WO2005071361A1 - Vorrichtung und verfahren zur kapazitiven messwerterfassung - Google Patents

Vorrichtung und verfahren zur kapazitiven messwerterfassung Download PDF

Info

Publication number
WO2005071361A1
WO2005071361A1 PCT/DE2005/000082 DE2005000082W WO2005071361A1 WO 2005071361 A1 WO2005071361 A1 WO 2005071361A1 DE 2005000082 W DE2005000082 W DE 2005000082W WO 2005071361 A1 WO2005071361 A1 WO 2005071361A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
capacitive
charge
evaluation circuit
voltage
predetermined
Prior art date
Application number
PCT/DE2005/000082
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Dieter Peter
Original Assignee
Dieter Peter
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=34800863&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=WO2005071361(A1) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Dieter Peter filed Critical Dieter Peter
Priority to EP05714888A priority Critical patent/EP1709398A1/de
Publication of WO2005071361A1 publication Critical patent/WO2005071361A1/de

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/24—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance

Definitions

  • the invention relates to a normal direction and driving for capacitive measured value acquisition.
  • Typical applications for capacitive data acquisition are thickness measurements, fire sensors, proximity detectors, activations of passive access systems or similar applications.
  • the object of the present invention is to provide devices for capacitive measurement value acquisition, which can be easily integrated into different types of evaluation circuits.
  • the device for capacitive measurement value acquisition can be part of a more complex evaluation circuit.
  • the complexity can range from simple on / off switches to sophisticated systems for determining capacitive changes.
  • FIG. 1 shows an exemplary circuit structure of a device according to the invention for capacitive measurement value acquisition.
  • the circuit has a means O which serves to influence a charge carrier current from E to A.
  • the mean Qj is exemplified as a bipolar pnp transistor.
  • the agent can also be any other agent which serves to influence a charge current from E to A, e.g. an npn transistor or a corresponding field effect transistor.
  • the mean Q ⁇ essentially has 3 connections. Port E serves as input, port B as control and port A as output.
  • the means Q can have a resistive means R E at its connection E.
  • This means can serve, for example, a suitable dimensioning of the current via the means O.
  • Resistant agent R E is driven by a source labeled CL.
  • the circuit has at least one resistor R B which connects the control connection B to the connection A either directly or via a resistor RE.
  • Resistant agent R B is driven by a source labeled CL.
  • the control connection B is also connected to a capacitive means Cs.
  • the means Cs serves as a variable means in the circuit, ie the capacitance changes due to a suitable influence.
  • the source labeled CL is an alternating voltage and can be, for example, a digital clock signal.
  • the circuit has at least one capacitive means which is connected to the terminal A.
  • This capacitive means is used for integration e.g. in a sample-and-hold circuit.
  • the circuit can have a resistive means R L , which connects the connection A and the capacitive means to the connection of a suitable digital evaluation circuit characterized by I / O.
  • the evaluation circuit can operate the connection I / O either as an input or as an output with respect to the circuit outlined in FIG. 1.
  • R L The dimensioning of R L results for the person skilled in the art from the following evaluation circuit I / O.
  • the capacitive means Cs are usually related to a common potential.
  • the individual means of the circuit outlined above can be designed both discretely and integrated.
  • the elements of the device can be part of an integrated circuit, while the evaluation circuit can be made from individual, discretely constructed components.
  • a circuit according to FIG. 1 is assumed, ie a clock signal is applied to the (via a resistor R E ) Connection A or via a resistor R B to the connection B of the pnp transistor Qi.
  • the capacitive means Cs and Q are related to earth potential.
  • the clock signal which comes from a suitable source, drives both the emitter E and the base B of the transistor Qi.
  • the capacitive agent Cs Since the resistive agent R B is connected to the capacitive agent Cs, the capacitive agent Cs must first be charged. Since the voltage at connection B rises slowly, there is a delay compared to the voltage at connection E.
  • the delay depends on the RC time given by R B and Cs.
  • a suitable choice of resistance and capacitance means that only short pulses in relation to the cycle time are available at output A.
  • the pulse duration also changes as a result of a changed time constant. This can e.g. the proximity of a dielectric body can be measured precisely.
  • the evaluation circuit can be designed, for example, in such a way that it has means by which the capacitive means is discharged at the start of a measurement. Furthermore, the evaluation circuit has means which detects that a certain threshold charge or threshold voltage has been reached at the capacitive means Q. Furthermore, the evaluation circuit can have means which determine the number of cycle times that have elapsed since the last discharge and compare it with a predetermined number. If the determined number deviates from the predetermined number, the deviation of the capacitance Cs can be determined from this.
  • the evaluation circuit can also be designed, for example, in such a way that it has means with which the capacitive means Q is discharged at the start of a measurement. Furthermore, the evaluation circuit has means which recognizes the voltage on or the charge on the capacitive means Q after a predetermined number of clock cycles.
  • the evaluation circuit can have means which compare the detected voltage or charge with a predetermined voltage or charge. If the detected voltage deviates or the charge deviates from the predetermined voltage or charge, the deviation of the capacitance Cs can be determined from this.
  • the evaluation circuit can also be designed in such a way that it has means with which the charge on the capacitive means Q is kept constant, while charge is supplied by the circuit via Qi, controlled by R B and Cs. Furthermore, the evaluation circuit has means for recognizing the discharged charge.
  • the evaluation circuit can have means which compare the detected discharged charge with a predetermined charge. If the detected discharged charge deviates from the predetermined charge, the deviation of the capacitance Cs can be determined from this.
  • Various measurement methods according to the invention are available for measurement in accordance with the evaluation circuits listed above, which are outlined below by way of example.
  • One possibility is to determine the number of charging cycles required until a certain threshold charge or threshold voltage is reached at the capacitive means Ci.
  • the medium with capacity is discharged at the start of a measurement. If a clock signal is now given by the source CL in the circuit, the voltage on the capacitive medium and thus the charge on the capacitive medium increases. The charge gets higher with every cycle and thus the voltage rises above.
  • the downstream evaluation circuit I / O switches through and the clock cycles that have elapsed since the last discharge can now be used to determine whether a change in the capacitance at Cs has occurred or not. Furthermore, it can be determined from a deviation from a predetermined number of clock cycles how large the deviation is. This enables conclusions to be drawn about the nature of the change.
  • the voltage across Q can be determined after a predetermined number of clock cycles.
  • the medium Q is again discharged at the start of a measurement. If a clock signal is now given by the source CL in the circuit, the voltage at the capacitive medium Ci and thus the charge on the capacitive medium Q increases. The charge increases with each cycle and thus the voltage rises above d. After a predetermined number of clock cycles has been reached, the voltage can now be determined by the downstream evaluation circuit I / O. On the basis of the deviation from a predetermined voltage, it can now be determined whether a change in the capacitance at Cs has occurred or not. Furthermore, it can be determined from a deviation from a predetermined voltage how large the deviation is. This enables conclusions to be drawn about the nature of the change.
  • the charge required to change a charge kept constant to Ci can be determined.
  • the charge is kept constant by the device, while charge is supplied by the circuit via Qi controlled by R B and Cs.
  • the charge changes, which must be removed by the evaluation circuit in order to keep the charge constant.
  • a deviation from a predetermined charge can be used to determine how large the deviation is. This enables conclusions to be drawn about the nature of the change.
  • the circuit structure of a device according to the invention for capacitive measurement value acquisition has a means Qi which serves to influence a charge carrier current from E to A.
  • the mean Qi is listed as a transistor and essentially has 3 connections. Port E serves as input, port B as control and port A as output.
  • the means Qi has at its terminal E a resistive means R E. This means serves a suitable dimensioning of the current via the means Qi. Resistant agent R E is driven by a source labeled CL. Furthermore, the circuit has at least one resistor R B , which connects the control connection B to the connection A via a resistor R E. Resistant agent R B is driven by a source labeled CL.
  • the control connection B is also connected to a capacitive means Cs.
  • the mean Cs serves as a variable mean in the circuit, i.e. the capacity changes due to a suitable influence.
  • the source labeled CL is a digital clock signal.
  • the circuit has at least one capacitive means which is connected to the terminal A.
  • This capacitive means is used for integration in a sample-and-hold circuit.
  • the circuit has a resistor R L , which connects the connection A and the capacitive device to the connection of a suitable digital evaluation circuit, which is identified by I / O.
  • R L The dimensioning of R L results for the person skilled in the art from the following evaluation circuit I / O.
  • the capacitive means Cs and are related to a common potential.
  • the clock signal is given via a resistor R E to connection A or via a resistor RB to connection B of transistor Qi.
  • the clock signal drives both the emitter E and the base B of the transistor Qi. Since the resistive agent R B is connected to the capacitive agent C s , the capacitive agent Cs must first be charged. Since the voltage at connection B rises slowly, there is a delay compared to the voltage at connection E.
  • the delay depends on the RC time given by R B and Cs.
  • a suitable choice of resistance and capacitance ensures that only short pulses in relation to the cycle time are available at output A.
  • the pulse duration also changes as a result of a changed time constant.
  • the preferred embodiment of the evaluation circuit is designed such that it has means by which the capacitive means Q is discharged at the start of a measurement. Furthermore, the preferred embodiment of the evaluation circuit has means which detects that a certain threshold charge or threshold voltage has been reached on the capacitive means.
  • the preferred embodiment of the evaluation circuit has means which determine the number of cycle times that have elapsed since the last discharge and compare it with a predetermined number. If the determined number deviates from the predetermined number, the deviation of the capacitance Cs can be determined from this.
  • the preferred embodiment of the measuring method provides for the number of necessary charging cycles to be determined until a certain threshold charge or threshold voltage has been reached on the capacitive means Q.
  • the medium Q with capacity is discharged at the start of a measurement.
  • a clock signal is given into the circuit by the source CL and the voltage at the capacitive medium Q and thus the charge on the capacitive medium increases.
  • the charge increases with each cycle and thus the voltage across Ci also increases.
  • the downstream evaluation circuit I / O switches through and on the basis of the clock cycles that have elapsed since the last discharge, it is now determined whether a change in the capacitance at Cs has occurred or not. Furthermore, it is determined from a deviation from the predetermined number of clock cycles how large the deviation is. This enables conclusions to be drawn about the nature of the change.
  • the alternative preferred embodiment of the evaluation circuit is designed so that it has means with which the capacitive means is discharged at the start of a measurement. Furthermore, the alternative preferred embodiment of the evaluation circuit has means which, after a predetermined number of clock cycles, detects the voltage on or the charge on the capacitive means.
  • the alternative preferred embodiment of the evaluation circuit has means which compares the detected voltage or charge with a predetermined voltage or charge. If the detected voltage deviates or the charge deviates from the predetermined voltage or charge, the deviation of the capacitance Cs can be determined from this.
  • the alternative preferred embodiment of the measuring method provides for the voltage over Ci to be determined after a predetermined number of clock cycles.
  • the medium Q with capacity is discharged at the start of a measurement.
  • a clock signal is given into the circuit by the source CL and the voltage on the capacitive medium and thus the charge on the capacitive medium increases.
  • the charge increases with each cycle and thus the voltage across Ci also increases.
  • the voltage is now determined by the downstream evaluation circuit I / O.
  • the deviation from a predetermined voltage is used to determine whether a change in the capacitance at Cs has occurred or not. Furthermore, a deviation from the predetermined voltage is used to determine how large the deviation is. This enables conclusions to be drawn about the nature of the change.
  • the further alternative preferred embodiment of the evaluation circuit is designed in such a way that it has means which keep the charge on the capacitive means Ci constant, while charge is supplied by the circuit via Qi, controlled by R B and Cs. Furthermore, the further alternative preferred embodiment of the evaluation circuit has means for recognizing the discharged charge.
  • the further alternative preferred embodiment of the evaluation circuit has means which compares the detected discharged charge with a predetermined charge.
  • the deviation of the capacitance Cs is determined from the deviation of the detected discharged charge from the predetermined charge.
  • the further alternative preferred embodiment of the measuring method provides for the voltage across Q to be determined after a predetermined number of clock cycles.
  • the charge is kept constant by the device, while charge is supplied by the circuit via Qi controlled by R B and Cs. If the capacitance Cs changes, the charge changes, which must be removed by the evaluation circuit of Q in order to keep the charge constant. From the comparison of the removed charge with a predetermined amount of charge, it is determined whether or not a change in the capacity of Cs has occurred. Furthermore, it is determined from a deviation from a predetermined charge how large the deviation is. This enables conclusions to be drawn about the nature of the change.

Abstract

Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und Verfahren zur kapazitiven Messwerterfassung.

Description

Vorrichtung und Verfahren zur kapazitiven Messwerterfassung
Die Erfindung bezieht sich auf eine Norrichtung und Nerfahren zur kapazitiven Messwerterfassung.
Typische Anwendungen für kapazitive Messwerterfassung sind Dickenmessungen, Brandsensoren, Νäherungsdetektoren, Aktivierungen passiver Zugangssysteme oder ähnliche Anwendungen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Bereitstellung von Vorrichtungen zur kapazitiven Messwerterfassung, welche einfache in verschiedenartige Auswerteschaltungen integriert werden können.
Es ist weiterhin Aufgabe der vorliegenden Erfindung Nerfahren zur kapazitiven Messwerterfassung zur Verfügung zu stellen, welche auf einfache Weise die Änderung einer Kapazität mittels der erfindungsgemäßen Vorrichtung erkennen können.
Die Vorrichtung zur kapazitiven Messwerterfassung kann dabei Teil einer komplexeren Auswerteschaltung sein. Die Komplexität kann von einfachen An / Aus- Schaltern bis hin zu hochentwickelten Systemen zur Bestimmung von kapazitiven Änderungen reichen.
Anhand der Zeichnung wird die Erfindung nachstehend eingehend erläutert.
Es zeigt: Fig. 1 einen beispielhaften Schaltungsaufbau einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur kapazitiven Messwerterfassung
Aus der Darstellung gemäß Fig. 1 ist eine beispielhafter Schaltungsaufbau einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur kapazitiven Messwerterfassung ersichtlich.
Die Schaltung weist ein Mittel O auf, das der Beeinflussung eines Ladungsträgerstroms von E nach A dient.
In der vorliegenden Figur ist das Mittel Qj beispielhaft als bipolarer pnp- Transistor aufgeführt. Das Mittel kann jedoch auch jedes andere Mittel sein, das der Beeinflussung eines Ladungsstromes von E nach A dient, z.B. ein npn- Transistor oder ein entsprechender Feldeffekttransistor.
Das Mittel Qι weist im wesentlichen 3 Anschlüsse auf. Anschluss E dient als Eingang, Anschluss B als Steuerung und Anschluss A als Ausgang.
Das Mittel Q kann an seinem Anschluss E ein widerstandsbehaftetes Mittel RE aufweisen. Dieses Mittel kann z.B. einer geeigneten Dimensionierung des Stroms über das Mittel O dienen. Das widerstandsbehaftete Mittel RE wird durch ein mit CL bezeichnete Quelle getrieben.
Weiterhin weist die Schaltung zumindest ein widerstandsbehaftetes Mittel RB auf, das den Steuerungsanschluss B mit dem Anschluss A entweder direkt oder über ein widerstandsbehaftetes Mittel RE in Verbindung bringt. Das widerstandsbehaftete Mittel RB wird durch ein mit CL bezeichnete Quelle getrieben.
Der Steuerungsanschluss B ist weiterhin mit einem kapazitätsbehafteten Mittel Cs verbunden. Das Mittel Cs dient in der Schaltung als variables Mittel , d.h. die Kapazität ändert sich durch eine geeignete Beeinflussung. Die mit CL bezeichnete Quelle ist eine alternierende Spannung und kann beispielsweise ein digitales Takt- Signal sein.
Weiterhin weist die Schaltung zumindest ein kapazitätsbehaftetes Mittel auf, das mit dem Anschluss A verbunden ist. Dieses kapazitätsbehaftetes Mittel dient der Integration z.B. in einer sample-and-hold Schaltung.
Weiterhin kann die Schaltung ein widerstandsbehaftetes Mittel RL aufweisen, das den Anschluss A und das kapazitätsbehaftetes Mittel mit dem Anschluss einer geeigneten digitalen Auswerteschaltung gekennzeichnet durch I/O in Verbindung bringt.
Die Auswerteschaltung kann dabei abhängig vom eingesetzten Messverfahren die Verbindung I/O entweder als Eingang oder als Ausgang bezüglich der in Fig. 1 skizzierten Schaltung betreiben.
Die Dimensionierung von RL ergibt sich dem Fachmann aus der nachfolgenden Auswerteschaltung I/O.
Die kapazitiven Mittel Cs und werden üblicherweise auf ein gemeinsames Potential bezogen.
Die einzelnen Mittel der zuvor skizzierten Schaltung können sowohl diskret als auch integriert ausgeführt sein. Beispielsweise können die Elemente der Vorrichtung Teil eines integrierten Schaltkreises sein, während die Auswerteschaltung aus einzelnen diskret aufgebauten Bauteilen ausgeführt sein kann. Es ist jedoch auch möglich die Auswerteschaltung mit der Vorrichtung voll-integriert auszuführen.
In der nachfolgenden weitergehenden Beschreibung wird von einer Beschaltung gemäß Figur 1 ausgegangen, d.h. ein Takt- Signal wird (über einen Widerstand RE) auf den Anschluss A bzw. über einen Widerstand RB auf den Anschluss B des pnp- Transistors Qi gegeben. Die kapazitiven Mittel Cs und Q sind auf Erdpotential bezogen.
Das Takt- Signal, das aus einer geeigneten Quelle stammt treibt sowohl den Emitter E als auch die Basis B des Transistors Qi.
Da das widerstandsbehaftete Mittel RB mit dem kapazitätsbehafteten Mittel Cs in Verbindung steht, muss zuerst das kapazitätsbehaftete Mittel Cs aufgeladen werden. Da die Spannung am Anschluss B langsam ansteigt kommt es zu einer Verzögerung gegenüber der Spannung am Anschluss E.
Die Verzögerung ist abhängig von der RC- Zeit, die durch RB und Cs gegeben sind. Durch eine geeignete Wahl des Widerstandes und der Kapazität kann erreicht werden, dass am Ausgang A nur kurze Pulse im Verhältnis zur Taktzeit zur Verfügung stehen.
Diese kurzen Pulse werden dann von dem kapazitiven Mittel für ein sample-and-hold Schaltung integriert.
Ändert sich nun durch eine Änderung der Eigenschaften des kapazitätsbehafteten Mittels Cs dessen Kapazität, so ändert sich auch die Impulsdauer in Folge einer geänderten Zeitkonstante. Dadurch kann z.B. die Annäherung eines dielektrischen Körpers präzise gemessen werden.
Im folgenden werden die Eigenschaften von Auswerteschaltungen bezüglich der Messvorrichtung näher erläutert.
Die Auswerteschaltung kann beispielsweise so ausgeführt sein, dass sie Mittel aufweist, mit denen das kapazitätsbehaftete Mittel am Beginn einer Messung entladen wird. Weiterhin weist die Auswerteschaltung Mittel auf, die das Erreichen einer bestimmten Schwell- Ladung oder Schwell-Spannung an dem kapazitätsbehafteten Mittel Q erkennt. Weiterhin kann die Auswerteschaltung Mittel aufweisen, welche die Anzahl der seit der letzten Entladung verstrichenen Taktzeiten bestimmt und mit einer vorbestimmten Anzahl vergleicht. Weicht die bestimmte Anzahl von der vorbestimmten Anzahl ab, so kann hieraus die Abweichung der Kapazität Cs ermittelt werden.
Weiterhin kann die Auswerteschaltung beispielsweise auch so ausgeführt sein, dass sie Mittel aufweist, mit denen das kapazitätsbehaftete Mittel Q am Beginn einer Messung entladen wird. Weiterhin weist die Auswerteschaltung Mittel auf, die nach Ablauf einer vorbestimmten Anzahl von Taktzyklen die Spannung an oder die Ladung auf dem kapazitätsbehafteten Mittel Q erkennt.
Weiterhin kann die Auswerteschaltung Mittel aufweisen, welche die erkannte Spannung oder Ladung mit einer vorbestimmten Spannung oder Ladung vergleicht. Weicht die erkannte Spannung an oder die Ladung von der vorbestimmten Spannung oder Ladung ab, so kann hieraus die Abweichung der Kapazität Cs ermittelt werden.
Darüber hinaus kann die Auswerteschaltung auch so ausgeführt sein, dass sie Mittel aufweist, mit denen die Ladung auf dem kapazitätsbehafteten Mittel Q konstant gehalten wird, während Ladung durch die Schaltung über Qi, gesteuert durch RB und Cs, zugeführt wird. Weiterhin weist die Auswerteschaltung Mittel zum Erkennen der abgeführten Ladung auf.
Weiterhin kann die Auswerteschaltung Mittel aufweisen, welche die erkannte abgeführte Ladung mit einer vorbestimmten Ladung vergleicht. Weicht die erkannte abgeführte Ladung von der vorbestimmten Ladung ab, so kann hieraus die Abweichung der Kapazität Cs ermittelt werden. Zur Messung stehen entsprechend den zuvor aufgeführtem Auswerteschaltungen verschieden erfindungsgemäße Messverfahren bereit, die im folgenden beispielhaft skizziert werden.
Eine Möglichkeit besteht darin, die Anzahl der notwendigen Ladezyklen zu bestimmen bis eine bestimmte Schwell-Ladung oder Schwell-Spannung an dem kapazitätsbehafteten Mittel Ci erreicht ist.
Hierzu wird das kapazitätsbehaftete Mittel am Beginn einer Messung entladen. Wird nun durch die Quelle CL ein Takt- Signal in die Schaltung gegeben, so steigt die Spannung am kapazitätsbehaftete Mittel und damit die Ladung auf dem kapazitätsbehaftete Mittel an. Die Ladung wird mit jedem Zyklus höher und somit steigt auch die Spannung über an.
Nachdem eine bestimmte Schwell- Spannung erreicht ist kommt es durch die nachgeordnete Auswerteschaltung I/O zu einem Durchschalten und an Hand der seit der letzen Entladung verstrichenen Takt-Zyklen kann nun ermittelt werden ob eine Änderung der Kapazität an Cs aufgetreten ist oder nicht. Weiterhin kann aus einer Abweichung von einer vorgegebenen Zahl von Takt- Zyklen ermittelt werden, wie groß die Abweichung ist. Hieraus lassen sich Rückschlüsse über die Natur der Änderung erzielen.
Weiterhin kann die Spannung über Q nach einer vorbestimmten Anzahl von Taktzyklen bestimmt werden.
Hierzu wird wiederum das kapazitätsbehaftete Mittel Q am Beginn einer Messung entladen. Wird nun durch die Quelle CL ein Takt- Signal in die Schaltung gegeben, so steigt die Spannung am kapazitätsbehaftete Mittel Ci und damit die Ladung auf dem kapazitätsbehaftete Mittel Q an. Die Ladung wird mit jedem Zyklus höher und somit steigt auch die Spannung über d an. Nachdem eine vorbestimmte Anzahl von Taktzyklen erreicht ist, kann nun die Spannung durch die nachgeordnete Auswerteschaltung I/O ermittelt werden. Anhand der Abweichung zu einer vorbestimmten Spannung kann nun ermittelt werden, ob eine Änderung der Kapazität an Cs aufgetreten ist oder nicht. Weiterhin kann aus einer Abweichung von einer vorbestimmten Spannung ermittelt werden, wie groß die Abweichung ist. Hieraus lassen sich Rückschlüsse über die Natur der Änderung erzielen.
Weiterhin kann die Ladung, die zur Änderung einer konstant gehaltenen Ladung auf Ci benötigt wird, bestimmt werden.
Hierzu wird die Ladung auf durch die Vorrichtung konstant gehalten, während Ladung durch die Schaltung über Qi gesteuert durch RB und Cs zugeführt wird. Abhängig von einer Änderung der Kapazität Cs ändert sich die Ladung, die von der Auswerteschaltung von wieder entfernt werden muss, um die Ladung auf konstant zu halten. Anhand der Abweichung von einer vorbestimmten Ladungsmenge kann nun ermittelt werden, ob eine Änderung der Kapazität an Cs aufgetreten ist oder nicht. Weiterhin kann aus einer Abweichung von einer vorbestimmten Ladung ermittelt werden, wie groß die Abweichung ist. Hieraus lassen sich Rückschlüsse über die Natur der Änderung erzielen.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist der Schaltungsaufbau einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur kapazitiven Messwerterfassung ein Mittel Qi auf, das der Beeinflussung eines Ladungsträgerstroms von E nach A dient.
Das Mittel Qi ist als Transistor aufgeführt und weist im wesentlichen 3 Anschlüsse auf. Anschluss E dient als Eingang, Anschluss B als Steuerung und Anschluss A als Ausgang.
Das Mittel Qi weist an seinem Anschluss E ein widerstandsbehaftetes Mittel RE auf. Dieses Mittel dient einer geeigneten Dimensionierung des Stroms über das Mittel Qi. Das widerstandsbehaftete Mittel RE wird durch eine mit CL bezeichnete Quelle getrieben. Weiterhin weist die Schaltung zumindest ein widerstandsbehaftetes Mittel RB auf, das den Steuerungsanschluss B mit dem Anschluss A über ein widerstandsbehaftetes Mittel RE in Verbindung bringt. Das widerstandsbehaftete Mittel RB wird durch eine mit CL bezeichnete Quelle getrieben.
Der Steuerungsanschluss B ist weiterhin mit einem kapazitätsbehafteten Mittel Cs verbunden. Das Mittel Cs dient in der Schaltung als variables Mittel, d.h. die Kapazität ändert sich durch eine geeignete Beeinflussung.
Die mit CL bezeichnete Quelle ist ein digitales Takt- Signal.
Weiterhin weist die Schaltung zumindest ein kapazitätsbehaftetes Mittel auf, das mit dem Anschluss A verbunden ist. Dieses kapazitätsbehaftete Mittel dient der Integration in einer sample-and-hold Schaltung.
Weiterhin weist die Schaltung ein widerstandsbehaftetes Mittel RL auf, das den Anschluss A und das kapazitätsbehaftete Mittel mit dem Anschluss einer geeigneten digitalen Auswerteschaltung, die durch I/O gekennzeichnet ist, in Verbindung bringt.
Die Dimensionierung von RL ergibt sich dem Fachmann aus der nachfolgenden Auswerteschaltung I/O.
Die kapazitiven Mittel Cs und sind auf ein gemeinsames Potential bezogen.
Die einzelnen Mittel der zuvor skizzierten Schaltung sind integriert ausgeführt.
Das Takt- Signal wird über einen Widerstand RE auf den Anschluss A bzw. über einen Widerstand RB auf den Anschluss B des Transistors Qi gegeben. Das Takt- Signal treibt sowohl den Emitter E als auch die Basis B des Transistors Qi. Da das widerstandsbehaftete Mittel RB mit dem kapazitätsbehafteten Mittel Cs in Verbindung steht, muss zuerst das kapazitätsbehaftete Mittel Cs aufgeladen werden. Da die Spannung am Anschluss B langsam ansteigt kommt es zu einer Verzögerung gegenüber der Spannung am Anschluss E.
Die Verzögerung ist abhängig von der RC- Zeit, die durch RB und Cs gegeben sind. Durch eine geeignete Wahl des Widerstandes und der Kapazität wird erreicht, dass am Ausgang A nur kurze Pulse im Verhältnis zur Taktzeit zur Verfügung stehen.
Diese kurzen Pulse werden dann von dem kapazitiven Mittel für eine sample-and-hold Schaltung integriert.
Ändert sich nun durch eine Änderung der Eigenschaften des kapazitätsbehafteten Mittels Cs dessen Kapazität, so ändert sich auch die Impulsdauer in Folge einer geänderten Zeitkonstante.
Die bevorzugte Ausführungsform der Auswerteschaltung ist so ausgeführt, dass sie Mittel aufweist, mit denen das kapazitätsbehaftete Mittel Q am Beginn einer Messung entladen wird. Weiterhin weist die bevorzugte Ausführungsform der Auswerteschaltung Mittel auf, die das Erreichen einer bestimmten Schwell-Ladung oder Schwell-Spannung an dem kapazitätsbehafteten Mittel erkennt.
Weiterhin weist die bevorzugte Ausführungsform der Auswerteschaltung Mittel auf, welche die Anzahl der seit der letzten Entladung verstrichenen Taktzeiten bestimmt und mit einer vorbestimmten Anzahl vergleicht. Weicht die bestimmte Anzahl von der vorbestimmten Anzahl ab, so kann hieraus die Abweichung der Kapazität Cs ermittelt werden. Die bevorzugte Ausführungsform des Messverfahrens sieht vor die Anzahl der notwendigen Ladezyklen zu bestimmen bis eine bestimmte Schwell-Ladung oder Schwell- Spannung an dem kapazitätsbehafteten Mittel Q erreicht ist.
Hierzu wird das kapazitätsbehaftete Mittel Q am Beginn einer Messung entladen. Nun wird durch die Quelle CL ein Takt- Signal in die Schaltung gegeben und die Spannung am kapazitätsbehafteten Mittel Q und damit die Ladung auf dem kapazitätsbehafteten Mittel steigt an. Die Ladung erhöht sich mit jedem Zyklus und somit steigt auch die Spannung über Ci an.
Bei Erreichen einer bestimmten Schwell- Spannung schaltet die nachgeordnete Auswerteschaltung I/O durch und an Hand der seit der letzen Entladung verstrichenen Takt-Zyklen wird nun ermittelt, ob eine Änderung der Kapazität an Cs aufgetreten ist oder nicht. Weiterhin wird aus einer Abweichung von der vorgegebenen Zahl von Takt- Zyklen ermittelt, wie groß die Abweichung ist. Hieraus lassen sich Rückschlüsse über die Natur der Änderung erzielen.
Die alternative bevorzugte Ausfuhrungsform der Auswerteschaltung ist so ausgeführt, dass sie Mittel aufweist, mit denen das kapazitätsbehaftete Mittel am Beginn einer Messung entladen wird. Weiterhin weist die alternative bevorzugte Ausführungsform der Auswerteschaltung Mittel auf, die nach Ablauf einer vorbestimmten Anzahl von Taktzyklen die Spannung an oder die Ladung auf dem kapazitätsbehafteten Mittel erkennt.
Weiterhin weist die alternative bevorzugte Ausführungsform der Auswerteschaltung Mittel auf, welche die erkannte Spannung oder Ladung mit einer vorbestimmten Spannung oder Ladung vergleicht. Weicht die erkannte Spannung an oder die Ladung von der vorbestimmten Spannung oder Ladung ab, so kann hieraus die Abweichung der Kapazität Cs ermittelt werden. Die alternative bevorzugte Ausführungsform des Messverfahrens sieht vor die Spannung über Ci nach einer vorbestimmten Anzahl von Taktzyklen zu bestimmen.
Hierzu wird das kapazitätsbehaftete Mittel Q am Beginn einer Messung entladen. Nun wird durch die Quelle CL ein Takt- Signal in die Schaltung gegeben und die Spannung am kapazitätsbehafteten Mittel und damit die Ladung auf dem kapazitätsbehafteten Mittel steigt an. Die Ladung erhöht sich mit jedem Zyklus und somit steigt auch die Spannung über Ci an.
Nachdem eine vorbestimmte Anzahl von Taktzyklen erreicht ist, wird nun die Spannung durch die nachgeordnete Auswerteschaltung I/O ermittelt. Anhand der Abweichung zu einer vorbestimmten Spannung wird nun ermittelt, ob eine Änderung der Kapazität an Cs aufgetreten ist oder nicht. Weiterhin wird aus einer Abweichung von der vorbestimmten Spannung ermittelt, wie groß die Abweichung ist. Hieraus lassen sich Rückschlüsse über die Natur der Änderung erzielen.
Die weitere alternative bevorzugte Ausfuhrungsform der Auswerteschaltung ist so ausgeführt, dass sie Mittel aufweist, welche die Ladung auf dem kapazitätsbehafteten Mittel Ci konstant halten, während Ladung durch die Schaltung über Qi, gesteuert durch RB und Cs, zugeführt wird. Weiterhin weist die weitere alternative bevorzugte Ausführungsform der Auswerteschaltung Mittel zum Erkennen der abgeführten Ladung auf.
Weiterhin weist die weitere alternative bevorzugte Ausführungsform der Auswerteschaltung Mittel auf, welche die erkannte abgeführte Ladung mit einer vorbestimmten Ladung vergleicht. Aus der Abweichung der erkannten abgeführten Ladung von der vorbestimmten Ladung wird die Abweichung der Kapazität Cs ermittelt.
Die weitere alternative bevorzugte Ausführungsform des Messverfahrens sieht vor die Spannung über Q nach einer vorbestimmten Anzahl von Taktzyklen zu bestimmen. Hierzu wird die Ladung auf durch die Vorrichtung konstant gehalten, während Ladung durch die Schaltung über Qi gesteuert durch RB und Cs zugeführt wird. Ändert sich die Kapazität Cs so ändert sich die Ladung, die von der Auswerteschaltung von Q wieder entfernt werden muss, um die Ladung auf konstant zu halten. Aus dem Vergleich der entfernten Ladung mit einer vorbestimmten Ladungsmenge wird ermittelt, ob eine Änderung der Kapazität an Cs aufgetreten ist oder nicht. Weiterhin wird aus einer Abweichung von einer vorbestimmten Ladung ermittelt, wie groß die Abweichung ist. Hieraus lassen sich Rückschlüsse über die Natur der Änderung erzielen.
Bezugszeichenliste
CL alternierende Spannungsquelle
Qϊ Mittel zur Beeinflussung eines Ladungsträgerstroms
A Ausgangsanschluss von Qt
B Steuerungsanschluss von QΪ
E Eingangsanschluss von Qi
RB;E widerstandsbehaftetes Mittel
Cs;ι kapazitätsbehaftetes Mittel
I/O Auswerteschaltung

Claims

Patentansprüche
1. Vorrichtung zur kapazitiven Messwerterfassung, welche eine Schaltung aufweist, die aufweist: ein Mittel (Q zur Beeinflussung eines Ladungsträgerstroms mit mindestens drei Anschlüssen (A,B,E), ein widerstandsbehaftetes Mittel (RB), ein erstes und ein zweites kapazitätsbehaftetes Mittel (Cs, ), dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel (Q zur Beeinflussung eines Ladungsträgerstroms an dem ersten Anschluss (B) mit dem widerstandsbehafteten Mittel (RB) und dem ersten kapazitätsbehafteten Mittel (Cs) verbunden ist und an dem zweiten Anschluss (A) mit dem zweiten kapazitätsbehafteten Mittel ( ) verbunden ist, und dass das erste kapazitätsbehaftete Mittel (Cs) eine variable Kapazität aufweist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das widerstandsbehaftete Mittel (RB) durch eine alternierende Spannung einer Quelle (CL) getrieben wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltung ein zweites widerstandsbehaftetes Mittel (RE) aufweist, wobei das zweite widerstandsbehaftete Mittel (RE) mit dem ersten widerstandsbehafteten Mittel (RB) und dem dritten Anschluss (E) verbunden ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite widerstandsbehaftete Mittel (RE) durch eine alternierende Quelle (CL) getrieben wird.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Anschluss (A) und das zweite kapazitätsbehaftete Mittel ( ) entweder direkt oder über ein drittes widerstandsbehaftetes Mittel (RL) mit einer Auswerteschaltung (I/O) verbunden ist.
6. Auswerteschaltung, welche aufweist eine Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, Mittel zum Entladen des zweiten kapazitätsbehafteten Mittels (Q) am Beginn einer Messung, Mittel zum Erkennen einer Ladung auf oder Spannung an dem zweiten kapazitätsbehafteten Mittel ( ).
7. Auswerteschaltung nach Anspruch 6, welche weiterhin Mittel zum Vergleich der Anzahl der seit der letzten Entladung verstrichenen Taktzeiten mit einer vorbestimmten Anzahl bei Erreichen einer vorbestimmen Schwell- Ladung auf oder Schwell- Spannung an dem zweiten kapazitätsbehafteten Mittel ( ) aufweist.
8. Auswerteschaltung nach Anspruch 6, welche weiterhin Mittel zum Vergleich der Spannung an oder der Ladung auf dem zweiten kapazitätsbehafteten Mittel ( ) mit einer vorbestimmten Spannung oder Ladung an dem zweiten kapazitätsbehafteten Mittel (Ci) nach Ablauf einer vorbestimmten Anzahl von Taktzyklen aufweist.
9. Auswerteschaltung welche aufweist eine Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, Mittel zum Abführen der Ladung auf dem zweiten kapazitätsbehafteten Mittel ( ), damit die Ladung auf oder Spannung an dem zweiten kapazitätsbehafteten Mittel (Q) konstant bleibt, Mittel zum Erkennen der zum Ausgleich notwendigen Ladung.
10. Auswerteschaltung nach Anspruch 9, welche weiterhin Mittel zum Vergleich der zum Ausgleich notwendigen Ladung mit einer vorbestimmten Ladung aufweist.
11. Auswerteschaltung oder Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel (Qi) zur Beeinflussung eines Ladungsträgerstroms ein bipolarer oder ein Feldeffekttransistor ist.
12. Auswerteschaltung oder Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die alternierende Spannung der Quelle (CL) ein digitales Taktsignal ist.
13. Auswerteschaltung oder Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zumindest teilweise integriert sind.
14. Verfahren zur kapazitiven Messwerterfassung aufweisend die folgenden Schritten: (1) Entladen eines kapazitätsbehafteten Mittels (Q) am Beginn einer Messung, (2) Erkennen einer Ladung auf oder Spannung an dem kapazitätsbehafteten Mittel (Ci).
15. Verfahren gemäß Anspruch 14, welches sich der Mittel einer Auswerteschaltung gemäß Anspruch 6 bedient
16. Verfahren gemäß Anspruch 14 oder 15, welches weiterhin den folgenden Schritt aufweist: (3) Vergleichen der Anzahl der seit der letzten Entladung verstrichenen Taktzeiten mit einer vorbestimmten Anzahl bei Erreichen einer vorbestimmen Schwell- Ladung auf oder Schwell- Spannung an dem kapazitätsbehafteten Mittel ( ).
17. Verfahren gemäß Anspruch 16, welches sich der Mittel einer Auswerteschaltung gemäß Anspruch 7 bedient.
18. Verfahren gemäß Anspmch 14 oder 15, welches weiterhin den folgenden Schritt aufweist: (3) Vergleichen der Spannung an oder der Ladung auf dem kapazitätsbehafteten Mittel ( ) mit einer vorbestimmten Spannung oder Ladung an dem kapazitätsbehafteten Mittel (Q) nach Ablauf einer vorbestimmten Anzahl von Taktzyklen.
19. Verfahren gemäß Anspmch 18, welches sich der Mittel einer Auswerteschaltung gemäß Anspmch 8 bedient.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 19, welches weiterhin den folgenden Schritt aufweist: (4) Bestimmen der Änderung der Kapazität des kapazitätsbehafteten Mittel ( ) aus dem Vergleich gemäß Schritt (3).
21. Verfahren zur kapazitiven Messwerterfassung aufweisend die folgenden Schritten: (1) Abführen der Ladung auf dem kapazitätsbehafteten Mittel ( ), damit die Ladung auf oder Spannung an dem kapazitätsbehafteten Mittel ( ) konstant bleibt, (2) Erkennen der zum Ausgleich notwendigen Ladung.
22. Verfahren gemäß Anspruch 21, welches sich der Mittel einer Auswerteschaltung gemäß Anspmch 9 bedient.
23. Verfahren nach Anspruch 21 oder 22, welches weiterhin den folgenden Schritt aufweist: (3) Vergleichen der zum Ausgleich notwendigen Ladung mit einer vorbestimmten Ladung.
24. Verfahren gemäß Anspruch 23, welches sich der Mittel einer Auswerteschaltung gemäß Anspmch 10 bedient.
25. Verfahren nach einem der Ansprüche 23 oder 24, welches weiterhin den folgenden Schritt aufweist: (4) Bestimmen der Änderung der Kapazität des kapazitätsbehafteten Mittel ( ) aus dem Vergleich gemäß Schritt (3).
PCT/DE2005/000082 2004-01-21 2005-01-21 Vorrichtung und verfahren zur kapazitiven messwerterfassung WO2005071361A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP05714888A EP1709398A1 (de) 2004-01-21 2005-01-21 Vorrichtung und verfahren zur kapazitiven messwerterfassung

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004003112.6 2004-01-21
DE102004003112A DE102004003112B4 (de) 2004-01-21 2004-01-21 Vorrichtung und Verfahren zur kapazitiven Messwerterfassung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2005071361A1 true WO2005071361A1 (de) 2005-08-04

Family

ID=34800863

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/DE2005/000082 WO2005071361A1 (de) 2004-01-21 2005-01-21 Vorrichtung und verfahren zur kapazitiven messwerterfassung

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP1709398A1 (de)
DE (1) DE102004003112B4 (de)
WO (1) WO2005071361A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8593159B2 (en) 2009-03-19 2013-11-26 E.G.O. Control Systems Gmbh Switching configuration for determining the capacitance of a capacitive sensor element

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2271538A1 (en) * 1973-12-27 1975-12-12 Cii Capacitive proximity detector or switch - detects effective capacitance of object and activates logic circuit
DE3815698A1 (de) * 1988-05-07 1989-11-16 Balluff Gebhard Feinmech Selbstpruefender, kapazitiver naeherungsschalter
DE20017457U1 (de) * 2000-10-11 2001-01-25 Dreefs Gmbh Schaltgeraete Berührungssensor

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61137078A (ja) * 1984-12-07 1986-06-24 Nippon Kagaku Kikai Seizo Kk 静電容量測定方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2271538A1 (en) * 1973-12-27 1975-12-12 Cii Capacitive proximity detector or switch - detects effective capacitance of object and activates logic circuit
DE3815698A1 (de) * 1988-05-07 1989-11-16 Balluff Gebhard Feinmech Selbstpruefender, kapazitiver naeherungsschalter
DE20017457U1 (de) * 2000-10-11 2001-01-25 Dreefs Gmbh Schaltgeraete Berührungssensor

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
FRANZ J: "VERFAHREN ZUR MESSUNG KLEINER KAPAZITAETEN MIT HOHER AUFLOESUNG METHODS TO MEASURE SMALL CAPACITANCES WITH HIGH RESOLUTION", TECHNISCHES MESSEN TM, R.OLDENBOURG VERLAG. MUNCHEN, DE, vol. 67, no. 4, 2000, pages 177 - 181, XP009045888, ISSN: 0171-8096 *
S M HUANG, A L SCOTT, R G GREEN, M S BECK: "Electronic transducers for industrial measurement of low value capacitances", J. PHYS. E: SCI. INSTRUM., vol. 21, 1988, UK, pages 242 - 250, XP002328855 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8593159B2 (en) 2009-03-19 2013-11-26 E.G.O. Control Systems Gmbh Switching configuration for determining the capacitance of a capacitive sensor element

Also Published As

Publication number Publication date
DE102004003112A1 (de) 2005-08-25
DE102004003112B4 (de) 2005-12-22
EP1709398A1 (de) 2006-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2740289A1 (de) Vorrichtung zur ueberwachung des niveaus einer in einem behaelter enthaltenen fluessigkeit
EP1419365A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum auslesen einer differentialkapazität mit einer ersten und zweiten teilkapazität
EP3186889B1 (de) Kapazitiver sensor, die zugehörige auswerteschaltung und aktor für ein kraftfahrzeug
DE2727201A1 (de) Beruehrungssteuertastenschaltung
DE2800645A1 (de) Einrichtung zur erfassung von analogdaten fuer digitalrechner
WO2006040203A1 (de) Sensorschnittstelle mit integrierter strommessung
DE10303409A1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Bestimmung eines elektrischen Messwerts für ein Widerstandselement, vorzugsweise zur Bestimmung eines elektrischen Stroms durch das Widerstandselement
DE2600023C2 (de) Vorrichtung zur Bestimmung der Standardabweichung von Meßwerten eines Gegenstandsmerkmals von einem Zielwert
EP0898368B1 (de) Sensoreinrichtung
EP1494038B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung des Verhältnisses zwischen einer RC-Zeitkonstanten in einer integrierten Schaltung und einem Sollwert
DE102005034859A1 (de) Meßanordnung zur Messung des Induktivitäts- und des Widerstandswertes eines induktiven Sensors
DE102015217575B3 (de) Auswerteschaltung für einen kapazitiven Sensor, kapazitiver Sensor und Aktor in einem Kraftfahrzeug
DE4222788A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Feststellen einer Kapazitätsänderung durch einen Computer
EP1709398A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur kapazitiven messwerterfassung
EP0714167B1 (de) Digitale Treiberschaltung für eine integrierte Schaltung
DE19638204C1 (de) Vorrichtung zur Luftgütemessung
DE102008042765A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Messen eines Widerstandswerts
DE2822467C2 (de)
DE19632457C1 (de) Schaltungsanordnung zur Überwachung eines Sensors
EP1384976A1 (de) Positionsermittlungsverfahren für einen induktiven Positionssensor
CH707219B1 (de) Messschaltung zum Bestimmen eines Widerstandswerts eines Sensorwiderstandsbauelements.
EP3602781B1 (de) Konfigurationsschalter sowie busteilnehmer mit einem solchen konfigurationsschalter
DE102004014449B4 (de) Verfahren zur Widerstandsmessung für eine Teilnehmeranschlussschaltung mittels einer Schutzschaltung
EP0759558A2 (de) Prüfverfahren für einen Analogeingabekanal einer Analogsignalerfassungsschaltung und zugehörige Analogsignalerfassungsschaltung
DE19634320A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Speicherelements

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): BW GH GM KE LS MW MZ NA SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LT LU MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2005714888

Country of ref document: EP

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2005714888

Country of ref document: EP