions as the upper layer film of the microlens in the present invention. - Thereafter, in the step (d), the pattern is melted to form a microlens, and heat treatment is performed in order to sufficiently exhibit the characteristics as a permanent film. The heat treatment conditions are not particularly limited. For example, an oven, a hot plate, a far-infrared furnace or the like is used, and the treatment is preferably performed at 100 to 300 for 30 seconds to 30 minutes. Preferred radiation-sensitive resin compositions used in the present invention include, for example, (A) an alkali-soluble resin, (B) 1,2-naphthoquinonediazide compound, and (C) a compound having at least one epoxy group in the molecule. Become.
(A) アルカリ可溶性樹脂  (A) Alkali-soluble resin
本発明に用いられるアル力リ可溶性樹脂とは、 アル力リ水溶液に可溶な樹脂で あり、 例えばノポラック樹脂、 α, ;8—不飽和カルボン酸の共重合体 (以下、 「共重合体 I」 という) およびヒドロキシスチレン類の重合体またはそれとスチ レン類との共重合体の核臭素化体 (以下 「臭素化重合体 I I」 という) を、 好ま しいものとして挙げることができる。  The strength-soluble resin used in the present invention is a resin that is soluble in the strength strength aqueous solution. For example, a nopolac resin, α,; 8-unsaturated carboxylic acid copolymer (hereinafter referred to as “copolymer I”). And a nuclear brominated polymer of a copolymer of hydroxystyrenes or a copolymer thereof with styrenes (hereinafter referred to as “brominated polymer II”) may be mentioned as preferred.
ノポラック樹脂は、 フエノール類を、 酸性触媒の存在下、 アルデヒドと縮合さ せることにより得られる。 このフエノール類としては、 例えばフエノール、 m— クレゾール、 o—クレゾール等のクレゾール; 2 , 5—キシレノール、 3 , 5 - キシレノール、 3 , 4—キシレノール、 2, 3 —キシレノール等のキシレノー ル; m—ェチルフエノール、 p—ェチルフエノール、 o—ェチルフエノール、 p — t —ブチルフエノール等のアルキルフエノール; p—メトキシフエノール、 m —メトキシフエノール、 3, 5—ジメトキシフエノール、 2—メトキシー 4ーメ チルフエノール、 m—エトキシフエノール、 p—エトキシフエノール、 m—プロ ポキシフエノール、 p—プロポキシフエノール、 m—ブトキシフエノール、 p— t 一ブトキシフエノール等のアルコキシフエノール; 2—メチル一 4 _イソプロ ピルフエノール等のビスアルキルフエノール; m—クロ口フエノール、 p—クロ 口フエノール、 o—クロ口フエノール、 ジヒドロキシビフエニル、 ビスフエノー ル八、 フエニルフエノール、 レゾルシノール、 ナフトール等のヒドロキシ芳香族 化合物を使用することができる。  The nopolac resin is obtained by condensing phenols with an aldehyde in the presence of an acidic catalyst. These phenols include, for example, cresols such as phenol, m-cresol, o-cresol; xylenols such as 2,5-xylenol, 3,5-xylenol, 3,4-xylenol, 2,3-xylenol; Alkylphenols such as cetylphenol, p-ethylphenol, o-ethylphenol, p — t —butylphenol; p-methoxyphenol, m —methoxyphenol, 3,5-dimethoxyphenol, 2-methoxy-4-methylphenol, m-ethoxy Alkoxyphenols such as phenol, p-ethoxyphenol, m-propoxyphenol, p-propoxyphenol, m-butoxyphenol, p-t-butoxyphenol; bisalkylphenols such as 2-methyl-4-alkylpropylphenol; m —Black and white It can be used p- black port phenol, o- black port phenol, dihydroxy Biff enyl, Bisufueno Le eight, phenylalanine phenol, resorcinol, a hydroxy aromatic compound of naphthol.
またアルデヒドとしては、 例えばホルムアルデヒド、 パラホルムアルデヒド、 ァセトアルデヒド、 プロピルアルデヒド、 ベンズアルデヒド、 フエニルァセトァ ルデヒド、 α—フエニルプロピルアルデヒド、 8—フエニルプロピルアルデヒド、 ο—ヒドロキシベンズアルデヒド、 m—ヒドロキシベンズアルデヒド、 p—ヒド ロキシベンズアルデヒド、 o—クロ口べンズアルデヒド、 m—クロ口べンズアル デヒド、 p—クロ口べンズアルデヒド、 o—二トロべンズアルデヒド、 m—二ト 口べンズアルデヒド、 p—ニトロべンズアルデヒド、 o—メチルベンズアルデヒ ド、 m—メチルベンズアルデヒド、 p—メチルベンズアルデヒド、 p—ェチルベ ンズアルデヒド、 p— n—ブチルベンズアルデヒド、 フルフラール、 クロロアセ 卜アルデヒドおよびこれらのァセタール体、 例えばクロロアセトアルデヒド、 ジ ェチルァセタール等を使用することができる。 これらの中で、 ホルムアルデヒド を使用するのが好ましい。 Examples of aldehydes include formaldehyde, paraformaldehyde, Acetaldehyde, Propylaldehyde, Benzaldehyde, Phenylacetaldehyde, α-Phenylpropylaldehyde, 8-Phenylpropylaldehyde, ο-Hydroxybenzaldehyde, m-Hydroxybenzaldehyde, p-Hydroxybenzaldehyde, o-Clorobenzaldehyde, m—Black mouth benzaldehyde, p—Black mouth benzaldehyde, o—Nitrobensaldehyde, m—Nitto mouth benzaldehyde, p—Nitrobenzaldehyde, o—Methylbenzaldehyde, m—Methyl Benzaldehyde, p-methylbenzaldehyde, p-ethylbenzaldehyde, p-n-butylbenzaldehyde, furfural, chloroacetaldehyde and their acetals, such as chloroacetaldehyde, decylacetal It can be used. Of these, formaldehyde is preferably used.
アルデヒドは、 フエノール類 1モルに対して、 好ましくは 0. 7〜3モル、 よ り好ましくは 1. 1〜2モルの割合で使用される。  Aldehydes are preferably used in a proportion of 0.7 to 3 mol, more preferably 1.1 to 2 mol, per mol of phenols.
酸性触媒としては、 例えば塩酸、 硫酸、 ギ酸、 酢酸およびシユウ酸等を好まし く使用することができる。  As the acidic catalyst, for example, hydrochloric acid, sulfuric acid, formic acid, acetic acid and oxalic acid can be preferably used.
これらの酸性触媒の使用量は、 フエノール類およびアルデヒド (以下、 「反応 原料」 という) の合計量 1モル当たり 1 X 1 0 _4〜5 X 1 0—1が好ましい。 The amount of these acidic catalysts used is preferably 1 X 10 — 4 to 5 X 10 0-1 per mole of the total amount of phenols and aldehyde (hereinafter referred to as “reaction raw material”).
縮合反応においては、 通常、 反応媒質として水を用いるが、 縮合反応に使用す るフエノール類がアルデヒドの水溶液に溶解せず、 反応初期から不均一系になる 場合には、 反応媒質として親水性溶媒を使用することができる。  In the condensation reaction, water is usually used as the reaction medium. However, if the phenols used in the condensation reaction do not dissolve in the aldehyde aqueous solution and become heterogeneous from the beginning of the reaction, a hydrophilic solvent is used as the reaction medium. Can be used.
かかる溶媒としては、 例えばメタノール、 エタノール、 プロパノール、 ブ夕ノ —ル等のアルコール;アセトン、 メチルェチルケトン、 メチルイソプチルケトン 等のケトン;テトラヒドロフラン、 ジォキサン等の環状エーテルを挙げることが できる。  Examples of such a solvent include alcohols such as methanol, ethanol, propanol, and butyl alcohol; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, and methyl isobutyl ketone; and cyclic ethers such as tetrahydrofuran and dioxane.
これらの反応媒質の使用量は、 反応原料 1 0 0重量部あたり、 好ましくは 5 0 〜1, 0 0 0重量部である。  The amount of the reaction medium used is preferably 50 to 1,000 parts by weight per 100 parts by weight of the reaction raw material.
縮合反応時の反応温度は、 反応原料の反応性に応じて適宜調整することができ る。 好ましくは 1 0〜1 5 O t:であり、 より好ましくは 7 0〜1 3 0でである。 共重合体 Iは α , ι6—不飽和カルボン酸と他のラジカル重合性化合物とを溶媒 中でラジカル重合することにより得ることができる。 The reaction temperature during the condensation reaction can be appropriately adjusted according to the reactivity of the reaction raw materials. Preferably it is 10 to 15 Ot :, more preferably 70 to 1 30. Copolymer I can be obtained by radical polymerization of α, ι6-unsaturated carboxylic acid and another radical polymerizable compound in a solvent.
この α, j8—不飽和カルボン酸としては、 例えばアクリル酸、 メ夕クリル酸、 クロトン酸等のモノカルボン酸;マレイン酸、 フマル酸、 シトラコン酸、 メサコ ン酸、 ィタコン酸等のジカルボン酸等を挙げることができる。  Examples of the α, j8-unsaturated carboxylic acid include monocarboxylic acids such as acrylic acid, methacrylic acid, and crotonic acid; dicarboxylic acids such as maleic acid, fumaric acid, citraconic acid, mesaconic acid, and itaconic acid. Can be mentioned.
また他のラジカル重合性化合物としては、 例えば酸無水物、 例えば無水マレイ ン酸、 無水ィタコン酸等;ジカルボン酸モノエステル、 例えばマレイン酸モノエ チル、 フマル酸モノエチル、 ィタコン酸モノェチル等;共役ジォレフイン、 例え ば 1 , 3—ブタジエン、 イソプレン、 クロ口プレン、 ジメチルー 1, 3—ブ夕ジ ェン等;モノォレフィン系不飽和化合物、 例えばメチルメタクリレート、 ェチル メタクリレート、 n—ブチルメタクリレート、 s e c—ブチルメタクリレート、 t 一プチルメ夕クリレートの如きメ夕クリル酸アルキルエステル、 メチルァクリ レート、 イソプロピルァクリレートの如きアクリル酸アルキルエステル、 シクロ へキシルメタクリレート、 2 _メチルシクロへキシルメタクリレートの如きメタ クリル酸環状アルキルエステル、 シクロへキシルァクリレート、 2—メチルシク 口へキシルァクリレートの如きアクリル酸環状アルキルエステル、 フエ二ルメ夕 クリレート、 ベンジルメ夕クリレートの如きメ夕クリル酸ァリールエステル、 フ ェニルァクリレート、 ベンジルァクリレートの如きアクリル酸ァリールエステル、 スチレン、 α—メチルスチレン、 o—メチルスチレン、 m—メチルスチレン、 p ーメチルスチレン、 p—メトキシスチレン、 アクリロニトリル、 メ夕クリロニト リル、 塩化ビニル、 塩化ビニリデン、 アクリルアミド、 メ夕クリルアミド、 酢酸 ビニル等を用いることができる。  Other radical polymerizable compounds include, for example, acid anhydrides such as maleic anhydride, itaconic anhydride, etc .; dicarboxylic acid monoesters such as monoethyl maleate, monoethyl fumarate, monoethyl itaconate, etc .; conjugated diolefins, for example 1,3-Butadiene, isoprene, black-opened plane, dimethyl-1,3-butylene, etc .; monoolefin-unsaturated compounds such as methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n-butyl methacrylate, sec-butyl methacrylate, t Methacrylic acid alkyl esters such as methyl methacrylate, methyl acrylate, acrylic acid alkyl esters such as isopropyl acrylate, methacrylic acid cyclic such as cyclohexyl methacrylate, 2-methylcyclohexyl methacrylate Alkyl ester such as alkyl ester, cyclohexyl acrylate, 2-methyl acrylate, cyclic alkyl ester such as hexyl acrylate, phenyl acrylate, phenyl acrylate, phenyl acrylate, phenyl acrylate Acrylate, aryl ester such as benzyl acrylate, styrene, α-methyl styrene, o-methyl styrene, m-methyl styrene, p-methyl styrene, p-methoxy styrene, acrylonitrile, methacrylonitrile, vinyl chloride, chloride Vinylidene, acrylamide, methacrylic amide, vinyl acetate, etc. can be used.
共重合体 Iの α, ι6—不飽和カルボン酸の共重合割合は、 共重合体に基づき、 好ましくは 5〜4 0重量%、 特に好ましくは 1 5〜3 0重量%である。 5重量% 未満であると、 得られる共重合体がアルカリ水溶液に溶解しにくくなるので現像 残りを生じ易く、 十分なるレジストパターンを作り難い。 逆に 4 0重量%を超え ると、 得られる共重合体のアル力リ水溶液に対する溶解性が大きくなりすぎて未 露光部の溶解、 即ち膜現像を防ぐことが難しくなる。 また、 他のラジカル重合性化合物としては、 得られる共重合体の性質等から共 役ジォレフインまたはモノォレフィン系不飽和化合物が好ましい。 The copolymerization ratio of the α, ι6-unsaturated carboxylic acid in the copolymer I is preferably 5 to 40% by weight, particularly preferably 15 to 30% by weight, based on the copolymer. If it is less than 5% by weight, the resulting copolymer is difficult to dissolve in an alkaline aqueous solution, so that a development residue is likely to occur, and it is difficult to form a sufficient resist pattern. On the other hand, if it exceeds 40% by weight, the solubility of the resulting copolymer in an aqueous solution of alcohol will be too great, and it will be difficult to prevent dissolution of unexposed areas, that is, film development. Further, as the other radical polymerizable compound, a synergistic diolefin or monoolefin-unsaturated compound is preferable from the properties of the resulting copolymer.
この共役ジォレフィンを用いると、 ゴム特有の柔軟性を共重合体に与えること ができるので、 共重合体に柔軟性が生じ、 共重合体の割れがなくなり、 製品の歩 留りを著しく向上させることができる。 また、 基板に対する共重合体の密着力が 高くなる。 さらに、 共役ジォレフインの共重合量を増やすと得られた共重合体の 溶融温度は低温側に移行するようになる。  By using this conjugated diolefin, it is possible to give the copolymer the unique flexibility of the rubber, so that the copolymer is flexible, the copolymer is not cracked, and the yield of the product is significantly improved. Can do. In addition, the adhesion of the copolymer to the substrate is increased. Furthermore, when the copolymerization amount of conjugated diolefin is increased, the melting temperature of the obtained copolymer shifts to a lower temperature side.
また、 モノォレフィン系不飽和化合物を共重合体中に含有させることによって、 共重合体の機械的特性を適度にコントロールし、 前述したアル力リ水溶液に可溶 な成分との関係によりアル力リ水溶液に対する溶解性を微妙に調整することがで さる。  In addition, by including a monoolefin-unsaturated compound in the copolymer, the mechanical properties of the copolymer are appropriately controlled. It is possible to finely adjust the solubility in water.
モノォレフィン系不飽和化合物としては、 例えばメチルメタクリレート、 ェチ ルメ夕クリレート、 n—ブチルメ夕クリレート、 s e c—ブチルメタクリレート、 t一ブチルメタクリレート等のメ夕クリル酸アルキルエステル;メチルァクリレ —ト、 イソプロピルァクリレート等のアクリル酸アルキルエステル;シクロへキ シルメ夕クリレート、 2—メチルシクロへキシルメタクリレート等のメ夕クリル 酸環状アルキルエステル;シクロへキシルァクリレート、 2—メチルシクロへキ シルァクリレート等のアクリル酸環状アルキルエステル;フエニルメ夕クリレ一 ト、 ベンジルメ夕クリレート等のメ夕クリル酸ァリールエステル;フエ二ルァク リレート、 ベンジルァクリレート等のアクリル酸ァリールエステル;マレイン酸 ジェチル、 フマル酸ジェチル、 ィタコン酸ジェチル等のジカルボン酸のジエステ ル; 2—ヒドロキシェチルメタクリレート、 2—ヒドロキシプロピルメタクリレ ート等のメ夕クリル酸のヒドロキシアルキルエステル;スチレン、 α—メチルス チレン、 ο—メチルスチレン、 m—メチルスチレン、 p—メチルスチレン、 ビニ ルトルエン、 p—メトキシスチレン、 アクリロニトリル、 メ夕クリロ二トリル、 塩化ビニル、 塩化ビニリデン、 アクリルアミド、 メ夕クリルアミド、 酢酸ビニル 等を用いることができる。  Examples of monoolefin-unsaturated compounds include methyl methacrylate alkyl esters such as methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n-butyl methacrylate, sec-butyl methacrylate, and t-butyl methacrylate; methyl acrylate and isopropyl acrylate. Acrylic acid alkyl esters such as cyclohexyl methacrylate, 2-methylcyclohexyl methacrylate, and other cyclic acid cyclic alkyl esters; Cyclohexyl acrylate, acrylic acid cyclic alkyl esters such as 2-methylcyclohexyl methacrylate, and the like Methacrylic acid aryl ester such as phenyl methacrylate and benzyl methacrylate; acrylic acid aryl ester such as phenyl acrylate and benzyl acrylate; jetyl maleate, fuma Diesters of dicarboxylic acids such as cetyl acrylate and decyl itaconate; hydroxyalkyl esters of methacrylic acid such as 2-hydroxyethyl methacrylate and 2-hydroxypropyl methacrylate; styrene, α-methylstyrene, ο— Methyl styrene, m-methyl styrene, p-methyl styrene, vinyl toluene, p-methoxy styrene, acrylonitrile, methacrylonitrile, vinyl chloride, vinylidene chloride, acrylamide, methacrylamide, vinyl acetate and the like can be used.
これらの化合物は一種または二種以上を混合して使用することができる。 モノ ォレフィン系不飽和化合物が諸特性に与える影響を考慮するとその好ましい共重 合量は、 共重合体に基づき、 2 5〜9 0重量%、 特に好ましくは 3 0〜8 0重 量%である。 モノォレフィン系不飽和化合物の含有量が 2 5重量%未満では、 樹 脂中の他の成分、 即ち共役ジォレフィン系化合物やアルカリ水溶液に可溶な成分 である α, ;6—不飽和カルボン酸の含量が増加するので、 樹脂の機械的物性ゃァ ルカリ現像性のコントロールが難しくなり、 他方 9 0重量%を超えると、 相対的 にアル力リ水溶液に対する樹脂の溶解度が減ずるようになるので好ましくない。 共重合体 Iを製造する際に用いられる溶媒としては、 例えばメタノール、 エタ ノール等のアルコール;テトラヒドロフラン等のエーテル;エチレングリコール モノメチルエーテル等のグリコールエーテル;メチルセ口ソルブアセテート等の セロソルブエステル;その他に芳香族炭化水素、 ケトン、 エステル等が挙げられ る。 These compounds can be used alone or in combination of two or more. mono Considering the influence of the olefinic unsaturated compound on various properties, the preferred copolymerization amount is 25 to 90% by weight, particularly preferably 30 to 80% by weight, based on the copolymer. If the content of the monoolefin-unsaturated compound is less than 25% by weight, α, which is a component soluble in other components in the resin, that is, a conjugated diolefin-based compound or an alkaline aqueous solution, 6-unsaturated carboxylic acid content Therefore, it is difficult to control the mechanical properties of the resin and the developability of the resin. On the other hand, if it exceeds 90% by weight, the solubility of the resin in the aqueous solution of alcohol will be reduced, which is not preferable. Solvents used in the production of Copolymer I include, for example, alcohols such as methanol and ethanol; ethers such as tetrahydrofuran; glycol ethers such as ethylene glycol monomethyl ether; cellosolve esters such as methyl solvate acetate; Group hydrocarbons, ketones, esters and the like.
ラジカル重合における重合触媒としては通常のラジカル重合開始剤が使用でき、 例えば 2, 2 ' —ァゾビスイソブチロニトリル、 2 , 2, ーァゾビス— (2, 4 —ジメチルバレロニトリル)、 2 , 2, 一ァゾビス一 (4ーメトキシ一 2 , 4— ジメチルバレロニトリル) 等のァゾ化合物;ベンゾィルベルォキシド、 ラウロイ ルペルォキシド、 t一ブチルペルォキシビバレート、 1, 1一ビス一 (tーブチ ルベルォキシ) シク口へキサン等の有機過酸化物および過酸化水素等を挙げるこ とができる。 過酸化物をラジカル重合開始剤に使用する場合、 還元剤を組み合せ てレドックス型の開始剤としてもよい。  As a polymerization catalyst in radical polymerization, usual radical polymerization initiators can be used. For example, 2, 2'-azobisisobutyronitrile, 2, 2, azobis- (2, 4-dimethylvaleronitrile), 2, 2 Azo compounds such as 4-methoxy-1-2,4-dimethylvaleronitrile; benzoylberoxide, lauroyl peroxide, tert-butylperoxybivalate, 1,1-bis-1, ) Organic peroxides such as hexane hexane and hydrogen peroxide can be mentioned. When a peroxide is used as a radical polymerization initiator, a redox initiator may be combined with a reducing agent.
臭素化重合体 I Iとしては、 例えば下記式 (I I )  Examples of the brominated polymer I I include, for example, the following formula (I I)
— (- CH2— CH ^— で示される構造単位 (I I) または構造単位 (I I) と下記式 (I I I) — (-CH 2 — CH ^ — Structural unit (II) or structural unit (II) represented by the following formula (III)
Figure imgf000010_0001
ここで、 は水素原子または炭素数 1〜5のアルキル基を示し、 R2は水素原 子、 メチル基またはメトキシ基を示す、
Figure imgf000010_0001
Here, represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 2 represents a hydrogen atom, a methyl group or a methoxy group,
で示される構造単位 (I I I) を含有して成りそして構造単位 (I I) が構造単 位 (I I) と構造単位 (I I I) の合計に基づいて 100〜70モル%を占める 重合体の核臭素置換されたアル力リ可溶性ポリマーが好ましく用いられる。 臭素化重合体 I Iを製造する方法としては、 例えばヒドロキシスチレン類とス チレン類を共重合させ、 前駆体ポリマーを得た後にポリマーを臭素化する方法 (以下、 「直接法」 という) と、 ヒドロキシスチレン類のヒドロキシル基を他の 官能基で保護した化合物を用いてスチレン類と共重合させた後に、 適当な方法を 用いてヒドロキシル基に変換して前駆体ポリマーを得た後にポリマーを臭素化す る方法 (以下、 「間接法」 という) とがある。 本発明においてはマイクロレンズ を形成させる際に悪影響が生じない限り、 いずれの手法を用いてもかまわない。 また、 ヒドロキシル基の位置はいずれでもよいが、 スチレンの二重結合に対し て P位にあるのが好ましい。 And the structural unit (II) accounts for 100 to 70 mol% based on the total of the structural unit (II) and the structural unit (III). Preferably used is an al force resoluble polymer. The brominated polymer II can be produced by, for example, copolymerizing hydroxystyrenes and styrenes to obtain a precursor polymer and then brominating the polymer (hereinafter referred to as “direct method”), hydroxy After copolymerization with styrene using a compound in which the hydroxyl group of styrene is protected with another functional group, the polymer is brominated after conversion to hydroxyl group using an appropriate method to obtain a precursor polymer Method (hereinafter referred to as “indirect method”). In the present invention, any method may be used as long as no adverse effect occurs when the microlens is formed. The hydroxyl group may be located at any position, but is preferably located at the P position with respect to the double bond of styrene.
前駆体ポリマーとしては、 上記式 (I I) で表わされる構造単位のみからなる ホモポリマーおよび上記式 (I I) で表わされる構造単位と上記式 (I I I) で 表される構造単位からなるコポリマーを挙げることができる。  Examples of the precursor polymer include a homopolymer composed only of the structural unit represented by the above formula (II) and a copolymer composed of the structural unit represented by the above formula (II) and the structural unit represented by the above formula (III). Can do.
この前駆体ポリマー中の共重合割合としては、 ヒドロキシスチレン類は 70モ ル%以上が好ましく、 特に好ましくは 85モル%以上である。  The copolymerization ratio in the precursor polymer is preferably 70 mol% or more, particularly preferably 85 mol% or more for hydroxystyrenes.
70モル%未満であると、 得られた共重合体がアルカリ水溶液に溶解しにくく なるので現像残りを生じ易くマイクロレンズに必要なパターンを作り難い。 直接法で前駆体ポリマーを得る際のスチレン類としては、 例えばスチレン、 ひ ーメチルスチレン、 o—メチルスチレン、 m—メチルスチレン、 p—メチルスチ レン、 p—ビニルトルエン、 . p—メトキシスチレン等が挙げられる。 また、 ヒド ロキシスチレン類としては、 例えば o—ヒドロキシスチレン、 m—ヒドロキシス チレン、 p—ヒドロキシスチレン力挙げられる。 When it is less than 70 mol%, the obtained copolymer is difficult to dissolve in an alkaline aqueous solution. Therefore, it is difficult to produce a pattern necessary for the microlens because the development residue is likely to occur. Examples of styrenes for obtaining a precursor polymer by the direct method include styrene, hypermethylstyrene, o-methylstyrene, m-methylstyrene, p-methylstyrene, p-vinyltoluene, and .p-methoxystyrene. . Examples of the hydroxystyrenes include o-hydroxystyrene, m-hydroxystyrene, and p-hydroxystyrene.
間接法によって、 臭素化重合体 I Iを得る際のヒドロキシスチレン類の前駆体 モノマーとしては、 例えば p—ベンジロキシスチレン、 p— t e r t—ブ卜キシ スチレン、 p— t e r t—ブトキシカルボニロキシスチレン、 p— t e r t—ブ チルジメチルシロキシスチレン、 p—ァセトキシスチレン等を用いることができ る。 そして、 スチレン類としては、 例えばスチレン、 α—メチルスチレン、 ο _ メチルスチレン、 m—メチルスチレン、 p—メチルスチレン、 p—ビニルトルェ ン、 p—メトキシスチレン等を用いることができる。  Examples of precursor monomers of hydroxystyrenes for obtaining brominated polymer II by the indirect method include p-benzyloxystyrene, p-tert-butoxystyrene, p-tert-butoxycarbonyloxystyrene, p — Tert-Butyldimethylsiloxystyrene, p-acetoxystyrene, etc. can be used. Examples of styrenes that can be used include styrene, α-methylstyrene, o_methylstyrene, m-methylstyrene, p-methylstyrene, p-vinyltoluene, and p-methoxystyrene.
そして、 このヒドロキシスチレン類の適当な処理、 例えば加水分解をすること によって前駆体ポリマーを得ることができる。  Then, a precursor polymer can be obtained by subjecting the hydroxystyrenes to an appropriate treatment, for example, hydrolysis.
また、 この前駆体モノマーとスチレン類の共重合体を製造する際の重合触媒と しては、 ラジカル重合開始剤、 ァニオン重合開始剤等を用いることができる。 臭素化重合体 I Iは、 前駆体ポリマーを四塩化炭素等の有機溶媒に溶解させた 後、 反応温度が 3 0でを超えないように注意しながら、 臭素を滴下することによ つて得ることができる。 この際の臭素化率としては、 ベンゼン核 1 0 0モル%に 対して 5モル%以上が好ましい。 5モル%未満であると所望のアル力リ溶解性が 得られないことがある。 市販の樹脂としては丸善石油化学 (株) 製マルカリンカ — M、 マルカリンカ一M B、 P HM- C , 日本曹達 (株) 製 V Pポリマー、 東邦 化学 (株) 製パラヒドロキシスチレン、 東洋合成 (株) 製パラヒドロキシスチレ ンなどを挙げることができる。  In addition, a radical polymerization initiator, an anion polymerization initiator, or the like can be used as a polymerization catalyst for producing the precursor monomer and styrene copolymer. Brominated polymer II can be obtained by adding bromine dropwise after dissolving the precursor polymer in an organic solvent such as carbon tetrachloride and taking care that the reaction temperature does not exceed 30. it can. The bromination rate in this case is preferably 5 mol% or more with respect to 100 mol% of benzene nuclei. If it is less than 5 mol%, the desired strength-resolving property may not be obtained. Commercially available resins include Maruzalin Petrochemical Co., Ltd. Marcarinka — M, Marcarinka IMB, P HM- C, Nippon Soda Co., Ltd. VP polymer, Toho Chemical Co., Ltd. parahydroxystyrene, Toyo Gosei Co., Ltd. Parahydroxystyrene and the like can be mentioned.
以上のアル力リ可溶性樹脂の分子量は、 本発明の組成物の溶液を均一に塗布す ることが可能である限り特に限定されるものではなレ ^が、 好ましくは重量平均分 子量で 5 0 0〜 1 0 0, 0 0 0、 さらに好ましくは 1 , 0 0 0〜 7 0, 0 0 0で ある。 The molecular weight of the above Al-soluble resin is not particularly limited as long as the solution of the composition of the present invention can be uniformly applied, but it is preferably 5 in terms of weight average molecular weight. 0 0 to 1 0 0, 0 0 0, more preferably 1, 0 0 0 to 7 0, 0 0 0 is there.
(B) 1, 2—ナフトキノンジアジド化合物  (B) 1,2-Naphthoquinonediazide compound
本発明に用いられる感光剤は、 アル力リ可溶性樹脂およびエポキシ化合物との 反応によって、 組成物に耐熱性 ·耐溶剤性を付与させることができる。 1, 2— ナフトキノンジアジド化合物、 例えば 1, 2 _ナフトキノンジアジドスルホン酸 エステルとしては、 例えばフエノール性化合物またはアルコール性化合物と、 1, 2—ナフトキノンジアジドスルホン酸ハラィドとの縮合物を好ましいものとして 挙げられる。 1, 2 _ナフトキノンジアジドスルホン酸ハライドとしては、 1, 2—ナフトキノンジアジドスルホン酸ク口リドが好ましい。  The photosensitizer used in the present invention can impart heat resistance / solvent resistance to the composition by a reaction with an alcohol-soluble resin and an epoxy compound. 1,2-Naphthoquinonediazide compounds, for example, 1,2-naphthoquinonediazide sulfonic acid esters include, for example, condensates of phenolic compounds or alcoholic compounds with 1,2-naphthoquinonediazide sulfonic acid halides. . As the 1,2-naphthoquinone diazide sulfonic acid halide, 1,2-naphthoquinone diazide sulfonic acid halide is preferable.
上記フエノール性化合物またはアルコール性化合物としては、 例えば、 ジヒド ロキシベンゾフエノン、 卜リヒドロキシベンゾフエノン、 テトラヒドロキシベン ゾフエノン、 ペン夕ヒドロキシベンゾフエノン、 へキサヒドロキシベンゾフエノ ン、 (ポリヒドロキシフエニル) アルカンを挙げることができる。  Examples of the phenolic compound or alcoholic compound include dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, penoxyhydroxybenzophenone, hexahydroxybenzophenone, and (polyhydroxyphenone). Enyl) Alkanes.
これらの具体例として、 例えばジヒドロキシベンゾフエノンとしては、 4, 4 ' —ジヒドロキシジフエニルメタン、 4, 4' ージヒドロキシジフエニルエー テル等:  Specific examples thereof include, for example, 4,4′-dihydroxydiphenylmethane, 4,4′-dihydroxydiphenyl ether, etc. as dihydroxybenzophenone:
トリヒドロキシベンゾフエノンとしては、 2, 3, 4—卜リヒドロキシベンゾフ ェノン、 2, 4, 6—トリヒドロキシベンゾフエノン等; Examples of trihydroxybenzophenone include 2, 3, 4-trihydroxybenzophenone, 2, 4, 6-trihydroxybenzophenone, etc .;
テトラヒドロキシベンゾフエノンとしては、 2, 2', 4, 4' —テ卜ラヒド ロキシベンゾフエノン、 2, 3, 4, 3 ' —テトラヒドロキシベンゾフエノン、 2, 3, 4, 4, ーテトラヒドロキシベンゾフエノン、 2, 3, 4, 2, —テ卜 ラヒドロキシー4, 一メチルベンゾフエノン、 2, 3, 4, 4, ーテトラヒドロ キシ一3' —メトキシベンゾフエノン等;  Tetrahydroxybenzophenone includes 2, 2 ', 4, 4' — tetrahydrobenzobenzophenone, 2, 3, 4, 3 '— tetrahydroxybenzophenone, 2, 3, 4, 4, Tetrahydroxybenzophenone, 2, 3, 4, 2, —tetrahydroxy-4, 1-methylbenzophenone, 2, 3, 4, 4, 4-tetrahydroxy-1 3 ′ —methoxybenzophenone, etc .;
ペン夕ヒドロキシベンゾフエノンとしては、 2, 3, 4, 2 ', 6, 一ペン夕 ヒドロキシベンゾフエノン等;  Pen Yun hydroxybenzophenone includes 2, 3, 4, 2 ', 6, one pen Yun hydroxybenzophenone, etc .;
へキサヒドロキシベンゾフエノンとしては、 2, 4, 6, 3 ', 4', 5, 一へ キサヒドロキシベンゾフエノン、 3, 4, 5, 3 4', 5, 一へキサヒドロキ シベンゾフエノン等; (ポリヒドロキシフエニル) アルカンとしては、 2—メチルー 2— (2, 4— ジヒドロキシフエニル) 一 4一 (4ーヒドロキシフエニル) 一 7—ヒドロキシク ロマン、 2— [ビス {(5 _イソプロピル一 4—ヒドロキシ一 2—メチル) フエ 二ル} メチル] フエノール、 1— [1— (3— { 1一 (4ーヒドロキシフエ二 ル) — 1一メチルェチル } -4, 6—ジヒドロキシフエニル) — 1—メチルェチ ル] 一 3— (1— (3— { 1 - (4ーヒドロキシフエニル) 一 1ーメチルェチ ル} 一 4, 6—ジヒドロキシフエニル) 一 1ーメチルェチル) ベンゼン、 および 4, 6—ビス { 1— (4—ヒドロキシフエニル) 一 1一メチルェチル } — 1, 3 ージヒドロキシベンゼン、 ビス (2, 4—ジヒドロキシフエニル) メタン、 ビス (p—ヒドロキシフエニル) メタン、 1, 1—ビス (4ーヒドロキシフエニル) — 1一フエニルェタン、 1, 3—ビス [1— (4ーヒドロキシフエニル) ー 1一 メチルェチル]ベンゼン、 1, 4—ビス [1— (4—ヒドロキシフエニル) 一 1一 メチルェチル]ベンゼン, 4, 6—ビス [1一 (4ーヒドロキシフエニル) 一 1— メチルェチル ]— 1, 3—ジヒドロキシベンゼン, 1, 1一ビス (4—ヒドロキ シフエ二ル) — 1一 [4一 〔1— (4ーヒドロキシフエニル) 一 1—メチルェチ ル〕 フエニル]ェタン, トリ (p—ヒドロキシフエニル) メタン、 1, 1, 1一 トリ (p—ヒドロキシフエニル) ェタン、 ビス (2, 3, 4—トリヒドロキシフ ェニル) メタン、 2, 2—ビス (2, 3, 4_トリヒドロキシフエニル) プロパ ン、 1, 1, 3—トリス (2, 5—ジメチルー 4ーヒドロキシフエニル) 一3— フエニルプロパン、 4, 4, - 〔1— 〔4一 〔1一 〔4—ヒドロキシフエニル〕 一 1ーメチルェチル〕 フエニル〕 ェチリデン〕 ビスフエノール、 ビス (2, 5- ジメチルー 4ーヒドロキシフエニル) 一 2—ヒドロキシフエニルメタン、 3, 3, 3,, 3 ' —テトラメチル一 1, 1, ースピロビインデン一 5, 6, 7, 5 ', 6', 7, —へキサノール、 2, 2, 4_トリメチル _7, 2 ', 4' —トリヒド 口キシフラバン等をそれぞれ挙げることができる。 Hexahydroxybenzophenone includes 2, 4, 6, 3 ', 4', 5, monohexahydroxybenzophenone, 3, 4, 5, 3 4 ', 5, monohexahydroxybenzophenone, etc .; (Polyhydroxyphenyl) Alkanes include 2-methyl-2- (2,4-dihydroxyphenyl) 1-41- (4-hydroxyphenyl) 7-hydroxychroman, 2- [bis {(5_isopropyl 1-hydroxy-2-phenyl) methyl] phenol, 1- [1- (3-— {1- (4-hydroxyphenyl) — 1-methylethyl} -4, 6-dihydroxyphenyl) — 1 —Methylethyl] 1 3— (1— (3— {1- (4-hydroxyphenyl) 1 1-methylethyl} 1 4,6-dihydroxyphenyl) 1 1-methylethyl) benzene, and 4, 6-bis { 1- (4-Hydroxyphenyl) 1 1 1-methylethyl} — 1,3-dihydroxybenzene, bis (2,4-dihydroxyphenyl) methane, bis (p-hydroxyphenyl) methane, 1, 1-bis ( 4-hydroxy Phenyl) — 1-phenylphenyl, 1,3-bis [1— (4-hydroxyphenyl) -1/1 methylethyl] benzene, 1,4-bis [1- (4-hydroxyphenyl) 1-11 methylethyl] benzene , 4, 6-bis [1 (4-hydroxyphenyl) 1 1-methylethyl] -1,3-dihydroxybenzene, 1, 1 bis (4-hydroxyphenyl) — 1 1 [4 1 [1 — (4-Hydroxyphenyl) 1-methylphenyl] phenyl] ethane, tri (p-hydroxyphenyl) methane, 1, 1, 1 monotri (p-hydroxyphenyl) ethane, bis (2, 3, 4-trihydroxyphenyl) methane, 2, 2-bis (2, 3, 4_trihydroxyphenyl) propan, 1, 1, 3-tris (2, 5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) 1 — Phenylpropane, 4, 4,-[1— [4 1 [ 1 1 [4-hydroxyphenyl] 1 1-methylethyl] phenyl] ethylidene] bisphenol, bis (2,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) 1 2-hydroxyphenylmethane, 3, 3, 3, 3 ' —Tetramethyl-1,1, -Spirobiindene-1,6,7,5 ', 6', 7, —Hexanol, 2,2,4_trimethyl _7,2 ', 4'—Trihydr Can be mentioned respectively.
縮合反応においては、 フエノール性化合物またはアルコール性化合物中の〇H 基数に対して、 好ましくは 30〜85モル%、 より好ましくは 50〜70モル% に相当する 1, 2—ナフトキノンジアジドスルホン酸ハライドを用いることがで さる。 In the condensation reaction, 1,2-naphthoquinonediazide sulfonic acid halide corresponding to 30 to 85 mol%, more preferably 50 to 70 mol% is preferably added to the number of HH groups in the phenolic compound or alcoholic compound. Can be used Monkey.
このとき使用できる溶媒としては、 例えばケトン、 環状エーテルを挙げること ができる。 これらの具体例として、 ケトンとしては、 例えばアセトン、 メチルェ チルケトン、 メチルイソアミルケトン、 メチルイソプチルケトンなどを、 環状ェ 一テルとしては、 例えば 1, 4一ジォキサン、 1, 3 , 5—トリオキサンなどを それぞれ挙げることができる。 溶媒を使用する場合、 その使用量は、 好ましくは 上記フエノール性化合物またはアルコール性化合物と、 1, 2—ナフトキノンジ アジドスルホン酸ハライドとの合計 1 0 0重量部に対して 1 0 0〜5 0 0重量部 である。  Examples of the solvent that can be used at this time include ketones and cyclic ethers. Specific examples of these include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isoamyl ketone, and methyl isobutyl ketone, and cyclic ethers such as 1,4 monodioxane, 1,3,5-trioxane and the like. Each can be mentioned. When a solvent is used, the amount used is preferably 10 to 5 to 100 parts by weight with respect to a total of 100 parts by weight of the above phenolic compound or alcoholic compound and 1,2-naphthoquinonediazidesulfonic acid halide. 0 parts by weight.
触媒としては、 塩基性化合物が使用できる。 好ましくはトリエチルァミン、 テ トラメチルアンモニゥムクロリド、 テトラメチルアンモニゥムブロミド、 ピリジ ン等を挙げることができる。 これら触媒の使用量は、 1, 2—ナフトキノンジァ ジドスルホン酸ハライド 1モルに対して好ましくは 1モル以上であり、 さらに好 ましくは 1 . 0 5〜1 . 2モルである。  A basic compound can be used as the catalyst. Preferable examples include triethylamine, tetramethylammonium chloride, tetramethylammonium bromide, and pyridine. The amount of these catalysts used is preferably 1 mol or more, more preferably 1.05 to 1.2 mol, per 1 mol of 1,2-naphthoquinone diazide sulfonic acid halide.
触媒滴下温度および反応温度は、 好ましくは 0〜 5 0で、 さらに好ましくは 0 〜4 0で、 特に好ましくは 1 0〜3 5でである。  The catalyst dropping temperature and the reaction temperature are preferably 0 to 50, more preferably 0 to 40, and particularly preferably 10 to 35.
また反応時間は好ましくは 0 . 5〜1 0時間、 さらに好ましくは 1〜 5時間で あり、 特に:!〜 3時間が好ましい。  The reaction time is preferably 0.5 to 10 hours, more preferably 1 to 5 hours. ~ 3 hours is preferred.
縮合反応後、 析出物をろ過した後、 ろ液を大量の 0 . 1〜3 . 0重量%の希塩 酸水溶液中に投入して反応生成物を析出させる。 その後、 析出物をろ過、 ろ液が 中性になるまで水洗した後、 乾燥して、 (B) 成分を得ることができる。  After the condensation reaction, the precipitate is filtered, and the filtrate is put into a large amount of 0.1 to 3.0% by weight dilute aqueous hydrochloric acid solution to precipitate the reaction product. Thereafter, the precipitate is filtered, washed with water until the filtrate becomes neutral, and then dried to obtain the component (B).
これらの (B) 成分は単独でまたは 2種類以上を組み合わせて用いることがで さる。  These components (B) can be used alone or in combination of two or more.
(B) 成分としては、 下記式 (I ) で表わされる 1, 1一ビス (4ーヒドロキ シフエ二ル) _ 1一 [4一 〔1— ( 4—ヒドロキシフエニル) 一 1ーメチルェチ ル〕 フエニル] ェタンと 1 , 2 _ナフトキノンジアジドスルホン酸エステルとの 縮合物が特に好ましい。 (B) The component is represented by the following formula (I): 1, 1 bis (4-hydroxyphenyl) _ 1 1 [4 1 [1- (4-hydroxyphenyl) 1-methylethyl] phenyl] A condensate of ethane and 1,2-naphthoquinonediazide sulfonic acid ester is particularly preferred.
Figure imgf000015_0001
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(ここで 3個の Dは同一もしくは異なり、 1, 2—ナフトキノンジアジドー 4一 スルホニル基または 1, 2一ナフトキノンジアジドー 5—スルホ二ル基を示 す。) (Here, the three D's are the same or different and represent 1,2-naphthoquinonediazido 4-monosulfonyl group or 1,2-naphthoquinone diazido 5-sulfonyl group.)
(B) 成分の使用割合は、 アルカリ可溶性樹脂 100重量部に対して、 好まし くは 5〜 100重量部、 より好ましくは 10〜 50重量部である。 この割合が 5 重量部未満の場合には、 放射線照射によって生成するィンデンカルボン酸の量が 少なくなるために、 放射線の照射前後でアルカリ水溶液に対する溶解度に差をつ けることができず、 パ夕一ニングが困難となり、 また得られるマイクロレンズの 耐熱性および耐溶剤性が不十分となったりする場合がある。 また、 100重量部 を超えると、 短時間の放射線照射では添加した 1, 2 _ナフトキノンジアジドス ルホン酸エステルの大半が未だそのままの形で残存するため、 アル力リ水溶液へ の不溶化効果が高すぎて現像することが困難となる場合が生じる。  The proportion of the component (B) used is preferably 5 to 100 parts by weight, more preferably 10 to 50 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. When this ratio is less than 5 parts by weight, the amount of indenecarboxylic acid produced by irradiation decreases, so the difference in solubility in an alkaline aqueous solution cannot be made before and after irradiation. In some cases, the heat resistance and solvent resistance of the resulting microlens may be insufficient. When the amount exceeds 100 parts by weight, most of the 1,2-naphthoquinonediazidosulfonic acid ester added by short-time irradiation still remains in the form as it is, so the insolubilizing effect in the aqueous solution is too high. May be difficult to develop.
(C) 分子内に少なくとも 1個のエポキシ基を有する化合物  (C) Compound having at least one epoxy group in the molecule
本発明に用いられるエポキシ化合物は放射線の照射により発生したカルボン酸 と反応する化合物で、 耐熱性、 耐溶剤性を付与する作用と、 密着性を付与する作 用とがある。 前記の場合エポキシ化合物は分子内に 2個以上のエポキシ基を有す る化合物が好ましく、 例えば下記のものを例示できる。 ビスフエノール A型ェポ キシ樹脂市販品として、 例えばェピコ一ト 1001、 同 1002、 同 1003、 同 1004、 同 1007、 同 1009、 同 1010 (油化シェルエポキシ (株) 製) ; ビスフエノール F型エポキシ樹脂市販品として、 例えばェピコート 807 The epoxy compound used in the present invention is a compound that reacts with a carboxylic acid generated by irradiation of radiation, and has an action of imparting heat resistance and solvent resistance and an action of imparting adhesion. In the above case, the epoxy compound is preferably a compound having two or more epoxy groups in the molecule. Bisphenol A type epoxy resin commercially available products such as Epicot 1001, 1002, 1003, 1004, 1007, 1009, 1010 (manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.); Bisphenol F type As an epoxy resin commercial product, for example, Epicoat 807
(油化シェルエポキシ (株) 製) ビスフエノール AD型エポキシ樹脂;フエノー ルノポラック型エポキシ樹脂市販品として、 例えばェピコート 152、 同 154 (油化シェルエポキシ (株) 製)、 E P PN— 20 1、 同 202 (日本化薬 (株) 製) ;クレゾ一ルノポラック型エポキシ樹脂市販品として、 例えば EOC N— 102S、 同 103 S、 同 104S、 同 1020、 同 1025、 同 1027 (日本化薬 (株) 製) ;ェピコ一ト 180 S 75 (油化シェルエポキシ (株) 製) ;環状脂肪族エポキシ樹脂市販品として、 例えば CY— 175、 同 177、 同 179 (C I BA— GE I GY社製)、 ERL— 4234、 同 4299、 同 4 221、 同 4206 (U. C. C. 社製) ;グリシジルエステル系エポキシ樹脂 市販品として、 例えばショーダイン 508 (昭和電工 (株) 製)、 ァラルダイト CY— 182、 同 192、 同 184 (C I BA— GE I GY社製)、 ェピクロン 200、 同 400 (大日本インキ (株) 製)、 ェピコ一ト 871、 同 872 (油 化シェルエポキシ (株) 製)、 ED— 5661、 同 5662 (セラニーズコーテ イング (株) 製) ;グリシジルァミン系エポキシ樹脂市販品として、 例えばテト ラグリシジルジアミノジフエ二ルメタン、 トリグリシジル一パラーアミノフエノ ール、 トリグリシジルーメタ一ァミノフエノール、 ジグリシジルァ二リン、 ジグ リシジルトルイジン、 テトラグリシジルメ夕キシリレンジァミン、 ジグリシジル トリブロムァニリン、 テトラグリシジルビスアミノメチルシクロへキサン;複素 環式エポキシ樹脂市販品として、 例えばァラルダイト PT810 (C I BA-G E I GY社製)、 ェピコート RXE—15 (油化シェルエポキシ (株) 製)、 EP I TEC (日産化学 (株) 製) 等を挙げることができる。 (Oilized Shell Epoxy Co., Ltd.) Bisphenol AD type epoxy resin; Commercially available products such as Epnocoat 152 and 154 (Oka Shell Epoxy Co., Ltd.), EP PN-201, 202 (Nippon Kayaku Co., Ltd.); For example, EOC N-102S, 103S, 104S, 1020, 1025, 1027 (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.); Epicot 180 S 75 (manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) Commercially available cycloaliphatic epoxy resins such as CY-175, 177, 179 (CI BA—GE I GY), ERL-4234, 4299, 4221, 4206 (UCC); Glycidyl ester epoxy resin Commercially available products include, for example, Shodyne 508 (manufactured by Showa Denko KK), Araldite CY—182, 192, 184 (CI BA—GE I GY), Epiclon 200, 400 (large) (Manufactured by Nippon Ink Co., Ltd.), Epicot 871, 872 Luepoxy Co., Ltd.), ED-5661, 5662 (Celanese Coatings Co., Ltd.); Commercially available glycidylamine epoxy resins such as tetraglycidyl diaminodiphenylmethane, triglycidyl para-aminophenol Nord, triglycidyl metaaminophenol, diglycidyl dilin, diglycidyl toluidine, tetraglycidyl methyl xylylenediamine, diglycidyl tribromaniline, tetraglycidyl bisaminomethylcyclohexane; heterocyclic epoxy Examples of commercially available resins include Alaldite PT810 (manufactured by CI BA-G EI GY), Epicoat RXE-15 (manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.), EP I TEC (manufactured by Nissan Chemical Co., Ltd.), etc. it can.
またその他に、 分子内にエポキシ基とアルコキシシリル基を有する化合物も好 ましく用いられる。 例えばグリシドキシプロビルトリメトキシシラン、 グリシド キシプロピルトリエトキシシラン、 グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラ ン、 グリシドキシプロピルメチルジェトキシシラン、 2— (3, 4—エポキシシ クロへキシル) ェチルトリメトキシシラン、 2— (3, 4 _エポキシシクロへキ シル) ェチルトリエトキシシラン、 2— (3, 4—エポキシシクロへキシル) ェ チルメチルジメトキシシラン等が挙げられる。  In addition, compounds having an epoxy group and an alkoxysilyl group in the molecule are also preferably used. For example, glycidoxypropyl trimethoxysilane, glycidoxypropyltriethoxysilane, glycidoxypropylmethyldimethoxysilane, glycidoxypropylmethyljetoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) etheryltri Examples include methoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltriethoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethylmethyldimethoxysilane, and the like.
また、 ここに挙げたエポキシ化合物の多くは高分子量体であるが、 本発明に用 いられるエポキシ化合物は、 分子量によって制限されるものではなく、 例えばビ スフエノ一ル Aあるいはビスフエノール Fのジグリシジルェ一テルの如き低分子 量体であってもよい。 Also, many of the epoxy compounds listed here are high molecular weight compounds, but are used in the present invention. The epoxy compound to be used is not limited by the molecular weight, and may be a low molecular weight material such as bisphenol A or bisphenol F diglycidyl ether.
この中で加熱処理後も着色しにくい点から、 フエノールノポラック型エポキシ 樹脂、 クルゾ一ルノボラック型エポキシ樹脂、 環状脂肪族エポキシ樹脂、 グリシ ジルエステル系エポキシ樹脂が好ましい。  Of these, phenol nopolac type epoxy resins, cruzol novolak type epoxy resins, cycloaliphatic epoxy resins, and glycidyl ester epoxy resins are preferred because they are difficult to color after heat treatment.
これらエポキシ化合物の使用量はアルカリ可溶性樹脂 (A) に対して、 好まし くは 1〜; 100重量部、 より好ましくは 2〜 80重量部である。  The amount of the epoxy compound used is preferably 1 to 100 parts by weight, more preferably 2 to 80 parts by weight with respect to the alkali-soluble resin (A).
1重量部未満では、 放射線を照射することにより生成するカルボン酸との反応 が十分に進行し難く、 また形成したマイク口レンズの耐熱変形性が十分なものと なり難くなる。 また 100重量部を超えると、 組成物全体としての融点が低下し てしまい、 マイク口レンズを作製する際に行う加熱処理の温度範囲を広くするこ とができ難くなる。  If the amount is less than 1 part by weight, the reaction with the carboxylic acid produced by irradiation with radiation will not proceed sufficiently, and the heat-resistant deformation of the formed microphone mouth lens will not be sufficient. On the other hand, when the amount exceeds 100 parts by weight, the melting point of the composition as a whole is lowered, and it becomes difficult to widen the temperature range of the heat treatment to be carried out when producing the microphone mouth lens.
その他の配合剤  Other ingredients
本発明における感放射線性樹脂組成物には、 さらに、 界面活性剤を配合するこ とができる。  In the radiation sensitive resin composition of the present invention, a surfactant can be further blended.
界面活性剤としては、 フッ素系のレべリング剤、 シリコーン系レべリング剤、 エーテル系またはエステル系レべリング剤などが挙げられる。 具体的には (商品 名、 以下同様) としては、 例えば、 FTX— 218 (ネオス (株) 製) ; BM1 000、 BM1100 (BM— CHEM I E社製) ;メガファック F 142D、 同 F 172、 同 F 173、 同 F 183 (大日本インキ化学工業 (株) 製)、 フロ ラード FC— 135、 同 FC— 170C、 同 FC— 430、 同 F— 431 (住友 スリ一ェム (株) 製)、 エフ力 772、 エフ力 777、 エフ力 30、 エフ力 31、 エフ力 34、 エフ力 35、 エフ力 36、 エフ力 39、 エフ力 83、 エフ力 86、 エフ力 88 (エフ力ケミカルズ社製) ; フローレンシリーズ (共栄社化学 (株) 製) ; FCシリーズ (住友スリーェム (株) 製) ;フルオナール TFシリーズ (東 邦化学 (株) 製)、 SH-28A (東レダウコ一ニング (株) 製)、 ビックケミー 社の BYKシリーズ; S s hme g oシリーズ (S s hme gma n n社製) ; サーフィノール (日信化学工業 (株) 製) ;ェマルゲン、 ホモゲノール (花王 (株) 製) などが挙げられる。 Examples of the surfactant include a fluorine-based leveling agent, a silicone-based leveling agent, and an ether-based or ester-based leveling agent. Specifically, as (trade name, the same shall apply hereinafter), for example, FTX-218 (manufactured by Neos Co., Ltd.); BM1 000, BM1100 (manufactured by BM-CHEM IE); Megafuck F 142D, F 172, F 173, F 183 (Dainippon Ink Chemical Co., Ltd.), Florad FC-135, FC-170C, FC-430, F-431 (Sumitomo Suriem Co., Ltd.), F force 772, F force 777, F force 30, F force 31, F force 34, F force 35, F force 36, F force 39, F force 83, F force 86, F force 88 (manufactured by F power chemicals) ; Floren series (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.); FC series (manufactured by Sumitomo 3EM); Fluoronar TF series (manufactured by Toho Chemical Co., Ltd.), SH-28A (manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd.), BYK series of Big Chemie; S s hme go series (manufactured by S s hme gma nn); Surfynol (manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.); Emargen, homogenol (manufactured by Kao Corporation), etc.
これらの界面活性剤の使用量は、 アルカリ可溶樹脂 (A) 1 0 0重量部あたり、 好ましくは 0. 0 0 5〜5重量部、 より好ましくは 0. 0 0 1〜2重量部の範囲で ある。  The amount of these surfactants used is preferably in the range of 0.005 to 5 parts by weight, more preferably 0.001 to 2 parts by weight per 100 parts by weight of the alkali-soluble resin (A). It is.
溶剤  Solvent
本発明で用いられる感放射線性樹脂組成物は、 上述した各成分を均一に混合す ることによって容易に調製することができる。 混合する際、 通常適当な溶媒に溶 解させて溶液の形で使用に供せられる。 用いる溶媒としては、 アルカリ可溶性樹 脂、 1, 2—ナフトキノンジアジド化合物、 エポキシ化合物、 その他の配合物を 均一に溶解させることができ、 各成分と反応しないものが用いられる。  The radiation sensitive resin composition used in the present invention can be easily prepared by uniformly mixing the components described above. When mixing, it is usually dissolved in an appropriate solvent and used in the form of a solution. As the solvent to be used, an alkali-soluble resin, a 1,2-naphthoquinonediazide compound, an epoxy compound, and other compounds can be uniformly dissolved, and those that do not react with each component are used.
かかる溶媒としては、 例えばメタノール、 エタノール等のアルコール;テトラ ヒドロフラン等のエーテル;エチレングリコ一ルモノメチルエーテル、 エチレン グリコールモノェチルエーテル等のグリコールエーテル;メチルセ口ソルブァセ テート、 ェチルセ口ソルブアセテート等のエチレングリコールアルキルエーテル アセテート;ジエチレングリコールモノメチルエーテル、 ジエチレングリコール モノェチルエーテル、 ジェチレングリコールジメチルエーテル等のジェチレング リコールのアルキルエーテル;プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、 プロピレングリコールプロピルエーテルァセテ一ト等のプロピレングリコールァ ルキルエーテルアセテート類; トルエン、 キシレン等の芳香族炭化水素;メチル ェチルケトン、 シクロへキサノン、 4—ヒドロキシー 4一メチル一 2—ペンタノ ン等のケトン; 2—ヒドロキシプロピオン酸ェチル、 2—ヒドロキシ一 2—メチ ルプロピオン酸メチル、 2—ヒドロキシ— 2—メチルプロピオン酸ェチル、 エト キシ酢酸ェチル、 ヒドロキシ酢酸ェチル、 2—ヒドロキシー 3—メチルブタン酸 メチル、 3—メトキシプロピオン酸メチル、 3—メトキシプロピオン酸ェチル、 3—エトキシプロピオン酸ェチル、 3—エトキシプロピオン酸メチル、 酢酸ェチ ル、 酢酸ブチル等のエステルを用いることができる。 さらに、 N—メチルホルム アルデヒド、 N, N—ジメチルホルムアルデヒド、 N—メチルァセトアミド、 N, N—ジメチルァセトアミド、 N—メチルピロリドン、 ジメチルスルホキシド、 ベ ンジルェチルエーテル、 ジへキシルエーテル、 ァセトニルアセトン、 イソホロン、 カブロン酸、 力プリル酸、 1一才クタノール、 1ーノナノール、 ベンジルアルコ ール、 酢酸ベンジル、 安息香酸ェチル、 シユウ酸ジェチル、 マレイン酸ジェチル、 ァ—プチロラクトン、 炭酸エチレン、 炭酸プロピレン、 フエ二ルセ口ソルブァセ テート等の高沸点溶剤を添加することもできる。 Examples of such solvents include alcohols such as methanol and ethanol; ethers such as tetrahydrofuran; glycol ethers such as ethylene glycol monomethyl ether and ethylene glycol monoethyl ether; and ethylene glycols such as methyl solvate sorbate and cetyl solvate sorb acetate. Alkyl ether acetates; alkyl ethers of diethylene glycol such as diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, and jetylene glycol dimethyl ether; propylene glycol alkyl ether acetates such as propylene glycol methyl ether acetate and propylene glycol propyl ether acetate; Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; methyl ethyl , Cyclohexanone, ketones such as 4-hydroxy-4-monomethyl-1,2-pentanone, etc .; 2-ethyl hydroxypropionate, 2-hydroxymethyl 2-methylpropionate, 2-hydroxy-2-methylpropionate Ethyl acetate ethyl, Ethyl hydroxy acetate, Methyl 2-hydroxy-3-methylbutanoate, Methyl 3-methoxypropionate, Ethyl 3-methoxypropionate, Ethyl 3-ethoxypropionate, Methyl 3-ethoxypropionate, Ethyl acetate And esters such as butyl acetate can be used. In addition, N-methylformaldehyde, N, N-dimethylformaldehyde, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone, dimethyl sulfoxide, benzylethyl ether, dihexyl ether, acetonylacetone, isophorone, cabronic acid, strong prillic acid, 1-year-old octanol, 1-nonanol, benzyl High-boiling solvents such as alcohol, benzyl acetate, ethyl benzoate, jetyl oxalate, jetyl maleate, alpha-ptyrolactone, ethylene carbonate, propylene carbonate, and phenyl sorbate solvate can also be added.
これらの溶剤の中では、 溶解性、 各成分との反応性および塗膜の形成のし易さ から、 エチレングリコールモノェチルエーテル等のグリコ一ルエーテル;ェチル セロソルブアセテート等のエチレングリコールアルキルエーテルアセテート ; 2 —ヒドロキシプロピオン酸ェチル等のエステル;ジエチレングリコールモノメチ ルエーテル等のジェチレングリコールのアルキルエーテルが好適である。  Among these solvents, because of solubility, reactivity with each component, and ease of forming a coating film, glycol ethers such as ethylene glycol monoethyl ether; ethylene glycol alkyl ether acetates such as ethyl cellosolve acetate; 2-Esters such as ethyl hydroxypropionate; alkyl ethers of jetylene glycol such as diethylene glycol monomethyl ether are preferred.
また、 組成物溶液の調製にあたっては、 例えばアルカリ可溶性ポリマーの溶液、 1 , 2 _ナフトキノンジアジド化合物の溶液、 エポキシ化合物の溶液、 その他の 配合剤の溶液それぞれを別に調製しておき、 使用直前にこれら溶液を所定の割合 で混合することもできる。  In preparing the composition solution, for example, a solution of an alkali-soluble polymer, a solution of 1,2_naphthoquinonediazide compound, a solution of an epoxy compound, and a solution of other compounding agents are prepared separately, and these are prepared immediately before use. It is also possible to mix the solutions in a predetermined ratio.
以上のようにして調製した組成物溶液は、 孔径 0. 2 / mのミリポアフィル夕 一等を用いて濾過した後、 使用に供することもできる。  The composition solution prepared as described above can be used after being filtered using Millipore Filament having a pore size of 0.2 / m.
マイク口レンズ上層膜形成用組成物  Composition for forming an upper layer film of a microphone mouth lens
以下、 本発明のマイク口レンズ上層膜形成用組成物について説明する。  Hereinafter, the composition for forming an upper layer film of the microphone mouth lens of the present invention will be described.
本発明のマイクロレンズ上層膜形成用組成物は、 カルボン酸基、 スルホン酸基 およびリン酸基よりなる群から選ばれる 1つ以上の酸基を含む重合体からなる。 マイク口レンズ上に塗布することでマイクロレンズの形状をコントロールするこ とができる。 これら酸基含有重合体は特に規定されるものではないが、 (ィ) 酸 基を含む酸基含有単量体と (口) それ以外の他の単量体を重合して得られる共重 合体であることが好ましい。  The composition for forming a microlens upper layer film of the present invention comprises a polymer containing one or more acid groups selected from the group consisting of carboxylic acid groups, sulfonic acid groups and phosphoric acid groups. The shape of the microlens can be controlled by applying it on the microphone mouth lens. These acid group-containing polymers are not particularly defined, but (i) a copolymer obtained by polymerizing an acid group-containing monomer containing an acid group and (mouth) other monomers. It is preferable that
(ィ) 酸基含有単量体  (I) Acid group-containing monomer
カルボン酸基含有化合物としては例えば α , /3—不飽和カルボン酸であること ができ、 その例としては、 例えばアクリル酸、 メ夕クリル酸、 クロトン酸等のモ ノカルボン酸;マレイン酸、 フマル酸、 シトラコン酸、 メサコン酸、 ィタコン酸 等のジカルボン酸等を挙げることができる。 The carboxylic acid group-containing compound may be, for example, α, / 3-unsaturated carboxylic acid, and examples thereof include acrylic acid, methylacrylic acid, crotonic acid and the like. Nocarboxylic acids; dicarboxylic acids such as maleic acid, fumaric acid, citraconic acid, mesaconic acid, and itaconic acid.
スルホン酸基含有化合物としては例えばビニルスルホン酸、 ァリルスルホン酸、 P—スチレンスルホン酸、 ァリルォキシベンゼンスルホン酸、 メタリルォキシベ ンゼンスルホン酸、 4一スルホプチルメ夕クリレートや、 下記式 (IV) で表さ れる構造単位を与えるアクリルアミド誘導体 (「アクリルアミド誘導体 (i v)」 という。) を挙げることができる。  Examples of the sulfonic acid group-containing compound include vinyl sulfonic acid, allyl sulfonic acid, P-styrene sulfonic acid, allyloxybenzene sulfonic acid, methallyloxybenzene sulfonic acid, 4-monosulfopropyl methacrylate, and the following formula (IV): Examples include acrylamide derivatives that give structural units (referred to as “acrylamide derivatives (iv)”).
Figure imgf000020_0001
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(IV) (i v) (IV) (i v)
〔式 (I V) および U v) において、 R 3は水素原子または 1価の有機基を示 し、 R4は 2価の有機基を示す。〕 [In the formulas (IV) and U v), R 3 represents a hydrogen atom or a monovalent organic group, and R 4 represents a divalent organic group. ]
式 (I V) において、 R3の 1価の有機基および R4の 2価の有機基は、 直鎖 状、 分岐状あるいは環状であることができる。 In the formula (IV), the monovalent organic group of R 3 and the divalent organic group of R 4 can be linear, branched or cyclic.
R3の 1価の有機基としては炭素数 1〜12の基が好ましく、 その例としては、 カルボキシル基;シァノ基;メチル基、 ェチル基'、 n—プロピル基、 i一プロピ ル基、 n—ブチル基、 i—ブチル基、 s e c—ブチル基、 t一ブチル基、 n—ぺ ンチル基、 n—へキシル基等の炭素数 1〜 12アルキル基;カルボキシメチル基、 2—カルボキシェチル基、 2—カルボキシプロピル基、 3—カルボキシプロピル 基、 2—力ルポキシブチル基、 3—カルボキシブチル基、 4一カルボキシブチル 基等の炭素数 2〜12のカルボキシアルキル基;メトキシカルボニル基、 ェトキ シカルボニル基、 n—プロポキシカルボニル基、 i一プロポキシカルボニル基、 n—ブトキシカルボニル基、 t—ブトキシカルボニル等の炭素数 2〜12のアル コキシカルボニル基;ァセチルォキシ基、 プロピオニルォキシ基、 ブ夕ノィルォ キシ、 ベンゾィルォキシ基等の炭素数 2〜1 2のァシルォキシ基; The monovalent organic group of R 3 is preferably a group having 1 to 12 carbon atoms. Examples thereof include a carboxyl group; a cyano group; a methyl group, an ethyl group ′, an n-propyl group, an i-propyl group, an n —Butyl group, i-butyl group, sec-butyl group, t-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group and other alkyl groups having 1 to 12 carbon atoms; carboxymethyl group, 2-carboxyethyl group A carboxyalkyl group having 2 to 12 carbon atoms such as a 2-carboxypropyl group, a 3-carboxypropyl group, a 2-stroxybutyl group, a 3-carboxybutyl group, and a 4-carboxybutyl group; a methoxycarbonyl group and a ethoxycarbonyl group N-propoxycarbonyl group, i-propoxycarbonyl group, n-butoxycarbonyl group, t-butoxycarbonyl, etc. A coxycarbonyl group; an acyloxy group having 2 to 12 carbon atoms such as an acetyloxy group, a propionyloxy group, a buenoyloxy group, a benzoyloxy group;
フエニル基、 クメニル基等の炭素数 6〜1 2のァリール基;ベンジル基、 α— メチルベンジル基等の炭素数 7〜1 2のァラルキル基;メトキシ基、 エトキシ基、 η—プロポキシ基、 i 一プロポキシ基、 n _ブトキシ基、 t一ブトキシ基等の炭 素数 1〜1 2のアルコキシル基;メトキシメチル基、 エトキシメチル基、 2—メ トキシェチル基、 2 _エトキシェチル基、 2—メトキシプロピル基、 3—メトキ シプロピル基、 2—メトキシブチル基、 3 _メトキシブチル基、 4ーメトキシブ チル基等の炭素数 2〜1 2のアルコキシアルキル基;シクロペンチル基、 シクロ へキシル基、 シクロへプチル基、 シクロォクチル基等の炭素数 3〜1 2のシクロ アルキル基や、 これらの基の置換誘導体等を挙げることができる。  Arenyl group having 6 to 12 carbon atoms such as phenyl group and cumenyl group; Aralkyl group having 7 to 12 carbon atoms such as benzyl group and α-methylbenzyl group; Methoxy group, ethoxy group, η-propoxy group, i 1 Alkoxyl group having 1 to 12 carbon atoms such as propoxy group, n_butoxy group, t-butoxy group, etc .; methoxymethyl group, ethoxymethyl group, 2-methoxychetyl group, 2_ethoxyethyl group, 2-methoxypropyl group, 3 —Methoxypropyl group, 2-methoxybutyl group, 3-methoxybutyl group, 4-methoxybutyl group, etc., C2-C12 alkoxyalkyl group; cyclopentyl group, cyclohexyl group, cycloheptyl group, cyclooctyl group, etc. Cycloalkyl groups having 3 to 12 carbon atoms, substituted derivatives of these groups, and the like.
式 (I V) において、 R 3としては、 水素原子、 メチル基等が好ましい。 In the formula (IV), R 3 is preferably a hydrogen atom, a methyl group or the like.
また、 R 4の 2価の有機基としては炭素数 1〜1 2の基が好ましく、 その例と しては、 メチレン基、 エチレン基、 1, 2 _プロピレン基、 1 , 3—プロピレン 基、 1, 1—ジメチルエチレン基、 1ーメチルー 1, 3—プロピレン基、 1, 4 ーブチレン基、 1 _メチル— 1, 4—ブチレン基、 2—メチルー 1 , 4ーブチレ ン基、 1, 5—ペンチレン基、 1 , 1一ジメチルー 1, 4—ブチレン基、 2 , 2 —ジメチル— 1 , 4ーブチレン基、 1 , 2—ジメチルー 1, 4—ブチレン基、 1, 6—へキシレン基、 1 , 3—シクロペンチレン基、 1 , 4ーシクロへキシレン基 等を挙げることができる。 Further, the divalent organic group of R 4 is preferably a group having 1 to 12 carbon atoms, and examples thereof include a methylene group, an ethylene group, a 1,2-propylene group, a 1,3-propylene group, 1,1-dimethylethylene group, 1-methyl-1,3-propylene group, 1,4-butylene group, 1_methyl-1,4-butylene group, 2-methyl-1,4-butylene group, 1,5-pentylene group 1, 1-dimethyl-1,4-butylene group, 2,2-dimethyl-1,4-butylene group, 1,2-dimethyl-1,4-butylene group, 1,6-hexylene group, 1,3-cyclohexane Examples thereof include a pentylene group and a 1,4-cyclohexylene group.
これらの 2価の有機基のうち、 特に 1, 1ージメチルエチレン基が好ましい。 アクリルアミド誘導体 U V ) の具体例としては、  Of these divalent organic groups, 1,1-dimethylethylene group is particularly preferred. Specific examples of acrylamide derivatives U V)
2 - (メタ) アクリルアミドー 2—メチルプロパンスルホン酸、 2 _ α—カルボ キシアクリルアミドー 2—メチルプロパンスルホン酸、 2— α—カルボキシメチ ルアクリルアミド— 2—メチルプロパンスルホン酸、 2— α—メトキシカルボ二 ルアクリルアミドー 2—メチルプロパンスルホン酸、 2— α—ァセチルォキシァ クリルアミドー 2—メチルプロパンスルホン酸、 2— α—フエニルアクリルアミ ドー 2—メチルプロパンスルホン酸、 2 _ひ—ベンジルアクリルアミド— 2—メ チルプロパンスルホン酸、 2— a—メトキシアクリルアミド—2—メチルプロパ ンスルホン酸、 2— a— (2—メトキシェチル) アクリルアミドー 2—メチルプ 口パンスルホン酸、 2— a—シクロへキシルァクリルアミド— 2—メチルプロパ ンスルホン酸、 2— a—シァノアクリルアミドー 2—メチルプロパンスルホン酸 等を挙げることができる。 2- (meth) acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid, 2_α-carboxyacrylamide-2-methylpropanesulfonic acid, 2-α-carboxymethylacrylamide-2-methylpropanesulfonic acid, 2-α-methoxy Carbon acrylamide 2-methylpropane sulfonic acid, 2-α-acetyl silylamide 2-methyl propane sulfonic acid, 2-α-phenyl acrylamido 2-methyl propane sulfonic acid, 2_Hydrenyl acrylamide-2- Me Tylpropanesulfonic acid, 2-a-methoxyacrylamide-2-methylpropansulfonic acid, 2-a- (2-methoxyethyl) acrylamide-2-methylpropane sulfonic acid, 2-a-cyclohexylacrylamide-2- Examples thereof include methylpropane sulfonic acid, 2-a-cyanacrylamide-2-methylpropanesulfonic acid, and the like.
リン酸基含有化合物としては、 例えばビニルリン酸、 ァリルリン酸、 p—スチ レンリン酸  Examples of the phosphoric acid group-containing compound include vinyl phosphoric acid, allylic phosphoric acid, p-styrene phosphoric acid.
などがあげられる。 Etc.
また他の単量体 (口) としては、 例えば酸無水物、 例えば無水マレイン酸、 無 水ィタコン酸等;ジカルボン酸モノエステル、 例えばマレイン酸モノエチル、 フ マル酸モノエチル、 ィタコン酸モノェチル等;共役ジォレフイン、 例えば 1 , 3 —ブタジエン、 イソプレン、 クロ口プレン、 ジメチル一 1, 3—ブタジエン等; モノォレフィン系不飽和化合物、 例えばメチルメタクリレート、 ェチルメタクリ レート、 n _ブチルメタクリレート、 s e c _ブチルメタクリレート、 t—ブチ ルメ夕クリレートの如きメ夕クリル酸アルキルエステル、 メチルァクリレート、 ィソプロピルァクリレートの如きァクリル酸アルキルエステル、 シク口へキシル メタクリレート、 2—メチルシクロへキシルメタクリレートの如きメ夕クリル酸 環状アルキルエステル、 シクロへキシルァクリレート、 2—メチルシクロへキシ ルァクリレートの如きアクリル酸環状アルキルエステル、 フエニルメ夕クリレー ト、 ベンジルメ夕クリレートの如きメ夕クリル酸ァリールエステル、 フエニルァ クリレート、 ベンジルァクリレートの如きアクリル酸ァリールエステル、 スチレ ン、 a—メチルスチレン、 o—メチルスチレン、 m—メチルスチレン、 p—メチ ルスチレン、 p—メトキシスチレン、 アクリロニトリル、 メ夕クリロ二トリル、 塩化ビニル、 塩化ビニリデン、 アクリルアミド、 メ夕クリルアミド、 酢酸ビニル、 ジフルォロメチル (メタ) ァクリレート、 トリフルォロメチル (メタ) ァクリレ —卜 ;  Other monomers (mouth) include, for example, acid anhydrides, such as maleic anhydride, hydrous itaconic acid, etc .; dicarboxylic acid monoesters, such as monoethyl maleate, monoethyl fumarate, monoethyl itaconate, etc .; conjugated diolefins For example, 1,3-butadiene, isoprene, black-prene, dimethyl-1,3-butadiene, etc .; monoolefin-unsaturated compounds such as methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n_butyl methacrylate, sec_butyl methacrylate, t-butyl methacrylate Methacrylic acid alkyl esters such as acrylate, methyl acrylate, alkyl acrylates such as isopropyl acrylate, cyclohexyl methacrylate, 2-methylcyclohexyl methacrylate cyclic alkyl Acrylic acid cyclic alkyl esters such as stear, cyclohexyl acrylate, 2-methylcyclohexyl acrylate, phenyl methacrylate, methyl acrylate esters such as benzyl methacrylate, phenyl acrylate, benzyl acrylate, etc. Acrylic acid aryl ester, styrene, a-methyl styrene, o-methyl styrene, m-methyl styrene, p-methyl styrene, p-methoxy styrene, acrylonitrile, methacrylonitrile, vinyl chloride, vinylidene chloride, acrylamide, Methacrylamide, vinyl acetate, difluoromethyl (meth) acrylate, trifluoromethyl (meth) acrylate — 卜;
2 , 2—ジフルォロェチル (メタ) ァクリレート、 2 , 2 , 2 _トリフルォロェ チル (メタ) ァクリレート、 ペン夕フルォロェチル (メタ) ァクリレート; 1 - (トリフルォロメチル) ェチル (メタ) ァクリレート、 2— (トリフルォロ メチル) ェチル (メタ) ァクリレート、 2, 2, 3, 3—テトラフルオロー n— プロピル (メタ) ァクリレート、 (ペン夕フルォロェチル) メチル (メタ) ァク リレート、 ジ (トリフルォロメチル) メチル (メタ) ァクリレート、 ヘプタフル オロー n—プロピル (メタ) ァクリレート、 1—メチルー 2, 2, 3, 3—テト ラフルォロプロピル (メタ) ァクリレート、 1_ (ペン夕フルォロェチル) ェチ ル (メタ) ァクリレート、 2— (ペン夕フルォロェチル) ェチル (メタ) ァクリ レート、 2, 2, 3, 3, 4, 4—へキサフルオロー n—ブチル (メタ) ァクリ レート、 (ヘプ夕フルオロー n—プロピル) メチル (メタ) ァクリレート、 ノナ フルオロー n—ブチル (メタ) ァクリレート、 1, 1一ジメチルー 2, 2, 3, 3—テトラフルォロプロピル (メタ) ァクリレート、 1, 1—ジメチルー 2, 2, 3, 3, 3—ペン夕フルォロプロピル (メタ) ァクリレート、 2— (ヘプ夕フル オロー n—プロピル) ェチル (メタ) ァクリレート、 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5—ォク夕フルオロー n—ペンチル (メタ) ァクリレート基、 (ノナフルォ 口 _n—ブチル) メチル (メタ) ァクリレート、 パーフルオロー n—ペンチル (メタ) ァクリレート、 1, 1—ジメチル一 2, 2, 3, 3, 4, 4一へキサフ ルォロブチル (メタ) ァクリレート、 1, 1—ジメチル— 2, 2, 3, 3, 4, 4, 4一ヘプ夕フルォロブチル (メタ) ァクリレート、 2— (ノナフルオロー n —ブチル) ェチル (メタ) ァクリレート、 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5, 6, 6—デカフルオロー n—へキシル (メタ) ァクリレート、 (パーフルオロー n— ペンチル) メチル (メタ) ァクリレー卜、 パーフルオロー n—へキシル (メタ) ァクリレート、 1, 1ージメチル一 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5—ォクタフ ルォロペンチル (メタ) ァクリレート、 1, 1—ジメチル _2, 2, 3, 3, 4,2,2,2-difluoroethyl (meth) acrylate, 2,2,2_trifluoroethyl (meth) acrylate, pen fluorethyl (meth) acrylate; 1- (Trifluoromethyl) ethyl (meth) acrylate, 2- (trifluoromethyl) ethyl (meth) acrylate, 2, 2, 3, 3-tetrafluoro-n-propyl (meth) acrylate, (Peneven fluoroethyl) Methyl (meth) acrylate, di (trifluoromethyl) methyl (meth) acrylate, heptafluoro n-propyl (meth) acrylate, 1-methyl-2,2,3,3-tetrafluoropropyl (meth) Acrylate, 1_ (Peneven Fluoroetil) Ethyl (Meth) Acrylate, 2-— (Pen Even Fluoroetil) Ethyl (Meth) Acrylate, 2, 2, 3, 3, 4, 4—Hexafluoro n-Butyl (Meth) Acrylate, (Heptofluoro-n-propyl) Methyl (meth) acrylate, Nonafluoro-n-butyl (Meth) acrylate, 1,1 dimethyl-2,2,3,3-tetrafluoropropyl (meth) acrylate, 1,1-dimethyl-2,2,3,3,3-pentafluoropropyl (meth) acrylate , 2— (Hep Even Fluoro n-Propyl) Ethyl (meth) acrylate, 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5—Octofluoro-n-pentyl (meth) acrylate group, (Nonafluo mouth) _n—Butyl) Methyl (meth) acrylate, perfluoro n-pentyl (meth) acrylate, 1, 1-dimethyl 1, 2, 3, 3, 4, 4 Hexafluorobutyl (meth) acrylate, 1, 1-dimethyl — 2, 2, 3, 3, 4, 4, 4 Heptobutyl fluorobutyl (meth) acrylate, 2— (Nonafluoro-n-butyl) ethyl (meth) acrylate, 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5 , 5, 6, 6—decafluoro-n —Hexyl (meth) acrylate, (perfluoro-n-pentyl) methyl (meth) acrylate, perfluoro-n-hexyl (meth) acrylate, 1,1-dimethyl-1, 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5—octafluoropentyl (meth) acrylate, 1, 1-dimethyl _2, 2, 3, 3, 4,
4, 5, 5, 5—ノナフルォロペンチル (メタ) ァクリレート、 2— (パーフル オロー n—ペンチル) ェチル (メタ) ァクリレート、 2, 2, 3, 3, 4, 4,4, 5, 5, 5—nonafluoropentyl (meth) acrylate, 2— (perfluoro n-pentyl) ethyl (meth) acrylate, 2, 2, 3, 3, 4, 4,
5, 5, 6, 6, 7, 7 _ドデカフルオロー n—ヘプチル (メタ) ァクリレート、 (パーフルオロー n—へキシル) メチル (メタ) ァクリレート、 パーフルオロー n—へプチル (メタ) ァクリレート、 2— (パーフルオロー n—へキシル) ェチ ル (メタ) ァクリレー卜、 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5, 6, 6, 7, 7, 8, 8—テトラデカフルオロー n—才クチル (メタ) ァクリレート、 (パーフル オロー n—へプチル) メチル (メタ) ァクリレート、 パーフルオロー n—ォクチ ル (メタ) ァクリレート、 2— (パーフルオロー n—へプチル) ェチル (メタ) ァクリレー卜、 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5, 6, 6, 7, 7, 8, 8, 9, 9一へキサデ力フルオロー n—ノニル (メタ) ァクリレート、 (パーフルオロー n—才クチル) メチル (メタ) ァクリレート、 パーフルオロー n_ノニル (メ 夕) ァクリレート、 2_ (パーフルオロー n—才クチル) ェチル (メタ) ァクリ レー卜、 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5, 6, 6, 7, 7, 8, 8, 9, 9, 10, 10—ォク夕デカフルオロー n—デシル (メタ) ァクリレート、 (パーフ ルオロー n—ノニル) メチル (メタ) ァクリレート、 パーフルオロー n—デシル5, 5, 6, 6, 7, 7 _dodecafluoro-n-heptyl (meth) acrylate, (perfluoro-n-hexyl) methyl (meth) acrylate, perfluoro-n-heptyl (meth) acrylate, 2- (perfluoro- n-hexyl) Le (meta) alkyl relay, 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5, 6, 6, 7, 7, 8, 8—tetradecafluoro-n-year-old octyl (meth) acrylate, (Perful Oro n-heptyl) Methyl (meth) acrylate, Perfluoro-n-octyl (meth) acrylate, 2- (Perfluoro-n-heptyl) Ethyl (meth) acrylate, 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5, 6, 6, 7, 7, 8, 8, 9, 9 One hexade force fluoro-n-nonyl (meth) acrylate, (perfluoro n-year-old octyl) methyl (meth) acrylate, perfluoro n_nonyl ( Me evening) Acrylate, 2_ (perfluoro-n-year-old octyl) Ethyl (meth) Acrylee, 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5, 6, 6, 7, 7, 8, 8, 9 , 9, 10, 10—Octodecafluoro-n-decyl (meth) acrylate, (full Low n- nonyl) methyl (meth) Akurireto, perfluoro chromatography n- decyl
(メタ) ァクリレート (Meta) Acrylate
等のフルォロアルキル基の炭素数が 1〜10であるフルォロアルキル (メタ) ァ クリレート類のほか、 2, 2, 2—トリフルォロェチルー α—カルボキシァクリ レート、 (ペン夕フルォロェチル) メチルー α—力ルポキシァクリレート;In addition to fluoroalkyl (meth) acrylates with 1 to 10 carbon atoms in the fluoroalkyl group such as 2, 2, 2-trifluoroethyl α-carboxyacrylate, (pentafluoroethyl) methyl α α force Xyacrylate;
2, 2, 2—トリフルォロェチルー α— (カルボキシメチル) ァクリレート、2, 2, 2—trifluoroethyl α- (carboxymethyl) acrylate,
(ペン夕フルォロェチル) メチル _α_ (カルボキシメチル) ァクリレート ; 2, 2, 2—トリフルォロェチルー α— (メトキシカルボニル) ァクリレート、(Penyu Fluoroethyl) Methyl _α_ (Carboxymethyl) acrylate; 2, 2, 2-trifluoroethyl 留-(methoxycarbonyl) acrylate,
(ペン夕フルォロェチル) メチルー α— (メトキシカルボニル) ァクリレート; 2, 2, 2—トリフルォロェチル— α— (ァセチルォキシ) ァクリレート、 (ぺ ンタフルォロェチル) メチルー α— (ァセチルォキシ) ァクリレート ; (Peneven Fluoroethyl) Methyl-α- (Methoxycarbonyl) acrylate; 2, 2, 2-Trifluoroethyl- α- (Acetyloxy) acrylate, (Pentafluoroethyl) Methyl-α- (Acetyloxy) acrylate;
2, 2, 2_トリフルォロェチルー α—フエニルアタリレート、 (ペン夕フルォ ロェチル) メチルー α—フエニルァクリレート、 2, 2, 2—トリフルォロェチ ル一 α—ベンジルァクリレート、 (ペン夕フルォロェチル) メチルー α—べンジ ルァクリレート、 2, 2, 2—トリフルォロェチル一α—エトキシァクリレート、2, 2, 2_Trifluoroethyl-α-phenyl acrylate, (Pen evening fluorethyl) Methyl-α-phenyl acrylate, 2, 2, 2-trifluoroethyl α-benzyl acrylate, (Pen Fluoroethyl) Methyl-α-benzyl acrylate, 2, 2, 2-trifluoroethyl mono-α-ethoxyacrylate,
(ペン夕フルォロェチル) メチル一α—エトキシァクリレート; (Penyu Fluoroetil) Methyl 1α-ethoxyacrylate;
2, 2, 2—トリフルォロェチルー a— (2—メトキシェチル) ァクリレート、2, 2, 2—trifluoroethyl a— (2-methoxyethyl) acrylate,
(ペン夕フルォロェチル) メチル一 a_ (2—メトキシェチル) ァクリレート; 2, 2, 2 _トリフルォロェチル一α—シクロへキシルァクリレート、 (ペン夕 フルォロェチル) メチルー α—シクロへキシルァクリレート; (Penyu Fluoroetil) Methyl mono a_ (2-Methoxyethyl) acrylate; 2, 2, 2 _trifluoroethyl mono-alpha-cyclohexyl acrylate, (Penyu fluorethyl) methyl-alpha-cyclohexyl acrylate;
2, 2, 2—トリフルォロェチルーひ一シァノアクリレート、 (ペン夕フルォロ ェチル) メチル一α—シァノアクリレート等を挙げることができる。 2,2,2-Trifluoroethyl cyanosilane, (Penyu Fluoroethyl) methyl mono α-cyanoacrylate, and the like.
本発明において、 酸基含有化合物の酸基はスルホン酸が好ましく、 酸基含有単 量体としては 2— (メタ) アクリルアミドー 2—メチルプロパンスルホン酸が好 ましい。 その他の単量体としては 2, 2, 2—トリフルォロェチルァクリレート、 2— (パーフルオロー η—才クチル) ェチル (メタ) ァクリレートが好ましい。 また (ィ) 成分の好ましい範囲としては (ィ) + (口) =100重量部としたと き、 0. 5〜90重量部、 さらに好ましくは 1〜80重量部である。  In the present invention, the acid group of the acid group-containing compound is preferably sulfonic acid, and the acid group-containing monomer is preferably 2- (meth) acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid. Other monomers are preferably 2,2,2-trifluoroethyl acrylate and 2- (perfluoro-η-year-old octyl) ethyl (meth) acrylate. Further, the preferred range of the component (i) is 0.5 to 90 parts by weight, more preferably 1 to 80 parts by weight, when (i) + (mouth) = 100 parts by weight.
本発明のカルボン酸基、 スルホン酸基およびリン酸基よりなる群から選ばれる 1つ以上の酸基を含む重合体はマイク口レンズを形成する感放射線性樹脂組成物 とのイン夕一ミキシングを抑制するために溶媒の一部又は全部に水を含有するこ とが好ましい。  The polymer containing one or more acid groups selected from the group consisting of a carboxylic acid group, a sulfonic acid group, and a phosphoric acid group of the present invention can be mixed with a radiation-sensitive resin composition forming a microphone mouth lens. In order to suppress it, it is preferable to contain water in part or all of the solvent.
また、 本発明のカルボン酸基、 スルホン酸基およびリン酸基よりなる群から選 ばれる 1つ以上の酸基を含む重合体は (メタ) アクリル樹脂を含有することが好 ましい。  Further, the polymer containing one or more acid groups selected from the group consisting of carboxylic acid groups, sulfonic acid groups and phosphoric acid groups of the present invention preferably contains a (meth) acrylic resin.
本発明のマイク口レンズ上層膜形成用組成物には、 本発明の性能を損なわない 限り添加剤を配合することができる。 添加剤として界面活性剤を配合することが できる。  An additive can be blended in the composition for forming an upper layer film of the microphone mouth lens of the present invention as long as the performance of the present invention is not impaired. A surfactant can be blended as an additive.
フッ素系界面活性剤としては、 商品名で、 例えば、 サーフロン S— 111、 S — 112、 同 S— 113、 同 S— 121、 同 S_131、 同 S— 132、 同 S— 141、 同 S— 145、 同 S— 38 1、 同 S— 393、 以上セイミケミカル (株) 製;  For example, Surflon S-111, S-112, S-113, S-121, S_131, S-132, S-141, S-145. , S-38 1, S-393, manufactured by Seimi Chemical Co., Ltd .;
フタ一ジェント 100、 同 100C、 同 150、 同 150CH、 同 A— K:、 同 5 01、 同 250、 同 251、 同 222F、 同 300、 同 222F、 同 250、 同 251、 同 222 F、 同 300、 同 310、 同 FTX— 212M、 同 FTX—2 09F、 同 FTX— 213F、 同 FTX— 233 F、 同 FTX— 245 F、 以上 (株) ネオス製; Cover 100, 100C, 150, 150CH, AK :, 51, 250, 251, 222F, 300, 222F, 250, 251, 222F, 300, 310, FTX- 212M, FTX-2 09F, FTX- 213F, FTX- 233 F, FTX- 245 F, etc. Made by Neos Co., Ltd .;
エフトップ EF— 103、 同 EF— 112、 同 EF— 121、 同 EF— 122A、 同 EF— 122B、 同 EF— 122 C、 同 EF_ 123 A、 同 EF— 123B、 同 EF— 352、 同 EF_ 802、 同 EF— 132、 同 EF— 352、 同 EF— 802、 以上 (株) ジェムコ製; F-top EF-103, EF-112, EF-121, EF-122A, EF-122B, EF-122C, EF_123C, EF_123A, EF-123B, EF-352, EF_802 EF-132, EF-352, EF-802, Gemco Corporation;
フロラ一ド FC_4430、 以上住友スリーェム (株) 製; Florade FC_4430, manufactured by Sumitomo 3EM Co., Ltd .;
BM1000、 BM1100、 以上 BM—CHEMI E社製;  BM1000, BM1100, or more BM—made by CHEMI E;
エフ力 30、 エフ力 31、 エフ力 34、 エフ力 35、 エフ力 36、 エフ力 39、 エフ力 83、 エフ力 86、 エフ力 88、 エフ力 772、 エフ力 777、 以上エフ 力ケミカルズ社製; F force 30, F force 31, F force 34, F force 35, F force 36, F force 39, F force 83, F force 86, F force 88, F force 772, F force 777, or more ;
サーフイノ一ル 104、 同 104E、 同 420、 同 440、 同 465、 同 SE、 同 SE— F、 同 61、 同 82、 同 504、 同 2502、 同 DF 58、 同 DF 11 0D、 同 DF 110L、 同 DF37、 同 DF75、 同 DF210、 同 CT111、 同 CT121、 同 CT131、 同 CT136、 同 GA、 同 TG、 同 TGE、 同 E 104、 同 PD_001、 同 PD— 002W、 同 PD— 004、 同 EXP400 1、 同 EXP4051、 ダイノール 604、 オルフイン B、 同 P、 同 Y、 同 Α、 同 STG、 同 SPC、 同 E 1004、 同 E 1010、 同 AK— 02、 以上エアプ 口ダクッ社製; Surfinore 104, 104E, 420, 440, 465, SE, SE-F, 61, 82, 504, 2502, DF 58, DF 110D, DF 110L, DF37, DF75, DF210, CT111, CT121, CT131, CT136, GA, TG, TGE, E104, PD_001, PD-002W, PD-004, EXP400 1 , EXP4051, Dynol 604, Orphin B, P, Y, D, STG, SPC, E1004, E1010, AK-02, and more
フローレンシリーズ 共栄社化学 (株) 製; Floren series manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd .;
FCシリーズ 住友スリーェム (株) 製; FC series manufactured by Sumitomo 3EM;
フルオナール TFシリーズ 東邦化学 (株) 製; Fluoronal TF series manufactured by Toho Chemical Co., Ltd .;
BYKシリーズ ビックケミ一社製; BYK series made by Bicchemi;
S s hme goシ U—ズ S s hme gma n n社製; S s hme go shi U—s S s hme gma n n company;
ェマルゲン、 Emargen,
ホモゲノール以上花王 (株) 製などを挙げることができる。 Examples include homogenol and more manufactured by Kao Corporation.
界面活性剤は単独でまたは 2種類以上混合して使用することができる。 界面活 性剤の配合量は (ィ) + (口) 成分 100重量部に対し、 好ましくは 50重量部 以下、 より好ましくは 0. 01〜40重量部、 さらに好ましくは 0. 1〜30重 量部である。 5 0重量部を超えるとマイクロレンズ形成用感放射線性樹脂組成物 を溶解してしまう可能性があり、 0. 0 1重量部未満の場合、 マイクロレンズ形 成用感放射線性樹脂組成物への塗布性が低下する。 Surfactants can be used alone or in admixture of two or more. The compounding amount of the surfactant is preferably 50 parts by weight or less, more preferably 0.01 to 40 parts by weight, still more preferably 0.1 to 30 parts by weight per 100 parts by weight of the component (b) + (mouth). It is a quantity part. If it exceeds 50 parts by weight, the radiation-sensitive resin composition for forming a microlens may be dissolved, and if it is less than 0.01 part by weight, the radiation-sensitive resin composition for forming a microlens may be dissolved. The applicability decreases.
その他の添加剤として以下のアル力リ性化合物を添加することができる。 前記 カルボン酸基、 スルホン酸基およびリン酸基よりなる群から選ばれる少なくとも 1つの酸基を含む重合体に対し、 アルカリ性化合物を添加することにより、 酸基 を中和することができる。 中和されることで上記酸基を含む重合体の室温状態で の長期保存における自己分解が抑制されるので、 マイク口レンズ上層膜形成用組 成物との保存安定性が一層向上し、 加工上の取り扱いの問題や腐食の問題を解決 して汎用的に使用することができる。  The following strength compounds can be added as other additives. The acid group can be neutralized by adding an alkaline compound to the polymer containing at least one acid group selected from the group consisting of the carboxylic acid group, the sulfonic acid group, and the phosphoric acid group. Neutralization suppresses self-decomposition during long-term storage at room temperature of the polymer containing the acid group, so that the storage stability with the composition for forming the upper layer film of the microphone mouth lens is further improved and processed. It can be used universally by solving the above handling problems and corrosion problems.
アル力リ性化合物を添加する目的は p Hをコントロールするためである。 アル カリ性化合物としては、 例えば水酸化ナトリウム、 水酸化カリウム、 水酸化リチ ゥムなどのアルカリ金属水酸化物;ナトリウムメトキシド、 ナトリウムエトキシ ド、 カリウムメトキシド、 ナトリウム一 tーブトキシド、 カリウム— tーブトキ シドなどのアルカリ金属アルコキシド;炭酸ナトリウム、 炭酸カリウム、 炭酸リ チウムなどの炭酸塩;メチルリチウム、 ェチルリチウム、 n—ブチルリチウム、 s e c—ブチルリチウム、 アミルリチウム、 プロピルナトリウム、 メチルマグネ シゥムクロライド、 ェチルマグネシウムブロマイド、 プロピルマグネシウムアイ オダイド、 ジェチルマグネシウム、 ジェチル亜鉛、 トリェチルアルミニウム、 ト リイソブチルアルミニウムなどの有機金属化合物;アンモニア、 トリメチルアミ ン、 トリェチルァミン、 トリプロピルァミン、 トリプチルァミン、 トリペンチル ァミン、 トリへキシルァミン、 トリオクチルァミン、 トリエタノールァミン、 ジ エタノールァミン、 N、 N—ジメチルアミノエ夕ノール、 2—ァミノ一 2—メチ ルプロパノール、 テトラメチルアンモニゥムヒドロキシド、 ピリジン、 ァニリン、 ピぺラジンなどのァミン;ナトリウム、 リチウム、 カリウム、 カルシウム、 亜鉛 などの金属化合物を挙げることができる。 これらの塩基性化合物は、 1種単独で 使用することも、 また 2種以上を併用することもできる。 これらの塩基性化合物 の中では、 トリェチルァミン、 トリエタノールァミン、 テトラメチルアンモニゥ ムヒドロキシドが好ましい。 The purpose of adding an alkaline compound is to control pH. Examples of the alkaline compound include alkali metal hydroxides such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, and lithium hydroxide; sodium methoxide, sodium ethoxide, potassium methoxide, sodium tert-butoxide, and potassium tert-butoxy. Alkali metal alkoxides such as sid; carbonates such as sodium carbonate, potassium carbonate, lithium carbonate; methyllithium, ethyllithium, n-butyllithium, sec-butyllithium, amyllithium, propylsodium, methylmagnesium chloride, ethylmagnesium bromide , Organometallic compounds such as propylmagnesium iodide, jetylmagnesium, jetylzinc, triethylaluminum, triisobutylaluminum; ammonia, trimethylamido , Triethylamine, Tripropylamine, Triptylamamine, Tripentylamine, Trihexylamine, Trioctylamine, Triethanolamine, Diethanolamine, N, N-dimethylamino ether, 2-Amino-2-methyl Examples include amines such as propanol, tetramethylammonium hydroxide, pyridine, aniline and piperazine; and metal compounds such as sodium, lithium, potassium, calcium and zinc. These basic compounds can be used alone or in combination of two or more. Among these basic compounds, triethylamine, triethanolamine, tetramethylammonium Muhydroxide is preferred.
上記アル力リ性化合物は単独でまたは 2種類以上混合して使用することができる。 アルカリ性化合物の配合量は (ィ) + (口) 成分 1 0 0重量部に対し、 好ましく は 1重量部以上、 より好ましくは 5重量部以上である。 アルカリ性化合物を上記 添加量で加えることにより、 マイクロレンズ上層膜形成用組成物が中和されるこ とで上記酸基を含む重合体の室温状態での長期保存における自己分解が抑制され、 よりマイクロレンズ上層膜形成用組成物の保存安定性が向上し、 加工上の取り扱 いの問題や腐食の問題を解決し、 汎用的に使用することができる。 The above strength-reducing compounds can be used alone or in admixture of two or more. The compounding amount of the alkaline compound is preferably 1 part by weight or more, more preferably 5 parts by weight or more with respect to 100 parts by weight of (i) + (mouth) component. By adding the alkaline compound in the above-mentioned addition amount, the composition for forming the microlens upper layer film is neutralized, thereby suppressing the self-decomposition during long-term storage of the polymer containing the acid group at room temperature. The storage stability of the composition for forming the lens upper layer film is improved, and the problem of handling in processing and the problem of corrosion can be solved and it can be used for general purposes.
溶剤 Solvent
本発明において、 マイクロレンズ上層膜形成用組成物の所定量を、 例えば 0 . 1〜1 0重量%の固形分濃度で溶剤に溶解したのち、 例えば孔径 0 . 程度 のフィル夕一でろ過することによつて溶液を調製できる。 マイクロレンズ上層膜 形成用組成物溶液の調製に使用される溶剤としては、 該組成物を構成する各成分 を溶解しうる溶剤、 例えば、 水や、 メタノール、 エタノール、 イソプロパノール 等の 1価アルコールのほか、 エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、 エチレングリコ一ルモノェチルエーテルァセテ一ト、 ジェチレングリコールモノ メチルエーテル、 ジエチレングリコールモノェチルエーテル、 ジエチレングリコ ールモノブチルエーテル、 プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、 プ ロピレンダリコールェチルエーテルァセテ一ト、 プロピレングリコールプロピル エーテルアセテート、 メチルェチルケトン、 シクロへキサノン、 2—ヒドロキシ プロピオン酸メチル、 2—ヒドロキシプロピオン酸ェチル、 2—ヒドロキシ— 2 —メチルプロピオン酸ェチル、 3—メトキシプロピオン酸メチル、 3 _エトキシ プロピオン酸ェチル、 エトキシ酢酸ェチル、 ォキシ酢酸ェチル、 2 _ヒドロキシ _ 3—メチル酪酸メチル、 3—メチルー 3—メトキシブチルアセテート、 3—メ チルー 3—メトキシブチルプロピオネート、 3—メチルー 3—メ卜キシブチルブ チレート、 酢酸ェチル、 酢酸プチル、 3—メ卜キシプロピオン酸メチル、 ピルビ ン酸ェチル、 ベンジルェチルエーテル、 ジへキシルエーテル、 ァセトニルァセ卜 ン、 イソホロン、 カブロン酸、 力プリル酸、 酢酸ベンジル、 安息香酸ェチル、 シ ユウ酸ジェチル、 マレイン酸ジェチル、 ァ一プチロラクトン、 炭酸エチレン、 炭 酸プロピレン、 エチレングリコールモノフエニルエーテルァセテ一ト等を使用す ることができる。 In the present invention, a predetermined amount of the microlens upper layer film-forming composition is dissolved in a solvent at a solid content concentration of, for example, 0.1 to 10% by weight, and then filtered through a filter with a pore diameter of about 0.1. To prepare a solution. As a solvent used for preparing the composition solution for forming the microlens upper layer film, a solvent capable of dissolving each component constituting the composition, for example, water, monohydric alcohol such as methanol, ethanol, isopropanol, etc. , Ethylene glycol monomethyl ether acetate, ethylene glycol monoethyl ether acetate, jetylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, propylene glycol methyl ether acetate, propylene glycol ether ether Acetate, propylene glycol propyl ether acetate, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, methyl 2-hydroxypropionate, ethyl 2-hydroxypropionate, 2-hydroxy-2-ethyl ethyl propionate, methyl 3-methoxypropionate, 3_ethoxy ethyl propionate, ethoxy acetate ethyl, ethyl oxyacetate, 2_hydroxy_methyl 3-methylbutyrate, 3-methyl-3-methoxybutyl Acetate, 3-methyl-3-methoxybutyl propionate, 3-methyl-3-methoxybutyl butyrate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl 3-methylpropionate, ethyl pyruvate, benzyl ether, di Hexyl ether, acetonyl acetone, isophorone, caproic acid, strong prillic acid, benzyl acetate, ethyl benzoate, Use can be made of ethyl oxalate, cetyl maleate, aptilolactone, ethylene carbonate, propylene carbonate, ethylene glycol monophenyl ether acetate and the like.
これらの溶剤は、 単独でまたは 2種以上を混合して使用される。  These solvents are used alone or in combination of two or more.
前記溶剤のうちでは、 水および Zまたは 1価アルコールを 1 0重量%以上含有 するものが好ましい。  Among the solvents, those containing 10% by weight or more of water and Z or monohydric alcohol are preferable.
以上のとおり、 本発明によれば、 マイクロレンズ上層膜形成用組成物を塗布し た後レンズを熱処理することにより、 レンズのメルト性を制御するメルト制御剤 として機能して基板上に隙間なく所望のレンズを形成することができる。 すなわ ち、 本発明はレンズの極表層の反応を利用したもので、 レンズのサイズ、 膜厚に よらずマイク口レンズを隙間なく形成することができる。  As described above, according to the present invention, the lens is heat-treated after applying the microlens upper layer film-forming composition, thereby functioning as a melt control agent for controlling the melt property of the lens, and without any gap on the substrate. Lenses can be formed. In other words, the present invention utilizes the reaction of the extreme surface layer of the lens, and the microphone mouth lens can be formed without any gap regardless of the size and film thickness of the lens.
また本発明のマイクロレンズ上層膜形成用組成物はパターンニング後に塗布す るだけであり、 単純な工程でレンズの形状をコントロールできる利点がある。 本発明のマイク口レンズ上層膜用組成物は、 さらにアル力リ性化合物を含むこ とにより保存安定性を向上させることができる。 実施例  The composition for forming a microlens upper layer film of the present invention is only applied after patterning, and has an advantage that the shape of the lens can be controlled by a simple process. The composition for an upper layer film of the microphone mouth lens of the present invention can further improve storage stability by containing an alcoholic compound. Example
次に実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明するが、 本発明はこれらの実 施例によってなんら制約されるものではない。  EXAMPLES Next, the present invention will be described more specifically with reference to examples. However, the present invention is not limited by these examples.
また、 特にことわりの無い限り、 %は重量%を示す。  Unless otherwise specified, “%” means “% by weight”.
合成例 1  Synthesis example 1
フラスコ内を窒素置換した後、 2, 2 ' ーァゾビスイソプチロニトリル 1 0 g を溶解したプロピレングリコールモノメチルエーテル溶液 5 0 0 gを仕込んだ。 引き続きスチレン 2 5 g、 P - t e r tーブトキシスチレン 4 7 5 gを仕込んだ 後、 緩やかに撹拌を始めた。 7 0でで重合開始し、 この温度を 1 2時間保持した 後、 溶液を徐々に室温に戻した。 その後、 アセトンを加え、 溶液濃度を 1 5重 量%にしてから 1 0倍量のメタノール中に滴下して反応物を凝固させた。 この凝 固物をメ夕ノールで充分に洗浄した後、 プロピレングリコ一ルモノメチルェ一テ ル溶液 500 gに再溶解させ、 多量のメタノールで再度、 凝固させた。 After the atmosphere in the flask was replaced with nitrogen, 500 g of a propylene glycol monomethyl ether solution in which 10 g of 2,2′-azobisisoptyronitrile was dissolved was charged. Subsequently, 25 g of styrene and 47. 5 g of P-tert-butoxystyrene were charged, and then gently stirred. Polymerization started at 70, and this temperature was maintained for 12 hours, and then the solution was gradually returned to room temperature. Acetone was then added to adjust the solution concentration to 15% by weight and then dripped into 10 times the amount of methanol to solidify the reaction product. After thoroughly washing this coagulated material with methanol, propylene glycol monomethyl ether The sample was redissolved in 500 g of a solution and coagulated again with a large amount of methanol.
この再溶解—凝固操作を 3回行った後、 得られた凝固物を 60 で 48時間真 空乾燥させ、 目的とする共重合体を得た。  After this re-dissolution-coagulation operation was performed three times, the obtained coagulated product was vacuum-dried at 60 for 48 hours to obtain the desired copolymer.
その後、 この共重合体 200 gをフラスコに入れ、 1, 133 gのプロピレン グリコールモノメチルエーテル溶液にて 15重量%溶液を得た。 その後、 12 0でのオイルバス中にフラスコをいれて、 窒素バブル下で溶液を撹捽させながら 沸点還流させた。 滴下ロートを用いて 7.2%塩酸水溶液 200 gをポリマーが 析出しないように注意しながら 60分間かけてゆっくり滴下して、 その後さらに 5時間還流を続けた。  Thereafter, 200 g of this copolymer was placed in a flask, and a 15 wt% solution was obtained using 1,133 g of propylene glycol monomethyl ether solution. Thereafter, the flask was placed in an oil bath at 120 ° C., and the solution was refluxed at the boiling point while stirring the solution under a nitrogen bubble. Using a dropping funnel, 200 g of a 7.2% hydrochloric acid aqueous solution was slowly added dropwise over 60 minutes, taking care not to precipitate the polymer, and then refluxed for another 5 hours.
赤外分光スペクトル (I R) で加水分解が完全であることを確認した後、 溶液 を徐々に室温に戻して、 アセトンで希釈し 10倍量の超純水中に滴下して凝固さ せた。 その後濾液が中性になるまで超純水で充分に洗浄し、 得られた白色ポリマ 一を 60でで 48時間乾燥させ、 ポリマーを得た。  After confirming that the hydrolysis was complete by infrared spectroscopy (IR), the solution was gradually returned to room temperature, diluted with acetone, and dripped into 10 times the amount of ultrapure water to solidify. Thereafter, the filtrate was thoroughly washed with ultrapure water until it became neutral, and the obtained white polymer was dried at 60 for 48 hours to obtain a polymer.
合成例 2  Synthesis example 2
窒素置換したフラスコ内に、 合成例 1で得られたアルカリ可溶性ポリマー 10 0 gを四塩化炭素 400 gに溶解した後、 反応温度が 30でを超えないように注 意しながら、 臭素 50 gを滴下ロートを用いて滴下した。 その後 3時間撹拌を続 けた。 沈澱した生成物を濾別した後、 400 gのアセトンに溶解し、 10倍量の 超純水中に徐々に加えてポリマーを析出させた。 濾過、 水洗後、 再びアセトンに 溶解し、 10 Lの 4%NaHC〇3水溶液中に加えてポリマーを析出させた。 濾 過後、 ポリマーを充分に水洗して N a HC〇3を完全に除去したあと 40 で 2 4時間真空乾燥した。 In a flask purged with nitrogen, 100 g of the alkali-soluble polymer obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in 400 g of carbon tetrachloride, and then 50 g of bromine was added while making sure that the reaction temperature did not exceed 30. It dropped using the dropping funnel. Thereafter, stirring was continued for 3 hours. The precipitated product was filtered off, dissolved in 400 g of acetone, and gradually added to 10 times the amount of ultrapure water to precipitate the polymer. Filtered, washed with water, was again dissolved in acetone, precipitated with 10 4% NaHC_〇 polymer in addition to the 3 aqueous solution L. After Filtration and 2 4 hours and vacuum dried at N a HC_〇 3 after 40 was completely removed by thoroughly washing the polymer.
臭素化は、 赤外吸収スペクトルを測定し、 C一 B rに由来する 740 cm—1 の吸収が新たに出現していることにより確認した。 Bromination was confirmed by measuring the infrared absorption spectrum and newly appearing absorption of 740 cm- 1 derived from C-Br.
(1) 感放射線性樹脂組成物の調製例 1  (1) Preparation Example 1 of Radiation Sensitive Resin Composition
合成例 2で得られたアルカリ可溶性ポリマー 10. 0 gをジエチレングリコー ルジメチルエーテル 13. O gに溶解したのち、 4' —ヒドロキシ 2, 3, 4- トリヒドロキシベンゾフエノン 0. 4g、 1, 1 _ビス (4ーヒドロキシフエ二 ル) 一 [4一 〔1一 (4ーヒドロキシフエニル) _ 1ーメチルェチル〕 フエ二 ル〕 ェタンと 1, 2_ナフトキノンジアジド一 5—スルホン酸との 2. 5モル縮 合物 3. 0 g、 グリシドキシプロビルトリメトキシシラン 0. 2 g、 へキサメト キシメラミン l g、 ェピコ一ト 152 (ジャパンエポキシレジン (株) 製) を 0. 5 g、 乳酸ェチル 120. 0 gを溶解し、 孔径 0. 2 / mのミリポアフィルター で濾過して感放射線性樹脂組成物 (1) を調製した。 After dissolving 10.0 g of the alkali-soluble polymer obtained in Synthesis Example 2 in diethylene glycol dimethyl ether 13. O g, 4′-hydroxy 2, 3, 4-trihydroxybenzophenone 0.4 g, 1, 1 _Bis (4-hydroxyphenol 1) [4 1 [1 (4-Hydroxyphenyl) _ 1-methylethyl] phenyl] 1,2_ naphthoquinonediazide 1-5-sulfonic acid 2.5 molar condensate 3.0 g Glycidoxyprovir trimethoxysilane 0.2 g, Hexamethoxy melamine lg, Epicot 152 (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 0.5 g, Ethyl lactate 10.0 g dissolved in pore size 0 A radiation sensitive resin composition (1) was prepared by filtration through a 2 / m Millipore filter.
同様にアルカリ可溶性ポリマ一 P—ヒドロキシスチレン (マルカリンカー M、 丸善石油化学 (株) 製) 10 gに変更した以外は全て同じ組成にて調製し感放射 線性樹脂組成物 (2) を得た。  Similarly, except that the alkali-soluble polymer P-hydroxystyrene (Marcalinker M, manufactured by Maruzen Petrochemical Co., Ltd.) was changed to 10 g, all were prepared with the same composition to obtain a radiation-sensitive resin composition (2).
同様にマルカリンカ— PHM— C 10. 0 gをジエチレングリコールジメチル エーテル 13. O gに溶解したのち、 4' —ヒドロキシ 2, 3, 4—トリヒドロ キシベンゾフエノン 0. 4g、 1, 1—ビス (4—ヒドロキシフエニル) 一[4 一 〔1一 (4—ヒドロキシフエニル) 一 1ーメチルェチル〕 フエニル〕 ェタンと 1, 2—ナフトキノンジアジド一 5—スルホン酸との 2. 5モル縮合物 3. 0 g、 グリシドキシプロビルトリメトキシシラン 0. 2 g、 へキサメトキシメラミン 1 g、 ェピコート 152 (ジャパンエポキシレジン (株) 製) を 1. 0 g、 乳酸ェ チル 120. O gを溶解し、 孔径 0. 2 /zmのミリポアフィル夕一で濾過して感 放射線性樹脂組成物 (3) を調製した。  Similarly, after dissolving Marcalinker PHM- C 10.0 g in diethylene glycol dimethyl ether 13. O g, 4 '—hydroxy 2, 3, 4-trihydroxybenzophenone 0.4 g, 1, 1-bis (4 —Hydroxyphenyl) 1 [4 1 [1 1 (4-Hydroxyphenyl) 1 1-methylethyl] phenyl] ethane and 1,2-naphthoquinonediazide 1-5-sulfonic acid 3.0 molar condensate 3.0 g , Glycidoxyprovir trimethoxysilane 0.2 g, Hexamethoxymelamine 1 g, Epicoat 152 (Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 1.0 g, Lactic acid ethyl 120. O g A radiation sensitive resin composition (3) was prepared by filtration through a 0.2 / zm Millipore filter.
同様にマルカリンカ— Ml 0. 0 gをジエチレングリコールジメチルエーテル 13. O gに溶解したのち、 4' —ヒドロキシ 2, 3, 4—トリヒドロキシベン ゾフエノン 0. 4 g、 1, 1—ビス (4ーヒドロキシフエニル) 一 1— [4— 〔1— (4—ヒドロキシフエニル) 一 1—メチルェチル〕 フエニル〕 ェタンと 1, 2—ナフトキノンジアジドー 5—スルホン酸との 2. 5モル縮合物 3. 0 g、 グ リシドキシプロピル卜リメトキシシラン 0. 2 g、 へキサメトキシメラミン 1 g、 ェピコート 152 (ジャパンエポキシレジン (株) 製) を 1. 5 g、 乳酸ェチル 120. O gを溶解し、 孔径 0.2 / mのミリポアフィル夕一で濾過して感放射 線性樹脂組成物 (4) を調製した。  Similarly, after dissolving 0.0 g of Marcalinker Ml in diethylene glycol dimethyl ether 13. O g, 4'-hydroxy 2,3,4-trihydroxybenzazophenone 0.4 g, 1,1-bis (4-hydroxyl Enyl) 1 1- [4— [1— (4-hydroxyphenyl) 1 1-methylethyl] phenyl] ethane and 1,2-naphthoquinonediazido 5-sulfonic acid 3.0 molar condensate 3.0 g Glycidoxypropyl-trimethoxysilane 0.2 g, Hexamethoxymelamine 1 g, Epicoat 152 (Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) 1.5 g, Ethyl lactate 120. A radiation-sensitive resin composition (4) was prepared by filtration through a Milliporefil / m 2.
合成例 3 フラスコ内を窒素置換した後、 2, 2 ' —ァゾビス (2, 4—ジメチルバレロ 二トリル) 7.0 gを溶解したジエチレングリコールジメチルエーテル溶液 25 O. O gを仕込んだ。 引き続きスチレン 5. 0 g, メ夕クリル酸 22. 0 gジシ クロペン夕ニルメ夕クリレート 28. 2 g、 グリシジルメ夕クリレート 45. 0 gを仕込んだ後、 ゆるやかに撹拌を始めた。 70でで重合を開始し、 この温度を 6時間保持した後重合を終結させ固形分濃度 30 %の重合液を得た。 Synthesis example 3 After the atmosphere in the flask was replaced with nitrogen, 25 O.O g of a diethylene glycol dimethyl ether solution in which 7.0 g of 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitryl) was dissolved was charged. Subsequently, 5.0 g of styrene, 22.0 g of methacrylic acid, 20.2 g of dicyclopentaneyl methacrylate, 28.2 g of glycidyl methacrylate, and 45.0 g of glycidyl methacrylate were charged, and then gently stirring was started. Polymerization was started at 70, and this temperature was maintained for 6 hours. Then, the polymerization was terminated to obtain a polymerization solution having a solid content concentration of 30%.
(1) 感放射線性樹脂組成物の調製例 2  (1) Preparation example 2 of radiation sensitive resin composition
合成例 3で得られた共重合体溶液 33. 3 g (共重合体 10 g ) をジェチレン グリコールジメチルエーテル 162. 0 gで希釈したのち、 1, 1一ビス (4— ヒドロキシフエニル) 一[4— 〔1— (4—ヒドロキシフエニル) 一 1一メチル ェチル〕 フエニル〕 ェタンと 1, 2—ナフトキノンジアジドー 5—スルホン酸と の 2. 0モル縮合物 3. 0 g、 グリシドキシプロビルトリメトキシシラン 0. 5 g、 SH—28PA (東レダウコーニングシリコーン (株) 製) 0. 005 gを 溶解し、 孔径 0.2 / mのミリポアフィルターで濾過して感放射線性樹脂組成物 (5) を調製した。  After diluting the copolymer solution 33.3 g (copolymer 10 g) obtained in Synthesis Example 3 with 162.0 g of jetylene glycol dimethyl ether, 1,1 bis (4-hydroxyphenyl) one [4 — [1— (4-Hydroxyphenyl) 1 1 1 methyl ethenyl] ethane] and 1,2-naphthoquinonediazido 5-sulfonic acid 3.0 mol condensate 3.0 g, glycidoxyprovir Trimethoxysilane 0.5 g, SH-28PA (manufactured by Toray Dow Corning Silicone Co., Ltd.) 0.005 g was dissolved and filtered through a Millipore filter with a pore size of 0.2 / m to obtain a radiation sensitive resin composition (5). Prepared.
実施例 1〜 9  Examples 1-9
(1) 攪拌機、 温度計、 ヒーター、 単量体添加用ポンプおよび窒素ガス導入装 置を備えたステンレス製オートクレーブに、 エチレングリコールモノブチルエー テル 140重量部を仕込み、 気相部を 15分間窒素置換したのち、 内温を 80 に昇温した。 その後、 内温を 80でに保ちながら、 2_アクリルアミドー 2—メ チルプロパンスルホン酸 10重量部、 パーフルォロォクチルェチルァクリレート 50重量部、 パーフルォロメチルェチルァクリレート 40重量部および過酸化べ ンゾィル 2重量部からなる混合物を、 3時間かけて連続的に添加し、 添加終了後 85〜95ででさらに 2時間反応させたのち、 25T:に冷却した。 その後、 反応 溶液を真空乾燥して溶剤を除去して、 固形分濃度 10重量%の水溶性樹脂を得た。 この水溶性樹脂は、 Mwが 3. 0X 104であり、 2_アクリルアミドー 2— メチルプロパンスルホン酸 2— (パーフルオロー n—ォクチル) ェチルァクリ レート/パーフルォロメチルェチルァクリレートの共重合割合が 10 70 1 0 (%) であった。 この水溶性樹脂を 「水溶性樹脂 (A— 1)」'とする。 (1) A stainless steel autoclave equipped with a stirrer, thermometer, heater, monomer addition pump and nitrogen gas introduction device was charged with 140 parts by weight of ethylene glycol monobutyl ether, and the gas phase was replaced with nitrogen for 15 minutes. After that, the internal temperature was raised to 80. Then, while keeping the internal temperature at 80, 2_acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid 10 parts by weight, perfluorooctylethyl acrylate 50 parts by weight, perfluoromethylethyl acrylate A mixture consisting of 40 parts by weight and 2 parts by weight of benzoyl peroxide was continuously added over 3 hours. After the addition was completed, the mixture was further reacted at 85 to 95 for 2 hours, and then cooled to 25T :. Thereafter, the reaction solution was vacuum-dried to remove the solvent to obtain a water-soluble resin having a solid concentration of 10% by weight. This water-soluble resin has an Mw of 3.0X 10 4 and is a copolymer of 2_acrylamido-2-methylpropanesulfonic acid 2- (perfluoro-n-octyl) ethyl acrylate / perfluoromethyl ethyl acrylate Ratio is 10 70 1 0 (%). This water-soluble resin is referred to as “water-soluble resin (A-1)”.
(2) 水溶性樹脂 (A— 1) 1 00重量部にエアープロダクツ社製界面活性剤 サ一フィノール 465を 1重量部、 さらに水を加えて固形分濃度 1重量%とした のち、 孔径 0. 2 /zmのメンブランフィルターでろ過して、 レンズ上層膜用組成 物 (B— 1) を得た。  (2) Water-soluble resin (A-1) After adding 100 parts by weight of Surfactor Surfinol 465 made by Air Products and adding water to a solids concentration of 1% by weight, the pore size is 0. The mixture was filtered through a 2 / zm membrane filter to obtain a lens upper layer composition (B-1).
同様に固形分濃度 0. 5重量%のレンズ上層膜用組成物 (B— 2) を得た。 同様に (A_ 1) 100重量部にァープロダクツ社製界面活性剤サーフィノー ル 465、 トリェチルァミン 1 0重量部、 さらに水を加えて固形分濃度 1重量% としてレンズ上層膜用組成物 (B— 3) を得た。  Similarly, a composition for lens upper layer film (B-2) having a solid content concentration of 0.5% by weight was obtained. In the same manner, (A_ 1) 100 parts by weight of Surfactant Surfanol 465, 10 parts by weight of triethylamine, and water to further increase the solid content of the composition (B-3) to 1% by weight. Obtained.
(3) 透明樹脂層付き直径 6インチのシリコンウェハー上に、 前記感放射線性 樹脂組成物 (1) または (2) を回転塗布したのち、 1 00でのホットプレート 上で 9 0秒間プリべークして所望の厚さのレジスト被膜を形成した。 その後 (株) ニコン製ステツパ NSR 220 5 1 1 2D (365 nm) を使用して所定 時間露光を行った。 その後テトラメチルアンモニゥムヒドロキシド 1重量%水溶 液を用いて 2 5で' 1分間現像し、 水洗しレジストパターンを形成した。 膜厚 0. 3 zmの実施例 1〜4、 7〜9では照射量は、 1 90 m J c m2であり、 実施 例 5 (膜厚 0. 45 m) では 220m JZcm2であり、 実施例 6 (0. 7 3 m) では 2 5 Om J/cm2であった。 (3) Spin-coating the radiation-sensitive resin composition (1) or (2) on a 6-inch diameter silicon wafer with a transparent resin layer, followed by 90 seconds on a hot plate at 100 seconds. To form a resist film having a desired thickness. Thereafter, exposure was performed for a predetermined time using a stepper NSR 220 5 1 1 2D (365 nm) manufactured by Nikon Corporation. Thereafter, development was carried out at 25 ° C. for 1 minute using a 1% by weight aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide, followed by washing with water to form a resist pattern. Thickness 0. 3 zm Example 1-4, the dose at 7-9 is 1 90 m J cm 2, an example 5 (thickness 0. 45 m) in 220m JZcm 2, Example It was 25 Om J / cm 2 at 6 (0.73 m).
その後前記マイクロレンズ上層膜形成用組成物を回転塗布した後、 水洗、 乾燥 を行ない、 その後再度 (株) ニコン製ステツパ NSR 2205 i 1 2D (365 nm) を使用して NAO. 63、 シグマ 0. 6で所定時間全面露光を行った。 そ の後、 200 で 4分間べークさせ、 マイクロレンズを形成した。  Thereafter, the composition for forming the microlens upper layer film was spin-coated, washed with water, dried, and then again using Nikon Stepper NSR 2205 i 1 2D (365 nm) NAO. 63, Sigma 0. In step 6, the entire surface was exposed for a predetermined time. After that, it was baked at 200 for 4 minutes to form microlenses.
本プロセスにおいてマイクロレンズ上層膜が残存していることを確認するため に、 別途透明樹脂層付き直径 6インチのシリコンウェハー上に、 前記感光性樹脂 組成物 (2) を回転塗布したのち、 1 00でのホットプレート上で 90秒間プリ ベークして所望の厚さのレジスト被膜を形成した。 その後露光せず (パターニン グせず) にテトラメチルアンモニゥムヒドロキシド 1重量%水溶液を用いて 2 5 1分間現像し、 レジストパターンを形成と同様のプロセスを行った。 その後 マイクロレンズ上層膜用組成物を塗布せずに全面露光を行なったもの (a) と、 前記マイクロレンズ上層膜用組成物を回転塗布、 全面露光を行ったもの (b) と、 前記マイクロレンズ上層膜用組成物を回転塗布、 水洗、 乾燥後全面露光を行った もの (c) を作成し、 200でで 4分間べークさせべ夕膜を作成した。 (a) の 表面接触角は 72度、 (b) の表面接触角は 99度、 (c) の表面接触角は 100 度であり、 (b) と (a) の膜厚差は 36nm、 (c) と (a) の膜厚差は 15 n mであり、 上層膜が残存していることが確認できた。 In order to confirm that the microlens upper layer film remains in this process, the photosensitive resin composition (2) was spin-coated on a 6-inch diameter silicon wafer with a transparent resin layer separately, and then 100 The resist film having a desired thickness was formed by pre-baking on a hot plate at 90 seconds for 90 seconds. After that, without exposure (without patterning), a 1% by weight aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide was used for development for 25 1 minutes, and a process similar to that for forming a resist pattern was performed. afterwards The whole surface exposure without applying the composition for the microlens upper layer film (a), the one obtained by spin coating the composition for the microlens upper layer film, and the whole surface exposure (b), and the microlens upper layer A film composition (c) was prepared by spin coating, washing with water, drying, and drying the film composition, and was baked at 200 for 4 minutes to form an evening film. The surface contact angle of (a) is 72 degrees, the surface contact angle of (b) is 99 degrees, the surface contact angle of (c) is 100 degrees, and the difference in film thickness between (b) and (a) is 36 nm, ( The difference in film thickness between c) and (a) was 15 nm, confirming that the upper film remained.
レンズの評価  Lens evaluation
1、 レンズ間の隙間  1.Gap between lenses
上記方法にてマスクサイズ 2 m角、 スペース 0. 3 mのパターンニングを 行ないマイクロレンズ間の隙間の距離 (/ m) を S EM観察により測定した。 Patterning with a mask size of 2 m square and a space of 0.3 m was performed by the above method, and the distance (/ m) between the microlenses was measured by SEM observation.
2、 メルト性 2, Melt property
図 1に模式図として示すようにレンズの断面積を用いてレンズのメルト性を評 価した。  As shown in Fig. 1, the lens cross-sectional area was used to evaluate the melt properties of the lens.
レンズの断面積 (A) のうち、 独立した曲率半径 (B) を有する部分の面積を 求めた。  Of the cross-sectional area (A) of the lens, the area of the part having an independent radius of curvature (B) was determined.
(B/A) X I 00 (%) が 80 %以上がレンズとして使用可能であり、 8 0 %未満をレンズとして使用不可とした。  (B / A) 80% or more of X I 00 (%) can be used as a lens, and less than 80% cannot be used as a lens.
3、 保存安定性の向上  3.Improved storage stability
下記表 1に示す保管温度にて所定の日数を保管した後、 ゲルパーミエーシヨン クロマトグラフィ (GPC) (装置; HLC— 8220 GPC (東ソ一 (株) 製)、 カラム; TSKge l GMPW, TSKg e 1 G 3000 PW各 1本) によ つて、 固形分濃度を 0. 2%に調整したマイクロレンズ上層膜用組成物の重量平 均分子量 (Mw) を算出した。 重量平均分子量は、 上記 G PCにより、 超純水/ 硫酸ナトリウム Zァセトニトリル =2100/15/900を溶出溶媒として、 カラム温度 25で、 流量し 2ミリリットル Z分の分析条件で測定した時の単分 散ポリスチレンを標準として算出した値である。  After storing the specified number of days at the storage temperature shown in Table 1 below, gel permeation chromatography (GPC) (apparatus; HLC-8220 GPC (manufactured by Tosohichi Co., Ltd.), column; TSKgel GMPW, TSKg e 1 G 3000 PW was used to calculate the weight average molecular weight (Mw) of the microlens upper layer film composition with the solid content adjusted to 0.2%. The weight-average molecular weight is based on the above GPC, measured using ultrapure water / sodium sulfate Z-acetonitrile = 2100/15/900 as the elution solvent, at a column temperature of 25, and measured under analytical conditions of 2 ml Z. It is a value calculated using powdered polystyrene as a standard.
結果を表 2に示した。 表 1 The results are shown in Table 2. table 1
Figure imgf000035_0001
表 2
Figure imgf000035_0001
Table 2
Figure imgf000035_0002
比較例 1〜 4
Figure imgf000035_0002
Comparative Examples 1 to 4
実施例で使用したマイク口レンズをレンズ上層膜なしで同様にレンズ形成した (比較例 1, 2 )。 また、 比較例 1にてレンズ形成温度を 1 6 0でで 4分間べ一 クに変更したものを比較例 3とした。 さらに上層膜として、 ポリビニルアルコー ルの 1重量%水溶液 (和光純薬工業 (株) 製;けん化度: 7 8〜 8 2 %、 平均重 合度: 1, 5 0 0 ) を用いた以外は実施例 1と同様の方法で実施したものを比較 例 4とした。  The microphone mouth lens used in the example was similarly formed without a lens upper layer film (Comparative Examples 1 and 2). In Comparative Example 1, the lens formation temperature was changed to 1600 at 4 ° C for 4 minutes, and Comparative Example 3 was designated. Further, Examples were used except that a 1% by weight aqueous solution of polyvinyl alcohol (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd .; degree of saponification: 78 to 82%, average degree of polymerization: 1,500) was used as the upper layer film. The same method as 1 was used as Comparative Example 4.
結果を表 3に示した。  The results are shown in Table 3.
表 3 Table 3
比較例 1 比較例 2 比較例 3 比較例 4 感放射線性樹脂組成物 (1) (2) (1) (1) プリべ一ク後の塗布膜厚 ( μ m) 0. 45 0. 45 0. 45 0. 45 レンズ間の隙間 0 0 0. 15 0 メルト性 20 40 100 0  Comparative Example 1 Comparative Example 2 Comparative Example 3 Comparative Example 4 Radiation-sensitive resin composition (1) (2) (1) (1) Coating thickness after pre-baking (μm) 0. 45 0. 45 0 45 0. 45 Gap between lenses 0 0 0. 15 0 Melt property 20 40 100 0

Claims

請 求 の 範 囲 The scope of the claims
1. (a) 基板上にマイクロレンズを形成するための感放射線性樹脂組成物を 塗布する工程、 (b) 露光及び現像を行ってパターンニングする工程、 (c) 基板 上のパターン上にマイク口レンズ上層膜形成用組成物を塗布する工程および1. (a) A step of applying a radiation-sensitive resin composition for forming a microlens on a substrate, (b) A step of patterning by exposure and development, (c) A microphone on a pattern on the substrate Applying a composition for forming a mouth lens upper layer film, and
(d) 熱処理を行なう工程を含む、 マイクロレンズの製造方法。 (d) A method for manufacturing a microlens, including a step of performing a heat treatment.
2. 工程 (a) における感放射線性樹脂組成物が (A) アルカリ可溶性樹脂、 (B) 1, 2—ナフトキノンジアジド化合物および (C) 分子内に少なくとも 1 個のエポキシ基を有する化合物を含有する請求項 1に記載のマイク口レンズの製 造方法。 2. The radiation-sensitive resin composition in step (a) contains (A) an alkali-soluble resin, (B) a 1,2-naphthoquinonediazide compound, and (C) a compound having at least one epoxy group in the molecule. The method for manufacturing the microphone mouth lens according to claim 1.
3. 1, 2_ナフトキノンジアジド化合物 (B) が下記式 (I) 3. 1, 2_ naphthoquinonediazide compound (B) is represented by the following formula (I)
Figure imgf000036_0001
Figure imgf000036_0001
(ここで 3個の Dは同一もしくは異なり、 1, 2—ナフトキノンジアジドー 4 _ スルホニル基または 1, 2一ナフトキノンジアジドー 5—スルホ二ル基を示 す。) である請求項 2に記載のマイクロレンズの製造方法。 (Wherein three D's are the same or different and represent 1,2-naphthoquinonediazido 4_sulfonyl group or 1,2-naphthoquinonediazido 5-sulfonyl group). Manufacturing method of a micro lens.
4. 工程 (c) のマイクロレンズ上層膜形成用組成物がカルボン酸基、 スルホ ン酸基およびリン酸基よりなる群から選ばれる少なくとも 1つの酸基を含む化合 物からなる請求項 1に記載のマイク口レンズの製造方法。 4. The composition for forming a microlens upper layer film in the step (c) is composed of a compound containing at least one acid group selected from the group consisting of a carboxylic acid group, a sulfonic acid group and a phosphoric acid group. Of manufacturing a microphone mouth lens.
5. 前記化合物が水溶性である請求項 4に記載のマイクロレンズの製造方法。 5. The method for producing a microlens according to claim 4, wherein the compound is water-soluble.
6. 製造された、 隣接するマイクロレンズ間の隙間が 0. 1 m以下である請 求項 1に記載のマイクロレンズの製造方法。 6. The method for manufacturing a microlens according to claim 1, wherein the gap between adjacent microlenses is 0.1 m or less.
7. カルボン酸基、 スルホン酸基およびリン酸基よりなる群から選ばれる少な くとも 1つの酸基を含む重合体を含有しそしてマイクロレンズ上層膜形成に用い られる組成物。 - 7. A composition comprising a polymer containing at least one acid group selected from the group consisting of a carboxylic acid group, a sulfonic acid group and a phosphoric acid group, and used for forming a microlens upper layer film. -
8. 上記重合体が水溶性である請求項 7に記載の組成物。 8. The composition of claim 7, wherein the polymer is water soluble.
9. 前記酸基がスルホン酸基である請求項 7に記載の組成物。 9. The composition according to claim 7, wherein the acid group is a sulfonic acid group.
10. 前記重合体が (メタ) アクリル樹脂である請求項 7に記載の組成物。 10. The composition according to claim 7, wherein the polymer is a (meth) acrylic resin.
11. 前記重合体が下記式 (I V) で表される構造を有する単位を含有する請 求項 7に記載の組成物。 11. The composition according to claim 7, wherein the polymer contains a unit having a structure represented by the following formula (IV).
( I V)
Figure imgf000037_0001
〔式 (I V) において、 R3は水素原子または 1価の有機基を示し、 R4は 2価 の有機基を示す。〕
(IV)
Figure imgf000037_0001
[In the formula (IV), R 3 represents a hydrogen atom or a monovalent organic group, and R 4 represents a divalent organic group. ]
12. さらにアルカリ性化合物を含有する請求項 7に記載の組成物。 12. The composition according to claim 7, further comprising an alkaline compound.
13. カルボン酸基、 スルホン酸基およびリン酸基よりなる群から選ばれる少な くとも 1つの酸基を含む重合体のマイク口レンズ上層膜の形成への使用。 13. Use of a polymer containing at least one acid group selected from the group consisting of a carboxylic acid group, a sulfonic acid group, and a phosphoric acid group for the formation of an upper layer film of a microphone mouth lens.
14. 請求項 1〜6のいずれかに記載のマイクロレンズの製造方法により得られ るマイクロレンズ。 14. A microlens obtained by the method for producing a microlens according to any one of claims 1 to 6.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015046261A1 (en) * 2013-09-27 2015-04-02 Jsr株式会社 Touch panel, radiation-sensitive resin composition and cured film

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI418852B (en) * 2009-08-27 2013-12-11 Himax Tech Ltd Microlens structure, method of making the same and a bank pattern applied for microlens manufacture

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02273701A (en) * 1989-04-14 1990-11-08 Seiko Epson Corp Production of lens array
JPH04352101A (en) * 1991-05-30 1992-12-07 Japan Synthetic Rubber Co Ltd Radiation sensitive resin composition for microlens

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3524424B2 (en) * 1999-04-01 2004-05-10 キヤノン株式会社 Mold or mold master for microstructure array, and method of manufacturing the same
JP4213897B2 (en) * 2001-08-07 2009-01-21 株式会社日立製作所 Method of manufacturing transfer pattern of microlens array
JP3938099B2 (en) * 2002-06-12 2007-06-27 セイコーエプソン株式会社 Microlens manufacturing method, microlens, microlens array plate, electro-optical device, and electronic apparatus

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02273701A (en) * 1989-04-14 1990-11-08 Seiko Epson Corp Production of lens array
JPH04352101A (en) * 1991-05-30 1992-12-07 Japan Synthetic Rubber Co Ltd Radiation sensitive resin composition for microlens

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015046261A1 (en) * 2013-09-27 2015-04-02 Jsr株式会社 Touch panel, radiation-sensitive resin composition and cured film
JPWO2015046261A1 (en) * 2013-09-27 2017-03-09 Jsr株式会社 Touch panel, radiation sensitive resin composition and cured film

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