WO2006089449A3 - Dispositif et procede d'analyse et d'imagerie par spectrometrie de masse hautement localisees - Google Patents

Dispositif et procede d'analyse et d'imagerie par spectrometrie de masse hautement localisees Download PDF

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Abstract

La présente invention se rapporte à un dispositif et à un procédé permettant d'effectuer une analyse par spectrométrie de masse localisée d'une surface d'échantillon (204). Le dispositif selon l'invention comprend un système optique, de préférence une installation de microscopie optique à champ proche à balayage (SNOM) (2), qui sert à ablater des atomes/molécules d'échantillon de la surface d'échantillon avec une résolution spatiale élevée, de préférence à pression atmosphérique. Lesdits atomes/molécules sont transférés vers un piège à ions (410) par des moyens de transfert (5) appropriés, avantageusement à travers un tube de transfert sous l'action d'une différence de pression. Les atomes/molécules sont ionisés, de préférence par ionisation chimique, et s'accumulent dans le piège à ions (410). Une fois qu'un nombre suffisant d'ions se sont accumulés, ces derniers sont analysés par un analyseur (3), de préférence du type à temps de vol.
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