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Leiterplatte mit wenigstens einem thermisch kritischenoMD-Bauteil und Verfahren zum Herstellen,Bestücken und Löten einer Lei¬ terplatte
[001] Die Erfindung betrifft eine Leiterplatte mit wenigstens einem thermisch kritischen
SMD-Bauteil, das auf wenigstens ein Lötpad auf einer ersten Seite der Leiterplatte mittels einer Lotpaste lötbar ist, und ein Verfahren zum Herstellen, Bestücken und Löten einer Leiterplatte mit einem solchen SMD-Bauteil.
[002] Für eine Fertigung von Leiterplatten stehen heute eine Vielzahl von SMD-B auteilen
(Surface-Mounted-Device) zur Verfügung. Nicht alle diese SMD-B auteile sind jedoch für eine Lötung mit bleifreiem Lot bzw. Lotpaste verwendbar, bei der in einem Reflow-Lötofen Temperaturprofile mit erheblich höheren Temperaturen erforderlich sind. Besonders hoch integrierte Halbleiter-SMD-Bauteile oder solche, bei denen bei höheren Temperaturen im Reflow-Lötofen eine unerwünschte Alterung eintreten kann, sind entweder für die Temperaturspitzen bei Lötvorgängen mit bleifreiem Lot nicht geeignet oder, wenn überhaupt, nur als sehr teure Hoch-Temperatur- Ausführungen erhältlich. Problematisch ist bei all diesen hier als "thermisch kritisch" bezeichneten SMD-B auteilen nicht nur ihr Gehäuse, das häufig aus Kunststoff besteht, sondern auch eine Temperaturempfindlichkeit ihrer elektronischen Komponenten. Einige Hersteller von SMD-Halbleiter-B auteilen haben sich zur Temperaturproblematik dahingehend ' geäußert, daß sie keine SMD-Bauteile entwickeln und anbieten wollen, die für die zum Löten im Reflow-Lötofen mit bleifreiem Lot erforderlichen Temperaturen geeignet sind. Derartige, für hohe Temperaturen um 260 0C unkritische Bauteile wären zu teuer und am Markt nur schwer durchsetzbar.
[003] Um dem Problem mit der Temperaturempfindlichkeit der thermisch kritischen
Bauteile zu begegnen, werden diese heutzutage, nachdem die anderen, thermisch un¬ kritischen Bauteile im Reflow-Lötofen gelötet wurden, in zwei zusätzlichen Arbeits¬ schritten auf die Leiterplatte gebracht und anschließend auf der Leiterplatte verlötet. Diese zusätzlichen Arbeitsschritte verlängern nicht nur die Fertigstellung einer derart bestückten Leiterplatte sondern verteuern sie wegen des Aufwands auch erheblich.
[004] Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Leiterplatte und ein
Verfahren zu schaffen, mit denen es möglich ist, thermisch kritische SMD-Bauteile auch bei hohen Temperaturen in einem Reflow-Lötofen zu löten.
[005] Diese Aufgabe wird gelöst durch eine erste Variante einer Leiterplatte nach der Erfindung mit wenigstens einem thermisch kritischen SMD-Bauteil, das auf wenigstens ein Lötpad auf einer ersten Seite der Leiterplatte mittels einer Lotpaste
lötbar ist, wobei die Lotpaste auf einer zweiten Seite der Leiterplatte aufgebracht wird und mindestens eine Bohrung in unmittelbarer Nähe zum Lötpad vorgesehen ist, durch die die Lotpaste an das SMD-B auteil heranführbar ist.
[006] Die oben genannte Aufgabe wird auch gelöst durch eine zweite Variante einer Lei¬ terplatte nach der Erfindung mit wenigstens einem thermisch kritischen SMD-B auteil, das auf wenigstens ein Lötpad auf einer ersten Seite der Leiterplatte mittels einer Lotpaste lötbar ist, wobei die Lotpaste auf einer zweiten Seite der Leiterplatte aufgebracht wird und mindestens eine Bohrung durch das Lötpad vorgesehen ist, durch die die Lotpaste an das SMD-B auteil heranführbar ist.
[007] Bei einer besonderen Ausführungsform der erfmdungsgemäßen Leiterplatte ist die
Bohrung mit einer Metallisierungshülse ausgekleidet.
[008] Bei einer anderen Ausführungsform der erfindungsgemäßen Leiterplatte wird das
SMD-Bauteil vor einem Lötvorgang auf der Leiterplatte durch einen Klebstoff befestigt.
[009] Noch einer andere Ausführangsformen der erfindungsgemäßen Leiterplatte betreffen eine mechanische Halterung zur Befestigung des SMD-B auteils vor einem Lötvorgang auf der Leiterplatte.
[010] Eine weitere Ausführungsform der Leiterplatte nach der Erfindung wird zum Löten des SMD-B auteils derart durch einem Reflow-Lötofen transportiert wird, daß ihre erste Seite mit dem SMD-Bauteil nach unten weist, so daß die beim Löten erwärmte Lotpaste auf der zweiten Seite der Leiterplatte durch die Bohrung hindurch zum Lötpad und zum SMD-Bauteil fließt.
[011] Bei noch einer weiteren Ausführungsform der Leiterplatte nach der Erfindung ist die zum Löten des thermisch kritischen SMD-B auteils verwendete Lotpaste eine bleifreie Lotpaste ist.
[012] Außerdem wird die oben genannte Aufgabe gelöst durch eine erste Variante eines erfindungsgemäßes Verfahrens zum Herstellen, Bestücken und Löten einer Leiterplatte mit wenigstens einem thermisch kritischen SMD-Bauteil mit folgenden Verfahrens¬ schritten:
[013] herstellen einer Leiterplatte mit wenigstens einem Lötpad für das SMD-Bauteil auf einer ersten Seite der Leiterplatte;
[014] bohren einer Bohrung durch die Leiterplatte in unmittelbarer Nähe zum Lötpad;
[015] befestigen des SMD-Bauteils auf der ersten Seite der Leiterplatte;
[016] aufbringen von Lotpaste auf einer zweiten Seite der Leiterplatte auf bzw. in die
Bohrung;
[017] nach vollständigen Bestücken der zweiten Seite der Leiterplatte Löten der dortigen Bauteile und des auf der ersten Seite der der Leiterplatte befindlichen thermisch kritischen SMD-Bauteils in einem Reflow-Lötofen.
[018] Die genannte Aufgabe wird darüber hinaus gelöst durch eine zweite Variante eines erfindungsgemäßen Verfahrens zum Herstellen, Bestücken und Löten einer Lei¬ terplatte mit wenigstens einem thermisch kritischen SMD-Bauteil mit folgenden Ver¬ fahrensschritten:
[019] herstellen einer Leiterplatte mit wenigstens einem Lötpad für das SMD-Bauteil auf einer ersten Seite der Leiterplatte;
[020] bohren einer Bohrung durch das Lötpad der Leiterplatte;
[021] befestigen des SMD-B auteils auf der ersten Seite der Leiterplatte;
[022] aufbringen von Lotpaste auf einer zweiten Seite der Leiterplatte auf bzw. in die
Bohrung;
[023] nach vollständigen Bestücken der zweiten Seite der Leiterplatte Löten der dortigen
Bauteile und des auf der ersten Seite der der Leiterplatte befindlichen thermisch kritischen SMD-Bauteils in einem Reflow-Lötofen.
[024] Bei einer besonderen Ausführungsform des Verfahren nach der Erfindung wird die
Bohrung durch eine die Bohrung auskleidende Hülse metallisiert.
[025] Noch eine andere Ausführungsform des Verfahrens nach der Erfindung sieht vor, daß das SMD-Bauteil zur Befestigung in einen auf die erste Seite der Leiterplatte auf¬ gebrachten Klebstoff eingesetzt wird.
[026] Bei einer weiteren Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird das
SMD-Bauteil in eine Snap-In-Befestigung auf der erste Seite der Leiterplatte eingesetzt wird. j,
[027] Bei wieder einer anderen Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens ist die zum Löten des thermisch kritischen SMD-Bauteils verwendete Lotpaste eine bleifreie Lotpaste.
[028] Der Erfindung liegt die Idee zugrunde, die thermisch kritischen SMD-B auteile einerseits vor der zum Löten erforderlichen Wärmeeinwirkung im Reflow-Lötofen dadurch zu schützen, daß die thermisch kritischen SMD-B auteile im Reflow-Lötofen auf der Seite der Leiterplatte positioniert werden, die von der zum Löten notwendigen Wärmeeinwirkung abgewandt ist, und die Leiterplatte selbst als eine Art Wärmeschild für die thermisch kritischen SMD-B auteile wirkt. Andererseits erlaubt die Erfindung aber auch die ungehinderte Einwirkung der zum Löten erforderlichen Energie auf die Lotpaste, mit der die thermisch kritischen SMD-B auteile gelötet werden.
[029] Bisherige Meinungen der Fachleute gehen dahin, daß sie in Bezug auf ein Layout einer mit SMD-B auteilen zu bestückenden Leiterplatte eine Anordnung von Bohrungen in unmittelbarer Nachbarschaft zu Lötpads für die SMD-B auteile dringend abraten. Ebenso war es bisher für die Fachwelt undenkbar, Bohrungen in den Lötpads selbst vorzusehen, da die Lotpaste auf den Lötpads durch diese Bohrungen beim her¬ kömmlichen Lötvorgang im Reflow-Lötofen durch die Bohrungen unkontrollierbar
verschwinden würde. Gleiches passiere bei den Bohrungen in unmittelbarer Nähe zu den Lötpads auch.
[030] Der große Vorteil der Erfindung ist darin zu sehen, daß sie die herrschende
Meinung der Fachleute in Bezug auf Bohrungen in Lötpads oder in deren unmittelbarer Nähe überwunden hat und im verein mit einer Technik des Überkopf-Lötens der the rmisch kritischen Bauteile im Reflow-Lötofen die der herrschenden Meinung zugrunde liegenden Nachteile solcher Bohrungen zum Vorteile nutzt. Die Erfindung erlaubt auf diese Weise, auf teure thermisch unkritische SMD-B auteile beim Löten im Reflow- Lötofen zu verzichten und zusätzliche Verfahrensschritte zur Bestückung und Lötung dieser SMD-Bauteile zu vermeiden, auch bei Verwendung von bleifreien Loten.
[031] Ein weiterer besonderer Vorteil der Erfindung ist, daß die Bohrungen selbst, durch die das Lot zu den zu den Lötpads für die SMD-B auteilen gelangt, nach dem Löten mit Lot gefüllt sind und so selbst mit den Lötpads verbunden sind. Zum Testen der SMD- Bauteile genügt es daher, Nadelkontakte eines üblichen Nadelbett-Testadapters auf das Lot in den Bohrungen bzw. in die Bohrungen selbst zu setzen. Dieses Verfahren, bei dem die Nadelkontakte auf die den zu testenden SMD-B auteilen gegenüberliegende Seite der Leiterplatte aufgesetzt werden, erlaubt es, Test- bzw. Prüfpunkte einzusparen auf der mit den zu testenden SMD-B auteilen bestückten Seite der Leiterplatte.
[032] Die Erfindung wird nachfolgend genauer erläutert und beschrieben, wobei auf ver¬ schiedene in der beigefügten Zeichnung dargestellte Ausfuhrungsbeispiele der Erfindung verwiesen wird, dabei zeigen:
[033] Fig.1 eine schematische Darstellung einer herkömmlichen, zur Lötung in einem
Reflow-Lötofen vorbereiteten Leiterplatte mit verschiedenen SMD-Bauteilen;
[034] Fig. 2 eine schematische Darstellung einer ersten Ausführungsform einer Lei¬ terplatte nach der Erfindung mit einem darauf befestigten thermisch kritischen SMD- Bauteil;
[035] Fig. 3 eine Darstellung der Leiterplatte nach Fig. 2 nach dem Aufbringen von
Lotpaste;
[036] Fig. 4 eine Darstellung der Leiterplatte nach Fig. 2 nach dem Löten in einem
Reflow-Lötofen;
[037] Fig. 5 eine schematische Darstellung einer zweiten Ausführungsform einer Lei¬ terplatte nach der Erfindung mit einem thermisch kritischen SMD-Bauteil;
[038] Fig. 6 eine Darstellung der Leiterplatte nach Fig. 5 nach dem Aufbringen von Lotpaste; und
[039] Fig. 7 eine Darstellung der Leiterplatte nach Fig. 5 nach dem Löten in einem Reflow-Lötofen mit aufgesetzten Nadelkontakten.
[040] Falls sinnvoll und zur Vereinfachung werden nachfolgend für gleiche Elemente, Module oder Teile der verschiedenen Ausführungsformen der Erfindung gleiche Be-
zugszeichen verwendet.
[041] Zum besseren Verständnis der Erfindung ist in Fig. 1 ist eine nach herkömmlichen
Verfahren in einem Reflow-Lötofen zu lötende mehrlagige Leiterplatte 1 in einer aus¬ schnitthaften Darstellung veranschaulicht. Äußere und innere Leiterbahnen 2 sind hier nur angedeutet. Symbolhaft ist auf der Leiterplatte 1 ein erstes SMD-B auteil 3 angeordnet, beispielsweise ein Widerstand, wobei auf für das erste SMD-B auteil 3 vorgesehene Lötpads 4a auf der Leiterplatte 1 bereits Lotpaste 5 aufgebracht worden ist. In diese Lotpaste wurde das erste SMD-B auteil 3 mit seinen Kontaktflächen 4b eingesetzt. Stellvertretend für weitere SMD-B auteile, die eine solche Leiterplatte 1 in der Realität üblicherweise aufweist, ist auf ihr auch noch ein zweites SMD-B auteil 6 angeordnet mit unter dem zweiten SMD-Bauteil 6 befindlichen Kontaktflächen 7a, bei¬ spielsweise ein Halbleiterchip. Das in Fig. 1 dargestellte zweite SMD-Bauteil 6 ist eine sogenanntes Ball-Grid-Array-Bauteil. Bei solchen SMD-B auteilen, bei denen wie in Fig. 1 veranschaulicht die Kontaktflächen 7a unterhalb des SMD-Bauteils 6 angeordnet sind, applizieren die Hersteller bereits kleine, so daß das eigentlich SMD- Bauteil 6 zusammen mit den Kugeln 8 aus Lot erhältlich ist. In der in Fig. 1 gewählten Darstellung ist das SMD-Bauteils 6 do auf die Leiterplatte 1 aufgesetzt, daß die Kugeln 8 aus Lot auf für das SMD-Bauteil 6 vorgesehenen Lötpads 7b aufsitzen.
[042] Die in Fig. 1 dargestellte und bestückte Leiterplatte 1 ist vorbereitet und fertig zum
Löten in einem Reflow-Lötofen, der hier zur Vereinfachung nicht dargestellt ist. Übli¬ cherweise wird bei herkömmlichen Lötverfahren die Leiterplatte 1 in. der in Fig. 1 dar¬ gestellten Position in den Reflow-Lötofen gegeben und so gelötet, wobei - übli¬ cherweise - die zum Löten erforderliche Energie von oben zugeführt wird. Die SMD- Bauteile 3, 6 müssen also in Bezug auf den Lötvorgang thermisch unkritisch und gegenüber Temperaturspitzen im Reflow-Lötofen beständig sein.
[043] Sind die SMD-Bauteile hingegen thermisch kritische Bauteile in Bezug auf Tempe¬ raturspitzen bei heute üblichen Lötvorgängen mit bleihaltigem Lot oder in Bezug auf die höheren Temperaturspitzen beim Löten mit bleifreiem Lot, so ist eine Leiterplatte bzw. ein Verfahren nach der Erfindung zu verwenden.
[044] Die Fig. 2 bis 7 zeigen verschiedene Ausführungsbeispiele einer Leiterplatte nach der Erfindung, mittels derer thermisch kritische SMD-Bauteile, beispielsweise solche wie sie im Zusammenhang mit der Fig. 1 beschrieben wurden, ohne Schaden im Reflow-Lötofen gelötete werden können. Das erfindungsgemäße Verfahren zum Herstellen, Bestücken und Löten einer solchen Leiterplatte mit einem thermisch kritischen SMD-Bauteil wird danach im Zusammenhang mit der Fig. 8 beschrieben.
[045] In Fig. 2 ist eine mehrlagige, beidseitig bestückbare Leiterplatte 10 dargestellt mit innen und außen auf der Leiterplatte 10 liegenden Leiterbahnen 12. Für ein thermisch kritisches SMD-Bauteil 14 sind Lötpads 16 vorgesehen, die mit den Leiterbahnen 12
verbunden sind. Auf die Leiterplatte 10 ist ein Klebestoff 22 aufgebracht worden, mit dem das thermisch kritisches SMD-Bauteil 14 auf der Leiterplatte befestigt ist. Der Klebstoff 22 kann in bekannter Weise auf die Leiterplatte 10 aufgebracht werden, bei¬ spielsweise mit einem Dispenser, und zusammen mit anderen auf der Leiterplatte 10 anzubringenden Klebstoffpunkten für andere, hier nicht dargestellte Bauteile.
[046] Bei dem in Fig. 2 veranschaulichten thermisch kritisches SMD-Bauteil 14, bei¬ spielsweise ein Widerstand oder ein Kondensator, bei dem, wie in Fig. 2 dargestellt, Kontaktflächen 26 außen am SMD-Bauteil 14 vorgesehen sind, empfiehlt es sich den Klebstoff 22 zwischen die Lötpads 16 zu plazieren, so daß das SMD-Bauteil 14, nach Aufsetzen auf die Leiterplatte 10 etwa in seiner Mitte befestigt wird. In unmittelbarer Nähe der Lötpads 16 sind Bohrungen 18 durch die Leiterplatte 10 hindurch gebohrt worden, die, wie in Fig. 2 dargestellt, metallisiert wurden. Eine dadurch in den Bohrungen 18 hergestellte Metallisierungshülse 20 ist sinnvollerweise mit den Lötpads 16 und/oder Leiterbahnen 12 verbunden, muß es aber nicht. Die Metallisierungshülse 20 erlaubt aber die Möglichkeit eine Verbindung mit im Innern der Leiterplatte 10 be¬ findlichen Leiterbahnen 12, wie hier dargestellt.
[047] Anstatt das SMD-Bauteil 14 durch einen Klebstoff 22 auf der Leiterplatte 10 zu befestigen, sind auch andere Arten einer mechanischen Befestigung denkbar, wie z.B. eine Snap-In-Befestigung.
[048] Fig. 3 zeigt die Leiterplatte 10 und das darauf befestigte thermisch kritische SMD-
Bauteil 14, nachdem sie gewendet worden ist, so daß sich das SMD-Bauteil 14 *» unterhalb der Leiterplatte 10 befindet. Oben auf die Leiterplatte 10, genauer: auf und in die Bohrungen 18, ist eine zum Löten des SMD-Bauteils 14 gewählte Lotpaste 24 aufgebracht worden. Vorzugsweise wird die Lotpaste 24 gedruckt, und zwar im Zu¬ sammenhang mit dem Lotpasten- Auftrag auf die gesamte hier betrachtete Seite der Leiterplatte 10.
[049] In Fig.4 ist die in Fig. 3 dargestellte Leiterplatte 10 veranschaulicht, nachdem sie in einem hier nicht gezeigten Reflow-Lötofen gelötet wurde. Während des Lötvorgangs : wurde die Leiterplatte 10 in der in Fig. 4 dargestellten Position durch den Reflow- Lötofen transportiert, so daß die Leiterplatte 10 das unter hier befindliche thermisch kritische SMD-Bauteil 14 gegenüber der von oben auf die Leiterplatte 10 ein¬ wirkenden Lötwärme als thermischer Schutzschild abgeschirmt hat. Die auf bzw. in den Bohrungen 18 aufgebrachte Lotpaste 24 ist beim Löten durch die Bohrungen 18 hindurch auf die andere Seite der Leiterplatte 10 und zwischen die Lötpads 16 und die Kontaktflächen 26 des SMD-Bauteils 14 geflossen und hat diese verbunden. Es hat sich gezeigt, daß auf diese Weise mechanisch und elektrisch hochwertige Fügestellen zwischen dem SMD-Bauteil 14 und der Leiterplatte 10 geschaffen werden. Durch die besondere Anordnung der Leiterplatte 10 im Reflow-Lötofen gelingt es einerseits ein
thermisch kritisches SMD-Bauteil 14 gegenüber der zum Löten erforderlichen Ener¬ gieeinstrahlung von oben auf die Leiterplatte 10 abzuschirmen, andererseits ist die Lotpaste 24 der Energieeinstrahlung und der Lötwärme ausgesetzt. Es sind auch bereits Reflow-Lötöfen erhältlich, bei denen die Unterseite der Leiterplatten während des Löt¬ vorganges zusätzlich gekühlt werden kann. Mit einem solchen Reflow-Lötofen ist es möglich, thermisch kritische SMD-B auteile auch beim Löten mit bleifreiem Lot im Reflow-Lötofen zu löten. Eine Lötung thermisch kritischer SMD-B auteile in einem separaten Arbeitsgang, wie bisher beispielsweise im Wellenlotbad oder beim Handlöten, kann durch die Erfindung eingespart werden.
[050] In Ergänzung zur der in den Fig. 2-4 dargestellten Leiterplatte 10 zeigt Fig. 5 eine andere Ausführungsform der erfindungsgemäßen Leiterplatte 10, die hier beispielhaft wieder eine mehrlagige, beidseitig bestückbare Leiterplatte 10 mit innen und außen auf der Leiterplatte 10 liegenden Leiterbahnen 12 ist. Für ein anderes thermisch kritisches SMD-Bauteil 30 sind Lötpads 32 vorgesehen, die mit den Leiterbahnen 12 verbunden sind. Das hier zur Veranschaulichung der Erfindung gewählte thermisch kritische SMD-Bauteil 30 ist wiederum ein sogenanntes B all-Grid-Array-B auteil, wie es bereits oben im Zusammenhang mit Fig. 1 beschrieben worden ist. Die vom Hersteller des SMD-Bauteils 30 bereits auf Kontaktflächen 42 des SMD-Bauteils 30 befestigten und mitgelieferten Kugeln aus Lot 39 liegen auf den Lötpads 32 der Leiterplatte 30 auf. Im Gegensatz zu dem in den Fig. 2-4 dargestellten SMD-Bauteil 14 sind hier die Kon- MJ. taktflächen 42 unterhalb und nicht seitlich vom SMD-Bauteil 30 angeordnet. Auf der
Unterseite des SMD-Bauteil 30 ist daher kein Platz für eine Befestigung auf der Lei¬ terplatte 10 mittels eines punkförmigen dosierten Klebstoffs. Deswegen ist hier ein Klebstoff 38 neben für das SMD-Bauteil 30 vorgesehenen Lötpads 32 auf der Lei¬ terplatte 30 so plaziert, daß er eine Befestigung des SMD-Bauteils 30 in dessen Randbereich sicherstellt. Diese Situation ist in Fig. 5 (und den Fig. 6, 7) verdeutlicht. Der Klebstoff 38 kann wieder in bekannter Weise auf die Leiterplatte 30 aufgebracht werden, beispielsweise mit einem Dispenser, und zusammen mit anderen auf der Lei¬ terplatte 30 anzubringenden Klebstoffpunkten für andere, hier nicht dargestellte Bauteile.
[051] Sind im Ausführungsbeispiel der Fig. 2-4 Bohrungen durch die Leiterplatte in un¬ mittelbarer Nähe zu Lötpads angeordnet, so sind solche Bohrungen 34 beim Ausfüh¬ rungsbeispiel der Erfindung in den Fig. 5-7 durch die Lötpads 32 selbst gebohrt, die : hier ebenfalls metallisiert wurden. Eine dadurch in den Bohrungen 34 hergestellte Me¬ tallisierungshülse 36 ist sinnvollerweise mit den Lötpads 32 und/oder Leiterbahnen 12 verbunden, muß es aber nicht. Die Metallisierungshülse 36 erlaubt aber die Möglichkeit eine Verbindung mit im Innern der Leiterplatte 10 befindlichen Lei¬ terbahnen 12, wie hier dargestellt. .
[052] Fig. 6 zeigt die Leiterplatte 10 und das darauf befestigte thermisch kritische SMD-
Bauteil 30 nach Fig. 5, nachdem die Leiterplatte 10 gewendet worden ist, so daß sich das SMD-B auteil 30 unterhalb der Leiterplatte 10 befindet. Oben auf die Leiterplatte 10, genauer: auf und in die Bohrungen 34, ist eine zum Löten des SMD-Bauteils 30 gewählte Lotpaste 40 aufgebracht worden.
[053] Vorzugsweise wird die Lotpaste 40 gedruckt, und zwar im Zusammenhang mit dem
Lotpasten-Auftrag auf die gesamte hier betrachtete Seite der Leiterplatte 10.
[054] In Fig. 7 ist die Leiterplatte 10 nach Fig. 6 dargestellt, nachdem sie in einem hier nicht gezeigten Reflow-Lötofen gelötet wurde. Während des Lötvorgangs wurde die Leiterplatte 10 wieder in der in Fig. 6 dargestellten Position durch den Reflow-Lötofen transportiert, so daß die Leiterplatte 10 das unter ihr befindliche thermisch kritische SMD-B auteil 30 gegenüber der von oben auf die Leiterplatte 10 und dort befindlichen sonstigen Bauteile und die Lotpaste einwirkenden Lötenergie quasi als thermisches Schild abgeschirmt hat. Die auf bzw. in den Bohrungen 34 aufgebrachte Lotpaste 40 ist beim Löten durch die Bohrungen 34 hindurch auf die andere Seite der Leiterplatte 30 und zwischen die Lötpads 32 und die Kontaktflächen 42 des SMD-Bauteils 30 geflossen und hat diese zusammen mit den ebenfalls im Reflow-Lötofen aufge¬ schmolzenen Kugeln aus Lot 39 (siehe dazu Fig. 5 und 6) verbunden. Auch hierbei hat sich gezeigt, daß so mechanisch und elektrisch hochwertige Fügestellen zwischen dem SMD-Bauteil 30 und der Leiterplatte 10 geschaffen werden. Wie bereits oben zur Fig. 4 beschrieben, gelingt es damit einerseits ein thermisch kritisches SMD-Bauteil 30 gegenüber der zum Löten erforderlichen Energieeinstrahlung von oben auf die Lei¬ terplatte 10 abzuschirmen, andererseits ist die Lotpaste 40 der Energieeinstrahlung und der Lötwärme ausgesetzt. Mithilfe der ebenso oben zur Fig. 4 bereits beschriebenen Reflow-Lötofen mit zusätzlicher Kühlung können auch thermisch kritische BaIl- Grid-Array-Bauteile mit bleifreiem Lot im Reflow-Lötofen gelötet werden. Anstelle bisher üblicher bleihaltiger Lotpasten eignet sich die Erfindung auch für eine Verwendung bleifreier Lotpaste.
[055] Fig. 7 veranschaulicht auch noch einen besonderen Vorteil der Erfindung. Auf Lei¬ terplatten, insbesondere solchen mit SMD bestückten komplexen Halbleiter-Bauteilen, sind üblicherweise Testpunkte bzw. Prüfpads vorgesehen, auf die nach vollständigem Löten der Leiterplatte und aller darauf vorgesehenen Bauteile sogenannte Na¬ delkontakte 44 aufgesetzt werden, um die Funktion der Bauteile auf der Leiterplatte 10 zu testen. Ein solcher Funktionstest ist beispielsweise dann wichtig, wenn ein Bauteil, wie das in den Fig. 5-7 dargestellte SMD-Bauteil 30 Kontaktflächen 42 auf seiner Unterseite aufweist. Nach dem Löten solcher Bauteile sind die Löt- bzw. Fügestellen verdeckt und nicht direkt prüf- und kontaktierbar. Außerdem gibt es beispielsweise Leiterplatten, die eine komplexe und sehr dichte Bestückung mit SMD-Bauteilen
aufweisen sollen aber darüber hinaus auch sehr klein müssen. Bei solchen Leiterplatten suchen Layouter immer wieder nach Möglichkeiten die Testpunkte bzw. Prüfpads einzusparen.
[056] Die Erfindung erlaubt ein Testen der SMD-B auteile durch Aufsetzen der Na¬ delkontakte 44 eines üblichen und hier nicht dargestellten Nadelbett-Testadapters einer Prüfmaschine auf das Lot in den Bohrungen 34 bzw. in die Bohrungen 24 selbst zu setzen. Dieses Verfahren, bei dem die Nadelkontakte 44 auf die den zu testenden SMD-Bauteilen gegenüberliegende Seite der Leiterplatte aufgesetzt werden, erlaubt es, Test- bzw. Prüfpunkte einzusparen auf der mit den zu testenden SMD-Bauteilen 30 bestückten Seite der Leiterplatte 10.
[057] Wie bereits oben beschrieben, sind die Bohrungen 18 bzw. 34 der Leiterplatten 10 nach den Fig. 2-4 und 5-7 vorzugsweise metallisiert. Diese Maßnahme erleichtert das Durchfließen für das im Reflow-Lötofen erweichte Lot. Bei einer Lotpaste, die in Bezug auf das für die Leiterplatten 10 verwendete Trägermaterial gute Benetzungsei- genschaften aufweist, ist es denkbar, ohne eine Metallisierung der Bohrungen 18 bzw. 34 auszukommen.
[058] Der Vollständigkeit halber ist in Fig. 8 eine bevorzugte Ausführungsform eines
Verfahrens 50 nach der Erfindung sowie zwei besondere Ausgestaltungen dieses Verfahrens 50 dargestellt:
[059] Nach einem Herstellen 52 einer Leiterplatte, vorzugsweise einer im Zusammenhang
Λ« mit den Fig. 2-4 beschriebenen erfindungsgemäßen Leiterplatte 10, mit Lötpads 16 für ein thermisch kritisches Bauteil 14 (siehe Fig. 2-4) auf einer ersten Seite der Lei¬ terplatte 10 erfolgt ein Bohren 54 von jeweils einer Bohrung 18 (siehe Fig. 2-4) in un¬ mittelbarer Nähe zu jedem Lötpads 16 durch die Leiterplatte 10. Alternativ dazu kann - entsprechend dem verwendeten thermisch kritischen SMD-Bauteil 30 - ein Bohren 56 von Bohrungen 34 (siehe dazu Fig. 5-7) direkt durch die Lötpads 32 durchgeführt werden. Wahlweise kann dann eine Metallisierung 58 der Bohrungen 18 bzw. 34 erfolgen und anschließend ein Auftragen 60 von Klebstoff 22 oder 38 (siehe dazu Fig. 2-7). Nach einem Einsetzen der thermisch kritischen SMD-Bauteile 14 bzw. 30 in den Klebstoff 22 bzw. 38 (siehe dazu Fig. 2-7) wird die Leiterplatte 10 gewendet, was in Fig. 8 durch "64" veranschaulicht wird, gefolgt von einem Auftragen 66 von Lotpaste 24 bzw. 40 auf eine zweite Seite der Leiterplatte 10 auf bzw. in die Bohrungen 18 bzw. 34 (siehe dazu Fig. 2-7).
[060] Bei einem anschließenden Lötvorgang 68 wird die Leiterplatte 10 mit ihrer zweiten Seite nach oben, also in der vorher beschriebenen Lage mit unter der Leiterplatte 10 befindlichem thermisch kritische SMD-Bauteil 14 oder 30, derart durch einen Reflow- Lötofen transportiert, daß die Lotpaste 24 bzw. 40 der Energieeinstrahlung und der Lötwärme ausgesetzt wird, das SMD-Bauteil 14 oder 30 jedoch gegenüber der Ener-
gieeinstrahlung von oben durch Leiterplatte 10 selbst abgeschirmt wird. Die Lotpaste 24 bzw. 40 erweicht und fließt durch die jeweiligen Bohrungen 18 bzw. 34 (siehe dazu Fig. 2-7) an die Lötpads 16 bzw. 32 und die Kontaktflächen 26 bzw. 42 der SMD- Bauteile 14 bzw. 30 und verlötete diese. Es ist dem Fachmann natürlich klar, daß eine Leiterplatte in der Praxis übli¬ cherweise mehr Bauteile als die oben beschriebenen SMD-B auteile aufweist, wobei thermisch unkritische SMD-B auteile zusammen mit wenigstens einem der oben be¬ schriebenen thermisch kritischen Bauteilen 14 oder 30 oder mit einer beliebigen Kombination davon auf der Leiterplatte verwirklicht werden können. Es ist dem Fachmann auch klar, wie er auf einfache Weise weitere Verfahrensschritte vornimmt, um Lotpaste für die anderen SMD-B auteile auf der Leiterplatte aufbringt und diese Bauteile dort hineinsetzt. Die oben beschriebenen Leiterplatte und Verfahren nach der Erfindung eignen sich besonders für zweiseitig bestückte Leiterplatten.