WO2004068660A1 - 波長ロック装置および波長ロック方法 - Google Patents

波長ロック装置および波長ロック方法 Download PDF

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WO2004068660A1
WO2004068660A1 PCT/JP2003/000779 JP0300779W WO2004068660A1 WO 2004068660 A1 WO2004068660 A1 WO 2004068660A1 JP 0300779 W JP0300779 W JP 0300779W WO 2004068660 A1 WO2004068660 A1 WO 2004068660A1
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WO
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wavelength
control unit
pull
semiconductor laser
range
Prior art date
Application number
PCT/JP2003/000779
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Motohisa Nakamura
Hiroyuki Iwata
Original Assignee
Fujitsu Limited
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Limited filed Critical Fujitsu Limited
Priority to PCT/JP2003/000779 priority Critical patent/WO2004068660A1/ja
Publication of WO2004068660A1 publication Critical patent/WO2004068660A1/ja

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/0687Stabilising the frequency of the laser

Definitions

  • the present invention relates to a wavelength locking device and a wavelength locking method for locking an oscillation wavelength of a semiconductor laser including a laser diode, and in particular, the transmittance of an input optical signal changes periodically, and the period differs.
  • the present invention relates to a wavelength lock device and a wavelength lock method for locking an oscillation wavelength using two filters. Background art
  • optical communication systems that transmit information using laser light, such as SONET / SDH (Synchronous Optical Network / Synchronous Digital Hierarchy) systems and WDM (Wavelength Division Multiplex) systems, have become widespread.
  • semiconductor lasers particularly laser diodes (LDs) are often used to generate laser light.
  • the laser light is controlled so as to have a predetermined wavelength (oscillation wavelength).
  • One of such wavelength locking methods is to lock the wavelength using a wavelength detection filter having monotonic wavelength characteristics.
  • a filter having a linear relationship between the wavelength of the laser light and the power (power) of the transmitted laser light is used, and the wavelength is determined based on the power of the transmitted light at the filter. Then, wavelength control is performed so that the required wavelength becomes the target wavelength. Since the wavelength of LD changes with its temperature, wavelength control is performed by adjusting the temperature of LD.
  • a PD Photo Diode
  • the wavelength to be locked is included in a region where the output current of this PD is small, the PD is locked. There is a problem that wavelength accuracy is reduced.
  • the transmission A filter with a small slope is used, but using such a filter has the problem that the wavelength cannot be locked in a wide wavelength band.
  • Another wavelength-locking method is to lock the wavelength using a wavelength detection filter having periodic wavelength characteristics.
  • the ratio of the power of the LD output light (power) to the power of the light transmitted through the etalon filter (etalon transmission ratio) is determined.
  • the wavelength at which this etalon transmission ratio has a predetermined value is calculated as follows. The wavelength is locked.
  • the wavelength characteristics of the LD with respect to temperature drift with the aging (wavelength drift).
  • Figure 6 shows the temperature-wavelength characteristics of the LD and the drift due to aging.
  • the slope of the straight line does not change, the wavelength characteristics of LD shift with time, and the corresponding wavelength changes with time, even at the same temperature, although the slope of the straight line does not change.
  • the wavelength at temperature T changes from wavelength I to foe over time. This drift amount is about 200 pm (picometer) in 25 years, but it varies greatly for optical signals transmitted at frequencies from several GHz to several hundred GHz.
  • the drift does not pose a problem because the wavelength lock device performs wavelength lock control following the drift.
  • drift also occurs during non-operation (non-operation).
  • the LD may be locked at the wrong wavelength during the next operation because the wavelength of the LD is locked according to the characteristics after drift. There is.
  • the possibility of erroneous locking increases as the wavelength interval decreases.
  • the present invention provides a wavelength locking device and a wavelength locking method that can avoid erroneous locking due to wavelength drift due to aging of a semiconductor laser and can lock a wavelength even at a narrow wavelength interval.
  • a wavelength locking device is a wavelength locking device for locking an oscillation wavelength of a semiconductor laser, wherein a transmittance of input light periodically changes with respect to the wavelength.
  • a first control for controlling an oscillation wavelength of the semiconductor laser based on the transmittance of one aperture and locking a wavelength within a wavelength pull-in range including the first wavelength to the first wavelength;
  • the transmittance of the input light changes periodically with respect to the wavelength, and the semiconductor is based on the transmittance of the second etalon whose cycle is shorter than the cycle of the first etalon.
  • a second control unit that controls an oscillation wavelength of the laser and locks a wavelength within a wavelength pull-in range including a target wavelength to the target wavelength; and controls an oscillation wavelength of the semiconductor laser based on an input temperature.
  • the first wavelength locked by the first control unit A third control unit for changing the wavelength to a wavelength within the wavelength pull-in range of the second control unit.
  • the wavelength aperture and the method according to the first aspect of the present invention provide a method for controlling the oscillation wavelength of a semiconductor laser based on the transmittance of a first etalon in which the transmittance of input light periodically changes with respect to the wavelength.
  • a first control unit for controlling, and a transmittance of the input light periodically changes with respect to a wavelength, and the period is based on the transmittance of the second chamber having a shorter period than the period of the first filter.
  • a wavelength locking method using a wavelength locking device including a second control unit for controlling the oscillation wavelength of the semiconductor laser and a third control unit for controlling the oscillation wavelength of the semiconductor laser based on the input temperature.
  • the third control unit sets the temperature of the semiconductor laser to a temperature corresponding to a wavelength within a first wavelength pull-in range including the first peak wavelength of the first control unit, (1) The control unit sets the wavelength within the first wavelength pull-in range to the first lock wave. And the third control unit sets the temperature of the semiconductor laser corresponding to the first lock wavelength to the temperature corresponding to a wavelength within a target wavelength pull-in range including a target wavelength of the second control unit. The wavelength within the target wavelength pull-in range is locked to the target wavelength by the second control unit.
  • the wavelength within the first wavelength pull-in range including the first lock wavelength is locked to the first lock wavelength by the first control unit.
  • the third control The unit sets the temperature of the semiconductor laser corresponding to the first lock wavelength to the temperature corresponding to the wavelength within the target wavelength pull-in range including the target wavelength of the second control unit.
  • the second control unit locks the wavelength within the target wavelength pull-in range to the target wavelength.
  • the wavelength of the semiconductor laser is locked at the first lock wavelength by the first etalon having a longer period than the second etalon.
  • the oscillation wavelength of the semiconductor laser can be locked to the first wavelength without error.
  • the short-period second etalon locks the oscillation wavelength of the semiconductor laser to the target wavelength. Therefore, even if the wavelength interval is narrow, the oscillation wavelength of the semiconductor laser can be locked at the target wavelength.
  • the wavelength pull-in range or the period of the first etalon is equal to or more than the wavelength drift amount due to the aging of the semiconductor laser.
  • the oscillation wavelength can be locked to the first lock wavelength regardless of the amount of wavelength drift.
  • the third control unit when starting up the semiconductor laser, sets the oscillation wavelength of the semiconductor laser based on an initial temperature of the semiconductor laser to include the first peak wavelength.
  • the wavelength lock device according to the second aspect of the present invention is a wavelength lock device that locks the oscillation wavelength of a semiconductor laser, and controls the transmission wavelength of the input light. Controlling the oscillation wavelength of the semiconductor laser on the basis of the transmittance of the first aperture, the rate of which varies periodically with the wavelength;
  • the first control unit locks the wavelength within the wavelength pull-in range including the first wavelength to the first wavelength, and the transmittance of the input light changes periodically with respect to the wavelength. Controlling the oscillation wavelength of the semiconductor laser based on the transmittance of the second electrode, the period of which is 1 / the integer of the period of the first electrode, and including at least the first lock wavelength.
  • a target wavelength pull-in range including one wavelength pull-in range and a target wavelength;
  • a second control unit that locks the wavelength within the first wavelength pull-in range to the first lock wavelength, locks the wavelength within the target wavelength bow I pull-in range to the target wavelength, and Controlling the oscillation wavelength of the semiconductor laser by the first control unit, and then oscillating at the first wavelength of the semiconductor laser oscillated by the second control unit. To reduce the oscillation wavelength of the semiconductor laser.
  • a third control unit that changes the first lock wavelength to a wavelength within the target wavelength pull-in range.
  • the wavelength tuning method controls the oscillation wavelength of a semiconductor laser based on the transmittance of a first etalon in which the transmittance of input light periodically changes with wavelength.
  • a first control unit wherein the transmittance of the input light periodically changes with respect to the wavelength, and the transmittance of the second etalon having a period that is an integer fraction of the period of the first utterance;
  • a wavelength control device comprising: a second control unit that controls the oscillation wavelength of the semiconductor laser based on the temperature; and a third control unit that controls the oscillation wavelength of the semiconductor laser based on the input temperature.
  • a wavelength within a first wavelength pull-in range including a common first lock wavelength of the first control unit and the second control unit by the third control unit.
  • a wavelength within the range is locked to the first peak wavelength
  • the second control unit locks the wavelength to a first lock wavelength
  • the third control unit locks the wavelength corresponding to the first peak wavelength. Setting the temperature of the semiconductor laser to a temperature corresponding to a wavelength within a second wavelength pull-in range of the second control unit, including a second peak wavelength adjacent to the first block wavelength;
  • the second control section locks the wavelength within the second wavelength pull-in range to the second lock wavelength.
  • the same operation and effect as those of the first aspect can be obtained, and the first lock wavelength is common to the first control unit and the second control unit.
  • the control can be performed quickly without going through the control by the third control unit.
  • the semiconductor laser can be operated stably.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an optical transmission device provided with a multi-wavelength hack device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a graph showing the wavelength characteristics of the first transmission ratio and the second transmission ratio.
  • FIG. 3 is a flowchart showing a processing flow of the first wavelength locking method.
  • Figure 4 is a graph showing the wavelength characteristics of the first and second transmission ratios where the lock points coincide.
  • FIG. 5 is a flowchart showing a processing flow of the second wavelength locking method.
  • Figure 6 shows the temperature-wavelength characteristics of LD and the drift due to aging.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an optical transmission device provided with a multi-wavelength switch device according to an embodiment of the present invention.
  • This optical transmitter includes a laser diode with a built-in wavelength locker (LD with built-in wavelength locker) 1, a second wavelength locker 2, a control unit 3, and a power blur 4.
  • LD built-in wavelength locker
  • the LD 1 with a built-in wavelength locker is a laser diode chip (LD chip) 11 as an example of a semiconductor laser that generates laser light (optical signal) 11, a thermistor 12, a peltiert element 13, ... And a first wavelength power of 1.4.
  • the first wavelength port 14 has an etalon (first etalon) 101, photodiodes (PD) 102 and 103, and a splitter (for example, a half mirror) 104.
  • the second wavelength rocker 2 has an etalon (second etalon) 21, PDs 22 and 23, and a splitter (for example, a half mirror) 24.
  • the control unit 3 is composed of an automatic temperature controller (ATC: Automatic Temperature Controller) 31 1, an automatic frequency controller (AFC) 32, 33, dividers 34 and 35, a resistor / voltage converter 36, analog / digital It has a converter (A / D converter) 37, digital / analog converter (D / A converter) 38, memory 39, and selector 40.
  • ATC Automatic Temperature Controller
  • AFC automatic frequency controller
  • the multi-wavelength lock device consists of a thermistor 12, a Peltier element 13, a first wavelength power, a second wavelength power, and a controller 3.
  • the Peltier element 13 is attached to the LD chip 11 and adjusts the temperature of the LD chip 11. As shown in the LD temperature vs. wavelength characteristics in Fig. 6, the LD chip 11 outputs optical signals of different wavelengths (frequency) according to temperature to the output terminal on the front end face (right terminal in Fig. 1) And output from the monitor terminal on the rear end face (left terminal in Fig. 1). Therefore, the LD chip 11 outputs an optical signal of a frequency (wavelength) corresponding to the temperature adjusted by the Peltier element 13 from the output terminal and the monitor terminal.
  • the optical signal output from the output terminal is output to the optical fiber 5 via the power bra 4 and a part thereof (for example, one-tenth of the output terminal power) is transmitted from the power bra 4 to the second wavelength locker. Given to 2.
  • the optical signal output from the monitor terminal is supplied to the first wavelength rocker 14.
  • the optical fiber 5 is connected to, for example, a receiving device, a relay device, or the like, and transmits an optical signal to the receiving device or the like.
  • the optical signal from the coupler 4 is split into two by the splitter 24, one of which is input to the PD 22 via the second etalon 21 and the other is directly input to the PD 23 .
  • the PDs 22 and 23 convert the input optical signal into an electric signal and supply it to the divider 35.
  • the divider 35 calculates the power ratio of the electric signals of the PDs 22 and 23 (power ratio: for example, the value obtained by dividing the output power of the PD 23 by the output power of the PD 22), and calculates the power ratio by the AFC 33 Give to. Therefore, the ratio of the power (power) of the output light of the power plug 4 to the power (power) of the output light via the second etalon 21 (ie, the transmittance of the second etalon 21) is input to the AFC33. Is done. This ratio is also called the etalon transmission ratio (second etalon transmission ratio).
  • the optical signal from the monitor terminal is split into two by the splitter 104, one of which is input to the PD 102 via the first etalon 101, and the other is directly input to the PD 103.
  • the PDs 1 • 2 and 103 convert the input optical signal into an electric signal and provide it to the divider 34.
  • the divider 34 calculates the power ratio of the electric signals of the PDs 102 and 103 (power ratio: for example, the output power value of the PD 103 divided by the output power value of the PD 102), and outputs the calculated power ratio to the AFC 34. give. Therefore, the AFC34 has the ratio of the power (power) of the monitor terminal to the power (power) of the output light via the first etalon 101 (that is, the transmittance of the first etalon: hereinafter referred to as the “first etalon transmission ratio”). Is input.)
  • the relationship between the temperature of the LD chip 11 and the wavelength of the output optical signal is Lift (wavelength drift) (see Fig. 6).
  • the drift amount is about 200 pm (picometer) for 25 years at a constant temperature.
  • the graph in Fig. 6 shifts about 200 pm in the vertical direction in 25 years.
  • the slope of the graph that is, the rate of change of wavelength with respect to temperature, is kept constant.
  • the first etalon 101 As the first etalon 101, a long-period one in which the wavelength pull-in range (that is, the wavelength range of one cycle) includes the drift amount during the usage period of the LD chip 11 (for example, several years or several tens years) is used. (Refer to the upper graph in FIG. 2 described later).
  • the second lens 21 has a shorter period than the first lens 101 so that the wavelength of the LD chip 11 can be precisely controlled at narrow wavelength intervals (see the lower graph in Fig. 2). ).
  • a thermistor 12 which measures the temperature of the LD chip 11, is also attached to the LD chip 11.
  • the measured temperature of the LD chip 11 is given to the resistance / voltage converter 36 as a resistance value.
  • the resistance / voltage converter 36 converts the resistance value given from the error signal 12 into a voltage value (analog value) and supplies it to the ATC 31 and the A / D converter 37.
  • the 8 / "0 converter 37 converts the voltage value (analog data) given from the resistance Z voltage converter 36 into digital data and stores it in the memory 39. That is, the memory 39 stores the LD chip 11 The voltage value corresponding to the temperature is stored, converted into analog data by the D / A converter 38, and read into the ATC31.
  • a voltage value corresponding to a temperature difference ⁇ ( ⁇ 0) described later is also stored in advance.
  • This temperature difference ⁇ is, as described later, a temperature T 1 corresponding to the wavelength 1 detected by the first wavelength locker 14 and a wavelength (1) included in the wavelength pull-in range of the second wavelength locker 2. That is, the wavelength near the target wavelength) is the difference from the temperature T 2 corresponding to person 2.
  • a control signal from the ATC 31 or AFC 32 or 33 is selected by the selector 40, and the selected control signal is input to the Peltier device 13.
  • the selection of the control signal of the selector 40 may be performed by the ATC 31 or the AFC 32 or 33, or may be performed by another control device (not shown).
  • the ATC 31 controls the Peltier element 13 based on the voltage value supplied from the resistor-Z voltage converter 36 and / or the voltage value stored in the memory 39 (including the voltage value corresponding to the temperature difference ⁇ ). I do.
  • the AFC 32 controls the Peltier element 13 so that the first etalon transmission ratio provided from the divider 34 has a predetermined value (that is, the transmission ratio corresponding to the wavelength to be locked).
  • the AFC 33 controls the Peltier element 13 so that the second etalon transmission ratio provided from the divider 35 has a predetermined value (that is, the transmission ratio corresponding to the wavelength to be locked).
  • the Peltier element 13 adjusts the temperature of the LD chip 11 according to the control of the ATC 31 or the AFC 32 or 33. By this temperature adjustment, the oscillation wavelength (oscillation frequency) of the optical signal of the LD chip 11 is controlled.
  • a method of two wavelength peaks (a first and a second wavelength peaking method) by the multi-wavelength peaking device having such a configuration will be described below.
  • the temperature of the LD chip 11 at this time is compared with the difference value ⁇ T
  • the second etalon 21 having a relatively short period (short period) is used to lock the wavelength.
  • Figure 2 is a graph showing the wavelength characteristics of the first transmission ratio and the second transmission ratio.
  • the upper graph shows the wavelength characteristics of the first etalon transmission ratio
  • the lower graph shows the wavelength characteristics of the second etalon transmission ratio.
  • one period from point A to point B is the wavelength pull-in range, and when the wavelength of LD chip 11 is included in this range, the wavelength of LD chip 11 is Locked to the wavelength of lock point L1; I1 by wavelength control.
  • this wavelength pull-in range preferably has a range equal to or more than the drift amount during the use period of the LD chip 11. For example, if the LD chip 11 is used for 25 years, the wavelength pull-in range is set to 200 pm or more. As a result, even if the LD chip 11 drifts due to aging, the wavelength is locked to the lock point L1. It can be locked, preventing accidental locking to another lock point such as the adjacent lock point L2.
  • the wavelength pull-in range of the second etalon 21 is smaller than that of the first etalon 101, and accurate wavelength locking is possible at a narrower wavelength interval.
  • FIG. 3 is a flowchart showing a processing flow of the first wavelength locking method.
  • the LD chip 11 is initialized so that the oscillation wavelength of the LD chip 11 falls within the wavelength pull-in range of the first wavelength locker 14.
  • the temperature (referred to as TO) is controlled by the AT C 31 (S1). That is, the ATC 31 reads the voltage value corresponding to the initial temperature stored in the memory 39 via the D / A converter 38 and controls the Peltier element 13 so that the LD chip 11 has the initial temperature TO. I do.
  • the voltage value corresponding to this initial temperature TO is the one previously stored in the memory 39, and thereafter, as described later, once a day or during the last operation during the previous operation.
  • the resistance value given from the thermistor 12 is converted to a voltage value and the value stored in the memory 39 is used.
  • the wavelength corresponding to the initial temperature ( ⁇ 0) drifts due to aging, but is included in the wavelength pull-in range of the long-period first wavelength rocker 14 as described above.
  • the selector 40 is set so as to supply the control signal of the ATC 31 to the Peltier element 13.
  • the AFC 32 controls based on the first etalon transmission ratio of the divider 34 so that the wavelength of the optical signal of the LD chip 11 becomes the wavelength 1 of the lock point L1 (S2). As a result, the wavelength of the optical signal of the LD chip 11 is set to 1.
  • the ATC 31 obtains the voltage value corresponding to the temperature of the LD chip 11 (T1) at this time from the thermistor 12 via the resistor / voltage converter 36, and obtains the voltage value corresponding to the temperature difference ⁇ . The value is read from the memory 39 via the D / A converter 38. Then, the ATC 31 obtains T1 + AT (or T1 ⁇ ⁇ ) by adding (or subtracting) the temperature difference T to the temperature T1. The choice of adding or subtracting ⁇ is made based on whether the wavelength is increased or decreased. In general, if the wavelength is increased (ie, the frequency is reduced), T (> 0) is subtracted from T1, and if the wavelength is reduced (ie, the frequency is increased), ⁇ is added to T1. Be done
  • This temperature Tl + ⁇ ( ⁇ 1- ⁇ ) is the temperature corresponding to the initial wavelength ⁇ 2 given to the second wavelength rocker 2.
  • can be obtained in advance from both, and therefore, as described above, the value of ⁇ (corresponding voltage value) is , Can be stored in the memory 39 in advance. Even if the temperature-wavelength characteristic of the LD chip 11 drifts due to aging, the slope of the temperature-wavelength characteristic graph (that is, the rate of change of wavelength with respect to temperature) is constant. Therefore, even if drifting, the value of ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ does not change and remains constant.
  • the LD chip 11 is set at a temperature of ⁇ l + . ⁇ (T 1 - ⁇ ), so that the wavelength of the LD chip 11 is changed to a wavelength ⁇ 2 near the target wavelength ⁇ g and the target wavelength
  • the wavelength pull-in range of the second wavelength locker 2 including g can be set.
  • the ATC 31 controls the Peltier element 13 so that the temperature of the LD chip 11 becomes T 1 + ⁇ (T 1 ⁇ ) (S3). As a result, the temperature of the LD chip 11 becomes T 1 + T (T 1 ⁇ T), and the wavelength of the optical signal becomes 2.
  • the selector 40 is set to select the control signal of the AFC 33, and is switched to the control by the second wavelength switcher 2 and the AFC 33.
  • the AFC 33 controls the Peltier device 13 based on the second etalon transmission ratio from the divider 35 so that the wavelength of the LD chip 11 becomes the wavelength ⁇ of the target opening point Lg (S4). As a result, the wavelength of the optical signal of the LD chip 11 is controlled to the target wavelength g.
  • the temperature (resistance value) of the LD chip 11 measured at the time of the operation stop 12 or once a day during operation is stored in the memory 39 as a voltage value.
  • the stored voltage value is used to set the initial temperature of the LD chip 11 at the next operation as described above.
  • the long-wavelength first wavelength rocker 14 enables wavelength blocking without erroneous locking due to long-term drift.
  • the first wavelength locker 14 can lock its wavelength only at a large wavelength interval (for example, an interval of 100 GHz or more) in order to take account of aging drift, but uses a short-period second wavelength locker 2. By doing so, accurate wavelength packing can be achieved at narrower wavelength intervals.
  • the wavelength switch using the etalon since the wavelength switch using the etalon has a plurality of lock points, by selecting an appropriate lock point of the first wavelength locker 14, the wavelength can be set to an arbitrary lock point in the second wavelength locker 2. Can be stabilized.
  • the transfer of control between ATC and AFC such as the transfer of control from ATC 31 to AFC 32 or 33, or the transfer of control from AFC 32 or 33 to ATC 31, is as follows. Like the selection control of 0, the control may be performed by a control device (not shown), or may be controlled by ATC 31 or AFC 32 or 33. The same applies to the transfer of control in the following second wavelength locking method. .
  • Both wavelength ports can be combined so that the ratio of the period of the first wavelength locker 14 to the period of the second wavelength rocker .2 is an integer ratio.
  • the first etalon with a wavelength interval that is an integral multiple of the second etalon with the required wavelength interval can be used.
  • the first wavelength locker 14 whose wavelength pull-in range is longer than the drift over time is used.
  • Fig. 4 is a graph showing the wavelength characteristics of the first and second transmission ratios where the lock point L1 matches.
  • the upper graph shows the wavelength characteristic of the first etalon transmission ratio
  • the lower graph shows the wavelength characteristic of the second etalon transmission ratio.
  • the second wavelength-locking method uses two wavelength-lockers having such characteristics to gradually bring the oscillation wavelength of the LD chip 11 closer to the target wavelength.
  • Fig. 5 is a flowchart showing the processing flow of the second wavelength packing method.
  • the optical transmitter when the optical transmitter is started (when the LD chip 11 is started), the initial wavelength corresponding to the wavelength near the common break point L1 of the first wavelength load 14 and the second wavelength switch 2 is set. Temperature control is executed at the temperature (referred to as TO) (S11).
  • the ATC 31 reads the voltage value corresponding to the initial temperature TO stored in the memory 39 via the D / A converter 38, and controls the Peltier element 13 so that the LD chip 11 has the initial temperature TO. .
  • the wavelength control by the AFC 32 using the first wavelength rocker 14 is executed (S12).
  • the LD chip 11 operates stably at the oscillation wavelength ⁇ 1 of the lock point L1.
  • wavelength control is performed by the AFC 33 using the second wavelength aperture 2 (S13). Since the lock point L1 is common to the first wavelength locker 14 and the second wavelength locker 2, the wavelength control does not need to be switched via the control by the ATC 31, and the wavelength control is stable in a short time. Transition.
  • ATC31 calculates the temperature difference ⁇ . ⁇ . corresponding to the wavelength difference 2- ⁇ LD, the temperature of the LD chip 11 measured by the temperature difference 12 (the LD operating at wavelength input 1). It is added to (or subtracted from) the temperature of chip 11 and is set to ⁇ 1), and the temperature is controlled by the temperature ⁇ 1 + ⁇ (or T1—).
  • the value of the temperature difference ⁇ (voltage value corresponding to ⁇ ) can be obtained in advance as a value corresponding to this period, since the period of the second etalon transmission ratio is known in advance. It can be stored in the memory .39 in advance. As a result, the temperature of the LD chip 11 becomes ⁇ 1 + ⁇ ( ⁇ 1- ⁇ ), and the oscillation wavelength becomes 2 or a wavelength close thereto.
  • the wavelength is controlled by the AFC 33 using the second wavelength locker 2 (S15), and the LD chip 11 operates stably at the oscillation wavelength of the lock point L2; Steps S14 and S15 are repeated until the oscillation wavelength reaches the target wavelength g (S16).
  • the LD chip 11 since the LD chip 11 is gradually brought closer to the target wavelength, the LD chip 11 can be brought closer to the target wavelength in a stable state.
  • the wavelength 1 and the target wavelength input g may be equal. In this case, it is not necessary to control the wavelength from wavelength 1 to person 2 by controlling the temperature of ATC 32, or to control the wavelength from wavelength 2 to ⁇ 3.
  • the oscillation wavelength can be locked to the target wavelength without being affected by the aging drift of the LD chip, and the narrow wavelength interval can be used. Can be performed.
  • the device since the etalon is used, the device can be configured at low cost. Industrial potential
  • the present invention can be used for an optical transmitter, an optical signal generator, and the like of an optical communication system.
  • the present invention even if a wavelength drift occurs due to aging of an LD chip, it is possible to lock the wavelength without error and to lock the wavelength at a narrow wavelength interval. Also, since an etalon wavelength aperture is used, the device can be configured at low cost. .

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Abstract

本発明は,レーザダイオード(LD)の経年変化に伴う波長ドリフトによる誤ロックを回避でき,かつ,狭い波長間隔でも波長をロックできる波長ロック装置および波長ロック方法を提供する。波長ロック装置は,入力光の透過率が波長に対して周期的に変化する第1エタロンの透過率に基づいてLDの波長を制御する第1制御部と,入力光の透過率が波長に対して周期的に変化し,該周期が第1エタロンの周期より短い第2エタロンの透過率に基づいてLDの発振波長を制御する第2制御部と,入力された温度に基づいてLDの発振波長を制御する第3制御部とを備えている。第1制御部により,第1ロック波長を含む第1波長引き込み範囲内のLDの波長が第1ロック波長にロックされる。次に,第3制御部により,第1ロック波長に対応するLDの温度が,目標波長を含む,第2制御部の目標波長引き込み範囲内の波長に対応する温度に設定される。次に,第2制御部により,目標波長引き込み範囲内のLDの波長が目標波長にロックされる。

Description

明細書 波長ロック装置および波長ロック方法 技術分野
本発明は, レーザダイォ一ドを含む半導体レーザの発振波長をロックする波長 ロック装置および波長ロック方法に関し, 特に, 入力される光信号の透過率が周 期的に変ィ匕し, その周期が異なる 2つエタ口ンを使用して発振波長をロックする 波長ロック装置および波長ロック方法に関する。 背景技術
近年, SONET/ SDH (Synchronous Optical Network/Synchronous Digital Hierarchy) システムや WD M (Wavelength Division Multiplex) システムのよ うに, レーザ光により情報を伝送する光通信システムが普及してきている。 このような光通信システムでは, レ一ザ光の発生に半導体レーザ, 特にレーザ ダイオード (L D : Laser Diode) が多く用いられる。 そして, レーザ光は, 所 定の波長 (発振波長) となるように制御される。
L Dから出力されるレーザ光を所定の波長に制御するために, 波長を固定 (口 ヅク) する波長ロック方式が種々考えられている。
このような波長ロック方式の 1つに, 単調な波長特性を有する波長検出フィル 夕を用いて波長をロックするものがある。 この方式では, レ一ザ光の波長と透過 するレーザ光のパワー (電力) とが線形関係を有するフィル夕が用いられ, フィ ル夕の透過光のパワーに基づいて波長が求められる。 そして, 求められる波長が 目標の波長となるように, 波長制御が実行される。 L Dは, その温度によって波 長が変化するので, 波長制御は L Dの温度を調整することにより行われる。 しかし, フィル夕の透過光の検出には, 光ダイォ一ド (P D : Photo Diode) が使用され, この P Dの出力電流が小さい領域に, ロックしたい波長が含まれて いる場合には, ロックする波長の精度が落ちるという問題がある。
また, ロックしたい波長の精度を向上させるためには, 波長に対する透過パヮ 一の傾き (変化率) の小さなフィル夕が用いられるが, このようなフィル夕を用 いると, 広い波長帯域において波長をロックできないという問題もある。
別の波長口ック方式として, 周期的な波長特性を有する波長検出フィル夕を用 いて波長をロックするものがある。 この方式では, L Dの出力光のパワー(電力) とエタロンフィル夕を透過させた光のパワーとの比 (エタロン透過比) が求めら れ, このエタロン透過比が所定の値となる波長に, 波長がロックされる。
しかし, L Dの温度に対する波長特性は経年変化によりドリフト (波長ドリフ ト) する。 図 6は, L Dの温度一波長特性およびその経年変化によるドリフトの 様子を示している。 L Dの温度に対する波長特性は, 直線の傾きは変ィ匕しないも のの, 時間の経過に伴いシフトし, 同じ温度であっても, 時間の変化に伴い対応 する波長が変ィ匕する。 たとえば, 温度 Tにおける波長は時間の経過に伴い波長 I からえ' に変化する。 このドリフト量は, 2 5年で 2 0 0 p m (ピコメートル) 程度であるが, 数 G H z〜数百 GH zの周波数で伝送される光信号にとつては大 きな変動となる。
L Dの作動 (運用) 時にドリフトが発生しても, 波長ロック装置によりドリフ トに追従した波長ロック制御が行われるので,ドリフトの発生は問題とならない。 しかし, 非運用 (非作動) 時にもドリフトは発生し, この場合, 次に運用する際 に, ドリフト後の特性の従って L Dの波長がロックされるので, 誤った波長に口 ックされるおそれがある。 また, 波長間隔が狭くなると誤ロックの可能性は増加 する。
さらに別の方式としては, 単調な波長特性を有する波長検出フィル夕と周期的 な波長特性を有する波長検出フィル夕とを組み合わせ, 波長をロヅクする方式も ある。 しかし, この方式は高価であり, また, 単調な波長特性を有する波長検出 フィル夕のみを用いるものと同様に, 広い波長帯域で波長をロックできないとい う問題がある。
また, エキシマレ一ザの波長制御方式として, 特許第 2 6 4 9 3 5 7号公報に 記載の波長制御装置がある。 発明の開示 本発明は, 半導体レーザの経年変ィ匕に伴う波長ドリフトによる誤ロックを回避 でき, かつ, 狭い波長間隔でも波長をロックできる波長ロック装置および波長口 ック方法を提供する。
本発明の第 1の側面による波長口ック装置は, 半導体レーザの発振波長をロッ クする波長ロック装置であって, 入力光の透過率が波長に対して周期的に変ィ匕す る第 1エタ口ンの前記透過率に基づいて前記半導体レーザの発振波長を制御し, 第 1口ック波長を含む波長引き込み範囲内の波長を該第 1口ック波長にロックす る第 1制御部と, 入力光の透過率が波長に対して周期的に変ィ匕し, その周期が前 記第 1エタ口ンの周期よりも短い第 2エタロンの前記透過率に基づいて前記半導 体レーザの発振波長を制御し, 目標波長を含む波長引き込み範囲内の波長を前記 目標波長にロックする第 2制御部と, 入力された温度に基づいて前記半導体レ一 ザの発振波長を制御し, 前記発振波長を, 前記第 1制御部によりロックされた前 記第 1口ヅク波長から前記第 2制御部の前記波長引き込み範囲内の波長に変ィ匕さ せる第 3制御部と, を備えている。
本発明の第 1の側面による波長口、ソク方法は, 入力光の透過率が波長に対.して 周期的に変化する第 1エタ口ンの前記透過率に基づいて半導体レーザの発振波長 を制御する第 1制御部と, 入力光の透過率が波長に対して周期的に変化し, 該周 期が前記第 1エタ口ンの周期より短い第 2ェ夕ロンの前記透過率に基づいて該半 導体レーザの発振波長を制御する第 2制御部と, 入力された温度に基づいて該半 導体レーザの発振波長を制御する第 3制御部とを備えた波長ロック装置による波 長ロック方法であって, 前記第 3制御部により, 前記半導体レーザの温度を, 前 記第 1制御部の第 1口ック波長を含む第 1波長引き込み範囲内の波長に対応する 温度に設定し, 前記第 1制御部により, 前記第 1波長引き込み範囲内の波長を前 記第 1ロック波長にロックし, 前記第 3制御部により, 前記第 1ロック波長に対 応する前記半導体レーザの温度を, 前記第 2制御部の目標波長を含む目標波長引 き込み範囲内の波長に対応する温度に設定し, 前記第 2制御部により, 前記目標 波長引き込み範囲内の波長を前記目標波長にロックするものである。
本発明の第 1の側面によると, 第 1制御部により, 第 1ロック波長を含む第 1 波長引き込み範囲内の波長が第 1ロヅク波長にロックされる。続いて, 第 3制御 部により, 第 1ロック波長に対応する半導体レーザの温度が, 第 2制御部の目標 波長を含む目標波長引き込み範囲内の波長に対応する温度に設定される.。その後, 第 2制御部により, 目標波長引き込み範囲内の波長が目標波長に口ックされる。 本発明の第 1の側面によると, まず, 第 2エタロンよりも周期が長い第 1エタ 5 ロンにより, 半導体レーザの波長が第 1ロック波長にロックされる。 第 1エタ口 ンが長い周期を有することから, 半導体レーザに経年変化による波長ドリフトが 発生しても, 半導体レーザの発振波長を第 1口ック波長に誤ることなくロックす ることができる。 次に, 周期の短い第 2エタロンにより, 半導体レーザの発振波 長が目標波長にロックされる。 したがって, 波長間隔が狭い場合であっても, 目 10 標となる波長に半導体レ一ザの発振波長をロックすることができる。
好ましくは, 前記第 1エタロンの前記波長引き込み範囲または前記周期が, 前 記半導体レーザの経年変化による波長ドリフト量以上である。 これにより, 波長 ドリフトの発生量を問わず, 発振波長を第 1ロック波長にロックできる。
さらに好ましくは, 前記第 3制御部は, 前記半導体レーザの起動時に, 前記半 „ . 15 導体レーザの初期温度に基づいて, 前記半導体レーザの発振波長を, 前記第 1口 ック波長を含む前記第 1エタロンの波長引き込み範囲内の波長に制御する。 本発明の第 2の側面による波長口ック装置は, 半導体レーザの発振波長を口ッ クする波長ロヅク装置であって, 入力光の透過率が波長に対して周期的に変ィ匕す る第 1エタ口ンの前記透過率に基づいて前記半導体レーザの発振波長を制御し,
20 第 1口ック波長を含む波長引き込み範囲内の波長を該第 1口ック波長にロックす る第 1制御部と, 入力光の透過率が波長に対して周期的に変化し, その周期が前 記第 1エタ口ンの周期の整数分の 1である第 2エタ口ンの前記透過率に基づいて 前記半導体レーザの発振波長を制御し, 少なくとも, 前記第 1ロック波長を含む 第 1波長引き込み範囲および目標波長を含む目標波長引き込み範囲を有し, 前記
25 第 1波長引き込み範囲内の波長を前記第 1ロック波長にロックし, 前記目標波長 弓 Iき込み範囲内の波長を前記目標波長にロックする第 2制御部と, 入力される温 度に基づいて前記半導体レーザの発振波長を制御し, 前記第 1制御部により口ッ クされた後, 前記第 2制御部により口ックされた前記第 1口ック波長で発振する 前記半導体レーザの温度を変化させて, 前記半導体レ一ザの発振波長を, 少なく とも, 前記第 1ロック波長から前記目標波長引き込み範囲内の波長に変化させる 第 3制御部と, を備えている。
本発明の第 2の側面による波長口ック方法は, 入力光の透過率が波長に対して 周期的に変化する第 1エタ口ンの前記透過率に基づいて半導体レーザの発振波長 を制御する第 1制御部と, 入力光の透過率が波長に対して周期的に変化し, 該周 期が前記第 1エタ口ンの周期の整数分の 1である第 2エタ口ンの前記透過率に基 づいて該半導体レ一ザの発振波長を制御する第 2制御部と, 入力された温度に基 づいて該半導体レーザの発振波長を制御する第 3制御部とを備えた波長ロック装 置による波長ロック方法であって, 前記第 3制御部により, 前記半導体レーザの 温度を, 前記第 1制御部および前記第 2制御部の共通の第 1ロック波長を含む第 1波長引き込み範囲内の波長に対応する温度に設定し, 前記第 1制御部により, 前記第 1波長引き込み範囲内の波長を前記第 1口ヅク波長にロックし, 前記第 2 制御部により, 前記波長を第 1ロック波長にロックし, 前記第 3制御部により, 前記第 1口ヅク波長に対応する前記半導体レーザの温度を, 該第 1ロヅク波長に 隣接する第 2口-ック波長を含む, .前記第 2制御部の第 2波長引き込み範囲内の波 長に対応する温度に設定し, 前記第 2制御部により, 前記第 2波長引き込み範囲 内の波長を前記第 2ロック波長にロックするものである。
本発明の第 2の側面によると, 第 1の側面と同様の作用効果を得ることができ るとともに,第 1ロック波長が,第 1制御部および第 2制御部で共通であるので, 第 1制御部から第 2制御部への制御の移行の際に, 第 3制御部による制御を介す ることなく, 速やかに移行することができる。 また, 目標となるロック点に移行 するまでに隣接する口ヅク点を経由して移行するので, 半導体レーザを安定して 動作させることができる。 図面の簡単な説明
図 1は, 本発明の一実施の形態によるマルチ波長口ック装置を備えた光送信装 置の構成を示すブロック図である。
図 2は, 第 1エタ口ン透過比の波長特性および第 2エタ口ン透過比の波長特性 を示すグラフである。 図 3は, 第 1の波長ロック方法の処理フローを示すフローチャートである。
図 4は, ロヅク点が一致する第 1エタ口ン透過比および第 2エタ口ン透過比の 波長特性を示すグラフである。
図 5は, 第 2の波長ロック方法の処理フローを示すフローチャートである。
図 6は, LDの温度一波長特性およびその経年変化によるドリフトの様子を示 す。 発明を実施するための最良の形態
図 1は, 本発明の一実施の形態によるマルチ波長口ヅク装置を備えた光送信装 置の構成を示すブロック図である。
この光送信装置は, 波長ロッカ内蔵レーザダイオード (波長ロッカ内蔵 LD) 1, 第 2波長ロッカ 2, 制御部 3, および力ブラ 4を有する。
波長ロッカ内蔵 LD 1は, レーザ光 (光信号) を発生する半導体レ一ザの一例 としてのレーザダイオードチヅプ (LDチヅプ) 1 1, サーミス夕 12, ベルチ ェ (peltiert) 素子 13 ,· ·.および第 1波長口ヅ力 1.4を有する。 第 1波長口ヅカ , : 14は, エタロン (第 1エタロン) 101, フォトダイオード (PD) 102, 103, およびスプリヅ夕 (たとえばハーフミラ一) 104を有する。 第 2波長 ロヅカ 2は, エタロン (第 2エタロン) 21, PD 22, 23, およびスプリヅ 夕 (たとえばハーフミラー) 24を有する。
制御部 3は, 自動温度コントローラ (AT C : Automatic Temperature Controller) 3 1·, 自動周波数コントローラ (A F C : Automatic Frequency Controller) 32, 33, 除算器 34, 35, 抵抗/電圧変換器 36 , アナログ /ディジタル変換器 (A/D変換器) 37, ディジタル/アナログ変換器 (D/ A変換器) 38, メモリ 39, およびセレクタ 40を有する。
この光送信装置のうち, マルチ波長ロック装置は, サーミス夕 12, ペルチェ 素子 13, 第 1波長ロヅ力, 第 2波長ロヅ力, および制御部 3から構成される。
ペルチェ素子 13は, LDチップ 1 1に取り付けられ, LDチヅプ 1 1の温度 を調整する。 LDチップ 1 1は, 図 6の LD温度—波長特性に示すように, 温度 に応じて異なる波長 (周波数) の光信号を前端面の出力端子 (図 1の右側端子) および後端面のモニタ端子 (図 1の左側端子) から出力する。 したがって, LD チップ 11は,ペルチェ素子 13により調整された温度に対応する周波数(波長) の光信号を出力端子およびモニタ端子から出力する。
出力端子から出力された光信号は, 力ブラ 4を介して, 光ファイバ 5へ出力さ れるとともに, その一部 (たとえば出力端子のパワーの 10分の 1) は力ブラ 4 から第 2波長ロッカ 2に与えられる。 モニタ端子から出力された光信号は, 第 1 波長ロヅカ 14に与えられる。 なお, 光ファイバ 5は, たとえば受信装置, 中継 装置等に接続され, 受信装置等に光信号を伝送する。
第 2波長口ッカ 2では, カプラ 4からの光信号がスプリッ夕 24により 2つに 分けられ, 一方は第 2エタロン 21を介して PD 22に入力され, 他方は PD2 3に直接入力される。 PD 22および 23は, 入力された光信号を電気信号に変 換して除算器 35に与える。
除算器 35は, PD 22および 23の電気信号のパワー比 (電力比:たとえば PD 23の出力電力値を PD 22の出力電力値で除算した値) を求め, 求めたパ ワ一比を AFC 33.に与える。 したがって, AFC33には, 力プラ.4の出力光 のパワー(電力)と第 2エタロン 21を介した出力光のパワー(電力)との比(す なわち第 2エタロン 21の透過率)が入力される。この比は,エタ口ン透過比(第 2エタロン透過比) とも呼ばれる。
第 1波長ロヅカ 14では, モニタ端子からの光信号がスプリヅ夕 104により 2つに分けられ, 一方は第 1エタロン 101を介して PD 102に入力され, 他 方は PD 103に直接入力される。 PD 1◦ 2および 103は, 入力された光信 号を電気信号に変換して除算器 34に与える。
除算器 34は, PD 102および 103の電気信号のパワー比 (電力比:たと えば PD 103の出力電力値を PD 102の出力電力値で除算した値) を求め, 求めたパワー比を AFC 34に与える。 したがって, AFC34には, モニタ端 子のパワー (電力) と第 1エタロン 101を介した出力光のパヮ一 (電力) との 比(すなわち第 1エタロンの透過率:以下「第 1エタロン透過比」 という。)が入 力される。
LDチップ 11の温度と出力される光信号の波長との関係は経年変化によりド リフト (波長ドリフト) する (図 6参照)。 ドリフト量は一定温度において, 25 年で 200 pm (ピコメートル)程度である。すなわち, 図 6のグラフは,縦軸方 向に 25年で約 200pm シフトする。 ただし, グラフの傾き, すなわち温度に 対する波長の変化率は一定に保たれる。
第 1エタロン 101として, 波長引き込み範囲 (すなわち 1周期の波長範囲) が, LDチップ 11の使用期間 (たとえば数年または数十年) のドリフト量を含 むような長周期のものが使用されることが好ましい (後述する図 2上段のグラフ 参照)。一方,第 2ェ夕ロン 21は,狭い波長間隔で LDチヅプ 11の波長を精密 に制御できるように,第 1ェ夕ロン 101よりも周期の短いものが使用される(図 2下段のグラフ参照)。
LDチップ 11には, LDチップ 11の温度を計測するサーミス夕 12も取り 付けられている。 このサ一ミス夕 12は, 計測した LDチヅプ 11の温度を抵抗 値として抵抗/電圧変換器 36に与える。 抵抗/電圧変換器 36は, サ一ミス夕 12から与えられた抵抗値を電圧値 (アナログ値) に変換して ATC31および A/D変換器 37に与える。
八/"0変換器37は, 抵抗 Z電圧変換器 36から与えられた電圧値 (アナログ データ) をディジタルデータに変換し, メモリ 39に記憶する。 すなわち, メモ リ 39には, LDチップ 11の温度に対応する電圧値が記憶される。 この電圧値 は, D/A変換器 38によりアナログデータに変換された後, ATC31に読み 込まれる。
メモリ 39には, 後述する温度差 ΔΤ (≥ 0) に対応する電圧値もあらかじめ 記憶されている。 この温度差 ΔΤは, 後述するように, 第 1波長ロヅカ 14によ り ϋヅクされる波長え 1に対応する温度 T 1と, 第 2波長ロヅカ 2の波長引き込 み範囲に含まれる波長 (すなわち目標波長 の近傍の波長) 人 2に対応する温 度 T 2との差である。
制御部 3では, ATC31または AFC32もしくは 33による制御信号が, セレクタ 40により選択され, 選択された制御信号がペルチェ素子 13に入力さ れる。 セレクタ 40の制御信号の選択は, ATC31または AFC32もしくは 33により行われてもよいし, 図示しない他の制御装置により行われてもよい。 ATC31は, 抵抗 Z電圧変換器 36から与えられる電圧値およびメモリ 39 に記憶された電圧値(温度差 ΔΤに対応する電圧値を含む。)の双方またはいずれ か一方に基づいてペルチヱ素子 13を制御する。
AFC32は, 除算器 34から与えられる第 1エタロン透過比が所定の値 (す なわちロックすべき波長に対応する透過比) となるようにペルチェ素子 13を制 御する。 AFC33は, 除算器 35から与えられる第 2エタロン透過比が所定の 値 (すなわちロックすべき波長に対応する透過比) となるようにペルチェ素子 1 3を制御する。
ペルチェ素子 13は, ATC31または AFC32もしくは 33の制御に従つ て LDチップ 11の温度を調整する。 この温度調整により, LDチヅプ 11の光 信号の発振波長 (発振周波数) が制御される。
このような構成を有するマルチ波長口ヅク装置による 2つの波長口ヅクの方法 (第 1および第 2の波長口ヅク方法) について以下に説明する。
(1)第 1の波長ロック方法
第 1の波長ロック方法は, 相対的に長い周期 (長周期) の第 1エタロン 10.1 を有する第 1波長ロヅカ 14により波長をロックした後, この時の LDチップ 1 1の温度を差分値 Δ Tだけ変化させて波長を目標波長 λ g近傍に変移させた後, 相対的に短い周期 (短周期) の第 2エタロン 21を有する第 2波長ロヅ力により 波長をロックするものである。
図 2は, 第 1エタ口ン透過比の波長特性および第 2エタ口ン透過比の波長特性 を示すグラフである。 上段のグラフが第 1エタロン透過比の.波長特性を, 下段の グラフが第 2エタ口ン透過比の波長特性を, それぞれ示している。
図 2上段のグラフに示すように, A点から B点までの 1周期が波長引き込み範 囲であり, LDチヅプ 11の波長がこの範囲に含まれる場合に, LDチヅプ 11 の波長は, AFC32の波長制御によりロック点 L 1の波長; I 1にロヅクされる。 この波長引き込み範囲は, 前述したように, LDチップ 11の使用期間のドリフ ト量以上の範囲を有することが好ましい。 たとえば, LDチップ 11が 25年間 使用されるならば, 波長引き込み範囲は 200pm以上に設定される。 これによ り, LDチヅプ 11が絰年変化によりドリフトしても, 波長をロック点 L 1に口 ヅクすることができ, 隣接するロック点 L 2等の他のロヅク点に誤ってロックす ることが防止される。
一方, 図 2下段のグラフに示すように, 第 2ェ夕ロン 21の波長引き込み範囲 は, 第 1エタロン 101のものより小さく, より狭い波長間隔で正確な波長ロヅ クが可能である。
図 3は, 第 1の波長ロック方法の処理フローを示すフローチャートである。 まず, 光送信装置の起動時 (LDチヅプ 11の立ち上げ時) に, LDチップ 1 1の発振波長が第 1波長口ッカ 14の波長引き込み範囲内に含まれるように, L Dチップ 11の初期温度(TOとする。)が AT C 31により制御される(S 1)。 すなわち, AT C 31は, メモリ 39に記憶された初期温度に対応する電圧値 を D/A変換器 38を介して読み出し, LDチヅプ 11がこの初期温度 TOとな るようにペルチヱ素子 13を制御する。 この初期温度 TOに対応する電圧値は, 最初の起動時には, メモリ 39にあらかじめ記憶されたものが使用され, それ以 降は, 後述するように, 前回の運用中に 1日 1回または運用停止直前に, サーミ ス夕 12から与えられた抵抗値を電圧値に変換しメモリ 39.に記憶したものが使. 用される。
なお, この初期温度に対応する波長(λ 0とする。)は,経年変化によりドリフ トするが, 前述したように長周期の第 1波長ロヅカ 14の波長引き込み範囲内に 含まれる。 また, ATC31による制御時, セレクタ 40は, AT C 31の制御 信号をペルチヱ素子 13に与えるように設定されている。
ATC31による温度制御 (こより, LDチップ 11の波長が入 0で安定した後, セレクタ 40は AFC 32の制御信号を選択するように設定され, 第 1波長ロヅ 力 14および AFC32による制御に切り替えられる。
すなわち, AFC32は, 除算器 34の第 1エタロン透過比に基づいて, LD チップ 11の光信号の波長がロック点 L1の波長え 1となるように制御する (S 2)。 これにより, LDチップ 11の光信号の波長はえ 1に設定される。
ATC31は, この時の LDチップ 11の温度 (T 1とする。)に対応する電圧 値を, サーミス夕 12から抵抗/電圧変換器 36を介して取得するとともに, 温 度差 ΔΤに対応する電圧値をメモリ 39から D/A変換器 38を介して読み出す。 そして, ATC31は, 温度 T 1に温度差厶 Tを加算 (または減算) した T1+ AT (または T1一 ΔΤ) を求める。 ΔΤを加算するか減算するかの選択は, 波 長を大きくするか小さくするかに基づいて行われる。 一般に, 波長を大きくする (すなわち周波数を小さくする) 場合には厶 T (>0) が T 1から減算され, 波 長を小さくする (すなわち周波数を大きくする) 場合には ΔΤが T 1に加算され る
この温度 Tl+ΔΤ (Τ 1-ΔΤ) は, 第 2波長ロヅカ 2に与えられる初期波 長 λ 2に対応する温度である。
ここで, 第 1エタ口ン透過比の特性および目標波長はあらかじめ判明している ので, 両者から ΔΤはあらかじめ求めることができ, したがって, 上述したよう に厶 Τの値 (対応する電圧値) は, メモリ 39にあらかじめ記憶しておくことが できる。 また, LDチップ 11の温度一波長特性が経年変化によりドリフトして も, 温度一波長特性のグラフの傾き (すなわち温度に対する波長の変化率) は一 定である。 したがって, ドリフトしても, ΔΤの値は変化せず一定である。 これ により, LDチップ 11を显度 Τ l+.ΔΤ (T 1 -ΔΤ) にすることに.より, . L. Dチップ 11の波長を目標波長 λ g近傍の波長 λ 2にして, 目標波長人 gを含む 第 2波長口ッカ 2の波長引き込み範囲にすることができる。
ATC31は, LDチップ 11が温度 T 1 +ΔΤ (T l-ΔΤ) となるように ペルチェ素子 13を制御する (S3)。 これにより, LDチップ 11の温度は T 1 +厶 T (T1—厶 T) となり, 光信号の波長は入 2となる。
その後, セレクタ 40は, AFC 33の制御信号を選択するように設定ざれ, 第 2波長口ヅカ 2および A F C 33による制御に切り替えられる。 AFC33は, 除算器 35からの第 2エタロン透過比に基づいて, LDチップ 11の波長が目標 口ヅク点 Lgの波長 λ§となるようにペルチェ素子 13を制御する(S4)。これ により, LDチヅプ 11の光信号の波長は目標波長え gに制御される。
その後, 運用停止時または運用中の 1日に 1回, サ一ミス夕 12により計測さ れた LDチップ 11の温度 (抵抗値) が電圧値としてメモリ 39に記憶される。 この記憶された電圧値は, 前述したように, 次回の運用の際の LDチヅプ 11の 初期温度を設定に使用される。 このように, 長周期の第 1波長ロヅカ 1 4により, 絰年ドリフトによる誤ロヅ クのない波長口ヅクが可能になる。 また, 第 1波長ロヅカ 1 4は, 経年ドリフト を考慮するため, 大きな波長間隔 (たとえば 1 0 0 GH z以上の間隔) でしか波 長をロヅクできないが, 短周期の第 2波長ロヅカ 2を使用することにより, より 狭い波長間隔で正確な波長口ックが可能となる。
また, エタロンを使用する波長口ヅカは複数のロック点を有するため, 第 1波 長ロッカ 1 4の適当なロック点を選ぶことにより, 第 2波長ロヅカ 2において任 意の口ヅク点に波長を安定化できる。
なお, A T C 3 1から A F C 3 2または 3 3への制御の移行や A F C 3 2また は 3 3から A T C 3 1への制御の移行等の A T C— A F C間の制御の移行は, セ レク夕 4 0の選択制御と同様に,図示しない制御装置により制御されてもよいし, A T C 3 1または A F C 3 2もしくは 3 3により制御されてもよい。 以下の第 2 の波長ロック方法における制御の移行についても同様である。 .
( 2 ) 第 2の波長ロック方法
第 1波長ロッカ 1 4の周期と第 2波長ロッ力.2の周期の比が整数比になるよ うに, 両波長口ヅカを組み合わせることができる。 つまり, 必要な波長間隔の第 2エタロンに対し,その整数倍の波長間隔の第 1エタロンを用いることができる。 なお, 第 1の波長ロック方法と同様, 第 1波長ロッカ 1 4として, その波長引 き込み範囲が経年ドリフト量より長いものが用いられる。
この組み合わせによると, 第 1波長ロヅカ 1 4と第 2波長ロヅカ 2のロック点 のうち, 波長が一致するロック点が存在する。 図 4は, ロック点 L 1がー致する 第 1エタ口ン透過比および第 2エタ口ン透過比の波長特性を示すグラフである。 上段のグラフが第 1エタ口ン透過比の波長特性を, 下段のグラフが第 2エタロン 透過比の波長特性を, それそれ示している。
第 2の波長口ック方法は,このような特性を有する 2つの波長口ッカを用いて, L Dチップ 1 1の発振波長を徐々に目標波長に近づけて行くものである。図 5は, 第 2の波長口ック方法の処理フロ一を示すフロ一チヤ一トである。
まず, 光送信装置の起動時 (L Dチヅプ 1 1の立ち上げ時) に, 第 1波長ロヅ 力 1 4および第 2波長口ヅカ 2の共通の口ヅク点 L 1近傍の波長に対応する初期 温度 (TOとする。) で温度制御が実行される (S 11)。
すなわち, ATC31は, メモリ 39に記憶された初期温度 TOに対応する電 圧値を D/A変換器 38を介して読み出し, LDチヅプ 11がこの初期温度 TO となるようにペルチヱ素子 13を制御する。
温度制御により, LDチップ 11の温度が初期温度 TOで一定になると, 第 1 波長ロヅカ 14を用いた AFC32による波長制御が実行される(S 12)。これ により, LDチヅプ 11はロック点 L 1の発振波長 λ 1で安定して動作する。 続いて,第 2波長口ヅカ 2を用いた AF C 33による波長制御が実行される( S 13)。ロック点 L 1は第 1波長ロヅカ 14と第 2波長ロヅカ 2で共通であるので, 波長制御が切り替えに AT C 31による制御を介する必要がなく, また, 波長制 御は短時間で安定して移行する。
次に, ロック点 L 1と目標口ヅク点 Lgは必ずしも一致しないので, 現在の口 ック点 L 1に隣接するロック点 (目標ロック点に近い方のロヅク点) L2に移行 するために, ATC31による温度制御が実行される (S 14)。
すなわち, . ATC31は, 波長差え 2— λΐに対応する温度差 Δ.Τ.を.,.サ.一ミ ス夕 12により計測された LDチヅプ 11の温度 (波長入 1で動作中の LDチヅ プ 11の温度であり, Τ 1とする。)に加算(または減算)し,温度 Τ 1+ΔΤ (ま たは T 1—厶 Τ) により温度制御を実行する。
温度差 ΔΤの値 (ΔΤに対応する電圧値) は, 第 2エタロン透過比の周期があ らかじめ判明しているので, この周期に対応する値としてあらかじめ求めておく ことができ, したがって, メモリ.39にあらかじめ記憶しておくことができる。 これにより, LDチップ 11の温度は Τ 1+ΔΤ (Τ 1-ΔΤ) となり, 発振 波長はえ 2またはその近傍の波長になる。
続いて, 第 2波長ロヅカ 2を用いた AFC33による波長 御が実行され (S 15), LDチップ 11は, ロック点 L 2の発振波長; 2で安定して動作する。 発振波長が目標波長え gとなるまで, ステップ S 14および S 15の処理が繰 り返される (S 16)。
この第 2の方法によると, L Dチップ 11が徐々に目標波長に近づけられるの で, LDチップ 11を安定した状態で目標波長に近づけて行くことができる。 なお, 波長え 1と目標波長入 gとが等しい場合もある。 この場合には, A T C 3 2の温度制御による波長え 1から人 2への波長制御や波長え 2から λ 3への波 長制御等は不要となる。
このように, 本実施の形態によると, 第 1および第 2の方法ともに, L Dチヅ プの経年ドリフトの影響を受けることなく, 発振波長を目標波長にロックさせる ことができるとともに,狭い波長間隔での波長口ックも行うことができる。また, エタロンを使用するので, 装置を安価に構成することができる。 産業上の利用の可能性
本発明は, 光通信システムの光送信装置, 光信号発生装置等に利用することが できる。
本発明によると, L Dチップの経年変ィ匕による波長ドリフトが生じても, 波長 を誤ることなくロックすることができるとともに, 狭波長間隔で波長をロックす ることもできる。 また, エタロン波長口ヅカを使用するので, 装置を安価に構成 することができる。.

Claims

請求の範囲
1 . 半導体レ一ザの発振波長をロックする波長ロック装置であって,
入力光の透過率が波長に対して周期的に変化する第 1エタ口ンの前記透過率 に基づいて前記半導体レーザの発振波長を制御し, 第 1ロヅク波長を含む波長 引き込み範囲内の波長を該第 1ロック波長にロックする第 1制御部と, 入力光の透過率が波長に対して周期的に変化し, その周期が前記第 1エタ口 ンの周期よりも短い第 2エタ口ンの前記透過率に基づいて前記半導体レーザの 発振波長を制御し, 目標波長を含む波長引き込み範囲内の波長を前記目標波長 にロックする第 2制御部と,
入力された温度に基づいて前記半導体レーザの発振波長を制御し, 前記発振 波長を, 前記第 1制御部によりロックされた前記第 1ロック波長から前記第 2 制御部の前記波長引き込み範囲内の波長に変化させる第 3制御部と,
を備えている波長ロック装置。
2 . 請求の範囲第 1項において,
前記第 1エタ口ンの前記波長引き込み範囲または前記周期が, 前記半導体レ 一ザの経年変化による波長ドリフト量以上である, 波長ロック装置。
3 . 請求の範囲第 1項において,
前記第 3制御部は, 前記半導体レ一ザの起動時に, 前記半導体レーザの初期 温度に基づいて, 前記半導体レーザの発振波長を, 前記第 1ロック波長を含む 前記第 1エタ口ンの波長引き込み範囲内の波長に制御する, 波長口ック装置。
4 . 請求の範囲第 1項において,
前記第 3制御部は, 前記第 1口ヅク波長に対応する前記半導体レーザの温度 に, 前記第 1口ック波長と前記第 2制御部の波長引き込み範囲内の波長との差 分に対応する温度差を加算し, または, 前記温度から前記温度差を減算した結 果の温度に基づいて, 前記発振波長を前記第 1口ヅク波長から前記第 2制御部 の波長引き込み範囲内の波長に変化させる,
波長ロック装置。 . 半導体レ一ザの発振波長をロックする波長ロヅク装置であって,
入力光の透過率が波長に対して周期的に変化する第 1エタ口ンの前記透過率 に基づいて前記半導体レーザの発振波長を制御し, 第 1ロヅク波長を含む波長 引き込み範囲内の波長を該第 1ロック波長にロヅクする第 1制御部と, 入力光の透過率が波長に対して周期的に変化し, その周期が前記第 1エタ口 ンの周期の整数分の 1である第 2エタ口ンの前記透過率に基づいて前記半導体 レーザの発振波長を制御し, 少なくとも, 前記第 1ロック波長を含む第 1波長 引き込み範囲および目標波長を含む目標波長引き込み範囲を有し, 前記第 1波 長引き込み範囲内の波長を前記第 1口ック波長にロックし, 前記目標波長引き 込み範囲内の波長を前記目檫波長にロックする第 2制御部と,
入力される温度に基づいて前記半導体レーザの発振波長を制御し, 前記第 1 制御部により口ックされた後, 前記第 2制御部によりロックされた前記第 1.口. ヅク波長で発振する前記半導体レ一ザの温度を変化させて, 前記半導体レ一ザ の発振波長を, 少なくとも, 前記第 1ロック波長から前記目標波長引き込み範 囲内の波長に変化させる第 3制御部と,
を備えている波長ロック装置。 . 請求の範囲第 5項において,
前記第 1エタ口ンの前記波長引き込み範囲または前記周期が, 前記半導体レ 一ザの経年変化による波長ドリフト量以上である,
波長ロック装置。 . 請求の範囲第 5項において,
前記第 3制御部は, 前記半導体レーザの起動時に, 前記半導体レーザの初期 温度に基づいて, 前記半導体レーザの発振波長を, 前記第 1ロック波長を含む 前記第 1エタロンの波長引き込み範囲内の波長にする, 波長ロック装置。 . 請求の範囲第 5項において,
前記第 制御部は, 前記第 1波長引き込み範囲と前記目標波長引き込み範囲 との間に, 少なくとも 1つの, 第 2ロック波長を含む第 2波長引き込み範囲を さらに有し, 該第 2波長引き込み範囲内の波長を前記第 2口ック波長にロック し,
前記第 3制御部は, 前記発振波長を, 前記第 1ロック波長から前記第 2波長 弓 Iき込み範囲内の波長に変化させた後, 前記第 2制御部により口ヅクされた前 記第 2ロック波長から前記目標波長引き込み範囲内の波長に変化させる, 波長ロック装置。 . 請求の範囲第 6項において,
前記第 3制御部は, 前記第 1口ック波長に対応する前記半導体レーザの温度 に, 前記第 1口ック波長と前記目標波長引き込み範囲内の波長との差分に対応 する温度差を加算し, または, 前記温度から前記温度差を減算した結果の温度 に基づいて, 前記発振波長を前記第 1口ック波長から前記目標波長引き込み範 囲内の波長に変化させる,
波長ロック装置。 0 . 入力光の透過率が波長に対して周期的に変化する第 1エタロンの前記透過 率に基づいて半導体レーザの発振波長を制御する第 1制御部と, 入力光の透過 率が波長に対して周期的に変ィ匕し, 該周期が前記第 1エタ口ンの周期より短い 第 2エタ口ンの前記透過率に基づいて該半導体レーザの発振波長を制御する第 2制御部と, 入力された温度に基づいて該半導体レーザの発振波長を制御する 第 3制御部とを備えた波長ロック装置による波長ロック方法であって, 前記第 3制御部により, 前記半導体レーザの温度を, 前記第 1制御部の第 1 口ック波長を含む第 1波長引き込み範囲内の波長に対応する温度に設定し, 前記第 1制御部により, 前記第 1波長引き込み範囲内の波長を前記第 1口ッ ク波長にロックし,
前記第 3制御部により, 前記第 1口ヅク波長に対応する前記半導体レーザの 温度を, 前記第 2制御部の目標波長を含む目標波長引き込み範囲内の波長に対 応する温度に設定し,
前記第 2制御部により, 前記目標波長引き込み範囲内の波長を前記目標波長 にロックする,
波長ロック方法。 1 . 入力光の透過率が波長に対して周期的に変化する第 1エタロンの前記透過 率に基づいて半導体レーザの発振波長を制御する第 1制御部と, 入力光の透過 率が波長に対して周期的に変ィ匕し, 該周期が前記第 1エタ口ンの周期の整数分 の 1である第 2エタ口ンの前記透過率に基づいて該半導体レーザの発振波長を 制御する第 2制御部と, 入力された温度に基づいて該半導体レーザの発振波長 を制御する第 3制御部とを備えた波長ロック装置による波長ロック方法であつ て,
前記第 3制御部により, 前記半導体レーザの温度を, 前記第 1制御部および 前記第 2制御部の共通の第 1ロック波長を含む第 1波長引き込み範囲内の波長 に対応する温度に設定し,
前記第 1制御部により, 前記第 1波長引き込み範囲内の波長を前記第 1口ツ ク波長にロックし,
前記第 2制御部により, 前記波長を第 1ロック波長にロックし, 前記第 3制御部により, 前記第 1口ヅク波長に対応する前記半導体レーザの 温度を, 該第 1ロック波長に隣接する第 2ロック波長を含む, 前記第 2制御部 の第 2波長引き込み範囲内の波長に対応する温度に設定し,
前記第 2制御部により , 前記第 2波長引き込み範囲内の波長を前記第 2ロヅ ク波長にロックする,
波長ロック方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2290852A2 (en) 2009-09-01 2011-03-02 Fujitsu Optical Components Limited Wavelength control method and optical transmission device therefor
JP2011049317A (ja) * 2009-08-26 2011-03-10 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体レーザ装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60117693A (ja) * 1983-11-30 1985-06-25 Fujitsu Ltd 光周波数安定化装置
EP0867989A1 (en) * 1997-03-24 1998-09-30 Ando Electric Co., Ltd. Wavelength tunable semiconductor laser light source
JP2000323784A (ja) * 1999-05-06 2000-11-24 Fujitsu Ltd マルチ波長安定化装置、マルチ定波長光源装置、波長分割多重方式用光源装置および波長判別装置
WO2001003349A1 (fr) * 1999-07-01 2001-01-11 Fujitsu Limited Emetteur optique sur plusieurs longueurs d'ondes et procede de gestion des longueurs d'ondes de transmissions optiques
JP2001291928A (ja) * 1999-02-15 2001-10-19 Fujitsu Ltd 光モジュール
EP1215932A1 (en) * 2000-12-07 2002-06-19 Everspring Industry Co. Ltd. Wireless hanging type earphone
JP2002319737A (ja) * 2001-04-20 2002-10-31 Fujitsu Ltd レーザ・ダイオードの発振波長制御方式

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60117693A (ja) * 1983-11-30 1985-06-25 Fujitsu Ltd 光周波数安定化装置
EP0867989A1 (en) * 1997-03-24 1998-09-30 Ando Electric Co., Ltd. Wavelength tunable semiconductor laser light source
JP2001291928A (ja) * 1999-02-15 2001-10-19 Fujitsu Ltd 光モジュール
JP2000323784A (ja) * 1999-05-06 2000-11-24 Fujitsu Ltd マルチ波長安定化装置、マルチ定波長光源装置、波長分割多重方式用光源装置および波長判別装置
WO2001003349A1 (fr) * 1999-07-01 2001-01-11 Fujitsu Limited Emetteur optique sur plusieurs longueurs d'ondes et procede de gestion des longueurs d'ondes de transmissions optiques
EP1215932A1 (en) * 2000-12-07 2002-06-19 Everspring Industry Co. Ltd. Wireless hanging type earphone
JP2002319737A (ja) * 2001-04-20 2002-10-31 Fujitsu Ltd レーザ・ダイオードの発振波長制御方式

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011049317A (ja) * 2009-08-26 2011-03-10 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体レーザ装置
EP2290852A2 (en) 2009-09-01 2011-03-02 Fujitsu Optical Components Limited Wavelength control method and optical transmission device therefor
JP2011054714A (ja) * 2009-09-01 2011-03-17 Fujitsu Optical Components Ltd 波長制御方法および光送信装置
US8364045B2 (en) 2009-09-01 2013-01-29 Fujitsu Optical Components Limited Wavelength control method and optical transmission device

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