WO2005116595A1 - Verfahren und vorrichtung zur detektierung optischer spektren - Google Patents

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WO2005116595A1
WO2005116595A1 PCT/DE2005/000884 DE2005000884W WO2005116595A1 WO 2005116595 A1 WO2005116595 A1 WO 2005116595A1 DE 2005000884 W DE2005000884 W DE 2005000884W WO 2005116595 A1 WO2005116595 A1 WO 2005116595A1
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partial beams
spectral ranges
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beam path
different spectral
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Wolfgang Holota
Thido Reinert
Jean-François PITTET
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Astrium Gmbh
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    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • GPHYSICS
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    • G01J3/28Investigating the spectrum
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    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/30Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
    • G01J3/36Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors

Definitions

  • the invention relates to a method and a device for detecting optical spectra.
  • a spectrometer for detecting optical spectra basically consists of a diffraction device with which an incident beam of the optical radiation to be examined is spectrally broken down and a detection device with which the radiation is detected in a spectrally resolved manner. If the optical spectrum is to be acquired over a larger spectral range, this is usually not possible without additional measures. Either individual spectrometers are used for different spectral ranges or the different spectral ranges within the spectrometer are processed differently.
  • a device for detecting optical spectra is known from US Pat. No. 5,638,173, in which a diffraction device in the form of an optical grating is provided in the beam path of an incident beam.
  • a diffraction device in the form of an optical grating is provided in the beam path of an incident beam.
  • a deflection mirror which is arranged in the beam path after the diffraction grating, three different spectral ranges are assigned to partial beams which are detected in a detector device after passing through a common spectrometer optics. Due to the spatial separation of the partial beams, the spectrometer optics with large optical components, i.e. large lenses are built, which is associated with a high weight and high costs.
  • the object of the invention is to provide a method and device for detecting optical spectra in which a large spectral range can be processed with a small construction volume and with a low weight of the spectrometer. This object is achieved procedurally by the method for detecting optical spectra specified in claim 1.
  • the object is achieved by the device for detecting optical spectra specified in claim 6.
  • the invention provides a method for detecting optical spectra, in which partial beams generated from an incident beam and assigned to two or more different spectral ranges pass through a common spectrometer optics and are detected in a spatially separated manner.
  • the partial beams generated from the incident beam are directed to respective spatially separated diffraction gratings which are virtually superimposed in the beam path and assigned to the different spectral ranges and, after passing through the diffraction gratings, to a common beam path passing through the common spectrometer optics.
  • the partial beams assigned to the different spectral ranges are preferably spectrally separated and recorded in spatially separate detectors assigned to the different spectral ranges.
  • the partial beams are spectrally separated from the incident beam when they are generated.
  • the incident beam and the partial beams combined to form the common beam path pass through the same spectrometer optics.
  • three spectrally separated partial beams are generated from the incident beam, these are directed onto three diffraction gratings which are virtually superimposed in the beam path and, after passing through the common spectrometer optics, are detected in three detectors assigned to the respective spectral ranges.
  • the invention provides a device for the detection of optical spectra, comprising a diffraction device arranged in the beam path of an incident beam, a common spectrometer optic which is passed through two or more different spectral ranges and is passed through partial beams generated from the incident beam, and a detector device for spatially separated detection of the different ones spectral assigned partial beams.
  • the diffraction device has spatially separate diffraction gratings assigned to the different spectral ranges and a beam splitter device for dividing the incident beam into the respective partial beams directed onto the diffraction grating and for subsequently combining the partial beams into a common beam path passing through the common spectrometer optics in the sense of a virtual one Contains overlay of the diffraction grating.
  • the detector device preferably contains respective detectors assigned to the different spectral ranges and a spectral separating device for spectrally separating the partial beams combined in the common beam path and for directing them onto the respective detectors.
  • the beam splitter device is provided for splitting the input beam into the partial beams with spectral separation thereof.
  • the common spectrometer optics is arranged in the beam path of the input beam and in the common beam path of the combined partial beams.
  • the diffraction device contains three diffraction gratings which are virtually superimposed in the beam path, and that the detector device contains three detectors assigned to the respective spectral ranges.
  • the method according to the invention and the device according to the invention for detecting optical spectra are explained below using an exemplary embodiment.
  • the figure shows a schematic representation of the essential optical components and the beam path of a spectrometer for detecting optical spectra, in which the method and device of the invention are implemented according to an embodiment.
  • a spectrometer In the figure is an apparatus for detecting optical spectra, i.e. a spectrometer is shown, in which an incident beam 4 of optical radiation, whose spectral composition is to be determined, enters through an entrance slit 7.
  • the incident beam 4 is directed by a spectrometer optics 8, which consists of a corresponding lens system, onto a diffraction device, designated overall by reference number 10.
  • the diffraction device 10 comprises a first diffraction grating 11, a second diffraction grating 12 and a third diffraction grating 13, which includes a first beam splitter 5 and a second beam splitter 6
  • Beam splitter device are virtually superimposed in the beam path of the incident beam 4. This means that the first beam splitter 5 directs a partial beam 1, which consists of part of the incident beam 4, under reflection onto the first diffraction grating 11, while the remaining part of the incident beam 4 transmits through the first beam splitter 5 to the second
  • Beam splitter 6 arrives.
  • a second partial beam 2 is directed by the second beam splitter 6 under reflection onto the second diffraction grating 12, while the rest of the
  • Incident beam 4 in the form of a third partial beam 3 passes through transmission through the second beam splitter 6 to the third diffraction grating 13.
  • Diffraction gratings 11, 12, 13 that have reached partial beams 1, 2, 3 are combined, now in disperse form, by beam splitters 5, 6 to form a common beam path 9. That is, the first diffraction grating 11 Leaving partial beam 1 is deflected into the common beam path 9 by reflection at the first beam splitter 5, the second partial beam 2 coming from the second diffraction grating 12 becomes by reflection on the second beam splitter 6 to the first beam splitter 5 and with transmission through it into the common one Beam path 9 is steered and the third partial beam 3 coming from the third diffraction grating 13 is also guided in transmission in the common beam path 9 both through the second beam splitter 6 and through the first beam splitter 5.
  • the partial beams 1, 2, 3 combined in the common beam path 9 now pass together through the spectrometer optics 8 and are imaged by the latter onto a detector device designated overall by reference number 20.
  • This detector device 20 contains a first detector 21, a second detector 22 and a third detector 23.
  • a first spectral divider 25 and a second spectral divider 26 are connected between the detectors 21, 22, 23 and the spectrometer optics 8.
  • the first spectral splitter 25 allows part of the same to pass through to the first detector 21 while spectrally splitting the common beam path 9, while the remaining part is deflected under reflection to the second spectral splitter 26. A portion of this remaining beam is again deflected by the second spectral splitter 26 under reflection onto the second detector 22, while the rest is transmitted under transmission to the third detector 23.
  • the spectral transmission and reflection characteristics of the two spectral splitters 25, 26 are preferably selected such that for each of the detectors 21, 22, 23 there is a ' spectral range of the common corresponding to the first partial beam 1 or the second partial beam 2 or the third partial beam 3 Beam path 9 arrives.
  • the incident beam 4 by means of the beam splitters 5, 6 generated partial beams 1, 2, 3 after passing through the diffraction gratings 11, 12, 13 virtually superimposed in the diffraction device 10 after passing through the spectrometer optics 8 spectrally separated in the also spatially separated detectors 21 assigned to the different spectral ranges, 22, 23 recorded.
  • the beam splitters 5, 6, which generate the partial beams 1, 2, 3 from the incident beam 4, are preferably designed such that the partial beams 1, 2, 3 are already generated in them with appropriate spectral separation from the incident beam 4. That is, the respective spectral ranges of the individual partial beams 1, 2, 3 essentially correspond to the respective spectral ranges of the beam areas directed by the spectral splitter device 25, 26 to the individual detectors 21, 22, 23.
  • the first partial beam processed on the first diffraction grating 11 can reach the first detector 21
  • the second partial beam 2 processed on the second diffraction grating 12 can reach the second detector 22
  • the third partial beam 3 processed on the third diffraction grating 13 get to the third detector 23.
  • the first partial beam 1 is reflected on the first beam splitter 5 and transmitted on the first spectral splitter 25
  • the second partial beam 2 is transmitted on the first beam splitter 5 and reflected on the second beam splitter 6 and both on the first spectral splitter 25 is also reflected on the second spectral divider 26, and that the third partial beam 3 is transmitted on both spectral splitters 5, 6 and reflected on the first spectral divider 25 and transmitted on the second spectral divider 26.
  • the individual partial beams 1, 2, 3 would be assigned to the individual ones Diffraction gratings 11, 12, 13 and the individual detectors 21, 22, 23 are correspondingly different.
  • the incident beam 4 and the partial beams 1, 2, 3 combined to form the common beam path 9 run the same spectrometer optics 8, but in the opposite direction.
  • Both the entrance slit 7 and the detectors 21, 22, 23 are therefore each in the focal point of the spectrometer optics 8 in the exemplary embodiment shown.
  • the diffraction device 10 contains three diffraction gratings 11, 12, 13, which are virtually superimposed in the beam path, and the detector device 20 likewise contains three detectors 21, 22, 23, which are assigned to the respective spectral ranges. In other exemplary embodiments, however, only two of the diffraction gratings 11, 12, 13 or a greater number than three and / or only two of the detectors 21, 22, 23 and / or more than three detectors can also be provided.
  • Optical spectra which can be processed according to the invention are to be understood as meaning any those which can be processed with optical components.

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Abstract

Es werden Verfahren und Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren beschrieben, wobei aus einem Einfallsstrahl (4) erzeugte, zwei oder mehr, verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Teilstrahlen (1, 2, 3) eine Spektrometeroptik (8) durchlaufen und räumlich getrennt detektiert werden. Erfindungsgemäß ist es vorgesehen, dass die aus dem Einfallsstrahl (4) erzeugten Teilstrahlen (1, 2, 3) auf jeweilige räumlich getrennte, im Strahlengang virtuell überlagerte, den verschiednen Spektralbereichen zugeordnete Diffraktionsgitter (11, 12, 13) gelenkt und nach dem Passieren der Diffraktionsgitter (11, 12, 13) zu einem die Spektrometeroptik (8) durchlaufenden gemeinsamen Strahlengang (9) zusammengefasst werden. Vorzugsweise können die den verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten Teilstrahlen (1, 2, 3) nach dem Durchlaufen der Spektrometeroptik (8) spektral getrennt und in räumlich getrennten, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten Detektoren (21, 22, 23) erfasst werden.

Description

VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DETEKTIERUNG OPTISCHER SPEKTREN
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren.
Ein Spektrometer zur Detektierung optischer Spektren besteht prinzipiell aus einer Diffraktionseinrichtung, mit welcher ein Einfallsstrahl der zu untersuchenden optischen Strahlung spektral zerlegt wird und einer Detektionseinrichtung, mit welcher die Strahlung spektral aufgelöst erfasst wird. Soll das optische Spektrum über einen größeren Spektralbereich erfasst werden, so ist dies ohne zusätzliche Maßnahmen meist nicht möglich. Entweder werden für verschiedene Spektralbereiche jeweilige einzelne Spektrometer verwendet oder die verschiedenen Spektralbereiche innerhalb des Spektrometers unterschiedlich verarbeitet.
Aus der US 5 638 173 ist eine Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren, ein Spektrometer, bekannt, bei der im Strahlengang eines Einfallsstrahls eine Diffraktionseinrichtung in Form eines optischen Gitters vorgesehen ist. Mittels einer aus zwei Spaltfiltern und einem Umlenkspiegel bestehenden Anordnung, die im Strahlengang nach dem Diffraktionsgitter angeordnet ist, werden drei verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Teilstrahlen erzeugt, die nach dem Durchlaufen einer gemeinsamen Spektrometeroptik in einer Detektoreinrichtung jeweils räumlich getrennt erfasst werden. Auf Grund der räumlichen Trennung der Teilstrahlen muss die Spektrometeroptik mit großen optischen Komponenten, d.h. großen Linsen aufgebaut sein, womit ein hohes Gewicht und hohe Kosten verbunden sind.
Auch ist es bekannt, bei Spektrometern „Revolver" mit unterschiedlichen Gittern vorzusehen, so dass nur ein Strahlengang in der Spektrometeroptik verarbeitet werden muss. Damit können die verschiedenen Spektralbereiche aber nicht gleichzeitig, sondern nur sequentiell gemessen werden, und es ist außerdem ein zusätzlicher hochpräziser Mechanismus zum Wechseln der Gitter erforderlich. Die Aufgabe der Erfindung ist es Verfahren und Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren anzugeben, bei denen bei kleinem Bauvolumen und bei geringem Gewicht des Spektrometers ein großer Spektralbereich verarbeitet werden kann. Diese Aufgabe wird verfahrensmäßig durch das im Anspruch 1 angegebene Verfahren zur Detektierung optischer Spektren gelöst.
Vorrichtungsmäßig wird die gestellte Aufgabe durch die im Anspruch 6 angegebene Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren gelöst.
Jeweilige vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Durch die Erfindung wird ein Verfahren zur Detektierung optischer Spektren geschaffen, bei dem aus einem Einfallsstrahl erzeugte, zwei oder mehr verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Teilstrahlen eine gemeinsame Spektrometeroptik durchlaufen und räumlich getrennt detektiert werden. Erfindungsgemäß ist es vorgesehen, dass die aus dem Einfallsstrahl erzeugten Teilstrahlen auf jeweilige räumlich getrennte, im Strahlengang virtuell überlagerte, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Diffraktionsgitter gelenkt und nach dem Passieren der Diffraktionsgitter zu einem die gemeinsame Spektrometeroptik durchlaufenden gemeinsamen Strahlengang. zusammengefasst werden. Vorzugsweise werden die den verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten Teilstrahlen nach dem Durchlaufen der gemeinsamen Spektrometeroptik spektral getrennt und in räumlich getrennten, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten Detektoren erfasst.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens ist es vorgesehen, dass die Teilstrahlen bei ihrer Erzeugung aus dem Einfallsstrahl spektral getrennt werden.
Weiterhin ist es vorzugsweise vorgesehen, dass der Einfallstrahl und die zu dem gemeinsamen Strahlengang zusammengefassten Teilstrahlen dieselbe Spektrometeroptik durchlaufen. Es kann aber in Abhängigkeit von der Anwendung aus technischen Gründen vorteilhaft sein, getrennte Spektrometeroptiken zu verwenden, d.h. eine Spektrometeroptik für den Einfallstrahl und eine davon getrennte Spektrometeroptik für die zu dem gemeinsamen Strahlengang zusammengefassten Teilstrahlen.
Gemäß einer besonders bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens ist es vorgesehen, dass aus dem Einfallsstrahl drei spektral getrennte Teilstrahlen erzeugt, diese auf drei im Strahlengang virtuell überlagerte Diffraktionsgitter gelenkt und nach dem Durchlaufen der gemeinsamen Spektrometeroptik in drei, den jeweiligen Spektralbereichen zugeordneten Detektoren erfasst werden.
Weiterhin wird durch die Erfindung eine Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren geschaffen, enthaltend eine im Strahlengang eines Einfallsstrahls angeordnete Diffraktionseinrichtung, eine von zwei oder mehr, verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten, aus dem Einfallsstrahl erzeugten Teilstrahlen durchlaufene gemeinsame Spektrometeroptik und eine Detektoreinrichtung zur räumlich getrennten Detektierung der den verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten Teilstrahlen. Erfindungsgemäß ist es vorgesehen, dass die Diffraktionseinrichtung räumlich getrennte, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Diffraktionsgitter und eine Strahlteilereinrichtung zum Teilen des Einfallsstrahls in die jeweiligen, auf die Diffraktionsgitter gelenkten Teilstrahlen und zum nachfolgenden Zusammenfassen der Teilstrahlen zu einem die gemeinsame Spektrometeroptik durchlaufenden gemeinsamen Strahlengang im Sinne einer virtuellen Überlagerung der Diffraktionsgitter enthält.
Vorzugsweise enthält die Detektoreinrichtung jeweilige, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Detektoren und eine spektrale Trenneinrichtung zum spektralen Trennen der in dem gemeinsamen Strahlengang zusammengefassten Teilstrahlen und zum Lenken derselben auf die jeweiligen Detektoren.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist die Strahlteilereinrichtung zum Teilen des Eingangsstrahls in die Teilstrahlen unter spektraler Trennung derselben vorgesehen.
Weiterhin ist es vorzugsweise vorgesehen, dass die gemeinsame Spektrometeroptik im Strahlengang des Eingangsstrahls und im gemeinsamen Strahlengang der zusammengefassten Teilstrahlen angeordnet ist.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist es vorgesehen, dass die Diffraktionseinrichtung drei im Strahlengang virtuell überlagerte Diffraktionsgitter enthält, und dass die Detektoreinrichtung drei, den jeweiligen Spektralbereichen zugeordnete Detektoren enthält.
Im folgenden werden das erfindungsgemäße Verfahren und die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren anhand eines Ausführungsbeispiels erläutert. Die Figur zeigt eine schematisierte Darstellung der wesentlichen optischen Komponenten und des Strahlengangs eines Spektrometers zur Detektierung optischer Spektren, bei denen Verfahren und Vorrichtung der Erfindung gemäß einem Ausführungsbeispiel verwirklicht sind.
In der Figur ist eine Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren, d.h. ein Spektrometer gezeigt, bei welchem ein Einfallsstrahl 4 einer optischen Strahlung, dessen spektrale Zusammensetzung ermittelt werden soll, durch einen Eintrittsspalt 7 eintritt. Durch eine Spektrometeroptik 8, die aus einem entsprechenden Linsensystem besteht, wird der Einfallsstrahl 4 auf eine insgesamt mit dem Bezugszeichen 10 bezeichnete Diffraktionseinrichtung gelenkt.
Die Diffraktionseinrichtung 10 umfasst ein erstes Diffraktionsgitter 11 , ein zweites Diffraktionsgitter 12 und ein drittes Diffraktionsgitter 13, welche durch eine einen ersten Strahlteiler 5 und einen zweiten Strahlteiler 6 enthaltende
Strahlteilereinrichtung im Strahlengang des Einfallsstrahls 4 virtuell überlagert sind. Das bedeutet, durch den ersten Strahlteiler 5 wird ein Teilstrahl 1 , der aus einem Teil des Einfallsstrahls 4 besteht, unter Reflektion auf das erste Diffraktionsgitter 11 gelenkt, während, der verbleibende Teil des Einfallsstrahls 4 unter Transmission durch den ersten Strahlteiler 5 hindurch zu dem zweiten
Strahlteiler 6 gelangt. Von dem zweiten Strahlteiler 6 wird ein zweiter Teilstrahl 2 unter Reflektion auf das zweite Diffraktionsgitter 12 gelenkt, während der Rest des
Einfallsstrahls 4 in Form eines dritten Teilstrahls 3 unter Transmission durch den zweiten Strahlteiler 6 hindurch zu dem dritten Diffraktionsgitter 13 gelangt.
Nach Beugung und damit spektraler Zerlegung der auf die jeweiligen
Diffraktionsgitter 11 , 12, 13 gelangten Teilstrahlen 1 , 2, 3 werden diese, jetzt in disperser Form, durch die Strahlteiler 5, 6 wieder zu einem gemeinsamen Strahlengang 9 zusammengefasst. Das heißt, der das erste Diffraktionsgitter 11 verlassende Teilstrahl 1 wird durch Reflektion an dem ersten Strahlteiler 5 in den gemeinsamen Strahlengang 9 gelenkt, der von dem zweiten Diffraktionsgitter 12 kommende zweite Teilstrahl 2 wird durch Reflektion an dem zweiten Strahlteiler 6 zu dem ersten Strahlteiler 5 und unter Transmission durch diesen hindurch in den gemeinsamen Strahlengang 9 gelenkt und der von dem dritten Diffraktionsgitter 13 kommende dritte Teilstrahl 3 wird unter Transmission sowohl durch den zweiten Strahlteiler 6 als auch durch den ersten Strahlteiler 5 hindurch ebenfalls in dem gemeinsamen Strahlengang 9 gelenkt. Die in dem gemeinsamen Strahlengang 9 zusammengefassten Teilstrahlen 1, 2, 3 passieren nun gemeinsam die Spektrometeroptik 8 und werden von dieser auf eine insgesamt mit dem Bezugszeichen 20 bezeichnete Detektoreinrichtung abgebildet.
Diese Detektoreinrichtung 20 enthält einen ersten Detektor 21, einen zweiten Detektor 22 und einen dritten Detektor 23. Zwischen die Detektoren 21 , 22, 23 und die Spektrometeroptik 8 sind ein erster Spektralteiler 25 und ein zweiter Spektralteiler 26 geschaltet. Der erste Spektralteiler 25 lässt unter spektraler Zerlegung des gemeinsamen Strahlengangs 9 einen Teil desselben auf den ersten Detektor 21 hindurchtreten, während der übrige Teil unter Reflektion zu dem zweiten Spektralteiler 26 abgelenkt wird. Von diesem verbleibenden Strahl wird von dem zweiten Spektralteiler 26 wiederum ein Teil unter Reflektion auf den zweiten Detektor 22 abgelenkt, während der Rest unter Transmission zu dem dritten Detektor 23 hindurchgelassen wird.
Die spektrale Transmissions- und Reflektionscharakteristik der beiden Spektralteiler 25, 26 ist vorzugsweise so gewählt, dass zu jedem der Detektoren 21 , 22, 23 jeweils ein dem ersten Teilstrahl 1 bzw. dem zweiten Teilstrahl 2 bzw. dem dritten Teilstrahl 3 entsprechender 'Spektralbereich des gemeinsamen Strahlengangs 9 gelangt. Auf diese Weise werden die aus dem Einfallsstrahl 4 mittels der Strahlteiler 5, 6 erzeugten Teilstrahlen 1, 2, 3 nach dem Passieren der in der Diffraktionseinrichtung 10 virtuell überlagerten Diffraktionsgitter 11 , 12, 13 nach dem Durchlaufen der Spektrometeroptik 8 spektral getrennt in den auch räumlich getrennten, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten Detektoren 21 , 22, 23 erfasst.
Die Strahlteiler 5, 6, welche aus dem Einfallsstrahl 4 die Teilstrahlen 1, 2, 3 erzeugen, sind vorzugsweise so ausgebildet, dass bereits in ihnen die Teilstrahlen 1 , 2, 3 unter entsprechender spektraler Trennung aus dem Einfallsstrahl 4 erzeugt werden. Das heißt, die jeweiligen Spektralbereiche der einzelnen Teilstrahlen 1, 2, 3 entsprechen im wesentlichen den jeweiligen Spektralbereichen der von der Spektralteilereinrichtung 25, 26 zu den einzelnen Detektoren 21, 22, 23 gelenkten Strahl bereiche.
Auf diese Weise kann, zum Beispiel, der am ersten Diffraktionsgitter 11 verarbeitete erste Teilstrahl zu dem ersten Detektor 21 gelangen, der an dem zweiten Diffraktionsgitter 12 verarbeitete zweite Teilstrahl 2 zu dem zweiten Detektor 22 gelangen und der an dem dritten Diffraktionsgitter 13 verarbeitete dritte Teilstrahl 3 zu dem dritten Detektor 23 gelangen. Dies ist unter der Voraussetzung, dass der erste Teilstrahl 1 an dem ersten Strahlteiler 5 reflektiert und an dem ersten Spektralteiler 25 transmittiert wird, der zweite Teilstrahl 2 an dem ersten Strahlteiler 5 transmittiert und an dem zweiten Strahlteiler 6 reflektiert und sowohl an dem ersten Spektralteiler 25 als auch an dem zweiten Spektralteiler 26 reflektiert wird, und dass der dritte Teilstrahl 3 an beiden Spektralteilern 5, 6 transmittiert und an dem ersten Spektralteiler 25 reflektiert und an dem zweiten Spektralteiler 26 transmittiert wird. Bei einer Änderung des Aufbaus und/oder der Transmissions- bzw. Reflektionscharakteristik eines oder mehrerer der Strahlteilereinrichtung 5, 6 und/oder der Spektralteilereinrichtung 25, 26 wäre die Zuordnung der einzelnen Teilstrahlen 1, 2, 3 zu den einzelnen Diffraktionsgittern 11 , 12, 13 und den einzelnen Detektoren 21 , 22, 23 entsprechend anders.
Wie aus der Figur ersichtlich ist, verlaufen der Einfallsstrahl 4 und die zu dem gemeinsamen Strahlengang 9 zusammengefassten Teilstrahlen 1 , 2, 3 dieselbe Spektrometeroptik 8, jedoch in entgegengesetzter Richtung. Das heißt, der Eintrittsspalt 7 wird durch die Spektrometeroptik 8 ins Unendliche abgebildet, wo sich die virtuell überlagerten Diffraktionsgitter 11, 12, 13 befinden, und von dort wiederum durch die Spektrometeroptik 8 auf die Detektoren 21 , 22, 23 abgebildet. Sowohl der Eintrittsspalt 7 als auch die Detektoren 21 , 22, 23 befinden sich bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel also jeweils im Brennpunkt der Spektrometeroptik 8.
Bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel enthält die Diffraktionseinrichtung 10 drei im Strahlengang virtuell überlagerte Diffraktionsgitter 11 , 12, 13 und die Detektoreinrichtung 20 enthält ebenfalls drei Detektoren 21 , 22, 23, die den jeweiligen Spektralbereichen zugeordnet sind. Bei anderen Ausführungsbeispielen können jedoch auch nur zwei der Diffraktionsgitter 11 , 12, 13 oder eine größere Anzahl als drei und/oder auch nur zwei der Detektoren 21, 22, 23 und/oder mehr als drei Detektoren vorgesehen sein.
Unter optischen Spektren, welche erfindungsgemäß verarbeitet werden können, sollen jedwede solche verstanden werden, welche mit optischen Komponenten verarbeitet werden können.
Bezugszeichenliste
1 Teilstrahl Teilstrahl Teilstrahl Einfallsstrahl Strahlteiler Strahlteiler Eintrittspalt Spektrometeroptik gemeinsamer Strahlengang 0 Diffraktionseinrichtung 1 Diffraktionsgitter2 Diffraktionsgitter 3 Diffraktionsgitter0 Detektoreinrichtung 1 Detektor2 Detektor3 Detektor5 Spektralteiler6 Spektralteiler

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Detektierung optischer Spektren, bei dem aus einem Einfallsstrahl (4) erzeugte, zwei oder mehr, verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Teilstrahlen (1 , 2, 3) eine Spektrometeroptik (8) durchlaufen und räumlich getrennt detektiert werden, dadurch gekennzeichnet, dass die aus dem Einfallsstrahl (4) erzeugten Teilstrahlen (1 , 2, 3) auf jeweilige räumlich getrennte, im Strahlengang virtuell überlagerte, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Diffraktionsgitter (11 , 12, 13) gelenkt und nach dem Passieren der Diffraktionsgitter (11, 12, 13) zu einem die Spektrometeroptik (8) durchlaufenden gemeinsamen Strahlengang (9) zusammengefasst werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die den verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten Teilstrahlen (1 , 2, 3) nach dem Durchlaufen der Spektrometeroptik (8) spektral getrennt und in räumlich getrennten, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten Detektoren (21 , 22, 23) erfasst werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Teilstrahlen (1, 2, 3) bei ihrer Erzeugung aus dem Einfallsstrahl (4) spektral getrennt werden.
4. Verfahren nach Anspruch 1 , 2, oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Einfallsstrahl (4) und die zu dem gemeinsamen Strahlengang (9) zusammengefassten Teilstrahlen (1 , 2, 3) dieselbe Spektrometeroptik (8) durchlaufen.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass aus dem Einfallsstrahl (4) drei spektral getrennte Teilstrahlen (1, 2, 3) erzeugt, diese auf drei im Strahlengang virtuell überlagerte Diffraktionsgitter (1 1 , 12, 13) gelenkt und nach dem Durchlaufen der Spektrometeroptik (8) in drei, den jeweiligen Spektralbereichen zugeordneten Detektoren (21 , 22, 23) erfasst werden.
6. Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren, mit einer im Strahlengang eines Einfallsstrahls (4) angeordneten Diffraktionseinrichtung (10), einer von zwei oder mehr, verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten, aus dem Einfallsstrahl (4) erzeugten Teilstrahlen (1 , 2, 3) durchlaufenen Spektrometeroptik (8) und einer Detektoreinrichtung (20) zur räumlich getrennten Detektierung der den verschiedenen Spektralbereichen zugeordneten Teilstrahlen (1 , 2, 3), dadurch gekennzeichnet, dass die Diffraktionseinrichtung (10) räumlich getrennte, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Diffraktionsgitter (11 , 12, 13) und eine Strahlteilereinrichtung (5, 6) zum Teilen des Einfallsstrahls (4) in die jeweiligen, auf die Diffraktionsgitter (11, 12, 13) gelenkten Teilstrahlen (1 , 2, 3) und zum nachfolgenden Zusammenfassen der Teilstrahlen (1 , 2, 3) zu einem die Spektrometeroptik (8) durchlaufenden gemeinsamen Strahlengang (9) im Sinne einer virtuellen Überlagerung der Diffraktionsgitter (11 , 12, 13) enthält.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoreinrichtung (20) jeweilige, den verschiedenen Spektralbereichen zugeordnete Detektoren (21 , 22, 23) und eine spektrale Trenneinrichtung (25, 26) zum spektralen Trennen der in dem gemeinsamen Strahlengang (9) zusammengefassten Teilstrahlen (1 , 2, 3) und zum Lenken derselben auf die jeweiligen Detektoren (21 , 22, 23) enthält.
8. Vorrichtung nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlteilereinrichtung (5, 6) zum Teilen des Eingangsstrahls (4) in die Teilstrahlen (1, 2, 3) unter spektraler Trennung derselben vorgesehen ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 6, 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Spektrometeroptik (8) im Strahlengang des Eingangsstrahls (4) und im gemeinsamen Strahlengang (9) der zusammengefassten Teilstrahlen (1 , 2, 3) angeordnet ist.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Diffraktionseinrichtung (10) drei im Strahlengang virtuell überlagerte Diffraktionsgitter (11 , 12, 13) enthält, und dass die Detektoreinrichtung (20) drei, den jeweiligen Spektralbereichen zugeordnete Detektoren (21, 22, 23) enthält.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1916507A1 (de) 2006-10-25 2008-04-30 Hamamatsu Photonics K. K. Vorrichtung zur spektroskopischen Analyse
US7403286B2 (en) 2005-05-27 2008-07-22 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic analyzing apparatus

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012007609A1 (de) * 2012-04-05 2013-10-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optisches Weitbereichsspektrometer
US9291501B2 (en) * 2012-07-26 2016-03-22 Raytheon Company High efficiency multi-channel spectrometer
US20220271859A1 (en) * 2021-02-19 2022-08-25 Nokia Solutions And Networks Oy Wavelength selective switch with direct grating interface

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1989000280A1 (en) * 1987-07-07 1989-01-12 Beckman Riic Limited Improvements in and relating to spectrophotometers
US5638173A (en) * 1994-05-24 1997-06-10 Renishaw Plc Spectrum splitting spectroscopic apparatus

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4192611A (en) * 1978-03-13 1980-03-11 Baxter Travenol Laboratories, Inc. Reflectivity compensating apparatus
US5276321A (en) * 1991-04-15 1994-01-04 Geophysical & Environmental Research Corp. Airborne multiband imaging spectrometer
JP3022559B1 (ja) * 1999-05-20 2000-03-21 日本電信電話株式会社 三次元表示システム
US6791086B2 (en) * 2001-08-31 2004-09-14 Respironics, Inc. Microspectrometer gas analyzer
US7262846B2 (en) * 2004-06-28 2007-08-28 Aspectrics, Inc. Encoder spectrograph for analyzing radiation using spatial modulation of radiation dispersed by wavelength

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1989000280A1 (en) * 1987-07-07 1989-01-12 Beckman Riic Limited Improvements in and relating to spectrophotometers
US5638173A (en) * 1994-05-24 1997-06-10 Renishaw Plc Spectrum splitting spectroscopic apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7403286B2 (en) 2005-05-27 2008-07-22 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic analyzing apparatus
EP1916507A1 (de) 2006-10-25 2008-04-30 Hamamatsu Photonics K. K. Vorrichtung zur spektroskopischen Analyse

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