WO2007090772A2 - Circuit and testing device - Google Patents

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WO2007090772A2
WO2007090772A2 PCT/EP2007/050933 EP2007050933W WO2007090772A2 WO 2007090772 A2 WO2007090772 A2 WO 2007090772A2 EP 2007050933 W EP2007050933 W EP 2007050933W WO 2007090772 A2 WO2007090772 A2 WO 2007090772A2
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test
conductor
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row
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Inventor
Erwin Hetzenecker
Gerhard Wild
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Continental Automotive Gmbh
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2829—Testing of circuits in sensor or actuator systems
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60—VEHICLES IN GENERAL
    • B60R—VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B60R21/00—Arrangements or fittings on vehicles for protecting or preventing injuries to occupants or pedestrians in case of accidents or other traffic risks
    • B60R21/01—Electrical circuits for triggering passive safety arrangements, e.g. airbags, safety belt tighteners, in case of vehicle accidents or impending vehicle accidents
    • B60R21/015—Electrical circuits for triggering passive safety arrangements, e.g. airbags, safety belt tighteners, in case of vehicle accidents or impending vehicle accidents including means for detecting the presence or position of passengers, passenger seats or child seats, and the related safety parameters therefor, e.g. speed or timing of airbag inflation in relation to occupant position or seat belt use
    • B60R21/01512—Passenger detection systems
    • B60R21/0153—Passenger detection systems using field detection presence sensors
    • B60R21/01532—Passenger detection systems using field detection presence sensors using electric or capacitive field sensors
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
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    • G—PHYSICS
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    • G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60—VEHICLES IN GENERAL
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    • B60R21/01—Electrical circuits for triggering passive safety arrangements, e.g. airbags, safety belt tighteners, in case of vehicle accidents or impending vehicle accidents
    • B60R2021/01122—Prevention of malfunction
    • B60R2021/01184—Fault detection or diagnostic circuits

Definitions

  • the invention relates to a circuit arrangement and a test device for checking row conductors and / or column conductors, which form supply lines of electrically matrix-shaped circuit elements connected in rows and columns.
  • EP 0 895 091 A2 there is disclosed a method of monitoring the integrity of leads in an array of circuit elements which are connected in a matrix.
  • the arrangement of circuit elements forms an nx m matrix with n row conductors and m column conductors. Each row conductor has a free end and a connection end.
  • An additional column conductors will each have a resistance ⁇ element connected to the free end of each of the n row conductors over.
  • the additional column conductor also has a free end and a connection end. ⁇ a counter reading value between the connection end of the additional Spal ⁇ tenleiters and the connection end of the respective Zeilenlei ⁇ ters is measured.
  • an additional row conductor which also has a free end and a connection end and which is connected to the free end of each of the n column conductors via a respective resistance element.
  • a resistance value between the connection end of the additional row conductor and the connection end of the column conductor jewei ⁇ time is measured.
  • the object of the invention is to provide a circuit arrangement and a test device which is simple.
  • the object is solved by the features of the independent claims.
  • Advantageous developments of the invention are characterized in the subclaims.
  • the invention features, a circuit arrangement for checking at least three row conductors and / or tern of at least three Spaltenlei ⁇ form the leads of electrically interconnected in matrix form in rows and columns circuit elements. At least two line test conductors and / or two column test conductors are provided. Each of the at least three row conductors and the column conductors is at least three each egg ⁇ nem associated with the at least two or at least two Zeilenprüfleiter Spaltenprüfleiter. Each of the at least two Zeilenprüfleiter and / or the at least two Spaltenprüflei ⁇ is assigned at least one row conductor and at least one column conductor ter.
  • At least one of the at least two row test conductors and the at least two column test conductors are assigned at least two row conductors or at least two column conductors.
  • the at least three row conductors or the at least three column conductors are each connected to a first end via a test element with the associated Zeilenprüfleiter or Spaltenprüfleiter. Further, the at least three lines or at least three conductors Spal ⁇ tenleiter and the at least two or at least two Zeilenprüfleiter Spaltenprüfleiter are each coupled to a second end to an evaluation unit.
  • the advantage is that not a separate test line is required for each lenleiter to be checked Zei ⁇ or column conductor. As a result, the circuit arrangement is simple and comes with a few additional test conductors. This agreement makes contact with the evaluation unit. Furthermore, the evaluation unit can be designed simply.
  • the provision of two or more line test conductors or column test conductors allows greater freedom of design with regard to a course of the supply lines and with respect to a placement of the test elements.
  • the provision of at least two line test conductors or at least two column test conductors makes it possible to carry out a further conductor between them. This is particularly advantageous if the row conductors and the column conductors are guided on mutually different planes without through-connection.
  • the invention is characterized by a circuit arrangement for checking at least one row conductor and at least one column conductor, which form supply lines of circuit elements electrically connected in an array in rows and columns.
  • the at least one row conductor and the at least one column conductor are each connected to a first end via a test element with a common test conductor.
  • the at least one row conductor and the at least one column conductor and the common ⁇ test leads are coupled to a second end to an evaluation unit.
  • the advantage is that the common test conductor allows a particularly simple contact of the evaluation and the evaluation can be particularly simple. Checking the supply lines can be done very easily, since in addition to the supply lines only the common test conductor must be controlled.
  • the invention is characterized by a test apparatus comprising a circuit arrangement and an evaluation unit.
  • the circuit arrangement comprises electrically matrix-shaped circuit elements interconnected in rows and columns by leads.
  • the scarf ⁇ tion arrangement further comprises at least two test conductors.
  • Each supply line is assigned to one of the at least two test conductors.
  • Each of the at least two test conductors is assigned at least one supply line.
  • the supply lines are each connected to a first end via a test element with the associated test conductor.
  • the leads are further formed as a row conductor or as a column conductor.
  • the at least two test conductors and the supply lines are each coupled to the evaluation unit with a second end.
  • In the off ⁇ evaluation unit at least two of the at least two test ⁇ conductors are connected to each other and form a common test conductor.
  • the at least two test conductors do not have to be connected in the circuit arrangement by a through-connection. Further, the provision of the at least two test conductor allows for greater design freedom bezüg ⁇ Lich a course of the leads or the Study Director or with respect to the placement of the test elements, without the complexity of the evaluation circuit that substantially increased. By providing the common test conductor, the evaluation unit may be particularly easily formed, since it must be driven at ⁇ addition to those leads only the common test conductor.
  • FIG. 1 shows a first embodiment of a testing device
  • FIG. 2 shows a second embodiment of the testing device
  • Figure 3 shows a third embodiment of the test apparatus
  • FIG. 4 shows a fourth embodiment of the test device.
  • a first embodiment of a test apparatus comprises a first embodiment of a circuit arrangement and a first embodiment of an evaluation unit AE (FIG. 1).
  • the circuitry includes circuit elements SE that are elekt ⁇ driven in matrix form in rows and columns connected to each other through leads. The leads are formed by row conductors and column conductors. Each circuit element is connected to a row conductor and a column conductor.
  • the circuit elements are for example sensors, eg pressure sensors.
  • the circuit arrangement is for example mat-shaped and is provided for example in a motor vehicle seat for detecting a seat occupancy. For example, it can be distinguished by a suitable evaluation of sensor signals of the pressure sensors, whether the motor vehicle seat is occupied by a person, a child seat or an object such as a bag.
  • the row conductors and the column conductors are arranged, for example, on different levels. This allows the Row conductors and the column conductors to be arranged crossing each other running without being electrically connected to each other.
  • the planes are each formed as a film on which the leads are formed.
  • the row conductors are formed by a first row conductor Z1, a second row conductor Z2, a third row conductor Z3 and a fourth row conductor Z4.
  • the column conductors are formed by a first column conductor Sl, a second column conductor S2, a third column conductor S3 and a fourth column conductor S4.
  • the row conductors and the column conductors each have a first end and a second end.
  • the first, second and third conductor lines Zl, Z2, Z3 are each ⁇ wells connected with its first end on a test element having a first PE Zeilenprüfleiter ZPL.
  • the fourth row conductor Z4 is connected at its first end via a test element PE to a second line test conductor ZP2.
  • the first, second and third column conductor Sl, S2, S3 each connected by its first end via a test element PE with egg ⁇ nem first Spaltenprüfleiter are SPl.
  • the fourth column conductor S4 is connected at its first end via a test element PE to a second column test conductor SP2.
  • the test elements PE are each designed, for example, as an ohmic resistor.
  • the ohmic resistance ⁇ preferably has a predetermined resistance value.
  • the test elements can also be designed, for example, in each case as a diode.
  • the first, second and third row conductors Z1, Z2, Z3 form a first subset of the row conductors.
  • the fourth Zeilenlei ⁇ ter Z4 forms a second subset of the row conductor.
  • decision Speaking form the first, second and third column conductor Sl, S2, S3 a first subset of the column conductors and the fourth column conductor S4 constituting a second subset of the Spal ⁇ tenleiter.
  • Each test conductor ie in each case the first line test conductor ZP1, the second line test conductor SP1 and the second column test conductor SP2, is assigned one of these mutually different subsets, ie each row conductor or each column conductor is only one of the row test conductors or column test conductors assigned and each Zeilenprüfleiter or Spaltenprüfleiter is assigned at least one row conductor or at least one column conductor.
  • at least one of the subsets of the row conductors or the subsets of the column conductors comprises at least two row conductors or column conductors.
  • the respective subsets preferably comprise a plurality of row conductors or column conductors.
  • One of the subsets of the row conductors is assigned to each of the first and the second row test conductors ZPL, ZP2.
  • the first and the second column test conductors SP1, SP2 are each assigned one of the subsets of the column conductors.
  • row conductors or column conductors It is also possible to provide more or fewer row conductors or column conductors. However, at least three row conductors and / or at least three column conductors are provided. Furthermore, at least two line test conductors and / or at least two column test conductors are provided.
  • the Spaltenlei ⁇ ter By its second end the row conductors, the Spaltenlei ⁇ ter, the Zeilenprüfleiter and Spaltenprüfleiter to the evaluation unit AE are coupled.
  • the at least two line test conductors and / or the at least two column test conductors By providing the at least two line test conductors and / or the at least two column test conductors, the design freedom with respect to a profile of the row conductors or the column conductors and with respect to an arrangement or placement of the test elements PE is improved. If the scarf ⁇ tion arrangement, for example, used for the seat occupancy ⁇ detection in the vehicle seat, then the circuit arrangement can be particularly well adapted to the respective seat geometry of the vehicle seat.
  • the first Zeilenprüfleiter ZPL associated inspection elements PE and the second Zeilenprüfleiter can ZP2 associated test element PE are arranged on different sides of the KraftGermansit ⁇ zes.
  • the circuit arrangement is possibly exposed to considerable mechanical loads. Due to the improved-shaping ⁇ freedom it is thus possible to place the test elements PE in areas of the motor vehicle seat, which are mechanically heavily loaded less. Accordingly, the leads and the row and / or column test conductors can be arranged so that they are exposed to the lowest possible mechanical loads. Thereby, a possible wear of the circuit arrangement can be reduced.
  • the Heidelbergsanord ⁇ tion can be operated permanently reliable.
  • Figure 2 shows a second embodiment of the circuit arrangement and the test apparatus, which substantially corresponds to the first embodiment.
  • the first row conductor Z1 and the second row conductor Z2 form the first subset of the row conductors associated with the first row test conductor ZPL.
  • the third row conductor Z3 and the fourth row conductor Z4 form the second subset of the row conductors associated with the second row test conductor ZP2.
  • the first column ter Sl and the second column conductor S2 the first subset of the column conductors, which is assigned to the first column test conductor SPl.
  • the third column conductor S3 and the fourth slot ⁇ th conductor S4 form the second subset of the column conductors, which is associated with the second column test conductor SP2.
  • the additional conductor L does not have to be part of the circuit arrangement.
  • the further conductor L is, for example, as a further At ⁇ line to one or more further elements formed which do not form part of the circuit arrangement Müs ⁇ sen.
  • a further element for example, a tem perature sensor ⁇ which detects a temperature in the motor vehicle seat, for example to be able to distinguish reliably between the subject of the seat occupancy of the vehicle seat by a person or by a Ge ⁇ .
  • the further element and the further conductor L can also be designed for a different purpose.
  • test conductor may be electrically coupled in a simple manner the further element or more ⁇ re additional elements to the evaluation unit AE or another unit by the provision of at least two Zeilenprüfleiter and / or the at least two columns, which leads the Row conductors or the column conductors of the circuit must cross.
  • the additional conductor L does not have to be arranged in an additional plane, but can be arranged in the same plane as the row conductors and the row test conductors or the column conductors and the column test conductors.
  • FIG. 3 shows a third embodiment of the circuit arrangement and the test apparatus.
  • all row conductors and all column conductors are assigned to a common test conductor P, ie the first, second, third and fourth row conductors Z1, Z2, Z3, Z4 are each connected to the common test conductor P via a test element PE and the first, second , Third and fourth column conductors Sl, S2, S3, S4 are each connected via a test element PE with the common test conductor P.
  • This makes it possible to check the row conductors and the column conductors over the common test conductor P.
  • the circuit arrangement requires a via, eg when the row conductors and the column conductors are arranged in different planes.
  • the evaluation unit AE For contacting the evaluation unit AE, only one additional connection for the common test conductor P is required in addition to connections for the row conductors and the column conductors. Characterized the contacting of the AE evaluation unit is particularly simple and the evaluation unit AE can be formed easily be ⁇ Sonders. In particular, an application specific integrated circuit ASIC may be particularly easily formed, the unit optionally in the evaluation ⁇ AE is provided. The application-specific integ ⁇ tured ASIC circuit must therefore, in addition to the connections for the row conductors and column conductors only provide a connection for the joint study director P.
  • FIG. 4 shows a fourth embodiment of the circuit arrangement and the test apparatus.
  • first, second, third and fourth row conductors Z1, Z2, Z3, Z4 are assigned to the first row test conductor ZPL and the first column test conductor SP1 is assigned the first, second, third and fourth column conductors S1, S2, S3, S4.
  • the evaluation unit AE must have only two terminals for the first row test conductor ZPl and the first column test conductor SP1.
  • the first line test conductor ZPl and the first column test conductor SP1 are electrically conductively connected to one another in the evaluation unit AE and thus form the common test conductor P.
  • the application-specific integrated circuit ASIC which may be provided in the evaluation unit AE, in addition to the connections for the row conductors and the column conductor requires only one more connection for the common test conductor P.
  • the application-specific integrated circuit ASIC can be designed to be particularly simple. Furthermore, no through-contacting is required in the circuit arrangement.
  • the first embodiment and the second embodiment may be combined with each other, ie, the other conductor L may also be provided in the first embodiment, for example.
  • the fourth embodiment can be combined with the first or the second embodiment, for example, by electrically connecting the first conductive Zeilenprüfleiters ZPL, the second Zeilenprüfleiters ZP2, the ERS ⁇ th Spaltenprüfleiters SPl and / or the second Spaltenprüfleiters SP2 to the common strigleiter P.
  • the application-specific integrated circuit ASIC may also be provided in the first or the second embodiment, or may form the evaluation unit AE.
  • at least one column conductor and at least one row conductor can be assigned to the same test conductor.
  • the measured resistance value differs, for example, a pre- ⁇ given amount or by a predetermined factor of the predetermined resistance value of each test element PE from, the corresponding row conductor or column conductor or the associated Zeilenprüfleiter or Spaltenprüfleiter optionally faulty.

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Abstract

In order to test at least three row conductors and/or at least three column conductors forming leads of circuit elements (SE) which are electrically interconnected in a matrix of rows and columns, at least two row test conductors and/or column test conductors are provided. Each row conductor or column conductor is respectively allocated to one of the row test conductors or column test conductors. At least one row conductor or at least one column conductor is respectively allocated to each row test conductor and/or each column test conductor. At least two row conductors or column conductors are allocated to at least one row test conductor and/or a column test conductor. The row conductors and column conductors are respectively connected to the associated row test conductor or column test conductor by a first end by means of a test element (PE). The row conductors and column conductors and the row test conductors and column test conductors can be respectively coupled by a second end to an evaluation unit (AE).

Description

Beschreibungdescription
Schaltungsanordnung und PrüfVorrichtungCircuit arrangement and test device
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung und eine PrüfVorrichtung zum Überprüfen von Zeilenleitern und/oder Spaltenleitern, die Zuleitungen von elektrisch matrixförmig in Zeilen und Spalten miteinander verbundenen Schaltungselementen bilden.The invention relates to a circuit arrangement and a test device for checking row conductors and / or column conductors, which form supply lines of electrically matrix-shaped circuit elements connected in rows and columns.
In der EP 0 895 091 A2 ist ein Verfahren zum Überwachen der Unversehrtheit von Zuleitungen in einer Anordnung von Schaltungselementen offenbart, die matrixförmig miteinander verbunden sind. Die Anordnung von Schaltungselementen bildet eine n x m-Matrix mit n Zeilenleitern und m Spaltenleitern. Jeder Zeilenleiter weist ein freies Ende und ein Verbindungsende auf. Ein zusätzlicher Spaltenleiter wird mit dem freien Ende jedes der n Zeilenleiter über jeweils ein Widerstands¬ element verbunden. Der zusätzliche Spaltenleiter weist ebenfalls ein freies Ende und ein Verbindungsende auf. Ein Wider¬ standwert zwischen dem Verbindungsende des zusätzlichen Spal¬ tenleiters und dem Verbindungsende des jeweiligen Zeilenlei¬ ters wird gemessen. Entsprechend ist ein zusätzlicher Zeilenleiter vorgesehen, der ebenfalls ein freies Ende und ein Verbindungsende aufweist und der mit dem freien Ende jedes der n Spaltenleiter über jeweils ein Widerstandselement verbunden wird. Ein Widerstandswert zwischen dem Verbindungsende des zusätzlichen Zeilenleiters und dem Verbindungsende des jewei¬ ligen Spaltenleiters wird gemessen.In EP 0 895 091 A2 there is disclosed a method of monitoring the integrity of leads in an array of circuit elements which are connected in a matrix. The arrangement of circuit elements forms an nx m matrix with n row conductors and m column conductors. Each row conductor has a free end and a connection end. An additional column conductors will each have a resistance ¬ element connected to the free end of each of the n row conductors over. The additional column conductor also has a free end and a connection end. ¬ a counter reading value between the connection end of the additional Spal ¬ tenleiters and the connection end of the respective Zeilenlei ¬ ters is measured. Accordingly, an additional row conductor is provided which also has a free end and a connection end and which is connected to the free end of each of the n column conductors via a respective resistance element. A resistance value between the connection end of the additional row conductor and the connection end of the column conductor jewei ¬ time is measured.
Die Aufgabe der Erfindung ist, eine Schaltungsanordnung und eine Prüfvorrichtung zu schaffen, die einfach ist. Die Aufgabe wird gelöst durch die Merkmale der unabhängigen Patentansprüche. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.The object of the invention is to provide a circuit arrangement and a test device which is simple. The object is solved by the features of the independent claims. Advantageous developments of the invention are characterized in the subclaims.
Gemäß eines ersten Aspekts zeichnet sich die Erfindung aus durch eine Schaltungsanordnung zum Überprüfen von mindestens drei Zeilenleitern und/oder von mindestens drei Spaltenlei¬ tern, die Zuleitungen von elektrisch matrixförmig in Zeilen und Spalten miteinander verbundenen Schaltungselementen bilden. Mindestens zwei Zeilenprüfleiter und/oder zwei Spaltenprüfleiter sind vorgesehen. Jeder der mindestens drei Zeilenleiter bzw. der mindestens drei Spaltenleiter ist jeweils ei¬ nem der mindestens zwei Zeilenprüfleiter bzw. der mindestens zwei Spaltenprüfleiter zugeordnet. Jedem der mindestens zwei Zeilenprüfleiter und/oder der mindestens zwei Spaltenprüflei¬ ter ist jeweils mindestens ein Zeilenleiter bzw. mindestens ein Spaltenleiter zugeordnet . Mindestens einem der mindestens zwei Zeilenprüfleiter bzw. der mindestens zwei Spaltenprüf- leiter sind mindestens zwei Zeilenleiter bzw. mindestens zwei Spaltenleiter zugeordnet. Die mindestens drei Zeilenleiter bzw. die mindestens drei Spaltenleiter sind jeweils mit einem ersten Ende über ein Prüfelement mit dem zugeordneten Zeilenprüfleiter bzw. Spaltenprüfleiter verbunden. Ferner sind die mindestens drei Zeilenleiter bzw. die mindestens drei Spal¬ tenleiter und die mindestens zwei Zeilenprüfleiter bzw. die mindestens zwei Spaltenprüfleiter jeweils mit einem zweiten Ende mit einer Auswerteeinheit koppelbar.According to a first aspect, the invention features, a circuit arrangement for checking at least three row conductors and / or tern of at least three Spaltenlei ¬ form the leads of electrically interconnected in matrix form in rows and columns circuit elements. At least two line test conductors and / or two column test conductors are provided. Each of the at least three row conductors and the column conductors is at least three each egg ¬ nem associated with the at least two or at least two Zeilenprüfleiter Spaltenprüfleiter. Each of the at least two Zeilenprüfleiter and / or the at least two Spaltenprüflei ¬ is assigned at least one row conductor and at least one column conductor ter. At least one of the at least two row test conductors and the at least two column test conductors are assigned at least two row conductors or at least two column conductors. The at least three row conductors or the at least three column conductors are each connected to a first end via a test element with the associated Zeilenprüfleiter or Spaltenprüfleiter. Further, the at least three lines or at least three conductors Spal ¬ tenleiter and the at least two or at least two Zeilenprüfleiter Spaltenprüfleiter are each coupled to a second end to an evaluation unit.
Der Vorteil ist, dass nicht für jeden zu überprüfenden Zei¬ lenleiter bzw. Spaltenleiter eine eigene Prüfleitung erforderlich ist. Dadurch ist die Schaltungsanordnung einfach und kommt mit wenigen zusätzlichen Prüfleitern aus. Dies verein- facht ein Kontaktieren mit der Auswerteeinheit . Ferner kann die Auswerteeinheit einfach ausgebildet sein.The advantage is that not a separate test line is required for each lenleiter to be checked Zei ¬ or column conductor. As a result, the circuit arrangement is simple and comes with a few additional test conductors. This agreement makes contact with the evaluation unit. Furthermore, the evaluation unit can be designed simply.
Jedoch ermöglicht das Vorsehen von zwei oder mehr Zeilenprüf- leitern bzw. Spaltenprüfleitern eine größere Gestaltungsfreiheit bezüglich eines Verlaufs der Zuleitungen und bezüglich einer Platzierung der Prüfelemente . Durch geeignetes Platzie¬ ren der Prüfelemente kann die Zuverlässigkeit der Schaltungs¬ anordnung verbessert werden, z.B. durch Platzieren der Prüfelemente in mechanisch wenig belasteten Bereichen. Ferner ermöglicht das Vorsehen von mindestens zwei Zeilenprüfleitern bzw. mindestens zwei Spaltenprüfleitern ein Durchführen eines weiteren Leiters zwischen diesen. Dies ist insbesondere dann vorteilhaft, wenn die Zeilenleiter und die Spaltenleiter auf voneinander unterschiedlichen Ebenen ohne Durchkontaktierung geführt sind.However, the provision of two or more line test conductors or column test conductors allows greater freedom of design with regard to a course of the supply lines and with respect to a placement of the test elements. By appropriately Platzie ¬ the test elements ren the reliability of the circuit arrangement ¬ can be improved, for example by placing the checking elements in mechanically less loaded areas. Furthermore, the provision of at least two line test conductors or at least two column test conductors makes it possible to carry out a further conductor between them. This is particularly advantageous if the row conductors and the column conductors are guided on mutually different planes without through-connection.
Gemäß eines zweiten Aspekts zeichnet sich die Erfindung aus durch eine Schaltungsanordnung zum Überprüfen von mindestens einem Zeilenleiter und von mindestens einem Spaltenleiter, die Zuleitungen von elektrisch matrixförmig in Zeilen und Spalten miteinander verbundenen Schaltungselementen bilden. Der mindestens eine Zeilenleiter und der mindestens eine Spaltenleiter sind jeweils mit einem ersten Ende über ein Prüfelement mit einem gemeinsamen Prüfleiter verbunden. Der mindestens eine Zeilenleiter und der mindestens eine Spalten¬ leiter und der gemeinsame Prüfleiter sind mit einem zweiten Ende mit einer Auswerteeinheit koppelbar.According to a second aspect, the invention is characterized by a circuit arrangement for checking at least one row conductor and at least one column conductor, which form supply lines of circuit elements electrically connected in an array in rows and columns. The at least one row conductor and the at least one column conductor are each connected to a first end via a test element with a common test conductor. The at least one row conductor and the at least one column conductor and the common ¬ test leads are coupled to a second end to an evaluation unit.
Der Vorteil ist, dass der gemeinsame Prüfleiter ein besonders einfaches Kontaktieren der Auswerteeinheit ermöglicht und die Auswerteeinheit besonders einfach ausgebildet sein kann. Das Überprüfen der Zuleitungen kann besonders einfach erfolgen, da zusätzlich zu den Zuleitungen nur der gemeinsame Prüfleiter angesteuert werden muss.The advantage is that the common test conductor allows a particularly simple contact of the evaluation and the evaluation can be particularly simple. Checking the supply lines can be done very easily, since in addition to the supply lines only the common test conductor must be controlled.
Gemäß eines dritten Aspekts zeichnet sich die Erfindung aus durch eine Prüfvorrichtung, die eine Schaltungsanordnung und eine Auswerteeinheit umfasst. Die Schaltungsanordnung umfasst elektrisch matrixförmig in Zeilen und Spalten durch Zuleitungen miteinander verbundene Schaltungselemente. Die Schal¬ tungsanordnung weist ferner mindestens zwei Prüfleiter auf. Jede Zuleitung ist einem der mindestens zwei Prüfleiter zugeordnet. Jedem der mindestens zwei Prüfleiter ist mindestens eine Zuleitung zugeordnet. Die Zuleitungen sind jeweils mit einem ersten Ende über ein Prüfelement mit dem zugeordneten Prüfleiter verbunden. Die Zuleitungen sind ferner als Zeilenleiter oder als Spaltenleiter ausgebildet . Die mindestens zwei Prüfleiter und die Zuleitungen sind mit jeweils einem zweiten Ende mit der Auswerteeinheit gekoppelt . In der Aus¬ werteeinheit sind mindestens zwei der mindestens zwei Prüf¬ leiter miteinander verbunden und bilden einen gemeinsamen Prüfleiter .According to a third aspect, the invention is characterized by a test apparatus comprising a circuit arrangement and an evaluation unit. The circuit arrangement comprises electrically matrix-shaped circuit elements interconnected in rows and columns by leads. The scarf ¬ tion arrangement further comprises at least two test conductors. Each supply line is assigned to one of the at least two test conductors. Each of the at least two test conductors is assigned at least one supply line. The supply lines are each connected to a first end via a test element with the associated test conductor. The leads are further formed as a row conductor or as a column conductor. The at least two test conductors and the supply lines are each coupled to the evaluation unit with a second end. In the off ¬ evaluation unit at least two of the at least two test ¬ conductors are connected to each other and form a common test conductor.
Der Vorteil ist, dass die mindestens zwei Prüfleiter nicht in der Schaltungsanordnung durch eine Durchkontaktierung verbunden sein müssen. Ferner ermöglicht das Vorsehen der mindestens zwei Prüfleiter eine größere Gestaltungsfreiheit bezüg¬ lich eines Verlaufs der Zuleitungen oder der Prüfleiter oder bezüglich der Platzierung der Prüfelemente, ohne dass sich die Komplexität der Auswerteschaltung dadurch wesentlich erhöht . Durch das Vorsehen des gemeinsamen Prüfleiters kann die Auswerteeinheit besonders einfach ausgebildet sein, da zu¬ sätzlich zu den Zuleitungen nur der gemeinsame Prüfleiter angesteuert werden muss. Ausführungsbeispiele der Erfindung sind im Folgenden anhand der schematischen Zeichnungen erläutert. Es zeigen:The advantage is that the at least two test conductors do not have to be connected in the circuit arrangement by a through-connection. Further, the provision of the at least two test conductor allows for greater design freedom bezüg ¬ Lich a course of the leads or the Study Director or with respect to the placement of the test elements, without the complexity of the evaluation circuit that substantially increased. By providing the common test conductor, the evaluation unit may be particularly easily formed, since it must be driven at ¬ addition to those leads only the common test conductor. Embodiments of the invention are explained below with reference to the schematic drawings. Show it:
Figur 1 eine erste Ausführungsform einer Prüfvorrichtung,FIG. 1 shows a first embodiment of a testing device,
Figur 2 eine zweite Ausführungsform der Prüfvorrichtung,FIG. 2 shows a second embodiment of the testing device,
Figur 3 eine dritte Ausführungsform der Prüfvorrichtung undFigure 3 shows a third embodiment of the test apparatus and
Figur 4 eine vierte Ausführungsform der PrüfVorrichtung .4 shows a fourth embodiment of the test device.
Elemente gleicher Konstruktion oder Funktion sind figurenübergreifend mit den gleichen Bezugszeichen versehen.Elements of the same construction or function are provided across the figures with the same reference numerals.
Eine erste Ausführungsform einer Prüfvorrichtung umfasst eine erste Ausführungsform einer Schaltungsanordnung und eine erste Ausführungsform einer Auswerteeinheit AE (Figur 1) . Die Schaltungsanordnung umfasst Schaltungselemente SE, die elekt¬ risch matrixförmig in Zeilen und Spalten durch Zuleitungen miteinander verbunden sind. Die Zuleitungen sind gebildet durch Zeilenleiter und Spaltenleiter. Jedes Schaltungselement ist mit einem Zeilenleiter und einem Spaltenleiter verbunden. Die Schaltungselemente sind beispielsweise Sensoren, z.B. Drucksensoren. Die Schaltungsanordnung ist beispielsweise mattenförmig ausgebildet und ist beispielsweise in einem Kraftfahrzeugsitz zum Erfassen einer Sitzbelegung vorgesehen. So kann durch eine geeignete Auswertung von Sensorsignalen der Drucksensoren beispielsweise unterschieden werden, ob der Kraftfahrzeugsitz durch eine Person, einen Kindersitz oder einen Gegenstand wie beispielsweise eine Tasche belegt ist.A first embodiment of a test apparatus comprises a first embodiment of a circuit arrangement and a first embodiment of an evaluation unit AE (FIG. 1). The circuitry includes circuit elements SE that are elekt ¬ driven in matrix form in rows and columns connected to each other through leads. The leads are formed by row conductors and column conductors. Each circuit element is connected to a row conductor and a column conductor. The circuit elements are for example sensors, eg pressure sensors. The circuit arrangement is for example mat-shaped and is provided for example in a motor vehicle seat for detecting a seat occupancy. For example, it can be distinguished by a suitable evaluation of sensor signals of the pressure sensors, whether the motor vehicle seat is occupied by a person, a child seat or an object such as a bag.
Die Zeilenleiter und die Spaltenleiter sind beispielsweise auf unterschiedlichen Ebenen angeordnet. Dadurch können die Zeilenleiter und die Spaltenleiter einander überkreuzend verlaufend angeordnet sein, ohne elektrisch miteinander verbunden zu sein. Beispielsweise sind die Ebenen jeweils als eine Folie ausgebildet, auf der die Zuleitungen ausgebildet sind.The row conductors and the column conductors are arranged, for example, on different levels. This allows the Row conductors and the column conductors to be arranged crossing each other running without being electrically connected to each other. For example, the planes are each formed as a film on which the leads are formed.
In diesem Beispiel sind die Zeilenleiter gebildet durch einen ersten Zeilenleiter Zl, einen zweiten Zeilenleiter Z2, einen dritten Zeilenleiter Z3 und einen vierten Zeilenleiter Z4. Die Spaltenleiter sind gebildet durch einen ersten Spaltenleiter Sl, einen zweiten Spaltenleiter S2, einen dritten Spaltenleiter S3 und einen vierten Spaltenleiter S4. Die Zeilenleiter und die Spaltenleiter weisen jeweils ein erstes Ende und ein zweites Ende auf.In this example, the row conductors are formed by a first row conductor Z1, a second row conductor Z2, a third row conductor Z3 and a fourth row conductor Z4. The column conductors are formed by a first column conductor Sl, a second column conductor S2, a third column conductor S3 and a fourth column conductor S4. The row conductors and the column conductors each have a first end and a second end.
Der erste, zweite und dritte Zeilenleiter Zl, Z2, Z3 sind je¬ weils mit ihrem ersten Ende über ein Prüfelement PE mit einem ersten Zeilenprüfleiter ZPl verbunden. Der vierte Zeilenleiter Z4 ist mit seinem ersten Ende über ein Prüfelement PE mit einem zweiten Zeilenprüfleiter ZP2 verbunden. Entsprechend sind der erste, zweite und dritte Spaltenleiter Sl, S2, S3 jeweils mit ihrem ersten Ende über ein Prüfelement PE mit ei¬ nem ersten Spaltenprüfleiter SPl verbunden. Der vierte Spaltenleiter S4 ist mit seinem ersten Ende über ein Prüfelement PE mit einem zweiten Spaltenprüfleiter SP2 verbunden. Die Prüfelemente PE sind beispielsweise jeweils als ein ohmscher Widerstand ausgebildet. Vorzugsweise weist der ohmsche Wider¬ stand einen vorgegebenen Widerstandswert auf. Die Prüfelemen- te können jedoch auch z.B. jeweils als eine Diode ausgebildet sein .The first, second and third conductor lines Zl, Z2, Z3 are each ¬ weils connected with its first end on a test element having a first PE Zeilenprüfleiter ZPL. The fourth row conductor Z4 is connected at its first end via a test element PE to a second line test conductor ZP2. Accordingly, the first, second and third column conductor Sl, S2, S3 each connected by its first end via a test element PE with egg ¬ nem first Spaltenprüfleiter are SPl. The fourth column conductor S4 is connected at its first end via a test element PE to a second column test conductor SP2. The test elements PE are each designed, for example, as an ohmic resistor. The ohmic resistance ¬ preferably has a predetermined resistance value. However, the test elements can also be designed, for example, in each case as a diode.
Der erste, zweite und dritte Zeilenleiter Zl, Z2, Z3 bilden eine erste Teilmenge der Zeilenleiter. Der vierte Zeilenlei¬ ter Z4 bildet eine zweite Teilmenge der Zeilenleiter. Ent- sprechend bilden der erste, zweite und dritte Spaltenleiter Sl, S2, S3 eine erste Teilmenge der Spaltenleiter und bildet der vierte Spaltenleiter S4 eine zweite Teilmenge der Spal¬ tenleiter. Jedem Prüfleiter, also jeweils dem ersten Zeilen- prüfleiter ZPl, dem zweiten Zeilenprüfleiter ZP2, dem ersten Spaltenprüfleiter SPl und dem zweiten Spaltenprüfleiter SP2, ist eine dieser voneinander unterschiedlichen Teilmengen zugeordnet, d.h. jeder Zeilenleiter bzw. jeder Spaltenleiter ist nur einem der Zeilenprüfleiter bzw. Spaltenprüfleiter zugeordnet und jedem Zeilenprüfleiter bzw. Spaltenprüfleiter ist mindestens ein Zeilenleiter bzw. mindestens ein Spaltenleiter zugeordnet. Mindestes eine der Teilmengen der Zeilenleiter bzw. der Teilmengen der Spaltenleiter umfasst jedoch mindestens zwei Zeilenleiter bzw. Spaltenleiter. Bevorzugt umfassen die jeweiligen Teilmengen jedoch mehrere Zeilenleiter bzw. Spaltenleiter. Dadurch sind für ein Überprüfen der Zeilenleiter und/oder der Spaltenleiter nur wenige Zeilen- prüfleiter bzw. Spaltenprüfleiter erforderlich. Dem ersten und dem zweiten Zeilenprüfleiter ZPl, ZP2 ist jeweils eine der Teilmengen der Zeilenleiter zugeordnet, dem ersten und dem zweiten Spaltenprüfleiter SPl, SP2 ist jeweils eine der Teilmengen der Spaltenleiter zugeordnet.The first, second and third row conductors Z1, Z2, Z3 form a first subset of the row conductors. The fourth Zeilenlei ¬ ter Z4 forms a second subset of the row conductor. decision Speaking form the first, second and third column conductor Sl, S2, S3 a first subset of the column conductors and the fourth column conductor S4 constituting a second subset of the Spal ¬ tenleiter. Each test conductor, ie in each case the first line test conductor ZP1, the second line test conductor SP1 and the second column test conductor SP2, is assigned one of these mutually different subsets, ie each row conductor or each column conductor is only one of the row test conductors or column test conductors assigned and each Zeilenprüfleiter or Spaltenprüfleiter is assigned at least one row conductor or at least one column conductor. However, at least one of the subsets of the row conductors or the subsets of the column conductors comprises at least two row conductors or column conductors. However, the respective subsets preferably comprise a plurality of row conductors or column conductors. As a result, only a few line test conductors or column test conductors are required for checking the row conductors and / or the column conductors. One of the subsets of the row conductors is assigned to each of the first and the second row test conductors ZPL, ZP2. The first and the second column test conductors SP1, SP2 are each assigned one of the subsets of the column conductors.
Es können auch mehr oder weniger Zeilenleiter oder Spaltenleiter vorgesehen sein. Jedoch sind mindestens drei Zeilenleiter und/oder mindestens drei Spaltenleiter vorgesehen. Ferner sind mindestens zwei Zeilenprüfleiter und/oder mindestens zwei Spaltenprüfleiter vorgesehen.It is also possible to provide more or fewer row conductors or column conductors. However, at least three row conductors and / or at least three column conductors are provided. Furthermore, at least two line test conductors and / or at least two column test conductors are provided.
Mit ihrem zweiten Ende sind die Zeilenleiter, die Spaltenlei¬ ter, die Zeilenprüfleiter und die Spaltenprüfleiter mit der Auswerteeinheit AE gekoppelt . Durch das Vorsehen der mindestens zwei Zeilenprüfleiter und/oder der mindestens zwei Spaltenprüfleiter wird die Gestaltungsfreiheit bezüglich eines Verlaufs der Zeilenleiter bzw. der Spaltenleiter und bezüglich einer Anordnung oder Platzierung der Prüfelemente PE verbessert. Wird die Schal¬ tungsanordnung beispielsweise genutzt für die Sitzbelegungs¬ erkennung in dem Kraftfahrzeugsitz, dann kann die Schaltungsanordnung so besonders gut an die jeweilige Sitzgeometrie des Kraftfahrzeugsitzes angepasst werden. Beispielsweise können die dem ersten Zeilenprüfleiter ZPl zugeordneten Prüfelemente PE und das dem zweiten Zeilenprüfleiter ZP2 zugeordnete Prüfelement PE auf unterschiedlichen Seiten des Kraftfahrzeugsit¬ zes angeordnet werden. In dem Kraftfahrzeugsitz ist die Schaltungsanordnung gegebenenfalls erheblichen mechanischen Belastungen ausgesetzt. Durch die verbesserte Gestaltungs¬ freiheit ist es so möglich, die Prüfelemente PE in Bereichen des Kraftfahrzeugsitzes zu platzieren, die mechanisch weniger stark belastet sind. Entsprechend können auch die Zuleitungen und die Zeilen- und/oder Spaltenprüfleiter so angeordnet werden, dass diese möglichst geringen mechanischen Belastungen ausgesetzt sind. Dadurch kann ein möglicher Verschleiß der Schaltungsanordnung verringert werden. Die Schaltungsanord¬ nung kann so dauerhaft zuverlässig betrieben werden.By its second end the row conductors, the Spaltenlei ¬ ter, the Zeilenprüfleiter and Spaltenprüfleiter to the evaluation unit AE are coupled. By providing the at least two line test conductors and / or the at least two column test conductors, the design freedom with respect to a profile of the row conductors or the column conductors and with respect to an arrangement or placement of the test elements PE is improved. If the scarf ¬ tion arrangement, for example, used for the seat occupancy ¬ detection in the vehicle seat, then the circuit arrangement can be particularly well adapted to the respective seat geometry of the vehicle seat. For example, the first Zeilenprüfleiter ZPL associated inspection elements PE and the second Zeilenprüfleiter can ZP2 associated test element PE are arranged on different sides of the Kraftfahrzeugsit ¬ zes. In the motor vehicle seat, the circuit arrangement is possibly exposed to considerable mechanical loads. Due to the improved-shaping ¬ freedom it is thus possible to place the test elements PE in areas of the motor vehicle seat, which are mechanically heavily loaded less. Accordingly, the leads and the row and / or column test conductors can be arranged so that they are exposed to the lowest possible mechanical loads. Thereby, a possible wear of the circuit arrangement can be reduced. The Schaltungsanord ¬ tion can be operated permanently reliable.
Figur 2 zeigt eine zweite Ausführungsform der Schaltungsanordnung und der Prüfvorrichtung, die im Wesentlichen der ersten Ausführungsform entspricht. Bei der zweiten Ausführungsform bilden der erste Zeilenleiter Zl und der zweite Zeilenleiter Z2 die erste Teilmenge der Zeilenleiter, die dem ersten Zeilenprüfleiter ZPl zugeordnet ist. Der dritte Zeilenleiter Z3 und der vierte Zeilenleiter Z4 bilden die zweite Teilmenge der Zeilenleiter, die dem zweiten Zeilenprüfleiter ZP2 zugeordnet ist. Entsprechend bilden der erste Spaltenlei- ter Sl und der zweite Spaltenleiter S2 die erste Teilmenge der Spaltenleiter, die dem ersten Spaltenprüfleiter SPl zugeordnet ist. Der dritte Spaltenleiter S3 und der vierte Spal¬ tenleiter S4 bilden die zweite Teilmenge der Spaltenleiter, die dem zweiten Spaltenprüfleiter SP2 zugeordnet ist.Figure 2 shows a second embodiment of the circuit arrangement and the test apparatus, which substantially corresponds to the first embodiment. In the second embodiment, the first row conductor Z1 and the second row conductor Z2 form the first subset of the row conductors associated with the first row test conductor ZPL. The third row conductor Z3 and the fourth row conductor Z4 form the second subset of the row conductors associated with the second row test conductor ZP2. Accordingly, the first column ter Sl and the second column conductor S2, the first subset of the column conductors, which is assigned to the first column test conductor SPl. The third column conductor S3 and the fourth slot ¬ th conductor S4 form the second subset of the column conductors, which is associated with the second column test conductor SP2.
Zwischen dem ersten Zeilenprüfleiter ZPl und dem zweiten Zei- lenprüfleiter ZP2 verläuft ein weiterer Leiter L, der ebenfalls mit der Auswerteeinheit AE gekoppelt ist. Der weitere Leiter L muss nicht Bestandteil der Schaltungsanordnung sein. Der weitere Leiter L ist beispielsweise als eine weitere Zu¬ leitung zu einem oder mehreren weiteren Elementen ausgebildet, die nicht Bestandteil der Schaltungsanordnung sein müs¬ sen. Ein solches weiteres Element ist beispielsweise ein Tem¬ peratursensor, der eine Temperatur in dem Kraftfahrzeugsitz erfasst, z.B. um zuverlässiger zwischen der Sitzbelegung des Kraftfahrzeugsitzes durch eine Person oder durch einen Ge¬ genstand unterscheiden zu können. Das weitere Element und der weitere Leiter L können jedoch auch zu einem anderen Zweck ausgebildet sein. Es können auch weitere solcher weiteren Leiter L vorgesehen sein, insbesondere auch zwischen dem ersten Spaltenprüfleiter SPl und dem zweiten Spaltenprüfleiter SP2. Der Vorteil ist, dass durch das Vorsehen der mindestens zwei Zeilenprüfleiter und/oder der mindestens zwei Spalten- prüfleiter auf einfache Weise das weitere Element oder mehre¬ re weitere Elemente mit der Auswerteeinheit AE oder mit einer anderen Einheit elektrisch gekoppelt werden können, deren Zuleitungen die Zeilenleiter bzw. die Spaltenleiter der Schaltungsanordnung kreuzen müssen. Dadurch braucht der weitere Leiter L nicht in einer zusätzlichen Ebene angeordnet werden, sondern kann in der gleichen Ebene angeordnet werden, wie die Zeilenleiter und die Zeilenprüfleiter bzw. die Spaltenleiter und die Spaltenprüfleiter . Figur 3 zeigt eine dritte Ausführungsform der Schaltungsanordnung und der Prüfvorrichtung. In der dritten Ausführungsform sind alle Zeilenleiter und alle Spaltenleiter einem gemeinsamen Prüfleiter P zugeordnet, d.h. der erste, zweite, dritte und vierte Zeilenleiter Zl, Z2, Z3, Z4 sind jeweils über ein Prüfelement PE mit dem gemeinsamen Prüfleiter P verbunden und der erste, zweite, dritte und vierte Spaltenleiter Sl, S2, S3, S4 sind jeweils über ein Prüfelement PE mit dem gemeinsamen Prüfleiter P verbunden. Dadurch ist es möglich, die Zeilenleiter und die Spaltenleiter über den gemeinsamen Prüfleiter P zu überprüfen. Gegebenenfalls erfordert die Schaltungsanordnung eine Durchkontaktierung, z.B. wenn die Zeilenleiter und die Spaltenleiter in unterschiedlichen Ebenen angeordnet sind.Between the first line test conductor ZP1 and the second line test conductor ZP2 there runs a further conductor L, which is likewise coupled to the evaluation unit AE. The additional conductor L does not have to be part of the circuit arrangement. The further conductor L is, for example, as a further At ¬ line to one or more further elements formed which do not form part of the circuit arrangement Müs ¬ sen. Such a further element, for example, a tem perature sensor ¬ which detects a temperature in the motor vehicle seat, for example to be able to distinguish reliably between the subject of the seat occupancy of the vehicle seat by a person or by a Ge ¬. However, the further element and the further conductor L can also be designed for a different purpose. It is also possible to provide further such additional conductors L, in particular also between the first column test conductor SP1 and the second column test conductor SP2. The advantage is that test conductor may be electrically coupled in a simple manner the further element or more ¬ re additional elements to the evaluation unit AE or another unit by the provision of at least two Zeilenprüfleiter and / or the at least two columns, which leads the Row conductors or the column conductors of the circuit must cross. As a result, the additional conductor L does not have to be arranged in an additional plane, but can be arranged in the same plane as the row conductors and the row test conductors or the column conductors and the column test conductors. FIG. 3 shows a third embodiment of the circuit arrangement and the test apparatus. In the third embodiment, all row conductors and all column conductors are assigned to a common test conductor P, ie the first, second, third and fourth row conductors Z1, Z2, Z3, Z4 are each connected to the common test conductor P via a test element PE and the first, second , Third and fourth column conductors Sl, S2, S3, S4 are each connected via a test element PE with the common test conductor P. This makes it possible to check the row conductors and the column conductors over the common test conductor P. Optionally, the circuit arrangement requires a via, eg when the row conductors and the column conductors are arranged in different planes.
Für das Kontaktieren der Auswerteeinheit AE ist zusätzlich zu Anschlüssen für die Zeilenleiter und die Spaltenleiter nur ein zusätzlicher Anschluss für den gemeinsamen Prüfleiter P erforderlich. Dadurch ist das Kontaktieren der Auswerteeinheit AE besonders einfach und die Auswerteeinheit AE kann be¬ sonders einfach ausgebildet sein. Insbesondere kann auch eine anwendungsspezifische integrierte Schaltung ASIC besonders einfach ausgebildet sein, die gegebenenfalls in der Auswerte¬ einheit AE vorgesehen ist. Die anwendungsspezifische integ¬ rierte Schaltung ASIC muss daher zusätzlich zu den Anschlüssen für die Zeilenleiter und Spaltenleiter nur einen Anschluss für den gemeinsamen Prüfleiter P vorsehen.For contacting the evaluation unit AE, only one additional connection for the common test conductor P is required in addition to connections for the row conductors and the column conductors. Characterized the contacting of the AE evaluation unit is particularly simple and the evaluation unit AE can be formed easily be ¬ Sonders. In particular, an application specific integrated circuit ASIC may be particularly easily formed, the unit optionally in the evaluation ¬ AE is provided. The application-specific integ ¬ tured ASIC circuit must therefore, in addition to the connections for the row conductors and column conductors only provide a connection for the joint study director P.
Figur 4 zeigt eine vierte Ausführungsform der Schaltungsanordnung und der Prüfvorrichtung. Bei der vierten Ausführungsform sind dem ersten Zeilenprüfleiter ZPl der erste, zweite, dritte und vierte Zeilenleiter Zl, Z2, Z3, Z4 zugeordnet und sind dem ersten Spaltenprüfleiter SPl der erste, zweite, dritte und vierte Spaltenleiter Sl, S2, S3, S4 zugeordnet. Dadurch muss die Auswerteeinheit AE zusätzlich zu den Anschlüssen für die Zeilenleiter und die Spaltenleiter nur zwei Anschlüsse für den ersten Zeilenprüfleiter ZPl und den ersten Spaltenprüfleiter SPl aufweisen. Der erste Zeilenprüfleiter ZPl und der erste Spaltenprüfleiter SPl sind in der Auswerteeinheit AE elektrisch leitend miteinander verbunden und bilden so den gemeinsamen Prüfleiter P. Dies hat den Vorteil, dass die gegebenenfalls in der Auswerteeinheit AE vorgesehene anwendungsspezifische integrierte Schaltung ASIC zusätzlich zu den Anschlüssen für die Zeilenleiter und die Spaltenleiter nur einen weiteren Anschluss für den gemeinsamen Prüfleiter P erfordert. Dadurch kann die anwendungsspezifische integrierte Schaltung ASIC besonders einfach ausgebildet sein. Ferner ist so kein Durchkontaktieren bei der Schaltungsanordnung erforderlich .FIG. 4 shows a fourth embodiment of the circuit arrangement and the test apparatus. In the fourth embodiment, first, second, third and fourth row conductors Z1, Z2, Z3, Z4 are assigned to the first row test conductor ZPL and the first column test conductor SP1 is assigned the first, second, third and fourth column conductors S1, S2, S3, S4. As a result, in addition to the connections for the row conductors and the column conductors, the evaluation unit AE must have only two terminals for the first row test conductor ZPl and the first column test conductor SP1. The first line test conductor ZPl and the first column test conductor SP1 are electrically conductively connected to one another in the evaluation unit AE and thus form the common test conductor P. This has the advantage that the application-specific integrated circuit ASIC, which may be provided in the evaluation unit AE, in addition to the connections for the row conductors and the column conductor requires only one more connection for the common test conductor P. As a result, the application-specific integrated circuit ASIC can be designed to be particularly simple. Furthermore, no through-contacting is required in the circuit arrangement.
Die erste Ausführungsform und die zweite Ausführungsform können miteinander kombiniert werden, d.h. der weitere Leiter L kann z.B. ebenso in der ersten Ausführungsform vorgesehen sein. Ferner kann auch die vierte Ausführungsform mit der ersten oder der zweiten Ausführungsform kombiniert werden, z.B. durch elektrisch leitendes Verbinden des ersten Zeilen- prüfleiters ZPl, des zweiten Zeilenprüfleiters ZP2, des ers¬ ten Spaltenprüfleiters SPl und/oder des zweiten Spaltenprüf- leiters SP2 zu dem gemeinsamen Prüfleiter P. Ferner kann die anwendungsspezifische integrierte Schaltung ASIC ebenso in der ersten oder der zweiten Ausführungsform vorgesehen sein oder kann die Auswerteeinheit AE bilden. Ferner können auch entsprechend der dritten Aus führungs form mindestens ein Spaltenleiter und mindestens ein Zeilenleiter demselben Prüfleiter zugeordnet sein. Das Überprüfen eines Zeilenleiters bzw. eines Spaltenleiters erfolgt beispielsweise durch eine Widerstandsmessung zwischen dem zweiten Ende des jeweiligen Zeilenleiters und dem zweiten Ende des diesem zugeordneten Zeilenprüfleiters bzw. zwischen dem zweiten Ende des jeweiligen Spaltenleiters und dem zwei¬ ten Ende des diesem zugeordneten Spaltenprüfleiters . Weicht der gemessene Widerstandswert beispielsweise um einen vorge¬ gebenen Betrag oder einen vorgegebenen Faktor von dem vorgegebenen Widerstandswert des jeweiligen Prüfelements PE ab, dann ist der entsprechende Zeilenleiter bzw. Spaltenleiter oder der zugeordnete Zeilenprüfleiter bzw. Spaltenprüfleiter gegebenenfalls fehlerhaft. The first embodiment and the second embodiment may be combined with each other, ie, the other conductor L may also be provided in the first embodiment, for example. Further, the fourth embodiment can be combined with the first or the second embodiment, for example, by electrically connecting the first conductive Zeilenprüfleiters ZPL, the second Zeilenprüfleiters ZP2, the ERS ¬ th Spaltenprüfleiters SPl and / or the second Spaltenprüfleiters SP2 to the common Prüfleiter P. Further, the application-specific integrated circuit ASIC may also be provided in the first or the second embodiment, or may form the evaluation unit AE. Furthermore, according to the third embodiment, at least one column conductor and at least one row conductor can be assigned to the same test conductor. Checking a row conductor and a column conductor for example, by a resistance measurement between the second end of the respective row conductor and the second end of this associated Zeilenprüfleiters and between the second end of the respective column conductor and the two ¬ th end of this associated Spaltenprüfleiters. The measured resistance value differs, for example, a pre-¬ given amount or by a predetermined factor of the predetermined resistance value of each test element PE from, the corresponding row conductor or column conductor or the associated Zeilenprüfleiter or Spaltenprüfleiter optionally faulty.

Claims

Patentansprüche claims
1. Schaltungsanordnung zum Überprüfen von mindestens drei Zeilenleitern und/oder von mindestens drei Spaltenleitern, die Zuleitungen von elektrisch matrixförmig in Zeilen und Spalten miteinander verbundenen Schaltungselementen (SE) bilden, bei der1. Circuit arrangement for checking at least three row conductors and / or at least three column conductors, the supply lines of electrically matrix-shaped in rows and columns interconnected circuit elements (SE) form, in the
- mindestens zwei Zeilenprüfleiter und/oder mindestens zwei Spaltenprüfleiter vorgesehen sind,at least two line test conductors and / or at least two column test conductors are provided,
- jeder der mindestens drei Zeilenleiter bzw. der mindestens drei Spaltenleiter jeweils einem der mindestens zwei Zeilen- prüfleiter bzw. der mindestens zwei Spaltenprüfleiter zugeordnet ist,each of the at least three row conductors or the at least three column conductors is assigned to one of the at least two row test conductors or the at least two column test conductors,
- jedem der mindestens zwei Zeilenprüfleiter und/oder der mindestens zwei Spaltenprüfleiter jeweils mindestens ein Zei¬ lenleiter bzw. mindestens ein Spaltenleiter zugeordnet ist,- each of the at least two Zeilenprüfleiter and / or the at least two Spaltenprüfleiter is assigned at least one Zei ¬ lenleiter or at least one column conductor,
- mindestens einem der mindestens zwei Zeilenprüfleiter bzw. der mindestens zwei Spaltenprüfleiter mindestens zwei Zeilen¬ leiter bzw. mindestens zwei Spaltenleiter zugeordnet sind,- at least one of at least two or at least two Zeilenprüfleiter Spaltenprüfleiter associated with at least two lines ¬ conductor or at least two column conductors,
- die mindestens drei Zeilenleiter bzw. die mindestens drei Spaltenleiter jeweils mit einem ersten Ende über ein Prüfelement (PE) mit dem zugeordneten Zeilenprüfleiter bzw. Spalten- prüfleiter verbunden sind und- The at least three row conductors or the at least three column conductors are each connected to a first end via a test element (PE) with the associated Zeilenprüfleiter or column test conductor and
- die mindestens drei Zeilenleiter bzw. die mindestens drei Spaltenleiter und die mindestens zwei Zeilenprüfleiter bzw. die mindestens zwei Spaltenprüfleiter jeweils mit einem zwei¬ ten Ende mit einer Auswerteeinheit (AE) koppelbar sind.- The at least three row conductors or the at least three column conductors and the at least two Zeilenprüfleiter or the at least two Spaltenprüfleiter each having a two ¬ th end with an evaluation unit (AE) can be coupled.
2. Schaltungsanordnung zum Überprüfen von mindestens einem Zeilenleiter und von mindestens einem Spaltenleiter, die Zuleitungen von elektrisch matrixförmig in Zeilen und Spalten miteinander verbundenen Schaltungselementen (SE) bilden, bei der - der mindestens eine Zeilenleiter und der mindestens eine Spaltenleiter jeweils mit einem ersten Ende über ein Prüfelement (PE) mit einem gemeinsamen Prüfleiter (P) verbunden sind und2. Circuit arrangement for checking at least one row conductor and at least one column conductor, the supply lines of electric matrix form in rows and columns interconnected circuit elements (SE) form, in the - The at least one row conductor and the at least one column conductor are each connected to a first end via a test element (PE) with a common test conductor (P) and
- der mindestens eine Zeilenleiter und der mindestens eine Spaltenleiter und der gemeinsame Prüfleiter (P) mit einem zweiten Ende mit einer Auswerteeinheit (AE) koppelbar sind.- The at least one row conductor and the at least one column conductor and the common test conductor (P) with a second end with an evaluation unit (AE) are coupled.
3. Prüfvorrichtung, die umfasst3. Tester, which includes
- eine Schaltungsanordnung, die elektrisch matrixförmig in Zeilen und Spalten durch Zuleitungen miteinander verbundene Schaltungselemente (SE) umfasst und die mindestens zwei Prüf¬ leiter aufweist und bei der jede Zuleitung einem der mindestens zwei Prüfleiter zugeordnet ist und jedem der mindestens zwei Prüfleiter mindestens eine Zuleitung zugeordnet ist und bei der die Zuleitungen jeweils mit einem ersten Ende über ein Prüfelement (PE) mit dem zugeordneten Prüfleiter verbunden sind und bei der die Zuleitungen als Zeilenleiter oder als Spaltenleiter ausgebildet sind, und- A circuit arrangement comprising electrically matrix-shaped in rows and columns by leads interconnected circuit elements (SE) and having at least two test ¬ conductor and wherein each lead is assigned to one of the at least two test conductors and associated with each of the at least two test conductors at least one supply line is and in which the leads are each connected to a first end via a test element (PE) with the associated test conductor and in which the leads are formed as row conductors or column conductors, and
- eine Auswerteeinheit (AE) , mit der die mindestens zwei Prüfleiter und die Zuleitungen mit jeweils einem zweiten Ende gekoppelt sind und in der mindestens zwei der mindestens zwei Prüfleiter miteinander verbunden sind und einen gemeinsamen Prüfleiter (P) bilden. - An evaluation unit (AE), with which the at least two test conductors and the leads are each coupled to a second end and in which at least two of the at least two test conductors are interconnected and form a common test conductor (P).
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