WO2005106512A1 - マニュアル試験用器具 - Google Patents

Abstract

　ソケットガイド６に脱着可能に装着され、ソケット５１の接続端子に対するＩＣデバイス７の平面方向の位置を規定することのできるＩＣデバイス収容部材２と、高さ方向の位置が可変となっており、ＩＣデバイス７の上面に当接してＩＣデバイス７の高さ方向の位置を規制する当接部材３１を有する高さ規制装置３とからマニュアル試験用器具１を構成する。当接部材３１の高さ方向の位置は、深さの異なる溝３５１が複数形成されたブロック３５と、そのブロック３５の溝３５１に嵌る腕部３４２が形成された規制部材３４との組み合わせによって変更することができる。

Description

マニュアル試験用器具

技術分野

本発明は、 I Cデバイス等の電子部品をマニュアルで試験するための 器具に関するものである。

明 田

背景技術

書

I Cデバイス等の電子部品を試験するための試験装置の一種として、 I Cデバイスをテストへッド上に搬送し、 プッシャ駆動装置によって駆 動されるプッシャにより I Cデバイスをテストヘッ ドのソケットに押 し付けて、 I Cデバイスの外部端子をソケッ 卜の接続端子に電気的に接 続させ、 テストへッドからの電気信号により I Cデバイスの試験を行い、 その試験結果に応じて、 少なくとも良品チップと不良品チップとに分別 する電子部品試験装置が知られている。

上記電子部品試験装置は、完成品としての I Cデバイスを短時間で多 数、 自動的に試験するのに有用なものであるが、 I Cデバイスが試作品 の段階では、 上記電子部品試験装置のテストヘッドを使用して、 少数の

I Cデバイスをマニュアルで試験し、その試験結果に基づいてデバッグ することが行われている。

かかるマニュアル試験では、 従来より、 図 4および図 5に示されるよ うなマニュアル試験用の器具 8 (以下 「試験器具 8」 という。 ） が使用 されている。 この試験器具 8においては、 本体部 8 1の下面側に凹状の デバイス収容部 8 3が形成されており、 デバイス収容部 8 3に I Cデバ イス 7を収容した後、 中央部に開口部 8 2 1が形成された固定プレート 8 2をデバイス収容部 8 3の周囲に取り付け、 I Cデバイス 7の外部端 子を固定プレート 8 2の開口部 8 2 1から露出させた状態で I Cデバ イス 7を本体部 8 1に固定する。 そして、 口一レットネジ 4を本体部 8

1の孔 8 4に貫通させ、 ソケットポ一ド 5上、 ソケッ ト 5 1の周囲に設 けられたソケッ トガイ ド 6のネジ穴 6 2に螺合させることにより、 I C デバイス 7の外部端子をソケット 5 1のプローブピンに接続させ、 I C デバイス 7を試験に付す。

上記試験器具 8において、 デバイス収容部 8 3は、 I Cデバイス 7の 外部端子をソケット 5 1のプローブピンに確実に接続させるために、 I

Cデバイス 7の形状に対応する寸法 （縦 '横 '深さ） を有しており、 ま た、 固定プレート 8 2も、 I Cデバイス 7の外部端子の配列形状に対応 する形状の開口部 8 2 1を有している。 したがって、 形状の異なる I C デバイス 7を試験する場合には、 デバイス収容部 8 3および固定プレー ト 8 2、 すなわち試験器具 8全体を交換する必要がある。

I Cデバイス 7が多品種になれば、試験器具 8の数も必然的に多くな り、 コストが嵩むとともに、 多品種の I Cデバイス Ίに応じて試験器具

8を使い分けなくてはならず、 試験作業が煩雑なものとなる。 発明の開示

本発明は、 上記のような実状に鑑みてなされたものであり、 異なる種 類の電子部品に対しても対応することのできるマニュアル試験用器具 を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、 第 1に本発明は、 電子部品の外部端子を 電子部品試験装置のコンタク ト部に接続させるためのマニュアル試験 用器具であって、 前記コン夕クト部に対する電子部品の平面方向の位置 を規定することのできる平面位置規定部と、 電子部品の上面に当接する 当接部材を有し、 前記当接部材によって前記電子部品の高さ方向の位置 を規制することのできる高さ規制部とを備えており、 前記高さ規制部の 当接部材は、 その高さ方向の位置が可変であることを特徴とするマニュ アル試験用器具を提供する （発明 1 ) 。

第 2に本発明は、 電子部品の外部端子を電子部品試験装置のソケット に設けられた接続端子に接続させるためのマニュアル試験用器具であ つて、前記ソケッ卜および Zまたは前記ソケットのガイ ドに脱着可能に 装着され、 前記ソケットの接続端子に対する電子部品の平面方向の位置 を規定することのできる平面位置規定部と、 前記平面位置規定部におけ る前記ソケットの反対側に設けられた、 電子部品の高さ方向の位置を規 制することのできる高さ規制部とを備えており、 前記高さ規制部は、 電 子部品の上面に当接する当接部材と、 前記当接部材の高さ方向の位置を 変更させることのできる高さ可変部材とを備えて構成されていること を特徴とするマニュアル試験用器具を提供する （発明 2 ) 。

上記発明 （発明 1 , 2 ) においては、 平面位置規定部によって電子部 品の平面方向の位置を規定することができるとともに、 電子部品の上面 に当接する当接部材の高さ方向の位置を変えることにより、 異なる厚さ の電子部品にも対応することができ、 当該電子部品のマニュアル試験を 行うことができる。 また、 平面位置規定部と高さ規制部とを別体構成に することにより、 平面方向の大きさが異なる電子部品についても、 平面 位置規定部のみを変更することにより対応することができ、 マニュアル 試験用器具全体を変更する必要がない。

上記発明 （発明 2 ) において、 前記高さ可変部材は、 前記当接部材の 高さ方向の位置を規制する規制部材と、 前記規制部材の一部が接触する、 高さの異なる接触部を有するプロックとを備えており、 前記規制部材は、 前記ブロックの接触部に対する接触位置に応じて、 前記規制部材の髙さ 方向の位置が可変となっていてもよい （発明 3 ) 。

上記発明 （発明 3 ) によれば、 簡単な構成で当接部材の高さ方向の位 置を変えることができる。

上記発明 （発明 3 ) において、 前記ブロックには深さの異なる溝が複 数形成されており、 前記溝の奥面が前記接触部を構成し、 前記規制部材 には、 前記ブロックの溝に嵌る腕部が形成されていてもよい （発明 4 ) 上記発明 （発明 4 ) によれば、 規制部材の腕部がブロックの溝に嵌る ことにより、 規制部材、 ひいては当接部材の高さ方向の位置を確実に変 更および保持することができる。

上記発明 （発明 4 ) において、 前記ブロックの溝は平面視放射状に形 成されており、 前記規制部材は、 前記平面視放射状の溝の中心を軸とし て回転可能に設けられていてもよい （発明 5 ) 。

上記発明 （発明 5 ) によれば、 規制部材を回転させることにより、 規 制部材、 ひいては当接部材の高さ方向の位置を簡単に変更することがで さる。

上記発明 （発明 5 ) において、 前記規制部材の中心部は、 前記規制部 材を回転させ得る操作部となっていることが好ましい （発明 6 ) 。

上記発明 （発明 6 ) によれば、 操作部を回転させることにより、 規制 部材、 ひいては当接部材の高さ方向の位置を簡単に変更することができ る。

上記発明 （発明 3〜 6 ) において、 前記当接部材は、 弾性体によって 前記規制部材に対し付勢されており、それによつて前記規制部材は前記 ブロックの接触部に対し付勢されていることが好ましい （発明 7 ) 。 上記発明 （発明 7 ) によれば、 当接部材と規制部材、 規制部材とブ口 ックの接触部との間の遊びがなくなり、 当接部材の高さ方向の位置を確 実に規定することができる。 上記発明 （発明 7 ) において、 前記規制部材は、 前記弾性体による付 勢に反して前記当接部材側に押圧されることにより、 前記ブロックの接 触部から離隔し、 前記規制部材の高さ方向の位置を変え得るようになつ ていることが好ましい （発明 8 ) 。

上記発明 （発明 8 ) によれば、 規制部材、 ひいては当接部材の高さ方 向の位置を容易かつ確実に変更および保持することができる。

上記発明 （発明 2〜 8 ) において、 前記高さ規制部は、 前記当接部材 をガイドするガイド部材をさらに備えていることが好ましい（発明 9 )。 上記発明 （発明 9 ) によれば、 高さ方向の位置が可変の当接部材を確 実に案内 ·保持することができる。

上記発明 （発明 7， 8 ) おいて、 前記高さ規制部は、 前記当接部材を ガイ ドする、 前記平面位置規定部に装着される第 1のガイド部材と、 前 記第 1のガイ ド部材における前記平面位置規定部の反対側に設けられ た第 2のガイド部材とを備えており、 前記当接部材にはフランジが形成 されており、前記当接部材のフランジと前記第 1のガイ ド部材との間に 前記弾性体が設けられていることが好ましい （発明 1 0 ) 。

上記発明 （発明 1 0 ) によれば、 高さ方向の位置が可変の当接部材を 確実に案内 ·保持することができるとともに、 簡単な構成で当接部材を 規制部材に対して付勢することができ、 高さ規制部の組み立ても容易で ある。 図面の簡単な説明

図 1は、 本発明の一実施形態に係るマニュアル試験用器具の分解斜視 図である。

図 2は、 同実施形態に係るマニュアル試験用器具の一部の分解斜視図 である。 図 3は、 同実施形態に係るマニュアル試験用器具の動作を示す概略斜 視図および断面図である。

図 4は、従来のマニュアル試験用器具の上面側から見た分解斜視図で ある。

図 5は、 従来のマニュアル試験用器具の下面側から見た分解斜視図で ある。 発明を実施するための最良の形態

以下、 本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。

図 1に示すように、 本実施形態に係るマニュアル試験用器具 1 (以下 「試験器具 1」 という。 ） は、 I Cデバイス 7 (本発明における電子部 品の一例， 平面視矩形の形状を有する） を収容するデバイス収容部材 2 (本発明における平面位置規定部の一例） と、 I Cデバイス 7の高さ方 向の位置を規制する高さ規制装置 3とを備えている。

デバイス収容部材 2は、 全体として、 4つの角部が切り欠かれた略板 状の形状を有している。 デバイス収容部材 2の中央部には、 平面視略矩 形の貫通穴からなるデバイス収容部 2 1が形成されており、 デバイス収 容部材 2の両端部には、後述するソケッ トガイド 6のガイドブッシュ 6 1が挿入される貫通孔 2 2 , 2 2が形成されている。

デバイス収容部材 2のデバイス収容部 2 1は、 I Cデバイス 7の 4つ の側面がぴったりと接し得る 4つの内側壁を有しており、 各内側壁の上 部は I Cデバイス 7を投入し易いようにわずかに拡がっている。

このデバイス収容部 2 1は、 I Cデバイス 7の下面エッジ部分 （外部 端子が形成されていない周縁部） を利用して I Cデバイス 7を支持する ものではないため、 エッジ部分の面積の小さい I Cデバイス 7にも問題 なく対応することができる。 高さ規制装置 3は、 デバイス収容部材 2に収容された I Cデバイス 7 の上面に当接する当接部材 3 1と、 当接部材 3 1の下部をガイドする口 ァーガイ ド 3 2と、 当接部材 3 1の上部をガイ ドするアッパーガイド 3 3と、 当接部材 3 1の高さ方向の位置を規制する規制部材 3 4と、 規制 部材 3 4の高さ方向の位置を決定するブロック 3 5と、 当接部材 3 1を 付勢するコイルスプリング 3 6とを備えている。

当接部材 3 1は、 四角柱状の本体部 3 1 1と、 上端部に形成された円 柱状のボス 3 1 2と、 本体部 3 1 1およびボス 3 1 2との間に形成され たフランジ 3 1 3とから構成されている。

ロア一ガイド 3 2は、 全体として、 上記デバイス収容部材 2に被せら れ、 デバイス収容部材 2に嵌合する形状を有している。 ロアーガイド 3 2の中央部には、 当接部材 3 1の本体部 3 1 1が挿入され当該本体部 3 1 1をガイ ドする平面視矩形の貫通穴からなるガイ ド穴 3 2 1が形成 されており、 ロアーガイド 3 2の下側両端部には、 デバイス収容部材 2 の貫通孔 2 2 , 2 2および後述するソケットガイ ド 6のガイ ドブッシュ 6 1の穴に挿入されるガイ ドピン 3 2 2， 3 2 2が形成されている。 ま た、 ロアーガイ ド 3 2のガイ ド穴 3 2 1の近傍には、 アッパーガイド 3 3およびブロック 3 5を固定するためのネジ 3 7 , 3 7が螺合するネジ 穴 3 2 4， 3 2 4が形成されており、ロアーガイ ド 3 2の両端角部には、 ローレットネジ 4， 4が貫通する貫通孔 3 2 3， 3 2 3が形成されてい る。 ロアーガイド 3 2の底面は、 後述するソケットガイ ド 6のストッパ 部 6 3に当接する当接面 3 2 5となっている。

コイルスプリング 3 6は、 ロアーガイ ド 3 2の上面と、 当接部材 3 1 のフランジ 3 1 3との間に設けられ、 コイルスプリング 3 6の弾性力に よって、当接部材 3 1はロアーガイ ド 3 2の反対方向（規制部材 3 4側) に付勢される。 アッパーガイ ド 3 3は、全体として、略四角柱状の形状を有している。 アッパーガイド 3 3の中央には、 当接部材 3 1のボス 3 1 2が挿入され 当該ボス 3 1 2をガイ ドする平面視円形の貫通孔 3 3 1が形成されて おり、 アッパーガイ ド 3 3の下側には、 当接部材 3 1の上部が挿入され 当接部材 3 1のフランジ部 3 1 3をガイ ドする平面視円形の穴からな るガイド穴 3 3 2が形成されている。 また、 アッパーガイ ド 3 3の上側 には、 規制部材 3 4が嵌って回動し得るように、 扇形を 2つ組み合わせ たような形状の凹部 3 3 3が形成されている。 さらに、 アッパーガイ ド 3 3の角部には、 ネジ 3 7， 3 7が貫通する貫通孔 3 3 4 , 3 3 4が形 成されている。

図 1および図 2に示すように、 規制部材 3 4は、 全体として、 側面視 略 T字状の形状を有している。 この規制部材 3 4は、 上部に略円柱状の 操作部 3 4 3を備えており、 下端部に、 上記アッパーガイ ド 3 3の貫通 孔 3 3 1に挿入され得る円柱状のボス 3 4 1を備えており、 操作部 3 4 3の上端部には、 マイナスドライバーの先端が揷入され得る溝が形成さ れている。規制部材 3 4における操作部 3 4 3とボス 3 4 1との間には、 規制部材 3 4の径方向に延びている 2本の腕部 3 4 2 , 3 4 2が形成さ れており、 本実施形態では 2本の腕部 3 4 2， 3 4 2は直線上に並んで いる。

図 1および図 2に示すように、 ブロック 3 5は、 全体として、 略四角 柱状の形状を有している。 ブロック 3 5の中央には、 規制部材 3 4の操 作部 3 4 3が挿入され当該操作部 3 4 3をガイ ドする平面視円形の貫 通孔 3 5 2が形成されており、 ブロック 3 5の角部には、 ネジ 3 7， 3 7のネジ部が貫通し、 ネジ 3 7， 3 7の頭部が係止する穴 3 5 3， 3 5 3が形成されている。

ブロック 3 5の下側には、 深さの異なる溝 3 5 1が平面視放射状に複 数形成されている。 この溝 3 5 1は、 規制部材 3 4の腕部 3 4 2が嵌合 する形状となっており、貫通孔 3 5 2を挟んで互いに対向する溝 3 5 1 の深さは同じになっている。 本実施形態では、 溝 3 5 1は 1 0本形成さ れており、 したがって溝 3 5 1の深さは 5段階となっている。 この溝 3 5 1の深さは、 I Cデバイス 7の厚さに応じて適宜変更することができ るが、 例えば、 0 . 8 mm、 1 . 0 mm、 1 . 2 mm、 1 . 4 mmおよ び 1 . 6 mmの深さとすることができる。

プロック 3 5の上面において、 貫通孔 3 5 2の周囲には、 上記各溝 3 5 1の深さを示すインジケータを付してもよい。

高さ規制装置 3を組み立てるには、 ブロック 3 5とアッパーガイド 3 3との間に規制部材 3 4を収容し、 ロア一ガイド 3 2の上面と、 当接部 材 3 1のフランジ 3 1 3との間にコイルスプリング 3 6を介在させて、 当接部材 3 1の上部をアッパーガイド 3 3のガイ ド穴 3 3 2、 当接部材 3 1の下部をロアーガイ ド 3 2のガイド穴 3 2 1に挿入する。その状態 でネジ 3 7， 3 7をブロック 3 5の穴 3 5 3 , 3 5 3およびアッパーガ イド 3 3の貫通孔 3 3 4， 3 3 4に挿入し、 ロア一ガイド 3 2のネジ穴 3 2 4 , 3 2 4に螺合させる。

このとき、 コイルスプリング 3 6の弹性力によって、 当接部材 3 1は 規制部材 3 4側に付勢され、 当接部材 3 1のボス 3 1 2の上端面は規制 部材 3 4のボス 3 4 1の下端面に当接し、規制部材 3 4はブロック 3 5 側に付勢される。 そして、 規制部材 3 4の腕部 3 4 2の上面は、 ブロッ ク 3 5の溝 3 5 1の奥面に押し付けられることとなる。

このように、 規制部材 3 4の腕部 3 4 2が嵌っているブロック 3 5の 溝 3 5 1の深さに応じて、 規制部材 3 4の高さ方向の位置が決定され、 それに伴って、規制部材 3 4の下側に存在する当接部材 3 1 (の下端面） の高さ方向の位置が決定される。 当接部材 3 1の高さ方向の位置を変更するには、 最初に、 図 3 ( a ) 〜 （b ) に示すように、 マイナスドライバー Dの先端を、 規制部材 3 4 における操作部 3 4 3の上端部の溝に挿入し、 コイルスプリング 3 6の 弹性力に反して規制部材 3 4を下方に押圧する。 これによつて、 規制部 材 3 4の腕部 3 4 2がブロック 3 5の溝 3 5 1から離隔し、規制部材 3 4は回転可能となる。 そして、 規制部材 3 4の腕部 3 4 2がプロック 3 5における所望の深さの溝 3 5 1の下側に位置するまで操作部 3 4 3 を回転させてから、 図 3 ( c ) に示すように、 規制部材 3 4の下方への 押圧を解除し、 コイルスプリング 3 6の弾性力によって規制部材 3 4の 腕部 3 4 2をブロック 3 5の溝 3 5 1に嵌め、 腕部 3 4 2の上面を溝 3 5 1の奥面に当接させる。

次に、 上記試験器具 1を使用してマニュアル試験を行う方法について 説明する。

ここで、 試験器具 1の装着対象は、 以下のような構成になっている。 すなわち、 電子部品試験装置のテストへッド上には、 ソケットポ一ド 5 が配置されており、 ソケットボード 5上には、 プローブピンを複数有す るソケット 5 1が設けられている。 プローブピンは、 I Cデバイス 7の 外部端子に対応する数およびピッチで設けられており、 スプリングによ つて上方向にバネ付勢されている。

ソケット 5 1の周囲には、 ソケットガイ ド 6が固定されている。 ソケ ットガイド 6の両端部中央には、 デバイス収容部材 2の貫通孔 2 2， 2 2に嵌合し得るガイドブッシュ 6 1 , 6 1が設けられており、 ガイ ドブ ッシュ 6 1 , 6 1には、 ロア一ガイド 3 2のガイ ドピン 3 2 2 , 3 2 2 が嵌合し得る穴が形成されている。 また、 ソケッ トガイ ド 6の両端部に おけるガイ ドブッシュ 6 1 , 6 1の近傍には、 ロア一ガイ ド 3 2の当接 面 3 2 5が当接し得るストッパ部 6 3 , 6 3が形成されており、 ストツ パ部 6 3， 6 3 (ソケットガイド 6の両端角部） には、 ローレットネジ 4が螺合し得るネジ穴 6 2 , 6 2が形成されている。

マニュアル試験を行う場合、最初にデバイス収容部材 2をソケットガ イド 6に装着する。 具体的には、 ソケットガイド 6のガイドブッシュ 6 1， 6 1をデバイス収容部材 2の貫通孔 2 2， 2 2に挿入するようにし て、 デバイス収容部材 2をソケットガイド 6上に被せる。 このとき、 デ バイス収容部材 2のデバイス収容部 2 1にはソケッ ト 5 1のプローブ ピンが露出している。

この状態で、 I Cデバイス 7をデバイス収容部材 2のデパイス収容部 2 1内に落とし込む。 I Cデバイス 7は、 プローブピン上に載置され、 I Cデバイス 7の 4つの側面は、 デバイス収容部材 2の 4つの内側壁に ぴったりと接し、 もって I Cデバイス 7の平面方向 （X軸方向および Y 軸方向） の位置が規定される。 これにより、 I Cデバイス 7の外部端子 とプロ一ブピンとの位置合わせが確実に行われる。

次に、 I Cデバイス 7の厚さに応じて規制部材 3 4および当接部材 3 1を所定の高さに設定した高さ規制装置 3を、 デバイス収容部材 2に装 着する。 具体的には、 ロア一ガイ ド 3 2をデバイス収容部材 2に被せ、 デバイス収容部材 2の貫通孔 2 2 , 2 2を介して、 ロア一ガイド 3のガ イドピン 3 2 2 , 3 2 2をソケッ トガイ ド 6のガイドブッシュ 6 1 , 6 1の穴に挿入する。 そして、 ローレットネジ 4をロアーガイ ド 3 2の貫 通孔 3 2 3， 3 2 3に貫通させ、 ソケッ トガイド 6のネジ穴 6 2， 6 2 に螺合させる。 これにより、 高さ規制装置 3の当接部材 3 1の下端面が 所定の高さにて I Cデバイス 7の上面に当接し、 I Cデバイス 7の外部 端子がソケッ ト 5 1のプローブピンに押し付けられる。 なお、 高さ規制 装置 3の下限位置は、 ロアーガイド 3 2の当接面 3 2 5がソケットガイ ド 6のストッパ部 6 3に当接することにより規定され、 したがって、 高 さ規制装置 3は、 I Cデバイス 7やプローブピンが破損しない適切な圧 力をもって、 I Cデバイス 7の外部端子をソケット 5 1のプローブピン に押し付けることができる。

この状態で、 試験用メイン装置からソケット 5 1のプローブピンを介 して I Cデバイス 7に対して試験用電気信号を送信し試験を行う。

上記試験が終了し、 次に厚さのみ異なる別の I Cデバイス 7の試験を 行う場合には、 ローレツトネジ 4を外して高さ規制装置 3をデバイス収 容部材 2から取り外し、そしてデバイス収容部材 2から I Cデバイス 7 を取り除く。 一方、 高さ規制装置 3の規制部材 3 4をマイナスドライバ 一 Dによって押圧しながら回転させて、規制部材 3 4および当接部材 3 1を次の I Cデバイス 7の厚さに応じた高さに設定する。その後の手順 は前述したとおりである。

このように、 本実施形態に係る試験器具 1によれば、 試験器具 1を交 換することなく、 異なる厚さの I Cデバイス Ίに対応することができ、 当該 I Cデバイス 7のマニュアル試験を行うことができる。

なお、 平面方向の大きさ （X軸方向および/または Y軸方向の長さ） が異なる別の I Cデバイス 7の試験を行う場合には、 デバイス収容部材 2を、 当該 I Cデバイス 7の縦および横の長さに対応する大きさのデバ イス収容部 2 1が形成されたものに交換すればよく、試験器具 1全体を 交換する必要はない。

すなわち、 本実施形態に係る試験器具 1によれば、 使用する試験器具 1の個数が少なくて済むため、 マニュアル試験に要するコストを低減す ることができるとともに、試験器具の使い分けに起因する試験作業の煩 雑性を低下させることができる。

以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載され たものであって、 本発明を限定するために記載されたものではない。 し たがって、 上記実施形態に開示された各要素は、 本発明の技術的範囲に 属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。

例えば、 上記実施形態におけるブロック 3 5には、 深さの異なる溝 3 5 1が平面視放射状に複数形成されているが、本発明はこれに限定され るものではなく、 深さの異なる溝 3 5 1はそれぞれ平行に形成されてい てもよいし、 溝 3 5 1ではなく階段状の面またはスロープ面がブロック 3 5の下側に形成されていてもよい。 産業上の利用の可能性

以上説明したように、 本発明のマニュアル試験用器具によれば、 厚さ の異なる電子部品に対応することができ、 当該電子部品のマニュアル試 験を行うことができる。 すなわち、 本発明のマニュアル試験用器具は、 多品種の電子部品をマニュアルで試験するのに有用である。

Claims

請 求 の 範 囲

1 . 電子部品の外部端子を電子部品試験装置のコンタクト部に接続させ るためのマニュアル試験用器具であって、

前記コンタクト部に対する電子部品の平面方向の位置を規定するこ とのできる平面位置規定部と、

電子部品の上面に当接する当接部材を有し、 前記当接部材によって前 記電子部品の高さ方向の位置を規制することのできる高さ規制部とを 備えており、

前記高さ規制部の当接部材は、その高さ方向の位置が可変であること を特徴とするマニュアル試験用器具。

2 . 電子部品の外部端子を電子部品試験装置のソケットに設けられた接 続端子に接続させるためのマニュアル試験用器具であって、

前記ソケッ トおよび Zまたは前記ソケッ トのガイ ドに脱着可能に装 着され、 前記ソケットの接続端子に対する電子部品の平面方向の位置を 規定することのできる平面位置規定部と、

前記平面位置規定部における前記ソケッ卜の反対側に設けられた、 電 子部品の高さ方向の位置を規制することのできる高さ規制部とを備え ており、

前記高さ規制部は、 電子部品の上面に当接する当接部材と、 前記当接 部材の高さ方向の位置を変更させることのできる高さ可変部材とを備 えて構成されていることを特徴とするマニュアル試験用器具。

3 . 前記高さ可変部材は、 前記当接部材の高さ方向の位置を規制する規 制部材と、 前記規制部材の一部が接触する、 高さの異なる接触部を有す るブロックとを備えており、 前記規制部材は、 前記ブロックの接触部に 対する接触位置に応じて、 前記規制部材の高さ方向の位置が可変となつ ていることを特徴とする請求項 2に記載のマニュアル試験用器具。

4 . 前記ブロックには深さの異なる溝が複数形成されており、 前記溝の 奥面が前記接触部を構成し、

前記規制部材には、 前記ブロックの溝に嵌る腕部が形成されているこ とを特徴とする請求項 3に記載のマニュアル試験用器具。

5 . 前記ブロックの溝は平面視放射状に形成されており、 前記規制部材 は、 前記平面視放射状の溝の中心を軸として回転可能に設けられている ことを特徴とする請求項 4に記載のマニュアル試験用器具。

6 . 前記規制部材の中心部は、 前記規制部材を回転させ得る操作部とな つていることを特徴とする請求項 5に記載のマニュアル試験用器具。

7 . 前記当接部材は、 弾性体によって前記規制部材に対し付勢されてお り、 それによつて前記規制部材は前記ブロックの接触部に対し付勢され ていることを特徴とする請求項 3〜 6のいずれかに記載のマニュアル 試験用器具。

8 . 前記規制部材は、 前記弾性体による付勢に反して前記当接部材側に 押圧されることにより、 前記ブロックの接触部から離隔し、 前記規制部 材の高さ方向の位置を変え得るようになっていることを特徴とする請 求項 7に記載のマニュアル試験用器具。

9 . 前記高さ規制部は、 前記当接部材をガイ ドするガイ ド部材をさらに 備えていることを特徴とする請求項 2〜 8のいずれかに記載のマニュ アル試験用器具。

1 0 . 前記高さ規制部は、 前記当接部材をガイドする、 前記平面位置規 定部に装着される第 1のガイ ド部材と、 前記第 1のガイド部材における 前記平面位置規定部の反対側に設けられた第 2のガイ ド部材とを備え ており、

前記当接部材にはフランジが形成されており、 前記当接部材のフラン ジと前記第 1のガイ ド部材との間に前記弾性体が設けられていること を特徴とする請求項 7または 8に記載のマニュアル試験用器具。